JP2006145267A - Waveform display - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、入力信号の信号波形を表示する波形表示装置に関するものである。 The present invention relates to a waveform display device that displays a signal waveform of an input signal.
この種の波形表示装置として、特開平11−118532号公報に開示された記録計が知られている。この記録計では、入力信号を測定した波形(信号波形)の許容範囲を表す波形判定エリアを基準波形の上下方向に予め設定された所定幅で自動的に生成して、信号波形と波形判定エリアとを表示手段に表示する。このため、測定者は、波形判定エリア内に信号波形が属しているか否かに基づいて信号波形の合否を判別することが可能となっている。
ところが、従来の記録計には、以下の問題点がある。すなわち、この記録計では、信号波形と1つの波形判定エリアとを同時に表示して、この1つの波形判定エリア内に信号波形が属しているか否かを判別させている。したがって、この記録計には、波形判定エリア内に信号波形がすべて属している限り、非常に余裕があって合格した高品質なものも、ぎりぎりで合格した低品質なものも共に合格という同じ判定結果となる。具体的には、例えばロジックICなどを判定対象体とする場合、ロジックICから出力される信号波形の応答時間(遅延時間や立ち上がり時間等)が十分に短くて高品質なものも、応答時間が長くて不良に近い低品質なものも共に合格という同じ判定結果となる。このため、従来の記録計には、入力信号の品質の程度を的確に判別するのが困難であり、例えば判定対象体をランク毎に選別するのが困難であるという問題点が存在する。 However, the conventional recorder has the following problems. That is, in this recorder, the signal waveform and one waveform determination area are displayed simultaneously, and it is determined whether or not the signal waveform belongs to this one waveform determination area. Therefore, as long as all of the signal waveforms belong to the waveform judgment area, this recorder has the same judgment that both high-quality ones that have been passed with sufficient margin and low-quality ones that have passed the last minute are acceptable. Result. Specifically, for example, when a logic IC or the like is used as a determination target, a response time (delay time, rise time, etc.) of a signal waveform output from the logic IC is sufficiently short and the response time is high. Long and low-quality ones with the same quality result are both accepted. For this reason, the conventional recorder has a problem that it is difficult to accurately determine the quality of the input signal, for example, it is difficult to select a determination target for each rank.
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、入力信号の品質の程度を判別させ得る波形表示装置を提供することを主目的とする。 The present invention has been made in view of such problems, and a main object of the present invention is to provide a waveform display device that can determine the quality of an input signal.
上記目的を達成すべく請求項1記載の波形表示装置は、入力信号を所定の周期で測定して測定値を出力する測定部と、前記測定値を記憶する第1の記憶部と、前記入力信号用に設定された複数の判定エリアを互いに重なり合わせることなく隣接した状態で前記表示部に表示するためのエリアデータを記憶する第2の記憶部と、前記第1の記憶部から前記測定値を読み出して前記入力信号の信号波形を表示部に表示させると共に前記第2の記憶部から前記エリアデータを読み出して前記複数の判定エリアを互いに重なり合うことなく隣接した状態で当該表示部に表示させる制御部とを備えている。
In order to achieve the above object, the waveform display device according to
また、請求項2記載の波形表示装置は、請求項1記載の波形表示装置において、前記制御部は、前記複数の判定エリアのうちの前記信号波形の一部または全部が属する判定エリアを特定し、その特定結果に基づく結果情報を報知する。
The waveform display device according to
また、請求項3記載の波形表示装置は、請求項2記載の波形表示装置において、前記制御部は、前記結果情報を前記表示部に表示させて報知する。
Further, in the waveform display device according to
また、請求項4記載の波形表示装置は、請求項1から3のいずれかに記載の波形表示装置において、前記第2の記憶部は、前記複数の判定エリアを前記表示部の横軸方向に沿って互いに重なり合わせることなく隣接した状態で表示するための前記エリアデータを記憶し、前記制御部は、前記第2の記憶部から前記エリアデータを読み出して前記横軸方向に沿って前記複数の判定エリアを互いに重なり合うことなく隣接した状態で前記表示部に表示させる。
The waveform display device according to
また、請求項5記載の波形表示装置は、請求項1から3のいずれかに記載の波形表示装置において、前記第2の記憶部は、前記複数の判定エリアを前記表示部の縦軸方向に沿って互いに重なり合わせることなく隣接した状態で表示するためのエリアデータを記憶し、前記制御部は、前記第2の記憶部から前記エリアデータを読み出して前記縦軸方向に沿って前記複数の判定エリアを互いに重なり合うことなく隣接した状態で前記表示部に表示させる。
The waveform display device according to
請求項1記載の波形表示装置によれば、制御部が互いに重なり合うことなく隣接した状態で複数の判定エリアを表示部に表示させることにより、1つの判定エリアを表示させる従来の記録計と比較して、例えば、信号波形の属する判定エリアの数や信号波形の立ち上がりを完了する判定エリアが識別されるため、この識別された判定エリアに基づいて信号波形の立ち上がり時間や遅延時間などの入力信号の品質を測定者に的確に判別させることができる。この結果、この品質に基づいて判定対象体のランクを的確に判別させることができる。 According to the waveform display device of the first aspect, the control unit displays a plurality of determination areas on the display unit adjacent to each other without overlapping each other, thereby comparing with a conventional recorder that displays one determination area. Thus, for example, the number of determination areas to which the signal waveform belongs and the determination area that completes the rise of the signal waveform are identified. Based on the identified determination area, the input signal such as the rise time and delay time of the signal waveform is identified. The quality can be accurately discriminated by the measurer. As a result, the rank of the determination object can be accurately determined based on this quality.
また、請求項2記載の波形表示装置によれば、制御部が複数の判定エリアのうちの信号波形の一部または全部が属する判定エリアを特定し、この特定結果に基づく結果情報を報知することにより、信号波形の属する判定エリアを正確かつ迅速に識別させることができる結果、入力信号の品質を測定者に短時間でしかも的確に判別させることができる。 According to the waveform display device of the second aspect, the control unit specifies a determination area to which a part or all of the signal waveform of the plurality of determination areas belongs, and notifies the result information based on the determination result. As a result, the determination area to which the signal waveform belongs can be identified accurately and quickly. As a result, the quality of the input signal can be determined accurately in a short time by the measurer.
また、請求項3記載の波形表示装置によれば、制御部が結果情報を表示部に表示させて報知することにより、信号波形の属する判定エリアを一見するだけで容易に識別させることができるため、入力信号の品質を測定者に迅速に判別させることができる。 According to the waveform display device of the third aspect, since the control unit displays the result information on the display unit and notifies the user, it is possible to easily identify the determination area to which the signal waveform belongs by just looking at it. The quality of the input signal can be quickly determined by the measurer.
また、請求項4記載の波形表示装置によれば、制御部が第2の記憶部からエリアデータを読み出して横軸方向に沿って複数の判定判定エリアを互いに重なり合うことなく隣接した状態で表示部に表示させることにより、例えば立ち上がり時間などの時間軸に対する信号波形の電圧軸方向への変化の程度を信号波形の属する判定エリアによって特定することができるため、時間軸方向についての入力信号の品質を測定者に的確に判別させることができる。 According to the waveform display device of the fourth aspect, the control unit reads the area data from the second storage unit, and the display units are adjacent to each other without overlapping each other along the horizontal axis direction without overlapping each other. Since the display area can specify the degree of change of the signal waveform in the voltage axis direction with respect to the time axis such as the rise time, for example, by the determination area to which the signal waveform belongs, the quality of the input signal in the time axis direction can be determined. The measurer can be discriminated accurately.
また、請求項5記載の波形表示装置によれば、制御部が第2の記憶部からエリアデータを読み出して縦軸方向に沿って複数の判定エリアを互いに重なり合うことなく隣接した状態で表示部に表示させることにより、例えば振動する信号波形などの電圧軸方向への信号波形の変化の程度を信号波形の属する判定エリアの数によって特定することができるため、電圧軸方向についての入力信号の収束程度に関する品質を測定者に的確に判別させることができる。 According to the waveform display device of the fifth aspect, the control unit reads the area data from the second storage unit, and the plurality of determination areas are adjacent to each other along the vertical axis direction without overlapping each other. By displaying, for example, the degree of change in the signal waveform in the voltage axis direction, such as the oscillating signal waveform, can be specified by the number of determination areas to which the signal waveform belongs, so the degree of convergence of the input signal in the voltage axis direction The quality can be determined accurately by the measurer.
以下、本発明に係る波形表示装置について添付図面を参照して説明する。 Hereinafter, a waveform display device according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
最初に、波形表示装置1の構成について、図面を参照して説明する。
First, the configuration of the
図1に示す波形表示装置1は、判定対象体(一例として、ロジックIC:図示せず)からの入力信号S1の電気的パラメータ(例えば電圧)を所定周期で測定した測定値VSに基づき、それぞれ後述する入力信号S1についての信号波形WSおよび別個独立した複数のランク判定エリア(本発明における判定エリアに相当し、以下、単にエリアともいう)Z1〜Z5についての表示処理、並びに入力信号S1(信号波形WS)の一部または全部が各エリアZ1〜Z5のいずれに属するするかを特定するエリア特定処理などを実行する。ここでは、一例として、ロジックICにローレベルからハイレベルに立ち上がる入力信号S0を入力して、この入力信号S0の入力に同期してロジックICから出力される信号を入力信号S1として波形表示装置1に入力させて、このロジックICの応答特性の良否、つまりロジックICの品質の程度を測定者に最終的に判別させる例について説明する。
The
波形表示装置1は、測定部2、操作部3、制御部4、表示部5、VRAM6、ROM7およびRAM8,9を備えて構成されている。測定部2は、A/D変換器を備えて構成され、予め設定された所定条件が満たされたときに(一例として、ロジックICへの入力信号S0が予め設定された電圧を超えたときに)、信号入力コネクタを介して入力した入力信号S1の電圧を所定周期で所定時間だけ測定(サンプリング)して2値データの測定値VSを出力する。操作部3は、入力信号に対する複数のエリアを設定するためのエリア設定キー、および数値を入力する数値入力キーなどを備えて構成され、これらのキー操作に応じた操作信号S2を出力する。
The
制御部4は、波形表示装置1を総括的に制御すると共に、予め設定された動作条件に従って各種の処理を実行する。具体的には、制御部4は、後述する画像表示処理では、図2に示すように、入力信号S1についての信号波形WS1〜WS5(以下、各信号波形WS1〜WS5を区別しないときには信号波形WSともいう)、および波形判定用の例えば5つのエリアZ1〜Z5等を表示部5の表示画面に表示させる。この場合、制御部4は、信号波形WS、エリアZ1〜Z5、電圧スケールVおよび時間スケールT等をVRAM6内に仮想的に描画することにより、これらを表示部5に表示させるための表示用データDをVRAM6内に生成する。また、制御部4は、後述するエリア特定処理を実行して、各エリアZ1〜Z5に信号波形WSの一部または全部(この例では信号波形WSの立ち上がり波形の一部)が属するエリアを特定すると共に、信号波形WSの一部が属するエリア(Z1〜Z5のいずれか1つ以上)を表す特定結果表示A(本発明における結果情報の一例)を図2に示すように表示部5の表示画面に表示(報知の一例)させる。この場合、制御部4は、表示部5の表示画面に対応するRAM9内の仮想平面上に入力信号S1についての波形判定用のエリアZ1〜Z5を描画して、入力信号S1に対するエリア特定処理を実行する。
The
表示部5は、一例としてカラー液晶パネルを備えて構成され、制御部4の制御に従い、信号波形WS、エリアZ1〜Z5、電圧スケールV、時間スケールTおよび特定結果表示Aなどをカラー表示する。VRAM6は、制御部4によって生成された表示用データDを記憶する。ROM7は、本発明における第2の記憶部に相当し、フラッシュROMで構成されて、制御部4の動作プログラムを記憶すると共に、各エリアZ1〜Z5を互いに重なり合わせることなく隣接した状態で表示部5の表示画面に表示するためのエリアデータDa〜Ddを記憶する。RAM8は、本発明における第1の記憶部に相当し、測定部2から出力されて制御部4の制御下で転送された測定値VS,VS・・を記憶する。RAM9は、制御部4によって仮想平面に描画されたエリアZ1〜Z5を記憶する。
The
次に、波形表示装置1の全体的な動作について、図面を参照して説明する。
Next, the overall operation of the
まず、入力信号S1のエリア特定処理の事前準備として、入力信号S1に対するエリア特定処理に用いるエリアZ1〜Z5を波形表示装置1に設定する。この場合、操作部3のエリア設定キーおよび数値入力キーを操作することで、各エリアZ1〜Z5のそれぞれの領域を示す図形または数値を入力する。この際に、制御部4が、この操作に従って操作部3から出力された図形または数値を示すデータに基づいて、エリアZ1〜Z5を示すエリアデータDa〜Ddを生成してROM7に記憶させる。この例では、エリアZ1として、この領域内に入力信号S1の立ち上がり波形が属しているときに、つまり、入力信号S1がこの領域内のみを通過して立ち上がっているときに、この入力信号S1を出力したロジックICを高速品として選別可能な領域を設定する。同様にして、エリアZ2,Z3,Z4,Z5としては、これらの各領域内のみに入力信号S1の立ち上がり波形が属しているときに、つまり、入力信号S1がこれらの領域内のみを通過して立ち上がっているときに、中高速品、中速品、低速品、および極く低速品としてそれぞれ選別可能な領域を設定する。この場合、入力信号S1の立ち上がり波形が複数のエリアに属しているときには、遅い方の速度の品として選別される。また、属するエリアの数が多いほど、立ち上がりが緩やかな品として選別される。さらに、エリアZ5については、不合格品として判定するための領域であって、入力信号S1の立ち上がり波形がこの領域を通過して立ち上がっているときには、遅延時間が極めて遅い不合格品として選別される。具体的には、一例として、エリアZ1としては、時間が0.7ns以上0.9ns未満で、電圧が0.8V以上3.2V以下の領域を設定する。同様にして、エリアZ2〜Z5としては、時間がそれぞれ0.9ns以上1.1ns未満、1.1ns以上1.3ns未満、1.3ns以上1.5ns未満、および1.5ns以上1.7ns未満で、電圧が共に0.8V以上3.2V以下の領域を設定する。以上により、エリア特定処理に用いるエリアZ1〜Z5が設定されて、エリア特定処理の事前準備が終了する。
First, areas Z1 to Z5 used for area identification processing for the input signal S1 are set in the
次いで、判定対象体のロジックICにおける信号出力端子と波形表示装置1の測定部2の信号入力コネクタとを相互に接続すると共に、ロジックICにおける信号入力端子と測定部2の信号入力コネクタとを相互に接続した状態で、ロジックICを作動させる。続いて、ロジックICの信号入力端子にローレベルからハイレベルに立ち上がる入力信号S0を入力する。次いで、測定部2に入力される入力信号S0が所定電圧を超えたときに、ロジックICから出力される入力信号S1を所定周期でサンプリングすることにより、入力信号S1についての測定値VS,VS・・を所定時間に亘って順次生成して出力する。また、制御部4が、測定部2から出力された測定値VS,VS・・をRAM8に順次記憶させる。
Next, the signal output terminal in the logic IC of the determination target and the signal input connector of the
また、制御部4は、信号波形WS1およびエリアZ1〜Z5等を表示させる画像表示処理を実行する。この画像表示処理では、制御部4は、最初に、ROM7に記憶させたエリアデータDa〜Ddに基づくエリアZ1〜Z5、電圧スケールVおよび時間スケールTをVRAM6の仮想平面上に仮想的に描画することにより、これらを表示させるための表示用データDをVRAM6内に生成する。この場合、制御部4は、各エリアZ1〜Z5の各領域がそれぞれ異なる色で識別可能に表示されるように表示用データDを生成する。また、制御部4は、RAM8に記憶させた測定値VS,VS・・に基づく信号波形WS1をエリアZ1〜Z5等と重ね合わさるようにして仮想平面上に仮想的に描画して表示用データDをVRAM6内に生成する。この場合、制御部4は、各エリアZ1〜Z5の各領域の色とは異なる色で信号波形WS1が表示されるように表示用データDを生成する。続いて、表示部5は、VRAM6から表示用データDを読み出して、表示用データDに基づく波形表示画面(信号波形WS1およびエリアZ1〜Z5等)を表示画面に表示する。この場合、図2に示すように、エリアZ1〜Z5は、横軸(時間軸)方向に沿って、互いに重なり合うことなく隣接した状態で表示部5の表示画面にカラー表示される。具体的には、各エリアZ1〜Z5は、時間軸に対して0.2ns幅で、電圧軸に対しては共に2.4V幅の縦長で帯状の領域で表示される。この場合、1つのエリアではなく、細分化された5つのエリアZ1〜Z5が表示されているため、信号波形WS1の通過するエリアの数や信号波形WS1の立ち上がりを完了するエリアを識別するだけで、この識別したエリアに基づいてロジックICの品質が測定者によって正確かつ容易に判別される。具体的には、信号波形WS1については、図2に示すように、エリアZ1〜Z5のうちのエリアZ1内のみを通過すると識別されるため、信号波形WS1の立ち上がり時間が1つのエリア幅(この場合、0.2ns)の時間内であること、および、ロジックICの入力信号S0が所定の電圧を超えてから信号波形WS1の立ち上がりが完了するまでの遅延時間がエリアZ1に対応付けられている時間内(この例では、0.7ns以上0.9ns未満の時間内)であるというロジックICの品質が測定者によって正確かつ容易に判別される。この結果、この入力信号S1を出力したロジックICのランクが合格品であって高速品であると測定者によって的確に判別される。
In addition, the
一方、制御部4は、エリア特定処理を開始する。このエリア特定処理では、制御部4は、エリアZ1〜Z5をVRAM6内の仮想平面上に仮想的に描画する際に、エリアZ1〜Z5をRAM9内の仮想平面上にも仮想的に描画する。また、制御部4は、信号波形WS1をVRAM6内の仮想平面上に描画する際に、RAM9内の仮想平面上に信号波形WS1を描画させたとしたときにその描画すべき位置にエリアZ1〜Z5が存在するか否かを判定する。また、制御部4は、信号波形WSを描画すべき位置にエリアZ1〜Z5が存在すると判定したときに、いずれのエリアが存在したのかを特定する。この場合、制御部4は、図2に示すように、信号波形WS1がエリアZ1〜Z5のうちのエリアZ1内にのみ存在するため、信号波形WS1がエリアZ1内のみを通過すると特定する。続いて、制御部4は、この特定した結果を表す特定結果表示A(この場合、同図に示す「通過Z1」の文字)を信号波形WS1等と重ね合わさるように仮想平面内に仮想的に描画して表示用データDをVRAM6内に生成する。続いて、表示部5は、VRAM6から表示用データDを読み出して、同図に示すように、信号波形WS1およびエリアZ1〜Z5と共に特定結果表示A(「通過Z1」の文字)を表示部5の表示画面に表示する。以上により、エリア特定処理が終了する。この場合、「通過Z1」との特定結果表示Aが表示部5の表示画面に表示されることにより、特定結果表示Aを見るだけで信号波形WS1の属するエリアが正確かつ迅速に識別されるため、ロジックICの品質が測定者によって正確かつ容易に判別される。この結果、この入力信号S1を出力したロジックICのランクが合格品であって高速品であると測定者によって的確に判別される。
On the other hand, the
次いで、ロジックICを順次交換して、上記と同様にして、各ロジックICに対して画像表示処理およびエリア特定処理を実行する。これに応じて、各ロジックICに対応する信号波形WS2〜WS5が表示部5の表示画面に表示されたものとする。この場合、上記と同様にして、各信号波形WS2〜WS5の通過するエリアの数や各信号波形WS2〜WS5の立ち上がりを完了するエリアを識別することにより、ロジックICの品質が測定者によって的確に判別される。この結果、信号波形WS2〜WS5に対応する入力信号S1を出力したロジックICのランクが測定者によって的確に判別される。
Next, the logic ICs are sequentially replaced, and image display processing and area identification processing are executed for each logic IC in the same manner as described above. In response to this, it is assumed that signal waveforms WS2 to WS5 corresponding to the respective logic ICs are displayed on the display screen of the
この場合、制御部4は、信号波形WS2については、エリアZ1,Z4,Z5を通過することなくエリアZ2,Z3の2つのみを通過したと特定して、「通過Z2,Z3」との特定結果表示Aを表示部5の表示画面に表示させる。このため、特定結果表示Aを見るだけで信号波形WS2の属するエリアが正確かつ迅速に識別されて、信号波形WS2の立ち上がり時間が2つのエリア幅(この場合0.4ns)の時間内であること、および遅延時間がエリアZ3(この場合、1.1ns以上1.3ns未満)の時間内であるというロジックICの品質が測定者によって正確かつ容易に判別される。この結果、この入力信号S1を出力したロジックICのランクが合格品であって中速品であると測定者によって的確に判別される。同様にして、制御部4は、信号波形WS3については、エリアZ1,Z2,Z5を通過することなくエリアZ3,Z4の2つのみを通過したと特定して、「通過Z3,Z4」との特定結果表示Aを表示部5の表示画面に表示させる。このため、信号波形WS3の立ち上がり時間が2つのエリア幅(この場合0.4ns)の時間内であること、および遅延時間がエリアZ4(この場合、1.3ns以上1.5ns未満)の時間内であるというロジックICの品質が測定者によって正確かつ容易に判別される。この結果、この入力信号S1を出力したロジックICのランクが合格品であって低速品であると測定者によって的確に判別される。同様にして、制御部4は、信号波形WS4については、エリアZ5を通過することなくエリアZ1〜Z4の4つを通過したと特定して、「通過Z1〜Z4」との特定結果表示Aを表示部5の表示画面に表示させる。このため、信号波形WS4の立ち上がり時間が4つのエリア幅(この場合0.8ns)の時間内であること、および遅延時間がエリアZ4(この場合、1.3ns以上1.5ns未満)の時間内であるというロジックICの品質が測定者によって正確かつ容易に判別される。この結果、この入力信号S1を出力したロジックICのランクが不合格品であって立ち上がりが緩やかな品であると測定者によって的確に判別される。一方、信号波形WS5については、制御部4は、エリアZ1〜Z4を通過することなく、その波形の一部がエリアZ5のみを通過した、または合格品であったならば通過すべきエリアZ1〜Z4のいずれも通過しないと特定して、例えば「通過Z5 NG」、または「不通過 NG」との特定結果表示Aを表示部5の表示画面に表示させる。このため、信号波形WS5の遅延時間が極めて遅いことが測定者によって正確かつ容易に判別される。また、この入力信号S1を出力したロジックICが不合格品であると測定者によって的確に判別される。
In this case, the
このように、この波形表示装置1によれば、制御部4が互いに重なり合うことなく隣接した状態で細分化した複数のエリアZ1〜Z5を表示部5の表示画面に表示させることにより、1つのエリアを表示させる従来の記録計と比較して、信号波形WSの通過するエリアの数や信号波形WSの立ち上がりを完了するエリアが識別されるため、この識別されたエリアに基づいて信号波形WSの立ち上がり時間や遅延時間などの入力信号S1(信号波形WS)の品質を測定者に的確に判別させることができる。この結果、この品質に基づいてロジックICなどの判定対象体のランクを的確に判別させることができる。
As described above, according to the
また、この波形表示装置1によれば、制御部4がエリアZ1〜Z5のうちの信号波形WSの一部または全部が属するエリアを特定し、この特定結果に基づく特定結果表示Aを報知することにより、信号波形WSの属するエリアを正確かつ迅速に識別させることができる結果、入力信号S1の品質を測定者に短時間でしかも的確に判別させることができる。
Moreover, according to this
また、この波形表示装置1によれば、制御部4が特定結果表示Aを表示部5の表示画面に表示させて報知することにより、信号波形WSの属するエリアを一見するだけで容易に識別させることができるため、入力信号S1の品質を測定者に迅速に判別させることができる。
Further, according to the
また、この波形表示装置1によれば、制御部4が表示部5の表示画面の横軸方向に沿ってエリアZ1〜Z5を隣接した状態で表示させることにより、例えば立ち上がり時間などの時間軸に対する信号波形WSの電圧軸方向への変化の程度を信号波形WSの属するエリア(Z1〜Z5のいずれか)によって特定することができるため、時間軸方向に対する入力信号S1の品質を測定者に的確に判別させることができる。
Further, according to the
なお、本発明は、上記の構成に限定されない。例えば、エリアZ1〜Z5を横軸(時間軸)方向に沿って隣接した状態で表示する構成について説明したが、エリアZ1〜Z5に代えて、図3に示す波形表示装置1Aのように、縦軸(電圧軸)方向に沿って隣接した状態でエリアZ11〜Z14を表示部5に表示させる構成を採用することもできる。なお、以下、波形表示装置1における構成要素と同一の機能を有する構成要素については同一の符号を付して重複した説明を省略する。この波形表示装置1Aでは、エリアZ1〜Z5についての画像表示処理およびエリア特定処理と同様にして、エリアZ11〜Z14についての画像表示処理およびエリア特定処理を実行する。この場合、一例として、同図に示すように、エリアZ11〜Z14は、電圧軸に対してそれぞれ9.0V以上9.5V未満、9.5V以上10.0V未満、10.0V以上10.5V未満および10.5V以上11.0V未満の0.5V幅で表示される。また、エリアZ11〜Z14は、時間軸に対して共に0.4ms以上1.6ms以下の各1.2ms幅の横長で帯状の領域で表示される。この場合、互いに重なり合うことなく隣接した状態で表示部5の表示画面にカラー表示される。また、一例として、信号波形WS11,WS12は、電圧軸方向の振動が時間と共に徐々に収束する入力信号S1の信号波形を表している。
In addition, this invention is not limited to said structure. For example, the configuration in which the areas Z1 to Z5 are displayed adjacent to each other along the horizontal axis (time axis) direction has been described. However, instead of the areas Z1 to Z5, the
この波形表示装置1Aでは、信号波形WS11,WS12の属するエリアの数を識別させることにより、この識別されたエリアの数に基づいて、時間に対する電圧軸方向についての入力信号S1の収束程度に関する品質を測定者に的確に判別させることができる。この場合、制御部4は、信号波形WS11については、エリアZ12,Z13の2つを通過したと特定して、「通過Z12,Z13」との特定結果表示Aを表示部5の表示画面に表示させる。このため、この特定結果から、信号波形WS11の属する(通過する)エリアが正確かつ迅速に識別されて、信号波形WS11については振動の収束の速い高品質な入力信号S1であると測定者によって的確に判別される。また、制御部4は、信号波形WS12については、エリアZ11〜Z14の4つを通過したと特定して、「通過Z11〜Z14」との特定結果表示Aを表示部5の表示画面に表示させる。このため、この特定結果から、信号波形WS12については振動の収束の遅い低品質な入力信号S1であると測定者に的確に判別させることができる。
In this
このように、この波形表示装置1Aによれば、制御部4が表示部5の表示画面の縦軸方向に沿って互いに重なり合うことなく隣接した状態で細分化した複数のエリアZ11〜Z14を表示部5の表示画面に識別可能に表示させることにより、1つのエリアを表示させる従来の記録計と比較して、例えば振動する信号波形などの電圧軸方向への信号波形WSの変化の程度を信号波形WSの属するエリアの数によって特定することができるため、電圧軸方向についての入力信号S1の収束程度に関する品質を測定者に的確に判別させることができる。
Thus, according to this
なお、エリアZ1〜Z5およびエリアZ11〜Z14のように4つのエリアを設定した例について説明したが、エリアの数は、入力信号S1の検査規格等に応じて2以上の任意の数に設定することができる。また、エリアZ1〜Z5およびエリアZ11〜Z14のように各エリアを長方形に設定した例について説明したが、平行四辺形や菱形等の任意の形状に設定することができる。また、各エリアZ1〜Z5および各エリアZ11〜Z14を同一の形状に設定した例について説明したが、相似形や異なる形状(例えば辺の長さの異なる長方形)に設定することもできる。 In addition, although the example which set four areas like the areas Z1-Z5 and the areas Z11-Z14 was demonstrated, the number of areas is set to two or more arbitrary numbers according to the test | inspection specification etc. of the input signal S1. be able to. Moreover, although the example which set each area to the rectangle like the areas Z1-Z5 and the areas Z11-Z14 was demonstrated, it can set to arbitrary shapes, such as a parallelogram and a rhombus. Moreover, although the example which set each area Z1-Z5 and each area Z11-Z14 to the same shape was demonstrated, it can also set to a similar shape or a different shape (For example, the rectangle from which side length differs).
また、信号波形WSの一部または全部が属する(通過)するエリアを特定結果表示Aとして表示部5の表示画面に表示する例について説明したが、信号波形WSの存在するエリアを特定した特定結果に基づいて例えば「高速品」、「中高速品」および「低速品」等の判定対象体の品質の程度を示す文字や記号(本発明における結果情報の一例)を、「合格品」および「不合格品」などの判定結果と共にまたは判定結果とは別に表示させることもできる。また、特定結果表示Aを表示部5の表示画面に表示させる例について説明したが、この表示と共に、または、この表示に代えて、特定結果に基づく結果情報(例えば特定したエリアを示す「Z1」等の情報や「高速品」などの情報)の外部機器へのデータとしての出力や、音声での出力(いずれも報知の一例)を行う構成を採用することもできる。また、本発明における測定値についても、上記の電圧に限定されず、入力信号についての電流値や位相値等の各種電気的パラメータを測定値とすることができる。
Further, the example in which an area to which a part or all of the signal waveform WS belongs (passes) is displayed on the display screen of the
さらに、本発明は、ロジックICに限らず、例えば、電磁弁などのバルブ、フォトカプラおよびリレー等の各種判定対象体に適用することができる。また、入力信号S1の立ち上がり波形についてエリア特定処理を実行する例について説明したが、入力信号S1の立ち下がり波形などの各種波形についても同様にしてエリア特定処理を実行させることができる。 Furthermore, the present invention is not limited to logic ICs, and can be applied to various determination objects such as valves such as electromagnetic valves, photocouplers, and relays. Further, although an example in which the area specifying process is executed for the rising waveform of the input signal S1 has been described, the area specifying process can be executed in the same manner for various waveforms such as the falling waveform of the input signal S1.
1,1A 波形表示装置
2 測定部
4 制御部
5 表示部
7 ROM
8 RAM
A 特定結果表示
Z1〜Z5、Z11〜Z14 ランク判定エリア
Da〜Dd エリアデータ
WS1〜5,WS11,WS12 信号波形
1, 1A
8 RAM
A Specific result display Z1 to Z5, Z11 to Z14 Rank determination area Da to Dd Area data WS1 to 5, WS11, WS12 Signal waveform
Claims (5)
前記制御部は、前記第2の記憶部から前記エリアデータを読み出して前記横軸方向に沿って前記複数の判定エリアを互いに重なり合うことなく隣接した状態で前記表示部に表示させる請求項1から3のいずれかに記載の波形表示装置。 The second storage unit stores the area data for displaying the plurality of determination areas adjacent to each other without overlapping each other along the horizontal axis direction of the display unit,
The said control part reads the said area data from the said 2nd memory | storage part, and displays it on the said display part in the state which adjoined the said some determination area along the said horizontal axis direction without mutually overlapping. The waveform display device according to any one of the above.
前記制御部は、前記第2の記憶部から前記エリアデータを読み出して前記縦軸方向に沿って前記複数の判定エリアを互いに重なり合うことなく隣接した状態で前記表示部に表示させる請求項1から3のいずれかに記載の波形表示装置。 The second storage unit stores area data for displaying the plurality of determination areas in an adjacent state without overlapping each other along the vertical axis direction of the display unit,
The said control part reads the said area data from the said 2nd memory | storage part, and displays it on the said display part in the state which adjoined the said some determination area along the said vertical axis direction, without mutually overlapping. The waveform display device according to any one of the above.
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016213680A (en) * | 2015-05-08 | 2016-12-15 | 富士通株式会社 | Waveform analysis support method, waveform analysis support program, and waveform analysis support device |
CN108254604A (en) * | 2016-12-29 | 2018-07-06 | 北京普源精电科技有限公司 | A kind of method for displaying waveform and device |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61277015A (en) * | 1985-05-31 | 1986-12-08 | Mitsubishi Electric Corp | Electric indicator with alarm display lamp |
JPH07281736A (en) * | 1994-04-08 | 1995-10-27 | Toshiba Corp | Facility diagnostic device |
JP2004069590A (en) * | 2002-08-08 | 2004-03-04 | Hioki Ee Corp | Method and apparatus for deciding waveform |
JP2004205239A (en) * | 2002-12-24 | 2004-07-22 | Hioki Ee Corp | Waveform determining method and waveform determining device |
JP2006078314A (en) * | 2004-09-09 | 2006-03-23 | Hioki Ee Corp | Waveform display device |
-
2004
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61277015A (en) * | 1985-05-31 | 1986-12-08 | Mitsubishi Electric Corp | Electric indicator with alarm display lamp |
JPH07281736A (en) * | 1994-04-08 | 1995-10-27 | Toshiba Corp | Facility diagnostic device |
JP2004069590A (en) * | 2002-08-08 | 2004-03-04 | Hioki Ee Corp | Method and apparatus for deciding waveform |
JP2004205239A (en) * | 2002-12-24 | 2004-07-22 | Hioki Ee Corp | Waveform determining method and waveform determining device |
JP2006078314A (en) * | 2004-09-09 | 2006-03-23 | Hioki Ee Corp | Waveform display device |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016213680A (en) * | 2015-05-08 | 2016-12-15 | 富士通株式会社 | Waveform analysis support method, waveform analysis support program, and waveform analysis support device |
CN108254604A (en) * | 2016-12-29 | 2018-07-06 | 北京普源精电科技有限公司 | A kind of method for displaying waveform and device |
CN108254604B (en) * | 2016-12-29 | 2022-05-24 | 北京普源精电科技有限公司 | Waveform display method and device |
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