JP2006058760A - 表示パネル装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 発光画素の輝度のばらつきを補正する際に、輝度測定装置を準備する必要がなく、簡易に輝度の測定と輝度のばらつきの補正ができる表示パネル装置を提供する。
【解決手段】 発光層４に設けられた発光画素６を所定の輝度で発光させて、透明基板７を介して見る表示パネル装置において、この透明基板７の外周側面に発光画素６の輝度を測定するライトガイド９ａ〜９ｄと受光素子１１ａ〜１１ｄからなる受光部を備えたことを特徴とする。
【選択図】 図１

Description

この発明は、例えば有機ＥＬ（Electro Luminescence）パネルなどの表示パネルに映像情報、画像情報を表示する表示パネル装置に関するものである。

表示パネル装置に用いる有機ＥＬパネルは、電流駆動素子である。そのため、輝度のばらつきの抑制には、表示パネルを構成する各発光画素に流れる電流を同じ大きさにする必要がある。しかしながら、表示パネルを製造する際の成膜プロセスなどのばらつきによる膜厚の不均一性のために、電流・輝度特性が各発光画素で異なる結果、輝度のばらつきが生じる問題がある。また、表示パネルを全白発光させて補正を行なうような場合でも、中間調の発光において電流・輝度特性が異なることにより、輝度のばらつきが生じる問題がある。さらに特定の発光画素が長時間発光している場合、長時間発光した発光画素は、発光していない発光画素に比べて、発光画素の寿命特性による輝度の低下のために、輝度のばらつきが生じる問題もある。

このような輝度のばらつきに対処するため、従来の表示パネル装置においては、表示パネルにＣＣＤなどを用いた輝度測定装置を設け、表示パネルを全白で発光させて発光画素の輝度データを取り込み、輝度補正演算器により補正値を計算して補正値テーブルに格納した後、指令制御回路の発光指令値に従って、補正値テーブルから表示すべき画素位置に対応する補正値データが取り出され、発光指令値にゲインとして乗じて発光指令値を補正してドライブ回路に入力することを、適時行なうことで輝度のばらつきを補正している。（たとえば特許文献１参照）

また別の従来の表示パネル装置においては、表示パネルの前に集光レンズと集光された光を受光するＣＣＤを設けた輝度測定装置を配置し、予め測定した各画素の輝度測定値とこの輝度測定値の平均値との差分に基づく補正値を補正情報メモリに記憶させ、この補正情報メモリからの出力信号と映像回路から送られてくる表示データを加算器で加算して、表示パネルの駆動回路に出力することを、適時行なうことで輝度のばらつきを補正している。（たとえば特許文献２参照）

特開２０００−１２２５９８号公報（第３−４頁、第４図） 特開平１１−２８２４２０号公報（第３−４頁、第５図）

従来の表示パネル装置は、上記のように構成されているので、輝度のばらつきの補正の度に、輝度測定装置を準備して、表示パネルの前に設置しなければならず、補正の作業が非常に不便であった。またすでに家庭等に出荷されているような表示パネル装置に対して輝度のばらつきを補正する場合に、輝度測定装置をいちいち持ち込んで輝度のばらつきを補正することは事実上困難であるなどの問題があった。

この発明は、上記のような課題を解決するためになされたもので、表示パネル装置の輝度のばらつきを補正する際に、輝度を測定する輝度測定装置を準備する必要のない表示パネル装置を得ることを目的とするものである。

この発明に係る表示パネル装置は、発光画素を所定の輝度で発光させて透明基板を介して見る表示パネル装置において、この透明基板の外周側面に発光画素の輝度を測定するための受光部を備えたものである。

この発明によれば、表示パネル装置を構成する透明基板の外周側面に、発光画素の輝度を測定する受光部を備えたため、輝度のばらつきを補正する度に輝度測定装置を準備する必要が無くなる。

実施の形態１
図１から図９は、実施の形態１として、この発明を、表示パネル装置としてモノカラー表示の有機ＥＬパネル装置に適用した場合について説明したものである。図１から図３は、有機ＥＬパネル装置が有する有機ＥＬパネルの構成を示した構成図であり、図１は有機ＥＬパネルの上面図、図２は図１のＩ−Ｉ線における断面図、図３は図１のＡ部の詳細図である。図４から図６は有機ＥＬパネルの１つの発光画素から出射される光の進路を示す動作説明図であり、図４は図１における光の進路を示す動作説明図、図５は図２における光の進路を示す動作説明図、図６は図３における光の進路を示す動作説明図である。図７は有機ＥＬパネル装置において輝度のばらつきの補正の具体的手段を表すブロック図である。図８、図９は図７における輝度のばらつきの補正に対する具体的動作を示す動作説明図であり、図８は使用初期において、例として、金属電極および透明電極が有するそれぞれ３ラインの交点に位置する９個の発光画素に対する補正の動作を、高輝度、中輝度および低輝度に対して示したものであり、図９は長時間（例えば数百時間から数千時間）使用後において、例として、金属電極および透明電極が有するそれぞれ３ラインの交点に位置する９個の発光画素に対する補正の動作を、高輝度、中輝度および低輝度に対して示したものである。

まず、有機ＥＬパネル装置が有する有機ＥＬパネルにおいて、各々の発光画素の輝度を測定する過程について説明する。

図１から図３において、有機ＥＬパネル１のガラス基板２の上にはアルミニウムなどの導電性の金属により成る金属電極３が水平方向に等間隔に８ライン成膜されている。この金属電極３上には発光層４が成膜されており、またその上にＩＴＯ（Indium Tin Oxide）などの導電性の透明金属から成る透明電極５が、金属電極３に対し垂直方向に等間隔に１６ライン成膜されている。金属電極３と透明電極５の交点に位置する発光層４は、金属電極３と透明電極５に所定の電流が印加されると発光する発光画素６であり、ここでは、その数は１２８画素となる。透明電極５の上には全ての発光画素６を覆うように透明基板７が設けられている。透明基板７の外周側面（ここでは四辺）にある端面８ａ〜８ｄには、透明基板７を透過して端面８ａ〜８ｄから出射される光が入射するライトガイド９ａ〜９ｄが当接されている。ライトガイド９ａ〜９ｄは、入射した光を、透明基板７の四隅に配置され、ライトガイド９ａ〜９ｄの接触面１０ａ〜１０ｄに当接した受光素子１１ａ〜１１ｄに集光させる形状を有している。またライトガイド９ａ〜９ｄの外面には光の漏出を防止するための反射膜１２ａ〜１２ｄが施されている。また、発光層４の周囲には、発光層４に水分やガスなどの不純物が進入しないように封止層１３ａ〜１３ｄが設けられている。

次に実施の形態１の動作のうち、発光画素の輝度を測定する過程について、例として、図４および図５に示すように発光画素６の中の１つの発光画素６ａのみが発光するものとして、この発光画素６ａから出射される光の輝度を受光素子１１ａ〜１１ｄで測定する動作について、図１から図３の構成図および図４から図７の動作説明図を用いて説明する。

有機ＥＬパネル１において、金属電極３に走査信号として一定の電流が印加され、また透明電極５に画像信号として所定の電流が印加されると、金属電極３と透明電極５との交点にあたる発光層４が発光画素６として発光する。この発光層４に印加される電流を変化させることにより輝度が変化し、これを全ての発光画素６で行なうことにより映像情報、画像情報として表示される。例えば図４における発光画素６ａを発光させる場合、金属電極３を構成する一つのラインである金属電極３ａに一定の電流を印加し、透明電極５を構成する一つのラインである透明電極５ａに所定の電流を印加することにより、発光画素６ａが所定の輝度で発光する。

発光画素６ａから出射された光は、ランバートの法則に従って図５に示すように発光画素６上の透明基板７に向かってあらゆる方向に出射される。この出射される光が、図５に示す臨界角２０以下であれば、透明基板７を透過して光線２１ａ〜２１ｄに示すように前方に向けて出射される。しかし出射される光が臨界角２０より大きい角度であれば、光線１５ｄ〜１５ｇ、１７ｄ〜１７ｇに示すように、透明基板７の内部で反射を繰返し消滅するか、または透明基板７の端面８ａ、８ｃから出射される。同様に端面８ｂ、８ｄからも出射される。一般的に、透明基板７から前方に出射される光の量は、透明電極５および発光層４の膜厚が光の波長より十分に短く、透明基板７の屈折率が１．６程度であるとすると、発光画素６から出射される光の量の約２０％程度であると言われている。このように、発光画素６から出る光の多くは、透明基板７の前方には出射されずに、有機ＥＬパネル１の表示の明るさには関係しない光となり消滅するか、または端面８ａ〜８ｄから出射される。ここでは、この端面８ａ〜８ｄから出射される光を積極的に利用して、有機ＥＬパネル１において生じる輝度のばらつきを防止するための制御情報として利用するものである。

また、図４においては、発光画素６ａから出射された光は、光線１５ａ〜１５ｃ、１６ａ〜１６ｃ、１７ａ〜１７ｃ、１８ａ〜１８ｃに示すような光が、端面８ａ〜８ｄより出射される。

したがって、発光画素６ａから出射された光のうち、端面８ａからは、図４に示す光線１５ａ、１５ｃおよび図５に示す光線１５ｄ、１５ｇに挟まれた領域１９ａに含まれる光が出射される。同様に、端面８ｂ〜８ｄからは、それぞれ領域１９ｂ〜１９ｄの光が出射される。

透明基板７の端面８ａ〜８ｄから出射された光は、端面８ａ〜８ｄに当接されているライトガイド９ａ〜９ｄに入射される。ライトガイド９ａ〜９ｄに入射した光は、例えば図６のライトガイド９ａに示されるように、ライトガイド９ａに入射した光（光線１５ａ〜１５ｃ）が、ライトガイド９ａの形状の効果により、接触面１０ａに当接した受光素子１１ａに光が集光される。同様にライトガイド９ｂ〜９ｄに入射した光においても、それぞれ接触面１０ｂ〜１０ｄに当接した受光素子１１ｂ〜１１ｄに集光される。また、ライトガイド９ａ〜９ｄの外面には、それぞれ反射膜１２ａ〜１２ｄが施されているため、ライトガイド９ａ〜９ｄから外部への光の漏出が防止でき、さらに効率よく受光素子１１ａ〜１１ｄに光が集光される。

このようにして、発光画素６ａから出射された光は、受光素子１１ａ〜１１ｄに集光され、その輝度が測定される。

以上の説明では、例として１つの発光画素６ａが発光するものとして説明したが、実際は、有機ＥＬパネル１の全ての発光画素６について、一画素ずつ順次選択して発光させて、それぞれの発光画素６の輝度およびその位置に対応した光を、順次受光素子１１ａ〜１１ｄに入射させることにより、全ての発光画素６の輝度を測定する。また金属電極３と透明電極５に印加する電流または時間幅を変化させて、発光画素６を一画素ずつ順次選択して所定の輝度で発光させ、その所定の輝度に対応した光を受光素子１１ａ〜１１ｄに入射させることにより、全ての発光画素６の輝度が測定される。このようにして受光素子１１ａ〜１１ｄにおいて測定された発光画素６の輝度は、電気信号に変換され、後述する輝度のばらつきの補正に使用される。

次に、有機ＥＬパネル装置において、有機ＥＬパネル１が有する受光素子１１ａ〜１１ｄによって測定された光の輝度に基づいて、その輝度のばらつきを補正する過程について説明する。

図７は、有機ＥＬパネル装置において輝度のばらつきを補正する過程の具体的手段を表すブロック図である。図７において、受光素子１１ａ〜１１ｄで測定された輝度は、電気信号に変換され演算器３０に入力されている。演算器３０に入力された電気信号は、所定の加算および積算などを施して、発光画素６の輝度に対応する実データ３１として補正メモリ３２に入力されている。また補正メモリ３２には、発光画素６の輝度の基準となる輝度として基準データ発生器３３に予め格納されている基準データ３４と、水平アドレスカウンタ３５と垂直アドレスカウンタ３６により、測定された実データ３１に対応する発光画素６の位置情報が入力されている。また補正メモリ３２は、自動的あるいは外部からの要求に応じて、実データ３１と基準データ３４の差を無くすように、実データ３１を基準データ３４に補正した補正データ３７を生成し、駆動回路３８に出力する。駆動回路３８は、この補正データ３７を所定の電気信号に変換して、有機ＥＬパネル１に出力し、各発光画素６の位置情報に対応した発光画素６を発光させる。また、この輝度のばらつきの補正の動作を、外部からの要求として、書き込み信号３９を受けて実行させるものとして、補正開始司令部４０が補正メモリ３２に接続されている。

次に実施の形態１において、輝度のばらつきを補正する過程の動作について、例として、図８および図９に示すように、金属電極３の３ラインと透明電極５の３ラインの交点に位置する合計９個の発光画素６に対する補正の動作として、図７のブロック図および図８、図９の動作説明図を用いて説明する。ここで、図８は使用初期において高輝度、中輝度および低輝度で発光画素６を発光させた輝度に対する補正の動作を説明したものであり、また図９は長時間（例えば数百時間から数千時間）使用後において高輝度、中輝度および低輝度で発光画素６を発光させた輝度に対する補正の動作を説明したものである。なお、図８および図９においては、発光画素６の輝度の大きさを最大２５６の輝度レベルとして分解し、高輝度を２５５、中輝度を１２７、低輝度を６３の輝度レベルとして示している。

図７において、受光素子１１ａ〜１１ｄに入射した光は、その輝度の大きさに対応した電気信号に変換され、演算器３０に入力される。演算器３０は、この電気信号を、加算、積算などを施して、発光画素６の輝度に対応した実データ３１を生成する。

図８に示す使用初期において、実データ３１は、発光画素６を高輝度で発光させた場合の実際の輝度を実データ３１ａ、中輝度で発光させた場合の実際の輝度を実データ３１ｂ、低輝度で発光させた場合の実際の輝度を実データ３１ｃとして示してある。ここで輝度の基準となる基準データ３４は、高輝度、中輝度、低輝度の順に、基準データ３４ａ〜３４ｃに示すように輝度レベルが２５５、１２７、６３であるので、実データ３１は、高輝度の基準データ３４ａの２５５に対し＋３〜−１５、中輝度の基準データ３４ｂの１２７に対し＋２〜−７、低輝度の基準データ３４ｃの６３に対し＋２〜−３、の輝度のばらつきを有している。

また図９に示す長時間使用後において、実データ３１は、発光画素６を高輝度で発光させた場合の実際の輝度を実データ３１ｄ、中輝度で発光させた場合の実際の輝度を実データ３１ｅ、低輝度で発光させた場合の実際の輝度を実データ３１ｆとして示してある。ここで輝度の基準となる基準データ３４は、図８と同様に、高輝度、中輝度、低輝度の順に輝度レベルが２５５、１２７、６３であるため、実データ３１は、高輝度の基準データ３４ａの２５５に対し−７〜−２５、中輝度の基準データ３４ｂの１２７に対し−８〜−１７、低輝度の基準データ３４ｃの６３に対し−８〜−１３、の輝度のばらつきを有している。

このように、使用初期および長時間使用後において、有機ＥＬパネル１は、輝度のばらつきを有しており、また長時間使用するにつれて、輝度のばらつきが大きくなってくることがわかる。

次に、実データ３１に対する使用初期および長時間使用後における輝度のばらつきの補正の過程は同じであるため、以下では使用初期の実データ３１に対する補正の過程について説明する。

高輝度、中輝度、低輝度に相当する実データ３１ａ〜３１ｃは、補正メモリ３２に入力される。補正メモリ３２は、この実データ３１ａ〜３１ｃと、基準データ発生器３３から得られる高輝度、中輝度、低輝度に相当する基準データ３４ａ〜３４ｃとを比較し、この差を無くすように、実データ３１ａ〜３１ｃは正常な輝度を示す基準データ３４ａ〜３４ｃに補正され、補正メモリ３２の所定のアドレスに書き込まれて格納され、補正データ３７ａ〜３７ｃとして使用される。この所定のアドレスは、水平アドレスカウンタ３５と垂直アドレスカウンタ３６より決まる個々の発光画素６の位置ならびに２５６の全ての輝度レベルに対し一対一に対応している。

また、基準データ３４ａ〜３４ｃの補正メモリ３２の所定のアドレスへの書き込みは、補正開始司令部４０からの書き込み信号３９により実行されるようにしておけば、この書き込み信号３９を自動または手動で発信させることにより、所望の時期に輝度のばらつきの補正が可能となる。この際、書き込み信号３９が得られなかった場合は、すでに補正メモリ３２の所定のアドレスに格納されている補正データ３７ａ〜３７ｃが使用される。

このようにして得られた補正データ３７ａ〜３７ｃは、駆動回路３８に入力される。駆動回路３８は、補正データ３７ａ〜３７ｃで発光画素６が発光するような電流に変換かつ制御し、有機ＥＬパネル１の発光画素６を発光させる。したがって輝度のばらつきの無い表示が可能となる。

以上で示した輝度のばらつきの補正の動作の説明によれば、発光画素６として９画素、輝度レベルとして高輝度、中輝度、低輝度の３種類について、輝度のばらつきの補正の過程を示したが、実際には、有機ＥＬパネル１を構成する全ての発光画素６および全ての輝度レベルに対して、輝度のばらつきの補正が行なわれる。あるいは精度があまり要求されない有機ＥＬパネル装置においては、一画素単位で補正を行なうのではなく、幾つかの画素単位にまとめて補正をしたり、また全ての輝度レベルではなく、例えば、この実施の形態１で示した高輝度、中輝度、低輝度のような、幾つかの輝度レベルを設定して、補正を行なっても十分な効果を得ることができる。

この実施の形態１によれば、発光層４に設けられた発光画素６を所定の輝度で発光させて透明基板７を介して見る有機ＥＬパネル１の透明基板７の外周側面に、発光画素６の輝度を測定するライトガイド９ａ〜９ｄと受光素子１１ａ〜１１ｄからなる受光部を備え、この受光部からの出力信号を演算器３０により実データ３１に変換し、この実データ３１と基準データ発生器３３に格納されている発光画素６の輝度の基準値である基準データ３４を比較し、その差を無くすように実データ３１を正常な輝度を示す基準データ３４に補正して、補正データ３７として補正メモリ３２に書き込んで格納しておき、駆動回路３８は補正データ３７を補正メモリ３２から読出して、発光画素６を補正データ３７に基づいた輝度で発光させるようにしたため、個別に輝度測定装置を準備することなく、簡単に有機ＥＬパネル装置の輝度測定が出来るともに、輝度のばらつきのない有機ＥＬパネル装置が得られる効果がある。

また実施の形態１によれば、ライトガイド９ａ〜９ｄおよび受光素子１１ａ〜１１ｄを透明基板７の４つの端面８ａ〜８ｄに設けているが、必ずしも４ヶ所必要とするわけではなく、例えば、ライトガイド９ａと受光素子１１ａのように、少なくとも１つのライトガイドと１つの受光素子があれば、輝度の測定として、十分その目的を達成することができる。

実施の形態２
次に、本発明の他の実施の形態に係る表示パネル装置について図１０および図１１を用いて説明する。

図１０は、本発明の実施の形態２に係る有機ＥＬパネル１の構成を示す上面図であり、図１１は図１０のＩＩ−ＩＩ線上からみた断面図である。図１０および図１１で使用した符号のうち、図１および図２で使用した符号と同一のものは、同一または相当品を示す。

図１０および図１１において、図１および図２と異なるところは、図１で示されたライトガイド９ａ〜９ｄを不要とし、金属電極３と透明電極５を構成する個々の電極に対して、透明基板７に当接するように複数の受光素子５０ａ〜５０ｄ（図１０においては、受光素子５０ａ、５０ｃが垂直方向に８素子、受光素子５０ｂ、５０ｄが水平方向に１６素子設けられている。）を設けたことと、この受光素子５０ａ〜５０ｄから出力された電気信号が入力される加算器５１ａ〜５１ｄを設けたところである。

次に実施の形態２の動作について実施の形態１と異なる部分について図１０および図１１を用いて説明する。

有機ＥＬパネル１を構成する全ての発光画素６を１画素毎順次選択して発光させることにより、発光した発光画素６の光が、それぞれ複数個よりなる受光素子５０ａ〜５０ｄに入力される。受光素子５０ａ〜５０ｄは、光の輝度に応じた電気信号に変換し加算器５１ａ〜５１ｄに出力する。加算器５１ａ〜５１ｄに入力された電気信号は、それぞれの加算器５１ａ〜５１ｄの中で、所定の処理により発光画素６の輝度の大きさに対応した１つの電気信号に纏められ、図７に示す演算器３０に出力される。そして、その後は実施の形態１と同様の処理を行なうことにより、輝度のばらつきを補正する。

この実施の形態２によれば、金属電極３と透明電極５を構成する個々の電極に対して、透明基板７に当接するように、それぞれ複数個からなる受光素子５０ａ〜５０ｄを設けて、発光画素６から出射される光の輝度を測定するようにしたので、実施の形態１で示したライトガイド１２ａ〜１２ｄを用いることなく、簡単に有機ＥＬパネル１の輝度測定が出来るともに、輝度のばらつきのない表示パネル装置が得られる効果がある。

また、実施の形態２においては、金属電極３と透明電極５を構成する電極の数と同じ数の受光素子５０ａ〜５０ｄを用いているが、同じ数の受光素子５０ａ〜５０ｄを用いる必要は当然無く、電極の数より少ない数の受光素子５０ａ〜５０ｄとしても良い。また透明基板７の周囲全てに受光素子５０ａ〜５０ｄを用いる必要もなく、例えば受光素子５０ａのみでも相当の効果を得ることができる。

また実施の形態１、２においては、有機ＥＬパネル１として単一の発光層４を金属電極３と透明電極５で挟んだモノカラー表示の構成のものを示したが、フルカラー表示の有機ＥＬパネルに対しても適用できるのは言うまでもない。

また実施の形態１、２によれば、金属電極３を水平方向に８ライン、透明電極７を垂直方向に１６ライン有したものを示したが、特にライン数に制限を設ける必要は無く、自由に設定できるのは当然のことである。

またこの実施の形態１、２によれば、輝度の大きさを最大２５６の輝度レベルとして分解したものを示したが、有機ＥＬパネル装置の表示画面を精緻にする必要があればさらに細かく分解してもよく、またその必要がなければ荒く分解してもよい。

さらに実施の形態１、２においては、有機ＥＬパネル装置について説明したが、発光画素６を、透明基板７を介して見る構成を有する、例えば無機ＥＬパネル装置、プラズマパネル装置、フィールドエミッションパネル装置、液晶パネル装置などに対しても用いることができる。

この発明の実施の形態１に係る有機ＥＬパネル装置の有機ＥＬパネルの構成を示す上面図である。 この発明の実施の形態１に係る有機ＥＬパネル装置の有機ＥＬパネルの構成を示す断面図である。 この発明の実施の形態１に係る有機ＥＬパネル装置の有機ＥＬパネルの受光部を示す詳細図である。 この発明の実施の形態１に係る有機ＥＬパネル装置の有機ＥＬパネルを上面より見た場合の光の進行方向を示す説明図である。 この発明の実施の形態１に係る有機ＥＬパネル装置の有機ＥＬパネルの断面における光の進行方向を示す説明図である。 この発明の実施の形態１に係る有機ＥＬパネル装置の有機ＥＬパネルの受光部における光の進路を示す動作説明図である。 この発明の実施の形態１に係る有機ＥＬパネル装置における輝度のばらつきを補正する過程を示すブロック図である。 この発明の実施の形態１に係る有機ＥＬパネル装置における初期状態の輝度のばらつきを補正する動作を示す説明図である。 この発明の実施の形態１に係る有機ＥＬパネル装置における長時間経過した状態の輝度のばらつきを補正する動作を示す説明図である。 この発明の実施の形態２に係る有機ＥＬパネル装置の有機ＥＬパネルの構成を示す上面図である。 この発明の実施の形態２に係る有機ＥＬパネル装置の有機ＥＬパネルの構成を示す断面図である。

符号の説明

１ 有機ＥＬパネル
２ ガラス基板
３ アルミニウムなどの導電性の金属により成る金属電極
４ 発光層
５ 導電性の透明金属から成る透明電極
６ 発光画素
７ 透明基板
８ａ〜８ｄ 端面
９ａ〜９ｄ ライトガイド
１０ａ〜１０ｄ 接触面
１１ａ〜１１ｄ 受光素子
１２ａ〜１２ｄ 反射膜
１３ａ〜１３ｄ 封止層
３０ 演算器
３１ 実データ
３２ 補正メモリ
３３ 基準データ発生器
３４ 基準データ
３５ 水平アドレスカウンタ
３６ 垂直アドレスカウンタ
３７ 補正データ
３８ 駆動回路
３９ 補正開始司令部

Claims (5)

1. 所定の輝度で発光する発光画素と、この発光画素に対向して設けられた透明基板と、この透明基板の外周側面に設けられた前記発光画素の輝度を測定するための受光部とを備えたことを特徴とする表示パネル装置。
2. 受光部は、輝度を検出する受光素子と、前記透明基板の外周側面と前記受光素子にそれぞれ当接され、前記外周側面から出射された光を前記受光素子に集光するライトガイドよりなることを特徴とする請求項１に記載の表示パネル装置。
3. ライトガイドの外面に光の漏出を防止する光反射膜を設けたことを特徴とする請求項２に記載の表示パネル装置。
4. 受光部が検出した輝度を所定の実データに変換する演算器と、前記発光画素の輝度の基準値を前記実データと比較可能な基準データとして格納している基準データ発生器と、前記実データと前記基準データが比較され、その差を無くすように前記実データを前記基準データに補正して得られる補正データを格納する補正メモリと、前記補正メモリに格納された前記補正データを読み出して前記発光画素を補正された輝度で発光させる駆動回路とを備えたことを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載の表示パネル装置。
5. 予め設定された指令により、前記補正データを前記補正メモリに格納する補正開始司令部、を備えたことを特徴とする請求項４に記載の表示パネル装置。
   
   

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