JP2006080286A - Forming method of circuit wiring and circuit wiring obtained thereby - Google Patents

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Takeshi Hayama
剛 羽山
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To easily form circuit wiring even on a substrate in a slid shape. <P>SOLUTION: A wiring pattern 23 is drawn on a metal layer 22 by using a material containing ultrafine particles and a dispenser 24. The material containing the ultrafine particles is heated to volatilize a solvent. The solvent is all volatilized and the ultrafine particles become dense to mutually be fused even at room temperature. The metal layer 22 is etched by using a wiring mask layer 23 after a baking treatment. Consequently, the circuit wiring 25 is obtained which has the wiring mask layer 23 on a molding substrate 21 across the metal layer 22. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は回路配線の形成方法及びそれにより得られた回路配線に関し、特に立体成形回路における回路配線の形成方法及びそれにより得られた回路配線に関する。   The present invention relates to a method for forming circuit wiring and circuit wiring obtained thereby, and more particularly to a method for forming circuit wiring in a three-dimensionally formed circuit and circuit wiring obtained thereby.

従来から、プリント配線板上に回路配線を形成する方法は数多く開発されている。例えば、基板上に金属層を形成し、その金属層上にレジスト層を形成し、配線パターンが転写されたマスクを用いてそのレジスト層を露光現像し、残存したレジスト層をエッチングマスクとして金属層をエッチングする方法が一般的である。   Conventionally, many methods for forming circuit wiring on a printed wiring board have been developed. For example, a metal layer is formed on a substrate, a resist layer is formed on the metal layer, the resist layer is exposed and developed using a mask to which a wiring pattern is transferred, and the remaining resist layer is used as an etching mask to form a metal layer. A method of etching is generally used.

特開平5−175635号公報JP-A-5-175635

近年、MID(Molded Interconnect Device)技術でプラスチック材料を成形してなる成形基板上に回路配線を形成する方法が開発されてきている。この成形基板は、プラスチック成形により得られるので、立体形状を含む種々の形状のものがある。このような複雑な形状の基板上に回路配線を形成する場合、従来の方法では基板上に回路配線を簡単にしかも効率良く形成することができない。   In recent years, a method of forming circuit wiring on a molded substrate formed by molding a plastic material by MID (Molded Interconnect Device) technology has been developed. Since this molded substrate is obtained by plastic molding, there are various shapes including three-dimensional shapes. When forming circuit wiring on a substrate having such a complicated shape, the conventional method cannot easily and efficiently form circuit wiring on the substrate.

本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、立体形状を有する基板に対しても簡単に回路配線を形成することができる回路配線の形成方法及びそれにより得られた回路配線を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above points, and provides a method for forming a circuit wiring that can easily form a circuit wiring even on a substrate having a three-dimensional shape, and a circuit wiring obtained thereby. With the goal.

本発明の回路配線の形成方法は、絶縁性基板上に金属層を形成する工程と、前記金属層上に超微細粒子を含有する材料を用いて配線パターンを描画することにより配線マスク層を形成する工程と、前記配線マスク層を用いて前記金属層をエッチングする工程と、を具備することを特徴とする。 The method for forming circuit wiring according to the present invention includes a step of forming a metal layer on an insulating substrate, and a wiring mask layer is formed by drawing a wiring pattern on the metal layer using a material containing ultrafine particles. And a step of etching the metal layer using the wiring mask layer.

この方法によれば、配線マスク層を、金属層のエッチングマスクとして利用することができるので、エッチングマスク用のフォトリソグラフィー工程を削減することができる。その結果、簡単に回路配線を形成することができる。   According to this method, since the wiring mask layer can be used as an etching mask for the metal layer, the photolithography process for the etching mask can be reduced. As a result, circuit wiring can be easily formed.

本発明の回路配線の形成方法においては、前記金属層が銅で構成されていることが好ましい。また、本発明の回路配線の形成方法においては、前記超微細粒子の径が数nmの銀粒子であることが好ましい。   In the circuit wiring forming method of the present invention, the metal layer is preferably made of copper. In the method for forming a circuit wiring of the present invention, the ultrafine particles are preferably silver particles having a diameter of several nanometers.

本発明の回路配線は、絶縁性基板上に金属層を介して形成された配線マスク層を有する回路配線であって、前記絶縁性基板上に金属層を形成し、前記金属層上に超微細粒子を含有する材料を用いて配線パターンを描画することにより配線マスク層を形成し、前記配線マスク層を用いて前記金属層をエッチングすることにより得られることを特徴とする。   The circuit wiring of the present invention is a circuit wiring having a wiring mask layer formed on an insulating substrate via a metal layer, wherein the metal layer is formed on the insulating substrate, and the ultrafine metal is formed on the metal layer. A wiring mask layer is formed by drawing a wiring pattern using a material containing particles, and the metal layer is etched using the wiring mask layer.

この構成によれば、金属層が回路配線の導通主体となり、通常の回路配線の機能を発揮する。また、配線マスク層では、超微細粒子が互いに融着してバルク状態に近い金属となっている。このため、このような構成の回路配線に対してボンディングを良好に行うことが可能となる。   According to this configuration, the metal layer becomes the main conductor of the circuit wiring, and exhibits a normal circuit wiring function. In the wiring mask layer, ultrafine particles are fused to each other to become a metal close to a bulk state. For this reason, it becomes possible to bond favorably with respect to the circuit wiring of such a structure.

本発明の回路配線においては、前記配線マスク層が少なくとも数10nmであることが好ましい。   In the circuit wiring of the present invention, the wiring mask layer is preferably at least several tens of nm.

本発明によれば、絶縁性基板上に金属層を形成し、この金属層上に超微細粒子を含有する材料を用いて配線パターンを描画することにより配線マスク層を形成し、この配線マスク層を用いて金属層をエッチングするので、配線マスク層を金属層のエッチングマスクとすることができ、エッチングマスク用のフォトリソグラフィー工程を削減することができる。その結果、立体形状を有する基板に対しても簡単に回路配線を形成することができる。   According to the present invention, a metal layer is formed on an insulating substrate, and a wiring mask layer is formed on the metal layer by drawing a wiring pattern using a material containing ultrafine particles. Since the metal layer is etched using the wiring mask layer, the wiring mask layer can be used as an etching mask for the metal layer, and the photolithography process for the etching mask can be reduced. As a result, circuit wiring can be easily formed even on a substrate having a three-dimensional shape.

以下、本発明の実施の形態について、添付図面を参照して詳細に説明する。
図1は、本発明の一実施の形態に係る回路配線を有する立体基板を示す斜視図である。図1において、絶縁性基板である成形基板11は、通常の平面状の基板ではなく、断面略L字形状を有する立体形状を有する基板である。本実施の形態では、幅3mm、奥行き3mm、高さ1mmである。このような小さなサイズの成形基板11は、例えば液晶ポリマーなどの流動性に優れた材料により成形することができる。なお、成形基板11は、このような寸法に限定されず種々変更することができる。また、成形基板11を構成する材料としては、絶縁性材料であれば、他のプラスチック材料やセラミック材料を用いても良い。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
FIG. 1 is a perspective view showing a three-dimensional board having circuit wiring according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, a molded substrate 11 that is an insulating substrate is not a normal planar substrate but a substrate having a three-dimensional shape having a substantially L-shaped cross section. In this embodiment, the width is 3 mm, the depth is 3 mm, and the height is 1 mm. Such a small-sized molded substrate 11 can be molded from a material having excellent fluidity, such as a liquid crystal polymer. The molded substrate 11 is not limited to such dimensions and can be variously changed. Moreover, as a material which comprises the shaping | molding board | substrate 11, if it is an insulating material, you may use another plastic material and a ceramic material.

成形基板11上には、複数の配線12が形成されている。成形基板11上に配線12を形成する方法については後述する。また、成形基板11上には、集積回路チップ13が実装されている。この集積回路チップ13は、ボンディングワイヤ14により配線12と電気的に接続されている。このボンディングワイヤ14は、集積回路チップ13上に形成された電極パッド13aと配線12とを接続している。   A plurality of wirings 12 are formed on the molded substrate 11. A method for forming the wiring 12 on the molded substrate 11 will be described later. An integrated circuit chip 13 is mounted on the molded substrate 11. The integrated circuit chip 13 is electrically connected to the wiring 12 by a bonding wire 14. The bonding wire 14 connects the electrode pad 13 a formed on the integrated circuit chip 13 and the wiring 12.

次に、成形基板11に配線12を形成する本発明に係る方法について説明する。図2(a),(b)及び図3(a)〜(c)は、本発明の一実施の形態に係る回路配線の形成方法を説明するための断面図である。図2(a),(b)及び図3(a)〜(c)は、説明を簡単にするために、成形基板11の一部の平面部分を用いて説明する。   Next, a method according to the present invention for forming the wiring 12 on the molded substrate 11 will be described. FIGS. 2A and 2B and FIGS. 3A to 3C are cross-sectional views for explaining a method for forming a circuit wiring according to an embodiment of the present invention. 2 (a), 2 (b) and FIGS. 3 (a) to 3 (c) will be described using a part of the planar portion of the molded substrate 11 for the sake of simplicity.

図2(a)に示すように、プラスチック材料などを射出成形することにより絶縁性基板である成形基板21を作製する。次いで、図2(b)に示すように、この成形基板21上に、金属をメッキして金属層22を形成する。金属層22に使用する金属としては、Cuなどの導電性金属を用いることができる。メッキとしては、電気メッキや無電解メッキを用いることができる。膜厚の均一性を考慮すると無電解メッキを用いることが好ましい。なお、メッキ処理を行う際には、あらかじめ成形基板21の表面を粗面化し、その表面に触媒を付与し、活性化させておく。これにより、プラスチック材料で構成された成形基板21の表面上に金属をメッキすることができる。この場合、触媒は、金属層22を構成する金属により適宜選択する。   As shown in FIG. 2A, a molded substrate 21 which is an insulating substrate is manufactured by injection molding of a plastic material or the like. Next, as shown in FIG. 2B, a metal layer 22 is formed on the molded substrate 21 by plating a metal. As a metal used for the metal layer 22, a conductive metal such as Cu can be used. As plating, electroplating or electroless plating can be used. In consideration of the uniformity of the film thickness, it is preferable to use electroless plating. In addition, when performing a plating process, the surface of the shaping | molding board | substrate 21 is roughened beforehand, a catalyst is provided to the surface, and it activates. Thereby, a metal can be plated on the surface of the shaping | molding board | substrate 21 comprised with the plastic material. In this case, the catalyst is appropriately selected depending on the metal constituting the metal layer 22.

次いで、図3(a)に示すように、超微細粒子を含有する材料を用いて金属層22上に配線パターンをディスペンサ24を用いて描画する。超微細粒子を含有する材料の超微細粒子としては、粒径が数nm〜数十nmのナノ粒子を挙げることができる。ナノ粒子の種類としては、導電性金属のナノ粒子、例えば銀ナノ粒子、金ナノ粒子、銅ナノ粒子などを挙げることができる。なお、銀ナノ粒子については、銀を含む多元系の金属のナノ粒子とすることにより、マイグレーションを防止することができる。このナノ粒子の粒径は、2nm〜50nmがより好ましい。   Next, as shown in FIG. 3A, a wiring pattern is drawn on the metal layer 22 using a material containing ultrafine particles using a dispenser 24. Examples of the ultrafine particles of the material containing ultrafine particles include nanoparticles having a particle size of several nanometers to several tens of nanometers. Examples of the kind of nanoparticles include conductive metal nanoparticles such as silver nanoparticles, gold nanoparticles, and copper nanoparticles. In addition, about a silver nanoparticle, migration can be prevented by setting it as the nanoparticle of the multicomponent metal containing silver. The particle size of the nanoparticles is more preferably 2 nm to 50 nm.

超微細粒子を含有する材料としては、上記超微細粒子を溶媒に分散させてなるペーストなどを挙げることができる。この溶媒としては、通常の金属ペーストに用いられるバインダー樹脂と異なり、加熱することにより揮発して、超微細粒子の表面には残存しないものが好ましい。このような溶媒を用いることにより、超微細粒子を含有する材料を加熱して溶媒を揮発させて、超微細粒子を互いに融着させて、バルクに近い金属を得ることができる。   Examples of the material containing ultrafine particles include a paste obtained by dispersing the ultrafine particles in a solvent. As the solvent, a binder resin that is volatilized by heating and does not remain on the surface of the ultrafine particles is preferable, unlike a binder resin used in a normal metal paste. By using such a solvent, a material containing ultrafine particles can be heated to volatilize the solvent, and the ultrafine particles can be fused together to obtain a metal close to a bulk.

また、超微細粒子を含有する材料の描画方法としては、ディスペンサ24を用いたディスペンス法、スクリーン印刷法、インクジェット法などを用いることができる。これらの方法により、配線パターンとなる場所に直接描画して配線マスク層23を形成する。これにより、配線マスク層23をエッチングにより形成する必要がなく、オーバーエッチングによる配線マスク層23のパターン切れを回避することができる。なお、配線マスク層23の厚さは、配線マスク層23を構成する材料に依存するが、回路配線に対してボンディングが可能である厚さに設定する。例えば、少なくとも数10nmであることが好ましい。このような厚さにすることにより、回路配線においてボンディングを良好に行うことが可能になる。   Moreover, as a drawing method of the material containing ultrafine particles, a dispensing method using a dispenser 24, a screen printing method, an ink jet method, or the like can be used. By these methods, the wiring mask layer 23 is formed by drawing directly on a place to be a wiring pattern. Thereby, it is not necessary to form the wiring mask layer 23 by etching, and the pattern cut of the wiring mask layer 23 due to over-etching can be avoided. Although the thickness of the wiring mask layer 23 depends on the material constituting the wiring mask layer 23, it is set to a thickness that allows bonding to the circuit wiring. For example, it is preferably at least several tens of nm. By using such a thickness, it becomes possible to perform good bonding in circuit wiring.

次いで、図3(b)に示すように、超微細粒子を含有する材料を加熱して溶媒を揮発させる。溶媒がなくなることにより、超微細粒子は密集して常温でも互いに融着する。これにより、バルク状態に近い金属が得られる。これは、数百nmオーダー又はミクロンオーダーの金属粒子をバインダー樹脂に分散させてなる金属ペースト中で金属粒子同士が点接触する形態とは異なる。このため、配線マスク層23は相対的に低抵抗になり、通常の回路配線として使用することができるようになる。   Next, as shown in FIG. 3B, the material containing ultrafine particles is heated to volatilize the solvent. By eliminating the solvent, the ultrafine particles are densely fused to each other even at room temperature. Thereby, the metal near a bulk state is obtained. This is different from a form in which metal particles are in point contact with each other in a metal paste in which metal particles of several hundred nm order or micron order are dispersed in a binder resin. Therefore, the wiring mask layer 23 has a relatively low resistance and can be used as a normal circuit wiring.

次いで、図3(c)に示すように、焼成処理後の配線マスク層23をエッチングマスクとして、金属層22をエッチングする。その後、エッチング処理後の金属層22を洗浄し、乾燥する。これにより、成形基板21上に金属層22を介して配線マスク層23を有する回路配線25が得られる。   Next, as shown in FIG. 3C, the metal layer 22 is etched using the wiring mask layer 23 after the baking treatment as an etching mask. Thereafter, the metal layer 22 after the etching treatment is washed and dried. Thereby, the circuit wiring 25 which has the wiring mask layer 23 on the shaping | molding board | substrate 21 through the metal layer 22 is obtained.

このような回路配線25において、配線マスク層23では、超微細粒子が互いに融着してバルク状態に近い金属となっている。このため、このような構成の回路配線に対してボンディングを良好に行うことが可能となる。また、この配線マスク層23は、金属層のエッチングマスクとして利用することができるので、エッチングマスク用のフォトリソグラフィー工程を削減することができる。その結果、立体形状を有する成形基板21であっても簡単に回路配線を形成することができる。   In such a circuit wiring 25, in the wiring mask layer 23, ultrafine particles are fused to each other to become a metal close to a bulk state. For this reason, it becomes possible to bond favorably with respect to the circuit wiring of such a structure. In addition, since the wiring mask layer 23 can be used as an etching mask for the metal layer, the photolithography process for the etching mask can be reduced. As a result, circuit wiring can be easily formed even with the molded substrate 21 having a three-dimensional shape.

次に、本発明の実施例について説明する。なお、この実施例は例示であり、以下の方法に限定されない。ここでは、成形基板がプラスチック基板であり、金属層がCu層であり、配線マスク層が数nmの粒径を有する銀ナノ粒子で構成された層である場合について説明する。   Next, examples of the present invention will be described. In addition, this Example is an illustration and is not limited to the following method. Here, a case where the molded substrate is a plastic substrate, the metal layer is a Cu layer, and the wiring mask layer is a layer composed of silver nanoparticles having a particle size of several nm will be described.

まず、液晶ポリマー、ベクトラC820(ポリプラスチック社製、商品名)を射出成形して幅3mm、奥行き3mm、高さ1mmの図1に示す形状の成形基板を得た。次いで、成形基板をNaOH(600g/l)溶液に85℃で20分間浸漬して成形基板の表面を粗面化し、水洗・乾燥した後に、粗面化後の成形基板を10%希塩酸に45℃で5分間浸漬して中和処理を行い、水洗・乾燥した。   First, a liquid crystal polymer, Vectra C820 (trade name, manufactured by Polyplastics Co., Ltd.) was injection molded to obtain a molded substrate having a shape shown in FIG. 1 having a width of 3 mm, a depth of 3 mm, and a height of 1 mm. Next, the molded substrate was immersed in a NaOH (600 g / l) solution at 85 ° C. for 20 minutes to roughen the surface of the molded substrate, washed with water and dried, and then the roughened molded substrate was diluted with 10% dilute hydrochloric acid at 45 ° C. And then neutralized by immersion for 5 minutes, washed with water and dried.

次いで、粗面化処理後の成形基板を表面調整剤、コンディショナークリーナー231(シプレイ社製、商品名)を用いて45℃で3分間表面調整処理を行った。水洗・乾燥した後、この成形基板を、触媒予備浸漬液、キャタプリップ404(シプレイ社製、商品名)に常温で1分間浸漬し、続いてPd触媒液、キャタポジット44(シプレイ社製、商品名)に50℃で浸漬して成形基板表面に触媒を付与した。水洗・乾燥した後に、触媒活性処理液、アクセラレータ19E(シプレイ社製、商品名)に常温で7分間浸漬した。   Next, the molded substrate after the roughening treatment was subjected to a surface conditioning treatment at 45 ° C. for 3 minutes using a surface conditioning agent and a conditioner cleaner 231 (trade name, manufactured by Shipley Co., Ltd.). After washing with water and drying, the molded substrate is immersed in a catalyst pre-soaked solution, Cataprip 404 (product name of Shipley Co., Ltd.) for 1 minute at room temperature, followed by Pd catalyst solution, Cataposit 44 (product name of Shipley Co., Ltd., product name). ) At 50 ° C. to give a catalyst to the surface of the molded substrate. After washing with water and drying, it was immersed for 7 minutes at room temperature in a catalytically active treatment solution, accelerator 19E (trade name, manufactured by Shipley Co., Ltd.).

次いで、表面に触媒が付与された成形基板を、Cuの無電解メッキ浴に浸漬して45℃で15分間メッキ処理を行った。これにより、成形基板上に厚さ約1μmのCu層が形成された。なお、Cuメッキ液は、オムニシールド1598(シプレイ社製、商品名)を使用した。   Next, the molded substrate with a catalyst applied to the surface was immersed in an electroless plating bath of Cu and plated at 45 ° C. for 15 minutes. Thereby, a Cu layer having a thickness of about 1 μm was formed on the molded substrate. As the Cu plating solution, Omnishield 1598 (trade name, manufactured by Shipley Co., Ltd.) was used.

次いで、Cu層上に高精細ノズルを有するエアディスペンサ及び3軸制御ロボットを用いて成形基板の所望の位置、すなわち配線パターン領域に3〜5nmの粒径を有するAgナノ粒子を含有するAgナノペースト、NPS(ハリマ化成社製、商品名)を描画した。描画条件は、エア圧力200〜300kPa、描画速度0.7〜1.0mm/s、ノズルギャップ0.08〜0.15mmとし、線幅が200μm程度となるようにした。なお、高精細ノズルは、FN−0.1N(武蔵エンジニアリング社製、商品名)を用い、エアディスペンサは、ML−808FX(武蔵エンジニアリング社製、商品名)を用い、3軸制御ロボットは、SHOTminiSL(武蔵エンジニアリング社製、商品名)を用いた。   Next, using an air dispenser having a high-definition nozzle on the Cu layer and a three-axis control robot, an Ag nano paste containing Ag nanoparticles having a particle size of 3 to 5 nm at a desired position on the molded substrate, that is, a wiring pattern region NPS (trade name, manufactured by Harima Kasei Co., Ltd.) was drawn. The drawing conditions were an air pressure of 200 to 300 kPa, a drawing speed of 0.7 to 1.0 mm / s, a nozzle gap of 0.08 to 0.15 mm, and a line width of about 200 μm. The high-definition nozzle uses FN-0.1N (trade name, manufactured by Musashi Engineering), the air dispenser uses ML-808FX (trade name, manufactured by Musashi Engineering), and the 3-axis control robot is SHOTminiSL. (Trade name, manufactured by Musashi Engineering Co., Ltd.) was used.

次いで、Agナノペーストを大気中で熱風乾燥炉において240℃で60分間焼成した。これにより、Agナノペースト中の溶媒が揮発してAgナノ粒子同士が融着してAg配線マスク層が得られた。   Next, the Ag nanopaste was baked in the hot air drying furnace at 240 ° C. for 60 minutes in the air. As a result, the solvent in the Ag nanopaste volatilized and the Ag nanoparticles were fused together to obtain an Ag wiring mask layer.

次いで、Ag配線マスク層をエッチングマスクとして、0.5M過硫酸アンモニウム溶液を用いて25℃で30秒間Cu層をエッチングし、その後洗浄・乾燥した。これにより、成形基板上にCu層(下層)及びAg配線マスク層(上層)で構成される回路配線を形成した。この回路配線の線幅は150〜200μmであった。このように、立体形状を有する成形基板であっても簡単に回路配線を形成することができる。   Next, using the Ag wiring mask layer as an etching mask, the Cu layer was etched for 30 seconds at 25 ° C. using a 0.5 M ammonium persulfate solution, and then washed and dried. Thereby, the circuit wiring comprised by Cu layer (lower layer) and Ag wiring mask layer (upper layer) was formed on the shaping | molding board | substrate. The line width of this circuit wiring was 150 to 200 μm. In this way, circuit wiring can be easily formed even with a molded substrate having a three-dimensional shape.

このようにして得られた成形基板の回路配線上に外径20μmφの金ワイヤを用いて通常の条件でワイヤボンディングを行ったところ、問題なくボンディングすることができた。これは、Cu層がボンディング時の超音波の拡散を防止し、Ag配線マスク層のAgナノ粒子がAgバルクのように融着しているからであると考えられる。また、このAg配線マスク層は約8×10-6Ω・cm程度の比抵抗値を有しており、回路配線として十分低い抵抗値を示した。 When wire bonding was performed under normal conditions using a gold wire having an outer diameter of 20 μm on the circuit wiring of the molded substrate thus obtained, it was possible to bond without problems. This is presumably because the Cu layer prevents the diffusion of ultrasonic waves during bonding, and the Ag nanoparticles of the Ag wiring mask layer are fused like Ag bulk. Further, this Ag wiring mask layer had a specific resistance value of about 8 × 10 −6 Ω · cm, and showed a sufficiently low resistance value for circuit wiring.

本発明は上記実施の形態に限定されず、種々変更して実施することが可能である。例えば、上記実施の形態で説明した数値や材料・材質、各部材の形状、配線のレイアウトについては特に制限はなく、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更することが可能である。   The present invention is not limited to the embodiment described above, and can be implemented with various modifications. For example, the numerical values, materials / materials, shapes of each member, and wiring layout described in the above embodiment are not particularly limited, and can be changed as appropriate without departing from the scope of the present invention.

上記実施の形態では、金属層としてCu層を用い、配線マスク層として銀ナノ粒子を含む層を用いた場合について説明しているが、本発明においては、金属層としてCu以外の金属の層を用いても良く、配線マスク層として銀以外の金属のナノ粒子を含む層を用いても良い。 In the above embodiment, a case where a Cu layer is used as the metal layer and a layer containing silver nanoparticles is used as the wiring mask layer is described. In the present invention, a metal layer other than Cu is used as the metal layer. It may be used, and a layer containing nanoparticles of metal other than silver may be used as the wiring mask layer.

本発明の一実施の形態に係る回路配線を有する立体基板を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the three-dimensional board | substrate which has the circuit wiring which concerns on one embodiment of this invention. (a),(b)は、本発明の一実施の形態に係る回路配線の形成方法を説明するための断面図である。(A), (b) is sectional drawing for demonstrating the formation method of the circuit wiring which concerns on one embodiment of this invention. (a)〜(c)は、本発明の一実施の形態に係る回路配線の形成方法を説明するための断面図である。(A)-(c) is sectional drawing for demonstrating the formation method of the circuit wiring which concerns on one embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

11,21 成形基板
12 配線
13 集積回路チップ
13a 電極パッド
14 ボンディングワイヤ
22 金属層
23 配線マスク層
24 ディスペンサ
25 配線
11, 21 Molded substrate 12 Wiring 13 Integrated circuit chip 13a Electrode pad 14 Bonding wire 22 Metal layer 23 Wiring mask layer 24 Dispenser 25 Wiring

Claims (5)

絶縁性基板上に金属層を形成する工程と、前記金属層上に超微細粒子を含有する材料を用いて配線パターンを描画することにより配線マスク層を形成する工程と、前記配線マスク層を用いて前記金属層をエッチングする工程と、を具備することを特徴とする回路配線の形成方法。   Forming a metal layer on an insulating substrate; forming a wiring mask layer by drawing a wiring pattern on the metal layer using a material containing ultrafine particles; and using the wiring mask layer And a step of etching the metal layer. 前記金属層が銅で構成されていることを特徴とする請求項1記載の回路配線の形成方法。   2. The circuit wiring forming method according to claim 1, wherein the metal layer is made of copper. 前記超微細粒子の径が数nmの銀粒子であることを特徴とする請求項1又は請求項2記載の回路配線の形成方法。 The method of forming a circuit wiring according to claim 1 or 2, wherein the ultrafine particles are silver particles having a diameter of several nanometers. 絶縁性基板上に金属層を介して形成された配線マスク層を有する回路配線であって、前記絶縁性基板上に金属層を形成し、前記金属層上に超微細粒子を含有する材料を用いて配線パターンを描画することにより配線マスク層を形成し、前記配線マスク層を用いて前記金属層をエッチングすることにより得られることを特徴とする回路配線。   Circuit wiring having a wiring mask layer formed on an insulating substrate through a metal layer, wherein the metal layer is formed on the insulating substrate, and a material containing ultrafine particles is used on the metal layer A circuit wiring obtained by forming a wiring mask layer by drawing a wiring pattern and etching the metal layer using the wiring mask layer. 前記配線マスク層が少なくとも数10nmであることを特徴とする請求項4記載の回路配線。
The circuit wiring according to claim 4, wherein the wiring mask layer is at least several tens of nm.
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