JP2006128326A - Capacitor-layer forming material, manufacturing method for composite foil used for manufacture of material, and printed-wiring board with built-in capacitor circuit obtained by using capacitor-layer forming material - Google Patents

Capacitor-layer forming material, manufacturing method for composite foil used for manufacture of material, and printed-wiring board with built-in capacitor circuit obtained by using capacitor-layer forming material Download PDF

Info

Publication number
JP2006128326A
JP2006128326A JP2004313137A JP2004313137A JP2006128326A JP 2006128326 A JP2006128326 A JP 2006128326A JP 2004313137 A JP2004313137 A JP 2004313137A JP 2004313137 A JP2004313137 A JP 2004313137A JP 2006128326 A JP2006128326 A JP 2006128326A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
capacitor
plating
cobalt
forming material
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2004313137A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tomohiro Sakata
智浩 坂田
Kazuko Taniguchi
和子 谷口
Makoto Dobashi
誠 土橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsui Mining and Smelting Co Ltd
Original Assignee
Mitsui Mining and Smelting Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsui Mining and Smelting Co Ltd filed Critical Mitsui Mining and Smelting Co Ltd
Priority to JP2004313137A priority Critical patent/JP2006128326A/en
Priority to US11/259,354 priority patent/US20060087794A1/en
Publication of JP2006128326A publication Critical patent/JP2006128326A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a capacitor-layer forming material, applicable to a printed-wiring board manufactured through a high-temperature working process at 300°C to 400°C such as a fluororesin board, a liquid-crystal polymer or the like, without strength deterioration after heating at a high temperature. <P>SOLUTION: The capacitor-layer forming material for the printed-wiring board has a dielectric layer between a first conductive layer used for forming an upper electrode and a second conductive layer used for forming a lower electrode. In the capacitor-layer forming material, a composite foil is adopted, equipped with a hard nickel plated layer, a cobalt plated layer, a nickel-cobalt alloy plated layer, and two layers of a cobalt plated layer/a hard nickel plated layer, as a metallic layer of a different kind on the surface of a copper layer in the second conductive layer. In the capacitor-layer forming material, the composite foil with two layers of an iron plated layer/the hard nickel plated layer, three layers of the cobalt plated layer/the hard nickel plated layer/the cobalt plated layer and three layers of the iron plated layer/the hard nickel plated layer/the cobalt plated layer or the like, is further adopted as the metallic layer of the different kind. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本件出願に係る発明は、プリント配線板の内蔵キャパシタ層を形成するために用いるキャパシタ層形成材及びそのキャパシタ層形成材製造に用いる複合箔の製造方法並びにそのキャパシタ層形成材を用いて得られる内蔵キャパシタ回路を備えるプリント配線板に関する。   The invention according to the present application relates to a capacitor layer forming material used for forming a built-in capacitor layer of a printed wiring board, a composite foil manufacturing method used for manufacturing the capacitor layer forming material, and a built-in obtained using the capacitor layer forming material. The present invention relates to a printed wiring board including a capacitor circuit.

キャパシタ回路(素子)を内蔵した多層プリント配線板は、その内層に位置する絶縁層の内の1以上の層を誘電層として用いている。そして、特許文献1に開示されているように、その誘電層の両面に位置する内層回路にキャパシタとしての上部電極及び下部電極が対向配置されキャパシタ回路を形成し内蔵キャパシタとして用いられてきた。このキャパシタ回路を形成するには、両面銅張積層板と類似の第1導電層/誘電層/第2導電層という層構成のキャパシタ層形成材を用いるのが一般的である。そして、内蔵キャパシタ回路の製造は、このキャパシタ層形成材の導電層を予めエッチング加工してキャパシタ回路を形成し内蔵基板に張り合わせたり、内層基板に張り合わせた後にエッチング加工する等の種々の方法が採用されてきた。   A multilayer printed wiring board incorporating a capacitor circuit (element) uses one or more of the insulating layers located in the inner layer as a dielectric layer. As disclosed in Patent Document 1, an upper electrode and a lower electrode as capacitors are arranged opposite to inner layer circuits located on both surfaces of the dielectric layer to form a capacitor circuit, which has been used as a built-in capacitor. In order to form this capacitor circuit, it is common to use a capacitor layer forming material having a layer structure of first conductive layer / dielectric layer / second conductive layer similar to the double-sided copper-clad laminate. The built-in capacitor circuit is manufactured using various methods such as etching the conductive layer of the capacitor layer forming material in advance to form a capacitor circuit and bonding it to the built-in substrate or etching to the inner layer substrate. It has been.

一方、前記誘電層の形成は、金属箔を用いてその表面へ、特許文献2に開示されているように誘電体フィラーを含有した樹脂組成物を塗工する方法、特許文献3に開示されているように誘電体フィラーを含有したフィルムを張り合わせる方法、特許文献4に開示されているように化学的気相反応法を応用してのゾル−ゲル法等種々の製法が採用されてきた。   On the other hand, the formation of the dielectric layer is disclosed in Patent Document 3, which is a method of applying a resin composition containing a dielectric filler to a surface of a metal foil as disclosed in Patent Document 2. As described above, various production methods such as a method of laminating films containing a dielectric filler and a sol-gel method using a chemical gas phase reaction method as disclosed in Patent Document 4 have been adopted.

そして、上記各特許文献に開示されているように、誘電層を挟み込む導電層の材質としては、銅箔等を用いた銅成分を主体としたもので、誘電層との密着性を改善し同時に誘電率等の電気的特性の向上を目的として、特許文献4に見られるように下部電極の表面にニッケル−リン合金層を設ける場合もあった。   As disclosed in the above patent documents, the material of the conductive layer sandwiching the dielectric layer is mainly composed of a copper component using a copper foil or the like, which improves the adhesion with the dielectric layer and at the same time. For the purpose of improving electrical characteristics such as dielectric constant, a nickel-phosphorus alloy layer may be provided on the surface of the lower electrode as seen in Patent Document 4.

そして、キャパシタは余剰の電気を蓄電する等して電子・電気機器の省電力化等を可能にしてきたものであるから、可能な限り大きな電気容量を持つことが基本的な品質として求められる。キャパシタの容量(C)は、C=εε(A/d)の式(εは真空の誘電率)から計算される。特に、最近の電子、電気機器の軽薄短小化の流れから、プリント配線板にも同様の要求が行われることになり、一定のプリント配線板面積の中で、キャパシタ電極の面積を広く採ることは殆ど不可能であり、表面積(A)に関しての改善に関しては限界がある事は明らかである。従って、キャパシタ容量を増大させるためには、キャパシタ電極の表面積(A)及び誘電体層の比誘電率(ε)が一定とすれば、誘電体層の厚さ(d)を薄くするか、キャパシタ回路全体として見たときの層構成に工夫を凝らす等の試みがなされてきた。 And since the capacitor has made it possible to reduce the power consumption of electronic and electrical devices by storing surplus electricity, etc., it is required as a basic quality to have as large an electric capacity as possible. The capacitance (C) of the capacitor is calculated from the equation C = εε 0 (A / d) (ε 0 is the dielectric constant of vacuum). In particular, due to the recent trend of light and thin electronic and electrical equipment, the same demands will be made on printed wiring boards, and it is not possible to take a large capacitor electrode area within a certain printed wiring board area. It is almost impossible and it is clear that there is a limit to the improvement in terms of surface area (A). Therefore, in order to increase the capacitor capacity, if the surface area (A) of the capacitor electrode and the relative dielectric constant (ε) of the dielectric layer are constant, the thickness (d) of the dielectric layer is reduced, or the capacitor Attempts have been made to devise the layer structure when viewed as a circuit as a whole.

また、近年では、高集積化したICチップ、ギガレベルからテラレベルまでを射程とした高速信号伝達速度が要求されるようになり、プリント配線板からの発生熱も大きくなり、種々の高周波特性に対する要求がなされてきた。その要求に対応するため、特許文献5及び特許文献6に開示されているような、フッ素樹脂基板、液晶ポリマー等を基板材料としたプリント配線板製造も活発化してきている。   Further, in recent years, highly integrated IC chips, high-speed signal transmission speeds ranging from the giga level to the tera level have been required, the heat generated from the printed wiring board has increased, and there are demands for various high-frequency characteristics. Has been made. In order to meet the demand, printed wiring board production using a fluororesin substrate, a liquid crystal polymer, or the like as a substrate material as disclosed in Patent Document 5 and Patent Document 6 has also been activated.

特開2003−105205号公報JP 2003-105205 A 特開平9−040933号公報JP 9-040933 A 特開2004−250687号公報JP 2004-250687 A 米国特許第6541137号公報US Pat. No. 6,541,137 特開2003−171480号公報JP 2003-171480 A 特開2003−124580号公報JP 2003-124580 A

しかしながら、キャパシタ層形成材が第1導電層/誘電層/第2導電層という層構成を持っていることを考えれば、誘電層を薄くすると言うことは、キャパシタ層形成材そのものの厚さが薄くなり、強度が維持出来ず、取扱時に折れ等の損傷を受ける確率が高く、ハンドリング時の安全性に欠けるという欠点があった。   However, considering that the capacitor layer forming material has a layer configuration of the first conductive layer / dielectric layer / second conductive layer, to make the dielectric layer thin means that the thickness of the capacitor layer forming material itself is thin. Therefore, there is a disadvantage that the strength cannot be maintained, the probability of damage such as breakage during handling is high, and the safety during handling is lacking.

また、上記特許文献4に開示されているように、ゾル−ゲル法で誘電層を構成する場合には、金属箔の表面に誘電層を形成するためのゾル−ゲル膜を形成し、600℃付近の温度で焼成する必要があり、金属箔が酸化して脆化する現象が起こっていた。更に、下部電極の表面にニッケル−リン合金層を設ける場合に於いては、誘電層とニッケル−リン合金層との密着性に問題があり、誘電層とニッケル−リン合金層との間での剥離現象が起こる場合があり、キャパシタとしての設計電気容量とのズレが大きくなり設計品質を満たさないこととなる。また、プリント配線板としてのデラミネーション発生の起点となり、半田リフロー等の加熱衝撃を受けることで層間剥離が生じたり、使用途中の発生熱による剥離が誘発され製品寿命を短命化させる原因となっていた。   Further, as disclosed in Patent Document 4, when the dielectric layer is formed by the sol-gel method, a sol-gel film for forming the dielectric layer is formed on the surface of the metal foil, and 600 ° C. It was necessary to fire at a temperature in the vicinity, and the phenomenon that the metal foil was oxidized and embrittled occurred. Furthermore, when a nickel-phosphorus alloy layer is provided on the surface of the lower electrode, there is a problem in the adhesion between the dielectric layer and the nickel-phosphorus alloy layer, and there is a problem between the dielectric layer and the nickel-phosphorus alloy layer. A peeling phenomenon may occur, and the deviation from the design electric capacity as a capacitor becomes large and the design quality is not satisfied. In addition, delamination occurs as a printed wiring board, causing delamination due to heat shocks such as solder reflow, and causing heat generation during use to shorten the product life. It was.

一方で、従来のガラス−エポキシ基板に代えて、高温耐熱性、高周波特性等を考慮して、フッ素樹脂基板、液晶ポリマー等を基板材料として用いて、これらを用いた多層基板の製造が試みられている。そして、これらの基板製造に共通するのは、そのプレス加工温度が極めて高く300℃〜400℃の間にあり、基板材料が硬いという点にある。従って、これらのフッ素樹脂基板、液晶ポリマー等を基板材料として用いた多層プリント配線板の内部に内蔵キャパシタ層を形成することを考えるに、300℃〜400℃の高温プレス加工を経て、硬い基板材料に押されても材質的な変動が無く、周囲の材料の膨張伸縮に耐えるだけの強度を備えたものであることが望ましい。   On the other hand, in place of the conventional glass-epoxy substrate, in consideration of high temperature heat resistance, high frequency characteristics, etc., a fluororesin substrate, a liquid crystal polymer, etc. are used as a substrate material, and production of a multilayer substrate using these is attempted. ing. And what is common to these substrate manufactures is that the press working temperature is extremely high, being between 300 ° C. and 400 ° C., and the substrate material is hard. Therefore, in consideration of forming a built-in capacitor layer inside a multilayer printed wiring board using such a fluororesin substrate, a liquid crystal polymer or the like as a substrate material, a hard substrate material is subjected to a high temperature pressing at 300 ° C. to 400 ° C. It is desirable that the material does not fluctuate in material even when pressed, and has a strength sufficient to withstand expansion and contraction of surrounding materials.

従って、市場では、キャパシタ回路の下部電極として誘電層との密着性に優れ、且つ、抵抗器電極等としての使用が可能で回路の小型化の図れる新たな下部電極形成のための導電層を備えたキャパシタ層形成材が求められてきたのである。そして、同時にフッ素樹脂基板、液晶ポリマー等を基板材料としたプリント配線板での300℃〜400℃の高温加工プロセスを経ても、強度の劣化のないキャパシタ層形成材が求められてきたのである。   Therefore, the market has a conductive layer for forming a new lower electrode that has excellent adhesion to the dielectric layer as the lower electrode of the capacitor circuit and can be used as a resistor electrode, etc. Therefore, a capacitor layer forming material has been demanded. At the same time, there has been a demand for a capacitor layer forming material that does not deteriorate in strength even after a high temperature processing process of 300 ° C. to 400 ° C. on a printed wiring board using a fluororesin substrate, a liquid crystal polymer, or the like as a substrate material.

そこで、本件発明者等は、鋭意研究の結果、以下のキャパシタ層形成材を用いることで、誘電層と下部電極との良好な密着性を得られ、且つ、誘電層が薄くなってもキャパシタ層形成材の強度を維持してハンドリング性が高まることに想到したのである。しかも、フッ素樹脂基板、液晶ポリマー等を基板材料としたプリント配線板での、300℃〜400℃の高温加工プロセスを経ても強度の劣化のないキャパシタ層形成材であると同時に、後述するキャパシタ層形成材を用いることで、キャパシタ回路としての電気容量も確実に向上するのである。   Therefore, as a result of diligent research, the present inventors have obtained good adhesion between the dielectric layer and the lower electrode by using the following capacitor layer forming material, and even if the dielectric layer becomes thin, the capacitor layer It was conceived that the strength of the forming material was maintained and the handling property was improved. Moreover, it is a capacitor layer forming material that does not deteriorate in strength even after a high temperature processing process of 300 ° C. to 400 ° C. in a printed wiring board using a fluororesin substrate, a liquid crystal polymer, etc. as a substrate material. By using the forming material, the electric capacity as the capacitor circuit is also reliably improved.

<本件発明に係るキャパシタ層形成材>
図1にキャパシタ層形成材の模式断面を示している。この図1から分かるように、キャパシタ層形成材1は、上部電極形成に用いる第1導電層2と下部電極形成に用いる第2導電層4との間に誘電層3を備えている。そして、本件発明に係るキャパシタ層形成材は、下部電極形成に用いる第2導電層4に種々の複合箔を用いることを特徴とするものである。即ち、この複合箔は、銅層の表面に1層の異種金属層を設けたもの(以下、「第1複合箔」と称する。)、銅層の表面に2層の異種金属層を設けたもの(以下、「第2複合箔」と称する。)、銅層の表面に3層の異種金属層を設けたもの(以下、「第3複合箔」と称する。)の3種類に大別出来る。そこで、キャパシタ層形成材も、第2導電層4の構成に用いる複合箔の種類に応じて、第1キャパシタ層形成材、第2キャパシタ層形成材、第3キャパシタ層形成材のそれぞれに分別して説明する事とする。
<Capacitor layer forming material according to the present invention>
FIG. 1 shows a schematic cross section of a capacitor layer forming material. As can be seen from FIG. 1, the capacitor layer forming material 1 includes a dielectric layer 3 between a first conductive layer 2 used for forming an upper electrode and a second conductive layer 4 used for forming a lower electrode. The capacitor layer forming material according to the present invention is characterized by using various composite foils for the second conductive layer 4 used for forming the lower electrode. That is, this composite foil has a copper layer provided with one dissimilar metal layer (hereinafter referred to as “first composite foil”), and a copper layer provided with two dissimilar metal layers. Can be roughly divided into three types (hereinafter referred to as “second composite foil”) and those provided with three different metal layers on the surface of the copper layer (hereinafter referred to as “third composite foil”). . Therefore, the capacitor layer forming material is also classified into each of the first capacitor layer forming material, the second capacitor layer forming material, and the third capacitor layer forming material according to the type of composite foil used for the configuration of the second conductive layer 4. I will explain.

<第1キャパシタ層形成材>
この第1キャパシタ層形成材は、第1複合箔を用いて得られたものである。ここで、第1キャパシタ層形成材1aの基本的層構成は図1に示したとおりであり、その第2導電層4に種々の複合箔を用い、当該複合箔には次のような3種類の基本的バリエーションが存在する。
<First capacitor layer forming material>
This first capacitor layer forming material is obtained using the first composite foil. Here, the basic layer configuration of the first capacitor layer forming material 1a is as shown in FIG. 1, and various composite foils are used for the second conductive layer 4, and the following three types of composite foils are used. There are basic variations.

バリエーション1−i: 上部電極形成に用いる第1導電層と下部電極形成に用いる第2導電層との間に誘電層を備えるプリント配線板のキャパシタ層形成材において、第2導電層は、銅層の表面に異種金属層として硬質ニッケルメッキ層を備える複合箔を用いたことを特徴としたキャパシタ層形成材。 Variation 1-i: In a capacitor layer forming material for a printed wiring board comprising a dielectric layer between a first conductive layer used for upper electrode formation and a second conductive layer used for lower electrode formation, the second conductive layer is a copper layer A capacitor layer forming material using a composite foil having a hard nickel plating layer as a different metal layer on the surface thereof.

バリエーション1−ii: 上部電極形成に用いる第1導電層と下部電極形成に用いる第2導電層との間に誘電層を備えるプリント配線板のキャパシタ層形成材において、第2導電層は、銅層の表面に異種金属層としてコバルトメッキ層を備える複合箔を用いたことを特徴としたキャパシタ層形成材。 Variation 1-ii: In the capacitor layer forming material of the printed wiring board including a dielectric layer between the first conductive layer used for forming the upper electrode and the second conductive layer used for forming the lower electrode, the second conductive layer is a copper layer A capacitor layer forming material comprising a composite foil having a cobalt plating layer as a dissimilar metal layer on the surface thereof.

バリエーション1−iii: 上部電極形成に用いる第1導電層と下部電極形成に用いる第2導電層との間に誘電層を備えるプリント配線板のキャパシタ層形成材において、
第2導電層は、銅層の表面に異種金属層としてニッケル−コバルト合金メッキ層を備える複合箔を用いたことを特徴としたキャパシタ層形成材。
Variation 1-iii: In a capacitor layer forming material for a printed wiring board comprising a dielectric layer between a first conductive layer used for forming an upper electrode and a second conductive layer used for forming a lower electrode,
The second conductive layer is a capacitor layer forming material using a composite foil having a nickel-cobalt alloy plating layer as a different metal layer on the surface of a copper layer.

上述したことから明らかなように、第1複合箔5aとは、図2に示すように銅層Cの表面に単一の異種金属層6を備えたものである。但し、図2(a)及び図2(b)に示すように、異種金属層6は、銅層の片面若しくは両面に設けることができる。そして、第1複合箔5aの異種金属を形成した面が誘電層3との接触面となる。異種金属が存在することで誘電層との密着性向上が図れるからである。   As is apparent from the above description, the first composite foil 5a includes a single dissimilar metal layer 6 on the surface of the copper layer C as shown in FIG. However, as shown in FIGS. 2A and 2B, the dissimilar metal layer 6 can be provided on one side or both sides of the copper layer. The surface of the first composite foil 5a on which the dissimilar metal is formed becomes the contact surface with the dielectric layer 3. This is because the presence of dissimilar metals can improve the adhesion to the dielectric layer.

ここで言う第1複合箔5aは、銅層の表面に異種金属層6として硬質ニッケルメッキ層、コバルトメッキ層、ニッケル−コバルト合金メッキ層(以上及び以下において、説明の都合上、単に「異種金属層」と称する場合がある。)のいずれかが形成されてなるものである。ここで図2(b)にあるように、銅層の両面に、硬質ニッケルメッキ層、コバルトメッキ層、ニッケル−コバルト合金メッキ層のいずれか(以下、「硬質ニッケルメッキ層等」と称する。)を設けたのは、これらが耐熱特性に優れ、400℃×10時間程度の加熱では軟化が起こりにくく、複合箔全体として見たときの引張り強さ(強度)の低下を効果的に抑制し、加熱後の引張り強さを48kgf/mm以上とすることが容易だからである。このような物性を備える限り、フッ素樹脂基板、液晶ポリマー等を基板材料としたプリント配線板での、300℃〜400℃の高温加工プロセスを経ても強度の劣化は殆ど無く、結果として、この第1複合箔5aを用いて製造されるキャパシタ層形成材の品質劣化も殆ど無いことになる。また、この硬質ニッケルメッキ層等を銅層の両面に設けたのは、銅層の形成に銅箔を用いることを考えると硬質ニッケルメッキ層等を片面に設けても引張り強さ等の物理的特性及びカール現象を抑制してハンドリング性は向上するが、両面に硬質ニッケルメッキ等の如き耐酸化性に優れた被膜が存在することで、銅層自体の酸化腐食を防止し、更にカール現象の抑制が図れるからである。なお、本件発明に言う硬質ニッケルメッキ層は、結晶粒が平均結晶粒径0.3μm以下のレベルに微細化され、機械的強度の高い物性を備えるものである。 Here, the first composite foil 5a has a hard nickel plating layer, a cobalt plating layer, a nickel-cobalt alloy plating layer (in the above and the following, for convenience of explanation, as a different metal layer 6 on the surface of the copper layer. In some cases, it is referred to as a “layer”. Here, as shown in FIG. 2B, either a hard nickel plating layer, a cobalt plating layer, or a nickel-cobalt alloy plating layer (hereinafter referred to as a “hard nickel plating layer or the like”) is formed on both sides of the copper layer. These are excellent in heat resistance characteristics, softening hardly occurs when heated at 400 ° C. for about 10 hours, and effectively suppresses a decrease in tensile strength (strength) when viewed as a composite foil as a whole, This is because it is easy to set the tensile strength after heating to 48 kgf / mm 2 or more. As long as such physical properties are provided, there is almost no deterioration in strength even after a high temperature processing process of 300 ° C. to 400 ° C. on a printed wiring board using a fluororesin substrate, a liquid crystal polymer, etc. as a substrate material. The quality deterioration of the capacitor layer forming material manufactured using the 1 composite foil 5a is hardly caused. In addition, this hard nickel plating layer etc. was provided on both sides of the copper layer, considering the use of copper foil for forming the copper layer, even if the hard nickel plating layer etc. were provided on one side, the physical strength such as tensile strength Although the characteristics and curling phenomenon are suppressed and handling properties are improved, the coating with excellent oxidation resistance such as hard nickel plating is present on both sides, thereby preventing the oxidative corrosion of the copper layer itself and further curling phenomenon. This is because suppression can be achieved. In addition, the hard nickel plating layer said to this invention is refined | miniaturized to the level whose average crystal grain diameter is 0.3 micrometer or less in a crystal grain, and is equipped with the physical property with high mechanical strength.

そして、銅層の形成に銅箔を用いる場合には、電解銅箔又は圧延銅箔を用いることが可能であり、その公称厚さが1μm〜35μmのものを用いることが好ましいのである。近年、プリント配線板の使用される電子機器等の小型化、軽量化、薄層化の要求に伴い、プリント配線板も薄層化する傾向にある。従って、銅箔表面に硬質ニッケルメッキ層等を備えることを考慮して1μm〜35μmとしたのである。なお、銅箔の公称厚さが7μm未満では、その厚さの銅箔に直接連続的に硬質ニッケルメッキ層等を形成する事が困難となり、製品歩留まりが飛躍的に悪化する。従って、係る場合にはキャリア箔付銅箔を使用して、銅箔層の片面に硬質ニッケルメッキ等を形成し、そのままで基材に張り合わせる等の加工後に、キャリア箔を引き剥がして銅箔層の反対面に硬質ニッケルメッキ層等を形成することが好ましい。一方、銅箔の公称厚さが35μmを超えると硬質ニッケルメッキ層等を備える複合箔としたときの厚さが現在のキャパシタ層形成材に求められる適正厚さを超えるため好ましくないのである。   And when using copper foil for formation of a copper layer, it is possible to use electrolytic copper foil or rolled copper foil, and it is preferable to use that whose nominal thickness is 1 micrometer-35 micrometers. In recent years, with the demands for downsizing, weight reduction, and thinning of electronic devices and the like in which printed wiring boards are used, printed wiring boards also tend to be thinned. Therefore, considering the provision of a hard nickel plating layer or the like on the copper foil surface, the thickness is set to 1 μm to 35 μm. If the nominal thickness of the copper foil is less than 7 μm, it becomes difficult to form a hard nickel plating layer or the like directly on the copper foil of that thickness, and the product yield is drastically deteriorated. Therefore, in such a case, use copper foil with carrier foil, form hard nickel plating etc. on one side of the copper foil layer, and after processing such as pasting to the substrate as it is, peel off the carrier foil and copper foil It is preferable to form a hard nickel plating layer or the like on the opposite surface of the layer. On the other hand, when the nominal thickness of the copper foil exceeds 35 μm, it is not preferable because the thickness of the composite foil including a hard nickel plating layer exceeds the appropriate thickness required for the current capacitor layer forming material.

次に、硬質ニッケルメッキ層等の厚みが0.5μm〜3.0μmであることが好ましいのである。上記メッキ層の厚みが0.5μm未満では、誘電層が薄くなったときのハンドリング性を改善するだけの強度が得られず、同時に、硬質ニッケルメッキ層等を抵抗回路等に利用しようとしたときの性能に欠けるのである。一方、上記硬質ニッケルメッキ層等の厚さが3.0μmを超えても、キャパシタ層形成材に加工したときのキャパシタ層形成材のハンドリング性は顕著に向上しないのであり、ニッケルやコバルト等の比較的高価な成分を多量に使用するだけとなるからである。   Next, the thickness of the hard nickel plating layer or the like is preferably 0.5 μm to 3.0 μm. When the thickness of the plating layer is less than 0.5 μm, the strength sufficient to improve the handling property when the dielectric layer becomes thin is not obtained, and at the same time, when trying to use a hard nickel plating layer or the like for a resistance circuit or the like The lack of performance. On the other hand, even if the thickness of the hard nickel plating layer or the like exceeds 3.0 μm, the handleability of the capacitor layer forming material when processed into the capacitor layer forming material is not significantly improved. This is because a large amount of expensive components are used.

また、銅層として電解銅箔を用いる場合には、粗面と光沢面との表面に設ける硬質ニッケルメッキ層等の厚みを異なるものとすることが好ましい。上述したカール現象の発生を防止するためである。例えば、12μmの公称厚さの電解銅箔の光沢面に2.5μm厚さの硬質ニッケルメッキ層等を設けたとすると、その粗面側には3.5μm厚さの硬質ニッケル層等を設けるのである。このとき光沢面側に設ける硬質ニッケルメッキ層等の厚さをt(μm)とすると、粗面側に設ける硬質ニッケルメッキ層等の厚さをt+0.5(μm)〜t+1.2(μm)とすることが好ましい。粗面側に設ける硬質ニッケルメッキ層等の厚さが、t+0.5(μm)未満の場合にはカール現象を抑制する効果を得ることが出来ず、t+1.2(μm)を超えると、当初の電解銅箔の持つカールと逆転したカール現象が発生する傾向が強まるのである。   Moreover, when using an electrolytic copper foil as a copper layer, it is preferable to make the thickness of the hard nickel plating layer etc. provided in the surface of a rough surface and a glossy surface different. This is to prevent the occurrence of the curl phenomenon described above. For example, if a 2.5 μm thick hard nickel plating layer or the like is provided on the glossy surface of a 12 μm nominal thickness electrolytic copper foil, a 3.5 μm thick hard nickel layer or the like is provided on the rough surface side. is there. At this time, assuming that the thickness of the hard nickel plating layer or the like provided on the glossy surface side is t (μm), the thickness of the hard nickel plating layer or the like provided on the rough surface side is t + 0.5 (μm) to t + 1.2 (μm). It is preferable that If the thickness of the hard nickel plating layer or the like provided on the rough surface side is less than t + 0.5 (μm), the effect of suppressing the curling phenomenon cannot be obtained, and if it exceeds t + 1.2 (μm) The tendency of the curling phenomenon reversed to that of the electrolytic copper foil is increased.

以上に述べてきた第1複合箔は、400℃×10時間程度の加熱を受けたとしても、十分な抗軟化性能を示し、50kgf/mm以上の引張り強さを示すものとなる。従って、銅張積層板を製造するときに採用する180℃前後での高温プレス程度では、機械的物性が全く変化しないのである。しかしながら、400℃を超える温度でのプレス条件が求められる場合には、硬質ニッケルメッキ層よりもコバルトメッキ層若しくはニッケル−コバルト合金メッキ層を採用することが好ましい。400℃を超える温度での加熱を受けると、硬質ニッケル層単独であると銅箔層との相互拡散が起こりやすくなり、硬質ニッケル層自体の抗軟化特性を維持できず、キャパシタ形成材としての靱性が低下しハンドリング性に欠けるのである。 The first composite foil described above exhibits sufficient anti-softening performance and a tensile strength of 50 kgf / mm 2 or more even when heated at 400 ° C. for about 10 hours. Therefore, the mechanical properties do not change at all at the high temperature press at around 180 ° C. employed when producing a copper clad laminate. However, when press conditions at temperatures exceeding 400 ° C. are required, it is preferable to employ a cobalt plating layer or a nickel-cobalt alloy plating layer rather than a hard nickel plating layer. When heated at a temperature exceeding 400 ° C., the hard nickel layer alone tends to cause mutual diffusion with the copper foil layer, and the hard nickel layer itself cannot maintain the anti-softening property, and toughness as a capacitor forming material. Is reduced and handling is lacking.

以上に述べてきた第1複合箔を用いて、キャパシタ層形成材を製造するのである。ここで述べた第1複合箔及びキャパシタ層形成材の製造方法に関しては、実施形態で詳述するものとする。   The capacitor layer forming material is manufactured using the first composite foil described above. The manufacturing method of the first composite foil and the capacitor layer forming material described here will be described in detail in the embodiment.

<第2キャパシタ層形成材>
この第2キャパシタ層形成材は、第2複合箔を用いて得られたものである。ここで、第2キャパシタ層形成材の基本的層構成は図3に示したとおりであり、その第2導電層4に種々の複合箔を用い、当該複合箔には次のような2種類の基本的バリエーションが存在する。
<Second capacitor layer forming material>
This second capacitor layer forming material is obtained using the second composite foil. Here, the basic layer configuration of the second capacitor layer forming material is as shown in FIG. 3, and various composite foils are used for the second conductive layer 4, and the following two types of composite foils are used. There are basic variations.

バリエーション2−i: 上部電極形成に用いる第1導電層と下部電極形成に用いる第2導電層との間に誘電層を備えるプリント配線板のキャパシタ層形成材において、第2導電層は、銅層の表面にコバルトメッキ層/硬質ニッケルメッキ層の順次積層された2層の異種金属層を備える複合箔を用いたことを特徴としたキャパシタ層形成材。 Variation 2-i: In the capacitor layer forming material for a printed wiring board having a dielectric layer between the first conductive layer used for forming the upper electrode and the second conductive layer used for forming the lower electrode, the second conductive layer is a copper layer A capacitor layer forming material comprising a composite foil comprising two different metal layers laminated in order of a cobalt plating layer / a hard nickel plating layer on the surface of the substrate.

バリエーション2−ii: 上部電極形成に用いる第1導電層と下部電極形成に用いる第2導電層との間に誘電層を備えるプリント配線板のキャパシタ層形成材において、第2導電層は、銅層の表面に鉄メッキ層/硬質ニッケルメッキ層の順次積層された2層の異種金属層を備える複合箔を用いたことを特徴としたキャパシタ層形成材。 Variation 2-ii: In the capacitor layer forming material for a printed wiring board having a dielectric layer between the first conductive layer used for forming the upper electrode and the second conductive layer used for forming the lower electrode, the second conductive layer is a copper layer A capacitor layer forming material comprising a composite foil having two different metal layers laminated on the surface of an iron plating layer / hard nickel plating layer in sequence.

上述したことから明らかなように、第2複合箔5bとは、図3に示すように銅層の表面に2層の異種金属層6a,6bを備えたものである。但し、図2に示すように、異種金属層6a,6bは、銅層の片面若しくは両面に設けることができる。そして、第2複合箔5bの異種金属を形成した面が誘電層3との接触面となる。異種金属層が存在することで誘電層との密着性向上が図れるからである。   As is apparent from the above, the second composite foil 5b includes two different metal layers 6a and 6b on the surface of the copper layer as shown in FIG. However, as shown in FIG. 2, the dissimilar metal layers 6a and 6b can be provided on one side or both sides of the copper layer. The surface of the second composite foil 5b on which the dissimilar metal is formed becomes the contact surface with the dielectric layer 3. This is because the presence of the dissimilar metal layer can improve the adhesion to the dielectric layer.

ここで言う第2複合箔5bは、銅層の表面に異種金属層6aとしてコバルトメッキ層若しくは鉄メッキ層を備え、その表面にもう一つの異種金属層6bとして硬質ニッケルメッキ層を備えたものである。ここで図2(b)にあるように、銅箔の両面に、異種金属層6を設けても良いことは、第1複合箔5aの場合と同様である。   The 2nd composite foil 5b said here is equipped with the cobalt plating layer or the iron plating layer as the different metal layer 6a on the surface of the copper layer, and the hard nickel plating layer as another different metal layer 6b on the surface. is there. Here, as shown in FIG. 2B, the dissimilar metal layer 6 may be provided on both surfaces of the copper foil, as in the case of the first composite foil 5a.

本件発明に言う第2複合箔5bは、銅箔Cの表面に、異種金属層6a(コバルトメッキ層若しくは鉄メッキ層)と異種金属層6b(硬質ニッケルメッキ層)とが順次形成されてなる複合箔である。図2から明らかなように、このときの銅層の表面には、異種金属層6aが接触することになり、その異種金属層6aの表面に異種金属層6b(硬質ニッケルメッキ層)が存在するのである。このような積層配置を採用したのは、銅層の表面に硬質ニッケルメッキ層が存在し、その上にコバルトメッキ層が順次形成してなる積層配置を採用すると、300℃以上(特に400℃を超えると顕著になる)の温度での長時間加熱により、硬質ニッケルメッキ層と銅箔層との境界が相互拡散により移動するカーケンダール効果が発生し、銅層内への銅−ニッケル合金領域の拡大が生じ、硬質ニッケルメッキ層が本来持つはずの高い引張り強さが維持できなくなるのである。そして、カーケンダール効果が生じた場合には、その拡散境界にはボイドが発生する事が知られており、ボイドの如き微小欠陥が存在すると、引張り強さの測定時の引張り応力の集中箇所となり、箔の破断が容易に起こることとなるのである。   The second composite foil 5b referred to in the present invention is a composite in which a dissimilar metal layer 6a (cobalt plating layer or iron plating layer) and a dissimilar metal layer 6b (hard nickel plating layer) are sequentially formed on the surface of the copper foil C. It is a foil. As apparent from FIG. 2, the different metal layer 6a comes into contact with the surface of the copper layer at this time, and the different metal layer 6b (hard nickel plating layer) exists on the surface of the different metal layer 6a. It is. Such a laminated arrangement is adopted because a hard nickel plating layer exists on the surface of the copper layer and a cobalt plating layer is sequentially formed on the hard nickel plating layer. When heated for a long time at a temperature of (C), the boundary between the hard nickel plating layer and the copper foil layer moves due to mutual diffusion, resulting in the Kirkendall effect and the expansion of the copper-nickel alloy region into the copper layer As a result, the high tensile strength that the hard nickel plating layer should have cannot be maintained. And, when the Carkendar effect occurs, it is known that voids are generated at the diffusion boundary, and if there are microscopic defects such as voids, it becomes a concentration point of tensile stress when measuring tensile strength, The foil breaks easily.

ここで、上記カーケンダール効果の発生を捉えた光学顕微鏡観察写真を示すこととする。最初に、銅箔の両面にコバルトメッキ層と硬質ニッケルメッキ層とが順次積層された複合銅箔を用いて、加熱前後の断面状態を観察した。その結果、図5に示した加熱前の光学顕微鏡による断面観察写真と、図6の400℃×10時間加熱後の光学顕微鏡による断面観察写真との間に特別顕著な差異は見られず、ほぼ断面状態に変化はないことが判明した。これに対し、銅箔の両面に硬質ニッケルメッキ層のみを形成した複合銅箔(第1複合銅箔)を用いて、加熱前後の断面状態を観察すると顕著な差異が認められるのである。図7には第1複合銅箔の加熱前の光学顕微鏡による断面観察写真を示し、図8には400℃×10時間加熱後の光学顕微鏡による断面観察写真を示した。この図7と図8とを比較すると、加熱後の断面観察写真では、銅箔の内部(図8中に矢印で示した箇所)にボイド状の形状が観察されている。このボイドは、加熱によって硬質ニッケルメッキ層と銅箔層との境界が相互拡散により移動するカーケンダール効果によって発生したものと考えられる。これらのことから第2複合箔を用いて製造したキャパシタ層形成材を用いる限り、将来的に400℃付近のプレス条件が採用されることになっても、高品質の内蔵キャパシタ層を多層プリント配線板の内部に製造出来ることとなる。   Here, the optical microscope observation photograph which caught generation | occurrence | production of the said Kirkendall effect shall be shown. First, the cross-sectional state before and after heating was observed using a composite copper foil in which a cobalt plating layer and a hard nickel plating layer were sequentially laminated on both sides of the copper foil. As a result, there was no particularly significant difference between the cross-sectional observation photograph with the optical microscope before heating shown in FIG. 5 and the cross-sectional observation photograph with the optical microscope after heating at 400 ° C. for 10 hours in FIG. It was found that there was no change in the cross-sectional state. On the other hand, when a cross-sectional state before and after heating is observed using a composite copper foil (first composite copper foil) in which only a hard nickel plating layer is formed on both surfaces of the copper foil, a remarkable difference is recognized. FIG. 7 shows a cross-sectional observation photograph with an optical microscope before heating the first composite copper foil, and FIG. 8 shows a cross-sectional observation photograph with an optical microscope after heating at 400 ° C. for 10 hours. When FIG. 7 and FIG. 8 are compared, in the cross-sectional observation photograph after heating, a void-like shape is observed inside the copper foil (location indicated by an arrow in FIG. 8). This void is considered to be generated by the Kirkendall effect in which the boundary between the hard nickel plating layer and the copper foil layer is moved by mutual diffusion by heating. Therefore, as long as the capacitor layer forming material manufactured using the second composite foil is used, a high-quality built-in capacitor layer can be formed in a multilayer printed wiring even if a press condition of around 400 ° C. is adopted in the future. It can be manufactured inside the plate.

そして、第2複合箔を構成する異種金属層6a(コバルトメッキ層若しくは鉄メッキ層)の厚みは0.1μm〜0.5μm、硬質ニッケルメッキ層の厚みは0.3μm〜2.5μmであることが好ましい。このような層構成を採用するのは、高価なコバルトの使用量を可能な限り減らし、コバルト単層のメッキと同等の抗軟化特性を得るためである。従って、異種金属層6aの厚みが0.1μm未満となると硬質ニッケルメッキ層と銅層とのバリア層として寄与し得ず上記カーケンダール効果の発生を未然に防止できず、特に400℃を超える加熱を受けたときに異種金属層6aを採用していない場合との差が生じないのである。一方、異種金属層6aの厚さが、0.5μmを超えると単層でコバルトメッキ層を設けるのと何ら変わらなくなり、異種金属層6aと硬質ニッケルメッキ層とを設ける意義が没却するからである。そして、硬質ニッケルメッキ層の厚みが0.3μm未満の場合には、異種金属層6aを補強して抗軟化特性を向上させる効果に寄与しないのである。一方、硬質ニッケルメッキ層の厚さが2.5μmを超えると、経済性が損なわれ二層構成を採用した意義が没却するのである。   The thickness of the dissimilar metal layer 6a (cobalt plating layer or iron plating layer) constituting the second composite foil is 0.1 μm to 0.5 μm, and the thickness of the hard nickel plating layer is 0.3 μm to 2.5 μm. Is preferred. The reason for adopting such a layer configuration is to reduce the amount of expensive cobalt used as much as possible and to obtain anti-softening characteristics equivalent to those obtained by plating a cobalt single layer. Therefore, when the thickness of the dissimilar metal layer 6a is less than 0.1 μm, it cannot contribute to the barrier layer between the hard nickel plating layer and the copper layer, and the occurrence of the above-mentioned Kendall effect cannot be prevented. The difference between the case where the dissimilar metal layer 6a is not adopted when received is not generated. On the other hand, if the thickness of the dissimilar metal layer 6a exceeds 0.5 μm, it is no different from providing a cobalt plating layer as a single layer, and the significance of providing the dissimilar metal layer 6a and the hard nickel plating layer is lost. is there. And when the thickness of a hard nickel plating layer is less than 0.3 micrometer, it does not contribute to the effect of reinforcing the dissimilar metal layer 6a and improving an anti-softening characteristic. On the other hand, if the thickness of the hard nickel plating layer exceeds 2.5 μm, the economic efficiency is impaired, and the significance of adopting the two-layer configuration is lost.

以上に述べてきた第2複合箔も400℃×10時間程度の加熱では十分な抗軟化性能を示し、50kgf/mm以上の引張り強さを示すものとなる。このような物性を備える限り、フッ素樹脂基板、液晶ポリマー等を基板材料としたプリント配線板での、300℃〜400℃の高温加工プロセスを経ても強度の劣化は殆ど無く、結果として、この第2複合箔5bを用いて製造されるキャパシタ層形成材の品質劣化も殆ど無いことになる。 The second composite foil described above also exhibits sufficient anti-softening performance when heated at 400 ° C. for about 10 hours, and exhibits a tensile strength of 50 kgf / mm 2 or more. As long as such physical properties are provided, there is almost no deterioration in strength even after a high temperature processing process of 300 ° C. to 400 ° C. on a printed wiring board using a fluororesin substrate, a liquid crystal polymer, etc. as a substrate material. 2 The quality deterioration of the capacitor layer forming material manufactured using the composite foil 5b is hardly caused.

以上に述べてきた第1複合箔を用いて、キャパシタ層形成材を製造するのである。ここで述べた第2複合箔及びキャパシタ層形成材の製造方法に関しては、実施形態で詳述するものとする。   The capacitor layer forming material is manufactured using the first composite foil described above. The manufacturing method of the second composite foil and the capacitor layer forming material described here will be described in detail in the embodiment.

<第3キャパシタ層形成材>
この第3キャパシタ層形成材は、第3複合箔を用いて得られたものである。ここで、第3キャパシタ層形成材の基本的層構成は図9に示したとおりであり、その第2導電層4に種々の複合箔を用い、当該複合箔には次のような2種類の基本的バリエーションが存在する。
<Third capacitor layer forming material>
This third capacitor layer forming material is obtained using the third composite foil. Here, the basic layer configuration of the third capacitor layer forming material is as shown in FIG. 9, and various composite foils are used for the second conductive layer 4, and the following two types of composite foils are used. There are basic variations.

バリエーション3−i: 上部電極形成に用いる第1導電層と下部電極形成に用いる第2導電層との間に誘電層を備えるプリント配線板のキャパシタ層形成材において、第2導電層は、銅層の表面に第1コバルトメッキ層/硬質ニッケルメッキ層/第2コバルトメッキ層の順次積層された3層の異種金属層を備える複合箔を用いたことを特徴としたキャパシタ層形成材。 Variation 3-i: In the capacitor layer forming material for a printed wiring board having a dielectric layer between the first conductive layer used for forming the upper electrode and the second conductive layer used for forming the lower electrode, the second conductive layer is a copper layer A capacitor layer forming material comprising a composite foil comprising three different metal layers laminated in order of a first cobalt plating layer / a hard nickel plating layer / a second cobalt plating layer on the surface thereof.

バリエーション3−ii: 上部電極形成に用いる第1導電層と下部電極形成に用いる第2導電層との間に誘電層を備えるプリント配線板のキャパシタ層形成材において、第2導電層は、銅層の表面に鉄メッキ層/硬質ニッケルメッキ層/コバルトメッキ層の順次積層された3層の異種金属層を備える複合箔を用いたことを特徴としたキャパシタ層形成材。 Variation 3-ii: In a capacitor layer forming material for a printed wiring board comprising a dielectric layer between a first conductive layer used for upper electrode formation and a second conductive layer used for lower electrode formation, the second conductive layer is a copper layer A capacitor layer-forming material comprising a composite foil comprising three different metal layers laminated in order of an iron plating layer / hard nickel plating layer / cobalt plating layer on the surface of the substrate.

即ち、第3複合箔5cとは、図10に示すように銅層の表面に3層の異種金属層6a,6b,6cを備えたものである。但し、図10に示すように、異種金属層6a,6b,6cは、銅層の片面若しくは両面に設けることができる。そして、第3複合箔5cの異種金属を形成した面が誘電層3との接触面となる。異種金属が存在することで誘電層との密着性向上が図れるからである。   That is, the third composite foil 5c includes three different metal layers 6a, 6b and 6c on the surface of the copper layer as shown in FIG. However, as shown in FIG. 10, the dissimilar metal layers 6a, 6b, 6c can be provided on one side or both sides of the copper layer. The surface of the third composite foil 5c on which the dissimilar metal is formed becomes a contact surface with the dielectric layer 3. This is because the presence of dissimilar metals can improve the adhesion to the dielectric layer.

ここで言う第3複合箔5cは、銅層の表面に異種金属層6aとして第1コバルトメッキ層を備え、その表面に異種金属層6bとして硬質ニッケルメッキ層を備え、更にその表面に異種金属層6aとして第2コバルトメッキ層を設けたもの。又は、第3複合箔5cは、銅層の表面に異種金属層6aとして鉄メッキ層を備え、その表面に異種金属層6bとして硬質ニッケルメッキ層を備え、更にその表面に異種金属層6aとしてコバルトメッキ層を設けたものである。ここで図10(b)にあるように、銅層の両面に、異種金属層6を設けても良いことは、第1複合箔5aの場合と同様である。   The third composite foil 5c mentioned here includes a first cobalt plating layer as the dissimilar metal layer 6a on the surface of the copper layer, a hard nickel plating layer as the dissimilar metal layer 6b on the surface, and a dissimilar metal layer on the surface thereof. 6a provided with a second cobalt plating layer. Alternatively, the third composite foil 5c includes an iron plating layer as the dissimilar metal layer 6a on the surface of the copper layer, a hard nickel plating layer as the dissimilar metal layer 6b, and cobalt as the dissimilar metal layer 6a on the surface. A plating layer is provided. Here, as shown in FIG. 10B, the dissimilar metal layer 6 may be provided on both surfaces of the copper layer, as in the case of the first composite foil 5a.

本件発明に言う第3複合箔5cは、銅層Cの表面に、異種金属層6a(第1コバルトメッキ層若しくは鉄メッキ層)と異種金属層6b(硬質ニッケルメッキ層)と異種金属層6c((第2)コバルトメッキ層)が順次形成されてなる複合箔である。図10から明らかなように、このときの銅層の表面には、異種金属層6aが接触することになり、その異種金属層6aの表面に異種金属層6bが、更にその表面に異種金属層6cが存在するのである。このような積層配置を採用したのは、上述と同様のカーケンダール効果の発生を防止し、高温負荷後も箔の強度を維持するためである。また、最外層にコバルト層が存在していれば高温耐熱特性により優れるものとなる。   The third composite foil 5c referred to in the present invention is formed on the surface of the copper layer C by dissimilar metal layer 6a (first cobalt plating layer or iron plating layer), dissimilar metal layer 6b (hard nickel plating layer) and dissimilar metal layer 6c ( This is a composite foil in which (second) cobalt plating layer) is sequentially formed. As apparent from FIG. 10, the surface of the copper layer at this time is in contact with the dissimilar metal layer 6a, the dissimilar metal layer 6b on the surface of the dissimilar metal layer 6a, and the dissimilar metal layer on the surface thereof. 6c exists. The reason why such a laminated arrangement is adopted is to prevent the occurrence of the same Kakendal effect as described above and to maintain the strength of the foil even after high temperature load. In addition, if a cobalt layer is present in the outermost layer, the high temperature heat resistance is improved.

そして、第3複合箔を構成する異種金属層6a(第1コバルトメッキ層若しくは鉄メッキ層)の厚みは0.1μm〜0.5μm、異種金属層6bの硬質ニッケルメッキ層の厚みは0.3μm〜2.5μm、異種金属層6cの(第2)コバルトメッキ層の厚みは0.1μm〜0.5μmであることが好ましい。このような層構成を採用する理由に関しては、ほぼ第2複合箔と同様であり、異種金属層6aの厚みが0.1μm未満となると硬質ニッケルメッキ層と銅層とのバリア層としての寄与し得ず上記カーケンダール効果の発生を未然に防止することができず、特に400℃を超える加熱を受けたときに異種金属層6aを採用していない場合との差が生じないのである。一方、異種金属層6aの厚さが、0.5μmを超えると単層でコバルトメッキ層を設けるのと何ら変わらなくなり、他の異種金属層6b,6cを設ける意義が没却するからである。そして、異種金属層6b(硬質ニッケルメッキ層)の厚みが0.3μm未満の場合には、異種金属層6aを補強して抗軟化特性を向上させる効果に寄与しないのである。一方、異種金属層6b(硬質ニッケルメッキ層)の厚さが2.5μmを超えると、経済性が損なわれ三層構成を採用した意義が没却するのである。更に異種金属層6c((第2)コバルトメッキ層)の厚みが0.3μm未満の場合には、耐酸化性改善にも寄与し得ず、異種金属層6bを補強して抗軟化特性を向上させる効果に寄与しないのである。一方、異種金属層6c((第2)コバルトメッキ層)の厚みが2.5μmを超えると、経済性が損なわれ三層構成を採用した意義が没却するのである。   The thickness of the dissimilar metal layer 6a (first cobalt plating layer or iron plating layer) constituting the third composite foil is 0.1 μm to 0.5 μm, and the thickness of the hard nickel plating layer of the dissimilar metal layer 6b is 0.3 μm. The thickness of the (second) cobalt plating layer of the dissimilar metal layer 6c is preferably 0.1 μm to 0.5 μm. The reason for adopting such a layer configuration is almost the same as that of the second composite foil. When the thickness of the dissimilar metal layer 6a is less than 0.1 μm, it contributes as a barrier layer between the hard nickel plating layer and the copper layer. It is not possible to prevent the occurrence of the above-mentioned Kerr-Kendall effect, and there is no difference from the case where the dissimilar metal layer 6a is not employed particularly when it is heated to over 400 ° C. On the other hand, if the thickness of the dissimilar metal layer 6a exceeds 0.5 μm, it is no different from providing a cobalt plating layer as a single layer, and the significance of providing other dissimilar metal layers 6b and 6c is lost. When the thickness of the dissimilar metal layer 6b (hard nickel plating layer) is less than 0.3 μm, it does not contribute to the effect of reinforcing the dissimilar metal layer 6a and improving the anti-softening property. On the other hand, if the thickness of the dissimilar metal layer 6b (hard nickel plating layer) exceeds 2.5 μm, the economical efficiency is impaired and the significance of adopting the three-layer configuration is lost. Further, when the thickness of the dissimilar metal layer 6c ((second) cobalt plating layer) is less than 0.3 μm, it cannot contribute to the improvement of oxidation resistance, and the dissimilar metal layer 6b is reinforced to improve the anti-softening property. It does not contribute to the effect to be made. On the other hand, if the thickness of the dissimilar metal layer 6c ((second) cobalt plating layer) exceeds 2.5 μm, the economic efficiency is impaired and the significance of adopting the three-layer configuration is lost.

以上に述べてきた第3複合箔5cも400℃×10時間程度の加熱では十分な抗軟化性能を示し、50kgf/mm以上の引張り強さを示すものとなる。このような物性を備える限り、フッ素樹脂基板、液晶ポリマー等を基板材料としたプリント配線板での、300℃〜400℃の高温加工プロセスを経ても強度の劣化は殆ど無く、結果として、この第3複合箔5cを用いて製造されるキャパシタ層形成材の品質劣化も殆ど無いことになる。 The third composite foil 5c described above also exhibits sufficient anti-softening performance when heated at about 400 ° C. for about 10 hours, and exhibits a tensile strength of 50 kgf / mm 2 or more. As long as such physical properties are provided, there is almost no deterioration in strength even after a high temperature processing process of 300 ° C. to 400 ° C. on a printed wiring board using a fluororesin substrate, a liquid crystal polymer, etc. as a substrate material. The quality deterioration of the capacitor layer forming material manufactured by using the three composite foils 5c is hardly caused.

以上に述べてきた第3複合箔を用いて、キャパシタ層形成材を製造するのである。ここで述べた第3複合箔及びキャパシタ層形成材の製造方法に関しては、実施形態で詳述するものとする。   The capacitor layer forming material is manufactured using the third composite foil described above. The manufacturing method of the third composite foil and the capacitor layer forming material described here will be described in detail in the embodiment.

<本件発明に係るキャパシタ層形成材の製造に用いる複合箔の製造方法>
上記第1複合銅箔の内、銅層表面に異種金属層としての硬質ニッケルメッキ層を備える複合箔の製造は、銅箔を、以下の組成の硬質ニッケル電解メッキ浴に浸漬し、下記電解条件で電解メッキを行い、硬質ニッケルメッキ層を形成することを特徴とする製造方法を採用することが好ましい。
<The manufacturing method of the composite foil used for manufacture of the capacitor layer forming material which concerns on this invention>
Among the first composite copper foils, the manufacture of a composite foil comprising a hard nickel plating layer as a different metal layer on the surface of the copper layer is performed by immersing the copper foil in a hard nickel electrolytic plating bath having the following composition, and the following electrolysis conditions: It is preferable to employ a production method characterized in that electrolytic plating is performed to form a hard nickel plating layer.

[硬質ニッケルメッキ浴組成]
NiSO・6HO 100g/l〜180g/l
NHCl濃度 20g/l〜30g/l
BO濃度 20g/l〜60g/l
液 温 20℃〜50℃
pH 3〜5
電流密度 1A/dm〜50A/dm
攪 拌 あり
[Hard nickel plating bath composition]
NiSO 4 · 6H 2 O 100g / l~180g / l
NH 4 Cl concentration 20 g / l to 30 g / l
H 3 BO 3 concentration 20 g / l to 60 g / l
Liquid temperature 20 ℃ ~ 50 ℃
pH 3-5
Current density 1 A / dm 2 to 50 A / dm 2
There is stirring

上記第1複合銅箔の内、銅層表面に異種金属層としてのコバルトメッキ層を備える複合箔の製造は、銅箔を、以下の組成の硫酸コバルト電解メッキ浴に浸漬し、下記電解条件で電解メッキを行い、コバルトメッキ層を形成することを特徴とする製造方法を採用することが好ましい。更に、前記硫酸コバルト電解メッキ浴に、0.05g/l〜0.3g/lの濃度で凝集剤を含ませることも好ましいのである。   Among the first composite copper foils, the production of a composite foil having a cobalt plating layer as a different metal layer on the surface of the copper layer is performed by immersing the copper foil in a cobalt sulfate electroplating bath having the following composition, under the following electrolysis conditions: It is preferable to employ a manufacturing method characterized by performing electrolytic plating to form a cobalt plating layer. Further, it is also preferable that the cobalt sulfate electroplating bath contains a flocculant at a concentration of 0.05 g / l to 0.3 g / l.

[コバルトメッキ浴組成]
CoSO・7HO 120g/l〜200g/l
BO 25g/l〜50g/l
液 温 20℃〜50℃
pH 2〜5
電流密度 1A/dm〜50A/dm
攪 拌 あり
[Cobalt plating bath composition]
CoSO 4 · 7H 2 O 120 g / l to 200 g / l
H 3 BO 3 25 g / l to 50 g / l
Liquid temperature 20 ℃ ~ 50 ℃
pH 2-5
Current density 1 A / dm 2 to 50 A / dm 2
There is stirring

上記第1複合銅箔の内、銅層表面に異種金属層としてのニッケル−コバルト合金メッキ層を備える複合箔の製造は、銅箔を、以下の組成のニッケル−コバルト合金電解メッキ浴に浸漬し、下記電解条件で電解メッキを行い、ニッケル−コバルト合金メッキ層を形成することを特徴とする製造方法を採用することが好ましい。   Among the first composite copper foils, the production of a composite foil having a nickel-cobalt alloy plating layer as a different metal layer on the surface of the copper layer is performed by immersing the copper foil in a nickel-cobalt alloy electrolytic plating bath having the following composition. It is preferable to employ a manufacturing method characterized in that electrolytic plating is performed under the following electrolysis conditions to form a nickel-cobalt alloy plating layer.

[ニッケル−コバルト合金電解メッキ浴]
NiSO・6HO 100g/l〜200g/l
NiCl・6HO 30g/l〜50g/l
CoSO・7HO 10g/l〜30g/l
BO 20g/l〜40g/l
液 温 20℃〜50℃
pH 2〜5
電流密度 1A/dm〜25A/dm
攪 拌 あり
[Nickel-cobalt alloy electroplating bath]
NiSO 4 · 6H 2 O 100g / l~200g / l
NiCl 2 · 6H 2 O 30 g / l to 50 g / l
CoSO 4 · 7H 2 O 10 g / l to 30 g / l
H 3 BO 3 20 g / l to 40 g / l
Liquid temperature 20 ℃ ~ 50 ℃
pH 2-5
Current density 1 A / dm 2 to 25 A / dm 2
There is stirring

上記第2複合銅箔の内、銅層表面に異種金属層としてのコバルトメッキ層/硬質ニッケルメッキ層の二層を備える複合箔の製造は、銅箔を、下記A.の組成の硫酸コバルト電解メッキ浴に浸漬し、下記A.の電解条件で電解メッキを行い、コバルトメッキ層を形成した後、下記B.の組成の硬質ニッケル電解メッキ浴に浸漬し、下記B.の電解条件で電解メッキを行い、硬質ニッケルメッキ層を形成することを特徴とする複合箔の製造方法を採用することが好ましい。更に、前記硫酸コバルト電解メッキ浴に、0.05g/l〜0.3g/lの濃度で凝集剤を含ませることも好ましいのである。   Among the second composite copper foils, the manufacture of a composite foil comprising two layers of a cobalt plating layer / hard nickel plating layer as a dissimilar metal layer on the surface of the copper layer, And immersed in a cobalt sulfate electrolytic plating bath having the following composition: After the electrolytic plating is performed under the electrolytic conditions, and the cobalt plating layer is formed, the following B. A hard nickel electrolytic plating bath having the composition of It is preferable to employ a method for producing a composite foil characterized in that the electroplating is performed under the above electrolysis conditions to form a hard nickel plating layer. Further, it is also preferable that the cobalt sulfate electroplating bath contains a flocculant at a concentration of 0.05 g / l to 0.3 g / l.

[A.組成、電解条件]
CoSO・7HO 120g/l〜200g/l
BO 25g/l〜50g/l
液 温 20℃〜50℃
pH 2〜5
電流密度 1A/dm〜50A/dm
攪 拌 あり
[B.組成、電解条件]
NiSO・6HO 100g/l〜180g/l
NHCl濃度 20g/l〜30g/l
BO濃度 20g/l〜60g/l
液 温 20℃〜50℃
pH 4〜5
電流密度 1A/dm〜50A/dm
攪 拌 あり
[A. Composition, electrolysis conditions]
CoSO 4 · 7H 2 O 120 g / l to 200 g / l
H 3 BO 3 25 g / l to 50 g / l
Liquid temperature 20 ℃ ~ 50 ℃
pH 2-5
Current density 1 A / dm 2 to 50 A / dm 2
Stirring [B. Composition, electrolysis conditions]
NiSO 4 · 6H 2 O 100g / l~180g / l
NH 4 Cl concentration 20 g / l to 30 g / l
H 3 BO 3 concentration 20 g / l to 60 g / l
Liquid temperature 20 ℃ ~ 50 ℃
pH 4-5
Current density 1 A / dm 2 to 50 A / dm 2
There is stirring

上記第2複合銅箔の内、銅層表面に異種金属層としての鉄メッキ層/硬質ニッケルメッキ層の二層を備える複合箔の製造は、銅箔を、下記A.の組成の硫酸鉄電解メッキ浴に浸漬し、下記A.の電解条件で電解メッキを行い、鉄メッキ層を形成した後、下記B.の組成の硬質ニッケル電解メッキ浴に浸漬し、下記B.の電解条件で電解メッキを行い、硬質ニッケルメッキ層を形成することを特徴とする複合箔の製造方法を採用することが好ましい。更に、前記硫酸鉄電解メッキ浴に、0.05g/l〜0.3g/lの濃度で凝集剤を含ませることも好ましいのである。   Among the second composite copper foils, the production of a composite foil comprising two layers of an iron plating layer / hard nickel plating layer as a dissimilar metal layer on the surface of the copper layer is carried out using And immersed in an iron sulfate electroplating bath having the following composition: After the electrolytic plating is performed under the electrolytic conditions, and the iron plating layer is formed, the following B. A hard nickel electrolytic plating bath having the composition of It is preferable to employ a method for producing a composite foil characterized in that the electroplating is performed under the above electrolysis conditions to form a hard nickel plating layer. Furthermore, it is also preferable to include a flocculant in the iron sulfate electroplating bath at a concentration of 0.05 g / l to 0.3 g / l.

[A.組成、電解条件]
FeSO・7HO 100g/l〜200g/l
BO 20g/l〜50g/l
液 温 20℃〜50℃
pH 2〜5
電流密度 1A/dm〜30A/dm
攪 拌 あり
[B.組成、電解条件]
NiSO・6HO 100g/l〜180g/l
NHCl濃度 20g/l〜30g/l
BO濃度 20g/l〜60g/l
液 温 20℃〜50℃
pH 4〜5
電流密度 1A/dm〜50A/dm
攪 拌 あり
[A. Composition, electrolysis conditions]
FeSO 4 · 7H 2 O 100 g / l to 200 g / l
H 3 BO 3 20 g / l to 50 g / l
Liquid temperature 20 ℃ ~ 50 ℃
pH 2-5
Current density 1 A / dm 2 to 30 A / dm 2
Stirring [B. Composition, electrolysis conditions]
NiSO 4 · 6H 2 O 100g / l~180g / l
NH 4 Cl concentration 20 g / l to 30 g / l
H 3 BO 3 concentration 20 g / l to 60 g / l
Liquid temperature 20 ℃ ~ 50 ℃
pH 4-5
Current density 1 A / dm 2 to 50 A / dm 2
There is stirring

上記第3複合銅箔の内、銅層表面に異種金属層としての第1コバルトメッキ層/硬質ニッケルメッキ層/第2コバルトメッキ層の三層を備える複合箔の製造は、銅箔を、下記A.の組成の硫酸コバルト電解メッキ浴に浸漬し、下記A.の電解条件で電解メッキを行い、第1コバルトメッキ層を形成した後、下記B.の組成の硬質ニッケル電解メッキ浴に浸漬し、下記B.の電解条件で電解メッキを行い硬質ニッケルメッキ層を形成し、更に下記A.の組成の硫酸コバルト電解メッキ浴に浸漬し、下記A.の電解条件で電解メッキを行い、第2コバルトメッキ層を形成することを特徴とする複合箔の製造方法を採用することが好ましい。また、前記硫酸コバルト電解メッキ浴に、0.05g/l〜0.3g/lの濃度で凝集剤を含ませることも好ましいのである。   Among the above-mentioned third composite copper foils, the manufacture of a composite foil comprising three layers of a first cobalt plating layer / hard nickel plating layer / second cobalt plating layer as a different metal layer on the copper layer surface is described below. A. And immersed in a cobalt sulfate electrolytic plating bath having the following composition: After the electrolytic plating is performed under the electrolytic conditions of (1) to form the first cobalt plating layer, the following B. A hard nickel electrolytic plating bath having the composition of Electrolytic plating is carried out under the electrolysis conditions to form a hard nickel plating layer. And immersed in a cobalt sulfate electrolytic plating bath having the following composition: It is preferable to employ a method for producing a composite foil, characterized in that the second cobalt plating layer is formed by performing electrolytic plating under the electrolytic conditions. Moreover, it is also preferable that the cobalt sulfate electroplating bath contains a flocculant at a concentration of 0.05 g / l to 0.3 g / l.

[A.組成、電解条件]
CoSO・7HO 120g/l〜200g/l
BO 25g/l〜50g/l
液 温 20℃〜50℃
pH 2〜5
電流密度 1A/dm〜50A/dm
攪 拌 あり
[B.組成、電解条件]
NiSO・6HO 100g/l〜180g/l
NHCl濃度 20g/l〜30g/l
BO濃度 20g/l〜60g/l
液 温 20℃〜50℃
pH 4〜5
電流密度 1A/dm〜50A/dm
攪 拌 あり
[A. Composition, electrolysis conditions]
CoSO 4 · 7H 2 O 120 g / l to 200 g / l
H 3 BO 3 25 g / l to 50 g / l
Liquid temperature 20 ℃ ~ 50 ℃
pH 2-5
Current density 1 A / dm 2 to 50 A / dm 2
Stirring [B. Composition, electrolysis conditions]
NiSO 4 · 6H 2 O 100g / l~180g / l
NH 4 Cl concentration 20 g / l to 30 g / l
H 3 BO 3 concentration 20 g / l to 60 g / l
Liquid temperature 20 ℃ ~ 50 ℃
pH 4-5
Current density 1 A / dm 2 to 50 A / dm 2
There is stirring

上記第3複合銅箔の内、銅層表面に異種金属層としての鉄メッキ層/硬質ニッケルメッキ層/コバルトメッキ層の三層を備える複合箔の製造は、銅箔を、下記A.の組成の硫酸鉄電解メッキ浴に浸漬し、下記A.の電解条件で電解メッキを行い、鉄メッキ層を形成した後、下記B.の組成の硬質ニッケル電解メッキ浴に浸漬し、下記B.の電解条件で電解メッキを行い硬質ニッケルメッキ層を形成し、更に下記C.の組成の硫酸コバルト電解メッキ浴に浸漬し、下記C.の電解条件で電解メッキを行い、コバルトメッキ層を形成することを特徴とする複合箔の製造方法を採用することが好ましい。また、前記硫酸コバルト電解メッキ浴に、0.05g/l〜0.3g/lの濃度で凝集剤を含ませることも好ましいのである。   Among the third composite copper foils, the manufacture of a composite foil comprising three layers of an iron plating layer / hard nickel plating layer / cobalt plating layer as a different metal layer on the surface of the copper layer is carried out using And immersed in an iron sulfate electroplating bath having the following composition: After the electrolytic plating is performed under the electrolytic conditions, and the iron plating layer is formed, the following B. A hard nickel electrolytic plating bath having the composition of The electroplating is performed under the electrolysis conditions to form a hard nickel plating layer. The following C.I. It is preferable to employ a method for producing a composite foil characterized in that the electroplating is performed under the above electrolysis conditions to form a cobalt plating layer. Moreover, it is also preferable that the cobalt sulfate electroplating bath contains a flocculant at a concentration of 0.05 g / l to 0.3 g / l.

[A.組成、電解条件]
FeSO・7HO 100g/l〜200g/l
BO 20g/l〜50g/l
液 温 20℃〜50℃
pH 2〜5
電流密度 1A/dm〜30A/dm
攪 拌 あり
[B.組成、電解条件]
NiSO・6HO 100g/l〜180g/l
NHCl濃度 20g/l〜30g/l
BO濃度 20g/l〜60g/l
液 温 20℃〜50℃
pH 4〜5
電流密度 1A/dm〜50A/dm
攪 拌 あり
[C.組成、電解条件]
CoSO・7HO 120g/l〜200g/l
BO 25g/l〜50g/l
液 温 20℃〜50℃
pH 2〜5
電流密度 1A/dm〜50A/dm
攪 拌 あり
[A. Composition, electrolysis conditions]
FeSO 4 · 7H 2 O 100 g / l to 200 g / l
H 3 BO 3 20 g / l to 50 g / l
Liquid temperature 20 ℃ ~ 50 ℃
pH 2-5
Current density 1 A / dm 2 to 30 A / dm 2
Stirring [B. Composition, electrolysis conditions]
NiSO 4 · 6H 2 O 100g / l~180g / l
NH 4 Cl concentration 20 g / l to 30 g / l
H 3 BO 3 concentration 20 g / l to 60 g / l
Liquid temperature 20 ℃ ~ 50 ℃
pH 4-5
Current density 1 A / dm 2 to 50 A / dm 2
With stirring [C. Composition, electrolysis conditions]
CoSO 4 · 7H 2 O 120 g / l to 200 g / l
H 3 BO 3 25 g / l to 50 g / l
Liquid temperature 20 ℃ ~ 50 ℃
pH 2-5
Current density 1 A / dm 2 to 50 A / dm 2
There is stirring

<内蔵キャパシタ回路を備えるプリント配線板>
本件発明に係るいずれかのキャパシタ層形成材を用いて、種々の方法を用いて内蔵キャパシタ回路を備えるプリント配線板を製造することができる。このようにして得られたプリント配線板に内蔵されたキャパシタ回路は、例え300℃〜400℃の範囲の熱間プレス加工を繰り返し受けても、下部電極を構成する第2導電層に高温耐熱特性に優れた上記複合箔を備えているため、下部電極形状に異常は発生せず、周囲の素材の熱による膨張伸縮の挙動に対する抵抗性を持っている。従って、フッ素樹脂基板、液晶ポリマー基板を使用した多層プリント配線板の内蔵キャパシタ回路形成に好適なものとなる。
<Printed wiring board with built-in capacitor circuit>
Using any one of the capacitor layer forming materials according to the present invention, a printed wiring board having a built-in capacitor circuit can be manufactured using various methods. The capacitor circuit built in the printed wiring board thus obtained has a high temperature and heat resistant property in the second conductive layer constituting the lower electrode even if it is repeatedly subjected to hot pressing in the range of 300 ° C. to 400 ° C. Since the above composite foil is excellent, the lower electrode has no abnormality, and has resistance to the expansion and contraction behavior of the surrounding material due to heat. Therefore, it is suitable for forming a built-in capacitor circuit of a multilayer printed wiring board using a fluororesin substrate or a liquid crystal polymer substrate.

本件発明に係るキャパシタ層形成材は、下部電極を構成する第2導電層に高温耐熱特性に優れた上記複合箔を備えているため、フッ素樹脂基板、液晶ポリマー基板を使用した多層プリント配線板の製造に用いられる300℃〜400℃の範囲の熱間プレス加工を繰り返し受けても、キャパシタ回路形状を形成して以降も下部電極形状に異常は発生せず、周囲の素材の熱による膨張伸縮の挙動に対する抵抗性を持っている。しかも、当該複合箔の異種金属層の種類、層構成の組み合わせを誘電層の種類に合わせて、適宜選択出来るものとなるため、誘電層と下部電極との密着性を良好に維持することが可能となる。その結果、本件発明に係るキャパシタ層形成材を用いて得られた内蔵キャパシタ回路を備えたプリント配線板も高品質のものとなる。また、本件発明に係るキャパシタ層形成材の製造に用いる複合箔の製造方法で、異種金属層に一定のメッキ条件を採用することで、耐熱特性に優れた異種金属層を銅箔表面に設けることができる。この複合箔を用い、定法に基づいて、本件発明に係るキャパシタ層形成材の製造が出来るのである。   Since the capacitor layer forming material according to the present invention includes the composite foil having excellent high-temperature heat resistance in the second conductive layer constituting the lower electrode, the multilayer printed wiring board using the fluororesin substrate and the liquid crystal polymer substrate is used. Even if hot pressing in the range of 300 ° C. to 400 ° C. used for manufacturing is repeated, no abnormality occurs in the shape of the lower electrode even after the capacitor circuit shape is formed, and expansion and contraction due to the heat of surrounding materials Has resistance to behavior. In addition, since the combination of different metal layers and layer configurations of the composite foil can be appropriately selected according to the type of dielectric layer, it is possible to maintain good adhesion between the dielectric layer and the lower electrode. It becomes. As a result, the printed wiring board provided with the built-in capacitor circuit obtained by using the capacitor layer forming material according to the present invention is of high quality. Also, in the method for manufacturing a composite foil used for manufacturing a capacitor layer forming material according to the present invention, a dissimilar metal layer having excellent heat resistance is provided on the surface of the copper foil by adopting constant plating conditions for the dissimilar metal layer. Can do. Using this composite foil, the capacitor layer forming material according to the present invention can be manufactured based on a conventional method.

以下、本件発明に係る各複合箔の製造形態に関して述べ、本件発明に係るキャパシタ層形成材の製造形態に関して述べ、実施例で内蔵キャパシタ回路を備えたプリント配線板までの製造に関して言及する。   Hereinafter, the manufacturing mode of each composite foil according to the present invention will be described, the manufacturing mode of the capacitor layer forming material according to the present invention will be described, and the manufacturing up to the printed wiring board provided with the built-in capacitor circuit will be referred to in the examples.

<複合箔の製造形態>
第1複合箔(1): 第1複合箔の内、銅層表面に異種金属層として硬質ニッケルメッキ層を備えるものの製造は、銅箔を用いて、上述の組成の硬質ニッケル電解メッキ浴を採用することが好ましい。最も高温加熱後の抗軟化特性に優れた硬質ニッケルメッキ層が得られるからである。本件発明で用いた硬質ニッケル電解メッキ浴は、ワット浴に近い組成を採用しているが、一般的なワット浴よりも単純な組成で、且つ、安定的な電解の可能なメッキ液組成を採用している。中でも、特徴的なのは、浴を構成するのにニッケル塩とアンモニウム塩とを併存させた点にある。
<Production form of composite foil>
First composite foil (1): Among the first composite foils, the one having a hard nickel plating layer as a dissimilar metal layer on the surface of the copper layer employs a hard nickel electrolytic plating bath having the above-described composition using a copper foil. It is preferable to do. This is because a hard nickel plating layer having excellent anti-softening properties after heating at the highest temperature can be obtained. The hard nickel electrolytic plating bath used in the present invention has a composition close to that of a watt bath, but a simpler composition than a general watt bath and a plating solution composition capable of stable electrolysis. is doing. Among them, the characteristic is that a nickel salt and an ammonium salt coexist in the bath.

ここでNiSO・6HOの濃度は、100g/l〜180g/lとすることが望ましい。NiSO・6HOの濃度が100g/l未満となると、メッキ液中のニッケル濃度が希薄になり、工業的生産性を満足しないばかりか、メッキ表面の平滑性に劣るものとなるのである。そして、NiSO・6HOの濃度が180g/lを超えても、硬質ニッケルの析出速度に大きな変化はなく、むしろ廃液処理の負荷が増大するのである。 Here, the concentration of NiSO 4 .6H 2 O is desirably 100 g / l to 180 g / l. When the concentration of NiSO 4 .6H 2 O is less than 100 g / l, the nickel concentration in the plating solution becomes dilute, and not only industrial productivity is not satisfied, but also the smoothness of the plating surface is inferior. And even if the concentration of NiSO 4 .6H 2 O exceeds 180 g / l, the precipitation rate of hard nickel does not change greatly, but rather the load of waste liquid treatment increases.

BOは緩衝剤としての役割を果たすものである。HBOの濃度は、20g/l〜60g/lの範囲とする事が望ましいのである。このHBO濃度は、上述のNiSO・6HOの濃度との関係で決められるものであり、この範囲をはずれると硬質ニッケルメッキ層自体の強度が不足することとなる。 H 3 BO 3 plays a role as a buffer. The concentration of H 3 BO 3 is desirably in the range of 20 g / l to 60 g / l. This H 3 BO 3 concentration is determined by the relationship with the concentration of NiSO 4 .6H 2 O described above, and if it is outside this range, the strength of the hard nickel plating layer itself will be insufficient.

液温は20℃〜50℃と広い範囲を採用する事が可能である。通常の酢酸ニッケル浴やスルファミン酸浴の如き液温による引張り強さに与える影響が少ないからである。そして、上述の組成の溶液とするとpHは3〜5を採用することが、最も良好な引張り強さの安定したメッキ被膜を得ることが出来るのである。更に、メッキを行う際の電流密度は、1A/dm〜50A/dmの広い範囲を採用する事が可能である。酢酸ニッケル浴の如き電流密度による引張り強さに与える影響が少ないからである。特に、硬質ニッケルメッキ層自体の引張り強さを高くすることを考えると、4A/dm以下の電流密度、若しくは10A/dm以上の範囲を採用する事が望ましい。そして、4A/dm〜10A/dmの範囲は、硬質ニッケルメッキ層として最も低い引張り強さとなる傾向にあるが、この電流密度範囲での引張り強さに大きな変動はなく一定レベルの値となる傾向にある。従って、製品の品質安定性を確保することを重視する場合には、4A/dm〜10A/dmの範囲を採用することが好ましいのである。以上に述べてきた内容は、メッキ液に攪拌を加える攪拌浴であることを前提としている。本件発明に言う攪拌とは、電着する際の被メッキ表面近傍でのイオン欠乏層を無くする程度の攪拌が求められるのであり、例えばメッキ槽内にスターラーを配置して攪拌を行う場合、メッキ液循環により作り出される流動攪拌状態を含む概念として記載している。 The liquid temperature can employ a wide range of 20 ° C to 50 ° C. This is because there is little influence on the tensile strength due to the liquid temperature as in a normal nickel acetate bath or sulfamic acid bath. And when it is set as the solution of the above-mentioned composition, pH 3-5 can obtain the plating film with the best tensile strength and stable. Furthermore, the current density at the time of plating can employ a wide range of 1 A / dm 2 to 50 A / dm 2 . This is because there is little influence on the tensile strength due to the current density as in the nickel acetate bath. In particular, considering that the tensile strength of the hard nickel plating layer itself is increased, it is desirable to adopt a current density of 4 A / dm 2 or less, or a range of 10 A / dm 2 or more. Then, 4A / dm 2 ~10A / dm 2 of the range tend to be lowest tensile strength as hard nickel plating layer, and the value of the predetermined levels without significant changes in tensile strength at the current density range Tend to be. Accordingly, when importance is attached to ensuring the quality stability of the product, it is the preferred to employ a range of 4A / dm 2 ~10A / dm 2 . The content described above is based on the premise that the stirring bath is used to stir the plating solution. Stirring as referred to in the present invention is required to stir enough to eliminate the ion-deficient layer in the vicinity of the surface to be plated during electrodeposition. For example, when stirring is performed by placing a stirrer in the plating tank, plating is performed. It is described as a concept including a fluid stirring state created by liquid circulation.

第1複合箔(2): 第1複合箔の内、銅層表面に異種金属層としてコバルトメッキ層を備えるものの製造は、銅箔の表面にコバルトメッキ層を形成することが出来るものであれば、種々の方法を採用することが出来る。例えば、a)硫酸コバルトを用いコバルト濃度が5〜30g/l、クエン酸三ナトリウム50〜500g/l、液温20〜50℃、pH2〜4、電流密度0.3〜10A/dmの条件、b)硫酸コバルトを用いコバルト濃度が5〜30g/l、ピロリン酸カリウム50〜500g/l、液温20〜50℃、pH8〜11、電流密度0.3〜10A/dmの条件、c)硫酸コバルトを用いコバルト濃度が10〜70g/l、ホウ酸20〜60g/l、液温20〜50℃、pH2〜4、電流密度1〜50A/dmの条件とする等である。 First composite foil (2): Among the first composite foils, those having a cobalt plating layer as a dissimilar metal layer on the copper layer surface can be produced as long as the cobalt plating layer can be formed on the copper foil surface. Various methods can be employed. For example, a) Using cobalt sulfate, the cobalt concentration is 5-30 g / l, trisodium citrate 50-500 g / l, liquid temperature 20-50 ° C., pH 2-4, current density 0.3-10 A / dm 2 B) Using cobalt sulfate, the cobalt concentration is 5-30 g / l, potassium pyrophosphate 50-500 g / l, liquid temperature 20-50 ° C., pH 8-11, current density 0.3-10 A / dm 2 , c ) Using cobalt sulfate, the cobalt concentration is 10 to 70 g / l, boric acid 20 to 60 g / l, liquid temperature 20 to 50 ° C., pH 2 to 4 and current density 1 to 50 A / dm 2 .

しかしながら、本件発明では、上記組成の硫酸コバルト電解メッキ浴を採用することが最も好ましいのである。高温加熱後の抗軟化特性に最も優れたコバルトメッキ層が得られるからである。本件発明では、第1複合箔の製造に用いた硬質ニッケルメッキ層の形成に用いた硫酸ニッケル浴の硫酸ニッケルを硫酸コバルトに置き換え、そこに凝集剤を加えた硫酸コバルト電解メッキ浴を採用している。   However, in the present invention, it is most preferable to employ a cobalt sulfate electrolytic plating bath having the above composition. This is because the cobalt plating layer having the best anti-softening property after high-temperature heating can be obtained. The present invention employs a cobalt sulfate electrolytic plating bath in which nickel sulfate in the nickel sulfate bath used to form the hard nickel plating layer used in the production of the first composite foil is replaced with cobalt sulfate and a flocculant is added thereto. Yes.

ここでCoSO・7HOの濃度は、120g/l〜200g/lとすることが望ましい。CoSO・7HOの濃度が120g/l未満となると、メッキ液中のコバルト濃度が希薄になり、工業的生産性を満足しないばかりか、メッキ表面の平滑性に劣るものとなるのである。そして、CoSO・7HOの濃度が200g/lを超えても、コバルトの析出速度に大きな変化はなく、むしろ廃液処理の負荷が増大するのである。 Here, the concentration of CoSO 4 .7H 2 O is desirably 120 g / l to 200 g / l. When the concentration of CoSO 4 · 7H 2 O is less than 120 g / l, the cobalt concentration in the plating solution becomes dilute, and not only industrial productivity is not satisfied, but the smoothness of the plating surface is deteriorated. And even if the concentration of CoSO 4 · 7H 2 O exceeds 200 g / l, there is no significant change in the deposition rate of cobalt, but rather the load of waste liquid treatment increases.

ここでも、第1複合箔と同様に、HBOは緩衝剤としての役割を果たすものである。HBOの濃度は、25g/l〜50g/lの範囲とする事が望ましいのである。このHBO濃度は、上述のCoSO・7HOの濃度との関係で決められるものであり、この範囲をはずれるとコバルト層自体の強度が不足することとなる。 Again, like the first composite foil, H 3 BO 3 serves as a buffer. The concentration of H 3 BO 3 is preferably in the range of 25 g / l to 50 g / l. This H 3 BO 3 concentration is determined by the relationship with the above-mentioned concentration of CoSO 4 .7H 2 O, and if it is outside this range, the strength of the cobalt layer itself will be insufficient.

液温は20℃〜50℃の範囲を採用する事が可能である。コバルトメッキ層の場合、液温が低いほど、引張り強さが高くなる傾向にある。しかしながら、液温が20℃未満となるとコバルトの析出速度が低くなり、工業的な生産性を満足しない。一方、液温が50℃付近で引張り強さが飽和した定常値となる傾向があるのである。そして、上述の組成の溶液とするとpHは2〜5を採用することが、最も良好で安定した引張り強さを持つメッキ被膜を得ることが出来るのである。更に、メッキを行う際の電流密度は、1A/dm〜50A/dm の広い範囲を採用する事が可能である。電流密度による引張り強さに与える影響が少ないからである。特に、コバルトメッキ層自体の引張り強さを高くすることを考えると、2A/dm以下の電流密度、若しくは8A/dm 以上 の範囲を採用する事が望ましい。そして、2A/dm〜8A/dmの範囲は、最も低い引張り強さとなる傾向にあるが、この電流密度範囲での引張り強さに大きな変動はなく一定レベルの値となる傾向にある。従って、製品の品質安定性を確保することを重視する場合には、2A/dm〜8A/dmの範囲を採用することが好ましいのである。以上に述べてきた内容は、メッキ液に攪拌を加える攪拌浴であることを前提としている。 The liquid temperature can be in the range of 20 ° C to 50 ° C. In the case of a cobalt plating layer, the tensile strength tends to increase as the liquid temperature decreases. However, when the liquid temperature is less than 20 ° C., the deposition rate of cobalt is lowered, and industrial productivity is not satisfied. On the other hand, when the liquid temperature is around 50 ° C., the tensile strength tends to become a steady value. And when it is set as the solution of the above-mentioned composition, it is possible to obtain a plating film having the best and stable tensile strength by adopting a pH of 2-5. Furthermore, the current density at the time of plating can employ a wide range of 1 A / dm 2 to 50 A / dm 2 . This is because the influence of the current density on the tensile strength is small. In particular, considering that the tensile strength of the cobalt plating layer itself is increased, it is desirable to adopt a current density of 2 A / dm 2 or less, or a range of 8 A / dm 2 or more. The range of 2 A / dm 2 to 8 A / dm 2 tends to be the lowest tensile strength, but the tensile strength in this current density range does not vary greatly and tends to be a constant level value. Therefore, when importance is attached to ensuring the quality stability of the product, it is preferable to adopt a range of 2 A / dm 2 to 8 A / dm 2 . The content described above is based on the premise that the stirring bath is used to stir the plating solution.

以上に述べたコバルトメッキ液には凝集剤を添加して用いることも好ましい。ここで言う凝集剤とは、凝集剤として市販されているものを使用することは可能であるが、特にアクリルアミド系ポリマーを主剤として含むものを用いることが好ましいのである。そして、この凝集剤は、コバルトの析出速度を制御し、メッキ被膜の膜厚均一性を向上させるために用いるのであり、メッキ浴中で0.05g/l〜0.3g/lとなるように添加するのである。凝集剤が0.05g/l未満の場合には、コバルトメッキ被膜の膜厚均一性の向上には寄与し得ず、凝集剤が0.3g/lを超えて増量しても、むしろコバルトメッキ被膜の膜厚均一性が劣化し出すのである。   It is also preferable to add a flocculant to the cobalt plating solution described above. As the flocculant here, it is possible to use a commercially available flocculant, but it is particularly preferable to use a flocculant containing an acrylamide polymer as a main agent. And this aggregating agent is used to control the deposition rate of cobalt and improve the film thickness uniformity of the plating film so that it becomes 0.05 g / l to 0.3 g / l in the plating bath. It is added. When the flocculant is less than 0.05 g / l, it cannot contribute to the improvement of the film thickness uniformity of the cobalt plating film. The film thickness uniformity starts to deteriorate.

第1複合箔(3): 第1複合箔の内、銅層表面に異種金属層としてニッケル−コバルトメッキ層を備えるものの製造は、銅箔の表面にニッケル−コバルトメッキ層を形成することが出来るものであれば、種々のメッキ条件を採用することが出来る。例えば、硫酸コバルト80〜180g/l、硫酸ニッケル80〜120g/l、ホウ酸20〜40g/l、塩化カリウム10〜15g/l、リン酸2水素ナトリウム0.1〜15g/l、液温30〜50℃、pH3.5〜4.5、電流密度1〜10A/dmの条件等である。 First composite foil (3): Among the first composite foils, the manufacture of the one having a nickel-cobalt plating layer as a dissimilar metal layer on the surface of the copper layer can form a nickel-cobalt plating layer on the surface of the copper foil. If it is a thing, various plating conditions can be employ | adopted. For example, cobalt sulfate 80-180 g / l, nickel sulfate 80-120 g / l, boric acid 20-40 g / l, potassium chloride 10-15 g / l, sodium dihydrogen phosphate 0.1-15 g / l, liquid temperature 30 The conditions are ˜50 ° C., pH 3.5˜4.5, and current density 1˜10 A / dm 2 .

しかしながら、本件発明では、上記の蟻酸ナトリウムを含むニッケル−コバルト合金電解メッキ浴を採用することが、複合箔の良好な抗軟化性能を得るためには好ましいのである。高温加熱後の抗軟化特性に最も優れたニッケル−コバルト合金メッキ層が得られるからである。本件発明で用いたニッケル−コバルト合金電解メッキ浴は、ニッケルメッキを行う際のワット浴組成に硫酸コバルトを添加した如き組成を採用している。従って、極めて単純で、且つ、安定的な電解の可能なメッキ液組成を採用している。   However, in the present invention, it is preferable to employ the nickel-cobalt alloy electroplating bath containing sodium formate in order to obtain a good anti-softening performance of the composite foil. This is because a nickel-cobalt alloy plating layer having the best anti-softening property after high-temperature heating can be obtained. The nickel-cobalt alloy electroplating bath used in the present invention employs a composition in which cobalt sulfate is added to the Watt bath composition during nickel plating. Therefore, a plating solution composition that is extremely simple and enables stable electrolysis is employed.

ここでは、ニッケル−コバルト合金電解メッキ浴中のNiSO・6HO濃度を100g/l〜200g/l、NiCl・6HO濃度を30g/l〜50g/l、CoSO・7HO濃度を10g/l〜30g/lの範囲とすることが望ましい。この組成バランスの範囲で、高温加熱後の抗軟化特性に最も優れたニッケル−コバルト合金メッキ層が得られるのである。従って、それぞれの成分の範囲をはずれると、高温加熱後の抗軟化特性に優れたニッケル−コバルト合金メッキ層が得られなくなるのである。 Here, the NiSO 4 · 6H 2 O concentration in the nickel-cobalt alloy electrolytic plating bath is 100 g / l to 200 g / l, the NiCl 2 · 6H 2 O concentration is 30 g / l to 50 g / l, and CoSO 4 · 7H 2 O. The concentration is desirably in the range of 10 g / l to 30 g / l. In this composition balance range, the nickel-cobalt alloy plating layer having the best anti-softening property after high-temperature heating can be obtained. Therefore, if the range of each component is deviated, a nickel-cobalt alloy plating layer having excellent anti-softening properties after high-temperature heating cannot be obtained.

また、ここでもHBOは緩衝剤としての役割を果たすものであり、HBOの濃度は、20g/l〜40g/lの範囲とする事が望ましいのである。このHBO濃度は、上述のNiSO・6HO、NiCl・6HO濃度、CoSO・7HO濃度の各濃度との関係で決められるものであり、この範囲をはずれるとニッケル−コバルト合金メッキ層自体の強度が不足し、メッキ層の膜厚均一性も損なわれるのである。 Again, H 3 BO 3 plays a role as a buffering agent, and the concentration of H 3 BO 3 is preferably in the range of 20 g / l to 40 g / l. This H 3 BO 3 concentration is determined in relation to the above-mentioned concentrations of NiSO 4 · 6H 2 O, NiCl 2 · 6H 2 O concentration, and CoSO 4 · 7H 2 O concentration. The strength of the nickel-cobalt alloy plating layer itself is insufficient, and the film thickness uniformity of the plating layer is also impaired.

液温は20℃〜50℃の範囲を採用する事が可能である。ニッケル−コバルト合金メッキ層の場合にも、液温が低いほど、引張り強さが高くなる傾向にある。しかしながら、液温が20℃未満となるとニッケル−コバルト合金の析出速度が低くなり、工業的な生産性を満足しない。一方、液温が50℃付近で引張り強さが飽和した定常値となる傾向がある。そして、上述の組成の溶液とするとpHは2〜5を採用することが、最も良好で安定した引張り強さを持つメッキ被膜を得ることが出来るのである。更に、メッキを行う際の電流密度は、1A/dm〜25A/dmの広い範囲を採用する事が可能である。ニッケル−コバルト合金メッキ層のニッケルとコバルトとの含有量にバラツキが少なく、引張り強さのバラツキも最小限となるからである。また、ニッケル−コバルト合金メッキ層自体の引張り強さを高くすることを考えると、10A/dm以下の電流密度を採用する事が望ましい。以上に述べてきた内容は、メッキ液に攪拌を加える攪拌浴であることを前提としている。 The liquid temperature can be in the range of 20 ° C to 50 ° C. Also in the case of a nickel-cobalt alloy plating layer, the tensile strength tends to increase as the liquid temperature decreases. However, when the liquid temperature is less than 20 ° C., the deposition rate of the nickel-cobalt alloy is lowered, and industrial productivity is not satisfied. On the other hand, when the liquid temperature is around 50 ° C., the tensile strength tends to become a steady value. And when it is set as the solution of the above-mentioned composition, it is possible to obtain a plating film having the best and stable tensile strength by adopting a pH of 2-5. Furthermore, the current density at the time of plating can employ a wide range of 1 A / dm 2 to 25 A / dm 2 . This is because there is little variation in the content of nickel and cobalt in the nickel-cobalt alloy plating layer, and variation in tensile strength is also minimized. In view of increasing the tensile strength of the nickel-cobalt alloy plating layer itself, it is desirable to employ a current density of 10 A / dm 2 or less. The content described above is based on the premise that the stirring bath is used to stir the plating solution.

そして、本件発明においてニッケル−コバルト合金メッキ層の形成に用いる溶液には、蟻酸ナトリウム(HCOONa)を用いる事も好ましいのである。この蟻酸ナトリウムは、6価のクロムイオンを3価のクロムイオンとして建浴し、クロムメッキ層を非晶質層として析出させ、高い硬度を得る際に用いられることで知られている。従って、本件発明のようにニッケル−コバルト合金メッキ層を形成する際に用いると、メッキ液中に溶存した金属イオンの還元剤として寄与し、ニッケル成分とコバルト成分との析出効率の差を縮め、双方の成分の偏在のない均一に分散した合金メッキ層が得られるのである。蟻酸ナトリウムは、25g/l〜50g/lの濃度範囲で用いることが好ましい。蟻酸ナトリウムの濃度が25g/l未満の場合には、合金メッキ層中でのニッケル成分とコバルト成分との均一な混合状態が得られず、50g/l濃度を超える量を添加しても、それ以上に良好なニッケル−コバルト合金メッキ層は得られないのである。   And it is also preferable to use sodium formate (HCOONa) for the solution used for forming the nickel-cobalt alloy plating layer in the present invention. This sodium formate is known to be used for obtaining a high hardness by depositing hexavalent chromium ions as trivalent chromium ions and precipitating the chromium plating layer as an amorphous layer. Therefore, when used when forming a nickel-cobalt alloy plating layer as in the present invention, it contributes as a reducing agent for metal ions dissolved in the plating solution, reducing the difference in the precipitation efficiency between the nickel component and the cobalt component, A uniformly dispersed alloy plating layer without uneven distribution of both components can be obtained. Sodium formate is preferably used in a concentration range of 25 g / l to 50 g / l. When the concentration of sodium formate is less than 25 g / l, a uniform mixed state of nickel component and cobalt component in the alloy plating layer cannot be obtained, and even if an amount exceeding 50 g / l concentration is added, A good nickel-cobalt alloy plating layer cannot be obtained.

第2複合箔(1): 第2複合箔の内、銅層表面に異種金属層としてのコバルトメッキ層/硬質ニッケルメッキ層を備えるものの製造は、銅箔を、上記A.の組成の硫酸コバルト電解メッキ浴に浸漬し、上記A.の電解条件で電解メッキを行い、コバルトメッキ層を形成した後、上記B.の組成の硬質ニッケル電解メッキ浴に浸漬し、上記B.の電解条件で電解メッキを行い、硬質ニッケルメッキ層を形成するのである。 Second composite foil (1): Among the second composite foils, the one having a cobalt plating layer / hard nickel plating layer as a dissimilar metal layer on the surface of the copper layer is manufactured by using the copper foil as described in A. above. Soaked in a cobalt sulfate electroplating bath having the composition: After the electrolytic plating is performed under the electrolysis conditions of and a cobalt plating layer is formed, the above B. A hard nickel electrolytic plating bath having the composition of Electrolytic plating is performed under the electrolytic conditions to form a hard nickel plating layer.

このときの硫酸コバルト電解メッキ液に関する内容は、上述の第1複合箔(2)の硫酸コバルト電解メッキ液と同様である。そして、硬質ニッケル電解メッキ液に関する内容は、上述の第1複合箔(1)の硬質ニッケル電解メッキ液と同様である。従って、重複した記載を避けるため、ここでの説明は省略する。   The contents relating to the cobalt sulfate electrolytic plating solution at this time are the same as the cobalt sulfate electrolytic plating solution of the first composite foil (2). And the content regarding a hard nickel electroplating liquid is the same as that of the hard nickel electroplating liquid of the above-mentioned 1st composite foil (1). Therefore, the description here is omitted to avoid redundant description.

第2複合箔(2): 第2複合箔の内、銅層表面に異種金属層としての鉄メッキ層/硬質ニッケルメッキ層を備えるものの製造は、銅箔を、上記A.の組成の硫酸鉄電解メッキ浴に浸漬し、上記A.の電解条件で電解メッキを行い、鉄メッキ層を形成した後、上記B.の組成の硬質ニッケル電解メッキ浴に浸漬し、上記B.の電解条件で電解メッキを行い、硬質ニッケルメッキ層を形成するのである。 Second composite foil (2): Among the second composite foils, the copper layer surface provided with an iron plating layer / hard nickel plating layer as a dissimilar metal layer is manufactured by using the copper foil as described in A. above. Soaking in an iron sulfate electroplating bath having the composition: After the electrolytic plating is performed under the electrolysis conditions and an iron plating layer is formed, B. A hard nickel electrolytic plating bath having the composition of Electrolytic plating is performed under the electrolytic conditions to form a hard nickel plating layer.

このときの硬質ニッケル電解メッキ液に関する内容は、上述の第1複合箔(1)の硬質ニッケル電解メッキ液と同様である。従って、重複した記載を避けるため、ここでの説明は省略する。従って、以下では、鉄メッキ液に関してのみ説明する。   The contents relating to the hard nickel electrolytic plating solution at this time are the same as the hard nickel electrolytic plating solution of the first composite foil (1). Therefore, the description here is omitted to avoid redundant description. Accordingly, only the iron plating solution will be described below.

ここでFeSO・7HOの濃度は、100g/l〜200g/lとすることが望ましい。FeSO・7HOの濃度が100g/l未満となると、メッキ液中の鉄濃度が希薄になり、メッキ表面の平滑性に劣るものとなる。そして、FeSO・7HOの濃度が200g/lを超えても、鉄の析出速度に大きな変化はなく、むしろ廃液処理の負荷が増大するのである。 Here, the concentration of FeSO 4 .7H 2 O is desirably 100 g / l to 200 g / l. When the concentration of FeSO 4 · 7H 2 O is less than 100 g / l, the iron concentration in the plating solution becomes dilute and the smoothness of the plating surface becomes poor. Even beyond the concentration of 200 g / l of FeSO 4 · 7H 2 O, major changes in the deposition rate of the iron is not is rather the load of the waste processing is increased.

ここでも、第1複合箔と同様に、HBOを緩衝剤として用いている。HBOの濃度は、20g/l〜50g/lの範囲とする事が望ましいのである。このHBO濃度は、上述のFeSO・7HOの濃度との関係で決められるものであり、この範囲をはずれると脆い鉄メッキ層となる傾向にある。 Here too, as with the first composite foil, H 3 BO 3 is used as a buffering agent. The concentration of H 3 BO 3 is desirably in the range of 20 g / l to 50 g / l. This H 3 BO 3 concentration is determined by the relationship with the above-mentioned concentration of FeSO 4 .7H 2 O, and if it is outside this range, it tends to be a brittle iron plating layer.

液温は20℃〜50℃の範囲を採用する事が可能である。液温が20℃未満となると鉄の析出速度が低くなり、工業的な生産性を満足しない。一方、液温が50℃を超えると溶液寿命が短くなり、管理コストが上昇するのである。そして、上述の組成の溶液とするとpHは2〜5を採用することが、最も良好で安定した引張り強さを持つメッキ被膜を得ることが出来るのである。更に、メッキを行う際の電流密度は、1A/dm〜30A/dm の範囲を採用する事が可能である。電流密度による引張り強さに与える影響が少ないからである。特に、鉄メッキ層自体の靱性及び引張り強さを共に高くすることを考えると、2A/dm以下の電流密度、若しくは8A/dm 以上の範囲を採用する事が望ましい。そして、2A/dm〜8A/dmの範囲は、最も低い引張り強さとなる傾向にあるが、この電流密度範囲での引張り強さに大きな変動はなく一定レベルの値となる傾向にある。従って、製品の品質安定性を確保することを重視する場合には、2A/dm〜8A/dmの範囲を採用することが好ましいのである。以上に述べてきた内容は、メッキ液に攪拌を加える攪拌浴であることを前提としている。 The liquid temperature can be in the range of 20 ° C to 50 ° C. When the liquid temperature is less than 20 ° C., the deposition rate of iron is lowered, and industrial productivity is not satisfied. On the other hand, when the liquid temperature exceeds 50 ° C., the solution life is shortened and the management cost is increased. And when it is set as the solution of the above-mentioned composition, it is possible to obtain a plating film having the best and stable tensile strength by adopting a pH of 2-5. Furthermore, the current density at the time of plating can employ a range of 1 A / dm 2 to 30 A / dm 2 . This is because the influence of the current density on the tensile strength is small. In particular, considering that both the toughness and tensile strength of the iron plating layer itself are increased, it is desirable to adopt a current density of 2 A / dm 2 or less, or a range of 8 A / dm 2 or more. The range of 2 A / dm 2 to 8 A / dm 2 tends to be the lowest tensile strength, but the tensile strength in this current density range does not vary greatly and tends to be a constant level value. Therefore, when importance is attached to ensuring the quality stability of the product, it is preferable to adopt a range of 2 A / dm 2 to 8 A / dm 2 . The content described above is based on the premise that the stirring bath is used to stir the plating solution.

以上に述べた鉄メッキ液にも、凝集剤を添加して用いることが好ましい。ここで言う凝集剤とは、凝集剤として市販されているものを使用することは可能であるが、特にアクリルアミド系ポリマーを主剤として含むものを用いることが好ましいのである。そして、この凝集剤は、鉄の析出速度を制御し、メッキ被膜の膜厚均一性を向上させるために用いるのであり、メッキ浴中で0.05g/l〜0.3g/lとなるように添加するのである。凝集剤が0.05g/l未満の場合には、鉄メッキ被膜の膜厚均一性の向上には寄与し得ず、凝集剤が0.3g/lを超えて増量しても、むしろコバルトメッキ被膜又は鉄メッキ被膜の膜厚均一性が劣化し出すのである。   It is preferable to add an aggregating agent to the iron plating solution described above. As the flocculant here, it is possible to use a commercially available flocculant, but it is particularly preferable to use a flocculant containing an acrylamide polymer as a main agent. And this aggregating agent is used to control the deposition rate of iron and improve the film thickness uniformity of the plating film, so that it becomes 0.05 g / l to 0.3 g / l in the plating bath. It is added. When the flocculant is less than 0.05 g / l, it cannot contribute to the improvement of the film thickness uniformity of the iron plating film. The film thickness uniformity of the coating or iron plating coating begins to deteriorate.

第3複合箔(1): 第3複合箔の内、銅層表面に異種金属層としての第1コバルトメッキ層/硬質ニッケルメッキ層/第2コバルトメッキ層を備えるものの製造は、銅箔を、上記A.の組成の硫酸コバルト電解メッキ浴に浸漬し、上記A.の電解条件で電解メッキを行い、第1コバルトメッキ層を形成した後、上記B.の組成の硬質ニッケル電解メッキ浴に浸漬し、上記B.の電解条件で電解メッキを行い硬質ニッケルメッキ層を形成し、更に上記A.の組成の硫酸コバルト電解メッキ浴に浸漬し、上記A.の電解条件で電解メッキを行い、第2コバルトメッキ層を形成する Third composite foil (1): Among the third composite foils, the copper layer surface is provided with a first cobalt plating layer / hard nickel plating layer / second cobalt plating layer as a dissimilar metal layer. A. above. Soaked in a cobalt sulfate electroplating bath having the composition: After the electrolytic plating is performed under the electrolytic conditions of (1) to form the first cobalt plating layer, the above B. A hard nickel electrolytic plating bath having the composition of Electrolytic plating is carried out under the electrolysis conditions to form a hard nickel plating layer. Soaked in a cobalt sulfate electroplating bath having the composition: The second cobalt plating layer is formed by electrolytic plating under the electrolytic conditions of

このときの硫酸コバルト電解メッキ液に関する内容は、上述の第1複合箔(2)の硫酸コバルト電解メッキ液と同様である。そして、硬質ニッケル電解メッキ液に関する内容は、上述の第1複合箔(1)の硬質ニッケル電解メッキ液と同様である。従って、重複した記載を避けるため、ここでの説明は省略する。   The contents relating to the cobalt sulfate electrolytic plating solution at this time are the same as the cobalt sulfate electrolytic plating solution of the first composite foil (2). And the content regarding a hard nickel electroplating liquid is the same as that of the hard nickel electroplating liquid of the above-mentioned 1st composite foil (1). Therefore, the description here is omitted to avoid redundant description.

第3複合箔(2): 第3複合箔の内、銅層表面に異種金属層としての鉄メッキ層/硬質ニッケルメッキ層/コバルトメッキ層を備えるものの製造は、銅箔を、上記A.の組成の硫酸鉄電解メッキ浴に浸漬し、上記A.の電解条件で電解メッキを行い、鉄メッキ層を形成した後、上記B.の組成の硬質ニッケル電解メッキ浴に浸漬し、上記B.の電解条件で電解メッキを行い硬質ニッケルメッキ層を形成し、更に上記C.の組成の硫酸コバルト電解メッキ浴に浸漬し、上記C.の電解条件で電解メッキを行い、コバルトメッキ層を形成する Third composite foil (2): Among the third composite foils, the production of the copper composite layer having an iron plating layer / hard nickel plating layer / cobalt plating layer as a different metal layer on the surface of the copper layer is carried out using Soaking in an iron sulfate electroplating bath having the composition: After the electrolytic plating is performed under the electrolysis conditions and an iron plating layer is formed, B. A hard nickel electrolytic plating bath having the composition of Electrolytic plating is performed under the electrolytic conditions to form a hard nickel plating layer. Soaked in a cobalt sulfate electroplating bath having the composition: Electrolytic plating is performed under the electrolysis conditions to form a cobalt plating layer

このときの硫酸鉄電解メッキ液に関する内容は、上述の第2複合箔(2)の硫酸鉄電解メッキ液と同様である。そして、硬質ニッケル電解メッキ液に関する内容は、上述の第1複合箔(1)の硬質ニッケル電解メッキ液と同様である。更に、硫酸コバルト電解メッキ液に関する内容は、上述の第1複合箔(2)の硫酸コバルト電解メッキ液と同様である。従って、重複した記載を避けるため、ここでの説明は省略する。   The contents relating to the iron sulfate electroplating solution at this time are the same as the iron sulfate electroplating solution of the second composite foil (2). And the content regarding a hard nickel electroplating liquid is the same as that of the hard nickel electroplating liquid of the above-mentioned 1st composite foil (1). Further, the contents relating to the cobalt sulfate electrolytic plating solution are the same as the cobalt sulfate electrolytic plating solution of the first composite foil (2). Therefore, the description here is omitted to avoid redundant description.

<本件発明に係るキャパシタ層形成材の製造形態>
上述の複合箔を用いてキャパシタ層形成材を形成する方法としては、上記複合箔の異種金属層を設けた表面に誘電層を形成する。この誘電層の材質に関しては特に限定はない。また、誘電層の形成方法についても、いわゆるゾル−ゲル法、誘電体フィラーとバインダー樹脂とを含む誘電体フィラー含有樹脂溶液を用いて塗工により誘電層を形成する塗工法、誘電体フィラーを含有したフィルムをラミネートする方法等種々の公知の方法を採用することが可能である。そして、誘電層の形成が終了すると、この誘電層の上に上部電極を形成するための第1導電層を設けることになる。誘電層上への第1導電層の形成は、金属箔を用いて張り合わせる方法、メッキ法で導電層を形成する方法、スパッタリング蒸着等の法を用いる方法等種々の方法を採用することが可能である。
<Manufacturing form of capacitor layer forming material according to the present invention>
As a method of forming a capacitor layer forming material using the above composite foil, a dielectric layer is formed on the surface of the composite foil provided with the different metal layer. There is no particular limitation on the material of the dielectric layer. The dielectric layer is also formed by a so-called sol-gel method, a coating method for forming a dielectric layer by coating using a dielectric filler-containing resin solution containing a dielectric filler and a binder resin, and containing a dielectric filler. Various known methods such as a method of laminating the prepared film can be employed. When the formation of the dielectric layer is completed, the first conductive layer for forming the upper electrode is provided on the dielectric layer. For the formation of the first conductive layer on the dielectric layer, various methods such as a method of bonding using a metal foil, a method of forming a conductive layer by plating, a method of using a method such as sputtering deposition, etc. can be adopted. It is.

<本件発明に係るキャパシタ層形成材を用いて得られる内蔵キャパシタ回路を備えたプリント配線板の製造形態>
以上に述べてきた本件発明に係るキャパシタ層形成材を用いることで、誘電層との密着性に優れた下部電極を形成することが可能となり、当該下部電極は耐熱性に優れた素材であるため、300℃〜400℃の範囲の熱間プレス加工を複数回経ても、酸化劣化も起こらず、物性変化も起こしにくいものである。この本件発明に係るキャパシタ層形成材を用いての内蔵キャパシタ回路を備えるプリント配線板の製造方法に関して、特段の限定はなく、あらゆる方法を採用する事が可能となる。但し、以下の実施例に示すように、キャパシタ回路を形成した部位以外の余分な誘電層を可能な限り除去可能なプリント配線板の製造方法を採用することが好ましいのである。
<Manufacturing Form of Printed Wiring Board with Built-in Capacitor Circuit Obtained Using Capacitor Layer Forming Material According to Present Invention>
By using the capacitor layer forming material according to the present invention described above, it becomes possible to form a lower electrode with excellent adhesion to the dielectric layer, and the lower electrode is a material with excellent heat resistance. Even when hot pressing in the range of 300 ° C. to 400 ° C. is performed a plurality of times, oxidation deterioration does not occur and physical property changes hardly occur. There is no particular limitation on the method of manufacturing a printed wiring board having a built-in capacitor circuit using the capacitor layer forming material according to the present invention, and any method can be adopted. However, as shown in the following embodiments, it is preferable to employ a method for manufacturing a printed wiring board that can remove as much as possible an extra dielectric layer other than the portion where the capacitor circuit is formed.

この実施例では、硬質ニッケルメッキ層を備える第1複合箔を製造し、この第1複合箔を用いて、キャパシタ層形成材の製造を行い、更に内蔵キャパシタ回路を備えたプリント配線板の製造を行った。   In this embodiment, a first composite foil having a hard nickel plating layer is manufactured, a capacitor layer forming material is manufactured using the first composite foil, and a printed wiring board having a built-in capacitor circuit is manufactured. went.

<第1複合箔の製造>
ここでは、電解銅箔(厚さ12μm、VLP箔、三井金属鉱業社製)を下記組成の硬質ニッケル電解メッキ浴に浸漬し、下記電解条件で電解メッキを行い、電解銅箔の光沢面に厚さ2μm、粗面に厚さ3μm相当の硬質ニッケルメッキ層を形成し、厚さ17.5μmの第1複合箔を調製した。なお、本件明細書で言う異種金属層の厚さは、平坦面にメッキ法で所定厚さの異種金属層を形成しようとしたときの目付量を基準としたときの厚さであり、現実に製造した複合箔の厚さはゲージ厚さとして示したものである。以下の実施例及び比較例において同様である。
<Manufacture of first composite foil>
Here, electrolytic copper foil (thickness 12 μm, VLP foil, manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.) is immersed in a hard nickel electrolytic plating bath having the following composition, electroplated under the following electrolytic conditions, and the electrolytic copper foil is thick on the glossy surface. A hard nickel plating layer corresponding to a thickness of 2 μm and a thickness of 3 μm was formed on the rough surface to prepare a first composite foil having a thickness of 17.5 μm. The thickness of the dissimilar metal layer referred to in this specification is a thickness based on the basis weight when an attempt is made to form a dissimilar metal layer having a predetermined thickness by a plating method on a flat surface. The thickness of the produced composite foil is shown as a gauge thickness. The same applies to the following examples and comparative examples.

(硬質ニッケル電解メッキ浴組成)
NiSO・6HO 162g/l
NHCl 25g/l
BO 30g/l
(メッキ条件)
浴 温 35℃
pH 4
電流密度 10A/dm
攪 拌 あり
(Hard nickel electroplating bath composition)
NiSO 4 · 6H 2 O 162g / l
NH 4 Cl 25 g / l
H 3 BO 3 30 g / l
(Plating conditions)
Bath temperature 35 ℃
pH 4
Current density 10A / dm 2
There is stirring

得られた第1複合箔について、常態と、真空中で400℃×10時間加熱後の引張り強さ及び伸び率を評価した。その結果を表1に示す。なお、引張り強さ及び伸び率の測定はIPC−MF−150Fに定めるIPC−TM−650に定めるプリント配線板用銅箔の測定に準拠して行った。以下、同様である。   About the obtained 1st composite foil, the tensile strength and elongation rate after heating at 400 degreeC x 10 hours in a normal state and vacuum were evaluated. The results are shown in Table 1. In addition, the measurement of tensile strength and elongation rate was performed based on the measurement of the copper foil for printed wiring boards defined in IPC-TM-650 defined in IPC-MF-150F. The same applies hereinafter.

<キャパシタ層形成材の製造>
上述の第1複合箔を、キャパシタ層形成材の下部電極の形成に用いる第2導電層の形成に用いることとし、第1複合箔の外層に存在する硬質ニッケルメッキ層の表面にゾル−ゲル法を用いて誘電層を形成した。
<Manufacture of capacitor layer forming material>
The first composite foil is used for forming the second conductive layer used for forming the lower electrode of the capacitor layer forming material, and a sol-gel method is applied to the surface of the hard nickel plating layer existing on the outer layer of the first composite foil. Was used to form a dielectric layer.

ここで用いたゾル−ゲル法は、沸点近傍に加温したメタノール溶液に、安定化剤として全金属量に対して50mol%〜60mol%濃度となるようにエタノールアミンを添加し、チタンイソプロポキシド、ジルコニウムプロポキシドのプロパノール溶液、酢酸鉛、酢酸ランタン、触媒としての硝酸を順次添加し、最終的にメタノールで0.2mol/l濃度に希釈したゾル−ゲル溶液を用いた。そして、このゾル−ゲル溶液をスピンコータを用いて、前記表面処理銅箔の硬質ニッケルメッキ層の表面に塗工し、250℃×5分の大気雰囲気で乾燥、500℃×15分の大気雰囲気での熱分解を行い。更に、この塗工工程を6回繰り返し膜厚調整を行った。そして、最終的に600℃×30分の窒素置換雰囲気での焼成処理を行い誘電層を形成した。このときの誘電層の組成比は、Pb:La:Zr:Ti=1.1:0.05:0.52:0.48であり、複合箔自体に何ら異常は見られ無かった。   In the sol-gel method used here, ethanolamine was added to a methanol solution heated near the boiling point as a stabilizer so as to have a concentration of 50 mol% to 60 mol% with respect to the total amount of metal, and titanium isopropoxide. Then, a propanol solution of zirconium propoxide, lead acetate, lanthanum acetate, and nitric acid as a catalyst were sequentially added, and finally a sol-gel solution diluted with methanol to a concentration of 0.2 mol / l was used. Then, this sol-gel solution was applied to the surface of the hard nickel plating layer of the surface-treated copper foil using a spin coater, dried in an air atmosphere at 250 ° C. × 5 minutes, and air atmosphere at 500 ° C. × 15 minutes. Pyrolysis is performed. Further, the coating process was repeated 6 times to adjust the film thickness. Finally, a baking process was performed in a nitrogen substitution atmosphere at 600 ° C. for 30 minutes to form a dielectric layer. The composition ratio of the dielectric layer at this time was Pb: La: Zr: Ti = 1.1: 0.05: 0.52: 0.48, and no abnormality was observed in the composite foil itself.

以上のようにして形成した誘電層の上に、スパッタリング蒸着法により3μm厚さの銅層を第1導電層として形成し、誘電層の両面に第1導電層と第2導電層とを備えるキャパシタ層形成材とした。この段階で、所定の電圧を負荷して、層間耐電圧測定を行ったが、第1導電層と第2導電層との間でのショート現象は見られなかった。   On the dielectric layer formed as described above, a copper layer having a thickness of 3 μm is formed as a first conductive layer by a sputtering vapor deposition method, and the capacitor includes the first conductive layer and the second conductive layer on both sides of the dielectric layer. A layer forming material was obtained. At this stage, a predetermined voltage was applied and interlayer withstand voltage measurement was performed, but no short-circuit phenomenon was observed between the first conductive layer and the second conductive layer.

<プリント配線板の製造>
以下、プリント配線板の製造に関して、図11〜図14を用いて説明するが、これらの図では図3(b)に示したキャパシタ層構成材1b’を用いた場合をモデル的に示している。従って、各実施例に応じてキャパシタ層構成材の層構成は相違していることを明記しておく。以下、プリント配線板の製造に関して説明する。
<Manufacture of printed wiring boards>
Hereinafter, manufacture of a printed wiring board will be described with reference to FIGS. 11 to 14. In these drawings, a case in which the capacitor layer constituting material 1b ′ shown in FIG. 3B is used is shown as a model. . Therefore, it should be noted that the layer structure of the capacitor layer constituent material differs depending on each embodiment. Hereinafter, manufacture of a printed wiring board will be described.

以上のようにして製造した図11(a)に示すキャパシタ層形成材1aの片面の第1導電層2を整面し、その両面にドライフィルムを張り合わせて、エッチングレジスト層21を形成した。そして、その第1導電層の表面のエッチングレジスト層に、上部電極を形成するためのエッチングパターンを露光し、現像した。そして、塩化銅エッチング液でエッチングして、図11(b)に示すように上部電極15を形成した。   The first conductive layer 2 on one side of the capacitor layer forming material 1a shown in FIG. 11 (a) manufactured as described above was leveled, and a dry film was laminated on both sides to form an etching resist layer 21. Then, an etching pattern for forming the upper electrode was exposed and developed on the etching resist layer on the surface of the first conductive layer. And it etched with the copper chloride etching liquid, and as shown in FIG.11 (b), the upper electrode 15 was formed.

そして、上部電極15の形成後にエッチングレジストを回路表面に残留させた状態で、回路部以外の領域の露出した誘電層の除去を行った。このときの誘電層の除去方法は、ウエットブラスト処理を用い、中心粒径が14μmの微粒粉体であるアルミナ研磨剤を水に分散させたスラリー状の研磨液(研磨剤濃度14vol%)を、0.20MPaの水圧で長さ90mm、幅2mmのスリットノズルから高速水流として被研磨面に衝突させ、不要な誘電層の研磨除去を行ったのである。このウエットブラスト処理が終了すると、エッチングレジストの剥離を行い、水洗し、乾燥し、図11(c)に示す状態とした。   Then, with the etching resist remaining on the circuit surface after the formation of the upper electrode 15, the exposed dielectric layer in the region other than the circuit portion was removed. The method for removing the dielectric layer at this time uses wet blasting, and a slurry-like polishing liquid (abrasive concentration 14 vol%) in which an alumina abrasive, which is a fine powder having a center particle diameter of 14 μm, is dispersed in water, An unnecessary dielectric layer was polished and removed by impinging on the surface to be polished as a high-speed water flow from a slit nozzle having a length of 90 mm and a width of 2 mm at a water pressure of 0.20 MPa. When this wet blasting process is completed, the etching resist is peeled off, washed with water, and dried to obtain the state shown in FIG.

上記誘電層除去の終了したキャパシタ層形成材は、露出した誘電層を除去して、深くなった上部電極間ギャップを埋設する必要がある。そこで、図12(d)に示すように、キャパシタ層形成材の両面に絶縁層及び導電層を設けるため、銅箔10の片面に80μm厚さの半硬化樹脂層7を備えた樹脂層付銅箔8を重ね合わせて、180℃×60分の加熱条件下で熱間プレス成形し、外層に銅箔層10と絶縁層7’と張り合わせられた図12(e)に示す状態とした。そして、図12(e)に示す外層の第2導電層4をエッチング加工し、下部電極9とし、図12(f)に示す状態とした。   In the capacitor layer forming material after the removal of the dielectric layer, it is necessary to remove the exposed dielectric layer and bury a deeper gap between the upper electrodes. Therefore, as shown in FIG. 12D, in order to provide the insulating layer and the conductive layer on both surfaces of the capacitor layer forming material, the copper with resin layer provided with the semi-cured resin layer 7 having a thickness of 80 μm on one surface of the copper foil 10. The foil 8 was overlapped and hot press-molded under a heating condition of 180 ° C. × 60 minutes, and the state shown in FIG. 12E was obtained, in which the copper foil layer 10 and the insulating layer 7 ′ were bonded to the outer layer. Then, the outer second conductive layer 4 shown in FIG. 12 (e) was etched to form the lower electrode 9, which was in the state shown in FIG. 12 (f).

次に、外層に位置する銅箔層10に外層回路22及びビアホール23を形成するため、定法に基づいて銅メッキ層24を設け、エッチング加工して図13(g)の状態とした。そして、図13(h)に示すように、樹脂層付銅箔8を重ね合わせて、180℃×60分の加熱条件下で熱間プレス成形し、外層に銅箔層10と絶縁層7’とを張り合わせ、図14(i)に示す状態とした。   Next, in order to form the outer layer circuit 22 and the via hole 23 in the copper foil layer 10 located in the outer layer, the copper plating layer 24 was provided based on a conventional method, and the etching process was performed to obtain the state shown in FIG. And as shown in FIG.13 (h), the copper foil 8 with a resin layer is piled up, it hot-press-molds on the heating conditions of 180 degreeC x 60 minutes, and copper foil layer 10 and insulating layer 7 'are carried out to an outer layer. And the state shown in FIG. 14 (i).

そして、図14(i)に示す外層の銅箔層10に外層回路22及びビアホール23を形成するため、定法に基づいて銅メッキ層24を設け、エッチング加工して図14(j)の状態とし、内蔵キャパシタ回路を備えるプリント配線板30を製造した。   Then, in order to form the outer layer circuit 22 and the via hole 23 in the outer copper foil layer 10 shown in FIG. 14 (i), a copper plating layer 24 is provided according to a conventional method and etched to obtain the state of FIG. 14 (j). A printed wiring board 30 having a built-in capacitor circuit was manufactured.

この実施例では、コバルト層を備える第1複合箔を製造し、この第1複合箔を用いて、キャパシタ層形成材の製造を行い、更に内蔵キャパシタ回路を備えたプリント配線板の製造を行った。   In this example, a first composite foil including a cobalt layer was manufactured, a capacitor layer forming material was manufactured using the first composite foil, and a printed wiring board including a built-in capacitor circuit was manufactured. .

<第1複合箔の製造>
ここでは、電解銅箔(厚さ12μm、VLP箔、三井金属鉱業社製)を下記組成のコバルト電解メッキ浴に浸漬し、下記電解条件で電解メッキを行い、電解銅箔の光沢面に厚さ2μm、粗面に厚さ3μm相当のコバルトメッキ層を形成し、厚さ17.8μmの第1複合箔を調製した。
<Manufacture of first composite foil>
Here, electrolytic copper foil (thickness 12 μm, VLP foil, manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.) is immersed in a cobalt electrolytic plating bath having the following composition, electroplated under the following electrolytic conditions, and the thickness of the electrolytic copper foil is increased on the glossy surface. A cobalt plating layer having a thickness of 2 μm and a thickness of 3 μm was formed on the rough surface to prepare a first composite foil having a thickness of 17.8 μm.

(コバルト電解メッキ浴組成)
CoSO・7HO 180g/l
BO 30g/l
凝集剤 0.1g/l
(アクリルアミド系ポリマー、商品名:PN−171、栗田工業社製)
(メッキ条件)
浴 温 35℃
pH 4
電流密度 10A/dm
攪 拌 あり
(Cobalt electroplating bath composition)
CoSO 4 · 7H 2 O 180g / l
H 3 BO 3 30 g / l
Flocculant 0.1g / l
(Acrylamide polymer, trade name: PN-171, manufactured by Kurita Kogyo Co., Ltd.)
(Plating conditions)
Bath temperature 35 ℃
pH 4
Current density 10A / dm 2
There is stirring

そして、得られた第2複合箔について、実施例1と同様に常態と、真空中で400℃×10時間加熱後の引張り強さ及び伸び率を評価した。その結果を表1に示す。   And about the obtained 2nd composite foil, the tensile strength and elongation rate after heating in a normal state and 400 degreeC x 10 hours in a vacuum were evaluated like Example 1. The results are shown in Table 1.

以下、実施例1と同様にして、キャパシタ層形成材及び内蔵キャパシタ回路を備えたプ
リント配線板を製造した。ここで得られたキャパシタ層形成材に、所定の電圧を負荷して、層間耐電圧測定を行ったが、第1導電層と第2導電層との間でのショート現象は見られなかった。また、内蔵キャパシタ回路を備えたプリント配線板も何ら問題なく製造出来た。
Thereafter, in the same manner as in Example 1, a printed wiring board including a capacitor layer forming material and a built-in capacitor circuit was manufactured. The capacitor layer forming material obtained here was loaded with a predetermined voltage and subjected to interlayer withstand voltage measurement, but no short-circuit phenomenon was observed between the first conductive layer and the second conductive layer. Also, printed wiring boards with built-in capacitor circuits could be manufactured without any problems.

この実施例では、ニッケル−コバルト合金層を備える第1複合箔を製造し、この第1複合箔を用いて、キャパシタ層形成材の製造を行い、更に内蔵キャパシタ回路を備えたプリント配線板の製造を行った。   In this embodiment, a first composite foil including a nickel-cobalt alloy layer is manufactured, a capacitor layer forming material is manufactured using the first composite foil, and a printed wiring board including a built-in capacitor circuit is manufactured. Went.

<第1複合箔の製造>
ここでは、電解銅箔(厚さ12μm、VLP箔、三井金属鉱業社製)を下記組成のニッケル−コバルト合金電解メッキ浴に浸漬し、下記電解条件で電解メッキを行い、電解銅箔の光沢面に厚さ2μm、粗面に厚さ3μm相当のニッケル−コバルト合金メッキ層を形成し、厚さ17.2μmの第1複合箔を調製した。
<Manufacture of first composite foil>
Here, electrolytic copper foil (thickness 12 μm, VLP foil, manufactured by Mitsui Kinzoku Mining Co., Ltd.) is dipped in a nickel-cobalt alloy electrolytic plating bath having the following composition, electroplated under the following electrolytic conditions, and the glossy surface of the electrolytic copper foil A nickel-cobalt alloy plating layer having a thickness of 2 μm and a thickness of 3 μm was formed on the rough surface to prepare a first composite foil having a thickness of 17.2 μm.

(ニッケル−コバルト電解メッキ浴組成)
NiSO・6HO 200g/l
NiCl・6HO 36g/l
CoSO・7HO 12g/l
BO 30g/l
HCOONa 45g/l
(メッキ条件)
浴 温 45℃
pH 4
電流密度 10A/dm
攪 拌 あり
(Nickel-cobalt electroplating bath composition)
NiSO 4 · 6H 2 O 200g / l
NiCl 2 · 6H 2 O 36 g / l
CoSO 4 · 7H 2 O 12g / l
H 3 BO 3 30 g / l
HCOONa 45g / l
(Plating conditions)
Bath temperature 45 ° C
pH 4
Current density 10A / dm 2
There is stirring

そして、実施例1と同様に、得られた第3複合箔の常態と、真空中で400℃×10時間加熱後の引張り強さ及び伸び率を評価した。その結果を表1に示す。   Then, as in Example 1, the normal state of the obtained third composite foil and the tensile strength and elongation after heating in a vacuum at 400 ° C. for 10 hours were evaluated. The results are shown in Table 1.

以下、実施例1と同様にして、キャパシタ層形成材及び内蔵キャパシタ回路を備えたプ
リント配線板を製造した。ここで得られたキャパシタ層形成材に、所定の電圧を負荷して、層間耐電圧測定を行ったが、第1導電層と第2導電層との間でのショート現象は見られなかった。また、内蔵キャパシタ回路を備えたプリント配線板も何ら問題なく製造出来た。
Thereafter, in the same manner as in Example 1, a printed wiring board including a capacitor layer forming material and a built-in capacitor circuit was manufactured. The capacitor layer forming material obtained here was loaded with a predetermined voltage and subjected to interlayer withstand voltage measurement, but no short-circuit phenomenon was observed between the first conductive layer and the second conductive layer. Also, printed wiring boards with built-in capacitor circuits could be manufactured without any problems.

ここでは、電解銅箔を用いて、コバルトメッキ層と硬質ニッケルメッキ層とが順次形成されてなる第2複合箔を製造し、この第2複合箔を用いて、キャパシタ層形成材の製造を行い、更に内蔵キャパシタ回路を備えたプリント配線板の製造を行った。   Here, a second composite foil in which a cobalt plating layer and a hard nickel plating layer are sequentially formed using an electrolytic copper foil is manufactured, and a capacitor layer forming material is manufactured using the second composite foil. Furthermore, a printed wiring board provided with a built-in capacitor circuit was manufactured.

<第2複合箔の製造>
電解銅箔(厚さ12μm、VLP箔、三井金属鉱業社製)を実施例2と同様のコバルト電解メッキ浴に浸漬し、実施例2と同様に電解メッキを行い、電解銅箔の光沢面及び粗面にそれぞれ厚さ0.3μm相当のコバルトメッキ層を形成し、次いで実施例1と同様の硬質ニッケル電解メッキ浴に浸漬し、実施例1と同様に電解メッキを行い、コバルトメッキ層の上に、銅箔の光沢面側に厚さ2μm、粗面側に厚さ3μm相当の硬質ニッケルメッキ層を形成し、厚さ16.9μmの複合箔を調製した。
<Manufacture of second composite foil>
Electrolytic copper foil (thickness 12 μm, VLP foil, manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.) is immersed in the same cobalt electrolytic plating bath as in Example 2, and electrolytic plating is performed in the same manner as in Example 2. A cobalt plating layer corresponding to a thickness of 0.3 μm is formed on each rough surface, and then immersed in a hard nickel electroplating bath similar to that in Example 1, followed by electrolytic plating in the same manner as in Example 1, Then, a hard nickel plating layer corresponding to a thickness of 2 μm on the glossy surface side and a thickness of 3 μm on the rough surface side of the copper foil was formed to prepare a composite foil having a thickness of 16.9 μm.

そして、実施例1と同様に、得られた第2複合箔の常態と、真空中で400℃×10時間加熱後の引張り強さ及び伸び率を評価した。その結果を表1に示す。   Then, as in Example 1, the normal state of the obtained second composite foil and the tensile strength and elongation after heating in a vacuum at 400 ° C. for 10 hours were evaluated. The results are shown in Table 1.

以下、実施例1と同様にして、キャパシタ層形成材及び内蔵キャパシタ回路を備えたプ
リント配線板を製造した。ここで得られたキャパシタ層形成材に、所定の電圧を負荷して、層間耐電圧測定を行ったが、第1導電層と第2導電層との間でのショート現象は見られなかった。また、内蔵キャパシタ回路を備えたプリント配線板も何ら問題なく製造出来た。
Thereafter, in the same manner as in Example 1, a printed wiring board including a capacitor layer forming material and a built-in capacitor circuit was manufactured. The capacitor layer forming material obtained here was loaded with a predetermined voltage and subjected to interlayer withstand voltage measurement, but no short-circuit phenomenon was observed between the first conductive layer and the second conductive layer. Also, printed wiring boards with built-in capacitor circuits could be manufactured without any problems.

ここでは、電解銅箔を用いて、鉄メッキ層と硬質ニッケルメッキ層とが順次形成されてなる第2複合箔を製造し、この第2複合箔を用いて、キャパシタ層形成材の製造を行い、更に内蔵キャパシタ回路を備えたプリント配線板の製造を行った。   Here, a second composite foil in which an iron plating layer and a hard nickel plating layer are sequentially formed using an electrolytic copper foil is manufactured, and a capacitor layer forming material is manufactured using the second composite foil. Furthermore, a printed wiring board provided with a built-in capacitor circuit was manufactured.

<第2複合箔の製造>
電解銅箔(厚さ12μm、VLP箔、三井金属鉱業社製)を、下記組成の硫酸塩鉄電解メッキ浴に浸漬し、下記条件で電解メッキを行い、電解銅箔の光沢面及び粗面にそれぞれ厚さ0.3μm相当の鉄メッキ層を形成し、次いで実施例1と同様の硬質ニッケル電解メッキ浴に浸漬し、実施例1と同様に電解メッキを行い、コバルトメッキ層の上に、銅箔の光沢面側に厚さ2μm、粗面側に厚さ3μm相当の硬質ニッケルメッキ層を形成し、厚さ17.4μmの複合箔を調製した。
<Manufacture of second composite foil>
Electrolytic copper foil (thickness 12 μm, VLP foil, manufactured by Mitsui Kinzoku Mining Co., Ltd.) is immersed in a sulfate iron electrolytic plating bath having the following composition, and electrolytic plating is performed under the following conditions. An iron plating layer corresponding to a thickness of 0.3 μm is formed, and then immersed in a hard nickel electrolytic plating bath similar to that in Example 1, and electrolytic plating is performed in the same manner as in Example 1, and a copper plating layer is formed on the cobalt plating layer. A hard nickel plating layer having a thickness of 2 μm was formed on the glossy surface side of the foil and a thickness of 3 μm was formed on the rough surface side to prepare a composite foil having a thickness of 17.4 μm.

(硫酸塩鉄電解メッキ浴組成)
FeSO・7HO 180g/l
BO 30g/l
(メッキ条件)
浴 温 30℃
pH 4
電流密度 5A/dm
攪 拌 あり
(Sulfate iron electroplating bath composition)
FeSO 4 · 7H 2 O 180g / l
H 3 BO 3 30 g / l
(Plating conditions)
Bath temperature 30 ° C
pH 4
Current density 5A / dm 2
There is stirring

そして、実施例1と同様に、得られた第2複合箔の常態と、真空中で400℃×10時間加熱後の引張り強さ及び伸び率を評価した。その結果を表1に示す。   Then, as in Example 1, the normal state of the obtained second composite foil and the tensile strength and elongation after heating in a vacuum at 400 ° C. for 10 hours were evaluated. The results are shown in Table 1.

以下、実施例1と同様にして、キャパシタ層形成材及び内蔵キャパシタ回路を備えたプ
リント配線板を製造した。ここで得られたキャパシタ層形成材に、所定の電圧を負荷して、層間耐電圧測定を行ったが、第1導電層と第2導電層との間でのショート現象は見られなかった。また、内蔵キャパシタ回路を備えたプリント配線板も何ら問題なく製造出来た。
Thereafter, in the same manner as in Example 1, a printed wiring board including a capacitor layer forming material and a built-in capacitor circuit was manufactured. The capacitor layer forming material obtained here was loaded with a predetermined voltage and subjected to interlayer withstand voltage measurement, but no short-circuit phenomenon was observed between the first conductive layer and the second conductive layer. Also, printed wiring boards with built-in capacitor circuits could be manufactured without any problems.

この実施例では、銅箔表面に第1コバルトメッキ層/硬質ニッケルメッキ層/第2コバルトメッキ層を備える第3複合箔を製造し、この第3複合箔を用いて、キャパシタ層形成材の製造を行い、更に内蔵キャパシタ回路を備えたプリント配線板の製造を行った。   In this embodiment, a third composite foil having a first cobalt plating layer / hard nickel plating layer / second cobalt plating layer on the copper foil surface is manufactured, and a capacitor layer forming material is manufactured using the third composite foil. In addition, a printed wiring board having a built-in capacitor circuit was manufactured.

<第3複合箔の製造>
銅箔(厚さ12μm、VLP箔、三井金属鉱業社製)を用いて、電解銅箔の光沢面及び粗面に、実施例2の硫酸コバルト電解メッキ浴に浸漬し、実施例2の電解条件で電解メッキを行い、0.3μm厚さ相当の第1コバルトメッキ層を両面に形成した。そして、実施例1の組成の硬質ニッケル電解メッキ浴に浸漬し、実施例1の電解条件で電解メッキを行い3μm厚さ相当の硬質ニッケルメッキ層を両面に形成した。更に、実施例2の硫酸コバルト電解メッキ浴に浸漬し、実施例2の電解条件で電解メッキを行い、0.3μm厚さ相当の第2コバルトメッキ層を形成し、19.2μm厚さの第3複合箔を製造した。
<Manufacture of third composite foil>
Using copper foil (thickness 12 μm, VLP foil, manufactured by Mitsui Mining & Mining Co., Ltd.), the electrolytic copper foil is immersed in the cobalt sulfate electrolytic plating bath of Example 2 on the glossy and rough surfaces of the electrolytic copper foil, and the electrolysis conditions of Example 2 Then, electrolytic plating was performed to form a first cobalt plating layer corresponding to a thickness of 0.3 μm on both surfaces. And it immersed in the hard nickel electroplating bath of the composition of Example 1, and electroplated on the electrolysis conditions of Example 1, and formed the hard nickel plating layer equivalent to 3 micrometers thickness on both surfaces. Furthermore, it was immersed in the cobalt sulfate electroplating bath of Example 2, and electroplated under the electrolysis conditions of Example 2 to form a second cobalt plating layer corresponding to a thickness of 0.3 μm. Three composite foils were produced.

そして、実施例1と同様に、得られた第3複合箔の常態と、真空中で400℃×10時間加熱後の引張り強さ及び伸び率を評価した。その結果を表1に示す。   Then, as in Example 1, the normal state of the obtained third composite foil and the tensile strength and elongation after heating in a vacuum at 400 ° C. for 10 hours were evaluated. The results are shown in Table 1.

以下、実施例1と同様にして、キャパシタ層形成材及び内蔵キャパシタ回路を備えたプ
リント配線板を製造した。ここで得られたキャパシタ層形成材に、所定の電圧を負荷して、層間耐電圧測定を行ったが、第1導電層と第2導電層との間でのショート現象は見られなかった。また、内蔵キャパシタ回路を備えたプリント配線板も何ら問題なく製造出来た。
Thereafter, in the same manner as in Example 1, a printed wiring board including a capacitor layer forming material and a built-in capacitor circuit was manufactured. The capacitor layer forming material obtained here was loaded with a predetermined voltage and subjected to interlayer withstand voltage measurement, but no short-circuit phenomenon was observed between the first conductive layer and the second conductive layer. Also, printed wiring boards with built-in capacitor circuits could be manufactured without any problems.

この実施例では、銅箔表面に鉄メッキ層/硬質ニッケルメッキ層/コバルトメッキ層を備える第3複合箔を製造し、この第3複合箔を用いて、キャパシタ層形成材の製造を行い、更に内蔵キャパシタ回路を備えたプリント配線板の製造を行った。   In this embodiment, a third composite foil having an iron plating layer / hard nickel plating layer / cobalt plating layer on the copper foil surface is manufactured, and a capacitor layer forming material is manufactured using the third composite foil. A printed wiring board with a built-in capacitor circuit was manufactured.

銅箔(厚さ12μm、VLP箔、三井金属鉱業社製)を用いて、電解銅箔の光沢面及び粗面に、実施例5の硫酸鉄電解メッキ浴に浸漬し、実施例5の電解条件で電解メッキを行い、0.3μm厚さ相当の鉄メッキ層を両面に形成した。そして、実施例1の組成の硬質ニッケル電解メッキ浴に浸漬し、実施例1の電解条件で電解メッキを行い3μm厚さ相当の硬質ニッケルメッキ層を両面に形成した。更に、実施例2の硫酸コバルト電解メッキ浴に浸漬し、実施例2の電解条件で電解メッキを行い、0.3μm厚さ相当の第2コバルトメッキ層を形成し、19.3μm厚さの第3複合箔を製造した。   The copper foil (thickness 12 μm, VLP foil, manufactured by Mitsui Mining & Mining Co., Ltd.) is used to immerse the electrolytic copper foil in the glossy and rough surfaces in the iron sulfate electrolytic plating bath of Example 5, and the electrolysis conditions of Example 5 Then, an iron plating layer having a thickness of 0.3 μm was formed on both sides. And it immersed in the hard nickel electroplating bath of the composition of Example 1, and electroplated on the electrolysis conditions of Example 1, and formed the hard nickel plating layer equivalent to 3 micrometers thickness on both surfaces. Further, it is immersed in the cobalt sulfate electroplating bath of Example 2, and electroplated under the electrolysis conditions of Example 2 to form a second cobalt plating layer corresponding to a thickness of 0.3 μm, and a 19.3 μm thick first layer is formed. Three composite foils were produced.

そして、実施例1と同様に、得られた第3複合箔の常態と、真空中で400℃×10時間加熱後の引張り強さ及び伸び率を評価した。その結果を表1に示す。   Then, as in Example 1, the normal state of the obtained third composite foil and the tensile strength and elongation after heating in a vacuum at 400 ° C. for 10 hours were evaluated. The results are shown in Table 1.

以下、実施例1と同様にして、キャパシタ層形成材及び内蔵キャパシタ回路を備えたプ
リント配線板を製造した。ここで得られたキャパシタ層形成材に、所定の電圧を負荷して、層間耐電圧測定を行ったが、第1導電層と第2導電層との間でのショート現象は見られなかった。また、内蔵キャパシタ回路を備えたプリント配線板も何ら問題なく製造出来た。
Thereafter, in the same manner as in Example 1, a printed wiring board including a capacitor layer forming material and a built-in capacitor circuit was manufactured. The capacitor layer forming material obtained here was loaded with a predetermined voltage and subjected to interlayer withstand voltage measurement, but no short-circuit phenomenon was observed between the first conductive layer and the second conductive layer. Also, printed wiring boards with built-in capacitor circuits could be manufactured without any problems.

比較例Comparative example

[比較例1]
実施例1の電解銅箔(厚さ12μm、VLP箔、三井金属鉱業社製)に硬質ニッケルメッキ層を形成することなく、この電解銅箔を用いて、キャパシタ層形成材の製造を行い、更に内蔵キャパシタ回路を備えたプリント配線板の製造を試みた。
[Comparative Example 1]
Without forming a hard nickel plating layer on the electrolytic copper foil of Example 1 (thickness 12 μm, VLP foil, manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.), this electrolytic copper foil was used to produce a capacitor layer forming material. An attempt was made to produce a printed wiring board with a built-in capacitor circuit.

しかしながら、キャパシタ層形成材の製造を行おうとして、当該電解銅箔の外層面にゾル−ゲル法を用いて誘電層を形成しようとして、実施例1と同様の手法を採用したところ、500℃×15分の大気雰囲気での熱分解で電解銅箔表面の酸化が目立ってきた。更に、この塗工工程を6回繰り返し膜厚調整を行うと電解銅箔表面の酸化は更に進行し、最終的に600℃×30分の窒素置換雰囲気での焼成処理で酸化による脆化を引き起こし、電解銅箔に容易にクラックが発生する状態となった。従って、以下の工程の全ては実施不可能で、キャパシタ層形成材の製造及びプリント配線板製造は出来なかった。   However, when a method similar to that in Example 1 was employed to form a dielectric layer using a sol-gel method on the outer layer surface of the electrolytic copper foil in an attempt to produce a capacitor layer forming material, Oxidation on the surface of the electrolytic copper foil was noticeable by thermal decomposition in an air atmosphere for 15 minutes. Further, when this coating process is repeated 6 times and the film thickness is adjusted, the surface of the electrolytic copper foil further oxidizes, and finally the embrittlement due to oxidation is caused by the baking treatment in a nitrogen substitution atmosphere at 600 ° C. for 30 minutes. The electrolytic copper foil was easily cracked. Therefore, all of the following steps cannot be performed, and the capacitor layer forming material and the printed wiring board cannot be manufactured.

[比較例2]
この比較例では、実施例1の第2導電層を構成した複合箔の硬質ニッケルメッキ層をニッケル−リン合金メッキ層とした点が異なるのみである。従って、重複した説明となる部分の説明は極力省略するものとする。
[Comparative Example 2]
This comparative example is different only in that the hard nickel plating layer of the composite foil constituting the second conductive layer of Example 1 is a nickel-phosphorus alloy plating layer. Therefore, the description of the duplicated description is omitted as much as possible.

ここでは、電解銅箔(厚さ12μm、VLP箔、三井金属鉱業社製)を下記組成のニッケル−リン電解メッキ浴に浸漬し、下記電解条件で電解メッキを行い、電解銅箔の光沢面に厚さ2μm、粗面に厚さ3μmのニッケル−リン合金メッキ層(リン含有量は、0.3wt%)を形成し、厚さ17μmの第1複合箔を調製した。   Here, electrolytic copper foil (thickness 12 μm, VLP foil, manufactured by Mitsui Kinzoku Mining Co., Ltd.) is immersed in a nickel-phosphorous electrolytic plating bath having the following composition, and electrolytic plating is performed under the following electrolysis conditions to provide a glossy surface for the electrolytic copper foil. A nickel-phosphorus alloy plating layer having a thickness of 2 μm and a thickness of 3 μm was formed on the rough surface (phosphorus content was 0.3 wt%) to prepare a first composite foil having a thickness of 17 μm.

ニッケル−リン合金層は、リン酸系溶液を用い、硫酸ニッケル濃度が250g/l、塩化ニッケル濃度40.39g/l、HBO濃度19.78g/l、HPO濃度3g/l、液温50℃、電流密度20A/dmの条件で電解し、電解銅箔の両面にニッケル−リン合金層を均一且つ平滑に電析させた。 The nickel-phosphorus alloy layer uses a phosphate-based solution, the nickel sulfate concentration is 250 g / l, the nickel chloride concentration is 40.39 g / l, the H 3 BO 3 concentration is 19.78 g / l, and the H 3 PO 3 concentration is 3 g / l. Electrolysis was performed under the conditions of a liquid temperature of 50 ° C. and a current density of 20 A / dm 2 , and a nickel-phosphorus alloy layer was deposited uniformly and smoothly on both surfaces of the electrolytic copper foil.

そして、実施例1と同様にゾル−ゲル法で誘電層を形成してのキャパシタ層形成材の製造を経て、誘電層の両面に第1導電層と第2導電層とを備えるキャパシタ層形成材とした。この段階で層間耐電圧測定を行ったが、第1導電層と第2導電層との間でのショート現象が発生しており、製品歩留まりが60%であった。   Then, the capacitor layer forming material including the first conductive layer and the second conductive layer on both sides of the dielectric layer after manufacturing the capacitor layer forming material by forming the dielectric layer by the sol-gel method as in the first embodiment. It was. The interlayer withstand voltage was measured at this stage, but a short phenomenon occurred between the first conductive layer and the second conductive layer, and the product yield was 60%.

本件発明に係るキャパシタ層形成材は、下部電極を構成する第2導電層に高温耐熱特性に優れた上記複合箔を備えているため、フッ素樹脂基板、液晶ポリマー基板を使用した多層プリント配線板の製造に好適である。これらの基板を用いたプリント配線板の製造に用いられる300℃〜400℃の範囲の熱間プレス加工を繰り返し受けても、キャパシタ回路形状を形成して以降も下部電極形状に異常は発生せず、周囲の素材の熱による膨張伸縮の挙動に対する抵抗性を持っている。また、このように優れた耐熱特性を有するが故に、当該複合箔の表面にゾル−ゲル法によって、誘電層を形成する際の過酷な熱履歴を受けても、何ら問題がない。   Since the capacitor layer forming material according to the present invention includes the composite foil having excellent high-temperature heat resistance in the second conductive layer constituting the lower electrode, the multilayer printed wiring board using the fluororesin substrate and the liquid crystal polymer substrate is used. Suitable for manufacturing. Even if hot pressing in the range of 300 ° C. to 400 ° C. used for manufacturing printed wiring boards using these substrates is repeated, no abnormality occurs in the shape of the lower electrode even after the capacitor circuit shape is formed. Resistant to the expansion and contraction behavior of the surrounding material due to heat. In addition, since it has such excellent heat resistance characteristics, there is no problem even if it receives a severe heat history when forming a dielectric layer on the surface of the composite foil by a sol-gel method.

しかも、本件発明に係るキャパシタ層形成材の第2導電層の形成に用いる複合箔の異種金属層の種類、層構成の組み合わせを誘電層の種類に合わせて、適宜選択出来るものとなるため、誘電層と下部電極との密着性を良好に維持することが可能となる。その結果、本件発明に係るキャパシタ層形成材を用いて得られた内蔵キャパシタ回路を備えたプリント配線板の品質も良好となる。また、当該異種金属層がニッケル等の高抵抗金属であるため、抵抗器回路の形成に使用することも可能となる。   In addition, since the combination of the dissimilar metal layer and the layer configuration of the composite foil used for forming the second conductive layer of the capacitor layer forming material according to the present invention can be appropriately selected according to the type of the dielectric layer, Good adhesion between the layer and the lower electrode can be maintained. As a result, the quality of the printed wiring board provided with the built-in capacitor circuit obtained using the capacitor layer forming material according to the present invention is also improved. Further, since the dissimilar metal layer is a high resistance metal such as nickel, it can be used for forming a resistor circuit.

更に、本件発明に係るキャパシタ層形成材の製造に用いる複合箔の製造方法は、異種金属層に一定のメッキ条件を採用することで、耐熱特性に優れたキャパシタ層形成材用の金属箔を安価に製造可能となる。   Furthermore, the manufacturing method of the composite foil used for manufacturing the capacitor layer forming material according to the present invention employs a constant plating condition for the dissimilar metal layer, so that the metal foil for the capacitor layer forming material having excellent heat resistance is inexpensive. Can be manufactured.

本件発明に係るキャパシタ層形成材の模式断面図である。It is a schematic cross section of the capacitor layer forming material according to the present invention. 本件発明に係るキャパシタ層形成材の製造に用いる複合箔の模式断面図である。It is a schematic cross section of the composite foil used for manufacture of the capacitor layer forming material which concerns on this invention. 本件発明に係るキャパシタ層形成材の模式断面図である。It is a schematic cross section of the capacitor layer forming material according to the present invention. 本件発明に係るキャパシタ層形成材の製造に用いる複合箔の模式断面図である。It is a schematic cross section of the composite foil used for manufacture of the capacitor layer forming material which concerns on this invention. 銅箔の表面にコバルトメッキ層と硬質ニッケルメッキ層とが順次積層された複合箔の常態の光学顕微鏡写真である。2 is a normal optical micrograph of a composite foil in which a cobalt plating layer and a hard nickel plating layer are sequentially laminated on the surface of a copper foil. 銅箔の表面にコバルトメッキ層と硬質ニッケルメッキ層とが順次積層された複合箔の加熱後(400℃×10時間)の光学顕微鏡写真である。It is an optical microscope photograph after the heating (400 degreeC x 10 hours) of the composite foil by which the cobalt plating layer and the hard nickel plating layer were laminated | stacked sequentially on the surface of copper foil. 銅箔の表面に硬質ニッケルメッキ層を備える複合箔の常態の光学顕微鏡写真である。It is a normal optical microscope photograph of the composite foil provided with the hard nickel plating layer on the surface of the copper foil. 銅箔の表面に硬質ニッケルメッキ層を備える複合箔の加熱後(400℃×10時間)の光学顕微鏡写真である。It is an optical microscope photograph after the heating (400 degreeC x 10 hours) of the composite foil provided with the hard nickel plating layer on the surface of copper foil. 本件発明に係るキャパシタ層形成材の模式断面図である。It is a schematic cross section of the capacitor layer forming material according to the present invention. 本件発明に係るキャパシタ層形成材の製造に用いる複合箔の模式断面図である。It is a schematic cross section of the composite foil used for manufacture of the capacitor layer forming material which concerns on this invention. 本件発明に係るキャパシタ層形成材を用いた内蔵キャパシタ回路を備えるプリント配線板の製造フローを表す模式図である。It is a schematic diagram showing the manufacturing flow of a printed wiring board provided with the built-in capacitor circuit using the capacitor layer forming material which concerns on this invention. 本件発明に係るキャパシタ層形成材を用いた内蔵キャパシタ回路を備えるプリント配線板の製造フローを表す模式図である。It is a schematic diagram showing the manufacturing flow of a printed wiring board provided with the built-in capacitor circuit using the capacitor layer forming material which concerns on this invention. 本件発明に係るキャパシタ層形成材を用いた内蔵キャパシタ回路を備えるプリント配線板の製造フローを表す模式図である。It is a schematic diagram showing the manufacturing flow of a printed wiring board provided with the built-in capacitor circuit using the capacitor layer forming material which concerns on this invention. 本件発明に係るキャパシタ層形成材を用いた内蔵キャパシタ回路を備えるプリント配線板の製造フローを表す模式図である。It is a schematic diagram showing the manufacturing flow of a printed wiring board provided with the built-in capacitor circuit using the capacitor layer forming material which concerns on this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1a,1b,1c,1a’,1b’,1c’ キャパシタ層形成材
5a,5b,5c,5a’,5b’,5c’ 複合箔
6a,6b,6c 異種金属層
2 第1導電層
3 誘電層
4 第2導電層
7 半硬化樹脂層
7’ 絶縁層
8 樹脂付銅箔
9 下部電極
10 銅箔層
15 上部電極
21 エッチングレジスト層
22 外層回路
23 ビアホール
24 銅メッキ層
30 プリント配線板
C 銅層
1a, 1b, 1c, 1a ′, 1b ′, 1c ′ Capacitor layer forming material 5a, 5b, 5c, 5a ′, 5b ′, 5c ′ Composite foils 6a, 6b, 6c Dissimilar metal layer 2 First conductive layer
3 Dielectric layer 4 Second conductive layer 7 Semi-cured resin layer 7 ′ Insulating layer 8 Copper foil 9 with resin Lower electrode 10 Copper foil layer 15 Upper electrode 21 Etching resist layer 22 Outer circuit 23 Via hole 24 Copper plating layer 30 Printed wiring board C Copper layer

Claims (28)

上部電極形成に用いる第1導電層と下部電極形成に用いる第2導電層との間に誘電層を備えるプリント配線板のキャパシタ層形成材において、
第2導電層は、銅層の表面に異種金属層である硬質ニッケルメッキ層を備える複合箔を用いたことを特徴としたキャパシタ層形成材。
In the capacitor layer forming material of the printed wiring board comprising a dielectric layer between the first conductive layer used for forming the upper electrode and the second conductive layer used for forming the lower electrode,
A capacitor layer forming material, wherein the second conductive layer is a composite foil having a hard nickel plating layer which is a different metal layer on the surface of a copper layer.
上記硬質ニッケルメッキ層の厚みが0.5μm〜3.0μmである請求項1に記載のキャパシタ層形成用材料。 The capacitor layer forming material according to claim 1, wherein the hard nickel plating layer has a thickness of 0.5 μm to 3.0 μm. 上部電極形成に用いる第1導電層と下部電極形成に用いる第2導電層との間に誘電層を備えるプリント配線板のキャパシタ層形成材において、
第2導電層は、銅層の表面に異種金属層であるコバルトメッキ層を備える複合箔を用いたことを特徴としたキャパシタ層形成材。
In the capacitor layer forming material of the printed wiring board comprising a dielectric layer between the first conductive layer used for forming the upper electrode and the second conductive layer used for forming the lower electrode,
A capacitor layer forming material, wherein the second conductive layer is a composite foil having a cobalt plating layer which is a different metal layer on the surface of a copper layer.
上記コバルトメッキ層の厚みが0.5μm〜3.0μmである請求項3に記載のキャパシタ層形成用材料。 The capacitor layer forming material according to claim 3, wherein the cobalt plating layer has a thickness of 0.5 μm to 3.0 μm. 上部電極形成に用いる第1導電層と下部電極形成に用いる第2導電層との間に誘電層を備えるプリント配線板のキャパシタ層形成材において、
第2導電層は、銅層の表面に異種金属層であるニッケル−コバルト合金メッキ層を備える複合箔を用いたことを特徴としたキャパシタ層形成材。
In the capacitor layer forming material of the printed wiring board comprising a dielectric layer between the first conductive layer used for forming the upper electrode and the second conductive layer used for forming the lower electrode,
The second conductive layer is a capacitor layer forming material using a composite foil having a nickel-cobalt alloy plating layer which is a different metal layer on the surface of a copper layer.
上記ニッケル−コバルト合金メッキ層の厚みが0.5μm〜3.0μmである請求項5に記載のキャパシタ層形成用材料。 The material for forming a capacitor layer according to claim 5, wherein the nickel-cobalt alloy plating layer has a thickness of 0.5 μm to 3.0 μm. 上部電極形成に用いる第1導電層と下部電極形成に用いる第2導電層との間に誘電層を備えるプリント配線板のキャパシタ層形成材において、
第2導電層は、銅層の表面にコバルトメッキ層/硬質ニッケルメッキ層が順次積層された2層の異種金属層を備える複合箔を用いたことを特徴としたキャパシタ層形成材。
In the capacitor layer forming material of the printed wiring board comprising a dielectric layer between the first conductive layer used for forming the upper electrode and the second conductive layer used for forming the lower electrode,
A capacitor layer forming material, wherein the second conductive layer is a composite foil comprising two dissimilar metal layers in which a cobalt plating layer / hard nickel plating layer are sequentially laminated on the surface of a copper layer.
上記コバルトメッキ層の厚みが0.1μm〜0.5μm、上記硬質ニッケルメッキ層の厚みが0.3μm〜2.0μmである請求項7に記載のキャパシタ層形成用材料。 The material for forming a capacitor layer according to claim 7, wherein the cobalt plating layer has a thickness of 0.1 µm to 0.5 µm, and the hard nickel plating layer has a thickness of 0.3 µm to 2.0 µm. 上部電極形成に用いる第1導電層と下部電極形成に用いる第2導電層との間に誘電層を備えるプリント配線板のキャパシタ層形成材において、
第2導電層は、銅層の表面に鉄メッキ層/硬質ニッケルメッキ層の順次積層された2層の異種金属層を備える複合箔を用いたことを特徴としたキャパシタ層形成材。
In the capacitor layer forming material of the printed wiring board comprising a dielectric layer between the first conductive layer used for forming the upper electrode and the second conductive layer used for forming the lower electrode,
A capacitor layer forming material, wherein the second conductive layer is a composite foil comprising two dissimilar metal layers in which an iron plating layer / hard nickel plating layer are sequentially laminated on the surface of a copper layer.
上記鉄メッキ層の厚みが0.1μm〜0.5μm、上記硬質ニッケルメッキ層の厚みが0.3μm〜2.0μmである請求項9に記載のキャパシタ層形成用材料。 The material for forming a capacitor layer according to claim 9, wherein the iron plating layer has a thickness of 0.1 μm to 0.5 μm, and the hard nickel plating layer has a thickness of 0.3 μm to 2.0 μm. 上部電極形成に用いる第1導電層と下部電極形成に用いる第2導電層との間に誘電層を備えるプリント配線板のキャパシタ層形成材において、
第2導電層は、銅層の表面に第1コバルトメッキ層/硬質ニッケルメッキ層/第2コバルトメッキ層の順次積層された3層の異種金属層を備える複合箔を用いたことを特徴としたキャパシタ層形成材。
In the capacitor layer forming material of the printed wiring board comprising a dielectric layer between the first conductive layer used for forming the upper electrode and the second conductive layer used for forming the lower electrode,
The second conductive layer is made of a composite foil having three different metal layers laminated in order of the first cobalt plating layer / hard nickel plating layer / second cobalt plating layer on the surface of the copper layer. Capacitor layer forming material.
上記第1コバルトメッキ層の厚みが0.1μm〜0.5μm、上記硬質ニッケルメッキ層の厚みが0.3μm〜2.0μm、第2コバルトメッキ層の厚みが0.1μm〜0.5μmである請求項11に記載のキャパシタ層形成用材料。 The thickness of the first cobalt plating layer is 0.1 μm to 0.5 μm, the thickness of the hard nickel plating layer is 0.3 μm to 2.0 μm, and the thickness of the second cobalt plating layer is 0.1 μm to 0.5 μm. The material for forming a capacitor layer according to claim 11. 上部電極形成に用いる第1導電層と下部電極形成に用いる第2導電層との間に誘電層を備えるプリント配線板のキャパシタ層形成材において、
第2導電層は、銅層の表面に鉄メッキ層/硬質ニッケルメッキ層/コバルトメッキ層の順次積層された3層の異種金属層を備える複合箔を用いたことを特徴としたキャパシタ層形成材。
In the capacitor layer forming material of the printed wiring board comprising a dielectric layer between the first conductive layer used for forming the upper electrode and the second conductive layer used for forming the lower electrode,
The second conductive layer is a capacitor layer forming material comprising a composite foil having three different metal layers laminated in order of an iron plating layer / hard nickel plating layer / cobalt plating layer on the surface of a copper layer .
上記鉄メッキ層の厚みが0.1μm〜0.5μm、上記硬質ニッケルメッキ層の厚みが0.3μm〜2.0μm、コバルトメッキ層の厚みが0.1μm〜0.5μmである請求項13に記載のキャパシタ層形成用材料。 The thickness of the iron plating layer is 0.1 μm to 0.5 μm, the thickness of the hard nickel plating layer is 0.3 μm to 2.0 μm, and the thickness of the cobalt plating layer is 0.1 μm to 0.5 μm. The capacitor layer forming material as described. 上記銅層は、電解銅箔又は圧延銅箔を用いたものであり、当該銅箔の公称厚さが9μm〜35μmである請求項1〜請求項14のいずれかに記載のキャパシタ層形成用材料。 The said copper layer uses electrolytic copper foil or rolled copper foil, and the nominal thickness of the said copper foil is 9 micrometers-35 micrometers, The material for capacitor layer formation in any one of Claims 1-14 . 本件発明に係るキャパシタ層形成材の第2導電層に用いる銅層表面に異種金属層として硬質ニッケルメッキ層を備える複合箔の製造方法であって、
銅箔を、下記組成の硬質ニッケル電解メッキ浴に浸漬し、下記電解条件で電解メッキを行い、硬質ニッケルメッキ層を形成することを特徴とする複合箔の製造方法。
NiSO・6HO 100g/l〜180g/l
NHCl濃度 20g/l〜30g/l
BO濃度 20g/l〜60g/l
液 温 20℃〜50℃
pH 3〜5
電流密度 1A/dm〜50A/dm
攪 拌 あり
A method for producing a composite foil comprising a hard nickel plating layer as a different metal layer on the surface of a copper layer used for the second conductive layer of the capacitor layer forming material according to the present invention,
A method for producing a composite foil, comprising immersing a copper foil in a hard nickel electrolytic plating bath having the following composition and performing electrolytic plating under the following electrolysis conditions to form a hard nickel plating layer.
NiSO 4 · 6H 2 O 100g / l~180g / l
NH 4 Cl concentration 20 g / l to 30 g / l
H 3 BO 3 concentration 20 g / l to 60 g / l
Liquid temperature 20 ℃ ~ 50 ℃
pH 3-5
Current density 1 A / dm 2 to 50 A / dm 2
There is stirring
本件発明に係るキャパシタ層形成材の第2導電層に用いる銅層表面に異種金属層としてコバルトメッキ層を備える複合箔の製造方法であって、
銅箔を、下記組成の硫酸コバルト電解メッキ浴に浸漬し、下記電解条件で電解メッキを行い、コバルトメッキ層を形成することを特徴とする複合箔の製造方法。
CoSO・7HO 120g/l〜200g/l
BO 25g/l〜50g/l
液 温 20℃〜50℃
pH 2〜5
電流密度 1A/dm〜50A/dm
攪 拌 あり
A method for producing a composite foil comprising a cobalt plating layer as a dissimilar metal layer on the surface of a copper layer used for the second conductive layer of the capacitor layer forming material according to the present invention,
A method for producing a composite foil, comprising immersing a copper foil in a cobalt sulfate electrolytic plating bath having the following composition, and performing electrolytic plating under the following electrolytic conditions to form a cobalt plating layer.
CoSO 4 · 7H 2 O 120 g / l to 200 g / l
H 3 BO 3 25 g / l to 50 g / l
Liquid temperature 20 ℃ ~ 50 ℃
pH 2-5
Current density 1 A / dm 2 to 50 A / dm 2
There is stirring
前記硫酸コバルト電解メッキ浴が、0.05g/l〜0.3g/lの濃度で凝集剤を含むことを特徴とする請求項17に記載の複合箔の製造方法。 The method for producing a composite foil according to claim 17, wherein the cobalt sulfate electroplating bath contains a flocculant at a concentration of 0.05 g / l to 0.3 g / l. 本件発明に係るキャパシタ層形成材の第2導電層に用いる銅層表面に異種金属層としてニッケル−コバルト合金メッキ層を備える複合箔の製造方法であって、
銅箔を、下記組成のニッケル−コバルト合金電解メッキ浴に浸漬し、下記電解条件で電解メッキを行い、ニッケル−コバルト合金メッキ層を形成することを特徴とする複合箔の製造方法。
NiSO・6HO 100g/l〜200g/l
NiCl・6HO 30g/l〜50g/l
CoSO・7HO 10g/l〜30g/l
BO 20g/l〜40g/l
液 温 20℃〜50℃
pH 2〜5
電流密度 1A/dm〜25A/dm
攪 拌 あり
A method for producing a composite foil comprising a nickel-cobalt alloy plating layer as a dissimilar metal layer on the surface of a copper layer used for the second conductive layer of the capacitor layer forming material according to the present invention,
A method for producing a composite foil, comprising immersing a copper foil in a nickel-cobalt alloy electroplating bath having the following composition, and performing electroplating under the following electrolysis conditions to form a nickel-cobalt alloy plating layer.
NiSO 4 · 6H 2 O 100g / l~200g / l
NiCl 2 · 6H 2 O 30 g / l to 50 g / l
CoSO 4 · 7H 2 O 10 g / l to 30 g / l
H 3 BO 3 20 g / l to 40 g / l
Liquid temperature 20 ℃ ~ 50 ℃
pH 2-5
Current density 1 A / dm 2 to 25 A / dm 2
There is stirring
本件発明に係るキャパシタ層形成材の第2導電層に用いる銅層表面に異種金属層としてコバルトメッキ層/硬質ニッケルメッキ層を備える複合箔の製造方法であって、
銅箔を、下記A.の組成の硫酸コバルト電解メッキ浴に浸漬し、下記A.の電解条件で電解メッキを行い、コバルトメッキ層を形成した後、下記B.の組成の硬質ニッケル電解メッキ浴に浸漬し、下記B.の電解条件で電解メッキを行い、硬質ニッケルメッキ層を形成することを特徴とする複合箔の製造方法。
[A.組成、電解条件]
CoSO・7HO 120g/l〜200g/l
BO 25g/l〜50g/l
液 温 20℃〜50℃
pH 2〜5
電流密度 1A/dm〜50A/dm
攪 拌 あり
[B.組成、電解条件]
NiSO・6HO 100g/l〜180g/l
NHCl濃度 20g/l〜30g/l
BO濃度 20g/l〜60g/l
液 温 20℃〜50℃
pH 4〜5
電流密度 1A/dm〜50A/dm
攪 拌 あり
A method for producing a composite foil comprising a cobalt plating layer / hard nickel plating layer as a different metal layer on the surface of a copper layer used for the second conductive layer of the capacitor layer forming material according to the present invention,
The copper foil was bonded to the following A. And immersed in a cobalt sulfate electrolytic plating bath having the following composition: After the electrolytic plating is performed under the electrolytic conditions, and the cobalt plating layer is formed, the following B. A hard nickel electrolytic plating bath having the composition of A method for producing a composite foil, characterized in that a hard nickel plating layer is formed by electrolytic plating under the electrolysis conditions of:
[A. Composition, electrolysis conditions]
CoSO 4 · 7H 2 O 120 g / l to 200 g / l
H 3 BO 3 25 g / l to 50 g / l
Liquid temperature 20 ℃ ~ 50 ℃
pH 2-5
Current density 1 A / dm 2 to 50 A / dm 2
Stirring [B. Composition, electrolysis conditions]
NiSO 4 · 6H 2 O 100g / l~180g / l
NH 4 Cl concentration 20 g / l to 30 g / l
H 3 BO 3 concentration 20 g / l to 60 g / l
Liquid temperature 20 ℃ ~ 50 ℃
pH 4-5
Current density 1 A / dm 2 to 50 A / dm 2
There is stirring
前記硫酸コバルト電解メッキ浴が、0.05g/l〜0.3g/lの濃度で凝集剤を含むことを特徴とする請求項20に記載の複合箔の製造方法。 The method for producing a composite foil according to claim 20, wherein the cobalt sulfate electroplating bath contains a flocculant at a concentration of 0.05 g / l to 0.3 g / l. 本件発明に係るキャパシタ層形成材の第2導電層に用いる銅層表面に異種金属層として鉄メッキ層/硬質ニッケルメッキ層を備える複合箔の製造方法であって、
銅箔を、下記A.の組成の硫酸鉄電解メッキ浴に浸漬し、下記A.の電解条件で電解メッキを行い、鉄メッキ層を形成した後、下記B.の組成の硬質ニッケル電解メッキ浴に浸漬し、下記B.の電解条件で電解メッキを行い、硬質ニッケルメッキ層を形成することを特徴とする複合箔の製造方法。
[A.組成、電解条件]
FeSO・7HO 100g/l〜200g/l
BO 20g/l〜50g/l
液 温 20℃〜50℃
pH 2〜5
電流密度 1A/dm〜30A/dm
攪 拌 あり
[B.組成、電解条件]
NiSO・6HO 100g/l〜180g/l
NHCl濃度 20g/l〜30g/l
BO濃度 20g/l〜60g/l
液 温 20℃〜50℃
pH 4〜5
電流密度 1A/dm〜50A/dm
攪 拌 あり
A method for producing a composite foil comprising an iron plating layer / hard nickel plating layer as a dissimilar metal layer on the surface of the copper layer used for the second conductive layer of the capacitor layer forming material according to the present invention,
The copper foil was bonded to the following A. And immersed in an iron sulfate electroplating bath having the following composition: After the electrolytic plating is performed under the electrolytic conditions, and the iron plating layer is formed, the following B. A hard nickel electrolytic plating bath having the composition of A method for producing a composite foil, characterized in that a hard nickel plating layer is formed by electrolytic plating under the electrolysis conditions of:
[A. Composition, electrolysis conditions]
FeSO 4 · 7H 2 O 100 g / l to 200 g / l
H 3 BO 3 20 g / l to 50 g / l
Liquid temperature 20 ℃ ~ 50 ℃
pH 2-5
Current density 1 A / dm 2 to 30 A / dm 2
Stirring [B. Composition, electrolysis conditions]
NiSO 4 · 6H 2 O 100g / l~180g / l
NH 4 Cl concentration 20 g / l to 30 g / l
H 3 BO 3 concentration 20 g / l to 60 g / l
Liquid temperature 20 ℃ ~ 50 ℃
pH 4-5
Current density 1 A / dm 2 to 50 A / dm 2
There is stirring
前記硫酸鉄電解メッキ浴が、0.05g/l〜0.3g/lの濃度で凝集剤を含むことを特徴とする請求項22に記載の複合箔の製造方法。 The method for producing a composite foil according to claim 22, wherein the iron sulfate electroplating bath contains a flocculant at a concentration of 0.05 g / l to 0.3 g / l. 本件発明に係るキャパシタ層形成材の第2導電層に用いる銅層表面に異種金属層として第1コバルトメッキ層/硬質ニッケルメッキ層/第2コバルトメッキ層を備える複合箔の製造方法であって、
銅箔を、下記A.の組成の硫酸コバルト電解メッキ浴に浸漬し、下記A.の電解条件で電解メッキを行い、第1コバルトメッキ層を形成した後、下記B.の組成の硬質ニッケル電解メッキ浴に浸漬し、下記B.の電解条件で電解メッキを行い、硬質ニッケルメッキ層を形成し、更に下記A.の組成の硫酸コバルト電解メッキ浴に浸漬し、下記A.の電解条件で電解メッキを行い、第2コバルトメッキ層を形成することを特徴とする複合箔の製造方法。
[A.組成、電解条件]
CoSO・7HO 120g/l〜200g/l
BO 25g/l〜50g/l
液 温 20℃〜50℃
pH 2〜5
電流密度 1A/dm〜50A/dm
攪 拌 あり
[B.組成、電解条件]
NiSO・6HO 100g/l〜180g/l
NHCl濃度 20g/l〜30g/l
BO濃度 20g/l〜60g/l
液 温 20℃〜50℃
pH 4〜5
電流密度 1A/dm〜50A/dm
攪 拌 あり
A method for producing a composite foil comprising a first cobalt plating layer / hard nickel plating layer / second cobalt plating layer as a dissimilar metal layer on a copper layer surface used for a second conductive layer of a capacitor layer forming material according to the present invention,
The copper foil was bonded to the following A. And immersed in a cobalt sulfate electrolytic plating bath having the following composition: After the electrolytic plating is performed under the electrolytic conditions of (1) to form the first cobalt plating layer, the following B. A hard nickel electrolytic plating bath having the composition of Electrolytic plating is performed under the electrolytic conditions to form a hard nickel plating layer. And immersed in a cobalt sulfate electrolytic plating bath having the following composition: A method for producing a composite foil, wherein the second cobalt plating layer is formed by performing electrolytic plating under the electrolysis conditions of:
[A. Composition, electrolysis conditions]
CoSO 4 · 7H 2 O 120 g / l to 200 g / l
H 3 BO 3 25 g / l to 50 g / l
Liquid temperature 20 ℃ ~ 50 ℃
pH 2-5
Current density 1 A / dm 2 to 50 A / dm 2
Stirring [B. Composition, electrolysis conditions]
NiSO 4 · 6H 2 O 100g / l~180g / l
NH 4 Cl concentration 20 g / l to 30 g / l
H 3 BO 3 concentration 20 g / l to 60 g / l
Liquid temperature 20 ℃ ~ 50 ℃
pH 4-5
Current density 1 A / dm 2 to 50 A / dm 2
There is stirring
前記硫酸コバルト電解メッキ浴が、0.05g/l〜0.3g/lの濃度で凝集剤を含むことを特徴とする請求項24に記載の複合箔の製造方法。 The method for producing a composite foil according to claim 24, wherein the cobalt sulfate electrolytic plating bath contains a flocculant at a concentration of 0.05 g / l to 0.3 g / l. 本件発明に係るキャパシタ層形成材の第2導電層に用いる銅層表面に異種金属層として鉄メッキ層/硬質ニッケルメッキ層/コバルトメッキ層を備える複合箔の製造方法であって、
銅箔を、下記A.の組成の硫酸鉄電解メッキ浴に浸漬し、下記A.の電解条件で電解メッキを行い、鉄メッキ層を形成した後、下記B.の組成の硬質ニッケル電解メッキ浴に浸漬し、下記B.の電解条件で電解メッキを行い、硬質ニッケルメッキ層を形成し、更に下記C.の組成の硫酸コバルト電解メッキ浴に浸漬し、下記C.の電解条件で電解メッキを行い、コバルトメッキ層を形成することを特徴とする複合箔の製造方法。
[A.組成、電解条件]
FeSO・7HO 100g/l〜200g/l
BO 20g/l〜50g/l
液 温 20℃〜50℃
pH 2〜5
電流密度 1A/dm〜30A/dm
攪 拌 あり
[B.組成、電解条件]
NiSO・6HO 100g/l〜180g/l
NHCl濃度 20g/l〜30g/l
BO濃度 20g/l〜60g/l
液 温 20℃〜50℃
pH 4〜5
電流密度 1A/dm〜50A/dm
攪 拌 あり
[C.組成、電解条件]
CoSO・7HO 120g/l〜200g/l
BO 25g/l〜50g/l
液 温 20℃〜50℃
pH 2〜5
電流密度 1A/dm〜50A/dm
攪 拌 あり
A method for producing a composite foil comprising an iron plating layer / hard nickel plating layer / cobalt plating layer as a dissimilar metal layer on the copper layer surface used for the second conductive layer of the capacitor layer forming material according to the present invention,
The copper foil was bonded to the following A. And immersed in an iron sulfate electroplating bath having the following composition: After the electrolytic plating is performed under the electrolytic conditions, and the iron plating layer is formed, the following B. A hard nickel electrolytic plating bath having the composition of Electrolytic plating is performed under the electrolysis conditions to form a hard nickel plating layer. The following C.I. A method for producing a composite foil, characterized in that a cobalt plating layer is formed by performing electroplating under the electrolysis conditions of:
[A. Composition, electrolysis conditions]
FeSO 4 · 7H 2 O 100 g / l to 200 g / l
H 3 BO 3 20 g / l to 50 g / l
Liquid temperature 20 ℃ ~ 50 ℃
pH 2-5
Current density 1 A / dm 2 to 30 A / dm 2
Stirring [B. Composition, electrolysis conditions]
NiSO 4 · 6H 2 O 100g / l~180g / l
NH 4 Cl concentration 20 g / l to 30 g / l
H 3 BO 3 concentration 20 g / l to 60 g / l
Liquid temperature 20 ℃ ~ 50 ℃
pH 4-5
Current density 1 A / dm 2 to 50 A / dm 2
With stirring [C. Composition, electrolysis conditions]
CoSO 4 · 7H 2 O 120 g / l to 200 g / l
H 3 BO 3 25 g / l to 50 g / l
Liquid temperature 20 ℃ ~ 50 ℃
pH 2-5
Current density 1 A / dm 2 to 50 A / dm 2
There is stirring
前記硫酸コバルト電解メッキ浴が、0.05g/l〜0.3g/lの濃度で凝集剤を含むことを特徴とする請求項26に記載の複合箔の製造方法。 27. The method of manufacturing a composite foil according to claim 26, wherein the cobalt sulfate electroplating bath contains a flocculant at a concentration of 0.05 g / l to 0.3 g / l. 請求項1〜請求項15のいずれかに記載のキャパシタ層形成材を用いて得られる内蔵キャパシタ回路を備えるプリント配線板。 A printed wiring board provided with the built-in capacitor circuit obtained using the capacitor layer forming material in any one of Claims 1-15.
JP2004313137A 2004-10-27 2004-10-27 Capacitor-layer forming material, manufacturing method for composite foil used for manufacture of material, and printed-wiring board with built-in capacitor circuit obtained by using capacitor-layer forming material Pending JP2006128326A (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004313137A JP2006128326A (en) 2004-10-27 2004-10-27 Capacitor-layer forming material, manufacturing method for composite foil used for manufacture of material, and printed-wiring board with built-in capacitor circuit obtained by using capacitor-layer forming material
US11/259,354 US20060087794A1 (en) 2004-10-27 2005-10-27 Capacitor layer forming material, method of manufacturing a composite foil used where manufacturing the same, and print wiring board having a circuit where a capacitor is embedded, obtained by using the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004313137A JP2006128326A (en) 2004-10-27 2004-10-27 Capacitor-layer forming material, manufacturing method for composite foil used for manufacture of material, and printed-wiring board with built-in capacitor circuit obtained by using capacitor-layer forming material

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2006128326A true JP2006128326A (en) 2006-05-18

Family

ID=36722724

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004313137A Pending JP2006128326A (en) 2004-10-27 2004-10-27 Capacitor-layer forming material, manufacturing method for composite foil used for manufacture of material, and printed-wiring board with built-in capacitor circuit obtained by using capacitor-layer forming material

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2006128326A (en)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008078567A1 (en) * 2006-12-27 2008-07-03 Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd. Method for manufacturing material for forming capacitor layer having electrode circuit
WO2011111639A1 (en) * 2010-03-11 2011-09-15 オムロン株式会社 Composition for manufacturing contacts, and contact and connector using same
JP5022238B2 (en) * 2006-12-26 2012-09-12 三井金属鉱業株式会社 Capacitor layer forming material for multilayer printed wiring board and method for manufacturing capacitor layer forming material
WO2014057804A1 (en) * 2012-10-12 2014-04-17 三井金属鉱業株式会社 Surface-treated copper foil, method for manufacturing surface-treated copper foil, and negative electrode material for negative electrode current collector and nonaqueous secondary cell
WO2016076273A1 (en) * 2014-11-14 2016-05-19 株式会社村田製作所 Capacitor, composite electronic component and method for producing capacitor
JP2016223018A (en) * 2016-08-23 2016-12-28 三井金属鉱業株式会社 Surface treated copper foil, negative electrode power collection body, and negative material of nonaqueous secondary battery
US9574280B2 (en) 2011-12-15 2017-02-21 Omron Corporation Contact and electronic component using the same
JP2018129226A (en) * 2017-02-09 2018-08-16 三菱マテリアル株式会社 Copper terminal material and method for manufacturing the same

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5022238B2 (en) * 2006-12-26 2012-09-12 三井金属鉱業株式会社 Capacitor layer forming material for multilayer printed wiring board and method for manufacturing capacitor layer forming material
WO2008078567A1 (en) * 2006-12-27 2008-07-03 Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd. Method for manufacturing material for forming capacitor layer having electrode circuit
WO2011111639A1 (en) * 2010-03-11 2011-09-15 オムロン株式会社 Composition for manufacturing contacts, and contact and connector using same
JP4840546B2 (en) * 2010-03-11 2011-12-21 オムロン株式会社 Contact manufacturing composition, contact and connector using the same
KR101162892B1 (en) * 2010-03-11 2012-07-05 오무론 가부시키가이샤 Composition for manufacturing contacts, and contact and connector using same
US8785035B2 (en) 2010-03-11 2014-07-22 Omron Corporation Composition for manufacturing contacts, and contacts and connector using same
US9574280B2 (en) 2011-12-15 2017-02-21 Omron Corporation Contact and electronic component using the same
WO2014057804A1 (en) * 2012-10-12 2014-04-17 三井金属鉱業株式会社 Surface-treated copper foil, method for manufacturing surface-treated copper foil, and negative electrode material for negative electrode current collector and nonaqueous secondary cell
WO2016076273A1 (en) * 2014-11-14 2016-05-19 株式会社村田製作所 Capacitor, composite electronic component and method for producing capacitor
JP2016223018A (en) * 2016-08-23 2016-12-28 三井金属鉱業株式会社 Surface treated copper foil, negative electrode power collection body, and negative material of nonaqueous secondary battery
JP2018129226A (en) * 2017-02-09 2018-08-16 三菱マテリアル株式会社 Copper terminal material and method for manufacturing the same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1827064A1 (en) Capacitor layer forming material, and printed wiring board having internal capacitor layer obtained by using such capacitor layer forming material
KR101853519B1 (en) Liquid crystal polymer-copper clad laminate and copper foil used for liquid crystal polymer-copper clad laminate
JP4072431B2 (en) Copper foil for high-density ultra-fine wiring boards
US7790269B2 (en) Ultra-thin copper foil with carrier and printed wiring board using ultra-thin copper foil with carrier
WO2017179416A1 (en) Treated surface copper foil, copper foil with carrier as well as methods for manufacturing copper-clad laminate and printed circuit board using same
JP4087369B2 (en) Ultra-thin copper foil with carrier and printed wiring board
JP2005076091A (en) Method of producing ultrathin copper foil with carrier, and ultrathin copper foil with carrier produced by the production method
JP5859155B1 (en) Composite metal foil, method for producing the same, and printed wiring board
KR102118245B1 (en) Composite metal foil, copper-clad laminate using the composite metal foil, and manufacturing method of the copper-clad laminate
JP7453154B2 (en) Surface treated copper foil, copper foil with carrier, copper clad laminates and printed wiring boards
JP2007186797A (en) Method for producing ultrathin copper foil with carrier, ultrathin copper foil produced by the production method, and printed circuit board, multilayer printed circuit board and wiring board for chip on film using the ultrathin copper foil
JP2005344174A (en) Surface-treated copper foil, flexible copper-clad laminate manufactured using the same, and film carrier tape
JP2013001993A (en) Ultrathin copper foil with carrier foil and method of manufacturing the same
KR100844258B1 (en) Capacitor layer-forming material and printed circuit board having internal capacitor circuit obtained by using capacitor layer-forming material
CN104247576A (en) Two-layered flexible wiring substrate, flexible wiring board, and methods for producing same
US5447619A (en) Copper foil for the manufacture of printed circuit boards and method of producing the same
KR102441161B1 (en) Composite Copper Foil And Process for the Preparation Thereof
JP5875350B2 (en) Electrolytic copper alloy foil and electrolytic copper alloy foil with carrier foil
JP2006128326A (en) Capacitor-layer forming material, manufacturing method for composite foil used for manufacture of material, and printed-wiring board with built-in capacitor circuit obtained by using capacitor-layer forming material
KR20090084517A (en) Copper foil for printed circuit improved in thermal resistance and chemical resistance property and fabrication method thereof
JP7247015B2 (en) Electrolytic copper foil, surface-treated copper foil using the electrolytic copper foil, and copper-clad laminate and printed wiring board using the surface-treated copper foil
JP4492806B2 (en) Flexible printed wiring board
US20060087794A1 (en) Capacitor layer forming material, method of manufacturing a composite foil used where manufacturing the same, and print wiring board having a circuit where a capacitor is embedded, obtained by using the same
EP0839440A1 (en) Copper foil for the manufacture of printed circuits and method of producing same
TWI805902B (en) Surface treated copper foil, copper clad laminate and printed circuit board