JP2006120289A - 光ディスク記録再生装置のレーザー出力設定方法 - Google Patents

光ディスク記録再生装置のレーザー出力設定方法 Download PDF

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Abstract

【課題】 光学式ピックアップより照射されるレーザー光によってディスクに信号を記録する光ディスク記録再生装置のレーザー出力設定方法を提供する。
【解決手段】 ディスク1に記録されたテスト信号を読み出すとともに読み出されたRF信号をRF信号増幅回路5にて増幅した後イコライザによる周波数補正を行うことなく2値化し、2値化された信号のパルス幅を測定し、測定されたパルス幅が異常か否かに基づいてレーザー出力を設定する。
【選択図】 図1

Description

本発明は、光学式ピックアップより照射されるレーザーによってディスクに信号を記録するとともにレーザーによってディスクに記録されている信号の再生動作を行うように構成された光ディスク記録再生装置のレーザー出力設定方法に関する。
光学式ピックアップを用いてディスクに記録されている信号の再生動作を行うディスクプレーヤーが普及しているが、最近では、再生機能に加えて光学式ピックアップより照射されるレーザーによってディスクに信号を記録することが出来るように構成された光ディスク記録再生装置が商品化されている。
斯かる光ディスク記録再生装置では、レーザーによってディスク上にピットを形成するように構成されているが、レーザーの出力値が最適でなかった場合には、ピットの形状が大きすぎたり小さすぎたりすることになる。そのため、斯かる光ディスク記録再生装置に使用されるディスクには、最内周側に試し書き領域が設けられており、その試し書き領域にテスト信号をレーザー出力を変更しながら記録した後その記録されたテスト信号を再生し、その再生信号に含まれるジッタ値を測定することによって記録のためのレーザー出力を設定するようにした技術が開発されている(例えば、特許文献1参照。)。
特開2000−137918号公報
レーザー出力の設定動作は、前述したようにディスクに設けられている試し書き領域にレーザー出力を変更させてテスト信号の記録動作を行い、その記録されたテスト信号の再生信号に含まれるジッタ値の大小を測定することによって行うように構成されているが、ジッタ値の測定を行うためにはPLL回路を利用するため、PLL回路の特性による影響を受けるので不正確になるという問題がある。
また、再生されるテスト信号から記録特性の良否を判断する方法としてエラー数をカウントする方法があるが、斯かる方法では、再生されるテスト信号の長さが長くなるので、試し書き領域に記録するテスト信号の長さが必然的に長くなる。その結果、試し書き領域の範囲は規制されているのでレーザー出力を設定するための使用可能回数が少なくなるという問題がある。
本発明は、斯かる問題を解決することが出来るレーザー出力設定方法を提供しようとするものである。
本発明は、光学式ピックアップに組み込まれている光検出器から得られるRF信号を増幅するべく設けられているRF信号増幅回路より出力されるRF信号をイコライザにより周波数補正した後2値化し、2値化された信号を復調するように構成されているとともにディスクに設けられている試し書き領域にレーザー出力を変化させながらテスト信号を記録した後、記録されたテスト信号を再生することによってレーザー出力を設定するように構成された光ディスク記録再生装置において、ディスクに記録されたテスト信号を読み出すとともに読み出された信号をイコライザによる周波数補正を行うことなく2値化し、2値化された信号のパルス幅を測定し、測定されたパルス幅が異常か否かに基づいてレーザ
ー出力を設定するように構成されている。
また、本発明は、パルス幅が異常か否かの判定動作をディスクの規格にて規定されているパルス幅の最小パルス幅より狭いパルス幅にて行うように構成されている。
そして、本発明は、パルス幅が異常と判定されるパルスの発生頻度に基づいてレーザー出力を設定するように構成されている。
本発明は、光学式ピックアップに組み込まれている光検出器から得られるRF信号を増幅するべく設けられているRF信号増幅回路より出力されるRF信号をイコライザにより周波数補正した後2値化し、2値化された信号を復調するように構成されているとともにディスクに設けられている試し書き領域にレーザー出力を変化させながらテスト信号を記録した後、記録されたテスト信号を再生することによってレーザー出力を設定するように構成された光ディスク記録再生装置において、ディスクに記録されたテスト信号を読み出すとともに読み出された信号をイコライザによる周波数補正を行うことなく2値化し、2値化された信号のパルス幅を測定し、測定されたパルス幅が異常か否かに基づいてレーザー出力を設定するようにしたので、ジッタ値を利用する方法のようなPLL回路の特性による影響を受けることがないだけでなく、エラー数をカウントする方法のようにテスト信号を長く記録しなければならないという問題を解決することが出来る。
そして、本発明は、イコライザによる周波数補正されていないRF信号を2値化した信号のパルス幅を測定するようにしたので、即ち光学式ピックアップより生成されるRF信号をそのまま使用するようにしたので、ディスクより再生される信号の特性をそのまま検出することが出来るので、ディスクへの記録特性を反映したパルス幅を認識することが出来、それ故レーザー出力の設定動作を正確に行うことが出来る。
また、本発明は、パルス幅が異常か否かの判定動作をディスクの規格にて規定されているパルス幅の最小パルス幅より狭いパルス幅にて行うようにしたので、規格パルスとの区別を容易に行うことが出来、異常パルスの認識動作を正確に行うことが出来る。
そして、本発明は、パルス幅が異常と判定されるパルスの発生頻度に基づいてレーザー出力を設定するようにしたので、レーザー出力の設定を記録動作に適した値に設定することが出来る。
本発明は、光ディスクに長さの異なるピットにて記録されている信号を再生することによって得られるRF信号を2値化した信号のパルス幅を測定することによってレーザー出力の設定を行うようにされている。
図1は本発明に係る光ディスク記録再生装置の一実施例を示すブロック回路図、図2は本発明の動作を説明するための信号波形図である。
図1において、1はスピンドルモーター(図示せず)によって回転駆動されるディスク、2はディスク1に光ビームを照射させるレーザーダイオード3が組み込まれているとともにディスク1の信号面より反射される光ビームを受ける光検出器4が組み込まれている光学式ピックアップであり、ピックアップ駆動用電動機(図示せず)の回転動作によってディスク1の径方向に変位せしめられるように構成されている。
5は前記光学式ピックアップ2に組み込まれている光検出器4から得られるRF信号が入力されるとともに該信号を増幅するRF信号増幅回路、6は前記RF信号増幅回路5から出力されるRF信号が入力されるイコライザであり、RF信号の周波数特性を補正する作用を成すものである。
7は切換スイッチであり、可動端子7a、前記イコライザ6の出力端子に接続されている第1固定端子7b及び前記RF信号増幅回路5の出力端子に接続されている第2固定端子7cを備えている。8は前記切換スイッチ7を介して入力されるRF信号を2値化する2値化回路、9は前記2値化回路8から出力される信号を復調するデコーダ回路、10は前記2値化回路5によって2値化された信号のパルス幅である信号長を測定する信号長測定回路である。
11は光ディスク記録再生装置の各種の制御動作を行うシステム制御回路、12はディスク1の内周側に設けられている試し書き領域にレーザー出力の設定動作を行う場合に記録される信号であるテスト信号を生成するテスト信号生成回路、13は前記テスト信号生成回路12から出力されるテスト信号やホスト機器として接続されているパーソナルコンピューターから出力される記録信号が入力されるエンコーダ回路であり、ディスクの規格にあった記録動作を行うための信号の符号化処理を行うように構成されている。
14は前記エンコーダ回路13によって符号化処理された記録信号が入力されるレーザーダイオード駆動回路であり、記録信号に応じた駆動電流を前記光学式ピックアップ2に組み込まれているレーザーダイオード3に供給するように構成されている。15は前記システム制御回路11によって動作が制御されるレーザー出力制御回路であり、前記レーザーダイオード駆動回路14より出力される駆動電流の値を可変設定するように構成されている。
16は前記システム制御回路11によって動作が制御されるとともに前記切換スイッチ7の切換動作を行うスイッチ切換回路であり、レーザー出力の設定動作を行う状態にあるとき、図示した状態の反対側に切り換えるように構成されている。
以上の如く本発明は構成されているが、次に動作について説明する。ディスク1に記録されている信号の再生動作を行うための命令信号がホスト機器より出力されると、システム制御回路11による再生動作のための制御動作が開始される。
斯かる制御動作が行われると、スピンドルモーターに対する制御動作によってディスク1が所望の回転速度にて回転駆動されるとともに光学式ピックアップ2より照射されるレーザー光をディスク1の信号面に合焦させるフォーカシング制御動作及び信号トラックに追従させるトラッキング制御動作が行われる。そして、この場合は、レーザー出力制御回路15の働きによってレーザーダイオード駆動回路14から再生動作を行うために必要なレベルのレーザー出力がレーザーダイオード3から放射される駆動電流が該レーザーダイオード3に対して供給される。
ディスク1の信号面に照射されたレーザー光は、該信号面から反射された後前記光学式ピックアップ2に組み込まれている光検出器4に照射されて電気信号に変換される。前記光検出器4より得られる電気信号である再生信号は、高周波信号であり、RF信号増幅回路部5に入力される。前記RF信号増幅回路部5に入力されたRF信号は、イコライザ6に入力されるとともに周波数補正されることになる。
斯かる再生動作を行う状態にあるときには、スイッチ切換回路16の働きにより切換スイッチ7は図示した状態にある。従って、前記イコライザ6によって周波数補正されたR
F信号は、切換スイッチ7を通して2値化回路8に入力されるとともに該2値化回路8によって2値の信号、即ちパルス信号に整形される。そして、CDと呼ばれるディスクの場合には、得られるパルス信号の幅は、3Tから11Tまでの9種類のパルス信号となる。
ここで2値化回路8によるパルス生成動作について説明する。イコライザ6によって周波数補正されたRF信号は、アナログ信号であり、その信号を所定のスライスレベルとの比較によって2値化するようにされている。そして、前記2値化回路8が入力される信号を2値化するために設定されるスライスレベルは、システム制御回路11によって制御されるように構成されている。
前記スライスレベルの変更制御動作は、例えば規定のパルス幅3Tを基準として設定されるようにされている。即ち、ディスク1から再生される信号を2値化すると記録されている信号の規格により3Tから11Tまでのパルス信号が得られることになる。従って、規格上における最小のパルス幅である3Tの信号が得られるようにスライスレベルを変更すれば良いことになる。
2値化回路8によって2値化された信号の中から最小のパルス幅の信号を選択するとともにそのパルス幅と基準となる3Tのパルス幅とを比較し、その差を補正する方向にスライスレベルを変更する動作が行われる。即ち、再生信号から得られる3T信号のパルス幅が基準となる3T信号のパルス幅より狭い場合には、スライスレベルを低くし、反対に再生信号から得られる3T信号のパルス幅が基準となる3T信号のパルス幅より広い場合には、スライスレベルを上昇させることになる。
前記スライスレベルの変更制御動作は、規格上における最小のパルス幅であるパルス幅3Tを基準として設定するようにしたが、反対に規格上における最大のパルス幅である11Tの信号が得られるようにスライスレベルを変更するようにすることも出来る。2値化回路8によって2値化された信号の中から最大のパルス幅の信号を選択するとともにそのパルス幅と基準となる11Tのパルス幅とを比較し、その差を補正する方向にスライスレベルを変更する動作が行われる。即ち、再生信号から得られる11T信号のパルス幅が基準となる11T信号のパルス幅より狭い場合には、スライスレベルを低くし、反対に再生信号から得られる11T信号のパルス幅が基準となる11T信号のパルス幅より広い場合には、スライスレベルを上昇させることになる。
前記2値化回路8のスライスレベルを前述したように変更制御することによって規格にて決定されている3Tから11Tまでのパルス信号が生成されてデコーダ回路9に入力されることになる。その結果、前記デコーダ回路9による復調処理が行われ、所望のデータ信号やオーディオ信号がホスト機器に出力されることになる。
以上に説明したように再生動作は行われるが、次にディスク1に信号を記録する動作について説明する。ディスク1に信号を記録するための命令信号がホスト機器より出力されると、システム制御回路11による記録動作のための制御動作が開始される。
斯かる制御動作が行われると、スピンドルモーターに対する制御動作によってディスク1が所望の回転速度にて回転駆動されるとともに光学式ピックアップ2より照射されるレーザー光をディスク1の信号面に合焦させるフォーカシング制御動作及び信号トラックに追従させるトラッキング制御動作が行われる。そして、この場合は、レーザー出力制御回路15の働きによってレーザーダイオード駆動回路14から記録動作を行うために必要なレベルのレーザー出力がレーザーダイオード3から放射される駆動電流が該レーザーダイオード3に対して供給される。
ホスト機器より出力される記録信号は、インターフェース回路を通してエンコーダ回路13に入力され、該エンコード回路13によって記録動作を行うための符号化処理が行われる。記録動作を行うための符号化処理が行われた記録信号は、レーザーダイオード駆動回路14に入力され、その記録信号に対応した駆動電流がレーザーダイオード3に供給される。その結果、レーザーダイオード3から照射されるレーザー光によってディスク1の所望の位置に信号が記録されることになるが、記録されるピットの長さは3Tから11Tまでになる。従って、このように記録された信号を再生することによって3Tから11Tまでの幅を有する信号を得ることが出来、記録動作によって記録された信号の再生動作を行うことが出来る。
以上に説明したように本実施例における再生動作及び記録動作は行われるが、次に本発明の要旨であるレーザー出力の設定方法について説明する。レーザー出力の設定動作は、周知のようにディスク1の内周側に設けられている試し書き領域にレーザーの出力を変更させながらテスト信号を記録し、その記録されたテスト信号を再生することによって行われるが、本発明では次のように行われる。
システム制御回路11によってレーザー出力を設定するための制御動作が開始されるが、斯かる動作は、光学式ピックアップ2を試し書き領域のテスト信号記録位置に移動させるとともにテスト信号生成回路12からテスト信号を生成させる動作が行われる。前記テスト信号生成回路12より生成されたテスト信号は、エンコーダ回路13に入力されて符号化処理された後レーザーダイオード駆動回路14に入力される。
このようにして記録信号であるテスト信号がレーザーダイオード駆動回路14に入力されるが、該レーザーダイオード駆動回路14からレーザーダイオード3に供給される駆動電流の大きさは、レーザー出力制御回路15によって変更されながら行われる。斯かるレーザー出力の変更動作は、例えば低いレベルから高いレベルへと段階的に行われる。
斯かる動作が行われる結果、ディスク1の試し書き領域には、レーザー出力が変更されながらテスト信号が記録されることになる。レーザー出力を所定の低レベルから所定の高レベルまで変更させることによってテスト信号の記録動作が行われると、テスト信号の記録動作を終了させる。
前述したようにテスト信号の試し書き領域への記録動作は行われるが、斯かる記録動作が終了すると、テスト信号の記録動作が開始された位置に光学式ピックアップ2を移動させてテスト信号の再生動作を行う。斯かる再生動作を行うためのレーザー出力は、前述した再生動作と同様にレーザー出力制御回路15によって設定される。
ディスク1の試し書き領域に記録されているテスト信号は、光学式ピックアップ2によって再生され、その再生されたRF信号はRF信号増幅回路5に入力されて増幅されることになる。斯かるレーザー出力の設定動作を行う状態では、スイッチ切換回路16による切換動作によって切換スイッチ7は図示した状態の反対側に切り換えられた状態にある。
前記RF信号増幅回路5によって増幅された再生信号は、イコライザ6を介することなく切換スイッチ7を通して2値化回路8に入力されて2値化されることになる。そして、この場合にも前述したように2値化回路8のスライスレベルの変更制御動作が行われる。
図2は斯かる2値化回路8による2値化動作を説明するものであり、(A)はRF信号増幅回路5から出力される再生信号とスライスレベルVとの関係を示し。(B)は2値化されたパルス信号を示すものである。同図より明らかなように再生信号のレベルがスライスレベルVより高いとき高いレベルとなる2値化されたパルス信号が生成されることになる。
前述したようにスライスレベルVは、記録信号の規格上の最小パルス幅である3T信号が最小幅のパルスとして生成するように制御されるため、ディスク1に信号を記録するレーザー出力が記録動作に適している場合には、3Tから11Tの信号が生成されることになる。ところが、記録するレーザー出力が正常な記録動作を行うレーザー出力より大きい場合には、図2の(B)に示すように規格外のパルス幅である2T信号が発生し、レーザー出力が大きくなるに従って2T信号の発生頻度が次第に増加することになる。
2値化回路8によって生成されるパルス信号のパルス幅の測定動作は、信号長測定回路10によって行われるが、その測定動作は、例えばパルス間に発生するクロック信号の数をカウントすることによって簡単に測定することが出来る。このようにして信号長測定回路10によるパルス幅の測定動作が行われるが、その測定された信号はシステム制御回路11に入力されることになる。
前記システム制御回路11は、入力される信号長測定回路10から出力される測定信号に基づいて規格外のパルス幅である2T信号の発生頻度を所定時間内にカウントされる数に基づいて認識し、その発生頻度が高い再生信号を記録したレーザー出力は記録動作を行うために適していないと判断することが出来る。従って、規格外のパルス幅である2T信号の発生頻度を認識することによってレーザー出力の適否を判定することが出来るので、レーザー出力の設定動作を行うことが出来る。
そして、システム制御回路11内にメモリー素子を設け、そのメモリー素子にディスクの種類や記録速度に応じた2T信号の発生検出レベルを前以て記憶させておけば使用されるディスクや記録速度に最適なレーザー出力を設定するための動作を行うことが出来る。また、2T信号の発生頻度が記録動作に適していない頻度になったレーザー出力よりどの程度出力レベルを下げたら記録動作を行うために適したレーザー出力になるか等のデータをディスクの種類や記録速度に対応させて前記メモリー素子に記憶させておけば最適なレーザー出力の設定動作を行うことが出来る。
本発明に係る光ディスク記録再生装置の一実施例を示すブロック回路図である。 本発明の動作を説明するための信号波形図である。
符号の説明
1 光ディスク
2 光学式ピックアップ
3 レーザーダイオード
4 光検出器
5 RF信号増幅回路
6 イコライザ
7 切換スイッチ
8 2値化回路
10 信号長測定回路
11 システム制御回路
12 テスト信号生成回路
14 レーザーダイオード駆動回路
15 レーザー出力制御回路

Claims (3)

  1. 光学式ピックアップに組み込まれている光検出器から得られるRF信号を増幅するべく設けられているRF信号増幅回路より出力されるRF信号をイコライザにより周波数補正した後2値化し、2値化された信号を復調するように構成されているとともにディスクに設けられている試し書き領域にレーザー出力を変化させながらテスト信号を記録した後、記録されたテスト信号を再生することによってレーザー出力を設定するように構成された光ディスク記録再生装置のレーザー出力設定方法であり、ディスクに記録されたテスト信号を読み出すとともに読み出された信号をイコライザによる周波数補正を行うことなく2値化し、2値化された信号のパルス幅を測定し、測定されたパルス幅が異常か否かに基づいてレーザー出力を設定するようにしたことを特徴とする光ディスク記録再生装置のレーザー出力設定方法。
  2. パルス幅が異常か否かの判定動作をディスクの規格にて規定されているパルス幅の最小パルス幅より狭いパルス幅にて行うようにしたことを特徴とする請求項1に記載のレーザー出力設定方法。
  3. パルス幅が異常と判定されるパルスの発生頻度に基づいてレーザー出力を設定するようにしたことを特徴とする請求項1に記載のレーザー出力設定方法。
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JP2011210371A (ja) * 2011-07-29 2011-10-20 Hitachi Ltd 光ディスク記録装置、および、光ディスク記録方法。

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