JP2006114093A - Lamination apparatus of disk substrate and lamination method - Google Patents

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秀男 山下
Hiroyuki Sugimoto
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a lamination apparatus of disk substrates and a lamination method by which width of an adhesive layer can be formed surely, uniformly, and stably with a comparatively simple mechanism, width of an outer peripheral part can be adjusted surely and simply. <P>SOLUTION: When a disk substrate 20 and a disk substrate 21 to which an adhesive 35 and an adhesive 38 are coated respectively to lamination planes by spin coat are laminated together, the outer peripheral part of the disk substrate 20 is pressed stepwise to the radial direction from the outer peripheral side so that an inner peripheral ring 52 presses after an outer peripheral ring 51. The disk substrate 20 is bent by pressure of the outer peripheral ring, bubbles mixed in the adhesive layer are pressed out toward the inner peripheral side. Also, width of the adhesive extended thickly toward the outer peripheral part from the inner peripheral part by spin coat is uniformalized by pressing the inner side of the outer peripheral part. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

この発明は、ディスク基板の貼り合わせ装置および貼り合わせ方法に関し、特に、内径が異なる2枚のディスク基板を貼り合わせて作製されるディスク状記録媒体の製造に使用して好適なディスク基板の貼り合わせ装置および貼り合わせ方法に関する。   BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a disk substrate bonding apparatus and a bonding method, and in particular, a disk substrate bonding suitable for use in manufacturing a disk-shaped recording medium manufactured by bonding two disk substrates having different inner diameters. The present invention relates to an apparatus and a bonding method.

現在、CD(Compact Disc)、MD(Mini Disc)、DVD(Digital Versatile Disc)などの光ディスクが利用されている。光ディスクは、例えば、以下のように製造される。まず、射出成形法でポリカーボネートなどの合成樹脂材料から、平面円環状のディスク基板を成形する。次に、成形されたディスク基板の主面上に、スパッタリング法により記録層となる反射膜を成膜する。例えば、CDやMDは、この形成された記録層を覆うようにディスク基板の主面上に保護層を設けることで作製され、単層DVDは、この記録層が形成されたディスク基板にダミーのディスク基板を貼り合わせることで作製され、2層DVDは、2種類の膜材により作製された2枚のディスク基板を、中間層となる接着剤により貼り合わせることで作製される。   Currently, optical discs such as CD (Compact Disc), MD (Mini Disc), and DVD (Digital Versatile Disc) are used. The optical disc is manufactured as follows, for example. First, a planar annular disk substrate is formed from a synthetic resin material such as polycarbonate by an injection molding method. Next, a reflective film to be a recording layer is formed on the main surface of the molded disk substrate by a sputtering method. For example, a CD or MD is manufactured by providing a protective layer on the main surface of a disk substrate so as to cover the formed recording layer, and a single-layer DVD is a dummy on the disk substrate on which the recording layer is formed. A two-layer DVD is manufactured by bonding together a disk substrate, and two disk substrates manufactured using two types of film materials are bonded together using an adhesive serving as an intermediate layer.

ディスク基板同士を貼り合わせる光ディスクの製造における貼り合わせ工程では、ディスク基板間に介在する接着剤層の厚みの均一化、接着剤層への気泡の混入の防止、偏心を防止するための芯出しなど高度な技術が要求される。   In the laminating process in the manufacture of optical discs that bond disc substrates together, the thickness of the adhesive layer interposed between the disc substrates is made uniform, bubbles are prevented from entering the adhesive layer, centering to prevent eccentricity, etc. Advanced technology is required.

例えば、スピンコータを使用してディスク基板の貼り合わせ面上にUV硬化型樹脂や感圧型樹脂などの接着剤を展延して他のディスク基板を貼り合わせる方法が知られている。しかしながら、スピンコートによる接着剤の展延では、接着剤層を精度よく均等な厚みとすることが困難であった。例えば、センターホールを有するディスク基板の内周部に液状の接着剤を滴下して、滴下した接着剤をスピンコートで展延すると、接着剤の厚みが内周部から外周部に向かって厚くなってしまう。   For example, a method is known in which an adhesive such as a UV curable resin or a pressure-sensitive resin is spread on a bonding surface of a disk substrate using a spin coater to bond another disk substrate. However, in the spread of the adhesive by spin coating, it has been difficult to make the adhesive layer have a uniform thickness with high accuracy. For example, when a liquid adhesive is dropped on the inner periphery of a disk substrate having a center hole, and the dropped adhesive is spread by spin coating, the thickness of the adhesive increases from the inner periphery toward the outer periphery. End up.

そこで、例えば下記の特許文献1には、重ね合わせた2枚のディスク基板の外周部を加熱して、ディスク基板間の接着剤をスピンコートで展延することで、内外周での接着剤層の厚みを均一化することが記載されている。   Therefore, for example, in Patent Document 1 below, the outer peripheral portion of two stacked disc substrates is heated, and the adhesive layer between the disc substrates is spread by spin coating, so that the adhesive layer on the inner and outer periphery is spread. It is described that the thickness is uniform.

特開2000−228038号公報JP 2000-228038 A

また、例えば下記の特許文献2には、ディスク基板のピット面の反射膜上に紫外線硬化樹脂をスピンコートで展延して保護膜を形成し、形成した保護膜を挟んで他のディスク基板を貼り合わせる際に、ディスク基板の外周部付近を押圧してから全面を押圧することで、保護膜の厚みムラを均一にすることが記載されている。   Also, for example, in Patent Document 2 below, a protective film is formed by spreading an ultraviolet curable resin by spin coating on a reflective film on a pit surface of a disk substrate, and another disk substrate is sandwiched between the formed protective films. It describes that the thickness unevenness of the protective film can be made uniform by pressing the entire periphery of the disk substrate and then pressing the entire surface when bonding.

特許第2777552号公報Japanese Patent No. 2777552

しかしながら、上述した特許文献1に記載の外周部を加熱する方式は、ディスク基板上の意図した狭いエリアを温調することが困難であり、特に、サイズが小さいディスク基板の貼り合わせへの適用は困難である。また、ディスク基板の外周部に加える熱がディスク基板のスキューに大きな影響を与えるため、特に、厚みが薄いディスク基板の貼り合わせに適用するのは困難であるという問題点があった。   However, the method of heating the outer peripheral portion described in Patent Document 1 described above is difficult to control the temperature of an intended narrow area on the disk substrate, and is particularly applicable to bonding of disk substrates having a small size. Have difficulty. Further, since the heat applied to the outer peripheral portion of the disk substrate has a great influence on the skew of the disk substrate, there is a problem that it is particularly difficult to apply to bonding of disk substrates having a small thickness.

また、上述した特許文献2に記載されている厚みムラの均一化は、ディスク基板の外周端に表面張力で発生する保護膜の盛り上がりを改善するためのものであり、スピンコートによって、内周部から外周部に向かって厚く展延されてしまう接着剤の厚みを均一化するものではなかった。   Further, the uniformity of thickness unevenness described in Patent Document 2 described above is for improving the swell of the protective film generated by surface tension at the outer peripheral edge of the disk substrate. It did not equalize the thickness of the adhesive that would be thickly extended from the outer periphery to the outer periphery.

したがって、この発明の目的は、比較的簡便な機構で確実に接着剤層の厚みを均一に安定して形成することができ、外周部の厚みの調整を正確に簡単に行えるディスク基板の貼り合わせ装置および貼り合わせ方法を提供することにある。   Accordingly, an object of the present invention is to bond disk substrates that can be formed stably and uniformly with a relatively simple mechanism, and the thickness of the outer peripheral portion can be adjusted accurately and easily. An object is to provide an apparatus and a bonding method.

上記目的を達成するために、第1の発明は、少なくとも一方の貼り合わせ面にスピンコートによって接着剤が展延された第1および第2のディスク基板を貼り合わせるディスク基板の貼り合わせ装置において、軸方向に移動可能であり、第1のディスク基板および第1のディスク基板よりも内径が小さい第2のディスク基板が嵌入される段差状のセンターピンと、第1のディスク基板および第2のディスク基板の貼り合わせ面が対向するように、第1および第2のディスク基板を順次センターピンに嵌入して載置テーブル上に配置する配置手段と、配置手段によって配置された第2のディスク基板の外周部を、載置テーブルに向かって外周側から径方向に段階的に押圧する押圧手段とを有することを特徴とするディスク基板の貼り合わせ装置である。   To achieve the above object, the first invention is a disc substrate laminating apparatus for laminating the first and second disc substrates in which an adhesive is spread on at least one laminating surface by spin coating. A step-shaped center pin into which a first disk substrate and a second disk substrate having an inner diameter smaller than the first disk substrate are movable, and the first disk substrate and the second disk substrate. Placing means for sequentially placing the first and second disk substrates into the center pin and placing them on the mounting table so that the bonding surfaces of the two face each other, and the outer periphery of the second disk substrate placed by the placing means A disk substrate laminating apparatus, comprising: a pressing unit configured to press the portion stepwise in a radial direction from the outer peripheral side toward the mounting table. A.

また、第2の発明は、少なくとも一方の貼り合わせ面にスピンコートによって接着剤が展延された内径が異なる第1および第2のディスク基板を貼り合わせるディスク基板の貼り合わせ方法において、軸方向に移動可能であり、第1のディスク基板および第1のディスク基板よりも内径が小さい第2のディスク基板が嵌入される段差状のセンターピンに、第1のディスク基板および第2のディスク基板の貼り合わせ面が対向するように、第1および第2のディスク基板を順次嵌入して載置テーブル上に配置するステップと、載置テーブルに配置された第2のディスク基板の外周部を、載置テーブルに向かって外周側から径方向に段階的に押圧するステップとを有することを特徴とするディスク基板の貼り合わせ方法である。   According to a second aspect of the present invention, there is provided a disc substrate laminating method in which an adhesive is spread on at least one laminating surface by spin coating, and the first and second disc substrates having different inner diameters are bonded in the axial direction. The first disk substrate and the second disk substrate are attached to a step-shaped center pin into which the first disk substrate and the second disk substrate having a smaller inner diameter than the first disk substrate are inserted. The step of sequentially inserting the first and second disk substrates and arranging them on the mounting table so that the mating surfaces face each other, and the outer peripheral portion of the second disk substrate arranged on the mounting table are mounted. And a step of stepwise pressing in a radial direction from the outer peripheral side toward the table.

この発明によれば、載置テーブル上に配置した第2のディスク基板の外周部を、載置テーブルに向かって外周側から径方向に段階的に押圧することで、外周部の外側が線接触により押圧されてから外周部の内側が押圧される。これによって、貼り合わせの際に接着剤層に混入した気泡が内周側に向かって押し出される。また、外周部の内側を押圧することで、スピンコートによって内周部から外周部に向かって厚く展延される接着剤の厚みを均一化することができる。   According to the present invention, the outer periphery of the second disk substrate disposed on the mounting table is pressed in a radial direction from the outer periphery toward the mounting table, so that the outside of the outer periphery is in line contact. The inner side of the outer peripheral portion is pressed after being pressed by. Thereby, the bubbles mixed in the adhesive layer at the time of bonding are pushed out toward the inner peripheral side. Further, by pressing the inside of the outer peripheral portion, the thickness of the adhesive that is thickly extended from the inner peripheral portion to the outer peripheral portion by spin coating can be made uniform.

ディスク基板の形状が小さい場合や薄い場合であっても、外周部を押圧するだけでよいので、比較的簡便な機構で確実に接着剤層の厚みを均一に安定して形成することができる。また、押圧力を適宜設定することで、外周部の厚みの調整を正確に簡単に行うことができる。   Even if the shape of the disk substrate is small or thin, it is only necessary to press the outer peripheral portion, so that the thickness of the adhesive layer can be reliably and uniformly formed with a relatively simple mechanism. Further, the thickness of the outer peripheral portion can be adjusted accurately and easily by appropriately setting the pressing force.

以下、この発明の一実施形態によるディスク基板の貼り合わせ装置および貼り合わせ方法について、図面を参照して説明する。図1は、この発明の一実施形態を適用した貼り合わせ型光ディスクの製造装置の構成の一例である。また、図2は、その製造装置における処理の流れの一例を示すフローチャートである。   Hereinafter, a disk substrate bonding apparatus and a bonding method according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is an example of the configuration of a bonded optical disk manufacturing apparatus to which an embodiment of the present invention is applied. FIG. 2 is a flowchart showing an example of a processing flow in the manufacturing apparatus.

成形装置1は、平面円環状の2枚のディスク基板を成形するキャビティを有している。キャビティは、例えば固定金型と可動金型からなる開閉可能な金型で構成されている。成形装置1は、射出成形法により、ポリカーボネートなどの合成樹脂材料からなる、外径が同一で内径の異なる2枚のディスク基板を成形する。以下、内径が小さい方のディスク基板を小径ディスク基板と称し、内径が大きい方のディスク基板を大径ディスク基板と称する。また、小径ディスク基板および大径ディスク基板をまとめて2枚のディスク基板と称する。   The molding apparatus 1 has a cavity for molding two planar annular disk substrates. The cavity is composed of a mold that can be opened and closed, for example, consisting of a fixed mold and a movable mold. The molding apparatus 1 molds two disc substrates made of a synthetic resin material such as polycarbonate and having the same outer diameter and different inner diameters by an injection molding method. Hereinafter, a disk substrate having a smaller inner diameter is referred to as a small diameter disk substrate, and a disk substrate having a larger inner diameter is referred to as a large diameter disk substrate. The small diameter disk substrate and the large diameter disk substrate are collectively referred to as two disk substrates.

なお、これら2枚のディスク基板を成形する各々のキャビティの一主面には、異なった情報のピットを形成するスタンパが取り付けられており、これら2枚のディスク基板の一主面上には、信号記録面が設けられるように、それぞれスタンパによって転写された微細な凹みによるピットが形成される。   A stamper for forming pits of different information is attached to one main surface of each cavity for molding these two disk substrates. On one main surface of these two disk substrates, Pits are formed by fine dents transferred by the stamper so that the signal recording surface is provided.

基板成形工程は、成形装置1によって、これら2枚のディスク基板を成形する(ステップS1)。成形装置1で成形されたディスク基板は、取り出し機2によって、冷却装置3に搬送される。   In the substrate forming step, the two disk substrates are formed by the forming apparatus 1 (step S1). The disk substrate molded by the molding apparatus 1 is conveyed to the cooling apparatus 3 by the take-out machine 2.

取り出し機2は、ディスク基板を保持可能な取り出し用のアームを有している。取り出し機2は、このアームを、例えば成形装置1のキャビティを構成する金型の開閉と同期するように制御し、成形された2枚のディスク基板をキャビティから取り出し、冷却装置3に搬送する。なお、2枚のディスク基板をキャビティから同時に取り出す機構とすることで、効率化を図ることができる。   The take-out machine 2 has a take-out arm that can hold the disk substrate. The take-out machine 2 controls this arm so as to synchronize with the opening and closing of the mold that constitutes the cavity of the molding apparatus 1, for example, and takes out the two formed disk substrates from the cavity and conveys them to the cooling apparatus 3. It should be noted that the efficiency can be improved by adopting a mechanism for simultaneously taking out two disk substrates from the cavity.

冷却装置3は、取り出し機2から2枚のディスク基板を受け取る機構を有している。なお、2枚のディスク基板を同時に受け取る機構とすることで、効率化を図ることができる。冷却装置3は、さらに、ディスク基板を冷却する機構と、ディスク基板を所定の枚数(例えば3〜20枚)だけ蓄える機構と、次工程(成膜工程)の処理を行う成膜装置で、反射膜をディスク基板に付加する機構に適合する方向にディスク面の向きを合わせる機構と、ディスク基板を投入された順番に次工程(成膜工程)に時間調整して渡す機構とを有している。例えば、投入されたディスク基板を次工程(成膜工程)に渡す時間は、最も早い場合で、前工程(基板成形工程)での基板成形の1サイクル分の時間とし、最も遅い場合で、基板成形のサイクル時間とストレージ可能数とを乗算した時間とする。   The cooling device 3 has a mechanism for receiving two disk substrates from the take-out machine 2. It should be noted that the efficiency can be improved by adopting a mechanism for simultaneously receiving two disk substrates. The cooling device 3 further includes a mechanism for cooling the disk substrate, a mechanism for storing a predetermined number of disk substrates (for example, 3 to 20 sheets), and a film forming apparatus for performing the next process (film forming process). It has a mechanism that aligns the orientation of the disk surface in a direction that matches the mechanism that adds the film to the disk substrate, and a mechanism that adjusts the time to the next process (film formation process) in the order in which the disk substrates are loaded. . For example, the time for passing the input disk substrate to the next process (film forming process) is the earliest, and is the time for one cycle of substrate molding in the previous process (substrate forming process), and the latest is the substrate. A time obtained by multiplying the molding cycle time by the number of storages possible.

冷却工程は、基板成形工程で成形されたディスク基板を、冷却装置3によって冷却する(ステップS2)。冷却装置3によって冷却されたディスク基板は、第1の搬送用アーム4によって、成膜装置に搬送される。小径ディスク基板は、第1の成膜装置5に搬送され、大径ディスク基板は、第2の成膜装置6に搬送される。   In the cooling process, the disk substrate molded in the substrate molding process is cooled by the cooling device 3 (step S2). The disk substrate cooled by the cooling device 3 is transferred to the film forming apparatus by the first transfer arm 4. The small diameter disk substrate is transported to the first film forming apparatus 5, and the large diameter disk substrate is transported to the second film forming apparatus 6.

第1の搬送用アーム4は、冷却装置3から、2枚のディスク基板を取り出す機構を有している。なお、2枚のディスク基板を同時に取り出す機構とすることで、効率化を図ることができる。また、第1の搬送用アーム4は、取り出した2枚のディスク基板を、次工程(成膜工程)の処理を行う成膜装置に搬送し、冷却装置3からのディスク基板の取り出し位置に戻る機構を有している。なお、2枚のディスク基板を、それぞれ同時に搬送する機構とすることで、効率化を図ることができる。   The first transfer arm 4 has a mechanism for taking out two disk substrates from the cooling device 3. In addition, efficiency can be achieved by using a mechanism for simultaneously taking out two disk substrates. Further, the first transfer arm 4 transfers the two disc substrates taken out to the film forming apparatus for performing the next process (film forming process), and returns to the disk substrate extraction position from the cooling device 3. It has a mechanism. It should be noted that the efficiency can be improved by using a mechanism for simultaneously transporting the two disk substrates.

また、第1の搬送用アーム4は、サンプリング装置10に、2枚のディスク基板を供給する機構を有している。なお、2枚のディスク基板を、それぞれ同時に供給する機構とすることで、効率化を図ることができる。成膜前のディスク基板のサンプリングを行う場合には、この機構が用いられる。   The first transfer arm 4 has a mechanism for supplying two disk substrates to the sampling device 10. In addition, efficiency can be achieved by using a mechanism that supplies two disk substrates simultaneously. This mechanism is used when sampling the disk substrate before film formation.

さらに、第1の搬送用アーム4は、成膜装置から2枚のディスク基板を取り出し、取り出したディスク基板を次工程(接着剤塗布工程)の処理を行う接着剤塗布装置に搬送し、成膜装置からのディスク基板の取り出し位置に戻る機構を有している。第1の成膜装置5から取り出した小径ディスク基板は、第1の接着剤塗布装置7に搬送され、第2の成膜装置6から取り出した大径ディスク基板は、第2の接着剤塗布装置8に搬送される。なお、2枚のディスク基板を、成膜装置からそれぞれ同時に取り出す機構とすることで、効率化を図ることができる。また、2枚のディスク基板を、接着剤塗布装置へそれぞれ同時に搬送する機構とすることで、効率化を図ることができる。   Further, the first transfer arm 4 takes out two disk substrates from the film forming apparatus, conveys the taken disk substrates to an adhesive application device that performs the next process (adhesive application process), and forms a film. It has a mechanism for returning to the position for taking out the disk substrate from the apparatus. The small-diameter disk substrate taken out from the first film forming apparatus 5 is conveyed to the first adhesive application device 7, and the large-diameter disk substrate taken out from the second film forming apparatus 6 is used as the second adhesive application device. 8 is conveyed. Note that efficiency can be improved by using two disk substrates that are simultaneously removed from the film forming apparatus. In addition, efficiency can be improved by using a mechanism that simultaneously transports the two disk substrates to the adhesive application device.

第1の搬送用アーム4は、冷却装置3からと、成膜装置からとの2つのディスク基板の取り出し動作を同時に行う機構、成膜装置へと、接着剤塗布装置へとの2つのディスク基板の搬送動作を同時に行う機構、ディスク基板の搬送動作後に、再び取り出し位置に戻る2つの戻り動作が同時に行われる機構を有している。ここでは、効率化を図る為に、第1の搬送用アーム4は、これら2つの取り出し、搬送および戻り動作を同時に行う機構としているが、必ずしも同時でなくても良いことは言うまでもない。   The first transfer arm 4 has a mechanism for simultaneously taking out two disk substrates from the cooling device 3 and from the film forming device, two disk substrates to the film forming device, and the adhesive coating device. And a mechanism that simultaneously performs two return operations to return to the take-out position after the disc substrate transport operation. Here, in order to increase efficiency, the first transfer arm 4 is a mechanism that simultaneously performs the two take-out, transfer, and return operations, but it is needless to say that the first transfer arm 4 does not necessarily have to be simultaneously.

成膜装置5は、小径ディスク基板の信号(ピット)転写面側にシリコン、アルミニウム、銀等の反射膜をスパッタリング法にて付加する機能を有している。また、成膜装置5は、第1の搬送用アーム4から成膜前の透明なディスク基板を受け取る機能、第1の搬送用アーム4に成膜済みのディスク基板を渡す機能、スパッタリングを行う空間をスパッタ条件に適した圧力に調整する機能、スパッタリングを行う空間にディスク基板を移動させるための機能を有している。   The film forming apparatus 5 has a function of adding a reflective film of silicon, aluminum, silver or the like to the signal (pit) transfer surface side of the small-diameter disk substrate by a sputtering method. Further, the film forming apparatus 5 has a function of receiving a transparent disk substrate before film formation from the first transfer arm 4, a function of passing a disk substrate on which film formation has been performed to the first transfer arm 4, and a space for performing sputtering. Has a function of adjusting the pressure to a pressure suitable for the sputtering conditions and a function of moving the disk substrate to the space for sputtering.

成膜装置6は、大径ディスク基板の信号(ピット)転写面側にシリコン、アルミニウム、銀等の反射膜をスパッタリング法にて付加する機能を有している。また、成膜装置6は、第1の搬送用アーム4から成膜前の透明なディスク基板を受け取る機能、第1の搬送用アーム4に成膜済みのディスク基板を渡す機能、スパッタリングを行う空間をスパッタ条件に適した圧力に調整する機能、スパッタリングを行う空間にディスク基板を移動させるための機能を有している。   The film forming apparatus 6 has a function of adding a reflective film of silicon, aluminum, silver or the like to the signal (pit) transfer surface side of the large-diameter disk substrate by a sputtering method. Further, the film forming apparatus 6 has a function of receiving a transparent disk substrate before film formation from the first transfer arm 4, a function of passing a disk substrate on which film formation has been performed to the first transfer arm 4, and a space for performing sputtering. Has a function of adjusting the pressure to a pressure suitable for the sputtering conditions and a function of moving the disk substrate to the space for sputtering.

成膜工程は、冷却装置3によって冷却された2枚のディスク基板のそれぞれに、これら成膜装置によって成膜処理を施す(ステップS3)。小径ディスク基板は、成膜装置5によって成膜処理され、大径ディスク基板は、成膜装置6によって成膜処理される。上述したように、第1の搬送用アーム4によって、成膜後の小径ディスク基板は、接着剤塗布装置7に供給され、大径ディスク基板は、接着剤塗布装置8にそれぞれ供給される。   In the film forming process, a film forming process is performed on each of the two disk substrates cooled by the cooling device 3 using these film forming devices (step S3). The small diameter disk substrate is subjected to film formation by the film formation apparatus 5, and the large diameter disk substrate is subjected to film formation by the film formation apparatus 6. As described above, the small-diameter disk substrate after film formation is supplied to the adhesive application device 7 and the large-diameter disk substrate is supplied to the adhesive application device 8 by the first transfer arm 4.

接着剤塗布装置7は、成膜済みの小径ディスク基板の中央近傍(例えば、センターホール径がφ15mm程度であれば、φ20mm〜φ26mm付近)をバキュームにて吸着保持する機構を備えたテーブルを有している。接着剤塗布装置7は、スピンコート法によって、小径ディスク基板の貼り合わせ面となる主面上に接着剤を塗布するものであり、小径ディスク基板を保持するテーブルを、例えば、30rpm〜8000rpmの範囲の回転数で回転させる機構、小径ディスク基板の中央近傍に位置再現性良く接着剤を塗布する機構、回転により振り切られた接着剤を接着剤供給タンクに戻す機構を有している。なお、大径ディスク基板側のみに接着剤を塗布する場合には、接着剤塗布装置7のテーブルは、小径ディスク基板の仮置きテーブルとして使用される。   The adhesive applicator 7 has a table having a mechanism for vacuum-holding the vicinity of the center of a small-diameter disk substrate on which the film has been formed (for example, if the center hole diameter is about φ15 mm, φ20 mm to φ26 mm). ing. The adhesive application device 7 is for applying an adhesive on a main surface to be a bonding surface of a small-diameter disk substrate by spin coating, and a table for holding the small-diameter disk substrate is set in a range of, for example, 30 rpm to 8000 rpm. And a mechanism for applying an adhesive with good position reproducibility near the center of the small-diameter disk substrate, and a mechanism for returning the adhesive shaken off by rotation to the adhesive supply tank. When applying the adhesive only to the large-diameter disk substrate side, the table of the adhesive application device 7 is used as a temporary placement table for the small-diameter disk substrate.

接着剤塗布装置8は、成膜済みの大径ディスク基板の中央近傍(例えば、センターホール径がφ15mm程度であれば、φ20mm〜φ26mm付近)をバキュームにて吸着保持する機構を備えたテーブルを有している。接着剤塗布装置8は、スピンコート法によって、大径ディスク基板の貼り合わせ面となる主面上に接着剤を塗布するものであり、大径ディスク基板を保持するテーブルを、例えば、30rpm〜8000rpmの範囲の回転数で回転させる機構、大径ディスク基板の中央近傍に位置再現性良く接着剤を塗布する機構、回転により振り切られた接着剤を接着剤供給タンクに戻す機構を有している。なお、小径ディスク基板側のみに接着剤を塗布する場合には、接着剤塗布装置8のテーブルは、大径ディスク基板の仮置きテーブルとして使用される。   The adhesive applicator 8 has a table having a mechanism for vacuum-holding the vicinity of the center of the large-diameter disk substrate on which the film has been formed (for example, if the center hole diameter is about φ15 mm, around φ20 mm to φ26 mm). is doing. The adhesive applicator 8 is for applying an adhesive on a main surface to be a bonding surface of a large-diameter disk substrate by a spin coating method, and a table for holding the large-diameter disk substrate is, for example, 30 rpm to 8000 rpm. A mechanism for rotating at a rotational speed in the range of 1), a mechanism for applying an adhesive near the center of the large-diameter disk substrate with good position reproducibility, and a mechanism for returning the adhesive shaken off by rotation to the adhesive supply tank. When applying the adhesive only to the small-diameter disk substrate side, the table of the adhesive application device 8 is used as a temporary placement table for the large-diameter disk substrate.

接着剤塗布工程は、成膜装置によって成膜が施された2枚のディスク基板に、接着剤塗布装置によって接着剤を塗布する(ステップS4)。図1に示す例では、小径ディスク基板は、貼り合わせ面となる主面上に接着剤塗布装置7によって接着剤を塗布され、大径ディスク基板は、貼り合わせ面となる主面上に接着剤塗布装置8によって接着剤を塗布される。接着剤が塗布された小径ディスク基板は、第2の搬送用アーム9によって、反転装置11に供給され、接着剤が塗布された大径ディスク基板は、第2の搬送用アーム9によって、貼り合わせ用のテーブル装置12のディスク基板受け取り部にそれぞれ供給される。なお、サンプリング用のディスク基板は、第2の搬送用アーム9によって、サンプリング装置10に供給される。   In the adhesive application process, the adhesive is applied to the two disk substrates on which the film is formed by the film forming apparatus, using the adhesive applying apparatus (step S4). In the example shown in FIG. 1, the small-diameter disk substrate is coated with an adhesive on the main surface serving as a bonding surface by an adhesive application device 7, and the large-diameter disk substrate is bonded onto the main surface serving as a bonding surface. An adhesive is applied by the application device 8. The small-diameter disk substrate coated with the adhesive is supplied to the reversing device 11 by the second transport arm 9, and the large-diameter disk substrate coated with the adhesive is bonded by the second transport arm 9. Is supplied to the disk substrate receiving part of the table device 12 for use. The sampling disk substrate is supplied to the sampling device 10 by the second transfer arm 9.

第2の搬送用アーム9は、次工程(ディスク基板貼り合わせ工程)の処理を行うため、接着剤塗布装置から2枚のディスク基板をそれぞれ取り出し、取り出したディスク基板を反転装置11と、テーブル装置12のディスク基板受け取り部のテーブルとに供給する機構を有している。小径ディスク基板は、反転装置11に供給される。大径ディスク基板は、テーブル装置12のディスク基板受け取り部に供給され、センターピンに嵌挿される。なお、2枚のディスク基板を、接着剤塗布装置からそれぞれ同時に取り出す機構とすることで、効率化を図ることができる。また、2枚のディスク基板を、反転装置11とテーブル装置12とに、それぞれ同時に供給する機構とすることで、効率化を図ることができる。   The second transfer arm 9 takes out the two disk substrates from the adhesive application device in order to perform the process of the next step (disk substrate bonding step), and removes the removed disk substrates from the reversing device 11 and the table device. It has a mechanism for supplying to the table of the 12 disk substrate receiving portions. The small-diameter disk substrate is supplied to the reversing device 11. The large-diameter disk substrate is supplied to the disk substrate receiving portion of the table device 12 and is inserted into the center pin. In addition, efficiency can be achieved by using a mechanism in which the two disk substrates are simultaneously removed from the adhesive application device. Further, efficiency can be improved by providing a mechanism for supplying two disk substrates to the reversing device 11 and the table device 12 simultaneously.

また、第2の搬送用アーム9は、接着剤塗布装置と反転装置11との間にあるサンプリング装置10に、2枚のディスク基板を供給する機構を有している。なお、2枚のディスク基板を、それぞれ同時に供給する機構とすることで、効率化を図ることができる。成膜後のディスク基板のサンプリングを行う場合には、この機構が用いられる。   The second transfer arm 9 has a mechanism for supplying two disk substrates to the sampling device 10 between the adhesive applying device and the reversing device 11. In addition, efficiency can be achieved by using a mechanism that supplies two disk substrates simultaneously. This mechanism is used when sampling the disk substrate after film formation.

さらに、第2の搬送用アーム9は、接着剤塗布装置からのディスク基板の取り出し位置に戻る機構を有している。第2の搬送用アーム9は、第1の搬送用アーム4と同期するよう制御されている。すなわち、ディスク基板の取り出し動作は、第1の搬送用アーム4の取り出し動作と同時に行われ、ディスク基板の供給動作は、第1の搬送用アーム4の供給動作と同時に行われる。また、ディスク基板の取り出し位置に戻る動作は、第1の搬送用アーム4の戻り動作と同時に行われる。ここでは、効率化を図る為に、第2の搬送用アーム9を第1の搬送用アーム4と同期するよう制御する機構としているが、必ずしも同期させなくても良いことは言うまでもない。   Further, the second transfer arm 9 has a mechanism for returning to the disk substrate take-out position from the adhesive application device. The second transfer arm 9 is controlled to synchronize with the first transfer arm 4. That is, the disk substrate take-out operation is performed simultaneously with the take-out operation of the first transfer arm 4, and the disk substrate supply operation is performed simultaneously with the supply operation of the first transfer arm 4. The operation of returning to the disk substrate take-out position is performed simultaneously with the return operation of the first transfer arm 4. Here, in order to increase the efficiency, the second transfer arm 9 is controlled to synchronize with the first transfer arm 4, but needless to say, it is not always necessary to synchronize.

サンプリング装置10は、サンプリングの為のディスク基板を取得するための装置であり、成膜前の小径ディスク基板および大径ディスク基板を、第1の搬送用アーム4から受け取る機能、成膜後の小径ディスク基板および大径ディスク基板を第2の搬送用アーム9から受け取る機能、これら機能により受け取ったディスク基板を安全に手で取り出すことを可能とする機能を有している。   The sampling device 10 is a device for obtaining a disk substrate for sampling, and has a function of receiving a small-diameter disk substrate and a large-diameter disk substrate before film formation from the first transfer arm 4, and a small-diameter after film formation. It has a function of receiving the disk substrate and the large-diameter disk substrate from the second transfer arm 9 and a function of enabling the received disk substrate to be safely taken out by these functions.

反転装置11は、小径ディスク基板を第2の搬送用アーム9から受け取る機構、上向きである小径ディスク基板の接着剤塗布面を下向きにする機構、小径ディスク基板を、テーブル装置12のディスク受け取り部に供給し、載置テーブルのセンターピンに嵌挿する機構とを有している。反転装置11と第2の搬送用アーム9によって、小径ディスク基板と大径ディスク基板とが接着剤を介在する向きでセンターピンに嵌入される。   The reversing device 11 has a mechanism for receiving the small-diameter disk substrate from the second transfer arm 9, a mechanism for directing the adhesive application surface of the small-diameter disk substrate facing upward, and the small-diameter disk substrate to the disk receiving portion of the table device 12. And a mechanism to be inserted into the center pin of the mounting table. By the reversing device 11 and the second transfer arm 9, the small-diameter disk substrate and the large-diameter disk substrate are fitted into the center pin with the adhesive interposed.

テーブル装置12は、円盤状の回転テーブルを有している。この回転テーブル上には、大径ディスク基板を載せる載置テーブルが設けられている。この載置テーブルの中央部には、センターピンが設けられている。図1に示す例では、この載置テーブルとセンターピンとの組が回転テーブル上に4セット設けられている。テーブル装置12は、回転テーブルを回転させ、ディスク基板が載置される載置テーブルを、ディスク受け取り部、真空貼り合わせ装置13、接着剤硬化装置14、ディスク取り出し部のそれぞれに移動する機能を有している。載置テーブルとセンターピンとの組は、テーブル装置12の構造から、効率化を考慮して、4セットとすることが好ましいが、3セット以下や5セット以上とすることも可能である。   The table device 12 has a disk-shaped rotary table. A mounting table on which a large-diameter disk substrate is placed is provided on the rotary table. A center pin is provided at the center of the mounting table. In the example shown in FIG. 1, four sets of the mounting table and the center pin are provided on the rotary table. The table device 12 has a function of rotating the rotary table and moving the placement table on which the disc substrate is placed to each of the disc receiving unit, the vacuum bonding device 13, the adhesive curing device 14, and the disc ejecting unit. is doing. From the structure of the table device 12, the set of the mounting table and the center pin is preferably 4 sets in consideration of efficiency, but may be 3 sets or less or 5 sets or more.

真空貼り合わせ装置13は、センターピンに嵌入された小径ディスク基板と大径ディスク基板とを貼り合わせる。上述した取り出し機2の取り出し用アーム、第1の搬送用アーム4、第2の搬送用アーム9、反転装置11などの搬送装置のハンドリングミスなどによって、第2の搬送用アーム9および反転装置11により、小径ディスク基板および大径ディスク基板のどちらか一方だけしかセンターピンに嵌入されない場合がある。このような場合、真空貼り合わせ装置13は、小径ディスク基板と大径ディスク基板の貼り合わせを行わない。   The vacuum bonding device 13 bonds the small-diameter disk substrate fitted into the center pin and the large-diameter disk substrate. The second transport arm 9 and the reversing device 11 are caused by a handling error of the transporting device such as the take-out arm, the first transport arm 4, the second transport arm 9, and the reversing device 11 described above. Therefore, only one of the small-diameter disk substrate and the large-diameter disk substrate may be fitted into the center pin. In such a case, the vacuum bonding apparatus 13 does not bond the small diameter disk substrate and the large diameter disk substrate.

ディスク基板貼り合わせ工程は、接着剤塗布装置によって接着剤が塗布されたディスク基板を、真空貼り合わせ装置13によって貼り合わせる(ステップS5)。真空貼り合わせ装置13によって貼り合わされたディスク基板は、回転テーブルによって接着剤硬化装置14に搬送される。   In the disk substrate bonding step, the disk substrate coated with the adhesive by the adhesive coating device is bonded by the vacuum bonding device 13 (step S5). The disk substrate bonded by the vacuum bonding device 13 is conveyed to the adhesive curing device 14 by the rotary table.

接着剤硬化装置14は、ディスク基板間の接着剤を硬化する機構と、ディスク基板の外周部に窒素ガスを吹き付ける機構とを有している。接着剤が紫外線硬化型の接着剤である場合、接着剤を硬化する機構は、例えば、UV光を小径ディスク基板側の面に照射して、ディスク基板間の接着剤を硬化する機構、UV光を照射必要エリアの外に出さない機構、UV光を照射必要面に均一に照射するための多面体又は円筒形の反射機構、小径ディスク基板を上昇又は下降状態でUV照射を行う機構により構成する。   The adhesive curing device 14 has a mechanism for curing the adhesive between the disk substrates and a mechanism for blowing nitrogen gas to the outer periphery of the disk substrate. When the adhesive is an ultraviolet curable adhesive, the mechanism for curing the adhesive is, for example, a mechanism for irradiating the surface of the small-diameter disk substrate with UV light to cure the adhesive between the disk substrates, UV light Is formed by a mechanism that does not leave the area where irradiation is necessary, a polyhedral or cylindrical reflection mechanism for uniformly irradiating the irradiation necessary surface with UV light, and a mechanism that performs UV irradiation while raising or lowering the small-diameter disk substrate.

接着剤硬化装置14は、上述した搬送装置のハンドリングミスなどによって、真空貼り合わせ装置13から、小径ディスク基板および大径ディスク基板のどちらか一方だけしか搬送されない場合であっても、接着剤が塗布されたディスク基板が供給された場合には、そのディスク基板の接着剤を硬化する。   Even when only one of the small-diameter disk substrate and the large-diameter disk substrate is transported from the vacuum bonding apparatus 13 due to a handling error of the transport device described above, the adhesive curing device 14 applies the adhesive. When the prepared disk substrate is supplied, the adhesive of the disk substrate is cured.

接着剤硬化工程は、真空貼り合わせ装置13によって貼り合わされた2枚のディスク基板に介在する接着剤を、接着剤硬化装置14によって硬化する(ステップS6)。接着剤硬化装置14によって接着剤が硬化されたディスク基板は、回転テーブルによってテーブル装置12のディスク基板取り出し部に移動され、取り出し用アーム15によってテーブル装置12から取り出される。   In the adhesive curing step, the adhesive present in the two disk substrates bonded by the vacuum bonding apparatus 13 is cured by the adhesive curing apparatus 14 (step S6). The disk substrate whose adhesive has been cured by the adhesive curing device 14 is moved to the disk substrate take-out portion of the table device 12 by the rotary table, and taken out from the table device 12 by the take-out arm 15.

取り出し用アーム15は、テーブル装置12のディスク基板取り出し部からディスク基板を取り出す機構と、反転用アーム16にディスク基板を供給する機構と、反転用アーム16からディスク基板を受け取る機構と、廃棄部17にディスク基板を移動させる機構と、排出装置18にディスク基板を渡す機構とを有している。   The take-out arm 15 includes a mechanism for taking out the disk substrate from the disk substrate take-out portion of the table device 12, a mechanism for supplying the disk substrate to the reversing arm 16, a mechanism for receiving the disk substrate from the reversing arm 16, and a discarding unit 17. And a mechanism for moving the disk substrate to the ejection device 18.

反転用アーム16は、取り出し用アーム15からディスク基板を受け取る機構と、保持しているディスク基板を反転する機構と、取り出し用アーム15にディスク基板を渡す機構とを有している。   The reversing arm 16 has a mechanism for receiving the disk substrate from the take-out arm 15, a mechanism for turning the held disk substrate, and a mechanism for passing the disk substrate to the take-out arm 15.

廃棄部17は、ディスク基板を、例えば0〜100枚程積み重ねる機構と、積み上げられたディスク基板を手動で引き出して取り出せる機構とを有している。   The discarding unit 17 has a mechanism for stacking, for example, about 0 to 100 disk substrates and a mechanism for manually pulling out and taking out the stacked disk substrates.

排出装置18は、次工程(後処理工程)の処理を行う搬出装置19にディスク基板を渡す機構を有している。   The discharge device 18 has a mechanism for delivering a disk substrate to a carry-out device 19 that performs the next process (post-processing process).

取り出し用アーム15によってテーブル装置12から取り出されたディスク基板は、反転用アーム16に渡され、反転用アーム16によって反転される。上述した搬送装置のハンドリングミスなどによって貼り合わせが行われずに接着剤が硬化されたディスク基板など、正常に処理が行われなかったディスク基板は、反転用アーム16によって、廃棄部17に移動され、廃棄用ディスク基板として積み重ねられる。正常に処理が行われたディスク基板は、反転用アーム16から取り出し用アーム15に渡される。   The disk substrate taken out from the table device 12 by the take-out arm 15 is transferred to the reversing arm 16 and reversed by the reversing arm 16. A disk substrate that has not been processed normally, such as a disk substrate in which the adhesive has been cured without being bonded due to a handling error of the transfer device described above, is moved to the disposal unit 17 by the reversing arm 16, Stacked as a waste disk substrate. The disk substrate that has been processed normally is transferred from the reversing arm 16 to the taking-out arm 15.

取り出し用アーム15は、反転用アーム16から受け取ったディスク基板を排出装置18に供給し、排出装置18は、取り出し用アーム15から受け取ったディスク基板を搬出装置19に供給する。搬出装置19は、ディスクの検査等の後処理を行い(ステップS7)、製造が完了した光ディスクを搬出する(ステップS8)。   The take-out arm 15 supplies the disk substrate received from the reversing arm 16 to the discharge device 18, and the discharge device 18 supplies the disk substrate received from the take-out arm 15 to the carry-out device 19. The unloading device 19 performs post-processing such as disk inspection (step S7), and unloads the manufactured optical disk (step S8).

ここで、上述した小径ディスク基板と大径ディスク基板の貼り合わせについて、詳細に説明する。貼り合わされる小径ディスク基板および大径ディスク基板は、例えば、図3に示す平面円環形状を有する。なお、図3Aに示すディスク基板20は、小径ディスク基板の一例であり、図3Bに示すディスク基板21は、大径ディスク基板の一例である。   Here, the bonding of the small-diameter disk substrate and the large-diameter disk substrate described above will be described in detail. The small-diameter disk substrate and the large-diameter disk substrate to be bonded have, for example, a planar annular shape shown in FIG. Note that the disk substrate 20 shown in FIG. 3A is an example of a small-diameter disk substrate, and the disk substrate 21 shown in FIG. 3B is an example of a large-diameter disk substrate.

ディスク基板20およびディスク基板21の外形d1およびd2は、共に60mmとされ、ディスク基板20およびディスク基板21厚みt1およびt2は、共に0.4mmとされる。また、ディスク基板20の内径d2は、11mmとされ、ディスク基板21の内径d4は、13mmとされる。このように、貼り合わせるディスク基板20とディスク基板21とで内径を異ならせることで、例えば、チャッキング用の金具を容易に取り付けることができる。また、ディスク基板20およびディスク基板21の重量は、共に1.2g程度とされている。   The outer shapes d1 and d2 of the disk substrate 20 and the disk substrate 21 are both 60 mm, and the thicknesses t1 and t2 of the disk substrate 20 and the disk substrate 21 are both 0.4 mm. The inner diameter d2 of the disk substrate 20 is 11 mm, and the inner diameter d4 of the disk substrate 21 is 13 mm. Thus, by making the inner diameters different between the disk substrate 20 and the disk substrate 21 to be bonded together, for example, a chucking metal fitting can be easily attached. The weights of the disk substrate 20 and the disk substrate 21 are both about 1.2 g.

上述したように、搬送用アーム9は、大径ディスク基板、すなわちディスク基板21をテーブル装置12の載置テーブルに設けられたセンターピンに嵌入し、小径ディスク基板、すなわちディスク基板20を反転装置11に供給する。また、反転装置11は、搬送用アーム9から供給されたディスク基板20を反転してからディスク基板21が嵌入されたセンターピンに嵌入する。   As described above, the transfer arm 9 fits the large-diameter disk substrate, that is, the disk substrate 21, into the center pin provided on the mounting table of the table device 12, and the small-diameter disk substrate, that is, the disk substrate 20, the reversing device 11. To supply. The reversing device 11 reverses the disk substrate 20 supplied from the transfer arm 9 and then fits the center pin into which the disk substrate 21 is inserted.

搬送用アーム9は、例えば、図4に示す機構によって、ディスク基板20およびディスク基板21を保持して搬送する。すなわち、搬送装置本体22の回動および昇降可能なアーム駆動部23に搬送アーム24の一端側が固定されている。搬送アーム24の他端側には、ディスク基板25の保持、および保持しているディスク基板25を離すためのエアチャック26とプッシャリング27とが設けられている。なお、ディスク基板25は、ここでは小径ディスク基板または大径ディスク基板のことである。   The transport arm 9 holds and transports the disk substrate 20 and the disk substrate 21 by, for example, a mechanism shown in FIG. That is, one end side of the transfer arm 24 is fixed to the arm drive unit 23 that can rotate and move up and down the transfer device body 22. On the other end side of the transfer arm 24, an air chuck 26 and a pusher ring 27 for holding the disk substrate 25 and releasing the held disk substrate 25 are provided. Here, the disk substrate 25 is a small diameter disk substrate or a large diameter disk substrate.

図5は、エアチャック26およびプッシャリング27付近の斜視図である。エアチャック26は、例えば、ロータリ駆動形エアチャックであり、図6に示すように、3箇所の駆動部28を有し、各駆動部28に設けられている3本のチャック爪29を開閉可能な構成とされている。エアチャック26は、例えば、エアの圧力をかけることでチャック爪29が広がり、エアを抜くことによってチャック爪29が狭まる構成とされている。なお、駆動部28は、ロータリ駆動形エアチャックに限らず、メカチャックなど、他の駆動機構によって駆動してもよい。   FIG. 5 is a perspective view of the vicinity of the air chuck 26 and the pusher ring 27. The air chuck 26 is, for example, a rotary drive type air chuck. As shown in FIG. 6, the air chuck 26 has three drive portions 28 and can open and close three chuck claws 29 provided in each drive portion 28. It is made into the composition. The air chuck 26 has a configuration in which, for example, the chuck claw 29 is expanded by applying air pressure, and the chuck claw 29 is narrowed by removing air. The drive unit 28 is not limited to the rotary drive type air chuck, and may be driven by another drive mechanism such as a mechanical chuck.

チャック爪29は、それぞれ直線的な棒形状を有しており、それぞれが平行且つ均等に配置されるように設けられている。このそれぞれが平行且つ均等に配置された部分でディスク基板25が保持される。   Each of the chuck claws 29 has a linear bar shape, and is provided so as to be arranged in parallel and evenly. The disk substrate 25 is held at a portion where these are arranged in parallel and evenly.

チャック爪29を狭めた状態では、3本のチャック爪29は、ディスク基板25のセンターホールに挿通し、チャック爪29を広げた状態では、3本のチャック爪29は、ディスク基板25のセンターホールに挿通しない構成とされている。   When the chuck claws 29 are narrowed, the three chuck claws 29 are inserted into the center hole of the disk substrate 25, and when the chuck claws 29 are widened, the three chuck claws 29 are inserted into the center hole of the disk substrate 25. It is set as the structure which is not inserted in.

依って、エアチャック26により、チャック爪29を狭めた状態で、ディスク基板25のセンターホールに3本のチャック爪29を挿入してから、3本のチャック爪29を広げることで、ディスク基板25のセンターホールの内壁を外側に向かって均等に加圧し、ディスク基板25を保持することができる。また、チャック爪29は、直線的な棒形状であることから、ディスク基板25のセンターホールの内壁に対する加圧を緩めることで、保持しているディスク基板25を離すことができる。ディスク基板25は、チャック爪29に沿って離されることから、チャック爪29は、ディスク基板25を離す際に、ガイドとして機能する。チャック爪29が保持しているディスク基板25は、チャック爪29を狭めるように移動して離してもよいが、ガイドとして精度よく機能させるために、加圧を緩めるだけでチャック爪29は動かさないことが好ましい。   Therefore, the three chuck claws 29 are inserted into the center hole of the disk substrate 25 in a state where the chuck claws 29 are narrowed by the air chuck 26, and then the three chuck claws 29 are widened, whereby the disk substrate 25. The inner wall of the center hole can be evenly pressurized outward to hold the disk substrate 25. Further, since the chuck claw 29 has a linear bar shape, the holding disk substrate 25 can be separated by loosening the pressure applied to the inner wall of the center hole of the disk substrate 25. Since the disk substrate 25 is separated along the chuck claw 29, the chuck claw 29 functions as a guide when the disk substrate 25 is separated. The disk substrate 25 held by the chuck claw 29 may be moved and released so as to narrow the chuck claw 29. However, in order to function accurately as a guide, the chuck claw 29 is not moved only by loosening the pressure. It is preferable.

なお、チャック爪29は、図5および図6に示した構成に限らず、ディスク基板25を保持することができ、保持したディスク基板25を離したときにガイドとして機能するものであれば、他の構成であってもよい。例えば、駆動部28およびチャック爪29の個数は、位置精度の再現を良好とするために3個としているが、これに限定するものではない。また、例えば、チャック爪29の形状は、直線的な棒形状に限らず、途中で曲がった形状を有していたり、ディスク基板25のセンターホールに沿って湾曲した板形状であったりしてもよい。   The chuck claw 29 is not limited to the configuration shown in FIG. 5 and FIG. 6, and may be any other as long as it can hold the disk substrate 25 and functions as a guide when the held disk substrate 25 is released. It may be configured as follows. For example, the number of drive units 28 and chuck claws 29 is three in order to improve the reproduction of the position accuracy, but is not limited to this. Further, for example, the shape of the chuck claw 29 is not limited to a straight bar shape, and may be a curved shape in the middle or a plate shape curved along the center hole of the disk substrate 25. Good.

プッシャリング27は、プッシャリング用エアシリンダ30によって、図5に示す矢印方向、すなわちディスク基板25を保持する部分のチャック爪29に沿って昇降可能とされている。プッシャリング用エアシリンダ30は、例えば、スイッチがオンとなることで、プッシャリング27がディスク基板25を押し出す所定の位置まで下降し、スイッチがオフとなることで、プッシャリング27がディスク基板25を保持する所定の位置まで上昇する構成とされている。プッシャリング27は、保持しているディスク基板25を離す際に、ディスク基板25を押し出すためのものであり、ディスク基板25のセンターホール近傍を均等に押圧する円環形状を有している。   The pusher ring 27 can be moved up and down by the pusher air cylinder 30 in the direction of the arrow shown in FIG. 5, that is, along the chuck claw 29 of the portion holding the disk substrate 25. For example, when the switch is turned on, the pushering air cylinder 30 is lowered to a predetermined position where the pusher ring 27 pushes the disk substrate 25, and when the switch is turned off, the pusher ring 27 moves the disk substrate 25. It is set as the structure which raises to the predetermined | prescribed position hold | maintained. The pusher ring 27 is for pushing out the disk substrate 25 when the held disk substrate 25 is released, and has a ring shape that uniformly presses the vicinity of the center hole of the disk substrate 25.

なお、プッシャリング27の形状は、図5に示したものに限定されるものではなく、保持しているディスク基板25を均等な圧力で押し出せるのであれば、円環形状以外の他の形状であってもよい。また、プッシャリング27は、プッシャリング用エアシリンダ30に限らず、モータなど他の動力源によって昇降する構成であってもよい。   The shape of the pusher ring 27 is not limited to the shape shown in FIG. 5, and the pusher ring 27 may have a shape other than the annular shape as long as the held disk substrate 25 can be pushed out with an equal pressure. There may be. The pusher ring 27 is not limited to the pushering air cylinder 30 and may be configured to move up and down by another power source such as a motor.

図7および図8は、ディスク基板20およびディスク基板21が嵌入されるセンターピンの形状の一例を示す。センターピン31は、上述した3本のチャック爪29がそれぞれ嵌入される切り欠き32を先端部に有している。そのさらに先端部は、段差状に縮径されている。依って、センターピン31は、2段ピンの構成とされている。センターピン31に嵌入されたディスク基板20とディスク基板21とは、それぞれの主面が平行となるように構成されている。なお、センターピン31に嵌入されたディスク基板21は、載置面によって支持される。   7 and 8 show an example of the shape of the center pin into which the disk substrate 20 and the disk substrate 21 are inserted. The center pin 31 has a notch 32 into which the above-mentioned three chuck claws 29 are respectively inserted at the tip. Further, the tip is reduced in a stepped shape. Therefore, the center pin 31 has a two-stage pin configuration. The disk substrate 20 fitted into the center pin 31 and the disk substrate 21 are configured such that their main surfaces are parallel to each other. The disk substrate 21 fitted in the center pin 31 is supported by the placement surface.

直径Aの下側のピン(以下、下段ピンと称する)には、ディスク基板21が嵌入され、直径Bの上側のピン(以下、上段ピンと称する)には、ディスク基板20が嵌入される。   A disk substrate 21 is inserted into a lower pin (hereinafter referred to as a lower pin) of the diameter A, and a disk substrate 20 is inserted into an upper pin (hereinafter referred to as an upper pin) of the diameter B.

下段ピンの直径Aは、ディスク基板21の内径よりも僅かに小さい値、例えば5μm程度小さい値で構成されている。同様に、上段ピンの直径Bは、ディスク基板20の内径よりも僅かに小さい値、例えば5μm程度小さい値で構成されている。これにより、センターピン31にディスク基板20とディスク基板21を嵌入するだけで、偏心が許容範囲内におさまるように容易に芯出しを行うことができる。   The diameter A of the lower pin is configured to be a value slightly smaller than the inner diameter of the disk substrate 21, for example, about 5 μm. Similarly, the diameter B of the upper pin is configured to be a value slightly smaller than the inner diameter of the disk substrate 20, for example, about 5 μm. Thus, the centering can be easily performed so that the eccentricity is within the allowable range by simply fitting the disk substrate 20 and the disk substrate 21 into the center pin 31.

上段ピンの先端部には、ディスク基板20が嵌入されやすいように、テーパ33が設けられている。また、図9に示すように、下段ピンの端部には、下段ピンに嵌入されるディスク基板21、すなわちディスク基板21が嵌入されやすいように、テーパ34が設けられている。テーパ34の水平長さL1は、エアシリンダやモータなどを用いた一般的な搬送アームでの位置決めの許容ズレ量以内、例えば0.2mm程度とされている。   A taper 33 is provided at the tip of the upper pin so that the disk substrate 20 can be easily inserted. As shown in FIG. 9, a taper 34 is provided at the end of the lower pin so that the disk substrate 21 fitted into the lower pin, that is, the disk substrate 21 can be easily fitted. The horizontal length L1 of the taper 34 is set to be within an allowable shift amount of positioning in a general transfer arm using an air cylinder, a motor, or the like, for example, about 0.2 mm.

ディスク基板20とディスク基板21とを貼り合わせる場合、まず、図10から図14に示すようにして、センターピン31にディスク基板21が嵌入される。すなわち、図10に示すように、まず、ディスク基板21のセンターホールに、狭めた状態のチャック爪29を接着剤35の塗布面側から挿入し、挿入したチャック爪29を広げて外向に加圧し、ディスク基板21のセンターホールの内壁を外側に押さえつけ、ディスク基板21を保持する。このとき、プッシャリング27は、上昇している。なお、接着剤35は、通常のスピンコートによって貼り合わせ面側の主面全体に展延したもの、すなわち、図15に示すように、ディスク基板21の主面の中央付近にノズルによって滴下したものを、高速回転して広げたものであり、内周側から外周側に向かって厚くなっている。   When the disk substrate 20 and the disk substrate 21 are bonded together, first, the disk substrate 21 is inserted into the center pin 31 as shown in FIGS. That is, as shown in FIG. 10, first, a narrowed chuck claw 29 is inserted into the center hole of the disk substrate 21 from the application surface side of the adhesive 35, and the inserted chuck claw 29 is spread and pressed outward. Then, the inner wall of the center hole of the disk substrate 21 is pressed outward to hold the disk substrate 21. At this time, the pusher ring 27 is raised. The adhesive 35 is spread over the main surface on the bonding surface side by a normal spin coating, that is, dropped by a nozzle near the center of the main surface of the disk substrate 21 as shown in FIG. Is widened by rotating at high speed, and becomes thicker from the inner peripheral side toward the outer peripheral side.

ディスク基板21を保持したら、図11に示すように、上述した搬送装置本体22のアーム駆動部23によって、保持したディスク基板21を、テーブル装置12のディスク基板受け取り部の載置テーブル36に設けられているセンターピン31の上部まで搬送し、センターピン31とディスク基板21のセンターホールとが同心上となるように位置決めする。このとき、ディスク基板21の内径がセンターピン31のテーパ34内に入るようにする。   When the disk substrate 21 is held, as shown in FIG. 11, the held disk substrate 21 is provided on the mounting table 36 of the disk substrate receiving portion of the table device 12 by the arm driving unit 23 of the transfer device main body 22 described above. The center pin 31 is transported to the upper part and positioned so that the center pin 31 and the center hole of the disk substrate 21 are concentric. At this time, the inner diameter of the disk substrate 21 is set within the taper 34 of the center pin 31.

なお、センターピン31は、テーブル装置12の回転テーブル37上に設けられた載置テーブル36の載置面上に、載置面に対して垂直方向に移動可能に嵌挿されている。センターピン31は、図示しないエアシリンダなどの入出機構によって軸方向に上下に移動可能な構成とされている。センターピン31は、平常時には、所定の位置まで上昇されており、先端部を押圧することで、所定の位置まで下降する構成とされている。センターピン31は、例えば、エアシリンダの駆動によるエアの圧力によって、所定の位置まで上昇した状態となり、駆動を停止することで所定の位置まで下降した状態となる。なお、センターピン31は、エアシリンダに限らず、モータ、バネなど他の動力源によって上下する構成であってもよい。   The center pin 31 is fitted on the mounting surface of the mounting table 36 provided on the rotary table 37 of the table device 12 so as to be movable in the vertical direction with respect to the mounting surface. The center pin 31 is configured to be movable up and down in the axial direction by an input / output mechanism such as an air cylinder (not shown). The center pin 31 is normally raised to a predetermined position, and is configured to be lowered to a predetermined position by pressing the tip portion. For example, the center pin 31 is raised to a predetermined position by the pressure of air generated by driving the air cylinder, and is lowered to a predetermined position by stopping the driving. The center pin 31 is not limited to an air cylinder, and may be configured to move up and down by other power sources such as a motor and a spring.

回転テーブル37は、図示しない中心部の回転軸を中心に回転する円盤状のテーブルである。回転テーブル37は、円盤形状に限ったものではないが、テーブル面の中央部を中心に回転するため、テーブル面を円形とすることが好ましい。載置テーブル36は、回転テーブル37上に設けられたディスク基板21が載置される円盤状のテーブルである。載置テーブル36は、円盤形状に限ったものではないが、テーブル面にディスク基板21が載置されるため、テーブル面を円形とすることが好ましい。載置テーブル36は、回転テーブル37と一体構造であってもよい。   The rotary table 37 is a disk-shaped table that rotates around a central rotation axis (not shown). Although the rotary table 37 is not limited to a disk shape, it is preferable to make the table surface circular because it rotates around the center of the table surface. The mounting table 36 is a disk-shaped table on which the disk substrate 21 provided on the rotary table 37 is mounted. The mounting table 36 is not limited to a disk shape, but since the disk substrate 21 is mounted on the table surface, the table surface is preferably circular. The mounting table 36 may be integrated with the rotary table 37.

ディスク基板21を位置決めしたら、図12に示すように、搬送装置本体22のアーム駆動部23によって、搬送アーム24を、ディスク基板21がセンターピン31に入り込む直前まで下降して、センターピン31の切り欠き32にチャック爪29を嵌入させる。   After the disk substrate 21 is positioned, as shown in FIG. 12, the arm driving unit 23 of the transport device body 22 lowers the transport arm 24 until just before the disk substrate 21 enters the center pin 31 to cut the center pin 31. The chuck claw 29 is inserted into the notch 32.

切り欠き32にチャック爪29を嵌入させたら、ディスク基板21を保持するために、エアチャック26によってディスク基板21のセンターホールの内壁に加えていた圧力を緩める。このとき、エアチャック26によるディスク基板21の保持力は失われるが、チャック爪29は、そのままの位置で殆ど動かないため、また、ディスク基板21の重量が軽いため、ディスク基板21は、そのままの姿勢で保持される。このとき、ディスク基板21が落下したとしても、特に問題は生じない。   When the chuck claw 29 is fitted into the notch 32, the pressure applied to the inner wall of the center hole of the disk substrate 21 is released by the air chuck 26 in order to hold the disk substrate 21. At this time, the holding force of the disk substrate 21 by the air chuck 26 is lost, but the chuck claw 29 hardly moves at the position as it is, and since the weight of the disk substrate 21 is light, the disk substrate 21 remains as it is. Hold in posture. At this time, even if the disk substrate 21 falls, no particular problem occurs.

エアチャック26によるチャック爪29の圧力を緩めたら、プッシャリング用エアシリンダ30によって、プッシャリング27を下降し、ディスク基板21を押し出す。ディスク基板21は、チャック爪29がガイドとなって、センターピン31のテーパ34まで真っ直ぐ下降する。   When the pressure of the chuck claw 29 by the air chuck 26 is relaxed, the pusher ring 27 is lowered by the pushering air cylinder 30 and the disk substrate 21 is pushed out. The disk substrate 21 descends straight to the taper 34 of the center pin 31 with the chuck claw 29 as a guide.

ここで、センターピン31とディスク基板21の内径とが、例えば0.2mmと若干ずれている場合、ディスク基板21は、センターピン31のテーパ34に案内されて、水平方向に調芯されようとする。このとき、エアチャック26のエアは抜けており、ディスク基板21の水平方向の動きを規制する力が弱くなっているため、チャック爪29は、ディスク基板21の動きに負けて、ディスク基板21の調芯に必要なだけすぼまる。依って、ディスク基板21は、チャック爪29からのストレスをあまり受けないため、割れや打痕などの損傷を受けることなくセンターピン31に調芯されて奥まで挿入される。   Here, when the center pin 31 and the inner diameter of the disk substrate 21 are slightly deviated from, for example, 0.2 mm, the disk substrate 21 is guided by the taper 34 of the center pin 31 to be aligned in the horizontal direction. To do. At this time, the air of the air chuck 26 is released, and the force for restricting the horizontal movement of the disk substrate 21 is weak. Therefore, the chuck claw 29 loses the movement of the disk substrate 21 and As much as necessary for alignment. Therefore, the disk substrate 21 is not subjected to much stress from the chuck claws 29, so that it is aligned with the center pin 31 and inserted to the back without being damaged by cracks or dents.

これにより、図13に示すように、ディスク基板21がセンターピン31に嵌入され、載置テーブル36上に載置される。   As a result, as shown in FIG. 13, the disk substrate 21 is fitted into the center pin 31 and placed on the placement table 36.

ディスク基板21がセンターピン31に嵌入されたら、プッシャリング用エアシリンダ30によって、プッシャリング27を上昇して元の位置に戻し、搬送用アーム9を上昇する。以上によって、図14に示すように、ディスク基板21がセンターピン31に嵌入され、載置テーブル36へのディスク基板21の載置が完了する。   When the disk substrate 21 is inserted into the center pin 31, the pusher ring 27 is raised and returned to the original position by the pushering air cylinder 30, and the transfer arm 9 is raised. As described above, as shown in FIG. 14, the disk substrate 21 is fitted into the center pin 31, and the placement of the disk substrate 21 on the placement table 36 is completed.

このディスク基板21のセンターピン31への嵌入は、チャック爪29をセンターピン31へのガイドとして使用するため、偏心を少なくするために、センターピン31に嵌入されるディスク基板21との隙間が殆ど無く、さらに、ディスク基板21が嵌入されるセンターピン31の端部にテーパ34が十分に設けられない場合であっても、容易且つ確実にディスク基板21を嵌入して芯出しを行うことができる。   The disk substrate 21 is inserted into the center pin 31 because the chuck claw 29 is used as a guide to the center pin 31, so that there is almost no gap between the disk substrate 21 inserted into the center pin 31 in order to reduce eccentricity. In addition, even when the taper 34 is not sufficiently provided at the end of the center pin 31 into which the disk substrate 21 is inserted, the disk substrate 21 can be easily and reliably centered. .

なお、ディスク基板20は、ディスク基板21の場合と同様にして搬送用アーム9によって保持され、反転装置11に搬送される。反転装置11は、搬送用アーム9から搬送されたディスク基板20を、図16から図19に示すようにして、ディスク基板21が既に嵌入されているセンターピン31に嵌入する。   The disk substrate 20 is held by the transfer arm 9 in the same manner as the disk substrate 21 and is transferred to the reversing device 11. The reversing device 11 fits the disk substrate 20 transported from the transport arm 9 into the center pin 31 in which the disk substrate 21 has already been inserted, as shown in FIGS.

すなわち、図16に示すように、まず、ディスク基板20の接着剤38が塗布されていない方の主面を、反転装置11の搬送アーム39の端部に設けられているバキュームパッド40で吸着して保持する。なお、接着剤38は、通常のスピンコートによって貼り合わせ面側の主面全体に展延したもの、すなわち、図20に示すように、ディスク基板20の主面の中央付近にノズルによって滴下したものを、高速回転して広げたものであり、内周側から外周側に向かって厚くなっている。   That is, as shown in FIG. 16, first, the main surface of the disk substrate 20 on which the adhesive 38 is not applied is sucked by the vacuum pad 40 provided at the end of the transfer arm 39 of the reversing device 11. Hold. The adhesive 38 is spread over the main surface on the bonding surface side by a normal spin coat, that is, dropped by a nozzle near the center of the main surface of the disk substrate 20 as shown in FIG. Is widened by rotating at high speed, and becomes thicker from the inner peripheral side toward the outer peripheral side.

バキュームパッド40は、図示しない真空源と接続された吸着口であり、その真空源の吸引によりディスク基板20の内周部を保持するものである。なお、反転装置11は、このようにディスク基板20を真空吸着によって保持するものに限定されるものではなく、メカチャックなど他の保持機構によってディスク基板20を保持する構成であってもよい。   The vacuum pad 40 is a suction port connected to a vacuum source (not shown), and holds the inner periphery of the disk substrate 20 by suction of the vacuum source. The reversing device 11 is not limited to the one that holds the disk substrate 20 by vacuum suction in this way, and may be configured to hold the disk substrate 20 by another holding mechanism such as a mechanical chuck.

ディスク基板20を保持したら、図17に示すように、図示しない反転装置11の反転機構によって、保持したディスク基板20を、接着剤38が下向きとなるように反転し、反転したディスク基板20を、センターピン31の上部まで搬送し、センターピン31とディスク基板20のセンターホールとが同心上となるように位置決めする。このとき、ディスク基板20の内径がセンターピン31のテーパ33内に入るようにする。テーパ33は、テーパ34と比較して大きくとれるため、一般的な搬送アーム39を用いた反転装置11であっても容易に位置決めを行うことができる。   When the disk substrate 20 is held, as shown in FIG. 17, the held disk substrate 20 is reversed so that the adhesive 38 faces downward by the reversing mechanism of the reversing device 11 (not shown), and the reversed disk substrate 20 is It is conveyed to the upper part of the center pin 31 and positioned so that the center pin 31 and the center hole of the disk substrate 20 are concentric. At this time, the inner diameter of the disk substrate 20 is set within the taper 33 of the center pin 31. Since the taper 33 can be larger than the taper 34, even the reversing device 11 using a general transfer arm 39 can be easily positioned.

ディスク基板20の位置決めをしたら、図18に示すように、ディスク基板20を保持するために行っていたエアの吸引を噴出に切り換え、ディスク基板20の保持をやめて、ディスク基板20を反転装置11から離し、センターピン31にディスク基板20を嵌入する。なお、エアの吸引をやめることだけで、ディスク基板20を離してもよい。   When the disk substrate 20 is positioned, as shown in FIG. 18, the suction of the air that has been performed to hold the disk substrate 20 is switched to ejection, the disk substrate 20 is stopped holding, and the disk substrate 20 is removed from the reversing device 11. The disk substrate 20 is inserted into the center pin 31. Note that the disk substrate 20 may be separated only by stopping air suction.

ディスク基板20をセンターピン31に嵌入したら、反転装置11を元の位置に移動する。以上によって、図19に示すように、ディスク基板21が嵌入されたセンターピン31に、ディスク基板20が嵌入され、ディスク基板20の芯出しが終了する。すなわち、ディスク基板20およびディスク基板21のそれぞれの貼り合わせ面に展延された接着剤35および接着剤38が対向するように、ディスク基板20およびディスク基板21が載置テーブル36上に同心上となるように配置される。   When the disk substrate 20 is inserted into the center pin 31, the reversing device 11 is moved to the original position. Thus, as shown in FIG. 19, the disk substrate 20 is inserted into the center pin 31 in which the disk substrate 21 is inserted, and the centering of the disk substrate 20 is completed. That is, the disk substrate 20 and the disk substrate 21 are concentrically on the mounting table 36 so that the adhesive 35 and the adhesive 38 spread on the bonding surfaces of the disk substrate 20 and the disk substrate 21 face each other. It is arranged to become.

このように、センターピン31の先端側に縮径部を設け、その縮径部に内径が小さいディスク基板20を嵌入して芯出しを行うことで、内径が異なるディスク基板20とディスク基板21とを貼り合わせる場合であっても、比較的簡便な機構で確実に安定してディスク基板20およびディスク基板21の中心位置を合わせることができる。   Thus, by providing a reduced diameter portion on the distal end side of the center pin 31 and inserting the disk substrate 20 having a small inner diameter into the reduced diameter portion to perform centering, the disk substrate 20 and the disk substrate 21 having different inner diameters are provided. Even in the case where the disk substrates are bonded together, the center positions of the disk substrate 20 and the disk substrate 21 can be reliably and stably aligned with a relatively simple mechanism.

センターピン31にディスク基板20とディスク基板21とが嵌入されたら、ディスク基板20およびディスク基板21は、テーブル装置12によって真空貼り合わせ装置13に搬送される。図21に真空貼り合わせ装置13の構成の一例を示す。   When the disk substrate 20 and the disk substrate 21 are inserted into the center pin 31, the disk substrate 20 and the disk substrate 21 are transported to the vacuum bonding apparatus 13 by the table device 12. FIG. 21 shows an example of the configuration of the vacuum bonding apparatus 13.

真空貼り合わせ装置13は、チャンバ41と、エア通路42と、吸気弁43と、通気弁44と、プッシャ軸45と、モータ46と、プッシャ47と、シール部材48とを備えている。真空貼り合わせ装置13は、ディスク基板20とディスク基板21とが貼り合わされる密閉空間内の圧力を制御し、真空とするための機構と、センターピン31を移動し、ディスク基板20とディスク基板21とを貼り合わせる機構とを有している。   The vacuum bonding apparatus 13 includes a chamber 41, an air passage 42, an intake valve 43, a vent valve 44, a pusher shaft 45, a motor 46, a pusher 47, and a seal member 48. The vacuum bonding apparatus 13 controls the pressure in the sealed space where the disk substrate 20 and the disk substrate 21 are bonded to each other, moves the center pin 31, and moves the disk substrate 20 and the disk substrate 21. And a mechanism for pasting together.

チャンバ41は、貼り合わせを行う空間を外部と仕切る部材であり、テーブル装置12側に対して接離可能とされている。なお、テーブル装置12側をチャンバ41側に対して接離可能としても良い。チャンバ41とテーブル装置12との間には、Oリングなどのシール部材48が設けられており、チャンバ41をテーブル装置12側に閉じた際に、チャンバ41とテーブル装置12側との隙間を塞ぐ構造とされている。   The chamber 41 is a member that partitions the space for bonding from the outside, and can be brought into contact with and separated from the table device 12 side. Note that the table device 12 side may be movable toward and away from the chamber 41 side. A seal member 48 such as an O-ring is provided between the chamber 41 and the table device 12, and closes the gap between the chamber 41 and the table device 12 side when the chamber 41 is closed to the table device 12 side. It is structured.

チャンバ41には、エア通路42が設けられており、チャンバ41内と、図示しない吸気装置の吸気口とが、エア通路42を介して通じている。エア通路42に設けられた吸気弁43は、チャンバ41内と図示しない吸気装置の吸気口との通気状態を調節するための弁である。エア通路42は、さらに外気と通気弁44を介して通じている。通気弁44は、チャンバ41内と外気との通気状態を調節するための弁である。   The chamber 41 is provided with an air passage 42, and the inside of the chamber 41 and an intake port of an intake device (not shown) communicate with each other through the air passage 42. The intake valve 43 provided in the air passage 42 is a valve for adjusting the ventilation state between the chamber 41 and an intake port of an intake device (not shown). The air passage 42 further communicates with outside air through a vent valve 44. The ventilation valve 44 is a valve for adjusting the ventilation state between the inside of the chamber 41 and the outside air.

センターピン31と対向する部分のチャンバ41には、プッシャ軸45が嵌通されている。チャンバ41外のプッシャ軸45の一端は、モータ46と接続されている。プッシャ軸45は、モータ46の回転により、センターピン31の軸方向に移動する。チャンバ41内のプッシャ軸45の他端には、プッシャ47が備えられている。プッシャ47は、センターピン31およびセンターピン31に嵌入されているディスク基板20およびディスク基板21を、均一な圧力でテーブル装置12側に押圧する押圧面を有している。ここでは、プッシャ軸45とプッシャ47とを別体としているが、プッシャ軸45とプッシャ47とは、一体構造であっても良い。   A pusher shaft 45 is fitted into the chamber 41 at a portion facing the center pin 31. One end of the pusher shaft 45 outside the chamber 41 is connected to the motor 46. The pusher shaft 45 moves in the axial direction of the center pin 31 by the rotation of the motor 46. A pusher 47 is provided at the other end of the pusher shaft 45 in the chamber 41. The pusher 47 has a center pin 31 and a pressing surface that presses the disk substrate 20 fitted in the center pin 31 and the disk substrate 21 toward the table device 12 with a uniform pressure. Here, the pusher shaft 45 and the pusher 47 are separated from each other, but the pusher shaft 45 and the pusher 47 may have an integral structure.

真空貼り合わせ装置13は、モータ46、プッシャ軸45およびプッシャ47により、センターピン31の先端を押圧し、センターピン31が移動する構造とされている。センターピン31の先端の押圧は、これらモータ46、プッシャ軸45およびプッシャ47を用いたものに限定されるものではなく、例えば、押圧に用いる動力は、モータに限らず、エアシリンダを用いるなど、他の動力を使用する構造としてもよい。   The vacuum bonding apparatus 13 has a structure in which the center pin 31 moves by pressing the tip of the center pin 31 by a motor 46, a pusher shaft 45, and a pusher 47. The pressing of the tip of the center pin 31 is not limited to those using the motor 46, the pusher shaft 45, and the pusher 47. For example, the power used for pressing is not limited to the motor, and an air cylinder is used. A structure using other power may be used.

センターピン31の先端を押圧することで、センターピン31をセンターピン31に嵌入されているディスク基板20およびディスク基板21を引き抜く方向に移動させて、ディスク基板20の貼り合わせ面とディスク基板21の貼り合わせ面とを密着し、ディスク基板20とディスク基板21とを貼り合わせる構造とされている。センターピン31は、嵌入されたディスク基板20のセンターホールとディスク基板21のセンターホールとが、同心上となるよう構成されているため、この貼り合わせ構造により、ディスク基板20とディスク基板21とを正確に位置合わせして貼り合わせることができる。   By pressing the tip of the center pin 31, the center pin 31 is moved in the direction of pulling out the disk substrate 20 and the disk substrate 21 fitted in the center pin 31, and the bonded surface of the disk substrate 20 and the disk substrate 21 are moved. The bonded surface is in close contact, and the disk substrate 20 and the disk substrate 21 are bonded together. Since the center pin 31 is configured so that the center hole of the inserted disk substrate 20 and the center hole of the disk substrate 21 are concentric, the bonded structure allows the disk substrate 20 and the disk substrate 21 to be connected to each other. It can be accurately aligned and pasted.

シール部材48、吸気弁43、通気弁44によって、チャンバ41をテーブル装置12側に閉じた際に、チャンバ41内の空間を密閉することができる。チャンバ41を閉じた状態で、吸気弁43を開放し、図示しない吸気装置でエアを吸引することで、チャンバ41内の空間を減圧し、真空状態とすることができる。また、そのような減圧状態から吸気弁43を閉じて、通気弁44を開放することで、チャンバ41内の空間の圧力を元の正常な状態とすることができる。すなわち、真空貼り合わせ装置13は、ディスク基板20とディスク基板21との貼り合わせが行われるチャンバ41内の密閉空間の圧力を制御することができる。   When the chamber 41 is closed to the table device 12 side by the seal member 48, the intake valve 43, and the ventilation valve 44, the space in the chamber 41 can be sealed. With the chamber 41 closed, the intake valve 43 is opened, and air is sucked in by an intake device (not shown), whereby the space in the chamber 41 can be decompressed and brought into a vacuum state. In addition, by closing the intake valve 43 and opening the vent valve 44 from such a reduced pressure state, the pressure in the space in the chamber 41 can be returned to the original normal state. That is, the vacuum bonding apparatus 13 can control the pressure in the sealed space in the chamber 41 where the disk substrate 20 and the disk substrate 21 are bonded.

ここで、図22に示すフローチャートを参照して、真空貼り合わせ装置13による貼り合わせ処理の流れの一例について説明する。   Here, with reference to the flowchart shown in FIG. 22, an example of the flow of the bonding process by the vacuum bonding apparatus 13 will be described.

貼り合わせ処理前の状態では、チャンバ41は、開いた状態とされている。また、プッシャ47は、センターピン31側に対して、退行した状態とされている。センターピン31に嵌入されたディスク基板20とディスク基板21とが回転テーブル37によって供給され、貼り合わせの準備が完了する。   In a state before the bonding process, the chamber 41 is in an open state. The pusher 47 is in a retracted state with respect to the center pin 31 side. The disk substrate 20 and the disk substrate 21 fitted in the center pin 31 are supplied by the rotary table 37, and preparation for bonding is completed.

貼り合わせの準備が完了したら、チャンバ41を閉じる(ステップS11)。チャンバ41を閉じて、チャンバ41内を密閉状態としたら、吸気弁43を開放し、図示しない吸気装置によってチャンバ41内のエアを吸引する。これにより、チャンバ41内を減圧し、この状態を保持する(ステップS12)。具体的には、チャンバ41内の圧力を10Pa〜300Paとし、その状態を1秒〜2秒保持する。   When preparation for bonding is completed, the chamber 41 is closed (step S11). When the chamber 41 is closed and the inside of the chamber 41 is sealed, the intake valve 43 is opened, and the air in the chamber 41 is sucked by an intake device (not shown). Thereby, the inside of the chamber 41 is decompressed and this state is maintained (step S12). Specifically, the pressure in the chamber 41 is set to 10 Pa to 300 Pa, and the state is held for 1 second to 2 seconds.

チャンバ41内を減圧した状態を保持したら、プッシャ47をテーブル装置12側へ突出する。これによって、センターピン31を回転テーブル37側に没入し、ディスク基板20の貼り合わせ面とディスク基板21の貼り合わせ面とを接合する(ステップS13)。このプッシャ47の突出については、後で詳細に説明する。   When the pressure in the chamber 41 is maintained, the pusher 47 protrudes toward the table device 12 side. As a result, the center pin 31 is immersed in the rotary table 37 and the bonded surface of the disk substrate 20 and the bonded surface of the disk substrate 21 are joined (step S13). The protrusion of the pusher 47 will be described in detail later.

プッシャ47を突出し、ディスク基板20とディスク基板21とを貼り合わせたら、吸気弁43を閉じ、通気弁44を開放する。これにより、チャンバ41内が通気され、チャンバ41内の圧力が通常となる(ステップS14)。   When the pusher 47 protrudes and the disk substrate 20 and the disk substrate 21 are bonded together, the intake valve 43 is closed and the vent valve 44 is opened. Thereby, the inside of the chamber 41 is ventilated, and the pressure in the chamber 41 becomes normal (step S14).

チャンバ41内を通気したら、チャンバ41を開けて、プッシャ47を、貼り合わせ前の元の位置に退行させる(ステップS15)。貼り合わされたディスク基板20とディスク基板21は、回転テーブル37によって次工程、すなわち接着剤硬化工程を行うための接着剤硬化装置14に供給される。   After venting the chamber 41, the chamber 41 is opened, and the pusher 47 is retracted to the original position before bonding (step S15). The bonded disk substrate 20 and disk substrate 21 are supplied by the rotary table 37 to the adhesive curing device 14 for performing the next process, that is, the adhesive curing process.

なお、搬送不良などによってディスク基板20だけがセンターピン31に嵌入された場合には、テーブル装置12は、センターピン31を移動させず、未硬化の接着剤38がテーブル装置12の載置テーブル36などに付着しないようにする。この場合、真空貼り合わせ装置13から接着剤硬化装置14へは、センターピン31にディスク基板20が嵌入された状態で搬送され、接着剤38が硬化される。   When only the disk substrate 20 is inserted into the center pin 31 due to a conveyance failure or the like, the table device 12 does not move the center pin 31, and the uncured adhesive 38 is placed on the mounting table 36 of the table device 12. Avoid sticking to etc. In this case, the vacuum bonding apparatus 13 is transported to the adhesive curing apparatus 14 with the disk substrate 20 inserted into the center pin 31, and the adhesive 38 is cured.

ここで、上述した真空貼り合わせ装置13のプッシャ47について詳細に説明する。図23は、プッシャ47の構成の一例を示す。なお、ここでは説明を容易とするためハウジング部を省略する。プッシャ47は、載置テーブル36上に配置されたディスク基板20の外周部を、載置テーブル36に向かって外周側から径方向に段階的に押圧するために、外周リング51と内周リング52とからなる二重リングの構造を有している。   Here, the pusher 47 of the vacuum bonding apparatus 13 described above will be described in detail. FIG. 23 shows an example of the configuration of the pusher 47. Here, the housing portion is omitted for ease of explanation. The pusher 47 is configured to press the outer peripheral portion of the disk substrate 20 disposed on the mounting table 36 stepwise in the radial direction from the outer peripheral side toward the mounting table 36. A double ring structure.

外周リング51は、主面の外周部の外側を押圧する円環状の押圧面を有しており、内周リング52は、主面の外周部の内側を押圧する円環状の押圧面を有している。なお、ディスク基板20の主面を押圧する外周リング51および内周リング52の形状は、円環状の押圧面を有するものが好ましいが、主面の外周を均一に押圧できるのであれば、特に限定するものではなく、例えば、同円周上に均等に押圧部を配置した構成としてもよい。また、外周リング51および内周リング52の円環状の押圧面の内径および外径は、それぞれ、ディスク基板20およびディスク基板21の形状や接着剤35および接着剤38の厚み、粘度などを考慮して、適切な値に設定される。   The outer peripheral ring 51 has an annular pressing surface that presses the outer side of the outer peripheral portion of the main surface, and the inner peripheral ring 52 has an annular pressing surface that presses the inner side of the outer peripheral portion of the main surface. ing. The outer ring 51 and the inner ring 52 that press the main surface of the disk substrate 20 preferably have an annular pressing surface, but are particularly limited as long as the outer periphery of the main surface can be pressed uniformly. For example, it is good also as a structure which has arrange | positioned the press part equally on the same periphery. Further, the inner and outer diameters of the annular pressing surfaces of the outer ring 51 and the inner ring 52 take into account the shape of the disk substrate 20 and the disk substrate 21, the thickness of the adhesive 35 and the adhesive 38, the viscosity, and the like, respectively. To an appropriate value.

外周リング51の押圧面の円環と内周リング52の押圧面の円環とは、同心とされており、円環の中央部には、センターピン31を押圧するための押下ピン53が設けられている。押下ピン53のセンターピン31を押圧する部分の形状は、センターピン31を均一な力で押圧できるのであれば、特に限定されるものではない。   The ring on the pressing surface of the outer ring 51 and the ring on the pressing surface of the inner ring 52 are concentric, and a pressing pin 53 for pressing the center pin 31 is provided at the center of the ring. It has been. The shape of the portion of the pressing pin 53 that presses the center pin 31 is not particularly limited as long as the center pin 31 can be pressed with a uniform force.

外周リング51、内周リング52および押下ピン53は、それぞれ、バネ部54、バネ部55、バネ部56によって、プッシャ軸45が取り付けられる固定部57に支持されている。バネ部54、バネ部55およびバネ部56は、それぞれ、外周リング51、内周リング52、押下ピン53をディスク基板20の主面に対して垂直方向に動かすガイド機構と、コイルバネ、板バネなどのバネによりディスク基板20の主面に対して垂直方向に弾性力を持たせる弾性機構とを有している。なお、このバネ部54、バネ部55およびバネ部56の弾性機構は、バネによるものに限らず、所定の弾性力を得ることができるのであれば、他の弾性体によって構成したり、エアやオイルなどの圧力を利用した構成であったりしてもよい。   The outer peripheral ring 51, the inner peripheral ring 52, and the pressing pin 53 are supported by a fixing portion 57 to which the pusher shaft 45 is attached by a spring portion 54, a spring portion 55, and a spring portion 56, respectively. The spring portion 54, the spring portion 55, and the spring portion 56 are respectively a guide mechanism that moves the outer peripheral ring 51, the inner peripheral ring 52, and the pressing pin 53 in a direction perpendicular to the main surface of the disk substrate 20, a coil spring, a leaf spring, and the like. And an elastic mechanism for giving an elastic force in a direction perpendicular to the main surface of the disk substrate 20. Note that the elastic mechanism of the spring part 54, the spring part 55, and the spring part 56 is not limited to a spring, and may be constituted by another elastic body, air, or the like as long as a predetermined elastic force can be obtained. It may be configured to use pressure such as oil.

バネ部56は、例えば押下ピン53の中央部に1箇所設けられており、バネ部54およびバネ部55は、例えば、それぞれ、外周リング51および内周リング52の固定部57と対向する側に、押圧面への弾性力が均一となるように均等に3箇所設けられている。すなわち3点支持とされている。なお、バネ部54、バネ部55およびバネ部56の配置位置および個数は、それぞれ特に限定されるものではない。   The spring portion 56 is provided, for example, at a central portion of the push pin 53, and the spring portion 54 and the spring portion 55 are, for example, on the side facing the fixing portion 57 of the outer ring 51 and the inner ring 52, respectively. Three portions are equally provided so that the elastic force to the pressing surface is uniform. That is, it is a three-point support. In addition, the arrangement position and the number of the spring portions 54, the spring portions 55, and the spring portions 56 are not particularly limited.

弾性機構による外周リング51の弾性力は、内周リング52の弾性力よりも弱い構成とされている。外周リング51の弾性力は、例えば50gf/cm2であり、内周リング52の弾性力は、例えば200gf/cm2である。また、弾性機構による押下ピン53の弾性力は、センターピン31を押し下げるのに十分な比較的強いものとされている。 The elastic force of the outer peripheral ring 51 by the elastic mechanism is configured to be weaker than the elastic force of the inner peripheral ring 52. The elastic force of the outer peripheral ring 51 is, for example, 50 gf / cm 2 , and the elastic force of the inner peripheral ring 52 is, for example, 200 gf / cm 2 . The elastic force of the pressing pin 53 by the elastic mechanism is relatively strong enough to push down the center pin 31.

また、プッシャ軸45に取り付けられた固定部57がモータ46によって下降していった際に、押下ピン53と外周リング51とが、それぞれセンターピン31とディスク基板20の主面とに接してから、内周リング52がディスク基板20の主面に接するように、ディスク基板20の主面側に対してそれぞれ突出した構成とされている。   Further, when the fixing portion 57 attached to the pusher shaft 45 is lowered by the motor 46, the pressing pin 53 and the outer ring 51 come into contact with the center pin 31 and the main surface of the disk substrate 20, respectively. The inner ring 52 projects from the main surface side of the disk substrate 20 so that the inner ring 52 contacts the main surface of the disk substrate 20.

ここで、プッシャ47によるセンターピン31の押し下げについて、図24から図27を参照して詳細に説明する。なお、ここでも説明を容易とするためハウジング部は、省略する。   Here, the pressing of the center pin 31 by the pusher 47 will be described in detail with reference to FIGS. Here, the housing portion is omitted for ease of explanation.

まず、図24に示すように、プッシャ47の押下ピン53とセンターピン31とが同心上に位置するように回転テーブル37が位置決めされる。なお、この位置決めは、例えば、回転テーブル37によってセンターピン31に嵌入されたディスク基板20およびディスク基板21が真空貼り合わせ装置13に搬送される際に行われる。   First, as shown in FIG. 24, the rotary table 37 is positioned so that the pressing pin 53 of the pusher 47 and the center pin 31 are located concentrically. This positioning is performed, for example, when the disk substrate 20 and the disk substrate 21 inserted into the center pin 31 by the rotary table 37 are transported to the vacuum bonding apparatus 13.

回転テーブル37の位置決めがなされたら、モータ46とプッシャ軸45によってプッシャ47を、センターピン31がストッパ58に当たるまでの長さL2だけ降下させ、再び元の位置に上昇させる。なお、センターピン31の移動距離の長さL2は、センターピン31が図中実線の位置にある場合、すなわち一番上まで押し上げられている状態では、センターピン31に嵌入されているディスク基板20の貼り合わせ面とディスク基板21の貼り合わせ面との間には、隙間が設けられ、センターピン31が図中破線の位置にある場合、すなわち一番下まで押し下げられている状態では、センターピン31に嵌入されているディスク基板20の貼り合わせ面とディスク基板21の貼り合わせ面との間が密着し、且つディスク基板21のセンターホールがセンターピン31の下段ピンから外れない範囲に設定されている。   When the rotary table 37 is positioned, the pusher 47 is lowered by the length L2 until the center pin 31 hits the stopper 58 by the motor 46 and the pusher shaft 45, and is raised again to the original position. The length L2 of the movement distance of the center pin 31 is the disk substrate 20 inserted in the center pin 31 when the center pin 31 is at the position of the solid line in the drawing, that is, when it is pushed up to the top. A gap is provided between the bonding surface of the disk substrate 21 and the bonding surface of the disk substrate 21. When the center pin 31 is at the position of the broken line in the drawing, that is, when the center pin 31 is pushed down to the bottom, the center pin is The bonding surface of the disk substrate 20 fitted in 31 and the bonding surface of the disk substrate 21 are in close contact with each other, and the center hole of the disk substrate 21 is set in a range that does not come off from the lower pin of the center pin 31. Yes.

プッシャ47を降下させることで、まず、図25に示すように、外周リング51がディスク基板20の主面に接触し、接触した部分が押圧されて撓み、ディスク基板20が御椀を伏せたような形状となる。すなわち、ディスク基板20の主面が曲面形状となる。また、ディスク基板20の貼り合わせ面とディスク基板21の貼り合わせ面とは、まず、外周部外側において線接触となる。なお、この外周リング51による押圧は、線接触を行うのに十分な比較的低い圧力で行う。   By lowering the pusher 47, first, as shown in FIG. 25, the outer peripheral ring 51 comes into contact with the main surface of the disk substrate 20, the contacted portion is pressed and bent, and the disk substrate 20 seems to be lying down. Shape. That is, the main surface of the disk substrate 20 has a curved shape. Further, the bonding surface of the disk substrate 20 and the bonding surface of the disk substrate 21 are first brought into line contact on the outer periphery. The pressing by the outer peripheral ring 51 is performed at a relatively low pressure sufficient to perform line contact.

さらに、プッシャ47を降下させてセンターピン31を押し下げると、図26に示すように、内周リング52がディスク基板20の主面に接触し、接触した部分が押圧される。ディスク基板20の貼り合わせ面は、曲面形状となっていたため、この内周リング52の押圧により、ディスク基板20の接着剤38は、外周端から内周に向かってディスク基板21の接着剤35と接触していく。なお、この内周リング52による押圧は、接着剤35および接着剤38の外周側の厚みが厚くなっている部分の厚みを均一化するのに適した、外周リング51による押圧よりも高い圧力で行われる。これによって、接着剤35と接着剤38とが合成してなる接着剤層59の平坦化がなされる。   Further, when the pusher 47 is lowered and the center pin 31 is pushed down, as shown in FIG. 26, the inner peripheral ring 52 comes into contact with the main surface of the disk substrate 20, and the contacted portion is pressed. Since the bonding surface of the disk substrate 20 has a curved surface shape, the adhesive 38 of the disk substrate 20 is pressed with the adhesive 35 of the disk substrate 21 from the outer peripheral end toward the inner periphery by pressing the inner peripheral ring 52. Contact. Note that the pressure by the inner ring 52 is higher than the pressure by the outer ring 51, which is suitable for uniformizing the thickness of the portion where the outer peripheral side thickness of the adhesive 35 and the adhesive 38 is thick. Done. Thus, the adhesive layer 59 formed by synthesizing the adhesive 35 and the adhesive 38 is flattened.

センターピン31をストッパ58まで下降することで、ディスク基板20とディスク基板21とが貼り合わされる。プッシャ47を降下させて、センターピン31をストッパ58まで移動したら、プッシャ47を所定の位置まで上昇させる。以上によって、図27に示すように、気泡の混入が抑制され、接着剤層59の厚みムラが改善された良好な貼り合わせディスク60を得ることができる。   The disk substrate 20 and the disk substrate 21 are bonded together by lowering the center pin 31 to the stopper 58. When the pusher 47 is lowered and the center pin 31 is moved to the stopper 58, the pusher 47 is raised to a predetermined position. As described above, as shown in FIG. 27, it is possible to obtain a good bonded disc 60 in which mixing of bubbles is suppressed and thickness unevenness of the adhesive layer 59 is improved.

なお、貼り合わせディスク60の接着剤層59の厚みt3は、例えば40μm〜50μm程度とされる。また、載置テーブル36の外径d5は、接着剤層59の接着剤が外周部にはみ出したときに、載置テーブル36に付着しないように、貼り合わせディスク60の外径d1よりも小さい大きさ、例えば貼り合わせディスク60の外径が60mmである場合には、58mmとすることが好ましい。   The thickness t3 of the adhesive layer 59 of the bonded disc 60 is, for example, about 40 μm to 50 μm. Further, the outer diameter d5 of the mounting table 36 is smaller than the outer diameter d1 of the bonding disk 60 so that the adhesive of the adhesive layer 59 does not stick to the mounting table 36 when it protrudes to the outer peripheral portion. For example, when the outer diameter of the bonded disc 60 is 60 mm, it is preferably 58 mm.

貼り合わせディスク60は、テーブル装置12によって、次工程の接着剤硬化工程を行う接着剤硬化装置14に搬送され、ディスク基板20とディスク基板21とに介在する接着剤層59が硬化される。例えば、接着剤層59が紫外線硬化樹脂である場合には、紫外線が照射される。以上によって、ディスク基板20とディスク基板21の貼り合わせが完了する。   The bonded disc 60 is conveyed by the table device 12 to the adhesive curing device 14 that performs the next adhesive curing step, and the adhesive layer 59 interposed between the disc substrate 20 and the disc substrate 21 is cured. For example, when the adhesive layer 59 is an ultraviolet curable resin, ultraviolet rays are irradiated. Thus, the bonding of the disk substrate 20 and the disk substrate 21 is completed.

図28は、貼り合わせディスク60の断面構成の一例を拡大した図である。貼り合わせディスク60は、ディスク基板20側の反射膜(L0層)61とディスク基板21側の反射膜(L1層)62との2層構成を有している。再生光がL0層側から入射される場合には、反射膜61は、例えばシリコンにより形成され、反射膜62は、例えばアルミニウムにより形成される。再生光がL0層側とL1層側から入射される場合には、反射膜61および反射膜62は、例えばアミニウムにより形成される。   FIG. 28 is an enlarged view of an example of a cross-sectional configuration of the bonded disc 60. The bonded disk 60 has a two-layer structure of a reflective film (L0 layer) 61 on the disk substrate 20 side and a reflective film (L1 layer) 62 on the disk substrate 21 side. When the reproduction light is incident from the L0 layer side, the reflective film 61 is made of, for example, silicon, and the reflective film 62 is made of, for example, aluminum. When the reproduction light is incident from the L0 layer side and the L1 layer side, the reflective film 61 and the reflective film 62 are made of, for example, aminium.

以上説明したように、真空貼り合わせ装置13では、ディスク基板20の外周部の外側が外周リング51で線接触されてから、外周部の内側が内周リング52によって押圧されるため、貼り合わせの際に接着剤層59との間に混入した気泡が内周側に向かって押し出される。また、内周リング52によってディスク基板20の外周部の内側を適切な圧力で押圧することで、スピンコートによって内周部から外周部に向かって厚く展延される接着剤の厚みを均一化することができる。   As described above, in the vacuum bonding apparatus 13, since the outer periphery of the disk substrate 20 is in line contact with the outer ring 51, the inner side of the outer periphery is pressed by the inner ring 52. At this time, bubbles mixed with the adhesive layer 59 are pushed out toward the inner peripheral side. Further, by pressing the inner side of the outer peripheral portion of the disk substrate 20 with an appropriate pressure by the inner peripheral ring 52, the thickness of the adhesive spread thickly from the inner peripheral portion toward the outer peripheral portion by spin coating is made uniform. be able to.

また、光ディスクの外径が例えば60mmと小さい場合や、厚みが例えば0.4mmと薄い場合であっても、プッシャ47によってディスク基板20の外周部を押圧するだけでよいので、比較的簡便な機構で確実に接着剤層の厚みを均一に安定して形成することができる。また、外周リング51および内周リング52による押圧力を適宜設定することで、外周部の厚みの調整を正確に簡単に行うことができる。   Further, even when the outer diameter of the optical disk is as small as 60 mm, for example, or when the thickness is as thin as 0.4 mm, for example, it is only necessary to press the outer peripheral portion of the disk substrate 20 with the pusher 47. Thus, the thickness of the adhesive layer can be reliably and uniformly formed. Further, by appropriately setting the pressing force by the outer peripheral ring 51 and the inner peripheral ring 52, the thickness of the outer peripheral portion can be adjusted accurately and easily.

ここで、実際にこの発明の一実施形態によるディスク基板の貼り合わせ装置および貼り合わせ方法を適用して貼り合わせ型の光ディスクを製造したときの結果について説明する。まず、一実施形態を適用した貼り合わせ型光ディスクを、以下の条件によって作製した。   Here, the results when a bonded optical disk is manufactured by actually applying the disk substrate bonding apparatus and bonding method according to an embodiment of the present invention will be described. First, a bonded optical disk to which one embodiment was applied was manufactured under the following conditions.

ディスク基板20およびディスク基板21の形状は、それぞれ図3Aおよび図3Bに示したものを使用した。スピンコートは、ディスク基板20およびディスク基板21のそれぞれの貼り合わせ面上に、粘度が600cpsのインク(接着剤)を、回転数を6000rpm、回転時間を0.3秒で塗布した。   The shapes of the disk substrate 20 and the disk substrate 21 were those shown in FIGS. 3A and 3B, respectively. In the spin coating, an ink (adhesive) having a viscosity of 600 cps was applied to each bonding surface of the disk substrate 20 and the disk substrate 21 at a rotation speed of 6000 rpm and a rotation time of 0.3 seconds.

また、外周リング51によって、ディスク基板20のφ51mm〜φ58mmの円環状領域を50gf/cm2で加圧し、内周リング52によって、ディスク基板20のφ38mm〜φ50mmの円環状領域を200gf/cm2で加圧した。また、そのときの加圧時間は、0.3秒とした。 Further, the peripheral ring 51, an annular region of φ51mm~φ58mm of the disk substrate 20 was pressurized with 50 gf / cm 2, by the inner peripheral ring 52, an annular region of φ38mm~φ50mm of the disk substrate 20 at 200 gf / cm 2 Pressurized. Moreover, the pressurization time at that time was 0.3 second.

次に、一実施形態により貼り合わせたものとディスクの主面全体を加圧して貼り合わせたものとを比較するために、ディスク基板20のφ20mm〜φ58の円環状領域を、一度に且つ均一な圧力で厚みが均一化されるように押圧して、別の貼り合わせ型の光ディスクを製造した。   Next, in order to compare what was bonded according to one embodiment with what was pressed and bonded to the entire main surface of the disk, the annular region of φ20 mm to φ58 of the disk substrate 20 was made uniform at once. Another laminated optical disc was manufactured by pressing so that the thickness was uniformed by pressure.

それぞれの光ディスクにおけるφ28mm〜φ58mmの範囲の接着剤層59の厚みを測定した結果、ディスクの主面全体を押圧して貼り合わせを行った光ディスクは、接着剤層59の膜厚が35μm〜55μmとばらつきが大きかったのに対して、一実施形態を適用して貼り合わせを行った光ディスクは、接着剤層59の膜厚が37μm〜47μmとばらつきが小さく良好であった。また、一実施形態により貼り合わせたものは、気泡の混入が抑えられた。   As a result of measuring the thickness of the adhesive layer 59 in the range of φ28 mm to φ58 mm in each optical disc, the thickness of the adhesive layer 59 is 35 μm to 55 μm in the optical disc in which the entire main surface of the disc is pressed and bonded. In contrast to the large variation, the optical disc bonded by applying one embodiment had a good thickness with a thickness of 37 μm to 47 μm and the adhesive layer 59 had a small variation. Moreover, the thing bonded together by one Embodiment suppressed mixing of a bubble.

依って、このディスク基板の貼り合わせ装置および貼り合わせ方法では、接着剤層59の厚みを均一化および接着剤層59への気泡の混入を抑制することができ、それにより良好な光ディスクを製造することができることがわかった。   Therefore, in this disc substrate laminating apparatus and laminating method, the thickness of the adhesive layer 59 can be made uniform and the mixing of bubbles into the adhesive layer 59 can be suppressed, thereby producing a good optical disc. I found out that I could do it.

この発明は、上述したこの発明の実施形態に限定されるものでは無く、この発明の要旨を逸脱しない範囲内で様々な変形や応用が可能である。例えば、上述した一実施形態において挙げた数値はあくまでも例にすぎず、必要に応じてこれと異なる数値を用いてもよい。また、上述した一実施形態では、読み取り専用の光ディスクについて説明したが、これに限らず、書き込み可能な光ディスクについても適用することができる。さらには、光ディスクに限らず、他のディスク状媒体の貼り合わせについても適用することができる。   The present invention is not limited to the above-described embodiment of the present invention, and various modifications and applications are possible without departing from the spirit of the present invention. For example, the numerical values given in the above-described embodiment are merely examples, and different numerical values may be used as necessary. In the above-described embodiment, the read-only optical disk has been described. However, the present invention is not limited to this, and the present invention can also be applied to a writable optical disk. Furthermore, the present invention can be applied not only to optical discs but also to other disc-shaped media.

一実施形態を適用した光ディスク製造装置の構成の一例を示す略線図である。It is a basic diagram which shows an example of a structure of the optical disk manufacturing apparatus to which one Embodiment is applied. 光ディスク製造装置の処理の流れを説明するためのフローチャートである。It is a flowchart for demonstrating the flow of a process of an optical disk manufacturing apparatus. 小径ディスク基板および大径ディスク基板の形状の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the shape of a small diameter disc board | substrate and a large diameter disc board | substrate. 搬送用アームを説明するための図である。It is a figure for demonstrating the arm for conveyance. エアチャックおよびプッシャリングを示す斜視図である。It is a perspective view which shows an air chuck | zipper and a pusher ring. エアチャックの下側を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the lower side of an air chuck | zipper. センターピンを示す斜視図である。It is a perspective view which shows a center pin. センターピンの上面および側面を示す図である。It is a figure which shows the upper surface and side surface of a center pin. センターピンのテーパを説明する為の図である。It is a figure for demonstrating the taper of a center pin. 大径ディスク基板を保持した状態を示す略線図である。It is a basic diagram which shows the state holding the large diameter disc board | substrate. 大径ディスク基板を位置決めした状態を示す略線図である。It is a basic diagram which shows the state which positioned the large diameter disc board | substrate. センターピンにチャック爪を嵌入した状態を示す略線図である。It is an approximate line figure showing the state where a chuck nail was inserted in a center pin. プッシャリングを下げた状態を示す略線図である。It is a basic diagram which shows the state which lowered the pusher ring. 大径ディスク基板がセンターピンに嵌入された状態を示す略線図である。It is a basic diagram which shows the state by which the large diameter disc board | substrate was inserted by the center pin. スピンコートによって大径ディスク基板に展延される接着剤を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the adhesive agent spread by a large diameter disc board | substrate by spin coating. 小径ディスク基板を保持した状態を示す略線図である。It is a basic diagram which shows the state holding the small diameter disc board | substrate. 小径ディスク基板を位置決めした状態を示す略線図である。It is a basic diagram which shows the state which positioned the small diameter disc board | substrate. 小径ディスク基板を離した状態を示す略線図である。It is a basic diagram which shows the state which released | separated the small diameter disc board | substrate. 小径ディスク基板と大径ディスク基板がセンターピンに嵌入された状態を示す略線図である。It is a basic diagram which shows the state by which the small diameter disc board | substrate and the large diameter disc board | substrate were inserted by the center pin. スピンコートによって小径ディスク基板に展延される接着剤を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the adhesive agent extended by a spin coat to a small diameter disc board | substrate. 真空貼り合わせ装置の構成の一例を示す略線図である。It is a basic diagram which shows an example of a structure of a vacuum bonding apparatus. 貼り合わせ動作時の処理の流れを説明するためのフローチャートである。It is a flowchart for demonstrating the flow of the process at the time of bonding operation | movement. プッシャの構成の一例を示す略線図である。It is a basic diagram which shows an example of a structure of a pusher. プッシャを下降前の状態を示す略線図である。It is a basic diagram which shows the state before a pusher descend | falls. プッシャの下降途中の状態を示す略線図である。It is a basic diagram which shows the state in the middle of descent | fall of a pusher. プッシャを下降したときの状態を示す略線図である。It is a basic diagram which shows a state when a pusher is lowered | hung. プッシャを上昇したときの状態を示す略線図である。It is a basic diagram which shows a state when a pusher is raised. 貼り合わせディスクの断面構造の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the cross-sectional structure of a bonding disc.

符号の説明Explanation of symbols

11・・・反転装置
12・・・テーブル装置
13・・・真空貼り合わせ装置
14・・・接着剤硬化装置
20・・・ディスク基板(小径)
21・・・ディスク基板(大径)
31・・・センターピン
35,38・・・接着剤
36・・・載置テーブル
37・・・回転テーブル
39・・・搬送アーム
40・・・吸着パッド
41・・・チャンバ
45・・・プッシャ軸
46・・・モータ
47・・・プッシャ
51・・・外周リング
52・・・内周リング
53・・・押下ピン
54,55,56・・・バネ部
57・・・固定部
58・・・ストッパ
59・・・接着剤層
60・・・貼り合わせディスク
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 ... Reversing device 12 ... Table device 13 ... Vacuum bonding device 14 ... Adhesive curing device 20 ... Disc substrate (small diameter)
21 ... Disc substrate (large diameter)
31 ... Center pin 35, 38 ... Adhesive 36 ... Mounting table 37 ... Rotary table 39 ... Transfer arm 40 ... Suction pad 41 ... Chamber 45 ... Pusher shaft 46 ... Motor 47 ... Pusher 51 ... Outer ring 52 ... Inner ring 53 ... Presser pin 54, 55, 56 ... Spring part 57 ... Fixing part 58 ... Stopper 59 ... Adhesive layer 60 ... Laminated disc

Claims (3)

少なくとも一方の貼り合わせ面にスピンコートによって接着剤が展延された第1および第2のディスク基板を貼り合わせるディスク基板の貼り合わせ装置において、
軸方向に移動可能であり、第1のディスク基板および上記第1のディスク基板よりも内径が小さい第2のディスク基板が嵌入される段差状のセンターピンと、
上記第1のディスク基板および上記第2のディスク基板の貼り合わせ面が対向するように、上記第1および第2のディスク基板を順次上記センターピンに嵌入して載置テーブル上に配置する配置手段と、
上記配置手段によって配置された上記第2のディスク基板の外周部を、上記載置テーブルに向かって外周側から径方向に段階的に押圧する押圧手段とを有することを特徴とするディスク基板の貼り合わせ装置。
In the disk substrate bonding apparatus for bonding the first and second disk substrates in which the adhesive is spread on at least one bonding surface by spin coating,
A step-shaped center pin into which a first disk substrate and a second disk substrate having an inner diameter smaller than that of the first disk substrate are fitted;
Arrangement means for sequentially placing the first and second disk substrates into the center pin and arranging them on the mounting table so that the bonding surfaces of the first disk substrate and the second disk substrate face each other. When,
A disc substrate pasting method comprising: pressing means for stepwise pressing the outer peripheral portion of the second disc substrate arranged by the arranging means in a radial direction from the outer peripheral side toward the mounting table. Alignment device.
請求項1において、
上記押圧手段の段階的な押圧は、外周側と内周側との2段階からなり、上記外周側を押圧してから、上記外周側を押圧する圧力よりも強い力で上記内周側を押圧することを特徴とするディスク基板の貼り合わせ装置。
In claim 1,
The stepwise pressing of the pressing means consists of two stages, an outer peripheral side and an inner peripheral side. After pressing the outer peripheral side, the inner peripheral side is pressed with a force stronger than the pressure pressing the outer peripheral side. An apparatus for laminating a disk substrate, comprising:
少なくとも一方の貼り合わせ面にスピンコートによって接着剤が展延された内径が異なる第1および第2のディスク基板を貼り合わせるディスク基板の貼り合わせ方法において、
軸方向に移動可能であり、第1のディスク基板および上記第1のディスク基板よりも内径が小さい第2のディスク基板が嵌入される段差状のセンターピンに、上記第1のディスク基板および上記第2のディスク基板の貼り合わせ面が対向するように、上記第1および第2のディスク基板を順次嵌入して載置テーブル上に配置するステップと、
上記載置テーブルに配置された上記第2のディスク基板の外周部を、上記載置テーブルに向かって外周側から径方向に段階的に押圧するステップとを有することを特徴とするディスク基板の貼り合わせ方法。

In the laminating method of the disk substrate, the first and second disk substrates having different inner diameters, in which the adhesive is spread by spin coating on at least one laminating surface,
A step-shaped center pin into which the first disk substrate and the second disk substrate having an inner diameter smaller than that of the first disk substrate are fitted, and the first disk substrate and the first disk substrate are movable in the axial direction. Inserting the first and second disk substrates in sequence and placing them on the mounting table so that the bonding surfaces of the two disk substrates face each other;
A step of pressing the outer peripheral portion of the second disk substrate disposed on the mounting table in a stepwise manner in the radial direction from the outer peripheral side toward the mounting table. How to match.

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