JP2005518530A - 分析機器への複数のサンプルの移動を自動化するためのデバイスおよび方法 - Google Patents
分析機器への複数のサンプルの移動を自動化するためのデバイスおよび方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2005518530A JP2005518530A JP2003570985A JP2003570985A JP2005518530A JP 2005518530 A JP2005518530 A JP 2005518530A JP 2003570985 A JP2003570985 A JP 2003570985A JP 2003570985 A JP2003570985 A JP 2003570985A JP 2005518530 A JP2005518530 A JP 2005518530A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cassette
- probe
- probes
- translation
- analytical instrument
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01L—CHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
- B01L3/00—Containers or dishes for laboratory use, e.g. laboratory glassware; Droppers
- B01L3/50—Containers for the purpose of retaining a material to be analysed, e.g. test tubes
- B01L3/508—Containers for the purpose of retaining a material to be analysed, e.g. test tubes rigid containers not provided for above
- B01L3/5085—Containers for the purpose of retaining a material to be analysed, e.g. test tubes rigid containers not provided for above for multiple samples, e.g. microtitration plates
- B01L3/50853—Containers for the purpose of retaining a material to be analysed, e.g. test tubes rigid containers not provided for above for multiple samples, e.g. microtitration plates with covers or lids
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01L—CHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
- B01L9/00—Supporting devices; Holding devices
- B01L9/52—Supports specially adapted for flat sample carriers, e.g. for plates, slides, chips
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/28—Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/28—Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
- G01N1/2813—Producing thin layers of samples on a substrate, e.g. smearing, spinning-on
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01L—CHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
- B01L2200/00—Solutions for specific problems relating to chemical or physical laboratory apparatus
- B01L2200/02—Adapting objects or devices to another
- B01L2200/025—Align devices or objects to ensure defined positions relative to each other
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01L—CHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
- B01L2300/00—Additional constructional details
- B01L2300/08—Geometry, shape and general structure
- B01L2300/0809—Geometry, shape and general structure rectangular shaped
- B01L2300/0822—Slides
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01L—CHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
- B01L2300/00—Additional constructional details
- B01L2300/08—Geometry, shape and general structure
- B01L2300/0809—Geometry, shape and general structure rectangular shaped
- B01L2300/0829—Multi-well plates; Microtitration plates
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01L—CHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
- B01L3/00—Containers or dishes for laboratory use, e.g. laboratory glassware; Droppers
- B01L3/02—Burettes; Pipettes
- B01L3/0289—Apparatus for withdrawing or distributing predetermined quantities of fluid
- B01L3/0293—Apparatus for withdrawing or distributing predetermined quantities of fluid for liquids
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/04—Devices for withdrawing samples in the solid state, e.g. by cutting
- G01N2001/045—Laser ablation; Microwave vaporisation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/02—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
- G01N35/028—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations having reaction cells in the form of microtitration plates
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Pathology (AREA)
- Clinical Laboratory Science (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Hematology (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Abstract
複数のプローブ(12)を、質量分析計のような分析デバイス(13)と、複数のプローブ(12)が最初に拘束される1つ以上のカセット(11)との間で、自動的に移動させるための装填デバイス。この装填デバイスは、分析機器(13)に対してカセットを整列させ、そしてこれらの間でプローブ(12)を並進させるように構築される。本発明のデバイスは、分析機器と一体的なプローブ受容チャンバの外部に配置されたフレーム;このフレームに取り付けられたカセット移送アセンブリ;およびこのフレームに取り付けられたプローブ挿入アセンブリを備える。
Description
(関連出願の引用)
本願は、米国仮特許出願60/359,940号(2002年2月26日出願)および米国仮特許出願60/374,889号(2002年4月23日出願)に対する優先権を主張し、これらの開示は、その全体が参考として援用される。
本願は、米国仮特許出願60/359,940号(2002年2月26日出願)および米国仮特許出願60/374,889号(2002年4月23日出願)に対する優先権を主張し、これらの開示は、その全体が参考として援用される。
(発明の分野)
本発明は、分析機器への複数のサンプルの移動を自動化するためのシステムおよび方法に関する。具体的には、本発明は、サンプルが堆積または配置される複数のサンプルプローブが、複数のプローブが最初に拘束されるカセットと分析機器との間で移動される、システムおよび方法を具体化する。
本発明は、分析機器への複数のサンプルの移動を自動化するためのシステムおよび方法に関する。具体的には、本発明は、サンプルが堆積または配置される複数のサンプルプローブが、複数のプローブが最初に拘束されるカセットと分析機器との間で移動される、システムおよび方法を具体化する。
(発明の背景)
過去数十年間にわたって、質量分析(MS)における改善により、生物学的に関連した高分子、すなわち、複雑な生物学的系から精製されたタンパク質の研究における標準的な分析道具のなかでMSが一定の地位を占めることが可能になった。例えば、マトリックス支援レーザー脱離/イオン化アプローチの開発は、MS分析が大きい分子量の分析物(数百キロダルトンほどの大きさのタンパク質を含む)に適用されることを可能にしたが、一方で、親和性捕捉(affinity capture)レーザー脱離/イオン化アプローチは、サンプルプローブの活性表面上での直接的な所望の分析物の不均一サンプルからの選択的濃縮を可能にしている。ハードウェア(制御エレクトロニクスおよび検出エレクトロニクスを含む)における改善は、感度、質量の精度および分解能の改善を導いたが、一方で、改善されたソフトウェアアルゴリズムは、得られたデータを使用して未知の分析物を同定する能力を改善した。
過去数十年間にわたって、質量分析(MS)における改善により、生物学的に関連した高分子、すなわち、複雑な生物学的系から精製されたタンパク質の研究における標準的な分析道具のなかでMSが一定の地位を占めることが可能になった。例えば、マトリックス支援レーザー脱離/イオン化アプローチの開発は、MS分析が大きい分子量の分析物(数百キロダルトンほどの大きさのタンパク質を含む)に適用されることを可能にしたが、一方で、親和性捕捉(affinity capture)レーザー脱離/イオン化アプローチは、サンプルプローブの活性表面上での直接的な所望の分析物の不均一サンプルからの選択的濃縮を可能にしている。ハードウェア(制御エレクトロニクスおよび検出エレクトロニクスを含む)における改善は、感度、質量の精度および分解能の改善を導いたが、一方で、改善されたソフトウェアアルゴリズムは、得られたデータを使用して未知の分析物を同定する能力を改善した。
親和性捕捉レーザー脱離/イオン化において、レーザー脱離/イオン化プローブの活性表面は、親和性捕捉表面であり、これは、不均一なサンプルから分析物を選択的に吸着して、それらを、引き続くレーザー脱離/イオン化に適切な形態で、プローブ表面上で濃縮し得る。次いで、これらのプローブは、レーザー源による問い合わせのために、質量分析機へとサンプルを送達するために使用される。必要に応じて、エネルギー吸収(または「マトリックス」)分子が、分析前に適用される。
親和性捕捉レーザー脱離/イオン化プローブの親和性捕捉表面は、クロマトグラフィー親和性部分または生体分子親和性部分のいずれかを含み得る。クロマトグラフィー親和性表面は、分析物間のクロマトグラフィー識別または分析物の分離を行い得る、吸着剤を有する。従って、このような表面は、アニオン交換部分、カチオン交換部分、逆相部分、金属親和性捕捉部分、および混合型吸着剤(このような用語は、クロマトグラフィー分野で理解されるとおりである)を含み得る。生体分子親和性表面は、特異的に結合し得る生体分子を含む吸着剤を有する。従って、このような表面は、抗体、レセプター、核酸、レクチン、酵素、ビオチン、アビジン、ストレプトアビジン、StaphプロテインAおよびStaphプロテインGを含み得る。
レーザー脱離/イオン化プローブ(親和性捕捉レーザー脱離/イオン化プローブを含む)の活性表面に代表的に適用される液体サンプルは、代表的に、容積が数マイクロリットルであり;引き続く精製プロセス後、通常、質量分析機中に、分析のためのピコモル〜ナノモルの分析物しか残っていない。
このような少量の分析物を用い、そしてこのような高感度を有する分析機を用いると、活性表面の汚染が、プローブの使用における主要な問題である。具体的には、作業者がプローブを操作し、そして移動させる場合、1つ以上のその活性表面(例えば、親和性捕捉表面)の上または近傍でプローブを作業者が不適切に握る機会が多く、結果として、その上のサンプルが指のタンパク質(例えば、コラーゲン)で汚染され、汚れる。例えば、作業者は、現在、分析プロセスの間少なくとも3回各プローブを操作しなければならず、このことが、各プローブを汚染する機会を少なくとも3回提供している:1回はプローブを出荷容器からサンプル調製プラットホームに移すとき、1回はこのサンプル調製プラットホームからプローブを質量分析機に移すとき、そして一回は、このプローブを保存するために移すときである。各々の、プローブとの連続的な接触が、活性表面の不慮の汚染、そして引き続く分析の妨害の可能性を増大させる。多くの実験手順が、統計的に適切なデータを得るため、および/または比較のために複数の分析物を分析するために、多数のプローブを使用するので、汚染の機会はそれに伴って増大する。
さらに、個々のプローブの手動の操作は、複数の個々のプローブを分析することが所望される場合、実質的にスループットを低下させる。
さらに、いくつかの質量分析機は一度に1つのプローブだけしか受容できないので、作業者は、複数のプローブを分析することを所望する場合、個々のプローブを交換するためにそこに居なければならない。
いくつかの公知のMSシステムは、質量分析機へのサンプルキャリアの挿入および質量分析機からのサンプルキャリアの取り出しを自動化することによって、スループットを増大させ、そしてMS分析の間の作業者の存在の必要性を減少させることを試みてきた。1つの例示的なシステムは、米国再発行特許第RE37,485号に記載され、これは、複数のサンプルキャリアが、分析待機のために取り外し可能に運ばれ得る、単一のサンプルカセットまたはマガジンを示す。
単一のサンプルカセットまたはマガジンのみを備えるMSシステムのさらなる例は、米国特許第4,405,860号;同第4,879,458号および同第4,076,982号に記載される。これらのシステムは、作業者が、サンプルキャリアを、そのそれぞれのサンプルマガジンまたはカセットへと手動で装填することを必要とするようである。半自動化により、実際の分析中に作業者が常に存在する必要性は低減されるが、作業者が、分析前にサンプルキャリアをサンプルカセットへと手動で装填することをなお必要とする。従って、手動作業の数および汚染機会は、高いままである。
上で考察したこれらの問題は、MSシステムだけではなく、作業者が分析機器にサンプルプローブを装填することを必要とする多くの適用について特徴的である。
従って、複数のプローブが最初に拘束されるカセットと分析機器との間の、サンプルの偶発的な作業者汚染の機会を低減させる、複数のサンプルプローブの移動を自動化するためのデバイスを提供することが所望される。
また、複数のプローブが最初に拘束されるカセットと分析機器との間の、作業者によって実施される手動操作の数を低減させる、複数のサンプルプローブの移動を自動化するためのデバイスを提供することが所望される。
さらに、複数のプローブが最初に拘束されるカセットと分析機器との間の、複数のサンプルプローブの連続分析を可能にする、複数のサンプルプローブの移動を自動化するためのデバイスを提供することが所望される。
なおさらに、複数のプローブが最初に拘束されるカセットと分析機器との間の、複数のサンプルプローブの分析の間に、作業者が常に監督する必要性を、排除しないにしても低減する、複数のサンプルプローブの移動を自動化するためのデバイスを提供することが所望される。
(発明の要旨)
上記を鑑みて、複数のプローブが最初に拘束されるカセットと分析機器との間の、サンプルの偶発的な作業者汚染の機会を低減させる、複数のサンプルプローブの移動を自動化するためのデバイスを提供することが、本発明の目的である。
上記を鑑みて、複数のプローブが最初に拘束されるカセットと分析機器との間の、サンプルの偶発的な作業者汚染の機会を低減させる、複数のサンプルプローブの移動を自動化するためのデバイスを提供することが、本発明の目的である。
複数のプローブが最初に拘束されるカセットと分析機器との間の、作業者によって実施される手動操作の数を低減させる、複数のサンプルプローブの移動を自動化するためのデバイスを提供することもまた、本発明の目的である。
複数のプローブが最初に拘束されるカセットと分析機器との間の、複数のサンプルプローブの連続分析を可能にする、複数のサンプルプローブの移動を自動化するためのデバイスを提供することが、本発明のさらなる目的である。
複数のプローブが最初に拘束されるカセットと分析機器との間の、複数のサンプルプローブの分析の間に、作業者が常に監督する必要性を、排除しないにしても低減する、複数のサンプルプローブの移動を自動化するためのデバイスを提供することが、本発明のなおさらなる目的である。
本発明のこれらおよび他の目的は、複数のプローブが最初に拘束されるカセットと分析機器(例えば、質量分析機)との間で、複数のプローブ(例えば、レーザー脱離/イオン化プローブ)を自動的に移動させ得る装填デバイスを提供することによって達成される。本発明の装填デバイスは、各々が複数のプローブを取り外し可能に拘束する複数のカセット、または複数のプローブを取り外し可能に拘束する単一のカセットを受容するように、構成され得る。この装填デバイスはまた、分析の間に別個の複数のプローブを取り外し可能に拘束する別個のカセット、または分析の間にこのデバイスに装填される複数のさらなるプローブを取り外し可能に拘束するさらなるカセットで、複数のカセットが独立して交換されるように構成され得る。結果として、作業者は、ここで、分析機器の内外への手動での移動のために、各個々のプローブを直接操作する必要性よりも、プローブに直接接触する必要なしに1工程で複数のプローブを移動させ得るので、汚染の機会および手動作業の数は低減される。さらに、あるカセットが別個のカセットで交換され得るか、またはさらなるカセットが分析の間に装填され得るので、この分析機器は、中断なしにプローブを連続的に分析し得る。
本発明の装填デバイスは、分析機器と一体型のプローブ受容チャンバに対して外部に配置されたフレーム、ならびにこのフレームに装着されたカセット移動アセンブリおよびプローブ挿入アセンブリを備える。有用な実施形態において、このカセット移送アセンブリは、カセットを受容するためのカセット保持手段、およびチャンバに対してカセットを整列させる、規定された挿入/取り出し位置に対する第1の軸でカセットを直線的に移動させるためのカセット並進機構を備え得、その結果、複数のプローブからの選択プローブは、それらの間で並進され得る。有用な実施形態において、プローブ挿入アセンブリは、複数のプローブのうち1つを回転可能に係合するための係合手段、この係合手段を回転させる回転手段、および前記第1の軸に対して垂直な第2の軸でこの係合手段を並進させるためのプローブ並進手段を備え得、ここで、この第2の軸に沿って複数のプローブのうち1つを並進させることは、カセットとチャンバとの間でそのプローブを並進させる。特定の実施形態において、このカセット保持手段はカセット支持フレームを備え得、カセット並進手段は直線アクチェータサブアセンブリを備え得、係合手段は係合ピースを備え得、回転手段は回転アクチェータサブアセンブリを備え得、そしてプローブ並進手段は直線アクチェータサブアセンブリを備え得る。
本発明の装填デバイスはまた、複数のプローブの各プローブが、分析のために分析機器に移動されるべき順序を特定するプロトコルを含むデジタル情報を受信するコントローラを備え得、このコントローラは、カセット移送アセンブリおよびプローブ挿入アセンブリを、このデジタル情報に応答して制御する様に構成されている。
本発明の別の局面において、装填デバイスはまた、カセット移送アセンブリと一体型の予備プローブスロットを備え得、ここで、この予備プローブスロットは、単一の予備プローブを受容し得る。このコントローラは、このカセット移送アセンブリを、チャンバに関してこの予備プローブスロットを位置付けるように方向付け得、この位置は、予備プローブが予備プローブスロットに挿入されるかまたは予備プローブスロットから取り出されることを可能にする。このことは、装填デバイスが、分析機器へプローブを装填する試みに失敗した場合、または置換されたプローブの分析終了前に、プローブが元々抽出されたカセットを作業者が取り外す場合、特に有益である。このことは、デバイスが、置換されたプローブが再挿入できないエラー状態の発生の際に、分析を中断するのではなく、残りのプローブの分析を継続することを可能にする。あるいは、この予備プローブスロットは、予備プローブスロット内の「優先度の高い」プローブ配置および確立されたプロトコルの中断によって、カセット内に拘束されていない「優先度の高い」プローブの即座の分析を作動させるために、使用され得る。
有用な実施形態において、この装填デバイスはさらに、1つ以上のカセットおよび/または予備プローブを配置または取り外しするために、作業者がカセット移送アセンブリにアクセスすることを可能にする、複数のドアを有するハウジングを備え得る。このハウジングは、ハウジングが適切に配置されているか否か、そして複数のドアが閉じているか否かを検出し得る複数のセンサをさらに備える。これらのセンサが不適切な配置または開いたドアを検出すると、コントローラが装填デバイスの作動を阻止して、作業者を移動部品から保護する。特定の実施形態において、この装填デバイスはまた、さらなる安全性特徴(例えば、カセットがその中を通過中に、装填デバイスへのアクセスを部分的にブロックする可撓性ベルト、またはカセットがデバイスに装填されることを防ぎ、そしてカセット保持手段がカセットを受容するように配置されていない場合、作業者を移動部分から保護するゲート)を有し得る。
有用な実施形態において、プローブ挿入サブアセンブリは、係合手段と同時に回転され得、そして/またはその中に減圧を維持するために分析機器を密封して覆うように構成された、カバープレートを備え得る。
本発明の装填デバイスを操作する方法もまた、提供される。
本発明の上記および他の目的および利点は、添付の図面とともに、以下の詳細な説明を考慮することによって明らかとなる。ここで、同じ参照番号は、全体を通して同じ部品をいい、ここで、電気部品からのワイヤおよびケーブルは、例示的目的のために取り外され得る。
(発明の詳細な説明)
以下の記載は、例示的な適用としてMSを使用し、複数のプローブが最初に拘束されるカセットと質量分光計との間での複数のプローブの移動を記載している。もちろん、当業者は、本発明の自動装填デバイスおよび方法が、特に、スループットの増加、サンプル汚染機会の減少、および操作者の存在が所望される場合、このデバイスへの複数のサンプルプローブの移動を必要とする任意の分析用機器とともに使用され得ることを認識している。
以下の記載は、例示的な適用としてMSを使用し、複数のプローブが最初に拘束されるカセットと質量分光計との間での複数のプローブの移動を記載している。もちろん、当業者は、本発明の自動装填デバイスおよび方法が、特に、スループットの増加、サンプル汚染機会の減少、および操作者の存在が所望される場合、このデバイスへの複数のサンプルプローブの移動を必要とする任意の分析用機器とともに使用され得ることを認識している。
図1Aを参照すると、本発明の装填デバイス20を備えた質量分析システム10が、概略的に示される。質量分析システム10は、複数のサンプルプローブ12が拘束される、少なくとも1個のカセット11を備える。各プローブ12は、代表的に、複数の活性表面(例えば、親和性捕捉表面)を備え、この表面に、分析物が吸着され得る。サンプルは、操作者によってか、または流体サンプルを、例えば、マイクロタイタープレートに自動的に送達するように設計された、当該分野で公知のサンプル調製ロボット15のいずれかによって、この活性表面上に堆積され得る。一旦、サンプルがプローブ12上に堆積され、そして必要に応じて、分析用にさらに処理されると、カセット11が、本発明の装填デバイス20内に挿入され得、次いで、このデバイスは、各プローブ12を、分析用の質量分光計13内に自動的に装填する。特定の実施形態において、質量分光計13は、プローブ受容チャンバ26および受容ポスト16を備え得、このプローブ受容チャンバは、イオン供給源チャンバ51から独立して真空を維持し得、そして受容ポストは、プローブ受容チャンバ26とイオン供給源チャンバ51との間で移動するプローブ12を受容する。当業者に理解されるように、分析用機器13は、チャンバ26を備えることなく提供され得、プローブ12は、イオン供給源チャンバ51内に直接受容され得る。
本発明の装填デバイス20は、複数のプローブ12を各々拘束する、複数のカセット11を受容し得、かつ質量分光分析の間に、各カセット11を、別々の複数のプローブ12を取り外し可能に拘束する別々のカセット11と独立して交換することを可能にし得るか、または質量分光分析の間に、さらなるカセット11を、デバイス20に装填することを可能にし得る。有利には、汚染の機会および手動操作の回数が低減される。なぜなら、ここで、操作者は、各個々のプローブ12を、質量分光計に手動で移動させ、質量分光計から手動で移動させるために操作する必要なく、実際に、いかなるプローブとも直接的に接触する必要なく、1工程で、複数のプローブを移動させることができるからである。さらに、カセットは、別個のカセットと交換され得るか、またはさらなるカセットが、MS分析の間に装填され得るので、質量分光計13は、中断することなく、プローブを連続的に分析し得る。さらに、プローブ12は、カセット11内に保有され、そしてデバイス20は、複数のカセット11を受容するように配置され得るので、操作者は、プローブではなくカセットを操作することによって、プローブ12上に堆積されたサンプルの汚染を回避することができる。
質量分光計13上に取り付けられたデバイス20は、操作者が監視する必要なく、カセット11と質量分光計13との間の各プローブ12の個々の移動を自動化する。コントローラ14(これは、マイクロプロセッサまたはASICを備え得るか、または、非一体型の計算手段によって制御され得る)は、デバイス20と質量分光計13との両方を制御して、特に、それらの間での移動を容易にし得る。システム10がサンプル調製ロボット15を利用する場合、コントローラ11はまた、ロボット15を制御して、コマンドを集中化し得る。
本発明の装填デバイス20と適合可能な、カセット11およびプローブ12の代表図が、図1Bに示される。カセット11は、プローブ12の長手方向中央線が平行であるように、複数のプローブ12を拘束する。各プローブ12は、複数の活性表面17、および本明細書中以下で詳述される装填デバイス20の係合機構と機械的に係合し得る、少なくとも1個の溝18を備える。各カセット11は、そのカセットの上部表面に配置された1個以上の整列ピン19を有し得る。複数のカセットが一緒に堆積された場合、これらの整列ピンは、隣接カセットの1個以上の下部表面上に配置された整列穴(図示せず)と嵌合するように配置される。これらの整列穴はまた、本明細書中以下でより詳細に記載される様式で、カセットを装填デバイス20と整列させるのに用いられ得る。有利には、カセット11を使用して、プローブをカセットから取り出す必要なく、サンプル調製、MS分析、およびサンプル貯蔵の全体を通して、複数のプローブ12を保有し、必要とされる手動操作回数をさらに劇的に減少させ、結果的に汚染機会を減少させる。本発明の装置とともに使用するのに適切な、例示的なカセットおよびプローブは、共有に係る、同時係属中の米国特許出願番号*********号(代理人登録番号CiphBio−3)(2003年2月25日出願)、および米国仮特許出願番号60/359,940(2002年2月26日出願)(これら全体は、本明細書中で参考として援用される)において、より詳細に記載される。
図1Cは、特定の実施形態において使用するのに適切であり得る受容ポスト16の代表的な断面図を示す。例示目的のために、図1Cは、いくつかの細部を省略し得る。受容ポスト16は、特に、1個以上のプローブ12を受容および拘束するための容器、ならびに固定構造体49内部に配置されたシール40(例えば、o−リングまたは当業者で公知の他のエラストマーシール)を備え得る。シール40は、受容ポスト16によって活動的に係合され、プローブ受容チャンバ26を、イオン供給源チャンバ51中で真空を維持しながら、大気圧まで排気するのを可能にし得る。有用な実施形態において、受容ポスト16は、チャンバ26が大気圧まで排気する準備がなされた場合に、シール40に対して圧迫するように配置されたフランジ45を組み込み得、そして受容ポストは、装填デバイス20が受容ポスト16とカセット11との間で移動するプローブ12を係合することが可能であるように配置されている。ポスト16のフランジ45がシール40に対して圧迫された場合、プローブ受容チャンバ26は、イオン供給源チャンバ51から密封される。フランジ45とシール40との間の密閉係合は、受容ポスト16が、プローブ12を固定構造体49から離れて並進させ、プローブ受容チャンバ26をイオン供給源チャンバ51に移動させた場合、プローブ受容チャンバ26が所定の圧力までポンプダウンされた後に、解除され得る。プローブ受容チャンバ26はまた、さらなるシール(例えば、o−リングまたは当該分野で公知の他のエラストマーシール)を備え、所望な場合、プローブ受容チャンバ26内で真空を維持し得る。有利には、これは、プローブ受容チャンバ26が、各装填サイクルについてイオン供給源チャンバ51を排気する必要性を排除しつつ、各装填サイクルとともに大気圧まで排気するのを可能にする。当業者によって明らかなように、受容ポスト16が、図1Cの実施形態において楕円形の円柱として示されているが、受容ポストは、プローブ12を受容しそしてそれをその中に並進させるのに適切な任意の形状で配置され得る。
図2を参照すると、本発明の装填デバイスの第1の実施形態が示されている。装填デバイス20aは、下部支持プレート24を有するフレーム23を備え、このプレート上に、カセット移送アセンブリおよびプローブ挿入アセンブリの部品が取り付けられ得る。カセット移送アセンブリは、Y軸上で、1個以上のカセット11を直線的に並進させ、その結果、このカセットに拘束されたプローブ12のうちの1つは、プローブ挿入アセンブリと係合するように位置決めされ得るか、あるいは、プローブ12のうちの1つは、分析完了後に、カセット11に再挿入され得るように位置決めされ得る。このプローブ挿入アセンブリは、カセット11と質量分析計13のプローブ受容チャンバ26との間で、Z軸上で、それを、移動するプローブ12に回転可能に係合する(図1を参照のこと)。これらのアセンブリは、本明細書中以下でより詳細に記載される。図2は、フレーム23が、カセットとプローブ挿入アセンブリとの両方が取り付けられた単一構造体を備えることを示しているが、フレーム23が、複数構造体(おそらく、各アセンブリについて別々の構造体)を備え得ることは、当業者には明らかである。
図3および図4A〜Bにおいて、カセット移送アセンブリ52が示されている。有用な実施形態において、カセット移送アセンブリ52は、特に、運搬部品を備える。この運搬部品は、単一プローブ12を受容する予備プローブスロット37を有する予備プローブホルダ53、左カセット位置にカセット11を受容する左カセット支持プレート38、および右カセット位置にカセット11を受容する右カセット支持プレート39を備える。各支持プレート38および39は、カセット11を各支持プレートに係合するために、少なくとも1個のピン54を備え得る。予備プローブスロット37は、デバイス20aがカセット11から引き出したがこのカセット内に再挿入することができないプローブ12を受容するために使用され得る。これは、プローブがカセット11から引き出された後に、デバイス20aが、プローブ12を質量分光計13に装填する試みに失敗した場合にか、またはカセット11(ここから、プローブ12が引き出される)が、分析の完了前にデバイス20aから取り外された場合に、生じ得る。このような条件の場合に、コントローラ14は、デバイス20aに信号を送信し、プローブ12を予備プローブスロット37内に配置し、次いで、置き換えたプローブを取り除くために、操作者に警告を発する。有利には、これによって、操作者による絶え間ない監視も、そして/または置き換えたプローブの場合には分析の停止もなしに、質量分析システム10を、自動的に操作することが可能になる。
予備プローブスロット37はまた、即時分析のための「優先度の高い」プローブ12を受容するために使用され得る。この機能を作動させるために、オペレータは、ユーザーインターフェース(図示せず)を介してコントローラ14を、カセット移送アセンブリ52を作動させて、オペレータから「優先度の高い」プローブ12を受け取るための予備プローブスロット37を位置決めするように指示する。現在、一旦、質量分析計13でのプローブ12の分析が完了し、その対応するカセット11に再挿入されると、「優先度の高い」プローブ12は、次いで、分析のために質量分析計13に移送され得、そして完了すると、オペレータによる取り外しのために予備プローブスロット37に戻される。
図2〜4Bは、予備プローブスロット37ならびに支持プレート38および39の1つの配置を示し得るが、異なる順序および数のキャリア構成要素が、本発明から逸脱することなく具現化され得ることに注意のこと。例えば、本発明のデバイス20aは、2つより多くのカセット11および1つの予備プローブ12を受容し得る。
キャリア構成要素に加えて、カセット移送アセンブリ52もまた、並進を作動しそして容易にする並進構成要素を備える。代表的な実施形態において、これらの並進構成要素は、キャリア構成要素をY軸で並進させるためのリニアアクチュエータ41、リニアアクチュエータ41の位置を追跡するための直線エンコーダ42、直線並進をガイドする軌道43、およびコントローラ14までのアクチュエーターの移動の終わりを信号で伝えるための位置センサ44を備える。リニアアクチュエータ41は、モータ駆動式親ナット56およびこの親ナット56が移動するねじ57を有する親ねじアセンブリを備える。作動中、ねじ57は、静止したままであり、一方、親ナット56に一体化されたモータは、ねじ57の周りで回転する。親ナット56は、カセット支持プレート38および/または39に取り付けられることによって回転的に制限され、その結果、この運動は、Y軸に制限される。当業者は、他の制限手段が使用され得るだけでなく、他のリニアアクチュエータ41が、本発明から逸脱することなく本明細書中に示される親ねじアセンブリの代わりに使用され得ることを認識する。例えば、モータ駆動式滑車アセンブリまたは入れ子アームアセンブリはまた、カセット移送アセンブリ52を直線的に作動するように働き得る。
直線エンコーダ42は、目盛が配置される固定ルーラー、ならびに親ナット56のほぼ下に取り付けられた光学センサ(これは、この親ナットと共に移動し、リニアアクチュエータ41がキャリア構成要素を並進させる場合に、このルーラー上の目盛を計数する)を備え得る。有用な実施形態において、これらの目盛は、360ライン/インチの分解能を有し得る。あるいは、カセット移送アセンブリ52は、親ナット56の位置を追跡するための他の手段を使用し得る。1つの有用な実施形態は、開ループマシンコントロールを使用し得、ここでコントローラ14は、親ナット56が所定のホーム位置から移動するステップの数または間隔の数を計数する。これらの工程および間隔は、ホーム位置からの親ナット56の直線変位に相関する。例えば、ステッパーモーターが使用される場合、このステッパーモーターのステップは、ホーム位置からの親ナット56の直線変位に対応し得る。他の追跡手段は、位置センサ(例えば、抵抗電位差計、容量変位センサまたは回転エンコーダ)を含む。
カセット移送アセンブリ52は、デバイス20aが受容するように構成される各カセット11のカセット検出センサ46をさらに備える。各カセット検出センサ46は、カセット11が分析のために存在するか、またはカセット11が取り外されたことを、コントローラ14に示すために使用され得る。後者の機能は、デバイス20aを方向付ける際に、コントローラ14が、この対応するカセット11が分析の完了前に取り外される場合、質量分析計13によって現在分析されている任意のプローブ12の予備プローブスロット37への挿入を作動する。有用な実施形態において、カセット検出センサ46は、光電子スイッチを備え得るか、またはこのカセット検出センサ46はまた、他の接触センサおよび非接触センサ(例えば、力/ひずみセンサ、圧力センサまたは圧電センサ)を備え得る。
図5A〜Hにおいて、プローブ挿入アセンブリ55が例示され、このアセンブリは、プローブ12の溝部18を回転可能に係合するためのプローブフック21、チャンバ26とカセット11との間で、プローブ12をZ軸に直線的に並進させるためのプローブ並進サブアセンブリ、およびプローブ12との係合のために、Z軸に対して直角の平面内にあるプローブフック21を回転させるためのプローブ回転サブアセンブリを備える。このプローブ並進サブアセンブリおよびプローブ回転サブアセンブリは、プローブ挿入アセンブリ55の異なる機能を果たしつつ、共通の要素(中空シャフトを備えるレール22、およびこれにスライド可能に係合され、そしてプローブフック21が固定して装着される親ナット60)を共有する。図5C〜Eに示されるように、プローブ並進サブアセンブリは、レール22に対して平行に配置された中心線を有するねじ61をさらに備え、ここでこのねじと、レール22および親ナット60は、プローブ並進サブアセンブリのリニアアクチュエータとして機能する打ち込みねじを備える。親ナット60は、その上にねじ山を有する係合部分62を備え、このねじ山は、ねじ61上に配置されるねじ山と係合する。図5D〜Eは、ねじ61の外周および長さの一部のみと係合する係合部分62を例示しているが、ねじのより多いかまたはより少ないねじ山を完全に囲むかまたは係合する係合部分62が、本発明から逸脱しないことが当業者に明らかである。さらに、これらの図面は中空シャフトを示すが、レール22が、本発明から逸脱することなく、多数の異なる配置を含み得ることが明らかなはずである。
ねじ61は、タイミングベルト27、モータ28、このモータ28に固定して連結された第1のタイミングベルトギアまたは滑車29、およびねじ61に固定して連結された第2のタイミングベルトギアまたは滑車30の協働作用によって回転される。図5F〜Gに示されるように、タイミングベルト27は、第1のギア29を第2のギア30に接続する。モータ28が第1のギア29を回転する場合、タイミングベルト27は、第2のギア30を回転させ、これは次いでねじ61を回転させる。親ナット60がねじ61と共に回転することを回転式に制限し、それにより直線並進が所望される場合に、親ナット60の運動をZ軸に制限するために、レール22の長手軸方向長にそって配置されるスロット64(図5Cを参照のこと)は、親ナット60と一体化されたフランジ63と係合する。スロット64の幅は、フランジ63がそれに沿って並進するのを可能にするが、フランジ63がこのフランジに対する任意の回転運動から制限されるような寸法にされる。従って、ねじ61が回転される場合、スロット64の壁部は、親ナット60の運動をZ軸で確立する軌道として働く。
プローブフック12の移動の上限および下限を決定し、これをコントローラ14に警告するために、2つのさらなるセンサ(上限センサ31および下限センサ32(図2および5Hを参照のこと))が、レール22の長手軸方向反対側の端部に配置される。上限センサ31による検出は、プローブ12がカセット11内に完全に制限されている場合、プローブ12との係合またはプローブ12からの取り外しのためのプローブフック21の適切な位置決めを定める。下限センサ32による検出は、プローブ12が受容ポスト16内に完全に制限されている場合、プローブ12との係合またはプローブ12からの取り外しのためのプローブフック21の適切な位置決めを定める。2つのセンサ31または32のうちの1つからの信号を受信すると、コントローラ14は、さらなる所定の距離の作動の直後に、プローブフック21の連続線形作動を停止し得る。有用な実施形態において、センサ31および32は、光検出器であり得るが、当該分野で公知の他の接触センサおよび非接触センサを含み得る。回転エンコーダ58もまた、親ナット60の直線位置を追跡するためのセンサ31および32と共に使用され得る。
レール22および親ナット60に加えて、プローブ回転サブアセンブリは、モータ33、モータ33に固定して連結されたギア34、およびギア34に回転可能に係合され、レール22に固定して連結されたセクターギア35をさらに備える(図5F〜Gを参照のこと)。モータ33がギア34を回転させる場合、結果として、セクターギア35は、反対方向に回転し、それによってこれに取り付けられたレール22も回転させる。レール22がねじ61の中心線の周りで回転する場合、これに沿って配置されたスロット64は、フランジ63に対して力を提供し、それにより親ナット60をこれと共に回転させる。プローブフック21は親ナット60に強固に接続されるので、これら2つは同時に回転する。有用な実施形態は、プローブフック21の回転中に、親ナット60のZ方向の移動を使用して、プローブ12の溝部18との首尾良い係合を保証し得る。これは、プローブフック21が、溝部18の縁部上で「吊される」のを防止する。あるいは、親ナット60がレール22と共に回転する場合、ねじ61は静止したままであり得る。この場合、ねじ61のピッチは、親ナット60のZ軸における移動が無視出来るように設計され得る。しかし、当業者に明らかなように、溝部18と回転可能に係合した際に、プローブフック21が溝部18と整列することを保証するための他の手段が使用され得る。さらに明らかになるように、プローブフックはまた、回転手段以外の手段によって、プローブと係合するように設計され得る。例えば、親ナット60は、突起部に接続され得、この突起部は、直線的に溝部18に向かって前進されて、プローブ12と係合し、そして溝部18から直線的に後退して、プローブ12から外れるように作動する。
プローブフック21の角位置を決定するために、デバイス20aは、複数の位置センサ36を備え得、これらのセンサは、図5Fに最も明確に示される。有用な実施形態は、複数の光検出器を備え得、これらのセンサは、センサギア35上に配置されたフラッグ54によって作動され得る。センサ36はまた、当該分野で公知の他の接触センサまたは非接触センサを備え得る。センサ36からの信号は、コントローラ14に伝えられ、これは次いで、この信号に応答して、モータ33を制御する。有用な実施形態において、3つのセンサが、45°の間隔で配置されて、移動の終了および中央回転位置を定め得る。あるいは、抵抗電位差計、容量変位センサまたは回転エンコーダもまた使用され得る。さらなる代替の実施形態は、開ループコントロールを使用し得、ここでモータ33は、ステップの数またはホーム位置からの間隔を計数する。例えば、モータ33がステッパーモーターを備える場合、このステッパーモーターのステップは、ホーム位置からの角変位に相関し得る。センサ36は、開ループコントロールと共に使用されて、コントローラ14に、移動位置の終点または中央回転位置を警告する。中央回転位置においてセンサ36を提供することの1つの利点は、センサ36が作動された場合、コントローラ14が、このセンサが計数した間隔を再較正して、それにより任意の浮上または誤差を補正し得ることである。
プローブフック21に加えて、レール22はまた、カバープレート25に接続され、このカバープレートは、プローブ交換ポート67を覆うように配置されている(図5A〜Bを参照のこと)。プローブ回転サブアセンブリが作動される場合、これはカバープレート25およびプローブフック21の両方を、Z軸に対してそれぞれの直角の平面内で、同時に回転させる。プローブ交換ポート67は、下側支持プレート24を通して配置され、プローブ12がプローブ収容チャンバ26に入るかまたはプローブ収容チャンバ26から出る開口部を提供し、そして収容ポスト16と整列する。収容ポスト16は、下側支持プレート24の裏面に配置された複数のピン47と整合することによって、プローブ交換ポート67と整列する(図5Hを参照のこと)。丸い端部または鋭い端部を有する整列ピン47は、円柱状または円錐状の形状にされ得る。本発明の装填デバイスが本明細書中に記載される質量分析計13以外の分析機器と共に使用される場合、プローブ交換ポート67は、この分析機器に対するプローブ収容口上に配置され得る。有用な実施形態において、カバープレート25は、バルブとして働き、チャンバ26内の真空を維持する。機械的手段(例えば、ばねまたは斜面)は、カバープレート25に圧力を付与することにより密着係合を容易にし得、それによりクランプとして働く。カバープレート25は、ステンレス鋼プレート上で硬化されたビトン(viton)ガスケット、または当業者に公知の真空系を密閉するための他の手段を備え得る。
有用な実施形態において、プローブ挿入アセンブリ55はまた、プローブ検出センサ46(図2および5Dを参照のこと)を備え得、これはカセット11内に制限された場合、プローブ12の存在を検出するために使用され得る。プローブ検出センサ46は、光電子スイッチ、または印読み取り器50を備え得、これは本明細書中以下でさらに詳細に考察される。
図6A〜Bは、プローブフック21の異なる実施形態の側面図を示す。図6Aは、一体型フックを例示し、一方、図6Bは、2つの部品から作製されたフックを示す。後者の実施形態は、延長部品65および係合部品66を備える。当業者は、プローブフック21が、プローブ12の溝部18と係合し得る任意の突起部であり得ることを認識する。
図7を参照すると、本発明のハウジング68が記載され、このハウジングは、取り外し可能中心ユニット70、左アクセスドア72および右アクセスドア74を備える。アクセスドア72および74は、中心ユニット70に接続され、そしてそれぞれ、左カセット位置および右カセット位置にアクセスするように回転式に開けられ得る。プローブ12の質量分析中、または他の場合ではデバイス20aが休止した場合に、オペレータが、1つ以上のカセット11を交換することを望む場合、このオペレータは、ドア72および74を通してこれを行い得る。デバイス20aはまた、複数のセンサ76(例えば、光電子スイッチまたは他の接触/非接触センサ)を備え、このセンサはコントローラ14と連絡しており、中心ユニット70が適所にあり、アクセスドア72および74が、デバイス20aの全てまたは一部の作動の前に閉じられていることを検出する。コントローラ14が、ハウジング68が適切に配置されていないこと、またはアクセスドア72および74が閉じられていないことを決定した場合、コントローラ14は、ハウジング68が適切に配置されるまで、そして/またはアクセスドア72および74が閉じられるまで、カセット移送アセンブリ52のリニアアクチュエータ41ならびにプローブ挿入アセンブリ55のモータ28および33の作動を阻止し得る。有利には、このことは、オペレータを移動中の部品から保護する。
センサからの信号を受信することに加えて、そしてカセット移送アセンブリ52およびプローブ挿入アセンブリ55の直接作動のために、コントローラ14は、移動プロセスを容易にするさらなる情報(とりわけ、カセット11の各々の中に制限されたプローブ12の数および位置を特定するキュー、および各プローブ12が分析のために質量分析計13に移動されるべき順序を規定するプロトコルを含む)を受け取り得る。プロトコル情報は、各カセット11上に配置された印を同定することによって得られ得る。印の同定は、バーコード、磁気コード印、高周波印(RFIDタグ)、または情報を記憶し得る当該分野で公知の他の印を含むが、これらに限定されない。従って、本発明の有用な実施形態は、1つ以上の印読み取り器50を備え得る(図2を参照のこと)。あるいは、プロトコル情報は、ユーザーインターフェース(図示せず)を介してオペレータ入力から得られ得る。オペレータは、適切な情報をコントローラ14に手動で直接入力し得るか、またはディスケットまたはイントラネットもしくはインターネットを介してその情報をダウン装填し得るかのいずれかである。オペレータはまた、ランダムな順序でキュープローブ12を選択し得る。キューが特定されない場合、デバイス20aは、最も左の位置または最も右の位置に制限されたプローブから始めて、各プローブ12を1つ以上のカセット11から分析のための質量分析計13まで連続して移動させ得る。
カセット11に配置された印に加えて、印読取り器50がまた、プローブ12上に配置された印を同定することから情報を得うる。上に考察されるように、印読取り器50は、並進される選択プローブ12の存在を同定する能力において機能し得る。カセット11およびプローブ12に配置された同定印においてコードされる情報は、各々のプローブ12の活性表面の型を同定するための手段、各々のプローブに関連する分析プロトコルおよび/またはデータ獲得プロトコル、ならびに追跡情報およびサンプル情報の型を同定するための手段を含み得る。印を同定することはさらに、分析結果を関連付ける独特の識別子を提供し得る。
代表的な操作において、オペレータはまず、彼または彼女がデバイス20aに1つのカセット11を挿入することを望むか2つのカセット11を挿入することを望むかを、コントローラ14に示す。オペレータがただ1つのカセット11を挿入するよう選ぶ場合、リニアアクチュエータ41は、左側のアクセスドア72または右側のアクセスドア74のいずれかを介して、1つのカセット11を受けるための、それぞれ左側のカセット支持プレート38または右側のカセット支持プレート39のいずれかを配置し得る。オペレータが2つのカセット11を挿入するよう所望するならば、リニアアクチュエータ41はまず、左側のアクセスドア72を介して第1のカセット11を受けるための左側のカセット支持プレート38を配置し、続いて右側のアクセスドア74を介して第2のカセット11を受けるための右側のカセット支持プレート39を配置し、または逆の場合も同じである。支持プレート38または39上にカセット11を配置することで、対応するカセット検出センサ46を作動させ、このセンサは、各々のカセット11の存在を確認するためにコントローラ14に信号を送る。
次に、リニアアクチュエータ41は、挿入されたカセット11を印読取り器50に並進させ、存在する場合、各々のカセット11上の同定印をスキャンする。オペレータが、まだプロトコルを特定していない場合、コントローラ14は、この時に印を同定することからこれを得うる。任意の利用可能な情報が印読取り器50により得られた後、リニアアクチュエータ41は、カセット11を並進させて、プローブフック21との係合のための列中に特定される第1のプローブ12を配置する。
一旦配置されると、プローブ検出センサ46、またはあるいは印読取り器50が、選択されたプローブ12が存在するか否かを感知し得る。プローブ12が存在している場合、印読取り器50は、存在する場合、プローブ12上の任意の同定印をスキャンする。プローブが存在していないならば、オペレータが規定した設定に依存して、コントローラ14は、列を中止するか、または特定される次のプローブに列を指示し得る。後者が選択される場合、コントローラ14は、リニアアクチュエータ41に、プローブフック21に係合させるための次のプローブ12を配置させるよう命令し、この時点で、確認プロセスが、新たに始まる。
選択プローブ12の存在が確認された場合、コントローラ14は、サンプル受容ポスト16に、チャンバ26中に並進するよう指示し、続いてチャンバ26を大気圧になるまで通風する。同時に、コントローラ14は、上限センサ31をチェックして、プローブフック21がプローブ12との係合のために適切に配置されているかを決定し得る。プローブフック21が適切に配置されていない場合、モータ28が作動され、レール22に沿うプローブフック21およびねじ61を適切な係合位置に並進させる。
通風が完了すると、モータ33は、作動されて、45度CCWのような所定の角度でねじ61の中心線の周りにレール22を回転させる。レール22の長さに沿って配置されるスロット64は、親ナット60、および従ってそこに付着したプローブフック21の共同の回転を強制し、プローブフック21をプローブ12に配置した溝18と係合させる。カバープレート25がまた、レール22に固定して装着されるため、カバープレート25は、同じ所定の角度で同時に回転され、チャンバ26を開き、受容ポスト16を露出させる。次いで、受容ポスト16は、前進して、下部支持プレート24の下側と接触し、整列ピン47と接合することより本発明のデバイス20aと整列する。
一旦プローブフック21が、選択プローブ12と係合されると、コントローラ14は、モータ28を作動して、プローブフック21を受容ポスト16に直線的に並進させ、これによりまた、プローブ12を並進させる。プローブ12が、受容ポスト16に挿入されるとき、並進は止まる。この配置は、下限センサ32の信号によりコントローラ14に指示される。
プローブフック21をプローブ12から脱係合させるために、モータ33は、45度CCWのようなさらなる所定の角度でねじ61の中心線の周りにレール22を回転させる。次いで、モータ28は作動され、受容ポスト16から離してプローブフック21を可逆的に並進させ、その結果プローブフック21は、カバープレート25を越える。一旦プローブフック21がカバープレート25を越えると、モータ33は、例えば90度CWのような反対向きでレール22を回転させ、それによりカバープレート25を閉め、そして真空チャンバ26を密封する。次いで、チャンバ26は、所定の操作圧までポンプで引かれ得、そして受容ポスト16は、プローブ12を分析のための質量分析計13のイオン源チャンバ51に並進させる。
分析の間、リニアアクチュエータ41は、オペレータが、左側のカセット位置または右側のカセット位置のいずれかに接近し得るように、カセット支持体38および39を配置し得る。代表的に、質量分析計13が、左側のカセット位置で受けられるカセット11から引き出されたプローブ12を分析する場合、リニアアクチュエータ41は、交換のため、または右側のアクセスドア74を介して新しいカセット11を受けるために右側の支持プレート39を配置する。同様に、質量分析計13が、右側のカセット位置で受けられるカセット11から引き出されたプローブ12を分析する場合、リニアアクチュエータ41は、交換のため、または左側のアクセスドア72を介して新しいカセット11を受けるために左側の支持プレート38を配置する。新しいカセット11が挿入される場合、コントローラ14が、左側のカセットおよび/または右側のカセットが、適切なように、変化されたことを示し、そしてオペレータに新しいカセット11のための新しいプロトコルを特定し、または付随する同定印から新しいカセット11を記録するよう促す。
質量分析計13中での本発明のプローブ12の分析が完了する場合、リニアアクチュエータ41は、チャンバ26に対してカセット11(このカセットからこのプローブ12が、独自に引き出された)を配置し、その結果、これは分析済みプローブ12を受け得る。次いで、分析済みプローブ12を収納する受容ポスト16は、チャンバ26内に動き、これは続いて大気圧に通風される。次に、モータ33は、レール22を90度CCWのような所定の角度で回転させ、カバープレート25を開く。次いで、プローブ並進サブアセンブリは、プローブフック21を受容ポスト16へ、下限センサ32が作動するまで並進させる。次いで、コントローラ14は、モータ28に作動を止めるよう指示し、そしてモータ33にレール22を逆回転させる(例えば、45度CW)よう指示し、プローブフック21をプローブ12に係合させる。係合において、プローブ並進サブアセンブリは、上限センサ31へプローブフック21およびプローブ12の両方を直線的に並進させ、プローブ12をもとのカセット11に再挿入する。作動される場合、上限センサ31は、コントローラ14に、再挿入が完了したことを知らせ、そしてプローブ回転サブアセンブリが、45度CWのようなさらなる所定の角度だけ、プローブフック21を再び逆回転させて、プローブ12を脱係合させ、そしてプローブフック21を元の位置に戻す。最後に、コントローラ14は、列を増大させ、リニアアクチュエータ41に信号を送り、カセット11を列において同定される次のプローブ12の係合のために配置する。
一旦、第1のカセット11中に拘束される全てのプローブが分析されると、コントローラ14は、オペレータに警告し、続いてデバイス20aは、プローブ12を、存在するならば、第2のカセット11から、分析のための質量分析計13へ並進し得る。オペレータに警告するために、有用な実施形態は、1つ以上の指示光78(図7を参照のこと)を含み得、これは、分析済みプローブ12を拘束するカセット11が、取り除かれ、または交換されるまで、点灯したままであり得る。有用な実施形態としては、装填デバイス20aが受容するために構成される、各々のカセット11についての1つの指示光78を備え得る。
デバイス20aが作動するのを止める場合、デバイス20aは、手動で作動し得る。
図8A〜Bを参照して、プローブ挿入アセンブリ55の代替の実施形態が、例示される。アセンブリ55のように、プローブ挿入アセンブリ155はまた、プローブフック21ならびにレール122およびそこにスライド可能に係合される親ナット160の一般的な要素を有するプローブ並進サブアセンブリおよびプローブ回転サブアセンブリを含む。上記の同軸性の実施形態のように、プローブ並進サブアセンブリはさらに、レール122に平行に配置された中心線を有するねじ161、モータ128、モータ128に固定されて接着した第1のギア129、およびねじ161に固定されて接着し、かつ第1のギア129に回転可能に係合した第2のギア130を含む。ねじ161は、内部でねじ切りされた貫通孔162を介して、親ナット160に回転可能に係合される。操作において、モータ128の作動は、第1のギア129を回転させ、これは第2のギア130およびそこに接着されたねじ161を回転させる。ねじ161と共に回転しないように親ナット160を拘束するために、そしてそれにより直線的な並進が所望される場合、Z軸に対する親ナット160の動きを制限するために、親ナット160はさらに、レール122にスライド可能にかつ回転可能に係合するねじ切りされていない貫通孔164を含む。従って、モータ128が、ねじ161を回転させる場合、貫通孔164中のレール122の存在は、ねじ161と共に親ナット160を回転させることを妨げる。
プローブフック21を回転させるために、プローブ回転サブアセンブリはさらに、モータ133、モータ133に固定して接着された第1のギア134、およびレール122に固定して接着され、ねじ161の周りに回転されることが可能である第2のギア135を含む。モータ133が作動される場合、第1のギア134および第2のギア135は、反対の方向に回転される。第2のギア135の回転は、そこに接着されたレール122を、ねじ161の中心線の周りに回転させる。レール122が、貫通孔164を介して親ナット160に回転可能に係合されるので、レール122の回転は、それと共に一致して親ナット160を強制的に回転させる。プローブ挿入アセンブリ55の上記の同軸性の実施形態のように、レール122、親ナット160、および第2のギア135は、ねじ161の中心線の周りに回転する。別個のカバープレート25を含むプローブ挿入アセンブリ55と異なり、プローブ挿入アセンブリ155の第2のギア135は、カバープレートとして役立つことに留意のこと。本明細書中に記載されるカセット並進アセンブリおよびプローブ挿入アセンブリと同様に、全ての回転の位置および直線の位置は、1つ以上の接触型センサもしくは非接触型センサ、開ループコントロール、回転エンコーダおよび/もしくは直線エンコーダ、抵抗電位差計、容量性置換センサ、または当該分野で知られる任意の他の適切な手段、あるいはその組み合わせを用いて追跡され得る。
ここで図9A〜Bを参照すると、装填デバイス20の第2の実施形態が、記載される。上記の実施形態と同様に、装填デバイス20bは、カセット移送アセンブリおよびプローブ挿入アセンブリの成分が取り付けられ得る支持プレート202を有するフレーム200を含む。フレーム200は、カセット移送アセンブリおよびプローブ挿入アセンブリの両方が取り付けられる(示されるように)単一の構造体、または複数の構造(多分各々のアセンブリに対して別個の構造体)を含み得る。
カセット移送アセンブリは、直線的にY軸上で単一のカセット11を並進させ、プローブ挿入アセンブリとの係合のためにカセット中に拘束されるプローブ12を配置する。このプローブ挿入アセンブリは、このカセットと分析器具13の受容ポスト16との間で、カセット中に最初に拘束される個々のプローブを、係合させ、かつ並進させる。カセット移送アセンブリは、各々が複数のカセット11を受容するように構成されるカセット保持サブアセンブリ204、および各々のカセットをカセット保持サブアセンブリ204aからカセット保持サブアセンブリ204bに個々に並進させ、その間の中間位置で静止させて各々のカセット中に最初に拘束されるプローブ12を、分析のための分析器具13に並進させる、シャトル206を備える。複数の分析されないプローブ12を拘束するカセットが、カセット保持サブアセンブリ204a中に装填され、各々のカセットの、プローブ挿入アセンブリ320への個々の並進を待ち受け得る。複数の分析済みプローブ12を拘束するカセットは、プローブ挿入アセンブリ320からカセット保持サブアセンブリ204bへ並進し得、このカセットの装填デバイス20bからの除去を待ち受け得る。
図10A〜Bを参照すると、カセット保持サブアセンブリ204bが記載される。カセット保持サブアセンブリ204bは、この実施形態において、カセット保持サブアセンブリ204aの鏡像であるが、これらのサブアセンブリは、実質的に類似の様式で、構成され得る。サブアセンブリ204aまたはサブアセンブリ204bのいずれかが用いられ、各々のサブアセンブリに結合したカム成分の回転に依存して、シャトル206に、またはシャトル206からカセットを並進し得る。従って、サブアセンブリ204bのみが、詳細に記載される。カセット保持サブアセンブリ204bは、正反対に配置されたリップ212、および平面の表面の1つの上で粉砕され、または成型された不規則に形作られた溝214を有する不規則に形作られた堅いディスクから作られるカム210に結合された基盤208を含む。カム210は、支持フレーム216およびエレベータ218に結合され、これらを作動する。支持フレーム216は、その間に1つ以上のカセットを含むカセットの積み重ねを受け得る一対の支持アーム220を有する。カセットを支持フレーム216中に保持し、カセットがシャトル206およびエレベータ218と整列されることを確実にするために、カセット11の下部表面で整列スロットを係合するように構成される複数のカセット位置表示ピン222が、支持アーム220に提供される。さらなるカセットを、隣接するカセットの類似の整列ピンおよび穴に係合させることにより、最も下のカセットの上に積み重ね得る。カセットの存在が、支持アーム220の1つを介して配置される穴226を介して、最も下のカセット(存在する場合)を調べるカセット検出センサ224により検出され得る。有用な実施形態において、カセット検出センサ224は、光電子スイッチ、または力/緊張、圧力、もしくは圧電センサのような他の接触センサおよび非接触センサを含み得る。
各々の支持アーム220は、支持アーム220を、カム210の外部端230に結合するカム従動節228に結合される。図10Cに例示されるように、カム従動節228は、実例として、例えば、玉軸受のような、環状軸受234を有するピン232から作られ得る。ねじりばね236は、支持アームに結合されて、ばね保持器238(例えば、金属のシート)を用いて、カム210に対してカム従動節228を偏向させ、抗力を提供する。各々の支持アーム220のカム従動節228が、カム210のリップ212に係合する場合、各々の支持アーム220は、各々それぞれの回転軸221の周りに対向する支持アームから離れて回転され、支持アームの間に幅を作り出し、これは、任意の保持されたカセットを解放させる。あるいは、カムの外部端に対して支持アームを偏向させるためにねじりばねを用いるのではなく、他の構造体を利用して、カムの回転の際に各々の支持アームの回転を作動させ得る。例えば、カム210は、溝214に類似のカムの平面の表面上で粉砕され、または成型される第2の追加の溝を含み得る。支持アーム220のカム従動節228が、第2の溝に係合されるように配置され得、これは、カムが回転される場合、支持アームの回転を引き起こすように構成され得る。これはカム210のねじりばね236およびリップ212に対する必要を排除する。
以下により詳細に記載される様式において、エレベータ218は、カセットが、シャトル206とカセット保持サブアセンブリ204bとの間で移動される場合、カセットに対して垂直の支持を提供する。エレベータ218は、プラットホーム242に結合されたエレベーターアーム240およびエレベーターバックボーン244を組込み、このエレベーターバックボーンは、次に、線形ベアリング246に結合される。有用な実施形態において、線形ベアリング246は、クロスローラースライドアセンブリ、線形玉軸受アセンブリまたは基部208に関するエレベータ218の直線の動きを容易にする任意の他のベアリングを備え得る。線形ベアリング246は、支持ポスト248に固定され、この支持ポストは、基部208に結合される。支持フレーム216のカム従動節228に類似するカム従動節250もまた、バックボーン244に結合され、溝214に作動可能に係合される。エレベータ218はまた、各カセット11の下部表面上に配置されたアライメントホール(示さず)と係合するための、エレベーターアーム240上に配置された複数のピン252を有し、シャトルカム254は、以下により詳細に記載される様式で、シャトル206と係合するためのエレベーターアーム240上に配置される。
カム210は、モータ256(例えば、ステッパーモーター)、モータ256に結合される第1のタイミングベルト用ギアまたはタイミングベルト用滑車258、カム210に結合される第2のタイミングベルト用ギアまたはタイミングベルト用滑車260、ならびに第1および第2のギアを連結するタイミングベルト262の協調された作用によって回転される。モータ256が、第1のギア258を回転させる場合、タイミングベルト262は、第2のギア260の回転を強制し、それによって、回転カム210を回転させる。当業者に明らかなように、カム210および本明細書中に記載される任意の機構は、任意の種々の市販されるモータまたはアクチュエーター(DC、サーボ、または空気式のモータまたはアクチュエーターを含む)によって始動され得る。
カム210の角度方向を追跡するために、カセット保持サブアセンブリ204bは、カム210に固定されたフラッグ264および前もって規定されたホーム位置で基部208に取り付けられたホームセンサ266を使用する。カセット保持サブアセンブリ204に関して、ホーム位置は、例示的に、支持アーム220がカムのリップ212によって回転されず、エレベータ218が上昇位置にない、カム210の位置であり得る。ホーム位置にある場合、カム210は、フラッグ264を配置し、ホームセンサ266をトリガーし、それによって信号コントローラ14をトリガーする角度方向を有する。一旦、カム210が回転し始めると、コントローラ14は、開ループコントローラーを使用し、ホーム位置からのステップまたは間隔の数を計数する。例えば、モータ256がステッパーモーターである場合、ステッパーモーターのステップは、ホーム位置からの角度移動に相関し得る。ホームセンサ266が1つのフラッグ264によってトリガーされる場合、コントローラ14は、それが、計数した間隔を再較正し、それによって、任意の浮上または誤差を補正する。カセット保持サブアセンブリはまた、カム210の角度方向を追跡するための開ループコントロールと同時にかまたはその代わりに、他の手段(例えば、カム210の円周の周りに配置されるさらなるセンサ、抵抗電位差計、容量性移動センサ、または回転エンコーダ)を使用し得る。
操作中に、支持フレーム216のカム従動節228は、カム210の外側縁部230に係合し、エレベータ218のカム従動節250は、カム210の溝214に係合する。カム210がホーム位置から回転される場合、カム従動節250の溝214との係合は、カム従動節250が係合されるエレベータ218を上昇させる。同時に、ねじりばね236は、支持フレーム216の各支持アーム220に連結されたカム従動節228を推進し、カム210の外側縁部230を係合する。カム従動節228がリップ212に出くわす場合、リップは、ねじりばね236の付勢に対して外側の方向にカム従動節228を偏向させる。これは、次に、カム従動節228がこれらのそれぞれの回転軸221に関して、互いに離れて連結される支持アーム220を回転させる。当業者は、カム機構が、エレベータおよび支持アームの動きを制御および協調するために、個々のモータを備える他の機構と交換され得ることを理解する。
図11A〜Bにおいて、装填デバイス20bのシャトル206が示される。シャトル206は、単一のカセットを保持するカセット保持構成要素を備え、その並進を容易にするカセット並進構成要素に連結される。有用な実施形態において、カセット保持構成要素は、シャトル基部272を備え、このシャトル基部は、シャトル支持アーム294を有する支持フレームとして働き、このシャトル支持アームは、その間に単一のカセットを保持するように構成される。カセット11に対して解放可能な拘束力を課し得るラッチ300は、各シャトル支持アーム294に回転可能に連結される。ラッチ軸302は、各ラッチ300を、1つ以上のねじりばね306およびレバー304に連結し、この1つ以上のねじりばねは、ラッチ300に付勢して閉鎖するように構成され、このレバーは、カセット保持サブアセンブリ204のシャトルカム254によって始動される(図10A〜Bを参照のこと)。レバー304がシャトルカム254と係合する場合、シャトルカムは、偏心力をレバー304に付与し、このレバーは、それに連結されたラッチ軸302を回転させる。これは、次いで、ねじりばね306の付勢力に対して回転してラッチ300を開放させる。カセットがシャトル206中に拘束される場合、シャトルカム254のレバー304との係合は、ラッチ300によって課される拘束力を解放する。シャトル206に最初に拘束された任意のカセットは、ここで、そこから取り外され得るか、または新規のカセットが、シャトルに装填され得る。各ラッチ軸302は、1つ以上の軸保持装置308によってシャトル基部272に保持される。シャトル基部272はまた、複数のカセットロケーターフィーチャー310を組込み得る。カセットロケーターフィーチャー310は、複数のアライメントホール(示さず)と一致するように配置されるピンまたはシャトル基部(based)272内のカセット11のアライメントを容易にする他の構造を備え得、この複数のアライメントホールは、カセット11の下部表面に配置される。例えば、シャトル基部272は、カセット11がその中に拘束され得る入れ子として働き得る。シャトル206内の適切な位置にカセットを動かすさらなるガイディングタブまたはガイディング壁がまた、使用され得る。
カセット保持構成要素に加えて、シャトル206はまた、カセット並進構成要素に連結され、この構成要素は、シャトル基部272に連結され、ねじ274に係合するように構成される駆動ナット270を備える。図9A〜Bに示される、ねじ274は、カセット保持サブアセンブリ204aと204bとの間の長手方向の長さにわたり、駆動ナット270のねじ山を切られた貫通ボア276の内部に係合するように構成されるねじを組込む。ねじ274は、第2のタイミングベルト用ギアまたはタイミングベルト用滑車278に堅く結合され、この第2のタイミングベルト用ギア(または滑車280)は、タイミングベルト282によって、第1のタイミングベルト用ギアに連結される。第1のギア280は、モータ284(例えば、ステッパーモーター)によって回転される。モータ284の始動の際に、第1のギア280が回転し、タイミングベルト282が、第2のギア278の回転を強制するようにする。第2のギア278がねじ274に結合されるので、このねじもまた、回転し始める。ねじ274が回転される方向に依存して、シャトル206は、カセット保持サブアセンブリ204aと204bとの間を直線的に並進する。さらなる直線始動アセンブリ(例えば、リニアアクチュエータ41、モータ駆動滑車アセンブリ、入れ子式アームアセンブリまたは任意の他のリニアアクチュエータ)および当該分野で公知のガイドシステムがまた、使用され得ることが、当業者に理解されるべきである。
有用な実施形態において、シャトル206のねじ274に沿った並進をガイドするために、シャトル基部272が、ねじ山を有さない貫通ボア288を有するガイドナット286に連結され得、1つ以上のガイドベアリング290は、本装填デバイスの支持プレート202の側方表面に接触され、そして搭載されるように配置される。ガイドベアリング290が、各シャトル支持アーム294のカンチレバーされた端部292に結合されるので、ガイドベアリング290と支持プレート202との間の接触は、シャトル206に対して垂直な支持体を提供する。ガイドベアリング290はさらに、シャトル206が、シャトルとエレベータ218との間でのカセット11の移動の間、持ち上がらないように機能する。より具体的には、シャトル206がカセット保持サブアセンブリ204aまたは204bのいずれか1つに並進される場合、ガイドベアリング290は、支持基部202とブラケット269との間に挿入され、これらブラケットは、支持基部に取り付けられる(図9Bを参照)。シャトル支持アーム294は、この実施形態において片もちになるが、当業者は、クロスバーがまた、シャトル支持アームを超えて配置され得ることを理解する。さらに、特定の実施形態において、ガイドナット286はまた、内部にねじ山を切られ得、そしてねじ山のない外部を有し、この外部によって、ガイドナット286およびねじ274を導く親ナット270のねじ山の係合を協調する様式でシャトル基部272に連結されるのを可能にする。例えば、ガイドナットは、親ねじに対するガイドナットおよび駆動ナットの係合を協調する位置で、基部272に滑動可能に結合され、そして固定され得る。
直線並進の間、シャトル206の位置の追跡を補助し、それによってカセット11の追跡を補助するために、フラッグ296が、シャトル206の縁から突出するように配置される。フラッグ296は、ねじ274の長手方向の長さに沿う1つ以上の位置で配置される1つ以上のホームセンサ298をトリガーするように位置決めされる。有用な実施形態において、装填デバイス20bは、開ループコントロールを使用し、シャトル206の位置を追跡し、ここで、コントローラ14は、所定のホーム位置からのステップまたは間隔の数を計数する。コントローラは、ホームセンサ298の始動によってホーム位置まで変更され得、このホームセンサは、カセット保持サブアセンブリ204aまたは204bのいずれか1つに例示的に配置され得る。ステッパーモーターが使用される場合、ステッパーモーターのステップは、ホーム位置からのシャトル206の直線移動に相関し得る。他の追跡手段としては、ねじ274の長さに沿って配置されるさらなるセンサ、抵抗電位差計、容量性移動センサ、または回転エンコーダを使用する手段が挙げられる。
ここで、図12A〜Dを参照すると、プローブ挿入アセンブリ320が示される。装填デバイス20aのプローブ挿入アセンブリ55のように、プローブ挿入アセンブリ320もまた、プローブ12の溝18に回転可能に係合するためのプローブフック322、チャンバ26とカセット11との間のX軸において、プローブ12を直線並進するためのプローブ並進サブアセンブリ、およびプローブ12と係合するためまたはプローブ12から解放するための、X軸に対して垂直な面においてプローブフック322を回転するためのプローブ回転サブアセンブリを備える。プローブ並進サブアセンブリおよびプローブ回転サブアセンブリは、共通の要素(中空シャフトを備えるレール324、プローブフック322が堅く結合される、このレールに滑動可能に連結される親ナット326)を共有する。プローブ並進サブアセンブリは、レール324に平行に配置される中央線を有するねじ328および親ナット326の係合位置330(例えば、貫通ボア)に配置されるねじに係合するねじをさらに備える。ねじ328、レール324および親ナット326は一緒になって、プローブフック322を直線的に始動するねじレールを構成する。図12A〜Dはねじ328を完全に取り囲む係合部分を示すが、ねじの円周の一部のみを係合する係合部分(例えば、装填デバイス20aの係合部分62)が、本発明から逸脱しないことは、当業者に明らかである。
ねじ328は、モータ332、モータ332に結合される第1のタイミングベルト用ギアまたはタイミングベルト用滑車334、ねじ328に結合される第2のタイミングベルト用ギアまたはタイミングベルト用滑車336、および第1のギア334を第2のギア336に連結するタイミングベルト338の協調作用によって回転される。モータ332が、第1のギア334を回転させる場合、タイミングベルト338は、第2のギア336を回転させ、これが、次いで、ねじ328を回転させる。ねじ328での回転から親ナット326を回転拘束し、それによって直線並進が所望される場合、X軸に対する親ナット326の動きを制限するために、スロット340は、レール324の長手方向の長さに沿って配置され、親ナット326に係合し得る。スロット340の幅は、親ナット326がそれに沿って並進することを可能にするが、それに関する回転の動きのいずれからも、親ナットが制限されるように大きさを決められる。従って、ねじ328が回転される場合、スロット340の壁は、X軸での親ナット326の動きを確立するトラックとして働く。さらなる直線起動アセンブリ(例えば、リニアアクチュエータ41、モータ駆動滑車アセンブリ、入れ子式アームアセンブリまたは当該分野で公知の任意の他のリニアアクチュエータ)もまた使用され得るということは、当業者に明らかであるべきである。
プローブフック322の直線位置を追跡するために、プローブ挿入サブアセンブリは、レール324の長さに沿った所定のホーム位置で配置されるホームセンサ342と共に、開ループコントロールを使用する。ホームセンサ342がトリガーされる場合、信号は、プローブフック322がホーム位置に配置されるコントローラに通知するためにコントローラ14に送信される。モータ332がねじ328を回転させるように起動され、それによってプローブフック322を並進する場合、コントローラ14は、ホーム位置からのステップまたは間隔を数え、このステップまたは間隔は、ホーム位置からの親ナット326の直線移動に対応する。ホーム位置が境界を確定する場合、例えば、プローブ12と係合するかまたはプローブ12から解放するためのプローブフックの適切な位置決めは、カセット11内に完全に制限され、コントローラ14は、ホームセンサがトリガーされる場合、親ナット326の始動を終結する。ホーム位置が境界を確定する場合、例えば、プローブフックが、プローブ12と係合するかまたはプローブ12から解放するために配置される位置から所定の距離離れた位置は、カセット11内に完全に位置決めされ、コントローラ14は、ホームセンサがトリガーされ、親ナットがさらに所定の距離を始動された後、親ナット326の始動を終結する。有用な実施形態において、ホームセンサ342は、当該分野で公知の光電センサまたは他の接触センサおよび非接触センサを備え得る。プローブ挿入アセンブリはまた、レール324の長さに沿って配置された複数のセンサを使用し得、特に、レールの長手方向に対向する端部で、プローブフックの位置を追跡する。回転エンコーダがまた、開ループコントロールに加えてまたはその代わりに使用され得る。
レール324および親ナット326に加えて、プローブ回転サブアセンブリは、モータ344、モータ344に結合された第1のギア346、レール324に結合された第2のギア348、ならびに第1のギア346および第2のギア348の両方に回転可能に係合されるあそび歯車350をさらに備える。モータ344が始動される場合、第1のギア346は、あそび歯車350を回転させ、次いで、第2のギア348を回転させる。レール324が第2のギア348に結合されるので、レール324は、それの回りを回転される。レールがねじ328の中央線の回りに回転される場合、ねじに沿って配置されるスロット340は、親ナット326に対して力を提供し、この力は、親ナットを回転させ、それによってそれに結合されるプローブフック322を回転させる。有用な実施形態は、プローブフック322の回転の間に、X軸での親ナット326の進行を使用して、プローブ12の溝18との首尾良い係合を保証し、プローブフックが、溝18の縁部に「引っ掛かる」のを防止する。あるいは、ねじ328上のねじ山のピッチは、レール324が回転される場合、X軸における親ナット326の進行が無視できるように設計され得る。本明細書中に記載される他のプローブ回転サブアセンブリと同様に、回転はまた、他の機械的アセンブリ(例えば、モータ駆動滑車アセンブリまたは当該分野で公知の任意の他の回転アクチュエーター)によって始動され得ることが当業者に理解されるべきである。
プローブフック322の角位値を決定するために、装填デバイス20bは、(上記の実施形態のように)レール324に結合したフラッグ354によって作動される複数の位置センサを備え得るか、または、フラッグ354によって作動される単一のホームセンサ352と共に開ループコントロールを採用し得る。上記の開ループコントロール追跡法と同様に、フラッグ354がホームセンサ352を誘発する場合、信号がコントローラ14に送られ、このコントローラにレール324、従ってプローブフック322が所定のホーム位置にあることを通知する。レール324およびプローブフック322を回転するためのモータ344の作動は、工程またはホーム位置からの間隔をカウントすることによって追跡され得、これは、ホーム位置からのプローブフックの角変位に相関する。
プローブフック322に加え、レール324はまた、カバープレート356に結合され、このカバープレート356は、プローブ交換ポート358(図9Bを参照のこと)(実質的に図5A〜Bのプローブ交換ポート67と同じ)を覆うために配置される。プローブ回転サブアセンブリが作動する場合、これは、それぞれX軸に対して直交性の平面において、カバープレート356およびプローブフック322の両方を同時に回転させる。プローブ交換ポート358が、支持体プレート202を介して配置され、そして、ゲートを提供し、このゲートを通って、プローブ12がプローブ受容チャンバ26から出入りし得る。分析機器13の受容ポート16は、支持体プレート202の下側に配置される複数の整列ピン(示さず)と干渉することにより、プローブ交換ポート358と整列され得る。1つの有用な実施形態において、カバープレート356は、分析機器13のチャンバ26内の減圧を保持するためのバルブとして役立つ。例えば、カバープレート356は、複数の層357を組み込み得、これらの層の間で複数の玉軸受け362は、それぞれ、複数の斜面364と結合する。未分析のプローブ12がそこに装填された後に、カバープレート356がシールチャンバ26に回転される場合、突出259はプローブ交換ポート358(図9Bを参照のこと)を取り囲む支持体プレート202の縁に接触し、それによってシール360(図9Bを参照のこと)に関して、層357cの回転を拘束する。プローブ回転サブアセンブリのさらなる回転は、そのそれぞれの斜面364上で玉軸受け362を回転させ、そして、カバープレートの差次的な回転をもたらし、その上に配置される層357cおよび斜面364に関して、層357a〜bおよび玉軸受け362を回転させる。この玉軸受けがそれぞれの斜面上で回転するにつれて、この玉軸受けは、シール360に対してカバープレート356を直線的に押圧する(図9Bを参照のこと)。斜面364上の玉軸受け362の進行は、カバープレート内に配置されたセクタースロット367と止め具366との係合により制限される。有利なことには、この設計は、カバープレート356とシール360との間の望ましくないスライド接触を妨げる。なぜならば、カバープレートが、実際のシール操作の間にのみ、X方向に進行し、そして、これらが接触している場合、最下層357cがシールに関する回転から拘束されるためである。
1つの有用な実施形態において、プローブ挿入アセンブリ320はまた、プローブ検出センサまたは印読取り器368(図9Bを参照のこと)を備え、カセット11内で拘束される場合にプローブ12の存在を検出し得、そして/または、上記のプローブ12および/もしくはカセット11に配置される印を識別することから、さらなる情報を回収し得る。
ここで図13Aを参照して、1つの有用な実施形態において、本発明の装填デバイス20bを伴う使用に適するハウジング370が記載される。ハウジング370は、本体372、左アクセスドア374および右アクセスドア376を備える。アクセスドア374および376は、本体372に結合され、そして、カセット保持サブアセンブリ204aおよび204bにアクセスするために開き得る。作業者が、プローブ12の質量分析の間に、カセット保持サブアセンブリ204a内にさらなるカセットを装填する、および/または、カセット保持サブアセンブリ204bからカセットを取り外すことを望む場合、あるいは、さもなくば、装填デバイス20bおよび/または、質量分析計13が空運転している場合、作業者は、アクセスドア374および376を介してそうし得る。デバイス20bはまた、図7に関して考察したセンサ76と同様の複数のセンサを備え得る。センサ76は、コントローラ14と協調して、本体372が所定の場所にあり、そして、アクセスドア374および376が、デバイス20bの全体もしくは一部の作動の前に閉じることを検出する。コントローラ14が、ハウジング370が適切に配置されていないことかまたは、アクセスドア374および376が閉じていないことを決定すると、コントローラ14は、ハウジング370が適切に配置されるまで、そして/または、アクセスドア374および376が閉じられるまで、デバイス20bの作動を阻害し得る。有利なことには、このことは、作業者を移動するパーツから防御する。あるいは、アクセスドア374および376は、除去され得、その結果、カセット保持サブアセンブリは、それぞれカセット保持サブアセンブリ204aおよび204bと整列される開口部374および376を通って、あらゆる時点で、デバイスにカセットを装填するかまたはデバイスからカセットを取り外すために、アクセスされ得る。
1つの有用な実施形態において、本発明のデバイスはまた、他の安全性機能を備え、作業者を移動するパーツから防御し得る。例えば、図13Bに例示するように、装填デバイス20bはまた、可撓性材料から作られ、シャトル206に結合し、そして、周囲のデバイスフレーム200にスライド可能に配置されたベルト371を備え得る。シャトル206がカセット保持サブアセンブリ204aまたは204bのいずれか1つと整列される場合、ベルト371は、エレベータ218と他のカセット保持サブアセンブリの支持フレーム216との間に配置され、それによって、エレベータへのアクセスを妨げるが、カセットが、そのサブアセンブリの支持フレームに、装填されるかまたは支持フレームから取り外されることを可能にする。シャトル206がカセット保持サブアセンブリのいずれか1つから並進され始めると、このシャトルは、エレベータ218と両方のカセット保持サブアセンブリの支持フレーム216との間のベルトをひっぱり、それによって、両方の支持フレーム216へのアクセスを可能にするが、両方のエレベータ218へのアクセスを妨げる。操作者がベルト371とカセット保持サブアセンブリ204aまたは204bのいずれかの支持アーム220との間に、何か(例えば、指)を偶発的に挟んだ場合、装填デバイス20bはまた、警告コントローラ14に取りつけられ得るか、または装填デバイス20bをシャットダウンし得る。例えば、操作者がドアまたは開口部374または376に触れて、シャトル206の並進の間に、支持アーム220の1つとベルト371との間に、例えば指を不注意に挟んだ場合、所定の偏向または回転位置を超えた支持アームの偏向または回転は、センサを誘発する(示さず)。次いで、このセンサはコントローラ14を警告して、シャトル206の並進および/またはシャトル206とカセット保持サブアセンブリ(このシャトル206と最初に整列していた)との再配列を中断させ得、そして/またはこのセンサ信号は、即時型の緊急電源シャットダウンを開始し得、それによって、操作者が、例えば、彼または彼女の指をデバイスから引き抜くことを可能にする。当業者に明らかであるように、デバイス20bは、デバイスフレーム200の周囲のベルト371の非制限的な動きを合わせるために、わずかに改変され得る。例えば、ホームセンサ298は、フレーム200の異なる位置に再配置され得、このことは、特定の実施形態において、シャトル206上のフラッグ296の再配置を必要とし得る。さらなる歯車がまた、モータ284をリード、スクリュー274に結合して、シャトル206を作動させるために備えられ得る。
代表的な操作において、操作者は、まず、左アクセスドア374を通してカセット保持サブアセンブリ204aに、1つ以上のカセット11を含むカセットのスタックを配置する。カセット保持サブアセンブリ204aの支持フレーム216内へのカセット11の配置は、カセット検出センサ224を誘発し、これは、最下カセットの存在の検証について、コントローラ14に信号を送る。次に、コントローラ14は、モータ284を作動させて、カセット保持サブアセンブリ204aのエレベータ218上の位置にシャトル206を移動させる。シャトルの線状の作動は、ホームセンサがカセット保持サブアセンブリ204aに配置される場合にフラッグ296がホームセンサ298を誘発するときか、ホームセンサが別のどこかに配置される場合にコントローラ14が適切な数の工程またはホームセンサ298からの間隔をカウントするときのいずれかで中断する。この後、モータ256がカム210の回転を作動して、エレベータ218を上昇させる。エレベータが上昇するにつれ、シャトル206のレバー304とエレベータのシャトルカム254との係合は、未分析のカセット11の受入れについて上で記載された様式でカセット保持ラッチ300を開ける。エレベータ支持アーム240上に配置されたカセットロケーターピン252が、支持フレーム216内に拘束される最下カセットの下側表面に配置された整列穴に係合するまで、エレベータ218は上昇し続け、カセットスタックの垂直的な支持を、エレベータ支持アームまで移動させる。
カム210が回転し続ける場合、エレベータ218は、およそ一定の高さを維持する。各支持アーム220のカム従動節228がカム210の縁212と係合する場合、この支持アームがエレベータ218によって支持されるカセット11をクリアするまで、各支持アームは、対向する支持アームから離れて、回転軸221の周りを回転する。カム210が回転し続ける場合、カム210の溝214は、エレベータ218を1つのカセット11の高さだけ降下させ、次いで、およそ一定の高さでエレベータを維持する。縁212はまた、支持アーム220のカム従動節228から解放され、ねじりばね236に元のカセットスタック内に残るカセットを支持する、元の位置に戻る支持アームを偏らせる。エレベータ218は、降下して進み、カセットスタックの最下カセットのみを支持する。
エレベータ218がシャトル206の高さまで最下カセットを降下させるとき、そのカセット11の下側表面に配置される整列穴は、シャトル上に配置されるカセットロケーター機能310と係合する。カム210が回転し続ける場合、エレベータ218は降下し続け、最下カセットの支持をシャトル支持アーム294まで移動させる。エレベータ218が、シャトル206の高さより下に降下する場合、エレベータ218に結合したシャトルカム254はレバー304から解放され、ラッチ300が結合されるねじりばね306に、閉じたラッチを偏らせるのを可能にし、それによって、シャトルへカセットを固定する最下のカセット11へ拘束力を与える。カム210の回転、従って、エレベータ218の降下は、カム210に結合された1つのフラッグ264がホームセンサ266を誘発するときに中断する。
その後、コントローラ14は、モータ284を作動させてスクリュー274を回転させ、そして、シャトル206を並進して、最下のカセット11をプローブ挿入アセンブリ320へと拘束する。次いで、印読取り器368は、存在する場合、カセット上の識別印を走査し得る。操作者が、まだプロトコルを特定していない場合、コントローラ14は、この時点で識別印からプロトコルを獲得し得る。任意の入手可能な情報が印読取り器368によって得られた後、カセット11が並進されて、プローブフック322との係合のためのキュー内に特定された第1のプローブ12を配置する。
一旦配置されると、プローブ検出センサまたは印読取り器368は、選択されたプローブ12が存在するか否かを感作し得る。プローブ12が存在する場合、印読取り器368は、存在する場合、プローブ12上の任意の識別印を走査する。プローブが存在しない場合、かつ操作者が定義した設定に依存して、コントローラ14は、このキューを中断し得るか、またはキューを特定された次のプローブに進め(index)得るかのいずれかであり得る。後者が選択される場合、コントローラ14は、次のプローブに命令してプローブフック322との係合のために配置され、この時点で、検証プロセスが新たに始まる。
選択されたプローブ12の存在が確認された場合、コントローラ14は、サンプル受容ポート16に指示してチャンバ26内に移動させ、次いで、大気圧下でチャンバ26を排気する。同時に、プローブフック322がプローブ12との係合のために適切に配置されるかどうかを、例えば、ホームセンサ342と連携することによって、コントローラ14がチェックし得る。プローブフック322が適切に配置されない場合、モータ332が作動されて、適切な係合位置にプローブフック322を並進する。
排出の完了後、モータ344が作動されて、レール324に、所定の角度(例えば、45°CCW)だけスクリュー328の中心線の周囲を回転させる。レール324の長さに沿って配置されたスロット340は、リードナット326、従って、それに取り付けられたプローブフック322の協調した回転を強い、プローブ12上に配置される溝18とプローブフック322とを係合させる。カバープレート356がまたレール324に取り付けられるので、カバープレート356は、同じ所定の角度で同時に回転し、チャンバ26を開け、そして、受容ポート16を曝露する。次いで、受容ポート16が進行して支持体プレート202の下部に接触し、支持体プレートの下部に配置される整列ピンと干渉することによって存在するデバイス20bと整列される。
一旦、プローブフック322が選択されたプローブ12と係合されると、コントローラ14がモータ332を作動させて、プローブフック322を受容ポート16に向って直線的に並進させ、それによってまた、プローブ12を並進させる。コントローラ14が、プローブ12を受容ポート16に挿入する所定の数の工程または間隔をカウントする場合、並進が中断する。
プローブ12からプローブフック322を解放するために、モータ344は、さらなる所定の角度(例えば、45°CCW)でスクリュー328の中心線の周りのレール324を回転させる。次いで、モータ332を作動させて、受容ポート16からプローブフック322を可逆的に並進し、その結果、プローブフック322がカバープレート356をクリアする。一旦プローブフック322がクリアすると、モータ344は反対方向にレール324を回転させ(例えば、90°CW)、それによってカバープレート356を閉じ、減圧チャンバ26をシールする。次いでチャンバ26は、所定の作業圧力まで減圧し、そして受容ポート16が、分析のためにプローブ12を質量分析計13のイオン源チャンバ51まで並進させる。
分析の間、操作者は、さらなるカセット11をカセット保持サブアセンブリ204aによって保持されるカセットのスタックに装填し得るか、またはカセット保持サブアセンブリ204bから分析済みのカセットを取り外す。新しいカセット11が挿入されると、コントローラ14が操作者に、新しいカセット11のための新しいプロトコルを特定させるか、または、添付の識別印から新しいカセット11を登録させる。
記載された実施形態において、質量分析計13内に存在するプローブ12の分析が完了すると、分析済みのプローブ12を拘束する受容ポート16がプローブ受容チャンバ26に移動されて、シールに作用して、イオン供給源チャンバ51が減圧下を維持する一方で、プローブ受容チャンバ26が大気圧まで排気されることを許容する。次に、モータ344がレール324を所定の角度(例えば、90°CCW)で回転させ、カバープレート356を開ける。次いで、このプローブ並進サブアセンブリは、中に拘束されるプローブ12を係合するように配置されるまで、プローブフック322を受容ポート16に向って並進させる。次いで、コントローラ14がモータ332に指示を与えて作動を中断し、かつ、モータ344に指示を与えてレール324をたとえば45°CWだけ逆回転させ、プローブフック322をプローブ12に係合させる。係合に際し、プローブ並進サブアセンブリは、プローブフック322およびプローブ12の両方を、例えば、ホームセンサ342に向って直線的に並進させて、プローブ12をその元のカセット11に再び挿入し、プローブ12が完全にカセット11内に拘束される直線状の位置をはっきり分けるようにホームセンサが配置されることを確認する。誘発されると、ホームセンサ342は、再挿入が完了したことをコントローラ14に知らせ、そして、プローブ回転サブアセンブリが、再び、プローブフック322をさらなる所定の角度(例えば、45°CW)だけ逆回転させて、プローブ12を解放し、そして、プローブフック322を元の位置に戻す。最後に、コントローラ14が、キューを増加させ、そしてスクリュー274を作動させて、キューにおいて識別される次のプローブ12の係合のために、カセット11を配置する。
一旦、第1のカセット11に拘束された全てのプローブが分析されると、コントローラ14は、ねじ274を始動して、分析済みカセットを拘束するシャトル206を、カセット保持サブアセンブリ204bに並進させる。このカセットは、そのカセット保持サブアセンブリのエレベータ218の補助によって、カセットの、カセット保持サブアセンブリ204aからシャトル206への移動と類似であるが機能的に逆の形態で、すなわち、逆の順序で、シャトル206からカセット保持サブアセンブリ204bへと並進される。
一旦、分析済みカセットがカセット保持サブアセンブリ204bに移動されると、空のシャトルは、カセット保持サブアセンブリ204aに戻して並進され、分析のために別のカセットを受容し得る。カセット支持フレーム216は、1つより多いカセット11を受容し得るので、装填デバイス20bは、操作者の補助も監督もなしで、複数のカセットを分析することを要求されないままであり得る。さらに、操作者は、プローブ12の分析を中断することなく、1つ以上のさらなるカセット11を装填デバイス20bに装填すること、および/または1つ以上の分析済みカセットを、装填デバイス20bから取り出すことを選択し得る。デバイス20bに装填されたカセットは、カセットがデバイス20bに装填される順序での分析のために、並べられる。同様に、分析済みプローブを拘束するカセットは、これらのカセットが最初にデバイス20bに装填された順序で、デバイス20bから取り出され得る。従って、装填デバイス20bに装填される最初の未分析カセットは、このデバイスから取り出され得る最初の分析済みカセットである。さらに、「優先度の高い」カセットが分析される必要がある場合、カセット保持サブアセンブリ204a内に拘束される未分析カセットが取り出され、そして「優先度の高い」カセットが、シャトル206への移動のために、サブアセンブリ204aに装填され得る。
さらに、カセット保持サブアセンブリ204aは、構造的に、カセット保持サブアセンブリ204bに実質的に類似であるので、未分析のカセットは、分析を待つためにカセット保持サブアセンブリ204bに装填され得、そして分析済みカセットは、デバイスからの取り出しを待つためにカセット保持サブアセンブリ204aに移動され得る。あるいは、カセット保持サブアセンブリの1つは、分析を待っている、他のカセット保持サブアセンブリに拘束された未分析のカセットを妨害することなく、即時の分析のために、「優先度の高い」カセットを受容することに充てられ得る。さらに代替的に、単一のカセットが装填され得、そして同じカセット保持サブアセンブリから単一のカセットが回収され得、そしてシャトル206が、カセット保持サブアセンブリ204aおよび204bからプローブ挿入アセンブリへとカセットを移動させるために、交互のパターンで始動され得る。当業者に明らかであるように、両方のカセット保持サブアセンブリが、シャトル206へ、またはシャトル206からカセットを移動させ、これによって、未分析のカセットまたは分析済みカセットのいずれかの受容を可能にし得るので、さらなるアルゴリズムが使用され得る。実際に、コントローラ14は、各分析セッションのための、使用者が選択可能な複数のアルゴリズムを実行するようにプログラムされ得る。
デバイス20bが作動を停止する場合に、デバイス20bは、手動で始動され得る。
ここで図14A〜Bを参照すると、本発明の装填デバイスの第3の実施形態が記載されている。上記実施形態と同様に、装填デバイス20cは、支持プレート382を備えるフレーム380を備え、この支持プレートの上に、カセット移送アセンブリおよびプローブ挿入アセンブリの構成要素が取り付けられ得る。上記実施形態のフレームと同様に、フレーム380は、1つ以上の構造体を備え得、そして支持プレート382は、プローブ交換ポート383を備え、このプローブ交換ポートを通して、プローブ12が、プローブ受容チャンバ26に出入りし得る。
本発明の装填デバイス20cは、複数のプローブ12を拘束する単一のカセット11を受容し、そしてこのカセットをプローブ挿入アセンブリ384に移送するように構成される。カセット移送アセンブリは、とりわけ、単一のカセットを拘束および並進するように構成されたシャトル386を備える。図15A〜Bにより詳細に示されるシャトル386は、カセット保持構成要素を備え、この構成要素は、シャトル支持アーム390を有する支持フレームとして働く、シャトル基部388を備える。各支持アーム390の内側の側面には、第1の溝392が配置されており、この溝の中に、カセット11が、X軸においてスライド可能に拘束され、そしてY軸およびZ軸において完全に拘束され得、そして第2の溝410が、第1の溝に平行に配置される。カセット11をX方向に解放可能に拘束するために、シャトル基部388は、シャフト396に結合され、そして1つ以上のねじりばね398に結合された、1つ以上のグリップ394を有する。このねじりばねは、シャトル基部388を使用して逆向きの力を供給して、グリップ394を閉じるように付勢するように構成されている。従って、カセット11がシャトル386に完全に密着する場合、グリップ394は、カセットに対して解放可能な拘束力を付与し、この力は、このカセットをシャトルに固定する。グリップ394は、ハンドル397を介してシャフト396に偏心力を付与することによって、ねじりばね398におけるばねのねじれに抵抗して開き得る。このことは、フレーム380に旋回可能に結合された始動カム400とのハンドルの係合によって達成され得る。
本発明の1つの局面に従って、シャトル386は、一旦シャトル386がカセットを移動のために受容するように配置される(すなわち、装填デバイス20cへのカセットの挿入を整列するカセットガイド402(図14A〜Bを参照のこと)と整列する)と、カセット11を、グリップ394によって付与される拘束力から解放し、そしてこのカセットを排出するように構成された、カセット保持構成要素を備え得る。この位置は、本明細書中以下で、カセット装填位置と称される。シャトル386は、カセット排出スライド404をさらに備え、このスライドは、第2の溝410によって形成される軌道内にスライド可能に配置され、そして1つ以上の伸長ばね406に結合される。アンカー408は、各伸長ばね406の一端を、カセット排出スライド404に固定し、そして各伸長ばね406の他端を、シャトル基部388に固定する。カセット排出スライド404の下側に沿って、チャネル412が配置されており、このチャネルは、カセット排出スライドの深さに部分的に延びる。
操作の際に、操作者がカセット11をシャトル386に挿入する場合に、カセットは、グリップ394の表面395に接触し、そしてこの表面に沿ってスライドする。表面395が傾斜しているので、カセット11とグリップ394との間の接触力は、ねじりばね398の付勢に抵抗して、グリップを押し上げて開く。カセットが、第1の溝392によって形成された軌道内にさらにスライドするにつれて、カセットの上部表面に配置された整列ピン19(図1Bを参照のこと)が、チャネル412内にスライドする。整列ピンがチャネル412の端部に達すると、カセットにX方向で付与されるさらなる力が、カセットとカセット排出スライド404との両方を、伸長ばね406によって付与されるばねの力に反対して、カセット排出スライドがシャトル基部388の遠位壁416に当接するまで、X方向に押す。次いで、ねじりばね398がグリップ394を閉じ、拘束力をカセットに付与し、この拘束力は、カセットをシャトル内に完全に固定する。シャトル386がカセット装填位置(すなわち、カセットガイド402と整列している)の方へと戻して並進される場合、シャフト396のハンドル397が始動カム400と係合し、グリップ394を回転させて開き、これによって、伸長ばね406によって付与されるばねのねじれが、カセット11をシャトルから押し出すことを可能にする。
シャトル386内に拘束されたカセット11の並進を容易にするために、装填デバイス20bの駆動ナット270と類似の駆動ナット418が、シャトル基部388に結合される。駆動ナット418は、内側に穿孔された貫通ボア420を有し、このボアは、ねじ上に配置されたねじ山と作動可能に係合するように構築されている。図14A〜Bに示されるように、ねじ422は、第2のタイミングベルトギアまたは滑車424に取り付けられ、このギアまたは滑車は、タイミングベルト428を介して、第1のタイミングベルトギアまたは滑車426に結合されている。第1のギア426は、次に、コントローラ14の制御下のモータ430(例えば、ステッパモータ)に取り付けられる。コントローラ14がモータ430を始動する場合、第1のギア426の回転は、第2のギア424を回転させるように、タイミングベルト428を始動する。第2のギアは、ねじ422に取り付けられているので、このねじもまた回転し、ねじの回転方向に依存して、シャトル386を、このねじに沿って線形の方向に並進させる。さらなる線形始動アセンブリ(例えば、リニアアクチュエータ41、モータ駆動式滑車アセンブリ、入れ子状アームアセンブリまたは当該分野において公知の他の任意のリニアアクチュエータ)もまた使用され得ることが、当業者に明らかであるはずである。
シャトル386の位置、および従って、このシャトルに拘束されるカセットの位置を追跡するために、コントローラ14は、本明細書中上記と類似の様式で、開ループコントロールを使用し得、そしてねじ422の長手軸方向長さに沿って配置されたホームセンサ432を使用し得る。装填デバイス20cの代表的な実施形態において、ホームセンサ432は、シャトルがカセット装填位置に配置される場合に、シャトル386に設置されるフラッグ434によって誘発されるように、配置される。このホーム位置において、フラッグ434は、ホームセンサ432を誘発し、このセンサは、コントローラ14に信号を送る。コントローラ14がモータ430を始動してねじ422を回転させる場合、このコントローラは、シャトル386がホーム位置から移動する行程または間隔の数を計数して、シャトル内に拘束されたカセット11の線形位置を追跡する。シャトル386の過剰な並進を防止するために、装填デバイス20cは、支持プレート382上に取り付けられた止め436を備え得る。
図15A〜Bに戻って参照すると、シャトル382はまた、シャトルの線形並進を案内するための構成要素を備え得る。シャトル382は、装填デバイス20bのガイドナット286と類似のガイドナット437を組み込み得、このガイドナット437は、これを通してねじ422の並進を可能にするように構成された、ねじ切りされていない貫通ボア439を備える。シャトル382はまた、ベアリング438(例えば、環状玉軸受)を備え、これは、キャリッジ支持レール440上を移動するように配置される(図14Aに示されるように)。キャリッジ支持レール440とベアリング438との間の係合は、並進ガイダンスを提供するのみでなく、これはまた、シャトル支持アーム390に対するさらなる構造的支持を提供する。当業者に明らかであるように、ガイドナット286はまた、内側をねじ切りされ得、そして外側はねじ切りされておらず、このナットが、ガイドナット286および親ナット270のねじ山の、親ねじ274への係合を調整する様式で、シャトル基部272に結合されることを可能にする。例えば、このガイドナットは、ガイドナットおよび駆動ナットの、親ねじへの係合を調整する位置で、基部272にスライド可能に結合され、そして固定され得る。
本発明の別の局面に従って、装填デバイス20cは、シャトル386がカセットを受容するように配置されていない場合(すなわち、カセットが装填位置にない場合)に、デバイス20cへのカセット11の挿入を防止するように構成され得る。具体的には、装填デバイス20cは、フレーム380に旋回可能に結合されたゲート448(図14B〜Cを参照のこと)を備える。代表的な実施形態において、ねじりばね450は、シャトル386がカセットガイド402と整列していない場合に、装填デバイス20cへのカセットの挿入を妨害するように、このゲートを付勢する。シャトル386が装填位置においてカセットガイドと整列している場合、ゲート始動ローラ452は、シャトル386に結合し、ねじりばね450のばね力に抵抗してゲート448を下方に偏向させ、これによって、カセットがシャトル386から排出されるかまたはシャトルに装填されることを可能にする。シャトル386が装填位置から離れて並進し始める場合、カセット挿入は、最初に、シャトル基部388によってブロックされ、次いでゲート448によってブロックされ、このゲートは、ゲート始動ローラ452によってもはや偏向されなくなると、適所に跳ね上がる。有利には、ゲート448は、シャトル386がホーム位置にない場合にカセットがデバイス20cに装填されることを防止するのみでなく、安全特徴としてもまた働き、移動する部品から操作者を保護する。
上記実施形態と同様に、装填デバイス20cは、シャトルが装填位置に配置された場合に、シャトル386に拘束されたカセットの存在を検出するための、カセット検出センサ442をさらに備え得る。このカセット検出センサは、フレーム380上に取り付けられ、そしてコントローラ14に電気通信して結合される。有用な実施形態において、カセット検出センサ442は、光検出器、または当該分野において公知の他の接触センサもしくは非接触センサを備え得る。また、上記実施形態と同様に、装填デバイス20cは、カセット整列ストリップ444をさらに備え、このストリップは、この整列ストリップの長手軸方向長さにわたるスロットを有する。シャトル386がカセット11をねじ422に沿って並進させるにつれて、カセット11上の相補的な突出部(図示せず)がこのスロットに入り、そしてこのスロットに載り、Z軸内でのカセットの垂直方向整列を容易にする。装填デバイス20cはまた、図13A〜Bに関して記載されたものと類似の、ハウジングおよび安全特徴を組み込み得る。
装填デバイス20cのプローブ挿入アセンブリは、図5A〜H、6A〜B、8A〜B、および12A〜Dを参照して本明細書中で上記されたプローブ挿入アセンブリのいずれかを備え得、カセット11内に拘束されたプローブ12の存在を検出するため、および/またはプローブ12もしくはカセット11上に配置された印から情報を収集するためのプローブ検出センサまたは印読取り器446を備える。
本発明の有用な例示的な実施形態が上に記載されたが、種々の変化および改変が、本発明から逸脱することなくなされ得ることが、当業者に明らかである。本発明の装填デバイスおよび方法は、質量分析計(これは、本明細書中で説明の目的で使用された)以外の用途においての使用に適用可能であることもまた、明らかである。添付の特許請求の範囲は、本発明の真の精神および範囲に入るような変化および改変の全てを網羅することが意図される。
Claims (68)
- 複数のプローブが最初に拘束されるカセットと、分析機器との間で、該複数のプローブの移動を自動化するためのデバイスであって、該デバイスは、以下:
該分析機器と一体的なプローブ受容チャンバの外部に配置されたフレーム;
該フレームに取り付けられたカセット移送アセンブリであって、該カセット移送アセンブリは、以下:
(a)該カセットを受容するためのカセット保持手段、および
(b)該カセットを、第1の軸内で、規定された挿入/取り出し位置に線状に並進させる、カセット並進手段であって、該手段は、該カセットを、該プローブ受容チャンバに対して整列させ、その結果、該複数のプローブからの選択プローブが、該カセットと該プローブ受容チャンバとの間で並進され得る、カセット移送手段、
を備える、カセット移送アセンブリ;ならびに
該フレームに取り付けられたプローブ挿入アセンブリであって、該プローブ挿入アセンブリは、以下:
(a)該複数のプローブの1つと回転可能に係合する係合手段、
(b)該係合手段を回転させるための回転手段、および
(c)該係合手段を、該第1の軸に直交する第2の軸内で並進させるためのプローブ並進手段であって、ここで、該複数のプローブのうちの1つの、該第2の軸に沿った並進が、該カセットとプローブ受容チャンバとの間で該プローブを並進させる、プローブ並進手段、
を備える、プローブ挿入アセンブリ、
を備える、デバイス。 - 前記回転手段および前記プローブ並進手段が、共通の構造体を備える、請求項1に記載のデバイス。
- 前記共通の構造体が、レールおよびキャリッジを備え、該キャリッジが該レールに沿って並進され得、そして該レールと共に回転され得るように、該キャリッジが該レールに係合している、請求項2に記載のデバイス。
- 前記回転手段が、前記レールに結合されたモータをさらに備え、該モータの作動が、該レールを回転させ、引き続いて、前記キャリッジを回転させる、請求項3に記載のデバイス。
- 前記係合手段が、前記キャリッジとともに並進および回転し、そして該キャリッジの回転の際に、前記複数のプローブのうちの1つと係合または脱係合するように、該係合手段が該キャリッジ上に配置されている、請求項3に記載のデバイス。
- 前記プローブ並進手段が、中心線を有する回転可能なねじをさらに備え、該ねじが、前記レールに対して平行に配置され、そして該キャリッジと回転可能に係合する、請求項3に記載のデバイス。
- 前記キャリッジの線形並進が望ましい場合に、該キャリッジの、前記レールに対する係合が、該キャリッジが前記ねじに対して回転することを制限する、請求項6に記載のデバイス。
- 前記レールが、長手軸方向スロットを備え、前記キャリッジが、該スロットに係合するように配置される、請求項7に記載のデバイス。
- 前記プローブ並進手段が、前記ねじの回転を始動するための、該ねじに結合されたモータをさらに備える、請求項6に記載のデバイス。
- 前記プローブ挿入アセンブリが、カバープレートをさらに供え、該カバープレートを通して、前記係合したプローブが、前記分析機器の内外へと並進され、該カバープレートが、該分析機器の前記チャンバを覆うように配置されている、請求項1に記載のデバイス。
- 前記カバープレートが、前記回転手段に結合されており、その結果、該回転手段の始動が、該カバープレートと前記係合手段との両方を同時に回転させる、請求項10に記載のデバイス。
- 前記カバープレートが、前記チャンバを密封して覆い、該チャンバ内の減圧を維持するように構成されている、請求項10に記載のデバイス。
- 前記プローブ挿入アセンブリが、前記係合手段の角位置を追跡するための、少なくとも1つのセンサをさらに備える、請求項1に記載のデバイス。
- 前記プローブ挿入アセンブリが、前記係合手段の線形位置を追跡するための、回転エンコーダをさらに備える、請求項1に記載のデバイス。
- 前記プローブ挿入アセンブリが、前記係合手段の線形位置を追跡するための、少なくとも1つのセンサをさらに備える、請求項1に記載のデバイス。
- 前記係合手段の線形位置が、開ループコントロールを介して追跡される、請求項1に記載のデバイス。
- 前記係合手段の角位置が、開ループコントロールを介して追跡される、請求項1に記載のデバイス。
- 前記係合手段が、前記複数のプローブのうちの1つを係合するための機械的係合手段を備える、請求項1に記載のデバイス。
- 前記係合手段が、前記複数のプローブのうちの1つにおけるスロットを係合するための突起を備える、請求項1に記載のデバイス。
- 前記係合手段が、前記第2の軸に直交する面内で回転する、請求項1に記載のデバイス。
- 前記デバイスが、各々が複数のプローブを取り外し可能に拘束する複数のカセットを受容するように構成されている、請求項1に記載のデバイス。
- 前記デバイスが、前記複数のカセットの各々が独立して、分析の間、別個の複数のプローブを取り外し可能に拘束する別個のカセットと交換可能であることを可能にするように構成されている、請求項21に記載のデバイス。
- 前記カセットの存在を感知するための、少なくとも1つのセンサをさらに備える、請求項1に記載のデバイス。
- 前記センサが、光検出器である、請求項23に記載のデバイス。
- デジタル情報を受信するコントローラをさらに備え、該デジタル情報は、前記複数のプローブの各プローブが分析のために前記分析機器内に並進されるべき順序を特定するプロトコルを含み、該コントローラは、前記カセット移送アセンブリおよび前記プローブ挿入アセンブリを、該デジタル情報に応答して制御するように構成されている、請求項1に記載のデバイス。
- 前記カセット移送アセンブリと一体的な、予備プローブスロットをさらに備え、該予備プローブスロットは、少なくとも1つの予備プローブを受容し得る、請求項25に記載のデバイス。
- 前記コントローラが、前記予備プローブスロット内の単一の未分析プローブの受容に応答して、前記プロトコルを妨害するように構成されており、その結果、該単一の未分析プローブが、該プロトコルにおいて特定された次のプローブを移動させる前に、分析のために、前記分析機器へと移動され得る、請求項26に記載のデバイス。
- 前記コントローラが、前記複数のプローブのうちの1つの分析の完了前に、前記デバイスからの前記カセットの取り出しに応答して、該1つのプローブを、前記分析機器から前記予備プローブスロットへと移動させるように、前記デバイスを始動させるように構成されている、請求項26に記載のデバイス。
- 前記コントローラが、前記デバイスの、前記複数のプローブのうちの1つを前記分析機器に装填することの試みの失敗に応答して、該複数のプローブのうちの1つを、該分析機器から前記予備プローブスロットへと移動させるように、該デバイスを始動させるように構成されている、請求項26に記載のデバイス。
- 前記コントローラが、前記チャンバに対して前記予備プローブスロットを配置し、該予備プローブが、該予備プローブが該予備プローブスロットに挿入されるかまたは取り出されることを可能にするように、前記カセット移送アセンブリに指示するように構成されている、請求項26に記載のデバイス。
- 印読取り器をさらに備える、請求項1に記載のデバイス。
- 前記印読取り器が、並進されるべきプローブの存在を検出するように構成されている、請求項31に記載のデバイス。
- 前記カセット並進手段が、前記カセットを前記第1の軸内で並進させるためのリニアアクチュエータを備える、請求項1に記載のデバイス。
- 前記リニアアクチュエータの長手軸方向長さに沿って配置された、前記カセットの位置を追跡するための、1つ以上のセンサをさらに備える、請求項33に記載のデバイス。
- 前記1つ以上のセンサが、前記リニアアクチュエータの長手軸方向反対側の端部に配置された、移動の終了を示すための2つのセンサを備える、請求項34に記載のデバイス。
- 前記カセットの位置を追跡するための線形エンコーダをさらに備える、請求項1に記載のデバイス。
- 前記カセットの位置が、開ループコントロールを介して追跡される、請求項1に記載のデバイス。
- 前記カセット保持手段が、前記カセットを受容するためのカセット支持プレート、および該支持プレートに該カセットを解放可能に係合するための、少なくとも1つのピンを備える、請求項1に記載のデバイス。
- 前記カセット保持手段が、前記カセットとの係合のために構成された少なくとも1つの支持フレームを備える、請求項1に記載のデバイス。
- 前記少なくとも1つの支持フレームが、前記カセット並進手段に結合されており、その結果、前記カセット保持手段が、前記カセットとともに並進される、請求項39に記載のデバイス。
- 前記カセット保持手段が、前記カセットを解放可能に拘束する拘束力を、前記カセットに付与する、請求項1に記載のデバイス。
- 前記カセット移送アセンブリが、前記拘束力を解放する、請求項41に記載のデバイス。
- 前記カセット保持手段が、前記カセットに対して前記拘束力を付与するように付勢された、1つ以上のばねを備える、請求項41に記載のデバイス。
- 前記カセット保持手段が前記カセットを受容するように配置されていない場合に、該カセットが前記デバイスに装填されることをブロックするためのゲートをさらに備える、請求項1に記載のデバイス。
- 前記カセット保持手段が前記カセットを受容するように配置されている場合に、前記ゲートが開く、請求項44に記載のデバイス。
- 前記少なくとも1つの支持フレームが、第1の支持フレームおよび第2の支持フレームを備える、請求項39に記載のデバイス。
- 前記第1の支持フレームおよび第2の支持フレームの各々が、複数のカセットを受容するように構成されている、請求項46に記載のデバイス。
- 前記カセット並進手段が、前記第1の支持フレームと第2の支持フレームとの間でカセットを移送する、請求項46に記載のデバイス。
- 前記カセット移送アセンブリが、少なくとも1つのエレベータをさらに備える、請求項39に記載のデバイス。
- 前記カセット移送アセンブリが、前記少なくとも1つのエレベータおよび前記少なくとも1つの支持フレームに結合された、カムをさらに備える、請求項49に記載のデバイス。
- 前記カムの作動が、前記少なくとも1つのエレベータおよび前記少なくとも1つの支持フレームを始動させる、請求項50に記載のデバイス。
- 前記少なくとも1つの支持フレームが、複数の回転可能な支持体を備える、請求項39に記載のデバイス。
- 前記デバイスが、手動で始動され得るように構成されている、請求項1に記載のデバイス。
- 前記フレーム、カセット移送アセンブリ、およびプローブ挿入アセンブリを収容するための、取り外し可能なハウジングをさらに備える、請求項1に記載のデバイス。
- 前記カセットの挿入および/または取り出しを容易にするための、前記ハウジング上に配置された少なくとも1つのドアをさらに備える、請求項54に記載のデバイス。
- 前記デバイスの始動を可能にする前に、前記ハウジングの適切な配置、および前記少なくとも1つのドアの閉鎖を検出するための、少なくとも1つのセンサをさらに備える、請求項55に記載のデバイス。
- 分析機器への複数のプローブの移動を自動化するためのシステムであって、該システムは、以下:
固定された空間的関係で、該複数のプローブを取り外し可能に拘束するためのカセット;
該カセットと該分析機器との間で、該複数のプローブを移動させるための装填器であって、該装填器は、以下:
該分析機器と一体的なプローブ受容チャンバの外側に配置された、フレーム;
該フレームに取り付けられたカセット移送アセンブリであって、該カセット移送アセンブリは、以下:
(a)該カセットを受容するためのカセット保持手段、および
(b)該カセットを、第1の軸内で、規定された挿入/取り出し位置に線状に並進させる、カセット並進手段であって、該手段は、該カセットを、該プローブ受容チャンバに対して整列させ、その結果、該複数のプローブからの選択プローブが、該カセットと該プローブ受容チャンバとの間で並進され得る、カセット移送手段、
を備える、カセット移送アセンブリ;ならびに
該フレームに取り付けられたプローブ挿入アセンブリであって、該プローブ挿入アセンブリは、以下:
(a)該複数のプローブの1つと回転可能に係合する係合手段、
(b)該係合手段を回転させるための回転手段、および
(c)該係合手段を、該第1の軸に直交する第2の軸内で並進させるためのプローブ並進手段であって、ここで、該複数のプローブのうちの1つの、該第2の軸に沿った並進が、該カセットとプローブ受容チャンバとの間で該プローブを並進させる、プローブ並進手段、
を備える、プローブ挿入アセンブリ、
を備える、装填器、
を備える、システム。 - 分析機器への複数のプローブの移動を自動化するためのキットであって、該キットは、以下:
固定された空間的関係で、該複数のプローブを取り外し可能に拘束するためのカセット;
該カセットと該分析機器との間で、該複数のプローブを移動させるための装填器であって、該装填器は、以下:
該分析機器と一体的なプローブ受容チャンバの外側に配置された、フレーム;
該フレームに取り付けられたカセット移送アセンブリであって、該カセット移送アセンブリは、以下:
(a)該カセットを受容するためのカセット保持手段、および
(b)該カセットを、第1の軸内で、規定された挿入/取り出し位置に線状に並進させる、カセット並進手段であって、該手段は、該カセットを、該プローブ受容チャンバに対して整列させ、その結果、該複数のプローブからの選択プローブが、該カセットと該プローブ受容チャンバとの間で並進され得る、カセット移送手段、
を備える、カセット移送アセンブリ;ならびに
該フレームに取り付けられたプローブ挿入アセンブリであって、該プローブ挿入アセンブリは、以下:
(a)該複数のプローブの1つと回転可能に係合する係合手段、
(b)該係合手段を回転させるための回転手段、および
(c)該係合手段を、該第1の軸に直交する第2の軸内で並進させるためのプローブ並進手段であって、ここで、該複数のプローブのうちの1つの、該第2の軸に沿った並進が、該カセットとプローブ受容チャンバとの間で該プローブを並進させる、プローブ並進手段、
を備える、プローブ挿入アセンブリ、
を備える、装填器、
を備える、キット。 - 分析機器への複数のプローブの移動を自動化するためのキットであって、該キットは、以下:
不連続に問い合わせ可能な位置でサンプルを受容するための、複数のプローブ;
固定された空間的関係で、該複数のプローブを取り外し可能に拘束するためのカセット;
該カセットと該分析機器との間で、該複数のプローブを移動させるための装填器であって、該装填器は、以下:
該分析機器と一体的なプローブ受容チャンバの外側に配置された、フレーム;
該フレームに取り付けられたカセット移送アセンブリであって、該カセット移送アセンブリは、以下:
(a)該カセットを受容するためのカセット保持手段、および
(b)該カセットを、第1の軸内で、規定された挿入/取り出し位置に線状に並進させる、カセット並進手段であって、該手段は、該カセットを、該プローブ受容チャンバに対して整列させ、その結果、該複数のプローブからの選択プローブが、該カセットと該プローブ受容チャンバとの間で並進され得る、カセット移送手段、
を備える、カセット移送アセンブリ;ならびに
該フレームに取り付けられたプローブ挿入アセンブリであって、該プローブ挿入アセンブリは、以下:
(a)該複数のプローブの1つと回転可能に係合する係合手段、
(b)該係合手段を回転させるための回転手段、および
(c)該係合手段を、該第1の軸に直交する第2の軸内で並進させるためのプローブ並進手段であって、ここで、該複数のプローブのうちの1つの、該第2の軸に沿った並進が、該カセットとプローブ受容チャンバとの間で該プローブを並進させる、プローブ並進手段、
を備える、プローブ挿入アセンブリ、
を備える、装填器、
を備える、キット。 - 複数のプローブが最初に拘束されるカセットと、分析機器との間での、該複数のプローブの移動を自動化するための方法であって、該方法は、以下:
(a)前記カセットを、請求項1に記載のカセット保持手段に装填する工程;
(b)前記カセット並進手段を作動させて、該カセットを、挿入/取り出し位置のうちの1つに並進させる工程;
(c)前記回転手段を始動させて、前記係合手段を、該複数のプローブのうちの1つと回転可能に係合させる工程;
(d)前記プローブ並進手段を始動させて、該係合手段を前記第2の軸内で並進させる工程であって、これによって、該複数のプローブのうちの1つを、分析のために、該分析器機内へと並進させる、工程;および
(e)該プローブの分析の完了の際に、前記プローブ挿入手段を始動させて、該複数のプローブのうちの1つを回転可能に係合させ、そして該分析機器から並進させる工程、
を包含する、方法。 - 前記装填する工程が、各々が複数のプローブを拘束する複数のカセットを前記デバイスに装填する工程をさらに包含する、請求項60に記載の方法。
- 前記カセットを、複数のプローブを含む別のカセットと交換する工程をさらに包含する、請求項60に記載の方法。
- 前記交換が、前記複数のプローブのうちの1つの分析の間に起こる、請求項62に記載の方法。
- 前記カセット保持手段が、単一のプローブを受容し得る予備プローブスロットをさらに備え;そして前記方法が、前記デバイスを作動させて、前記単一のプローブを該予備プローブスロットに挿入する工程をさらに包含する、請求項60に記載の方法。
- 前記カセット内に拘束される全てのプローブを分析するために、工程(b)〜(e)を反復する工程をさらに包含する、請求項60に記載の方法。
- 前記カセット保持手段が、前記カセット並進手段に結合された一時的支持フレーム、および第1の非一時的支持フレームを備え;該装填する工程が、以下:
該カセットを、該第1の非一時的支持フレームに装填する工程;および
該カセット移送アセンブリを始動させて、該カセットを、該第1の非一時的支持フレームから該一時的支持フレームへと移動させる工程、
を包含する、請求項60に記載の方法。 - 前記カセット保持手段が、第2の非一時的支持フレームをさらに備え;前記方法が、さらに以下:
前記カセット並進手段を始動させて、前記カセットを、前記挿入/取り出し位置のうちの1つから前記第2の非一時的支持フレームへと並進させる工程;および
該カセット移送アセンブリを始動させて、該カセットを、前記一時的支持フレームから該第2の非一時的支持フレームへと移動させる工程、
を包含する、請求項66に記載の方法。 - 複数のプローブが最初に拘束されるカセットと、分析機器との間で、該複数のプローブの移動を自動化するためのデバイスであって、該デバイスは、以下:
該分析機器と一体的なプローブ受容チャンバの外部に配置されたフレーム;
該フレームに取り付けられたカセット移送アセンブリであって、該カセット移送アセンブリは、以下:
(a)該カセットを受容するように構成されたカセット支持フレーム、および
(b)該カセットを、第1の軸内で、規定された挿入/取り出し位置に線状に並進させるように構成された、カセットリニアアクチュエータサブアセンブリであって、該サブアセンブリは、該カセットを、該プローブ受容チャンバに対して整列させ、その結果、該複数のプローブからの選択プローブが、該カセットと該プローブ受容チャンバとの間で並進され得る、カセットリニアアクチュエータサブアセンブリ、
を備える、カセット移送アセンブリ;ならびに
該フレームに取り付けられたプローブ挿入アセンブリであって、該プローブ挿入アセンブリは、以下:
(a)該複数のプローブの1つと回転可能に係合するように構成された、係合片、
(b)該係合要素を回転させるように構成された、回転手段サブアセンブリ、および
(c)該係合要素を、該第1の軸に直交する第2の軸内で並進させるように構成された、プローブリニアアクチュエータサブアセンブリであって、ここで、該複数のプローブのうちの1つの、該第2の軸に沿った並進が、該カセットとプローブ受容チャンバとの間で該プローブを並進させる、プローブリニアアクチュエータサブアセンブリ、
を備える、プローブ挿入アセンブリ、
を備える、デバイス。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US35994002P | 2002-02-26 | 2002-02-26 | |
US37488902P | 2002-04-23 | 2002-04-23 | |
PCT/US2003/005814 WO2003072250A2 (en) | 2002-02-26 | 2003-02-25 | Device and methods for automating transfer of multiple samples to an analytical instrument |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005518530A true JP2005518530A (ja) | 2005-06-23 |
Family
ID=27767586
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003570985A Withdrawn JP2005518530A (ja) | 2002-02-26 | 2003-02-25 | 分析機器への複数のサンプルの移動を自動化するためのデバイスおよび方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US6866461B2 (ja) |
EP (1) | EP1478465A2 (ja) |
JP (1) | JP2005518530A (ja) |
AU (2) | AU2003212410A1 (ja) |
WO (2) | WO2003072249A2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009145345A (ja) * | 2007-12-11 | 2009-07-02 | Leica Biosystems Nussloch Gmbh | カセット交換装置 |
KR20190067003A (ko) * | 2017-12-06 | 2019-06-14 | 주식회사 싸이토젠 | 표적세포 아이솔레이터 및 표적세포 아이솔레이터의 위치결정방법 |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20060210451A1 (en) * | 2001-08-16 | 2006-09-21 | Anderson Clifford L | Fixtures for use in parallel processing bio-chips |
US20040265187A1 (en) * | 2003-01-30 | 2004-12-30 | Davin Bradley Ferguson | Blood collection slide |
US20050163686A1 (en) * | 2004-01-15 | 2005-07-28 | William I. Summers | Sterilization case with matrix base |
US7109477B2 (en) * | 2004-03-31 | 2006-09-19 | Engineering Services Inc. | Automatic sample loader for use with a mass spectrometer |
EP1695762A3 (en) * | 2005-02-02 | 2007-03-28 | Agilent Technologies, Inc. | Common carrier for loading capillary vessels |
WO2010093943A1 (en) * | 2009-02-12 | 2010-08-19 | Ibis Biosciences, Inc. | Ionization probe assemblies |
EP2237052A1 (en) * | 2009-03-31 | 2010-10-06 | Capres A/S | Automated multi-point probe manipulation |
CA2761293C (en) | 2009-05-15 | 2015-09-22 | Gen-Probe Incorporated | Method and apparatus for effecting transfer of reaction receptacles in an instrument for multi-step analytical procedures |
US9140666B2 (en) | 2012-03-15 | 2015-09-22 | Advanced Analytical Technologies, Inc. | Capillary electrophoresis system |
US11016057B2 (en) | 2012-03-15 | 2021-05-25 | Agilent Technologies, Inc. | Pulse-field multiplex capillary electrophoresis system |
US11340191B2 (en) | 2012-03-15 | 2022-05-24 | Agilent Technologies, Inc. | UV-absorbance multichannel capillary electrophoresis system |
US10493453B2 (en) * | 2016-03-08 | 2019-12-03 | David W. Wright | Mechanical actuator system and method of actuation of a diagnostic device therewith |
EP3568235B1 (en) * | 2017-01-13 | 2024-01-24 | Beckman Coulter, Inc. | Motion systems for loading tips |
WO2019040462A1 (en) * | 2017-08-21 | 2019-02-28 | Gemex Systems, Inc. | GEM MANIPULATION AND ANALYSIS SYSTEM |
GB201811927D0 (en) * | 2018-07-20 | 2018-09-05 | Experiment X Ltd | Lateral flow test strip immunoassay in vitro diagnostic device |
GB2595228B (en) * | 2020-05-18 | 2023-05-31 | Ascend Diagnostics Ltd | Mass spectrometer |
CN118106050A (zh) * | 2022-11-29 | 2024-05-31 | 康宁股份有限公司 | 具有与多个出口连通的一个端口的多层通道板 |
Family Cites Families (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2548891C3 (de) * | 1975-10-31 | 1983-04-28 | Finnigan MAT GmbH, 2800 Bremen | Probenwechsler für Massenspektrometer |
DE3002575C2 (de) | 1980-01-25 | 1983-12-29 | Finnigan MAT GmbH, 2800 Bremen | Einrichtung zum automatisch steuerbaren Probentransport in einen unter Hochvakuum stehenden Raum eines Analysengerätes |
GB2150290A (en) * | 1983-11-22 | 1985-06-26 | Prutec Ltd | Introduction of samples into a mass spectrometer |
US4879458A (en) * | 1985-08-15 | 1989-11-07 | R. J. Brunfeldt Company, Inc. | Automatic sample system for mass spectrometer |
US4772418A (en) * | 1986-10-01 | 1988-09-20 | Nalge Company | Autoclavable rack container |
US4919894A (en) * | 1988-05-23 | 1990-04-24 | Robert Daniel | Multiple sample holder indexing means and method of using same |
US5041266A (en) | 1989-12-21 | 1991-08-20 | Hoffmann-La Roche Inc. | Tray for immunometric determinations |
US5288644A (en) | 1990-04-04 | 1994-02-22 | The Rockefeller University | Instrument and method for the sequencing of genome |
US5417923A (en) * | 1991-04-24 | 1995-05-23 | Pfizer Inc. | Assay tray assembly |
US5392914A (en) * | 1993-09-21 | 1995-02-28 | Rainin Instrument Co., Inc. | Refill pack for pipette tip racks |
US5453702A (en) * | 1993-12-22 | 1995-09-26 | Methode Electronics, Inc. | Automatic probe fixture loading apparatus with gimballing compensation |
US5498545A (en) | 1994-07-21 | 1996-03-12 | Vestal; Marvin L. | Mass spectrometer system and method for matrix-assisted laser desorption measurements |
US5525314A (en) * | 1994-09-26 | 1996-06-11 | Bausch & Lomb Incorporated | Surgical tool container system |
US5607612A (en) * | 1994-10-07 | 1997-03-04 | Quiclave, L.L.C. | Container for microwave treatment of surgical instrument with arcing prevention |
US5595296A (en) * | 1995-02-14 | 1997-01-21 | Poly Vac, Incorporated | Sterilization and storage container |
US5679310A (en) * | 1995-07-11 | 1997-10-21 | Polyfiltronics, Inc. | High surface area multiwell test plate |
US5705814A (en) * | 1995-08-30 | 1998-01-06 | Digital Instruments, Inc. | Scanning probe microscope having automatic probe exchange and alignment |
US5818246A (en) | 1996-05-07 | 1998-10-06 | Zhong; George Guozhen | Automatic multi-probe PWB tester |
DE19618032C2 (de) | 1996-05-04 | 2000-04-13 | Bruker Daltonik Gmbh | Lagerfähig vorpräparierte Maldi-Probenträger |
US6393685B1 (en) * | 1997-06-10 | 2002-05-28 | The Regents Of The University Of California | Microjoinery methods and devices |
US5913422A (en) * | 1997-09-04 | 1999-06-22 | Poly Vac, Inc. | Surgical tool sterilization and storage container system |
DE19754978C2 (de) * | 1997-12-11 | 2000-07-13 | Bruker Daltonik Gmbh | Probenträger für die MALDI-Massenspektrometrie nebst Verfahren zur Herstellung der Platten und zum Aufbringen der Proben |
US6268131B1 (en) * | 1997-12-15 | 2001-07-31 | Sequenom, Inc. | Mass spectrometric methods for sequencing nucleic acids |
US6093930A (en) | 1998-04-02 | 2000-07-25 | International Business Machnines Corporation | Automatic probe replacement in a scanning probe microscope |
CH698240B1 (de) * | 1998-11-17 | 2009-06-30 | Tecan Trading Ag | Verfahren zum Wägen von Proberöhren, Zuführeinrichtung sowie Arbeitsstation. |
CN1348396A (zh) * | 1999-03-19 | 2002-05-08 | 金克克国际有限公司 | 用于高效筛选的多通孔测试板 |
ATE504937T1 (de) * | 1999-04-27 | 2011-04-15 | Bio Rad Laboratories | Probenhalter für ein gasphaseionenspektrometer |
US6555813B1 (en) * | 1999-04-29 | 2003-04-29 | Ciphergen Biosystems, Inc. | Probes with hydrophobic coatings for gas phase ion spectrometers |
JP3826884B2 (ja) * | 2000-11-09 | 2006-09-27 | ソニー株式会社 | カード状電子機器用保持具 |
-
2003
- 2003-02-25 WO PCT/US2003/005804 patent/WO2003072249A2/en not_active Application Discontinuation
- 2003-02-25 AU AU2003212410A patent/AU2003212410A1/en not_active Abandoned
- 2003-02-25 US US10/375,507 patent/US6866461B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2003-02-25 AU AU2003217735A patent/AU2003217735A1/en not_active Abandoned
- 2003-02-25 WO PCT/US2003/005814 patent/WO2003072250A2/en active Application Filing
- 2003-02-25 US US10/375,213 patent/US20030175170A1/en not_active Abandoned
- 2003-02-25 JP JP2003570985A patent/JP2005518530A/ja not_active Withdrawn
- 2003-02-25 EP EP03709349A patent/EP1478465A2/en not_active Withdrawn
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009145345A (ja) * | 2007-12-11 | 2009-07-02 | Leica Biosystems Nussloch Gmbh | カセット交換装置 |
KR20190067003A (ko) * | 2017-12-06 | 2019-06-14 | 주식회사 싸이토젠 | 표적세포 아이솔레이터 및 표적세포 아이솔레이터의 위치결정방법 |
KR102027861B1 (ko) | 2017-12-06 | 2019-11-04 | 주식회사 싸이토젠 | 표적세포 아이솔레이터 및 표적세포 아이솔레이터의 위치결정방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20030175170A1 (en) | 2003-09-18 |
WO2003072249A9 (en) | 2004-01-22 |
AU2003212410A1 (en) | 2003-09-09 |
US20030180128A1 (en) | 2003-09-25 |
AU2003212410A8 (en) | 2003-09-09 |
AU2003217735A1 (en) | 2003-09-09 |
WO2003072249A3 (en) | 2003-11-20 |
WO2003072249A2 (en) | 2003-09-04 |
US6866461B2 (en) | 2005-03-15 |
AU2003217735A8 (en) | 2003-09-09 |
WO2003072250A2 (en) | 2003-09-04 |
WO2003072250A3 (en) | 2003-12-18 |
EP1478465A2 (en) | 2004-11-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2005518530A (ja) | 分析機器への複数のサンプルの移動を自動化するためのデバイスおよび方法 | |
US6982063B2 (en) | Automated pipetting system | |
EP0525180B1 (en) | Incubator port closure for automated assay system | |
WO2022237181A1 (zh) | 一种dna、rna核酸共提取及检测系统 | |
EP1957367B1 (en) | System and method for simultaneous capping/de-capping of storage containers in an array | |
US4713974A (en) | Autosampler | |
EP2187220A2 (en) | Transporting apparatus and specimen analyzing apparatus | |
WO1995018745A1 (en) | Liquid specimen transfer apparatus and method | |
CN110631878A (zh) | 一种液基细胞自动制片医疗设备的样本移送机构 | |
CN110596408B (zh) | 一种全自动干式免疫分析设备 | |
CN217126883U (zh) | 一种多通道开盖器 | |
EP1376119A1 (en) | Electrophoresis device | |
JPS6382359A (ja) | ガスクロマトグラフ装置 | |
CN109603950B (zh) | 一种试剂瓶夹持组件、自动加载机构及其加载方法 | |
CN114755432B (zh) | 多通道荧光免疫层析分析系统及方法 | |
CN214991615U (zh) | 一种dna、rna核酸共提取及检测系统 | |
CN211505576U (zh) | 一种全自动干式免疫分析设备 | |
US6716397B2 (en) | Eluter for solid phase extraction system | |
JPS62235570A (ja) | 試料サンプリング装置 | |
CN221572583U (zh) | 用于样本分析系统的进样模块和样本分析系统 | |
US20240082848A1 (en) | Automatic dispensing device | |
CN114324931B (zh) | 一种能够对转移过程进行监控的样本调度系统 | |
CN217921398U (zh) | 开盖装置及分杯系统 | |
CN214794816U (zh) | 试剂条预处理装置及医用设备 | |
CN114924089B (zh) | 一种检测仪、取样方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060113 |
|
A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20080407 |