JP2006024420A - フィラメント交換機構 - Google Patents
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Abstract
【課題】フィラメント交換に要する手間を省き、交換時間を短縮する
【解決手段】試料分析室1の所定位置に配置されるフィラメント4aと、保存室2に配置される、前記フィラメント4aと交換するための予備フィラメント4bとが、保持板3の表裏に保持されている。そして駆動手段によって、保持板3が、該保持板3の中心を通る軸周りに、面法線方向に回転することにより、フィラメント4aと予備フィラメント4bとが自動交換される。
【選択図】図1
【解決手段】試料分析室1の所定位置に配置されるフィラメント4aと、保存室2に配置される、前記フィラメント4aと交換するための予備フィラメント4bとが、保持板3の表裏に保持されている。そして駆動手段によって、保持板3が、該保持板3の中心を通る軸周りに、面法線方向に回転することにより、フィラメント4aと予備フィラメント4bとが自動交換される。
【選択図】図1
Description
本発明は、分析・測定装置における真空状態の試料分析室を大気開放することなく、フィラメントを自動的に交換できるフィラメント交換機構に関する。
スパッタ装置、SEM(走査型電子顕微鏡)、TOF-SIMS(飛行時間型二次イオン質量分析装置)等の分析装置や測定装置において使用されるフィラメントは、使用時間と共に劣化する、あるいは断線する等の理由により、適宜交換される。
ここで、これらの分析装置や測定装置におけるフィラメントは高真空状態の筐体内に存在するため、この筐体の真空を破り、大気開放してからフィラメントの交換を行わねばならない。
しかし、一旦筐体を大気開放すると、フィラメント交換後に分析・測定可能な高真空状態まで真空引きを行うのに数日かかり、その間は分析・測定を行うことができなかった。
そこで、上述のように大気開放することなく、フィラメントの交換を可能とする構造を有する装置として、例えば下記特許文献1に記載のものがある。この装置では、プラズマ発生室に真空ボックスを隣接して設け、この真空ボックスとプラズマ発生室とをゲートバルブによって気密状態で区画開閉するようにしている。さらに、真空ボックス内に設けられフィラメントを支持すると共に開いた状態のゲートバルブを通過させてフィラメントを真空ボックス内とプラズマ発生室内間とで移動させる支持アームと、真空ボックスを開放するための蓋部材と、フィラメント交換後に真空ボックス内を真空状態とするための大気吸引手段とを備えている。
そして、この構成によれば、フィラメント交換時には、フィラメントを真空ボックス内に移動させて、ゲートバルブを閉塞した後に、真空ボックスを開けてフィラメントを交換することができる。従って、プラズマ発生室を大気開放することなくフィラメントの交換を行うことが可能となる。
上記のような構成によれば、フィラメントが配置される筐体を大気開放することなく、筐体内の真空状態を保持したままフィラメントを交換できるが、一つのフィラメントが劣化や断線等により交換を要する状態となった場合には、一つのフィラメントにつき一回、フィラメントの交換作業をその都度人手により行わなければならない。従って、頻繁にフィラメント交換の必要が生じた場合には、交換作業に手間がかかる。これより、フィラメント交換に要する人手による手間を省き、さらには人手による交換作業ではなく自動交換を行うことで、交換時間の短縮を図ることができれば好ましい。
上記目的を達成するため、本発明のフィラメント交換機構は、試料分析室の所定位置に配置されるフィラメントと、前記試料分析室に隣接する保存室に配置される、前記フィラメントと交換するための少なくとも一つの予備フィラメントとを保持可能で、且つ前記試料分析室と前記保存室とを遮蔽可能な保持板と、前記保持板に保持されたフィラメントを前記所定位置から移動させると共に、前記保持板に保持された予備フィラメントの内の一つを前記所定位置に移動させるよう、前記保持板を動かす駆動手段と、を有することを特徴とする。
また、上記構成のフィラメント交換機構において、前記保持板は、前記駆動手段により該保持板の中心を通る軸周りに、面法線方向に回転可能とし、且つ、1つの前記フィラメントと1つの前記予備フィラメントとを、該予備フィラメントが前記軸に対し前記フィラメントと対称な位置関係となるよう、保持板の表裏にそれぞれ保持可能とすることを特徴とする。
さらに、このフィラメント交換機構において、前記保持板は、前記駆動手段により180°回転することを特徴とする。また、前記保持板は、前記フィラメント及び予備フィラメントのそれぞれに高電圧を印加するための高圧ケーブルを内蔵し、さらに、試料分析室の所定位置に配置するフィラメント及び予備フィラメントの何れか一つに対し、前記高圧ケーブルを介して高電圧を印加する高電圧印加手段を備えることを特徴とする。
また、他の構成のフィラメント交換機構として、前記保持板は、前記フィラメントと少なくとも一つの予備フィラメントを該保持板の一方の面上に、保持板の中心より等距離で且つ互いに等間隔となるよう保持可能とし、且つ、前記駆動手段により該保持板の中心を通る面法線周りに回転可能で且つ当該面法線方向に移動可能とすることを特徴とする。
また、この他の構成のフィラメント交換機構において、前記所定位置に配置されたフィラメントに接続及び取り外し可能な、フィラメントに高電圧を印加するための高圧ケーブルと、前記高圧ケーブルと前記所定位置のフィラメントとの接続及び取り外しを行うケーブル接続手段と、前記高圧ケーブルを介して高電圧を印加する高電圧印加手段と、を備えることを特徴とする。
本発明によれば、試料分析室の真空を破って大気開放することなく、交換対象のフィラメントを、試料分析室に隣接する保存室に保存されている予備フィラメントと自動的に交換できるため、フィラメント交換に要する人手による手間を省くことができ、さらには自動交換による交換時間の短縮を実現できる。
以下、本発明の一実施形態について、図面を参照して説明する。図1は、本発明の一実施形態に係るフィラメント交換機構の構成の一例を示す図である。
図1のフィラメント交換機構では、試料分析室1と該試料分析室1に隣接する保存室2とを遮蔽する遮蔽壁の役割を果たす保持板3の表裏に、それぞれ一つずつフィラメント4a,4bが備えられている。そして、前記保持板3は、該保持板3の中心を通る軸周りに、面法線方向に回転可能な構成となっており、さらに各フィラメント4a,4bは、それぞれのフィラメント4a,4bがこの回転軸に対して対称な位置関係となるように、絶縁材5を介してこの保持板3の表裏に備えられている。
また、装置のオペレータが例えばフィラメント交換指示を装置に入力することにより、前記保持板3の上記回転動作を実行する駆動手段(図示せず)が備えられている。尚、本実施形態では、前記駆動手段は、一度のフィラメント交換指示によって前記保持板3を180°回転するよう設定されている。
ここで、正確な180°回転を実現するために、例えばフィラメント位置確認センサ6aを設けておき、回転動作後に正確な180°回転が行われていない場合には異常状態であると検出して180°回転動作を再実行するようにしても良い。ここで、フィラメント位置確認センサ6aとしては、図1のような端子によるものの他、レーザーや赤外線を用いたもの等がある。また、180°以上回転しないようにする回転ストッパ6bを任意の位置に設けても良い。
また、カソード電極7は、例えば図1のようなカソード保持部材7aによって、試料分析室1の内壁に保持されている。従って、保持板3が上述のように回転しても、フィラメント4aと共に回転することはなく、フィラメント4aの回転に影響されない状態となっている。
また、保存室2には排気口8が設けられ、この排気口8には保存室2内を真空状態にするための排気手段(図示せず)が接続されている。保存室2内の真空状態は、試料分析室1内と同レベルとなるよう常に排気が行われており、これにより保存中のフィラメント4bが汚染、劣化することはない。
そして、このような構成を有するフィラメント交換機構において、オペレータからのフィラメント交換指示が入力されると、前記駆動手段が作動して前記保持板3が前記回転軸周りに、面法線方向に180°回転することで、保持板3の表裏に備えられている各フィラメント4a,4bが交換された状態になる。さらに、この180°回転により、前記保持板3は再度、試料分析室1と保存室2とを遮蔽する遮蔽壁の役割を果たすこととなる。
このように、本実施形態に係るフィラメント交換機構を用いれば、試料分析室1に当初配置されていたフィラメント4aが劣化や断線等により交換する必要が生じた場合に、オペレータからの交換指示入力に基づく前記保持板3の回転動作によって、この交換対象のフィラメント4aと、保存室2に当初配置されていた予備フィラメント4bとを、自動的に交換することができる。従って、フィラメント交換作業に手間がかからず、時間の短縮も実現できる。
尚、図1のフィラメント交換機構において、フィラメント4a,4bに高電圧を印加するための高圧ケーブル9a,9bは、高圧安全回路9cを介して保持板3の内部を通り各フィラメント4a,4bにそれぞれ接続されているので、この高圧ケーブル9a,9bの存在が上記の回転動作の妨げになることはない。また、この場合には、試料分析室1側に配置されているフィラメント4aに接続されている高圧ケーブル9aのみを選択して高電圧を印加する高電圧印加手段(図示せず)を設けておくことで、予備フィラメント4bへの高電圧の印加は行われなくなる。
次に、本発明の他の実施形態について、図面を参照して説明する。図2は、他の実施形態に係るフィラメント交換機構の構成の一例を示す図であり、図2(a)は保持板上のフィラメントの配置を示す図、図2(b)はフィラメント交換機構の構成の断面図である。また図3は、他の実施形態に係るフィラメント交換機構によるフィラメント交換の手順を示す図であり、図3(a)は高圧ケーブルがフィラメントから取り外された状態、図3(b)はさらにフィラメントがフィラメント嵌合部材15から取り外された状態を示す図である。
図2のフィラメント交換機構では、フィラメント14a〜14dが備えられる円形断面の保持板13が、この保持板13の中心を通る面法線周りに回転可能な構成となっており、さらに各フィラメント14a〜14d(図2では4個)は、保持板13の中心より等距離で且つ互いに等間隔となるよう、同一面上(試料分析室11側の面上)に備えられている。
また、試料分析室11には図2のようにアノード電極17a及びカソード電極17bを含む絶縁材からなるフィラメント嵌合部材15が設けられており、このフィラメント嵌合部材15を介して、試料分析室11と該試料分析室11に隣接する保存室12とが連結されている。このフィラメント嵌合部材15は、各フィラメント14a〜14dを嵌合可能な構成になっている。そして、前記保持板13の面法線周りの回転動作により移動する各フィラメント14a〜14dがこのフィラメント嵌合部材15に嵌合可能となるように、このフィラメント嵌合部材15,保持板13及び該保持板13上の各フィラメント14a〜14dは互いに配置されている。こうして、フィラメント嵌合部材15に嵌合されるフィラメント14a以外のフィラメント14b〜14dは保存室12内に配置されることとなる。
さらに、この保持板13は、該保持板13の面法線方向に移動可能な構成となっている。具体的には図2のように、この保持板13におけるフィラメント14a〜14dの取付面とは反対側の面に、保持板13の面法線方向に伸縮可能で且つ保持板13を面法線周りに回転させる伸縮回転軸部材20が取り付けられている。そして、この伸縮回転軸部材20の伸縮動作により、保持板13はフィラメント嵌合部材15から離れるように移動したり、近付くように移動したりすることができる。尚、この保持板13は、フィラメント14aがこのフィラメント嵌合部材15に嵌合した図2のような状態において、試料分析室11と保存室12とを遮蔽する遮蔽壁の役割を果たしている。
また、装置のオペレータが例えばフィラメント交換指示を装置に入力することにより、前記伸縮回転軸部材20の回転動作及び伸縮動作を実行する駆動手段(図示せず)が備えられている。そして、この駆動手段による伸縮回転軸部材20の伸縮動作によって、前記保持板13はフィラメント嵌合部材15に対して離れたり近付いたりする移動動作を行い、伸縮回転軸部材20の回転動作によって、前記保持板13は上述のような面法線周りの回転動作を行う。また本実施形態では、前記駆動手段は、一度のフィラメント交換指示によって前記保持板13を一方向(例えば、図2(a)の矢印方向)に所定角度回転するよう設定されている。ここで、この所定角度は、n個のフィラメントが備えられている場合には(360°/n)で示すことができる。従って、図2のように4個のフィラメント14a〜14dが備えられている場合には、一度のフィラメント交換指示につき、一方向に90°ずつ回転していくことになる。
ここで、正確な所定角度分の回転を実現するために、回転した角度を検知する回転位置確認センサ16aを設けておき、回転動作後に正確な所定角度分の回転が行われていない場合には異常状態であると検出して所定角度分の回転動作を再実行するようにしても良い。ここで、回転位置確認センサ16aとしては、例えば、レーザーや赤外線を利用し、回転後の位置が所定の座標位置に正確に移動したか否かを検出するような構成のもの等がある。
また、このフィラメント交換機構において、例えば図2のような前記フィラメント嵌合部材15と対向する位置に、高電圧印加手段(図示せず)により高圧安全回路19bを介してフィラメント14aに高電圧を印加するための高圧ケーブル19aが備えられている。この高圧ケーブル19aは、前記フィラメント嵌合部材15に嵌合した状態のフィラメント14aに接続及び取り外し可能な構成となっている。
さらに、この高圧ケーブル19aは、高圧ケーブル19aとフィラメント14aとの接続及び取り外しを行うケーブル接続手段(図示せず)によって接続及び取り外し動作が行われる構成となっている。そして、装置のオペレータが例えばフィラメント交換指示を装置に入力することにより、前記駆動手段による前記保持板13の移動動作及び回転動作に先駆けて、ケーブル接続手段による高圧ケーブル19aの取り外し動作が行われ、前記駆動手段による前記保持板13の移動動作及び回転動作の終了後に、再度このケーブル接続手段による高圧ケーブル19aの接続動作が行われる。
ここで、高圧ケーブル19aにフィラメント位置確認センサ16bを設けておき、高圧ケーブル19aとフィラメント14aとの接続時に、正確に接続されない場合にはフィラメント14aの位置が異常状態であると検出して、前記駆動手段による前記保持板13の移動動作及び回転動作を再実行するようにしても良い。
また、保存室12には、上記実施形態と同様に排気口18が設けられ、この排気口18には保存室12内を真空状態にするための排気手段(図示せず)が接続されている。保存室12内の真空状態は、試料分析室11内と同レベルとなるよう常に排気が行われており、これにより保存中のフィラメント14b〜14dが汚染、劣化することはない。
そして、このような構成を有するフィラメント交換機構において、オペレータからのフィラメント交換指示が入力されると、まず前記ケーブル接続手段が作動し、図3(a)のように、フィラメント14aからの高圧ケーブル19aの取り外し動作が実行される。続いて前記駆動手段が作動して、図3(b)のように、保持板13がフィラメント嵌合部材15から離れる移動動作が実行され、当初フィラメント嵌合部材15に嵌合されていたフィラメント14aがフィラメント嵌合部材15から取り外された状態となった後に、上述のような保持板13の回転動作が実行される。こうして、当初フィラメント嵌合部材15に嵌合されていたフィラメント14aの位置に、該フィラメント14aの隣に配置されているフィラメント14bが移動した状態になる。
そして、前記駆動手段によって再び保持板13がフィラメント嵌合部材15に近付く移動動作が実行され、新たなフィラメント14bがフィラメント嵌合部材15に嵌合されて図3(a)のような状態となり、続いて前記ケーブル接続手段によって、このフィラメント14bへの高圧ケーブル19aの接続動作が実行され、図2(b)のような状態となる。こうして、当初フィラメント嵌合部材15に嵌合されていたフィラメント14aと、該フィラメント14aの隣に配置されているフィラメント14bとが交換された状態になる。また、この移動動作により新たなフィラメント14bがフィラメント嵌合部材15に嵌合されると、前記保持板13は再度、試料分析室11と保存室12とを遮蔽する遮蔽壁の役割を果たすこととなる。
このように、本実施形態に係るフィラメント交換機構を用いることによっても、試料分析室11のフィラメント嵌合部材15に当初配置されていたフィラメント14aが劣化や断線等により交換する必要が生じた場合、オペレータからの交換指示入力に基づく前記保持板13の回転動作によって、この交換対象のフィラメント14aと、保存室12に当初配置されていた予備フィラメント14bとを、自動的に交換することができる。従って、フィラメント交換作業に手間がかからず、時間の短縮も実現できる。
また本実施形態では、前述の実施形態と異なり、予備フィラメント14b〜14dを複数備えておくことができる。従って、より一層フィラメント交換作業に手間がかからず、時間の短縮も実現できる。
尚、上記各実施形態においても、全てのフィラメントを交換し尽くした場合には、保存室の真空を破って大気開放し、例えばこの保存室の側壁に設けられている交換ドア(図示せず)を開けて、人手によりフィラメントを全面的に交換することとなる。
1 試料分析室、2 保存室、3 保持板、4a,4b フィラメント、5 絶縁材、6a フィラメント位置確認センサ、6b 回転ストッパ、7 カソード電極、7a カソード保持部材、8 排気口、9a,9b 高圧ケーブル、9c 高圧安全回路。
Claims (6)
- 試料分析室の所定位置に配置されるフィラメントと、前記試料分析室に隣接する保存室に配置される、前記フィラメントと交換するための少なくとも一つの予備フィラメントとを保持可能で、且つ前記試料分析室と前記保存室とを遮蔽可能な保持板と、
前記保持板に保持されたフィラメントを前記所定位置から移動させると共に、前記保持板に保持された予備フィラメントの内の一つを前記所定位置に移動させるよう、前記保持板を動かす駆動手段と、
を有することを特徴とするフィラメント交換機構。 - 請求項1に記載のフィラメント交換機構において、
前記保持板は、前記駆動手段により該保持板の中心を通る軸周りに、面法線方向に回転可能とし、且つ、1つの前記フィラメントと1つの前記予備フィラメントとを、該予備フィラメントが前記軸に対し前記フィラメントと対称な位置関係となるよう、保持板の表裏にそれぞれ保持可能とすることを特徴とするフィラメント交換機構。 - 請求項2に記載のフィラメント交換機構において、
前記保持板は、前記駆動手段により180°回転することを特徴とするフィラメント交換機構。 - 請求項2又は3に記載のフィラメント交換機構において、
前記保持板は、前記フィラメント及び予備フィラメントのそれぞれに高電圧を印加するための高圧ケーブルを内蔵し、
さらに、試料分析室の所定位置に配置するフィラメント及び予備フィラメントの何れか一つに対し、前記高圧ケーブルを介して高電圧を印加する高電圧印加手段を備えることを特徴とするフィラメント交換機構。 - 請求項1に記載のフィラメント交換機構において、
前記保持板は、前記フィラメントと少なくとも一つの予備フィラメントを該保持板の一方の面上に、保持板の中心より等距離で且つ互いに等間隔となるよう保持可能とし、且つ、前記駆動手段により該保持板の中心を通る面法線周りに回転可能で且つ当該面法線方向に移動可能とすることを特徴とするフィラメント交換機構。 - 請求項5に記載のフィラメント交換機構において、
前記所定位置に配置されたフィラメントに接続及び取り外し可能な、フィラメントに高電圧を印加するための高圧ケーブルと、
前記高圧ケーブルと前記所定位置のフィラメントとの接続及び取り外しを行うケーブル接続手段と、
前記高圧ケーブルを介して高電圧を印加する高電圧印加手段と、
を備えることを特徴とするフィラメント交換機構。
Priority Applications (1)
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JP2004200524A JP2006024420A (ja) | 2004-07-07 | 2004-07-07 | フィラメント交換機構 |
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009146884A (ja) * | 2007-11-22 | 2009-07-02 | Mamoru Nakasuji | 電子銃及び電子線装置 |
US7902529B2 (en) * | 2007-08-02 | 2011-03-08 | Thermo Finnigan Llc | Method and apparatus for selectively providing electrons in an ion source |
US20120288800A1 (en) * | 2011-05-09 | 2012-11-15 | Canon Kabushiki Kaisha | Electron beam drawing apparatus and method of manufacturing device |
JP2018045905A (ja) * | 2016-09-15 | 2018-03-22 | 日新イオン機器株式会社 | イオン源 |
CN110223900A (zh) * | 2019-05-09 | 2019-09-10 | 广东省韶关市质量计量监督检测所 | 一种利用体视显微镜对中扫描电镜钨灯丝的操作方法 |
JP2020140834A (ja) * | 2019-02-27 | 2020-09-03 | 株式会社ニューフレアテクノロジー | 電子銃及び荷電粒子線装置 |
-
2004
- 2004-07-07 JP JP2004200524A patent/JP2006024420A/ja not_active Withdrawn
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7902529B2 (en) * | 2007-08-02 | 2011-03-08 | Thermo Finnigan Llc | Method and apparatus for selectively providing electrons in an ion source |
JP2009146884A (ja) * | 2007-11-22 | 2009-07-02 | Mamoru Nakasuji | 電子銃及び電子線装置 |
US20120288800A1 (en) * | 2011-05-09 | 2012-11-15 | Canon Kabushiki Kaisha | Electron beam drawing apparatus and method of manufacturing device |
JP2018045905A (ja) * | 2016-09-15 | 2018-03-22 | 日新イオン機器株式会社 | イオン源 |
JP2020140834A (ja) * | 2019-02-27 | 2020-09-03 | 株式会社ニューフレアテクノロジー | 電子銃及び荷電粒子線装置 |
CN110223900A (zh) * | 2019-05-09 | 2019-09-10 | 广东省韶关市质量计量监督检测所 | 一种利用体视显微镜对中扫描电镜钨灯丝的操作方法 |
CN110223900B (zh) * | 2019-05-09 | 2021-07-30 | 广东省韶关市质量计量监督检测所 | 一种利用体视显微镜对中扫描电镜钨灯丝的操作方法 |
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