JP2006021913A - Clean stocker - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a clean stocker for improving the manufacturing yield and quality of stored objects while preventing the deposition of harmful materials such as water on the stored objects such as wafers during storage and surely preventing the destruction of devices resulting from electric charge. <P>SOLUTION: The clean stocker comprises a house 10 having a carry-in port 11 and a carry-out port 12 and including a stocker crane 14 provided between a plurality of stages of shelves 13 for storing the stored objects 3, 5 and the carry-in/-out port in a travelling manner for putting the stored objects in and out of the shelves and a clean air circulating means 15 for making cleaned air flow in the house 10. In the house 10, a clean dry air supply pipe 16 is provided to be filled with clean dry air from which molecular contaminants are removed down to a level of 10 ppb or less and which has an atmospheric pressure dew point of -100°C or lower. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、半導体ウエハ等の水分や微細な汚染物質の付着を嫌う保管物を一時保管するためのクリーンストッカーに関するものである。   TECHNICAL FIELD The present invention relates to a clean stocker for temporarily storing stored items such as semiconductor wafers that do not like adhesion of moisture and fine contaminants.

半導体用ウエハやLCD(液晶ディスプレイ)、PDP(プラズマディスプレイ)、EL(電界発光ディスプレイ)等の平板ディスプレイ用ガラス基板の製造工場等においては、上記半導体用ウエハやガラス基板等(以下、ウエハ等と称す。)を一の製造工程から他の製造工程へと搬送する過程で、時間調整等のためにこれらを一時保管しておくクリーンストッカーが設けられている。   In manufacturing plants for semiconductor substrates, glass substrates for flat panel displays such as LCD (Liquid Crystal Display), PDP (Plasma Display), EL (Electroluminescent Display), etc., the above-mentioned semiconductor wafers, glass substrates, etc. A clean stocker is provided for temporarily storing them for time adjustment and the like in the process of transporting from one manufacturing process to another manufacturing process.

図6は、従来のこの種のクリーンストッカーを示すもので、紙面の表裏方向に搬入口および搬出口が設けられた建屋1の内部の両側に、カセット3を収納する複数段の棚2が配設され、これら棚2間の中央部分に、棚2に対するカセット3の出し入れを行うストッカークレーン(図示を略す。)が、棚2と上記搬入口および搬出口との間に走行自在に設けられるとともに、各棚2の後面側に、清浄化した空気を建屋1内に流動させるファンフィルターユニット4が設けられたものである。   FIG. 6 shows a conventional clean stocker of this type. A plurality of shelves 2 for storing cassettes 3 are arranged on both sides of a building 1 provided with a carry-in port and a carry-out port in the front and back direction of the paper. A stocker crane (not shown) for inserting / removing the cassette 3 to / from the shelf 2 is provided between the shelf 2 and the carry-in port and carry-out port at a central portion between the shelves 2. The fan filter unit 4 for allowing the cleaned air to flow into the building 1 is provided on the rear side of each shelf 2.

ここで、図7(a)に示すように、カセット3内は、カセットピン3aによって上下方向に複数段に区切られており、これらカセットピン3a間に、保管物である複数枚の上記ウエハ等5が隣接するものと相互干渉しないように格納されている。
また、建屋1の上下部側壁には、それぞれ内部にクリーンエア(清浄空気)を供給する吸気口6が設けられるとともに、底部には排気口7が設けられている。
Here, as shown in FIG. 7A, the inside of the cassette 3 is divided into a plurality of stages in the vertical direction by the cassette pins 3a, and a plurality of the above-mentioned wafers, etc., which are stored items, are interposed between these cassette pins 3a. 5 is stored so as not to interfere with the adjacent ones.
In addition, the upper and lower side walls of the building 1 are each provided with an intake port 6 for supplying clean air (clean air) therein, and an exhaust port 7 at the bottom.

上記構成からなる従来のクリーンストッカーにおいては、吸気口6から建屋1の内部に湿度が約45%前後に調整されたクリーンエアを供給し、これをファンフィルターユニット4によって清浄化しつつ、内部に循環させるとともに、内部の温度を制御するために、一定量を底部の排気口7から外部に抜き出している。   In the conventional clean stocker having the above configuration, clean air whose humidity is adjusted to about 45% is supplied from the air inlet 6 to the inside of the building 1 and is circulated inside while being cleaned by the fan filter unit 4. In addition, in order to control the internal temperature, a certain amount is extracted from the bottom exhaust port 7 to the outside.

ところで、近年における上記半導体用ウエハや平板ディスプレイ用ガラス基板の大型化および細密化に伴って、クリーンストッカー内におけるウエハ等5の表面への分子レベルでの水分の付着や、微細な有機物等の汚染物質の付着が問題となりつつある。   By the way, along with the recent increase in size and densification of the semiconductor wafer and the flat display glass substrate, the adhesion of moisture at the molecular level to the surface of the wafer 5 etc. in the clean stocker and the contamination of fine organic matter, etc. Material adhesion is becoming a problem.

すなわち、上記半導体用ウエハや各種の平板ディスプレイ用ガラス基板にあっては、その表面に水分が吸着すると、自然酸化膜成長を促進したり、その内部に金属や有機物が溶け込んで新たな汚染源となり得る。また特に、水分が付着した表面にプロセスチャンバ内において腐食性ガスが接触すると、水分層にガス分子が溶け込み、活性なイオンとなって金属表面を腐食することも知られている。   That is, in the semiconductor wafer and various flat display glass substrates, when moisture is adsorbed on the surface, the growth of a natural oxide film can be promoted, or a metal or an organic substance can be dissolved therein to become a new contamination source. . In particular, it is also known that when a corrosive gas comes into contact with moisture on the surface in the process chamber, gas molecules dissolve into the moisture layer and become active ions to corrode the metal surface.

また、上記空気中に含まれる微細な有機物等の汚染物質が、上記ウエハやガラス基板に付着すると、後工程において金属膜を形成した際に、絶縁抵抗が得られなくなったり、あるいは当該金属膜の剥離を招くおそれがある。   In addition, if contaminants such as fine organic substances contained in the air adhere to the wafer or glass substrate, when a metal film is formed in a later process, insulation resistance cannot be obtained, or the metal film There is a risk of peeling.

ところが、上記従来のクリーンストッカーにおいては、吸気口6から建屋1の内部に供給されるクリーンエアとして、約45%の湿度の調整されているものを使用しているために、このようなウエハ等5の表面への極僅かな水分の付着を防止することができない。   However, in the conventional clean stocker, since clean air supplied to the interior of the building 1 from the air inlet 6 is adjusted to a humidity of about 45%, such a wafer or the like is used. 5 cannot be prevented from adhering to the surface.

また、空気中に含まれるパーティクルについては、ひとまずファンフィルターユニット4によって除去することは可能であるが、有機物等の汚染物質は除去することができない。加えて、これら微細な汚染物質は、吸気口6から供給されるクリーンエアに含まれるものの他、建屋1内部において、その内壁や棚2等を構成する部材自体、あるいは内部に配線されたケーブル類の絶縁材等からも経時的に放出される。   Further, particles contained in the air can be removed by the fan filter unit 4 for the time being, but contaminants such as organic substances cannot be removed. In addition, these fine pollutants are contained in the clean air supplied from the air inlet 6, and the members constituting the inner walls and shelves 2, etc. in the interior of the building 1, or cables wired in the interior Also, it is released from the insulating material over time.

このため、例えば温度制御上、排気口7からクリーンエアの排気量が少なくなって、内部で循環される量が増加すると、上記汚染物質の濃度が次第に高くなって、ウエハ等5の表面への付着が無視できなくなるおそれがある。   For this reason, for example, when the amount of clean air exhausted from the exhaust port 7 decreases and the amount circulated inside increases due to temperature control, the concentration of the contaminants gradually increases to the surface of the wafer 5 or the like. Adhesion may not be negligible.

また、一般に上記ウエハ等5を搬送する場合には、図7(a)に示すように、複数枚を一のカセット3内に格納して一括搬送しているが、同図(b)に示すように、搬送中の振動によりカセットピン3aとウエハ等5が接触・摺動し、ウエハ等5に静電気が帯電する。このため、従来は、図8に示すように、各工程における装置A、Bにおいて、上記ウエハ等5の除電を行っている。   In general, when the wafer 5 or the like is transferred, as shown in FIG. 7A, a plurality of sheets are stored in one cassette 3 and transferred in a batch, but as shown in FIG. As described above, the cassette pins 3a and the wafer 5 are brought into contact with and slid by the vibration during the transfer, and the wafer 5 is charged with static electricity. For this reason, conventionally, as shown in FIG. 8, in the apparatuses A and B in each process, the above-mentioned wafer 5 is neutralized.

ところが、図8に示すように、前工程の装置Aにおいて除電されて0(V)となっている場合においても、当該装置Aからクリーンストッカーへ搬送し、これから後工程の装置Bへと搬送する際に、帯電量は増加し続けるために、これが許容値X(V)を超えると、後工程の装置Bで除電操作を行う前に、放電現象が発現してデバイス破壊が起こるおそれがある。   However, as shown in FIG. 8, even when the static electricity is removed from the apparatus A in the previous process and becomes 0 (V), it is transported from the apparatus A to the clean stocker and is transported to the subsequent process apparatus B. At this time, since the amount of charge continues to increase, if this exceeds the allowable value X (V), there is a possibility that a discharge phenomenon will occur and the device may be destroyed before the neutralization operation is performed in the apparatus B in the subsequent process.

本発明は、かかる事情に鑑みてなされたもので、保管時におけるウエハ等の保管物への水分等の有害物質の付着を防止することができ、さらには帯電に起因するデバイス破壊を確実に防止することができ、よって当該保管物の製造歩留まりや品質の向上を図ることができるクリーンストッカーを提供することを課題とするものである。   The present invention has been made in view of such circumstances, and can prevent adhesion of harmful substances such as moisture to stored items such as wafers during storage, and also reliably prevent device destruction caused by charging. Therefore, it is an object of the present invention to provide a clean stocker capable of improving the production yield and quality of the stored items.

上記課題を解決するために、請求項1に記載の発明は、搬入口および搬出口が設けられた建屋の内部に、保管物を収納する複数段の棚と、上記搬入口および搬出口との間に走行自在に設けられ、上記棚に対する上記保管物の出し入れを行うストッカークレーンとが設けられるとともに、清浄化した空気を上記建屋内に流動させる清浄空気循環手段が設けられたクリーンストッカーであって、上記建屋に、内部を分子状汚染物質が10ppb以下に除去された大気圧露点−100℃以下のクリーンドライエア(以下、超低露点空気と称す。)によって充満させるクリーンドライエアの供給管を設けたことを特徴とするものである。なお、上記平板状部材が、極度に分子状汚染物質を嫌うものである場合には、上記超低露点空気として、5ppb以下の分子状汚染物質が除去されたものを用いることが一層好ましい。   In order to solve the above-mentioned problem, the invention according to claim 1 includes a plurality of shelves for storing stored items inside the building provided with a carry-in port and a carry-out port, and the carry-in port and the carry-out port. A clean stocker provided with a clean air circulating means for flowing clean air into the building, provided with a stocker crane that is movably provided between the shelf and for taking in and out the stored items. The above building was provided with a clean dry air supply pipe filled with clean dry air (hereinafter referred to as ultra-low dew point air) having an atmospheric pressure dew point of −100 ° C. or less in which molecular contaminants were removed to 10 ppb or less. It is characterized by this. If the flat plate member is extremely disliked by molecular contaminants, it is more preferable to use the ultra low dew point air from which molecular contaminants of 5 ppb or less have been removed.

ここで、上記超低露点空気は、例えばシリカゲル等の高い吸水性を有する円板状部材を複数段に設け、これら円板状部材を回転させつつ、外気をブロアーから上記複数段の円板状部材の一区画に通過させて、順次その露点を下げるとともに、水分を吸収した上記円板状部材を上記回転方向の他の区画において、ヒータ等により乾燥する周知の超低露点空気の供給装置によって得ることができる。   Here, the ultra-low dew point air is provided with a plurality of disk-shaped members having high water absorption, such as silica gel, for example, and the plurality of stages of disk-shaped members are rotated from the blower while rotating the disk-shaped members. Passing through one section of the member, the dew point is lowered in sequence, and the disk-shaped member that has absorbed moisture is dried by a known ultra-low dew point air supply device in other sections in the rotational direction by a heater or the like. Obtainable.

なお、上記超低露点空気の供給装置によれば、複数段に配されたシリカゲル等の円板状部材を通過する際に、空気中に含まれる有機物等の汚染物質も捕集・除去されるが、さらに最終段に所定のULPAフィルタを設置することにより、分子状汚染物質が10ppb以下に除去された清浄な上記超低露点空気を得ることができる。   According to the above ultra-low dew point air supply device, contaminants such as organic matter contained in the air are also collected and removed when passing through a disk-shaped member such as silica gel arranged in a plurality of stages. However, by installing a predetermined ULPA filter in the final stage, it is possible to obtain clean ultra-low dew point air from which molecular contaminants have been removed to 10 ppb or less.

また、請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の建屋には、その内部を陽圧に保持しつつ上記クリーンドライエアを回収する排気管が設けられていることを特徴とするものである。   The invention according to claim 2 is characterized in that the building according to claim 1 is provided with an exhaust pipe for collecting the clean dry air while keeping the inside at a positive pressure. is there.

さらに、請求項3に記載の発明は、請求項1または2に記載の建屋内には、上記保管物に向けて軟X線を照射することにより当該保管物の除電を行う軟X線除電装置が設置されていることを特徴とするものである。   Furthermore, the invention described in claim 3 is a soft X-ray static eliminator that neutralizes the stored matter by irradiating the stored matter with soft X-rays in the building according to claim 1 or 2. Is installed.

ここで、請求項4に記載の発明は、請求項3に記載の発明において、上記ストッカークレーンが、基台上に立設されたマストに上記保管物を載置するキャリッジが昇降自在かつ鉛直軸線回りに回転自在に設けられ、かつ上記軟X線除電装置が、上記キャリッジ側に向けて上記軟X線を照射するように上記マストに取り付けられていることを特徴とするものである。   The invention according to claim 4 is the invention according to claim 3, wherein the stocker crane is configured such that a carriage on which the stored item is placed on a mast erected on a base is freely movable up and down and has a vertical axis. The soft X-ray static eliminator is attached to the mast so as to irradiate the soft X-ray toward the carriage.

請求項1〜4のいずれかに記載の発明によれば、クリーンドライエアの供給管から内部に、上記超低露点空気を供給して充満させ、これをさらにファンフィルターユニット等の清浄吸気循環手段によって当該建屋内に流動させているので、上記超低露点空気が、大気圧露点が−100℃以下であって、かつ分子状汚染物質が10ppb以下に除去されていることから、保管中に、上記保管物に有害となる水分や有機物等の汚染物質が付着するおそれがない。この結果、上記保管物の製造歩留まりや品質の向上を図ることができる。   According to the invention described in any one of claims 1 to 4, the ultra-low dew point air is supplied and filled from a clean dry air supply pipe, and this is further filled by a clean intake air circulation means such as a fan filter unit. Since it is made to flow into the building, the ultra-low dew point air has an atmospheric pressure dew point of −100 ° C. or less and molecular contaminants are removed to 10 ppb or less. There is no risk of contaminants such as moisture and organic matter that would be harmful to stored items. As a result, the production yield and quality of the stored items can be improved.

また、請求項2に記載の発明においては、建屋内部を陽圧に保持しつつ上記超低露点空気を回収する排気管を設けているので、従来のものと同様に、内部の温度制御が容易になるとともに、さらに建屋内でその構成部材等から発生する分子または分子レベルの汚染物質についても、上記排気管から排気される超低露点空気と共に外部に排出することができる。よって、常時建屋内を上記超低露点空気の雰囲気下に保持することができるとともに、内部が常に陽圧に保持されているために、外部の空気が建屋内に流入することも防止することができる。   Further, in the invention described in claim 2, since the exhaust pipe for collecting the ultra-low dew point air is provided while the interior of the building is kept at a positive pressure, the internal temperature control is easy as in the prior art. In addition, molecules or molecular level contaminants generated from the constituent members in the building can be discharged to the outside together with the ultra-low dew point air exhausted from the exhaust pipe. Therefore, it is possible to always keep the building in the atmosphere of the above-mentioned ultra-low dew point air and to prevent the outside air from flowing into the building because the inside is always kept at a positive pressure. it can.

ところで、上述したように、建屋の内部を超低露点空気の雰囲気下に保持すると、露点が極めて低いために、従来のものよりも一層保管物に静電気が発生し易くなる。この結果、図8に示したように、クリーンストッカーへの前後の搬入時に、当該保管物に放電が生じて損傷等を受けるおそれが増加する。   By the way, as described above, when the interior of the building is held in an atmosphere of ultra-low dew point air, the dew point is extremely low, so that static electricity is more likely to be generated in stored items than the conventional one. As a result, as shown in FIG. 8, at the time of carrying back and forth to the clean stocker, there is an increased possibility that the stored item will be discharged and damaged.

この点、請求項3に記載の発明によれば、建屋内に上記保管物に向けて軟X線を照射することにより当該保管物の除電を行う軟X線除電装置を設置しているので、かかる弊害が生じることを未然に防止することが可能になる。   In this regard, according to the invention described in claim 3, since a soft X-ray static eliminator is installed in the building to remove static electricity from the stored item by irradiating the stored item with soft X-rays. It is possible to prevent such adverse effects from occurring.

ここで、上記保管物の除電を行うに際して、一般的な電極間においてイオンを発生させるイオナイザーを使用すると、当該イオン発生時にオゾンが発生したり、あるいは電極の摩耗により汚染物質となるパーティクルが発生するといった不都合があるが、請求項3に記載の発明においては、敢えて微弱なX線を直接保管物に照射して、その周囲の雰囲気をイオン化させることにより、当該保管物の除電を行う軟X線除電装置を使用しているので、上記弊害が生じることも防ぐことができる。   Here, when performing neutralization of the above-mentioned stored items, if an ionizer that generates ions between general electrodes is used, ozone is generated when the ions are generated, or particles that become pollutants are generated due to electrode wear. However, in the invention described in claim 3, soft X-rays are used to neutralize the stored items by directly irradiating the stored items with weak X-rays and ionizing the surrounding atmosphere. Since the static eliminator is used, the above-described adverse effects can be prevented.

なお、上記保管物は、建屋内の複数段の棚に分散配置されているために、請求項3に記載の軟X線除電装置を上記棚に設けようとすると、多数の装置が必要になり、当該装置が高価であることからも現実的でない。そこで、軟X線除電装置の設置位置としては、全ての保管物が通過する搬入口および搬出口のコンベア部等が適用可能である。   Since the stored items are distributed and arranged on a plurality of shelves in the building, a large number of devices are required if the soft X-ray static eliminator according to claim 3 is provided on the shelves. This is not realistic because the device is expensive. Therefore, as the installation position of the soft X-ray static eliminator, a carry-in entrance through which all stored items pass and a carry-out exit conveyor section can be applied.

さらに、ストッカークレーンは、搬入口から搬入された保管物を、棚の様々な位置に収納する必要があるため、通常基台上に立設されたマストに、上記保管物を載置するキャリッジが昇降自在かつ鉛直軸線回りに回転自在に設けられた構成となっている。そこで、請求項4に記載の発明のように、上記軟X線除電装置を、上記マストに取り付ければ、キャリッジの昇降および回転動作を利用して、当該キャリッジ上の保管物に向けて様々な方向から軟X線を照射することにより、最小の台数で最大の除電効果を得ることができる。   Furthermore, since the stocker crane needs to store the stored items carried in from the entrance at various positions on the shelf, a carriage for placing the stored items on the mast usually standing on the base is provided. It is configured to be movable up and down and rotatable about a vertical axis. Therefore, if the soft X-ray static eliminator is attached to the mast as in the invention described in claim 4, various directions are directed toward the stored items on the carriage by using the lifting and rotating operations of the carriage. By irradiating with soft X-rays, the maximum static elimination effect can be obtained with the minimum number of units.

図1〜図5は、本発明のクリーンストッカーの一実施形態を示すもので、このクリーンストッカーは、半導体用ウエハ、あるいはLCD、PDP、EL等の平板ディスプレイ用ガラス基板といった表面に水分や分子レベルの有機物等の汚染物質の付着を嫌う各種の保管物に適用可能なものである。   1 to 5 show an embodiment of a clean stocker according to the present invention. This clean stocker has a moisture or molecular level on the surface of a semiconductor wafer or a glass substrate for flat display such as LCD, PDP, EL, etc. It can be applied to various stored items that do not like the adhesion of pollutants such as organic substances.

このクリーンストッカーの建屋10においては、図2中両端部に、それぞれ保管物の入出庫時に開閉する搬入口11および搬出口12が設けられ、内部両側に、図7(a)に示したものと同様の複数枚のウエハ等(保管物)5を格納したカセット3を収納するための複数段の棚13が配設されている。そして、これら棚13間に、搬入口11から搬出口12に至るレール14aが敷設され、このレール14a上に、棚13に対するカセット3の出し入れを行うストッカークレーン14が走行自在に設けられている。   In the clean stocker building 10, both ends in FIG. 2 are provided with an entrance 11 and an exit 12 that are opened and closed at the time of storage and retrieval of stored items, respectively, and those shown in FIG. A plurality of shelves 13 for storing cassettes 3 storing a plurality of similar wafers (stored items) 5 are arranged. Between these shelves 13, a rail 14 a extending from the carry-in port 11 to the carry-out port 12 is laid, and a stocker crane 14 for taking in and out the cassette 3 with respect to the shelf 13 is movably provided on the rail 14 a.

また、各棚13における後面側に、清浄化した空気をカセット3側に噴出して建屋10内に流動させるファンフィルターユニット(清浄空気循環手段)15が設けられている。
他方、ストッカークレーン14の搬送路の上方に位置する建屋10の天井部には、上記超低露点空気を建屋10内に充満させるためのクリーンドライエアの供給管16が設けられている。
A fan filter unit (clean air circulating means) 15 is provided on the rear side of each shelf 13 to eject the cleaned air to the cassette 3 side and flow into the building 10.
On the other hand, a clean dry air supply pipe 16 for filling the inside of the building 10 with the ultra-low dew point air is provided at the ceiling of the building 10 located above the conveying path of the stocker crane 14.

この供給管16は、ストッカークレーン14の搬送路に沿って複数箇所(図では4箇所)に設けられており、いずれも図示されない1基の超低露点空気の供給装置から導出されている。また、建屋10の外壁は、図3(a)、(b)に示すように、所定間隔をおいて立設されたフレーム17間に外板18が渡されることにより構成されており、内部の気密性を高めるために、隣接する外板18にパッキン19が貼設されるとともに、これらパッキン19間に、フレーム17を跨いで外板18との間の隙間を封じるテープ20が貼設されている。   The supply pipes 16 are provided at a plurality of locations (four locations in the figure) along the transport path of the stocker crane 14, and all of them are derived from a single ultra-low dew point air supply device (not shown). Further, as shown in FIGS. 3A and 3B, the outer wall of the building 10 is configured by passing an outer plate 18 between frames 17 erected at a predetermined interval. In order to improve the airtightness, a packing 19 is attached to the adjacent outer plate 18, and a tape 20 is attached between these packings 19 to straddle the frame 17 and seal the gap between the outer plate 18. Yes.

そして、棚13の後面側と建屋10の側壁との間の空間の上方には、建屋内を陽圧に保持しつつ超低露点空気を回収する排気管21が設けられ、この排気管21で回収されたクリーンドライエアが、再び上記超低露点空気の供給装置の取り入れ側に戻されるようになっている。   An exhaust pipe 21 is provided above the space between the rear surface side of the shelf 13 and the side wall of the building 10 to collect ultra-low dew point air while keeping the building at a positive pressure. The collected clean dry air is again returned to the intake side of the ultra-low dew point air supply device.

また、図4に示すように、ストッカークレーン14は、下部サドル(基台)22の下面に取り付けられた車輪23によって上記レール14a上に移動自在に設けられており、この下部サドル22上には、棚13と略同高さ寸法を有する一対のマスト24が立設されている。そして、このマスト24に沿って、カセット3が載置されるキャリッジ25が図中矢印で示すように、昇降自在かつ鉛直軸線回りに回転自在に設けられている。   As shown in FIG. 4, the stocker crane 14 is movably provided on the rail 14 a by a wheel 23 attached to the lower surface of the lower saddle (base) 22. A pair of masts 24 having substantially the same height as the shelf 13 are erected. A carriage 25 on which the cassette 3 is placed is provided along the mast 24 so as to be movable up and down and rotatable about a vertical axis as indicated by an arrow in the figure.

さらに、各々のマスト24の高さ方向のほぼ中間部には、軟X線除電装置26が設けられている。この軟X線除電送値26は、キャリッジ25上のカセット3に向けて、微弱なX線を、図中点線矢印で示すように、鉛直方向および水平方向共に約115°の照射角度で照射するように取り付けられている。他方、ストッカークレーン14には、搬入または搬出時に、カセット3を載置したキャリッジ25を一旦軟X線除電装置26の高さ位置において昇降させつつ、その軸線回りに回転させる除電操作の実行およびその不実行を選択可能な制御シークエンスが組み込まれている。   Further, a soft X-ray neutralizing device 26 is provided at a substantially middle portion of each mast 24 in the height direction. This soft X-ray charge removal value 26 irradiates weak X-rays toward the cassette 3 on the carriage 25 at an irradiation angle of about 115 ° in both the vertical direction and the horizontal direction as indicated by the dotted arrows in the figure. It is attached as follows. On the other hand, when the stocker crane 14 is loaded or unloaded, the carriage 25 on which the cassette 3 is placed is temporarily moved up and down at the height position of the soft X-ray discharger 26 and rotated around its axis, A control sequence that can select non-execution is incorporated.

そして、このクリーンストッカーにおいては、建屋10の内壁および内部の各装置の構成部材が、いずれも水枯れ性がよく、かつそれ自体から有機物をほとんど発生しない材料形成されている。例えば、ファンフィルターユニット15については、そのケーシングが従来ステンレス鋼に代えてガルバニウム鋼板が用いられ、ファルターとしてもアウトガス対策が施されたULPAが用いられている。   In this clean stocker, the inner wall of the building 10 and the constituent members of the internal devices are all formed of a material that has good drainage and hardly generates organic matter from itself. For example, the fan filter unit 15 uses a galvanium steel plate as its casing instead of conventional stainless steel, and uses ULPA with a countermeasure against outgas as a filter.

また、棚13やストッカークレーン14の構成部材については、表面に黄色亜鉛クロメートメッキが施され、外装パネルや制御盤等のカバーには、アルミ白アルマイト塗装が施されている。さらに、各種のケーブル類も、低アウトガスケーブルが用いられ、グリースについても、低揮発性グリースが用いられている。   Moreover, about the structural member of the shelf 13 or the stocker crane 14, yellow zinc chromate plating is given to the surface, and aluminum white alumite coating is given to covers, such as an exterior panel and a control panel. Furthermore, low outgas cables are used for various cables, and low volatile grease is also used for grease.

以上の構成からなるクリーンストッカーにおいては、クリーンドライエアの供給管16から建屋10の内部に超低露点空気を供給すると、この超低温露点空気は、ストッカークレーン14の搬送路を降下して、底部から棚13の後方へと回り込む。そして、ファンフィルターユニット15を通じてカセット3側へと送気されることにより、建屋10内を充満しつつ循環される。これと併行して、温度制御等のために、建屋10内を陽圧に保持しつつ、その一部は排気管21から回収され、上記超低露点空気の供給装置を経て再利用される。   In the clean stocker having the above configuration, when ultra-low dew point air is supplied into the building 10 from the clean dry air supply pipe 16, the ultra-low temperature dew point air descends the transport path of the stocker crane 14 and shelves from the bottom. Go around 13 backwards. Then, the air is supplied to the cassette 3 side through the fan filter unit 15, and thus the inside of the building 10 is filled and circulated. At the same time, a part of the building 10 is recovered from the exhaust pipe 21 and reused through the ultra-low dew point air supply device while maintaining the interior of the building 10 at a positive pressure for temperature control and the like.

また、ストッカークレーン14によってカセット3を搬入または搬出する際に、要すれば、当該ストッカークレーン14の制御シークエンスによって、一旦カセット3を載置したキャリッジ25を軟X線除電装置26の高さ位置に移動させ、当該位置において昇降および軸線回りに回転させつつ、軟X線除電装置26を作動させて微弱なX線を直接ウエハ等5に照射し、その周囲の雰囲気をイオン化させることにより、ウエハ等5の除電を行う。   Further, when the cassette 3 is carried in or out by the stocker crane 14, if necessary, the carriage 25 on which the cassette 3 is once placed is brought to the height position of the soft X-ray static elimination device 26 by the control sequence of the stocker crane 14. The wafer is moved by moving the soft X-ray static elimination device 26 while moving it up and down and rotating around the axis so that weak X-rays are directly irradiated to the wafer 5 and the like, and the surrounding atmosphere is ionized. 5 is removed.

以上のように、上記クリーンストッカーによれば、建屋10内を流動する超低露点空気が、大気圧露点が−100℃以下であって、かつ分子状汚染物質が10ppb以下に除去されているために、保管中に、カセット3内のウエハ等5に有害となる水分や有機物等の汚染物質が付着するおそれがない。この結果、上記ウエハ等5の製造歩留まりや品質の向上を図ることができる。   As described above, according to the clean stocker, the ultra-low dew point air flowing in the building 10 has an atmospheric pressure dew point of −100 ° C. or less and molecular contaminants are removed to 10 ppb or less. In addition, there is no possibility that contaminants such as moisture and organic matter which are harmful to the wafer 5 in the cassette 3 adhere during storage. As a result, the manufacturing yield and quality of the wafer 5 can be improved.

また、建屋10内を陽圧に保持しつつ上記超低露点空気を回収する排気管21を設けているので、内部の温度制御が容易になるとともに、万一建屋10内で汚染物質が発生していても、これを排気管21から排気される超低露点空気と共に外部に排出することができる。しかも、内部が常に陽圧に保持されているために、常時建屋10内を超低露点空気の雰囲気下に保持することができるとともに、外部の空気が建屋10内に流入することも防止することができる。   In addition, since the exhaust pipe 21 for collecting the ultra-low dew point air is provided while the inside of the building 10 is maintained at a positive pressure, the internal temperature can be easily controlled, and contaminants are generated in the building 10 by any chance. However, it can be discharged to the outside together with the ultra-low dew point air exhausted from the exhaust pipe 21. Moreover, since the interior is always maintained at a positive pressure, the interior of the building 10 can be always maintained in an atmosphere of ultra-low dew point air, and outside air can also be prevented from flowing into the building 10. Can do.

さらに、建屋10内にウエハ等5に向けて微弱なX線を照射することによりその除電を行う軟X線除電装置26を設置しているので、図5に示すように、装置Aからクリーンストッカーへ搬送し、これから後工程の装置Bへと搬送する際に、このクリーンストッカーにおいても除電することができ、よってこれら装置A、B間の搬送中に、帯電量が許容値X(V)を超えてデバイス破壊が起こることを確実に防止することができる。   Furthermore, since a soft X-ray static elimination device 26 is installed in the building 10 to remove the static electricity by irradiating weak X-rays toward the wafer 5 etc., as shown in FIG. In this clean stocker, it is possible to remove static electricity when transporting to the device B in the subsequent process. Therefore, during the transport between these devices A and B, the charge amount is set to the allowable value X (V). It is possible to surely prevent the device destruction beyond.

この際に、微弱なX線を直接保管物に照射して、その周囲の雰囲気をイオン化させることにより、当該保管物の除電を行う軟X線除電装置26を使用しているので、除電に伴うオゾンの発生や、摩耗に起因するパーティクルの発生といった弊害が生じることもない。しかも、軟X線除電装置26を、ストッカークレーン14のマスト24に取り付けているので、キャリッジ25の昇降および回転動作を利用して、キャリッジ25上のウエハ等5に向けて様々な方向から軟X線を照射することにより、最小の台数で最大の除電効果を得ることができる。   At this time, the soft X-ray static elimination device 26 is used to neutralize the stored item by directly irradiating the stored item with weak X-rays and ionizing the surrounding atmosphere. There is no adverse effect such as generation of ozone or generation of particles due to wear. Moreover, since the soft X-ray static elimination device 26 is attached to the mast 24 of the stocker crane 14, the soft X-ray neutralization device 26 is softly X-rayed from various directions toward the wafer or the like 5 on the carriage 25 by using the raising and lowering and rotating operations of the carriage 25. By irradiating the line, the maximum static elimination effect can be obtained with the minimum number of units.

本発明のクリーンストッカーの一実施形態を示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows one Embodiment of the clean stocker of this invention. 図1の平面図である。It is a top view of FIG. 図1の建屋外壁のシール部分を拡大して示す横断面図である。It is a cross-sectional view which expands and shows the seal part of the building outdoor wall of FIG. 図2のストッカークレーンを示す側面図である。It is a side view which shows the stocker crane of FIG. 本実施形態のクリーンストッカーの前後における帯電状態を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the charging state before and behind the clean stocker of this embodiment. 従来のクリーンストッカーを示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows the conventional clean stocker. (a)はウエハ等が格納されたカセットを示す正面図、(b)は(a)のA部拡大図である。(A) is a front view which shows the cassette in which the wafer etc. were stored, (b) is the A section enlarged view of (a). 従来のクリーンストッカーの前後における帯電状態を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the charging state before and behind the conventional clean stocker.

符号の説明Explanation of symbols

3 カセット
5 ウエハ等(保難物)
10 建屋
11 搬入口
12 搬出口
13 棚
14 ストッカークレーン
15 ファンファルターユニット(清浄空気循環手段)
16 クリーンドライエアの供給管
21 排気管
22 下部サドル(基台)
24 マスト
25 キャリッジ
26 軟X線除電装置
3 cassettes 5 wafers etc.
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Building 11 Carry-in port 12 Carry-out port 13 Shelf 14 Stocker crane 15 Fan filter unit (clean air circulation means)
16 Clean dry air supply pipe 21 Exhaust pipe 22 Lower saddle (base)
24 Mast 25 Carriage 26 Soft X-ray neutralizer

Claims (4)

搬入口および搬出口が設けられた建屋の内部に、保管物を収納する複数段の棚と、上記搬入口および搬出口との間に走行自在に設けられ、上記棚に対する上記保管物の出し入れを行うストッカークレーンとが設けられるとともに、清浄化した空気を上記建屋内に流動させる清浄空気循環手段が設けられたクリーンストッカーであって、
上記建屋に、内部を分子状汚染物質が10ppb以下に除去された大気圧露点−100℃以下のクリーンドライエアによって充満させるクリーンドライエアの供給管を設けたことを特徴とするクリーンストッカー。
Inside the building provided with a carry-in port and a carry-out port, a plurality of shelves for storing stored items are provided between the carry-in port and the carry-out port so that the stored items can be moved in and out of the shelf. A clean stocker provided with a clean air circulating means for flowing purified air into the building,
A clean stocker provided with a clean dry air supply pipe filled with clean dry air having an atmospheric pressure dew point of -100 ° C. or less in which molecular contaminants are removed to 10 ppb or less in the building.
上記建屋には、その内部を陽圧に保持しつつ上記クリーンドライエアを回収する排気管が設けられていることを特徴とする請求項1に記載のクリーンストッカー。   The clean stocker according to claim 1, wherein the building is provided with an exhaust pipe for collecting the clean dry air while maintaining a positive pressure inside the building. 上記建屋内には、上記保管物に向けて軟X線を照射することにより当該保管物の除電を行う軟X線除電装置が設置されていることを特徴とする請求項1または2に記載のクリーンストッカー。   The soft X-ray static eliminator which removes the static electricity of the stored matter by irradiating the soft X-ray toward the stored matter is installed in the building. Clean stocker. 上記ストッカークレーンは、基台上に立設されたマストに上記保管物を載置するキャリッジが昇降自在かつ鉛直軸線回りに回転自在に設けられ、かつ上記軟X線除電装置は、上記キャリッジ側に向けて上記軟X線を照射するように上記マストに取り付けられていることを特徴とする請求項3に記載のクリーンストッカー。   In the stocker crane, a carriage for placing the stored items is provided on a mast standing on a base so that the carriage can be raised and lowered and rotatable about a vertical axis, and the soft X-ray static eliminator is disposed on the carriage side. The clean stocker according to claim 3, wherein the clean stocker is attached to the mast so as to irradiate the soft X-rays.
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008218687A (en) * 2007-03-05 2008-09-18 Asyst Technologies Japan Inc Stocker for semiconductor substrate
JP2009113930A (en) * 2007-11-07 2009-05-28 Murata Mach Ltd Vertical carousel
JP2009156534A (en) * 2007-12-27 2009-07-16 Iseki & Co Ltd Rack shelf drying device
JP2010225641A (en) * 2009-03-19 2010-10-07 Tokyo Electron Ltd Substrate transfer apparatus and substrate transferring method
KR101110541B1 (en) 2007-01-10 2012-03-29 가부시키가이샤 다이후쿠 Article storage system
CN111874502A (en) * 2020-07-16 2020-11-03 苏州明睿威尔新型材料有限公司 Intelligent storage device for EPS with dampproofing dehumidification function
JP2022050623A (en) * 2015-10-05 2022-03-30 ブルックス シーシーエス ゲーエムベーハー Humidity control in semiconductor system

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000114349A (en) * 1998-09-29 2000-04-21 Tokyo Electron Ltd Substrate transfer apparatus and substrate processing apparatus
JP2002313903A (en) * 1995-06-13 2002-10-25 Takasago Thermal Eng Co Ltd Clean material storage
JP2003031641A (en) * 2001-07-19 2003-01-31 Mitsubishi Electric Corp Method and device for stocking product
JP2004022674A (en) * 2002-06-13 2004-01-22 Tokyo Electron Ltd Inlet port mechanism of workpiece and processing system using the same

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002313903A (en) * 1995-06-13 2002-10-25 Takasago Thermal Eng Co Ltd Clean material storage
JP2000114349A (en) * 1998-09-29 2000-04-21 Tokyo Electron Ltd Substrate transfer apparatus and substrate processing apparatus
JP2003031641A (en) * 2001-07-19 2003-01-31 Mitsubishi Electric Corp Method and device for stocking product
JP2004022674A (en) * 2002-06-13 2004-01-22 Tokyo Electron Ltd Inlet port mechanism of workpiece and processing system using the same

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101110541B1 (en) 2007-01-10 2012-03-29 가부시키가이샤 다이후쿠 Article storage system
JP2008218687A (en) * 2007-03-05 2008-09-18 Asyst Technologies Japan Inc Stocker for semiconductor substrate
JP2009113930A (en) * 2007-11-07 2009-05-28 Murata Mach Ltd Vertical carousel
EP2058852A3 (en) * 2007-11-07 2010-03-10 Murata Machinery, Ltd. Vertical carousel and vertical transportation method using the vertical carousel
JP4502142B2 (en) * 2007-11-07 2010-07-14 村田機械株式会社 Vertical circulation transfer equipment
US8388296B2 (en) 2007-11-07 2013-03-05 Murata Machinery, Ltd. Vertical carousel and vertical transportation method using the vertical carousel
JP2009156534A (en) * 2007-12-27 2009-07-16 Iseki & Co Ltd Rack shelf drying device
JP2010225641A (en) * 2009-03-19 2010-10-07 Tokyo Electron Ltd Substrate transfer apparatus and substrate transferring method
JP2022050623A (en) * 2015-10-05 2022-03-30 ブルックス シーシーエス ゲーエムベーハー Humidity control in semiconductor system
CN111874502A (en) * 2020-07-16 2020-11-03 苏州明睿威尔新型材料有限公司 Intelligent storage device for EPS with dampproofing dehumidification function

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