JP2006107854A - Ic socket - Google Patents

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JP2006107854A JP2004291007A JP2004291007A JP2006107854A JP 2006107854 A JP2006107854 A JP 2006107854A JP 2004291007 A JP2004291007 A JP 2004291007A JP 2004291007 A JP2004291007 A JP 2004291007A JP 2006107854 A JP2006107854 A JP 2006107854A
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Yoshiyuki Tanaka
義幸 田中
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an IC socket realizing a characteristics test with high reliability. <P>SOLUTION: When a bending part 102 contacts a solder ball 103 and a solder ball 105, a spring 106 is also bent along faces of the solder ball 103 and the solder ball 105. By the above, the bending part 102 pierces the solder ball 103 and the solder ball 105 almost vertically. Consequently, a contact dent remaining on the solder ball 103 and the solder ball 105 gets smaller. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、電気的特性試験に使用するICソケットに関する。   The present invention relates to an IC socket used for an electrical characteristic test.

従来の電気的特性試験に使用するICソケットとしては、たとえば、特許文献1に記載されたものがある。同文献に記載されたICソケットを図6に示す。   As an IC socket used in a conventional electrical characteristic test, for example, there is one described in Patent Document 1. FIG. 6 shows an IC socket described in this document.

特許文献1に記載されたICソケット1は、半田ボール3と接触するコンタクト部2を有する。コンタクト部2は、円状の金属プレート5の中心付近より切り欠きを入れ、切り欠いた部分を折り曲げて形成された直立された金属羽4を複数有しており、金属羽4が半田ボール3とコンタクトするように構成されている。   An IC socket 1 described in Patent Document 1 has a contact portion 2 that contacts a solder ball 3. The contact portion 2 has a plurality of upright metal blades 4 formed by cutting out a portion near the center of the circular metal plate 5 and bending the notched portion. It is comprised so that it may contact.

特開2001−273962号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2001-273962

しかしながら、近年、半田ボールの鉛フリー化により、硬度の違いも含めて、半田の種類が増加してきている。また、多ピン化も進み、半田ボールのコプラナリティ(平坦精度)の差が大きくなってきている。特許文献1に記載された従来技術においては、半田ボールと金属羽の辺でコンタクトをとるので、コンタクト痕が大きくなることがあった。又、半田ボールのコプラナリティにばらつきがあった場合、金属羽の高さは全て同じなので、先にコンタクトした半田ボールには強く接触し、後からコンタクトした半田ボールには弱く接触することがあった。   However, in recent years, the types of solder, including differences in hardness, have been increasing due to lead-free solder balls. In addition, as the number of pins increases, the difference in coplanarity (flatness accuracy) of solder balls is increasing. In the prior art described in Patent Document 1, since the contact is made between the solder ball and the metal wing, the contact mark may become large. Also, when the coplanarity of the solder balls varies, the height of the metal wings is the same, so the solder balls that have contacted earlier may be in strong contact and may be in contact with the solder balls that contacted later. .

本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、信頼性の高い特性試験を実現するICソケットを提供する。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and provides an IC socket that realizes a highly reliable characteristic test.

本発明によれば、パッケージに、前記パッケージに設けられた半田ボールを介して装着されるICソケットであって、前記ICソケットの本体と、前記本体上面に設けられ、前記半田ボールと接続されるコンタクト部と、を備え、前記コンタクト部は、前記本体に固定される導電性を有する弾性体と、前記弾性体に備えられた導電性を有する複数の端子と、を含むことを特徴とするICソケットが提供される。   According to the present invention, an IC socket is mounted on a package via a solder ball provided on the package, and is provided on the main body of the IC socket and on the upper surface of the main body, and is connected to the solder ball. A contact portion, and the contact portion includes a conductive elastic body fixed to the main body and a plurality of conductive terminals provided in the elastic body. A socket is provided.

この発明によれば、ICソケットにおいて、導電性を有する弾性体に備えられた導電性を有する複数の端子と、パッケージに設けられた半田ボールとがコンタクトする。弾性体は弾力性を有するため、半田ボールと端子とのコンタクト時に生じるコンタクト痕を小さくすることができる。また、半田ボールのコプラナリティの差による端子と半田ボールとの間のコンタクト性への影響を低減することができる。   According to the present invention, in the IC socket, the plurality of conductive terminals provided in the conductive elastic body and the solder balls provided in the package are in contact. Since the elastic body has elasticity, it is possible to reduce a contact mark generated at the time of contact between the solder ball and the terminal. In addition, the influence on the contact property between the terminal and the solder ball due to the difference in the coplanarity of the solder ball can be reduced.

本発明によれば、導電性を有する弾性体に備えられた導電性を有する複数の端子を有することによって、信頼性の高い特性試験を実現するICソケットが提供される。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the IC socket which implement | achieves a reliable characteristic test is provided by having the several terminal which has the electroconductivity with which the elastic body which has electroconductivity was equipped.

以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。尚、すべての図面において、同様な構成要素には同様の符号を付し、適宜説明を省略する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In all the drawings, the same reference numerals are given to the same components, and the description will be omitted as appropriate.

図1は、本実施形態に係るBGA用ICソケット100の構成を説明するための断面図である。   FIG. 1 is a cross-sectional view for explaining a configuration of a BGA IC socket 100 according to the present embodiment.

BGA用ICソケット100は、本体101の中に円筒状の導電体108が埋設されて設けられる構成を有する。円筒状の導電体108は、その下部に外部端子(不図示)を有し、導通試験用のテストボードの配線と電気的に接続されており、後述するBGAパッケージ110の導通を試験するために用いられる。また、円筒状の導電体108は中空となっており、中空部分の上部に後述する半田ボールの一部を収容することができる。本体101を構成する材料としては、たとえば、ポリカーボネートなどのプラスチックスなどが用いられる。円筒状の導電体108を構成する材料としては、たとえば、銅やアルミニウムなどが用いられる。   The BGA IC socket 100 has a configuration in which a cylindrical conductor 108 is embedded in a main body 101. The cylindrical conductor 108 has an external terminal (not shown) at the lower portion thereof, and is electrically connected to the wiring of a test board for continuity testing. In order to test the continuity of the BGA package 110 described later. Used. Further, the cylindrical conductor 108 is hollow, and a part of a solder ball described later can be accommodated in the upper part of the hollow portion. As a material constituting the main body 101, for example, plastics such as polycarbonate is used. As a material constituting the cylindrical conductor 108, for example, copper or aluminum is used.

円筒状の導電体108の上部、つまりリング状の凹部の少なくとも一部を覆うように、帯状かつ板状の弾性体であるバネ106がBGA用ICソケット100に固定されている。また、図3および、バネ106の一部を拡大した平面図である図5(a)に示すようにバネ106の一部に切れ目112を入れ、図5(b)のバネ106の断面図に示すように、その切れ目112を入れた部分を起立させてなる複数の曲げ部102(接触端子)が対になって設けられている。つまり、曲げ部102は、バネ106と同じ材料により構成され、バネ106と一体となって形成されている。また、本実施形態においては、バネ106の上面のレベルは、本体101の上面のレベルと同じである。ここで、バネ106は導電性を有しており、曲げ部102は、曲げ部102と、板状のバネ106が作る面の法線とがなす角の角度が鋭角(0度から15度程度)になるように曲げられて形成されている。バネ106を構成する材料としては、たとえば、鋼などが用いられる。また、後述するストッパー104を有効に機能させるために、図3に示すように、バネ106には、たとえば、コの字状の切り欠きが設けられている。   A spring 106, which is a belt-like and plate-like elastic body, is fixed to the BGA IC socket 100 so as to cover at least a part of the cylindrical conductor 108, that is, the ring-shaped recess. Further, as shown in FIG. 3 and FIG. 5A, which is a plan view showing an enlarged part of the spring 106, a cut 112 is made in a part of the spring 106, and the sectional view of the spring 106 in FIG. As shown in the drawing, a plurality of bent portions 102 (contact terminals) formed by raising a portion having the cut 112 are provided in pairs. That is, the bent portion 102 is made of the same material as the spring 106 and is formed integrally with the spring 106. In the present embodiment, the level of the upper surface of the spring 106 is the same as the level of the upper surface of the main body 101. Here, the spring 106 has conductivity, and the bending portion 102 has an acute angle (about 0 to 15 degrees) between the bending portion 102 and the normal of the surface formed by the plate-like spring 106. ) To be bent. As a material constituting the spring 106, for example, steel is used. Further, in order to make the stopper 104 described later function effectively, the spring 106 is provided with, for example, a U-shaped notch as shown in FIG.

BGAパッケージ110は、径の異なる半田ボール103と半田ボール105とを有する。半田ボール103および半田ボール105を構成する材料としては、鉛フリー半田などが用いられる。   The BGA package 110 has solder balls 103 and solder balls 105 having different diameters. As a material constituting the solder ball 103 and the solder ball 105, lead-free solder or the like is used.

バネ106は、その両端に半田ボールを固定するための固定具であるストッパー104を有している。ストッパー104は、BGA用ICソケット100に、BGAパッケージ110が装着される際に、半田ボール103および半田ボール105が、円筒状の導電体108上部のリング形状の領域から外れないようにする機能を有する。ストッパー104を構成する材料としては、たとえば、剛性の高い金属などが用いられる。   The spring 106 has stoppers 104 that are fixing tools for fixing the solder balls to both ends thereof. The stopper 104 has a function of preventing the solder ball 103 and the solder ball 105 from coming off from the ring-shaped region above the cylindrical conductor 108 when the BGA package 110 is mounted on the BGA IC socket 100. Have. As a material constituting the stopper 104, for example, a highly rigid metal is used.

一対の曲げ部102とバネ106は、BGAパッケージ110とBGA用ICソケット100とを接続する際に、半田ボール103および半田ボール105と円筒状の導電体108とを電気的に接続するコンタクト部としての機能を有する。   The pair of bent portions 102 and the spring 106 serve as contact portions that electrically connect the solder balls 103 and 105 and the cylindrical conductor 108 when the BGA package 110 and the BGA IC socket 100 are connected. It has the function of.

BGAパッケージ110とBGA用ICソケット100は、上記した材料を用いて、既知の製造方法により製造することができる。   The BGA package 110 and the BGA IC socket 100 can be manufactured by a known manufacturing method using the above-described materials.

以下、図2を用いて、BGAパッケージ110に、BGA用ICソケット100が装着される際の仕組みについて説明する。   Hereinafter, the mechanism when the BGA IC socket 100 is mounted on the BGA package 110 will be described with reference to FIG.

電気的特性試験を行う際、BGAパッケージ110を下降させると、まず、半田ボール103および半田ボール105の下端近傍がバネ106の中央部近傍に接触する。次に、バネ106が徐々に曲げられ、曲げ部102が半田ボール103および半田ボール105を突き刺す。ここで、曲げ部102が半田ボール103および半田ボール105を突き刺すことによって、曲げ部102と半田ボール103および半田ボール105とがコンタクトし、電気的に接続される。すなわち、半田ボール103がコンタクト部に嵌入される際に、バネ106が下方に弾性変形して、半田ボール103と曲げ部102とがコンタクトし、電気的に接続される。さらに、BGAパッケージ110を下降させる力を加えると、バネ106に設けられたストッパー104の存在により、半田ボール103および半田ボール105が支えられ、BGAパッケージ110の下降が止まる。   When performing the electrical characteristic test, when the BGA package 110 is lowered, first, the vicinity of the lower end of the solder ball 103 and the solder ball 105 contacts the vicinity of the center of the spring 106. Next, the spring 106 is gradually bent, and the bent portion 102 pierces the solder ball 103 and the solder ball 105. Here, when the bent portion 102 pierces the solder ball 103 and the solder ball 105, the bent portion 102 contacts the solder ball 103 and the solder ball 105, and is electrically connected. That is, when the solder ball 103 is inserted into the contact portion, the spring 106 is elastically deformed downward, and the solder ball 103 and the bent portion 102 are in contact with each other and are electrically connected. Further, when a force for lowering the BGA package 110 is applied, the presence of the stopper 104 provided on the spring 106 supports the solder ball 103 and the solder ball 105, and the lowering of the BGA package 110 is stopped.

以下、本実施形態の効果について説明する。   Hereinafter, the effect of this embodiment will be described.

図2に示すように、BGAパッケージ110を下降させてBGA用ICソケット100に装着させる際、曲げ部102が半田ボール103および半田ボール105に接触するときには、弾性体であるバネ106も半田ボール103および半田ボール105の曲面に沿って曲げられている。そのため、半田ボール103および半田ボール105とバネ106とが接触する面において、曲げ部102がほぼ垂直に突き刺さる。つまり、半田ボール103、半田ボール105の球体の中心に向けて、曲げ部102の先端部がほぼ垂直に突き刺さる。したがって、半田ボール103および半田ボール105に曲げ部102が突き刺さる面積を比較的減少させることができる。その結果、半田ボール103および半田ボール105の表面に残るコンタクト痕を小さくすることができる。   As shown in FIG. 2, when the BGA package 110 is lowered and attached to the BGA IC socket 100, when the bent portion 102 comes into contact with the solder ball 103 and the solder ball 105, the spring 106, which is an elastic body, is also attached to the solder ball 103. The solder ball 105 is bent along the curved surface. Therefore, the bent portion 102 pierces almost perpendicularly on the surface where the solder ball 103 and the solder ball 105 and the spring 106 contact. That is, the tip of the bent portion 102 pierces almost vertically toward the center of the spheres of the solder ball 103 and the solder ball 105. Therefore, the area where the bent portion 102 pierces the solder ball 103 and the solder ball 105 can be relatively reduced. As a result, contact marks remaining on the surfaces of the solder balls 103 and the solder balls 105 can be reduced.

また、半田ボール103および半田ボール105とバネ106とのコンタクトは、図2に示すように、バネ106の一部を用いて構成されている曲げ部102によってなされている。そのため、半田ボールのコプラナリティに差があったとしても、曲げ部102が撓むことによって、コプラナリティの差を吸収ことができる。したがって、半田ボールとバネ106との間のコンタクト性に及ぼす影響を低減することができる。また、曲げ部102が撓むことによって、バネ106自体の曲がりの大小にかかわらず、上述のコンタクト性に及ぼす影響を低減することができる。また、半田ボール103および半田ボール105の径に差がある場合でも、半田ボールとバネ106とのコンタクトは曲げ部102によってなされるため、上述のコンタクト性に及ぼす影響を低減することができる。   Further, the contact between the solder ball 103 and the solder ball 105 and the spring 106 is made by a bent portion 102 formed by using a part of the spring 106, as shown in FIG. Therefore, even if there is a difference in the coplanarity of the solder balls, the difference in the coplanarity can be absorbed by the bending portion 102 being bent. Therefore, the influence on the contact property between the solder ball and the spring 106 can be reduced. In addition, since the bending portion 102 is bent, the influence on the contact property can be reduced regardless of the magnitude of the bending of the spring 106 itself. Even when there is a difference in diameter between the solder ball 103 and the solder ball 105, the contact between the solder ball and the spring 106 is made by the bent portion 102, so that the influence on the contact property described above can be reduced.

また、バネ106の両端には、ストッパー104が設けられている。そのため、図2に示すように、BGAパッケージ110を下降させることによって、半田ボール103および半田ボール105が下降したとしても、ストッパー104の位置で半田ボール103および半田ボール105の下降を停止させることができる。そのため、半田ボール103および半田ボール105が、円筒状の導電体108の中空部分から外れる可能性を低減することができる。   Further, stoppers 104 are provided at both ends of the spring 106. Therefore, as shown in FIG. 2, even if the solder ball 103 and the solder ball 105 are lowered by lowering the BGA package 110, the lowering of the solder ball 103 and the solder ball 105 can be stopped at the position of the stopper 104. it can. Therefore, the possibility that the solder ball 103 and the solder ball 105 are detached from the hollow portion of the cylindrical conductor 108 can be reduced.

以上、図面を参照して本発明の実施形態について述べたが、これらは本発明の例示であり、上記以外の様々な構成を採用することもできる。   As mentioned above, although embodiment of this invention was described with reference to drawings, these are the illustrations of this invention, Various structures other than the above are also employable.

たとえば、上記実施形態においては、バネ106が一方向に設けられ、一対の曲げ部102によって半田ボールとコンタクトさせる形態について説明したが、図4に示すように、バネ106が二方向に設けられ、二対の曲げ部によって半田ボールとコンタクトさせてもよい。こうすることにより、半田ボールとバネ106との間のコンタクト性を、より向上させることができる。また、一方向や二方向だけでなく、三方向以上にバネが設けられ、三対以上の曲げ部によって半田ボールとコンタクトさせてもよい。   For example, in the above embodiment, the spring 106 is provided in one direction and the pair of bent portions 102 are in contact with the solder balls. However, as shown in FIG. 4, the spring 106 is provided in two directions, You may make it contact with a solder ball by two pairs of bending parts. By doing so, the contact property between the solder ball and the spring 106 can be further improved. Further, the springs may be provided not only in one direction or two directions but also in three directions or more, and may be contacted with the solder balls by three or more bending portions.

また、上記実施形態においては、バネ106の一部が曲げられて、曲げ部102が形成される形態について説明したが、導電性を有するバネに導電性を有する曲げ部が備えられていればよい。   Moreover, in the said embodiment, although the part in which the spring 106 was bent and the bending part 102 was formed was demonstrated, the spring which has electroconductivity should just be equipped with the bending part which has electroconductivity. .

また、上記実施形態においては、導電性を有する弾性体としてバネを用いた形態について説明したが、たとえば、導電ゴムなどのように、バネ以外の導電性を有する弾性体を用いても上記実施形態で説明したのと同様の効果を得ることができる。   Further, in the above-described embodiment, the form using the spring as the elastic body having conductivity has been described. However, for example, the above-described embodiment can also be used by using an elastic body having conductivity other than the spring, such as conductive rubber. The same effect as described in the above can be obtained.

また、上記実施形態においては、弾性体として板状のバネを用いた形態について説明したが、板状以外の弾性体であっても、上記実施形態で説明したのと同様の効果を得られる弾性体であればよい。   Moreover, in the said embodiment, although the form which used the plate-shaped spring was demonstrated as an elastic body, even if it is an elastic body other than a plate shape, the elasticity which can acquire the effect similar to having demonstrated in the said embodiment Any body is acceptable.

また、上記実施形態においては、円筒状の導電体を用いる形態について説明したが、弾性体がその上部と接し、半田ボールの一部を収容できる形状の導電体であればよい。   In the above-described embodiment, the form using the cylindrical conductor has been described. However, any conductor may be used as long as the elastic body is in contact with the upper portion and can accommodate a part of the solder ball.

また、上記実施形態においては、バネ106の一部に切れ目を入れ、その切れ目を入れた部分を起立させて複数の曲げ部102を形成する形態について説明したが、バネ106の一部を上側に突起させることによって複数の曲げ部(複数の端子)を形成してもよいし、他の方法を用いて複数の曲げ部を形成してもよい。   In the above-described embodiment, a description has been given of a mode in which a part of the spring 106 is cut and a plurality of bent portions 102 are formed by raising the part having the cut. A plurality of bent portions (a plurality of terminals) may be formed by projecting, or a plurality of bent portions may be formed using other methods.

また、上記実施形態においては、曲げ部102がバネ106と一体となって形成されている形態について説明したが、一体となっていなくてもよい。   Moreover, in the said embodiment, although the bending part 102 demonstrated the form formed integrally with the spring 106, it does not need to be integrated.

また、上記実施形態においては、バネ106の上面のレベルが、本体101の上面のレベルと同じである形態について説明したが、下方に位置してもよい。   In the above-described embodiment, the form in which the level of the upper surface of the spring 106 is the same as the level of the upper surface of the main body 101 has been described.

また、上記実施形態においては、本体101に設けられた円筒状の導電体108の凹部の少なくとも一部を覆うように帯状かつ板状のバネ106が設けられた形態について説明したが、帯状以外のバネ106を設けてもよい。   Moreover, in the said embodiment, although the strip | belt-shaped and plate-shaped spring 106 was provided so that at least one part of the recessed part of the cylindrical conductor 108 provided in the main body 101 might be covered, other than strip | belt shape was demonstrated. A spring 106 may be provided.

実施の形態に係るICソケットを模式的に示した断面図である。It is sectional drawing which showed typically the IC socket which concerns on embodiment. 実施の形態に係るICソケットを模式的に示した断面図である。It is sectional drawing which showed typically the IC socket which concerns on embodiment. 実施の形態に係るICソケットを模式的に示した平面図である。It is the top view which showed typically the IC socket which concerns on embodiment. 実施の形態に係るICソケットを模式的に示した平面図である。It is the top view which showed typically the IC socket which concerns on embodiment. 実施の形態に係るICソケットを模式的に示した拡大図である。It is the enlarged view which showed typically the IC socket which concerns on embodiment. 従来の技術に係るICソケットを模式的に示した図である。It is the figure which showed typically the IC socket which concerns on a prior art.

符号の説明Explanation of symbols

100 BGA用ICソケット
101 本体
102 曲げ部
103 半田ボール
104 ストッパー
105 半田ボール
106 バネ
108 導電体
110 BGAパッケージ
112 切れ目
100 BGA IC socket 101 Body 102 Bending part 103 Solder ball 104 Stopper 105 Solder ball 106 Spring 108 Conductor 110 BGA package 112 Break

Claims (12)

パッケージに、前記パッケージに設けられた半田ボールを介して装着されるICソケットであって、
前記ICソケットの本体と、
前記本体上面に設けられ、前記半田ボールと接続されるコンタクト部と、
を備え、
前記コンタクト部は、前記本体に固定される導電性を有する弾性体と、前記弾性体に備えられた導電性を有する複数の端子と、を含むことを特徴とするICソケット。
An IC socket attached to the package via solder balls provided on the package,
A body of the IC socket;
A contact portion provided on the upper surface of the main body and connected to the solder ball;
With
The IC socket, wherein the contact portion includes a conductive elastic body fixed to the main body, and a plurality of conductive terminals provided in the elastic body.
請求項1に記載のICソケットにおいて、
前記複数の端子は、前記弾性体と一体に形成されることを特徴とするICソケット。
The IC socket according to claim 1,
The IC socket, wherein the plurality of terminals are formed integrally with the elastic body.
請求項2に記載のICソケットにおいて、
前記複数の端子は、前記弾性体の一部に切れ目を入れ、その切れ目を入れた部分を起立させてなるものであることを特徴とするICソケット。
The IC socket according to claim 2,
The IC socket, wherein the plurality of terminals are formed by making a cut in a part of the elastic body and raising the cut part.
請求項2に記載のICソケットにおいて、
前記複数の端子は、前記弾性体の一部を上側に突起させることにより形成されることを特徴とするICソケット。
The IC socket according to claim 2,
The plurality of terminals are formed by projecting a part of the elastic body upward.
請求項1乃至4いずれかに記載のICソケットにおいて、
前記半田ボールが前記コンタクト部に嵌入される際に、前記弾性体が下方に弾性変形して、前記半田ボールと前記複数の端子とがコンタクトすることを特徴とするICソケット。
The IC socket according to any one of claims 1 to 4,
When the solder ball is inserted into the contact portion, the elastic body is elastically deformed downward so that the solder ball and the plurality of terminals are in contact with each other.
請求項1乃至5いずれかに記載のICソケットにおいて、
前記弾性体は、板状弾性体であることを特徴とするICソケット。
The IC socket according to any one of claims 1 to 5,
The IC socket according to claim 1, wherein the elastic body is a plate-like elastic body.
請求項1乃至6いずれかに記載のICソケットにおいて、
前記コンタクト部において、前記弾性体は、前記本体に設けられた凹部の少なくとも一部を覆うように設けられた帯状の弾性体であることを特徴とするICソケット。
The IC socket according to any one of claims 1 to 6,
In the contact part, the elastic body is a band-shaped elastic body provided so as to cover at least a part of a recess provided in the main body.
請求項1乃至7いずれかに記載のICソケットにおいて、
前記弾性体の上面のレベルは、前記本体の上面のレベルと同じか、もしくはそれより下方に位置することを特徴とするICソケット。
The IC socket according to any one of claims 1 to 7,
The level of the upper surface of the elastic body is the same as or lower than the level of the upper surface of the main body.
請求項1乃至8いずれかに記載のICソケットにおいて、
前記複数の端子は、一対の端子であることを特徴とするICソケット。
The IC socket according to any one of claims 1 to 8,
The IC socket, wherein the plurality of terminals are a pair of terminals.
請求項1乃至8いずれかに記載のICソケットにおいて、
前記複数の端子は、二対の端子であることを特徴とするICソケット。
The IC socket according to any one of claims 1 to 8,
The IC socket, wherein the plurality of terminals are two pairs of terminals.
請求項1乃至10いずれかに記載のICソケットにおいて、
前記コンタクト部は、前記半田ボールを固定するための固定具を有することを特徴とするICソケット。
The IC socket according to any one of claims 1 to 10,
The IC socket according to claim 1, wherein the contact portion has a fixture for fixing the solder ball.
請求項1乃至11いずれかに記載のICソケットにおいて、
前記弾性体は、バネであることを特徴とするICソケット。
The IC socket according to any one of claims 1 to 11,
The IC socket, wherein the elastic body is a spring.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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