JP2006140244A - Soldering method and apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
本発明はプリント基板にフラックスを塗布したのちにハンダ付けするハンダ付け方法および装置に関するものである。 The present invention relates to a soldering method and apparatus for soldering after applying a flux to a printed circuit board.
従来、プリント基板に電子部品を局所的にハンダ付けする技術があるが、このハンダ付けを行なう前に、ハンダ付けがなれる領域に対して、ハンダ表面の酸化膜を除去し、ハンダの濡れ性を化学的に助長させるフラックスを塗布する必要があり、特許文献1に示されるように、プリント基板にフラックスを塗布するフラックス塗布装置が公知である。
Conventionally, there is a technique for locally soldering electronic components on a printed circuit board, but before this soldering is performed, the oxide film on the solder surface is removed from the solderable area to improve the solder wettability. It is necessary to apply a chemically promoting flux, and as disclosed in
しかし、フラックス塗布装置でプリント基板の所望の位置にフラックスが塗布され、このフラックスが塗布された位置に、局所的にハンダ付けがなされることになるが、局所ハンダ付けにおいては、フラックスが塗布された領域にハンダが必ずしも当たるとは限らず、フラックス残渣が残留する可能性があり、フラックス残渣はプリント基板に対して腐食性を有し、プリント基板に形成された回路間の絶縁性が低下する可能性がある。 However, flux is applied to a desired position on the printed circuit board with a flux application device, and soldering is performed locally at the position where the flux is applied. In local soldering, flux is applied. Solder does not necessarily hit the area, and flux residue may remain. The flux residue is corrosive to the printed circuit board, and the insulation between the circuits formed on the printed circuit board decreases. there is a possibility.
本発明は上述の課題を解決するためになされたもので、フラックス残渣が残留するのを防止することができるハンダ付け方法、ハンダ付け装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to provide a soldering method and a soldering apparatus capable of preventing flux residue from remaining.
この目的を達成するため、本発明においては、カメラによりプリント基板に塗布されたフラックスの塗布分布を撮影した塗布分布画像情報を取得し、上記塗布分布画像情報に基づいて生成された実際塗布領域情報と予め定められた必要塗布領域情報とを比較する。 In order to achieve this object, in the present invention, the application distribution image information obtained by photographing the distribution of the flux applied to the printed circuit board by the camera is acquired, and the actual application region information generated based on the application distribution image information is obtained. And the necessary application area information determined in advance.
本発明においては、フラックスが塗布された領域にハンダを当てることができるから、フラックス残渣が残留するのを防止することができる。 In the present invention, since solder can be applied to the area where the flux is applied, it is possible to prevent the flux residue from remaining.
(第1の実施の形態)
図1は本発明に係るハンダ付け方法を実施するための装置すなわち本発明に係る局所ハンダ付け装置を示す概略図、図2〜図4は図1に示した局所ハンダ付け装置の一部を示す図である。図に示すように、プリント基板8にフラックスを塗布するためのフラクサ1が設けられ、フラクサ1に隣接して、プリント基板8に塗布されたフラックスの塗布分布を測定する塗布分布測定ゾーン2が設けられ、塗布分布測定ゾーン2にはブラックライト等の紫外線照射装置3および電子式のカメラ4が設けられている。また、塗布分布測定ゾーン2に隣接して予熱用ヒータ5が設けられ、予熱用ヒータ5に隣接して温度センサ設置ゾーン6が設けられ、温度センサ設置ゾーン6に第1の温度センサ7が設けられ、プリント基板8と温度センサ7との位置関係は図4に示すようになっており、温度センサ7はプリント基板8の下面(ハンダ面)の温度分布を測定する。また、温度センサ7としてはプリント基板8の下面全体の温度を1台で測定可能なラインスキャンタイプのものを使用する。また、プリント基板8をフラクサ1、塗布分布測定ゾーン2、予熱用ヒータ5、温度センサ設置ゾーン6間に搬送する基板搬送機12が設けられている。また、フラクサ1等に隣接してハンダ噴流ノズル9、10が設けられ、ハンダ噴流ノズル9は1つのハンダ付け箇所に噴流ハンダを接触させ、噴流ノズル10はプリント基板8の全てのハンダ付け箇所に同時に噴流ハンダを接触させる。また、噴流ノズル9、10の近傍に第2の温度センサ11a〜11c(11)が設けられ、プリント基板8と温度センサ11a〜11cとの位置関係はプリント基板8と温度センサ7との位置関係と同様であり、温度センサ11a〜11cはプリント基板8の下面の温度分布を測定する。また、温度センサ11a〜11cとしてはプリント基板8の下面全体の温度を1台で測定可能なラインスキャンタイプのものを使用する。また、予熱用ヒータ5、ハンダ噴流ノズル9、10間にプリント基板8を搬送する基板搬送機13が設けられている。
(First embodiment)
FIG. 1 is a schematic view showing an apparatus for carrying out a soldering method according to the present invention, that is, a local soldering apparatus according to the present invention, and FIGS. 2 to 4 show a part of the local soldering apparatus shown in FIG. FIG. As shown in the figure, a
図5は図1に示した局所ハンダ付け装置の一部を示すブロック図、図6は図5の一部詳細ブロック図である。図に示すように、温度センサ7で検出した第1の温度分布画像情報を格納する画像情報格納用メモリ14が設けられ、温度センサ11a〜11c(11)で検出した第2の温度分布画像情報を格納する画像情報格納用メモリ15が設けられ、カメラ4で取得した塗布分布画像情報(説明後述)を格納する画像情報格納用メモリ16が設けられ、画像情報格納用メモリ14〜16により画像情報格納手段19が構成されている。また、画像情報格納用メモリ14、15に格納された第1、第2の温度分布画像情報、画像情報格納用メモリ16に格納された塗布分布画像情報からプリント基板8に塗布されたフラックスの状態を検出するフラックス状態検査処理手段17が設けられ、フラックス状態検査処理手段17の処理結果を表示する表示手段18が設けられている。また、フラックス状態検査処理手段17に入力手段21が設けられ、入力手段21によりフラックスの必要塗布領域を示す必要塗布領域情報が入力される。また、フラックス状態検査処理手段17に第1の比較処理手段22が設けられ、比較処理手段22には入力手段21により入力された必要塗布領域情報が記憶され、比較処理手段22は塗布分布画像情報に基づいて生成された実際塗布領域情報と必要塗布領域情報とを比較し、実際塗布領域情報により示される実際塗布領域と必要塗布領域とが相違する場合には、フラクサ1のノズルの噴射圧力、噴射時間の少なくとも一方を自動変更し、または局所ハンダ付け装置を自動停止する処理を行なう。すなわち、実際塗布領域が必要塗布領域に比べて狭い場合には、比較処理手段22は該当プリント基板8の絶縁信頼性低下の問題が生じる箇所を表示手段18で表示し、次のプリント基板8に対してはフラクサ1のノズルの噴射圧力を高くすること、フラクサ1のノズルの噴射時間を長くすることの少なくとも一方を行なう。また、実際塗布領域が必要塗布領域に比べて広い場合には、比較処理手段22は該当プリント基板8の絶縁信頼性低下の問題が生じる箇所を表示手段18で表示し、次のプリント基板8に対してはフラクサ1のノズルの噴射圧力を低くすること、フラクサ1のノズルの噴射時間を短くすることの少なくとも一方をなう。さらに、実際塗布領域が必要塗布領域に比べて著しく狭い場合には、フラクサ1のノズル詰まりなどが考えられるため、比較処理手段22は局所ハンダ付け装置を自動停止する。また、フラックス状態検査処理手段17に第2の比較処理手段23が設けられ、比較処理手段23は塗布分布画像情報と第1の温度分布画像情報とを比較し、実際塗布領域の少なくとも一部の温度が第1の要求温度域から外れている場合には、予熱用ヒータ5の予熱温度、予熱時間の少なくとも一方を自動変更する。すなわち、実際塗布領域の少なくとも一部の温度が第1の要求温度域より低い場合には、比較処理手段23は該当プリント基板8の絶縁信頼性低下の問題が生じる箇所を表示手段18で表示し、次のプリント基板8に対しては予熱用ヒータ5の予熱温度を高くすること、予熱用ヒータ5の予熱時間を長くすることの少なくとも一方を行なう。反対に、実際塗布領域の少なくとも一部の温度が第1の要求温度域より高い場合には、比較処理手段23は該当プリント基板8の絶縁信頼性低下の問題が生じる箇所を表示手段18で表示し、次のプリント基板8に対しては予熱用ヒータ5の予熱温度を低くすること、予熱用ヒータ5の予熱時間を短くすることの少なくとも一方を行なう。また、フラックス状態検査処理手段17に第3の比較処理手段24が設けられ、比較処理手段24は塗布分布画像情報と第2の温度分布画像情報とを比較し、実際塗布領域の少なくとも一部の温度が第2の要求温度域から外れている場合には、ハンダ噴流ノズル9、10の噴流ハンダの温度、ハンダ付け時間の少なくとも一方をプリント基板8の品質に影響を与えない範囲で自動変更する。すなわち、実際塗布領域の少なくとも一部の温度が第2の要求温度域より低い場合には、比較処理手段24は該当プリント基板8の絶縁信頼性低下の問題が生じる箇所を表示手段18で表示し、次のプリント基板8に対してはハンダ噴流ノズル9、10の噴流ハンダの温度を高くすること、ハンダ付け時間長くすることの少なくとも一方を行なう。反対に、実際塗布領域の少なくとも一部の温度が第2の要求温度域より高い場合には、比較処理手段24は該当プリント基板8の絶縁信頼性低下の問題が生じる箇所を表示手段18で表示し、次のプリント基板8に対してはハンダ噴流ノズル9、10の噴流ハンダの温度を低くすること、ハンダ付け時間を短くすることの少なくとも一方を行なう。そして、紫外線照射装置3、カメラ4、温度センサ7、11、画像情報格納手段19、フラックス状態検査処理手段17によりフラックス状態検査装置が構成されている。
5 is a block diagram showing a part of the local soldering apparatus shown in FIG. 1, and FIG. 6 is a partial detailed block diagram of FIG. As shown in the figure, an image
つぎに、図1〜図6に示した局所ハンダ付け装置の動作、すなわち本発明に係るハンダ付け方法を説明する。まず、フラクサ1によりプリント基板8の下面にフラックスを塗布したのち、基板搬送機12によってプリント基板8を塗布分布測定ゾーン2に搬送する。つぎに、塗布分布測定ゾーン2において、紫外線照射装置3によりプリント基板8の下面に紫外線を照射した状態で、プリント基板8の下面をカメラ4で撮影する。すると、フラックスが塗布されている部分は蛍光するので、カメラ4で取得された画像情報はフラックスの塗布分布を示す塗布分布画像情報となる。つぎに、カメラ4で取得された塗布分布画像情報を画像情報格納用メモリ16に格納する。つぎに、比較処理手段22により実際塗布領域情報と必要塗布領域情報とを比較し、実際塗布領域と必要塗布領域とが相違する場合には、フラクサ1のノズルの噴射圧力、噴射時間の少なくとも一方を自動変更し、または局所ハンダ付け装置を自動停止する処理を行なう。すなわち、実際塗布領域が必要塗布領域に比べて狭い場合には、比較処理手段22により該当プリント基板8の絶縁信頼性低下の問題が生じる箇所を表示手段18で表示し、問題の表示されたプリント基板8を専用の場所へ搬出するとともに、次のプリント基板8に対してはフラクサ1のノズルの噴射圧力を高くすること、フラクサ1のノズルの噴射時間を長くすることの少なくとも一方を行なう。また、実際塗布領域が必要塗布領域に比べて広い場合には、比較処理手段22により該当プリント基板8の絶縁信頼性低下の問題が生じる箇所を表示手段18で表示し、問題の表示されたプリント基板8を専用の場所へ搬出するとともに、次のプリント基板8に対してはフラクサ1のノズルの噴射圧力を低くすること、フラクサ1のノズルの噴射時間を短くすることの少なくとも一方をなう。さらに、実際塗布領域が必要塗布領域に比べて著しく狭い場合には、比較処理手段22により局所ハンダ付け装置を自動停止する。つぎに、プリント基板8を予熱用ヒータ5によって予熱する。この時、温度センサ7によりプリント基板8の下面の温度を測定する。すなわち、プリント基板8の予熱終了後、基板搬送機12によってプリント基板8が進行方向に搬送されはじめてから、温度センサ7によりプリント基板8の下面の温度を測定していく。つぎに、温度センサ7で取得された第1の温度分布画像情報を画像情報格納用メモリ14に格納する。つぎに、比較処理手段23により塗布分布画像情報と第1の温度分布画像情報とを比較し、実際塗布領域の少なくとも一部の温度が第1の要求温度域から外れている場合には、予熱用ヒータ5の予熱温度、予熱時間の少なくとも一方を自動変更する。すなわち、実際塗布領域の少なくとも一部の温度が第1の要求温度域より低い場合には、比較処理手段23により該当プリント基板8の絶縁信頼性低下の問題が生じる箇所を表示手段18で表示し、問題の表示されたプリント基板8を専用の場所へ搬出するとともに、次のプリント基板8に対しては予熱用ヒータ5の予熱温度を高くすること、予熱用ヒータ5の予熱時間を長くすることの少なくとも一方を行なう。反対に、実際塗布領域の少なくとも一部の温度が第1の要求温度域より高い場合には、比較処理手段23により該当プリント基板8の絶縁信頼性低下の問題が生じる箇所を表示手段18で表示し、問題の表示されたプリント基板8を専用の場所へ搬出するとともに、次のプリント基板8に対しては予熱用ヒータ5の予熱温度を低くすること、予熱用ヒータ5の予熱時間を短くすることの少なくとも一方を行なう。つぎに、予熱後にプリント基板8を基板搬送機13によってハンダ噴流ノズル9またはハンダ噴流ノズル10に搬送し、ハンダ付けを行なう。そして、ハンダ噴流ノズル9によりハンダ付けが行なわれるときには、ハンダ噴流ノズル9に対してX方向(第1の方向)、X方向と直交するY方向(第2の方向)にそれぞれ設置された温度センサ11a、11bが噴流ハンダがプリント基板8と接触してから離れるまでのプリント基板8の下面の温度分布を測定する。具体的には、プリント基板8がX方向に搬送される場合には、X方向に配置された温度センサ11aが温度分布を測定し、プリント基板8がY方向に搬送される場合には、Y方向に設置された温度センサ11bが温度分布を測定し、プリント基板8が斜め方向に搬送される場合には両方の温度センサ11a、11bが温度分布を測定する。一方、ハンダ噴流ノズル10によりハンダ付けが行なわれるときには、噴流ハンダがプリント基板8と接触している間はプリント基板8の下面の温度を測定することができない。このため、プリント基板8が噴流ハンダから離れたのち、即座にハンダ噴流ノズル10に対してY方向に設置された温度センサ11cに向かってプリント基板8を搬送し、プリント基板8がY方向に移動を始めた時点からの温度を測定する。この場合には、プリント基板8の下面の温度が下がることを考慮して、判定時の第2の要求温度域(しきい値)を設定しておく。どちらのハンダ噴流ノズル9、10についても、測定した第2の温度分布画像情報を画像情報格納用メモリ15に格納する。つぎに、比較処理手段24により塗布分布画像情報と第2の温度分布画像情報とを比較し、実際塗布領域の少なくとも一部の温度が第2の要求温度域から外れている場合には、ハンダ噴流ノズル9、10の噴流ハンダの温度、ハンダ付け時間の少なくとも一方をプリント基板8の品質に影響を与えない範囲で自動変更する。すなわち、実際塗布領域の少なくとも一部の温度が第2の要求温度域より低い場合には、比較処理手段24により該当プリント基板8の絶縁信頼性低下の問題が生じる箇所を表示手段18で表示し、問題の表示されたプリント基板8を専用の場所へ搬出するとともに、次のプリント基板8に対してはハンダ噴流ノズル9、10の噴流ハンダの温度を高くすること、ハンダ付け時間長くすることの少なくとも一方を行なう。反対に、実際塗布領域の少なくとも一部の温度が第2の要求温度域より高い場合には、比較処理手段24により該当プリント基板8の絶縁信頼性低下の問題が生じる箇所を表示手段18で表示し、問題の表示されたプリント基板8を専用の場所へ搬出するとともに、次のプリント基板8に対してはハンダ噴流ノズル9、10の噴流ハンダの温度を低くすること、ハンダ付け時間を短くすることの少なくとも一方を行なう。
Next, the operation of the local soldering apparatus shown in FIGS. 1 to 6, that is, the soldering method according to the present invention will be described. First, after flux is applied to the lower surface of the printed
このようなハンダ付け方法、局所ハンダ付け装置においては、実際塗布領域情報と必要塗布領域情報とを比較するから、プリント基板8に塗布されたフラックスの状態を検査することができ、プリント基板8に適正にフラックスが塗布されているか否かを検出することができるので、フラックスが塗布された領域にハンダを当てることができるため、プリント基板にフラックス残渣が残留するのを防止することができる。このため、プリント基板がフラックス残渣によって腐食するのを防止することができ、不良なプリント基板8が発生するのを防止することができる。また、比較処理手段22により実際塗布領域情報と必要塗布領域情報とを比較し、実際塗布領域と必要塗布領域とが相違する場合には、フラクサ1のノズルの噴射圧力、噴射時間の少なくとも一方を自動変更するから、フラクサ1のノズルつまりや圧力低下によるフラックスの塗布不良を防止することができる。また、比較処理手段23、24により塗布分布画像情報と第1、第2の温度分布画像情報とを比較するから、絶縁信頼性低下の問題を引き起こすフラックスの状態すなわち熱が十分にかかっていないために溶剤や活性成分が残っている状態を検出することができるので、不良なプリント基板8が発生するのを防止することができる。また、比較処理手段23により塗布分布画像情報と第1の温度分布画像情報とを比較し、実際塗布領域の少なくとも一部の温度が第1の要求温度域から外れている場合には、予熱用ヒータ5の予熱温度、予熱時間の少なくとも一方を自動変更するから、予熱不足によるフラックスの溶剤の残留を検出することができ、ハンダ付け時の残留溶剤の突沸によるブローホール(ハンダ内部にできる空洞)やハンダボールの発生を防止することができ、さらに予熱不足によるハンダぬれ性の低下を防止でき、フラックス中の溶剤の残留や活性剤の失活が不十分のためプリント基板8の回路間の絶縁信頼性が低下するのを防止することができる。また、実際塗布領域と必要塗布領域とが相違する場合、実際塗布領域の少なくとも一部の温度が第1、第2の要求温度域から外れている場合には、問題のプリント基板8を専用の場所へ搬出するから、不良なプリント基板8が流出するのを防止することができる。
In such a soldering method and local soldering apparatus, since the actual application area information and the required application area information are compared, the state of the flux applied to the printed
(第2の実施の形態)
図7は本発明に係る他のハンダ付け方法を実施するための装置すなわち本発明に係る他の局所ハンダ付け装置を示す概略図である。図に示すように、プリント基板8にフラックスを塗布するためのフラクサ31が設けられ、フラクサ31に隣接して、フラックスの塗布分布を測定する塗布分布測定ゾーン32が設けられ、塗布分布測定ゾーン32には紫外線照射装置33および電子式のカメラ34が設けられ、塗布分布測定ゾーン32に隣接して予熱用ヒータ35が設けられ、予熱用ヒータ35に隣接して温度センサ設置ゾーン36が設けられ、温度センサ設置ゾーン36に温度センサ37が設けられ、プリント基板8と温度センサ37との位置関係はプリント基板8と温度センサ7との位置関係と同様であり、温度センサ37はプリント基板8の下面の温度分布を測定する。また、温度センサ37としてはプリント基板8の下面全体の温度を1台で測定可能なラインスキャンタイプのものを使用する。また、温度センサ設置ゾーン36に隣接してハンダ噴流ノズル38が設けられ、ハンダ噴流ノズル38はプリント基板8の全てのハンダ付け箇所に同時に噴流ハンダを接触させる。また、ハンダ噴流ノズル38に隣接して温度センサ設置ゾーン39が設けられ、温度センサ設置ゾーン39に温度センサ40が設けられ、下降したハンダ噴流ノズル38の上方、温度センサ設置ゾーン39間に温度センサ40をX方向に移動する温度センサ移動機構41が設けられている。また、プリント基板8をフラクサ31、塗布分布測定ゾーン32、予熱用ヒータ35、温度センサ設置ゾーン36、ハンダ噴流ノズル38、温度センサ設置ゾーン39間に搬送する基板搬送機42が設けられている。また、カメラ34で取得した塗布分布画像情報、温度センサ37で検出した第1の温度分布画像情報、温度センサ40で検出した第2の温度分布画像情報を格納する画像情報格納手段(図示せず)が設けられ、また、画像情報格納手段に格納された塗布分布画像情報、第1、第2の温度分布画像情報からプリント基板8に塗布されたフラックスの状態を検出するフラックス状態検査処理手段(図示せず)が設けられ、このフラックス状態検査処理手段の構成は図6に示したフラックス状態検査処理手段17の構成と同等である。
(Second Embodiment)
FIG. 7 is a schematic view showing an apparatus for carrying out another soldering method according to the present invention, that is, another local soldering apparatus according to the present invention. As shown in the figure, a
つぎに、図7に示した局所ハンダ付け装置の動作、すなわち本発明に係るハンダ付け方法を説明する。まず、フラクサ31によりプリント基板8の下面にフラックスを塗布したのち、紫外線照射装置33によりプリント基板8の下面に紫外線を照射した状態で、プリント基板8の下面をカメラ34で撮影する。つぎに、カメラ4で取得した塗布分布画像情報が画像情報格納手段に格納されると、フラックス状態検査処理手段の第1の比較処理手段により実際塗布領域情報と必要塗布領域情報とが比較され、実際塗布領域と必要塗布領域とが相違する場合には、フラクサ31のノズルの噴射圧力、噴射時間の少なくとも一方を自動変更し、または局所ハンダ付け装置を自動停止する処理を行なう。つぎに、プリント基板8を予熱用ヒータ35によって予熱する。この時、温度センサ37によりプリント基板8の下面の表面温度を測定する。つぎに、温度センサ37で取得された第1の温度分布画像情報を画像情報格納用メモリ14に格納し、フラックス状態検査処理手段の第2の比較処理手段により塗布分布画像情報と第1の温度分布画像情報とを比較し、実際塗布領域の少なくとも一部の温度が第1の要求温度域から外れている場合には、予熱用ヒータ35の予熱温度、予熱時間の少なくとも一方を自動変更する。つぎに、予熱後にプリント基板8をハンダ噴流ノズル38の上方に搬送し、ハンダ噴流ノズル38を上昇して、プリント基板8の全てのハンダ付け箇所に同時に噴流ハンダを接触させる。つぎに、ハンダ噴流ノズル38が下降した瞬間に、温度センサ移動機構41により温度センサ40をプリント基板8の下面の下方に移動し、プリント基板8の下面の温度分布を測定する。つぎに、温度センサ40で取得された第2の温度分布画像情報を画像情報格納手段に格納し、フラックス状態検査処理手段の第3の比較処理手段により塗布分布画像情報と第2の温度分布画像情報とを比較し、実際塗布領域の少なくとも一部の温度が第2の要求温度域から外れている場合には、ハンダ噴流ノズル38の噴流ハンダの温度、ハンダ付け時間の少なくとも一方をプリント基板8の品質に影響を与えない範囲で自動変更する。また、実際塗布領域と必要塗布領域とが相違する場合、実際塗布領域の少なくとも一部の温度が第1、第2の要求温度域から外れている場合には、問題のプリント基板8を専用の場所へ搬出する。
Next, the operation of the local soldering apparatus shown in FIG. 7, that is, the soldering method according to the present invention will be described. First, flux is applied to the lower surface of the printed
このハンダ付け方法、局所ハンダ付け装置においては、第1の比較処理手段により実際塗布領域情報と必要塗布領域情報とを比較するから、プリント基板8にフラックス残渣が残留するのを防止することができるので、プリント基板がフラックス残渣によって腐食するのを防止することができ、不良なプリント基板8が発生するのを防止することができる。また、第1の比較処理手段により実際塗布領域情報と必要塗布領域情報とを比較し、実際塗布領域と必要塗布領域とが相違する場合には、フラクサ31のノズルの噴射圧力、噴射時間の少なくとも一方を自動変更するから、フラクサ31のノズルつまりや圧力低下によるフラックスの塗布不良を防止することができる。また、第2、第3の比較処理手段により塗布分布画像情報と第1、第2の温度分布画像情報とを比較するから、絶縁信頼性低下の問題を引き起こすフラックスの状態すなわち熱が十分にかかっていないために溶剤や活性成分が残っている状態を検出することができるので、不良なプリント基板8が発生するのを防止することができる。また、第2の比較処理手段により塗布分布画像情報と第1の温度分布画像情報とを比較し、実際塗布領域の少なくとも一部の温度が第1の要求温度域から外れている場合には、予熱用ヒータ5の予熱温度、予熱時間の少なくとも一方を自動変更するから、予熱不足によるフラックスの溶剤の残留を検出することができ、ハンダ付け時の残留溶剤の突沸によるブローホールやハンダボールの発生を防止することができ、さらに予熱不足によるハンダぬれ性の低下を防止でき、フラックス中の溶剤の残留や活性剤の失活が不十分のため回路の絶縁信頼性が低下するのを防止することができる。また、実際塗布領域と必要塗布領域とが相違する場合、実際塗布領域の少なくとも一部の温度が第1、第2の要求温度域から外れている場合には、問題のプリント基板8を専用の場所へ搬出するから、不良なプリント基板8が流出するのを防止することができる。
In this soldering method and local soldering apparatus, since the actual application area information and the required application area information are compared by the first comparison processing means, it is possible to prevent the flux residue from remaining on the printed
なお、上述実施の形態においては、実際塗布領域の少なくとも一部の温度が第1、第2の要求温度域から外れている場合に、予熱用ヒータ5、35の予熱温度、予熱時間、ハンダ噴流ノズル9、10、38の噴流ハンダの温度、ハンダ付け時間を変更したが、プリント基板の部品や配線パターンのレイアウトにより、プリント基板の場所毎に温まり方が異なる場合には、プリント基板の下面の場所毎に対して第1、第2の要求温度域を設定してもよい。また、上述実施の形態においては、ハンダ付け装置が局所ハンダ付け装置の場合について説明したが、他のハンダ付け装置にも本発明を適用することができる。
In the above-described embodiment, when the temperature of at least a part of the actual application region is out of the first and second required temperature regions, the preheating temperature, the preheating time of the preheating
また、紫外線照射装置と電子式のカメラとを使用してプリント基板の上面(部品面)のフラックスの塗布分布を撮影して塗布分布画像情報を取得し、塗布分布画像情報に基づいて生成された実際塗布領域情報と予め定められた必要塗布領域情報とを比較し、また温度センサによりフラックスが塗布されかつ予熱用ヒータにより予熱されたプリント基板の上面の温度分布を測定した第1の温度分布画像情報を取得し、塗布分布画像情報と第1の温度分布画像情報とを比較し、また温度センサによりフラックスが塗布されかつハンダ噴流ノズルによりハンダ付けされたプリント基板の温度分布を測定した第2の温度分布画像情報を取得し、塗布分布画像情報と第2の温度分布画像情報とを比較することにより、プリント基板の上面のフラックスの状態を検査することができ、フラックス塗布時にプリント基板のスルーホールを通してプリント基板の上面に付着したフラックスについて、絶縁信頼性低下の問題を引き起こすフラックスの状態(熱が十分にかかっていないために溶剤や活性成分が残っている状態)を検出することができ、不良なプリント基板の発生を防止することができる。また、絶縁信頼性低下の問題が生じる箇所を表示手段に表示してもよい。 Also, the distribution distribution image information is obtained by photographing the distribution distribution of the flux on the upper surface (component surface) of the printed circuit board using an ultraviolet irradiation device and an electronic camera, and generated based on the distribution distribution image information. A first temperature distribution image obtained by comparing actual application region information with predetermined necessary application region information, and measuring the temperature distribution of the upper surface of the printed circuit board on which the flux is applied by the temperature sensor and preheated by the preheating heater. Information obtained, the application distribution image information is compared with the first temperature distribution image information, and the temperature distribution of the printed circuit board on which the flux is applied by the temperature sensor and soldered by the solder jet nozzle is measured. By acquiring the temperature distribution image information and comparing the application distribution image information and the second temperature distribution image information, the flux of the upper surface of the printed circuit board is It is possible to inspect the state of the flux that adheres to the top surface of the printed circuit board through the through-hole of the printed circuit board during flux application. The state in which the active component remains) can be detected, and the generation of defective printed circuit boards can be prevented. Moreover, you may display on the display means the location where the problem of insulation reliability fall occurs.
1…フラクサ
4…カメラ
5…予熱用ヒータ
7…第1の温度センサ
8…プリント基板
9…ハンダ噴流ノズル
10…ハンダ噴流ノズル
11…第2の温度センサ
17…フラックス状態検査処理手段
31…フラクサ
34…カメラ
35…予熱用ヒータ
37…第1の温度センサ
38…ハンダ噴流ノズル
40…第2の温度センサ
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