JP2005300252A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2005300252A5 JP2005300252A5 JP2004113999A JP2004113999A JP2005300252A5 JP 2005300252 A5 JP2005300252 A5 JP 2005300252A5 JP 2004113999 A JP2004113999 A JP 2004113999A JP 2004113999 A JP2004113999 A JP 2004113999A JP 2005300252 A5 JP2005300252 A5 JP 2005300252A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wavelength
- sample
- measurement light
- measuring
- intensity
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004113999A JP4455130B2 (ja) | 2004-04-08 | 2004-04-08 | 分光光学特性計測方法及び分光光学特性計測システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004113999A JP4455130B2 (ja) | 2004-04-08 | 2004-04-08 | 分光光学特性計測方法及び分光光学特性計測システム |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010001837A Division JP4878393B2 (ja) | 2010-01-07 | 2010-01-07 | 分光光学特性計測方法及び分光光学特性計測システム |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005300252A JP2005300252A (ja) | 2005-10-27 |
JP2005300252A5 true JP2005300252A5 (fr) | 2007-06-07 |
JP4455130B2 JP4455130B2 (ja) | 2010-04-21 |
Family
ID=35331963
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004113999A Expired - Fee Related JP4455130B2 (ja) | 2004-04-08 | 2004-04-08 | 分光光学特性計測方法及び分光光学特性計測システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4455130B2 (fr) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008008852A (ja) * | 2006-06-30 | 2008-01-17 | Osaka Electro-Communication Univ | 仕事関数顕微鏡及び光電子顕微鏡 |
-
2004
- 2004-04-08 JP JP2004113999A patent/JP4455130B2/ja not_active Expired - Fee Related
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2005207982A5 (fr) | ||
JP2013096883A5 (fr) | ||
KR102343121B1 (ko) | 분광 측정 장치 및 분광 측정 방법 | |
WO2009050081A3 (fr) | Spectromètre à réseau de diodes électroluminescentes | |
JP2012063321A5 (fr) | ||
TWI683092B (zh) | 分光測定裝置及分光測定方法 | |
JP5090837B2 (ja) | 分光測定装置、分光測定方法、及び分光測定プログラム | |
JP4418731B2 (ja) | フォトルミネッセンス量子収率測定方法およびこれに用いる装置 | |
JP2009520184A (ja) | 照明器に依存しない色測定のための装置及び方法 | |
WO2020135540A1 (fr) | Procédé de mesure de rendement quantique | |
DE60235110D1 (de) | Optische durchleuchtung- und reflektanzspektroskop | |
JP2022543147A (ja) | 光学センサを用いたガス種の量を測定する方法、及び装置 | |
JP5186635B2 (ja) | 植物の水ストレス計測方法 | |
JP6507757B2 (ja) | 異物解析装置 | |
JP2014020809A5 (fr) | ||
JP5296723B2 (ja) | 分光光度計、及びその性能測定方法 | |
JP5609377B2 (ja) | 測定装置 | |
JP2013000090A (ja) | 生育状態評価装置 | |
WO2017110853A1 (fr) | Procédé permettant de mesurer du béton | |
JP2005300252A5 (fr) | ||
JP2007218860A (ja) | 歪み測定装置及び歪み測定方法 | |
JP5002980B2 (ja) | 米の品質測定方法及び米の品質測定装置 | |
JP6240794B1 (ja) | カーボンブラック測定装置、カーボンブラック測定プログラムおよびカーボンブラック測定方法 | |
JP2012242276A (ja) | 分光光度計 | |
US8934093B2 (en) | Crystal fiber, raman spectrometer using the same and detection method thereof |