JP2005346982A - Display device and its manufacturing method - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a display device having excellent display characteristics with degradation of a resistor alleviated, and a manufacturing method of the display device. <P>SOLUTION: As one mode of the device, the display device is provided with a cathode auxiliary wiring 21 arranged on a substrate 11 having a transparent conductive layer pattern 29, a plurality of metal pads 41 electrically connected to the cathode auxiliary wiring 21 and arranged on the cathode auxiliary wiring 21 so as to get in contact with the transparent conductive layer pattern 29, and an FPC 61 equipped so as to be connected with the plurality of metal pads 41 from on top of the plurality of the metal pads 41. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は表示装置及びその製造方法に関する。   The present invention relates to a display device and a manufacturing method thereof.

近年の情報通信分野における急速な技術開発の進展に伴い、CRTに代わるフラットディスプレイに大きな期待が寄せられている。なかでも有機ELディスプレイは、高速応答性、視認性、輝度などの点に優れるため盛んに研究が行われている。 With the rapid progress of technological development in the information and communication field in recent years, great expectations are placed on a flat display replacing CRT. In particular, organic EL displays are actively studied because they are excellent in terms of high-speed response, visibility, brightness, and the like.

1987年に米国コダック社のTangらによって発表された有機EL素子は、有機薄膜の2層積層構造を有し、発光層にトリス(8−キノリノラト)アルミニウム(以下「Alq」と略称する)を使用し、10V以下の低電圧駆動で緑色の発光を生じ、1000cd/mと高輝度が得られた(例えば、非特許文献1参照)。発光効率は1.5ルーメン/Wであった。 An organic EL device announced by Tang et al. Of Kodak Company in 1987 has a two-layer structure of organic thin films, and uses tris (8-quinolinolato) aluminum (hereinafter abbreviated as “Alq”) as a light emitting layer. Then, green light emission was generated by driving at a low voltage of 10 V or less, and a high luminance of 1000 cd / m 2 was obtained (for example, see Non-Patent Document 1). The luminous efficiency was 1.5 lumen / W.

以降、急速に実用化に向けた研究が進められ、正孔注入電極と電子注入電極に挟まれた有機層が1〜10層程度の様々な積層型の有機EL素子が開発されてきている。   Since then, research for rapid practical use has been advanced, and various stacked organic EL elements having about 1 to 10 organic layers sandwiched between a hole injection electrode and an electron injection electrode have been developed.

有機EL材料に関しても、多岐に渡る低分子化合物を真空蒸着法等により薄膜形成する方法のみならず、高分子系化合物をスピンコート法、インクジェット、ダイコート、フレキソ印刷といった方法で薄膜形成して有機EL素子を作成する方法が提案されている。   With regard to organic EL materials, organic EL can be obtained by forming thin films of various low-molecular compounds by a method such as spin coating, ink jet, die coating, or flexographic printing, as well as a method of forming a thin film of various low-molecular compounds by vacuum deposition. A method of creating an element has been proposed.

なお、特許庁のホームページに、「技術分野別特許マップ作成委員会」によって作成された有機EL素子に関する技術情報が掲載されており、いわゆる基本特許や、さまざまな材料、製法、デバイス構造、駆動方法、カラー化技術、耐久性向上、用途などに関し、特許出願公開や登録特許などを引用し統括的に報告が行なわれている。   In addition, technical information about organic EL elements created by the “Technical Field Patent Map Creation Committee” is posted on the JPO homepage, so-called basic patents, various materials, manufacturing methods, device structures, driving methods In regard to color technology, durability improvement, applications, etc., patent reports are published and registered patents are cited and reported collectively.

有機ELディスプレイに用いられる有機EL素子基板は、基板上に陽極が形成され、陽極の上に薄膜状の有機化合物が積層され、その有機化合物の層の上に、基板上に形成された透明な陽極と対向するように陰極が形成された構造である。有機EL素子は、陽極と陰極との間に配置された有機化合物の層に電流が供給されると自発光する電流駆動型の表示素子である。以下、積層される有機化合物の薄膜を有機薄膜層と記す。陽極、複数の有機薄膜層および陰極を重ねて配置した個所が表示画素となる。そして、透明な陽極から光を取り出し、所望の画像を表示させる。   An organic EL element substrate used in an organic EL display has an anode formed on the substrate, a thin organic compound layered on the anode, and a transparent layer formed on the organic compound layer on the substrate. In this structure, the cathode is formed so as to face the anode. An organic EL element is a current-driven display element that emits light when a current is supplied to an organic compound layer disposed between an anode and a cathode. Hereinafter, a thin film of an organic compound to be laminated is referred to as an organic thin film layer. A display pixel is a portion where an anode, a plurality of organic thin film layers, and a cathode are stacked. Then, light is extracted from the transparent anode and a desired image is displayed.

ところで、有機EL表示装置は電流駆動素子を使用しており、パッシブ駆動型有機EL表示装置では、各行が選択された時間内で瞬間発光する必要がある。その結果液晶デバイス等の電圧駆動型表示素子を使用する場合と比較して大電流が電極に流れ込むことになる。   By the way, the organic EL display device uses a current drive element, and in the passive drive type organic EL display device, it is necessary to emit light instantaneously within a time when each row is selected. As a result, a large current flows into the electrode as compared with the case where a voltage-driven display element such as a liquid crystal device is used.

従って、陰極配線及び陽極配線を低抵抗にすることが重要となる。パネルの大型化、高精細化、高輝度化が進むとこれらの配線の更なる低抵抗化が必要となってくると同時に、これらの配線と接続される補助配線との間のコンタクトや駆動回路接続端子と補助配線との低抵抗化が課題となって来ている。これに関し、有機EL表示装置の陰極配線と接続される陰極補助配線について、開示された先行技術がある(例えば、特許文献1)。   Therefore, it is important to make the cathode wiring and anode wiring low resistance. As panels become larger, higher definition, and higher brightness, the resistance of these wirings will need to be further reduced, and at the same time, contacts and driving circuits between these wirings and auxiliary wiring Lowering the resistance between the connection terminal and the auxiliary wiring has been an issue. In this regard, there is a disclosed prior art regarding cathode auxiliary wiring connected to the cathode wiring of the organic EL display device (for example, Patent Document 1).

この先行技術では、駆動回路接続端子に透明電極材料を用い、かつ、陰極材料と陰極補助配線材料とを同一とする。この場合、陰極材料と陰極補助配線材料との接続前に陰極表面や陰極補助配線表面が酸化されなければ、陰極と陰極補助配線とのコンタクト抵抗の問題は解消する可能性が大きくなる。   In this prior art, a transparent electrode material is used for the drive circuit connection terminal, and the cathode material and the cathode auxiliary wiring material are the same. In this case, if the cathode surface or the cathode auxiliary wiring surface is not oxidized before the connection between the cathode material and the cathode auxiliary wiring material, the possibility of solving the problem of contact resistance between the cathode and the cathode auxiliary wiring is increased.

また、製造時のベークによる金属電極の接触抵抗の増加を解消しようとする有機エレクトロルミネセンス表示素子が開示されている(例えば、特許文献2)。そのため、透明基板に設けられた引出し電極の表層にバリア層を形成し、その引出し電極は有機発光層を介して透明基板の上に積層された金属電極にバリア層を介して接触させる。   Further, an organic electroluminescence display element that attempts to eliminate an increase in contact resistance of a metal electrode due to baking at the time of manufacture is disclosed (for example, Patent Document 2). Therefore, a barrier layer is formed on the surface layer of the extraction electrode provided on the transparent substrate, and the extraction electrode is brought into contact with the metal electrode laminated on the transparent substrate via the organic light emitting layer via the barrier layer.

引出し電極は、Cr、Al、Cu、Ag、Au、Pt、Pd、Ni、Mo、Ta、Ti、W、C、Fe、In、Ag−Mn、Zn等の金属質導電材料で形成される。バリア層は耐熱変質性の良好な高融点金属、貴金属、酸化物、窒化物又は酸窒化物で形成される。   The extraction electrode is formed of a metallic conductive material such as Cr, Al, Cu, Ag, Au, Pt, Pd, Ni, Mo, Ta, Ti, W, C, Fe, In, Ag-Mn, and Zn. The barrier layer is formed of a refractory metal, a noble metal, an oxide, a nitride, or an oxynitride having good heat resistance and alteration.

よって、層間絶縁膜形成時等の際に加熱を行っても、引出し電極と金属電極との接触抵抗が低く維持され、低電圧で駆動できると説明している。また、密着性改善層を介して引出し電極を形成するとき、透明基板に対する引出し電極の密着性が向上し、引出し電極と金属電極と良好な導通状態が維持される。   Therefore, it is described that the contact resistance between the extraction electrode and the metal electrode is kept low even when heating is performed at the time of forming the interlayer insulating film or the like, and the driving can be performed at a low voltage. Further, when the extraction electrode is formed via the adhesion improving layer, the adhesion of the extraction electrode to the transparent substrate is improved, and a good electrical connection between the extraction electrode and the metal electrode is maintained.

一方、陽極配線は通常、透明導電膜で形成されるためITO(Indium Tin Oxides)等の金属酸化膜が用いられる。このような金属酸化膜は一般的に金属と比べて比抵抗が高いため、配線抵抗の低抵抗化が困難である。従って、表示領域外に金属材料からなる陽極補助配線を設けて低抵抗化を図ることが可能である。   On the other hand, since the anode wiring is usually formed of a transparent conductive film, a metal oxide film such as ITO (Indium Tin Oxides) is used. Since such a metal oxide film generally has a higher specific resistance than a metal, it is difficult to reduce the wiring resistance. Accordingly, it is possible to reduce the resistance by providing an anode auxiliary wiring made of a metal material outside the display region.

陽極補助配線を設けた有機EL表示装置の構成について図7を用いて説明する。図7は有機EL表示装置に用いられる有機EL素子基板の構成を示す上面図である。   The structure of the organic EL display device provided with the anode auxiliary wiring will be described with reference to FIG. FIG. 7 is a top view showing a configuration of an organic EL element substrate used in the organic EL display device.

透明導電膜により複数の陽極配線1が形成されている。この陽極配線1の基板端側にはそれぞれの陽極配線1に対応して陽極補助配線26が形成される。陽極補助配線26は陽極配線1の上に重ねられるようにパターニングされる。これにより、陽極配線1と陽極補助配線26が接続される。陽極補助配線26は陽極配線1よりも比抵抗の低い金属膜により形成されるため、配線抵抗を低減することができる。このとき、陰極補助配線21に対応するパターンも同時に形成する。   A plurality of anode wirings 1 are formed of a transparent conductive film. On the substrate end side of the anode wiring 1, anode auxiliary wiring 26 is formed corresponding to each anode wiring 1. The anode auxiliary wiring 26 is patterned so as to be superimposed on the anode wiring 1. Thereby, the anode wiring 1 and the anode auxiliary wiring 26 are connected. Since the anode auxiliary wiring 26 is formed of a metal film having a specific resistance lower than that of the anode wiring 1, the wiring resistance can be reduced. At this time, a pattern corresponding to the cathode auxiliary wiring 21 is simultaneously formed.

陽極補助配線26及び陰極補助配線21には比抵抗の低いAl又はAl合金が主に用いられる。さらにその上層及び下層にはバリア層として、例えば、高融点金属膜が用いられる。Alの下層の高融点金属膜は透明導電膜とのコンタクト抵抗を良好にするため形成される。Alの上層の高融点金属膜は、後の工程においてAlが酸化等により変質して、コンタクト抵抗が劣化するのを防ぐために形成される。   Al or Al alloy having a low specific resistance is mainly used for the anode auxiliary wiring 26 and the cathode auxiliary wiring 21. Further, for example, a refractory metal film is used as a barrier layer in the upper layer and the lower layer. The refractory metal film under the Al layer is formed to improve the contact resistance with the transparent conductive film. The refractory metal film on the upper layer of Al is formed in order to prevent the contact resistance from deteriorating due to the deterioration of Al due to oxidation or the like in a later step.

この上から画素電極に対応する開口部23を有する絶縁膜22を形成する。絶縁膜22には例えば、感光性のポリイミド樹脂が用いられる。この開口部23を形成する工程では、陰極補助配線21と陰極配線5を接続するためのコンタクトホール25が形成される。そして、陰極配線5を分離するため、逆テーパ構造の隔壁10を形成する。その上から図示しない有機薄膜層を形成し、さらにその上から陰極配線5を形成する。陰極配線5は隔壁10により分離され、陽極配線1と交差するように形成される。この陰極配線5と陽極配線1とが交差する位置に設けられた開口部23において有機薄膜層に電流が流れ発光する。   An insulating film 22 having an opening 23 corresponding to the pixel electrode is formed from above. For example, a photosensitive polyimide resin is used for the insulating film 22. In the step of forming the opening 23, a contact hole 25 for connecting the cathode auxiliary wiring 21 and the cathode wiring 5 is formed. And in order to isolate | separate the cathode wiring 5, the partition 10 of a reverse taper structure is formed. An organic thin film layer (not shown) is formed thereon, and a cathode wiring 5 is formed thereon. The cathode wiring 5 is separated by the partition wall 10 and formed so as to intersect the anode wiring 1. In the opening 23 provided at the position where the cathode wiring 5 and the anode wiring 1 intersect, a current flows through the organic thin film layer to emit light.

陰極補助配線21及び陽極補助配線26は例えば、FPC等と接続するための金属パッドとして用いられる。例えば、陰極補助配線21及び陽極補助配線26の上に異方性導電膜(以下、ACF)を貼り付け、さらにACFの上からFPC等を重ね合わせて圧着する。これにより、FPC等と金属パッドである陰極補助配線21又は陽極補助配線26が接続され、陽極配線1に電流を供給することができる。陰極補助配線21及び陽極補助配線26は金属により形成されるため、ITOなどの金属酸化物から形成される透明導電膜を金属パッドとして用いた場合よりも配線抵抗及び外部配線との接続抵抗を低減することができる。   The cathode auxiliary wiring 21 and the anode auxiliary wiring 26 are used as, for example, metal pads for connecting to an FPC or the like. For example, an anisotropic conductive film (hereinafter referred to as ACF) is attached on the cathode auxiliary wiring 21 and the anode auxiliary wiring 26, and further, FPC or the like is overlapped on the ACF and bonded. Accordingly, the cathode auxiliary wiring 21 or the anode auxiliary wiring 26 which is a metal pad is connected to the FPC or the like, and current can be supplied to the anode wiring 1. Since the cathode auxiliary wiring 21 and the anode auxiliary wiring 26 are formed of metal, wiring resistance and connection resistance with external wiring are reduced as compared with the case where a transparent conductive film formed of a metal oxide such as ITO is used as a metal pad. can do.

しかしながら、金属からなる陽極補助配線26又は陰極補助配線21を外部配線と接続するための金属パッドとして用いる構成では以下のような問題点があった。金属からなる陰極補助配線21及び陽極補助配線26が製造工程中あるいは製造工程後に腐食してしまうことがある。そして、金属の腐食が発生すると、腐食部分が時間ともに徐々に広がっていき、FPC等の外部配線との接続抵抗や配線抵抗を劣化させてしまう。よって、金属腐食が発生した配線のみ抵抗が劣化して、表示ムラが生じてしまう。特に、外部配線と接続している部分の全体又は大部分が腐食してしまうと、接続抵抗の劣化が著しくなってしまう。この金属の腐食は、例えば、FPC等の外部配線に含まれている不純物に起因して発生し、発生箇所から徐々に金属パッド全体に広がっていく。このように、従来の有機EL表示装置では、接続抵抗が劣化し、表示特性が劣化するおそれがあるという問題点があった。   However, the configuration in which the anode auxiliary wiring 26 or the cathode auxiliary wiring 21 made of metal is used as a metal pad for connecting to an external wiring has the following problems. The cathode auxiliary wiring 21 and anode auxiliary wiring 26 made of metal may corrode during or after the manufacturing process. When corrosion of the metal occurs, the corroded portion gradually spreads with time, and the connection resistance and wiring resistance with external wiring such as FPC are deteriorated. Therefore, the resistance of only the wiring in which metal corrosion has occurred is deteriorated, resulting in display unevenness. In particular, when the whole or most of the portion connected to the external wiring is corroded, the connection resistance is significantly deteriorated. This corrosion of the metal occurs due to impurities contained in an external wiring such as an FPC, and gradually spreads from the occurrence location to the entire metal pad. As described above, the conventional organic EL display device has a problem that the connection resistance is deteriorated and the display characteristics may be deteriorated.

特開平11−317292号公報JP 11-317292 A 特開2001−351778号公報JP 2001-351778 A Appl.Phys.Lett.,51,913(1987)Appl. Phys. Lett. , 51, 913 (1987)

このように従来の有機EL表示装置では、抵抗の劣化により表示特性が劣化するおそれがあるという問題点があった。   As described above, the conventional organic EL display device has a problem that display characteristics may be deteriorated due to deterioration of resistance.

本発明は上述の問題点に鑑みてなされたものであって、抵抗の劣化による表示特性の劣化が低減された表示装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above-described problems, and an object thereof is to provide a display device in which deterioration of display characteristics due to deterioration of resistance is reduced.

本発明の第1の態様にかかる表示装置は、基板(例えば、本発明の実施の形態における基板11)上に、導電性の金属酸化物層(例えば、本発明の実施の形態における陰極補助配線21)と複数の金属パッド(例えば、本発明の実施の形態における金属パッド41)が積層され、前記複数の金属パッドが前記金属酸化物層の反基板側表面に配置され、前記金属酸化物層と前記複数の金属パッドとはそれぞれ導電接続され、前記金属パッドの反基板面側から外部配線(例えば、本発明の実施の形態におけるFPC62)が導電接続されてなるものである。これにより、抵抗の劣化による表示特性の劣化を低減することができる。   The display device according to the first aspect of the present invention includes a conductive metal oxide layer (for example, cathode auxiliary wiring in the embodiment of the present invention) on a substrate (for example, the substrate 11 in the embodiment of the present invention). 21) and a plurality of metal pads (for example, metal pad 41 in an embodiment of the present invention) are laminated, and the plurality of metal pads are disposed on the surface opposite to the substrate of the metal oxide layer, and the metal oxide layer And the plurality of metal pads are conductively connected, and external wiring (for example, FPC 62 in the embodiment of the present invention) is conductively connected from the side opposite to the substrate surface of the metal pad. Thereby, it is possible to reduce display characteristic deterioration due to resistance deterioration.

本発明の第2の態様にかかる表示装置は、上述の表示装置において、前記金属酸化物層の長手方法に沿って、複数の金属パッドが配置されてなるものである。これにより、抵抗の劣化による表示特性の劣化を低減することができる。   A display device according to a second aspect of the present invention is the display device described above, wherein a plurality of metal pads are arranged along the longitudinal direction of the metal oxide layer. Thereby, it is possible to reduce display characteristic deterioration due to resistance deterioration.

本発明の第3の態様にかかる表示装置は、上述の表示装置において、前記金属酸化物層の幅方向に、複数の金属パッドが並置されてなるこれにより、抵抗の劣化による表示特性の劣化を低減することができる。   In the display device according to the third aspect of the present invention, in the display device described above, a plurality of metal pads are juxtaposed in the width direction of the metal oxide layer, thereby reducing display characteristics due to resistance deterioration. Can be reduced.

本発明の第4の態様にかかる表示装置は、上述の表示装置において、前記金属酸化物層の上方であって、外部配線の端部よりも表示領域側に、金属層がさらに設けられ、前記金属層は金属パッドと分離して配置されてなるものである。これにより、配線の抵抗を低減することができる。   A display device according to a fourth aspect of the present invention is the display device described above, wherein a metal layer is further provided above the metal oxide layer and closer to the display region than the end of the external wiring, The metal layer is formed separately from the metal pad. Thereby, the resistance of the wiring can be reduced.

本発明の第5の態様にかかる表示装置は、上述の表示装置において、前記金属パッドと前記金属層が同一プロセス層であるものである。これにより、簡易な構成で抵抗の劣化による表示特性の劣化が低減された表示装置を提供することができる。   A display device according to a fifth aspect of the present invention is the display device described above, wherein the metal pad and the metal layer are the same process layer. Accordingly, it is possible to provide a display device in which the deterioration of display characteristics due to the deterioration of resistance is reduced with a simple configuration.

本発明の第6の態様にかかる表示装置は、上述の表示装置において、前記金属パッドに少なくとも、Al、Al合金、Mo、Mo合金、Ag又はAg合金のいずれか1つの層を含むものである。   A display device according to a sixth aspect of the present invention is the display device described above, wherein the metal pad includes at least one layer of Al, Al alloy, Mo, Mo alloy, Ag, or Ag alloy.

本発明の第7の態様にかかる表示装置の製造方法は、基板上に導電性の金属酸化物層を形成するステップと、前記金属酸化物層の上に、複数の金属パッドを形成するステップと、前記複数の金属パッドの反基板面側から外部配線を導電接続するステップとを備えるものである。これにより、抵抗の劣化による表示特性の劣化を低減することができる。   A method for manufacturing a display device according to a seventh aspect of the present invention includes: forming a conductive metal oxide layer on a substrate; and forming a plurality of metal pads on the metal oxide layer. And a step of conductively connecting external wiring from the side opposite to the substrate surface of the plurality of metal pads. Thereby, it is possible to reduce display characteristic deterioration due to resistance deterioration.

本発明の第8の態様にかかる表示装置の製造方法は、上述の製造方法において、前記金属酸化物層の上に、金属膜を形成するステップと、前記金属膜をパターニングして金属パッドを形成するステップとを備えるものである。これにより、簡易な構成で抵抗の劣化による表示特性の劣化が低減された表示装置を製造することができる。   According to an eighth aspect of the present invention, there is provided a display device manufacturing method comprising: forming a metal film on the metal oxide layer; and patterning the metal film to form a metal pad in the manufacturing method described above. And a step of performing. As a result, a display device can be manufactured with a simple configuration and reduced deterioration of display characteristics due to resistance deterioration.

本発明の第9の態様にかかる表示装置の製造方法は、上述の製造方法において、金属膜をパターニングするステップにおいて、外部配線の端部よりも表示領域側に位置する金属膜を除去せずに残すことにより金属層を形成するものである。これにより、配線抵抗を低減することができる。   The display device manufacturing method according to the ninth aspect of the present invention is the above-described manufacturing method, in the step of patterning the metal film, without removing the metal film located closer to the display region than the end of the external wiring. The metal layer is formed by leaving. Thereby, wiring resistance can be reduced.

本発明によれば端子部における電極の耐候性及び耐腐食性を改善し、電子デバイスとしての長期信頼性性能を向上せしめた表示装置を提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the display apparatus which improved the weather resistance and corrosion resistance of the electrode in a terminal part, and improved the long-term reliability performance as an electronic device can be provided.

以下に、本発明を適用可能な実施の形態が説明される。以下の説明は、本発明の実施形態を説明するものであり、本発明が以下の実施形態に限定されるものではない。説明の明確化のため、以下の記載は、適宜、省略及び簡略化がなされている。又、当業者であれば、以下の実施形態の各要素を、本発明の範囲において容易に変更、追加、変換することが可能であろう。尚、各図において同一の符号を付されたものは同様の要素を示しており、適宜、説明が省略される。   Hereinafter, embodiments to which the present invention can be applied will be described. The following description is to describe the embodiment of the present invention, and the present invention is not limited to the following embodiment. For clarity of explanation, the following description is omitted and simplified as appropriate. Further, those skilled in the art will be able to easily change, add, and convert each element of the following embodiments within the scope of the present invention. In addition, what attached | subjected the same code | symbol in each figure has shown the same element, and abbreviate | omits description suitably.

本実施の形態にかかる有機EL表示装置の有機EL発光素子が形成されている素子基板について図1を用いて説明する。図1は有機EL表示装置の素子基板の構成を示す平面図である。1は陽極配線、5は陰極配線、10は隔壁、11は基板、21は陰極補助配線、22は絶縁膜、23は開口部、25はコンタクトホール、26は陽極補助配線、27は補助配線部、28は金属パターン、29は透明導電膜パターンである。本発明では陰極補助配線21が透明導電膜パターン29とその上に設けられた金属パターン28との2層構造をしている。40は陰極補助配線21の端子部である。   An element substrate on which an organic EL light emitting element of the organic EL display device according to the present embodiment is formed will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a plan view showing a configuration of an element substrate of an organic EL display device. 1 is anode wiring, 5 is cathode wiring, 10 is a partition, 11 is a substrate, 21 is cathode auxiliary wiring, 22 is an insulating film, 23 is an opening, 25 is a contact hole, 26 is anode auxiliary wiring, and 27 is auxiliary wiring. , 28 are metal patterns, and 29 is a transparent conductive film pattern. In the present invention, the cathode auxiliary wiring 21 has a two-layer structure of a transparent conductive film pattern 29 and a metal pattern 28 provided thereon. Reference numeral 40 denotes a terminal portion of the cathode auxiliary wiring 21.

基板11上には、基板11の表面に接するように複数の陽極配線1が形成されている。複数の陽極配線1はそれぞれ平行に形成されている。基板端部側において、陽極配線1の上にはそれぞれの陽極配線1に対応された陽極補助配線26が形成されている。基板端部側において、陽極補助配線26はFPC(Flexible Printed Circuit board)やTCP(Tape Career Package)等の外部配線と接続するための金属パッドとして機能する。すなわち、陽極補助配線26の上に異方性導電膜(以下、ACF)を貼り付け、さらにACFの上から外部配線を重ね合わせて圧着する。これにより、外部配線と金属パッドである陽極補助配線26とが接続される。この外部配線を介して、駆動回路から陽極配線1に電流を供給することができる。陽極配線1と同じ層には透明導電膜パターン29が形成されている。陽極補助配線26と同じ層には金属パターン28が形成されている。   A plurality of anode wirings 1 are formed on the substrate 11 so as to be in contact with the surface of the substrate 11. The plurality of anode wirings 1 are formed in parallel. An anode auxiliary wiring 26 corresponding to each anode wiring 1 is formed on the anode wiring 1 on the substrate end side. On the substrate end side, the anode auxiliary wiring 26 functions as a metal pad for connecting to external wiring such as FPC (Flexible Printed Circuit board) and TCP (Tape Career Package). That is, an anisotropic conductive film (hereinafter referred to as ACF) is bonded onto the anode auxiliary wiring 26, and further, external wiring is superimposed on the ACF and pressure bonded. Thereby, the external wiring and the anode auxiliary wiring 26 which is a metal pad are connected. A current can be supplied from the drive circuit to the anode wiring 1 through the external wiring. A transparent conductive film pattern 29 is formed in the same layer as the anode wiring 1. A metal pattern 28 is formed in the same layer as the anode auxiliary wiring 26.

金属パターン28は陰極配線5の本数に対応して形成されている。金属パターン28は陰極配線5と垂直な方向に分離されている。金属パターン28のうち表示領域側に設けられている部分は補助配線部27となる。一方、金属パターン28のうち基板端側に設けられている部分は外部配線と接続するための端子部40となる。端子部40にはFPCやTCP等の外部配線と接続するための金属パッドが形成されている。この端子部40の周辺の構成については後述する。   The metal pattern 28 is formed corresponding to the number of the cathode wirings 5. The metal pattern 28 is separated in a direction perpendicular to the cathode wiring 5. A portion of the metal pattern 28 provided on the display area side is an auxiliary wiring portion 27. On the other hand, a portion of the metal pattern 28 provided on the substrate end side becomes a terminal portion 40 for connection to external wiring. The terminal portion 40 is formed with a metal pad for connecting to an external wiring such as FPC or TCP. The configuration around the terminal portion 40 will be described later.

陽極配線1及び透明導電膜パターン29は例えば、ITO等などの透明導電膜により形成される。陽極補助配線26及び金属パターン28は多層構造又は単層構造の金属膜により形成される。例えば、下からMo層、Al層、Mo層の順番で陽極補助配線26及び金属パターン28となる積層金属膜が構成される。陽極配線1と交差するように陰極配線5が配置され、陰極配線5の基板端側には陰極補助配線21が形成されている。陽極補助配線1、陽極補助配線26及び陰極補助配線21が形成された基板上には、絶縁膜22が形成される。絶縁膜22の膜厚は、例えば、0.7μmである。絶縁膜22には、陽極配線1と陰極配線5とが交差する位置(すなわち表示画素となる位置)に開口部23が設けられている。   The anode wiring 1 and the transparent conductive film pattern 29 are formed of a transparent conductive film such as ITO. The anode auxiliary wiring 26 and the metal pattern 28 are formed of a metal film having a multilayer structure or a single layer structure. For example, a laminated metal film to be the anode auxiliary wiring 26 and the metal pattern 28 is formed in the order of the Mo layer, the Al layer, and the Mo layer from the bottom. A cathode wiring 5 is disposed so as to cross the anode wiring 1, and a cathode auxiliary wiring 21 is formed on the substrate end side of the cathode wiring 5. An insulating film 22 is formed on the substrate on which the anode auxiliary wiring 1, the anode auxiliary wiring 26, and the cathode auxiliary wiring 21 are formed. The film thickness of the insulating film 22 is 0.7 μm, for example. In the insulating film 22, an opening 23 is provided at a position where the anode wiring 1 and the cathode wiring 5 intersect (that is, a position serving as a display pixel).

表示領域の外側には陰極補助配線21と陰極配線5とを接続するため、絶縁膜22にコンタクトホール25が形成されている。このコンタクトホール25において、陰極配線5と陰極補助配線21とが接続される。陰極補助配線21の基板端側に配置された端子部40において、陰極補助配線21がACFを介して外部配線及び外部配線と接続された駆動回路と接続される。これにより、開口部23において陽極配線1と陰極配線5に挟まれる有機薄膜層に電流を流すことができ、有機薄膜層が発光する。この開口部23が設けられている領域が表示領域となり、所望の画像を表示することができる。   A contact hole 25 is formed in the insulating film 22 to connect the cathode auxiliary wiring 21 and the cathode wiring 5 to the outside of the display area. In the contact hole 25, the cathode wiring 5 and the cathode auxiliary wiring 21 are connected. In the terminal portion 40 disposed on the substrate end side of the cathode auxiliary wiring 21, the cathode auxiliary wiring 21 is connected to the external wiring and a drive circuit connected to the external wiring through the ACF. Thereby, an electric current can be sent through the organic thin film layer sandwiched between the anode wiring 1 and the cathode wiring 5 in the opening 23, and the organic thin film layer emits light. The area where the opening 23 is provided becomes a display area, and a desired image can be displayed.

絶縁膜22の上層には、複数の有機薄膜層(有機化合物層)、陰極配線5が順に積層される。従って、有機薄膜層は陰極配線5と陽極配線1に挟まれる構成となる。ただし、図1では有機薄膜層の図示を省略している。また、有機薄膜層を形成する前に、隣接する陰極配線同士を区分する分離構造体(以下、隔壁10と記す。)が設けられる。隔壁10は、陰極配線5を蒸着等により形成する前に、所望のパターンに形成される。例えば、図1に示すように、陽極配線1と直交する複数の陰極配線5を形成するため、陽極配線1と直交する複数の隔壁10が陽極配線1の上に形成される。   A plurality of organic thin film layers (organic compound layers) and the cathode wiring 5 are sequentially stacked on the insulating film 22. Accordingly, the organic thin film layer is sandwiched between the cathode wiring 5 and the anode wiring 1. However, illustration of the organic thin film layer is omitted in FIG. In addition, before the organic thin film layer is formed, a separation structure (hereinafter referred to as a partition wall 10) that separates adjacent cathode wirings is provided. The barrier rib 10 is formed in a desired pattern before the cathode wiring 5 is formed by vapor deposition or the like. For example, as shown in FIG. 1, a plurality of partition walls 10 orthogonal to the anode wiring 1 are formed on the anode wiring 1 in order to form a plurality of cathode wirings 5 orthogonal to the anode wiring 1.

隔壁10は、逆テーパ構造を有していることが好ましい。すなわち、基板11から離れるにつれて断面が広がるように形成されることが好ましい。これにより、隔壁10の側壁及び立ち上がり部分が蒸着の陰となり、陰極配線5を区分することができる。隔壁10は例えば、高さが3.4μmで、幅が10μmで形成することができる。   The partition wall 10 preferably has an inverted taper structure. That is, it is preferable that the cross-section is formed so as to be separated from the substrate 11. Thereby, the side wall and the rising portion of the partition wall 10 are shadowed by vapor deposition, and the cathode wiring 5 can be divided. The partition wall 10 can be formed with a height of 3.4 μm and a width of 10 μm, for example.

隔壁10が形成された後、有機薄膜層が蒸着法あるいは塗布法等により形成される。さらに有機薄膜層の上から金属を蒸着する。蒸着された金属膜は逆テーパ構造の隔壁10により分断され、複数の陰極配線5が形成される。陰極配線5となる金属膜は隔壁10の外側には形成されないようマスクを用いて蒸着される。有機EL素子基板は上述のような構成を備えている。   After the partition wall 10 is formed, an organic thin film layer is formed by a vapor deposition method or a coating method. Further, a metal is deposited on the organic thin film layer. The deposited metal film is divided by a partition wall 10 having a reverse taper structure to form a plurality of cathode wirings 5. The metal film to be the cathode wiring 5 is deposited using a mask so as not to be formed outside the partition wall 10. The organic EL element substrate has the above-described configuration.

この素子基板と捕水材が形成された対向基板とが対向配置される。対向する面に設けられたシール材で素子基板と対向基板とを貼り合わせ、有機EL素子が設けられた空間を封止する。そして、配線の接続端子に外部配線を接続し、駆動回路を実装することにより有機EL表示パネルが形成される。   The element substrate and the counter substrate on which the water catching material is formed are arranged to face each other. The element substrate and the counter substrate are bonded to each other with a sealing material provided on the opposing surface, and the space in which the organic EL element is provided is sealed. And an external wiring is connected to the connection terminal of wiring, and an organic EL display panel is formed by mounting a drive circuit.

次に基板端側に設けられた端子部40の構成について図2を用いて説明する。図2(a)は端子部40の周辺を含めて拡大して示す上面図であり、1本の陽極配線1に着目して図示している。図2(b)は端子部40を拡大して示す断面図である。41は金属パッド、42は切断部、51は対向基板、53は対向基板51と基板11とを貼り合わせるためのシール材、61はACF、62はFPC、63はFPC62に設けられた導電層、66は水分等の浸入を防ぐためのカバー樹脂である。また、図2において65はACFの表示領域側の端部を示している。図2において左側が表示領域側であり、右側が基板端側である。   Next, the structure of the terminal part 40 provided in the board | substrate edge side is demonstrated using FIG. FIG. 2A is an enlarged top view including the periphery of the terminal portion 40, focusing on one anode wiring 1. FIG. 2B is an enlarged sectional view showing the terminal portion 40. 41 is a metal pad, 42 is a cutting part, 51 is a counter substrate, 53 is a sealing material for bonding the counter substrate 51 and the substrate 11, 61 is an ACF, 62 is an FPC, 63 is a conductive layer provided on the FPC 62, Reference numeral 66 denotes a cover resin for preventing moisture and the like from entering. In FIG. 2, reference numeral 65 denotes an end of the ACF on the display area side. In FIG. 2, the left side is the display area side, and the right side is the substrate end side.

本実施の形態では、陰極補助配線21が透明導電膜パターン29と透明導電膜パターン29の上に設けられた金属パターン28との積層構造となっている。図2に示すように、端子部40において、FPC62と接続するための金属パッド41を複数設けている。すなわち、端子部40において、配線方向と垂直に金属パターン28を切断する切断部42を設け、金属パターン28を分離することにより複数の金属パッド41を形成している。複数の金属パッド41は配線方向に沿って、一列に配置されている。   In the present embodiment, the cathode auxiliary wiring 21 has a laminated structure of a transparent conductive film pattern 29 and a metal pattern 28 provided on the transparent conductive film pattern 29. As shown in FIG. 2, a plurality of metal pads 41 for connecting to the FPC 62 are provided in the terminal portion 40. That is, the terminal portion 40 is provided with a cutting portion 42 for cutting the metal pattern 28 perpendicular to the wiring direction, and the metal pattern 28 is separated to form a plurality of metal pads 41. The plurality of metal pads 41 are arranged in a line along the wiring direction.

複数の金属パッド41は透明導電膜パターン29の上に直接設けられているため、透明導電膜パターン29と電気的に接続されている。このように互いに分離された金属パッド41を複数形成することにより、たとえ腐食が発生したとしても、その腐食箇所が広がるのを防ぐことができる。すなわち、1つの金属パッド41で腐食が発生した場合であっても、隣接する金属パッド41とは金属パターン28が分離されているため、隣接する金属パッド41に金属の腐食が拡大することを防止できる。これにより、金属の腐食の拡大に基づく抵抗の劣化を低減できる。よって、金属パッド41が腐食しても抵抗の劣化による配線の電気的特性を維持することができる。   Since the plurality of metal pads 41 are directly provided on the transparent conductive film pattern 29, they are electrically connected to the transparent conductive film pattern 29. By forming a plurality of metal pads 41 separated from each other in this way, even if corrosion occurs, it is possible to prevent the corrosion site from spreading. That is, even when corrosion occurs in one metal pad 41, the metal pattern 28 is separated from the adjacent metal pad 41, thereby preventing the metal corrosion from spreading to the adjacent metal pad 41. it can. Thereby, deterioration of resistance based on expansion of metal corrosion can be reduced. Therefore, even if the metal pad 41 is corroded, the electrical characteristics of the wiring due to the deterioration of resistance can be maintained.

図2に示す例では9つの金属パッド41を配線が設けられた方向に沿って配置している。金属パッド41は透明導電膜パターン29が露出している領域の上に形成され、透明導電膜パターン29の上に直接配置される。金属パッド41の上にはACF61が圧着されている。金属パッド41はACF61と十分密着して、十分な接続抵抗が得られる程度の大きさで形成することが好ましい。   In the example shown in FIG. 2, nine metal pads 41 are arranged along the direction in which the wiring is provided. The metal pad 41 is formed on a region where the transparent conductive film pattern 29 is exposed, and is directly disposed on the transparent conductive film pattern 29. An ACF 61 is pressure-bonded on the metal pad 41. It is preferable that the metal pad 41 be formed in such a size that it can be sufficiently adhered to the ACF 61 to obtain a sufficient connection resistance.

ここでは、金属パッド41を200μm×200μmの幅で形成している。金属パッド41の大きさは、例えば、ACF61に含まれる導電性粒子の大きさ、ACF61との密着性を考慮した大きさにするようにする。例えば、ACF61に含まれる導電性粒子の大きさよりも金属パッドを十分大きくすることが好ましい。また、あまり金属パッド41の面積が大きいと、腐食の拡大による抵抗の劣化が大きくなってしまうからである。   Here, the metal pad 41 is formed with a width of 200 μm × 200 μm. The size of the metal pad 41 is set, for example, in consideration of the size of the conductive particles contained in the ACF 61 and the adhesion with the ACF 61. For example, it is preferable to make the metal pad sufficiently larger than the size of the conductive particles contained in ACF61. Further, if the area of the metal pad 41 is too large, the resistance deterioration due to the expansion of corrosion becomes large.

一般に金属膜の比抵抗は透明導電膜の比抵抗よりも低く、電流が流れやすい。従って、切断部42の幅を狭くすることによって、配線全体として抵抗を低減することができる。すなわち、陰極補助配線21の抵抗を低減することができ表示品質を向上することができる。また、切断部42の幅をパターニング精度以上で形成することによって、隣接する金属パッド41が接触するのを防ぐことができる。ここでは金属パターンのパターニング精度から切断部42を10μmとして形成して、配線の抵抗を低減させている。すなわち、隣接する金属パッド41には10μmの隙間が設けられている。この切断部42では透明導電膜パターン29が最上層に露出する。切断部42の幅は抵抗の劣化を低減するため10μm以下とすることが好ましい。   In general, the specific resistance of a metal film is lower than the specific resistance of a transparent conductive film, and current flows easily. Therefore, by reducing the width of the cut portion 42, the resistance of the entire wiring can be reduced. That is, the resistance of the cathode auxiliary wiring 21 can be reduced and the display quality can be improved. Moreover, it can prevent that the adjacent metal pad 41 contacts by forming the width | variety of the cutting part 42 more than patterning precision. Here, the cutting portion 42 is formed with a thickness of 10 μm from the patterning accuracy of the metal pattern to reduce the wiring resistance. That is, a gap of 10 μm is provided between adjacent metal pads 41. In the cut portion 42, the transparent conductive film pattern 29 is exposed in the uppermost layer. The width of the cut portion 42 is preferably 10 μm or less in order to reduce resistance degradation.

図2では陰極配線5の方向に沿って、9個の金属パッド41を一列に配置している。この9個の金属パッド41は平行に設けられている。そして、左から3個目の金属パッド41の上にはFPC62の端部が設けられている。すなわち、FPC62は、表示領域側の端部が左から3個目の金属パッド41の上に配置されるよう取り付けられる。従って、FPC62の表示領域側の端部よりも内側にはさらに2つの金属パッドがある。   In FIG. 2, nine metal pads 41 are arranged in a row along the direction of the cathode wiring 5. The nine metal pads 41 are provided in parallel. An end portion of the FPC 62 is provided on the third metal pad 41 from the left. That is, the FPC 62 is attached so that the end on the display area side is disposed on the third metal pad 41 from the left. Therefore, there are two more metal pads inside the end of the FPC 62 on the display area side.

そして、最も表示領域側にある金属パッド41の上にはACFの端部65が配置される。FPC62の基板側には、導電層63が設けられている。この導電層63が上からACF61に接触するように設けられる。この導電層63を介して金属パッド41の電流が供給される。金属パターン28は透明導電膜パターン29が露出してしまう領域にはカバー樹脂66を設けている。カバー樹脂66は透水性の低い樹脂であり、陰極補助配線21や封止された空間に水分等が侵入するのを防ぐ。   An end portion 65 of the ACF is disposed on the metal pad 41 that is closest to the display area. A conductive layer 63 is provided on the substrate side of the FPC 62. The conductive layer 63 is provided in contact with the ACF 61 from above. The current of the metal pad 41 is supplied through the conductive layer 63. The metal pattern 28 is provided with a cover resin 66 in an area where the transparent conductive film pattern 29 is exposed. The cover resin 66 is a resin having low water permeability and prevents moisture and the like from entering the cathode auxiliary wiring 21 and the sealed space.

最も表示領域側の金属パッド41よりも内側に補助配線部27が形成されている。補助配線部27及び金属パッド41は金属パターンの一部として形成されている。すなわち、補助配線部27及び金属パッド41は同じ工程により形成される。補助配線部27はシール材の内側まで延在して設けられている。すなわち、シール材53は補助配線部27の上に配置される構成となる。なお、補助配線部27をシール材53の内側に配置してもよい。そして補助配線部27は陰極配線5の方向に沿って、図1に示すコンタクトホール25の内側まで形成される。金属パターン28の比抵抗は透明導電膜パターン29の比抵抗よりも低いため、配線方向に沿って補助配線部27を設けることによって、陰極補助配線21の配線抵抗を低減することができる。   An auxiliary wiring portion 27 is formed inside the metal pad 41 on the most display area side. The auxiliary wiring portion 27 and the metal pad 41 are formed as part of the metal pattern. That is, the auxiliary wiring part 27 and the metal pad 41 are formed by the same process. The auxiliary wiring portion 27 is provided so as to extend to the inside of the sealing material. That is, the sealing material 53 is arranged on the auxiliary wiring portion 27. Note that the auxiliary wiring portion 27 may be disposed inside the sealing material 53. The auxiliary wiring portion 27 is formed along the direction of the cathode wiring 5 to the inside of the contact hole 25 shown in FIG. Since the specific resistance of the metal pattern 28 is lower than the specific resistance of the transparent conductive film pattern 29, the wiring resistance of the cathode auxiliary wiring 21 can be reduced by providing the auxiliary wiring portion 27 along the wiring direction.

さらに、金属パッド41と補助配線部27とを分離して配置し、補助配線部27をFPC62よりも内側に設けることによって、FPC62に含まれている不純物によって発生する腐食が補助配線部27に対して発生するのを防ぐことができる。これにより、配線抵抗の劣化を防ぐことができる。さらに、ACFの端部65よりも表示領域側に設けることによって、ACF65に含まれる不純物に起因して発生する腐食が補助配線部27に対して発生するのを防ぐことができる。これにより、配線抵抗の劣化を防ぐことができる。   Furthermore, the metal pad 41 and the auxiliary wiring portion 27 are arranged separately, and the auxiliary wiring portion 27 is provided on the inner side of the FPC 62, whereby corrosion caused by impurities contained in the FPC 62 is caused to the auxiliary wiring portion 27. Can be prevented. Thereby, deterioration of wiring resistance can be prevented. Furthermore, by providing the display area side of the end portion 65 of the ACF, it is possible to prevent the corrosion caused by the impurities contained in the ACF 65 from occurring on the auxiliary wiring portion 27. Thereby, deterioration of wiring resistance can be prevented.

FPC62の導電層63には駆動回路(図示せず)が接続されている。そして、金属パッド41を介して駆動回路からの電流が陰極補助配線21に供給される。図2において外部配線はFPC62を用いたがもちろん駆動回路が実装されたTCPを用いてもよい。もちろん、上述の金属パッドの数、大きさ等は一例であり、上述のものに限られるものではない。さらに複数の金属パッドには様々な配置が考えられる。複数の金属パッドの配置例を図3、図4及び図5にそれぞれ示す。図3、図4及び図5は金属パッドの配置例を模式的に示す上面図である。   A drive circuit (not shown) is connected to the conductive layer 63 of the FPC 62. Then, current from the drive circuit is supplied to the cathode auxiliary wiring 21 through the metal pad 41. In FIG. 2, the FPC 62 is used as the external wiring, but it goes without saying that the TCP on which the drive circuit is mounted may be used. Of course, the number, size, and the like of the above-described metal pads are examples, and are not limited to those described above. Furthermore, various arrangements are conceivable for the plurality of metal pads. Examples of arrangement of a plurality of metal pads are shown in FIGS. 3, 4 and 5, respectively. 3, 4 and 5 are top views schematically showing examples of arrangement of metal pads.

図3に示す配置では、図2に示す配置に対して金属パッド41をさらに配線と平行な方向に分離している。これにより、1つの金属パッド41の面積を小さくすることができ、腐食が発生したとしても腐食が広がる領域を狭くすることができる。さらに図4に示す配置では、金属パッドにおいて、補助配線部27を細くしている。そして、補助配線部27の細い部分の両側に金属パッド41をそれぞれ配置している。また、図5に示す配置では補助配線部27をコの字状に形成している。そしてコの字状の部分の内側に金属パッド41を配置している。このように、複数の金属パッド41は様々な配置をすることができる。   In the arrangement shown in FIG. 3, the metal pad 41 is further separated in a direction parallel to the wiring with respect to the arrangement shown in FIG. Thereby, the area of one metal pad 41 can be reduced, and even if corrosion occurs, the area where corrosion spreads can be narrowed. Further, in the arrangement shown in FIG. 4, the auxiliary wiring portion 27 is thinned in the metal pad. The metal pads 41 are arranged on both sides of the thin portion of the auxiliary wiring portion 27, respectively. Further, in the arrangement shown in FIG. 5, the auxiliary wiring portion 27 is formed in a U-shape. And the metal pad 41 is arrange | positioned inside the U-shaped part. Thus, the plurality of metal pads 41 can be arranged in various ways.

なお、上述の説明では陰極補助配線21の端子部に複数の金属パッド41を設けたが、陽極補助配線26に対して複数の金属パッドを形成してもよい。すなわち、陽極補助配線26の基板端側に複数の金属パッドを形成することにより、陽極配線側でも抵抗の劣化を防ぐことができる。   In the above description, the plurality of metal pads 41 are provided on the terminal portion of the cathode auxiliary wiring 21, but a plurality of metal pads may be formed on the anode auxiliary wiring 26. That is, by forming a plurality of metal pads on the substrate end side of the anode auxiliary wiring 26, it is possible to prevent resistance deterioration on the anode wiring side.

次に、図6を用いて、本実施例にかかる有機ELディスプレイの製造方法について説明する。図6は、本実施例にかかる有機ELディスプレイの製造方法の一例を示すフローチャートである。   Next, the manufacturing method of the organic EL display concerning a present Example is demonstrated using FIG. FIG. 6 is a flowchart showing an example of a method for manufacturing an organic EL display according to this example.

まず、基板11上に陽極配線1及び透明導電膜パターン29となるITO膜を成膜する(ステップS101)。基板11として、例えばガラス基板等の透明基板を用いる。ガラス基板としては、たとえばソーダライムガラスを使用することができる。ITO膜の厚さは通常50〜200nmである。より好ましくは100〜150nmである。典型的には、DCスパッタ法により作製した厚さ150nmのITO膜である。ITO膜は、一般的には、このほか、真空蒸着法、イオンプレーティング法等の物理的気相成長法(PVD)で作製することができる。この説明ではITO膜を使用する。もちろんITO以外にもIZO等の透明な金属酸化物からなる導電膜でもよい。   First, an ITO film to be the anode wiring 1 and the transparent conductive film pattern 29 is formed on the substrate 11 (step S101). As the substrate 11, for example, a transparent substrate such as a glass substrate is used. As the glass substrate, for example, soda lime glass can be used. The thickness of the ITO film is usually 50 to 200 nm. More preferably, it is 100-150 nm. Typically, it is an ITO film having a thickness of 150 nm manufactured by a DC sputtering method. In addition to the above, the ITO film can be generally produced by physical vapor deposition (PVD) such as vacuum deposition or ion plating. In this description, an ITO film is used. Of course, other than ITO, a conductive film made of a transparent metal oxide such as IZO may be used.

ITOはスパッタや蒸着によって、ガラス基板全面に均一性よく成膜することができる。フォトリソグラフィー及びエッチングによりITO膜をパターニングして、陽極配線1を形成する(ステップS102)。レジストとしてはフェノールノボラック樹脂を使用し、露光現像を行う。エッチングはウェットエッチングあるいはドライエッチングのいずれでもよいが、例えば、塩酸及び硝酸の混合水溶液を使用してITOをパターニングすることができる。レジスト剥離材としては例えば、モノエタノールアミンを使用することができる。これにより、陽極配線1及び透明導電膜パターン29が形成される。   ITO can be formed on the entire surface of the glass substrate with good uniformity by sputtering or vapor deposition. The ITO film is patterned by photolithography and etching to form the anode wiring 1 (step S102). A phenol novolac resin is used as the resist, and exposure development is performed. Etching may be either wet etching or dry etching. For example, ITO can be patterned using a mixed aqueous solution of hydrochloric acid and nitric acid. As the resist stripping material, for example, monoethanolamine can be used. Thereby, the anode wiring 1 and the transparent conductive film pattern 29 are formed.

次にMo層、Al層、Mo層の積層金属膜をDCスパッタ法により成膜する(ステップS103)。これらは連続して成膜することができる。積層金属膜は、このほか、真空蒸着法、イオンプレーティング法等の物理的気相成長法(PVD)、電解めっき、無電解めっき等のめっき法で作製することができる場合がある。   Next, a laminated metal film of Mo layer, Al layer, and Mo layer is formed by DC sputtering (step S103). These can be continuously formed. In addition, the laminated metal film may be produced by a physical vapor deposition method (PVD) such as a vacuum deposition method or an ion plating method, or a plating method such as electrolytic plating or electroless plating.

上層及び下層のMo層の厚さはそれぞれ、通常50〜200nmであり、Al層の厚さは、通常200〜400nmである。Moの代わりにMo合金を用いると耐腐食性が向上する。Mo合金としては、2成分系のMo−W、Mo−Nb、Mo−V、Mo−Taなどを用いることが好ましい。   The thicknesses of the upper and lower Mo layers are usually 50 to 200 nm, and the thickness of the Al layer is usually 200 to 400 nm. When Mo alloy is used instead of Mo, corrosion resistance is improved. As the Mo alloy, it is preferable to use binary Mo-W, Mo-Nb, Mo-V, Mo-Ta, or the like.

Alの代わりにAl合金を用いることもできる。Al,Al合金のいずれかよりなる層として純Alを適用する場合には、ヒロックの発生を抑制するため、成膜温度を100℃以下にすることが好ましい。Al合金を使用する場合、Al−Ndを使用するとキュア時に低抵抗化できる点で好ましい。さらに、Al−Si、さらに、3成分系のAl−Si−Cu等も適用可能である。ここでは、Mo、Al、Moの3層の組み合わせを使用することとする。   An Al alloy can be used instead of Al. When pure Al is applied as a layer made of either Al or Al alloy, it is preferable to set the film forming temperature to 100 ° C. or lower in order to suppress generation of hillocks. When using an Al alloy, it is preferable to use Al—Nd because the resistance can be reduced during curing. Furthermore, Al—Si, ternary Al—Si—Cu, and the like are also applicable. Here, a combination of three layers of Mo, Al, and Mo is used.

その後、積層金属膜をパターニングする(ステップS104)。例えば、フォトリソ工程でレジストをパターニングし、積層金属膜をエッチングし、レジストを剥離する。この場合のレジストも、本発明の趣旨に反しない限り、公知のどのようなものを使用してもよい。   Thereafter, the laminated metal film is patterned (step S104). For example, the resist is patterned by a photolithography process, the laminated metal film is etched, and the resist is peeled off. Any known resist may be used as long as it does not contradict the spirit of the present invention.

エッチングには、たとえば燐酸、酢酸、硝酸の混合水溶液よりなるエッチング液を使用することができる。レジストの剥離についても、本発明の趣旨に反しない限り、公知のどのような剥離剤を使用してもよい。   For the etching, for example, an etching solution made of a mixed aqueous solution of phosphoric acid, acetic acid and nitric acid can be used. Any known stripping agent may be used for stripping the resist as long as it does not violate the gist of the present invention.

Mo層およびAl層はこのエッチング液で一括エッチングが可能である。これにより陽極補助配線26が形成される。また、この工程により、金属パターン28を形成する。同じ工程で陽極補助配線26及び金属パターン28を形成することにより製造工程を簡略化できる。よって、これら工程で陰極補助配線21がパターニングされる。なお、ITOの成膜工程(ステップS101)の前に、基板全面にシリカコート膜を形成してもよい。   The Mo layer and the Al layer can be collectively etched with this etching solution. Thereby, the anode auxiliary wiring 26 is formed. Moreover, the metal pattern 28 is formed by this process. By forming the anode auxiliary wiring 26 and the metal pattern 28 in the same process, the manufacturing process can be simplified. Therefore, the cathode auxiliary wiring 21 is patterned in these steps. Note that a silica coat film may be formed on the entire surface of the substrate before the ITO film forming step (step S101).

次に、陽極配線1、金属パターン28及び陽極補助配線26を設けた基板11の面に上から絶縁膜22を成膜する(ステップS105)。例えば、感光性のポリイミドの溶液をスピンコーティングにより塗布する。この絶縁膜22の膜厚は、例えば、0.7μmになるようにすればよい。この絶縁膜22をパターニングする(ステップS106)。例えば、絶縁膜の層をフォトリソグラフィー工程、現像工程でパターニングした後、キュアし、表示画素となる位置の絶縁膜を除去し、開口部23を設ける。後述するステップS109で形成される陰極配線5と、陽極配線1との交差部分が表示画素となる。   Next, the insulating film 22 is formed on the surface of the substrate 11 provided with the anode wiring 1, the metal pattern 28, and the anode auxiliary wiring 26 (step S105). For example, a photosensitive polyimide solution is applied by spin coating. The thickness of the insulating film 22 may be set to 0.7 μm, for example. The insulating film 22 is patterned (step S106). For example, the insulating film layer is patterned by a photolithography process and a developing process, and then cured, and the insulating film at a position to be a display pixel is removed to provide an opening 23. The intersection of the cathode wiring 5 and the anode wiring 1 formed in step S109 described later becomes a display pixel.

同時に陰極配線5と陰極補助配線21とを接続するコンタクトホール25を形成する。例えば、画素に対応する開口部は300μm×300μm程度で形成する。陰極配線5と陰極補助配線21とのコンタクトホール25は例えば、200μm×200μm以下で形成する。画素開口部が300μm×300μm程度の場合、陰極と補助配線とのコンタクト形成部を200μm×200μm以下とすると、素子全体の大きさに影響を与えなくて済むため好ましい。   At the same time, a contact hole 25 for connecting the cathode wiring 5 and the cathode auxiliary wiring 21 is formed. For example, the opening corresponding to the pixel is formed with a size of about 300 μm × 300 μm. The contact hole 25 between the cathode wiring 5 and the cathode auxiliary wiring 21 is formed with, for example, 200 μm × 200 μm or less. In the case where the pixel opening is about 300 μm × 300 μm, it is preferable that the contact forming portion between the cathode and the auxiliary wiring is 200 μm × 200 μm or less because it does not affect the size of the entire device.

続いて、絶縁膜(ポリイミドの層)の表面において、64本の陰極配線5を分離配置できるように隔壁10を形成する(ステップS107)。なお、図1では、配線の本数について減らして模式的に図示している。隔壁10は、絶縁膜の上層にノボラック樹脂、アクリル樹脂膜等の感光性樹脂を塗布することにより形成する。例えば、感光性樹脂をスピンコートして、フォトリソグラフィー工程でパターニングした後、光反応させて陰極隔壁を形成する。陰極隔壁が逆テーパ構造を有するようネガタイプの感光性樹脂を用いることが望ましい。   Subsequently, the partition 10 is formed on the surface of the insulating film (polyimide layer) so that the 64 cathode wirings 5 can be separated and arranged (step S107). In FIG. 1, the number of wires is reduced and schematically shown. The partition 10 is formed by applying a photosensitive resin such as a novolac resin or an acrylic resin film on the upper layer of the insulating film. For example, a photosensitive resin is spin-coated, patterned by a photolithography process, and then photoreacted to form cathode barrier ribs. It is desirable to use a negative type photosensitive resin so that the cathode partition has an inversely tapered structure.

ネガタイプの感光性樹脂を用いると、上から光を照射した場合、深い場所ほど光反応が不十分となる。その結果、上から見た場合、硬化部分の断面積が上の方より下の方が狭い構造を有する。これが逆テーパ構造を有するという意味である。このような構造にすると、その後、陰極の蒸着時に蒸着源から見て陰になる部分は蒸着が及ばないため、陰極同士を分離することが可能になる。   When a negative photosensitive resin is used, when light is irradiated from above, the photoreaction becomes insufficient at deeper locations. As a result, when viewed from above, the cross-sectional area of the cured portion has a structure that is narrower on the lower side than on the upper side. This means that it has an inverted taper structure. With such a structure, the cathodes can be separated from each other because the portions that are shaded when viewed from the vapor deposition source during vapor deposition of the cathodes do not reach the vapor deposition.

さらに、開口部23のITO層の表面改質を行うために、酸素プラズマ又は紫外線を照射してもよい。例えば、並行平板RFプラズマ(高周波プラズマ)装置を用い、酸素プラズマ照射を実施して、ITO膜の表面改質を行う。   Further, in order to modify the surface of the ITO layer in the opening 23, oxygen plasma or ultraviolet light may be irradiated. For example, using a parallel plate RF plasma (high frequency plasma) apparatus, oxygen plasma irradiation is performed to modify the surface of the ITO film.

その後、有機薄膜層を積層する(ステップS108)。まず、開口部を有する金属マスクをガラス基板に取り付ける。このとき、金属マスクの開口部と有機薄膜層を設けるべき位置が重なるように配置し、また、金属マスクとガラス基板との間に50μmの空間が空くように取り付ける。そして、0.5%(質量百分率)のポリビニルカルバゾールを溶解した安息香酸エチル溶液をマスクスプレー法によって塗布する。そして、溶液を濃縮乾燥して正孔注入層を形成する。   Thereafter, an organic thin film layer is stacked (step S108). First, a metal mask having an opening is attached to a glass substrate. At this time, the opening of the metal mask and the position where the organic thin film layer should be provided are arranged so as to overlap each other, and the 50 μm space is attached between the metal mask and the glass substrate. Then, an ethyl benzoate solution in which 0.5% (percentage by mass) of polyvinyl carbazole is dissolved is applied by a mask spray method. Then, the solution is concentrated and dried to form a hole injection layer.

続いて、正孔注入層の上層にα−NPD(N,N'−ジ(ナフタレン−1−イル)−N,N'−ジフェニル−ベンジジン)を蒸着して膜厚40nmの正孔輸送層を形成する。さらに、その上層に、発光層のホスト化合物となるAlq(トリス(8−ヒドロキシナト)アルミニウム)と、ゲスト化合物の蛍光性色素となるクマリン6とを同時に蒸着して、膜厚60nmの発光層を形成する。続いて、発光層の上層にLiFを蒸着して、膜厚0.5nmの陰極界面層を形成する。   Subsequently, α-NPD (N, N′-di (naphthalen-1-yl) -N, N′-diphenyl-benzidine) is deposited on the upper layer of the hole injection layer to form a hole transport layer having a thickness of 40 nm. Form. Further, Alq (tris (8-hydroxynato) aluminum) serving as the host compound of the light emitting layer and coumarin 6 serving as the fluorescent dye of the guest compound are simultaneously vapor deposited on the upper layer to form a light emitting layer having a thickness of 60 nm. Form. Subsequently, LiF is deposited on the light emitting layer to form a cathode interface layer having a thickness of 0.5 nm.

その後、アルミニウム等の金属材料を蒸着して、膜厚100nmの陰極配線を形成する(ステップS109)。この結果、隔壁によってアルミニウム膜は分離され、それぞれの隔壁間に陽極配線1と交差する陰極配線5を形成することができる。例えば、画素数に対応して64本の陰極配線5を形成する。これらの工程により有機EL素子基板が形成される。   Thereafter, a metal material such as aluminum is vapor-deposited to form a cathode wiring with a film thickness of 100 nm (step S109). As a result, the aluminum film is separated by the partition walls, and the cathode wiring 5 that intersects the anode wiring 1 can be formed between the partition walls. For example, 64 cathode wirings 5 are formed corresponding to the number of pixels. An organic EL element substrate is formed by these steps.

次に上述の工程により形成された有機EL発光素子を封止するため、封止用の対向基板を製造する工程について説明する。まず。素子基板とは別のガラス基板を用意する。このガラス基板を加工して捕水材を収納するための捕水材収納部を形成する。捕水材収納部はガラス基板にレジストを塗布し、露光、現像により基板の一部を露出させる。この露出部分をエッチングにより薄くすることにより捕水材収納部を形成する。   Next, in order to seal the organic EL light emitting element formed by the above-mentioned process, a process for manufacturing a sealing counter substrate will be described. First. A glass substrate different from the element substrate is prepared. The glass substrate is processed to form a water catching material storage for storing the water catching material. The water catching material storage part applies a resist to the glass substrate and exposes a part of the substrate by exposure and development. The exposed part is formed by etching to form a water catching material storage part.

この捕水材収納部に酸化カルシウム等の捕水材を配置した後、2枚の基板を重ね合わせて接着する。具体的には、対向基板の捕水材収納部が設けられた面に、ディスペンサを用いてシール材を塗布する。シール材として、例えば、エポキシ系紫外線硬化性樹脂を用いることができる。また、シール材は、有機EL素子と対向する領域の外周全体に塗布する。二枚の基板を位置合わせして対向させた後、紫外線を照射してシール材を硬化させ、基板同士を接着する。この後、シール材の硬化をより促進させるために80℃のクリーンオーブン中で1時間熱処理を施す。この結果、シール材および一対の基板によって、有機EL素子が存在する基板間と、基板の外部とが隔離される。捕水材を配置することにより、封止された空間に残留または侵入してくる水分等による有機EL素子の劣化を防止することができる。   After a water catching material such as calcium oxide is disposed in the water catching material storage portion, the two substrates are stacked and bonded. Specifically, a sealing material is applied to the surface of the counter substrate on which the water catching material storage unit is provided using a dispenser. For example, an epoxy-based ultraviolet curable resin can be used as the sealing material. The sealing material is applied to the entire outer periphery of the region facing the organic EL element. After the two substrates are aligned and face each other, the sealing material is cured by irradiating ultraviolet rays, and the substrates are bonded to each other. Thereafter, heat treatment is performed for 1 hour in a clean oven at 80 ° C. in order to further accelerate the curing of the sealing material. As a result, the sealing material and the pair of substrates separate the substrate where the organic EL element is present from the outside of the substrate. By disposing the water catching material, it is possible to prevent the organic EL element from being deteriorated due to moisture remaining or entering the sealed space.

基板の外周付近の不要部分を切断除去し、陽極補助配線26に信号電極ドライバを接続し、同様に陰極補助配線21に走査電極ドライバを接続する。基板端部において各補助配線に接続される端子部が形成されている。この端子部に異方性導電フィルム(ACF)を貼付け、FPC又は駆動回路が設けられたTCP(Tape Carrier Package)を接続する。最上層がMo層である陽極補助配線26の基板端側の一部が端子部となり、コンタクト抵抗を低減することができる。   Unnecessary portions near the outer periphery of the substrate are cut and removed, a signal electrode driver is connected to the anode auxiliary wiring 26, and a scanning electrode driver is connected to the cathode auxiliary wiring 21 in the same manner. A terminal portion connected to each auxiliary wiring is formed at the substrate end. An anisotropic conductive film (ACF) is attached to the terminal portion, and a TCP (Tape Carrier Package) provided with an FPC or a drive circuit is connected. A part of the substrate auxiliary side of the anode auxiliary wiring 26 whose uppermost layer is a Mo layer serves as a terminal portion, and the contact resistance can be reduced.

具体的には端子部にACFを仮圧着する。ACFは日立化成社製アニソルム7106Uを用いている。仮圧着の際の圧着温度は80℃で、圧着圧力は1.0MPa、圧着時間は5秒である。ついでFPC又は駆動回路が内蔵されたTCPを端子部に本圧着する。本圧着の際の圧着温度は170度で、圧着圧力は2.0MPa、圧着時間は20秒である。これにより駆動回路が実装される。この有機EL表示パネルが筐体に取り付けられ、有機EL表示装置が完成する。なお、上述の工程は製造工程の一例であり、これに限るものではなく、有機EL表示装置以外の表示装置に利用してもよい。もちろん、パッシブマトリクス方式の表示装置に限らず、アクティブマトリクス方式の表示装置についても利用することができる。   Specifically, ACF is temporarily crimped to the terminal portion. An ACF uses Hitachi Chemical's Anisolm 7106U. The pressure during the temporary pressure bonding is 80 ° C., the pressure pressure is 1.0 MPa, and the pressure bonding time is 5 seconds. Next, a TCP with a built-in FPC or drive circuit is pressure-bonded to the terminal portion. The crimping temperature during the final crimping is 170 degrees, the crimping pressure is 2.0 MPa, and the crimping time is 20 seconds. Thereby, a drive circuit is mounted. This organic EL display panel is attached to the housing, and the organic EL display device is completed. In addition, the above-mentioned process is an example of a manufacturing process, and is not limited thereto, and may be used for a display device other than an organic EL display device. Needless to say, the present invention is not limited to a passive matrix display device, and can also be used for an active matrix display device.

本発明にかかる有機EL表示装置の構成の一例を示す上面図である。It is a top view which shows an example of a structure of the organic electroluminescence display concerning this invention. 本発明にかかる有機EL表示装置の一例において、端子部周辺の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of a terminal part periphery in an example of the organic electroluminescent display apparatus concerning this invention. 本発明の有機EL表示装置の製造工程を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the manufacturing process of the organic electroluminescence display of this invention. 本発明にかかる有機EL表示装置において、金属パッドの配置例を示す上面図である。In the organic EL display device according to the present invention, it is a top view showing an arrangement example of metal pads. 本発明にかかる有機EL表示装置において、金属パッドの配置例を示す上面図である。In the organic EL display device according to the present invention, it is a top view showing an arrangement example of metal pads. 本発明にかかる有機EL表示装置において、金属パッドの配置例を示す上面図である。In the organic EL display device according to the present invention, it is a top view showing an arrangement example of metal pads. 従来例の有機EL表示装置の構成を示す上面図である。It is a top view which shows the structure of the organic electroluminescent display apparatus of a prior art example.

符号の説明Explanation of symbols

1 陽極配線
5 陰極配線
10 隔壁
11 基板
21 陰極補助配線
22 絶縁膜
23 開口部
25 コンタクトホール
26 陽極補助配線
27 補助配線部
28 金属パターン
29 透明導電層パターン
40 端子部
41 金属パッド
42 切断部
51 対向基板
53 シール材
61 ACF
62 FPC
63 導電層
65 ACFの端部
66 カバー樹脂
100 有機EL素子基板
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Anode wiring 5 Cathode wiring 10 Partition 11 Board | substrate 21 Cathode auxiliary wiring 22 Insulating film 23 Opening part 25 Contact hole 26 Anode auxiliary wiring 27 Auxiliary wiring part 28 Metal pattern 29 Transparent conductive layer pattern 40 Terminal part 41 Metal pad 42 Cutting part 51 Opposite Substrate 53 Sealing material 61 ACF
62 FPC
63 conductive layer 65 end of ACF 66 cover resin 100 organic EL element substrate

Claims (9)

基板上に、導電性の金属酸化物層と複数の金属パッドが積層され、
前記複数の金属パッドが前記金属酸化物層の反基板側表面に配置され、
前記金属酸化物層と前記複数の金属パッドとはそれぞれ導電接続され、
前記金属パッドの反基板面側から外部配線が導電接続されてなる表示装置。
On the substrate, a conductive metal oxide layer and a plurality of metal pads are laminated,
The plurality of metal pads are disposed on the surface of the metal oxide layer opposite to the substrate;
The metal oxide layer and the plurality of metal pads are conductively connected to each other,
A display device in which external wiring is conductively connected from the side opposite to the substrate side of the metal pad.
前記金属酸化物層の長手方法に沿って、複数の金属パッドが配置されてなる請求項1に記載の表示装置。   The display device according to claim 1, wherein a plurality of metal pads are arranged along a longitudinal method of the metal oxide layer. 前記金属酸化物層の幅方向に、複数の金属パッドが並置されてなる請求項1または2に記載の
表示装置。
The display device according to claim 1, wherein a plurality of metal pads are juxtaposed in the width direction of the metal oxide layer.
前記金属酸化物層の上方であって、外部配線の端部よりも表示領域側に、金属層がさらに設けられ、
前記金属層は金属パッドと分離して配置されてなる請求項1、2または3に記載の表示装置。
A metal layer is further provided above the metal oxide layer and closer to the display region than the end of the external wiring,
The display device according to claim 1, wherein the metal layer is disposed separately from a metal pad.
前記金属パッドと前記金属層が同一プロセス層である請求項1、2、3または4に記載の表示装置。   The display device according to claim 1, wherein the metal pad and the metal layer are the same process layer. 前記金属パッドに少なくとも、Al、Al合金、Mo、Mo合金、Ag又はAg合金のいずれか1つの層を含む請求項1、2、3、4または5に記載の表示装置。   6. The display device according to claim 1, wherein the metal pad includes at least one layer of Al, Al alloy, Mo, Mo alloy, Ag, or Ag alloy. 基板上に導電性の金属酸化物層を形成するステップと、
前記金属酸化物層の上に、複数の金属パッドを形成するステップと、
前記複数の金属パッドの反基板面側から外部配線を導電接続するステップとを備える表示装置の製造方法
Forming a conductive metal oxide layer on a substrate;
Forming a plurality of metal pads on the metal oxide layer;
And a step of conductively connecting external wiring from the side opposite to the substrate surface of the plurality of metal pads.
前記金属酸化物層の上に、金属膜を形成するステップと、
前記金属膜をパターニングして金属パッドを形成するステップとを備える請求項7に記載の表示装置の製造方法。
Forming a metal film on the metal oxide layer;
The method for manufacturing a display device according to claim 7, further comprising: patterning the metal film to form a metal pad.
金属膜をパターニングするステップにおいて、外部配線の端部よりも表示領域側に位置する金属膜を除去せずに残すことにより金属層を形成する請求項8に記載の表示装置の製造方法。   9. The method of manufacturing a display device according to claim 8, wherein in the step of patterning the metal film, the metal layer is formed by leaving the metal film positioned on the display region side with respect to the end portion of the external wiring without being removed.
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