JP2005300197A - 分光器、可変波長選択器および可変等価器 - Google Patents
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Abstract
【課題】複単色計の構成であっても波長分散手段の偏向特性を変化することなく波長分解能の高い分光器、可変波長選択器および可変等価器を実現することにある。
【解決手段】本発明は、入射口からの光を同一の波長分散手段に複数回入射させる分光器に改良を加えたものである。本装置は、入射口からの光を平行光にし波長分散手段に出射するコリメータ手段と、波長分散手段で分散された光を集光する集光手段と、この集光手段で集光される像面近傍に、集光手段からの光のうち所望の波長の光を集光手段に反射して波長分散手段に入射させる波長選択手段とを設けたことを特徴とするものである。
【選択図】 図1
【解決手段】本発明は、入射口からの光を同一の波長分散手段に複数回入射させる分光器に改良を加えたものである。本装置は、入射口からの光を平行光にし波長分散手段に出射するコリメータ手段と、波長分散手段で分散された光を集光する集光手段と、この集光手段で集光される像面近傍に、集光手段からの光のうち所望の波長の光を集光手段に反射して波長分散手段に入射させる波長選択手段とを設けたことを特徴とするものである。
【選択図】 図1
Description
本発明は、入射口からの光を同一の波長分散手段に複数回入射させる分光器、可変波長選択器および可変等価器に関し、詳しくは、複単色計の構成であっても波長分散手段の偏向特性を変化することなく波長分解能を高くすることができる分光器、可変波長選択器および可変等価器に関するものである。
被測定光の波長特性(例えば、スペクトラム、光パワー等)を測定する測定器として分光器が用いられている。分光器には、モノクロメータ(単色計)と呼ばれるものや、同一の回折格子に被測定光を複数回入射させることにより波長分解能を高くしたダブルモノクロメータ(複単色計)等様々な種類のものがある。
図14は、従来の分光器(単色計)の構成図である(例えば、特許文献1参照)。図14において、入射スリット1は、入射口であり、被測定光が入射される。コリメータ手段2は、レンズや放物面鏡等であり、入射スリット1からの被測定光を平行光にする。回折格子3は、波長分散手段であり、コリメータ手段2からの被測定光を波長ごとに異なる角度に偏向して出射する。もちろん、回折格子3は、反射型でも透過型でもよい。集光手段4は、レンズ(例えば、写真レンズ)や放物面鏡等であり、回折格子3からの回折光を結像する。出射スリット5は、集光手段4によって結像される結像面または近傍に設けられる。検出器6は、出射スリット5のみを透過した透過光を受光素子(例えば、フォトダイオード)で検出する。
また、図14に示すように、回折格子3が被測定光を波長ごとに異なる位置P1,P2に結像させるので、この回折格子3を回転させて、偏向特性を変化させることにより、検出する波長を選択できる。
次に回折格子3の偏向特性を変化させずに検出を行う分光器の例を図15に示す(例えば、特許文献2参照)。図15は、複数の受光素子を用いた従来の分光器の構成図である。ここで、図14と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。図15において、出射スリット5と検出器6との変わりに、複数の受光素子が波長の分散方向に沿って並べられた検出器7が設けられる。そして、検出器7の受光素子の位置と回折格子3で分散された被測定光が結像する位置は1対1に対応するので、各受光素子によって検出する波長を選択することができる。従って、回折格子3の偏向特性を変化させる必要がない。
続いて、図16は、従来の分光器(複単色計)の構成図である(例えば、特許文献3参照)。ここで、図14と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。図16において、集光手段4が取り外され、出射スリット5と検出器6との代わりに鏡8が設けられる。鏡8は、回折格子3からの回折光を回折格子3に反射する。そして、回折格子3が鏡8からの反射光を再度波長ごとに異なる角度に偏向して出射する。そして、図示しない出射スリットを透過して被測定光を検出する。このように、被測定光を回折格子3に複数回入射させるので、波長分解能を高くすることができる。もちろん、回折格子3を回転させて偏向特性を変化させ、検出する波長を選択する。
しかしながら、図14、図16に示す分光器のように回折格子3の偏向特性を変化させる場合、回折格子3を回転させる必要がある。そのため、回折格子3の回転角の制御が難しいという問題があった。特に図16に示す複単色計では、より構成が複雑になり制御もより困難になるという問題があった。
一方、図15に示す分光器で波長分解能を高くするには、検出器7の受光素子を多くし、受光素子間のピッチを細かくすればよい。しかしながら、受光素子を多くすることは製造歩留まりが悪くなり、波長分解能を高くすることが難しい。さらに、波長分解能が高い複単色計の構成には不向きという問題があった。
そこで本発明の目的は、複単色計の構成であっても波長分散手段の偏向特性を変化することなく波長分解能の高い分光器、可変波長選択器および可変等価器を実現することにある。
請求項1記載の発明は、
入射口からの光を同一の波長分散手段に複数回入射させる分光器において、
前記入射口からの光を平行光にし前記波長分散手段に出射するコリメータ手段と、
前記波長分散手段で分散された光を集光する集光手段と、
この集光手段で集光される像面近傍に、前記集光手段からの光のうち所望の波長の光を前記集光手段に反射して前記波長分散手段に入射させる波長選択手段と
を設けたことを特徴とするものである。
入射口からの光を同一の波長分散手段に複数回入射させる分光器において、
前記入射口からの光を平行光にし前記波長分散手段に出射するコリメータ手段と、
前記波長分散手段で分散された光を集光する集光手段と、
この集光手段で集光される像面近傍に、前記集光手段からの光のうち所望の波長の光を前記集光手段に反射して前記波長分散手段に入射させる波長選択手段と
を設けたことを特徴とするものである。
請求項2記載の発明は、請求項1記載の発明において、
波長選択手段は、
前記集光手段からの光を反射する鏡と、
この鏡と前記集光手段との間に、波長の分散方向に沿って可動する可動スリットと
を設けたことを特徴とするものである。
波長選択手段は、
前記集光手段からの光を反射する鏡と、
この鏡と前記集光手段との間に、波長の分散方向に沿って可動する可動スリットと
を設けたことを特徴とするものである。
請求項3記載の発明は、請求項1記載の発明において、
波長選択手段は、
前記集光手段からの光を反射する鏡と、
この鏡と前記集光手段との間に、透過率が可変なシャッターを波長の分散方向に沿って複数並べた可変シャッター列と
を設けたことを特徴とするものである。
波長選択手段は、
前記集光手段からの光を反射する鏡と、
この鏡と前記集光手段との間に、透過率が可変なシャッターを波長の分散方向に沿って複数並べた可変シャッター列と
を設けたことを特徴とするものである。
請求項4記載の発明は、請求項1記載の発明において、
波長選択手段は、
反射率が可変な鏡を波長の分散方向に沿って複数並べ、前記集光手段からの光を反射する可変鏡列であることを特徴とするものである。
波長選択手段は、
反射率が可変な鏡を波長の分散方向に沿って複数並べ、前記集光手段からの光を反射する可変鏡列であることを特徴とするものである。
請求項5記載の発明は、請求項1記載の発明において、
波長選択手段は、
前記集光手段からの光を前記波長の分散方向に対して垂直方向に偏向する第1の折り返し手段と、
この第1の折り返し手段からの光を、前記集光手段に反射する第2の折り返し手段と、
前記第1の折り返し手段と前記第2の折り返し手段との間の像面近傍に、波長の分散方向に沿って可動する可動スリットと
を設けたことを特徴とするものである。
波長選択手段は、
前記集光手段からの光を前記波長の分散方向に対して垂直方向に偏向する第1の折り返し手段と、
この第1の折り返し手段からの光を、前記集光手段に反射する第2の折り返し手段と、
前記第1の折り返し手段と前記第2の折り返し手段との間の像面近傍に、波長の分散方向に沿って可動する可動スリットと
を設けたことを特徴とするものである。
請求項6記載の発明は、請求項1記載の発明において、
波長選択手段は、
前記集光手段からの光を前記波長の分散方向に対して垂直方向に偏向する第1の折り返し手段と、
この第1の折り返し手段からの光を、前記集光手段に反射する第2の折り返し手段と、
第1の折り返し手段と前記第2の折り返し手段との間の像面近傍に、透過率が可変なシャッターを波長の分散方向に沿って複数並べた可変シャッター列と
を設けたことを特徴とするものである。
波長選択手段は、
前記集光手段からの光を前記波長の分散方向に対して垂直方向に偏向する第1の折り返し手段と、
この第1の折り返し手段からの光を、前記集光手段に反射する第2の折り返し手段と、
第1の折り返し手段と前記第2の折り返し手段との間の像面近傍に、透過率が可変なシャッターを波長の分散方向に沿って複数並べた可変シャッター列と
を設けたことを特徴とするものである。
請求項7記載の発明は、請求項1記載の発明において、
波長選択手段は、
前記集光手段からの光を前記波長の分散方向に対して垂直方向に偏向する第1の折り返し手段と、
この第1の折り返し手段からの光を、前記集光手段に反射する第2の折り返し手段と、
を設け、前記第1の折り返し手段または前記第2の折り返し手段の少なくとも一方が、反射率が可変な鏡を波長の分散方向に沿って複数並べた可変鏡列であることを特徴とするものである。
波長選択手段は、
前記集光手段からの光を前記波長の分散方向に対して垂直方向に偏向する第1の折り返し手段と、
この第1の折り返し手段からの光を、前記集光手段に反射する第2の折り返し手段と、
を設け、前記第1の折り返し手段または前記第2の折り返し手段の少なくとも一方が、反射率が可変な鏡を波長の分散方向に沿って複数並べた可変鏡列であることを特徴とするものである。
請求項8記載の発明は、請求項1〜4のいずれかに記載の発明において、
入射口は入射スリットであり、
前記波長選択手段で反射され前記入射スリットを再度透過した復路の光を偏向する偏向手段と、
この偏向手段で偏向された光を検出する検出器と
を設け、前記入射スリットは前記コリメータ手段が復路の光を結像する位置にあることを特徴とするものである。
入射口は入射スリットであり、
前記波長選択手段で反射され前記入射スリットを再度透過した復路の光を偏向する偏向手段と、
この偏向手段で偏向された光を検出する検出器と
を設け、前記入射スリットは前記コリメータ手段が復路の光を結像する位置にあることを特徴とするものである。
請求項9記載の発明は、請求項1〜4のいずれかに記載の発明において、
入射口は第1の光ファイバであり、この第1の光ファイバに前記波長選択手段で反射される復路の光が再度入射され、ファイバ端は前記コリメータ手段が復路の光を結像する位置にあることを特徴とするものである。
入射口は第1の光ファイバであり、この第1の光ファイバに前記波長選択手段で反射される復路の光が再度入射され、ファイバ端は前記コリメータ手段が復路の光を結像する位置にあることを特徴とするものである。
請求項10記載の発明は、請求項9記載の発明において、
前記第1の光ファイバで伝送される往路の光と復路の光とを分離する分離手段を設けたことを特徴とするものである。
前記第1の光ファイバで伝送される往路の光と復路の光とを分離する分離手段を設けたことを特徴とするものである。
請求項11記載の発明は、請求項1、5〜7のいずれかに記載の発明において、
入射口は第1の光ファイバであり、
前記波長選択手段で反射される復路の光を検出する検出器を設けたことを特徴とするものである。
入射口は第1の光ファイバであり、
前記波長選択手段で反射される復路の光を検出する検出器を設けたことを特徴とするものである。
請求項12記載の発明は、請求項1、5〜7のいずれかに記載の発明において、
入射口は第1の光ファイバであり、
前記波長選択手段で反射される復路の被測定光が入射され、前記コリメータ手段が復路の被測定光を結像する位置に出射光ファイバを設けたことを特徴とするものである。
入射口は第1の光ファイバであり、
前記波長選択手段で反射される復路の被測定光が入射され、前記コリメータ手段が復路の被測定光を結像する位置に出射光ファイバを設けたことを特徴とするものである。
請求項13記載の発明は、請求項1、3、4、6、7のいずれかに記載の発明において、
波長選択手段は、複数の波長の光を反射することを特徴とするものである。
波長選択手段は、複数の波長の光を反射することを特徴とするものである。
請求項14記載の発明は、
請求項9または10記載の分光器を用いて、前記第1の光ファイバで伝送される復路の光を出力光として出射することを特徴とするものである。
請求項9または10記載の分光器を用いて、前記第1の光ファイバで伝送される復路の光を出力光として出射することを特徴とするものである。
請求項15記載の発明は、
請求項12記載の分光器を用いて、前記出射光ファイバで伝送される復路の光を出力光として出射することを特徴とするものである。
請求項12記載の分光器を用いて、前記出射光ファイバで伝送される復路の光を出力光として出射することを特徴とするものである。
請求項16記載の発明は、
請求項9または10記載の分光器と、
この分光器の波長選択手段が反射する光パワーを調整する調整手段と
を設け、各波長の光パワーを調整し前記第1の光ファイバで伝送される復路の光を出力光として出射することを特徴とするものである。
請求項9または10記載の分光器と、
この分光器の波長選択手段が反射する光パワーを調整する調整手段と
を設け、各波長の光パワーを調整し前記第1の光ファイバで伝送される復路の光を出力光として出射することを特徴とするものである。
請求項17記載の発明は、
請求項12記載の分光器と、
この分光器の波長選択手段が反射する光パワーを調整する調整手段と
を設け、各波長の光パワーを調整し前記出射光ファイバで伝送される復路の光を出力光として出射することを特徴とするものである。
請求項12記載の分光器と、
この分光器の波長選択手段が反射する光パワーを調整する調整手段と
を設け、各波長の光パワーを調整し前記出射光ファイバで伝送される復路の光を出力光として出射することを特徴とするものである。
以上説明したことから明らかなように、本発明によれば次のような効果がある。
請求項1〜13によれば、波長選択手段が複数の波長を含む光のうち所望の波長の光のみを波長分散手段に反射し、反射された光が再度波長分散手段で分散される。これにより複単色計の構成であっても波長分散手段の偏向特性を変化することなく波長分解能を高くすることができる。
請求項1〜13によれば、波長選択手段が複数の波長を含む光のうち所望の波長の光のみを波長分散手段に反射し、反射された光が再度波長分散手段で分散される。これにより複単色計の構成であっても波長分散手段の偏向特性を変化することなく波長分解能を高くすることができる。
請求項14、15によれば、波長選択手段が所望の波長の光のみを再度波長分散手段に反射して分散させる。そして、再度分散された光を光ファイバにて伝送して外部に出射する。これにより、複単色計の構成であっても波長分散手段の偏向特性を変化することなく波長分解能を高くすることができる。従って、波長分解能が高い可変波長選択器を構成することができる。
請求項16、17によれば、調整手段が波長選択手段で反射される光パワーを波長ごとに調整し、波長選択手段が所望の波長の光のみを再度波長分散手段に反射して分散させる。そして、再度分散された光を光ファイバにて伝送して外部に出射する。これにより、複単色計の構成であっても波長分散手段の偏向特性を変化することなく波長分解能を高くすることができる。従って、波長分解能が高い可変等価器を構成することができる。
以下図面を用いて本発明の実施の形態を説明する。
[第1の実施例]
図1は本発明の第1の実施例を示す構成図である。ここで、図14と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。図1において、出射スリット5、検出器6の変わりに波長選択手段10が設けられる。波長選択手段10は、鏡11、可動スリット12とを有し、集光手段4で集光される像面近傍に設けられ、所望の波長の被測定光を集光手段4に反射して回折格子3に入射させる。
[第1の実施例]
図1は本発明の第1の実施例を示す構成図である。ここで、図14と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。図1において、出射スリット5、検出器6の変わりに波長選択手段10が設けられる。波長選択手段10は、鏡11、可動スリット12とを有し、集光手段4で集光される像面近傍に設けられ、所望の波長の被測定光を集光手段4に反射して回折格子3に入射させる。
鏡11は、像面近傍に設けられ、被測定光を反射する。可動スリット12は、鏡11と集光手段4との間の像面近傍に設けられる。また、可動スリット12のスリットは、回折格子3での波長の分散方向に沿って可動する。そして、可動スリット12のスリット方向は、回折格子3での波長の分散方向に対して垂直方向(つまり、回折格子3の溝に沿った方向)と平行に設けられる。さらに、可動スリット12のスリット幅は、被測定光が結像するときのビーム径程度またはビーム径より小さくするとよい。
ハーフミラー20(偏向手段)が新たに設けられ、波長選択手段10で反射され、入射スリット1を再度透過した復路の被測定光を偏向(例えば、90°)する。ここで、被測定光が波長選択手段10で反射され、再度集光手段4、回折格子3、コリメータ手段2に向かう光路を復路とする。一方、被測定光が入射スリット1からコリメータ手段2、回折格子3、集光手段4に向かう光路を往路とする。
そして、検出器21が新たに設けられる。検出器21は、検出器6と同様に単一の受光素子を有し、ハーフミラー20で偏向された被測定光を検出する
このような装置の動作を説明する。
入射スリット1から入射した被測定光は、コリメータ手段2により平行光になり、回折格子3により波長ごとに偏向され、集光手段4により波長ごとに異なる位置(図1中、P1、P2)に像を作る。このとき、像面近傍に設けられた可動スリット12を、所望の波長が結像する位置(例えば、P1)にあわせる。これにより、可動スリット12の開口部に像を結んだ波長だけが鏡11で反射され、往路の被測定光とは逆向きに集光手段4により反射光は平行光になる、回折格子3で再度波長ごとに偏向され、コリメータ手段2を通り、入射スリット1で結像する。そして、入射スリット1を通過した被測定光をハーフミラー20が、往路の入射光とは別の向きに偏向する。そして、検出器21がハーフミラー20で偏向された被測定光(つまり、復路の被測定光)を検出する。なお、異なる波長の被測定光を検出する場合、可動スリット12を波長の分散方向に移動すればよい。
入射スリット1から入射した被測定光は、コリメータ手段2により平行光になり、回折格子3により波長ごとに偏向され、集光手段4により波長ごとに異なる位置(図1中、P1、P2)に像を作る。このとき、像面近傍に設けられた可動スリット12を、所望の波長が結像する位置(例えば、P1)にあわせる。これにより、可動スリット12の開口部に像を結んだ波長だけが鏡11で反射され、往路の被測定光とは逆向きに集光手段4により反射光は平行光になる、回折格子3で再度波長ごとに偏向され、コリメータ手段2を通り、入射スリット1で結像する。そして、入射スリット1を通過した被測定光をハーフミラー20が、往路の入射光とは別の向きに偏向する。そして、検出器21がハーフミラー20で偏向された被測定光(つまり、復路の被測定光)を検出する。なお、異なる波長の被測定光を検出する場合、可動スリット12を波長の分散方向に移動すればよい。
このように、波長選択手段10の可動スリット12を所望の波長の被測定光が結像する位置に置き、この可動スリット12の開口部に像を結んだ波長の被測定光のみが鏡11で反射され、再度回折格子3で分散される。これにより、1個の受光素子からなる検出器21を用いた複単色計の構成であっても回折格子3の偏向特性を変化することなく波長分解能を高くすることができる。
[第2の実施例]
図2は本発明の第2の実施例を示す構成図である。ここで、図1と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。図2において、波長選択手段10の可動スリット12の代わりに、鏡11と集光手段4との間に透過率が可変なシャッターを波長の分散方向に沿って複数並べた可変シャッター列13が設けられる。各シャッターの幅は、図1に示す可動スリット12のスリット幅と同程度でよい。
図2は本発明の第2の実施例を示す構成図である。ここで、図1と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。図2において、波長選択手段10の可動スリット12の代わりに、鏡11と集光手段4との間に透過率が可変なシャッターを波長の分散方向に沿って複数並べた可変シャッター列13が設けられる。各シャッターの幅は、図1に示す可動スリット12のスリット幅と同程度でよい。
このような装置の動作を説明する。
入射スリット1から入射した被測定光は、コリメータ手段2により平行光になり、回折格子3により波長ごとに偏向され、集光手段4により波長ごとに異なる位置(図2中、P1、P2)に像を作る。このとき、像面近傍に設けられた可変シャッター列13のうち、所望の波長が結像する位置(例えば、P1)のシャッターの透過率を100%にし、その他の透過率を0%にする。これにより、可変シャッター列13のうち、開口部に像を結んだ波長だけが鏡11で反射され、往路の被測定光とは逆向きに集光手段4、回折格子3、コリメータ手段2を通り、入射スリット1で結像する。そして、入射スリット1を通過した被測定光をハーフミラー20が、往路の入射光とは別の向きに偏向する。そして、検出器21がハーフミラー20で偏向された被測定光(つまり、復路の被測定光)を検出する。なお、異なる波長の被測定光を検出する場合、可変シャッター列13の各シャッターの透過率を変更すればよい。
入射スリット1から入射した被測定光は、コリメータ手段2により平行光になり、回折格子3により波長ごとに偏向され、集光手段4により波長ごとに異なる位置(図2中、P1、P2)に像を作る。このとき、像面近傍に設けられた可変シャッター列13のうち、所望の波長が結像する位置(例えば、P1)のシャッターの透過率を100%にし、その他の透過率を0%にする。これにより、可変シャッター列13のうち、開口部に像を結んだ波長だけが鏡11で反射され、往路の被測定光とは逆向きに集光手段4、回折格子3、コリメータ手段2を通り、入射スリット1で結像する。そして、入射スリット1を通過した被測定光をハーフミラー20が、往路の入射光とは別の向きに偏向する。そして、検出器21がハーフミラー20で偏向された被測定光(つまり、復路の被測定光)を検出する。なお、異なる波長の被測定光を検出する場合、可変シャッター列13の各シャッターの透過率を変更すればよい。
このように、波長選択手段10の可変シャッター列13のうち所望の波長の被測定光が結像する位置のシャッターのみを開け(透過率を100%)、この可変シャッター列13の開口部に像を結んだ波長の被測定光のみが鏡11で反射され、再度回折格子3で分散される。これにより、1個の受光素子からなる検出器21を用いた複単色計の構成であっても回折格子3の偏向特性を変化することなく波長分解能を高くすることができる。
[第3の実施例]
図3は本発明の第3の実施例を示す構成図である。ここで、図1と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。図3において、また、可動スリット12が取外される。そして、波長選択手段10の鏡11の代わりに、反射率が可変な鏡を波長の分散方向に沿って複数並べた可変鏡列14が設けられる。各鏡の幅は、図1に示す可動スリット12のスリット幅と同程度でよい。
図3は本発明の第3の実施例を示す構成図である。ここで、図1と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。図3において、また、可動スリット12が取外される。そして、波長選択手段10の鏡11の代わりに、反射率が可変な鏡を波長の分散方向に沿って複数並べた可変鏡列14が設けられる。各鏡の幅は、図1に示す可動スリット12のスリット幅と同程度でよい。
このような装置の動作を説明する。
入射スリット1から入射した被測定光は、コリメータ手段2により平行光になり、回折格子3により波長ごとに偏向され、集光手段4により波長ごとに異なる位置(図3中、P1、P2)に像を作る。このとき、像面近傍に設けられた可変鏡列14のうち、所望の波長が結像する位置(例えば、P1)の反射率を100%にし、その他の反射率を0%にする。これにより、可変鏡列14のうち反射率が100%の可変鏡に像を結んだ波長だけが反射され、往路の被測定光とは逆向きに集光手段4、回折格子3、コリメータ手段2を通り、入射スリット1で結像する。そして、入射スリット1を通過した被測定光をハーフミラー20が、往路の入射光とは別の向きに偏向する。そして、検出器21がハーフミラー20で偏向された被測定光(つまり、復路の被測定光)を検出する。なお、異なる波長の被測定光を検出する場合、可変鏡列14の各可変鏡の反射率を変更すればよい。
入射スリット1から入射した被測定光は、コリメータ手段2により平行光になり、回折格子3により波長ごとに偏向され、集光手段4により波長ごとに異なる位置(図3中、P1、P2)に像を作る。このとき、像面近傍に設けられた可変鏡列14のうち、所望の波長が結像する位置(例えば、P1)の反射率を100%にし、その他の反射率を0%にする。これにより、可変鏡列14のうち反射率が100%の可変鏡に像を結んだ波長だけが反射され、往路の被測定光とは逆向きに集光手段4、回折格子3、コリメータ手段2を通り、入射スリット1で結像する。そして、入射スリット1を通過した被測定光をハーフミラー20が、往路の入射光とは別の向きに偏向する。そして、検出器21がハーフミラー20で偏向された被測定光(つまり、復路の被測定光)を検出する。なお、異なる波長の被測定光を検出する場合、可変鏡列14の各可変鏡の反射率を変更すればよい。
このように、波長選択手段10の可変鏡列14のうち所望の波長の被測定光が結像する位置の可変鏡の反射率を100%にし、この可変鏡列14の反射率が100%の可変鏡に像を結んだ波長の被測定光のみが可変鏡列14で反射され、再度回折格子3で分散される。これにより、1個の受光素子からなる検出器21を用いた複単色計の構成であっても回折格子3の偏向特性を変化することなく波長分解能を高くすることができる。
[第4の実施例]
図4は本発明の第4の実施例を示す構成図である。また、図4(a)は上面図であり、図4(b)は側面図である。ここで、図1と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。図4において、波長選択手段10の鏡11、可動スリット12の代わりに、鏡15a、15b、可動スリット16が設けられる。鏡15aは、第1の折り返し手段であり、入射スリット1から入射され、集光手段4によって集光される被測定光を回折格子3での波長の分散方向に対して垂直方向(つまり、回折格子3の溝に沿った方向)に偏向する。鏡15bは、第2の折り返し手段であり、鏡15aからの被測定光を、集光手段4に反射する。つまり、往路の光軸と復路の光軸とは、回折格子3の溝に沿った上下方向にのみずれる。可動スリット16は、図1に示す可動スリット12と同様のものだが往路と復路との光軸に対して90°傾けられて鏡15aと鏡15bとの間の像面近傍に設けられ、波長の分散方向に沿って可動する。
図4は本発明の第4の実施例を示す構成図である。また、図4(a)は上面図であり、図4(b)は側面図である。ここで、図1と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。図4において、波長選択手段10の鏡11、可動スリット12の代わりに、鏡15a、15b、可動スリット16が設けられる。鏡15aは、第1の折り返し手段であり、入射スリット1から入射され、集光手段4によって集光される被測定光を回折格子3での波長の分散方向に対して垂直方向(つまり、回折格子3の溝に沿った方向)に偏向する。鏡15bは、第2の折り返し手段であり、鏡15aからの被測定光を、集光手段4に反射する。つまり、往路の光軸と復路の光軸とは、回折格子3の溝に沿った上下方向にのみずれる。可動スリット16は、図1に示す可動スリット12と同様のものだが往路と復路との光軸に対して90°傾けられて鏡15aと鏡15bとの間の像面近傍に設けられ、波長の分散方向に沿って可動する。
また、ハーフミラー20がとりのぞかれ、検出器21が、入射スリット1の同一面上で、入射スリット1の下側(回折格子3の溝に沿った方向)にずらして設けられる。
このような装置の動作を説明する。
入射スリット1から入射した被測定光は、コリメータ手段2により平行光になり、回折格子3により波長ごとに偏向され、集光手段4により集光される。そして、鏡15aで下側に偏向され、波長ごとに異なる位置(図4中、P1、P2)に像を作る。このとき、像面近傍に設けられた可動スリット16を、所望の波長が結像する位置(例えば、P1)にあわせる。これにより、可動スリット16の開口部に像を結んだ波長だけが鏡15bで偏向される。そして、往路の被測定光の光軸から平行に下側にずれた復路の被測定光が、往路の被測定光とは逆向きに集光手段4、回折格子3、コリメータ手段2を通る。さらに、検出器21が、入射スリット1と同一面上で結像した被測定光(つまり、復路の被測定光)を検出する。なお、異なる波長の被測定光を検出する場合、可動スリット16を波長の分散方向に移動すればよい。
入射スリット1から入射した被測定光は、コリメータ手段2により平行光になり、回折格子3により波長ごとに偏向され、集光手段4により集光される。そして、鏡15aで下側に偏向され、波長ごとに異なる位置(図4中、P1、P2)に像を作る。このとき、像面近傍に設けられた可動スリット16を、所望の波長が結像する位置(例えば、P1)にあわせる。これにより、可動スリット16の開口部に像を結んだ波長だけが鏡15bで偏向される。そして、往路の被測定光の光軸から平行に下側にずれた復路の被測定光が、往路の被測定光とは逆向きに集光手段4、回折格子3、コリメータ手段2を通る。さらに、検出器21が、入射スリット1と同一面上で結像した被測定光(つまり、復路の被測定光)を検出する。なお、異なる波長の被測定光を検出する場合、可動スリット16を波長の分散方向に移動すればよい。
このように、波長選択手段10の可動スリット16を所望の波長の被測定光が結像する位置に置き、この可動スリット16の開口部に像を結んだ波長の被測定光のみが鏡15bで反射され、再度回折格子3で分散される。これにより、1個の受光素子からなる検出器21を用いた複単色計の構成であっても回折格子3の偏向特性を変化することなく波長分解能を高くすることができる。
[第5の実施例]
図5は本発明の第5の実施例を示す構成図である。ここで、図4と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。図5において、波長選択手段10の可動スリット16の代わりに、可変シャッター列17が設けられる。可変シャッター列17は、図2に示す可変シャッター13と同様のものだが往路と復路との光軸に対して90°傾けられて鏡15aと鏡15bとの間の像面近傍に設けられ、透過率が可変なシャッターが波長の分散方向に沿って複数並べられている
図5は本発明の第5の実施例を示す構成図である。ここで、図4と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。図5において、波長選択手段10の可動スリット16の代わりに、可変シャッター列17が設けられる。可変シャッター列17は、図2に示す可変シャッター13と同様のものだが往路と復路との光軸に対して90°傾けられて鏡15aと鏡15bとの間の像面近傍に設けられ、透過率が可変なシャッターが波長の分散方向に沿って複数並べられている
このような装置の動作を説明する。
入射スリット1から入射した被測定光は、コリメータ手段2により平行光になり、回折格子3により波長ごとに偏向され、集光手段4により集光される。そして、鏡15aで下側に偏向され、波長ごとに異なる位置(図5中、P1、P2)に像を作る。このとき、像面近傍に設けられた可変シャッター列17のうち、所望の波長が結像する位置(例えば、P1)の透過率を100%にし、その他の透過率を0%にする。これにより、可変シャッター列17のうち、開口部に像を結んだ波長だけが鏡15bで偏向される。そして、往路の被測定光の光軸から平行に下側にずれた復路の被測定光が、往路の被測定光とは逆向きに集光手段4、回折格子3、コリメータ手段2を通る。さらに、検出器21が、入射スリット1と同一面上で結像した被測定光(つまり、復路の被測定光)を検出する。なお、異なる波長の被測定光を検出する場合、可変シャッター列17の各シャッターの透過率を変更すればよい。
入射スリット1から入射した被測定光は、コリメータ手段2により平行光になり、回折格子3により波長ごとに偏向され、集光手段4により集光される。そして、鏡15aで下側に偏向され、波長ごとに異なる位置(図5中、P1、P2)に像を作る。このとき、像面近傍に設けられた可変シャッター列17のうち、所望の波長が結像する位置(例えば、P1)の透過率を100%にし、その他の透過率を0%にする。これにより、可変シャッター列17のうち、開口部に像を結んだ波長だけが鏡15bで偏向される。そして、往路の被測定光の光軸から平行に下側にずれた復路の被測定光が、往路の被測定光とは逆向きに集光手段4、回折格子3、コリメータ手段2を通る。さらに、検出器21が、入射スリット1と同一面上で結像した被測定光(つまり、復路の被測定光)を検出する。なお、異なる波長の被測定光を検出する場合、可変シャッター列17の各シャッターの透過率を変更すればよい。
このように、波長選択手段10の可変シャッター列17のうち所望の波長の被測定光が結像する位置のシャッターのみを開け(透過率を100%)、この可変シャッター列17の開口部に像を結んだ波長の被測定光のみが鏡15bで反射され、再度回折格子3で分散される。これにより、1個の受光素子からなる検出器21を用いた複単色計の構成であっても回折格子3の偏向特性を変化することなく波長分解能を高くすることができる。
[第6の実施例]
図6は本発明の第6の実施例を示す構成図である。ここで、図4と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。図6において、可動スリット16が取り外される。そして、波長選択手段10の鏡15bの代わりに、可変鏡列15cが設けられる。可変鏡列15cは、図3に示す可変鏡14と同様のものだが往路と復路との光軸に対して上側に45°傾けられ、鏡15aからの被測定光を集光手段4に反射する。また、可変鏡列15cは、第2の折り返し手段であり、反射率が可変な鏡を波長の分散方向に沿って複数並べられている。
図6は本発明の第6の実施例を示す構成図である。ここで、図4と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。図6において、可動スリット16が取り外される。そして、波長選択手段10の鏡15bの代わりに、可変鏡列15cが設けられる。可変鏡列15cは、図3に示す可変鏡14と同様のものだが往路と復路との光軸に対して上側に45°傾けられ、鏡15aからの被測定光を集光手段4に反射する。また、可変鏡列15cは、第2の折り返し手段であり、反射率が可変な鏡を波長の分散方向に沿って複数並べられている。
このような装置の動作を説明する。
入射スリット1から入射した被測定光は、コリメータ手段2により平行光になり、回折格子3により波長ごとに偏向され、集光手段4により集光される。そして、鏡15aで下側に偏向され、波長ごとに異なる位置(図6中、P1、P2)に像を作る。このとき、像面近傍に設けられた可変鏡列15cのうち、所望の波長が結像する位置(例えば、P1)の反射率を100%にし、その他の反射率を0%にする。これにより、可変鏡列15cのうち、開口部に像を結んだ波長だけが可変鏡列15cで偏向される。そして、往路の被測定光の光軸から平行に下側にずれた復路の被測定光が、往路の被測定光とは逆向きに集光手段4、回折格子3、コリメータ手段2を通る。さらに、検出器21が、入射スリット1と同一面上で結像した被測定光(つまり、復路の被測定光)を検出する。なお、異なる波長の被測定光を検出する場合、可変鏡列15cの各可変鏡の反射率を変更すればよい。
入射スリット1から入射した被測定光は、コリメータ手段2により平行光になり、回折格子3により波長ごとに偏向され、集光手段4により集光される。そして、鏡15aで下側に偏向され、波長ごとに異なる位置(図6中、P1、P2)に像を作る。このとき、像面近傍に設けられた可変鏡列15cのうち、所望の波長が結像する位置(例えば、P1)の反射率を100%にし、その他の反射率を0%にする。これにより、可変鏡列15cのうち、開口部に像を結んだ波長だけが可変鏡列15cで偏向される。そして、往路の被測定光の光軸から平行に下側にずれた復路の被測定光が、往路の被測定光とは逆向きに集光手段4、回折格子3、コリメータ手段2を通る。さらに、検出器21が、入射スリット1と同一面上で結像した被測定光(つまり、復路の被測定光)を検出する。なお、異なる波長の被測定光を検出する場合、可変鏡列15cの各可変鏡の反射率を変更すればよい。
このように、波長選択手段10の可変鏡列15cのうち所望の波長の被測定光が結像する位置の可変鏡の反射率を100%にし、この可変鏡列の反射率が100%の可変鏡に像を結んだ波長の被測定光のみが可変鏡列15cで反射され、再度回折格子3で分散される。これにより、1個の受光素子からなる検出器21を用いた複単色計の構成であっても回折格子3の偏向特性を変化することなく波長分解能を高くすることができる。
なお、波長選択手段10の鏡15bの代わりに可変鏡列15cを設ける構成を示したが、鏡15aの方を可変鏡列にしてもよい。または、波長選択手段10の鏡15a、15bのそれぞれを可変鏡列にしてもよい。
[第7の実施例]
図7は本発明の第7の実施例を示す構成図である。ここで、図6と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。図7において、入射スリット1の代わりに入射光ファイバ(第1の光ファイバ)22が設けられる。
図7は本発明の第7の実施例を示す構成図である。ここで、図6と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。図7において、入射スリット1の代わりに入射光ファイバ(第1の光ファイバ)22が設けられる。
このような装置の動作を説明する。
入射光ファイバ22によって被測定光が伝送(伝搬とも呼ばれる)される。そして、入射光ファイバ22のファイバ端から空間に放射されて入射した被測定光は、コリメータ手段2により平行光になり、回折格子3により波長ごとに偏向され、集光手段4により集光される。そして、鏡15aで下側に偏向され、波長ごとに異なる位置(図7中、P1、P2)に像を作る。このとき、像面近傍に設けられた可変鏡列15cのうち、所望の波長が結像する位置(例えば、P1)の反射率を100%にし、その他の反射率を0%にする。これにより、可変鏡列15cのうち、開口部に像を結んだ波長だけが可変鏡列15cで偏向される。そして、往路の被測定光の光軸から平行に下側にずれた復路の被測定光が、往路の被測定光とは逆向きに集光手段4、回折格子3、コリメータ手段2を通る。さらに、検出器21が、入射光ファイバ22のファイバ端と同一面上で結像した被測定光(つまり、復路の被測定光)を検出する。なお、異なる波長の被測定光を検出する場合、可変鏡列15cの各可変鏡の反射率を変更すればよい。
入射光ファイバ22によって被測定光が伝送(伝搬とも呼ばれる)される。そして、入射光ファイバ22のファイバ端から空間に放射されて入射した被測定光は、コリメータ手段2により平行光になり、回折格子3により波長ごとに偏向され、集光手段4により集光される。そして、鏡15aで下側に偏向され、波長ごとに異なる位置(図7中、P1、P2)に像を作る。このとき、像面近傍に設けられた可変鏡列15cのうち、所望の波長が結像する位置(例えば、P1)の反射率を100%にし、その他の反射率を0%にする。これにより、可変鏡列15cのうち、開口部に像を結んだ波長だけが可変鏡列15cで偏向される。そして、往路の被測定光の光軸から平行に下側にずれた復路の被測定光が、往路の被測定光とは逆向きに集光手段4、回折格子3、コリメータ手段2を通る。さらに、検出器21が、入射光ファイバ22のファイバ端と同一面上で結像した被測定光(つまり、復路の被測定光)を検出する。なお、異なる波長の被測定光を検出する場合、可変鏡列15cの各可変鏡の反射率を変更すればよい。
このように、波長選択手段10の可変鏡列15cのうち所望の波長の被測定光が結像する位置の可変鏡の反射率を100%にし、この可変鏡列の反射率が100%の可変鏡に像を結んだ波長の被測定光のみが可変鏡列15cで反射され、再度回折格子3で分散される。これにより、1個の受光素子からなる検出器21を用いた複単色計の構成であっても回折格子3の偏向特性を変化することなく波長分解能を高くすることができる。
なお、図4、図5に示す装置においても、図7に示す装置と同様に、入射スリット1の代わりに入射光ファイバ22にしてもよい。
[第8の実施例]
図8は本発明の第8の実施例を示す構成図である。ここで、図7と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。図8において、検出器21の代わりに出射光ファイバ23が設けられる。この出射光ファイバ23は、波長選択手段10で反射される復路の被測定光が入射され、コリメータ手段2が復路の被測定光を結像する位置に設けられる。出射光ファイバ23のファイバ径は、図1に示す可動スリット12のスリット幅と同程度でよい。
図8は本発明の第8の実施例を示す構成図である。ここで、図7と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。図8において、検出器21の代わりに出射光ファイバ23が設けられる。この出射光ファイバ23は、波長選択手段10で反射される復路の被測定光が入射され、コリメータ手段2が復路の被測定光を結像する位置に設けられる。出射光ファイバ23のファイバ径は、図1に示す可動スリット12のスリット幅と同程度でよい。
このような装置の動作を説明する。
入射光ファイバ22によって被測定光が伝送され、入射光ファイバ22のファイバ端から空間に放射されて入射した被測定光は、コリメータ手段2により平行光になり、回折格子3により波長ごとに偏向され、集光手段4により集光される。そして、鏡15aで下側に偏向され、波長ごとに異なる位置(図8中、P1、P2)に像を作る。このとき、像面近傍に設けられた可変鏡列15cのうち、所望の波長が結像する位置(例えば、P1)の反射率を100%にし、その他の反射率を0%にする。これにより、可変鏡列15cのうち、開口部に像を結んだ波長だけが可変鏡列15cで偏向される。そして、往路の被測定光の光軸から平行に下側にずれた復路の被測定光が、往路の被測定光とは逆向きに集光手段4、回折格子3、コリメータ手段2を通る。さらに、出射光ファイバ23のファイバ端に、入射光ファイバ22のファイバ端と同一面上で結像した被測定光(つまり、復路の被測定光)が出射される。そして、出射光ファイバ23が、図示しない光検出器(受光素子は1個でよい)に被測定光を伝送する。なお、異なる波長の被測定光を検出する場合、可変鏡列15cの各可変鏡の反射率を変更すればよい。
入射光ファイバ22によって被測定光が伝送され、入射光ファイバ22のファイバ端から空間に放射されて入射した被測定光は、コリメータ手段2により平行光になり、回折格子3により波長ごとに偏向され、集光手段4により集光される。そして、鏡15aで下側に偏向され、波長ごとに異なる位置(図8中、P1、P2)に像を作る。このとき、像面近傍に設けられた可変鏡列15cのうち、所望の波長が結像する位置(例えば、P1)の反射率を100%にし、その他の反射率を0%にする。これにより、可変鏡列15cのうち、開口部に像を結んだ波長だけが可変鏡列15cで偏向される。そして、往路の被測定光の光軸から平行に下側にずれた復路の被測定光が、往路の被測定光とは逆向きに集光手段4、回折格子3、コリメータ手段2を通る。さらに、出射光ファイバ23のファイバ端に、入射光ファイバ22のファイバ端と同一面上で結像した被測定光(つまり、復路の被測定光)が出射される。そして、出射光ファイバ23が、図示しない光検出器(受光素子は1個でよい)に被測定光を伝送する。なお、異なる波長の被測定光を検出する場合、可変鏡列15cの各可変鏡の反射率を変更すればよい。
このように、波長選択手段10の可変鏡列15cのうち所望の波長の被測定光が結像する位置の可変鏡の反射率を100%にし、この可変鏡列の反射率が100%の可変鏡に像を結んだ波長の被測定光のみが可変鏡列15cで反射され、再度回折格子3で分散される。これにより、復路の被測定光を伝送するための出射光ファイバ23を1本にした複単色計の構成であっても回折格子3の偏向特性を変化することなく波長分解能を高くすることができる。
なお、図4、図5に示す装置においても、図8に示す装置と同様に、光検出器21の代わりに出射光ファイバ23にしてもよい。
[第9の実施例]
図9は本発明の第9の実施例を示す構成図である。ここで、図1と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。図9において、ハーフミラー20、検出器21が取り外される。そして、入射スリット1の代わりに入出射光ファイバ24が設けられる。この入出射光ファイバ24は、第1の光ファイバであり、波長選択手段10で反射される復路の被測定光が再度入射され、コリメータ手段2が復路の被測定光を結像する位置に設けられる。
図9は本発明の第9の実施例を示す構成図である。ここで、図1と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。図9において、ハーフミラー20、検出器21が取り外される。そして、入射スリット1の代わりに入出射光ファイバ24が設けられる。この入出射光ファイバ24は、第1の光ファイバであり、波長選択手段10で反射される復路の被測定光が再度入射され、コリメータ手段2が復路の被測定光を結像する位置に設けられる。
このような装置の動作を説明する。
入出射光ファイバ24によって被測定光が伝送され、入出射光ファイバ24のファイバ端から空間に放射されて入射した被測定光は、コリメータ手段2により平行光になり、回折格子3により波長ごとに偏向され、集光手段4により波長ごとに異なる位置(図9中、P1、P2)に像を作る。このとき、像面近傍に設けられた可動スリット12を、所望の波長が結像する位置(例えば、P1)にあわせる。これにより、可動スリット12の開口部に像を結んだ波長だけが鏡11で反射され、往路の被測定光とは逆向きに集光手段4、回折格子3、コリメータ手段2を通る。さらに、入出射光ファイバ24のファイバ端に、コリメータ手段2によって結像した被測定光(つまり、復路の被測定光)が出射される。そして、入出射光ファイバ24が、図示しない光検出器(受光素子は1個でよい)に被測定光を伝送する。なお、異なる波長の被測定光を検出する場合、可動スリット12を波長の分散方向に移動すればよい。
入出射光ファイバ24によって被測定光が伝送され、入出射光ファイバ24のファイバ端から空間に放射されて入射した被測定光は、コリメータ手段2により平行光になり、回折格子3により波長ごとに偏向され、集光手段4により波長ごとに異なる位置(図9中、P1、P2)に像を作る。このとき、像面近傍に設けられた可動スリット12を、所望の波長が結像する位置(例えば、P1)にあわせる。これにより、可動スリット12の開口部に像を結んだ波長だけが鏡11で反射され、往路の被測定光とは逆向きに集光手段4、回折格子3、コリメータ手段2を通る。さらに、入出射光ファイバ24のファイバ端に、コリメータ手段2によって結像した被測定光(つまり、復路の被測定光)が出射される。そして、入出射光ファイバ24が、図示しない光検出器(受光素子は1個でよい)に被測定光を伝送する。なお、異なる波長の被測定光を検出する場合、可動スリット12を波長の分散方向に移動すればよい。
このように、波長選択手段10の可動スリット12を所望の波長の被測定光が結像する位置に置き、この可動スリット12の開口部に像を結んだ波長の被測定光のみが鏡11で反射され、再度回折格子3で分散される。これにより、復路の被測定光を伝送するための入出射光ファイバ24を1本にした複単色計の構成であっても回折格子3の偏向特性を変化することなく波長分解能を高くすることができる。
なお、図2、図3に示す装置においても、図9に示す装置と同様に、ハーフミラー20、検出器21を取り外し、入射スリット1の代わりに入出射光ファイバ24を設けてもよい。
[第10の実施例]
図10は本発明の第10の実施例を示す構成図であり、入出射光ファイバ24で伝送される往路と復路の被測定光を分離する一例をしめす。ここで、図9と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。図10において、入出射光ファイバ24で伝送される往路の被測定光と復路の被測定光とを分離する光ファイバカプラ25が設けられる。なお、光ファイバカプラ25は、分離手段であり、ポート25a〜25cを有する。
図10は本発明の第10の実施例を示す構成図であり、入出射光ファイバ24で伝送される往路と復路の被測定光を分離する一例をしめす。ここで、図9と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。図10において、入出射光ファイバ24で伝送される往路の被測定光と復路の被測定光とを分離する光ファイバカプラ25が設けられる。なお、光ファイバカプラ25は、分離手段であり、ポート25a〜25cを有する。
このような装置の動作を説明する。
光ファイバカプラ25のポート25aから入射された往路の被測定光は、ポート25bを経て入出射光ファイバ24に入射する。そして、入出射光ファイバ24によって被測定光が伝送され、入出射光ファイバ24のファイバ端から空間に放射されて入射した被測定光は、コリメータ手段2により平行光になり、回折格子3により波長ごとに偏向され、集光手段4により波長ごとに異なる位置(図10中、P1、P2)に像を作る。このとき、像面近傍に設けられた可動スリット12を、所望の波長が結像する位置(例えば、P1)にあわせる。これにより、可動スリット12の開口部に像を結んだ波長だけが鏡11で反射され、往路の被測定光とは逆向きに集光手段4、回折格子3、コリメータ手段2を通る。さらに、入出射光ファイバ24のファイバ端に、コリメータ手段2によって結像した被測定光(つまり、復路の被測定光)が出射される。そして、入出射光ファイバ24からの復路の被測定光がポート25bより光ファイバカプラ25に入射する。さらに、光ファイバカプラ25によって、往路の被測定光とは別の方向のポート25cから、復路の被測定光のみが出射される。そして、図示しない光検出器(受光素子は1個でよい)で被測定光を検出するとよい。なお、異なる波長の被測定光を検出する場合、可動スリット12を波長の分散方向に移動すればよい。
光ファイバカプラ25のポート25aから入射された往路の被測定光は、ポート25bを経て入出射光ファイバ24に入射する。そして、入出射光ファイバ24によって被測定光が伝送され、入出射光ファイバ24のファイバ端から空間に放射されて入射した被測定光は、コリメータ手段2により平行光になり、回折格子3により波長ごとに偏向され、集光手段4により波長ごとに異なる位置(図10中、P1、P2)に像を作る。このとき、像面近傍に設けられた可動スリット12を、所望の波長が結像する位置(例えば、P1)にあわせる。これにより、可動スリット12の開口部に像を結んだ波長だけが鏡11で反射され、往路の被測定光とは逆向きに集光手段4、回折格子3、コリメータ手段2を通る。さらに、入出射光ファイバ24のファイバ端に、コリメータ手段2によって結像した被測定光(つまり、復路の被測定光)が出射される。そして、入出射光ファイバ24からの復路の被測定光がポート25bより光ファイバカプラ25に入射する。さらに、光ファイバカプラ25によって、往路の被測定光とは別の方向のポート25cから、復路の被測定光のみが出射される。そして、図示しない光検出器(受光素子は1個でよい)で被測定光を検出するとよい。なお、異なる波長の被測定光を検出する場合、可動スリット12を波長の分散方向に移動すればよい。
このように、波長選択手段10の可動スリット12を所望の波長の被測定光が結像する位置に置き、この可動スリット12の開口部に像を結んだ波長の被測定光のみが鏡11で反射され、再度回折格子3で分散される。これにより、復路の被測定光を伝送するための入出射光ファイバ24を1本にした複単色計の構成であっても回折格子3の偏向特性を変化することなく波長分解能を高くすることができる。
なお、図2、図3に示す装置においても、図10に示す装置と同様に、ハーフミラー20、検出器21を取り外し、入射スリット1の代わりに入出射光ファイバ24を設け、さらに光カプラ25を設けてもよい。
[第11の実施例]
図11は本発明の第11の実施例を示す構成図であり、入出射光ファイバ24で伝送される往路と復路の被測定光を分離する他の一例をしめす。ここで、図10と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。図11において、光ファイバカプラ25の代わりに、入出射光ファイバ24で伝送される往路の被測定光と復路の被測定光とを分離する光サーキュレータ26が設けられる。なお、光サーキュレータ26は、分離手段であり、ポート26a〜26cを有する。そして、光サーキュレータ26は、ポート26aからポート26bに被測定光を伝送し、ポート26bからポート26cに被測定光を伝送する。そして、逆方向への伝送を遮断するものである。
図11は本発明の第11の実施例を示す構成図であり、入出射光ファイバ24で伝送される往路と復路の被測定光を分離する他の一例をしめす。ここで、図10と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。図11において、光ファイバカプラ25の代わりに、入出射光ファイバ24で伝送される往路の被測定光と復路の被測定光とを分離する光サーキュレータ26が設けられる。なお、光サーキュレータ26は、分離手段であり、ポート26a〜26cを有する。そして、光サーキュレータ26は、ポート26aからポート26bに被測定光を伝送し、ポート26bからポート26cに被測定光を伝送する。そして、逆方向への伝送を遮断するものである。
このような装置の動作を説明する。
光サーキュレータ26
のポート26aから入射された往路の被測定光は、ポート26bを経て入出射光ファイバ24に入射する。そして、入出射光ファイバ24によって被測定光が伝送され、入出射光ファイバ24のファイバ端から空間に放射されて入射した被測定光は、コリメータ手段2により平行光になり、回折格子3により波長ごとに偏向され、集光手段4により波長ごとに異なる位置(図11中、P1、P2)に像を作る。このとき、像面近傍に設けられた可動スリット12を、所望の波長が結像する位置(例えば、P1)にあわせる。これにより、可動スリット12の開口部に像を結んだ波長だけが鏡11で反射され、往路の被測定光とは逆向きに集光手段4、回折格子3、コリメータ手段2を通る。さらに、入出射光ファイバ24のファイバ端に、コリメータ手段2によって結像した被測定光(つまり、復路の被測定光)が出射される。そして、入出射光ファイバ24からの復路の被測定光がポート26bより光サーキュレータ26に入射する。さらに、光サーキュレータ26によって、復路の被測定光はポート26cの方向にのみ伝送されポート26cから出射される。そして、図示しない光検出器(受光素子は1個でよい)で被測定光を検出するとよい。なお、異なる波長の被測定光を検出する場合、可動スリット12を波長の分散方向に移動すればよい。
光サーキュレータ26
のポート26aから入射された往路の被測定光は、ポート26bを経て入出射光ファイバ24に入射する。そして、入出射光ファイバ24によって被測定光が伝送され、入出射光ファイバ24のファイバ端から空間に放射されて入射した被測定光は、コリメータ手段2により平行光になり、回折格子3により波長ごとに偏向され、集光手段4により波長ごとに異なる位置(図11中、P1、P2)に像を作る。このとき、像面近傍に設けられた可動スリット12を、所望の波長が結像する位置(例えば、P1)にあわせる。これにより、可動スリット12の開口部に像を結んだ波長だけが鏡11で反射され、往路の被測定光とは逆向きに集光手段4、回折格子3、コリメータ手段2を通る。さらに、入出射光ファイバ24のファイバ端に、コリメータ手段2によって結像した被測定光(つまり、復路の被測定光)が出射される。そして、入出射光ファイバ24からの復路の被測定光がポート26bより光サーキュレータ26に入射する。さらに、光サーキュレータ26によって、復路の被測定光はポート26cの方向にのみ伝送されポート26cから出射される。そして、図示しない光検出器(受光素子は1個でよい)で被測定光を検出するとよい。なお、異なる波長の被測定光を検出する場合、可動スリット12を波長の分散方向に移動すればよい。
このように、波長選択手段10の可動スリット12を所望の波長の被測定光が結像する位置に置き、この可動スリット12の開口部に像を結んだ波長の被測定光のみが鏡11で反射され、再度回折格子3で分散される。これにより、復路の被測定光を伝送するための入出射光ファイバ24を1本にした複単色計の構成であっても回折格子3の偏向特性を変化することなく波長分解能を高くすることができる。
なお、図2、図3に示す装置においても、図10に示す装置と同様に、ハーフミラー20、検出器21を取り外し、入射スリット1の代わりに入出射光ファイバ24を設け、さらに光サーキュレータ26を設けてもよい。
[第12の実施例]
図12は本発明の第12の実施例(可変波長選択器)を示す構成図である。ここで、図9と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。構成は、図9に示す分光器とほぼ同様であり、コリメータ手段2への往路の光およびコリメータ手段からの復路の光が、入出射光ファイバ24の一方のファイバ端に入出射する。
図12は本発明の第12の実施例(可変波長選択器)を示す構成図である。ここで、図9と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。構成は、図9に示す分光器とほぼ同様であり、コリメータ手段2への往路の光およびコリメータ手段からの復路の光が、入出射光ファイバ24の一方のファイバ端に入出射する。
このような装置の動作は、図9に示す装置とほぼ同様であるが、異なる動作を説明する。入出射光ファイバ24の図示しない他方のファイバ端に、例えば、波長λ1、λ2、…、λnの光が入射される。そして、入出射光ファイバ24で伝送される光が一方のファイバ端より空間光となりコリメータ手段2で平行光となる。ここで、波長λ1の光は図12中のP1に像を作るとする。そして、波長選択手段10で反射された波長λ1の光のみが再度入出射光ファイバ24に入射して、入出射光ファイバ24で伝送され、図示しない他方のファイバ端から可変波長選択器の出力として出射される。
このように、波長選択手段10が所望の波長の光のみを再度回折格子3に反射して分散させる。そして、再度分散された光を入出射光ファイバ24にて伝送して外部に出射する。これにより、複単色計の構成であっても回折格子3の偏向特性を変化することなく波長分解能を高くすることができる。従って、波長分解能が高い可変波長選択器を構成することができる。
なお、波長選択手段10に図2、図3に示す構成を用いてもよい。
また、波長選択手段10に図4〜図6に示す構成を用いてよい。この場合、図8に示す入射光ファイバ22、出射光ファイバ23を用いて光を入出射して、可変波長選択器にするとよい。
また、波長選択手段10に図2、図3、図5、図6に示す構成を用いる場合、単一の波長だけでなく複数の波長を反射してもよい。
さらに、図10、図11に示す光ファイバカプラ25や光ファイバサーキュレータ26を用いてもよい。
[第13の実施例]
図13は本発明の第13の実施例(可変等価器)を示す構成図である。ここで、図9と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。波長選択手段10に図2に示す可変シャッター列13が可動スリット12の代わりに用いられる。また、波長選択手段10が出射する光パワーを調整する調整手段30が新たに設けられる。
図13は本発明の第13の実施例(可変等価器)を示す構成図である。ここで、図9と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。波長選択手段10に図2に示す可変シャッター列13が可動スリット12の代わりに用いられる。また、波長選択手段10が出射する光パワーを調整する調整手段30が新たに設けられる。
このような装置の動作は、図9に示す装置とほぼ同様であるが、異なる動作を説明する。入出射光ファイバ24の図示しない他方のファイバ端に複数の波長、例えば、波長λ1、λ2の光が入射される。ここで、(波長λ1の光パワー)<(波長λ2の光パワー)とする。そして、入出射光ファイバ24で伝送される光が一方のファイバ端より空間光となりコリメータ手段2で平行光となる。ここで、波長λ1、λ2それぞれの光は図13中のP1、P2に像を作るとする。そして、調整手段30が、像面近傍に設けられた可変シャッター列13のうち、波長λ1が結像する位置P1のシャッターの透過率と、波長λ2が結像する位置P2のシャッターの透過率を調整((波長λ1が結像する位置P1のシャッターの透過率)>(波長λ2が結像する位置P2のシャッターの透過率)>0)して、波長選択手段10で反射される波長λ1、λ2の光パワーを同程度にする。もちろん、その他の位置のシャッターの透過率は0%にする。これにより、波長選択手段10で反射された波長λ1、λ2の光のみが再度入出射光ファイバ24に入射する。そして、入出射光ファイバ24で伝送され、図示しない他方のファイバ端24bから同じ光パワーの波長λ1、λ2の光が可変等価器の出力として出射される。
このように、調整手段30が波長選択手段10で反射される光パワーを波長ごとに調整し、波長選択手段10が所望の波長の光のみを再度回折格子3に反射して分散させる。そして、再度分散された光を光ファイバにて伝送して外部に出射する。これにより、複単色計の構成であっても回折格子3の偏向特性を変化することなく波長分解能を高くすることができる。従って、波長分解能が高い可変等価器を構成することができる。
なお、波長選択手段10が2波長の光を反射する構成をしめしたが、反射する波数はいくつでもよい。
また、波長選択手段10に図3に示す構成を用いてもよく、調整手段30が可変鏡列14の反射率を調整して各波長の光パワーの調整をする。
また、波長選択手段10に図5、図6に示す構成を用いてよい。この場合、図8に示す入射光ファイバ22、出射光ファイバ23を用いて光を入出射して、可変等価器にするとよい。
また、波長選択手段10が波長λ1、λ2の光パワーを同程度にして出射する構成を示したが、異なる光パワーにして出射してもよい。
さらに、図10、図11に示す光ファイバカプラ25や光ファイバサーキュレータ26を用いてもよい。
1 入射スリット
2 コリメータ手段
3 回折格子
4 集光手段
10 波長選択手段
11、15a、16b 鏡
12、16 可動スリット
13、17 可変シャッター列
14、15c 可変鏡列
20 ハーフミラー
21 検出器
22 入射光ファイバ
23 出射光ファイバ
24 入出射光ファイバ
25 光ファイバカプラ
26 光サーキュレータ
30 調整手段
2 コリメータ手段
3 回折格子
4 集光手段
10 波長選択手段
11、15a、16b 鏡
12、16 可動スリット
13、17 可変シャッター列
14、15c 可変鏡列
20 ハーフミラー
21 検出器
22 入射光ファイバ
23 出射光ファイバ
24 入出射光ファイバ
25 光ファイバカプラ
26 光サーキュレータ
30 調整手段
Claims (17)
- 入射口からの光を同一の波長分散手段に複数回入射させる分光器において、
前記入射口からの光を平行光にし前記波長分散手段に出射するコリメータ手段と、
前記波長分散手段で分散された光を集光する集光手段と、
この集光手段で集光される像面近傍に、前記集光手段からの光のうち所望の波長の光を前記集光手段に反射して前記波長分散手段に入射させる波長選択手段と
を設けたことを特徴とする分光器。 - 波長選択手段は、
前記集光手段からの光を反射する鏡と、
この鏡と前記集光手段との間に、波長の分散方向に沿って可動する可動スリットと
を設けたことを特徴とする請求項1記載の分光器。 - 波長選択手段は、
前記集光手段からの光を反射する鏡と、
この鏡と前記集光手段との間に、透過率が可変なシャッターを波長の分散方向に沿って複数並べた可変シャッター列と
を設けたことを特徴とする請求項1記載の分光器。 - 波長選択手段は、
反射率が可変な鏡を波長の分散方向に沿って複数並べ、前記集光手段からの光を反射する可変鏡列であることを特徴とする請求項1記載の分光器。 - 波長選択手段は、
前記集光手段からの光を前記波長の分散方向に対して垂直方向に偏向する第1の折り返し手段と、
この第1の折り返し手段からの光を、前記集光手段に反射する第2の折り返し手段と、
前記第1の折り返し手段と前記第2の折り返し手段との間の像面近傍に、波長の分散方向に沿って可動する可動スリットと
を設けたことを特徴とする請求項1記載の分光器。 - 波長選択手段は、
前記集光手段からの光を前記波長の分散方向に対して垂直方向に偏向する第1の折り返し手段と、
この第1の折り返し手段からの光を、前記集光手段に反射する第2の折り返し手段と、
第1の折り返し手段と前記第2の折り返し手段との間の像面近傍に、透過率が可変なシャッターを波長の分散方向に沿って複数並べた可変シャッター列と
を設けたことを特徴とする請求項1記載の分光器。 - 波長選択手段は、
前記集光手段からの光を前記波長の分散方向に対して垂直方向に偏向する第1の折り返し手段と、
この第1の折り返し手段からの光を、前記集光手段に反射する第2の折り返し手段と、
を設け、前記第1の折り返し手段または前記第2の折り返し手段の少なくとも一方が、反射率が可変な鏡を波長の分散方向に沿って複数並べた可変鏡列であることを特徴とする請求項1記載の分光器。 - 入射口は入射スリットであり、
前記波長選択手段で反射され前記入射スリットを再度透過した復路の光を偏向する偏向手段と、
この偏向手段で偏向された光を検出する検出器と
を設け、前記入射スリットは前記コリメータ手段が復路の光を結像する位置にあることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の分光器。 - 入射口は第1の光ファイバであり、この第1の光ファイバに前記波長選択手段で反射される復路の光が再度入射され、ファイバ端は前記コリメータ手段が復路の光を結像する位置にあることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の分光器。
- 前記第1の光ファイバで伝送される往路の光と復路の光とを分離する分離手段を設けたことを特徴とする請求項9記載の分光器。
- 入射口は第1の光ファイバであり、
前記波長選択手段で反射される復路の光を検出する検出器を設けたことを特徴とする請求項1、5〜7のいずれかに記載の分光器。 - 入射口は第1の光ファイバであり、
前記波長選択手段で反射される復路の被測定光が入射され、前記コリメータ手段が復路の被測定光を結像する位置に出射光ファイバを設けたことを特徴とする請求項1、5〜7のいずれかに記載の分光器。 - 波長選択手段は、複数の波長の光を反射することを特徴とする請求項1、3、4、6、7のいずれかに記載の分光器。
- 請求項9または10記載の分光器を用いて、前記第1の光ファイバで伝送される復路の光を出力光として出射することを特徴とする可変波長選択器。
- 請求項12記載の分光器を用いて、前記出射光ファイバで伝送される復路の光を出力光として出射することを特徴とする可変波長選択器。
- 請求項9または10記載の分光器と、
この分光器の波長選択手段が反射する光パワーを調整する調整手段と
を設け、各波長の光パワーを調整し前記第1の光ファイバで伝送される復路の光を出力光として出射することを特徴とする可変等価器。 - 請求項12記載の分光器と、
この分光器の波長選択手段が反射する光パワーを調整する調整手段と
を設け、各波長の光パワーを調整し前記出射光ファイバで伝送される復路の光を出力光として出射することを特徴とする可変等価器。
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- 2004-04-07 JP JP2004112944A patent/JP2005300197A/ja active Pending
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