JP2005351785A - Contact pin and pogo pin - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a contact pin and a pogo pin capable of attaining structural simplification by adopting a bellows structure to build a spring structure in a main body portion, capable of regulating a stroke width and contact pressure by incorporate a slit into the bellows structure, capable of shortening the full length of the pin as the whole, capable of thinning a size of the pin, and capable of eliminating contact resistance of each component by the integral structure of the main body with the spring. <P>SOLUTION: The contact pin (or pogo pin) is constituted of the bellows structure 1 having a spring function of the integrated structure, and the plurality of slits 2 is provided in the periphery of a projection part of the bellows, in the bellows structure 1. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、小型化された電子機器における、プリント基板と半導体集積回路等との電気的な接続を得るためのインターフェース部分の接触子として使用されるコンタクトピン、及び半導体検査装置・電子機器検査装置と被検査回路との電気的な接続を得るためのインターフェース部分の接触子として使用されるポゴピンに関する。   The present invention relates to a contact pin used as a contact of an interface part for obtaining an electrical connection between a printed circuit board and a semiconductor integrated circuit in a miniaturized electronic apparatus, and a semiconductor inspection apparatus / electronic apparatus inspection apparatus The present invention relates to a pogo pin used as a contact of an interface part for obtaining an electrical connection between a circuit and a circuit under test.

近年は、電子機器、半導体検査装置・電子機器検査装置の高速・高機能化に伴い、半導体集積回路等の電子部品の高速・高機能化及び多ピン化が進み、これらに用いられるコンタクトピンやポゴピン等の接触子も、それに対応して、低容量、低抵抗、低コンタクト圧の性能が要求されている。   In recent years, with the increase in speed and functionality of electronic devices, semiconductor inspection devices, and electronic device inspection devices, electronic components such as semiconductor integrated circuits have been increased in speed and functionality, and the number of pins has increased. Correspondingly, contacts such as pogo pins are required to have low capacity, low resistance, and low contact pressure.

従来のコンタクトピンは、図５に示すように、プランジャ１１、バレル１２、スプリング１３等から構成されているのが一般的であり、またポゴピンも、図６に示すように、プランジャ２１、バレル２２、ボール２３、スプリング２４等から構成されているのが一般的である。   As shown in FIG. 5, the conventional contact pin is generally composed of a plunger 11, a barrel 12, a spring 13, and the like, and the pogo pin is also composed of a plunger 21, a barrel 22 as shown in FIG. The ball 23, the spring 24, etc. are generally used.

特開２００２−３３４７６１号公報JP 2002-334761 A 特開平１０−１８９０８７号公報Japanese Patent Laid-Open No. 10-189087

しかし、従来のコンタクトピンやポゴピンは、図５及び図６に示すように、複数個の部品群で構成されるため、ピンの全体長を短くしたり、ピンの太さを細くしたり、又は各部品の接触抵抗を低く抑えることが難しかった。さらに、多ピン対応の際に必要とする１ピン当たりのコンタクト圧を低くすることも困難であった。   However, since conventional contact pins and pogo pins are composed of a plurality of parts groups as shown in FIGS. 5 and 6, the overall length of the pins is reduced, the thickness of the pins is reduced, or It was difficult to keep the contact resistance of each component low. Furthermore, it has been difficult to reduce the contact pressure per pin required when dealing with multiple pins.

本発明の目的は、上記の問題点に鑑み、ベローズ構造を採用して、バネ構造を本体部分に取り込み、構造を簡素化し、さらにはベローズ構造にスリットを入れることにより、ストローク幅とコンタクト圧の調整を図ることにより、全体として、ピンの全体長を短くし、ピンの太さを細くし、バネと本体との一体構造化により、各部品の接触抵抗を無くすことを可能にしたコンタクトピン及びポゴピンを提供することにある。   In view of the above problems, the object of the present invention is to adopt a bellows structure, incorporate the spring structure into the main body part, simplify the structure, and further slit the bellows structure to reduce the stroke width and contact pressure. By making adjustments, the overall length of the pin is shortened as a whole, the thickness of the pin is thinned, and the contact resistance of each component can be eliminated by integrating the spring and the main body. To provide pogo pins.

本発明は、上記の課題を解決するために、次のような手段を採用した。
第１の手段は、一体構造化されたバネ機能を有するベローズ構造からなることを特徴とするコンタクトピンである。 In order to solve the above problems, the present invention employs the following means.
The first means is a contact pin comprising a bellows structure having a spring function integrated into a structure.

第２の手段は、第１の手段において、前記ベローズ構造は、ベローズの突出部の周囲に複数個のスリットが設けられていることを特徴とするコンタクトピンである。   The second means is the contact pin according to the first means, wherein the bellows structure is provided with a plurality of slits around the protruding portion of the bellows.

第３の手段は、一体構造化されたバネ機能を有するベローズ構造からなることを特徴とするポゴピンである。   The third means is a pogo pin characterized by comprising a bellows structure having a spring function which is integrally structured.

第４の手段は、第３の手段において、前記ベローズ構造は、ベローズの突出部の周囲に複数個のスリットが設けられていることを特徴とするポゴピンである。   A fourth means is the pogo pin according to the third means, wherein the bellows structure is provided with a plurality of slits around the protruding portion of the bellows.

請求項１に記載の発明によれば、コンタクトピンが一体構造化されたバネ機能を有するベローズ構造から構成されているので、構造の簡素化、部品の一体化を図ることができ、さらに従来のものと比べて、コンタクトピンを短くかつ細くすることができる。   According to the first aspect of the present invention, since the contact pin is constituted by a bellows structure having a spring function in which the contact pin is integrally formed, the structure can be simplified and the parts can be integrated. The contact pin can be made shorter and thinner than the conventional one.

請求項２に記載の発明によれば、前記ベローズ構造は、ベローズの突出部の周囲に複数個のスリットを設けたので、請求項１に記載の発明の効果に加えて、ストローク幅の増加とコンタクト圧の調整が可能となり、これにより、ピン全体長が短くなり、ベローズ構造部分が短くなっても、必要なストローク幅を確保することができ、さらにはコンタクト圧を低減することができるようになる。その結果、コンタクトピンの低容量、低抵抗、低コンタクト圧化が可能となる。   According to the invention of claim 2, the bellows structure is provided with a plurality of slits around the protruding portion of the bellows, so that in addition to the effect of the invention of claim 1, an increase in stroke width and The contact pressure can be adjusted, so that the overall length of the pin is shortened, and even if the bellows structure is shortened, the necessary stroke width can be secured, and further the contact pressure can be reduced. Become. As a result, the contact pin can be reduced in capacitance, resistance, and contact pressure.

請求項３に記載の発明によれば、ポゴピンが一体構造化されたバネ機能を有するベローズ構造から構成されているので、構造の簡素化、部品の一体化を図ることができ、さらに従来のものと比べて、ポゴピンを短くかつ細くすることができる。   According to the invention described in claim 3, since the pogo pin is constituted by a bellows structure having a spring function in which the pogo pin is integrally structured, the structure can be simplified and the parts can be integrated. Compared to, the pogo pin can be made shorter and thinner.

請求項４に記載の発明によれば、前記ベローズ構造は、ベローズの突出部の周囲に複数個のスリットを設けたので、請求項３に記載の発明の効果に加えて、ストローク幅の増加とコンタクト圧の調整が可能となり、これにより、ピン全体長が短くなり、ベローズ構造部分が短くなっても、必要なストローク幅を確保することができ、さらにはコンタクト圧を低減することができるようになる。その結果、ポゴピンの低容量、低抵抗、低コンタクト圧化が可能となる。   According to the invention described in claim 4, since the bellows structure is provided with a plurality of slits around the protruding portion of the bellows, in addition to the effect of the invention described in claim 3, the stroke width is increased. The contact pressure can be adjusted, so that the overall length of the pin is shortened, and even if the bellows structure is shortened, the necessary stroke width can be secured, and further the contact pressure can be reduced. Become. As a result, the pogo pin can be reduced in capacity, resistance, and contact pressure.

本発明の第１の実施形態を図１及び図２を用いて説明する。
図１は、本実施形態の発明に係るコンタクトピンの構成を示す図である。
同図において、１は一体構造化されたバネ機能を有するベローズ構造、２はベローズ構造１の突出部の周囲に設けられた複数個のスリットである。 A first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a contact pin according to the invention of this embodiment.
In the figure, reference numeral 1 denotes a bellows structure having a spring function which is integrally structured, and 2 denotes a plurality of slits provided around the protruding portion of the bellows structure 1.

図２（１）は、片面のみにプリント基板や電子部品と接触するための部分としての絞りを設けた場合のコンタクトピンの構成を示す図であり、また図２（２）は、両面にプリント基板や電子部品と接触するための部分としての絞りを設けた場合のコンタクトピンの構成を示す図である。   FIG. 2 (1) is a diagram showing the configuration of contact pins when a diaphragm is provided as a part for contacting a printed circuit board or an electronic component only on one side, and FIG. 2 (2) is a diagram showing printing on both sides. It is a figure which shows the structure of the contact pin at the time of providing the aperture | diaphragm | restriction as a part for contacting a board | substrate and an electronic component.

本実施形態の発明によれば、コンタクトピンは、図１及び図２に示すように、一体構造化されたバネ機能を有するベローズ構造から構成され、図５の従来例に示したコンタクトピンのように、プランジャ、バレル、スプリング等の部品群を必要としないので、簡素な一体構造のコンタクトピンを実現することができる。これにより、コンタクトピンを従来のものと比べて、短くかつ細くすることができる。   According to the invention of the present embodiment, the contact pin is constituted by a bellows structure having a spring function integrated as shown in FIGS. 1 and 2, and like the contact pin shown in the conventional example of FIG. In addition, since a group of parts such as a plunger, a barrel, and a spring is not required, a simple integrated contact pin can be realized. Thereby, a contact pin can be shortened and made thin compared with the conventional one.

また、本実施形態の発明に係るコンタクトピンは、ベローズ構造１の突出部の周囲に複数個のスリット２を設けたので、ストローク幅の増加とコンタクト圧の調整が可能となり、これにより、ピン全体長が短くなり、ベローズ構造部分が短くなっても、必要なストローク幅を確保することができ、さらにはコンタクト圧を低減できるようになる。   Further, the contact pin according to the invention of the present embodiment is provided with a plurality of slits 2 around the protruding portion of the bellows structure 1, so that the stroke width can be increased and the contact pressure can be adjusted. Even if the length is shortened and the bellows structure portion is shortened, the necessary stroke width can be secured, and further the contact pressure can be reduced.

本発明の第２の実施形態を図３及び図４を用いて説明する。
図３は、本実施形態の発明に係るポゴピンの構成を示す図である。
同図において、３は一体構造化されたバネ機能を有するベローズ構造、４はベローズ構造３の突出部の周囲に設けられた複数個のスリットである。 A second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
FIG. 3 is a diagram showing the configuration of the pogo pin according to the invention of this embodiment.
In the same figure, 3 is a bellows structure having a spring function that is integrally structured, and 4 is a plurality of slits provided around the protruding portion of the bellows structure 3.

図４（１）は、片面のみにプリント基板や電子部品と接触するための部分としての絞りを設けた場合のポゴピンの構成を示す図であり、また図４（２）は、両面にプリント基板や電子部品と接触するための部分としての絞りを設けた場合のポゴピンの構成を示す図である。   FIG. 4 (1) is a diagram showing a configuration of a pogo pin when a diaphragm is provided as a part for contacting a printed circuit board or an electronic component only on one side, and FIG. 4 (2) is a printed circuit board on both sides. It is a figure which shows the structure of the pogo pin at the time of providing the aperture_diaphragm | restriction as a part for contacting with an electronic component.

本実施形態の発明によれば、ポゴピンは、図３及び図４に示すように、一体構造化されたバネ機能を有するベローズ構造から構成され、図６の従来例に示したポゴピンのようにプランジャ、バレル、ボール、スプリング等の部品群を必要としないので、簡素な一体構造のポゴピンを実現することができる。これにより、ポゴピンを従来のものと比べて、短くかつ細くすることができる。   According to the invention of the present embodiment, the pogo pin is constituted by a bellows structure having a spring function integrated into a structure as shown in FIGS. 3 and 4, and a plunger like the pogo pin shown in the conventional example of FIG. Since a group of parts such as a barrel, a ball, and a spring is not required, a simple integrated pogo pin can be realized. Thereby, the pogo pin can be made shorter and thinner than the conventional one.

また、本実施形態の発明に係るポゴピンは、ベローズ構造３の突出部の周囲に複数個のスリット４を設けたので、ストローク幅の増加とコンタクト圧の調整が可能となり、これにより、ピン全体長が短くなり、ベローズ構造部分が短くなっても、必要なストローク幅を確保することができ、さらにはコンタクト圧を低減できるようになる。   In addition, since the pogo pin according to the invention of the present embodiment is provided with a plurality of slits 4 around the protruding portion of the bellows structure 3, the stroke width can be increased and the contact pressure can be adjusted. Even if the bellows structure portion is shortened, the necessary stroke width can be secured and the contact pressure can be reduced.

第１の実施形態の発明に係るコンタクトピンの構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the contact pin which concerns on invention of 1st Embodiment. 第１の実施形態の発明に係り、片面又は両面にプリント基板や電子部品と接触するための部分としての絞りを設けた場合のコンタクトピンを示す図である。It is a figure which shows the contact pin at the time of providing the aperture | diaphragm | restriction as a part for contacting with a printed circuit board or an electronic component in one side or both surfaces according to invention of 1st Embodiment. 第２の実施形態の発明に係るポゴピンの構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the pogo pin which concerns on invention of 2nd Embodiment. 第２の実施形態の発明に係り、片面又は両面にプリント基板や電子部品と接触するための部分としての絞りを設けた場合のポゴピンを示す図である。It is a figure which shows the pogo pin at the time of providing the aperture | diaphragm | restriction as a part for contacting with a printed circuit board or an electronic component in one side or both surfaces according to invention of 2nd Embodiment. 従来技術に係るコンタクトピンの構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the contact pin which concerns on a prior art. 従来技術に係るポゴピンの構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the pogo pin which concerns on a prior art.

符号の説明Explanation of symbols

１ ベローズ構造
２ スリット
３ ベローズ構造
４ スリット
1 Bellows structure 2 Slit 3 Bellows structure 4 Slit

Claims (4)

一体構造化されたバネ機能を有するベローズ構造からなることを特徴とするコンタクトピン。   A contact pin comprising a bellows structure having a spring function which is integrally formed. 前記ベローズ構造は、ベローズの突出部の周囲に複数個のスリットが設けられていることを特徴とする請求項１に記載のコンタクトピン。   The contact pin according to claim 1, wherein the bellows structure is provided with a plurality of slits around a protruding portion of the bellows. 一体構造化されたバネ機能を有するベローズ構造からなることを特徴とするポゴピン。   A pogo pin comprising a bellows structure having a spring function which is integrally structured. 前記ベローズ構造は、ベローズの突出部の周囲に複数個のスリットが設けられていることを特徴とする請求項３に記載のポゴピン。

The pogo pin according to claim 3, wherein the bellows structure is provided with a plurality of slits around a protruding portion of the bellows.

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