JP2006049166A

JP2006049166A - Lighting screen inspection method for plasma display panel

Info

Publication number: JP2006049166A
Application number: JP2004230261A
Authority: JP
Inventors: Ryuichi Inoue; 竜一井上; Kotaro Kobayashi; 弘太郎小林; Akira Toshima; 亮戸島
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 2004-08-06
Filing date: 2004-08-06
Publication date: 2006-02-16
Anticipated expiration: 2024-08-06
Also published as: JP4525231B2

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a lighting screen inspection method for a plasma display panel capable of detecting a dynamic screen defect, distinguishing it from a static screen defect. <P>SOLUTION: The plasma display panel has a plurality of discharge cells between a pair of substrates, and displays an image by generating discharge in each discharge cell. The lighting screen inspection method of the plasma display panel comprises a step (step 1) of setting an exposure time as a short field time and sequentially picking up a plurality of images, a step (step 2) of calculating a standard deviation, by using image data of time series in each pixel of the plurality of images and obtaining a standard deviation image, and steps (steps 3-5) of evaluating a lighting image by using the standard deviation image. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、プラズマディスプレイパネルを点灯表示し、画面検査を行うプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法に関するものである。 The present invention relates to a lighting screen inspection method for a plasma display panel that displays a plasma display panel in a lighting manner and performs a screen inspection.

プラズマディスプレイパネルは、前面基板と背面基板とを、間に放電空間が形成されるように対向配置して周辺部を封着し、放電空間に希ガスを封入して構成されている。前面基板上には走査電極と維持電極とからなる表示電極が複数形成され、背面基板上には表示電極と直交する方向にアドレス電極が複数形成されており、表示電極とアドレス電極との立体交差部には単位発光領域である放電セルが形成される。このプラズマディスプレイパネルでは、表示電極とアドレス電極とに所定の電圧を印加して各放電セルで選択的に放電を発生させ、各放電セルに形成された蛍光体層が放電によって発光することにより、画像表示が行われる。 The plasma display panel is configured such that a front substrate and a rear substrate are arranged to face each other so that a discharge space is formed therebetween, a peripheral portion is sealed, and a rare gas is sealed in the discharge space. A plurality of display electrodes composed of scan electrodes and sustain electrodes are formed on the front substrate, and a plurality of address electrodes are formed on the rear substrate in a direction orthogonal to the display electrodes. A discharge cell which is a unit light emitting region is formed in the part. In this plasma display panel, a predetermined voltage is applied to the display electrode and the address electrode to generate a discharge selectively in each discharge cell, and the phosphor layer formed in each discharge cell emits light by discharge, An image is displayed.

このプラズマディスプレイパネルなどの表示パネルの点灯画像を検査する場合、例えば特許文献１には、表示パネルを点灯させ、点灯した表示パネルの画像を撮像カメラにより取り込み、画像処理装置によって表示パネルの画素セルの欠陥、表示ムラを定量化して判定することが記載されている。
特開平９−２１８１３１号公報 When inspecting a lighting image of a display panel such as this plasma display panel, for example, in Patent Document 1, the display panel is turned on, an image of the lighted display panel is captured by an imaging camera, and a pixel cell of the display panel is captured by an image processing apparatus. It is described that the defect and the display unevenness are quantified and determined.
JP 9-218131 A

このようなプラズマディスプレイパネルにおける放電セルの不灯欠陥として、どのように駆動しても常に不灯となる放電セルが存在することがあり、この場合には放電セルが不灯となっている状態は時間的に変化しない。そこで、このような不灯の放電セルを静的画面欠点という。 As a non-lighting defect of a discharge cell in such a plasma display panel, there may be a discharge cell that is always unlit regardless of how it is driven. In this case, the discharge cell is unlit. Does not change over time. Therefore, such a non-lighted discharge cell is called a static screen defect.

また、プラズマディスプレイパネルでは、１フィールド時間（１／６０秒）を複数のサブフィールドに分割し、各放電セルにおいて放電を発生させるサブフィールドを選択することにより階調表示を行う。このため、所定の階調を表示するときには所定の選択されたサブフィールドにおいて放電を発生させるが、場合によっては或る放電セルにおいて本来点灯すべきサブフィールドにおいて点灯しないことがあり、これも放電セルの不灯欠陥である。この場合には放電セルが不灯となっている状態は時間的に変化するので、このような不灯の放電セルを動的画面欠点という。 Further, in the plasma display panel, one field time (1/60 seconds) is divided into a plurality of subfields, and gradation display is performed by selecting a subfield for generating discharge in each discharge cell. For this reason, when a predetermined gradation is displayed, a discharge is generated in a predetermined selected subfield, but in some cases, a certain discharge cell may not be lit in a subfield that should originally be lit. It is a non-lighting defect. In this case, since the state in which the discharge cell is not lit changes with time, such a non-lighted discharge cell is called a dynamic screen defect.

従来の方法を用いてプラズマディスプレイパネルの点灯画像を検査すると、静的画面欠点は検出可能であるが、動的画面欠点は安定的に検出することが困難であった。 When the lighting image of the plasma display panel is inspected using the conventional method, the static screen defect can be detected, but the dynamic screen defect is difficult to detect stably.

本発明は、かかる点に鑑み、静的画面欠点と区別して動的画面欠点を検出することが可能なプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法を提供することを目的とする。 In view of the above, an object of the present invention is to provide a lighting screen inspection method for a plasma display panel that can detect a dynamic screen defect in distinction from a static screen defect.

上記目的を達成するために、本発明は、露光時間を短フィールド時間に設定して複数の画像を順次撮像するステップと、この複数の画像の各画素における時系列の画像データを用いて標準偏差を算出して標準偏差画像を得るステップと、この標準偏差画像を用いて点灯画面を評価するステップとを有することを特徴とするプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法である。 In order to achieve the above-mentioned object, the present invention sets a standard deviation using a step of sequentially capturing a plurality of images with an exposure time set to a short field time, and time-series image data at each pixel of the plurality of images. A method for inspecting a lighting screen of a plasma display panel, comprising the steps of: calculating a standard deviation image and evaluating the lighting screen using the standard deviation image.

本発明によれば、プラズマディスプレイパネルの点灯画面検査を行う際に、静的画面欠点と区別して動的画面欠点を検出することができる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, when performing the lighting screen test | inspection of a plasma display panel, a dynamic screen fault can be detected distinguishing from a static screen fault.

請求項１に記載の発明は、一対の基板間に複数の放電セルを有し、各放電セルにおいて放電を発生させることにより画像表示を行うプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法において、露光時間を短フィールド時間に設定して複数の画像を順次撮像するステップと、この複数の画像の各画素における時系列の画像データを用いて標準偏差を算出して標準偏差画像を得るステップと、この標準偏差画像を用いて点灯画面を評価するステップとを有することを特徴とするプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法である。 According to a first aspect of the present invention, there is provided a plasma display panel lighting screen inspection method having a plurality of discharge cells between a pair of substrates and displaying an image by generating a discharge in each discharge cell. A step of setting a field time to sequentially capture a plurality of images, a step of calculating a standard deviation using time-series image data at each pixel of the plurality of images to obtain a standard deviation image, and the standard deviation image A method for inspecting a lighting screen using a plasma display panel.

請求項２に記載の発明は、一対の基板間に複数の放電セルを有し、各放電セルにおいて放電を発生させることにより画像表示を行うプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法において、露光時間を短フィールド時間に設定して画像を撮像するステップと、この撮像した画像とそれより前に撮像した画像の各画素における時系列の画像データの標準偏差を算出して標準偏差画像を得るステップと、この標準偏差画像を用いて点灯画面を評価するステップとを有することを特徴とするプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法である。 According to a second aspect of the present invention, there is provided a lighting screen inspection method for a plasma display panel which has a plurality of discharge cells between a pair of substrates and displays an image by generating a discharge in each discharge cell. A step of capturing an image by setting the field time, a step of calculating a standard deviation of time-series image data in each pixel of the captured image and an image captured before the captured image, and obtaining a standard deviation image; A method for inspecting a lighting screen of a plasma display panel, comprising the step of evaluating the lighting screen using a standard deviation image.

また、請求項３に記載の発明は、請求項２に記載の発明において、以前に撮像した画像の各画素における時系列の画像データの平均値および標準偏差それぞれからなる平均値画像および標準偏差画像を記憶しておき、新たに撮像する度に、前記平均値画像および前記標準偏差画像と新たに撮像した画像とを用いて標準偏差画像を得ることを特徴とする。 According to a third aspect of the present invention, in the second aspect of the present invention, an average value image and a standard deviation image each comprising an average value and a standard deviation of time-series image data in each pixel of the previously captured image. Is stored, and each time a new image is taken, a standard deviation image is obtained using the average value image, the standard deviation image, and a newly taken image.

また、請求項４に記載の発明は、請求項１または請求項２に記載の発明において、プラズマディスプレイパネルの点灯周期に同期させてプラズマディスプレイパネルの画像を撮像することを特徴とする。 According to a fourth aspect of the present invention, in the first or second aspect of the present invention, an image of the plasma display panel is captured in synchronization with a lighting cycle of the plasma display panel.

以下、本発明の一実施の形態について、図面を参照しつつ説明する。 Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

（実施の形態１）
まず、プラズマディスプレイパネルの構造について要部を示す斜視図である図１を用いて説明する。図１に示すように、前面板１は、ガラス製の前面基板２上に、走査電極３および維持電極４からなる表示電極対を複数形成し、その表示電極対を覆うように誘電体ガラスからなる誘電体層５を形成し、誘電体層５上に酸化マグネシウム（ＭｇＯ）からなる保護層６を形成して構成されている。 (Embodiment 1)
First, the structure of the plasma display panel will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 1, the front plate 1 is formed from a dielectric glass so as to form a plurality of display electrode pairs composed of scan electrodes 3 and sustain electrodes 4 on a glass front substrate 2 and to cover the display electrode pairs. The dielectric layer 5 is formed, and the protective layer 6 made of magnesium oxide (MgO) is formed on the dielectric layer 5.

一方、前面板１に対向配置された背面板７は、ガラス製の背面基板８上に、アドレス電極９を複数形成し、そのアドレス電極９を覆うように誘電体層１０を形成し、その誘電体層１０上にアドレス電極９と平行な複数の隔壁１１を形成し、さらに隣接する隔壁１１の間にそれぞれ赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の各色に発光する蛍光体層１２を形成して構成されている。アドレス電極９は隣接する隔壁１１の間に位置している。 On the other hand, the back plate 7 disposed opposite to the front plate 1 has a plurality of address electrodes 9 formed on a glass back substrate 8, and a dielectric layer 10 is formed so as to cover the address electrodes 9. A plurality of partition walls 11 parallel to the address electrodes 9 are formed on the body layer 10, and phosphor layers that emit light of red (R), green (G), and blue (B) colors between the adjacent partition walls 11. 12 is formed. The address electrode 9 is located between the adjacent partition walls 11.

走査電極３および維持電極４とアドレス電極９とが直交するように、一対の基板である前面基板２と背面基板８とが対向配置され、これら基板の周辺部を封着部材（図示せず）を用いて封着している。前面基板２と背面基板８との間に形成された放電空間にネオンおよびキセノンからなる放電ガスを封入しており、走査電極３および維持電極４とアドレス電極９との立体交差部に放電セルが形成される。すなわち、一対の基板間に複数の放電セルを有している。この放電セルは画像を表示するときの単位発光領域であり、Ｒ、Ｇ、Ｂの各色に発光する蛍光体層１２が形成された隣接する３つの放電セルによって１つの画素を形成する。 The front substrate 2 and the rear substrate 8 which are a pair of substrates are opposed to each other so that the scan electrodes 3 and the sustain electrodes 4 and the address electrodes 9 are orthogonal to each other, and a peripheral portion of these substrates is a sealing member (not shown). It is sealed using. A discharge gas made of neon and xenon is sealed in a discharge space formed between the front substrate 2 and the rear substrate 8, and a discharge cell is formed at the three-dimensional intersection of the scan electrode 3, the sustain electrode 4 and the address electrode 9. It is formed. That is, a plurality of discharge cells are provided between a pair of substrates. This discharge cell is a unit light emitting region for displaying an image, and one pixel is formed by three adjacent discharge cells formed with phosphor layers 12 that emit light in R, G, and B colors.

このプラズマディスプレイパネルでは、１フィールド時間（１／６０秒）を複数のサブフィールドに分割し、各放電セルにおいて放電を発生させるサブフィールドを組み合わせることにより階調表現を行う。各サブフィールドでは、走査電極３に順次走査パルスを印加するとともに画像データに基づいてアドレス電極９にアドレスパルスを印加することで表示する放電セルを選択した後、走査電極３と維持電極４とに交互に維持パルスを印加することによって、選択した放電セルにおいて維持放電を起こす。これにより、維持放電が起こった放電セルでは、紫外線が発生し、その紫外線で励起された蛍光体層１２から各色の可視光が放出されて、画像表示が行われる。 In this plasma display panel, one field time (1/60 seconds) is divided into a plurality of subfields, and gradation expression is performed by combining subfields that generate discharge in each discharge cell. In each subfield, a scan cell to be displayed is selected by sequentially applying a scan pulse to the scan electrode 3 and applying an address pulse to the address electrode 9 based on the image data, and then the scan electrode 3 and the sustain electrode 4 are selected. By alternately applying sustain pulses, a sustain discharge is generated in the selected discharge cell. As a result, ultraviolet rays are generated in the discharge cells in which the sustain discharge has occurred, and visible light of each color is emitted from the phosphor layer 12 excited by the ultraviolet rays, and image display is performed.

次に、このようなプラズマディスプレイパネルについて点灯画面検査を行う方法について説明する。 Next, a method of performing a lighting screen inspection for such a plasma display panel will be described.

図２は、本発明の実施の形態１におけるプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査装置の説明図である。図２において、パネル検査台１３に設置されたプラズマディスプレイパネル１４は、駆動回路制御手段１５で駆動されて点灯状態にあり、この点灯画像を、カメラ撮像制御手段１６によりコントロールされた１台または複数台のカメラ（撮像手段）１７により撮像できるようになっている。カメラ１７の露光時間は、露光時間制御手段１８によりカメラ撮像制御手段１６を介して任意に設定される。カメラ１７により撮像された画像の画像データは画像処理部１９にて処理され、結果を出力するようになっている。 FIG. 2 is an explanatory diagram of the lighting screen inspection apparatus for the plasma display panel according to Embodiment 1 of the present invention. In FIG. 2, the plasma display panel 14 installed on the panel inspection table 13 is driven by the drive circuit control means 15 and is in a lighting state. One or a plurality of the lighting images controlled by the camera imaging control means 16 are displayed. Imaging can be performed by a single camera (imaging means) 17. The exposure time of the camera 17 is arbitrarily set by the exposure time control means 18 via the camera imaging control means 16. The image data of the image captured by the camera 17 is processed by the image processing unit 19 and the result is output.

画像処理部１９は、短フィールド時間を露光時間として撮像された連続画像が記憶される短フィールド時間露光連続画像記憶手段２０と、この連続画像の各画素における時系列の画像データの標準偏差を算出する連続画像標準偏差算出手段２１と、その標準偏差画像より得られた欠陥部抽出を行う欠陥部判定処理手段２２とから構成されている。ここで短フィールド時間は、プラズマディスプレイパネル１４の表示周期である１フィールド時間または、その整数倍の数フィールド時間とする。欠陥部判定処理手段２２は、標準偏差画像から欠陥領域を抽出する２値化ラベリング手段２３と、そのラベリングされた領域の面積・平均濃度・幅・長さといった複数の特徴量を算出する特徴量抽出手段２４と、その算出された欠陥の特徴量から良否の判定を行う良否判定手段２５とから構成されている。 The image processor 19 calculates a standard deviation of time-series image data at each pixel of the continuous image, and a short field time exposure continuous image storage unit 20 in which a continuous image captured with the short field time as an exposure time is stored. The continuous image standard deviation calculating means 21 and the defective portion determination processing means 22 for extracting the defective portion obtained from the standard deviation image are configured. Here, the short field time is one field time which is a display period of the plasma display panel 14 or a number field time which is an integral multiple of the one field time. The defect portion determination processing means 22 is a binarization labeling means 23 for extracting a defect area from the standard deviation image, and a feature quantity for calculating a plurality of feature quantities such as area, average density, width, and length of the labeled area. The extraction means 24 and the quality determination means 25 for determining quality based on the calculated feature amount of the defect are configured.

図３は、本発明の実施の形態１における点灯画面検査装置の動作フローを示しており、ステップ１からステップ６までの各ステップを行うことでプラズマディスプレイパネルの動的画面欠点について検査することができる。以下、各ステップについて説明する。 FIG. 3 shows an operation flow of the lighting screen inspection apparatus according to Embodiment 1 of the present invention, and it is possible to inspect for a dynamic screen defect of the plasma display panel by performing each step from Step 1 to Step 6. it can. Hereinafter, each step will be described.

まずステップ１では、露光時間制御手段１８により、短フィールド時間に露光時間が設定された条件にて、カメラ１７を用いてプラズマディスプレイパネル１４の画像を順次撮像し、撮像した画像データを短フィールド時間露光連続画像記憶手段２０に入力する。ここで一例として、短フィールド時間を１フィールド時間とする。 First, in step 1, the exposure time control means 18 sequentially captures images of the plasma display panel 14 using the camera 17 under the condition that the exposure time is set to the short field time, and the captured image data is captured in the short field time. Input to the continuous exposure image storage means 20. Here, as an example, the short field time is defined as one field time.

次にステップ２において、連続画像標準偏差算出手段２１により連続画像標準偏差を算出する標準偏差算出処理を行う。ここで、連続画像標準偏差は、ステップ１で得られた時系列の画像データを用い、統計学で一般的に用いられている標準偏差を求める数式により算出する。すなわち、時間ｔ_k（ｋ＝１〜ｎ）において画像を撮像したとし、時間ｔ_kで撮像した画像データを（Ｄ_ij）_kとすると、連続画像標準偏差Ｕ_ijは次の数式１で求められる。 Next, in step 2, standard deviation calculation processing for calculating a continuous image standard deviation by the continuous image standard deviation calculating means 21 is performed. Here, the continuous image standard deviation is calculated by using the time-series image data obtained in step 1 and a mathematical formula for obtaining a standard deviation generally used in statistics. That is, assuming that an image is captured at time t _k (k = 1 to n), and the image data captured at time t _k is (D _ij ) _k , the continuous image standard deviation U _ij is obtained by the following formula 1. .

ここで、下付添字ｉ、ｊはカメラ１７の各画素を特定する番号であり、プラズマディスプレイパネル１４の画面内の位置に対応するものである。また、Σはｋについて１〜ｎの加算を行うことを表している。ここで、この数式１により求めた各画素における連続画像標準偏差Ｕ_ijの集合によって構成される画像を標準偏差画像という。 Here, the subscripts i and j are numbers for specifying each pixel of the camera 17 and correspond to positions in the screen of the plasma display panel 14. Further, Σ represents that 1 to n are added to k. Here, an image constituted by a set of continuous image standard deviations U _ij at each pixel obtained by Equation 1 is referred to as a standard deviation image.

次にステップ３において、この標準偏差画像における所定の検査エリアに対して、２値化ラベリング手段２３により２値化ラベリング処理を行う。すなわち、標準偏差画像の画像データ（連続画像標準偏差Ｕ_ij）に対して、或る閾値を設定し、画像データがその閾値以上となっている画素を抽出するという処理である。この２値化ラベリング処理を行うことにより、閾値以上の画像データを有する画素が存在する領域（ラベリングされた領域という）を抽出することができる。 Next, in step 3, the binarization labeling means 23 performs a binarization labeling process on a predetermined inspection area in the standard deviation image. That is, it is a process of setting a certain threshold value for image data of a standard deviation image (continuous image standard deviation U _ij ) and extracting pixels whose image data is equal to or greater than the threshold value. By performing this binarization labeling process, it is possible to extract a region where pixels having image data equal to or greater than a threshold value are present (referred to as a labeled region).

次にステップ４において、ラベリングされた領域に対して、特徴量抽出手段２４により特徴量抽出を行う。ここで特徴量は、ラベリングされた領域の面積・幅・長さ・平均濃度などである。 Next, in step 4, feature amount extraction is performed by the feature amount extraction unit 24 on the labeled region. Here, the feature amount is the area, width, length, average density, etc. of the labeled region.

次のステップ５において、この抽出された特徴量に対して、予め決められた判定基準に従い、良否判定手段２５により良否判定を行う。例えば、特徴量であるラベリングされた領域の面積、幅、長さ、平均濃度のそれぞれについて所定の判定基準値を決めておき、抽出した特徴量のいずれか１つでも判定基準値より大きくなる場合には、動的画面欠点が存在することによりパネルとしては不良であると判定するというように、抽出した特徴量を用いることで動的画面欠点に関してパネルの良否を判定することができる。そして、最後にステップ６において良否判定結果を外部に出力し、検査を終了する。 In the next step 5, the pass / fail determination unit 25 performs pass / fail determination on the extracted feature amount according to a predetermined determination criterion. For example, when a predetermined determination reference value is determined for each of the area, width, length, and average density of a labeled region that is a feature amount, and any one of the extracted feature amounts is larger than the determination reference value In this case, it is possible to determine whether the panel is good or bad with respect to the dynamic screen defect by using the extracted feature amount, such as determining that the panel is defective due to the presence of the dynamic screen defect. Finally, in step 6, the quality determination result is output to the outside, and the inspection is terminated.

ここで、正常に点灯する放電セルの１フィールド時間毎の点灯率変化を図４に示す。この場合の点灯率はあまり変化しておらず、撮像した画像の画像データもあまり変化しない。このため、正常に点灯する放電セルの画像データから得られる連続画像標準偏差は小さい値を示す。また、全く点灯しない不灯の放電セルにおいても連続画像標準偏差は小さい値を示す。 Here, FIG. 4 shows a change in lighting rate for each field time of a discharge cell that lights normally. In this case, the lighting rate does not change so much, and the image data of the captured image does not change much. For this reason, the continuous image standard deviation obtained from the image data of the normally lit discharge cells shows a small value. In addition, the continuous image standard deviation shows a small value even in a non-lighted discharge cell that does not light at all.

これに対して、動的画面欠点となる放電セル（点滅セルという）の１フィールド時間毎の点灯率変化の一例を図５に示す。図５からわかるように、点滅セルの点灯率は変化が激しく、確率的に点灯率が低い状態または高い状態になっていることが多い。また、図６は撮像した画像の画像データの一例を示しており、図６（ａ）は点滅セルの点灯率が低い場合（点灯率０％）、図６（ｂ）は点滅セルの点灯率が中間値の場合（点灯率５０％）、図６（ｃ）は点滅セルの点灯率が高い場合（点灯率１００％）を示している。 On the other hand, FIG. 5 shows an example of a change in the lighting rate for each field time of a discharge cell (referred to as a blinking cell) that becomes a dynamic screen defect. As can be seen from FIG. 5, the lighting rate of the blinking cell is drastically changed, and the lighting rate is often in a low or high probability state. FIG. 6 shows an example of image data of a captured image. FIG. 6A shows a case where the lighting rate of the flashing cell is low (lighting rate 0%), and FIG. 6B shows a lighting rate of the flashing cell. 6 is an intermediate value (lighting rate 50%), FIG. 6C shows a case where the lighting rate of the blinking cell is high (lighting rate 100%).

図６において、画像データが短い周期で振動するように変化しているのは、プラズマディスプレイパネル１４に設けられた隔壁１１などの発光に寄与しない部分があるためであり、そのような部分において画像データが極所的に小さくなっている。また、図６中の領域Ａの部分に点滅セルが存在している。点滅セルの部分では、図６に示すように、点滅セルの点灯率が低いときには画像データが小さく、点滅セルの点灯率が高いときには画像データが大きいというように、画像データは点滅セルの点灯率に応じて大きさが変わる。このように点滅セルにおいては、点灯率が大きく変化するとともに点灯率に応じて画像データが変化するため、点滅セルの画像データから得られる連続画像標準偏差は大きな値を示すこととなり、正常に点灯する放電セルや全く点灯しない不灯の放電セルと点滅セルとの間で連続画像標準偏差の値に違いが生じる。 In FIG. 6, the image data changes so as to vibrate in a short cycle because there is a portion that does not contribute to light emission, such as the partition wall 11 provided in the plasma display panel 14. Data is extremely small. In addition, a blinking cell exists in the area A in FIG. In the flashing cell portion, as shown in FIG. 6, the image data is small when the lighting rate of the flashing cell is low, and the image data is large when the lighting rate of the flashing cell is high. Depending on the size. Thus, in the blinking cell, the lighting rate changes greatly and the image data changes according to the lighting rate. Therefore, the continuous image standard deviation obtained from the image data of the blinking cell shows a large value, and the lighting is normally performed. There is a difference in the value of the standard deviation of the continuous image between a discharge cell that does not light up or a non-lighted discharge cell that does not light at all and a blinking cell.

したがって、ステップ３の２値化ラベリング処理によってラベリングされる領域は、点滅セルが存在する領域となり、ステップ４、ステップ５を実施することでラベリングされた領域についての評価を行っている。このように、ステップ３〜ステップ５は標準偏差画像を用いて点灯画面を評価するステップである。 Therefore, the region labeled by the binarization labeling process in step 3 is a region where a blinking cell exists, and the regions labeled by performing steps 4 and 5 are evaluated. Thus, Steps 3 to 5 are steps for evaluating the lighting screen using the standard deviation image.

以上のように、本実施の形態１の構成によれば、連続画像標準偏差算出手段２１を用いて、各画素の時系列の画像データについての標準偏差を算出することにより、時間的変化を伴わない不灯放電セルなどの静的画面欠点と区別して、時間的変化を伴う点滅セルなどの動的画面欠点が検出可能となり、高精度な検査を実現することができる。これにより、製造工程における目視検査員の省人化が可能になるとともに、後工程への不良パネルの流出が軽減でき、ロスコストの削減が可能になる。 As described above, according to the configuration of the first embodiment, the continuous image standard deviation calculating unit 21 is used to calculate the standard deviation of the time-series image data of each pixel, thereby causing a temporal change. Differentiating from static screen defects such as non-discharged discharge cells, dynamic screen defects such as blinking cells with time change can be detected, and high-accuracy inspection can be realized. As a result, it is possible to reduce the number of visual inspectors in the manufacturing process, reduce the outflow of defective panels to the subsequent process, and reduce the loss cost.

（実施の形態２）
本発明の実施の形態２におけるプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法について図７、図８を用いて説明する。 (Embodiment 2)
A plasma display panel lighting screen inspection method according to Embodiment 2 of the present invention will be described with reference to FIGS.

図７は、本発明の実施の形態２におけるプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査装置の説明図である。図７において、図２と同じ構成については同じ符号を用いており、図２の構成と異なるのは画像処理部２６であるので、以下では主に画像処理部２６について説明する。 FIG. 7 is an explanatory diagram of a lighting screen inspection apparatus for a plasma display panel according to Embodiment 2 of the present invention. 7, the same reference numerals are used for the same components as those in FIG. 2, and the image processor 26 is different from the components in FIG. 2. Therefore, the image processor 26 will be mainly described below.

図７において、画像処理部２６は、露光時間制御手段１８により露光時間を短フィールド時間に設定し、カメラ撮像制御手段１６により制御された条件にてカメラ１７で撮像した画像データを入力し、その画像データについて所定の画像処理を行い、判定結果を出力するようになっている。撮像は所定のタイミングで順次行っていくが、最後に撮像したタイミングを撮像現時点とすると、画像処理部２６は、撮像現時点で撮像した短フィールド時間露光画像を記憶する短フィールド時間露光画像記憶手段２７と、撮像現時点より前の撮像画像枚数を記憶しておく撮像枚数記憶手段２８と、撮像現時点より前に撮像した画像の平均値画像を記憶する平均値画像記憶手段２９と、撮像現時点より前に撮像した画像の標準偏差画像を記憶する標準偏差画像記憶手段３０と、撮像現時点より前に撮像した画像と撮像現時点に撮像した画像とを含めた画像について標準偏差画像を算出する標準偏差画像算出手段３１と、その標準偏差画像から欠陥判定を行う欠陥部判定処理手段２２からなる。ここで、標準偏差画像は前述した通りであり、平均値画像は、カメラ１７の各画素において時系列に得られた画像データの平均値を求め、その平均値の集合によって構成される画像をいう。 In FIG. 7, the image processing unit 26 sets the exposure time to a short field time by the exposure time control unit 18, and inputs image data captured by the camera 17 under the conditions controlled by the camera imaging control unit 16. Predetermined image processing is performed on the image data, and a determination result is output. The imaging is sequentially performed at a predetermined timing. If the last imaging timing is the current imaging time, the image processing unit 26 stores the short field time exposure image storage unit 27 that stores the short field time exposure image captured at the current imaging time. A number-of-images storage unit 28 that stores the number of captured images before the current imaging time point, an average value image storage unit 29 that stores an average value image of images captured before the current imaging time point, and before the current imaging time point. Standard deviation image storage means 30 for storing a standard deviation image of the captured image, and standard deviation image calculation means for calculating a standard deviation image for an image including an image captured before the current capturing time and an image captured at the current capturing time. 31 and defect portion determination processing means 22 for performing defect determination from the standard deviation image. Here, the standard deviation image is as described above, and the average value image is an image composed of a set of average values obtained by obtaining an average value of image data obtained in time series in each pixel of the camera 17. .

また、欠陥部判定処理手段２２は、標準偏差画像から欠陥領域を抽出する２値化ラベリング手段２３と、そのラベリングされた領域の面積・平均濃度・幅・長さといった複数の特徴量を算出する特徴量抽出手段２４と、その算出された欠陥の特徴量から良否の判定を行う良否判定手段２５とから構成されている。ここで、画像処理部２６は、画像処理ボードのＦＰＧＡに組み込むことにより、リアルタイム高速処理を実現している。 Further, the defective portion determination processing means 22 calculates a plurality of feature quantities such as a binarized labeling means 23 for extracting a defective area from the standard deviation image and an area, average density, width, and length of the labeled area. It comprises a feature quantity extraction means 24 and a quality judgment means 25 that judges quality based on the calculated feature quantity of the defect. Here, the image processing unit 26 realizes real-time high-speed processing by being incorporated in the FPGA of the image processing board.

次に、本発明の実施の形態２におけるプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法について、そのフロー図である図８を用いて説明する。 Next, the lighting screen inspection method for the plasma display panel according to Embodiment 2 of the present invention will be described with reference to FIG.

まずステップ１では、短フィールド時間に露光時間が設定された条件にて、カメラ１７を用いてプラズマディスプレイパネル１４の画像を撮像し、その撮像により得られた画像データを短フィールド時間露光画像記憶手段２７に入力する。このときに撮像された画像を、撮像時間中の（Ｎ＋１）枚目の画像とする。したがって、この時点では、撮像枚数記憶手段２８にはＮの値が記憶され、平均値画像記憶手段２９には、この撮像時点より前に撮像されたＮ枚分の画像の平均値画像が記憶され、標準偏差画像記憶手段３０にはそのＮ枚分の画像の標準偏差画像が記憶されている。 First, in step 1, an image of the plasma display panel 14 is captured using the camera 17 under the condition that the exposure time is set to a short field time, and the image data obtained by the imaging is stored in the short field time exposure image storage means. 27. The image captured at this time is defined as the (N + 1) th image during the imaging time. Therefore, at this time, the value of N is stored in the number-of-images storage unit 28, and the average value image storage unit 29 stores an average value image of N images captured before this time of image capture. The standard deviation image storage means 30 stores the standard deviation images of the N images.

次にステップ２〜ステップ４では、撮像枚数、平均値画像および標準偏差画像が同時に更新される。ここで、（Ｎ＋１）枚目の平均値画像は、Ｎ枚分の平均値画像と（Ｎ＋１）枚目の画像と撮像枚数（Ｎ）とから算出でき、また（Ｎ＋１）枚目の標準偏差画像は、Ｎ枚分の平均値画像、Ｎ枚分の標準偏差画像、（Ｎ＋１）枚目の画像および撮像枚数（Ｎ）から、画像処理ボード上のパイプライン処理にて、リアルタイムに算出することが可能となる。 Next, in step 2 to step 4, the number of captured images, the average value image, and the standard deviation image are updated simultaneously. Here, the (N + 1) -th average value image can be calculated from the N-th average value image, the (N + 1) -th image, and the number of captured images (N), and the (N + 1) -th standard deviation image. Can be calculated in real time by pipeline processing on the image processing board from the average value image for N images, the standard deviation image for N images, the (N + 1) th image, and the number of images (N). It becomes possible.

次のステップ５において、この標準偏差画像における所定の検査エリアに対して、２値化ラベリング手段２３により２値化ラベリング処理を行う。次のステップ６において、ラベリングされた領域に対して、特徴量抽出手段２４により特徴量抽出を行う。ここで特徴量は、ラベリングされた領域の面積・幅・長さ・平均濃度などである。次のステップ７において、この抽出された特徴量に対して、予め決められた判定基準に従い、良否判定手段２５により良否判定を行う。次に、ステップ８のように、（Ｎ＋２）枚目、（Ｎ＋３）枚目と撮像が繰り返されるたびに、ステップ１〜ステップ７の各ステップが繰り返される。そして、ステップ１〜ステップ７の各ステップを繰り返す際に不良と判定された場合にはステップ９に移って良否判定結果を外部に出力し、検査を終了する。また、所定の枚数を撮像してもパネル不良と判定されなければ、そのパネルは良品であると判断しステップ９に移って良否判定結果を外部に出力し、検査を終了する。 In the next step 5, the binarization labeling means 23 performs binarization labeling processing on a predetermined inspection area in the standard deviation image. In the next step 6, the feature amount extraction unit 24 performs feature amount extraction on the labeled region. Here, the feature amount is the area, width, length, average density, etc. of the labeled region. In the next step 7, the quality determination unit 25 performs quality determination on the extracted feature amount according to a predetermined criterion. Next, as in step 8, each time step 1 to step 7 are repeated each time the (N + 2) -th and (N + 3) -th images are repeated. Then, if it is determined that the process is defective when the steps 1 to 7 are repeated, the process proceeds to step 9 to output the pass / fail determination result to the outside, and the inspection is terminated. If it is not determined that the panel is defective even if a predetermined number of images are taken, it is determined that the panel is a non-defective product, the process proceeds to step 9, and the quality determination result is output to the outside, and the inspection is terminated.

本実施の形態２によれば、短フィールド時間露光画像記憶手段２７と、撮像枚数記憶手段２８と、平均値画像記憶手段２９と、標準偏差画像記憶手段３０とを備え、新たな画像を撮像する度に、各記憶手段のデータと新たに撮像した画像を用いて平均値画像および標準偏差画像を算出し、各記憶手段のデータを更新するようにしている。これにより、実施の形態１と比較して、より高速に検査可能となり、時間的変化を伴わない不灯放電セルなどの静的画面欠点と区別して、時間的変化を伴う点滅セルのような動的画面欠点を高精度高速に検査することが実現可能となる。 According to the second embodiment, the short field time exposure image storage means 27, the number-of-images storage means 28, the average value image storage means 29, and the standard deviation image storage means 30 are provided to pick up a new image. Each time, the average value image and the standard deviation image are calculated using the data of each storage means and the newly captured image, and the data of each storage means is updated. As a result, the inspection can be performed at a higher speed than in the first embodiment, and the movement like a blinking cell with a temporal change is distinguished from a static screen defect such as a non-discharge discharge cell without a temporal change. It becomes feasible to inspect high-precision screen defects with high accuracy and high speed.

（実施の形態３）
本発明の実施の形態３におけるプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法について図９および図１０を用いて説明する。 (Embodiment 3)
A plasma display panel lighting screen inspection method according to Embodiment 3 of the present invention will be described with reference to FIGS.

図９は、本発明の実施の形態３におけるプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査装置の説明図である。図９において、図２と同じ構成については同じ符号を用い、説明を省略する。図９において、パネル垂直同期処理部３２は、駆動回路制御手段１５から出されるパネル垂直同期信号に合わせて、カメラ１７にて画像を撮像できるようにしている。その他の構成については図２に示した構成と同じである。 FIG. 9 is an explanatory diagram of a lighting screen inspection device for a plasma display panel according to Embodiment 3 of the present invention. 9, the same components as those in FIG. 2 are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted. In FIG. 9, the panel vertical synchronization processing unit 32 can capture an image with the camera 17 in accordance with the panel vertical synchronization signal output from the drive circuit control means 15. Other configurations are the same as those shown in FIG.

次に、本発明の実施の形態３におけるプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法のフローを図１０に示す。まずステップ１において、パネル垂直同期処理部３２により、パネル垂直同期とカメラ同期を合わせる。これ以降のステップ２〜ステップ７の各ステップは、図３で示したステップ１〜ステップ６の各ステップと同じである。 Next, FIG. 10 shows a flow of a plasma display panel lighting screen inspection method according to Embodiment 3 of the present invention. First, in step 1, the panel vertical synchronization processing unit 32 matches the panel vertical synchronization with the camera synchronization. The subsequent steps 2 to 7 are the same as the steps 1 to 6 shown in FIG.

パネル垂直同期とカメラ同期を合わせることにより、プラズマディスプレイパネルの点灯周期に同期させて画像を撮像することになり、短フィールド時間露光画像において、図６（ｂ）に示したような点滅セルの点灯率が中間値となる場合を軽減することが可能となる。 By synchronizing the panel vertical synchronization with the camera synchronization, an image is captured in synchronization with the lighting cycle of the plasma display panel, and the flashing cell lighting as shown in FIG. It is possible to reduce the case where the rate becomes an intermediate value.

かかる構成によれば、パネル垂直同期とカメラ同期を合わせることにより、点滅セルの点灯率が中間値となる確率を低減することが可能となり、実施の形態１よりも検出精度を向上させることが可能となり、時間的変化を伴わない不灯放電セルなどの静的画面欠点と区別して、時間的変化を伴う点滅セルなどの動的画面欠点を高精度に検査することができる。なお、本実施の形態３では、上記実施の形態１においてパネル垂直同期処理部３２を備えることについて示したが、上記実施の形態２においてもパネル垂直同期処理部３２を備えるようにしてもよい。 According to such a configuration, by combining the panel vertical synchronization and the camera synchronization, it is possible to reduce the probability that the lighting rate of the blinking cell becomes an intermediate value, and the detection accuracy can be improved as compared with the first embodiment. Thus, it is possible to inspect the dynamic screen defect such as the blinking cell accompanied by the temporal change with high accuracy in distinction from the static screen defect such as the non-light discharge cell not accompanied by the temporal change. In the third embodiment, the panel vertical synchronization processing unit 32 is provided in the first embodiment, but the panel vertical synchronization processing unit 32 may be provided in the second embodiment.

以上のように本発明によれば、プラズマディスプレイパネルの点灯画面検査において、点滅セルのような時間的変化を伴う動的画面欠点が、不灯放電セルなどの静的画面欠点と区別して検出可能となり、プラズマディスプレイパネルの点灯画面検査に有用である。 As described above, according to the present invention, in a lighting screen inspection of a plasma display panel, a dynamic screen defect accompanying a temporal change such as a blinking cell can be detected separately from a static screen defect such as a non-light discharge cell. Therefore, it is useful for inspecting the lighting screen of the plasma display panel.

プラズマディスプレイパネルの要部を示す斜視図The perspective view which shows the principal part of a plasma display panel 本発明の実施の形態１における点灯画面検査装置の説明図Explanatory drawing of the lighting screen inspection apparatus in Embodiment 1 of this invention 同点灯画面検査装置の動作フロー図Operation flow diagram of the lighting screen inspection device 正常な放電セルの１フィールド時間毎の点灯率変化の一例を示す図The figure which shows an example of the lighting rate change for every field time of a normal discharge cell 点滅セルの１フィールド時間毎の点灯率変化の一例を示す図The figure which shows an example of the lighting rate change for every field time of a blinking cell （ａ）〜（ｃ）は撮像した画像の画像データの一例を示す図(A)-(c) is a figure which shows an example of the image data of the imaged image 本発明の実施の形態２における点灯画面検査装置の説明図Explanatory drawing of the lighting screen inspection apparatus in Embodiment 2 of this invention 本発明の実施の形態２における点灯画面検査のフロー図Flow chart of lighting screen inspection in embodiment 2 of the present invention 本発明の実施の形態３における点灯画面検査装置の説明図Explanatory drawing of the lighting screen inspection apparatus in Embodiment 3 of this invention 本発明の実施の形態３における点灯画面検査のフロー図Flow chart of lighting screen inspection in embodiment 3 of the present invention

Explanation of symbols

２前面基板
８背面基板
１４プラズマディスプレイパネル
１６カメラ撮像制御手段
１７カメラ
１８露光時間制御手段
１９、２６画像処理部
２０短フィールド時間露光連続画像記憶手段
２１連続画像標準偏差算出手段
２２欠陥部判定処理手段
２７短フィールド時間露光画像記憶手段
２８撮像枚数記憶手段
２９平均値画像記憶手段
３０標準偏差画像記憶手段
３１標準偏差画像算出手段
３２パネル垂直同期処理部 2 Front substrate 8 Rear substrate 14 Plasma display panel 16 Camera imaging control means 17 Camera 18 Exposure time control means 19, 26 Image processing unit 20 Short field time exposure continuous image storage means 21 Continuous image standard deviation calculation means 22 Defect portion determination processing means 27 Short field time exposure image storage means 28 Imaged number storage means 29 Average value image storage means 30 Standard deviation image storage means 31 Standard deviation image calculation means 32 Panel vertical synchronization processing section

Claims

In a lighting screen inspection method for a plasma display panel that has a plurality of discharge cells between a pair of substrates and displays an image by generating a discharge in each discharge cell, the exposure time is set to a short field time and a plurality of images Sequentially calculating a standard deviation using time-series image data at each pixel of the plurality of images to obtain a standard deviation image, and evaluating a lighting screen using the standard deviation image A lighting screen inspection method for a plasma display panel, comprising:

In a lighting screen inspection method for a plasma display panel, which has a plurality of discharge cells between a pair of substrates and displays an image by generating a discharge in each discharge cell, an image is taken with an exposure time set to a short field time A step of calculating a standard deviation of time-series image data in each pixel of the captured image and an image captured before that to obtain a standard deviation image, and using this standard deviation image, a lighting screen is displayed. And a lighting screen inspection method for a plasma display panel.

An average value image and a standard deviation image each consisting of an average value and a standard deviation of time-series image data in each pixel of a previously imaged image are stored, and the average value image and the standard image each time a new image is taken The method for inspecting a lighting screen of a plasma display panel according to claim 2, wherein a standard deviation image is obtained using the deviation image and a newly taken image.

The method for inspecting a lighting screen of a plasma display panel according to claim 1 or 2, wherein an image of the plasma display panel is picked up in synchronization with a lighting cycle of the plasma display panel.