JP2006210043A - Image evaluation method of plasma display panel - Google Patents

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亮 戸島
Ryuichi Inoue
竜一 井上
Takao Wakitani
敬夫 脇谷
Toshiya Otani
俊哉 大谷
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To enable to appropriately evaluate and inspect the luminance unevenness of discharge cell unit occurring in a plasma display panel by distinguishing it from disconnection due to contact failure. <P>SOLUTION: The image evaluation method comprises a step in which an image of the plasma display panel is photographed by an imaging means and an isolation point removal processing is applied to the image photographed, a step in which a peripheral comparison processing is applied wherein the values based on the differential between the image data of the object pixel and the image data of the peripheral pixel are made the image data of the object pixel, a step in which binary processing is applied for extracting as a detection part the region in which a pixel having the image data in a prescribed relation with an established threshold exists, and a step in which, thereafter the detection part is determined whether it is a non-lighting region or not and the image of the plasma display panel is evaluated. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、プラズマディスプレイパネルに表示される画像を評価するための画像評価方法に関する。   The present invention relates to an image evaluation method for evaluating an image displayed on a plasma display panel.

プラズマディスプレイパネルは、前面基板と背面基板とを、間に放電空間が形成されるように対向配置して周辺部を封着し、放電空間に希ガスを封入して構成されている。前面基板上には走査電極と維持電極とからなる表示電極が複数形成され、背面基板上には表示電極と直交する方向にアドレス電極が複数形成されており、表示電極とアドレス電極との立体交差部には単位発光領域である放電セルが形成される。このプラズマディスプレイパネルでは、表示電極とアドレス電極とに所定の電圧を印加して各放電セルで選択的に放電を発生させ、各放電セルに形成された蛍光体層が放電によって発光することにより、画像表示が行われる。   The plasma display panel is configured such that a front substrate and a rear substrate are arranged to face each other so that a discharge space is formed therebetween, a peripheral portion is sealed, and a rare gas is sealed in the discharge space. A plurality of display electrodes composed of scan electrodes and sustain electrodes are formed on the front substrate, and a plurality of address electrodes are formed on the rear substrate in a direction orthogonal to the display electrodes. A discharge cell which is a unit light emitting region is formed in the part. In this plasma display panel, a predetermined voltage is applied to the display electrode and the address electrode to generate a discharge selectively in each discharge cell, and the phosphor layer formed in each discharge cell emits light by discharge, An image is displayed.

このようなプラズマディスプレイパネルを製造するときにはパネルの性能を評価する必要があり、例えば特許文献1には、プラズマディスプレイパネルの性能を評価する方法について開示されている。
特開平11−86731号公報
When manufacturing such a plasma display panel, it is necessary to evaluate the performance of the panel. For example, Patent Document 1 discloses a method for evaluating the performance of a plasma display panel.
JP 11-86731 A

プラズマディスプレイパネルには、輝度のばらつきが無い均一な表示画像が望まれる。しかしながら実際の表示画像においては、プラズマディスプレイパネルを構成する各放電セルにおける放電開始電圧のばらつきが顕著になることなどの原因によって、放電セル毎の発光輝度の差が大きくなるために輝度むらが発生する可能性があり、もし人がこのときの表示画像を目視した場合、表示画像にザラツキ感を感じることになる。ここでいう輝度むらは、放電セル毎の輝度差によって発生する輝度むら(放電セル単位の輝度むら)であり、微小な範囲内で生じる輝度むらである。このような輝度むらについてもパネル検査工程において評価する必要がある。   A plasma display panel is desired to have a uniform display image with no variation in luminance. However, in the actual display image, luminance unevenness occurs because the difference in emission luminance between discharge cells becomes large due to factors such as significant variations in the discharge start voltage in each discharge cell constituting the plasma display panel. If a person views the display image at this time, the display image feels rough. The brightness unevenness referred to here is brightness unevenness (brightness unevenness in units of discharge cells) caused by a brightness difference for each discharge cell, and is brightness unevenness occurring in a minute range. Such uneven brightness needs to be evaluated in the panel inspection process.

よって、このような放電セル単位の輝度むらを、カメラ撮像と画像処理を用いて、定量的に評価、検査する方法を検討してきた。しかしながら、パネル検査工程においてプラズマディスプレイパネルを点灯する際には、検査装置側端子をパネル側端子に接触させてパネルに点灯信号を供給しており、パネル側端子と検査装置側端子との電気的接続の不具合(コンタクト不良)が発生した場合、前記の画像処理を用いた方法では、コンタクト不良による断線と、放電セル単位の輝度むらとの区別をすることが困難になるという課題があった。   Therefore, a method for quantitatively evaluating and inspecting such luminance unevenness in units of discharge cells using camera imaging and image processing has been studied. However, when the plasma display panel is lit in the panel inspection process, a lighting signal is supplied to the panel by bringing the inspection device side terminal into contact with the panel side terminal. The electrical connection between the panel side terminal and the inspection device side terminal When a connection failure (contact failure) occurs, the above-described method using image processing has a problem that it is difficult to distinguish between disconnection due to contact failure and luminance unevenness in discharge cell units.

本発明はこのような課題を解決するためになされたものであり、プラズマディスプレイパネルにおいて発生する放電セル単位の輝度むらを、コンタクト不良により生じる断線と区別して、適切な評価、検査を可能とすることを目的とする。   The present invention has been made to solve the above-described problems, and makes it possible to perform appropriate evaluation and inspection by distinguishing luminance unevenness occurring in a discharge cell unit in a plasma display panel from disconnection caused by contact failure. For the purpose.

上記目的を達成するために本発明のプラズマディスプレイパネルの画像評価方法は、撮像手段によりプラズマディスプレイパネルの画像を撮像し、撮像した画像に対して孤立点除去処理を行うステップと、その後、対象画素の画像データとその周辺画素の画像データとの差分に基づく値を前記対象画素の画像データとする周辺比較処理を行うステップと、その後、設定された閾値と所定の関係にある画像データを有する画素が存在する領域を検出部として抽出する2値化処理を行うステップと、その後、前記検出部について不点灯領域か否かの判別を行うとともにプラズマディスプレイパネルの画像を評価するステップとを有することを特徴とする。   In order to achieve the above object, an image evaluation method for a plasma display panel according to the present invention includes a step of imaging an image of a plasma display panel by an imaging means, performing isolated point removal processing on the captured image, and then a target pixel A step of performing a peripheral comparison process in which a value based on a difference between the image data of the pixel and the image data of the peripheral pixels is used as the image data of the target pixel, and thereafter, a pixel having image data having a predetermined relationship with a set threshold value A step of performing binarization processing for extracting a region in which a light source exists as a detection unit, and a step of determining whether or not the detection unit is a non-lighting region and evaluating an image of the plasma display panel. Features.

本発明によれば、プラズマディスプレイパネルに発生し得る、放電セル単位の輝度むらについての評価を、コンタクト不良による断線と区別して、定量的に行うことができ、その輝度むらについての適切な評価、検査を行うことができる。   According to the present invention, it is possible to quantitatively evaluate the brightness unevenness in units of discharge cells that can occur in the plasma display panel, in distinction from the disconnection due to contact failure, and to appropriately evaluate the brightness unevenness, Inspection can be performed.

本発明の請求項1に記載の発明は、一対の基板間に複数の放電セルを有し、各放電セルにおいて放電を発生させることにより画像表示を行うプラズマディスプレイパネルの画像評価方法において、撮像手段によりプラズマディスプレイパネルの画像を撮像し、撮像した画像に対して孤立点除去処理を行うステップと、その後、対象画素の画像データとその周辺画素の画像データとの差分に基づく値を前記対象画素の画像データとする周辺比較処理を行うステップと、その後、設定された閾値と所定の関係にある画像データを有する画素が存在する領域を検出部として抽出する2値化処理を行うステップと、その後、前記検出部について不点灯領域か否かの判別を行うとともにプラズマディスプレイパネルの画像を評価するステップとを有することを特徴とする。   According to a first aspect of the present invention, there is provided an image evaluation method for a plasma display panel having a plurality of discharge cells between a pair of substrates and displaying an image by generating a discharge in each discharge cell. Capturing an image of the plasma display panel, performing isolated point removal processing on the captured image, and then calculating a value based on the difference between the image data of the target pixel and the image data of the surrounding pixels of the target pixel. A step of performing a peripheral comparison process as image data, a step of performing a binarization process of extracting, as a detection unit, an area where pixels having image data having a predetermined relationship with a set threshold value are present, and Determining whether or not the detection unit is a non-lighting region and evaluating an image of the plasma display panel. And wherein the door.

また請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、検出部のアスペクト比または検出部平均差分和の少なくとも一方を用いて、前記検出部について不点灯領域か否かの判別を行うことを特徴とする。   According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the invention, it is determined whether or not the detection unit is a non-lighting region using at least one of the aspect ratio of the detection unit or the average difference sum of the detection units. It is characterized by performing.

以下、本発明の一実施の形態について、図面を参照して説明する。   Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

まず、プラズマディスプレイパネルの構造について要部を示す斜視図である図1を用いて説明する。図1に示すように、前面パネル1は、ガラス製の前面基板2上に、走査電極3および維持電極4からなる表示電極を複数形成し、その表示電極を覆うように誘電体ガラスからなる誘電体層5を形成し、誘電体層5上に酸化マグネシウム(MgO)からなる保護層6を形成して構成されている。   First, the structure of the plasma display panel will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 1, the front panel 1 includes a plurality of display electrodes made up of scanning electrodes 3 and sustain electrodes 4 formed on a glass front substrate 2, and a dielectric made of dielectric glass so as to cover the display electrodes. The body layer 5 is formed, and the protective layer 6 made of magnesium oxide (MgO) is formed on the dielectric layer 5.

一方、前面パネル1に対向配置された背面パネル7は、ガラス製の背面基板8上に、アドレス電極9を複数形成し、そのアドレス電極9を覆うように誘電体層10を形成し、その誘電体層10上にアドレス電極9と平行な複数の隔壁11を形成し、さらに隣接する隔壁11の間にそれぞれ赤(R)、緑(G)、青(B)の各色に発光する蛍光体層12を形成して構成されている。アドレス電極9は隣接する隔壁11の間に位置している。   On the other hand, the back panel 7 disposed opposite to the front panel 1 has a plurality of address electrodes 9 formed on a glass back substrate 8, and a dielectric layer 10 is formed so as to cover the address electrodes 9. A plurality of partition walls 11 parallel to the address electrodes 9 are formed on the body layer 10, and phosphor layers that emit light of red (R), green (G), and blue (B) colors between the adjacent partition walls 11. 12 is formed. The address electrode 9 is located between the adjacent partition walls 11.

走査電極3および維持電極4とアドレス電極9とが直交するように、一対の基板である前面基板2と背面基板8とが対向配置され、これら基板の周辺部を封着部材(図示せず)を用いて封着しており、前面基板2と背面基板8との間に形成された放電空間にネオンおよびキセノンからなる放電ガスを封入している。走査電極3および維持電極4とアドレス電極9との立体交差部に放電セルが形成される。放電セルは画像を表示するときの単位発光領域であり、R、G、Bの各色に発光する蛍光体層12が形成された隣接する3つの放電セルによって1つの画素を形成する。   The front substrate 2 and the rear substrate 8 which are a pair of substrates are arranged to face each other so that the scan electrodes 3 and the sustain electrodes 4 and the address electrodes 9 are orthogonal to each other, and a peripheral member of these substrates is a sealing member (not shown). A discharge gas composed of neon and xenon is sealed in a discharge space formed between the front substrate 2 and the back substrate 8. A discharge cell is formed at the three-dimensional intersection of scan electrode 3 and sustain electrode 4 and address electrode 9. The discharge cell is a unit light emitting region for displaying an image, and one pixel is formed by three adjacent discharge cells formed with phosphor layers 12 that emit light in R, G, and B colors.

前面基板2および背面基板8の平面形状は長方形であり、通常、走査電極3および維持電極4は前面基板2の長辺に対して平行(水平方向)に形成され、アドレス電極9は背面基板8の短辺に対して平行(垂直方向)に形成されている。そして、前面基板2の短辺側の端部(左端部、右端部)には、走査電極3または維持電極4につながった端子が形成され、背面基板8の長辺側の端部(上端部、下端部)には、アドレス電極9につながった端子が形成されている。これらの端子は前述したパネル側端子である。なお、アドレス電極9につながった端子が背面基板8の上端部または下端部のどちらか一方に形成されたタイプ(シングルスキャンタイプ)と、アドレス電極9が背面基板8の上半分と下半分とに分けて形成され、上半分のアドレス電極9につながった端子が背面基板8の上端部に形成され、下半分のアドレス電極9につながった端子が背面基板8の下端部に形成されたタイプ(デュアルスキャンタイプ)とがある。   The front substrate 2 and the rear substrate 8 have a rectangular planar shape. Normally, the scan electrodes 3 and the sustain electrodes 4 are formed in parallel (horizontal direction) with respect to the long sides of the front substrate 2, and the address electrodes 9 are formed on the rear substrate 8. It is formed in parallel (perpendicular direction) to the short side. A terminal connected to the scanning electrode 3 or the sustain electrode 4 is formed at the short side end (left end, right end) of the front substrate 2, and the long side end (upper end) of the back substrate 8 is formed. , The lower end portion) is formed with a terminal connected to the address electrode 9. These terminals are the panel side terminals described above. The terminal connected to the address electrode 9 is formed on either the upper end or the lower end of the rear substrate 8 (single scan type), and the address electrode 9 is formed on the upper half and the lower half of the rear substrate 8. A type in which the terminals connected to the upper half address electrodes 9 are formed at the upper end of the rear substrate 8 and the terminals connected to the lower half address electrodes 9 are formed at the lower end of the rear substrate 8 (dual Scan type).

このプラズマディスプレイパネルでは、走査電極3に順次走査パルスを印加するとともに画像データに基づいてアドレス電極9にアドレスパルスを印加することで表示する放電セルを選択する。その後、走査電極3と維持電極4とに交互に維持パルスを印加することによって、選択した放電セルにおいて維持放電を起こす。これにより、維持放電が起こった放電セルでは、紫外線が発生し、その紫外線で励起された蛍光体層12から各色の可視光が放出されて、画像表示が行われる。   In this plasma display panel, a discharge cell to be displayed is selected by sequentially applying a scan pulse to the scan electrode 3 and applying an address pulse to the address electrode 9 based on image data. Thereafter, sustain pulses are alternately applied to scan electrode 3 and sustain electrode 4 to cause sustain discharge in the selected discharge cells. As a result, ultraviolet rays are generated in the discharge cells in which the sustain discharge has occurred, and visible light of each color is emitted from the phosphor layer 12 excited by the ultraviolet rays, and image display is performed.

次に、このようなプラズマディスプレイパネルについてパネル検査を行うときの、放電セル単位の輝度むらを評価する方法について説明する。図2は、本発明の一実施の形態における、放電セル単位の輝度むらを定量的に評価するシステムの全体構成図である。   Next, a method for evaluating luminance unevenness in units of discharge cells when performing panel inspection on such a plasma display panel will be described. FIG. 2 is an overall configuration diagram of a system that quantitatively evaluates luminance unevenness in units of discharge cells in an embodiment of the present invention.

図2に示すように、検査対象のプラズマディスプレイパネル13はパネル保持部14に装着され、駆動回路15によって駆動される。電源16は駆動回路15に電力を供給し、信号発生装置17は駆動回路15に信号を供給するものであり、電源16および信号発生装置17は制御装置18によって制御される。また、撮像手段であるCCDカメラなどのカメラ19はプラズマディスプレイパネル13に表示された画像を撮像して、カメラ19の画素ごとにR、G、Bそれぞれの強度データを有するデジタルの画像データとして出力する。ここで、カメラ19は、プラズマディスプレイパネル13の1つの画素に対して、カメラ19の画素が少なくとも1つ以上の画素で測定できる解像度を有するものが望ましい。また、画像記憶手段としての画像メモリ20は、カメラ19で撮像されたプラズマディスプレイパネル13の画像を画像データとして一時記憶する。そして、画像処理部21は例えばCPUを主体にして構成されており、画像メモリ20に記憶された画像データを用いて各種の処理を行って評価結果を出力する。   As shown in FIG. 2, the plasma display panel 13 to be inspected is mounted on the panel holding unit 14 and driven by the drive circuit 15. The power supply 16 supplies power to the drive circuit 15, and the signal generator 17 supplies signals to the drive circuit 15, and the power supply 16 and the signal generator 17 are controlled by the control device 18. Further, a camera 19 such as a CCD camera as an imaging means captures an image displayed on the plasma display panel 13 and outputs it as digital image data having intensity data of R, G and B for each pixel of the camera 19. To do. Here, it is desirable that the camera 19 has a resolution that allows the pixels of the camera 19 to measure at least one pixel with respect to one pixel of the plasma display panel 13. The image memory 20 as image storage means temporarily stores an image of the plasma display panel 13 captured by the camera 19 as image data. The image processing unit 21 is configured mainly with a CPU, for example, and performs various processes using the image data stored in the image memory 20 and outputs an evaluation result.

図3は本実施の形態における画像評価のフローチャートであり、ステップ1からステップ7までの各ステップを順次行い、評価結果が出力される。この評価方法を用いて、プラズマディスプレイパネル13を製造する際のパネル検査工程においてパネルの良否を判定することができる。以下、各ステップについて説明する。   FIG. 3 is a flowchart of image evaluation in this embodiment. Steps 1 to 7 are sequentially performed, and an evaluation result is output. Using this evaluation method, the quality of the panel can be determined in the panel inspection process when the plasma display panel 13 is manufactured. Hereinafter, each step will be described.

まずステップ1では、パネル保持部14に設置されたプラズマディスプレイパネル13に、信号発生装置17からの信号に対応する画像を表示させる。このとき、駆動回路15に電気的に接続された検査装置側端子(例えばフレキシブルプリント基板の端子)をプラズマディスプレイパネル13のパネル側端子に接触させ、駆動回路15によってプラズマディスプレイパネル13を駆動する。そして、カメラ19を用いてプラズマディスプレイパネル13に表示された画像を撮像し、カメラ19の各画素における赤色、緑色、青色それぞれの強度データであるデジタルの画像データR(赤色のデータ)、G(緑色のデータ)、B(青色のデータ)を画像メモリ20に格納する。ここで、プラズマディスプレイパネル13に表示する画像は、例えば、すべての放電セルを点灯させて白色表示にする。   First, in step 1, an image corresponding to a signal from the signal generator 17 is displayed on the plasma display panel 13 installed in the panel holding unit 14. At this time, an inspection apparatus side terminal (for example, a terminal of a flexible printed circuit board) electrically connected to the drive circuit 15 is brought into contact with a panel side terminal of the plasma display panel 13, and the plasma display panel 13 is driven by the drive circuit 15. Then, an image displayed on the plasma display panel 13 is picked up using the camera 19, and digital image data R (red data), G (red data), which are intensity data of red, green, and blue in each pixel of the camera 19, respectively. Green data) and B (blue data) are stored in the image memory 20. Here, the image displayed on the plasma display panel 13 is, for example, displayed in white by lighting all the discharge cells.

次に、ステップ2において、画像メモリ20に記憶されている画像データに対して、輝度変換処理を施す。輝度変換処理は、撮像画像における各画素の画像データR、G、Bを用いて、例えば以下のような数1を用いて変換することにより、各画素の輝度を表す画像データYを求める。   Next, in step 2, luminance conversion processing is performed on the image data stored in the image memory 20. In the luminance conversion process, image data Y representing the luminance of each pixel is obtained by converting the image data R, G, and B of each pixel in the captured image using, for example, the following Equation 1.

Figure 2006210043
Figure 2006210043

次のステップ3において、ステップ2で求めた画像データYを有する画像に対し、孤立点除去処理を行う。孤立点除去処理は図4または図5に示す2通りの方法のうち、いずれかを用いることが望ましい。図4、図5において、入力画像は孤立点除去処理を行う前の画像であり、図中の数値は一部分の画素についての画像データYの値、すなわち入力画像の画像データf(x、y)の値を表している。ここで、x、yは画素の位置を特定するもので、横方向をx、縦方向をyとしている。また出力画像は、入力画像に対して孤立点除去処理を行った後の画像であり、図中の数値は対象画素についての画像データの値、すなわち出力画像の画像データF(x、y)の値を表している。ここで対象画素とは、孤立点除去処理を行う対象となる画素であり、ステップ4以降においても各処理を行う対象となる画素を対象画素という。   In the next step 3, isolated point removal processing is performed on the image having the image data Y obtained in step 2. It is desirable to use one of the two methods shown in FIG. 4 or 5 for the isolated point removal processing. 4 and 5, the input image is an image before the isolated point removal process is performed, and the numerical values in the drawings are the values of the image data Y for a part of the pixels, that is, the image data f (x, y) of the input image. Represents the value of. Here, x and y specify the position of the pixel, and the horizontal direction is x and the vertical direction is y. The output image is an image after the isolated point removal process is performed on the input image, and the numerical values in the figure are the values of the image data for the target pixel, that is, the image data F (x, y) of the output image. Represents a value. Here, the target pixel is a pixel to be subjected to isolated point removal processing, and a pixel to be subjected to each processing in step 4 and subsequent steps is referred to as a target pixel.

孤立点除去処理の1つ目の方法は、図4に示すように、入力画像の対象画素における画像データを、近傍領域内の画素における画像データの中間値で置き換える中間値フィルタ処理である。図4の例では、近傍領域内の画素として、対象画素および対象画素を囲む8つの画素を採用している。すなわち、x方向フィルタサイズおよびy方向フィルタサイズをいずれも3としているが、この値は適宜変更することができる。そして、対象画素における中間値フィルタ処理後の画像データF(x、y)の値は、入力画像での対象画素およびその周囲8つの画素における画像データf(x、y)を大きさの順に並べたとき中央にくる値(19)となっている。   As shown in FIG. 4, the first method of the isolated point removal process is an intermediate value filter process in which the image data in the target pixel of the input image is replaced with the intermediate value of the image data in the pixels in the vicinity region. In the example of FIG. 4, the target pixel and eight pixels surrounding the target pixel are employed as the pixels in the vicinity region. That is, although the x-direction filter size and the y-direction filter size are both 3, this value can be changed as appropriate. Then, the value of the image data F (x, y) after the intermediate value filter processing in the target pixel is arranged in order of the size of the image data f (x, y) in the target pixel in the input image and the surrounding eight pixels. It is the value (19) that comes to the center.

孤立点除去処理の2つ目の方法は、図5に示すように、入力画像の対象画素における画像データを、近傍領域内の画素における画像データの平均値で置き換える平滑化フィルタ処理である。図5においても図4の場合と同様に、近傍領域内の画素として、対象画素および対象画素を囲む8つの画素を採用しているが、適宜変更することができる。そして、対象画素における平滑化フィルタ処理後の画像データF(x、y)の値は、入力画像での対象画素およびその周囲8つの画素における画像データf(x、y)の平均値(24)となっている。   As shown in FIG. 5, the second method of the isolated point removal process is a smoothing filter process that replaces the image data in the target pixel of the input image with the average value of the image data in the pixels in the vicinity region. In FIG. 5, as in the case of FIG. 4, the target pixel and eight pixels surrounding the target pixel are adopted as the pixels in the vicinity region, but can be changed as appropriate. Then, the value of the image data F (x, y) after the smoothing filter processing in the target pixel is the average value (24) of the image data f (x, y) in the target pixel and the surrounding eight pixels in the input image. It has become.

これらの中間値フィルタ処理、平滑化フィルタ処理はいずれも孤立点を除去し、画像に入ったノイズを除去、抑制することを目的とした孤立点除去処理である。   These intermediate value filter processing and smoothing filter processing are both isolated point removal processing for the purpose of removing isolated points and removing and suppressing noise in the image.

次のステップ4では、ステップ3において孤立点除去処理を行った画像に対して周辺比較処理を行う。周辺比較処理としては、入力画像の対象画素の画像データを2方向に存在する画素の画像データと比較する1次微分処理、または4方向に存在する画素の画像データと比較する2次微分処理を用いることができる。以下、周辺比較処理について図6、図7を用いて説明するが、各図においてx、yで特定される画素での入力画像の画像データをf(x、y)とし、出力画像の画像データをF(x、y)とする。   In the next step 4, peripheral comparison processing is performed on the image that has undergone isolated point removal processing in step 3. As the peripheral comparison process, a primary differentiation process for comparing the image data of the target pixel of the input image with the image data of the pixel existing in the two directions, or a secondary differentiation process for comparing with the image data of the pixel existing in the four directions. Can be used. Hereinafter, the peripheral comparison process will be described with reference to FIGS. 6 and 7. In each figure, the image data of the input image at the pixel specified by x and y is f (x, y), and the image data of the output image Is F (x, y).

1次微分処理は、図6に示すように、或る対象画素の画像データをf(x、y)、その対象画素の右隣に位置する画素の画像データをf(x+1、y)、前記対象画素の下隣に位置する画素の画像データをf(x、y+1)とすると、例えば以下に示す数2により求められるG(x、y)の絶対値を画像データF(x、y)とするものである。ここでは、周辺画素として、対象画素の右隣および下隣に位置する画素を選択している。   As shown in FIG. 6, the first-order differentiation process is f (x, y) for image data of a certain target pixel, f (x + 1, y) for image data of a pixel located right next to the target pixel, Assuming that the image data of the pixel located below the target pixel is f (x, y + 1), for example, the absolute value of G (x, y) obtained by the following equation 2 is the image data F (x, y). To do. Here, the pixels located on the right side and the lower side of the target pixel are selected as the peripheral pixels.

Figure 2006210043
Figure 2006210043

そして、図6に示した入力画像のデータ例について数2を用いて計算すると、
G(x、y)=2×11−30−5=−13
となるので、対象画素における出力画像の画像データF(x、y)は13となる。
Then, when calculating the data example of the input image shown in FIG.
G (x, y) = 2 × 11−30−5 = −13
Thus, the image data F (x, y) of the output image at the target pixel is 13.

また、2次微分処理は、図7に示すように、或る対象画素の画像データをf(x、y)、その対象画素の左隣に位置する画素の画像データをf(x−1、y)、前記対象画素の右隣に位置する画素の画像データをf(x+1、y)、前記対象画素の上隣に位置する画素の画像データをf(x、y−1)、前記対象画素の下隣に位置する画素の画像データをf(x、y+1)とすると、例えば以下に示す数3により求められるG(x、y)の絶対値を画像データF(x、y)とするものである。ここでは、周辺画素として、対象画素の左隣、右隣、上隣および下隣に位置する画素を選択している。   Further, as shown in FIG. 7, the second-order differential processing is performed by using f (x, y) for the image data of a certain target pixel and f (x-1, y) for the image data of the pixel located to the left of the target pixel. y), f (x + 1, y) is the image data of the pixel located right next to the target pixel, f (x, y-1) is the image data of the pixel located next to the target pixel, and the target pixel Assuming that the image data of the pixel located below is f (x, y + 1), for example, the absolute value of G (x, y) obtained by the following equation 3 is set as the image data F (x, y) It is. Here, the pixels located on the left side, the right side, the upper side, and the lower side of the target pixel are selected as the peripheral pixels.

Figure 2006210043
Figure 2006210043

そして、図7に示した入力画像のデータ例について数3を用いて計算すると、
G(x、y)=4×11−51−30−55−5=−97
となるので、対象画素における出力画像の画像データF(x、y)は97となる。
Then, when calculating the data example of the input image shown in FIG.
G (x, y) = 4 × 11−51−30−55−5 = −97
Therefore, the image data F (x, y) of the output image at the target pixel is 97.

以上のように周辺比較処理では、対象画素の画像データと周辺画素の画像データとの差分の和の大きさを対象画素の画像データとしている。このような周辺比較処理を行うと、対象画素の輝度がその周辺の画素の輝度に比べて大きく異なる場合には、その対象画素における出力画像の画像データが大きな値となる。すなわち、周辺比較処理を行ったときの出力画像においては、周辺の画素との輝度差が大きい画素では大きな画像データを有しており、周辺画素との輝度差が小さな画素では小さな画像データを有している。このため、大きな画像データを有している画素とその周辺近傍では放電セル単位の輝度むらが発生している可能性があると判断できる。   As described above, in the peripheral comparison process, the sum of the differences between the image data of the target pixel and the image data of the peripheral pixel is used as the image data of the target pixel. When such peripheral comparison processing is performed, if the luminance of the target pixel is significantly different from the luminance of the peripheral pixels, the image data of the output image at the target pixel becomes a large value. In other words, in the output image when the peripheral comparison process is performed, pixels having a large luminance difference with the surrounding pixels have large image data, and pixels having a small luminance difference with the peripheral pixels have small image data. is doing. For this reason, it can be determined that there is a possibility that luminance unevenness occurs in units of discharge cells in the pixel having large image data and in the vicinity thereof.

なお、前述の説明では、周辺比較処理を行うときの一例として、対象画素と周辺画素とは隣接するものとしたが、例えば、対象画素の3画素右に位置する画素や、5画素上に位置する画素を周辺画素として、対象画素の画像データと周辺画素の画像データを用いて周辺比較処理を行うようにしてもよい。ただし、検出対象が放電セル単位の輝度むらであるので、対象画素と周辺画素との間に存在する画素は10画素以下であることが望ましい。   In the above description, as an example when the peripheral comparison process is performed, the target pixel and the peripheral pixel are adjacent to each other. However, for example, a pixel located three pixels to the right of the target pixel or a pixel located five pixels above. The peripheral comparison processing may be performed using the image data of the target pixel and the image data of the peripheral pixel, with the pixel to be processed as the peripheral pixel. However, since the detection target is uneven luminance in units of discharge cells, it is desirable that the number of pixels existing between the target pixel and the peripheral pixels is 10 pixels or less.

次に、ステップ4の周辺比較処理を施されて得られた画像に対して、ステップ5において、画像データが或る設定された閾値以上となっている画素を抽出するという2値化処理を行う。その結果を画像に表したときの一例を図8に示す。図8において黒い点で表された領域(破線22a、22bの内側に存在する黒色の領域)は、2値化処理によって抽出した領域(検出部)であり、画像データが閾値以上となっている画素が存在する領域、すなわち周辺画素との輝度差が大きい画素が存在する領域である。このように2値化処理では、或る設定された閾値と所定の関係にある画像データを有する画素が存在する領域を検出部として抽出しており、画像データが閾値よりも大きくなっている画素を抽出するようにしてもよい。   Next, a binarization process is performed on the image obtained by performing the peripheral comparison process in step 4, in which pixels in which the image data is equal to or greater than a predetermined threshold value are extracted in step 5. . An example when the result is represented in an image is shown in FIG. In FIG. 8, areas represented by black dots (black areas existing inside broken lines 22a and 22b) are areas extracted by binarization processing (detection units), and the image data is equal to or greater than the threshold value. This is a region where pixels exist, that is, a region where pixels with a large luminance difference from surrounding pixels exist. As described above, in the binarization processing, a region where pixels having image data having a predetermined relationship with a certain threshold value are extracted as a detection unit, and pixels whose image data is larger than the threshold value. May be extracted.

ここで図8の破線22a、22bで囲んだ部分のように、もし抽出した領域が点在していれば、放電セル単位の輝度むらを精度よく評価することが困難となる。そこで、次のステップ6において、ステップ5で2値化処理を行った画像に対して、近距離間に存在する複数の検出部を結合して一つの検出部として取り扱う結合化処理を行い、放電セル単位の輝度むらを精度よく評価できるようにする。ここで、例えば横方向がm画素(m=10)であり縦方向がn画素(n=10)の範囲内に存在する検出部について結合化処理を行えばよいが、このmとnについては適宜設定することができる。なお、図8において、抽出した領域23a、23bはパネル側端子と検査装置側端子とのコンタクト不良による断線箇所を表しており、これはデュアルスキャンタイプの場合である。   Here, if the extracted regions are scattered like the portions surrounded by the broken lines 22a and 22b in FIG. 8, it is difficult to accurately evaluate the luminance unevenness in units of discharge cells. Therefore, in the next step 6, the image subjected to the binarization process in step 5 is subjected to a combination process in which a plurality of detection units existing in a short distance are combined and handled as one detection unit, and the discharge is performed. Make it possible to accurately evaluate luminance unevenness in cell units. Here, for example, a combination process may be performed for a detection unit that is within a range of m pixels (m = 10) in the horizontal direction and n pixels (n = 10) in the vertical direction. It can be set appropriately. In FIG. 8, the extracted areas 23a and 23b represent disconnection points due to contact failure between the panel side terminals and the inspection apparatus side terminals, which is a case of the dual scan type.

図9は、図8の画像に対してステップ6の結合化処理を行った後の出力画像の一例を示している。図9において、検出部A〜検出部Dは、前記閾値以上の画像データを有する画素が存在する領域であるが、検出部Aと検出部Bは、放電セル単位の輝度むらが存在する部分、検出部Cと検出部Dはコンタクト不良による断線を検出しているものである。   FIG. 9 shows an example of an output image after the combining process in step 6 is performed on the image of FIG. In FIG. 9, the detection unit A to detection unit D are regions where pixels having image data equal to or greater than the threshold exist, but the detection unit A and the detection unit B are portions where luminance unevenness exists in units of discharge cells, The detection part C and the detection part D are detecting the disconnection by a contact defect.

次のステップ7において、ステップ1〜ステップ6の一連の処理によって抽出された検出部A〜検出部Dを用いて、プラズマディスプレイパネル13の放電セル単位の輝度むらについて判定する判定処理を行うが、ここで、放電セル単位の輝度むらとコンタクト不良による断線とを区別する必要がある。   In the next step 7, using the detection unit A to the detection unit D extracted by the series of processing of step 1 to step 6, a determination process is performed to determine luminance unevenness in units of discharge cells of the plasma display panel 13. Here, it is necessary to distinguish luminance unevenness in units of discharge cells from disconnection due to contact failure.

この判定処理において使用する判定指標に関しては、検出部の特徴を表す特徴量である検出部面積、検出部総差分和、検出部平均差分和、アスペクト比などを用いる。ここで、検出部が複数個(図9の場合は4個)検出された場合には、検出部面積、検出部総差分和、検出部平均差分和、アスペクト比はそれぞれの検出部について定義される。以下では検出部Aについて説明するが、検出部B〜検出部Dについても同様に定義される。   As the determination index used in this determination process, a detection unit area, a detection unit total difference sum, a detection unit average difference sum, an aspect ratio, and the like, which are feature amounts representing the characteristics of the detection unit, are used. Here, when a plurality of detection units are detected (four in the case of FIG. 9), the detection unit area, the detection unit total difference sum, the detection unit average difference sum, and the aspect ratio are defined for each detection unit. The Although the detection unit A will be described below, the detection units B to D are also defined in the same manner.

検出部面積は検出部Aに含まれる総画素数である。また検出部総差分和は、ステップ4終了時の出力画像において、検出部Aの全画素について画像データの総和をとったものである。検出部平均差分和は、ステップ4終了時の出力画像において、検出部Aの全画素の画像データについての平均値であり、
検出部平均差分和=検出部総差分和/検出部面積
で計算されるものである。また、アスペクト比は、検出部の縦方向の長さ(L)に対する横方向の長さ(W)の比率(W/L)である。これらの判定指標のいずれか、あるいは複数の判定指標を組み合わせて用いることで、プラズマディスプレイパネルの放電セル単位の輝度むらを定量的に精度よく検査することが可能となる。例えば、判定指標である検出部面積、検出部総差分和、検出部平均差分和のそれぞれについて所定の判定基準値を決めておき、検出部面積、検出部総差分和および検出部平均差分和のいずれか1つでも判定基準値より大きくなる場合には、放電セル単位の輝度むらが大きく、パネルとしては不良であると判定するなど、上記判定指標を用いることで放電セル単位の輝度むらに関してパネルの良否を判定することができる。
The detection unit area is the total number of pixels included in the detection unit A. Further, the total detection unit difference is the sum of the image data for all the pixels of the detection unit A in the output image at the end of step 4. The detection unit average difference sum is an average value for the image data of all the pixels of the detection unit A in the output image at the end of step 4,
The sum of the detection part average difference = the total difference of the detection part / the area of the detection part. The aspect ratio is a ratio (W / L) of the length (W) in the horizontal direction to the length (L) in the vertical direction of the detection unit. By using any one of these determination indexes or a combination of a plurality of determination indexes, it is possible to inspect the luminance unevenness of the discharge cell unit of the plasma display panel quantitatively and accurately. For example, a predetermined determination reference value is determined for each of the detection unit area, the detection unit total difference sum, and the detection unit average difference sum that are determination indexes, and the detection unit area, the detection unit total difference sum, and the detection unit average difference sum If any one of them is larger than the determination reference value, the luminance unevenness in discharge cell units is large, and it is determined that the panel is defective. Can be judged.

次に、放電セル単位の輝度むらを有する領域(検出部A、検出部B)とコンタクト不良による断線を表す領域(検出部C、検出部D)とを区別する方法について説明する。   Next, a method for distinguishing between regions having unevenness of brightness in units of discharge cells (detection unit A, detection unit B) and regions representing disconnection due to contact failure (detection unit C, detection unit D) will be described.

コンタクト不良による断線を検出している部分である検出部C、検出部Dには、アスペクト比が小さいという特徴がある。すなわち、コンタクト不良が発生した場合、コンタクト不良となった電極(図9の場合にはアドレス電極)によって形成される放電セルでは点灯しないために、検出部Cおよび検出部Dのようにコンタクト不良による断線の領域は縦方向のライン状の領域となり、アスペクト比が検出部A、検出部Bに比べて小さくなる。また、コンタクト不良となった電極が走査電極または維持電極の場合、コンタクト不良による断線の領域は横方向のライン状の領域となり、アスペクト比が検出部A、検出部Bに比べて大きくなる。よって、アスペクト比において、放電セル単位の輝度むらとコンタクト不良による断線とを区別できる新たな閾値を適宜設定し、その閾値を用いて判定することで、放電セル単位の輝度むらとコンタクト不良による断線とを区別することができる。   The detection unit C and the detection unit D, which are portions that detect a disconnection due to a contact failure, have a feature that the aspect ratio is small. That is, when a contact failure occurs, the discharge cell formed by the electrode that has caused the contact failure (in the case of FIG. 9, the address electrode) does not light up. The disconnection area is a line area in the vertical direction, and the aspect ratio is smaller than that of the detection unit A and the detection unit B. In addition, when the electrode having a contact failure is a scan electrode or a sustain electrode, the region of disconnection due to the contact failure is a horizontal line-shaped region, and the aspect ratio is larger than that of the detection unit A and the detection unit B. Therefore, in the aspect ratio, a new threshold value that can distinguish between uneven brightness in discharge cells and disconnection due to contact failure is set as appropriate, and determination is made using the threshold value. And can be distinguished.

また、コンタクト不良による断線を検出している部分は、その検出部平均差分和が大きいという特徴がある。これは、コンタクト不良による断線の部分の輝度はほぼ0であり、輝度むらによる輝度が小さい部分よりも明らかに輝度が低いからである。よって、検出部平均差分和において、放電セル単位の輝度むらとコンタクト不良による断線とを区別できる新たな閾値を設定し、その閾値を用いて判定することで、放電セル単位の輝度むらとコンタクト不良による断線とを区別することができる。   Moreover, the part which has detected the disconnection due to the contact failure has a feature that the detection part average difference sum is large. This is because the luminance of the broken portion due to contact failure is almost 0, and the luminance is clearly lower than the portion where the luminance due to luminance unevenness is small. Therefore, in the detection unit average difference sum, by setting a new threshold value that can distinguish between luminance unevenness in discharge cell units and disconnection due to contact failure, and determining using the threshold value, luminance unevenness and contact failure in discharge cell units It can be distinguished from disconnection due to.

さらに、アスペクト比および検出部平均差分和の両方を用いて判定してもよい。これにより、例えば放電セル単位の輝度むらを有する領域とコンタクト不良による断線を表す領域とが重なって存在する場合に、それらを効果的に区別することができる。   Furthermore, determination may be made using both the aspect ratio and the detection unit average difference sum. Thereby, for example, when a region having luminance unevenness in units of discharge cells overlaps with a region representing disconnection due to contact failure, they can be effectively distinguished.

このように、ステップ7の判定処理では、検出部A〜検出部Dについて不点灯領域か否かの判別を行うとともにプラズマディスプレイパネルの画像を評価しており、検出部A〜検出部Dのアスペクト比または検出部平均差分和の少なくとも一方を用いて、検出部A〜検出部Dについて不点灯領域か否かの判別を行うことができる。   As described above, in the determination process of step 7, the detection unit A to the detection unit D are determined as to whether or not they are non-lighting areas, and the image of the plasma display panel is evaluated. It is possible to determine whether or not the detection unit A to the detection unit D are non-lighting regions by using at least one of the ratio or the detection unit average difference sum.

以上のように本発明によれば、プラズマディスプレイパネルに発生し得る、放電セル単位の輝度むらについての評価を、コンタクト不良による断線と区別して定量的に行うことができ、プラズマディスプレイパネルの検査に有用である。   As described above, according to the present invention, it is possible to quantitatively evaluate brightness unevenness in units of discharge cells, which can occur in a plasma display panel, by distinguishing from disconnection due to contact failure, and for plasma display panel inspection. Useful.

本発明の一実施の形態におけるプラズマディスプレイパネルの一部を示す斜視図The perspective view which shows a part of plasma display panel in one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態における放電セル単位の輝度むらを評価するシステムの全体構成図1 is an overall configuration diagram of a system for evaluating brightness unevenness in units of discharge cells according to an embodiment of the present invention. 本発明の一実施の形態における画像処理の流れを説明するフローチャートThe flowchart explaining the flow of the image processing in one embodiment of the present invention 中間値フィルタ処理の説明図Explanatory drawing of intermediate value filter processing 平滑化フィルタ処理の説明図Illustration of smoothing filter processing 1次微分処理の説明図Explanatory drawing of first derivative processing 2次微分処理の説明図Explanatory drawing of the secondary differentiation process 周辺比較処理後の画像データを2値化処理したときの画像の一例を示す図The figure which shows an example of the image when the image data after a periphery comparison process is binarized 結合化処理後の画像の一例を示す図The figure which shows an example of the image after a joint process

符号の説明Explanation of symbols

2 前面基板
8 背面基板
19 カメラ
20 画像メモリ
21 画像処理部
2 Front substrate 8 Rear substrate 19 Camera 20 Image memory 21 Image processing unit

Claims (2)

一対の基板間に複数の放電セルを有し、各放電セルにおいて放電を発生させることにより画像表示を行うプラズマディスプレイパネルの画像評価方法において、撮像手段によりプラズマディスプレイパネルの画像を撮像し、撮像した画像に対して孤立点除去処理を行うステップと、その後、対象画素の画像データとその周辺画素の画像データとの差分に基づく値を前記対象画素の画像データとする周辺比較処理を行うステップと、その後、設定された閾値と所定の関係にある画像データを有する画素が存在する領域を検出部として抽出する2値化処理を行うステップと、その後、前記検出部について不点灯領域か否かの判別を行うとともにプラズマディスプレイパネルの画像を評価するステップとを有することを特徴とするプラズマディスプレイパネルの画像評価方法。 In an image evaluation method for a plasma display panel that has a plurality of discharge cells between a pair of substrates and displays an image by generating a discharge in each discharge cell, the image of the plasma display panel is picked up by an image pickup means and picked up Performing an isolated point removal process on the image, and thereafter performing a peripheral comparison process using a value based on a difference between the image data of the target pixel and the image data of the peripheral pixels as the image data of the target pixel; Thereafter, a step of performing binarization processing for extracting a region where pixels having image data having a predetermined relationship with a set threshold value exist as a detection unit, and then determining whether or not the detection unit is a non-lighting region And a step of evaluating an image of the plasma display panel. Image evaluation method of Ipaneru. 検出部のアスペクト比または検出部平均差分和の少なくとも一方を用いて、前記検出部について不点灯領域か否かの判別を行うことを特徴とする請求項1に記載のプラズマディスプレイパネルの画像評価方法。 2. The image evaluation method for a plasma display panel according to claim 1, wherein at least one of the aspect ratio of the detection unit and the average difference sum of the detection units is used to determine whether or not the detection unit is a non-lighting region. .
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPWO2013128617A1 (en) * 2012-03-01 2015-07-30 株式会社日本マイクロニクス Method and apparatus for detecting display unevenness of display device

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