JP2006084392A - レーザ超音波を利用したオンライン結晶粒径測定装置及び測定方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 パルス発光レーザと超音波測定用レーザと光ファイバ33と光ファイバ41;パルス発光レーザの光ビームを測定対象物の表面に照射して超音波を発生させ、該超音波の発生位置と同一位置に光ファイバ33によって伝送された超音波測定用レーザの光ビームを照射し、該超音波の反射超音波によって反射された散乱光を捕集して光ファイバ41に入射させる光学ヘッド70;光ファイバ41によって伝送された前記散乱光の強度変化を検出して反射超音波の強度を測定する、共焦点ファブリー・ペロー干渉計や高速シャッターを具備した超音波安定測定部;および超音波安定測定部の電気的出力信号から結晶粒径を算出する信号処理部で構成されるオンライン結晶粒径測定装置。
【選択図】 図1
Description
(1)第1の発明は、金属板の生産ライン中において該金属板の結晶粒径をレーザ超音波法を用いてオンラインで測定するオンライン結晶粒径測定装置において、
測定対象物60の表面に超音波を発生させるためのパルス発光レーザ10;測定対象物60の反射超音波を検出するための超音波測定用レーザ30;該超音波測定用レーザで発生した光ビーム35を測定対象物近傍に導くための光ファイバ33;測定対象物60の表面で反射された光ビーム35の散乱光を超音波安定測定部20に導く光ファイバ41;パルス発光レーザ10で発生した光ビーム13を測定対象物60の表面に照射して該測定対象物内に超音波を発生させ、該超音波の発生表面と同一表面に前記光ファイバ33によって伝送された超音波測定用レーザ30の光ビーム35を照射し、さらに該超音波の前記反射超音波によって反射された前記光ビーム35の前記散乱光を捕集して前記光ファイバ41に入射させる光学ヘッド70;前記光ファイバ41によって伝送された前記散乱光の強度変化を検出することにより前記反射超音波の強度を測定する超音波安定測定部20;および該超音波安定測定部20の電気的出力信号から結晶粒径を算出する信号処理部40で構成され、
前記超音波安定測定部20は、光ファイバ41によって伝送された前記散乱光の前記反射超音波による前記超音波測定用レーザの周波数からの周波数偏移を透過干渉光および反射干渉光の強度変化として検出する共焦点ファブリー・ペロー干渉計116で構成されるレーザ干渉部と;前記超音波測定用レーザ30の光ビームの一部を分離して光ファイバ52で該共焦点ファブリー・ペロー干渉計116に伝送して該共焦点ファブリー・ペロー干渉計116の干渉を安定化する干渉計安定部と;測定対象物の表面での超音波生成時に存在するプラズマ放射光が該共焦点ファブリー・ペロー干渉計116に入射するのを抑止する高速シャッター110とを具備するオンライン結晶粒径測定装置である。
(2)第2の発明は、前記超音波測定用レーザ30は連続発振レーザで、前記光ファイバ33は偏波面保持光ファイバで、さらに前記光ファイバ41はマルチモード光ファイバである(1)に記載のオンライン結晶粒径測定装置である。
(3)第3の発明は、測定対象物60の片面(レーザ照射面)に前記パルス発光レーザ10の光ビームを集光・照射して超音波を発生させ、該超音波が発生した位置と略同一位置に前記超音波測定用レーザ30の光ビーム35を集光・照射して、測定対象物60の前記レーザ照射面の反対表面で反射して戻ってきた反射超音波(縦波)を測定することを特徴とする(1)または(2)に記載のオンライン結晶粒径測定装置である。
(4)第4の発明は、前記超音波測定用レーザ30の光ビームを、その偏光面を回転させる半波長板53を介して前記光ファイバ33に入射させて伝送し、前記光ヘッド70は、偏光ビームスプリッタ82、4分の1波長板83、および第1の集光光学系1と第2の集光光学系を具備して、前記光ファイバ33から入射した光ビームを前記偏光ビームスプリッタ82で90度反射した後、前記4分の1波長板を通して前記第1の集光光学系で測定対象物60の表面に集光し、該表面で反射した散乱光36を前記第1の集光光学系で捕集した後、前記4分の1波長板83と前記偏光ビームスプリッタ82を透過させ、さらに前記第2の集光光学系でマルチモードファイバ41に入射させるものである(1)〜(3)の内の一つに記載のオンライン結晶粒径測定装置である。
(5)第5の発明は、前記第1の集光光学系は凹レンズ84と該凹レンズより前記測定対象物側に設置された1枚または2枚の凸レンズ(85および/または86)で構成され、測定対象物60の表面からの前記散乱光の断面積を縮小した後に前記第2の集光光学系に入射させて、前記第2の集光光学系から前記マルチモード光ファイバ41への入射角を小さくすることにより、前記散乱光の前記マルチモード光ファイバへの入射効率を大きくするようにしたことを特徴とする(4)のオンライン結晶粒径測定装置である。
(6)第6の発明は、前記レーザ干渉部は、マルチモード光ファイバ41により伝送された前記散乱光を、偏光ビームスプリッタ92および4分の1波長板93の順に透過させた後に、前記共焦点ファブリー・ペロー干渉計116に入射させて、前記共焦点ファブリー・ペロー干渉計116の反射干渉光を前記偏光ビームスプリッタ92で90度反射させることにより前記散乱光と分離して光検出器100で測定できるようにしたことを特徴とする(1)〜(5)の内の一つに記載のオンライン結晶粒径測定装置である。
(7)第7の発明は、前記レーザ干渉部は、前記共焦点ファブリー・ペロー干渉計116において、前記散乱光の入射側とは反対の後方に4分の1波長板97と偏光ビームスプリッタ98を順に設置して、前記共焦点ファブリー・ペロー干渉計116の透過干渉光が前記偏光ビームスプリッタ98を透過するようにして光検出器99で透過干渉光の強度を測定するようにしたことを特徴とする(1)〜(6)の内の一つに記載のオンライン結晶粒径測定装置である。
(8)第8の発明は、前記干渉計安定部は、前記超音波測定用レーザ30の出力ビームの一部を測定対象物へ照射する光ビームから分離し、前記共焦点ファブリー・ペロー干渉計116に入射させて干渉光(102)を形成させ、該干渉光の強度変化を利用して前記共焦点ファブリー・ペロー干渉計116の共振を安定化するものである(1)〜(7)の内の一つに記載のオンライン結晶粒径測定装置。
(9)第9の発明は、前記干渉計安定部は、前記超音波測定用レーザ30の出力ビームの一部を測定対象物へ照射する光ビームから分離しマルチモード光ファイバで伝送し、前記偏光ビームスプリッタ98で90度反射させて前記共焦点ファブリー・ペロー干渉計116に入射させた後、透過干渉光を前記偏光ビームスプリッタ92で90度反射し、さらにプリズムによって反射させて該透過干渉光の強度変化を光検出器104によって検出して前記共焦点ファブリー・ペロー干渉計116の共振を安定化するものである(7)に記載のオンライン結晶粒径測定装置である。
(10)第10の発明は、前記干渉計安定部は、前記光検出器104の出力信号を用いて前記ファブリー・ペロー干渉計の干渉条件を所定の干渉条件に保つように信号処理をする干渉安定化制御回路105、前記共焦点ファブリー・ペロー干渉計の共振器鏡95に設置した圧電アクチュエータ107、前記干渉安定化制御回路105の出力信号により該圧電アクチュエータを駆動する圧電駆動調節器106を具備することを特徴とする(9)に記載のオンライン結晶粒径測定装置である。
(11)第11の発明は、前記レーザ干渉部は、前記測定対象物60表面からの前記散乱光の前記共焦点ファブリー・ペロー干渉計116における透過干渉光と反射干渉光の強度をそれぞれ光検知器99と光検知器100で電気信号に変換した後、該2つの電気信号を差動増幅して反射超音波信号を得る超音波信号検出装置39を具備することを特徴とする(1)〜(10)の内の一つに記載のオンライン結晶粒径測定装置である。
(12)第12の発明は、前記信号処理部は、前記超音波信号検出装置39から出力される前記反射超音波信号をFFTによってフーリエ周波数成分を求めて, 周波数毎の超音波減衰係数を求め、測定対象の結晶粒径を算出するものであることを特徴とする(1)〜(11)の内のいずれか一項に記載のオンライン結晶粒径測定装置である。
(13)第13の発明は、前記信号処理部は、測定対象物の試片を用いた測定実験を通じて予め導出した測定対象の結晶粒径と超音波減衰係数間の相関式に関する情報を持ち、オンライン測定時に測定された超音波減衰係数を前記相関式に代入して迅速に結晶粒径を算出することを特徴とする(1)〜(11)の内のいずれか一項に記載のオンライン結晶粒径測定装置。
(14)第14の発明は、金属板の生産ライン中において該金属板の結晶粒径をレーザ超音波法を用いてオンラインで測定するオンライン結晶粒径測定方法において、
パルス発光レーザ10で発生した光ビーム13を測定対象物60の表面に照射して該測定対象物内に超音波を発生させ、該超音波の発生発生表面と同一表面に光ファイバ33によって伝送された超音波測定用レーザ30の光ビーム35を照射し、さらに光学ヘッド70を用いて該超音波の前記反射超音波によって反射された前記光ビーム35の散乱光を捕集して光ファイバ41に入射させ;光ファイバ41によって伝送された前記散乱光の強度変化を検出することにより前記反射超音波の強度を超音波安定測定部20で測定し;超音波安定測定部20の電気出力信号から結晶粒径を信号処理部で算出するオンライン結晶粒径測定方法であって、
前記超音波安定測定部20は、光ファイバ41によって伝送された前記散乱光の前記反射超音波による前記超音波測定用レーザの周波数からの周波数偏移を透過干渉光および反射干渉光の強度変化として検出する共焦点ファブリー・ペロー干渉計116で構成されるレーザ干渉部と;超音波測定用連続発振レーザ30の光ビームの一部を分離してマルチモード光ファイバ52で該共焦点ファブリー・ペロー干渉計116に伝送して該共焦点ファブリー・ペロー干渉計116の干渉を安定化する干渉計安定部と;超音波生成時に存在するプラズマ放射光が該共焦点ファブリー・ペロー干渉計116に入射するのを抑止する高速シャッター110とを具備するものであるオンライン結晶粒径測定方法である。
式1において、lは、試片の厚さであり、IRi(φ)は、超音波周波数φについてのi番目の反射波(Ri)の超音波強度を示している。そして、最後の段階として、上記手順によって求めた周波数別の超音波減衰係数(α(φ))を分析し、測定対象の結晶粒径を算出する。
式2において、DMiは測定対象Miの結晶粒径である。特定の測定対象についてこのように取得した相関式を利用すれば、オンライン上において、特定の測定対象について特定の超音波周波数の減衰係数を測定することにより、この測定対象の結晶粒径を自動的に算出することができる。
11 集光レンズ
12 全反射鏡
13 超音波発生用レーザパルスビーム
14 超音波発生用レーザパルスビームの光スポット
20 超音波安定測定部
30 超音波測定用レーザ
31 偏光ビームスプリッタ
32 集光レンズ
33 偏波面保持光ファイバ
34 散乱光捕集部
35 超音波測定用レーザビーム
36 散乱光
37 超音波測定用レーザパルスビームの光スポット
38 レーザ干渉部
39 超音波信号検出部
40 信号処理部
41 マルチモード光ファイバ
51 集光レンズ
52 マルチモード光ファイバ
53 半波長板
60 測定対象物
70 光学ヘッド
80 コリメーター
81 集光レンズ
82 偏光ビームスプリッタ
83 4分の1波長板
84 凹レンズ
85 集光レンズ
86 集光レンズ
91 コリメーター
92 偏光ビームスプリッタ
93 4分の1波長板
94 共焦点ファブリー・ペロー干渉計の共振器鏡
95 共焦点ファブリー・ペロー干渉計の共振器鏡
96 干渉光
97 4分の1波長板
98 偏光ビームスプリッタ
99 光検出器
100 光検出器
101 コリメーター
102 干渉光
103 プリズム
104 光検出器
105 干渉計安定化制御回路
106 圧電駆動器調節器
107 圧電アクチェエータ
108 差動増幅器
109 周波数フィルタ
110 高速シャッター
111 シャッター調節器
112 バンドパス・フィルタ
113 偏光子
114 KDP, ADP などのEOモジュレーターの結晶
115 偏光子
116 共焦点ファブリー・ペロー干渉計
Claims (14)
- 金属板の生産ライン中において該金属板の結晶粒径をレーザ超音波法を用いてオンラインで測定するオンライン結晶粒径測定装置において、
測定対象物60の表面に超音波を発生させるためのパルス発光レーザ10;測定対象物60の反射超音波を検出するための超音波測定用レーザ30;該超音波測定用レーザで発生した光ビーム35を測定対象物近傍に導くための光ファイバ33;測定対象物60の表面で反射された光ビーム35の散乱光を超音波安定測定部20に導く光ファイバ41;パルス発光レーザ10で発生した光ビーム13を測定対象物60の表面に照射して該測定対象物内に超音波を発生させ、該超音波の発生表面と同一表面に前記光ファイバ33によって伝送された超音波測定用レーザ30の光ビーム35を照射し、さらに該超音波の前記反射超音波によって反射された前記光ビーム35の前記散乱光を捕集して前記光ファイバ41に入射させる光学ヘッド70;前記光ファイバ41によって伝送された前記散乱光の強度変化を検出することにより前記反射超音波の強度を測定する超音波安定測定部20;および該超音波安定測定部20の電気的出力信号から結晶粒径を算出する信号処理部40で構成され、
前記超音波安定測定部20は、光ファイバ41によって伝送された前記散乱光の前記反射超音波による前記超音波測定用レーザの周波数からの周波数偏移を透過干渉光および反射干渉光の強度変化として検出する共焦点ファブリー・ペロー干渉計116で構成されるレーザ干渉部と;前記超音波測定用レーザ30の光ビームの一部を分離して光ファイバ52で該共焦点ファブリー・ペロー干渉計116に伝送して該共焦点ファブリー・ペロー干渉計116の干渉を安定化する干渉計安定部と;測定対象物の表面での超音波生成時に存在するプラズマ放射光が該共焦点ファブリー・ペロー干渉計116に入射するのを抑止する高速シャッター110とを具備するオンライン結晶粒径測定装置。 - 前記超音波測定用レーザ30は連続発振レーザで、前記光ファイバ33は偏波面保持光ファイバで、さらに前記光ファイバ41はマルチモード光ファイバである請求項1記載のオンライン結晶粒径測定装置。
- 測定対象物60の片面(レーザ照射面)に前記パルス発光レーザ10の光ビームを集光・照射して超音波を発生させ、該超音波が発生した位置と略同一位置に前記超音波測定用レーザ30の光ビーム35を集光・照射して、測定対象物60の前記レーザ照射面の反対表面で反射して戻ってきた反射超音波(縦波)を測定することを特徴とする請求項1または請求項2に記載のオンライン結晶粒径測定装置。
- 前記超音波測定用レーザ30の光ビームを、その偏光面を回転させる半波長板53を介して前記光ファイバ33に入射させて伝送し、前記光ヘッド70は、偏光ビームスプリッタ82、4分の1波長板83、および第1の集光光学系1と第2の集光光学系を具備して、前記光ファイバ33から入射した光ビームを前記偏光ビームスプリッタ82で90度反射した後、前記4分の1波長板を通して前記第1の集光光学系で測定対象物60の表面に集光し、該表面で反射した散乱光36を前記第1の集光光学系で捕集した後、前記4分の1波長板83と前記偏光ビームスプリッタ82を透過させ、さらに前記第2の集光光学系でマルチモードファイバ41に入射させるものである請求項1〜請求項3の内のいずれか一項に記載のオンライン結晶粒径測定装置。
- 前記第1の集光光学系は凹レンズ84と該凹レンズより前記測定対象物側に設置された1枚または2枚の凸レンズ(85および/または86)で構成され、測定対象物60の表面からの前記散乱光の断面積を縮小した後に前記第2の集光光学系に入射させて、前記第2の集光光学系から前記マルチモード光ファイバ41への入射角を小さくすることにより、前記散乱光の前記マルチモード光ファイバへの入射効率を大きくするようにしたことを特徴とする請求項4記載のオンライン結晶粒径測定装置。
- 前記レーザ干渉部は、マルチモード光ファイバ41により伝送された前記散乱光を、偏光ビームスプリッタ92および4分の1波長板93の順に透過させた後に、前記共焦点ファブリー・ペロー干渉計116に入射させて、前記共焦点ファブリー・ペロー干渉計116の反射干渉光を前記偏光ビームスプリッタ92で90度反射させることにより前記散乱光と分離して光検出器100で測定できるようにしたことを特徴とする請求項1〜5の内の一項に記載のオンライン結晶粒径測定装置。
- 前記レーザ干渉部は、前記共焦点ファブリー・ペロー干渉計116において、前記散乱光の入射側とは反対の後方に4分の1波長板97と偏光ビームスプリッタ98を順に設置して、前記共焦点ファブリー・ペロー干渉計116の透過干渉光が前記偏光ビームスプリッタ98を透過するようにして光検出器99で透過干渉光の強度を測定するようにしたことを特徴とする請求項1〜6の内の一項に記載のオンライン結晶粒径測定装置。
- 前記干渉計安定部は、前記超音波測定用レーザ30の出力ビームの一部を測定対象物へ照射する光ビームから分離し、前記共焦点ファブリー・ペロー干渉計116に入射させて干渉光(102)を形成させ、該干渉光の強度変化を利用して前記共焦点ファブリー・ペロー干渉計116の共振を安定化するものである請求項1〜7の内の一項に記載のオンライン結晶粒径測定装置。
- 前記干渉計安定部は、前記超音波測定用レーザ30の出力ビームの一部を測定対象物へ照射する光ビームから分離しマルチモード光ファイバで伝送し、前記偏光ビームスプリッタ98で90度反射させて前記共焦点ファブリー・ペロー干渉計116に入射させた後、透過干渉光を前記偏光ビームスプリッタ92で90度反射し、さらにプリズムによって反射させて該透過干渉光の強度変化を光検出器104によって検出して前記共焦点ファブリー・ペロー干渉計116の共振を安定化するものである請求項7記載のオンライン結晶粒径測定装置。
- 前記干渉計安定部は、前記光検出器104の出力信号を用いて前記ファブリー・ペロー干渉計の干渉条件を所定の干渉条件に保つように信号処理をする干渉安定化制御回路105、前記共焦点ファブリー・ペロー干渉計の共振器鏡95に設置した圧電アクチュエータ107、前記干渉安定化制御回路105の出力信号により該圧電アクチュエータを駆動する圧電駆動調節器106を具備することを特徴とする請求項9に記載のオンライン結晶粒径測定装置。
- 前記レーザ干渉部は、前記測定対象物60表面からの前記散乱光の前記共焦点ファブリー・ペロー干渉計116における透過干渉光と反射干渉光の強度をそれぞれ光検知器99と光検知器100で電気信号に変換した後、該2つの電気信号を差動増幅して反射超音波信号を得る超音波信号検出装置39を具備することを特徴とする請求項1〜請求項10の内の一項に記載のオンライン結晶粒径測定装置。
- 前記信号処理部は、前記超音波信号検出装置39から出力される前記反射超音波信号をFFTによってフーリエ周波数成分を求めて, 周波数毎の超音波減衰係数を求め、測定対象の結晶粒径を算出するものであることを特徴とする請求項1〜請求項11の内のいずれか一項に記載のオンライン結晶粒径測定装置。
- 前記信号処理部は、測定対象物の試片を用いた測定実験を通じて予め導出した測定対象の結晶粒径と超音波減衰係数間の相関式に関する情報を持ち、オンライン測定時に測定された超音波減衰係数を前記相関式に代入して迅速に結晶粒径を算出することを特徴とする請求項1〜請求項11の内のいずれか一項に記載のオンライン結晶粒径測定装置。
- 金属板の生産ライン中において該金属板の結晶粒径をレーザ超音波法を用いてオンラインで測定するオンライン結晶粒径測定方法において、
パルス発光レーザ10で発生した光ビーム13を測定対象物60の表面に照射して該測定対象物内に超音波を発生させ、該超音波の発生発生表面と同一表面に光ファイバ33によって伝送された超音波測定用レーザ30の光ビーム35を照射し、さらに光学ヘッド70を用いて該超音波の前記反射超音波によって反射された前記光ビーム35の散乱光を捕集して光ファイバ41に入射させ;光ファイバ41によって伝送された前記散乱光の強度変化を検出することにより前記反射超音波の強度を超音波安定測定部20で測定し;超音波安定測定部20の電気出力信号から結晶粒径を信号処理部で算出するオンライン結晶粒径測定方法であって、
前記超音波安定測定部20は、光ファイバ41によって伝送された前記散乱光の前記反射超音波による前記超音波測定用レーザの周波数からの周波数偏移を透過干渉光および反射干渉光の強度変化として検出する共焦点ファブリー・ペロー干渉計116で構成されるレーザ干渉部と;超音波測定用連続発振レーザ30の光ビームの一部を分離してマルチモード光ファイバ52で該共焦点ファブリー・ペロー干渉計116に伝送して該共焦点ファブリー・ペロー干渉計116の干渉を安定化する干渉計安定部と;超音波生成時に存在するプラズマ放射光が該共焦点ファブリー・ペロー干渉計116に入射するのを抑止する高速シャッター110とを具備するものであるオンライン結晶粒径測定方法。
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