JP2006086438A - Bus bar structure for semiconductor module - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a bus bar structure for a semiconductor module, the wiring inductance of which is reduced and wherein high-temperature molding resin will not flow between positive/negative power supply connection terminals of each of switching elements at insert molding, and wherein the insulation member between the connection terminals will not deteriorate. <P>SOLUTION: In the bus bar structure for connecting each switching element of the semiconductor module to a power supply, positive/negative power supply connection terminals of each switching element are formed integrally and contained in a resin case, and located to provide facing regions, wherein at least parts of mutual principal faces of the connection terminal face nearly in parallel, an insulating material is located between the facing regions, and insert molding is carried out so that no resin is in contact with the insulating member. The size of the insulating member in the length direction is selected to be smaller than the size of the positive/negative power supply connection terminals, and the insulating material is located in the inside, and a folded part or a step difference part is formed to both ends, in the width direction of one or both the positive/negative power supply connection terminals. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、複数のスイッチング素子から構成される半導体モジュールの各スイッチング素子を電源に接続するバスバー(導電材料からなる板状体)構造に関するものである。   The present invention relates to a bus bar (plate body made of a conductive material) structure for connecting each switching element of a semiconductor module including a plurality of switching elements to a power source.

近年、環境に配慮した自動車として、電気自動車やハイブリッド電気自動車が注目を集めており、実用化が進んでいる。例えば、ハイブリッド電気自動車には、従来のエンジンに加えて電気駆動システムが搭載されている。
この電気駆動システムは、直流電源であるバッテリ、電力変換装置であるインバータ、電動機である交流モータ等で構成されるものである。該システムを備えた車輌では、バッテリから供給される直流電力を、インバータ装置で交流電力に変換して、交流モータを駆動することにより、車輌の推進力を得ている。
In recent years, electric vehicles and hybrid electric vehicles have attracted attention as environmentally friendly vehicles, and their practical application is progressing. For example, a hybrid electric vehicle is equipped with an electric drive system in addition to a conventional engine.
This electric drive system includes a battery as a DC power source, an inverter as a power converter, an AC motor as an electric motor, and the like. In a vehicle equipped with the system, direct current power supplied from a battery is converted into alternating current power by an inverter device, and an alternating current motor is driven to obtain a driving force of the vehicle.

図14は、車輌に搭載される一般的な電気駆動システムの回路構成図である。この電気駆動システムは、ニッケル水素電池、リチウムイオン電池等を複数直列接続したバッテリ1と、該バッテリ1の直流電力を交流電力に変換するインバータ装置2と、該インバータ装置2の交流電力により駆動する交流モータ3等とで構成される。   FIG. 14 is a circuit configuration diagram of a general electric drive system mounted on a vehicle. This electric drive system is driven by a battery 1 in which a plurality of nickel-metal hydride batteries, lithium ion batteries, etc. are connected in series, an inverter device 2 that converts DC power of the battery 1 into AC power, and AC power of the inverter device 2 It is comprised with AC motor 3 grade | etc.,.

図14に示すインバータ装置2は、IGBT等の半導体スイッチング素子5をブリッジ接続して3相構成したスイッチングモジュール6と、それを駆動するためのドライバ回路ユニット7とからなる。
ドライバ回路ユニット7は上位のコントローラ(図示せず)からの信号8aをもとにインバータ装置2を駆動するとともに、インバータ装置2に異常が発生した場合は、信号8bをコントローラ側に伝達する役割を果たす。
スイッチングモジュール6においてブリッジ接続されたスイッチング素子の正極端、および負極端は、各々、正極電源接続端子9(以下、(+)バスバー9という。)と負極電源接続端子10(以下、(−)バスバー10という。)に接続され、(+)バスバー9と(−)バスバー10の端部がP端子11、N端子12としてインバータ装置2の入力端子に用いられる。
インバータ装置2のP端子11、N端子12は、各々、バッテリ1の正極、負極に電気的接続されるとともに、バッテリ1から供給される直流電力を平滑化するための平滑用コンデンサ4が並列接続されている。
スイッチングモジュール6のP端子11、N端子12と、平滑コンデンサ4の正極、負極を各々接続する配線には、導電材料からなる板状体のバスバー13、14が用いられている。
一方、スイッチングモジュール6の出力側の端子であるU、V、W端子は、3相の交流モータ3の各々の入力端子に電気的に接続されている。
The inverter device 2 shown in FIG. 14 includes a switching module 6 having a three-phase configuration in which semiconductor switching elements 5 such as IGBTs are bridge-connected and a driver circuit unit 7 for driving the switching module 6.
The driver circuit unit 7 drives the inverter device 2 based on a signal 8a from a host controller (not shown), and transmits a signal 8b to the controller side when an abnormality occurs in the inverter device 2. Fulfill.
The positive electrode terminal and the negative electrode terminal of the switching element bridge-connected in the switching module 6 are respectively a positive power source connection terminal 9 (hereinafter referred to as (+) bus bar 9) and a negative power source connection terminal 10 (hereinafter referred to as (−) bus bar). 10)), and the ends of the (+) bus bar 9 and the (-) bus bar 10 are used as the P terminal 11 and the N terminal 12 for the input terminal of the inverter device 2.
The P terminal 11 and the N terminal 12 of the inverter device 2 are electrically connected to the positive electrode and the negative electrode of the battery 1, respectively, and a smoothing capacitor 4 for smoothing the DC power supplied from the battery 1 is connected in parallel. Has been.
For the wiring connecting the P terminal 11 and N terminal 12 of the switching module 6 and the positive and negative electrodes of the smoothing capacitor 4, plate-like bus bars 13 and 14 made of a conductive material are used.
On the other hand, the U, V, and W terminals that are terminals on the output side of the switching module 6 are electrically connected to the input terminals of the three-phase AC motor 3.

通常、車輌に搭載される電気駆動システムには、非常に大きい駆動力を発生させることが必要であることから、インバータ装置による交流モータの駆動には、数100Aオーダーの大電流が使用される。
このため、通常10kHzの高速動作にてインバータ装置のスイッチング素子が駆動されることから、スイッチングモジュール6の内部配線である(+)バスバー9、(−)バスバー10、および、平滑コンデンサ4と接続されるバスバー13、14による配線インダクタンスが無視できなくなる。
これら接続配線によるインダクタンスは、スイッチングの際に大きなサージ電圧をスイッチング素子に印加する原因となる。そこで、スイッチング素子の電源に対する配線インダクタンスを低減することが要求される。
Usually, since an electric drive system mounted on a vehicle needs to generate a very large driving force, a large current on the order of several hundreds of A is used for driving an AC motor by an inverter device.
For this reason, since the switching element of the inverter device is normally driven at a high speed operation of 10 kHz, it is connected to the (+) bus bar 9, the (−) bus bar 10 and the smoothing capacitor 4 which are internal wirings of the switching module 6. The wiring inductance due to the bus bars 13 and 14 cannot be ignored.
The inductance due to these connection wirings causes a large surge voltage to be applied to the switching element during switching. Therefore, it is required to reduce the wiring inductance with respect to the power source of the switching element.

配線インダクタンスを低減するためには、平滑コンデンサ4とスイッチングモジュール6を近接配置することが必要となる。これにより、接続配線を短縮化することが可能となるため、配線インダクタンスが低減できる。
また、接続配線の往復線路を近接配置することで、相互インダクタンスを生じさせて配線インダクタンスを低減することが可能であり、スイッチングモジュール6の内部配線である(+)バスバー9、(−)バスバー10や、平滑コンデンサ4に接続されるバスバー13、14は通常、バスバーを積層構造にして近接配置させている。
さらに、平滑コンデンサ4とスイッチングモジュール6を接続するバスバー13、14を互いに近接配置させるために、例えばノーメックス(デュポン製)等の絶縁紙を間に挟み、約0.2mmの間隔でバスバー13、14を近接配置させると、配線インダクタンスを数10nHまで低減することが可能となる。
In order to reduce the wiring inductance, it is necessary to arrange the smoothing capacitor 4 and the switching module 6 close to each other. Thereby, since it becomes possible to shorten a connection wiring, wiring inductance can be reduced.
Further, by arranging the reciprocating lines of the connection wiring close to each other, mutual inductance can be generated to reduce the wiring inductance, and the (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10 which are internal wirings of the switching module 6. Alternatively, the bus bars 13 and 14 connected to the smoothing capacitor 4 are usually arranged close to each other in a laminated structure.
Furthermore, in order to arrange the bus bars 13 and 14 that connect the smoothing capacitor 4 and the switching module 6 close to each other, for example, insulating paper such as Nomex (made by DuPont) is sandwiched between the bus bars 13 and 14 at intervals of about 0.2 mm. If they are arranged close to each other, the wiring inductance can be reduced to several tens of nH.

また、平滑コンデンサとスイッチングモジュール間を接続する2本のバスバー間に、高誘電部材を挟んで配線インダクタンスを低減する構造が提案されている。上記ノーメックスよりも高い誘電率を有する材料を上記バスバー間に挟んで、コンデンサとしての機能を持たせることにより、スイッチング素子がスイッチングする際のサージ電圧を吸収する効果を高めることができる(例えば特許文献1参照)。
特開2003−319665号公報
In addition, a structure has been proposed in which the wiring inductance is reduced by sandwiching a high dielectric member between two bus bars connecting the smoothing capacitor and the switching module. By sandwiching a material having a dielectric constant higher than that of Nomex between the bus bars and having a function as a capacitor, the effect of absorbing a surge voltage when the switching element is switched can be enhanced (for example, Patent Documents). 1).
JP 2003-319665 A

ところが、上記の構造により、平滑コンデンサとスイッチングモジュール間を近接配置して配線インダクタンスを低減できたとしても、該モジュール内部における入力端子からスイッチング素子までの配線については、インサート成形によって樹脂と一体成形されるために近接配置できず、配線インダクタンスを低減することができない。
図15にスイッチングモジュール6の内部構造図を示す。
通常、スイッチングモジュール6のP端子11、N端子12から、スイッチング素子5の正極端・負極端までの内部配線は、無酸素銅板を加工したバスバーが用いられ、スイッチング素子の(+)端子側に接続される(+)バスバー9と(−)端子側に接続される(−)バスバー10が積層配置されている。
ここで、両バスバー間の間隔は狭い方がよいが、狭過ぎると、(+)バスバー9と(−)バスバー10とが接触したり、絶縁距離がとれなくなる。
However, even if the smoothing capacitor and the switching module can be arranged close to each other and the wiring inductance can be reduced by the above structure, the wiring from the input terminal to the switching element in the module is integrally formed with the resin by insert molding. Therefore, it cannot be arranged close to each other, and the wiring inductance cannot be reduced.
FIG. 15 shows an internal structure diagram of the switching module 6.
Usually, the internal wiring from the P terminal 11 and the N terminal 12 of the switching module 6 to the positive electrode end and the negative electrode end of the switching element 5 is a bus bar processed with an oxygen-free copper plate, and is on the (+) terminal side of the switching element. The (+) bus bar 9 to be connected and the (−) bus bar 10 connected to the (−) terminal side are laminated.
Here, it is preferable that the distance between the two bus bars is narrow, but if it is too narrow, the (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10 come into contact with each other and the insulation distance cannot be taken.

上記のことを考慮して、平滑コンデンサとスイッチングモジュールを接続するバスバー間に挟んだノーメックスと同等のものを(+)バスバー9と(−)バスバー10間に挟んでインサート成形を試みたが、インサート成形時に約320℃という非常に温度の高い樹脂を注入するため、樹脂が接触してノーメックスが変形してしまい、均一な絶縁効果が得られないという問題があった。
また、ノーメックスなどの絶縁紙のかわりに、ワニスなどの絶縁性樹脂をバスバー周囲に塗布して積層配置し、インサート成形を試みたが、該絶縁性樹脂の耐熱温度近くの樹脂と接触することで、絶縁劣化が生じ、絶縁性能を低下させてしまうという問題があった。
In consideration of the above, insert molding was attempted with (+) bus bar 9 and (-) bus bar 10 sandwiched between Nomex sandwiched between the bus bars connecting the smoothing capacitor and the switching module. Since a very high temperature resin of about 320 ° C. is injected at the time of molding, there is a problem in that the resin contacts and the nomex is deformed and a uniform insulating effect cannot be obtained.
In addition, instead of insulating paper such as Nomex, an insulating resin such as varnish was applied around the bus bar and placed in layers, and insert molding was attempted, but by contacting with a resin near the heat resistance temperature of the insulating resin, There is a problem in that insulation deterioration occurs and the insulation performance deteriorates.

上記のような問題があったため、配線インダクタンスの低減を図る目的で、スイッチング素子の(+)端子側に接続される(+)バスバーと(−)端子側に接続される(−)バスバー間を近接配置させた場合でも、インサート成形時に、バスバー周囲に高温の成形樹脂が流れ込まず、両バスバー間の接触や絶縁不良が発生せず、(+)バスバーと(−)バスバー間に挟んだ絶縁部材が変形したり、絶縁劣化することがない構造が要求されていた。   Due to the above problems, between the (+) bus bar connected to the (+) terminal side of the switching element and the (−) bus bar connected to the (−) terminal side for the purpose of reducing the wiring inductance. Even when placed close together, high temperature molding resin does not flow around the bus bar during insert molding, and neither contact nor insulation failure occurs between the bus bars. Therefore, there has been a demand for a structure that does not deform or deteriorate the insulation.

本発明は上記課題を解決するものであり、複数のスイッチング素子から構成される半導体モジュールの該スイッチング素子の正極端を電源の正極側に接続する正極電源接続端子((+)バスバー)と、該スイッチング素子の負極端を電源の負極側に接続する負極電源接続端子((−)バスバー)とを一体成形して樹脂成形ケースに収納してなる半導体モジュールのバスバー構造において、
上記正極電源接続端子((+)バスバー)と負極電源接続端子((−)バスバー)とを、少なくとも互いの主面の一部が略平行に向かい合う対向領域を有するように配置し、該対向領域間に、絶縁部材を配置するとともに、該絶縁部材に樹脂が接触しないようインサート成形したことを特徴とする半導体モジュールのバスバー構造である。
The present invention solves the above-mentioned problem, a positive power source connection terminal ((+) bus bar) for connecting the positive end of the switching element of a semiconductor module composed of a plurality of switching elements to the positive side of the power source, In the bus bar structure of the semiconductor module, in which the negative electrode power connection terminal ((−) bus bar) that connects the negative electrode end of the switching element to the negative electrode side of the power source is integrally molded and stored in the resin molded case.
The positive power source connection terminal ((+) bus bar) and the negative power source connection terminal ((−) bus bar) are arranged so that at least a part of each main surface has a facing region facing substantially parallel, the facing region The bus bar structure of the semiconductor module is characterized in that an insulating member is disposed therebetween and insert molding is performed so that the resin does not contact the insulating member.

また、上記の絶縁部材の長手方向寸法を、正極および負極電源接続端子の長手方向寸法より短くして、両接続端子の長手方向両端部よりも内側に配置し、
かつ、正極または負極電源接続端子のいずれか一方または両方の幅方向両端部に折り曲げ部または段差部を形成したことを特徴とする半導体モジュールのバスバー構造である。
Further, the longitudinal dimension of the insulating member is shorter than the longitudinal dimension of the positive and negative power supply connection terminals, and is disposed on the inner side of both longitudinal ends of both connection terminals,
In addition, the semiconductor module bus bar structure is characterized in that a bent portion or a stepped portion is formed at both ends in the width direction of either one or both of the positive electrode and the negative power supply connection terminal.

さらに、上記絶縁部材が、絶縁紙、絶縁性フィルム、または絶縁性樹脂であることを特徴とする半導体モジュールのバスバー構造である。   Furthermore, the bus bar structure of the semiconductor module is characterized in that the insulating member is an insulating paper, an insulating film, or an insulating resin.

そして、上記の正極電源接続端子、負極電源接続端子、絶縁部材のいずれか2以上に位置決め用のガイド穴を設け、該ガイド穴に、インサート成形用金型の位置決めピン、またはピン構造を有する樹脂成形スペーサを挿入して、位置決めを行った状態でインサート成形することを特徴とする半導体モジュールのバスバー構造である。   A positioning guide hole is provided in any two or more of the positive power supply connection terminal, the negative power supply connection terminal, and the insulating member, and a resin having a positioning pin for an insert molding die or a pin structure in the guide hole. A bus bar structure of a semiconductor module, wherein insert molding is performed in a state where a molding spacer is inserted and positioning is performed.

また、上記の正極電源接続端子、負極電源接続端子のいずれか一方または両方が段差部を有し、該段差部とピン構造を有する樹脂成形スペーサとが嵌合することを特徴とする半導体モジュールのバスバー構造である。   In addition, one or both of the positive power supply connection terminal and the negative power supply connection terminal described above have a stepped portion, and the stepped portion and a resin molded spacer having a pin structure are fitted to each other. It is a bus bar structure.

さらに、上記の正極電源接続端子と負極電源接続端子とが、その対向領域に絶縁部材を挟んだ状態で樹脂ケース外部に引き出されていることを特徴とする半導体モジュールのバスバー構造である。   Furthermore, the bus bar structure of the semiconductor module is characterized in that the positive power source connection terminal and the negative power source connection terminal are drawn out of the resin case with an insulating member sandwiched between the opposing regions.

上記構成を用いることで、スイッチングモジュールの内部に配置される(+)、(−)バスバー間を近接配置することができ、配線インダクタンスが低減されるため、スイッチングする際のサージ電圧を低減することができる。
また、バスバー間に薄い絶縁紙、絶縁性フィルム、絶縁性樹脂を挟んで近接配置することで、(+)、(−)バスバー間に容量の小さいコンデンサを介在させるのと同様の構成となり、サージ電圧を吸収するスナバコンデンサとしての役割を果たす。
さらに、(+)、(−)バスバー間を1mm以下の間隔で近接配置させた場合でも、インサート成形時にバスバー周囲に高温の成形樹脂が流れ込まず、ケース部分、およびバスバー端部のケース当接部分のみに注入されるため、両バスバー間の接触不良や絶縁不良が発生しない。
そして、絶縁部材を配置するための位置決め用のガイド穴が設けられていることから、絶縁部材の位置ずれによる配線間の絶縁性能が低下することがなくなり、安定した品質の半導体モジュールの提供が可能となる。
また、(+)、(−)バスバー間に挟む絶縁部材の厚みが薄くなることで、スイッチングモジュールの高さ寸法が低減できるため、薄形化された半導体モジュールを提供することができる。
さらに、樹脂ケースにインサート成形される、(+)、(−)バスバー、および絶縁部材を樹脂ケース外部に引き出すことで、、平滑コンデンサに直接接続することができ、配線インダクタンスを低減した半導体モジュールの提供が可能となる。
By using the above configuration, the (+) and (-) bus bars arranged inside the switching module can be arranged close to each other, and the wiring inductance is reduced, so that the surge voltage at the time of switching is reduced. Can do.
In addition, by placing a thin insulating paper, insulating film, and insulating resin between the bus bars and placing them in close proximity, it becomes the same structure as interposing a capacitor with a small capacity between the (+) and (-) bus bars. Acts as a snubber capacitor that absorbs voltage.
Further, even when the (+) and (-) bus bars are arranged close to each other with an interval of 1 mm or less, high temperature molding resin does not flow around the bus bar during insert molding, and the case contact portion and the case contact portion at the end of the bus bar Therefore, poor contact or insulation failure between both bus bars does not occur.
Since the positioning guide holes for arranging the insulating member are provided, the insulation performance between the wirings due to the displacement of the insulating member is not deteriorated, and a stable quality semiconductor module can be provided. It becomes.
Moreover, since the height dimension of the switching module can be reduced by reducing the thickness of the insulating member sandwiched between the (+) and (−) bus bars, a thinned semiconductor module can be provided.
Furthermore, by pulling out the (+) and (-) bus bars and insulating members that are insert-molded into the resin case to the outside of the resin case, the semiconductor module can be directly connected to the smoothing capacitor and the wiring inductance is reduced. Provision is possible.

以下、本発明による実施例について、図面を参照して説明する。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

[実施例1](図1〜7、バスバー両端に折り曲げ部または段差部形成、位置決め用ピンまたはスペーサ使用)
本発明を利用した半導体モジュールのバスバー構造の一例として、(+)バスバーと(−)バスバー間に絶縁紙としてノーメックスを挟んでインサート成形を行った例を図1に示す。
図1(a)は、(+)バスバー9と(−)バスバー10の間に絶縁紙19を挟み、インサート成形した樹脂ケースを示し、図1(b)、(c)は、インサート成形金型で一体成形する手順を示す。
図1(a)において、(+)バスバー9と(−)バスバー10の間に絶縁紙19を挟むとともにワイヤボンディング領域を空けた状態で、樹脂ケース17の中央に積層配置してインサート成形される構造を取っている。また、樹脂ケース17Aは、(+)バスバー9と(−)バスバー10の端部を各々、外部接続用のP端子11、N端子12として取り出している。
樹脂ケースの製作工程として、(+)バスバー9と(−)バスバー10の間に絶縁紙19を挟んだ状態で上型21aと下型21bを嵌合し(図1(b))、樹脂を注入して一体成形を行っている(図1(c))。
ここで、(+)バスバー9、(−)バスバー10、絶縁紙19の当接部分が上型21aと下型21bで取り囲まれていることから、成形樹脂は、樹脂ケースの注入箇所17Aにのみ注入され、(+)バスバー9、(−)バスバー10、絶縁紙19の当接部分に樹脂が接触することはない。従って、(+)バスバー9、(−)バスバー10の長手方向両端部が樹脂ケース17Aに一体成形された構造をとることとなる。
[Example 1] (FIGS. 1-7, forming bent portions or stepped portions at both ends of the bus bar, using positioning pins or spacers)
As an example of the bus bar structure of the semiconductor module using the present invention, FIG. 1 shows an example in which insert molding is performed with nomex sandwiched between (+) bus bar and (−) bus bar as insulating paper.
1A shows a resin case in which an insulating paper 19 is sandwiched between a (+) bus bar 9 and a (−) bus bar 10 and is insert-molded. FIGS. 1B and 1C are insert molds. The procedure for integrally molding is shown below.
In FIG. 1 (a), the insulating paper 19 is sandwiched between the (+) bus bar 9 and the (-) bus bar 10 and the wire bonding region is opened, and the resin case 17 is laminated and insert-molded. Taking the structure. The resin case 17A takes out the end portions of the (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10 as the P terminal 11 and the N terminal 12 for external connection, respectively.
As a resin case manufacturing process, the upper mold 21a and the lower mold 21b are fitted with the insulating paper 19 sandwiched between the (+) bus bar 9 and the (-) bus bar 10 (FIG. 1 (b)), and the resin is Injection and integral molding are performed (FIG. 1 (c)).
Here, since the contact portions of the (+) bus bar 9, the (−) bus bar 10, and the insulating paper 19 are surrounded by the upper mold 21a and the lower mold 21b, the molding resin is only in the injection portion 17A of the resin case. The resin does not contact the contact portions of the (+) bus bar 9, the (−) bus bar 10, and the insulating paper 19. Therefore, both ends in the longitudinal direction of the (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10 are integrally formed with the resin case 17A.

図2は、(+)バスバー9の下面部、(−)バスバー10の上面部におけるワイヤボンディングエリアを除いた領域に、橋渡し部を形成するため、樹脂を注入しバスバーと樹脂ケースの一体化をより強化した例である。
図2(a)は、樹脂ケースの上面側を示す図であり、図2(b)は下面側を示す図である。樹脂ケースの製作工法として、(+)バスバー9の下部と(−)バスバー10の上部に相当する上型21aと下型21bの領域に各々、凹部17c、17dを設けた状態で、上型21aと下型21bを嵌合し(図2(c))、樹脂を注入して一体成形を行う(図2(d))。
ここで、図1と同様に、(+)バスバー9、(−)バスバー10、絶縁紙19の当接部分が上型21aと下型21bで取り囲まれていることから、成形樹脂は、樹脂ケースの注入箇所17a〜17dにのみ注入され、(+)バスバー9、(−)バスバー10、絶縁紙19の当接部分に樹脂が接触することはない。
FIG. 2 shows a case where resin is injected and the bus bar and the resin case are integrated in order to form a bridging portion in a region excluding the wire bonding area in the lower surface portion of the (+) bus bar 9 and the upper surface portion of the (−) bus bar 10. This is an example of further strengthening.
Fig.2 (a) is a figure which shows the upper surface side of a resin case, FIG.2 (b) is a figure which shows a lower surface side. As a manufacturing method of the resin case, the upper die 21a is provided with the recesses 17c and 17d in the regions of the upper die 21a and the lower die 21b corresponding to the lower part of the (+) bus bar 9 and the upper part of the (−) bus bar 10, respectively. And the lower mold 21b are fitted (FIG. 2 (c)), and resin is injected to perform integral molding (FIG. 2 (d)).
Here, as in FIG. 1, the contact portions of the (+) bus bar 9, the (−) bus bar 10, and the insulating paper 19 are surrounded by the upper mold 21a and the lower mold 21b. The resin does not contact the contact portions of the (+) bus bar 9, the (−) bus bar 10, and the insulating paper 19.

次に、インサート樹脂ケース部と半導体スイッチング素子を実装した放熱板を一体成形して半導体モジュールを製作する工程について説明する。
インサート成形された樹脂ケース17Aは、予め半導体スイッチング素子5が実装された絶縁基板15が搭載された放熱基板16(図3(a))と一体化される(図3(b))。
図3(a)に示すとおり、半導体スイッチング素子5が実装された絶縁基板15は、放熱基板16に実装されて一体化されている。そして、半導体スイッチング素子5が実装された放熱基板16を、周囲に接着樹脂が塗布された状態で、樹脂ケース17Aと接合して一体化される。
Next, a process of manufacturing a semiconductor module by integrally molding a heat sink on which an insert resin case portion and a semiconductor switching element are mounted will be described.
The insert-molded resin case 17A is integrated with the heat dissipation substrate 16 (FIG. 3A) on which the insulating substrate 15 on which the semiconductor switching element 5 is previously mounted is mounted (FIG. 3B).
As shown in FIG. 3A, the insulating substrate 15 on which the semiconductor switching element 5 is mounted is mounted on and integrated with the heat dissipation substrate 16. Then, the heat dissipation board 16 on which the semiconductor switching element 5 is mounted is joined and integrated with the resin case 17A in a state where the adhesive resin is applied to the periphery.

図4(a)は、スイッチングモジュール6の平面図であり、図4(b)はX−X断面図、図4(c)はY−Y断面図を示す。図4(a)において、電源に接続される(+)バスバー9と(−)バスバー10は、絶縁紙19を挟んだ状態で、スイッチングモジュール6の中央に積層配置され、その左側にU、V、W相の上アーム、右側にU、V、W相の下アームの絶縁基板が配置される構造を取っている。そして、絶縁基板15と(+)バスバー9、半導体スイッチング素子5と(−)バスバー10がアルミワイヤ18にて接続されている。
ここで、(+)バスバー9と(−)バスバー10の間には、絶縁紙19として、厚さ0.2mmのノーメックスを使用していることから、従来の成形樹脂を注入して1mm以上の絶縁距離を確保していた状態に比べて、両バスバー間の絶縁層厚みが1/5以下となり、(+)バスバー9と(−)バスバー10が近接配置でき、配線インダクタンスを大幅に低減できる。
ここで、両バスバーの端部においては、絶縁紙19を樹脂ケースに内包して成形しないため、絶縁紙19の長手方向寸法を(+)バスバー9と(−)バスバー10よりも短くするとともに、(+)バスバー9と(−)バスバー10の端部に横方向の折れ曲がり部分(非対向部分)を設けて、空間絶縁距離を取ることで両バスバー間の絶縁を確保している。
4A is a plan view of the switching module 6, FIG. 4B is an XX cross-sectional view, and FIG. 4C is a YY cross-sectional view. In FIG. 4A, the (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10 connected to the power source are stacked in the center of the switching module 6 with the insulating paper 19 sandwiched therebetween, and U, V on the left side thereof. , W-phase upper arm, and U, V, and W-phase lower arm insulating substrates are arranged on the right side. The insulating substrate 15 and the (+) bus bar 9, and the semiconductor switching element 5 and the (−) bus bar 10 are connected by an aluminum wire 18.
Here, between the (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10, a nomex having a thickness of 0.2 mm is used as the insulating paper 19. Compared with the state in which the insulation distance is secured, the insulation layer thickness between the two bus bars is 1/5 or less, and the (+) bus bar 9 and the (-) bus bar 10 can be arranged close to each other, and the wiring inductance can be greatly reduced.
Here, at the end portions of both bus bars, the insulating paper 19 is not encapsulated and molded in a resin case, so the longitudinal dimension of the insulating paper 19 is made shorter than the (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10, The (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10 are provided with bent portions (non-opposing portions) in the lateral direction at the end portions, and the insulation between the two bus bars is secured by taking a space insulation distance.

また、図5に示すとおり、(+)バスバー9と(−)バスバー10の端部の処理方法として、(−)バスバー10の端部にのみ上下方向の段差部を設け、(+)バスバー9と(−)バスバー10の端部に約1mmの空間絶縁距離を取り、この間にスペーサ23を挟んで一体成形することで両バスバー間の絶縁を確保することも可能である。   Further, as shown in FIG. 5, as a method of treating the end portions of the (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10, a vertical stepped portion is provided only at the end portion of the (−) bus bar 10. It is also possible to secure insulation between the two bus bars by forming a space insulation distance of about 1 mm at the end of the bus bar 10 and integrally forming the spacer 23 therebetween.

ここで、ノーメックスについて補足説明する。
ノーメックスはアラミド繊維を主成分とした絶縁紙で、厚み0.2mmで耐圧30kV以上の性能を有する絶縁紙であり、約220℃の耐熱温度を有する。従って、600〜1200V系のインバータ用として、バスバー間の絶縁紙に好適である。
Here, a supplementary explanation of Nomex will be given.
Nomex is an insulating paper mainly composed of an aramid fiber, and is an insulating paper having a thickness of 0.2 mm and a pressure resistance of 30 kV or more, and has a heat resistant temperature of about 220 ° C. Therefore, it is suitable for insulating paper between bus bars for 600-1200V inverters.

図4(a)において、(+)バスバー9と(−)バスバー10、および絶縁紙19には、位置決め用のガイド穴20が2箇所設けられ、このガイド穴をもとに正確に位置決めすることで、両バスバー間を接触させることなく、一定の絶縁距離を保った状態で配置することができる。以下に位置決め方法について説明する。   In FIG. 4A, the (+) bus bar 9, the (-) bus bar 10, and the insulating paper 19 are provided with two positioning guide holes 20, and the positioning is accurately performed based on the guide holes. Therefore, it can arrange | position in the state which maintained the fixed insulation distance, without contacting between both bus-bars. The positioning method will be described below.

図6は、図4における(+)バスバー9と(−)バスバー10、および絶縁紙19の配置を示した図であり、図6(a)は斜視図、図6(b)は図6(a)のA方向から見た側面図である。
図6において、樹脂成形用の金型21には、予め位置決め用のピン22を設けており、これを(+)バスバー9、絶縁紙19、(−)バスバー10の順に挿入することで位置決めを行っている。この際、(+)バスバー9と(−)バスバー10のガイド穴20に対して、絶縁紙19のガイド穴20を充分小さくしておき、ピン22に各ガイド穴径に応じた段差を設けておくことで、精度を確保しつつ位置決めすることが可能となる。
6A and 6B are diagrams showing the arrangement of the (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10 and the insulating paper 19 in FIG. 4. FIG. 6A is a perspective view, and FIG. It is the side view seen from A direction of a).
In FIG. 6, a resin molding die 21 is provided with positioning pins 22 in advance, and positioning is performed by inserting these pins in the order of (+) bus bar 9, insulating paper 19, and (-) bus bar 10. Is going. At this time, the guide hole 20 of the insulating paper 19 is made sufficiently small with respect to the guide hole 20 of the (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10, and a step corresponding to the diameter of each guide hole is provided on the pin 22. Thus, positioning can be performed while ensuring accuracy.

また、他の実施例による、(+)バスバー9と(−)バスバー10、および絶縁紙19の配置を図7(a)、(b)に示す。
図7(a)はこれらの斜視図、図7(b)は図7(a)のA方向から見た側面図を示す。
図7(a)、(b)では、予め樹脂成形しておいたスペーサ23を位置決め用のピンとして用いており、これを(+)バスバー9、絶縁紙19、(−)バスバーの順に挿入することで位置決めを行っている。この際、上記と同様に(+)バスバー9と(−)バスバー10のガイド穴20に対して、絶縁紙のガイド穴20を充分小さくしておき、スペーサ23に各ガイド穴径に応じた段差を付けておくことで、精度を確保して位置決めすることが可能となる。
Moreover, the arrangement of the (+) bus bar 9, the (-) bus bar 10, and the insulating paper 19 according to another embodiment is shown in FIGS.
FIG. 7 (a) is a perspective view of these, and FIG. 7 (b) is a side view seen from the direction A of FIG. 7 (a).
In FIGS. 7A and 7B, a resin-molded spacer 23 is used as a positioning pin, which is inserted in the order of (+) bus bar 9, insulating paper 19, and (-) bus bar. Positioning. At this time, in the same manner as described above, the guide hole 20 of the insulating paper is made sufficiently small with respect to the guide hole 20 of the (+) bus bar 9 and (−) bus bar 10, and a step corresponding to the diameter of each guide hole is provided in the spacer 23. By attaching the mark, it is possible to perform positioning while ensuring accuracy.

上記の位置決め方法について、図6の例では、樹脂成形後に金型のピンを抜くため、両バスバー間に挟んだ絶縁紙の固定が充分であるかを考慮しておく必要がある。
それに対し、図7の例では、別部品としてスペーサ23が必要となるが、両バスバー間に挟まれた絶縁紙がスペーサによって位置固定されているため、より信頼性の高い固定が可能となる。
Regarding the above positioning method, in the example of FIG. 6, in order to remove the pin of the mold after resin molding, it is necessary to consider whether the insulating paper sandwiched between both bus bars is sufficiently fixed.
On the other hand, in the example of FIG. 7, the spacer 23 is required as a separate part. However, since the insulating paper sandwiched between both bus bars is fixed by the spacer, more reliable fixing is possible.

[実施例2](図8、9、バスバー両端に段差部、位置決め用スペーサ使用)
図8(a)、(b)は、絶縁紙を間に挟んだ(+)バスバーと(−)バスバーについて、両バスバーの端部にスペーサを嵌合することで、両バスバーと絶縁紙の位置決め固定とインサート一体成形を両立して実施した例を示すものである。
図8(a)は、図5における(+)バスバー9と(−)バスバー10、および絶縁紙19の配置を示した斜視図であり、図8(b)は、樹脂成形後に図8(a)のA方向から見た側面図である。
図8(a)の(+)バスバー9と(−)バスバー10、および絶縁紙19には、位置決め用のガイド穴20が設けられ、(−)バスバー10に段差が設けられている。そして、予め樹脂成形しておいたスペーサ23を(−)バスバー10と絶縁紙19の間に挿入して位置決めしている。この際、(+)バスバー9と絶縁紙19に設けられたガイド穴径は略同一とすることで両者の間の位置ずれを小さく設定することができる。
ここで、(+)バスバー9と(−)バスバー10の端部においては、段差構造を有して、スペーサを挟んでいるため、両バスバー間距離が従来と同様に1mmまで離れるが、その他のスイッチング素子に近い箇所では、0.2mmの絶縁紙を挟んで近接配置がなされているために、インダクタンス低減の効果を充分に得ることができる。
さらに、(−)バスバーに設けた段差箇所を、P、N端子の取り出し部付近のバスバー曲げ構造として利用することで、バスバー寸法を特に長く設定する必要なく対処できる。
また、これら両バスバーを樹脂ケースと一体成形する際には、図8(b)に示すように、(+)バスバー9と(−)バスバー10、およびスペーサ23の一部が樹脂ケースと一体化されることになり、絶縁紙19が高温状態で金型に注入される樹脂と接触することがないため、絶縁紙19に変形や絶縁耐圧の低下という不具合を発生させることがない。
[Example 2] (FIGS. 8 and 9, use of stepped portions and positioning spacers at both ends of the bus bar)
8 (a) and 8 (b) show the positioning of both bus bars and insulating paper by fitting spacers to the ends of both bus bars (+) and (-) bus bars with insulating paper sandwiched between them. An example in which both fixing and insert integral molding are carried out is shown.
FIG. 8A is a perspective view showing the arrangement of the (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10 and the insulating paper 19 in FIG. 5, and FIG. It is the side view seen from A direction.
The (+) bus bar 9, the (−) bus bar 10, and the insulating paper 19 in FIG. 8A are provided with positioning guide holes 20, and the (−) bus bar 10 is provided with a step. Then, a spacer 23 previously molded with resin is inserted between the (−) bus bar 10 and the insulating paper 19 for positioning. At this time, by setting the guide hole diameters provided in the (+) bus bar 9 and the insulating paper 19 to be substantially the same, the positional deviation between the two can be set small.
Here, since the end portions of the (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10 have a step structure and sandwich the spacer, the distance between the two bus bars is as far as 1 mm as in the conventional case. In a location close to the switching element, the proximity arrangement is performed with 0.2 mm of insulating paper interposed therebetween, so that the effect of reducing inductance can be sufficiently obtained.
Furthermore, by using the stepped portion provided on the (−) bus bar as a bus bar bending structure near the lead-out portion of the P and N terminals, it is possible to cope with it without the need to set the bus bar size particularly long.
Further, when these both bus bars are integrally formed with the resin case, as shown in FIG. 8B, the (+) bus bar 9, the (-) bus bar 10, and a part of the spacer 23 are integrated with the resin case. As a result, the insulating paper 19 does not come into contact with the resin injected into the mold in a high temperature state, so that the insulating paper 19 does not suffer from a problem of deformation or a decrease in withstand voltage.

また、図9は他の実施例であり、図9(a)はその斜視図、図9(b)は樹脂成形後に図9(a)のA方向から見た側面図を示す。
図9では、(+)バスバー9と(−)バスバー10、および絶縁紙19に位置決め用のガイド穴20が設けられ、(+)バスバー9と(−)バスバー10は段差状に形成されている。
そして、予め成形しておいたスペーサ23a、23bを絶縁紙19の位置決めガイド穴を使って挟み込み、コの字状に組み合わせて、さらに上下方向から、(+)バスバー9と(−)バスバー10の位置決め穴に挿入して位置決めしている。
図8の場合と同様、(+)バスバー9と(−)バスバー10の端部では、段差を有して、スペーサを挟んでいるため、両バスバー間距離が従来と同様に約1mmまで離れるが、その他のスイッチング素子に近い箇所では、0.2mmの絶縁紙を挟んで近接配置がなされているため、インダクタンス低減の効果を充分に得ることができる。
さらに、両バスバーに設けた段差箇所を、P、N端子の取り出し部付近のバスバー曲げ構造として利用することで、バスバー寸法を特に長く設定する必要なく対処できる。
また、これら両バスバーを樹脂ケースと一体成形する際には、図9(b)に示すように、(+)バスバー9と(−)バスバー10、およびスペーサ23の一部が樹脂ケースと一体化されることになり、絶縁紙19が高温状態で金型に注入される樹脂と接触することがないため、絶縁紙19に、変形や絶縁耐圧の低下という不具合を発生させることがない。
また、図8の場合と比べると、スペーサ23を2つの部品に分けているため、構成部品は多くなるが、スペーサ23a、23bと両バスバーの界面を通じて流れ込む可能性がある樹脂に対しても、絶縁紙19は接触することがなく、より信頼性の高いインサート樹脂ケースを製作することができる。
FIG. 9 shows another embodiment, FIG. 9 (a) is a perspective view thereof, and FIG. 9 (b) is a side view seen from the direction A of FIG. 9 (a) after resin molding.
In FIG. 9, positioning guide holes 20 are provided in the (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10 and the insulating paper 19, and the (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10 are formed in steps. .
Then, the previously formed spacers 23a and 23b are sandwiched using the positioning guide holes of the insulating paper 19 and combined in a U-shape, and the (+) bus bar 9 and (-) bus bar 10 are It is positioned by inserting it into the positioning hole.
As in the case of FIG. 8, the end portions of the (+) bus bar 9 and (−) bus bar 10 have a step and sandwich the spacer, so that the distance between both bus bars is about 1 mm as in the conventional case. In other locations close to the switching element, the proximity arrangement is made with 0.2 mm of insulating paper in between, so that the effect of reducing inductance can be sufficiently obtained.
Further, by utilizing the stepped portions provided on both bus bars as a bus bar bending structure near the lead-out portion of the P and N terminals, it is possible to cope with it without having to set the bus bar size to be particularly long.
Further, when these both bus bars are integrally formed with the resin case, as shown in FIG. 9 (b), the (+) bus bar 9, the (-) bus bar 10, and a part of the spacer 23 are integrated with the resin case. As a result, the insulating paper 19 does not come into contact with the resin injected into the mold at a high temperature, so that the insulating paper 19 does not suffer from a problem of deformation or a decrease in withstand voltage.
Also, compared to the case of FIG. 8, the spacer 23 is divided into two parts, so the number of components increases, but also for the resin that may flow through the interface between the spacers 23a, 23b and both bus bars, The insulating paper 19 does not come into contact, and a more reliable insert resin case can be manufactured.

[実施例3](図10、11、バスバー両端に段差部、位置決め用スペーサ使用、樹脂ケース外部にL字状バスバー取り出し)
図10は、本発明の他の実施例による半導体モジュールのバスバー構造である。
図10(a)は、スイッチングモジュール6の平面図であり、図10(b)は図10(a)のX−X断面図である。
図10(a)において、電源に接続されるL字状の(+)バスバー9と(−)バスバー10は、絶縁紙19を挟んだ状態で、スイッチングモジュール6の左端に積層配置され、中央にU、V、W各相の絶縁基板が配置される。
樹脂ケース17Aは、(+)バスバー9および(−)バスバー10が、ワイヤボンディング領域を露出した状態で、インサート成形されて一体化されており、(+)バスバー9および(−)バスバー10の端部を、外部接続用のP端子11、N端子12として取り出している。
また、絶縁基板15は、半導体スイッチング素子5を搭載した状態で放熱基板16に半田付けで実装される。そして、絶縁基板15と(+)バスバー9、または半導体スイッチング素子5と(+)バスバー9がアルミワイヤ18にて接続されている。
(+)バスバー9と(−)バスバー10の間には、絶縁紙19として、厚さ0.2mmのノーメックスを使用しているため、従来の成形樹脂を注入して1mm以上の絶縁距離を確保していた状態に比べて、両バスバー間の絶縁層厚さが1/5以下となり、(+)バスバー9と(−)バスバー10が近接配置できることから、配線インダクタンスを大幅に低減できる。
ただし、両バスバーの端部においては、絶縁紙19を樹脂ケースに内包して成形しないために、絶縁紙19の長手方向寸法を(+)バスバー9と(−)バスバー10よりも短くするとともに、(−)バスバー10の両端部に段差部を設けて、約1mmの絶縁距離を取ることで両バスバー間の絶縁性を確保している。
[Example 3] (FIGS. 10 and 11, stepped portions at both ends of bus bar, use of positioning spacer, L-shaped bus bar taken out of resin case)
FIG. 10 shows a bus bar structure of a semiconductor module according to another embodiment of the present invention.
FIG. 10A is a plan view of the switching module 6, and FIG. 10B is a cross-sectional view taken along the line XX of FIG.
In FIG. 10A, the L-shaped (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10 connected to the power source are stacked on the left end of the switching module 6 with the insulating paper 19 sandwiched therebetween, and in the center. Insulating substrates of U, V, and W phases are arranged.
The resin case 17A is formed by insert molding with the (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10 in a state where the wire bonding region is exposed, and the ends of the (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10 are integrated. Are taken out as a P terminal 11 and an N terminal 12 for external connection.
The insulating substrate 15 is mounted by soldering on the heat dissipation substrate 16 with the semiconductor switching element 5 mounted. The insulating substrate 15 and the (+) bus bar 9 or the semiconductor switching element 5 and the (+) bus bar 9 are connected by an aluminum wire 18.
Between the (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10, a nomex having a thickness of 0.2 mm is used as the insulating paper 19, so a conventional molding resin is injected to ensure an insulation distance of 1 mm or more. Compared with the state where it was, the insulation layer thickness between both bus bars becomes 1/5 or less, and the (+) bus bar 9 and the (-) bus bar 10 can be arranged close to each other, so that the wiring inductance can be greatly reduced.
However, since the insulating paper 19 is not encapsulated in the resin case at the ends of both bus bars, the longitudinal dimension of the insulating paper 19 is made shorter than the (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10, (-) Steps are provided at both ends of the bus bar 10, and the insulation between the two bus bars is secured by taking an insulation distance of about 1 mm.

次に、位置決め方法について説明する。
図11は、図10における(+)バスバー9と(−)バスバー10、および絶縁紙19の配置を示した図であり、図11(a)は斜視図、図11(b)は樹脂成形後に図11(a)のA方向から見た側面図、図11(c)はB方向から見た側面図である。
図11において、(+)バスバー9と(−)バスバー10、および絶縁紙19には位置決め用のガイド穴20が設けられているとともに、(−)バスバー10に段差部が設けられている。そして、予め樹脂成形しておいたスペーサ23を(−)バスバー10と絶縁紙19の間に挿入して位置決めしている。この際、(+)バスバーと絶縁紙19に設けられた位置決め用のガイド穴の径を略同一とすることで両者の間の位置ずれを小さく設定することができる。
ここで、図11の(−)バスバー10の端部においては、段差構造を有してスペーサを挟んでいるため、両バスバー間距離が従来と同様に1mmまで離れるが、その他のスイッチング素子に近い箇所では、0.2mmの絶縁紙を挟んで近接配置がなされているために、インダクタンス低減の効果を充分に得ることができる。
上記の両バスバーを樹脂ケースと一体成形する際には、図11(b)に示すように、(+)バスバー9とスペーサ23の一部、および(−)バスバー10の上面領域(ただし、ワイヤボンディング領域を除く)が樹脂ケースと一体化されることになり、絶縁紙19が高温状態で金型に注入される樹脂と接触することがないため、絶縁紙19に変形や絶縁耐圧の低下という不具合を発生させることがない。
また、図11(c)では、樹脂が17eの領域に注入され、(−)バスバー10、スペーサ23と接触して一体成形されているが、この時、スペーサ23が樹脂と絶縁紙19の接触を防止しているため、樹脂ケース17Aの領域が絶縁紙に直接接触していない。
また、別の実施例として、図9で用いたスペーサ23a、23bを絶縁紙19の位置決めガイド穴を使って挟み込み、コの状に組み合わせた後に、(+)バスバー9および(−)バスバー10を上下から嵌合する方法も使用することができる。
Next, a positioning method will be described.
11 is a view showing the arrangement of (+) bus bar 9 and (−) bus bar 10 and insulating paper 19 in FIG. 10, FIG. 11 (a) is a perspective view, and FIG. 11 (b) is after resin molding. 11A is a side view seen from the A direction, and FIG. 11C is a side view seen from the B direction.
In FIG. 11, a guide hole 20 for positioning is provided in the (+) bus bar 9, the (−) bus bar 10, and the insulating paper 19, and a step portion is provided in the (−) bus bar 10. Then, a spacer 23 previously molded with resin is inserted between the (−) bus bar 10 and the insulating paper 19 for positioning. At this time, by making the diameters of the (+) bus bar and the positioning guide holes provided in the insulating paper 19 substantially the same, the positional deviation between them can be set small.
Here, since the end of the (−) bus bar 10 in FIG. 11 has a step structure and sandwiches the spacer, the distance between the bus bars is as far as 1 mm as in the conventional case, but is close to other switching elements. In the place, since the adjacent arrangement is performed with 0.2 mm of insulating paper interposed therebetween, the effect of reducing inductance can be sufficiently obtained.
When the both bus bars are integrally formed with the resin case, as shown in FIG. 11B, (+) part of the bus bar 9 and the spacer 23 and (−) the upper surface region of the bus bar 10 (however, the wire (Excluding the bonding region) is integrated with the resin case, and the insulating paper 19 does not come into contact with the resin injected into the mold in a high temperature state. There is no problem.
Further, in FIG. 11C, the resin is injected into the region 17e and is integrally formed by contacting the (−) bus bar 10 and the spacer 23. At this time, the spacer 23 is in contact with the resin and the insulating paper 19. Therefore, the region of the resin case 17A is not in direct contact with the insulating paper.
Further, as another embodiment, the spacers 23a and 23b used in FIG. 9 are sandwiched using the positioning guide holes of the insulating paper 19 and combined in a U shape, and then the (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10 are A method of fitting from above and below can also be used.

[実施例4](図12、バスバー両端に段差部、位置決め用スペーサおよび絶縁性樹脂使用)
図12は、本発明の他の実施例による半導体モジュールのバスバー構造である。
図12(a)は、図1における(+)バスバー9と(−)バスバー10、および絶縁性樹脂24の配置を示した斜視図であり、図12(b)は、樹脂成形後に図12(a)のA方向から見た側面図である。図12(a)において、絶縁性樹脂24はワニスであり、(+)バスバー9のワイヤボンディング領域を除くエリアに予め塗布されている。
このように、絶縁性樹脂が(+)バスバー、または(−)バスバーに予め塗布されている場合は、絶縁性樹脂と両バスバー間の位置決め用のガイド穴を設ける必要はなく、(+)バスバー9と(−)バスバー10間の位置決め用のガイド穴を設けるだけでよい。従って、図12に示すように、(+)バスバー9と(−)バスバー10には位置決め用のガイド穴20が設けられているとともに、(−)バスバー10にのみ段差部が設けられている。
そして、予め樹脂成形しておいたスペーサ23を絶縁性樹脂24の塗布領域と交差させて、(+)バスバー9と(−)バスバー10の間に配置し、嵌合して一体成形を行う。ここで、図12(b)に示すように、(+)バスバー9と(−)バスバー10、およびスペーサ23の一部が樹脂ケースと一体化されることになり、絶縁性樹脂24が高温状態で金型に注入される樹脂と接触することがないため、絶縁性樹脂24に軟化や絶縁耐圧の低下という不具合を発生させることがない。
[Example 4] (FIG. 12, use of stepped portions, positioning spacers and insulating resin at both ends of the bus bar)
FIG. 12 shows a bus bar structure of a semiconductor module according to another embodiment of the present invention.
FIG. 12A is a perspective view showing the arrangement of the (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10 and the insulating resin 24 in FIG. 1, and FIG. It is the side view seen from A direction of a). In FIG. 12A, the insulating resin 24 is a varnish, and is applied in advance to an area of the (+) bus bar 9 excluding the wire bonding region.
Thus, when the insulating resin is previously applied to the (+) bus bar or the (−) bus bar, there is no need to provide a guide hole for positioning between the insulating resin and both bus bars. It is only necessary to provide a guide hole for positioning between 9 and (−) bus bar 10. Therefore, as shown in FIG. 12, the (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10 are provided with positioning guide holes 20, and the (−) bus bar 10 is provided with a stepped portion.
Then, the resin-molded spacer 23 is placed between the (+) bus bar 9 and the (-) bus bar 10 so as to intersect the application region of the insulating resin 24, and is integrally molded by fitting. Here, as shown in FIG. 12 (b), the (+) bus bar 9, the (-) bus bar 10, and a part of the spacer 23 are integrated with the resin case, so that the insulating resin 24 is in a high temperature state. In this case, the insulating resin 24 is not softened and the breakdown voltage is not lowered.

[実施例5](図13、樹脂ケース外部にL字状バスバー取り出し、位置決め用スペーサ使用)
図13は、本発明の他の実施例による半導体モジュールのバスバー構造である。
図13(a)は、スイッチングモジュール6から(+)バスバー9、(−)バスバー10を取り出し、平滑コンデンサ4に直接接続した構造を示す平面図であり、図13(b)は図13(a)のX−X断面図である。
図13(a)において、スイッチングモジュール6の(+)バスバー9と(−)バスバー10がともにL字形状であり、その対向領域に絶縁紙19を挟んだ状態で樹脂ケース外部に取り出されている。そして、(+)バスバー9と(−)バスバー10の端部である、P端子11、N端子12が平滑コンデンサ4と直接ネジ止め接続されている。
このような構造を取ることで、スイッチング素子の正極、負極に各々、接続される(+)バスバー9、(−)バスバー10が、約0.2mm厚の絶縁紙を介して配置されることで低インダクタンス化が可能であり、(+)バスバー9と(−)バスバー10を平滑コンデンサ4に接続する際の接続バスバー13、14を不要とすることができ、バスバー接続時のネジ止め箇所を含めてインダクタンスを大幅に低減することができる。
[Example 5] (FIG. 13, L-shaped bus bar is taken out of resin case and positioning spacer is used)
FIG. 13 shows a bus bar structure of a semiconductor module according to another embodiment of the present invention.
13A is a plan view showing a structure in which the (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10 are taken out from the switching module 6 and directly connected to the smoothing capacitor 4, and FIG. 13B is a plan view of FIG. It is XX sectional drawing of).
In FIG. 13A, both the (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10 of the switching module 6 are L-shaped, and are taken out of the resin case with the insulating paper 19 sandwiched between the opposing areas. . The (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10, which are the end portions of the P terminal 11 and the N terminal 12, are directly screwed to the smoothing capacitor 4.
By adopting such a structure, the (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10 respectively connected to the positive electrode and the negative electrode of the switching element are disposed via insulating paper having a thickness of about 0.2 mm. The inductance can be reduced, and the connection bus bars 13 and 14 when the (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10 are connected to the smoothing capacitor 4 can be dispensed with, including screw fixing points when the bus bar is connected. Inductance can be greatly reduced.

上記の実施例1〜5においては、バスバー間に挟む絶縁部材として、絶縁紙を使用するか、もしくは絶縁性樹脂を塗布する例について記載した。ここで、絶縁紙に変えて、フィルムコンデンサなどで使用される絶縁フィルムを使用することもできる。絶縁フィルムで使用が可能な例として、例えば、ポリプロピレン(以下、PP)、ポリフェニレンスルフィド(以下、PPS)、ポリエチレンテレフタレート(以下、PET)等を利用できる。例えば、PPSは、厚さ0.2mmで耐圧1000V程度を有する絶縁フィルムであり、絶縁性能も非常に高い。
ただし、上記のフィルムは鋭利な刃物で簡単に破断してしまうために、複数枚を重ねて、バスバー間に挟む等の工夫をして使用することが望ましい。
In said Examples 1-5, it described about the example which uses an insulating paper or apply | coats insulating resin as an insulating member pinched | interposed between bus bars. Here, instead of insulating paper, an insulating film used in a film capacitor or the like can be used. Examples that can be used for the insulating film include polypropylene (hereinafter referred to as PP), polyphenylene sulfide (hereinafter referred to as PPS), polyethylene terephthalate (hereinafter referred to as PET), and the like. For example, PPS is an insulating film having a thickness of 0.2 mm and a withstand voltage of about 1000 V, and has an extremely high insulating performance.
However, since the above-mentioned film is easily broken by a sharp blade, it is desirable to use it by devising such as stacking a plurality of films and sandwiching them between bus bars.

《数値による効果確認》
ここで、(+)バスバー9と(−)バスバー10の間にある絶縁層の厚さをd、被誘電率をεとし、(+)バスバー9と(−)バスバー10の対向面積をSとすると、(+)バスバー9と(−)バスバー10の対向面によって形成される静電容量Cは、次式で表される。
《Effect confirmation by numerical value》
Here, the thickness of the insulating layer between the (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10 is d, the dielectric constant is ε r, and the opposing area of the (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10 is S. Then, the capacitance C formed by the facing surfaces of the (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10 is expressed by the following equation.

Figure 2006086438
Figure 2006086438

ここで、対向面積Sを固定とし、(+)バスバー9と(−)バスバー10の間に厚さd1、比誘電率εr1の絶縁部材を挿入した場合の静電容量C1と、厚さd2、被誘電率εr2の絶縁部材を挿入した場合の静電容量C2を式1に代入して、C1/C2を算出すると、次式のようになる。 Here, the capacitance C1 and the thickness d2 when the facing area S is fixed and an insulating member having a thickness d1 and a relative dielectric constant εr1 is inserted between the (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10 are shown. Substituting the electrostatic capacitance C2 when an insulating member having a dielectric constant ε r2 is inserted into Equation 1 to calculate C1 / C2, the following equation is obtained.

Figure 2006086438
Figure 2006086438

よって、厚さd1=0.2mm、比誘電率εr1=2.6のノーメックスを使用した場合の静電容量C1と、従来のインサート成形による樹脂層で厚さd2=1mm、比誘電率εr2=5.7のフォートロン6165A4(ポリプラスティックス製PPS系樹脂)を使用した場合の静電容量C2との比は、C1/C2≒2.3倍となり、(+)バスバー9と(−)バスバー10間の静電容量を大きく増加することができ、サージ電圧を吸収するスナバコンデンサとしての役割を発揮することができる。
また、ノーメックスの代わりに、より誘電率の高い絶縁フィルムを利用して、コンデンサとしての効果を高めることもできる。
例えば、厚さ15μmで耐圧1000V程度を有する比誘電率εr1=2.2のPPSフィルムを2枚重ねて(厚さd1=0.03mm)(+)バスバー9と(−)バスバー10間に当接させたときの静電容量C1と、従来のインサート成形による樹脂層で厚さd2=1mm、比誘電率εr2=5.7のフォートロン6165A4(ポリプラスティックス製PPS系樹脂)を使用したときの静電容量C2との比は、C1/C2≒12.9倍となり、サージ電圧を吸収するスナバコンデンサとしての役割をもたせることができる。
さらに、図12(a)に示す絶縁性樹脂として比誘電率εr1=3.8のポリエステル系ワニスを使用し、塗布厚さd=0.3mmとした場合の静電容量C1と従来のインサート成形による樹脂層の静電容量C2との比は、C1/C2≒2.2倍とすることができる。
なお、ワニスはノーメックスと比較して耐傷性が低いが、ノーメックスより厚く塗布することで、同等の効果が得られる。
Therefore, the capacitance C1 when using Nomex having a thickness d1 = 0.2 mm and a relative dielectric constant ε r1 = 2.6, and a thickness d2 = 1 mm and a relative dielectric constant ε of a resin layer obtained by conventional insert molding. When Fortron 6165A4 (polyplastics PPS resin) with r2 = 5.7 is used, the ratio to the capacitance C2 is C1 / C2≈2.3 times, and (+) bus bar 9 and (− ) Capacitance between the bus bars 10 can be greatly increased, and a role as a snubber capacitor that absorbs a surge voltage can be exhibited.
Moreover, the effect as a capacitor | condenser can also be heightened using an insulating film with a higher dielectric constant instead of Nomex.
For example, two PPS films having a relative dielectric constant ε r1 = 2.2 having a thickness of 15 μm and a withstand voltage of about 1000 V are stacked (thickness d1 = 0.03 mm) between the (+) bus bar 9 and the (−) bus bar 10. Uses Fortron 6165A4 (polyplastics PPS resin) with electrostatic capacity C1 when abutting and resin layer by conventional insert molding with thickness d2 = 1 mm and relative dielectric constant ε r2 = 5.7 In this case, the ratio to the capacitance C2 is C1 / C2≈12.9 times, and it can serve as a snubber capacitor that absorbs the surge voltage.
Further, as the insulating resin shown in FIG. 12A, a polyester varnish having a relative dielectric constant ε r1 = 3.8 and a coating thickness d 1 = 0.3 mm and a conventional capacitance C1 are shown. The ratio of the resin layer formed by insert molding to the capacitance C2 can be C1 / C2≈2.2 times.
Although varnish has lower scratch resistance than Nomex, the same effect can be obtained by applying the varnish thicker than Nomex.

さらに、(+)バスバー9と(−)バスバー10を近接配置することによるインダクタンス低減効果について試算を行う。
(+)バスバー9と(−)バスバー10の対向幅をh、対向長さをlとし、両バスバー間の距離(絶縁層の厚さ)をsとすると、(+)バスバー9と(−)バスバー10の平行銅板の配線インダクタンスLは、次式で示される。
Further, a trial calculation is performed with respect to an inductance reduction effect by arranging the (+) bus bar 9 and the (-) bus bar 10 in close proximity.
If the opposing width of (+) bus bar 9 and (-) bus bar 10 is h, the opposing length is l, and the distance (thickness of the insulating layer) between both bus bars is s, (+) bus bar 9 and (-) The wiring inductance L of the parallel copper plate of the bus bar 10 is expressed by the following equation.

Figure 2006086438
Figure 2006086438

図4において、幅h=10mm、長さl=150mmの対向面積をもつ(+)バスバー9と(−)バスバー10について、両バスバー間に厚さs1=0.2mmのノーメックスを挟んだ場合の配線インダクタンスL1と、従来のインサート成形による樹脂層厚さs2=1mmとした配線インダクタンスL2を数3を用いて算出する。
相関係数Kshを決定するパラメータs/hを算出すると、ノーメックスを用いた場合は、s1/h=0.02、従来のインサート成形による樹脂層厚さを用いた場合は、s2/h=0.1となる。
例えば、相関係数について、KNOEPFEL著「PULSED HIGH MAGNETIC FIELDS:NORTH HOLLAND PUBLISHING COMPANY」、P.323記載の相関係数算出図を用いると、s/h≦0.1の領域では、相関係数Ksh≒0.9とおくことができる。よって、これを数3に代入し、ノーメックスを挟んだ場合と、従来のインサート成形による樹脂層厚みとした場合について、それぞれ配線インダクタンスを算出すると、L1=3.4(nH)、L2=17(nH)となり、インダクタンスの低減効果ΔL=13.6(nH)を得ることが出来る。
このインダクタンス低減効果ΔL=13.6(nH)によるサージ電圧削減効果ΔVは次式で計算される。
In FIG. 4, for (+) bus bar 9 and (−) bus bar 10 having opposing areas of width h = 10 mm and length l = 150 mm, a nomex having a thickness s1 = 0.2 mm is sandwiched between both bus bars. The wiring inductance L1 and the wiring inductance L2 with the resin layer thickness s2 = 1 mm by the conventional insert molding are calculated using Equation 3.
When the parameter s / h for determining the correlation coefficient K sh is calculated, s1 / h = 0.02 when using Nomex, and s2 / h = when using the resin layer thickness by conventional insert molding. 0.1.
For example, as to the correlation coefficient, KNOEPFEL, “PULSED HIGH MANETIC FIELDS: NORTH HOLLAND PUBLISHING COMPANY”, p. Using the correlation coefficient calculation diagram described in H.323, the correlation coefficient K sh ≈0.9 can be set in the region of s / h ≦ 0.1. Therefore, by substituting this into Equation 3 and calculating the wiring inductance for the case where the nomex is sandwiched and the case where the resin layer thickness is obtained by conventional insert molding, L1 = 3.4 (nH), L2 = 17 ( nH), and the inductance reduction effect ΔL = 13.6 (nH) can be obtained.
The surge voltage reduction effect ΔV due to the inductance reduction effect ΔL = 13.6 (nH) is calculated by the following equation.

Figure 2006086438
Figure 2006086438

ここで、インバータ回路のIGBTにおける、コレクタ電流I=300A時でのスイッチング素子のターンオフ時の電流変化率dI/dt=−6(A/ns)とし、数4にΔL=13.6(nH)とともに代入すると、ΔV≒82(V)のサージ電圧低減効果を見出すことができる。 Here, in the IGBT of the inverter circuit, the current change rate dI / dt = −6 (A / ns) when the switching element is turned off when the collector current I C is 300 A, and ΔL = 13.6 (nH in Equation 4) ), The surge voltage reduction effect of ΔV≈82 (V) can be found.

なお、上記実施例における半導体スイッチング素子としてIGBT、FET、GaN等の素子を用いることができる。   In addition, elements, such as IGBT, FET, GaN, can be used as a semiconductor switching element in the said Example.

図1(a)は本発明の実施例による、スイッチングユニットの平面図であり、図1(b)、(c)はインサート成形金型で上記ユニットに一体成形する時の手順を示す断面図である。FIG. 1A is a plan view of a switching unit according to an embodiment of the present invention, and FIGS. 1B and 1C are cross-sectional views showing a procedure for integrally forming the unit with an insert molding die. is there. 図2(a)、(b)は本発明の他の実施例による、スイッチングユニットの平面図((a)は上面、(b)は下面から見たときの状態)であり、図2(b)、(c)はインサート成形金型で上記ユニットに一体成形する時の手順を示す断面図である。2 (a) and 2 (b) are plan views of the switching unit according to another embodiment of the present invention ((a) is a top view, (b) is a state when viewed from the bottom surface), and FIG. ), (C) are cross-sectional views showing a procedure when the insert molding die is integrally formed with the unit. 本発明の実施例によるスイッチングユニットに、半導体スイッチング素子を実装した放熱板を一体成形する時の手順を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the procedure at the time of integrally forming the heat sink which mounted the semiconductor switching element in the switching unit by the Example of this invention. 図4(a)は本発明の実施例による、スイッチングモジュールの平面図であり、図4(b)は図4(a)のX−X線による断面図、図4(c)はY−Y線による断面図である。4A is a plan view of a switching module according to an embodiment of the present invention, FIG. 4B is a sectional view taken along line XX of FIG. 4A, and FIG. 4C is YY. It is sectional drawing by a line. 本発明の他の実施例による、(+)バスバー、絶縁部材、(−)バスバーの組立図である。FIG. 6 is an assembly view of a (+) bus bar, an insulating member, and a (−) bus bar according to another embodiment of the present invention. 図6(a)は本発明の実施例による、(+)バスバー、絶縁部材、(−)バスバーの組立図であり、図6(b)は図6(a)のA方向から見た側面図である。FIG. 6A is an assembly view of a (+) bus bar, an insulating member, and a (−) bus bar according to the embodiment of the present invention, and FIG. It is. 図7(a)は本発明の他の実施例による、(+)バスバー、絶縁部材、(−)バスバーの組立図であり、図7(b)は図7(a)のA方向から見た側面図である。FIG. 7A is an assembly view of a (+) bus bar, an insulating member, and a (−) bus bar according to another embodiment of the present invention, and FIG. 7B is viewed from the direction A in FIG. 7A. It is a side view. 図8(a)は本発明の他の実施例による、(+)バスバー、絶縁部材、(−)バスバーの組立図であり、図8(b)は図8(a)のA方向から見た側面図である。FIG. 8A is an assembly view of a (+) bus bar, an insulating member, and a (−) bus bar according to another embodiment of the present invention, and FIG. 8B is viewed from the direction A in FIG. 8A. It is a side view. 図9(a)は本発明の他の実施例による、(+)バスバー、絶縁部材、(−)バスバーの組立図であり、図9(b)は図9(a)のA方向から見た側面図である。FIG. 9A is an assembly view of a (+) bus bar, an insulating member, and a (−) bus bar according to another embodiment of the present invention, and FIG. 9B is viewed from the direction A in FIG. 9A. It is a side view. 図10(a)は本発明の他の実施例による、スイッチングモジュールの平面図であり、図10(b)は図10(a)のX−X線による断面図である。FIG. 10A is a plan view of a switching module according to another embodiment of the present invention, and FIG. 10B is a cross-sectional view taken along line XX of FIG. 図11(a)は本発明の他の実施例による、(+)バスバー、絶縁部材、(−)バスバーの組立図であり、図11(b)は図11(a)のA方向から見た側面図、図11(c)は図11(a)のB方向から見た側面図である。FIG. 11 (a) is an assembly view of a (+) bus bar, an insulating member, and a (−) bus bar according to another embodiment of the present invention, and FIG. 11 (b) is viewed from the direction A in FIG. 11 (a). A side view, FIG.11 (c) is the side view seen from the B direction of Fig.11 (a). 図12(a)は本発明の他の実施例による、(+)バスバー、絶縁部材、(−)バスバーの組立図であり、図12(b)は図12(a)のA方向から見た側面図である。FIG. 12A is an assembly view of a (+) bus bar, an insulating member, and a (−) bus bar according to another embodiment of the present invention, and FIG. 12B is viewed from the direction A in FIG. It is a side view. 図13(a)は本発明の他の実施例による、スイッチングモジュールの平面図であり、図13(b)は図13(a)のX−X線による断面図である。FIG. 13A is a plan view of a switching module according to another embodiment of the present invention, and FIG. 13B is a cross-sectional view taken along line XX of FIG. 一般的な電気駆動システムの回路構成を示した図である。It is the figure which showed the circuit structure of the general electric drive system. 従来例によるスイッチングモジュールの断面図である。It is sectional drawing of the switching module by a prior art example.

符号の説明Explanation of symbols

1 バッテリ
2 インバータ装置
3 交流モータ
4 平滑コンデンサ
5 スイッチング素子
6 スイッチングモジュール
7 ドライバ回路ユニット
8a、8b 制御信号
9 正極電源接続端子((+)バスバー)
10 負極電源接続端子((−)バスバー)
11 P端子
12 N端子
13 バスバー
14 バスバー
15 絶縁基板
16 放熱基板
17A 樹脂ケース
17B 橋渡し部(上面)
17C 橋渡し部(下面)
17a 樹脂注入箇所(金型上面)
17b 樹脂注入箇所(金型下面)
17c 樹脂注入箇所(金型上面、橋渡し部)
17d 樹脂注入箇所(金型下面、橋渡し部)
17e 樹脂注入箇所(金型上面、橋渡し部端部)
18 アルミワイヤ
19 絶縁紙
20 位置決め用ガイド穴
21 インサート成形金型
22 位置決め用ピン
23 位置決め用スペーサ
24 絶縁性樹脂
25 ボルト
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Battery 2 Inverter apparatus 3 AC motor 4 Smoothing capacitor 5 Switching element 6 Switching module 7 Driver circuit unit 8a, 8b Control signal 9 Positive power supply connection terminal ((+) bus bar)
10 Negative power supply connection terminal ((-) bus bar)
11 P terminal 12 N terminal 13 Bus bar 14 Bus bar 15 Insulating substrate 16 Heat radiating substrate 17A Resin case 17B Bridge (upper surface)
17C Bridge (bottom)
17a Resin injection point (top of mold)
17b Resin injection point (underside of mold)
17c Resin injection point (mold upper surface, bridging part)
17d Resin injection point (mold lower surface, bridging part)
17e Resin injection point (on the upper surface of the mold, the end of the bridge)
18 Aluminum wire 19 Insulating paper 20 Positioning guide hole 21 Insert molding die 22 Positioning pin 23 Positioning spacer 24 Insulating resin 25 Bolt

Claims (6)

複数のスイッチング素子から構成される半導体モジュールの該スイッチング素子の正極端を電源の正極側に接続する正極電源接続端子と、該スイッチング素子の負極端を電源の負極側に接続する負極電源接続端子とを一体成形して樹脂成形ケースに収納してなる半導体モジュールのバスバー構造において、
上記正極電源接続端子と負極電源接続端子とを、少なくとも互いの主面の一部が略平行に向かい合う対向領域を有するように配置し、
該対向領域間に、絶縁部材を配置するとともに、
該絶縁部材に樹脂が接触しないようインサート成形したことを特徴とする半導体モジュールのバスバー構造。
A positive power supply connection terminal for connecting the positive terminal of the switching element of the semiconductor module composed of a plurality of switching elements to the positive side of the power supply; and a negative power supply connection terminal for connecting the negative terminal of the switching element to the negative side of the power supply In a bus bar structure of a semiconductor module formed by integrally molding and storing in a resin molded case,
The positive power supply connection terminal and the negative power supply connection terminal are arranged so that at least a part of each main surface has a facing region facing substantially parallel,
An insulating member is disposed between the opposing regions,
A bus bar structure for a semiconductor module, wherein the insulating member is insert-molded so that resin does not come into contact therewith.
請求項1記載の絶縁部材の長手方向寸法を、正極および負極電源接続端子の長手方向寸法より短くして、両接続端子の長手方向両端部よりも内側に配置し、
かつ、正極または負極電源接続端子のいずれか一方または両方の幅方向両端部に折り曲げ部または段差部を形成したことを特徴とする半導体モジュールのバスバー構造。
The longitudinal dimension of the insulating member according to claim 1 is shorter than the longitudinal dimension of the positive and negative power supply connection terminals, and is arranged on the inner side of both longitudinal ends of both connection terminals,
And the bus-bar structure of the semiconductor module characterized by forming the bending part or the level | step-difference part in the width direction both ends of any one or both of a positive electrode or a negative electrode power supply connection terminal.
請求項1記載の絶縁部材が絶縁紙、絶縁性フィルム、または絶縁性樹脂であることを特徴とする半導体モジュールのバスバー構造。   The bus bar structure of a semiconductor module, wherein the insulating member according to claim 1 is an insulating paper, an insulating film, or an insulating resin. 請求項1記載の正極電源接続端子、負極電源接続端子、絶縁部材のいずれか2以上に位置決め用のガイド穴を設け、
該ガイド穴に、インサート成形用金型の位置決めピン、またはピン構造を有する樹脂成形スペーサを挿入して、位置決めを行った状態でインサート成形することを特徴とする半導体モジュールのバスバー構造。
A positioning guide hole is provided in any two or more of the positive power source connection terminal, the negative power source connection terminal, and the insulating member according to claim 1,
A bus bar structure for a semiconductor module, wherein a positioning pin of an insert molding die or a resin molding spacer having a pin structure is inserted into the guide hole, and insert molding is performed in a positioned state.
請求項4記載の正極電源接続端子、負極電源接続端子のいずれか一方または両方が段差部を有し、該段差部とピン構造を有する樹脂成形スペーサとが嵌合することを特徴とする半導体モジュールのバスバー構造。   5. A semiconductor module, wherein either one or both of the positive power supply connection terminal and the negative power supply connection terminal according to claim 4 have a stepped portion, and the stepped portion and a resin molded spacer having a pin structure are fitted. Bus bar structure. 請求項1記載の正極電源接続端子と負極電源接続端子とが、その対向領域に絶縁部材を挟んだ状態で樹脂ケース外部に引き出されていることを特徴とする半導体モジュールのバスバー構造。   A bus bar structure for a semiconductor module, wherein the positive power supply connection terminal and the negative power supply connection terminal according to claim 1 are drawn out of the resin case with an insulating member sandwiched between opposing regions thereof.
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