JP2006165072A - Substrate end surface automatic cleaning apparatus and manufacturing method of wiring board - Google Patents

Substrate end surface automatic cleaning apparatus and manufacturing method of wiring board Download PDF

Info

Publication number
JP2006165072A
JP2006165072A JP2004350484A JP2004350484A JP2006165072A JP 2006165072 A JP2006165072 A JP 2006165072A JP 2004350484 A JP2004350484 A JP 2004350484A JP 2004350484 A JP2004350484 A JP 2004350484A JP 2006165072 A JP2006165072 A JP 2006165072A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
cleaning
face
layer
end surface
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2004350484A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yasutsugu Toyoda
康嗣 豊田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Niterra Co Ltd
Original Assignee
NGK Spark Plug Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NGK Spark Plug Co Ltd filed Critical NGK Spark Plug Co Ltd
Priority to JP2004350484A priority Critical patent/JP2006165072A/en
Publication of JP2006165072A publication Critical patent/JP2006165072A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Cleaning In General (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a substrate end surface automatic cleaning apparatus capable of effectively performing cleaning work for an end surface of a substrate. <P>SOLUTION: The substrate end surface automatic cleaning apparatus 5 includes a substrate support bench 41, a cleaning member 20, and drive means. The substrate support bench 41 supports the substrate 15, and the cleaning member 20 includes an adhesive layer. The drive means moves the substrate support bench 41 and the cleaning member 20 to bring the end surface 16 of the substrate 15 and the adhesive layer into contact with each other. In this state, the end surface 16 of the substrate 15 is cleaned by sticking dust adhering to the end surface 16 of the substrate 15 on the adhesive layer and removing it. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、樹脂絶縁層、レジスト層及び保護フィルム層のうちの少なくともいずれか1つが貼付された基板の端面を清掃するための基板端面自動清掃装置、及び、基板の端面を清掃する工程を含む配線基板の製造方法に関するものである。   The present invention includes a substrate end surface automatic cleaning device for cleaning an end surface of a substrate to which at least one of a resin insulating layer, a resist layer, and a protective film layer is attached, and a step of cleaning the end surface of the substrate. The present invention relates to a method for manufacturing a wiring board.

従来、配線基板の製造プロセスは、基板の表面に絶縁材層を形成する工程を有している。このような工程の具体例としては、基板の表面に感光性のレジストフィルムをラミネートする工程や、基板の表面に感光性または熱硬化性の層間絶縁材フィルムをラミネートする工程などがある。絶縁材層の表層部には、例えば、PET(ポリエチレンテレフタレート)製の保護フィルムがラミネートされる。   Conventionally, the manufacturing process of a wiring board has a process of forming an insulating material layer on the surface of the board. Specific examples of such a process include a process of laminating a photosensitive resist film on the surface of the substrate and a process of laminating a photosensitive or thermosetting interlayer insulating film on the surface of the substrate. For example, a protective film made of PET (polyethylene terephthalate) is laminated on the surface layer portion of the insulating material layer.

ところで、絶縁材層の表層部を保護フィルムでカバーする場合、複数枚の基板を隣接させて水平に配置した状態で、それら全ての基板に対して1枚の保護フィルムを貼付する場合がある。従って、絶縁材層の処理を始めるためには、絶縁材層の表面から保護フィルムを剥離する前に、あらかじめ保護フィルムを各基板の大きさに合わせて切断し、各基板を分離しておく必要がある。また、保護フィルムの切断時に生じるごみ(切り屑など)が基板に付着するため、保護フィルムを剥離する前に、あらかじめ基板を清掃しておく必要もある。   By the way, when the surface layer portion of the insulating material layer is covered with a protective film, a single protective film may be attached to all the substrates in a state where a plurality of substrates are adjacently disposed horizontally. Therefore, in order to start the treatment of the insulating material layer, it is necessary to cut the protective film according to the size of each substrate in advance and separate each substrate before peeling the protective film from the surface of the insulating material layer. There is. In addition, since dust (such as chips) generated when the protective film is cut adheres to the substrate, it is necessary to clean the substrate in advance before peeling off the protective film.

従来、基板を清掃する方法としては、粘着部を有するローラを備えた清掃器(例えば、特許文献1参照)を作業者が把持し、粘着部を基板に接触させた状態でローラを転動させることにより、基板に付着したごみを除去することなどが提案されている。
特開2004−121971号公報(図1等)
Conventionally, as a method for cleaning a substrate, an operator grips a cleaner (see, for example, Patent Document 1) including a roller having an adhesive portion, and the roller is rolled while the adhesive portion is in contact with the substrate. Thus, it has been proposed to remove dust attached to the substrate.
JP 2004-121971 A (FIG. 1 etc.)

ところで、ごみは、保護フィルムの切断部分近傍にある基板の端面に最も付着しやすいため、特許文献1に記載の清掃器を用いて基板の端面を清掃すれば、効果的にごみを除去できると考えられる。   By the way, dust is most likely to adhere to the end face of the substrate in the vicinity of the cut portion of the protective film. Therefore, if the end face of the substrate is cleaned using the cleaning device described in Patent Document 1, the dust can be effectively removed. Conceivable.

しかし、清掃器を用いて長時間に亘って清掃作業を行うと、作業者が疲れることで、作業効率が徐々に低下していく可能性がある。そこで、清掃作業を自動化することが考えられるが、現状では、基板の端面を清掃するための装置は何ら存在していない。また、清掃器を用いて清掃作業を行うと、ごみを除去し切れずに残ってしまう可能性が高い。この場合、作業者が再び清掃器を用いて清掃作業を行う必要が生じるが、このことも作業効率を低下させる要因となっている。   However, when a cleaning operation is performed for a long time using a cleaner, the operator may become tired, and the work efficiency may gradually decrease. Therefore, it is conceivable to automate the cleaning operation, but at present there is no device for cleaning the end face of the substrate. Moreover, when a cleaning operation is performed using a cleaner, there is a high possibility that the dust will remain without being completely removed. In this case, it becomes necessary for the worker to perform the cleaning work again using the cleaner, which also causes a reduction in work efficiency.

本発明は上記の課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、基板の端面の清掃作業を効率良く行うことができる基板端面自動清掃装置を提供することにある。また、別の目的は、基板の端面に付着したごみを高い確率で除去することができるため、配線基板を効率良く高歩留まりで製造することが可能となる配線基板の製造方法を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide an automatic substrate end surface cleaning apparatus capable of efficiently cleaning the end surface of the substrate. Another object of the present invention is to provide a method of manufacturing a wiring board that can efficiently manufacture the wiring board with high yield because dust attached to the end face of the board can be removed with high probability. is there.

そして上記課題を解決するための手段としては、樹脂絶縁層、レジスト層及び保護フィルム層のうちの少なくともいずれか1つが貼付された基板の端面を清掃するための装置であって、前記基板を支持する基板支持部材と、粘着部を有する清掃部材と、前記基板支持部材及び前記清掃部材のうちの少なくともいずれかを動かして前記基板の端面と前記粘着部とを接触させる駆動手段とを備えることを特徴とする基板端面自動清掃装置がある。   As a means for solving the above-mentioned problem, an apparatus for cleaning an end face of a substrate on which at least one of a resin insulating layer, a resist layer, and a protective film layer is attached, which supports the substrate. A substrate supporting member, a cleaning member having an adhesive portion, and drive means for moving at least one of the substrate supporting member and the cleaning member to bring the end surface of the substrate into contact with the adhesive portion. There exists the board | substrate end surface automatic cleaning apparatus characterized by the above-mentioned.

従って、この基板端面自動清掃装置では、駆動手段により基板の端面と粘着部とが接触させられて、基板の端面に付着したごみが粘着部に貼り付けられて除去される。よって、基板の端面を清掃することができる。しかも、基板の端面を清掃するにあたって、作業者ではなく駆動手段が基板の端面と粘着部とを接触させるようにしたため、長時間に亘って清掃作業を行ったとしても、作業効率が徐々に低下していくことはない。また、駆動手段によって基板の端面と粘着部とを安定的に接触させることができるため、清掃作業後に基板の端面にごみが残ってしまう可能性が低くなる。ゆえに、残ったごみを除去するために清掃作業を繰り返す必要性が低くなるため、作業効率の低下を防止することができる。   Therefore, in this substrate end surface automatic cleaning apparatus, the end surface of the substrate and the adhesive portion are brought into contact with each other by the driving means, and the dust attached to the end surface of the substrate is attached to the adhesive portion and removed. Therefore, the end surface of the substrate can be cleaned. In addition, when cleaning the end surface of the substrate, the driving means, not the operator, makes the end surface of the substrate and the adhesive portion contact each other, so even if the cleaning operation is performed for a long time, the work efficiency gradually decreases. There is no going on. Moreover, since the end surface of the substrate and the adhesive portion can be stably brought into contact with each other by the driving means, the possibility that dust remains on the end surface of the substrate after the cleaning operation is reduced. Therefore, since it becomes less necessary to repeat the cleaning operation in order to remove the remaining dust, it is possible to prevent a reduction in work efficiency.

前記清掃部材は、粘着部である粘着層を片側表面に有する板状部材などであってもよいが、粘着部である粘着層を外周面に有する清掃用ローラと、その清掃用ローラを転動可能に支持するローラ支持体とを含んで構成されていることが好ましい。このようにした場合、基板の端面と粘着部とを一度接触させておけば、あとは清掃用ローラを転動させるだけで基板の端面を清掃できるため、清掃作業をより効率良く行うことができる。   The cleaning member may be a plate-like member having an adhesive layer that is an adhesive part on one surface, but a cleaning roller having an adhesive layer that is an adhesive part on the outer peripheral surface, and a roller for rolling the cleaning roller. It is preferable to include a roller support body that can be supported. In this case, once the end face of the substrate and the adhesive portion are brought into contact with each other, the end face of the substrate can be cleaned only by rolling the cleaning roller, so that the cleaning operation can be performed more efficiently. .

清掃用ローラとしては、粘着材を塗布したものや、粘着層を有する粘着テープが取り付けられたものなどが挙げられるが、粘着テープをロール状にしたものであることが好ましい。このようにすれば、外周面に露出した粘着層が汚れて粘着力が低下したとしても、粘着テープを剥して汚れていない粘着層を露出させることにより、清掃用ローラの粘着力を常に最良の状態に維持することができる。なお、粘着テープとしては、紙テープ、セロハンテープ、ビニールテープ、アルミテープなどが挙げられる。   Examples of the cleaning roller include those coated with an adhesive material, and those equipped with an adhesive tape having an adhesive layer. The roller is preferably a roll of adhesive tape. In this way, even if the adhesive layer exposed on the outer peripheral surface becomes dirty and the adhesive strength decreases, the adhesive force of the cleaning roller is always the best by peeling the adhesive tape and exposing the unclean adhesive layer. Can be maintained in a state. In addition, as an adhesive tape, a paper tape, a cellophane tape, a vinyl tape, an aluminum tape, etc. are mentioned.

また、清掃用ローラの回転軸方向の長さは、基板の板厚よりも大きく設定されることが好ましい。このようにすれば、基板の端面に対して粘着部を確実に接触させることができるため、基板の端面に付着したごみを完全に除去しやすくなる。さらに、清掃用ローラは、基板の進行方向に沿って一直線上に複数配置されることが好ましい。この場合、清掃用ローラによって清掃される基板の端面は、基板の進行方向と平行に配置されることがよい。このようにすれば、1つの清掃用ローラによって基板の端面に付着したごみを除去し切れなくても、他の清掃用ローラによってごみを除去することができる。   Moreover, it is preferable that the length of the cleaning roller in the rotation axis direction is set to be larger than the thickness of the substrate. In this way, since the adhesive portion can be reliably brought into contact with the end surface of the substrate, it becomes easy to completely remove the dust attached to the end surface of the substrate. Furthermore, it is preferable that a plurality of cleaning rollers are arranged on a straight line along the traveling direction of the substrate. In this case, the end surface of the substrate cleaned by the cleaning roller is preferably arranged in parallel with the traveling direction of the substrate. In this way, even if the dust attached to the end face of the substrate cannot be completely removed by one cleaning roller, the other cleaning roller can remove the dust.

なお、2つの清掃用ローラが基板の進行方向に沿って一直線上に配置される場合、隣接する清掃用ローラ間の中心間距離は、基板の前端(進行方向側端)と後端との間の距離を越えない範囲で、できるだけ大きく設定されることが好ましい。このようにすれば、各清掃用ローラと基板の端面とを接触させた際に、各清掃用ローラの押圧力が基板に分散して加わるため、基板が清掃用ローラに押圧されて進行方向に対して斜めになることを防止できる。   When the two cleaning rollers are arranged in a straight line along the traveling direction of the substrate, the distance between the centers of the adjacent cleaning rollers is between the front end (the traveling direction side end) and the rear end of the substrate. Preferably, it is set as large as possible within a range not exceeding the distance. In this way, when each cleaning roller is brought into contact with the end surface of the substrate, the pressing force of each cleaning roller is dispersed and applied to the substrate, so that the substrate is pressed by the cleaning roller in the traveling direction. In contrast, it can be prevented from being inclined.

なお、清掃用ローラは、ローラ支持体に対して着脱可能に支持されることが好ましい。このようにすれば、例えば、清掃用ローラが汚れて使用不能となった場合であっても、清掃用ローラを交換することで、再び清掃用ローラによって基板の端面を清掃することができる。   The cleaning roller is preferably detachably supported with respect to the roller support. In this way, for example, even when the cleaning roller becomes dirty and cannot be used, the end surface of the substrate can be cleaned again by the cleaning roller by replacing the cleaning roller.

また、前記清掃用ローラは、前記基板の端面に対して垂直方向から接触するように前記ローラ支持体に支持されていてもよいが、前記基板の端面に対して斜め方向から接触するように前記ローラ支持体に支持されていてもよい。このようにすれば、よりごみが付着しやすい部分(樹脂絶縁層、レジスト層及び保護フィルム層のうちの少なくともいずれか1つの切断部分)に確実に清掃用ローラを接触させることができる。従って、基板の端面に付着したごみをより確実に除去できるため、清掃作業をより効率良く行うことができる。   The cleaning roller may be supported by the roller support so as to come into contact with the end surface of the substrate from a vertical direction, but the cleaning roller comes into contact with the end surface of the substrate from an oblique direction. You may be supported by the roller support body. In this way, the cleaning roller can be reliably brought into contact with a portion (at least one cut portion of the resin insulating layer, the resist layer, and the protective film layer) where dust is more likely to adhere. Therefore, since the dust adhering to the end surface of the substrate can be removed more reliably, the cleaning operation can be performed more efficiently.

なお、清掃用ローラが複数ある場合、各清掃用ローラが、基板の端面の上側エッジまたは端面の下側エッジに対して斜め方向から接触するようにローラ支持体に支持されることが好ましい。このようにすれば、基板の端面と粘着部とを接触させた状態で、各清掃用ローラを用いて基板の端面の上側エッジ及び端面の下側エッジを一度で清掃することができるため、清掃作業をより効率良く行うことができる。   When there are a plurality of cleaning rollers, it is preferable that each cleaning roller is supported by the roller support so as to come into contact with the upper edge of the end face of the substrate or the lower edge of the end face from an oblique direction. In this way, the upper edge and the lower edge of the end surface of the substrate can be cleaned at a time using each cleaning roller in a state where the end surface of the substrate and the adhesive portion are in contact with each other. Work can be performed more efficiently.

なお、この場合、前記基板の端面に対する前記清掃用ローラの傾斜角度θ1は、0°<θ1<30°に設定されることが好ましい。このようにすれば、清掃用ローラが基板の端面のエッジに確実に接触するため、基板の端面のエッジに付着したごみを確実に除去することができる。   In this case, the inclination angle θ1 of the cleaning roller with respect to the end surface of the substrate is preferably set to 0 ° <θ1 <30 °. In this way, since the cleaning roller reliably contacts the edge of the end surface of the substrate, dust attached to the edge of the end surface of the substrate can be reliably removed.

前記駆動手段は、前記基板を支持した状態の前記基板支持部材を前記基板の面方向に沿って平行移動させる基板支持部材駆動部と、前記基板支持部材駆動部とともに平行移動する前記基板の端面に対して前記清掃用ローラを接触させる方向に、前記ローラ支持体を押圧するローラ支持体駆動部とを含んで構成されていることが好ましい。このようにすれば、ローラ支持体駆動部によって清掃用ローラを基板の端面に接触させた状態で、基板支持部材駆動部によって基板を平行移動させると、清掃用ローラが回転して基板の端面が清掃される。即ち、駆動手段によって自動的に基板の端面が清掃されるため、清掃作業をより効率良く行うことができる。   The driving means includes a substrate supporting member driving unit that translates the substrate supporting member in a state of supporting the substrate along a surface direction of the substrate, and an end surface of the substrate that translates together with the substrate supporting member driving unit. It is preferable to include a roller support driving unit that presses the roller support in a direction in which the cleaning roller is brought into contact with the roller. In this way, when the substrate is moved in parallel by the substrate support member driving unit while the cleaning roller is in contact with the end surface of the substrate by the roller support driving unit, the cleaning roller rotates and the end surface of the substrate is moved. To be cleaned. That is, since the end surface of the substrate is automatically cleaned by the driving means, the cleaning operation can be performed more efficiently.

また、基板端面自動清掃装置は、前記基板の端面から飛び出している余剰の樹脂絶縁層、レジスト層及び保護フィルム層のうちの少なくともいずれか1つを前記清掃部材による清掃の実施前に切断する切断機構を備えることが好ましい。このようにすれば、基板の端面を清掃する前に、基板の端面から飛び出している余剰部分をあらかじめ切断しておかなくても済むため、作業者への負担がよりいっそう小さくなる。   Further, the substrate end surface automatic cleaning device is a cutting unit that cuts at least one of an excess resin insulating layer, a resist layer, and a protective film layer protruding from the end surface of the substrate before the cleaning by the cleaning member. It is preferable to provide a mechanism. In this way, it is not necessary to cut in advance the surplus portion protruding from the end surface of the substrate before cleaning the end surface of the substrate, thereby further reducing the burden on the operator.

前記切断機構は切断刃を有するとともに、前記基板支持部材の移動方向を基準とした前記切断刃の傾斜角度θ2は10°<θ2<20°に設定されることが好ましい。仮に、切断刃の傾斜角度θ2が10°以下であると、基板の端面から飛び出している余剰の樹脂絶縁層、レジスト層及び保護フィルム層のうちの少なくとも1つを完全に切断できない可能性がある。一方、切断刃の傾斜角度θ2が20°以上であると、切断刃が基板に食い込んで基板を傷付けてしまう可能性がある。   The cutting mechanism has a cutting blade, and the inclination angle θ2 of the cutting blade with respect to the moving direction of the substrate support member is preferably set to 10 ° <θ2 <20 °. If the inclination angle θ2 of the cutting blade is 10 ° or less, there is a possibility that at least one of the excess resin insulation layer, resist layer, and protective film layer protruding from the end face of the substrate cannot be completely cut. . On the other hand, if the inclination angle θ2 of the cutting blade is 20 ° or more, the cutting blade may bite into the substrate and damage the substrate.

また、前記切断機構は、前記切断刃による切断の際に、余剰の樹脂絶縁層、レジスト層及び保護フィルム層のうちの少なくともいずれか1つを引っ張る引張手段を有することが好ましい。このようにすれば、切断刃が樹脂絶縁層、レジスト層、保護フィルム層に切れ込みを入れやすくなるため、確実に切断を行うことができる。   Moreover, it is preferable that the said cutting mechanism has a tension | pulling means which pulls at least any one of an excess resin insulation layer, a resist layer, and a protective film layer in the case of the cutting | disconnection by the said cutting blade. By doing so, the cutting blade can easily cut into the resin insulating layer, the resist layer, and the protective film layer, so that the cutting can be reliably performed.

さらに、前記基板と前記切断刃との相対的な上下位置関係を調整するための上下位置調整手段を有することが好ましい。具体的には、前記基板支持部材を上下動させて前記基板の上下位置を調整するための上下位置調整手段を有していてもよいし、前記切断機構が、前記切断刃の上下位置を調整するための上下位置調整手段を有していてもよい。このようにした場合、切断作業を続けるにあたって、定期的に上下位置調整手段を用いて基板の上下位置または切断刃の上下位置を調整するようにすれば、切断刃の特定部分のみの磨耗を防止することができる。ゆえに、切断刃の長寿命化にもつながる。   Furthermore, it is preferable to have vertical position adjusting means for adjusting the relative vertical position relationship between the substrate and the cutting blade. Specifically, it may have a vertical position adjustment means for adjusting the vertical position of the substrate by moving the substrate support member up and down, and the cutting mechanism adjusts the vertical position of the cutting blade. There may be provided a vertical position adjusting means. In such a case, when the cutting operation is continued, the vertical position adjustment means is periodically used to adjust the vertical position of the substrate or the vertical position of the cutting blade to prevent wear of only a specific portion of the cutting blade. can do. Therefore, the life of the cutting blade is also extended.

上記課題を解決するための別の手段としては、樹脂絶縁層、レジスト層及び保護フィルム層のうちの少なくともいずれか1つを基板の表面に形成する層形成工程と、樹脂絶縁層、レジスト層及び保護フィルム層のうちの少なくともいずれか1つを前記基板の端面にて切断する切断工程と、粘着部を有する清掃部材を前記基板の端面に接触させることにより、前記基板の端面を清掃する端面清掃工程とを含むことを特徴とする配線基板の製造方法がある。   As another means for solving the above problems, a layer forming step of forming at least one of a resin insulating layer, a resist layer and a protective film layer on the surface of the substrate, a resin insulating layer, a resist layer, and A cutting process for cutting at least one of the protective film layers at the end face of the substrate, and an end face cleaning for cleaning the end face of the substrate by bringing a cleaning member having an adhesive portion into contact with the end face of the substrate. There is a method for manufacturing a wiring board including a process.

また、上記課題を解決するためのさらに別の手段としては、樹脂絶縁層、レジスト層及び保護フィルム層のうちの少なくともいずれか1つを基板の表面に形成する層形成工程と、樹脂絶縁層、レジスト層及び保護フィルム層のうちの少なくともいずれか1つを前記基板の端面にて切断する切断工程と、請求項1乃至9のいずれか1項に記載の基板端面自動清掃装置を用いて、前記基板の端面を清掃する端面清掃工程とを含むことを特徴とする配線基板の製造方法がある。   Moreover, as yet another means for solving the above-mentioned problem, a layer forming step of forming at least one of a resin insulating layer, a resist layer and a protective film layer on the surface of the substrate, a resin insulating layer, A cutting step of cutting at least one of the resist layer and the protective film layer at an end surface of the substrate, and using the substrate end surface automatic cleaning device according to any one of claims 1 to 9, There is an end face cleaning process for cleaning an end face of a substrate.

以下、配線基板の製造方法について説明する。   Hereinafter, a method for manufacturing a wiring board will be described.

まず、樹脂絶縁層、レジスト層及び保護フィルム層のうちの少なくともいずれか1つを基板の表面に形成する層形成工程を実施する。   First, a layer forming step of forming at least one of a resin insulating layer, a resist layer, and a protective film layer on the surface of the substrate is performed.

かかる樹脂絶縁層は、絶縁性、耐熱性、耐湿性等を考慮して適宜選択することができる。樹脂絶縁層を形成する樹脂材料の好適例としては、EP樹脂(エポキシ樹脂)、PI樹脂(ポリイミド樹脂)、BT樹脂(ビスマレイミド−トリアジン樹脂)、PPE樹脂(ポリフェニレンエーテル樹脂)等が挙げられる。そのほか、これらの樹脂とガラス繊維(ガラス織布やガラス不織布)やポリアミド繊維等の有機繊維との複合材料、あるいは、連続多孔質PTFE等の三次元網目状フッ素系樹脂基材にエポキシ樹脂などの熱硬化性樹脂を含浸させた樹脂−樹脂複合材料等を使用してもよい。   Such a resin insulating layer can be appropriately selected in consideration of insulating properties, heat resistance, moisture resistance, and the like. Preferable examples of the resin material forming the resin insulating layer include EP resin (epoxy resin), PI resin (polyimide resin), BT resin (bismaleimide-triazine resin), PPE resin (polyphenylene ether resin) and the like. In addition, composite materials of these resins and organic fibers such as glass fibers (glass woven fabrics and glass nonwoven fabrics) and polyamide fibers, or three-dimensional network fluorine-based resin base materials such as continuous porous PTFE, epoxy resins, etc. A resin-resin composite material impregnated with a thermosetting resin may be used.

前記レジスト層としては、フォトレジスト層、ソルダーレジスト層、めっきレジスト層、エッチングレジスト層などを挙げることができる。   Examples of the resist layer include a photoresist layer, a solder resist layer, a plating resist layer, and an etching resist layer.

前記保護フィルム層を構成する好適な材料としては、可撓性を有する樹脂や紙などを挙げることができる。これらの材料は、樹脂絶縁層やレジスト層へのダメージが少ないこと、安価であること、薄く形成しても丈夫なことなどを考慮して適宜選択される。なお、樹脂や紙などは、再利用しやすいという点で好ましい。保護フィルム層に使用される樹脂材料の具体例としては、PET樹脂(ポリエチレンテレフタレート樹脂)、EP樹脂(エポキシ樹脂)、PI樹脂(ポリイミド樹脂)などがある。   Suitable materials for forming the protective film layer include flexible resin and paper. These materials are appropriately selected in consideration of the fact that there is little damage to the resin insulating layer and the resist layer, the cost is low, and the material is durable even if it is thinly formed. Resin and paper are preferable because they are easy to reuse. Specific examples of the resin material used for the protective film layer include PET resin (polyethylene terephthalate resin), EP resin (epoxy resin), and PI resin (polyimide resin).

また、前記基板とは、樹脂材料、セラミック材料、金属材料などを主体として構成された基板のことを意味する。樹脂材料を主体として構成された基板の具体例としては、EP樹脂(エポキシ樹脂)基板、PI樹脂(ポリイミド樹脂)基板、BT樹脂(ビスマレイミド−トリアジン樹脂)基板、PPE樹脂(ポリフェニレンエーテル樹脂)基板などがある。そのほか、これらの樹脂とガラス繊維(ガラス織布やガラス不織布)やポリアミド繊維等の有機繊維との複合材料からなる基板を使用してもよい。あるいは、連続多孔質PTFE等の三次元網目状フッ素系樹脂基材にエポキシ樹脂などの熱硬化性樹脂を含浸させた樹脂−樹脂複合材料からなる基板等を使用してもよい。また、セラミック材料を主体として構成された基板の具体例としては、アルミナ、窒化アルミニウム、窒化ほう素、炭化珪素、窒化珪素などのセラミック材料からなる基板などがある。さらに、金属材料を主体として構成された基板の具体例としては、例えば、銅基板や銅合金基板、銅以外の金属単体からなる基板、銅以外の金属の合金からなる基板などがあるが、これらに限ることはない。   The substrate means a substrate mainly composed of a resin material, a ceramic material, a metal material, or the like. Specific examples of substrates composed mainly of resin materials include EP resin (epoxy resin) substrates, PI resin (polyimide resin) substrates, BT resin (bismaleimide-triazine resin) substrates, and PPE resin (polyphenylene ether resin) substrates. and so on. In addition, a substrate made of a composite material of these resins and organic fibers such as glass fibers (glass woven fabric or glass nonwoven fabric) or polyamide fibers may be used. Alternatively, a substrate made of a resin-resin composite material obtained by impregnating a thermosetting resin such as an epoxy resin with a three-dimensional network fluorine-based resin base material such as continuous porous PTFE may be used. Specific examples of the substrate mainly composed of a ceramic material include a substrate made of a ceramic material such as alumina, aluminum nitride, boron nitride, silicon carbide, and silicon nitride. Furthermore, specific examples of the substrate mainly composed of a metal material include, for example, a copper substrate, a copper alloy substrate, a substrate made of a single metal other than copper, and a substrate made of a metal alloy other than copper. It is not limited to.

層形成工程後、切断工程を実施する。具体的には、基板を配置し、層形成工程によって形成された樹脂絶縁層、レジスト層及び保護フィルム層のうちの少なくともいずれか1つを基板の端面にて切断する。これにより、基板の端面から飛び出している余剰の樹脂絶縁層、レジスト層及び保護フィルム層のうちの少なくともいずれか1つが除去される。   After the layer formation step, a cutting step is performed. Specifically, the substrate is disposed, and at least one of the resin insulating layer, the resist layer, and the protective film layer formed by the layer forming step is cut at the end surface of the substrate. As a result, at least one of the excess resin insulation layer, resist layer, and protective film layer protruding from the end face of the substrate is removed.

切断工程後、粘着部を有する清掃部材を基板の端面に接触させることにより、基板の端面を清掃する端面清掃工程を実施する。なお、端面清掃工程は、作業者によってではなく、前記基板端面自動清掃装置によって実施されることが好ましい。このようにすれば、長時間に亘って清掃作業を行ったとしても、作業効率が徐々に低下していくことはない。   After the cutting step, an end surface cleaning step for cleaning the end surface of the substrate is performed by bringing a cleaning member having an adhesive portion into contact with the end surface of the substrate. In addition, it is preferable that an end surface cleaning process is implemented not by an operator but by the substrate end surface automatic cleaning device. In this way, even if the cleaning operation is performed for a long time, the work efficiency does not gradually decrease.

そして、このような製造方法によれば、基板の端面に付着したごみを高い確率で除去することができるため、上記の配線基板を効率良く高歩留まりで製造することが可能となる。   And according to such a manufacturing method, since the dust adhering to the end face of the substrate can be removed with a high probability, the above wiring substrate can be manufactured efficiently and with a high yield.

以下、本発明を配線基板製造用の基板端面自動清掃装置に具体化した一実施形態を図1〜図8に基づき詳細に説明する。   Hereinafter, an embodiment in which the present invention is embodied in a substrate end face automatic cleaning apparatus for manufacturing a wiring board will be described in detail with reference to FIGS.

図1には、本実施形態のフィルムラミネーションライン1が全体的に示されている。このフィルムラミネーションライン1は、図1の右側から左側に向かって順に、基板搬入装置2、ラミネータ3、フィルム切断装置4、基板端面自動清掃装置5、エアブロー装置6、フィルム剥離装置7及び基板搬出装置8を備えている。基板搬入装置2は、搬入された基板15を基板清掃ローラ9によって清掃した後、その基板15をラミネータ3に搬送する。ラミネータ3は、基板端部同士に隙間を設けた状態で基板15を複数枚隣接させ、それら全ての基板15を覆いうる大きさの保護フィルム層12をラミネートした後、それらの基板15をフィルム切断装置4に搬送する。フィルム切断装置4は、保護フィルム層12を各基板15の大きさに合わせて切断して各基板15を分離し、それらの基板15を基板端面自動清掃装置5に搬送する。基板端面自動清掃装置5は、基板15の端面16を清掃する作業を行った後、その基板15をエアブロー装置6に搬送する。エアブロー装置6は、基板15に付着しているごみをエアによって吹き飛ばす作業を行った後、その基板15をフィルム剥離装置7に搬送する。フィルム剥離装置7は、保護フィルム層12を剥離する作業を行った後、その基板15を基板搬出装置8に搬送する。基板搬出装置8は、フィルム剥離装置7において剥離作業が終了した基板15をフィルムラミネーションライン1から搬出する。なお、このフィルムラミネーションライン1は、基板15上にビルドアップ層を形成してビルドアップ多層樹脂配線基板(配線基板)を製造するときに用いられるものである。なお、ビルドアップ層とは、層間絶縁層と導体層とを交互に積層してなるものである。   FIG. 1 generally shows a film lamination line 1 of the present embodiment. The film lamination line 1 includes a substrate carry-in device 2, a laminator 3, a film cutting device 4, a substrate edge surface automatic cleaning device 5, an air blow device 6, a film peeling device 7 and a substrate carry-out device in order from the right side to the left side in FIG. 8 is provided. The substrate carry-in device 2 cleans the loaded substrate 15 with the substrate cleaning roller 9 and then transports the substrate 15 to the laminator 3. The laminator 3 makes a plurality of substrates 15 adjacent to each other with a gap between the substrate ends, laminates a protective film layer 12 having a size that can cover all the substrates 15, and then cuts the substrates 15 into a film. Transport to device 4. The film cutting device 4 cuts the protective film layer 12 according to the size of each substrate 15 to separate each substrate 15, and conveys these substrates 15 to the substrate end surface automatic cleaning device 5. The substrate end surface automatic cleaning device 5 carries out an operation of cleaning the end surface 16 of the substrate 15 and then transports the substrate 15 to the air blowing device 6. The air blowing device 6 carries out an operation of blowing off dust adhering to the substrate 15 with air, and then conveys the substrate 15 to the film peeling device 7. The film peeling device 7 transports the substrate 15 to the substrate carry-out device 8 after performing the work of peeling the protective film layer 12. The substrate carry-out device 8 carries the substrate 15 that has been peeled off in the film peeling device 7 from the film lamination line 1. The film lamination line 1 is used when a buildup layer is formed on the substrate 15 to manufacture a buildup multilayer resin wiring substrate (wiring substrate). The build-up layer is formed by alternately laminating interlayer insulating layers and conductor layers.

図1〜図8には、基板端面自動清掃装置5による作業対象となる基板15が示されている。この基板15は、ビルドアップ多層樹脂配線基板におけるコア基板であって、例えば基材の両面に導体層を有するものが使用される。図5に示されるように、基板15の上面全体には層間絶縁材14(樹脂絶縁層)が貼付されている。この層間絶縁材14は、例えば感光性エポキシ樹脂からなっている。さらに、この層間絶縁材14の表層部は、PET(ポリエチレンテレフタレート)製の保護フィルム層12によって保護されている。   1 to 8 show a substrate 15 that is a work target of the substrate end surface automatic cleaning device 5. The substrate 15 is a core substrate in a build-up multilayer resin wiring substrate, and for example, a substrate having conductor layers on both surfaces of a base material is used. As shown in FIG. 5, an interlayer insulating material 14 (resin insulating layer) is attached to the entire top surface of the substrate 15. The interlayer insulating material 14 is made of, for example, a photosensitive epoxy resin. Further, the surface layer portion of the interlayer insulating material 14 is protected by a protective film layer 12 made of PET (polyethylene terephthalate).

図2,図3に示されるように、基板端面自動清掃装置5は、コンベア支持柱31によって支持される基板搬送用コンベア33を備えている。基板搬送用コンベア33は、前記フィルム切断装置4から搬送されてきた基板15を前記エアブロー装置6側に搬送するようになっている。基板搬送用コンベア33には、複数の基板搬送ローラ32が所定間隔を隔てて回転可能に配設されている。各基板搬送ローラ32上には基板15が載置可能になっている。また、各基板搬送ローラ32は、基板15の搬送方向に沿って一直線上に配置されるとともに、回転軸が基板15の搬送方向に直交するように配置されている。隣り合う基板搬送ローラ32の間隔は、基板15の搬送方向の寸法よりも短く設定されている。そして、各基板搬送ローラ32は、基板移動用モータ(図示略)によって回転駆動されることにより、基板15を搬送するようになっている。   As shown in FIGS. 2 and 3, the substrate end surface automatic cleaning device 5 includes a substrate transfer conveyor 33 supported by a conveyor support column 31. The substrate transfer conveyor 33 is configured to transfer the substrate 15 transferred from the film cutting device 4 to the air blow device 6 side. A plurality of substrate transport rollers 32 are rotatably disposed on the substrate transport conveyor 33 at a predetermined interval. A substrate 15 can be placed on each substrate transport roller 32. Each substrate transport roller 32 is arranged on a straight line along the transport direction of the substrate 15, and is arranged so that the rotation axis is orthogonal to the transport direction of the substrate 15. The interval between adjacent substrate transport rollers 32 is set to be shorter than the dimension of the substrate 15 in the transport direction. Each substrate transport roller 32 is configured to transport the substrate 15 by being rotated by a substrate moving motor (not shown).

また、図2,図3に示されるように、基板端面自動清掃装置5は、基板搬送用コンベア33に直交する基板清掃用ライン60を備えている。基板清掃用ライン60には、多点位置決め制御が可能なアクチュエータの一種である電動の単軸スライダ61(基板支持部材駆動部)が設けられている。なお、単軸スライダ61を用いる代わりに、単軸ロボットなどの多点位置決め制御が可能なアクチュエータを用いてもよい。単軸スライダ61は、基板清掃用ライン60の長さ方向(図2における矢印A1方向)に沿って延びており、その内部に図示しないピストンを備えている。ピストンにはスライダ63が連結され、そのスライダ63には垂直方向に伸縮するエアシリンダ44が設けられている。エアシリンダ44のロッド先端には、基板搬送用コンベア33によって搬送されてきた基板15を下方から支持するための基板支持台41(基板支持部材)が取り付けられている。よって、単軸スライダ61は、基板15を支持した状態の基板支持台41を基板15の面方向、即ち、基板清掃用ライン60の長さ方向に沿って平行移動させるようになっている。また、基板支持台41は、エアシリンダ44の伸縮によって上下動可能となっている。エアシリンダ44は、基板搬送用コンベア33上にある基板15を基板清掃用ライン60側に受け渡す際に、基板支持台41を上方に移動させて基板15を支持させるようになっている。また、エアシリンダ44は、基板清掃用ライン60上にある基板15を基板搬送用コンベア33側に受け渡す際に、基板支持台41を下方に移動させるようになっている。なお、エアシリンダ44を用いる代わりに、ステッピングモータでボールネジを駆動して自動的に基板支持台41を上下動させるようにしてもよい。このようにすれば、上下方向における多点位置制御が可能になるため好ましい。   As shown in FIGS. 2 and 3, the substrate end surface automatic cleaning device 5 includes a substrate cleaning line 60 orthogonal to the substrate transporting conveyor 33. The substrate cleaning line 60 is provided with an electric single-axis slider 61 (substrate support member driving unit) which is a kind of actuator capable of multipoint positioning control. Instead of using the single axis slider 61, an actuator capable of multipoint positioning control such as a single axis robot may be used. The single axis slider 61 extends along the length direction of the substrate cleaning line 60 (the direction of the arrow A1 in FIG. 2), and includes a piston (not shown) therein. A slider 63 is connected to the piston, and the slider 63 is provided with an air cylinder 44 that expands and contracts in the vertical direction. A substrate support base 41 (substrate support member) for supporting the substrate 15 transported by the substrate transport conveyor 33 from below is attached to the rod tip of the air cylinder 44. Therefore, the uniaxial slider 61 is configured to translate the substrate support base 41 that supports the substrate 15 along the surface direction of the substrate 15, that is, along the length direction of the substrate cleaning line 60. Further, the substrate support base 41 can be moved up and down by the expansion and contraction of the air cylinder 44. The air cylinder 44 supports the substrate 15 by moving the substrate support base 41 upward when the substrate 15 on the substrate transfer conveyor 33 is transferred to the substrate cleaning line 60 side. The air cylinder 44 moves the substrate support base 41 downward when the substrate 15 on the substrate cleaning line 60 is transferred to the substrate transfer conveyor 33 side. Instead of using the air cylinder 44, the substrate support 41 may be moved up and down automatically by driving a ball screw with a stepping motor. This is preferable because multipoint position control in the vertical direction is possible.

図2〜図5,図7に示されるように、基板搬送用コンベア33と基板清掃用ライン60との接続部分近傍には、一対の切断機構51が設けられている。各切断機構51は、基板清掃用ライン60を介して互いに対峙するように配置されている。各切断機構51は切断刃支持部56を有しており、切断刃支持部56には切断刃52が取り付けられている。両切断刃52の先端は、基板搬送用コンベア33側に向けられている。なお、本実施形態において、前記基板支持台41の移動方向、即ち、基板15の進行方向を基準とした切断刃52の傾斜角度θ2は、約15°に設定されている(図4参照)。また、両切断刃52の先端同士の距離は、基板15の一対の端面16(基板15の進行方向と平行な一対の面)間の距離とほぼ等しくなっている。よって、基板支持台41が移動すると、切断刃52は、基板15の端面16から飛び出している余剰の保護フィルム層12を切断することができる(図4,図7参照)。また、切断刃52により保護フィルム層12を切断する作業は、清掃部材20による清掃の実施直前に行われる。なお、切断刃52が取り付けられた切断刃支持部56を、エアシリンダ(図示略)のロッド先端に取り付けるようにしてもよい。このようにすれば、ロッドを突出させて切断刃52を基板15側に移動させることにより、切断刃52を確実に基板15の端面16に接触させることができる。さらに、この場合、切断刃支持部56とエアシリンダとの間にバネ(図示略)を設け、エアシリンダから基板15に加わる推力をバネの弾性変形によって吸収するようにしてもよい。このようにすれば、基板15の端面16に多少凹凸があったとしても、切断刃52を端面16に常時接触させることができる。   As shown in FIGS. 2 to 5 and 7, a pair of cutting mechanisms 51 are provided in the vicinity of the connection portion between the substrate transporting conveyor 33 and the substrate cleaning line 60. The cutting mechanisms 51 are arranged so as to face each other via the substrate cleaning line 60. Each cutting mechanism 51 has a cutting blade support 56, and a cutting blade 52 is attached to the cutting blade support 56. The tips of both cutting blades 52 are directed toward the substrate transfer conveyor 33 side. In the present embodiment, the inclination angle θ2 of the cutting blade 52 based on the moving direction of the substrate support base 41, that is, the traveling direction of the substrate 15, is set to about 15 ° (see FIG. 4). The distance between the tips of the two cutting blades 52 is substantially equal to the distance between the pair of end surfaces 16 of the substrate 15 (a pair of surfaces parallel to the traveling direction of the substrate 15). Therefore, when the board | substrate support stand 41 moves, the cutting blade 52 can cut | disconnect the excess protective film layer 12 which protruded from the end surface 16 of the board | substrate 15 (refer FIG. 4, FIG. 7). Moreover, the operation | work which cut | disconnects the protective film layer 12 with the cutting blade 52 is performed immediately before implementation of the cleaning by the cleaning member 20. FIG. In addition, you may make it attach the cutting blade support part 56 to which the cutting blade 52 was attached to the rod front-end | tip of an air cylinder (not shown). In this way, the cutting blade 52 can be reliably brought into contact with the end face 16 of the substrate 15 by projecting the rod and moving the cutting blade 52 toward the substrate 15. Further, in this case, a spring (not shown) may be provided between the cutting blade support 56 and the air cylinder so that the thrust applied to the substrate 15 from the air cylinder is absorbed by the elastic deformation of the spring. In this way, even if the end face 16 of the substrate 15 is somewhat uneven, the cutting blade 52 can always be in contact with the end face 16.

図3,図5に示されるように、切断機構51は、上下位置調整手段55を有している。上下位置調整手段55は、上下方向に延びる上下位置調整レール57と、ネジなどの固定部材(図示略)とによって構成されている。上下位置調整レール57には、切断刃支持部56が手動で上下動可能に設けられている。また、ネジは、切断刃支持部56に設けられており、ネジを締め付けてネジの先端を上下位置調整レール57に押し付けることにより、切断刃支持部56を固定するようになっている。よって、これら上下位置調整レール57及びネジにより、切断刃52の上下位置を調整することができる。なお、上下位置調整手段55は、モータでボールネジを駆動して自動的に切断刃支持部56を上下動させるものなどであってもよい。   As shown in FIGS. 3 and 5, the cutting mechanism 51 has a vertical position adjusting means 55. The vertical position adjusting means 55 includes a vertical position adjusting rail 57 extending in the vertical direction and a fixing member (not shown) such as a screw. The vertical position adjustment rail 57 is provided with a cutting blade support portion 56 that can be manually moved up and down. The screw is provided on the cutting blade support 56, and the cutting blade support 56 is fixed by tightening the screw and pressing the tip of the screw against the vertical position adjustment rail 57. Therefore, the vertical position of the cutting blade 52 can be adjusted by the vertical position adjustment rail 57 and the screw. The vertical position adjusting means 55 may be one that automatically moves the cutting blade support 56 up and down by driving a ball screw with a motor.

図4,図5,図7に示されるように、切断機構51は、一対の引張手段53を備えている。両引張手段53は、前記基板清掃用ライン60を介して互いに対峙するように配置されている。引張手段53は、一対の把持板58と、把持用アクチュエータ(図示略)と、保護フィルム引張用エアシリンダ54(図4参照)とを備えている。把持用アクチュエータは、一対の把持板58を開閉駆動させることにより、切断前の保護フィルム層12の余剰部分を表面側及び裏面側から挟持させるようになっている。また、保護フィルム層12の余剰部分が一対の把持板58によって把持された状態で保護フィルム引張用エアシリンダ54を駆動することにより、保護フィルム層12が面方向に引っ張られ、所定のテンションが加えられるようになっている。   As shown in FIGS. 4, 5, and 7, the cutting mechanism 51 includes a pair of pulling means 53. Both pulling means 53 are arranged so as to face each other via the substrate cleaning line 60. The pulling means 53 includes a pair of gripping plates 58, a gripping actuator (not shown), and a protective film pulling air cylinder 54 (see FIG. 4). The gripping actuator is configured to sandwich the excess portion of the protective film layer 12 before cutting from the front surface side and the back surface side by driving the pair of gripping plates 58 to open and close. Further, the protective film layer 12 is pulled in the surface direction by driving the protective film pulling air cylinder 54 in a state in which the surplus portion of the protective film layer 12 is gripped by the pair of gripping plates 58, and a predetermined tension is applied. It is supposed to be.

図2,図3,図6〜図8に示されるように、基板清掃用ライン60には、一対の清掃部材20が設けられている。両清掃部材20は、前記基板清掃用ライン60を介して互いに対峙するように配置されている。清掃部材20には、2個の清掃用ローラ21が基板支持台41の移動方向に沿って配置されている。各清掃用ローラ21は、鉛直方向に延びるローラ支持軸23(ローラ支持体)によって転動可能に支持されるとともに、ローラ支持軸23に対して着脱可能に支持されている。ローラ支持軸23は、基板支持台41によって支持される基板15の端面16と平行になるように配置されている。よって、各清掃用ローラ21は、基板15の端面16に対して垂直方向から接触し、基板15の移動に伴って回転するようになっている(図8参照)。本実施形態では、基板15の一方の端面16に対して2個の清掃用ローラ21が接触するようになっている。なお、各清掃用ローラ21は、外周面に粘着層22(粘着部)を有している。本実施形態の清掃用ローラ21は、粘着層22を有する粘着テープをロール状にしたものである。   As shown in FIGS. 2, 3 and 6 to 8, the substrate cleaning line 60 is provided with a pair of cleaning members 20. Both the cleaning members 20 are arranged so as to face each other via the substrate cleaning line 60. In the cleaning member 20, two cleaning rollers 21 are arranged along the moving direction of the substrate support base 41. Each cleaning roller 21 is supported by a roller support shaft 23 (roller support) extending in the vertical direction so as to be able to roll, and is detachably supported by the roller support shaft 23. The roller support shaft 23 is disposed so as to be parallel to the end surface 16 of the substrate 15 supported by the substrate support base 41. Therefore, each cleaning roller 21 comes into contact with the end surface 16 of the substrate 15 from the vertical direction and rotates as the substrate 15 moves (see FIG. 8). In the present embodiment, two cleaning rollers 21 are in contact with one end surface 16 of the substrate 15. Each cleaning roller 21 has an adhesive layer 22 (adhesive portion) on the outer peripheral surface. The cleaning roller 21 of the present embodiment is a roll of an adhesive tape having an adhesive layer 22.

図2に示されるように、清掃部材20には、エアシリンダ71(ローラ支持体駆動部)が設けられている。また、清掃部材20は、基板清掃用ライン60の長さ方向と直交する方向(図2における矢印A2方向)に沿って延びる一対のリニアガイド24を備えている。清掃部材20は、エアシリンダ71が駆動されると、リニアガイド24の延出方向(矢印A2方向)に沿って移動するようになっている。よって、エアシリンダ71は、前記単軸スライダ61とともに平行移動する基板15の端面16に対して清掃用ローラ21を接触させる方向(矢印A2方向)に、清掃部材20を移動させるようになっている。これにより、各清掃用ローラ21を基板15の端面16に押し付けることができる。なお、このエアシリンダ71と単軸スライダ61とにより、前記基板支持台41及び清掃部材20のうちの少なくともいずれかを動かして基板15の端面16と粘着層22とを接触させる駆動手段が構成される。   As shown in FIG. 2, the cleaning member 20 is provided with an air cylinder 71 (roller support driving unit). Further, the cleaning member 20 includes a pair of linear guides 24 extending along a direction (arrow A2 direction in FIG. 2) perpendicular to the length direction of the substrate cleaning line 60. When the air cylinder 71 is driven, the cleaning member 20 moves along the extending direction of the linear guide 24 (arrow A2 direction). Therefore, the air cylinder 71 moves the cleaning member 20 in a direction (arrow A2 direction) in which the cleaning roller 21 is brought into contact with the end surface 16 of the substrate 15 that moves in parallel with the single-axis slider 61. . Thereby, each cleaning roller 21 can be pressed against the end face 16 of the substrate 15. The air cylinder 71 and the uniaxial slider 61 constitute driving means for moving at least one of the substrate support base 41 and the cleaning member 20 to bring the end surface 16 of the substrate 15 into contact with the adhesive layer 22. The

次に、上記の基板端面自動清掃装置5を用いたビルドアップ多層樹脂配線基板の製造方法について説明する。   Next, the manufacturing method of the buildup multilayer resin wiring board using said board | substrate end surface automatic cleaning apparatus 5 is demonstrated.

まず、銅張積層板に対してドリル機を用いて孔あけ加工を行い、銅張積層板を貫通する貫通孔(図示略)を所定位置にあらかじめ形成しておく。なお、銅張積層板に対してYAGレーザまたは炭酸ガスレーザを用いてレーザ孔あけ加工を行うことで、貫通孔を形成してもよい。そして、従来公知の手法に従って無電解銅めっき及び電解銅めっきを行うことでめっきスルーホールを形成する。さらに、銅張積層板の両面の銅箔のエッチングを行って第1層めの導体層を例えばサブトラクティブ法によってパターニングする。具体的には、無電解銅めっきの後、この無電解銅めっき層を共通電極として電解銅めっきを施す。さらにドライフィルムをラミネートし、同ドライフィルムに対して露光及び現像を行うことにより、ドライフィルムを所定パターンに形成する。この状態で、不要な電解銅めっき層、無電解銅めっき層及び銅箔をエッチングで除去する。その後、ドライフィルムを剥離することにより、両面板である基板15を得る。なお、基板15を、セミアディティブ法によって形成してもよい。具体的には、無電解銅めっきの後、露光及び現像を行って所定パターンのめっきレジストを形成する。この状態で無電解銅めっき層を共通電極として電解銅めっきを施した後、まずレジストを溶解除去して、さらに不要な無電解銅めっき層をエッチングで除去する。その結果、両面板である基板15を得る。   First, a drilling machine is used for drilling a copper clad laminate, and a through hole (not shown) penetrating the copper clad laminate is formed in advance at a predetermined position. In addition, you may form a through-hole by performing a laser drilling process with respect to a copper clad laminated board using a YAG laser or a carbon dioxide gas laser. And a plating through hole is formed by performing electroless copper plating and electrolytic copper plating according to a conventionally well-known method. Further, the copper foil on both sides of the copper clad laminate is etched to pattern the first conductor layer by, for example, a subtractive method. Specifically, after the electroless copper plating, electrolytic copper plating is performed using the electroless copper plating layer as a common electrode. Further, the dry film is laminated, and the dry film is exposed and developed to form a dry film in a predetermined pattern. In this state, unnecessary electrolytic copper plating layer, electroless copper plating layer and copper foil are removed by etching. Then, the board | substrate 15 which is a double-sided board is obtained by peeling a dry film. The substrate 15 may be formed by a semi-additive method. Specifically, after electroless copper plating, exposure and development are performed to form a predetermined pattern of plating resist. In this state, after electrolytic copper plating is performed using the electroless copper plating layer as a common electrode, first, the resist is dissolved and removed, and further unnecessary electroless copper plating layer is removed by etching. As a result, a substrate 15 that is a double-sided board is obtained.

次に、層形成工程を実施する。具体的には、基板15の主面にフィルム状の層間絶縁材14を貼付した後、ラミネータ3を使用して貼付工程を実施し、保護フィルム層12を層間絶縁材14が貼付された基板15の主面にラミネートしておく。具体的には、まず、複数枚の基板15を隣接させて水平に配置した状態で、全基板15の主面を覆いうる大きさの保護フィルム層12をラミネータ3でラミネートする。そして、ラミネートされた保護フィルム層12を、フィルム切断装置4を用いて各基板15の大きさに合わせて切断する。   Next, a layer forming step is performed. Specifically, after pasting the film-like interlayer insulating material 14 on the main surface of the substrate 15, the laminator 3 is used to perform the pasting step, and the protective film layer 12 is pasted on the substrate 15 having the interlayer insulating material 14 pasted thereon. Laminate on the main surface. Specifically, first, the protective film layer 12 having a size capable of covering the main surface of all the substrates 15 is laminated by the laminator 3 in a state where the plurality of substrates 15 are disposed adjacently and horizontally. Then, the laminated protective film layer 12 is cut according to the size of each substrate 15 using the film cutting device 4.

その後、保護フィルム層12で保護された層間絶縁材14を有する基板15を基板端面自動清掃装置5に搬送し、切断工程を実施する。切断工程において、具体的には、まず、エアシリンダ44を駆動して基板支持台41を上方に移動させることにより、基板搬送用コンベア33上にある基板15を、基板支持台41によって支持させる。次に、保護フィルム層12を引張手段53にて面方向(水平方向)に引っ張った状態で、基板支持台41を切断刃52側に移動させることにより、層形成工程によって形成された保護フィルム層12を基板15の端面16にて切断する(図4,図7参照)。これにより、基板15の端面16から飛び出している余剰の保護フィルム層12が除去される。   Then, the board | substrate 15 which has the interlayer insulation material 14 protected by the protective film layer 12 is conveyed to the board | substrate end surface automatic cleaning apparatus 5, and a cutting process is implemented. Specifically, in the cutting step, first, the air cylinder 44 is driven to move the substrate support base 41 upward, so that the substrate 15 on the substrate transfer conveyor 33 is supported by the substrate support base 41. Next, in a state where the protective film layer 12 is pulled in the surface direction (horizontal direction) by the pulling means 53, the protective film layer formed by the layer forming step is moved by moving the substrate support base 41 to the cutting blade 52 side. 12 is cut at the end face 16 of the substrate 15 (see FIGS. 4 and 7). Thereby, the surplus protective film layer 12 protruding from the end face 16 of the substrate 15 is removed.

切断工程後、基板15の端面16を清掃する端面清掃工程を実施する。具体的には、基板支持台41をさらに清掃部材20側に移動させるとともに、清掃部材20を移動させて、基板15の端面16に各清掃用ローラ21を押し付けるようにする。この状態において、単軸スライダ61を駆動して基板支持台41を平行移動させると、各清掃用ローラ21が追従して回転することに伴い、基板15の端面16に付着したごみが粘着層22に貼り付けられて除去される(図8参照)。なお、基板15の端面16に各清掃用ローラ21が押し付けられた状態で、基板支持台41を往復させるようにしてもよい。このようにすれば、基板15の端面16に付着したごみをより確実に除去できる。   After the cutting process, an end face cleaning process for cleaning the end face 16 of the substrate 15 is performed. Specifically, the substrate support base 41 is further moved to the cleaning member 20 side, and the cleaning member 20 is moved so that each cleaning roller 21 is pressed against the end surface 16 of the substrate 15. In this state, when the single-axis slider 61 is driven to translate the substrate support base 41, dust attached to the end surface 16 of the substrate 15 is adhered to the adhesive layer 22 as each cleaning roller 21 rotates following the rotation. And is removed (see FIG. 8). Note that the substrate support base 41 may be reciprocated in a state where the cleaning rollers 21 are pressed against the end surface 16 of the substrate 15. In this way, dust attached to the end surface 16 of the substrate 15 can be more reliably removed.

端面清掃工程後、基板支持台41を前記基板搬送用コンベア33側に移動させ、エアシリンダ44を駆動して基板支持台41を下方に移動させることにより、基板支持台41上にある基板15を基板搬送用コンベア33上に載置させる。そして、基板搬送用コンベア33の各基板搬送ローラ32を回転駆動して、基板15を搬出する。   After the end face cleaning process, the substrate support table 41 is moved to the substrate transfer conveyor 33 side, and the air cylinder 44 is driven to move the substrate support table 41 downward, whereby the substrate 15 on the substrate support table 41 is moved. It is placed on the substrate transfer conveyor 33. Then, each substrate transport roller 32 of the substrate transport conveyor 33 is rotationally driven to carry out the substrate 15.

さらに、搬出された基板15の層間絶縁材14に対して露光を行った後、基板15をフィルム剥離装置7に搬送する。そして、保護フィルム層12を剥離する剥離工程を実施する。その結果、基板15から保護フィルム層12が完全に剥離され、後にビルドアップ多層樹脂配線基板の層間絶縁層となるべき層間絶縁材14が基板15上に残るようになる。また、保護フィルム層12が剥離された基板15は、基板搬出装置8によって搬出される。   Further, after exposing the interlayer insulating material 14 of the unloaded substrate 15, the substrate 15 is transported to the film peeling apparatus 7. And the peeling process which peels the protective film layer 12 is implemented. As a result, the protective film layer 12 is completely peeled off from the substrate 15, and an interlayer insulating material 14 to be an interlayer insulating layer of the build-up multilayer resin wiring substrate later remains on the substrate 15. The substrate 15 from which the protective film layer 12 has been peeled is carried out by the substrate carry-out device 8.

そして、搬出された基板15の層間絶縁材14に対して現像を行うことにより、ビア導体が形成されるべき位置に盲孔(ビア)を有する層間絶縁層を形成する。次に、従来公知の手法(例えばセミアディティブ法)に従って無電解銅めっきを行い、露光及び現像を行って所定パターンのめっきレジストを形成する。この状態で無電解銅めっき層を共通電極として電解銅めっきを施すことにより、前記盲孔の内部にビア導体を形成するとともに、層間絶縁層上に銅めっき層を形成する。さらに、レジストを溶解除去して、不要な無電解銅めっき層のエッチングを行うことにより、層間絶縁層上に第2層めの導体層を形成する(導体層形成工程)。   Then, development is performed on the interlayer insulating material 14 of the unloaded substrate 15 to form an interlayer insulating layer having a blind hole (via) at a position where a via conductor is to be formed. Next, electroless copper plating is performed according to a conventionally known method (for example, a semi-additive method), and exposure and development are performed to form a plating resist having a predetermined pattern. In this state, by performing electrolytic copper plating using the electroless copper plating layer as a common electrode, a via conductor is formed inside the blind hole, and a copper plating layer is formed on the interlayer insulating layer. Further, the resist is dissolved and removed, and an unnecessary electroless copper plating layer is etched to form a second conductor layer on the interlayer insulating layer (conductor layer forming step).

その後、前記貼付工程〜導体層形成工程を繰り返すことにより、層間絶縁層と導体層とが交互に積層されていく。これにより、ビルドアップ層が構成され、所望のビルドアップ多層樹脂配線基板が完成する。   Thereafter, by repeating the pasting step to the conductor layer forming step, the interlayer insulating layers and the conductor layers are alternately laminated. As a result, a build-up layer is formed, and a desired build-up multilayer resin wiring board is completed.

従って、本実施形態によれば以下の効果を得ることができる。   Therefore, according to the present embodiment, the following effects can be obtained.

(1)本実施形態の基板端面自動清掃装置5では、基板15の端面16と粘着層22とが接触させられて、端面16に付着したごみが粘着層22に貼り付けられて除去される。よって、基板15の端面16を清掃することができる。しかも、基板15の端面16を清掃するにあたって、作業者ではなく単軸スライダ61及びエアシリンダ71の駆動によって基板15の端面16と粘着層22とを接触させるようにしている。このため、長時間に亘って清掃作業を行ったとしても、作業効率が徐々に低下していくことはない。また、エアシリンダ71の駆動によって各清掃用ローラ21が基板15の端面16に押し付けられるため、基板15の端面16と粘着層22とを安定的に接触させることができる。よって、清掃作業後に基板15の端面16にごみが残ってしまう可能性が低くなる。ゆえに、残ったごみを除去するために清掃作業を繰り返す必要性が低くなるため、作業効率の低下を防止することができる。   (1) In the substrate end surface automatic cleaning device 5 of this embodiment, the end surface 16 of the substrate 15 and the adhesive layer 22 are brought into contact with each other, and dust attached to the end surface 16 is attached to the adhesive layer 22 and removed. Therefore, the end surface 16 of the substrate 15 can be cleaned. In addition, when cleaning the end surface 16 of the substrate 15, the end surface 16 of the substrate 15 and the adhesive layer 22 are brought into contact with each other by driving of the uniaxial slider 61 and the air cylinder 71 instead of an operator. For this reason, even if the cleaning operation is performed for a long time, the work efficiency does not gradually decrease. Further, since each cleaning roller 21 is pressed against the end face 16 of the substrate 15 by driving the air cylinder 71, the end face 16 of the substrate 15 and the adhesive layer 22 can be stably brought into contact with each other. Therefore, the possibility that dust will remain on the end surface 16 of the substrate 15 after the cleaning operation is reduced. Therefore, since it becomes less necessary to repeat the cleaning operation in order to remove the remaining dust, it is possible to prevent a reduction in work efficiency.

(2)本実施形態では、清掃用ローラ21が基板15の両方の端面16に2個ずつ接触するようになっている。このため、両清掃部材20間に基板15を一度通過させるだけで、両方の端面16の清掃作業を完了させることができる。従って、清掃作業を短時間で完了させることができるため、作業効率が向上する。   (2) In the present embodiment, two cleaning rollers 21 are in contact with both end surfaces 16 of the substrate 15. For this reason, the cleaning operation of both end surfaces 16 can be completed only by passing the substrate 15 between the cleaning members 20 once. Therefore, since the cleaning work can be completed in a short time, the work efficiency is improved.

(3)本実施形態では、切断機構51が基板清掃用ライン60を介して互いに対峙するように配置されている。このため、両切断機構51間に基板15を一度通過させるだけで、両方の端面16において余剰の保護フィルム層12を除去することができる。よって、両方の端面16の清掃作業を同時に開始させることができるため、作業効率が向上する。   (3) In the present embodiment, the cutting mechanisms 51 are arranged so as to face each other via the substrate cleaning line 60. For this reason, the surplus protective film layer 12 can be removed from both end surfaces 16 only by passing the substrate 15 between the two cutting mechanisms 51 once. Therefore, since the cleaning operation of both end faces 16 can be started at the same time, the work efficiency is improved.

(4)本実施形態では、引張手段53が基板清掃用ライン60を介して互いに対峙するように配置されている。このため、保護フィルム層12の余剰部分を切断する際に、保護フィルム層12は、基板15の進行方向の両側から引っ張られるようになる。よって、保護フィルム層12が引張手段53によって引っ張られた際に、基板15が進行方向に対して斜めになることを防止できる。   (4) In the present embodiment, the pulling means 53 are arranged so as to face each other via the substrate cleaning line 60. For this reason, when cutting the surplus part of the protective film layer 12, the protective film layer 12 comes to be pulled from both sides of the board | substrate 15 in the advancing direction. Therefore, when the protective film layer 12 is pulled by the pulling means 53, the substrate 15 can be prevented from being inclined with respect to the traveling direction.

(5)本実施形態の清掃用ローラ21は、粘着層22を有する粘着テープをロール状にしたものである。このため、外周面に露出した粘着層22が汚れて粘着力が低下したとしても、粘着テープを剥して汚れていない粘着層22を露出させることにより、清掃用ローラ21の粘着力を常に最良の状態に維持することができる。しかし、粘着テープが剥されていって、清掃用ローラ21の外径が小さくなると、粘着層22が基板15の端面16に接触しにくくなってくる。そこで、本実施形態では、エアシリンダ71を駆動することにより、清掃部材20を移動させて清掃用ローラ21を基板15の端面16に押し付けるようにしている。これにより、粘着層22と端面16との接触状態が一定に維持されるため、清掃作業を行ったにもかかわらず、基板15の端面16にごみが残ってしまう可能性を低くすることができる。   (5) The cleaning roller 21 of the present embodiment is a roll of an adhesive tape having the adhesive layer 22. For this reason, even if the adhesive layer 22 exposed on the outer peripheral surface is soiled and the adhesive force is lowered, the adhesive force of the cleaning roller 21 is always best by peeling the adhesive tape to expose the unstained adhesive layer 22. Can be maintained in a state. However, when the adhesive tape is peeled off and the outer diameter of the cleaning roller 21 is reduced, the adhesive layer 22 becomes difficult to contact the end face 16 of the substrate 15. Therefore, in this embodiment, by driving the air cylinder 71, the cleaning member 20 is moved to press the cleaning roller 21 against the end surface 16 of the substrate 15. Thereby, since the contact state between the adhesive layer 22 and the end surface 16 is maintained constant, the possibility that dust may remain on the end surface 16 of the substrate 15 can be reduced despite the cleaning operation. .

なお、本発明の実施形態は以下のように変更してもよい。   In addition, you may change embodiment of this invention as follows.

・上記実施形態では、各清掃用ローラ21は、基板15の端面16に対して垂直方向から接触するようにローラ支持軸23に支持されていた。   In the above embodiment, each cleaning roller 21 is supported by the roller support shaft 23 so as to come into contact with the end surface 16 of the substrate 15 from the vertical direction.

しかし、各清掃用ローラ21は、基板15の端面16に対して斜め方向から接触するようにローラ支持軸23に支持されていてもよい。具体的には、基板15の端面16に対する清掃用ローラ21の傾斜角度θ1を、例えば約15°に設定してもよい(図9参照)。このようにすれば、端面16のエッジに確実に清掃用ローラ21を接触させることができる。従って、基板15の端面16のエッジに付着したごみをより確実に除去できるため、清掃作業をより効率良く行うことができる。   However, each cleaning roller 21 may be supported by the roller support shaft 23 so as to contact the end surface 16 of the substrate 15 from an oblique direction. Specifically, the inclination angle θ1 of the cleaning roller 21 with respect to the end surface 16 of the substrate 15 may be set to about 15 °, for example (see FIG. 9). In this way, the cleaning roller 21 can be reliably brought into contact with the edge of the end face 16. Therefore, dust attached to the edge of the end surface 16 of the substrate 15 can be more reliably removed, so that the cleaning operation can be performed more efficiently.

なお、この場合、各清掃用ローラ21は、端面16の上側エッジ及び端面16の下側エッジに対して斜め方向から接触するようにローラ支持軸23に支持されることが好ましい(図9,図10参照)。このようにすれば、両清掃部材20間に基板15を一度通過させるだけで、端面16の上側エッジ及び下側エッジの両方の清掃作業を完了させることができる。従って、清掃作業を短時間で完了させることができるため、作業効率が向上する。   In this case, each cleaning roller 21 is preferably supported by the roller support shaft 23 so as to contact the upper edge of the end surface 16 and the lower edge of the end surface 16 from an oblique direction (FIGS. 9 and 9). 10). In this way, the cleaning work for both the upper edge and the lower edge of the end face 16 can be completed by passing the substrate 15 between the cleaning members 20 once. Therefore, since the cleaning work can be completed in a short time, the work efficiency is improved.

・上記実施形態の切断機構51は、基板15の端面16から飛び出している余剰の保護フィルム層12を切断するのに用いられていた。しかし、切断機構51は、端面16から飛び出している余剰の層間絶縁材14などの樹脂絶縁層を切断するのに用いられていてもよい。また、基板15にソルダーレジスト層やめっきレジスト層などのレジスト層が貼付されている場合、切断機構51を、端面16から飛び出している余剰のレジスト層を切断するのに用いてもよい。   The cutting mechanism 51 of the above embodiment is used to cut the excess protective film layer 12 protruding from the end surface 16 of the substrate 15. However, the cutting mechanism 51 may be used to cut a resin insulating layer such as an excess interlayer insulating material 14 protruding from the end face 16. Further, when a resist layer such as a solder resist layer or a plating resist layer is affixed to the substrate 15, the cutting mechanism 51 may be used to cut an excessive resist layer protruding from the end face 16.

・上記実施形態では、切断機構51を上下動させるようになっていたが、基板支持台41を上下動させるようになっていてもよい。例えば、切断刃52及び切断刃支持部56を上下動不能に固定にし、エアシリンダ44を用いて基板支持台41を上下動させる代わりに、ステッピングモータでボールネジを駆動して自動的に基板支持台41を上下動させることにより、切断刃52のどの位置に基板15の端面16を接触させるかを制御するようにしてもよい。このようにすれば、基板15を載せた基板支持台41の上下位置をより細かく制御することができる。しかも、多点位置決め制御が可能な単軸スライダ61を用いることで、保護フィルム層12を切断する際の基板15の高さの制御と、端面16を清掃する際の基板15の高さの制御とを個別に行うことができる。よって、切断刃52及び清掃用ローラ21を構成する粘着テープの上下幅をそれぞれ有効に用いることができるため、消耗部材(切断刃52及び粘着テープ)の使用量を減らすことができる。   In the above embodiment, the cutting mechanism 51 is moved up and down, but the substrate support base 41 may be moved up and down. For example, instead of fixing the cutting blade 52 and the cutting blade support 56 so that they cannot move up and down, and using the air cylinder 44 to move the substrate support table 41 up and down, the substrate support table is automatically driven by driving a ball screw with a stepping motor. You may make it control which position of the cutting blade 52 is made to contact the end surface 16 of the board | substrate 15 by moving 41 up and down. In this way, the vertical position of the substrate support base 41 on which the substrate 15 is placed can be controlled more finely. In addition, by using the single-axis slider 61 capable of multipoint positioning control, the control of the height of the substrate 15 when cutting the protective film layer 12 and the control of the height of the substrate 15 when cleaning the end face 16 are performed. And can be performed individually. Therefore, since the upper and lower widths of the adhesive tape constituting the cutting blade 52 and the cleaning roller 21 can be used effectively, the usage amount of the consumable members (the cutting blade 52 and the adhesive tape) can be reduced.

・上記実施形態では、基板端面自動清掃装置5を、ビルドアップ多層樹脂配線基板の層間絶縁層を形成する際に用いたが、ビルドアップ多層樹脂配線基板以外の配線基板の絶縁層を形成する際に用いてもよい。   In the above embodiment, the substrate edge surface automatic cleaning device 5 is used when forming the interlayer insulating layer of the build-up multilayer resin wiring board, but when forming the insulating layer of the wiring board other than the build-up multilayer resin wiring board. You may use for.

次に、前述した実施形態によって把握される技術的思想を以下に列挙する。   Next, the technical ideas grasped by the embodiment described above are listed below.

(1)樹脂絶縁層、レジスト層及び保護フィルム層のうちの少なくともいずれか1つが貼付された基板の端面を清掃するための装置であって、前記基板を支持する基板支持部材と、粘着部である粘着層を外周面に有する清掃用ローラと、複数の清掃用ローラを転動可能に支持するローラ支持体と、前記基板支持部材及び前記ローラ支持体のうちの少なくともいずれかを動かして前記基板の端面と前記粘着部とを接触させる駆動手段とを備え、前記各清掃用ローラは、前記端面の上側エッジまたは前記端面の下側エッジに対して斜め方向から接触するように前記ローラ支持体に支持されることを特徴とする基板端面自動清掃装置。   (1) An apparatus for cleaning an end face of a substrate on which at least one of a resin insulating layer, a resist layer, and a protective film layer is affixed, comprising: a substrate support member that supports the substrate; and an adhesive portion A cleaning roller having an adhesive layer on the outer peripheral surface, a roller support that supports a plurality of cleaning rollers in a rollable manner, and at least one of the substrate support member and the roller support is moved to move the substrate. Driving means for bringing the end face of the end face into contact with the adhesive portion, and each cleaning roller contacts the roller support body so as to contact the upper edge of the end face or the lower edge of the end face from an oblique direction. A substrate end face automatic cleaning device, characterized in that it is supported.

本実施形態のフィルムラミネーションラインを示す概略図。Schematic which shows the film lamination line of this embodiment. 本実施形態の基板端面自動清掃装置を示す上面図。The top view which shows the board | substrate end surface automatic cleaning apparatus of this embodiment. 本実施形態の基板端面自動清掃装置を示す正面図。The front view which shows the board | substrate end surface automatic cleaning apparatus of this embodiment. 余剰の保護フィルムを切断する動作を行う際の状態を示す要部概略図。The principal part schematic diagram which shows the state at the time of performing the operation | movement which cut | disconnects an excess protective film. 図4のA−A線断面図。AA line sectional view of Drawing 4. 基板の端面を清掃する際の状態を示す要部概略図。The principal part schematic which shows the state at the time of cleaning the end surface of a board | substrate. 余剰の保護フィルムを切断する動作を行う際の状態を示す概略斜視図。The schematic perspective view which shows the state at the time of performing the operation | movement which cut | disconnects an excess protective film. 基板の端面を清掃する際の状態を示す概略斜視図。The schematic perspective view which shows the state at the time of cleaning the end surface of a board | substrate. 他の実施形態における基板の端面を清掃する際の状態を示す要部概略図。The principal part schematic diagram which shows the state at the time of cleaning the end surface of the board | substrate in other embodiment. 他の実施形態における基板の端面を清掃する際の状態を示す概略斜視図。The schematic perspective view which shows the state at the time of cleaning the end surface of the board | substrate in other embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

5…基板端面自動清掃装置
12…保護フィルム層
14…樹脂絶縁層としての層間絶縁材
15…基板
16…端面
20…清掃部材
21…清掃用ローラ
22…粘着部である粘着層
23…ローラ支持体としてのローラ支持軸
41…基板支持部材としての基板支持台
51…切断機構
52…切断刃
53…引張手段
55…上下位置調整手段
61…基板支持部材駆動部としての単軸スライダ
71…ローラ支持体駆動部としてのエアシリンダ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 5 ... Board | substrate end surface automatic cleaning apparatus 12 ... Protective film layer 14 ... Interlayer insulating material 15 as a resin insulating layer ... Board | substrate 16 ... End surface 20 ... Cleaning member 21 ... Cleaning roller 22 ... Adhesive layer 23 which is an adhesion part ... Roller support body A roller support shaft 41 as a substrate support base 51 as a substrate support member ... a cutting mechanism 52 ... a cutting blade 53 ... a tension means 55 ... a vertical position adjusting means 61 ... a single-axis slider 71 as a substrate support member drive unit ... a roller support Air cylinder as drive unit

Claims (11)

樹脂絶縁層、レジスト層及び保護フィルム層のうちの少なくともいずれか1つが貼付された基板の端面を清掃するための装置であって、
前記基板を支持する基板支持部材と、
粘着部を有する清掃部材と、
前記基板支持部材及び前記清掃部材のうちの少なくともいずれかを動かして前記基板の端面と前記粘着部とを接触させる駆動手段と
を備えることを特徴とする基板端面自動清掃装置。
An apparatus for cleaning an end face of a substrate to which at least one of a resin insulating layer, a resist layer, and a protective film layer is attached,
A substrate support member for supporting the substrate;
A cleaning member having an adhesive portion;
An apparatus for automatically cleaning a substrate end surface, comprising driving means for moving at least one of the substrate support member and the cleaning member to bring the end surface of the substrate into contact with the adhesive portion.
前記清掃部材は、粘着部である粘着層を外周面に有する清掃用ローラと、その清掃用ローラを転動可能に支持するローラ支持体とを含んで構成されていることを特徴とする請求項1に記載の基板端面自動清掃装置。   The said cleaning member is comprised including the roller for cleaning which has the adhesion layer which is an adhesion part on an outer peripheral surface, and the roller support body which supports the roller for cleaning so that rolling is possible. The substrate end face automatic cleaning apparatus according to 1. 前記清掃用ローラは、前記基板の端面に対して斜め方向から接触するように前記ローラ支持体に支持されることを特徴とする請求項2に記載の基板端面自動清掃装置。   3. The substrate end face automatic cleaning device according to claim 2, wherein the cleaning roller is supported by the roller support so as to contact the end face of the substrate from an oblique direction. 前記基板の端面に対する前記清掃用ローラの傾斜角度θ1は、0°<θ1<30°に設定されることを特徴とする請求項3に記載の基板端面自動清掃装置。   4. The substrate end face automatic cleaning apparatus according to claim 3, wherein an inclination angle [theta] 1 of the cleaning roller with respect to the end face of the substrate is set to 0 [deg.] <[Theta] 1 <30 [deg.]. 前記駆動手段は、
前記基板を支持した状態の前記基板支持部材を前記基板の面方向に沿って平行移動させる基板支持部材駆動部と、
前記基板支持部材駆動部とともに平行移動する前記基板の端面に対して前記清掃用ローラを接触させる方向に、前記ローラ支持体を押圧するローラ支持体駆動部と
を含んで構成されていることを特徴とする請求項2乃至4のいずれか1項に記載の基板端面自動清掃装置。
The driving means includes
A substrate support member driving unit that translates the substrate support member in a state of supporting the substrate along a surface direction of the substrate;
And a roller support driving unit that presses the roller support in a direction in which the cleaning roller is brought into contact with an end face of the substrate that moves in parallel with the substrate support driving unit. The substrate end face automatic cleaning apparatus according to any one of claims 2 to 4.
前記基板の端面から飛び出している余剰の樹脂絶縁層、レジスト層及び保護フィルム層のうちの少なくともいずれか1つを前記清掃部材による清掃の実施前に切断する切断機構を備えることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の基板端面自動清掃装置。   A cutting mechanism is provided that cuts at least one of an excess resin insulating layer, a resist layer, and a protective film layer protruding from an end surface of the substrate before the cleaning by the cleaning member. Item 6. The substrate end face automatic cleaning device according to any one of Items 1 to 5. 前記切断機構は切断刃を有するとともに、前記基板支持部材の移動方向を基準とした前記切断刃の傾斜角度θ2は10°<θ2<20°に設定されることを特徴とする請求項6に記載の基板端面自動清掃装置。   The cutting mechanism includes a cutting blade, and an inclination angle θ2 of the cutting blade with respect to a moving direction of the substrate support member is set to 10 ° <θ2 <20 °. Automatic substrate end face cleaning device. 前記切断機構は、前記切断刃による切断の際に、余剰の樹脂絶縁層、レジスト層及び保護フィルム層のうちの少なくともいずれか1つを引っ張る引張手段を有することを特徴とする請求項6または7に記載の基板端面自動清掃装置。   The said cutting mechanism has a tension means which pulls at least any one of a surplus resin insulation layer, a resist layer, and a protective film layer at the time of the cutting | disconnection by the said cutting blade, The Claim 6 or 7 characterized by the above-mentioned. The board | substrate end surface automatic cleaning apparatus of description. 前記基板と前記切断刃との相対的な上下位置関係を調整するための上下位置調整手段を有することを特徴とする請求項7または8に記載の基板端面自動清掃装置。   The apparatus for automatically cleaning a substrate end face according to claim 7 or 8, further comprising a vertical position adjusting means for adjusting a relative vertical positional relationship between the substrate and the cutting blade. 樹脂絶縁層、レジスト層及び保護フィルム層のうちの少なくともいずれか1つを基板の表面に形成する層形成工程と、
樹脂絶縁層、レジスト層及び保護フィルム層のうちの少なくともいずれか1つを前記基板の端面にて切断する切断工程と、
粘着部を有する清掃部材を前記基板の端面に接触させることにより、前記基板の端面を清掃する端面清掃工程と
を含むことを特徴とする配線基板の製造方法。
A layer forming step of forming at least one of a resin insulating layer, a resist layer and a protective film layer on the surface of the substrate;
A cutting step of cutting at least one of a resin insulating layer, a resist layer, and a protective film layer at an end surface of the substrate;
A method of manufacturing a wiring board comprising: an end face cleaning step of cleaning an end face of the substrate by bringing a cleaning member having an adhesive portion into contact with the end face of the substrate.
樹脂絶縁層、レジスト層及び保護フィルム層のうちの少なくともいずれか1つを基板の表面に形成する層形成工程と、
樹脂絶縁層、レジスト層及び保護フィルム層のうちの少なくともいずれか1つを前記基板の端面にて切断する切断工程と、
請求項1乃至9のいずれか1項に記載の基板端面自動清掃装置を用いて、前記基板の端面を清掃する端面清掃工程と
を含むことを特徴とする配線基板の製造方法。
A layer forming step of forming at least one of a resin insulating layer, a resist layer and a protective film layer on the surface of the substrate;
A cutting step of cutting at least one of a resin insulating layer, a resist layer, and a protective film layer at an end surface of the substrate;
A method for manufacturing a wiring board, comprising: an end face cleaning step of cleaning the end face of the substrate using the automatic substrate end face cleaning device according to claim 1.
JP2004350484A 2004-12-02 2004-12-02 Substrate end surface automatic cleaning apparatus and manufacturing method of wiring board Pending JP2006165072A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004350484A JP2006165072A (en) 2004-12-02 2004-12-02 Substrate end surface automatic cleaning apparatus and manufacturing method of wiring board

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004350484A JP2006165072A (en) 2004-12-02 2004-12-02 Substrate end surface automatic cleaning apparatus and manufacturing method of wiring board

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2006165072A true JP2006165072A (en) 2006-06-22

Family

ID=36666764

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004350484A Pending JP2006165072A (en) 2004-12-02 2004-12-02 Substrate end surface automatic cleaning apparatus and manufacturing method of wiring board

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2006165072A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20150013047A (en) 2013-07-26 2015-02-04 닛토덴코 가부시키가이샤 Method for removing foreign substance from film laminate, and method and apparatus for manufacturing film laminate
KR20150015385A (en) 2013-07-31 2015-02-10 닛토덴코 가부시키가이샤 Method for removing foreign substance from film laminate, and method and apparatus for manufacturing film laminate

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6225034A (en) * 1985-07-26 1987-02-03 Asahi Chem Ind Co Ltd Continuously and automatically cutting laminator
JP2001205210A (en) * 2000-01-24 2001-07-31 Reyoon Kogyo:Kk Mechanism for treating edge of panel material and apparatus for treating edge of panel material using the same

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6225034A (en) * 1985-07-26 1987-02-03 Asahi Chem Ind Co Ltd Continuously and automatically cutting laminator
JP2001205210A (en) * 2000-01-24 2001-07-31 Reyoon Kogyo:Kk Mechanism for treating edge of panel material and apparatus for treating edge of panel material using the same

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20150013047A (en) 2013-07-26 2015-02-04 닛토덴코 가부시키가이샤 Method for removing foreign substance from film laminate, and method and apparatus for manufacturing film laminate
KR20150015385A (en) 2013-07-31 2015-02-10 닛토덴코 가부시키가이샤 Method for removing foreign substance from film laminate, and method and apparatus for manufacturing film laminate

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7481901B2 (en) Method and apparatus for producing a wiring board, including film-peeling
KR20130128950A (en) Coverlay loading device
JP2005347618A (en) Photosensitive web unit, and manufacturing apparatus and method of photosensitive laminate
KR100226875B1 (en) Continuously feeding method of stock film in film stretchingly sticking apparatus and device thereof
JP4400673B2 (en) Three-dimensional circuit board forming apparatus and forming method
KR101182847B1 (en) Attaching apparatus for stiffener
JP2007320678A (en) Method and device for peeling outer layer body
KR101079950B1 (en) Pre-laminating apparatus of printed circuit board
JP4320298B2 (en) Film peeling device
JP2006165072A (en) Substrate end surface automatic cleaning apparatus and manufacturing method of wiring board
JP4626508B2 (en) Foreign matter removing method and multilayer body manufacturing apparatus
JP2001125274A (en) Exposure device for manufacturing circuit board
CN1339244A (en) Method and system for processing metal-cold laminate for printed-circuit board
KR20080106518A (en) Method of applying elongate web
WO2005065001A1 (en) Method and apparatus for manufacturing circuit board
KR102265877B1 (en) Copper foil scrap removal device of printed board
JP2006310872A (en) Manufacturing apparatus and method for manufacturing circuit forming substrate
JP2005340594A (en) Insulating resin film for printed circuit board and forming method of insulating layer using the same
JP4719790B2 (en) Reinforcing plate pasting device
JP2006186301A (en) Method of producing wiring board
JP2007294938A (en) Method and device for cleaning workpiece, and method and device for manufacturing printed wiring board
JP3697973B2 (en) Substrate processing equipment for circuit board manufacturing
JP3780875B2 (en) Cutting method of connected circuit boards
JP2005340595A (en) Vacuum laminating apparatus and forming method of insulation layer using the same
JP2009078509A (en) Photosensitive laminate manufacturing system

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20071120

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100304

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100330

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20101124