JP2005285367A - Plasma generator - Google Patents

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芳昭 金子
Toshimoto Nishiguchi
敏司 西口
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To realize plasma production having high plasma space volume ratio over a plasma reactor volume and plasma production having high power efficiency. <P>SOLUTION: A grounding side electrode 3, a high-voltage side electrode 4 and a dielectric member 5 disposed between them are provided in the plasma reactor A, that is, a plasma processing chamber. The dielectric member 5 has a structure, in which a porous ceramic base material is covered with an inorganic dielectric material. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、プラズマ発生装置、特に常圧下でプラズマを生成する大気圧プラズマ発生装置に関する。   The present invention relates to a plasma generator, and more particularly to an atmospheric pressure plasma generator that generates plasma under normal pressure.

プラズマを発生するプラズマ発生装置の放電方式として、無声放電、パルス放電、沿面放電、或いは強誘電体ペレット充填放電などが知られている。これらの放電方式は、いずれも、大気圧或いはそれに近い圧力状態の所定の空間に対し、その空間の近傍に位置する電極に電圧を加えることで所定の空間をプラズマ状態にするものである。例えば、強誘電体ペレット充填放電では、接地側電極と高圧側電極との間にペレット状の強誘電体が配置されていて、両電極間に電圧を印加することにより、ペレット状強誘電体間に形成されている空隙にプラズマを生成している。
特開平8−321397号公報
As a discharge method of a plasma generator for generating plasma, silent discharge, pulse discharge, creeping discharge, or ferroelectric pellet filling discharge is known. In any of these discharge methods, a predetermined space is brought into a plasma state by applying a voltage to an electrode located in the vicinity of the predetermined space at or near atmospheric pressure. For example, in a ferroelectric pellet filling discharge, a pellet-like ferroelectric is arranged between the ground-side electrode and the high-voltage side electrode, and a voltage is applied between the two electrodes, thereby causing a gap between the pellet-like ferroelectrics. Plasma is generated in the gap formed in the.
JP-A-8-321397

しかしながら、上述した無声放電、沿面放電、或いは強誘電体ペレット充填放電では、放電を効果的に生起させる理由から、放電空間が非常に狭くなっている。特に、強誘電体ペレット充填放電においては、放電密度を高くするためにペレットサイズは比較的小さなものとされるのが一般的であり、このため、プラズマリアクター容積に対し強誘電体ペレットの占有する容積が非常に大きく、空隙率が、したがってプラズマ空間容積率が非常に小さい。また、この構成では、ペレット間に形成される空隙が小さいため、被処理ガスをプラズマ空間に流通させて使用する場合、圧力損失が大きくなるという問題もある。ペレットサイズを大きくすることで、空隙率を高くすることができるが、この場合、ペレット状強誘電体間に生じる空隙が大きくなることで高密度なプラズマ空間を得にくくなるという問題点がある。   However, in the above-described silent discharge, creeping discharge, or ferroelectric pellet filling discharge, the discharge space is very narrow for the reason of effectively generating the discharge. In particular, in a ferroelectric pellet-filled discharge, the pellet size is generally made relatively small in order to increase the discharge density. For this reason, the ferroelectric pellet occupies the plasma reactor volume. The volume is very large and the porosity, and thus the plasma space volume fraction, is very small. Moreover, in this structure, since the space | gap formed between pellets is small, when using to-be-processed gas distribute | circulating to plasma space and using it, there also exists a problem that a pressure loss becomes large. By increasing the pellet size, the porosity can be increased. However, in this case, there is a problem that it is difficult to obtain a high-density plasma space by increasing the voids generated between the pellet-like ferroelectrics.

また、従来技術では、強誘電体部の容積が大きい為、プラズマを生成するために投入する電力に対し、発熱で消費される電力の割合が大きく、放電に対する電力効率が悪いという問題点があった。特許文献1には、粒状導電性材料の表面に強誘電物質を被覆した誘電体を接地側電極と高圧側電極との間に充填し、両電極間に電圧を印加してプラズマを発生させる構成とすることで、従来の強誘電物質のみで形成された誘電体を使用した場合に対し、放電開始電圧の低電圧化を図った技術が開示されている。しかしながら、特許文献1の技術は、上述したような問題点を解決できるものではない。   In addition, the conventional technology has a problem that since the volume of the ferroelectric portion is large, the ratio of power consumed by heat generation is large with respect to the power input to generate plasma, and the power efficiency with respect to discharge is poor. It was. Patent Document 1 discloses a structure in which a dielectric material in which a surface of a granular conductive material is coated with a ferroelectric substance is filled between a ground side electrode and a high voltage side electrode, and a voltage is applied between both electrodes to generate plasma. Thus, a technique has been disclosed in which the discharge start voltage is reduced as compared with the case where a dielectric formed only of a conventional ferroelectric material is used. However, the technique of Patent Document 1 cannot solve the above-described problems.

また、上記のような問題点に対して、プラズマリアクター容積に対しプラズマ空間容積率を高くする方法として、多孔質状のセラミックを電極間に配置することが考えられる。しかしながら、電極間に配置する多孔質状セラミックをチタン酸バリウム等の強誘電物質から形成した場合、電力の発熱消費に関して、またアルミナのような誘電率の低い物質から形成した場合、放電開始電圧に関してさらに改善の余地が有る。   Further, with respect to the above problems, it is conceivable to dispose a porous ceramic between the electrodes as a method for increasing the plasma space volume ratio with respect to the plasma reactor volume. However, when the porous ceramic disposed between the electrodes is made of a ferroelectric material such as barium titanate, the heat generation of electric power is concerned, and when the porous ceramic is made of a material having a low dielectric constant such as alumina, the discharge starting voltage is concerned. There is room for further improvement.

本発明は、従来技術における上記課題に鑑み、プラズマリアクター容積に対するプラズマ空間容積率の高いプラズマ生成、さらには電力効率の高いプラズマ生成を実現するプラズマ発生装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems in the prior art, and an object of the present invention is to provide a plasma generator that realizes plasma generation with a high plasma space volume ratio with respect to the plasma reactor volume, and further plasma generation with high power efficiency.

上述の目的を達成するため、本発明の一実施態様のプラズマ発生装置は、接地側電極と、高圧側電極と、接地側電極と高圧側電極との間に配置された誘電体部材とを備え、接地側電極と高圧側電極との間に電圧を印加することにより常圧下でプラズマを生成するプラズマ発生装置であって、誘電体部材は、多孔質セラミック基材に無機誘電物質を被覆した構造を有することを特徴とする。   To achieve the above object, a plasma generator according to an embodiment of the present invention includes a ground side electrode, a high voltage side electrode, and a dielectric member disposed between the ground side electrode and the high voltage side electrode. A plasma generator for generating plasma under normal pressure by applying a voltage between a ground side electrode and a high voltage side electrode, wherein the dielectric member has a structure in which a porous ceramic substrate is coated with an inorganic dielectric material It is characterized by having.

また、本発明の他の実施態様のプラズマ発生装置は、誘電体部材が、ハニカム形状セラミック基材に無機誘電物質を被覆した構造を有することを特徴とする。   In another embodiment of the present invention, the plasma generating apparatus is characterized in that the dielectric member has a structure in which a honeycomb-shaped ceramic substrate is coated with an inorganic dielectric substance.

上記構成のプラズマ発生装置によれば、プラズマ空間におけるプラズマ密度を低下させることなく、プラズマリアクター容積に対するプラズマ空間容積率を高め、また、電力効率を高めることができる。また、強誘電物質または誘電率の低い物質の単体からなる多孔質状セラミック部材を電極間に配置した構成に比べて、電力の発熱消費を低減し、放電開始電圧を低電圧化することができる。   According to the plasma generator having the above configuration, the plasma space volume ratio with respect to the plasma reactor volume can be increased and the power efficiency can be increased without reducing the plasma density in the plasma space. In addition, compared with a configuration in which a porous ceramic member made of a single substance of a ferroelectric substance or a substance having a low dielectric constant is arranged between electrodes, it is possible to reduce the heat consumption of electric power and lower the discharge start voltage. .

本発明によれば、プラズマリアクター容積に対し、プラズマ空間容積率の高いプラズマ生成、さらには電力効率の高いプラズマ生成を実現することができる。   According to the present invention, plasma generation with a high plasma space volume ratio and plasma generation with high power efficiency can be realized with respect to the plasma reactor volume.

以下に、図を用いて、本発明の実施の形態を説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。図1及び図2は、それぞれ本発明の一実施形態のプラズマ発生装置の構成を示す概略図であり、(a),(b)は、互いに直交する面にそれぞれ沿った断面図である。図3は、図2のプラズマ発生装置に用いている誘電体部材の模式図である。図4及び図5は、それぞれ、図1及び図2と同等の構成のプラズマ発生装置を用いたガス処理装置の構成例を示す概略図である。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings, but the present invention is not limited thereto. 1 and 2 are schematic views showing the configuration of a plasma generator according to an embodiment of the present invention, respectively. (A) and (b) are cross-sectional views along planes orthogonal to each other. FIG. 3 is a schematic view of a dielectric member used in the plasma generator of FIG. 4 and 5 are schematic views showing examples of the configuration of a gas processing apparatus using a plasma generator having the same configuration as that shown in FIGS. 1 and 2, respectively.

図1に示すプラズマ発生装置は、電圧を印加するための接地側電極3と高圧側電極4、および両者の間に配置された誘電体部材5が外壁部材2内に配置された、プラズマ処理を実行するためのプラズマ処理室A、すなわちプラズマリアクターを有している。接地側電極3と高圧側電極4は、誘電体部材5を挟んで平行に設けられ、すなわち、プラズマ処理室Aは平行平板型プラズマリアクターとして構成されている。接地側電極3と高圧側電極4は、複数の誘電体部材5を挟んで交互に複数設けられており、プラズマ処理室Aは、全体として、誘電体部材5とこれを挟む接地側電極3および高圧側電極4によって構成されるプラズマ処理ユニットが複数個積層された構成となっている。   The plasma generator shown in FIG. 1 performs a plasma treatment in which a ground side electrode 3 and a high voltage side electrode 4 for applying a voltage, and a dielectric member 5 disposed between the electrodes are disposed in the outer wall member 2. It has a plasma processing chamber A for execution, that is, a plasma reactor. The ground side electrode 3 and the high voltage side electrode 4 are provided in parallel with the dielectric member 5 interposed therebetween, that is, the plasma processing chamber A is configured as a parallel plate type plasma reactor. A plurality of ground-side electrodes 3 and high-voltage-side electrodes 4 are alternately provided with a plurality of dielectric members 5 sandwiched therebetween, and the plasma processing chamber A as a whole has the dielectric members 5 and the ground-side electrodes 3 sandwiching the dielectric members 5 and A plurality of plasma processing units constituted by the high-voltage side electrodes 4 are stacked.

尚、図1には、矩形の形状を有するプラズマ処理室Aを示しているが、プラズマ処理室Aの形状はこれに限定されるものではない。これは、以下の各図においても同様である。   Although FIG. 1 shows a plasma processing chamber A having a rectangular shape, the shape of the plasma processing chamber A is not limited to this. The same applies to the following drawings.

プラズマ処理室Aの、接地側電極3および高圧側電極4に直交する一側面には、プラズマ処理室A内に被処理ガスなどのガスを流入させるためのガス流入孔2aが形成され、反対側の側壁には、プラズマ処理室Aからガスを流出させるためのガス流出孔2bが形成されている。ガス流入孔2aとガス流出孔2bは、各誘電体部材5に、したがって各プラズマ処理ユニットに対応してそれぞれ複数個所に設けられている。   A gas inflow hole 2a for allowing a gas such as a gas to be processed to flow into the plasma processing chamber A is formed on one side surface of the plasma processing chamber A orthogonal to the ground side electrode 3 and the high voltage side electrode 4, and the opposite side. A gas outflow hole 2b for allowing a gas to flow out from the plasma processing chamber A is formed in the side wall of. The gas inflow hole 2a and the gas outflow hole 2b are provided at a plurality of locations corresponding to each dielectric member 5, and thus corresponding to each plasma processing unit.

プラズマ処理室Aの、ガス流入孔2aが設けられた側には、系外からガスを導入するためのガス導入口1を備え、導入したガスを各ガス流入孔2aに導くガス導入部Bが設けられている。同様に、プラズマ処理室Aの、ガス流出孔2bが設けられた側には、系外にガスを排出するためのガス排出口1を備え、各ガス流入孔2bから流出したガスをガス排出口1に導くガス排出部Cが設けられている。   The side of the plasma processing chamber A where the gas inflow hole 2a is provided is provided with a gas introduction port 1 for introducing gas from outside the system, and a gas introduction part B for introducing the introduced gas to each gas inflow hole 2a. Is provided. Similarly, on the side of the plasma processing chamber A where the gas outflow hole 2b is provided, a gas exhaust port 1 for exhausting gas out of the system is provided, and the gas flowing out from each gas inflow hole 2b is discharged to the gas exhaust port. A gas discharge part C leading to 1 is provided.

図1のプラズマ処理装置において、各誘電体部材5は、3次元網目構造を形成する多孔質状の構造を有しており、網目構造の間隙がガスの流路となる。この誘電体部材5は、詳細には図示していないが、多孔質セラミック基材に無機誘電物質が被覆された構造を有しており、多孔質セラミック基材に無機電物質を被覆後、焼成することによって形成されている。   In the plasma processing apparatus of FIG. 1, each dielectric member 5 has a porous structure forming a three-dimensional network structure, and a gap in the network structure becomes a gas flow path. Although not shown in detail, the dielectric member 5 has a structure in which a porous ceramic base material is coated with an inorganic dielectric substance, and the porous ceramic base material is coated with an inorganic electric substance and then fired. It is formed by doing.

この際、多孔質セラミック基材は、無機誘電物質より低い比誘電率を有しており、多孔質セラミック基材の比誘電率は50以下であることが望ましい。そうしたセラミックの好ましい具体例として、アルミナ、酸化ジルコニウムが挙げられる。一方、無機誘電物質は強誘電物質であり、無機誘電物質の比誘電率は1000以上であることが望ましい。そうした無機誘電物質の好ましい具体例として、チタン酸バリウム及びチタン酸ストロンチウムが挙げられる。しかし、これら多孔質セラミック基材、無機誘電物質は、上記の素材に限定されるものではなく、上記の条件を満たすものであれば、他のセラミックス、強誘電体を使用することができる。   At this time, the porous ceramic base material has a relative dielectric constant lower than that of the inorganic dielectric material, and the relative dielectric constant of the porous ceramic base material is desirably 50 or less. Preferred examples of such ceramics include alumina and zirconium oxide. On the other hand, the inorganic dielectric material is a ferroelectric material, and the relative dielectric constant of the inorganic dielectric material is desirably 1000 or more. Preferred specific examples of such inorganic dielectric materials include barium titanate and strontium titanate. However, these porous ceramic base materials and inorganic dielectric materials are not limited to the above materials, and other ceramics and ferroelectrics can be used as long as they satisfy the above conditions.

図2に示すプラズマ発生装置は、誘電体部材15の構成が異なる以外は図1に示すものと同等の構成を有しており、図2において、図1と同様の部分には同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。   The plasma generating apparatus shown in FIG. 2 has the same configuration as that shown in FIG. 1 except that the configuration of the dielectric member 15 is different. In FIG. A detailed description will be omitted.

図2に示すプラズマ発生装置における誘電体部材15は、図3に示すように、ハニカム形状セラミック基材21に無機誘電物質22を被覆した構造を有しており、ハニカム形状セラミック基材に無機電物質を被覆後、焼成して形成されている。   The dielectric member 15 in the plasma generator shown in FIG. 2 has a structure in which an inorganic dielectric material 22 is coated on a honeycomb-shaped ceramic substrate 21 as shown in FIG. It is formed by firing after coating the substance.

ハニカム形状セラミック基材21は、折り曲げ加工が可能なシート状セラミックをコルゲート加工することで波型に成形したものと、平板状のシート状セラミックとを交互に積層して構成されている。このハニカム形状セラミック基材21を構成するセラミックス材料は、無機誘電物質より低い比誘電率を有しており、ハニカム形状セラミック基材21の比誘電率は50以下であることが望ましい。そうしたセラミックス材料の好ましい具体例として、アルミナ、酸化ジルコニウムが挙げられる。無機誘電物質22は強誘電物質であり、無機誘電物質22の比誘電率は1000以上であることが望ましい。そうした無機誘電物質22の好ましい具体例として、チタン酸バリウム及びチタン酸ストロンチウムが挙げられる。しかし、これらハニカム形状セラミック基材21、無機誘電物質22は、上記の素材に限定されるものではなく、上記の条件を満たすものであれば、他のセラミックス、強誘電体を使用することができる。   The honeycomb-shaped ceramic substrate 21 is formed by alternately laminating a corrugated sheet-shaped ceramic that can be bent into a corrugated shape and a flat sheet-shaped ceramic. The ceramic material constituting the honeycomb-shaped ceramic substrate 21 has a relative dielectric constant lower than that of the inorganic dielectric substance, and the relative dielectric constant of the honeycomb-shaped ceramic substrate 21 is desirably 50 or less. Preferable specific examples of such a ceramic material include alumina and zirconium oxide. The inorganic dielectric material 22 is a ferroelectric material, and the relative dielectric constant of the inorganic dielectric material 22 is desirably 1000 or more. Preferable specific examples of such an inorganic dielectric material 22 include barium titanate and strontium titanate. However, the honeycomb-shaped ceramic base material 21 and the inorganic dielectric material 22 are not limited to the above materials, and other ceramics and ferroelectrics can be used as long as the above conditions are satisfied. .

図1及び図2のそれぞれに示す平行平板型プラズマリアクターを有するプラズマ発生装置は、例えば、図4,5に示すようなガス処理装置において、揮発性有害物質を含有するガスを被処理ガスとして、プラズマ処理することによって被処理ガスを無害化するのに用いることができる。図4,5に示す各ガス処理装置では、図1,2に示すのと同等の構成のプラズマ発生装置のガス導入口1に、被処理ガスを流通させるためのファン12が設けられた導入パイプ13が接続され、ガス排出口6に、処理されたガスを排出する排出パイプ14が接続されている。また、接地側電極3と高圧側電極4の間には、高圧電源11が接続されている。なお、図4,5におけるプラズマ発生装置は、図1,2に示すものとプラズマ処理ユニットの数が異なっている他は同じ構成を有している。プラズマ処理ユニットの数は、図示するものに限られず、適宜変更が可能である。   A plasma generator having a parallel plate type plasma reactor shown in each of FIGS. 1 and 2 is, for example, a gas processing apparatus as shown in FIGS. It can be used to detoxify the gas to be treated by plasma treatment. In each gas processing apparatus shown in FIGS. 4 and 5, an introduction pipe provided with a fan 12 for circulating a gas to be processed in the gas introduction port 1 of the plasma generator having the same configuration as shown in FIGS. 13 is connected, and a discharge pipe 14 for discharging the processed gas is connected to the gas discharge port 6. A high voltage power supply 11 is connected between the ground side electrode 3 and the high voltage side electrode 4. 4 and 5 has the same configuration as that shown in FIGS. 1 and 2 except that the number of plasma processing units is different. The number of plasma processing units is not limited to that shown in the figure, and can be changed as appropriate.

これらのガス処理装置によるガス処理は、次のように実行される。すなわち、ファン12を起動して、被処理ガスをガス導入部Bからプラズマ処理室A内の各プラズマ処理ユニット内に流入させ、誘電体部材5,15と接触させながら各プラズマ処理ユニット内を流通させ、その際、高圧電源11によって接地側電極3と高圧側電極4との間に電圧を印加する。これによって、各プラズマ処理ユニット内の、常圧下にある誘電体部材間隙空間部、および間隙壁面に放電が発生してプラズマが生起され、このプラズマによって被処理ガスが分解されて無害化される。このように各プラズマ処理ユニット内でプラズマ処理されて無害化されたガスはガス排出部Cに流出し、ガス排出口6を介して系外に排出される。   The gas processing by these gas processing apparatuses is performed as follows. That is, the fan 12 is started, and the gas to be processed flows from the gas introduction part B into each plasma processing unit in the plasma processing chamber A and flows through each plasma processing unit while being in contact with the dielectric members 5 and 15. At that time, a voltage is applied between the ground side electrode 3 and the high voltage side electrode 4 by the high voltage power source 11. As a result, a discharge is generated in the dielectric member gap space under normal pressure and the gap wall surface in each plasma processing unit to generate plasma, and the plasma is decomposed and rendered harmless by this plasma. In this manner, the gas that has been rendered harmless by plasma processing in each plasma processing unit flows out to the gas discharge part C and is discharged out of the system through the gas discharge port 6.

以上説明した本実施形態によれば、プラズマ処理室A、すなわちプラズマリアクターにおいて、プラズマの密度を大きく低下させることなく、空隙率を高め、高いプラズマ空間容積率を得ることができ、また、電力効率を高めることができる。また、強誘電物質または誘電率の低い物質の単体からなる多孔質状セラミック部材を電極間に配置した構成に比べて、電力の発熱消費を低減し、放電開始電圧を低電圧化することができる。   According to the present embodiment described above, in the plasma processing chamber A, that is, the plasma reactor, the porosity can be increased and a high plasma space volume ratio can be obtained without greatly reducing the plasma density, and power efficiency can be obtained. Can be increased. In addition, compared with a configuration in which a porous ceramic member made of a single substance of a ferroelectric substance or a substance having a low dielectric constant is arranged between electrodes, it is possible to reduce the heat consumption of electric power and lower the discharge start voltage. .

なお、平行平板型プラズマリアクターは、図6に示すような構成とすることもできる。図6に示す構成では、誘電体部材5の両側に、気体の通過が可能なメッシュ構造の接地側電極23と高圧側電極24が設けられている。この構成では、被処理ガスを、図に矢印で示すように、接地側電極23と高圧側電極24に垂直な方向に流通させて処理が行われる。この際、接地側電極23と高圧側電極24の間には、ハニカム構造の誘電体部材15を配置してもよく、この場合、誘電体部材15は、接地側電極23側の面と高圧側電極24側の面との間にガスを流通させることができるように構成する。   The parallel plate type plasma reactor can also be configured as shown in FIG. In the configuration shown in FIG. 6, a ground side electrode 23 and a high voltage side electrode 24 having a mesh structure capable of passing gas are provided on both sides of the dielectric member 5. In this configuration, the gas to be processed is circulated in a direction perpendicular to the ground-side electrode 23 and the high-voltage side electrode 24 as shown by arrows in the drawing. At this time, a dielectric member 15 having a honeycomb structure may be disposed between the ground-side electrode 23 and the high-voltage side electrode 24. In this case, the dielectric member 15 is connected to the surface on the ground-side electrode 23 side and the high-voltage side electrode. The gas is allowed to flow between the electrode 24 and the surface on the electrode 24 side.

図6に示す平行平板型プラズマリアクターによる被処理ガスのプラズマ処理は、例えば次のように実行される。すなわち、揮発性有害物質を含有するガス等の被処理ガスを、接地側電極23と高圧側電極24との一方の側から流し、その際、高圧電源11によって接地側電極23と高圧側電極24との間に電圧を印加する。これによって、常圧下にある誘電体部材間隙空間部、間隙壁面に放電が発生してプラズマが生起され、このプラズマによって被処理ガスが分解されて無害化される。このようにプラズマリアクター内でプラズマ処理されて無害化されたガスは、接地側電極23と高圧側電極24との他方の側から流出し、系外に排出される。   The plasma processing of the gas to be processed by the parallel plate type plasma reactor shown in FIG. 6 is executed as follows, for example. That is, a gas to be processed such as a gas containing a volatile harmful substance is allowed to flow from one side of the ground side electrode 23 and the high voltage side electrode 24, and at that time, the high voltage power source 11 causes the ground side electrode 23 and the high voltage side electrode 24 to flow. A voltage is applied between As a result, discharge occurs in the dielectric member gap space and the gap wall surface under normal pressure to generate plasma, and the plasma is decomposed and rendered harmless by this plasma. Thus, the gas that has been rendered harmless by the plasma treatment in the plasma reactor flows out from the other side of the ground side electrode 23 and the high voltage side electrode 24 and is discharged out of the system.

本発明の特徴及び効果を、実施例、比較例1及び比較例2によって以下により具体的に説明するが、本発明はこの実施例によって何ら限定されるものではない。   The features and effects of the present invention will be more specifically described below with reference to Examples, Comparative Examples 1 and 2, but the present invention is not limited to these Examples.

実施例及び比較例1及び2においては、構成の異なるガス処理装置を使用して、以下のように、揮発性物質を含有するガスを無害化する処理を行った。
(実施例)
実施例で使用した、プラズマ発生装置を用いたガス処理装置の模式的な構成図を図7に示す。このガス処理装置においては、図1に示すのと同等の構成の平行平板型プラズマリアクターを有するプラズマ発生装置を使用した。そして、このプラズマ発生装置のガス導入口1に接続されたガス導入パイプ13は被処理ガスボンベ8から延びており、ガス流量調節器9を設けられている。ガス排出口6に接続されたガス排出パイプ14には、分析機器10が接続されている。プラズマ発生装置の接地側電極3と高圧側電極4の間には、高圧電源11が接続されている。誘電体部材5としては、多孔質アルミナ基材にチタン酸バリウム(比誘電率ε=1600)を塗布し、1250℃で焼成したものを用いた。誘電体部材5全体としての空隙率、すなわち空孔率は80%である。
In Examples and Comparative Examples 1 and 2, gas treatment devices having different configurations were used to perform a treatment for detoxifying a gas containing a volatile substance as follows.
(Example)
FIG. 7 shows a schematic configuration diagram of a gas processing apparatus using a plasma generator used in the examples. In this gas processing apparatus, a plasma generator having a parallel plate type plasma reactor having the same configuration as that shown in FIG. 1 was used. A gas introduction pipe 13 connected to the gas introduction port 1 of the plasma generator extends from the gas cylinder 8 to be processed and is provided with a gas flow rate regulator 9. An analytical instrument 10 is connected to the gas exhaust pipe 14 connected to the gas exhaust port 6. A high voltage power source 11 is connected between the ground side electrode 3 and the high voltage side electrode 4 of the plasma generator. As the dielectric member 5, a porous alumina base material coated with barium titanate (relative permittivity ε = 1600) and fired at 1250 ° C. was used. The porosity of the dielectric member 5 as a whole, that is, the porosity is 80%.

プラズマリアクターとしては、内容積が30mLであり、高圧側電極2及び接地側電極3の大きさが50mm×30mm×10mmであり、電極間距離が10mmのものを用いた。分析機器10としては、ガス検知管(ガステック社製)を使用した。   A plasma reactor having an internal volume of 30 mL, a size of the high voltage side electrode 2 and the ground side electrode 3 of 50 mm × 30 mm × 10 mm, and a distance between electrodes of 10 mm was used. As the analytical instrument 10, a gas detector tube (manufactured by Gastec) was used.

このガス処理装置を用い、10ppmアンモニアガスを毎分6Lの流量で流通させ、印加電圧を15kVp-pから23kVp-pに変化させてプラズマ処理を行った。放電処理後のガスを分析したところアンモニア濃度は、0ppmから7ppm程度であり、処理率としては、30%から100%となった。消費電力は、1.0W〜4.0Wとなった。
(比較例1)
比較例1では、図8に示す構成のガス処理装置を使用した。図8に示すガス処理装置には、図9示すプラズマ発生装置が用いられている。このプラズマ発生装置は、誘電体部材25として、球状の複数の誘電体を配置したものを用いた点で、図7に示す実施例のものと異なっている。誘電体としては、粒状チタン酸バリウム(粒径=3mmφ、比誘電率ε=1600)を用いた。誘電体部材25全体としての空隙率は26%である。プラズマリアクターの内容積や、高圧側電極2及び接地側電極3の大きさ、使用した分析機器10は、実施例と同様である。
Using this gas treatment apparatus, 10 ppm ammonia gas was passed at a flow rate of 6 L / min, and the applied voltage was changed from 15 kVp-p to 23 kVp-p to perform plasma treatment. When the gas after the discharge treatment was analyzed, the ammonia concentration was about 0 ppm to 7 ppm, and the treatment rate was 30% to 100%. The power consumption was 1.0 W to 4.0 W.
(Comparative Example 1)
In Comparative Example 1, the gas processing apparatus having the configuration shown in FIG. 8 was used. The plasma generator shown in FIG. 9 is used for the gas processing apparatus shown in FIG. This plasma generator differs from that of the embodiment shown in FIG. 7 in that a dielectric member 25 having a plurality of spherical dielectrics is used. As the dielectric, granular barium titanate (particle size = 3 mmφ, relative permittivity ε = 1600) was used. The porosity of the dielectric member 25 as a whole is 26%. The internal volume of the plasma reactor, the sizes of the high-voltage side electrode 2 and the ground-side electrode 3, and the analytical instrument 10 used are the same as in the example.

このガス処理装置を用い、実施例と同様にアンモニアガスを流通させ、印加電圧を変化させてプラズマ処理を行った。放電処理後のガスを分析したところアンモニア濃度は、0ppmから9.5ppm程度であり、処理率としては、5%から100%となった。消費電力は、1.0W〜6.7Wとなった。
(比較例2)
比較例2では、図9に示す構成のガス処理装置を使用した。図9に示すガス処理装置は、誘電体部材35として、図1に示すプラズマ発生装置における多孔質セラミック基材のみからなり、無機誘電物質が被覆されていないものを用いた点で、図7に示す比較例のガス処理装置と異なっている。プラズマリアクターの内容積や、高圧側電極2及び接地側電極3の大きさ、使用した分析機器10は、実施例と同様である。
Using this gas treatment apparatus, ammonia treatment was conducted in the same manner as in the example, and plasma treatment was performed by changing the applied voltage. When the gas after the discharge treatment was analyzed, the ammonia concentration was about 0 ppm to 9.5 ppm, and the treatment rate was 5% to 100%. The power consumption was 1.0 W to 6.7 W.
(Comparative Example 2)
In Comparative Example 2, the gas processing apparatus having the configuration shown in FIG. 9 was used. The gas processing apparatus shown in FIG. 9 is the same as that shown in FIG. 7 in that the dielectric member 35 is composed only of the porous ceramic substrate in the plasma generator shown in FIG. 1 and is not coated with an inorganic dielectric substance. It is different from the gas processing apparatus of the comparative example shown. The internal volume of the plasma reactor, the sizes of the high-voltage side electrode 2 and the ground-side electrode 3, and the analytical instrument 10 used are the same as in the example.

このガス処理装置を用い、実施例と同様にアンモニアガスを流通させ、印加電圧を変化させてプラズマ処理を行った。放電処理後のガスを分析したところアンモニア濃度は、0ppmから9ppm程度であり、処理率としては、10%から100%となった。消費電力は、1.0W〜4.0Wとなった。
(評価)
実施例及び比較例1、比較例2において得られた結果を図11乃至図13にグラフとして示す。図11は、実施例と比較例1及び比較例2で得られた、消費電力に対するアンモニア処理率の変化に係る結果を示すグラフ、図12は、印加電圧に対するアンモニア処理率の変化に係る結果を示すグラフ、図13は、印加電圧に対する消費電力の変化に係る結果を示すグラフである。
Using this gas treatment apparatus, ammonia treatment was conducted in the same manner as in the example, and plasma treatment was performed by changing the applied voltage. When the gas after the discharge treatment was analyzed, the ammonia concentration was about 0 ppm to 9 ppm, and the treatment rate was 10% to 100%. The power consumption was 1.0 W to 4.0 W.
(Evaluation)
The results obtained in Examples and Comparative Examples 1 and 2 are shown as graphs in FIGS. FIG. 11 is a graph showing the results relating to the change in the ammonia treatment rate relative to the power consumption obtained in the example and the comparative examples 1 and 2, and FIG. 12 shows the results relating to the change in the ammonia treatment rate relative to the applied voltage. FIG. 13 is a graph showing the results relating to the change in power consumption with respect to the applied voltage.

図11から、100%の処理率を得るための消費電力は、実施例では、4.0Wであったのに対し、比較例1では、6.7Wであるのが分かる。すなわち、実施例では、比較例1に対して40%に消費電力を抑制できていることが分かる。   From FIG. 11, it can be seen that the power consumption for obtaining a processing rate of 100% was 4.0 W in the example, whereas that in Comparative Example 1 was 6.7 W. In other words, it can be seen that in the example, the power consumption can be suppressed to 40% as compared with Comparative Example 1.

図11から、比較例2と実施例では、消費電力を同程度にした時、アンモニア処理率が、ほぼ同程度であるのが分かる。しかし、図12から、実施例では、比較例に対して印加電圧を抑えることができていることが分かる。すなわち、実施例では、無機誘電物質としてチタン酸バリウムの被覆を行なった誘電体部材を用いることによって、被覆を行っていないものを用いた比較例2に対して、処理時の印加電圧を低電圧化することができていることが分かる。   From FIG. 11, it can be seen that the comparative example 2 and the example have substantially the same ammonia treatment rate when the power consumption is made the same. However, it can be seen from FIG. 12 that in the example, the applied voltage can be suppressed compared to the comparative example. That is, in the example, by using a dielectric member coated with barium titanate as the inorganic dielectric material, the applied voltage during the treatment was lower than that of Comparative Example 2 using the non-coated member. It can be seen that

本発明の一実施形態のプラズマ発生装置の模式図であり、図1(a)、図1(b)は互いに垂直な面にそれぞれ沿った断面図である。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a schematic diagram of the plasma generator of one Embodiment of this invention, FIG. 1 (a) and FIG.1 (b) are sectional drawings along a mutually perpendicular | vertical surface, respectively. 本発明の他の実施形態のプラズマ発生装置の模式図であり、図2(a)、図2(b)は互いに垂直な面にそれぞれ沿った断面図である。It is a schematic diagram of the plasma generator of other embodiment of this invention, and Fig.2 (a) and FIG.2 (b) are sectional drawings along a mutually perpendicular | vertical surface, respectively. 図2のプラズマ発生装置に用いられる誘電体部材の模式図であり、図3(a)は斜視図、図3(b)は部分的に拡大して示す正面図である。3A and 3B are schematic views of a dielectric member used in the plasma generator of FIG. 2, in which FIG. 3A is a perspective view and FIG. 3B is a partially enlarged front view. 図1と同等の構成のプラズマ発生装置を用いたガス処理装置の構成図である。It is a block diagram of the gas processing apparatus using the plasma generator of the structure equivalent to FIG. 図2と同等の構成のプラズマ発生装置を用いたガス処理装置の構成図である。It is a block diagram of the gas processing apparatus using the plasma generator of the structure equivalent to FIG. 本発明のさらに他の実施形態のプラズマ発生装置の模式図である。It is a schematic diagram of the plasma generator of further another embodiment of this invention. 実施例において使用したガス処理装置の構成図である。It is a block diagram of the gas processing apparatus used in the Example. 比較例1において使用したガス処理装置の構成図である。It is a block diagram of the gas treatment apparatus used in the comparative example 1. 比較例1において使用したプラズマ発生装置の模式図であり、図9(a)、図9(b)は互いに垂直な面にそれぞれ沿った断面図である。It is a schematic diagram of the plasma generator used in the comparative example 1, and Fig.9 (a) and FIG.9 (b) are sectional drawings along a mutually perpendicular | vertical surface, respectively. 比較例2において使用したガス処理装置の構成図である。It is a block diagram of the gas processing apparatus used in the comparative example 2. 実施例と比較例1及び比較例2で得られた、消費電力に対するアンモニア処理率の変化に係る結果を示すグラフである。It is a graph which shows the result which concerns on the change of the ammonia process rate with respect to power consumption obtained by the Example and the comparative example 1 and the comparative example 2. FIG. 実施例と比較例1及び比較例2で得られた、印加電圧に対するアンモニア処理率の変化に係る結果を示すグラフである。It is a graph which shows the result which concerns on the change of the ammonia process rate with respect to the applied voltage obtained by the Example and the comparative example 1 and the comparative example 2. FIG. 実施例と比較例1及び比較例2で得られた、印加電圧に対する消費電力の変化に係る結果を示すグラフである。It is a graph which shows the result which concerns on the change of the power consumption with respect to the applied voltage obtained by the Example, the comparative example 1, and the comparative example 2. FIG.

符号の説明Explanation of symbols

3 接地側電極
4 高圧側電極
5,15 誘電体部材
21 ハニカム形状セラミック基材
22 無機誘電物質
DESCRIPTION OF SYMBOLS 3 Ground side electrode 4 High voltage side electrode 5,15 Dielectric material 21 Honeycomb-shaped ceramic base material 22 Inorganic dielectric material

Claims (7)

接地側電極と、高圧側電極と、前記接地側電極と前記高圧側電極との間に配置された誘電体部材とを備え、前記接地側電極と前記高圧側電極との間に電圧を印加することにより常圧下でプラズマを生成するプラズマ発生装置であって、
前記誘電体部材は、多孔質セラミック基材に無機誘電物質を被覆した構造を有することを特徴とするプラズマ発生装置。
A grounding electrode, a high voltage side electrode, and a dielectric member disposed between the ground side electrode and the high voltage side electrode are provided, and a voltage is applied between the ground side electrode and the high voltage side electrode. A plasma generator for generating plasma under normal pressure,
The plasma generating apparatus, wherein the dielectric member has a structure in which a porous ceramic base material is coated with an inorganic dielectric material.
前記無機誘電物質は、強誘電物質であり、前記多孔質セラミック基材に被覆後、焼成されていることを特徴とする請求項1に記載のプラズマ発生装置。   The plasma generating apparatus according to claim 1, wherein the inorganic dielectric material is a ferroelectric material, and is fired after being coated on the porous ceramic substrate. 前記多孔質セラミック基材は、3次元網目構造を有し、前記無機誘電物質より低い比誘電率を有する材料からなることを特徴とする請求項1または2に記載のプラズマ発生装置。   3. The plasma generating apparatus according to claim 1, wherein the porous ceramic base material is made of a material having a three-dimensional network structure and having a relative dielectric constant lower than that of the inorganic dielectric substance. 接地側電極と、高圧側電極と、前記接地側電極と前記高圧側電極との間に配置された誘電体部材とを備え、前記接地側電極と前記高圧側電極との間に電圧を印加することにより常圧下でプラズマを生成するプラズマ発生装置であって、
前記誘電体部材は、ハニカム形状セラミック基材に無機誘電物質を被覆した構造を有することを特徴とするプラズマ発生装置。
A grounding electrode, a high voltage side electrode, and a dielectric member disposed between the ground side electrode and the high voltage side electrode are provided, and a voltage is applied between the ground side electrode and the high voltage side electrode. A plasma generator for generating plasma under normal pressure,
The plasma generating apparatus, wherein the dielectric member has a structure in which a honeycomb-shaped ceramic base material is coated with an inorganic dielectric material.
前記ハニカム形状セラミック基材は、折り曲げ加工が可能なシート状セラミックをコルゲート加工することで波型に成形したものと、平板状の前記シート状セラミックとを交互に積層した構造を有することを特徴とする請求項4に記載のプラズマ発生装置。   The honeycomb-shaped ceramic substrate has a structure in which a sheet-shaped ceramic that can be bent is corrugated to form a corrugated shape, and the flat sheet-shaped ceramic is laminated alternately. The plasma generator according to claim 4. 前記無機誘電物質は、強誘電物質であり、前記ハニカム形状セラミック基材に被覆後、焼成されていることを特徴とする請求項4または5に記載のプラズマ発生装置。   The plasma generating apparatus according to claim 4 or 5, wherein the inorganic dielectric material is a ferroelectric material, and is fired after being coated on the honeycomb-shaped ceramic substrate. 前記ハニカム形状セラミック基材は、前記無機誘電物質より低い比誘電率を有する材料からなることを特徴とする請求項4乃至6のいずれか1項に記載のプラズマ発生装置。   The plasma generating apparatus according to any one of claims 4 to 6, wherein the honeycomb-shaped ceramic substrate is made of a material having a relative dielectric constant lower than that of the inorganic dielectric substance.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2007139020A1 (en) * 2006-05-26 2007-12-06 Daihatsu Motor Co., Ltd. Electrode for plasma reactor vessel, and plasma reactor vessel
WO2009058044A1 (en) * 2007-10-31 2009-05-07 Zakrytoe Akcionernoe Obschestvo 'ecat Company' Plasmochemical reactor for generating a plasma discharge in gases

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