JP2005348272A - Common package mounting apparatus - Google Patents

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正昭 鈴木
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a common package mounting apparatus changing a package configuration by reconfiguring a programmable device. <P>SOLUTION: This common package mounting apparatus includes: a memory packaging a plurality of programmable devices and a plurality of configuration data therein; a plurality of common packages each comprising a data selection means for selecting configuration data from the memory and data registration means for registering the selected configuration data in a programmable device; and a control package comprising a package configuration change means for changing a package configuration inside the apparatus by switching the configuration data of programmable devices mounted on the common packages. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明はプログラマブルデバイスを使用して機能を変更できるパッケージが複数で構成された装置に関する。   The present invention relates to an apparatus including a plurality of packages whose functions can be changed using a programmable device.

装置の開発においては、短納期での開発を必要とされるため、プログラマブルデバイスを多用する設計が盛んに行われている。パッケージ機能のほとんどをプログラマブルデバイスで実装するため、プログラマブルデバイスのコンフィグレーションデータを変更するだけで機能を変更できる共通のハードウェアが使用でき、ハードウェアの開発コストの削減および開発期間の短縮に貢献している。   In the development of an apparatus, since development with a short delivery time is required, designs that make heavy use of programmable devices are actively performed. Since most of the package functions are implemented with programmable devices, common hardware that can be changed by simply changing the configuration data of the programmable devices can be used, contributing to reduction in hardware development costs and development time. ing.

図7に従来例の共通パッケージの構成図を示す。   FIG. 7 shows a configuration diagram of a conventional common package.

従来は、共通のハードウェアを使用し、コンフィグレーションデータはパッケージの機能毎に違うデータを基板上のROMに予め用意し、いずれかのコンフィグレーションデータを選択してコンフィグレーションすることで、別のパッケージとなっていた。   Conventionally, common hardware is used, and configuration data is prepared separately in the ROM on the board for each function of the package. It was a package.

つまり装置を起動する時点でどの用途として各カードが起動するかをBWB(Back Wired Board)からのスロットID(Identification)等で予め指定されるので、それに対応したROMに格納されたコンフィグレーションデータをプログラマブルデバイスに登録することでパッケージに個別回路を形成していた。 (例えば特許文献1)
特開2000−165916号公報(第5頁、図3)
In other words, it is specified in advance by slot ID (Identification) etc. from BWB (Back Wired Board) which card is activated for which purpose when the device is activated, so configuration data stored in the corresponding ROM is saved. Individual circuits were formed in the package by registering in the programmable device. (For example, Patent Document 1)
JP 2000-165916 A (page 5, FIG. 3)

従来の装置は、複数の機能を実装可能な共通パッケージを使用するため、予め複数のコンフィグレーションデータを基板上のROMに格納し初期化処理で回路を固定している。   Since a conventional apparatus uses a common package capable of mounting a plurality of functions, a plurality of configuration data are stored in advance in a ROM on a substrate and a circuit is fixed by an initialization process.

このような装置において障害発生時に運用系/非運用系を切り替える冗長構成をとる場合に、装置構成の変更が簡単には出来ないため、複数枚を予め装置に実装しておく必要がある。   When such a device has a redundant configuration in which the active / non-active system is switched when a failure occurs, the device configuration cannot be easily changed. Therefore, it is necessary to mount a plurality of devices in the device in advance.

このため装置規模が大きくなり、またコストも増えるという問題がある。   For this reason, there is a problem that the scale of the apparatus increases and the cost also increases.

また初期化処理で回路機能が固定されているため、装置試験時においては全てのパッケージを用意し評価する必要があり評価に必要な部材と工数が増加する。   In addition, since the circuit function is fixed in the initialization process, it is necessary to prepare and evaluate all packages at the time of the device test, which increases the number of members and man-hours necessary for the evaluation.

本発明は、共通パッケージに搭載されているプログラマブルデバイスを再コンフィグレーションすることにより装置のパッケージの構成を任意に変更可能な共通パッケージ搭載装置を提供することを目的とする。   It is an object of the present invention to provide a common package mounting apparatus that can arbitrarily change the configuration of the apparatus package by reconfiguring programmable devices mounted on the common package.

本発明の共通パッケージ搭載装置は、複数のプログラマブルデバイスと、複数のコンフィグレーションデータを搭載したメモリと、メモリからコンフィグレーションデータを選択するデータ選択手段と、選択されたコンフィグレーションデータをプログラマブルデバイスに登録するデータ登録手段とを備える複数の共通パッケージと、共通パッケージに搭載されたプログラマブルデバイスのコンフィグレーションデータを切り替え、装置内のパッケージ構成を変更するパッケージ構成変更手段を備える制御パッケージとを有する構成である。   The common package mounting apparatus of the present invention includes a plurality of programmable devices, a memory having a plurality of configuration data mounted thereon, data selection means for selecting configuration data from the memory, and registering the selected configuration data in the programmable device. A plurality of common packages provided with data registration means for switching, and a control package provided with package configuration change means for switching configuration data of programmable devices mounted on the common package and changing the package configuration in the apparatus. .

この構成により、プログラマブルデバイスのコンフィグレーションデータを供給するメモリ(フラッシュメモリカードなど)には複数のパッケージ機能を実現するためのデータを搭載し、装置動作中でも制御パッケージの指示により任意のタイミングで複数のコンフィグレーションデータの切り替えを行う再コンフィグレーションを可能としている。   With this configuration, the memory that supplies the configuration data of the programmable device (flash memory card, etc.) is equipped with data for realizing multiple package functions. Enables reconfiguration to switch configuration data.

この結果、装置動作中でも装置構成の変更が容易に行うことができる。   As a result, the device configuration can be easily changed even during device operation.

また、複数の共通パッケージに共有の予備の共通パッケージと、共通パッケージに故障が発生したときに、故障を制御パッケージに通知する故障通知手段と、故障通知を受けた制御パッケージが、予備の共通パッケージのメモリから、通知された故障パッケージに対応するコンフィグレーションデータを選択し、プログラマブルデバイスに登録指示を行う故障復旧指示手段とを有する構成である。   Also, a spare common package shared by a plurality of common packages, a failure notification means for notifying the control package of a failure when a failure occurs in the common package, and a control package that has received the failure notification is a spare common package This configuration includes failure recovery instruction means for selecting configuration data corresponding to the notified failure package from the memory and instructing registration to the programmable device.

この構成により障害発生時に運用系/非運用系を切り替える機能を有する装置においては、各パッケージについて複数枚を装置に実装するのではなく、複数パッケージに共有の予備の共通パッケージを用意することで、故障したときに、少ないパッケージ構成で容易に装置構成の変更が出来るので、障害からの自動復旧が簡単に実現できる。   In a device that has the function of switching between active and non-operating systems when a failure occurs due to this configuration, instead of mounting multiple packages for each package on the device, by preparing a shared spare common package in multiple packages, When a failure occurs, the device configuration can be easily changed with a small package configuration, so that automatic recovery from a failure can be easily realized.

また、共通パッケージのメモリに予め搭載されている試験用コンフィグレーションデータをプログラマブルデバイスに登録することで共通パッケージを試験用パッケージに変更し、変更された試験用パッケージに基づいて装置の試験を行う試験手段を有する構成である。   In addition, the test configuration data pre-installed in the memory of the common package is registered in the programmable device, so that the common package is changed to the test package, and the device is tested based on the changed test package. It is the structure which has a means.

この構成により、装置試験を行うときに、通常の運用の装置構成から試験の装置構成に簡単に変更できる。   With this configuration, when performing a device test, it is possible to easily change from a normal operation device configuration to a test device configuration.

また、試験手段は、プログラマブルデバイスに、試験パターンを生成し送出する試験符号生成送出手段と、試験パターンを受信しチェックする試験符号受信チェック手段とを備え、制御パッケージの指示により、共通パッケージ間の相互接続の疎通試験を行う疎通試験手段とを有する構成である。   The test means includes a test code generation / transmission means for generating and sending a test pattern to the programmable device, and a test code reception check means for receiving and checking the test pattern. And a communication test means for performing a communication test of the interconnection.

この構成により、少ない外部設備により、試験を実施できるので、装置試験を効率的に実施できる。   With this configuration, the test can be carried out with a small number of external facilities, so that the apparatus test can be carried out efficiently.

また、疎通試験手段は、プログラムデバイス間の疎通試験も行う構成である。   The communication test means is also configured to perform a communication test between program devices.

この構成により、共通パッケージの単体試験を行えるので、試験の効率を図れる。   With this configuration, a common package unit test can be performed, so that the efficiency of the test can be achieved.

本発明により、メモリカード等を含めてパッケージを共通化するため、パッケージの品種を減らすことができ、製造および管理コストを削減できる。   According to the present invention, since a package including a memory card or the like is shared, the type of package can be reduced, and manufacturing and management costs can be reduced.

制御パッケージから任意のタイミングで再コンフィグレーションが可能であるため、二重化等の冗長構成を少ないパッケージ枚数で容易に実現することが可能となる。   Since reconfiguration can be performed at an arbitrary timing from the control package, a redundant configuration such as duplication can be easily realized with a small number of packages.

また、試験機能を有することにより、容易に試験回路に切り替え可能なため、工場での出荷試験やフィールド障害発生時の対応が大幅に短縮することができるため、コストの削減が可能となる。   In addition, since it can be easily switched to a test circuit by having a test function, it is possible to significantly reduce the shipping test at the factory and the response when a field failure occurs, thereby reducing the cost.

図1に実施例の共通パッケージ搭載装置の構成図を示す。   FIG. 1 shows a configuration diagram of a common package mounting apparatus according to the embodiment.

共通パッケージ搭載装置1は、架に搭載されるような装置、BTS(Base Transceiver Station:無線基地局)、RNC(Radio Network Controller:無線網制御装置)や回線装置などを含む通信関連の装置などである。   The common package mounting device 1 is a device mounted on a rack, a BTS (Base Transceiver Station), a communication-related device including an RNC (Radio Network Controller), a line device, and the like. is there.

共通パッケージ搭載装置1は、制御パッケージ2とBWB(Back Wired Board)3と共通パッケージ4の例えば機能A、機能B、機能C、予備とを有する。   The common package mounting device 1 includes, for example, a function A, a function B, a function C, and a spare of the control package 2, the BWB (Back Wired Board) 3, and the common package 4.

制御パッケージ2は、共通パッケージ4のコンフィグレーションデータ(以下コンフィグデータと呼ぶ)を切替える制御および装置全体の制御を行う。   The control package 2 performs control for switching configuration data (hereinafter referred to as configuration data) of the common package 4 and control of the entire apparatus.

BWB3は、架に搭載されるバックボード配線のボードである。   BWB 3 is a board for backboard wiring mounted on a rack.

共通パッケージ4は、装置の各機能を実現している。   The common package 4 realizes each function of the apparatus.

共通パッケージ4は、メモリカード41とコンフィグ回路42とプログラマブルデバイス43とを有する。   The common package 4 includes a memory card 41, a configuration circuit 42, and a programmable device 43.

メモリカード41は、複数のコンフィグデータを格納しており、制御パッケージ2からの機能切り替え信号と再コンフィグトリガ信号とにより、任意のタイミングでプログラマブルデバイスの再コンフィグレーションを実施することで機能の切り替えが行える。   The memory card 41 stores a plurality of configuration data, and the function switching can be performed by reconfiguring the programmable device at an arbitrary timing by the function switching signal and the reconfiguration trigger signal from the control package 2. Yes.

媒体としては、コンパクトフラッシュ、SDメモリカード、フラッシュメモリカードなどの不揮発性のメモリカード41である。   The medium is a non-volatile memory card 41 such as a compact flash, an SD memory card, or a flash memory card.

コンフィグ回路42は、共通パッケージ4のコンフィグデータを制御する回路や故障通知回路などの機能を有する。   The configuration circuit 42 has functions such as a circuit for controlling configuration data of the common package 4 and a failure notification circuit.

プログラマブルデバイス43は、プログラミングすることができるLSIである。素子としては書き換え可能なFPGA(Field Programmable Gate Array)、DSP、CPUなどである。   The programmable device 43 is an LSI that can be programmed. The element is a rewritable FPGA (Field Programmable Gate Array), DSP, CPU, or the like.

図2にメモリレイアウトの説明図を示す。   FIG. 2 is an explanatory diagram of the memory layout.

図2(a)の例では、コンフィグデータは各機能ごとに同一容量であり、決められたアドレスから配置される。   In the example of FIG. 2A, the configuration data has the same capacity for each function and is arranged from a predetermined address.

例えば機能Aのコンフィグデータは、00000000〜000FFFFF、機能Bのコンフィグデータは、0010000〜001FFFFF、機能Cのコンフィグデータは、00200000〜002FFFFFなどのようである。   For example, the configuration data for function A is 00000000 to 000FFFFF, the configuration data for function B is 0010000 to 001FFFFF, the configuration data for function C is 00200000 to 002FFFFF, and so on.

コンフィグ回路42は、コンフィグデータ読出しの先頭アドレスを変更することによって変更されたコンフィグデータを読み出すことができる。   The configuration circuit 42 can read the changed configuration data by changing the start address of reading the configuration data.

容量を2のn乗にすることで、アドレスの選択は上位アドレスのみの選択にでき、回路を簡単にできる。   By setting the capacity to 2 to the nth power, the address can be selected only for the upper address, and the circuit can be simplified.

図2(b)の例では、固定のアドレス(図では0番地)から機能ごとのコンフィグデータのインデックス(番地)を格納する。図2(a)の例よりコンフィグ回路は複雑になるが、機能ごとのコンフィグデータ容量が大きく異なる場合に有効である。   In the example of FIG. 2B, an index (address) of configuration data for each function is stored from a fixed address (address 0 in the figure). Although the configuration circuit is more complicated than the example of FIG. 2A, it is effective when the configuration data capacity for each function differs greatly.

例えば機能A、機能B、機能Cの各インデックスを00000000、00000004、00000008に格納する形態である。   For example, the indexes of function A, function B, and function C are stored in 00000000, 00000004, and 00000008.

また、コンフィグデータを生成するには、ユーザ側で、パーソナルコンピュータやワークステーションなどで専用のソフトウエアを実行し、ハードウエア記述言語(HDL)や回路図を入力することで設計を行う。   In order to generate configuration data, design is performed by executing dedicated software on a personal computer or workstation on the user side and inputting a hardware description language (HDL) or a circuit diagram.

そして、専用ソフトウエアを使用して、HDL等で記述されたシステムの論理構成を、遅延或いは面積等に対して最適化された論理ゲートによる構成に変換し、更にテクノロジー・マッピングや配置・配線を実行することで、プログラマブルデバイス43の動作を決定するコンフィグデータを生成する。   Then, using dedicated software, the logic configuration of the system described in HDL etc. is converted into a configuration with logic gates optimized for delay or area, and further technology mapping, placement and wiring By executing, configuration data for determining the operation of the programmable device 43 is generated.

図3に、故障回復処理の説明図を示す。   FIG. 3 is an explanatory diagram of the failure recovery process.

共通パッケージ搭載装置1は、制御パッケージ2、BWB3、機能A〜機能Cの共通パッケージ4、予備の共通パッケージ4から構成されるものとする。   The common package mounting apparatus 1 is composed of a control package 2, a BWB 3, a function A to function C common package 4, and a spare common package 4.

各共通パッケージ4のメモリカード41には、予め各機能に対応するコンフィグデータが格納されている。   Configuration data corresponding to each function is stored in the memory card 41 of each common package 4 in advance.

このために、製造設備を使用して、予めメモリカード41に必要な機能のコンフィグデータを登録しておく。   For this purpose, configuration data of necessary functions is registered in the memory card 41 in advance using a manufacturing facility.

一方、プログラマブルデバイス43には、コンフィグデータは、格納されていないものとする。   On the other hand, it is assumed that configuration data is not stored in the programmable device 43.

制御パッケージ2には、装置構成情報を記憶しておく。   The control package 2 stores device configuration information.

機能Aの共通パッケージ4に故障が発生すると予備の共通パッケージ4が、機能Aの共通パッケージ4となるように装置の構成が変更される。   When a failure occurs in the function A common package 4, the configuration of the apparatus is changed so that the spare common package 4 becomes the function A common package 4.

図4に故障回復処理の流れ図を示す。   FIG. 4 shows a flowchart of the failure recovery process.

共通パッケージ搭載装置1の電源が投入されると、制御パッケージ2は、装置構成情報に従って、まず機能Aの共通パッケージに対して、機能Aの機能切替信号が送出される。   When the common package mounting device 1 is powered on, the control package 2 first sends a function switching signal for function A to the common package for function A according to the device configuration information.

機能Aの共通パッケージ4のコンフィグ回路42は、メモリカード41の中から対応する機能Aを格納しているメモリ領域を選択する。   The configuration circuit 42 of the common package 4 for the function A selects a memory area storing the corresponding function A from the memory card 41.

次に制御パッケージ2から、コンフィグトリガ信号を共通パッケージ4のコンフィグ回路42に送出される。   Next, a configuration trigger signal is sent from the control package 2 to the configuration circuit 42 of the common package 4.

共通パッケージ4のコンフィグ回路42は、コンフィグトリガ信号を受信すると、機能切替信号により指定されているメモリ領域のコンフィグデータの内容を読出し、そのビットストリームを指定されたプログラマブルデバイス43に書き込む。   When receiving the configuration trigger signal, the configuration circuit 42 of the common package 4 reads the contents of the configuration data in the memory area designated by the function switching signal and writes the bit stream to the designated programmable device 43.

プログラマブルデバイス43の選択は、コンフィグトリガ信号に指定プログラマブルデバイス43番号を付加することで実現できる。また、制御パッケージ2からの別の信号の指示により行うこともできる。   Selection of the programmable device 43 can be realized by adding the designated programmable device 43 number to the configuration trigger signal. It can also be performed by an instruction of another signal from the control package 2.

同様の処理を機能Bの共通パッケージ4、機能Cの共通パッケージ4に行うことで、初期処理が完了する(S1ステップ)。   Similar processing is performed on the common package 4 of the function B and the common package 4 of the function C, thereby completing the initial processing (step S1).

次に、動作モードに入り、装置の通信処理動作に入る。   Next, the operation mode is entered, and the communication processing operation of the apparatus is entered.

この動作中に例えば、機能Aの共通パッケージ4に障害が発生したとする(S2ステップ)。   For example, it is assumed that a failure occurs in the function A common package 4 during this operation (step S2).

機能Aの共通パッケージ4から制御パッケージ2に故障情報が通知される(S3ステップ)。   The failure information is notified from the common package 4 of the function A to the control package 2 (step S3).

制御パッケージ2は、機能Aの共通パッケージ4の故障と認識すると、機能Aの共通パッケージ4から予備の共通パッケージ4に切替えるため、機能Aの機能選択信号を予備の共通パッケージ4に送出する。   When the control package 2 recognizes the failure of the common package 4 of the function A, the control package 2 sends a function selection signal of the function A to the spare common package 4 in order to switch from the common package 4 of the function A to the spare common package 4.

予備の共通パッケージ4は、機能Aの機能選択信号を受信すると、メモリカード41の中の機能Aのコンフィグデータを選択する(S4ステップ)。   When the spare common package 4 receives the function selection signal for function A, it selects the configuration data for function A in the memory card 41 (step S4).

次に、制御パッケージ2は、予備の共通パッケージ4に再コンフィグトリガ信号を送出する。   Next, the control package 2 sends a reconfiguration trigger signal to the spare common package 4.

予備の共通パッケージ4のコンフィグ回路42は、プログラマブルデバイス43に、選択された機能Aのコンフィグデータを送出する(S5ステップ)。   The configuration circuit 42 of the spare common package 4 sends the configuration data of the selected function A to the programmable device 43 (step S5).

この結果、予備の共通パッケージ4は、機能Aとしての動作を開始する(S6ステップ)。   As a result, the spare common package 4 starts the operation as the function A (step S6).

このように、通常の信号疎通状態で、予備のパッケージ4にコンフィグレーションすることが可能となり、容易に装置の構成変更が可能となる。   As described above, the spare package 4 can be configured in a normal signal communication state, and the configuration of the apparatus can be easily changed.

また、機能B、機能Cの故障時にも同一の予備パッケージ4で済むため、装置のコストの削減ができる。   In addition, since the same spare package 4 is sufficient even when the function B and the function C fail, the cost of the apparatus can be reduced.

また、故障した機能Aの共通パッケージを正常の共通パッケージ4に交換するだけで、その共通パッケージが今度は予備パッケージとなる。   Further, simply replacing the failed common package of function A with the normal common package 4, the common package is now a spare package.

図5に試験処理の説明図を示す。   FIG. 5 is an explanatory diagram of the test process.

図5(a)のメモリレイアウトに示すとおり、初期処理により、通常の機能に加えてパッケージの試験用のコンフィグデータを搭載されている。   As shown in the memory layout of FIG. 5 (a), configuration data for package testing is loaded in addition to normal functions by the initial processing.

図5(b)に試験の装置構成の変更例を示す。   FIG. 5 (b) shows a modified example of the test apparatus configuration.

元の装置構成は、制御パッケージ2、機能A〜機能C、予備の共通パッケージ4を有する。共通パッケージ4内には、説明のため、メモリ44とバッファ45を追加している。   The original apparatus configuration has a control package 2, functions A to C, and a spare common package 4. In the common package 4, a memory 44 and a buffer 45 are added for explanation.

例えば共通パッケージ4のすべてを試験するときには、制御パッケージ2からすべての共通パッケージ4に、試験用のコンフィグデータの機能選択信号、再コンフィグトリガ信号が送出される。そして、すべての共通パッケージ4のプログラマブルデバイス43に同一の試験用コンフィグデータが登録される。この結果、装置構成が試験モードに変更される。   For example, when testing all of the common packages 4, a function selection signal of test configuration data and a reconfiguration trigger signal are transmitted from the control package 2 to all the common packages 4. Then, the same test configuration data is registered in the programmable devices 43 of all the common packages 4. As a result, the apparatus configuration is changed to the test mode.

次に、制御パッケージ2は、装置内の共通パッケージ4の試験を行う。   Next, the control package 2 tests the common package 4 in the apparatus.

次に装置試験の内容を説明する。   Next, the contents of the device test will be described.

図6に装置試験の詳細の説明図を示す。   FIG. 6 is an explanatory diagram showing details of the apparatus test.

試験用コンフィグデータは、プログラマブルデバイス43間の接続試験、共通パッケージ4間の接続試験、プログラマブルデバイス43の内部折り返し試験、メモリチェックなどの機能を有する。   The test configuration data has functions such as a connection test between the programmable devices 43, a connection test between the common packages 4, an internal loopback test of the programmable device 43, and a memory check.

具体的には、ディジタル無線通信でエラーレートやビットエラーの検証する際に使われる疑似ランダム(以下PNと記載。PN:Pseudo Random Noise)符号の生成回路とPN符号チェック回路、内部メモリとのライト/リードチェック回路などが生成され試験される。   Specifically, pseudo random (PN) (PN: Pseudo Random Noise) used to verify error rates and bit errors in digital wireless communications, PN code check circuit, write to internal memory / Read check circuit etc. are generated and tested.

試験パターンとしては、PN符号の他に、インクリメントパターンや固定パターンなどもある。   In addition to the PN code, the test pattern includes an increment pattern and a fixed pattern.

次に、試験を開始する。   Next, the test is started.

まず、疎通試験を行う。共通パッケージ4のパッケージ#1のプログラマブルデバイス#1でPN信号を生成する。次にそれをプログラマブルデバイス#2に送出する。   First, a communication test is performed. A PN signal is generated by the programmable device # 1 of the package # 1 of the common package 4. Next, it is sent to the programmable device # 2.

#2のプログラマブルデバイスは、PN符号を受信すると、PN符合チェックを行い、正当か否かを判断する。   When the # 2 programmable device receives the PN code, it checks the PN code and determines whether it is valid.

例えば、PN9符合の場合には、b1〜b9までの構成で、b5とb9の排他的論理和をとり、その値が、ビットストリームの次のビットと一致するか否かにより、正常か否かをチェックしている。正常でなければ、エラーと判断する。   For example, in the case of the PN9 code, the exclusive OR of b5 and b9 is taken in the configuration from b1 to b9, and whether or not the value matches the next bit of the bitstream is normal. Check it out. If it is not normal, it is determined as an error.

正常であれば、自らもPN符号を生成して、次のプログラマブルデバイス#3に送信する。   If it is normal, it itself generates a PN code and transmits it to the next programmable device # 3.

これを共通パッケージ4内のすべてのプログラマブルデバイス43が終了するまで繰り返す。   This is repeated until all the programmable devices 43 in the common package 4 are finished.

次に、外部疎通試験の場合には、その符号をバッファ45経由でBWB3へ送出する。   Next, in the case of the external communication test, the code is sent to the BWB 3 via the buffer 45.

そして、別の共通パッケージ4のプログラマブルデバイス43にバッファ45経由で受信される。   Then, it is received via the buffer 45 by the programmable device 43 of another common package 4.

別の共通パッケージ4のプログラマブルデバイス43の中でもPN符号の送受信が行われ、疎通テストが行われる。   Among other programmable devices 43 of the common package 4, PN codes are transmitted and received, and a communication test is performed.

この結果、共通パッケージ4間、プログラマブルデバイス43間など、信号疎通の経路にPNパターンを疎通させることで、実際使用するビットレンジでかつ、実際疎通する動作速度で疎通を実施するので、結線チェックやノイズによるデータのエラーがないかを検証できる。   As a result, by communicating the PN pattern in the signal communication path such as between the common package 4 and the programmable device 43, the communication is performed with the bit range that is actually used and the operation speed that is actually communicated. It is possible to verify whether there are data errors due to noise.

従って、1共通パッケージに閉じた試験も、装置全体試験でも可能となる。   Therefore, the test closed in one common package and the whole device test are possible.

例えば1共通パッケージに閉じた試験では、図6に示す共通パッケージ#nのプログラマブルデバイス#nのA点で折り返して、PNパターンの送受信による試験を行う。   For example, in the test closed to one common package, the test is performed by transmitting and receiving the PN pattern by turning back at the point A of the programmable device #n of the common package #n shown in FIG.

このA点相当の回路が試験用のコンフィグデータにより、各共通パッケージ4の各プログラマブルデバイスに生成されている。   A circuit corresponding to this point A is generated in each programmable device of each common package 4 by test configuration data.

また、例えばプログラマブルデバイス43に付随するメモリ44がある場合は、素子不具合がないかを全領域に書き込みし期待のデータが読み出せるかをチェックすることで、メモリの故障検出を行うことができる。   For example, when there is a memory 44 associated with the programmable device 43, it is possible to detect a memory failure by writing in all areas whether there is an element failure and checking whether expected data can be read out.

この結果、PT基板のパターン切れや半田不良などの製造不良やメモリ素子の不良が発見できる。   As a result, it is possible to find a manufacturing defect such as a pattern cut of the PT substrate or a solder defect, or a memory element defect.

また、実運用時のアクセスサイクルで正常にアクセスできるかを確認することでタイミングマージン不足やクロストーク、すなわちバス線の同時変化等の信号ノイズによるデータ化けがないかを検証することもできる。   It is also possible to verify whether there is data corruption due to signal noise such as insufficient timing margin and crosstalk, that is, simultaneous changes in bus lines, by checking whether the access can be normally performed in the access cycle during actual operation.

この結果、経年劣化により半田の剥離やメモリ、デバイスの破損等が発生した場合に障害箇所を早期に判断し、パッケージ不良か回路バグかの切り分けも用意となるため、エンドユーザでの改修対応が迅速に行える利点がある。   As a result, when the solder detachment, memory, device damage, etc. occur due to aging, it is possible to determine the failure point early and to determine whether the package is defective or a circuit bug. There is an advantage that can be done quickly.

このように、外部の測定器等を使用せずに試験を行うことが出来るので、試験設備、試験工数などの試験コストの削減が期待できる。   Thus, since the test can be performed without using an external measuring instrument or the like, it is possible to expect a reduction in test costs such as test equipment and test man-hours.

また、コンフィグレーションデータを制御パッケージ2からダイナミックにロードする方式を採用することもできる。この場合には、共通パッケージ4のコンフィグレーションデータの書換えが可能となり、共通パッケージの共通化がさらに進む。   Also, a method of dynamically loading configuration data from the control package 2 can be adopted. In this case, the configuration data of the common package 4 can be rewritten, and the common package is further shared.

以上の実施例1を含む実施形態に関し、更に以下の付記を開示する。
(付記1)複数のプログラマブルデバイスと、複数のコンフィグレーションデータを搭載したメモリと、メモリからコンフィグレーションデータを選択するデータ選択手段と、選択されたコンフィグレーションデータをプログラマブルデバイスに登録するデータ登録手段とを備える複数の共通パッケージと、共通パッケージに搭載されたプログラマブルデバイスのコンフィグレーションデータを切り替え、装置内のパッケージ構成を変更するパッケージ構成変更手段を備える制御パッケージとを有することを特徴とする共通パッケージ搭載装置。
(付記2)複数の共通パッケージに共有の予備の共通パッケージと、共通パッケージに故障が発生したときに、故障を制御パッケージに通知する故障通知手段と、故障通知を受けた制御パッケージが、予備の共通パッケージのメモリから、通知された故障パッケージに対応するコンフィグレーションデータを選択し、プログラマブルデバイスに登録指示を行う故障復旧指示手段とを有することを特徴とする付記1記載の共通パッケージ搭載装置。
(付記3)共通パッケージのメモリに予め搭載されている試験用コンフィグレーションデータをプログラマブルデバイスに登録することで共通パッケージを試験用パッケージに変更し、変更された試験用パッケージに基づいて装置の試験を行う試験手段を有することを特徴とする付記1記載の共通パッケージ搭載装置。
(付記4)試験手段は、プログラマブルデバイスに、試験パターンを生成し送出する試験符号生成送出手段と、試験パターンを受信しチェックする試験符号受信チェック手段とを備え、制御パッケージの指示により、共通パッケージ間の相互接続の疎通試験を行う疎通試験手段とを有することを特徴とする付記3記載の共通パッケージ搭載装置。
(付記5)疎通試験手段は、プログラムデバイス間の疎通試験も行うことを特徴とする付記4記載の共通パッケージ搭載装置。
(付記6)プログラマブルデバイスを搭載する複数の共通パッケージを有する共通パッケージ搭載装置のコンフィグレーション方法であって、共通パッケージに搭載されたメモリからコンフィグレーションデータを選択するデータ選択ステップと、選択されたコンフィグレーションデータをプログラマブルデバイスに登録するデータ登録ステップと、装置の構成変更をするために、プログラマブルデバイスのコンフィグレーションデータを切り替えるパッケージ構成変更ステップとを備えることを特徴とするコンフィグレーション方法。
(付記7)プログラマブルデバイスを搭載する複数の共通パッケージを有する共通パッケージ搭載装置のコンフィグレーションを実行させるためのプログラムであって、共通パッケージに搭載されたメモリからコンフィグレーションデータを選択するデータ選択ステップと、選択されたコンフィグレーションデータをプログラマブルデバイスに登録するデータ登録ステップと、装置の構成変更をするために、プログラマブルデバイスのコンフィグレーションデータを切り替えるパッケージ構成変更ステップとを備えることを特徴とする共通パッケージ搭載装置のコンフィグレーションを実行させるためのプログラム。
Regarding the embodiment including the first example, the following additional notes are disclosed.
(Supplementary note 1) A plurality of programmable devices, a memory equipped with a plurality of configuration data, a data selection means for selecting configuration data from the memory, and a data registration means for registering the selected configuration data in the programmable device A common package having a plurality of common packages, and a control package having a package configuration changing means for switching configuration data of a programmable device mounted in the common package and changing a package configuration in the apparatus apparatus.
(Supplementary note 2) A spare common package shared by a plurality of common packages, a failure notification means for notifying the control package of a failure when a failure occurs in the common package, and a control package receiving the failure notification are The common package mounting device according to appendix 1, further comprising failure recovery instruction means for selecting configuration data corresponding to the notified failure package from the memory of the common package and instructing registration to the programmable device.
(Supplementary note 3) By registering the test configuration data pre-installed in the memory of the common package in the programmable device, the common package is changed to the test package, and the device is tested based on the changed test package. The common package mounting device according to appendix 1, further comprising a test means for performing the test.
(Supplementary Note 4) The test means includes a test code generation / transmission means for generating and sending a test pattern to the programmable device, and a test code reception check means for receiving and checking the test pattern. The common package mounting device according to appendix 3, further comprising a communication test means for performing a communication test of interconnections between them.
(Supplementary note 5) The common package mounting apparatus according to supplementary note 4, wherein the communication test means also performs a communication test between program devices.
(Supplementary Note 6) A configuration method of a common package mounting apparatus having a plurality of common packages on which a programmable device is mounted, the data selection step for selecting configuration data from a memory mounted on the common package, and the selected configuration A configuration method comprising: a data registration step for registering configuration data in a programmable device; and a package configuration changing step for switching configuration data of the programmable device in order to change the configuration of the apparatus.
(Appendix 7) A program for executing configuration of a common package mounting apparatus having a plurality of common packages on which a programmable device is mounted, and a data selection step for selecting configuration data from a memory mounted on the common package; A common package installation comprising: a data registration step for registering the selected configuration data in the programmable device; and a package configuration change step for switching the configuration data of the programmable device to change the configuration of the apparatus. Program to execute device configuration.

本発明は、プログラマブルデバイスを使用して機能を変更できる共通パッケージ搭載装置を提供する用途に適用できる。   INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can be applied to an application for providing a common package mounting apparatus that can change functions using a programmable device.

実施例の共通パッケージ搭載装置の構成図Configuration diagram of the common package mounting device of the embodiment メモリレイアウトの説明図Memory layout illustration 故障回復処理の説明図Illustration of failure recovery processing 故障回復処理の流れ図Flow chart of failure recovery processing 試験処理の説明図Illustration of test process 装置試験の詳細の説明図Detailed illustration of equipment test 従来例の共通パッケージの構成図Configuration diagram of common package of conventional example

符号の説明Explanation of symbols

1 共通パッケージ搭載装置
2 制御パッケージ
3 BWB
4 共通パッケージ
41 メモリカード
42 コンフィグ回路
43 プログラマブルデバイス
44 メモリ
45 バッファ
1 Common package mounting device 2 Control package 3 BWB
4 Common Package 41 Memory Card 42 Config Circuit 43 Programmable Device 44 Memory 45 Buffer

Claims (5)

複数のプログラマブルデバイスと、複数のコンフィグレーションデータを搭載したメモリと、
メモリからコンフィグレーションデータを選択するデータ選択手段と、選択されたコンフィグレーションデータをプログラマブルデバイスに登録するデータ登録手段とを備える複数の共通パッケージと、
共通パッケージに搭載されたプログラマブルデバイスのコンフィグレーションデータを切り替え、装置内のパッケージ構成を変更するパッケージ構成変更手段を備える制御パッケージとを有することを特徴とする共通パッケージ搭載装置。
Multiple programmable devices, memory with multiple configuration data,
A plurality of common packages comprising data selection means for selecting configuration data from the memory, and data registration means for registering the selected configuration data in the programmable device;
A common package mounting apparatus comprising: a control package including a package configuration changing unit that switches configuration data of programmable devices mounted in the common package and changes a package configuration in the apparatus.
複数の共通パッケージに共有の予備の共通パッケージと、
共通パッケージに故障が発生したときに、故障を制御パッケージに通知する故障通知手段と、
故障通知を受けた制御パッケージが、予備の共通パッケージのメモリから、通知された故障パッケージに対応するコンフィグレーションデータを選択し、プログラマブルデバイスに登録指示を行う故障復旧指示手段とを有することを特徴とする請求項1記載の共通パッケージ搭載装置。
A spare common package shared with multiple common packages,
A failure notification means for notifying the control package of a failure when a failure occurs in the common package;
The control package that has received the failure notification includes failure recovery instruction means for selecting configuration data corresponding to the notified failure package from the memory of the spare common package and instructing registration to the programmable device. The common package mounting device according to claim 1.
共通パッケージのメモリに予め搭載されている試験用コンフィグレーションデータをプログラマブルデバイスに登録することで共通パッケージを試験用パッケージに変更し、変更された試験用パッケージに基づいて装置の試験を行う試験手段を有することを特徴とする請求項1記載の共通パッケージ搭載装置。   A test means for changing the common package to the test package by registering the test configuration data pre-installed in the memory of the common package in the programmable device, and testing the apparatus based on the changed test package The common package mounting device according to claim 1, further comprising: 試験手段は、プログラマブルデバイスに、
試験パターンを生成し送出する試験符号生成送出手段と、
試験パターンを受信しチェックする試験符号受信チェック手段とを備え、
制御パッケージの指示により、共通パッケージ間の相互接続の疎通試験を行う疎通試験手段とを有することを特徴とする請求項3記載の共通パッケージ搭載装置。
The test means is a programmable device,
Test code generation and transmission means for generating and transmitting a test pattern;
A test code reception check means for receiving and checking a test pattern;
4. The common package mounting apparatus according to claim 3, further comprising communication test means for performing a communication test of interconnections between the common packages in accordance with an instruction from the control package.
疎通試験手段は、プログラムデバイス間の疎通試験も行うことを特徴とする請求項4記載の共通パッケージ搭載装置。   5. The common package mounting apparatus according to claim 4, wherein the communication test means also performs a communication test between program devices.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2008085864A (en) * 2006-09-28 2008-04-10 Fujitsu Ltd Semiconductor device
JP2008136184A (en) * 2006-10-24 2008-06-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd Reconfigurable integrated circuit, circuit reconfiguration method and circuit reconfiguration apparatus
JP2012216188A (en) * 2011-03-30 2012-11-08 Fujitsu Ltd Storage control device, storage control method, and storage control program

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