JP2006107854A - Ic socket - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、電気的特性試験に使用するICソケットに関する。 The present invention relates to an IC socket used for an electrical characteristic test.
従来の電気的特性試験に使用するICソケットとしては、たとえば、特許文献1に記載されたものがある。同文献に記載されたICソケットを図6に示す。 As an IC socket used in a conventional electrical characteristic test, for example, there is one described in Patent Document 1. FIG. 6 shows an IC socket described in this document.
特許文献1に記載されたICソケット1は、半田ボール3と接触するコンタクト部2を有する。コンタクト部2は、円状の金属プレート5の中心付近より切り欠きを入れ、切り欠いた部分を折り曲げて形成された直立された金属羽4を複数有しており、金属羽4が半田ボール3とコンタクトするように構成されている。
An IC socket 1 described in Patent Document 1 has a
しかしながら、近年、半田ボールの鉛フリー化により、硬度の違いも含めて、半田の種類が増加してきている。また、多ピン化も進み、半田ボールのコプラナリティ(平坦精度)の差が大きくなってきている。特許文献1に記載された従来技術においては、半田ボールと金属羽の辺でコンタクトをとるので、コンタクト痕が大きくなることがあった。又、半田ボールのコプラナリティにばらつきがあった場合、金属羽の高さは全て同じなので、先にコンタクトした半田ボールには強く接触し、後からコンタクトした半田ボールには弱く接触することがあった。 However, in recent years, the types of solder, including differences in hardness, have been increasing due to lead-free solder balls. In addition, as the number of pins increases, the difference in coplanarity (flatness accuracy) of solder balls is increasing. In the prior art described in Patent Document 1, since the contact is made between the solder ball and the metal wing, the contact mark may become large. Also, when the coplanarity of the solder balls varies, the height of the metal wings is the same, so the solder balls that have contacted earlier may be in strong contact and may be in contact with the solder balls that contacted later. .
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、信頼性の高い特性試験を実現するICソケットを提供する。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and provides an IC socket that realizes a highly reliable characteristic test.
本発明によれば、パッケージに、前記パッケージに設けられた半田ボールを介して装着されるICソケットであって、前記ICソケットの本体と、前記本体上面に設けられ、前記半田ボールと接続されるコンタクト部と、を備え、前記コンタクト部は、前記本体に固定される導電性を有する弾性体と、前記弾性体に備えられた導電性を有する複数の端子と、を含むことを特徴とするICソケットが提供される。 According to the present invention, an IC socket is mounted on a package via a solder ball provided on the package, and is provided on the main body of the IC socket and on the upper surface of the main body, and is connected to the solder ball. A contact portion, and the contact portion includes a conductive elastic body fixed to the main body and a plurality of conductive terminals provided in the elastic body. A socket is provided.
この発明によれば、ICソケットにおいて、導電性を有する弾性体に備えられた導電性を有する複数の端子と、パッケージに設けられた半田ボールとがコンタクトする。弾性体は弾力性を有するため、半田ボールと端子とのコンタクト時に生じるコンタクト痕を小さくすることができる。また、半田ボールのコプラナリティの差による端子と半田ボールとの間のコンタクト性への影響を低減することができる。 According to the present invention, in the IC socket, the plurality of conductive terminals provided in the conductive elastic body and the solder balls provided in the package are in contact. Since the elastic body has elasticity, it is possible to reduce a contact mark generated at the time of contact between the solder ball and the terminal. In addition, the influence on the contact property between the terminal and the solder ball due to the difference in the coplanarity of the solder ball can be reduced.
本発明によれば、導電性を有する弾性体に備えられた導電性を有する複数の端子を有することによって、信頼性の高い特性試験を実現するICソケットが提供される。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the IC socket which implement | achieves a reliable characteristic test is provided by having the several terminal which has the electroconductivity with which the elastic body which has electroconductivity was equipped.
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。尚、すべての図面において、同様な構成要素には同様の符号を付し、適宜説明を省略する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In all the drawings, the same reference numerals are given to the same components, and the description will be omitted as appropriate.
図1は、本実施形態に係るBGA用ICソケット100の構成を説明するための断面図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view for explaining a configuration of a
BGA用ICソケット100は、本体101の中に円筒状の導電体108が埋設されて設けられる構成を有する。円筒状の導電体108は、その下部に外部端子(不図示)を有し、導通試験用のテストボードの配線と電気的に接続されており、後述するBGAパッケージ110の導通を試験するために用いられる。また、円筒状の導電体108は中空となっており、中空部分の上部に後述する半田ボールの一部を収容することができる。本体101を構成する材料としては、たとえば、ポリカーボネートなどのプラスチックスなどが用いられる。円筒状の導電体108を構成する材料としては、たとえば、銅やアルミニウムなどが用いられる。
The BGA
円筒状の導電体108の上部、つまりリング状の凹部の少なくとも一部を覆うように、帯状かつ板状の弾性体であるバネ106がBGA用ICソケット100に固定されている。また、図3および、バネ106の一部を拡大した平面図である図5(a)に示すようにバネ106の一部に切れ目112を入れ、図5(b)のバネ106の断面図に示すように、その切れ目112を入れた部分を起立させてなる複数の曲げ部102(接触端子)が対になって設けられている。つまり、曲げ部102は、バネ106と同じ材料により構成され、バネ106と一体となって形成されている。また、本実施形態においては、バネ106の上面のレベルは、本体101の上面のレベルと同じである。ここで、バネ106は導電性を有しており、曲げ部102は、曲げ部102と、板状のバネ106が作る面の法線とがなす角の角度が鋭角(0度から15度程度)になるように曲げられて形成されている。バネ106を構成する材料としては、たとえば、鋼などが用いられる。また、後述するストッパー104を有効に機能させるために、図3に示すように、バネ106には、たとえば、コの字状の切り欠きが設けられている。
A
BGAパッケージ110は、径の異なる半田ボール103と半田ボール105とを有する。半田ボール103および半田ボール105を構成する材料としては、鉛フリー半田などが用いられる。
The BGA
バネ106は、その両端に半田ボールを固定するための固定具であるストッパー104を有している。ストッパー104は、BGA用ICソケット100に、BGAパッケージ110が装着される際に、半田ボール103および半田ボール105が、円筒状の導電体108上部のリング形状の領域から外れないようにする機能を有する。ストッパー104を構成する材料としては、たとえば、剛性の高い金属などが用いられる。
The
一対の曲げ部102とバネ106は、BGAパッケージ110とBGA用ICソケット100とを接続する際に、半田ボール103および半田ボール105と円筒状の導電体108とを電気的に接続するコンタクト部としての機能を有する。
The pair of
BGAパッケージ110とBGA用ICソケット100は、上記した材料を用いて、既知の製造方法により製造することができる。
The BGA
以下、図2を用いて、BGAパッケージ110に、BGA用ICソケット100が装着される際の仕組みについて説明する。
Hereinafter, the mechanism when the BGA
電気的特性試験を行う際、BGAパッケージ110を下降させると、まず、半田ボール103および半田ボール105の下端近傍がバネ106の中央部近傍に接触する。次に、バネ106が徐々に曲げられ、曲げ部102が半田ボール103および半田ボール105を突き刺す。ここで、曲げ部102が半田ボール103および半田ボール105を突き刺すことによって、曲げ部102と半田ボール103および半田ボール105とがコンタクトし、電気的に接続される。すなわち、半田ボール103がコンタクト部に嵌入される際に、バネ106が下方に弾性変形して、半田ボール103と曲げ部102とがコンタクトし、電気的に接続される。さらに、BGAパッケージ110を下降させる力を加えると、バネ106に設けられたストッパー104の存在により、半田ボール103および半田ボール105が支えられ、BGAパッケージ110の下降が止まる。
When performing the electrical characteristic test, when the
以下、本実施形態の効果について説明する。 Hereinafter, the effect of this embodiment will be described.
図2に示すように、BGAパッケージ110を下降させてBGA用ICソケット100に装着させる際、曲げ部102が半田ボール103および半田ボール105に接触するときには、弾性体であるバネ106も半田ボール103および半田ボール105の曲面に沿って曲げられている。そのため、半田ボール103および半田ボール105とバネ106とが接触する面において、曲げ部102がほぼ垂直に突き刺さる。つまり、半田ボール103、半田ボール105の球体の中心に向けて、曲げ部102の先端部がほぼ垂直に突き刺さる。したがって、半田ボール103および半田ボール105に曲げ部102が突き刺さる面積を比較的減少させることができる。その結果、半田ボール103および半田ボール105の表面に残るコンタクト痕を小さくすることができる。
As shown in FIG. 2, when the
また、半田ボール103および半田ボール105とバネ106とのコンタクトは、図2に示すように、バネ106の一部を用いて構成されている曲げ部102によってなされている。そのため、半田ボールのコプラナリティに差があったとしても、曲げ部102が撓むことによって、コプラナリティの差を吸収ことができる。したがって、半田ボールとバネ106との間のコンタクト性に及ぼす影響を低減することができる。また、曲げ部102が撓むことによって、バネ106自体の曲がりの大小にかかわらず、上述のコンタクト性に及ぼす影響を低減することができる。また、半田ボール103および半田ボール105の径に差がある場合でも、半田ボールとバネ106とのコンタクトは曲げ部102によってなされるため、上述のコンタクト性に及ぼす影響を低減することができる。
Further, the contact between the
また、バネ106の両端には、ストッパー104が設けられている。そのため、図2に示すように、BGAパッケージ110を下降させることによって、半田ボール103および半田ボール105が下降したとしても、ストッパー104の位置で半田ボール103および半田ボール105の下降を停止させることができる。そのため、半田ボール103および半田ボール105が、円筒状の導電体108の中空部分から外れる可能性を低減することができる。
Further,
以上、図面を参照して本発明の実施形態について述べたが、これらは本発明の例示であり、上記以外の様々な構成を採用することもできる。 As mentioned above, although embodiment of this invention was described with reference to drawings, these are the illustrations of this invention, Various structures other than the above are also employable.
たとえば、上記実施形態においては、バネ106が一方向に設けられ、一対の曲げ部102によって半田ボールとコンタクトさせる形態について説明したが、図4に示すように、バネ106が二方向に設けられ、二対の曲げ部によって半田ボールとコンタクトさせてもよい。こうすることにより、半田ボールとバネ106との間のコンタクト性を、より向上させることができる。また、一方向や二方向だけでなく、三方向以上にバネが設けられ、三対以上の曲げ部によって半田ボールとコンタクトさせてもよい。
For example, in the above embodiment, the
また、上記実施形態においては、バネ106の一部が曲げられて、曲げ部102が形成される形態について説明したが、導電性を有するバネに導電性を有する曲げ部が備えられていればよい。
Moreover, in the said embodiment, although the part in which the
また、上記実施形態においては、導電性を有する弾性体としてバネを用いた形態について説明したが、たとえば、導電ゴムなどのように、バネ以外の導電性を有する弾性体を用いても上記実施形態で説明したのと同様の効果を得ることができる。 Further, in the above-described embodiment, the form using the spring as the elastic body having conductivity has been described. However, for example, the above-described embodiment can also be used by using an elastic body having conductivity other than the spring, such as conductive rubber. The same effect as described in the above can be obtained.
また、上記実施形態においては、弾性体として板状のバネを用いた形態について説明したが、板状以外の弾性体であっても、上記実施形態で説明したのと同様の効果を得られる弾性体であればよい。 Moreover, in the said embodiment, although the form which used the plate-shaped spring was demonstrated as an elastic body, even if it is an elastic body other than a plate shape, the elasticity which can acquire the effect similar to having demonstrated in the said embodiment Any body is acceptable.
また、上記実施形態においては、円筒状の導電体を用いる形態について説明したが、弾性体がその上部と接し、半田ボールの一部を収容できる形状の導電体であればよい。 In the above-described embodiment, the form using the cylindrical conductor has been described. However, any conductor may be used as long as the elastic body is in contact with the upper portion and can accommodate a part of the solder ball.
また、上記実施形態においては、バネ106の一部に切れ目を入れ、その切れ目を入れた部分を起立させて複数の曲げ部102を形成する形態について説明したが、バネ106の一部を上側に突起させることによって複数の曲げ部(複数の端子)を形成してもよいし、他の方法を用いて複数の曲げ部を形成してもよい。
In the above-described embodiment, a description has been given of a mode in which a part of the
また、上記実施形態においては、曲げ部102がバネ106と一体となって形成されている形態について説明したが、一体となっていなくてもよい。
Moreover, in the said embodiment, although the bending
また、上記実施形態においては、バネ106の上面のレベルが、本体101の上面のレベルと同じである形態について説明したが、下方に位置してもよい。
In the above-described embodiment, the form in which the level of the upper surface of the
また、上記実施形態においては、本体101に設けられた円筒状の導電体108の凹部の少なくとも一部を覆うように帯状かつ板状のバネ106が設けられた形態について説明したが、帯状以外のバネ106を設けてもよい。
Moreover, in the said embodiment, although the strip | belt-shaped and plate-shaped
100 BGA用ICソケット
101 本体
102 曲げ部
103 半田ボール
104 ストッパー
105 半田ボール
106 バネ
108 導電体
110 BGAパッケージ
112 切れ目
100
Claims (12)
前記ICソケットの本体と、
前記本体上面に設けられ、前記半田ボールと接続されるコンタクト部と、
を備え、
前記コンタクト部は、前記本体に固定される導電性を有する弾性体と、前記弾性体に備えられた導電性を有する複数の端子と、を含むことを特徴とするICソケット。 An IC socket attached to the package via solder balls provided on the package,
A body of the IC socket;
A contact portion provided on the upper surface of the main body and connected to the solder ball;
With
The IC socket, wherein the contact portion includes a conductive elastic body fixed to the main body, and a plurality of conductive terminals provided in the elastic body.
前記複数の端子は、前記弾性体と一体に形成されることを特徴とするICソケット。 The IC socket according to claim 1,
The IC socket, wherein the plurality of terminals are formed integrally with the elastic body.
前記複数の端子は、前記弾性体の一部に切れ目を入れ、その切れ目を入れた部分を起立させてなるものであることを特徴とするICソケット。 The IC socket according to claim 2,
The IC socket, wherein the plurality of terminals are formed by making a cut in a part of the elastic body and raising the cut part.
前記複数の端子は、前記弾性体の一部を上側に突起させることにより形成されることを特徴とするICソケット。 The IC socket according to claim 2,
The plurality of terminals are formed by projecting a part of the elastic body upward.
前記半田ボールが前記コンタクト部に嵌入される際に、前記弾性体が下方に弾性変形して、前記半田ボールと前記複数の端子とがコンタクトすることを特徴とするICソケット。 The IC socket according to any one of claims 1 to 4,
When the solder ball is inserted into the contact portion, the elastic body is elastically deformed downward so that the solder ball and the plurality of terminals are in contact with each other.
前記弾性体は、板状弾性体であることを特徴とするICソケット。 The IC socket according to any one of claims 1 to 5,
The IC socket according to claim 1, wherein the elastic body is a plate-like elastic body.
前記コンタクト部において、前記弾性体は、前記本体に設けられた凹部の少なくとも一部を覆うように設けられた帯状の弾性体であることを特徴とするICソケット。 The IC socket according to any one of claims 1 to 6,
In the contact part, the elastic body is a band-shaped elastic body provided so as to cover at least a part of a recess provided in the main body.
前記弾性体の上面のレベルは、前記本体の上面のレベルと同じか、もしくはそれより下方に位置することを特徴とするICソケット。 The IC socket according to any one of claims 1 to 7,
The level of the upper surface of the elastic body is the same as or lower than the level of the upper surface of the main body.
前記複数の端子は、一対の端子であることを特徴とするICソケット。 The IC socket according to any one of claims 1 to 8,
The IC socket, wherein the plurality of terminals are a pair of terminals.
前記複数の端子は、二対の端子であることを特徴とするICソケット。 The IC socket according to any one of claims 1 to 8,
The IC socket, wherein the plurality of terminals are two pairs of terminals.
前記コンタクト部は、前記半田ボールを固定するための固定具を有することを特徴とするICソケット。 The IC socket according to any one of claims 1 to 10,
The IC socket according to claim 1, wherein the contact portion has a fixture for fixing the solder ball.
前記弾性体は、バネであることを特徴とするICソケット。 The IC socket according to any one of claims 1 to 11,
The IC socket, wherein the elastic body is a spring.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004291007A JP2006107854A (en) | 2004-10-04 | 2004-10-04 | Ic socket |
Applications Claiming Priority (1)
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009276125A (en) * | 2008-05-13 | 2009-11-26 | Mitsubishi Electric Corp | Electrical connection device |
US10163840B2 (en) | 2007-12-18 | 2018-12-25 | Micron Technology, Inc. | Methods of fluxless micro-piercing of solder balls, and resulting devices |
-
2004
- 2004-10-04 JP JP2004291007A patent/JP2006107854A/en active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US10163840B2 (en) | 2007-12-18 | 2018-12-25 | Micron Technology, Inc. | Methods of fluxless micro-piercing of solder balls, and resulting devices |
US10515918B2 (en) | 2007-12-18 | 2019-12-24 | Micron Technology, Inc. | Methods of fluxless micro-piercing of solder balls, and resulting devices |
JP2009276125A (en) * | 2008-05-13 | 2009-11-26 | Mitsubishi Electric Corp | Electrical connection device |
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