JP2005353340A

JP2005353340A - 質量分析装置

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Publication number: JP2005353340A
Application number: JP2004170807A
Authority: JP
Inventors: Shigeru Honjo; 繁本城; Shigeru Hosoda; 茂細田; Tatsuo Nojiri; 辰夫野尻
Original assignee: Hitachi Ltd
Current assignee: Hitachi Ltd
Priority date: 2004-06-09
Filing date: 2004-06-09
Publication date: 2005-12-22

Abstract

【課題】
従来装置にあったような探知率低下を防ぎ、個々の探知対象物質をより適した条件で分析することを可能にする質量分析装置を提供する。
【解決手段】
試料を導入し、蒸気化するための単一の試料導入部１と、前記単一の試料導入部から供給される前記試料の蒸気に含まれる物質ごとに特有なイオンを発生させるための複数のイオン源３、６と、前記複数のイオン源の各々に対応して設置され、前記イオンの質量分析を行なう複数の質量分析部５、８とを有し、探知すべき対象物質の分析を行なうよう構成したことを特徴とする。
【選択図】図１

Description

本発明は、イオンを利用して質量を分析する質量分析装置に関するものである。

質量分析装置は、物質特有なイオンの質量を分析することにより、その物質を特定する物質同定の手段として広く利用されている。

図８は、従来の質量分析装置の構成例を説明するブロック図である。５９に示す試料導入部８により試料を導入し、試料を蒸気化した後、経路６０を通り６１に示すイオン源８Aへ試料の蒸気を送りこむ。６１のイオン源８Aにて物質特有のイオンを発生させる。そのイオンを、経路６２を通して６３に示す質量分析部８Aに送りこむ。物質特有のイオンが何由来のイオンかを予めデータベースとして登録しておくことで、どのような物質が試料として導入されてきたかを判別する（例えば、特許文献１、非特許文献１参照）。

特開平６−３０２２９５号公報

志田保夫、他著：「これならわかるマススペクトロメトリー」、２００１年

しかしながら、探知対象物質の種類が多くなるにつれて、1つのイオン源ではその設定（例えば、イオン源の温度および電圧、イオンの極性、等）が一組の設定に限定されるために複数種類のイオンを判別することが困難となってきている。

探知対象物質が複数ある場合に、１つのイオン源の設定では個々の探知物質の探知性能低下を防ぐことができない。

そこで、本発明は、従来装置にあったような探知率低下を防ぎ、個々の探知対象物質をより適した条件で分析することを可能にする質量分析装置を提供することを目的とする。

上記目的を達成するために、本発明では、探知対象物質を試料導入部に導入した後に、複数の経路にてイオン源に導入するか、もしくは、複数のイオン源に分配する、ことを主要な特徴とする。

以下、本発明の代表的な構成例を述べる。

（１）本発明の質量分析装置は、試料を導入し、蒸気化するための単一の試料導入部と、前記単一の試料導入部から供給される前記試料の蒸気に含まれる物質ごとに特有なイオンを発生させるための複数のイオン源と、前記複数のイオン源の各々に対応して設置され、前記イオンの質量分析を行なう複数の質量分析部とを有し、探知すべき対象物質の分析を行なうよう構成したことを特徴とする。

（２）前記（１）の質量分析装置において、前記複数のイオン源が、第１のイオン源と第２のイオン源とからなり、前記第１のイオン源と前記第２のイオン源とは、各々経路を介して前記単一の試料導入部に並列的に接続されていることを特徴とする。

（３）前記（１）の質量分析装置において、前記複数のイオン源が、第１のイオン源と第２のイオン源とからなり、前記第１のイオン源は、第１の経路を介して前記単一の試料導入部に接続され、前記第２のイオン源は、第２の経路を介して前記第１のイオン源に接続されていることを特徴とする。

（４）前記（１）の質量分析装置において、前記複数のイオン源が、第１のイオン源と第２のイオン源とからなり、前記第１のイオン源と前記第２のイオン源とは、各々複数の経路を介して前記単一の試料導入部に並列的に接続されていることを特徴とする。

（５）前記（１）の質量分析装置において、前記複数のイオン源が、第１のイオン源と第２のイオン源とからなり、前記第１のイオン源は、第１の複数の経路を介して前記単一の試料導入部に接続され、前記第２のイオン源は、第２の複数もしくは単独の経路を介して前記第１のイオン源に接続されていることを特徴とする。

（６）本発明の質量分析装置は、試料を導入し、蒸気化するための単一の試料導入部と、前記単一の試料導入部から複数の経路を介して供給される前記試料の蒸気に含まれる物質ごとに特有なイオンを発生させるための単一のイオン源と、前記単一のイオン源に単一の経路を介して接続され、前記イオンの質量分析を行なう単一の質量分析部とを有し、かつ、前記試料に含まれる物質の蒸気が前記イオン源に到達する時間は、前記複数の経路により異なることを特徴とする。

（７）前記（６）の質量分析装置において、前記複数の経路は、複数の管路により構成され、かつ、前記試料に含まれる物質の蒸気が前記イオン源に到達する時間は、前記複数の管路の管径により異なることを特徴とする。

（８）前記（６）の質量分析装置において、前記複数の経路は、複数の管路により構成され、かつ、前記試料に含まれる物質の蒸気が前記イオン源に到達する時間は、前記複数の管路の管長により異なることを特徴とする。

（９）前記（１）乃至（６）の質量分析装置において、前記イオン源における前記試料の蒸気のイオン化方法として、電子イオン化法、化学イオン化法、高速原子衝撃法、エレクトロスプレーイオン化法、大気圧化学イオン化法、放射線照射によるイオン化法のうち、少なくとも１種類のイオン化法を用いてなることを特徴とする。

（１０）前記（１）乃至（６）の質量分析装置において、前記質量分析部は、磁場型質量分離装置、四重極型質量分離装置、イオントラップ型質量分離装置、飛行時間型質量分離装置、フーリエ変換イオンサイクロトロン型質量分離装置、イオンモビリティ型質量分離装置のうち、少なくとも１種類の装置で構成されることを特徴とする。

本発明によれば、試料導入部から複数のイオン源に試料を導入し、それぞれのイオン源につながる質量分析装置に割り当てた探知対象物の分析を実施することで、探知対象物質の探知率向上を実現する。

以下、本発明の実施例について、図面を参照して詳述する。

（実施例１）
図１は、本発明の第１の実施例になる質量分析装置の構成例を説明するブロック図である。１に示す試料導入部１により試料（例えば、気体、液体、固体、またはそれらの混合試料）を導入し、試料を蒸気化した後、経路２を通り３に示すイオン源１へ試料の蒸気を送りこむ。試料導入部１では、試料に含まれる物質によって蒸気化する温度が異なる。イオン源１にて、物質特有のイオンを発生させる。そのイオンを経路４を通して５に示す質量分析部１に送りこむ。また、経路２は６に示すイオン源２にもつながっている。イオン源２にて物質特有のイオンを発生させる。そのイオンを経路７を通して８に示す質量分析部２に送りこむ。

ここで、イオン源１では、探知すべきイオン１の信号が大きくなるようにイオン源の温度および電圧、イオンの極性、等を設定しておき、イオン源２では、探知すべきイオン２の信号が大きくなるようにイオン源の温度および電圧、イオンの極性、等を設定しておくようにする。例えば、イオン源１とイオン源２の温度を変え、それぞれのイオン源の温度を探知すべきイオンの信号が大きくなる温度に設定する。また、例えば、イオン源内部に印加する電圧についてそれぞれ探知すべきイオンの信号が大きくなる電圧に設定する。これらのことにより、探知率を向上させることが可能となる。また、例えば、イオン源１では負イオンの発生を、イオン源２では正イオンの発生をするようにイオン源のイオンの極性を変えるものとする。これにより、探知物質が負イオンと正イオンのどちらであっても探知可能となる。

図１では、経路２はイオン源１とイオン源２のみにつながっているが３つ以上のイオン源につなげることにより、さらにイオン源の設定のバリエーションを増やすことができる。また、イオン源１では探知すべきイオンをイオン１に限定して説明したが、イオン１が同じようなイオン源の設定で信号が大きくなる物質であれば、イオン１a、イオン１b、イオン１c、…、としてもよい。イオン２についても同様である。

以上のように、本発明では、１回の試料導入に際して、様々な設定のイオン源を活用することで探知率を向上することができる。また、図１では、質量分析部１と質量分析部２を別々に設置するように記載しているが、質量分析部１と質量分析部２を共有してもよい。

ここで、イオン源における試料のイオン化方法としては、電子イオン化法（electron ionization；ＥＩ）、化学イオン化法（chemical ionization；ＣＩ）、高速原子衝撃法（fast atom bombardment；ＦＡＢ）、エレクトロスプレーイオン化法（electrospray ionization；ＥＳＩ）、大気圧化学イオン化法（atmospheric pressure chemical ionization；ＡＰＣＩ）、放射線照射によるイオン化法、等がある。本実施例のイオン源は、これらのイオン化方法のいずれか1種類もしくは数種類の組合せにて実施してもよい。

また、質量分析部としては、磁場型質量分離装置（magnetic sector-type mass spectrometer；Sector ＭＳ）、四重極型質量分離装置（quadrupole mass spectrometer；ＱＭＳ）、イオントラップ型質量分離装置（ion trap mass spectrometer；ＩＴＭＳ）、飛行時間型質量分離装置（time of flight mass spectrometer；ＴＯＦＭＳ）、フーリエ変換イオンサイクロトロン型質量分離装置（Fourier-transform ion cyclotron resonance mass spectrometer；ＦＴ−ＩＣＲＭＳ）、イオンモビリティ型質量分離装置(ion mobility spectrometer；ＩＭＳ)、等がある。本実施例の質量分析部は、これらの質量分離装置の内いずれか1種類もしくは数種類の組合せにて実施してもよい。

（実施例２）
図２は、本発明の第２の実施例になる質量分析装置の構成例を説明するブロック図である。９に示す試料導入部２により試料を導入し、試料を蒸気化した後、経路１０を通り１１に示すイオン源Aへ試料の蒸気を送りこむ。イオン源Aにて物質特有のイオンを発生させる。そのイオンを経路１２を通して１３に示す質量分析部Aに送りこむ。また、イオン源Aから経路１４を通り１５に示すイオン源Bへ試料の蒸気を送りこむ。イオン源Bにて物質特有のイオンを発生させる。そのイオンを経路１６を通して１７に示す質量分析部Bに送りこむ。さらに、イオン源Bから経路１８を通り排気する。

ここで、イオン源Aでは、探知すべきイオンAの信号が大きくなるようにイオン源の温度および電圧、イオンの極性、等を設定しておき、イオン源Bでは、探知すべきイオンBの信号が大きくなるようにイオン源の温度および電圧、イオンの極性、等を設定しておくようにする。例えば、イオン源Aとイオン源Bの温度を変え、それぞれのイオン源の温度を探知すべきイオンの信号が大きくなる温度に設定する。また、例えば、イオン源内部に印加する電圧についてそれぞれ探知すべきイオンの信号が大きくなる電圧に設定する。これらのことにより探知率を向上させることが可能となる。また、例えば、イオン源Aでは負イオンの発生を、イオン源Bでは正イオンの発生をするように、イオン源のイオンの極性を変えるものとする。これにより探知物質が負イオンと正イオンのどちらであっても探知可能となる。

図２では、イオン源Bから経路１８を通り排気するように記載しているが、経路１８は次のイオン源につながり、また、そのイオン源から、次のイオン源につなげてもよい。このことにより、さらにイオン源の設定のバリエーションを増やすことができる。また、イオン源Aでは探知すべきイオンをイオンAに限定して説明したが、イオンAが同じようなイオン源の設定で信号が大きくなる物質であれば、イオンAa、イオンAb、イオンAc、…、としてもよい。イオンBについても同様である。

以上のように、本発明では、１回の試料導入に際して、様々な設定のイオン源を活用することで探知率を向上することができる。また、図２では、質量分析部Aと質量分析部Bを別々に設置するように記載しているが、質量分析部Aと質量分析部Bを共有してもよい。

ここで、本実施例のイオン源は、実施例１にて記載したイオン化方法のいずれか1種類もしくは数種類の組合せにて実施してもよい。また、本実施例の質量分析部は、実施例１にて記載した質量分離装置のいずれか1種類もしくは数種類の組合せにて実施してもよい。

（実施例３）
図３は、本発明の第３の実施例になる質量分析装置の構成例を説明するブロック図である。１９に示す試料導入部３により試料を導入し、試料を蒸気化した後、経路２０、２１、２２を通り２３に示すイオン源３Aへ試料の蒸気を送りこむ。イオン源３Aにて物質特有のイオンを発生させる。そのイオンを経路２４を通して２５に示す質量分析部３Aに送りこむ。試料導入部３にて一種類の探知物質が導入された場合において、試料導入部３からイオン源３Aへ試料の蒸気を送りこむ経路を複数設けることにより、試料導入からイオン源にてイオンとなるまでの時間を調整することが可能となる。探知物質に特化した経路の設定が可能となることで、質量分析部３Aでの分析タイミングの調整が可能となり、探知物質の探知率向上を実現する。多種類の探知物質が導入されても同様な効果が得られる。

図３では、試料導入部３により試料を導入し、試料を蒸気化した後、経路２０、２１、２２を通るように記載しているが、経路を複数の管路にすることが本実施例の特徴であり、経路が２つ以上であることを表しているものとする。試料導入部３により試料を導入し、試料を蒸気化した後の経路の構成としては、太さ（管径）および長さ（管長）を変えた配管にて実現可能である。本実施例のように、複数の管路に分け、かつ、管の太さや長さ等を変更することにより、イオン検出波形を時刻をずらして広げることが可能となる。これにより、従来の単独の管路の場合のイオン検出タイミングずれによる検知率低下を防ぐことが可能となり、検知率向上が期待できる。

ここで、本実施例のイオン源は、実施例１にて記載したイオン化方法のいずれか1種類にて実施するものである。また、本実施例の質量分析部は、実施例１にて記載した質量分離装置のいずれか1種類にて実施するものである。

（実施例４）
図４は、本発明の第４の実施例になる質量分析装置の構成例を説明するブロック図である。２６に示す試料導入部４により試料を導入し、試料を蒸気化した後、配管の太さを変えた経路２７、２８、２９を通り、３０に示すイオン源４Aへ試料の蒸気を送りこむ。イオン源４Aにて物質特有のイオンを発生させる。そのイオンを経路３１を通して３２に示す質量分析部４Aに送りこむ。２６に示す試料導入部４にて一種類の探知物質が導入された場合において、試料導入部４から３０に示すイオンン源４Aへ試料の蒸気を送りこむ経路を複数設けることにより、試料導入からイオン源にてイオンとなるまでの時間を調整することが可能となる。探知物質に特化した経路の設定が可能となることで、質量分析部４Aでの分析タイミングの調整が可能となり、探知物質の探知率向上を実現する。多種類の探知物質が導入されても同様な効果が得られる。

図４では、試料導入部４により試料を導入し、試料を蒸気化した後、配管の太さを変えた経路２７、２８、２９を通るように記載しているが、経路が複数となることが本実施例の特徴であり、経路が２つ以上であることを表しているものとする。

（実施例５）
図５は、本発明の第５の実施例になる質量分析装置の構成例を説明するブロック図である。３３に示す試料導入部５により試料を導入し、試料を蒸気化した後、配管の長さを変えた経路３４、３５、３６を通り、３７に示すイオン源５Aへ試料の蒸気を送りこむ。イオン源５Aにて物質特有のイオンを発生させる。そのイオンを経路３８を通して３９に示す質量分析部５Aに送りこむ。試料導入部５にて一種類の探知物質が導入された場合において、試料導入部５からイオン源５Aへ試料の蒸気を送りこむ経路を複数設けることにより、試料導入からイオン源にてイオンとなるまでの時間を調整することが可能となる。探知物質に特化した経路の設定が可能となることで、質量分析部５Aでの分析タイミングの調整が可能となり、探知物質の探知率向上を実現する。多種類の探知物質が導入されても同様な効果が得られる。

図５では、試料導入部５により試料を導入し、試料を蒸気化した後、配管の長さを変えた経路３４、３５、３６を通るように記載しているが、経路が複数となることが本実施例の特徴であり経路が２つ以上であることを表しているものとする。

（実施例６）
図６は、本発明の第６の実施例になる質量分析装置の構成例を説明するブロック図である。４０に示す試料導入部６により試料を導入し、試料を蒸気化した後、複数の経路４１を通り４２に示すイオン源（１）へ試料の蒸気を送りこむ。イオン源（１）にて物質特有のイオンを発生させる。そのイオンを、経路４３を通して４４に示す質量分析部（１）に送りこむ。また、複数のもしくは単独の経路４５（単独の経路の場合は図示してない）は、４６に示すイオン源（２）にもつながっている。イオン源（２）にて物質特有のイオンを発生させる。そのイオンを、経路４７を通して４８に示す質量分析部（２）に送りこむ。

ここで、イオン源（１）では、探知すべきイオン（１）の信号が大きくなるようにイオン源の温度および電圧、イオンの極性、等を設定しておき、イオン源（２）では、探知すべきイオン（２）の信号が大きくなるようにイオン源の温度および電圧、イオンの極性、等を設定しておくようにする。例えば、イオン源（１）とイオン源（２）の温度を変え、それぞれのイオン源の温度を探知すべきイオンの信号が大きくなる温度に設定する。また、例えば、イオン源内部に印加する電圧についてそれぞれ探知すべきイオンの信号が大きくなる電圧に設定する。これらのことにより、探知率を向上させることが可能となる。また、例えば、イオン源（１）では負イオンの発生を、イオン源（２）では正イオンの発生をするようにイオン源のイオンの極性を変えるものとする。これにより、探知物質が負イオンと正イオンのどちらであっても探知可能となる。

図６では、試料導入部６により経路４１、４５が記載されているが、３つ以上のイオン源につなげることにより、さらにイオン源の設定のバリエーションを増やすことができる。また、イオン源（１）では探知すべきイオンをイオン（１）に限定して説明したが、イオン（１）が同じようなイオン源の設定で信号が大きくなる物質であれば、イオン（１）a、イオン（１）b、イオン（１）c、…、としてもよい。イオン（２）についても同様である。

以上のように、本発明では、１回の試料導入に際して、様々な設定のイオン源を活用することで探知率を向上することができる。図６では、質量分析部（１）と質量分析部（２）を別々に設置するように記載しているが、質量分析部（１）と質量分析部（２）を共有してもよい。

（実施例７）
図７は、本発明の第７の実施例になる質量分析装置の構成例を説明するブロック図である。４９に示す試料導入部７により試料を導入し、試料を蒸気化した後、複数の経路５０を通り５１に示すイオン源aへ試料の蒸気を送りこむ。イオン源aにて物質特有のイオンを発生させる。そのイオンを、経路５２を通して５３に示す質量分析部aに送りこむ。また、イオン源aから複数もしくは単独の経路５４を通り、５５に示すイオン源bへ試料の蒸気を送りこむ。イオン源bにて物質特有のイオンを発生させる。そのイオンを、経路５６を通して５７に示す質量分析部bに送りこむ。さらに、イオン源bから複数もしくは単独の経路５８を通り排気する。

ここで、イオン源aでは、探知すべきイオンaの信号が大きくなるようにイオン源の温度および電圧、イオンの極性、等を設定しておき、イオン源bでは、探知すべきイオンbの信号が大きくなるようにイオン源の温度および電圧、イオンの極性、等を設定しておくようにする。例えば、イオン源aとイオン源bの温度を変え、それぞれのイオン源の温度を探知すべきイオンの信号が大きくなる温度に設定する。また、例えば、イオン源内部に印加する電圧についてそれぞれ探知すべきイオンの信号が大きくなる電圧に設定する。これらのことにより、探知率を向上させることが可能となる。また、例えば、イオン源aでは負イオンの発生を、イオン源bでは正イオンの発生をするように、イオン源のイオンの極性を変えるものとする。これにより、探知物質が負イオンと正イオンのどちらであっても探知可能となる。

図７では、イオン源bから複数もしくは単独の経路５８を通り排気するように記載しているが、複数もしくは単独の経路５８は次のイオン源につながり、また、そのイオン源から、次のイオン源につなげてもよい。このことにより、さらにイオン源の設定のバリエーションを増やすことができる。また、イオン源aでは探知すべきイオンをイオンaに限定して説明したが、イオンaが同じようなイオン源の設定で信号が大きくなる物質であればイオンa a、イオンa b、イオンa c、…、としてもよい。イオン源bについても同様である。

以上のように、本発明では、１回の試料導入に際して、様々な設定のイオン源を活用することで探知率を向上することができる。図７では、質量分析部aと質量分析部bを別々に設置するように記載しているが、質量分析部aと質量分析部bを共有してもよい。

以上詳述したように、本発明によれば、従来装置にあったような探知率低下を防ぎ、個々の探知対象物質をより適した条件で分析することを可能にする質量分析装置を実現する。複数の探知物質がある場合において、イオン源の設定が1つに絞れない時の用途に適用できる。

本発明の実施例１になる質量分析装置の構成を説明する図。本発明の実施例２になる質量分析装置の構成を説明する図。本発明の実施例３になる質量分析装置の構成を説明する図。本発明の実施例４になる質量分析装置の構成を説明する図。本発明の実施例５になる質量分析装置の構成を説明する図。本発明の実施例６になる質量分析装置の構成を説明する図。本発明の実施例７になる質量分析装置の構成を説明する図。従来の質量分析装置の構成例を説明する図。

符号の説明

１…試料導入部１、２…試料導入部１からイオン源１への経路、３…イオン源１、４…イオン源１から質量分析部１への経路、５…質量分析部１、６…イオン源２、７…イオン源２から質量分析部２への経路、８…質量分析部２、９…試料導入部２、１０…試料導入部２からイオン源Aへの経路、１１…イオン源A、１２…イオン源Aから質量分析部Aへの経路、１３…質量分析部A、１４…イオン源Aからイオン源Bへの経路、１５…イオン源B、１６…イオン源Bから質量分析部Bへの経路、１７…質量分析部B、１８…イオン源Bから次のイオン源もしくは排気への経路、１９…試料導入部３、２０…試料導入部３からイオン源３Aへの経路、２１…試料導入部３からイオン源３Aへの経路、２２…試料導入部３からイオン源３Aへの経路、２３…イオン源３A、２４…イオン源３Aから質量分析部３Aへの経路、２５…質量分析部３A、２６…試料導入部４、２７…試料導入部４からイオン源４Aへの経路、２８…試料導入部４からイオン源４Aへの経路、２９…試料導入部４からイオン源４Aへの経路、３０…イオン源４A、３１…イオン源４Aから質量分析部４Aへの経路、３２…質量分析部４A、３３…試料導入部５、３４…試料導入部５からイオン源５Aへの経路、３５…試料導入部５からイオン源５Aへの経路、３６…試料導入部５からイオン源５Aへの経路、３７…イオン源５A、３８…イオン源５Aから質量分析部５Aへの経路、３９…質量分析部５A、４０…試料導入部６、４１…試料導入部６からイオン源（１）への経路、４２…イオン源（１）、４３…イオン源（１）から質量分析部（１）への経路、４４…質量分析部（１）、４５…試料導入部６からイオン源（２）への経路、４６…イオン源（２）、４７…イオン源（２）から質量分析部（２）への経路、４８…質量分析部（２）、４９…試料導入部７、５０…試料導入部７からイオン源aへの経路、５１…イオン源a、５２…イオン源aから質量分析部aへの経路、５３…質量分析部a、５４…イオン源aからイオン源bへの経路、５５…イオン源b、５６…イオン源bから質量分析部bへの経路、５７…質量分析部b、５８…イオン源bから次のイオン源もしくは排気への経路、５９…試料導入部８、６０…試料導入部８からイオン源８Aへの経路、６１…イオン源８A、６２…イオン源８Aから質量分析部８Aへの経路、６３…質量分析部８A。

Claims

試料を導入し、蒸気化するための単一の試料導入部と、前記単一の試料導入部から供給される前記試料の蒸気に含まれる物質ごとに特有なイオンを発生させるための複数のイオン源と、前記複数のイオン源の各々に対応して設置され、前記イオンの質量分析を行なう複数の質量分析部とを有し、探知すべき対象物質の分析を行なうよう構成したことを特徴とする質量分析装置。
前記複数のイオン源が、第１のイオン源と第２のイオン源とからなり、前記第１のイオン源と前記第２のイオン源とは、各々経路を介して前記単一の試料導入部に並列的に接続されていることを特徴とする請求項１に記載の質量分析装置。
前記複数のイオン源が、第１のイオン源と第２のイオン源とからなり、前記第１のイオン源は、第１の経路を介して前記単一の試料導入部に接続され、前記第２のイオン源は、第２の経路を介して前記第１のイオン源に接続されていることを特徴とする請求項１に記載の質量分析装置。
前記複数のイオン源が、第１のイオン源と第２のイオン源とからなり、前記第１のイオン源と前記第２のイオン源とは、各々複数の経路を介して前記単一の試料導入部に並列的に接続されていることを特徴とする請求項１に記載の質量分析装置。
前記複数のイオン源が、第１のイオン源と第２のイオン源とからなり、前記第１のイオン源は、第１の複数の経路を介して前記単一の試料導入部に接続され、前記第２のイオン源は、第２の複数もしくは単独の経路を介して前記第１のイオン源に接続されていることを特徴とする請求項１に記載の質量分析装置。
試料を導入し、蒸気化するための単一の試料導入部と、前記単一の試料導入部から複数の経路を介して供給される前記試料の蒸気に含まれる物質ごとに特有なイオンを発生させるための単一のイオン源と、前記単一のイオン源に単一の経路を介して接続され、前記イオンの質量分析を行なう単一の質量分析部とを有し、かつ、前記試料に含まれる物質の蒸気が前記イオン源に到達する時間は、前記複数の経路により異なることを特徴とする質量分析装置。
前記複数の経路は、複数の管路により構成され、かつ、前記試料に含まれる物質の蒸気が前記イオン源に到達する時間は、前記複数の管路の管径により異なることを特徴とする請求項４に記載の質量分析装置。
前記複数の経路は、複数の管路により構成され、かつ、前記試料に含まれる物質の蒸気が前記イオン源に到達する時間は、前記複数の管路の管長により異なることを特徴とする請求項４に記載の質量分析装置。
前記イオン源における前記試料の蒸気のイオン化方法として、電子イオン化法、化学イオン化法、高速原子衝撃法、エレクトロスプレーイオン化法、大気圧化学イオン化法、放射線照射によるイオン化法のうち、少なくとも１種類のイオン化法を用いてなることを特徴とする請求項１乃至６に記載の質量分析装置。
前記質量分析部は、磁場型質量分離装置、四重極型質量分離装置、イオントラップ型質量分離装置、飛行時間型質量分離装置、フーリエ変換イオンサイクロトロン型質量分離装置、イオンモビリティ型質量分離装置のうち、少なくとも１種類の装置で構成されることを特徴とする請求項１乃至６に記載の質量分析装置。