JP2006039007A - Antireflection member - Google Patents

Antireflection member Download PDF

Info

Publication number
JP2006039007A
JP2006039007A JP2004215522A JP2004215522A JP2006039007A JP 2006039007 A JP2006039007 A JP 2006039007A JP 2004215522 A JP2004215522 A JP 2004215522A JP 2004215522 A JP2004215522 A JP 2004215522A JP 2006039007 A JP2006039007 A JP 2006039007A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
refractive index
low refractive
antifouling
antireflection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2004215522A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takayuki Tani
卓行 谷
Masahiko Ito
晶彦 伊藤
Takahiro Harada
隆宏 原田
Soichi Hata
聡一 秦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toppan Inc
Original Assignee
Toppan Printing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toppan Printing Co Ltd filed Critical Toppan Printing Co Ltd
Priority to JP2004215522A priority Critical patent/JP2006039007A/en
Publication of JP2006039007A publication Critical patent/JP2006039007A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Surface Treatment Of Optical Elements (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Polarising Elements (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an antireflection member having satisfactory stainproofing performance and alkali resistance. <P>SOLUTION: In the antireflection member made by forming an antireflection layer comprising a low refractive index layer and an stainproofing layer on a base material, contact angle of a stainproofing layer with respect to water is 100° or more and the contact angle with respect to oleic acid is 70° or more. In such a manner, when 1% NaOH aqueous solution is dropped on the stainproofing layer and is left standing for 1 hr and then the dropped part of the stainproofing layer is cleaned and dried, the constant angle of the stainproofing layer with respect to water is 100° or more. As a result, the antireflection member which has excellent alkali resistance and hardly causes a change in the lapse of time can be obtained. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、表示装置等に用いる反射防止部材に関するものである。   The present invention relates to an antireflection member used for a display device or the like.

反射防止膜は、液晶ディスプレイ、ブラウン管表示装置やプラズマディスプレイパネルなどの表示装置に応用されている。反射防止膜は表示装置に用いた時に一番前面に位置するため、大気中に浮遊するゴミや油分、人の手による指紋、油などにより、汚染されることがある。   Antireflection films are applied to display devices such as liquid crystal displays, cathode ray tube display devices, and plasma display panels. Since the antireflection film is located at the forefront when used in a display device, it may be contaminated by dust or oil floating in the atmosphere, fingerprints by human hands, oil, and the like.

そのため、反射防止膜の最表面にはフッ素化合物や、アルキルシラン化合物などの防汚層を設けることが知られている(特許文献1、2参照)。   Therefore, it is known to provide an antifouling layer such as a fluorine compound or an alkylsilane compound on the outermost surface of the antireflection film (see Patent Documents 1 and 2).

しかし、これら防汚層は耐汚染性は十分に満足していても、アルカリ耐性に乏しい。具体的には反射防止膜が金属酸化物からなる場合、ここれがアルカリにより劣化する、金属酸化物層と防汚層の界面が破壊されるなどの問題がある。
特開平10−195417号公報 特開2001−048590号公報
However, these antifouling layers are poor in alkali resistance even though they are sufficiently satisfied with antifouling properties. Specifically, when the antireflection film is made of a metal oxide, there are problems such as deterioration due to alkali and destruction of the interface between the metal oxide layer and the antifouling layer.
Japanese Patent Laid-Open No. 10-195417 JP 2001-048590 A

本発明は、十分な防汚性能と耐アルカリ性を有する反射防止部材の提供を目的とするものである。   An object of the present invention is to provide an antireflection member having sufficient antifouling performance and alkali resistance.

請求項1記載の発明は、基材上に低屈折率層を含む反射防止層、防汚層を形成してなる反射防止部材であって、該防汚層の水に対する接触角が100°以上であり、かつオレイン酸に対する接触角が70°以上であることを特徴とする反射防止部材である。   The invention according to claim 1 is an antireflection member formed by forming an antireflection layer including a low refractive index layer and an antifouling layer on a substrate, and the contact angle of the antifouling layer to water is 100 ° or more. And a contact angle with respect to oleic acid is 70 ° or more.

請求項2記載の発明は、前記防汚層の、1%のNaOH水溶液を滴下し1時間放置した後、滴下部を洗浄、乾燥した後の水に対する接触角が100°以上であることを特徴とする請求項1に記載の反射防止部材である。   The invention according to claim 2 is characterized in that after the 1% NaOH aqueous solution of the antifouling layer is dropped and allowed to stand for 1 hour, the contact angle with respect to water after washing and drying the dripping part is 100 ° or more. The antireflection member according to claim 1.

請求項3記載の発明は、前記低屈折率層が2層からなることを特徴とする請求項1または2記載の反射防止部材である。   A third aspect of the present invention is the antireflection member according to the first or second aspect, wherein the low refractive index layer comprises two layers.

請求項4記載の発明は、前記2層の低屈折率層のうち、防汚層側の低屈折率層が基材側の低屈折率より緻密であることを特徴とする請求項3記載の反射防止部材である。   The invention according to claim 4 is characterized in that, among the two low refractive index layers, the low refractive index layer on the antifouling layer side is denser than the low refractive index on the substrate side. It is an antireflection member.

請求項5記載の発明は、前記反射防止層が、高屈折率層及び/又は中屈折率層を含むことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の反射防止部材である。   The invention according to claim 5 is the antireflection member according to any one of claims 1 to 4, wherein the antireflection layer includes a high refractive index layer and / or a medium refractive index layer.

請求項6記載の発明は、基材と反射防止層の間に、ハードコート層、帯電防止層、防眩層から選ばれる1種以上の層を有することを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の反射防止部材である。   Invention of Claim 6 has 1 or more types of layers chosen from a hard-coat layer, an antistatic layer, and a glare-proof layer between a base material and an anti-reflective layer of Claims 1-5 characterized by the above-mentioned. The antireflection member according to any one of the above.

請求項7記載の発明は、請求項1〜6のいずれかに記載の反射防止部材を含む偏光板である。   The invention according to claim 7 is a polarizing plate including the antireflection member according to any one of claims 1 to 6.

請求項8記載の発明は、請求項1〜6のいずれかに記載の反射防止部材又は請求項7に記載の偏光板を有する表示装置である。   The invention according to claim 8 is a display device comprising the antireflection member according to any one of claims 1 to 6 or the polarizing plate according to claim 7.

本発明では、光学膜などの金属層及び/又は金属酸化物層を含む機能膜上に防汚下地層を介して防汚層を設けることにより、耐アルカリ性に優れ、かつ撥水性、撥油性、指紋、油性インキ拭き取り性に優れ、良好な防汚性能を示す積層体とすることができるものである。   In the present invention, an antifouling layer is provided on a functional film including a metal layer and / or a metal oxide layer such as an optical film via an antifouling base layer, thereby providing excellent alkali resistance and water repellency, oil repellency, It is excellent in fingerprint and oil-based ink wiping properties and can be made into a laminate showing good antifouling performance.

また、耐アルカリ性において、経時的な変化に強く、耐湿熱性にも優れるものである。   In addition, the alkali resistance is resistant to changes over time and is excellent in heat and moisture resistance.

本発明に用いる基材としては、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリエーテルサルフォン(PES)、トリアセチルセルロース(TAC)などのプラスチック基材やガラス基材、或いは偏光板を基材として用いることができる。   As a base material used in the present invention, a plastic base material such as polyethylene terephthalate (PET), polyethylene naphthalate (PEN), polyethersulfone (PES), triacetyl cellulose (TAC), a glass base material, or a polarizing plate is used. It can be used as a substrate.

また、さらに、公知の添加剤、例えば、紫外線吸収剤、可塑剤、滑剤、着色剤、酸化防止剤、難燃剤等が含まれていてもよい。   Furthermore, a known additive, for example, an ultraviolet absorber, a plasticizer, a lubricant, a colorant, an antioxidant, a flame retardant and the like may be contained.

また、基材表面に予めスパッタリング処理、コロナ処理、火炎処理、紫外線照射、電子線照射などのエッチング処理や、下塗り処理が施されていることが好ましい。基材の表面に前記処理が施されていれば、隣接する他の層に対する密着性を向上させることができる。   Moreover, it is preferable that the base material surface is previously subjected to etching treatment such as sputtering treatment, corona treatment, flame treatment, ultraviolet ray irradiation and electron beam irradiation, and undercoating treatment. If the said process is given to the surface of a base material, the adhesiveness with respect to another adjacent layer can be improved.

また、必要に応じて、基材は、表面に溶剤洗浄や超音波洗浄などの防塵処理が施されていてもよい。   In addition, if necessary, the surface of the base material may be subjected to a dustproof treatment such as solvent cleaning or ultrasonic cleaning.

本発明では、防汚層に接する表面側の低屈折率層を緻密にすることで、耐アルカリ性を有すると共に、防汚性能にも優れた反射防止材とすることができるものである。   In the present invention, an antireflection material having alkali resistance and excellent antifouling performance can be obtained by densifying the low refractive index layer on the surface side in contact with the antifouling layer.

本発明の反射防止層は、少なくとも低屈折率層を含むものであり、緻密な低屈折率層単層でも構わないし、低屈折率層と高屈折率層や中屈折率層を複数組み合わせ、表面側の低屈折率層を緻密にしたものでも構わない。   The antireflection layer of the present invention includes at least a low refractive index layer, and may be a dense single layer of a low refractive index layer, or a combination of a plurality of low refractive index layers and high refractive index layers or medium refractive index layers. The side low refractive index layer may be dense.

また、防汚層側の低屈折率層が2層からなり、防汚層と接する表面側の低屈折率層を緻密にしてもよい。   Further, the low refractive index layer on the antifouling layer side may be composed of two layers, and the low refractive index layer on the surface side in contact with the antifouling layer may be made dense.

ここで、反射防止層の構成としては、例えば、低屈折率層単層又は、低屈折率層と高屈折率層、中屈折率層など複数の異なった屈折率を持つ層を組み合わせる構成が挙げられる。   Here, as the configuration of the antireflection layer, for example, a low refractive index layer single layer or a combination of a layer having a plurality of different refractive indexes, such as a low refractive index layer, a high refractive index layer, a middle refractive index layer, and the like. It is done.

ここで、図1〜3に層構成の一例を示す。   Here, an example of a layer structure is shown in FIGS.

複数の異なった屈折率を持つ層を積層する反射防止層の構成は、基材側の前層に対し、相対的に高屈折率である層、もしくは低屈折率である層を交互に組み合わせ、基材/高屈折率層/低屈折率/高屈折率層/低屈折率といった構成で、光学膜厚が、基材側から(基材)/(約λ/8)/(約λ/8)/(約λ/4)/(約λ/4)となるような場合を挙げられる。ただしこの際、λ(nm)は反射防止効果を所望する波長とする。   The structure of the antireflection layer in which a plurality of layers having different refractive indexes is laminated is a combination of a layer having a relatively high refractive index or a layer having a low refractive index alternately with respect to the front layer on the substrate side, In the structure of base material / high refractive index layer / low refractive index / high refractive index layer / low refractive index, the optical film thickness is (base material) / (about λ / 8) / (about λ / 8 from the base material side. ) / (About λ / 4) / (about λ / 4). However, in this case, λ (nm) is a wavelength for which an antireflection effect is desired.

また上記中屈折率層を用いる構成としては、基材/中屈折率層/高屈折率層/低屈折率層の構成で、光学膜厚が、基材側から(基材)/(約λ/4)/(約λ/8)/(約λ/4)となるような場合を挙げられる。ただしこの際、λ(nm)は反射防止効果を所望する波長とする。   The medium refractive index layer is composed of a base material / medium refractive index layer / high refractive index layer / low refractive index layer, and the optical film thickness is (base material) / (about λ from the base material side. / 4) / (about λ / 8) / (about λ / 4). However, in this case, λ (nm) is a wavelength for which an antireflection effect is desired.

この低屈折率層のうち防汚層側(表面側)の低屈折率層が緻密な単層または2層からなり、表面側を緻密にするものである。   Of these low refractive index layers, the low refractive index layer on the antifouling layer side (surface side) consists of a dense single layer or two layers, and the surface side is made dense.

前記緻密な低屈折率層又は防汚層側に設ける低屈折率層としては、緻密であり屈折率1.2〜1.6のものであれば、特に限定するものではなく、金属酸化物材料を好適に用いることができる。   The low refractive index layer provided on the dense low refractive index layer or antifouling layer side is not particularly limited as long as it is dense and has a refractive index of 1.2 to 1.6. Can be suitably used.

このようなものとしては、酸化珪素が挙げられる。   As such a thing, silicon oxide is mentioned.

緻密な低屈折率層又は防汚層側に設ける低屈折率層の形成方法は、特に限定するものではないが、前述のような緻密な膜とするためには、以下の塗工法または気相法を用いることが好ましい。   The method of forming the low refractive index layer provided on the dense low refractive index layer or antifouling layer side is not particularly limited, but in order to obtain a dense film as described above, the following coating method or vapor phase is used. The method is preferably used.

塗工法としては、以下の原料を含む塗液を塗布、硬化する方法である。   As a coating method, a coating solution containing the following raw materials is applied and cured.

原料としては、Si(OR)(R:有機官能基)で表される珪素アルコキシド化合物からなる原料や、R’Si(OR)(R、R’:有機官能基)からなるオルガノシラン化合物を用いることができる。 As a raw material, a raw material made of a silicon alkoxide compound represented by Si (OR) 4 (R: organic functional group) or an organosilane compound made of R′Si (OR) 3 (R, R ′: organic functional group) Can be used.

珪素アルコキシド化合物としては、Si(OC2n+1(n:1〜10の自然数)で表される化合物等が挙げられ、オルガノシラン化合物としては、(C2m+1)Si(OC2n+1(m、n:1〜10の自然数)で表される化合物などが挙げられる。 Examples of the silicon alkoxide compound include compounds represented by Si (OC n H 2n + 1 ) 4 (n: a natural number of 1 to 10), and examples of the organosilane compound include (C m H 2m + 1 ) Si (OC n H 2n + 1 ) 4 (m, n: a natural number of 1 to 10), and the like.

これらの原料と溶剤の混合液を用い、塗布、硬化させることにより形成することができる。溶剤としては、水、エタノール、プロパノール、ブタノール、イソブチルアルコールなどのアルコール類、メチルセロソルブなどから選ばれる1種またはそれらの組み合わせを用いることができる。また、加水分解開始剤として、リン酸等を加えることができる。   It can form by apply | coating and hardening using the liquid mixture of these raw materials and a solvent. As a solvent, 1 type chosen from water, ethanol, propanol, butanol, alcohols, such as isobutyl alcohol, methyl cellosolve, etc., or those combinations can be used. Moreover, phosphoric acid etc. can be added as a hydrolysis initiator.

またpH調整剤として、アンモニア又はリン酸などを添加しpHを調整しても良い。   Further, ammonia or phosphoric acid may be added as a pH adjusting agent to adjust the pH.

また、硬化方法としては乾燥や熱、電離放射線、プラズマなどのエネルギーを与えることにより硬化させることができる。   Moreover, as a curing method, it can be cured by applying energy such as drying, heat, ionizing radiation, or plasma.

ここで、緻密な低屈折率層又は防汚層側に設ける低屈折率層の材料としては、前記珪素アルコキシド化合物、オルガノシラン化合物をそれぞれ単独で用いても良いし、混合して用いることもできる。どちらの場合も緻密な低屈折率層又は防汚層側に設ける低屈折率層がSi−O−Si結合からなる緻密なマトリックスが形成され、その上に前述の防汚層が密に形成される。有機金属化合物を用いる場合、有機官能基R’が下地層に残り存在するため、ここには前記防汚層が結合しないが、この有機官能基R’は撥水性、撥油性を示し、有機官能基R’と近くに存在する防汚材料の防汚性の官能基がマトリックスの上に密に形成され防汚性、耐アルカリ性を発揮する。   Here, as a material of the low refractive index layer provided on the dense low refractive index layer or the antifouling layer side, the silicon alkoxide compound and the organosilane compound may be used alone or in combination. . In either case, the dense low refractive index layer or the low refractive index layer provided on the antifouling layer side is formed with a dense matrix composed of Si-O-Si bonds, and the antifouling layer is densely formed thereon. The In the case of using an organometallic compound, the organic functional group R ′ remains in the underlayer, so that the antifouling layer does not bind to the organic layer, but the organic functional group R ′ exhibits water repellency and oil repellency, The antifouling functional group of the antifouling material existing close to the group R ′ is formed densely on the matrix and exhibits antifouling properties and alkali resistance.

また、気相法を用いる場合、化学蒸着法(CVD法)を用いることが好ましく、原料ガス、酸素ガス、希釈ガスなどをプラズマにより分解反応させ成膜することにより得られる。   In the case of using a vapor phase method, it is preferable to use a chemical vapor deposition method (CVD method), which can be obtained by performing a decomposition reaction of a source gas, oxygen gas, dilution gas, or the like with plasma to form a film.

原料ガスとしては前述の材料を気化して用いることができる。   As the source gas, the aforementioned materials can be vaporized and used.

CVD法により成膜する際、電極間に投入する電力は電極面積に応じて変化するため電極面積に応じて任意に設定でき、圧力1〜100Paの間で放電をすることで成膜することができる。   When the film is formed by the CVD method, the electric power applied between the electrodes changes depending on the electrode area, so it can be arbitrarily set according to the electrode area, and the film can be formed by discharging at a pressure of 1 to 100 Pa. it can.

低屈折率層が2層からなる場合の基材側の低屈折率層または多層反射防止膜とする場合の基材側の低屈折率層としては、屈折率n=1.2〜1.6の材料が挙げられ、例えば酸化珪素やフッ化マグネシウムやフッ化カルシウムなどが挙げられる。   As the low refractive index layer on the base material side when the low refractive index layer is composed of two layers or the low refractive index layer on the base material side when the multilayer antireflection film is used, the refractive index n = 1.2 to 1.6. Examples thereof include silicon oxide, magnesium fluoride, and calcium fluoride.

高屈折率層としては、屈折率1.8〜2.6のものであれば、特に限定するものではなく、金属酸化物材料を好適に用いることができる。   The high refractive index layer is not particularly limited as long as it has a refractive index of 1.8 to 2.6, and a metal oxide material can be suitably used.

このようなものとしては、酸化チタン、酸化ジルコニウム、酸化亜鉛、インジウム酸化物、錫酸化物、インジウム酸化物と錫酸化物の複合酸化物などを挙げることができる。   Examples of such a material include titanium oxide, zirconium oxide, zinc oxide, indium oxide, tin oxide, and a composite oxide of indium oxide and tin oxide.

中屈折率層としては、屈折率n=1.6〜1.9の中屈折率層としては、酸化アルミニウム、フッ化セリウムや、無機系バインダーに該バインダーの屈折率より高い屈折率を有する無機系粒子を分散させる方法、具体的には、例えば酸化珪素をバインダーとし、酸化珪素より高屈折率である酸化チタンをバインダーの酸化珪素に対し分散させるなどである。   As the middle refractive index layer, the refractive index n = 1.6 to 1.9, the middle refractive index layer is aluminum oxide, cerium fluoride, or an inorganic binder having a higher refractive index than that of the binder. A method of dispersing the system particles, specifically, for example, using silicon oxide as a binder and dispersing titanium oxide having a higher refractive index than silicon oxide in the binder silicon oxide, and the like.

これらの材料の形成方法としては、特に限定するものではなく、気相法やコーティング法など公知の手法で設けることができる。   A method for forming these materials is not particularly limited, and can be provided by a known method such as a gas phase method or a coating method.

気相法としては、蒸着法、イオンプレーティング法、イオンビームアシスト法、スパッタリング法、CVD法に代表される各種成膜方法を用いることができる。   As the vapor phase method, various film formation methods represented by an evaporation method, an ion plating method, an ion beam assist method, a sputtering method, and a CVD method can be used.

成膜速度の点から蒸着法、イオンプレーティング法、イオンビームアシスト法、スパッタリング法を用いることが好ましい。   From the viewpoint of film formation speed, it is preferable to use a vapor deposition method, an ion plating method, an ion beam assist method, or a sputtering method.

コーティング法を用いる場合は、金属アルコキシドを含む溶液を塗布、硬化させることにより形成することができる。   When the coating method is used, it can be formed by applying and curing a solution containing a metal alkoxide.

本発明の防汚層としては、撥水性、撥油性、低摩擦性を有していれば特に限定はするものではないが、フッ素含有珪素化合物からなるものが挙げられる。   The antifouling layer of the present invention is not particularly limited as long as it has water repellency, oil repellency, and low friction properties, and examples thereof include those composed of a fluorine-containing silicon compound.

フッ素含有珪素化合物としては、例えば、
−(CH−Si−(OR)
(R:炭素数1〜16の直鎖状または分岐状パーフルオロアルキル基、R:有機官能基、n:自然数)
で表されるフルオロアルキルシラン等のシラン化合物等や、
−(CH−Si−(NH)1.5
(R:炭素数1〜16の直鎖状または分岐状パーフルオロアルキル基、n:自然数)
で表されるフルオロアルキルシラザンや、
−(OC−O−(CF−(CH−OOCNH−(CH−Si(OR)
(R:炭素数1〜16の直鎖状または分岐状パーフルオロアルキル基、n:自然数、m:0〜3の整数、L:0〜3の整数、s:1〜6の整数、Rはアルキル基)
等のオルガノポリシロキサン、
−(OC−O−(CF−(CH−O−(CH−Si(R)
(R:炭素数1〜16の直鎖状または分岐状パーフルオロアルキル基、n:自然数、m:0〜3の整数、L:0〜3の整数、s:0〜6の整数、Rは加水分解基)
等のパーフルオロポリエーテルシランなども挙げられる。
Examples of fluorine-containing silicon compounds include:
R f - (CH 2) n -Si- (OR) 3
(R f : linear or branched perfluoroalkyl group having 1 to 16 carbon atoms, R: organic functional group, n: natural number)
Silane compounds such as fluoroalkylsilane represented by
R f - (CH 2) n -Si- (NH) 1.5
(R f : linear or branched perfluoroalkyl group having 1 to 16 carbon atoms, n: natural number)
Fluoroalkylsilazane represented by
R f - (OC 3 F 6 ) n -O- (CF 2) m - (CH 2) L -OOCNH- (CH 2) s -Si (OR) 3
(R f : linear or branched perfluoroalkyl group having 1 to 16 carbon atoms, n: natural number, m: integer of 0 to 3, L: integer of 0 to 3, s: integer of 1 to 6, R Is an alkyl group)
Organopolysiloxanes, etc.
R f - (OC 3 F 6 ) n -O- (CF 2) m - (CH 2) L -O- (CH 2) s -Si (R) 3
(R f : linear or branched perfluoroalkyl group having 1 to 16 carbon atoms, n: natural number, m: integer of 0 to 3, L: integer of 0 to 3, s: integer of 0 to 6, R Is a hydrolyzable group)
And perfluoropolyether silane.

また、これらの組み合わせからなる混合物でも構わない。   Moreover, the mixture which consists of these combinations may be sufficient.

また、防汚層は水に対する接触角が100°以上、オレイン酸に対する接触角が70°以上であると良い。これ以下であると、撥水性、撥油性が不十分であり、防汚性能も不十分となる場合がある。   The antifouling layer preferably has a contact angle with water of 100 ° or more and a contact angle with oleic acid of 70 ° or more. If it is less than this, water repellency and oil repellency may be insufficient, and antifouling performance may be insufficient.

防汚層の形成方法は、特に限定するものではなく、気相法、塗工法のいずれを用いても構わない。   The method for forming the antifouling layer is not particularly limited, and either a gas phase method or a coating method may be used.

気相法としては、CVD法や、蒸着法を用いることができる。   As the vapor phase method, a CVD method or a vapor deposition method can be used.

塗工法としては、グラビアコーティング法、ダイコーティング法、ディップコーティング法、スピンコーティング法、フローコーティング法、スプレーコーティング法、ロールコーティング法などが挙げられる。   Examples of the coating method include a gravure coating method, a die coating method, a dip coating method, a spin coating method, a flow coating method, a spray coating method, and a roll coating method.

塗工に用いる溶剤としては、水、エタノール、プロパノール、ブタノール、イソブチルアルコールなどのアルコール類、メチルノナフルオロイソブチルエーテルやメチルノナフルオロブチルエーテルなどのフッ素系溶剤、メチルセロソルブなどから選ばれる1種またはそれらの組み合わせを用いることができる。また、加水分解開始剤として、リン酸等を加えることができる。   The solvent used for coating is one selected from alcohols such as water, ethanol, propanol, butanol and isobutyl alcohol, fluorine-based solvents such as methyl nonafluoroisobutyl ether and methyl nonafluorobutyl ether, and methyl cellosolve. Combinations can be used. Moreover, phosphoric acid etc. can be added as a hydrolysis initiator.

またpH調整剤として、アンモニア又はリン酸などを添加しpHを調整しても良い。   Further, ammonia or phosphoric acid may be added as a pH adjusting agent to adjust the pH.

また、必要に応じて塗布後に乾燥や熱、電離放射線、プラズマなどのエネルギーを与えてもよい。   Moreover, you may give energy, such as drying, a heat | fever, ionizing radiation, and plasma, after application | coating as needed.

また、防汚層の膜厚は3〜50nmの範囲内、さらに好ましくは5〜15nmの範囲内であることが好ましい。3nm以下であると防汚性能、耐アルカリ性が不十分であり、50nm以上であると機械強度に乏しいものとなる。   The film thickness of the antifouling layer is preferably in the range of 3 to 50 nm, more preferably in the range of 5 to 15 nm. When it is 3 nm or less, the antifouling performance and alkali resistance are insufficient, and when it is 50 nm or more, the mechanical strength is poor.

なお、防汚層の膜厚は、機能層を反射防止層などの光学膜とする場合、光学膜と防汚下地層の光学膜厚を考慮し、全体として光学性能を出せるように設定する必要がある。   In addition, when the functional layer is an optical film such as an antireflection layer, the film thickness of the antifouling layer must be set so that the optical performance can be obtained as a whole in consideration of the optical film thickness of the optical film and the antifouling underlayer. There is.

本発明は、防汚層の下層である低屈折率層が緻密であるために、この上に防汚層を設けることにより、アルカリなどに対する耐性が強くなるものである。また、防汚層をこのような低屈折率層の上に設けると防汚層自体も密に形成され、防汚性能も向上するものである。   In the present invention, since the low refractive index layer, which is the lower layer of the antifouling layer, is dense, by providing the antifouling layer thereon, the resistance to alkali or the like is enhanced. Further, when the antifouling layer is provided on such a low refractive index layer, the antifouling layer itself is densely formed and the antifouling performance is improved.

低屈折率層と防汚層間のアルカリ耐性の弱さは、例えば低屈折率層が酸化珪素で防汚層がフルオロカーボンシランである場合、フルオロカーボンシランと酸化珪素の間などのSi−O−Si結合がアルカリに弱いことが原因であり、防汚層内にNaOH水溶液等のアルカリ水溶液が浸透する場合、簡単にSi−O−Si結合が加水分解し、防汚層が酸化珪素から脱離してしまうことにある。   The weak alkali resistance between the low refractive index layer and the antifouling layer is, for example, when the low refractive index layer is silicon oxide and the antifouling layer is fluorocarbon silane, such as Si-O-Si bond between fluorocarbon silane and silicon oxide. When alkaline aqueous solution such as NaOH aqueous solution penetrates into the antifouling layer, Si—O—Si bonds are easily hydrolyzed and the antifouling layer is detached from silicon oxide. There is.

このため、従来の例えば酸化珪素からなる低屈折率層を設け、その上に単純にフッ素を導入する方法などでは、ディスプレイ表面や眼鏡レンズ表面等の反射防止膜において十分な撥水性、防汚性、耐アルカリ性を付与することは出来ない。すなわち、防汚層内へのアルカリ水溶液や鼻脂成分の浸透を十分防ぐことは出来ず、特に時間が経過すると顕著になる。   For this reason, the conventional method of providing a low refractive index layer made of, for example, silicon oxide and simply introducing fluorine on the layer has sufficient water repellency and antifouling properties in an antireflection film such as a display surface or a spectacle lens surface. The alkali resistance cannot be imparted. That is, the penetration of the alkaline aqueous solution and the nasal oil component into the antifouling layer cannot be sufficiently prevented, and becomes prominent particularly when time passes.

このように、緻密な低屈折率層を設けることにより、防汚層が密に形成され、アルカリ成分、塩素成分が入り込むことができなくなり、防汚層の破壊、下層の劣化を防ぐことができるため、長時間防汚性能を保つことができる。   Thus, by providing a dense low-refractive index layer, the antifouling layer is formed densely so that alkali components and chlorine components cannot enter, and the antifouling layer can be prevented from being destroyed and the lower layer deteriorated. Therefore, antifouling performance can be maintained for a long time.

耐アルカリ性の目安として、防汚層の1%のNaOH水溶液を滴下し1時間放置した後、滴下部を洗浄、乾燥した後の水に対する接触角が100°以上であるとよい。この範囲であれば、実用段階で、アルカリ成分による防汚層の破壊がなく、長時間防汚性能を保つことができる。   As a measure of alkali resistance, a 1% NaOH aqueous solution of the antifouling layer is dropped and allowed to stand for 1 hour, and then the contact angle with respect to water after washing and drying the dripping portion is preferably 100 ° or more. Within this range, at the practical stage, the antifouling layer is not destroyed by the alkali component, and the antifouling performance can be maintained for a long time.

また、緻密な低屈折率層と防汚層はCVD法により設ける場合、緻密な低屈折率層の原料ガスと防汚層の原料ガスの混合ガスを用いて、成膜しても良い。この場合、条件により緻密な低屈折率層と防汚層の成膜される速度は異なり、最初に緻密な低屈折率層が形成され、その上に防汚層を形成することができる。   In addition, when the dense low refractive index layer and the antifouling layer are provided by a CVD method, the dense low refractive index layer raw material gas and the antifouling layer raw material gas may be used to form a film. In this case, the dense low refractive index layer and the antifouling layer are formed at different rates depending on the conditions, and the dense low refractive index layer is formed first, and the antifouling layer can be formed thereon.

塗工法を用いる場合も同様であり、緻密な低屈折率層の原料となる塗液と防汚層の原料となる塗液の混合液を塗布乾燥させることにより、緻密な低屈折率層と防汚層を設けても良い。この場合、原料の加水分解反応速度などの条件により、緻密な低屈折率層と防汚層の成膜される速度は異なり、最初に緻密な低屈折率層が形成され、その上に防汚層を形成することができる。   The same applies when the coating method is used. By applying and drying a mixture of a coating liquid that is a raw material for the dense low refractive index layer and a coating liquid that is a raw material for the antifouling layer, the dense low refractive index layer and the anti-reflection layer are protected. A dirty layer may be provided. In this case, depending on conditions such as the hydrolysis reaction rate of the raw material, the film forming speed of the dense low refractive index layer and the antifouling layer is different, and the dense low refractive index layer is formed first, and the antifouling layer is formed thereon. A layer can be formed.

本発明では、基材と反射防止層の間にさらにハードコート層、帯電防止層、防眩層などを設けることができる。   In the present invention, a hard coat layer, an antistatic layer, an antiglare layer and the like can be further provided between the substrate and the antireflection layer.

本発明に用いるハードコート層は、公知の材料で公知の手法により設けることができる。   The hard coat layer used in the present invention can be provided by a known method using a known material.

例えば、材料としては電離放射線硬化型のアクリル系樹脂や、酸化珪素などが挙げられ、形成方法としては塗工法が挙げられる。   For example, examples of the material include ionizing radiation curable acrylic resin and silicon oxide, and examples of the forming method include a coating method.

電離放射線硬化型のアクリル系樹脂としては、1分子中に2個以上の(メタ)アクリロイルオキシ基を含有する多官能性モノマーを主成分とする重合物からなる。多官能性モノマーとしては、例えば、1,4−ブタンジオールジ(メタ)アクリレート、1,6−ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、ネオペンチルグリコール(メタ)アクリレート、エチレングリコールジ(メタ)アクリレート、トリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、トリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、ジプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、3−メチルペンタンジオールジ(メタ)アクリレート、ジエチレングリコールビスβ−(メタ)アクリロイルオキシプロピオネート、トリメチロールエタントリ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、トリ(2−ヒドロキシエチル)イソシアネートジ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、2,3−ビス(メタ)アクリロイルオキシエチルオキシメチル[2.2.1]ヘプタン、ポリ1,2−ブタジエンジ(メタ)アクリレート、1,2−ビス(メタ)アクリロイルオキシメチルヘキサン、ノナエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、テトラデカンエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、10−デカンジオール(メタ)アクリレート、3,8−ビス(メタ)アクリロイルオキシメチルトリシクロ[5.2.10]デカン、水素添加ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、2,2−ビス(4−(メタ)アクリロイルオキシジエトキシフェニル)プロパン、1,4−ビス((メタ)アクリロイルオキシメチル)シクロヘキサン、ヒドロキシピバリン酸エステルネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート、ビスフェノールAジグリシジルエーテルジ(メタ)アクリレート、エポキシ変成ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート等が挙げられる。特に紫外線硬化型であるアクリル酸エステル類、アクリルアミド類、メタクリル酸エステル類、メタクリルアミド類等のアクリル系や、有機珪素系の樹脂、熱硬化型のポリシロキサン樹脂等が好適である。前記多官能性モノマーは、1種類のみを使用してもよいし、2種類以上を併用してもよい。また、必要で有れば単官能モノマーが共重合していてもよい。   The ionizing radiation curable acrylic resin is composed of a polymer mainly composed of a polyfunctional monomer containing two or more (meth) acryloyloxy groups in one molecule. Examples of the polyfunctional monomer include 1,4-butanediol di (meth) acrylate, 1,6-hexanediol di (meth) acrylate, neopentyl glycol (meth) acrylate, ethylene glycol di (meth) acrylate, tri Ethylene glycol di (meth) acrylate, tripropylene glycol di (meth) acrylate, dipropylene glycol di (meth) acrylate, 3-methylpentanediol di (meth) acrylate, diethylene glycol bis β- (meth) acryloyloxypropionate, Trimethylolethane tri (meth) acrylate, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, (2-hydroxyethyl) isocyanate di (meth) acrylate, pentaerythritol tetra (meth) acrylate, 2,3-bis (meth) acryloyloxyethyloxymethyl [2.2.1] heptane, poly 1,2-butadiene di (Meth) acrylate, 1,2-bis (meth) acryloyloxymethylhexane, nonaethylene glycol di (meth) acrylate, tetradecane ethylene glycol di (meth) acrylate, 10-decanediol (meth) acrylate, 3,8-bis (Meth) acryloyloxymethyltricyclo [5.2.10] decane, hydrogenated bisphenol A di (meth) acrylate, 2,2-bis (4- (meth) acryloyloxydiethoxyphenyl) propane, 1,4- Bis ((meth) acryloyl Examples thereof include oxymethyl) cyclohexane, hydroxypivalate ester neopentyl glycol di (meth) acrylate, bisphenol A diglycidyl ether di (meth) acrylate, and epoxy-modified bisphenol A di (meth) acrylate. In particular, acrylic resins such as acrylic acid esters, acrylamides, methacrylic acid esters, and methacrylamides that are ultraviolet curable, organic silicon resins, thermosetting polysiloxane resins, and the like are suitable. The said polyfunctional monomer may use only 1 type and may use 2 or more types together. If necessary, a monofunctional monomer may be copolymerized.

また、ハードコート層は、反射防止部材の透明性を確保するために、基材と屈折率が同等若しくは近似していることが好ましい。   The hard coat layer preferably has a refractive index equivalent or close to that of the base material in order to ensure the transparency of the antireflection member.

ハードコート層の厚さは3〜20μmの範囲であれば充分な機械強度が発現するが、透明性、塗工精度、取り扱い性から、好ましくは5〜15μmの範囲である。   If the thickness of the hard coat layer is in the range of 3 to 20 μm, sufficient mechanical strength is exhibited, but it is preferably in the range of 5 to 15 μm from the viewpoint of transparency, coating accuracy, and handleability.

またハードコート層には屈折率調整剤や、帯電防止材、凹凸形成材などを添加することもできる。   Moreover, a refractive index adjusting agent, an antistatic material, a concavo-convex forming material, or the like can be added to the hard coat layer.

ハードコート層は表面処理が施されていることが好ましい。表面処理が施されていることにより、隣接する他の層との密着性を向上させることができる。   The hard coat layer is preferably subjected to a surface treatment. By performing the surface treatment, adhesion with other adjacent layers can be improved.

ハードコート層の表面処理としては、例えば、高周波放電プラズマ法、電子ビーム法、イオンビーム法、蒸着法、スパッタリング法、アルカリ処理法、酸処理法、コロナ処理法、大気圧グロー放電プラズマ法等が挙げられる。これらの中でも、アルカリ処理が好ましい。   Examples of the surface treatment of the hard coat layer include a high frequency discharge plasma method, an electron beam method, an ion beam method, a vapor deposition method, a sputtering method, an alkali treatment method, an acid treatment method, a corona treatment method, and an atmospheric pressure glow discharge plasma method. Can be mentioned. Among these, alkali treatment is preferable.

アルカリ処理法に使用するアルカリ水溶液としては、例えば、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム等の水溶液、それらに更にアルコール等の各種有機溶媒を加えたアルカリ水溶液等が挙げられる。アルカリ処理の条件は、例えば、水酸化ナトリウム水溶液を用いた場合、0.1〜10N、好ましくは1〜2Nの濃度の水溶液として使用するのがよい。また、アルカリ水溶液の温度は、0〜100℃、好ましくは20〜80℃である。アルカリ処理の時間は、0.01〜10時間、好ましくは0.1〜1時間である。ただし、このようなアルカリ洗浄を行った場合にはアルカリ成分が残留しないように充分に洗浄する必要がある。   Examples of the alkaline aqueous solution used in the alkali treatment method include aqueous solutions such as sodium hydroxide and potassium hydroxide, and alkaline aqueous solutions obtained by adding various organic solvents such as alcohol to these. As the conditions for the alkali treatment, for example, when an aqueous sodium hydroxide solution is used, it is preferably used as an aqueous solution having a concentration of 0.1 to 10N, preferably 1 to 2N. Moreover, the temperature of aqueous alkali solution is 0-100 degreeC, Preferably it is 20-80 degreeC. The alkali treatment time is 0.01 to 10 hours, preferably 0.1 to 1 hour. However, when such alkali cleaning is performed, it is necessary to perform sufficient cleaning so that no alkali component remains.

本発明の帯電防止層としては、帯電防止材料を電離放射線硬化樹脂や酸化珪素からなるマトリックス中に含有させたものなどがあげられる。電離放射線硬化樹脂としては、前述のものと同様のものを用いることができる。酸化珪素としては、珪素アルコキシドを原料とし、ゾルゲル法により形成することができる。   Examples of the antistatic layer of the present invention include those in which an antistatic material is contained in a matrix made of an ionizing radiation curable resin or silicon oxide. As the ionizing radiation curable resin, the same ones as described above can be used. Silicon oxide can be formed by a sol-gel method using silicon alkoxide as a raw material.

また、前記ハードコート層に帯電防止材料を含有させることにより帯電防止効果をもたせてもよい。   Further, an antistatic effect may be imparted by incorporating an antistatic material into the hard coat layer.

帯電防止材料としては、酸化アンチモン系や酸化錫系の化合物が挙げられる。   Antistatic materials include antimony oxide and tin oxide compounds.

本発明の防眩層は、電離放射線硬化樹脂に凹凸形成材を含有させたものや、電離放射線硬化樹脂表面に凹凸を形成させたものが挙げられる。電離放射線硬化樹脂としては、前述のものと同様のものを用いることができる。酸化珪素としては、珪素アルコキシドを原料とし、ゾルゲル法により形成することができる。   Examples of the antiglare layer of the present invention include those obtained by adding an irregularity forming material to an ionizing radiation curable resin and those obtained by forming irregularities on the surface of an ionizing radiation curable resin. As the ionizing radiation curable resin, the same ones as described above can be used. Silicon oxide can be formed by a sol-gel method using silicon alkoxide as a raw material.

凹凸形成材料としては、粒径0.1〜10μmの樹脂や酸化珪素などの金属酸化物からなる粒子が挙げられる。   As an uneven | corrugated material, the particle | grains which consist of metal oxides, such as resin with a particle size of 0.1-10 micrometers and silicon oxide, are mentioned.

また、前記ハードコート層にこれら粒子を含有させたり、前記ハードコート層表面に凹凸を形成させることにより防眩効果を持たせても良い。   Further, these particles may be contained in the hard coat layer, or an antiglare effect may be provided by forming irregularities on the surface of the hard coat layer.

本発明で得られた積層体は、液晶表示装置やプラズマディスプレイなどの表示装置の前面板として用いることができる。   The laminate obtained by the present invention can be used as a front plate of a display device such as a liquid crystal display device or a plasma display.

また、基材に偏光板を用いていれば、偏光板として用いることもできる。   Further, if a polarizing plate is used for the substrate, it can also be used as a polarizing plate.

基材として、厚さ80μmのトリアセチルセルロース(TAC)フィルム上に、膜厚5μmの電離放射線硬化型のアクリル系樹脂によるハードコート層を、ウェットコーティングにより成膜したものを用いることとした。また、このTACフィルムの屈折率nは1.49であった。   As the substrate, a hard coat layer made of an ionizing radiation curable acrylic resin having a thickness of 5 μm on a triacetyl cellulose (TAC) film having a thickness of 80 μm was formed by wet coating. Moreover, the refractive index n of this TAC film was 1.49.

また、このハードコート層が成膜されたTACフィルム基材上に反射防止層を設けた。この反射防止層の形成方法としては、反応性スパッタリング法を用いて行なった。層構成としては、基材側から1層目にTiO(屈折率2.3、nd=60nm)、2層目にSiO(屈折率1.46、nd=40nm)、3層目にTiO(屈折率2.3、nd=110nm)、4層目にSiO(屈折率1.46、nd=145nm)とした。4層目のSiOは2層構成とし、基材側の低屈折率層を光学膜厚nd=45nmとし、防汚層側の低屈折率層を光学膜厚nd=100nmとし合計で光学膜厚nd=145nmとなるようにした。 Further, an antireflection layer was provided on the TAC film substrate on which the hard coat layer was formed. The antireflection layer was formed by a reactive sputtering method. The layer structure is TiO 2 (refractive index 2.3, nd = 60 nm) as the first layer from the substrate side, SiO 2 (refractive index 1.46, nd = 40 nm) as the second layer, and TiO 2 as the third layer. 2 (refractive index 2.3, nd = 110 nm) and SiO 2 (refractive index 1.46, nd = 145 nm) as the fourth layer. The fourth layer of SiO 2 has a two-layer structure, the low refractive index layer on the substrate side has an optical film thickness nd = 45 nm, and the low refractive index layer on the antifouling layer side has an optical film thickness nd = 100 nm. The thickness nd was set to 145 nm.

4層目の2層からなる低屈折率層の基材側の低屈折率層までの各層は、反応性スパッタリング法を用いた。ターゲット材としてTiOではTiを用い、SiOではSiを用いた。また、導入ガスは、ArガスとOガスの混合プラズマとして行ない、その際の成膜気圧は0.3Pa、基材―ターゲット間距離を100mmとして行なった。 The reactive sputtering method was used for each layer from the low refractive index layer consisting of two layers of the fourth layer to the low refractive index layer on the substrate side. As the target material, Ti was used for TiO 2 and Si was used for SiO 2 . The introduced gas was mixed plasma of Ar gas and O 2 gas, and the film formation pressure was 0.3 Pa and the distance between the substrate and the target was 100 mm.

次に防汚層側の緻密な低屈折率層、防汚層をプラズマCVD法を用い順次成膜した。   Next, a dense low refractive index layer and an antifouling layer on the antifouling layer side were sequentially formed using a plasma CVD method.

成膜前の真空排気度は、1×10−3Paとし、プラズマを発生させる方法として平行平板型の電極を用い、陰極は高密度のプラズマが発生させるためマグネトロン電極とし、電極間距離は40mmとした。また、プラズマ発生用Power Supplyには13.56MHzの高周波電源を用いて放電を行ない、反射防止層を積層したTAC基材は陽極上に設置した。 The degree of vacuum exhaust before film formation is 1 × 10 −3 Pa, a parallel plate type electrode is used as a method for generating plasma, a cathode is a magnetron electrode for generating high-density plasma, and the distance between electrodes is 40 mm. It was. The plasma generation power supply was discharged using a high frequency power supply of 13.56 MHz, and the TAC substrate on which the antireflection layer was laminated was placed on the anode.

導入ガスは、防汚層側の緻密な低屈折率層の原料ガスとしてオルガノメトキシシラン(下記化学式(1))を用いることとし、防汚層の原料ガスとしてジーイー東芝シリコーン株式会社製のフルオロカーボンシランTSL8233(下記化学式(2))を用いて行なった。また、これら原材料とは別にArガスを導入して成膜を行なった。   The introduced gas uses organomethoxysilane (the following chemical formula (1)) as the raw material gas for the dense low refractive index layer on the antifouling layer side, and fluorocarbon silane manufactured by GE Toshiba Silicone Co., Ltd. as the raw material gas for the antifouling layer This was performed using TSL8233 (the following chemical formula (2)). In addition to these raw materials, a film was formed by introducing Ar gas.

(CH)Si−(OCH (1)
17−CHCH−Si(OCH (2)
この防汚層側の緻密な低屈折率層及び防汚層を成膜する際、それぞれのガスを真空チャンバーに導入する際には、マスフロコントローラーによりガス流量を制御し、一定の流量がチャンバーに導入されるようにして行なった。また、真空チャンバーは差動排気バルブが設置されており、ガス流量に対し、チャンバー内の気圧を任意の一定の状態に保つことが可能である。
(CH 3 ) Si— (OCH 3 ) 3 (1)
C 8 F 17 -CH 2 CH 2 -Si (OCH 3) 3 (2)
When depositing the dense low refractive index layer and antifouling layer on the antifouling layer side, when introducing each gas into the vacuum chamber, the gas flow rate is controlled by a mass flow controller, and a constant flow rate is kept in the chamber. As introduced in In addition, the vacuum chamber is provided with a differential exhaust valve, and the atmospheric pressure in the chamber can be kept in an arbitrary constant state with respect to the gas flow rate.

防汚層はフルオロカーボンシランTSL8233が防汚層側の緻密な低屈折率層表面の吸着サイトを全面的に埋め尽くす状態、つまり膜厚としては、d=5〜10nm程度となるように成膜を行なった。これにより、反射防止としての性能は、反射Y値が0.4%より低い値に抑えられ、反射防止機能をもつこととなる。   The antifouling layer is formed so that the fluorocarbon silane TSL8233 completely fills the adsorption sites on the surface of the dense low refractive index layer on the antifouling layer side, that is, the film thickness is about d = 5 to 10 nm. I did it. As a result, the performance as anti-reflection is suppressed to a value where the reflection Y value is lower than 0.4%, and the anti-reflection function is provided.

この際、電極間に投入する電力は50Wとし、オルガノメトキシシランとArの混合ガス、TSL8233とArガスの混合ガスの圧力をそれぞれ5Paとし放電をさせた。   At this time, the electric power applied between the electrodes was 50 W, and the discharge was performed with the pressure of the mixed gas of organomethoxysilane and Ar, and the mixed gas of TSL8233 and Ar gas set to 5 Pa, respectively.

防汚層としてダイキン工業株式会社製オプツールDSXを真空蒸着法により成膜した以外は、実施例1と同様に行った。   As an antifouling layer, the same procedure as in Example 1 was conducted except that OPTOOL DSX manufactured by Daikin Industries, Ltd. was formed by vacuum deposition.

4層目の2層からなる低屈折率層の基材側の低屈折率層までは実施例1と同様に行った。   The same procedure as in Example 1 was performed up to the low refractive index layer on the substrate side of the low refractive index layer composed of the second layer of the fourth layer.

次にマイクログラビア法を用いて防汚層側の緻密な低屈折率層、防汚層を順次塗工することにより形成した。   Next, a fine low refractive index layer and an antifouling layer on the antifouling layer side were formed by sequentially coating using a microgravure method.

緻密な低屈折率層の塗液は、水、イソブチルアルコール、メチルセロソルブ、オルガノメトキシシラン(上記化学式(1))からなる混合液であり、防汚層の塗液は、水、イソブチルアルコール、メチルセロソルブ、フルオロカーボンシラン(上記化学式(2))からなる混合液であり、オルガノメトキシシラン、フルオロカーボンシランの加水分解開始剤としてリン酸を用いた。   The coating solution for the dense low refractive index layer is a mixed solution of water, isobutyl alcohol, methyl cellosolve, and organomethoxysilane (the above chemical formula (1)), and the coating solution for the antifouling layer is water, isobutyl alcohol, methyl. It is a mixed solution composed of cellosolve and fluorocarbon silane (the above chemical formula (2)), and phosphoric acid was used as a hydrolysis initiator for organomethoxysilane and fluorocarbon silane.

この後、pH調整剤として、アンモニア、若しくはリン酸、またはその両方を入れ、調整したものを用いた。   After that, as the pH adjuster, ammonia, phosphoric acid, or both were added and adjusted.

防汚層側の緻密な低屈折率層の塗液は、固形成分=4wt%の薬液として作成し、防汚層側の緻密な低屈折率層の光学膜厚がnd=100nmとなるように、目標の塗工膜厚は1.7μmとし塗工し、加熱により硬化した。防汚層の塗液は、固形成分=0.1wt%の薬液として作成し、目標の塗工膜厚は7μmとし塗工し、加熱処理を施した。この結果、TAC基材上には、所望の分光カーブをもった反射防止層が可能となった。   The coating solution for the dense low refractive index layer on the antifouling layer side is prepared as a chemical solution with a solid component = 4 wt% so that the optical film thickness of the dense low refractive index layer on the antifouling layer side is nd = 100 nm. The target coating thickness was set to 1.7 μm and cured by heating. The antifouling layer coating solution was prepared as a solid component = 0.1 wt% chemical solution, and the target coating film thickness was 7 μm, followed by heat treatment. As a result, an antireflection layer having a desired spectral curve can be formed on the TAC substrate.

3層目の高屈折率層までは実施例1と同様に行った。   The same process as in Example 1 was performed up to the third high refractive index layer.

その上に4層目の低屈折率層として、SiO(屈折率1.46、nd=145nm)からなる緻密な低屈折率層を設けた。成膜方法は、上記化学式(1)で表されるオルガノメトキシシランを原料ガスとするプラズマCVD法を用いた。その上に、防汚層を、上記化学式(2)で表されるフルオロカーボンシランを原料ガスとしプラズマCVD法を用い、設けた。なお、CVD条件としては実施例1と同様にした。 A dense low refractive index layer made of SiO 2 (refractive index 1.46, nd = 145 nm) was provided thereon as a fourth low refractive index layer. As a film forming method, a plasma CVD method using organomethoxysilane represented by the above chemical formula (1) as a source gas was used. On top of that, an antifouling layer was provided using a plasma CVD method using the fluorocarbon silane represented by the chemical formula (2) as a raw material gas. The CVD conditions were the same as in Example 1.

3層目の高屈折率層までは実施例1と同様に行った。   The same process as in Example 1 was performed up to the third high refractive index layer.

その上に4層目の低屈折率層として、SiO(屈折率1.46、nd=145nm)からなる緻密な低屈折率層をマイクログラビア法を用いて設けた。その上に、防汚層をマイクログラビア法を用いて設けた。 A dense low refractive index layer made of SiO 2 (refractive index 1.46, nd = 145 nm) was provided thereon as a fourth low refractive index layer using a microgravure method. On top of that, an antifouling layer was provided using a micro gravure method.

緻密な低屈折率層の塗液は、水、イソブチルアルコール、メチルセロソルブ、オルガノメトキシシラン(上記化学式(1))からなる混合液であり、防汚層の塗液は、水、イソブチルアルコール、メチルセロソルブ、フルオロカーボンシラン(上記化学式(2))からなる混合液であり、オルガノメトキシシラン、フルオロカーボンシランの加水分解開始剤としてリン酸を用いる。   The coating solution for the dense low refractive index layer is a mixed solution of water, isobutyl alcohol, methyl cellosolve, and organomethoxysilane (the above chemical formula (1)), and the coating solution for the antifouling layer is water, isobutyl alcohol, methyl. It is a mixed solution composed of cellosolve and fluorocarbon silane (the above chemical formula (2)), and phosphoric acid is used as a hydrolysis initiator for organomethoxysilane and fluorocarbon silane.

この後、pH調整剤として、アンモニア、若しくはリン酸、またはその両方を入れ、調整したものを用いた。   After that, as the pH adjuster, ammonia, phosphoric acid, or both were added and adjusted.

緻密な低屈折率層の塗液は、固形成分=4wt%の薬液として作成し、防汚層側の緻密な低屈折率層の光学膜厚がnd=145nmとなるように塗工し、加熱により硬化した。防汚層の塗液は、固形成分=0.1wt%の薬液として作成し、目標の塗工膜厚は7μmとし塗工し、加熱処理を施した。この結果、TAC基材上には、所望の分光カーブをもった反射防止層が可能となった。
<比較例1>
実施例1と同様にTAC基材へハードコート層を設け、その上に1層目にTiO(屈折率2.3、nd=60nm)、2層目にSiO(屈折率1.46、nd=40nm)、3層目にTiO(屈折率2.3、nd=110nm)、4層目にSiO(屈折率1.46、nd=145nm)からなる反射防止層を反応性スパッタリング法を用いて設け、その上に防汚層を、真空蒸着方法を用い、ジーイー東芝シリコーン株式会社製のフルオロカーボンシランTSL8233(上記化学式(2))を成膜した。
<比較例2>
防汚層としてダイキン工業株式会社製オプツールDSXを真空蒸着法により設けた以外は比較例1と同様に行った。
<評価>
得られた実施例1〜5、比較例1、2のサンプルに対し、以下の(1)〜(6)の各テストを行ない、その性能を調べ、結果を表1に示した。
(1)水による接触角測定
(2)オレイン酸による接触角測定
(3)耐アルカリ性試験(1%のNaOH水溶液滴下)
(4)耐アルカリ性試験(5%のNaOH水溶液滴下)
(5)指紋拭き取り性試験
(6)油性インキ拭き取り性試験
(1)〜(4)の接触角は、協和界面化学株式会社製「接触角計CA−X」により測定した。(3)、(4)の耐アルカリ性試験は、それぞれ1、5%のNaOH水溶液をフィルム上に滴下し1時間放置した後、滴下部を純水で洗い流し、乾燥した後、純水による接触角測定を行ない評価した。
The coating solution for the dense low refractive index layer is prepared as a chemical solution with a solid component = 4 wt%, and is applied so that the optical film thickness of the dense low refractive index layer on the antifouling layer side is nd = 145 nm. Cured. The coating solution for the antifouling layer was prepared as a solid component = 0.1 wt% chemical solution, and the target coating film thickness was 7 μm, followed by heat treatment. As a result, an antireflection layer having a desired spectral curve can be formed on the TAC substrate.
<Comparative Example 1>
A hard coat layer is provided on the TAC substrate in the same manner as in Example 1, and TiO 2 (refractive index 2.3, nd = 60 nm) is formed as the first layer thereon, and SiO 2 (refractive index 1.46, as the second layer). (nd = 40 nm) An antireflection layer made of TiO 2 (refractive index 2.3, nd = 110 nm) as the third layer and SiO 2 (refractive index 1.46, nd = 145 nm) as the fourth layer is reactive sputtering. Fluorocarbon silane TSL8233 (the above chemical formula (2)) manufactured by GE Toshiba Silicone Co., Ltd. was formed using a vacuum deposition method.
<Comparative example 2>
As an antifouling layer, the same procedure as in Comparative Example 1 was performed except that OPTOOL DSX manufactured by Daikin Industries, Ltd. was provided by vacuum deposition.
<Evaluation>
The following tests (1) to (6) were performed on the obtained samples of Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 and 2, the performance was examined, and the results are shown in Table 1.
(1) Contact angle measurement with water (2) Contact angle measurement with oleic acid (3) Alkali resistance test (1% NaOH aqueous solution dropwise)
(4) Alkali resistance test (5% NaOH aqueous solution dropwise)
(5) Fingerprint wiping test (6) Oil-based ink wiping test The contact angles of (1) to (4) were measured by “Contact Angle Meter CA-X” manufactured by Kyowa Interface Chemical Co., Ltd. In the alkali resistance tests (3) and (4), a 1 and 5% NaOH aqueous solution was dropped on the film and allowed to stand for 1 hour, then the dripping part was washed away with pure water, dried, and then contacted with pure water. Measurements were made and evaluated.

(5)の指紋拭取り性試験は、実際の鼻脂を用い、基材上につけた鼻脂の指紋をクリーンウエスで拭取り、その結果について目視での官能評価を行なった。   In the fingerprint wiping test of (5), an actual nasal oil was used, and the fingerprint of the nasal oil attached on the substrate was wiped off with a clean cloth, and the result was subjected to visual sensory evaluation.

(6)の油性インキ拭取り性試験は、「寺西化学工業株式会社製油性インキインキ/細書き用」を用いて20mm線を引き、引いた線をクリーンウエスで拭取り、その結果について目視での官能評価を行なった。   In the oil-based ink wiping test of (6), a 20 mm line was drawn using “Teranishi Chemical Co., Ltd. oil-based ink ink / for fine writing”, the drawn line was wiped with a clean waste cloth, and the result was visually observed. The sensory evaluation of was performed.

テスト(5)、(6)の官能評価の基準を以下に○、△、×の三段階で以下に示す。
○:指紋を完全に拭取ることが出来る
△:指紋の拭取り跡が残る
×:指紋の拭取り跡が拡がり、拭取ることが出来ない
The criteria for sensory evaluation of tests (5) and (6) are shown below in three stages: ○, Δ, and ×.
○: Fingerprints can be completely wiped Δ: Fingerprint wipe traces remain ×: Fingerprint wipe traces spread and cannot be wiped off

Figure 2006039007
上記表1の結果より、本発明による実施例1〜5は、比較例1、2に対し、耐アルカリ性、耐熱性において明らかに優れていることが分かる。比較例1、2が耐アルカリ性において撥水効果を失うのに対し、本実施例は撥水効果を保ったままであることが分かる。また、指紋拭き取り性試験、油性インキ拭き取り性試験においても比較例1と比べても明らかに良いことが分かった。また、実施例1で用いたTSL8233とより分子量も大きく防汚性能が高く高価である比較例2で用いたダイキン工業社製オプツールDSXと同等の防汚性能が得られることが分かった。すなわち実施例1、3では、防汚剤の種類によらず、高い防汚性能が得られることが分かった。
Figure 2006039007
From the results of Table 1 above, it can be seen that Examples 1 to 5 according to the present invention are clearly superior to Comparative Examples 1 and 2 in alkali resistance and heat resistance. It can be seen that Comparative Examples 1 and 2 lose the water repellent effect in alkali resistance, while the present example still maintains the water repellent effect. It was also found that the fingerprint wiping test and the oil-based ink wiping test were clearly better than Comparative Example 1. Further, it was found that the same antifouling performance as that of Opkin DSX manufactured by Daikin Industries Co., Ltd. used in Comparative Example 2, which is higher in molecular weight and higher in antifouling performance and expensive than TSL8233 used in Example 1, was obtained. That is, in Examples 1 and 3, it was found that high antifouling performance was obtained regardless of the type of antifouling agent.

本発明実施例及び比較例に対し、下記(7)〜(9)のテストを行ない、この結果をそれぞれ下記の表2〜4に示し、時間軸に対する本発明の効果を示す。
(7)1%のNaOH水溶液滴下15分後、30分後、60分後、120分後の接触角測定(HO)
(8)5%のNaOH水溶液滴下15分後、30分後、60分後、120分後の接触角測定(HO)
(9)10%のNaOH水溶液滴下15分後、30分後、60分後、120分後の接触角測定(HO)
The following tests (7) to (9) were performed on the examples and comparative examples of the present invention, and the results are shown in the following Tables 2 to 4, respectively, showing the effect of the present invention on the time axis.
(7) Contact angle measurement after dropping 1% NaOH aqueous solution 15 minutes, 30 minutes, 60 minutes, and 120 minutes (H 2 O)
(8) Contact angle measurement 15 minutes, 30 minutes, 60 minutes, and 120 minutes after dropping 5% NaOH aqueous solution (H 2 O)
(9) Contact angle measurement (H 2 O) after 15 minutes, 30 minutes, 60 minutes, and 120 minutes after dropping a 10% NaOH aqueous solution

Figure 2006039007
Figure 2006039007

Figure 2006039007
Figure 2006039007

Figure 2006039007
表2〜表4の結果より、実施例1〜5が時間軸に対して、明らかに比較例1、2に比べて良いことが分かる。
Figure 2006039007
From the results of Tables 2 to 4, it can be seen that Examples 1 to 5 are clearly better than Comparative Examples 1 and 2 with respect to the time axis.

本発明の反射防止部材の一実施例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows one Example of the reflection preventing member of this invention. 本発明の反射防止部材の一実施例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows one Example of the reflection preventing member of this invention. 本発明の反射防止部材の一実施例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows one Example of the reflection preventing member of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 基材
2 ハードコート層
3 低屈折率層
3a 緻密な低屈折率層
3b 通常の低屈折率層
4 高屈折率層
5 防汚層
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Base material 2 Hard-coat layer 3 Low-refractive-index layer 3a Dense low-refractive-index layer 3b Normal low-refractive-index layer 4 High-refractive-index layer 5 Antifouling layer

Claims (8)

基材上に低屈折率層を含む反射防止層、防汚層を形成してなる反射防止部材であって、該防汚層の水に対する接触角が100°以上であり、かつオレイン酸に対する接触角が70°以上であることを特徴とする反射防止部材。   An antireflective member comprising an antireflective layer comprising a low refractive index layer and an antifouling layer on a substrate, wherein the antifouling layer has a contact angle with water of 100 ° or more, and is in contact with oleic acid An antireflection member having an angle of 70 ° or more. 前記防汚層の、1%のNaOH水溶液を滴下し1時間放置した後、滴下部を洗浄、乾燥した後の水に対する接触角が100°以上であることを特徴とする請求項1に記載の反射防止部材。   2. The contact angle to water after the 1% NaOH aqueous solution of the antifouling layer is dropped and left for 1 hour, and then the dripping portion is washed and dried, is 100 ° or more. Antireflection member. 前記低屈折率層が2層からなることを特徴とする請求項1または2記載の反射防止部材。   The antireflection member according to claim 1, wherein the low refractive index layer is composed of two layers. 前記2層の低屈折率層のうち、防汚層側の低屈折率層が基材側の低屈折率より緻密であることを特徴とする請求項3記載の反射防止部材。   The antireflective member according to claim 3, wherein, of the two low refractive index layers, the low refractive index layer on the antifouling layer side is denser than the low refractive index on the substrate side. 前記反射防止層が、高屈折率層及び/又は中屈折率層を含むことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の反射防止部材。   The antireflection member according to claim 1, wherein the antireflection layer includes a high refractive index layer and / or a medium refractive index layer. 基材と反射防止層の間に、ハードコート層、帯電防止層、防眩層から選ばれる1種以上の層を有することを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の反射防止部材。   The antireflection member according to any one of claims 1 to 5, further comprising at least one layer selected from a hard coat layer, an antistatic layer, and an antiglare layer between the substrate and the antireflection layer. . 請求項1〜6のいずれかに記載の反射防止部材を含む偏光板。   A polarizing plate comprising the antireflection member according to claim 1. 請求項1〜6のいずれかに記載の反射防止部材又は請求項7に記載の偏光板を有する表示装置。   A display device comprising the antireflection member according to claim 1 or the polarizing plate according to claim 7.
JP2004215522A 2004-07-23 2004-07-23 Antireflection member Pending JP2006039007A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004215522A JP2006039007A (en) 2004-07-23 2004-07-23 Antireflection member

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004215522A JP2006039007A (en) 2004-07-23 2004-07-23 Antireflection member

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2006039007A true JP2006039007A (en) 2006-02-09

Family

ID=35904094

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004215522A Pending JP2006039007A (en) 2004-07-23 2004-07-23 Antireflection member

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2006039007A (en)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007241179A (en) * 2006-03-13 2007-09-20 Nippon Electric Glass Co Ltd Cover glass for display
JP2007327986A (en) * 2006-06-06 2007-12-20 Toppan Printing Co Ltd Antireflection laminated body
WO2008117475A1 (en) * 2007-03-26 2008-10-02 Aica Kogyo Co., Ltd. Coating material and antireflection film
JP2008233403A (en) * 2007-03-19 2008-10-02 Hoya Corp Antireflection film and optical component having the same
JP2013195456A (en) * 2012-03-15 2013-09-30 Gunze Ltd Antireflection sheet
WO2018180504A1 (en) * 2017-03-31 2018-10-04 グンゼ株式会社 Anti-reflection film
JP2020527651A (en) * 2017-07-19 2020-09-10 インテヴァック インコーポレイテッド System for forming nanolaminate optical coatings

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007241179A (en) * 2006-03-13 2007-09-20 Nippon Electric Glass Co Ltd Cover glass for display
JP2007327986A (en) * 2006-06-06 2007-12-20 Toppan Printing Co Ltd Antireflection laminated body
JP2008233403A (en) * 2007-03-19 2008-10-02 Hoya Corp Antireflection film and optical component having the same
WO2008117475A1 (en) * 2007-03-26 2008-10-02 Aica Kogyo Co., Ltd. Coating material and antireflection film
JP2013195456A (en) * 2012-03-15 2013-09-30 Gunze Ltd Antireflection sheet
WO2018180504A1 (en) * 2017-03-31 2018-10-04 グンゼ株式会社 Anti-reflection film
JP2020527651A (en) * 2017-07-19 2020-09-10 インテヴァック インコーポレイテッド System for forming nanolaminate optical coatings
JP7440912B2 (en) 2017-07-19 2024-02-29 インテヴァック インコーポレイテッド System for forming nanolaminate optical coatings

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4918743B2 (en) Antireflection film
JP2002277604A (en) Antireflection film
KR102518011B1 (en) Optical film with antifouling layer
JP2002265866A (en) Low-refractive index coating material and antireflection film
JP2007008088A (en) Surface protection layer and antireflection film having the same
JP2005186576A (en) Anti-fouling hard coat,anti-fouling substrate, anti-fouling and electrically conductive substrate and touch panel
JP2006039007A (en) Antireflection member
JP2014091743A (en) Coating material, optical coating film and optical element
TWI796117B (en) Optical laminate, article and image display device
KR20210055671A (en) Laminate and its manufacturing method
WO2022014570A1 (en) Optical film with antifouling layer
JP2002139602A (en) Antireflection film
JPH10195417A (en) Stainproof membrane-forming composition and filter for display element
JP2006039006A (en) Laminated body, front surface filter for plasma display and display device
JP4042196B2 (en) Antifouling agent and method for forming antifouling layer
JP2005215283A (en) Antistatic hard coat film and display medium
JP2006035495A (en) Manufacturing method of laminate
JP7389259B2 (en) Optical film with antifouling layer
TWI820451B (en) Optical film with antifouling layer
TWI811735B (en) Optical film with antifouling layer
JP2000009906A (en) Antireflection optical member, forming method of contamination preventing layer, optical functional member and display device
JP2006058728A (en) Antireflection member
WO2022014573A1 (en) Antifouling layer-equipped optical film
JP2010128230A (en) Low-refractive index coating agent, and anti-reflection film
JP2023133067A (en) Optical laminate, article and picture display unit