JP2005331475A - 半透明体又は透明体の検査装置 - Google Patents

半透明体又は透明体の検査装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2005331475A
JP2005331475A JP2004152093A JP2004152093A JP2005331475A JP 2005331475 A JP2005331475 A JP 2005331475A JP 2004152093 A JP2004152093 A JP 2004152093A JP 2004152093 A JP2004152093 A JP 2004152093A JP 2005331475 A JP2005331475 A JP 2005331475A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspection
light image
backlight
reflected light
imaging
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2004152093A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshikazu Nakano
義和 中野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tsubakimoto Chain Co
Original Assignee
Tsubakimoto Chain Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tsubakimoto Chain Co filed Critical Tsubakimoto Chain Co
Priority to JP2004152093A priority Critical patent/JP2005331475A/ja
Publication of JP2005331475A publication Critical patent/JP2005331475A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

【課題】半透明体又は透明体からなる被検査物の内部及び外部の性状を検査する検査装置において、装置の小型化、コストダウン、検査時間の短縮を図る。
【解決手段】半透明体又は透明体からなる被検査物Mの内部及び外部の性状を検査する検査装置100において、撮像手段110と、前記撮像手段の視線上に前記被検査物を隔てて設置されたバックライト照明手段120と、前記被検査物の表面での反射光が前記撮像手段に入射する位置に設置された反射照明手段130とを有し、前記バックライト照明手段による透過光画像と、前記反射照明手段による反射光画像とを前記撮像手段により同時に撮像することにより、前記被検査物の内部及び外部の性状を検査する。
【選択図】図1

Description

本発明は、プラスチックやガラスなどの透明体や半透明体の内部及び外部の性状を検査する検査装置に関するものである。
プラスチックやガラスなどの透明体や半透明体の外観検査においては、「内部に混入あるいは表面に付着した異物」の検査と、「表面のキズあるいは凹凸形状」の検査の両方を併行して行う場合が多い。この場合、「内部に混入あるいは表面に付着した異物」の検査では、被検査物の背後にバックライト照明手段を設置して得られた透過光画像による検査が有効であり(例えば、特許文献1参照)、「表面のキズあるいは凹凸形状」の検査では、被検査物の表面での反射光画像による検査が有効である(例えば、特許文献2参照)。
特開2003−215057号公報 特開2001−108639号公報
ところが、従来の検査装置によれば、「内部に混入あるいは表面に付着した異物」の検査と、「表面のキズあるいは凹凸形状」の検査の両方を独立して行うために、図2に示すように、1つの検査対象物に対して、バックライト照明手段によるバックライト画像の取得と反射照明手段による反射光画像の取得を順に行う必要があった。
そのため、バックライト画像の取得用と反射光画像の取得用にそれぞれカメラ等の撮像手段が必要となると共に、被検査物をバックライト画像取得位置と反射光画像取得位置の間を移動させるための移動手段等が必要となるため、装置の大型化とコストアップの原因となっていた。また、バックライト照明手段によるバックライト画像の取得と反射照明手段による反射光画像の取得を順に行うため、検査時間の長時間化を招いていた。
そこで、本発明の目的は、半透明体又は透明体からなる被検査物の内部及び外部の性状を検査する検査装置において、装置の小型化、コストダウン、検査時間の短縮を図ることにある。
上記の目的を達成するため、請求項1に係る発明は、半透明体又は透明体からなる被検査物の内部及び外部の性状を検査する検査装置において、撮像手段と、前記撮像手段の視線上に前記被検査物を隔てて設置されたバックライト照明手段と、前記被検査物の表面での反射光が前記撮像手段に入射する位置に設置された反射照明手段とを有し、前記バックライト照明手段による透過光画像と、前記反射照明手段による反射光画像とを前記撮像手段により同時に撮像することにより、前記被検査物の内部及び外部の性状を検査することを特徴としている。
また、請求項2に係る発明は、請求項1に係る発明の構成に加えて、バックライト照明手段と反射照明手段とが異なる波長光であることにより、上記の目的をさらに達成するものである。
請求項1に係る検査装置によれば、半透明体又は透明体からなる被検査物の内部及び外部の性状を検査する検査装置において、撮像手段と、前記撮像手段の視線上に前記被検査物を隔てて設置されたバックライト照明手段と、前記被検査物の表面での反射光が前記撮像手段に入射する位置に設置された反射照明手段とを有し、前記バックライト照明手段による透過光画像と、前記反射照明手段による反射光画像とを前記撮像手段により同時に撮像することにより、前記被検査物の内部及び外部の性状を検査する構成をしているため、複数の撮像手段を要することなく装置の小型化・省スペース化、コストダウン、検査時間の短縮を図ることが可能になる。
請求項2に係る検査装置によれば、請求項1に係る検査装置が奏する効果に加えて、バックライト画像と反射光画像を区別して撮像することが可能になるため、「被検査物の内部に混入あるいは表面に付着した異物」と「被検査物の表面のキズあるいは凹凸形状」を区別して認識することが可能になり、検査精度の向上が図られる。
以下、本発明に係る検査装置の一実施例について、図面に基づき説明する。図1は、半透明体又は透明体からなる被検査物の内部及び外部の性状を検査する検査装置100を示している。検査装置100は、工業用CCDカメラなどの撮像手段110と、この撮像手段110の視線上に被検査物Mを隔てて設置されたバックライト照明手段120と、被検査物Mの表面での反射光が撮像手段110に入射する位置に設置された反射照明手段130を有している。被検査物Mは、図示はされていないがワーク支持具により保持されている。
バックライト照明手段120及び反射照明手段130は、被検査物Mの表面に均一に光を照射できるものが望ましく、例えば、複数の発光ダイオード素子の前面に光拡散板を配置した面発光照明装置が好適に使用される。撮像手段110としては、モノクロの工業用CCDカメラなどが使用可能であり、バックライト照明手段120による透過光画像と、反射照明手段130による反射光画像とを同時に撮像する。これにより、1枚の撮像画像に「被検査物の内部に混入あるいは表面に付着した異物」が透過光画像中の陰影として映し出されると共に、「被検査物の表面のキズあるいは凹凸形状」が反射光画像中の陰影として映し出される。このように、本発明の検査装置によれば、1枚の撮像画像に「異物」と「キズあるいは凹凸形状」の双方を映すことが可能であるため、両者の相互の位置関係を考慮して、正常品と異常品の識別を行うことが可能になる。
次に、本発明に係る検査装置の別の実施例について説明する。この例では、撮像手段として上述したモノクロ工業用CCDカメラに代えて、カラー工業用CCDカメラを用いている。カラー工業用CCDカメラを使用することによって、赤(R)、緑(G)、青(B)の三原色それぞれの画像を独立した画像として取得することが可能になる。そのため、バックライト照明手段と反射照明手段に三原色の中からそれぞれ異なる2色を用いて、透過光画像と反射光画像を取得することにより、それぞれの画像を混合することなく、区別して取得することができる。その結果、「被検査物の内部に混入あるいは表面に付着した異物」と「被検査物の表面のキズあるいは凹凸形状」とを区別して認識することができ、高精度な検査が可能になる。
この場合、バックライト照明手段としては、波長が長く透過性の高い赤色光を、反射照明手段としては、波長が短く微細形状の表現力が高い青色光を選択することによって、検査精度を一層高めることができる。
本発明における検査装置の構成を説明する概念図である。 従来の検査装置の構成を説明する概念図である。
符号の説明
100 ・・・ 検査装置
110 ・・・ 撮像手段
120 ・・・ バックライト照明手段
130 ・・・ 反射照明手段
M ・・・ 被検査物


Claims (2)

  1. 半透明体又は透明体からなる被検査物の内部及び外部の性状を検査する検査装置において、
    撮像手段と、前記撮像手段の視線上に前記被検査物を隔てて設置されたバックライト照明手段と、前記被検査物の表面での反射光が前記撮像手段に入射する位置に設置された反射照明手段とを有し、
    前記バックライト照明手段による透過光画像と、前記反射照明手段による反射光画像とを前記撮像手段により同時に撮像することにより、前記被検査物の内部及び外部の性状を検査すること
    を特徴とする検査装置。
  2. 前記バックライト照明手段と前記反射照明手段とが異なる波長光であること
    を特徴とする請求項1に記載の検査装置。


JP2004152093A 2004-05-21 2004-05-21 半透明体又は透明体の検査装置 Pending JP2005331475A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004152093A JP2005331475A (ja) 2004-05-21 2004-05-21 半透明体又は透明体の検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004152093A JP2005331475A (ja) 2004-05-21 2004-05-21 半透明体又は透明体の検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005331475A true JP2005331475A (ja) 2005-12-02

Family

ID=35486220

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004152093A Pending JP2005331475A (ja) 2004-05-21 2004-05-21 半透明体又は透明体の検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2005331475A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105181655A (zh) * 2015-10-16 2015-12-23 歌尔声学股份有限公司 用于透光率检测装置的光源模组及透光率检测装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105181655A (zh) * 2015-10-16 2015-12-23 歌尔声学股份有限公司 用于透光率检测装置的光源模组及透光率检测装置
CN105181655B (zh) * 2015-10-16 2018-08-03 歌尔股份有限公司 用于透光率检测装置的光源模组及透光率检测装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5419304B2 (ja) 発光素子検査装置およびその検査方法
JP5576477B2 (ja) 透過サブストレートの欠陥を検出するための方法とシステム
CN110044294B (zh) 图像检查装置及照明装置
JP2002535687A (ja) 物体のパタン加工表面を光学的に検査する方法および装置
CN105486690A (zh) 光学检测装置
WO2008004555A1 (fr) Dispositif d'inspection de surface
JP2011117788A (ja) コンクリート表面検査装置
KR20060053847A (ko) 유리판의 결점 검사 방법 및 그 장치
JP2016038362A (ja) 透明基板の外観検査装置および外観検査方法
JP4755040B2 (ja) 傷検査装置、傷検査方法
CN113962238B (zh) 补光光源及识别码扫描装置
JP6454913B2 (ja) ブリッジを有するキャップの検査方法及び同キャップの検査装置
KR101969232B1 (ko) 측면 비전 장치
CN111141745A (zh) 一种图像检测装置及其检测方法
KR101520636B1 (ko) 불규칙 표면의 영상 취득을 위한 광학적 조명 방법 및 장치
JP2002131238A (ja) 外観検査装置
JPH10274591A (ja) 透明物体の拡大観察装置
JP2009162492A (ja) 検査装置
JP2005331475A (ja) 半透明体又は透明体の検査装置
KR20160149883A (ko) 렌즈 결함 검사 장치
CN110118787B (zh) 图像检查装置
JP2008292367A (ja) 感光ドラム用の外観検査装置
JP2018509640A5 (ja)
KR20160081144A (ko) 광학식 판재 표면검사장치 및 판재 표면검사방법
CN210572012U (zh) 工业检测用同轴光源装置