JP4440007B2 - Image evaluation method for plasma display panel - Google Patents
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Description
本発明は、プラズマディスプレイパネルに表示される画像を評価するための画像評価方法に関する。 The present invention relates to an image evaluation method for evaluating an image displayed on a plasma display panel.
プラズマディスプレイパネルは、前面基板と背面基板とを、間に放電空間が形成されるように対向配置して周辺部を封着し、放電空間に希ガスを封入して構成されている。前面基板上には走査電極と維持電極とからなる表示電極が複数形成され、背面基板上には表示電極と直交する方向にアドレス電極が複数形成されており、表示電極とアドレス電極との立体交差部には単位発光領域である放電セルが形成される。このプラズマディスプレイパネルでは、表示電極とアドレス電極とに所定の電圧を印加して各放電セルで選択的に放電を発生させ、各放電セルに形成された蛍光体層が放電によって発光することにより、画像表示が行われる。 The plasma display panel is configured such that a front substrate and a rear substrate are arranged to face each other so that a discharge space is formed therebetween, a peripheral portion is sealed, and a rare gas is sealed in the discharge space. A plurality of display electrodes composed of scan electrodes and sustain electrodes are formed on the front substrate, and a plurality of address electrodes are formed on the rear substrate in a direction orthogonal to the display electrodes. A discharge cell which is a unit light emitting region is formed in the part. In this plasma display panel, a predetermined voltage is applied to the display electrode and the address electrode to generate a discharge selectively in each discharge cell, and the phosphor layer formed in each discharge cell emits light by discharge, An image is displayed.
このようなプラズマディスプレイパネルを製造するときにはパネルの性能を評価する必要があり、例えば特許文献1には、プラズマディスプレイパネルの性能を評価する方法について開示されている。
プラズマディスプレイパネルには、輝度のばらつきが無い均一な表示画像が望まれる。しかしながら実際の表示画像においては、プラズマディスプレイパネルを構成する各放電セルにおける放電開始電圧のばらつきが顕著になることなどの原因によって、放電セル毎の発光輝度の差が大きくなるために輝度むらが発生する可能性があり、もし人がこのときの表示画像を目視した場合、表示画像にザラツキ感を感じることになる。ここでいう輝度むらは、放電セル毎の輝度差によって生じる輝度むら(放電セル単位の輝度むら)であり、微小な範囲内で生じる輝度むらである。このような輝度むらについてもパネル検査工程において評価する必要がある。 A plasma display panel is desired to have a uniform display image with no variation in luminance. However, in the actual display image, luminance unevenness occurs because the difference in emission luminance between discharge cells becomes large due to factors such as significant variations in the discharge start voltage in each discharge cell constituting the plasma display panel. If a person views the display image at this time, the display image feels rough. The luminance unevenness referred to here is luminance unevenness caused by a luminance difference for each discharge cell (brightness unevenness in units of discharge cells), and is luminance unevenness generated within a minute range. Such uneven brightness needs to be evaluated in the panel inspection process.
しかしながら実際の検査においては、放電セル単位の輝度むらを定量的に評価、検査する方法がなく、放電セル単位の輝度むらの検査は検査員の目視評価によって行わざるを得ない状況である。しかし、検査員の目視評価による検査は、人の感覚が検査に影響を与える官能検査であり、検査員によって評価値が異なるということがあり得る。また、検査員の体調などによっても評価値が異なる可能性があり、常に同じ基準で評価を行うことは困難である。 However, in the actual inspection, there is no method for quantitatively evaluating and inspecting the luminance unevenness of the discharge cell unit, and the inspection of the luminance unevenness of the discharge cell unit has to be performed by the visual evaluation of the inspector. However, the inspection by visual inspection by the inspector is a sensory inspection in which human senses affect the inspection, and the evaluation value may differ depending on the inspector. Also, the evaluation value may vary depending on the physical condition of the inspector, and it is difficult to always perform evaluation based on the same standard.
本発明はこのような課題を解決するためになされたものであり、プラズマディスプレイパネルにおいて発生する放電セル単位の輝度むらについての適切な評価、検査を可能とすることを目的とする。 The present invention has been made to solve such a problem, and an object of the present invention is to enable appropriate evaluation and inspection of luminance unevenness in discharge cell units generated in a plasma display panel.
上記目的を達成するために本発明は、撮像手段によりプラズマディスプレイパネルの画像を撮像し、撮像した画像に対して孤立点除去処理を行うステップと、この孤立点除去処理を行った画像に対して、対象画素の画像データとその周辺画素の画像データとの差分に基づく量を前記対象画素の画像データとする周辺比較処理を行うステップと、この周辺比較処理を行った画像に対して、対象画素の近傍領域内の画素における画像データのうち最大値を前記対象画素の画像データとする最大値フィルタ処理を行うステップと、この最大値フィルタ処理を行った画像に対して、対象画素の近傍領域内の画素における画像データのうち最小値を前記対象画素の画像データとする最小値フィルタ処理を行うステップと、この最小値フィルタ処理を行った画像に対して2値化処理を行うステップと、この2値化処理を行った画像を用いてプラズマディスプレイパネルの画像を評価するステップとを有することを特徴とするプラズマディスプレイパネルの画像評価方法である。 In order to achieve the above object, the present invention captures an image of a plasma display panel by an imaging means, performs an isolated point removal process on the captured image, and an image on which the isolated point removal process has been performed. A step of performing a peripheral comparison process in which an amount based on a difference between the image data of the target pixel and the image data of the peripheral pixels is used as the image data of the target pixel; and the target pixel is applied to the image subjected to the peripheral comparison process. Performing a maximum value filtering process using the maximum value of the image data in the pixels in the vicinity area of the target pixel as the image data of the target pixel; Performing a minimum value filtering process using the minimum value of the image data in the pixel as the image data of the target pixel, and performing the minimum value filtering process A plasma display panel image evaluation method comprising: performing binarization processing on an image; and evaluating a plasma display panel image using the binarized image. is there.
本発明によれば、プラズマディスプレイパネルに発生し得る、放電セル単位の輝度むらについての評価を定量的に行うことができ、その輝度むらについての適切な評価、検査を行うことができる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the evaluation about the brightness nonuniformity of the discharge cell unit which can generate | occur | produce in a plasma display panel can be performed quantitatively, and the appropriate evaluation and test | inspection about the brightness nonuniformity can be performed.
本発明の請求項1に記載の発明は、一対の基板間に複数の放電セルを有し、各放電セルにおいて放電を発生させることにより画像表示を行うプラズマディスプレイパネルの画像評価方法において、撮像手段によりプラズマディスプレイパネルの画像を撮像し、撮像した画像に対して孤立点除去処理を行うステップと、この孤立点除去処理を行った画像に対して、対象画素の画像データとその周辺画素の画像データとの差分に基づく量を前記対象画素の画像データとする周辺比較処理を行うステップと、この周辺比較処理を行った画像に対して、対象画素の近傍領域内の画素における画像データのうち最大値を前記対象画素の画像データとする最大値フィルタ処理を行うステップと、この最大値フィルタ処理を行った画像に対して、対象画素の近傍領域内の画素における画像データのうち最小値を前記対象画素の画像データとする最小値フィルタ処理を行うステップと、この最小値フィルタ処理を行った画像に対して2値化処理を行うステップと、この2値化処理を行った画像を用いてプラズマディスプレイパネルの画像を評価するステップとを有することを特徴とするプラズマディスプレイパネルの画像評価方法である。 According to a first aspect of the present invention, there is provided an image evaluation method for a plasma display panel having a plurality of discharge cells between a pair of substrates and displaying an image by generating a discharge in each discharge cell. The image of the plasma display panel is captured by the step of performing isolated point removal processing on the captured image, and the image data of the target pixel and the surrounding pixel image data for the image subjected to the isolated point removal processing And a step of performing a peripheral comparison process using the amount based on the difference as the image data of the target pixel, and a maximum value of image data in pixels in the vicinity region of the target pixel with respect to the image subjected to the peripheral comparison process A maximum value filtering process using the target pixel image data as a target pixel image data, and for the image subjected to the maximum value filtering process, Performing a minimum value filtering process using the minimum value of the image data in the pixels in the side region as the image data of the target pixel; and performing a binarization process on the image subjected to the minimum value filter process; And a step of evaluating an image of the plasma display panel using the image subjected to the binarization processing.
また請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、最大値フィルタ処理および最小値フィルタ処理をそれぞれ複数回行うことを特徴とする。
The invention described in
また請求項3に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、周辺比較処理における対象画素と周辺画素との間に存在する画素は10画素以下であることを特徴とする。
The invention described in
以下、本発明の一実施の形態について、図面を参照して説明する。 Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
まず、プラズマディスプレイパネルの構造について要部を示す斜視図である図1を用いて説明する。図1に示すように、前面パネル1は、ガラス製の前面基板2上に、走査電極3および維持電極4からなる表示電極対を複数形成し、その表示電極対を覆うように誘電体ガラスからなる誘電体層5を形成し、誘電体層5上に酸化マグネシウム(MgO)からなる保護層6を形成して構成されている。
First, the structure of the plasma display panel will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 1, the
一方、前面パネル1に対向配置された背面パネル7は、ガラス製の背面基板8上に、アドレス電極9を複数形成し、そのアドレス電極9を覆うように誘電体層10を形成し、その誘電体層10上にアドレス電極9と平行な複数の隔壁11を形成し、さらに隣接する隔壁11の間にそれぞれ赤(R)、緑(G)、青(B)の各色に発光する蛍光体層12を形成して構成されている。アドレス電極9は隣接する隔壁11の間に位置している。
On the other hand, the
走査電極3および維持電極4とアドレス電極9とが直交するように、一対の基板である前面基板2と背面基板8とが対向配置され、これら基板の周辺部を封着部材(図示せず)を用いて封着している。前面基板2と背面基板8との間に形成された放電空間にネオンおよびキセノンからなる放電ガスを封入しており、走査電極3および維持電極4とアドレス電極9との立体交差部に放電セルが形成される。すなわち、一対の基板間に複数の放電セルを有している。この放電セルは画像を表示するときの単位発光領域であり、R、G、Bの各色に発光する蛍光体層12が形成された隣接する3つの放電セルによって1つの画素を形成する。
The
このプラズマディスプレイパネルでは、各放電セルにおいて放電を発生させることにより画像表示を行う。すなわち、走査電極3に順次走査パルスを印加するとともに画像データに基づいてアドレス電極9にアドレスパルスを印加することで表示する放電セルを選択した後、走査電極3と維持電極4とに交互に維持パルスを印加することによって、選択した放電セルにおいて維持放電を起こす。これにより、維持放電が起こった放電セルでは、紫外線が発生し、その紫外線で励起された蛍光体層12から各色の可視光が放出されて、画像表示が行われる。
In this plasma display panel, an image is displayed by generating a discharge in each discharge cell. That is, a discharge cell to be displayed is selected by sequentially applying a scan pulse to the
次に、このようなプラズマディスプレイパネルについてパネル検査を行うときの、放電セル単位の輝度むらを評価する方法について説明する。図2は、本発明の一実施の形態における、放電セル単位の輝度むらを定量的に評価するシステムの全体構成図である。 Next, a method for evaluating luminance unevenness in units of discharge cells when performing panel inspection on such a plasma display panel will be described. FIG. 2 is an overall configuration diagram of a system that quantitatively evaluates luminance unevenness in units of discharge cells in an embodiment of the present invention.
図2に示すように、検査対象のプラズマディスプレイパネル13はパネル保持部14に装着され、駆動回路15によって駆動される。電源16は駆動回路15に電力を供給し、信号発生装置17は駆動回路15に信号を供給するものであり、電源16および信号発生装置17は制御装置18によって制御される。また、撮像手段であるCCDカメラなどのカメラ19はプラズマディスプレイパネル13に表示された画像を撮像して、カメラ19の画素ごとにR、G、Bそれぞれの強度データを有するデジタルの画像データとして出力する。ここで、カメラ19は、プラズマディスプレイパネル13の1つの画素に対して、カメラ19の画素が少なくとも1つ以上の画素で測定できる解像度を有するものが望ましい。また、画像記憶手段としての画像メモリ20は、カメラ19で撮像されたプラズマディスプレイパネル13の画像を画像データとして一時記憶する。そして、画像処理部21は例えばCPUを主体にして構成されており、画像メモリ20に記憶された画像データを用いて各種の処理を行って評価結果を出力する。
As shown in FIG. 2, the
図3は本実施の形態における画像評価のフローチャートであり、ステップ1からステップ8までの各ステップを順次行い、評価結果が出力される。この評価方法を用いて、プラズマディスプレイパネル13を製造する際のパネル検査工程においてパネルの良否を判定することができる。以下、各ステップについて説明する。
FIG. 3 is a flowchart of image evaluation in this embodiment.
まずステップ1では、パネル保持部14に設置されたプラズマディスプレイパネル13に、信号発生装置17からの信号に対応する画像を表示させる。そして、カメラ19を用いてプラズマディスプレイパネル13に表示された画像を撮像し、カメラ19の各画素における赤色、緑色、青色それぞれの強度データであるデジタルの画像データR(赤色のデータ)、G(緑色のデータ)、B(青色のデータ)を画像メモリ20に格納する。ここで、プラズマディスプレイパネル13に表示する画像は、例えば、すべての放電セルを点灯させて白色表示にする。
First, in
次に、ステップ2において、画像メモリ20に記憶されている画像データに対して、輝度変換処理を施す。輝度変換処理は、撮像画像における各画素の画像データR、G、Bを用いて、例えば以下のような数式1を用いて変換することにより、各画素の輝度を表す画像データYを求める。もしも、画像メモリ20に格納された画像データが各画素の輝度を表すデータの場合にはステップ2を省略すればよい。
Next, in
次のステップ3において、ステップ2で求めた画像データYを有する画像に対し、孤立点除去処理を行う。孤立点除去処理は図4または図5に示す2通りの方法のうち、いずれかを用いることが望ましい。図4、図5において、入力画像は孤立点除去処理を行う前の画像であり、図中の数値は一部分の画素についての画像データYの値、すなわち入力画像の画像データf(x、y)の値を表している。ここで、x、yは画素の位置を特定するもので、横方向をx、縦方向をyとしている。また出力画像は、入力画像に対して孤立点除去処理を行った後の画像であり、図中の数値は対象画素についての画像データの値、すなわち出力画像の画像データF(x、y)の値を表している。ここで対象画素とは、孤立点除去処理を行う対象となる画素であり、ステップ4以降においても各処理を行う対象となる画素を対象画素という。
In the
孤立点除去処理の1つ目の方法は、図4に示すように、入力画像の対象画素における画像データを、近傍領域内の画素における画像データの中間値で置き換える中間値フィルタ処理である。図4の例では、近傍領域内の画素として、対象画素および対象画素を囲む8つの画素を採用している。すなわち、x方向フィルタサイズおよびy方向フィルタサイズをいずれも3としているが、この値は適宜変更することができる。そして、対象画素における中間値フィルタ処理後の画像データF(x、y)の値は、入力画像での対象画素およびその周囲8つの画素における画像データf(x、y)を大きさの順に並べたとき中央にくる値(19)となっている。 As shown in FIG. 4, the first method of the isolated point removal process is an intermediate value filter process in which the image data in the target pixel of the input image is replaced with the intermediate value of the image data in the pixels in the vicinity region. In the example of FIG. 4, the target pixel and eight pixels surrounding the target pixel are employed as the pixels in the vicinity region. That is, although the x-direction filter size and the y-direction filter size are both 3, this value can be changed as appropriate. Then, the value of the image data F (x, y) after the intermediate value filter processing in the target pixel is arranged in the order of the size of the image data f (x, y) in the target pixel and the surrounding eight pixels in the input image. It is the value (19) that comes to the center.
孤立点除去処理の2つ目の方法は、図5に示すように、入力画像の対象画素における画像データを、近傍領域内の画素における画像データの平均値で置き換える平滑化フィルタ処理である。図5においても図4の場合と同様に、近傍領域内の画素として、対象画素および対象画素を囲む8つの画素を採用しているが、適宜変更することができる。そして、対象画素における平滑化フィルタ処理後の画像データF(x、y)の値は、入力画像での対象画素およびその周囲8つの画素における画像データf(x、y)の平均値(24)となっている。 As shown in FIG. 5, the second method of the isolated point removal process is a smoothing filter process that replaces the image data in the target pixel of the input image with the average value of the image data in the pixels in the vicinity region. In FIG. 5, as in the case of FIG. 4, the target pixel and eight pixels surrounding the target pixel are adopted as the pixels in the vicinity region, but can be changed as appropriate. Then, the value of the image data F (x, y) after the smoothing filter processing in the target pixel is the average value (24) of the image data f (x, y) in the target pixel and the surrounding eight pixels in the input image. It has become.
これらの中間値フィルタ処理、平滑化フィルタ処理はいずれも孤立点を除去し、画像に入ったノイズを除去、抑制することを目的とした孤立点除去処理である。 These intermediate value filter processing and smoothing filter processing are both isolated point removal processing for the purpose of removing isolated points and removing and suppressing noise in the image.
次のステップ4では、ステップ3において孤立点除去処理を行った画像に対して周辺比較処理を行う。周辺比較処理としては、入力画像の対象画素の画像データを2方向に存在する画素の画像データと比較する1次微分処理、または4方向に存在する画素の画像データと比較する2次微分処理を用いることができる。以下、周辺比較処理について図6、図7を用いて説明するが、各図においてx、yで特定される画素での入力画像の画像データをf(x、y)とし、出力画像の画像データをF(x、y)とする。
In the next step 4, peripheral comparison processing is performed on the image that has undergone isolated point removal processing in
1次微分処理は、図6に示すように、或る対象画素の画像データをf(x、y)、対象画素の右隣に位置する画素の画像データをf(x+1、y)、対象画素の下隣に位置する画素の画像データをf(x、y+1)とすると、例えば以下に示す数式2により求められるG(x、y)の絶対値を画像データF(x、y)とするものである。すなわち、周辺画素として、対象画素の右隣および下隣に位置する2つの画素を選択しており、対象画素の画像データと周辺画素の画像データとの差分の和の大きさを、対象画素における出力画像の画像データとしている。
As shown in FIG. 6, the first-order differentiation process is f (x, y) for image data of a certain target pixel, f (x + 1, y) for image data of a pixel located to the right of the target pixel, Assuming that the image data of the pixel located immediately below is f (x, y + 1), for example, the absolute value of G (x, y) obtained by the
そして、図6に示した入力画像のデータ例について数式2を用いて計算すると、
G(x、y)=2×11−30−5=−13
となるので、対象画素における出力画像の画像データF(x、y)は13となる。
And when calculating the data example of the input image shown in FIG.
G (x, y) = 2 × 11−30−5 = −13
Thus, the image data F (x, y) of the output image at the target pixel is 13.
また、2次微分処理は、図7に示すように、或る対象画素の画像データをf(x、y)、対象画素の左隣に位置する画素の画像データをf(x−1、y)、対象画素の右隣に位置する画素の画像データをf(x+1、y)、対象画素の上隣に位置する画素の画像データをf(x、y−1)、対象画素の下隣に位置する画素の画像データをf(x、y+1)とすると、例えば以下に示す数式3により求められるG(x、y)の絶対値を画像データF(x、y)とするものである。すなわち、周辺画素として、対象画素の左隣、右隣、上隣および下隣に位置する4つの画素を選択しており、対象画素の画像データと周辺画素の画像データとの差分の和の大きさを、対象画素における出力画像の画像データとしている。
In addition, as shown in FIG. 7, the second-order differentiation process is performed by using f (x, y) for image data of a certain target pixel, and f (x−1, y) for image data of a pixel located to the left of the target pixel. ), The image data of the pixel located right next to the target pixel is f (x + 1, y), the image data of the pixel located next to the target pixel is f (x, y−1), and next to the lower side of the target pixel. Assuming that the image data of the pixel located is f (x, y + 1), for example, the absolute value of G (x, y) obtained by
そして、図7に示した入力画像のデータ例について数式3を用いて計算すると、
G(x、y)=4×11−51−30−55−5=−97
となるので、対象画素における出力画像の画像データF(x、y)は97となる。
And when calculating the data example of the input image shown in FIG.
G (x, y) = 4 × 11−51−30−55−5 = −97
Therefore, the image data F (x, y) of the output image at the target pixel is 97.
以上のように周辺比較処理では、対象画素の画像データと周辺画素の画像データとの差分に基づく量を対象画素の画像データとしている。このような周辺比較処理を行うと、対象画素の輝度がその周辺の画素の輝度に比べて大きく異なる場合には、その対象画素における出力画像の画像データが大きな値となる。すなわち、周辺比較処理を行ったときの出力画像においては、周辺の画素との輝度差が大きい画素では大きな画像データを有しており、周辺画素との輝度差が小さな画素では小さな画像データを有している。このため、大きな画像データを有している画素とその周辺近傍では放電セル単位の輝度むらが発生していると判断できる。 As described above, in the peripheral comparison process, the amount based on the difference between the image data of the target pixel and the image data of the peripheral pixel is used as the image data of the target pixel. When such peripheral comparison processing is performed, if the luminance of the target pixel is significantly different from the luminance of the peripheral pixels, the image data of the output image at the target pixel becomes a large value. In other words, in the output image when the peripheral comparison process is performed, pixels having a large luminance difference with the surrounding pixels have large image data, and pixels having a small luminance difference with the peripheral pixels have small image data. is doing. For this reason, it can be determined that luminance unevenness occurs in units of discharge cells in the pixel having large image data and in the vicinity thereof.
なお、前述の説明では、周辺比較処理を行うときの一例として、対象画素と周辺画素とは隣接するものとしたが、例えば、対象画素の3画素右に位置する画素や、5画素上に位置する画素を周辺画素として、対象画素の画像データと周辺画素の画像データを用いて周辺比較処理を行うようにしてもよい。ただし、検出対象が放電セル単位の輝度むらであるので、対象画素と周辺画素との間に存在する画素は10画素以下であることが望ましい。 In the above description, as an example when the peripheral comparison process is performed, the target pixel and the peripheral pixel are adjacent to each other. However, for example, a pixel located three pixels to the right of the target pixel or a pixel located five pixels above. The peripheral comparison processing may be performed using the image data of the target pixel and the image data of the peripheral pixel, with the pixel to be processed as the peripheral pixel. However, since the detection target is uneven luminance in units of discharge cells, it is desirable that the number of pixels existing between the target pixel and the peripheral pixels is 10 pixels or less.
ここで、ステップ4の周辺比較処理を施されて得られた画像に対して、或る閾値を設定し、画像データがその閾値以上となっている画素を抽出するという2値化処理を行い、その結果を画像に表したときの一例を図10に示す。図10において黒い点で表された領域は、画像データが閾値以上となっている画素が存在する領域、すなわち周辺画素との輝度差が大きい画素が存在する領域である。この段階では図10からわかるように、抽出した領域が点在しており、このため放電セル単位の輝度むらを精度よく評価することが困難である。そこで、本実施の形態では、抽出した領域が群化されるようにステップ5の最大値フィルタ処理およびステップ6の最小値フィルタ処理を行い、放電セル単位の輝度むらを精度よく評価できるようにする。
Here, with respect to the image obtained by performing the peripheral comparison process in step 4, a certain threshold value is set, and a binarization process of extracting pixels whose image data is equal to or higher than the threshold value is performed. An example when the result is represented in an image is shown in FIG. In FIG. 10, a region represented by a black dot is a region where pixels whose image data is equal to or greater than a threshold value exist, that is, a region where a pixel having a large luminance difference from surrounding pixels exists. At this stage, as can be seen from FIG. 10, the extracted regions are scattered, and therefore it is difficult to accurately evaluate the luminance unevenness in units of discharge cells. Therefore, in the present embodiment, the maximum value filtering process in
ステップ4の次のステップ5において、ステップ4で周辺比較処理を行った画像に対して、最大値フィルタ処理を1回または複数回行う。最大値フィルタ処理は、入力画像の対象画素における画像データを、近傍領域内の画素における画像データの最大値で置き換える処理である。図8に示す最大値フィルタ処理では、近傍領域内の画素として、対象画素および対象画素を囲む8つの画素を採用している。すなわち、x方向フィルタサイズおよびy方向フィルタサイズをいずれも3としている。対象画素での出力画像の画像データF(x、y)は、入力画像における近傍領域内の画素での画像データf(x、y)の最大値(55)となっている。
In
この最大値フィルタ処理によれば、近傍領域内に大きな画像データを有する画素が存在すれば、対象画素の画像データが小さい場合でも近傍領域内の最大の画像データに変換されるので、入力画像において大きな画像データを有する画素の周辺領域でも出力画像では大きな画像データを有するようになる。このため、入力画像において大きな画像データを有する点在していた画素が群化されてきて、出力画像ではある程度まとまった所定の領域を形成するようになる。 According to this maximum value filter processing, if there is a pixel having large image data in the vicinity area, even if the image data of the target pixel is small, it is converted to the maximum image data in the vicinity area. Even in a peripheral region of a pixel having large image data, the output image has large image data. For this reason, scattered pixels having large image data in the input image are grouped, and a predetermined region is gathered to some extent in the output image.
次のステップ6において、ステップ5で最大値フィルタ処理を行った画像に対して、最小値フィルタ処理を1回または複数回行う。最小値フィルタ処理は、入力画像の対象画素における画像データを、近傍領域内の画素における画像データの最小値で置き換える処理である。図9に示す最小値フィルタ処理では、近傍領域内の画素として、対象画素および対象画素を囲む8つの画素を採用している。すなわち、x方向フィルタサイズおよびy方向フィルタサイズをいずれも3としている。対象画素での出力画像の画像データF(x、y)は、入力画像における近傍領域内の画素での画像データf(x、y)の最小値(3)となっている。
In the
ステップ5の最大値フィルタ処理によって、大きな画像データを有する画素が点在していたものが群化されてきて所定の領域を形成するようになるが、その所定の領域の外周部分は、前記点在していた画素群を包囲する線よりも広がっている。そこで、最小値フィルタ処理を行うことにより前記所定の領域を狭めて適正な領域になるようにする。
By the maximum value filtering process in
最大値フィルタ処理および最小値フィルタ処理を行う回数が多くなりすぎると適正な画像評価ができなくなるので、それらの処理を行う回数は、適正な画像評価が行えるように適宜設定することになる。例えば最大値フィルタ処理および最小値フィルタ処理をそれぞれ2〜3回程度行うことにより、放電セル単位の輝度むらの評価を行うことができた。 If the maximum value filtering process and the minimum value filtering process are performed too many times, proper image evaluation cannot be performed. Therefore, the number of performing these processes is appropriately set so that proper image evaluation can be performed. For example, by performing the maximum value filtering process and the minimum value filtering process about 2 to 3 times, it was possible to evaluate the luminance unevenness in units of discharge cells.
なお、上記の最大値フィルタ処理および最小値フィルタ処理では、x方向フィルタサイズおよびy方向フィルタサイズをいずれも3としているが、この値は適宜変更することができる。 In the above-described maximum value filter processing and minimum value filter processing, the x-direction filter size and the y-direction filter size are both 3, but these values can be changed as appropriate.
次のステップ7において、ステップ6で最小値フィルタ処理を行った画像に対して、或る閾値を設定し、画像データがその閾値以上となっている画素を抽出するという2値化処理を行う。ステップ1〜ステップ7の一連の処理を施された後の出力画像の一例を図11に示す。図11において、検出部Aおよび検出部Bは、前記閾値以上の画像データを有する画素が存在する領域である。
In the
次に、ステップ8において、ステップ7によって抽出された検出部A、Bを用いて、プラズマディスプレイパネル13の放電セル単位の輝度むらについて判定する判定処理を行う。この判定処理において使用する判定指標に関しては、検出部面積、検出部総差分和、検出部平均差分和などを用いる。ここで、検出部が複数個(図11の場合は2個)検出された場合には、検出部面積、検出部総差分和、検出部平均差分和はそれぞれの検出部について定義される。以下では検出部Aについて説明するが、検出部Bについても同様に定義される。
Next, in step 8, determination processing is performed to determine the luminance unevenness in units of discharge cells of the
検出部面積は検出部Aに含まれる総画素数である。また検出部総差分和は、ステップ6終了時の出力画像において、検出部Aの全画素について画像データの総和をとったものである。検出部平均差分和は、ステップ6終了時の出力画像において、検出部Aの全画素の画像データについての平均値であり、
検出部平均差分和=検出部総差分和/検出部面積
で計算されるものである。これらの判定指標のいずれか、あるいは複数の判定指標を組み合わせて用いることで、プラズマディスプレイパネルの放電セル単位の輝度むらを定量的に精度よく検査することが可能となる。例えば、判定指標である検出部面積、検出部総差分和および検出部平均差分和のそれぞれについて所定の判定基準値を決めておき、検出部面積、検出部総差分和および検出部平均差分和のいずれか1つでも判定基準値より大きくなる場合には、放電セル単位の輝度むらが大きく、パネルとしては不良であると判定するなど、上記判定指標を用いることで放電セル単位の輝度むらに関してパネルの良否を判定することができる。
The detection unit area is the total number of pixels included in the detection unit A. The total detection unit difference is the sum of image data for all pixels of the detection unit A in the output image at the end of
The sum of the detection part average difference = the total difference of the detection part / the area of the detection part. By using any one of these determination indexes or a combination of a plurality of determination indexes, it is possible to inspect the luminance unevenness of the discharge cell unit of the plasma display panel quantitatively and accurately. For example, a predetermined determination reference value is determined for each of the detection unit area, the detection unit total difference sum, and the detection unit average difference sum that are determination indexes, and the detection unit area, the detection unit total difference sum, and the detection unit average difference sum If any one of them is larger than the determination reference value, the luminance unevenness in discharge cell units is large, and it is determined that the panel is defective. Can be judged.
以上のように本発明によれば、プラズマディスプレイパネルに発生し得る、放電セル単位の輝度むらについての評価を定量的に行うことができ、プラズマディスプレイパネルの検査に有用である。 As described above, according to the present invention, it is possible to quantitatively evaluate luminance unevenness in discharge cell units that can occur in a plasma display panel, which is useful for inspection of plasma display panels.
2 前面基板
8 背面基板
13 プラズマディスプレイパネル
19 カメラ
20 画像メモリ
21 画像処理部
2 Front substrate 8
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