JP2005258152A - Suction mechanism for photosensitive planar member and image recording apparatus - Google Patents

Suction mechanism for photosensitive planar member and image recording apparatus Download PDF

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Hiroshi Kamimura
寛 上村
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a suction mechanism for a photosensitive planar member, the mechanism which can reliably suck a photosensitive planar member tightly adhered to a stage in a simple structure even when the member has warpage, and to provide an image recording apparatus equipped with the suction mechanism for a photosensitive planar member. <P>SOLUTION: Each suction disk 118 is energized toward a substrate 150 by a first coil spring 120 so that even when the substrate 150 has warpage, the suckers 118 can be disposed along the profile of the substrate 150 to reliably suck the substrate. A second coil spring 132 having higher elastic force than that of the first coil spring is housed in a plunger 124 and pressurizes the substrate 150 having warpage toward the mount face 152P of the stage 152 to eliminate warpage. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、感光性板状部材吸着機構及び画像記録装置に関する。   The present invention relates to a photosensitive plate-like member suction mechanism and an image recording apparatus.

感光性板状部材をステージ上に載置し、所望のパターン等を記録する画像記録装置では、ステージの載置面に複数の吸着孔が形成されており、載置面に載置された感光性板状部材を負圧により吸着して保持する構成のものがある。   In an image recording apparatus in which a photosensitive plate-like member is mounted on a stage and records a desired pattern or the like, a plurality of suction holes are formed on the mounting surface of the stage, and the photosensitive device mounted on the mounting surface. There is a configuration in which an adhesive plate-like member is adsorbed and held by a negative pressure.

ところで、感光性板状部材に反りなどがあると、感光性板状部材とステージの載置面とに隙間が生じるため、吸着孔から空気が漏れ、十分な吸着力を得られない場合がある。   By the way, if the photosensitive plate-like member is warped or the like, a gap is generated between the photosensitive plate-like member and the stage mounting surface, so that air may leak from the suction hole and a sufficient suction force may not be obtained. .

このような不都合を防止するために、たとえば特許文献1では、搬送部材(ステージ)と一体に設けられた吸着部材が弾性部を有しており、搬送部により吸着面と直交する方向に移動可能とされた基板吸着装置が開示されている。吸着部材を吸着面から突出させて基板と当接させ、基板は吸着部材のみで支持されるため、基板が大きく変形していても、吸着部材の吸引口を基板に接触させて吸着することができる。   In order to prevent such inconvenience, for example, in Patent Document 1, the suction member provided integrally with the transport member (stage) has an elastic portion, and can be moved in a direction perpendicular to the suction surface by the transport portion. A substrate suction apparatus is disclosed. Since the suction member protrudes from the suction surface and is brought into contact with the substrate, and the substrate is supported only by the suction member, even if the substrate is greatly deformed, the suction port of the suction member can be brought into contact with the substrate for suction. it can.

また、特許文献2では、サポートピンがシリンダによって上昇し、基板の裏面を吸着する基板支持装置が開示されている。サポートピンの上昇ストロークは、全てのサポートピンの先端が、上ぞりした基板の裏面に完全に到達するように設定されており、ストロークがオーバーする分はバネで吸収される。   Patent Document 2 discloses a substrate support device in which a support pin is lifted by a cylinder and sucks the back surface of the substrate. The rising strokes of the support pins are set so that the tips of all the support pins completely reach the back surface of the slid substrate, and the excess stroke is absorbed by the spring.

しかし、上記いずれの特許文献に開示された内容も、ステージ内に吸着部材やサポートピンを昇降させるための機構が必要であり、構造が複雑になる。
特開平5−190414号公報 特開平7−79098号公報
However, the contents disclosed in any of the above patent documents require a mechanism for raising and lowering the suction member and the support pin in the stage, and the structure becomes complicated.
Japanese Patent Laid-Open No. 5-190414 Japanese Patent Laid-Open No. 7-79098

本発明は上記事実を考慮し、簡単な構成で、感光性板状部材に反りがある場合でも、ステージに密着させて確実に吸着できる感光性板状部材吸着機構と、この感光性板状部材吸着機構を備えた画像記録装置を得ることを課題とする。   In consideration of the above facts, the present invention provides a photosensitive plate-like member suction mechanism that can be reliably attached to a stage even when the photosensitive plate-like member is warped with a simple configuration, and the photosensitive plate-like member. It is an object of the present invention to obtain an image recording apparatus having a suction mechanism.

請求項1に記載の発明では、載置面上に感光性板状部材を載置可能なステージと、載置面に載置された感光性板状部材を挟んで載置面と反対側から進退可能とされ、感光性板状部材を吸着可能な複数の吸着パッドと、前記吸着パッドのそれぞれを感光性板状部材に向かって付勢する付勢部材と、前記載置面上の感光性板状部材に対し前記付勢部材の付勢力よりも強い押圧力で吸着パッドを押圧可能な押圧部材と、を有することを特徴とする。   In the first aspect of the invention, the stage on which the photosensitive plate-like member can be placed on the placement surface and the photosensitive plate-like member placed on the placement surface are sandwiched from the opposite side of the placement surface. A plurality of suction pads capable of advancing and retreating and capable of sucking the photosensitive plate-like member; a biasing member for biasing each of the suction pads toward the photosensitive plate-like member; And a pressing member capable of pressing the suction pad against the plate member with a pressing force stronger than the biasing force of the biasing member.

この感光性板状部材吸着機構では、複数の吸着パッドのそれぞれが感光性板状部材に対して進退可能とされているので、基板に反りがあっても、吸着パッドのそれぞれを反りの形状に合わせた位置とすることができる。吸着パッドのそれぞれは、付勢部材によって、感光性板状部材に向かって付勢されているので、吸着パッドを感光性板状部材に密着させ、確実に感光性板状部材を吸着できる。このようにして吸着パッドで感光性板状部材を吸着し、感光性板状部材をステージの載置面上に移送し載置することができる。   In this photosensitive plate-like member suction mechanism, each of the plurality of suction pads can be moved back and forth with respect to the photosensitive plate-like member. Therefore, even if the substrate is warped, each of the suction pads is warped. It can be set to a combined position. Since each of the suction pads is biased toward the photosensitive plate member by the biasing member, the suction pad can be brought into close contact with the photosensitive plate member and the photosensitive plate member can be reliably sucked. In this way, the photosensitive plate-like member can be adsorbed by the suction pad, and the photosensitive plate-like member can be transferred and placed on the placement surface of the stage.

押圧部材は、載置面上の感光性板状部材に対し、付勢部材の付勢力よりも強い押圧力で吸着パッドを押圧する。これにより、感光性板状部材に反りがあっても、載置面に強く押し付けて反りを解消し、ステージに強く密着させて吸着することができる。なお、吸着パッドによる感光性板状部材の吸着時には、押圧部材による押圧力を作用させないようにすれば、吸着パッドのそれぞれを基板の反りにあわせた位置へと容易に移動させることができる。   The pressing member presses the suction pad against the photosensitive plate member on the mounting surface with a pressing force stronger than the urging force of the urging member. As a result, even if the photosensitive plate-like member is warped, it can be strongly pressed against the mounting surface to eliminate the warp, and can be adsorbed while being strongly adhered to the stage. When the photosensitive plate-like member is sucked by the suction pad, if the pressing force by the pressing member is not applied, each of the suction pads can be easily moved to a position corresponding to the warp of the substrate.

しかも、複数の吸着パッドは、載置面に載置された感光性板状部材を挟んで載置面と反対側に配置されており、付勢部材及び押圧部材も載置面と反対側に配置することができる。ステージにこれらの部材を設ける必要がないので、簡単な構造となる。   Moreover, the plurality of suction pads are arranged on the opposite side of the placement surface across the photosensitive plate-like member placed on the placement surface, and the biasing member and the pressing member are also located on the opposite side of the placement surface. Can be arranged. Since it is not necessary to provide these members on the stage, the structure is simple.

請求項1の付勢部材及び弾性部材の具体的構成は特に限定されないが、たとえば付勢部材として、請求項2に記載のように、前記吸着パッドのそれぞれを弾性的に付勢する第1弾性部材、を含んだ構成とすることができる。押圧部材としては、請求項3に記載のように、前記吸着パッドをそれぞれ弾性的に押圧する第2弾性部材、を含んだ構成とすることができる。   The specific configurations of the urging member and the elastic member according to claim 1 are not particularly limited. For example, as the urging member, the first elasticity that elastically urges each of the suction pads as described in claim 2. It can be set as the structure containing the member. As described in claim 3, the pressing member may include a second elastic member that elastically presses the suction pads.

請求項4に記載の発明では、請求項1〜請求項3のいずれかに記載の感光性板状部材吸着機構と、前記載置面上に吸着された感光性板状部材に画像を記録する画像記録手段と、を有することを特徴とする。   According to a fourth aspect of the present invention, an image is recorded on the photosensitive plate-like member adsorption mechanism according to any one of the first to third aspects and the photosensitive plate-like member adsorbed on the placement surface. And an image recording means.

請求項1〜請求項3のいずれかに記載の感光性板状部材吸着機構を有しているので、簡単な構成で、感光性板状部材に反りがある場合でも、ステージに密着させて確実に吸着できる。   Since the photosensitive plate-like member adsorption mechanism according to any one of claims 1 to 3 is provided, even if the photosensitive plate-like member is warped, it can be reliably brought into close contact with the stage. Can be adsorbed.

ステージの載置面に感光性板状部材を吸着した状態で、画像記録手段によって、画像を記録することができる。   An image can be recorded by the image recording means with the photosensitive plate-like member adsorbed on the stage mounting surface.

請求項5に記載の発明では、請求項4に記載の発明において、前記画像記録手段が、レーザー光を感光性板状部材に照射して画像記録を行うレーザー記録手段、とされていることを特徴とする。   According to a fifth aspect of the present invention, in the invention according to the fourth aspect, the image recording means is a laser recording means for performing image recording by irradiating a photosensitive plate member with a laser beam. Features.

このように、レーザー記録手段によってレーザー光を感光性板状部材に照射することで、高速且つ高精度で画像を記録することが可能となる。   In this way, by irradiating the photosensitive plate member with the laser beam by the laser recording means, it becomes possible to record an image with high speed and high accuracy.

本発明は上記構成としたので、簡単な構成で、感光性板状部材に反りがある場合でも、ステージに密着させて確実に吸着できる。   Since the present invention has the above-described configuration, even if the photosensitive plate-like member is warped, it can be reliably adsorbed by being brought into close contact with the stage.

図8及び図9には、本発明の第1実施形態の基板吸着機構104が示されている。また、図1には、この基板吸着機構104を備えた画像記録装置102が示されている。   8 and 9 show the substrate suction mechanism 104 according to the first embodiment of the present invention. FIG. 1 shows an image recording apparatus 102 provided with the substrate suction mechanism 104.

この画像記録装置102は、いわゆるフラットベッドタイプの画像記録装置とされており、図1に示すように、感光性板状部材の一例である基板150を表面(載置面152P)に吸着して保持するステージ152を備えている。4本の脚部154に支持された板状の定盤156の上面には、ステージ移動方向に沿って延びた2本のガイド158が設置されている。ステージ152は、その長手方向がステージ移動方向を向くように配置されると共に、ガイド158によって往復移動可能に支持されている。なお、この画像記録装置には、ステージ152をガイド158に沿って駆動するための図示しない駆動装置が設けられており、後述するように、走査方向での所望の移動速度(走査速度)となるように、図示しないコントローラによって駆動制御される。   This image recording apparatus 102 is a so-called flat bed type image recording apparatus, and adsorbs a substrate 150, which is an example of a photosensitive plate-like member, to the surface (mounting surface 152P) as shown in FIG. A holding stage 152 is provided. Two guides 158 extending along the stage moving direction are installed on the upper surface of the plate-shaped surface plate 156 supported by the four legs 154. The stage 152 is arranged so that the longitudinal direction thereof faces the stage moving direction, and is supported by a guide 158 so as to be reciprocally movable. The image recording apparatus is provided with a driving device (not shown) for driving the stage 152 along the guide 158, and has a desired moving speed (scanning speed) in the scanning direction, as will be described later. As described above, the drive is controlled by a controller (not shown).

定盤156の中央部には、ステージ152の移動経路を跨ぐようにゲート160が設けられている。コ字状のゲート160の端部の各々は、定盤156の両側面に固定されている。このゲート160を挟んで一方の側にはスキャナ162が設けられ、他方の側には基板150に設けられたアライメントマークを検出する複数(例えば、2個)の検知センサ164が設けられている。スキャナ162及び検知センサ164はゲート160に各々取り付けられて、ステージ152の移動経路の上方に固定されている。なお、スキャナ162及び検知センサ164は、これらを制御する図示しないコントローラに接続されており、後述するように、露光ヘッド166によって露光する際に所定のタイミングで露光するように制御される。   A gate 160 is provided at the center of the surface plate 156 so as to straddle the moving path of the stage 152. Each end of the U-shaped gate 160 is fixed to both side surfaces of the surface plate 156. A scanner 162 is provided on one side of the gate 160, and a plurality (for example, two) of detection sensors 164 for detecting alignment marks provided on the substrate 150 are provided on the other side. The scanner 162 and the detection sensor 164 are respectively attached to the gate 160 and fixed above the moving path of the stage 152. The scanner 162 and the detection sensor 164 are connected to a controller (not shown) that controls them, and are controlled to be exposed at a predetermined timing when exposure is performed by the exposure head 166, as will be described later.

また、検知センサ164は、撮像時の光源として1回の発光時間が極めて短いストロボ(図示省略)を備えており、このストロボの発光時のみ撮像が可能となるように受光感度が設定されている。   The detection sensor 164 includes a strobe (not shown) as a light source at the time of imaging, and the light receiving sensitivity is set so that imaging can be performed only when the strobe emits light. .

検知センサ164は、その真下の撮像位置をステージ152が通過する際に、所定のタイミングでストロボを発光させ、このストロボからの光の反射光を受光することにより、基板150に形成されたアライメントマークを含む撮像範囲をそれぞれ撮像する。また、検知センサ164は、アライメントマークの位置等に応じて幅方向に沿った位置調整が可能とされている。   The detection sensor 164 emits a strobe at a predetermined timing when the stage 152 passes through the imaging position immediately below the detection position, and receives the reflected light from the strobe, thereby forming an alignment mark formed on the substrate 150. Each of the imaging ranges including is imaged. Further, the detection sensor 164 can be adjusted along the width direction according to the position of the alignment mark and the like.

また、スキャナ162はゲート160により走査方向に沿って位置調整可能に支持されている。これにより、検知センサ164による撮像位置とスキャナ162による露光位置との距離を所定の範囲内で調整可能となっている。   The scanner 162 is supported by the gate 160 so that the position can be adjusted along the scanning direction. Thereby, the distance between the imaging position by the detection sensor 164 and the exposure position by the scanner 162 can be adjusted within a predetermined range.

スキャナ162は、図2及び図3(B)に示すように、m行n列(例えば、3行5列)の略マトリックス状に配列された複数の露光ヘッド166を備えている。この例では、基板150の幅との関係で、1行目及び2行目には5個の、3行目には4個の露光ヘッド166を配置し、全体で、14個とした。なお、m行目のn列目に配列された個々の露光ヘッドを示す場合は、露光ヘッド166mnと表記する。 As shown in FIGS. 2 and 3B, the scanner 162 includes a plurality of exposure heads 166 arranged in an approximately matrix of m rows and n columns (for example, 3 rows and 5 columns). In this example, in relation to the width of the substrate 150, five exposure heads 166 are arranged in the first and second rows, and four exposure heads 166 are arranged in the third row. In addition, when showing each exposure head arranged in the m-th row and the n-th column, it is expressed as an exposure head 166 mn .

露光ヘッド166による露光エリア168は、図2では、走査方向を短辺とする矩形状で、且つ、ヘッド並び方向に対し、所定の傾斜角で傾斜している。そして、ステージ152の移動に伴い、基板150には露光ヘッド166毎に帯状の露光済み領域170が形成される。なお、m行目のn列目に配列された個々の露光ヘッドによる露光エリアを示す場合は、露光エリア168mnと表記する。 In FIG. 2, the exposure area 168 by the exposure head 166 has a rectangular shape with the scanning direction as the short side and is inclined at a predetermined inclination angle with respect to the head arrangement direction. As the stage 152 moves, a strip-shaped exposed area 170 is formed on the substrate 150 for each exposure head 166. In addition, when showing the exposure area by each exposure head arranged in the m-th row and the n-th column, it is expressed as an exposure area 168 mn .

また、図3(A)及び(B)に示すように、帯状の露光済み領域170のそれぞれが隣接する露光済み領域170と部分的に重なるように、ライン状に配列された各行の露光ヘッドの各々は、ヘッド並び方向に所定間隔ずらして配置されている。このため、1行目の露光エリア16811と露光エリア16812との間の露光できない部分は、2行目の露光エリア16821と3行目の露光エリア16831とにより露光することができる。 Further, as shown in FIGS. 3A and 3B, the exposure heads of the respective rows arranged in a line so that each of the strip-shaped exposed areas 170 partially overlaps the adjacent exposed areas 170 are formed. Each is arranged at a predetermined interval in the head alignment direction. Therefore, can not be exposed portion between the exposure area 168 11 in the first row and the exposure area 168 12, it can be exposed by the second row of the exposure area 168 21 and the exposure area 168 31 in the third row.

露光ヘッド16611〜166mn各々は、図4、図5(A)及び(B)に示すように、入射された光ビームを画像データに応じて各画素毎に変調する空間光変調素子として、デジタル・マイクロミラー・デバイス(DMD)50を備えている。このDMD50は、データ処理部とミラー駆動制御部とを備えた図示しないコントローラに接続されている。コントローラのデータ処理部では、入力された画像データに基づいて、各露光ヘッド166毎にDMD50の制御すべき領域内の各マイクロミラーを駆動制御する制御信号を生成する。 Each of the exposure heads 166 11 to 166 mn is a spatial light modulator that modulates an incident light beam for each pixel according to image data, as shown in FIGS. 4, 5 (A) and (B). A digital micromirror device (DMD) 50 is provided. The DMD 50 is connected to a controller (not shown) including a data processing unit and a mirror drive control unit. The data processing unit of the controller generates a control signal for driving and controlling each micromirror in the region to be controlled by the DMD 50 for each exposure head 166 based on the input image data.

また、ミラー駆動制御部では、画像データ処理部で生成した制御信号に基づいて、各露光ヘッド166毎にDMD50の各マイクロミラーの反射面の角度を制御する。   The mirror drive control unit controls the angle of the reflection surface of each micromirror of the DMD 50 for each exposure head 166 based on the control signal generated by the image data processing unit.

DMD50の光入射側には、光ファイバの出射端部(発光点)が露光エリア168の長辺方向と対応する方向に沿って一列に配列されたレーザ出射部を備えたファイバアレイ光源66、ファイバアレイ光源66から出射されたレーザ光を補正してDMD上に集光させるレンズ系67、レンズ系67を透過したレーザ光をDMD50に向けて反射するミラー69がこの順に配置されている。   On the light incident side of the DMD 50, a fiber array light source 66 including a laser emitting section in which emission ends (light emitting points) of an optical fiber are arranged in a line along a direction corresponding to the long side direction of the exposure area 168, a fiber A lens system 67 for correcting the laser light emitted from the array light source 66 and condensing it on the DMD, and a mirror 69 for reflecting the laser light transmitted through the lens system 67 toward the DMD 50 are arranged in this order.

レンズ系67は、ファイバアレイ光源66から出射されたレーザ光を平行光化する1対の組合せレンズ71、平行光化されたレーザ光の光量分布が均一になるように補正する1対の組合せレンズ73、及び光量分布が補正されたレーザ光をDMD上に集光する集光レンズ75で構成されている。組合せレンズ73は、レーザ出射端の配列方向に対しては、レンズの光軸に近い部分は光束を広げ且つ光軸から離れた部分は光束を縮め、且つこの配列方向と直交する方向に対しては光をそのまま通過させる機能を備えており、光量分布が均一となるようにレーザ光を補正する。   The lens system 67 includes a pair of combination lenses 71 that collimate the laser light emitted from the fiber array light source 66 and a pair of combination lenses that correct the light quantity distribution of the collimated laser light to be uniform. 73 and a condensing lens 75 that condenses the laser light whose light quantity distribution is corrected on the DMD. With respect to the arrangement direction of the laser emitting ends, the combination lens 73 spreads the light beam at a portion close to the optical axis of the lens and contracts the light beam at a portion away from the optical axis, and with respect to a direction orthogonal to the arrangement direction. Has a function of allowing light to pass through as it is, and corrects the laser light so that the light quantity distribution is uniform.

また、DMD50の光反射側には、DMD50で反射されたレーザ光を基板150の走査面(被露光面)56上に結像するレンズ系54、58が配置されている。レンズ系54及び58は、DMD50と被露光面56とが共役な関係となるように配置されている。   Further, on the light reflection side of the DMD 50, lens systems 54 and 58 that form an image of the laser light reflected by the DMD 50 on the scanning surface (exposed surface) 56 of the substrate 150 are arranged. The lens systems 54 and 58 are arranged so that the DMD 50 and the exposed surface 56 are in a conjugate relationship.

本実施形態では、ファイバアレイ光源66から出射されたレーザ光は、実質的に5倍に拡大された後、各画素がこれらのレンズ系54、58によって約5μmに絞られるように設定されている。   In the present embodiment, the laser light emitted from the fiber array light source 66 is set to be approximately 5 μm by each lens system 54 and 58 after being substantially magnified 5 times. .

DMD50は、図6に示すように、SRAMセル(メモリセル)60上に、微小ミラー(マイクロミラー)62が支柱により支持されて配置されたものであり、画素(ピクセル)を構成する多数の(例えば、ピッチ13.68μm、1024個×768個)の微小ミラーを格子状に配列して構成されたミラーデバイスである。各ピクセルには、最上部に支柱に支えられたマイクロミラー62が設けられており、マイクロミラー62の表面にはアルミニウム等の反射率の高い材料が蒸着されている。なお、マイクロミラー62の反射率は90%以上である。また、マイクロミラー62の直下には、ヒンジ及びヨークを含む支柱を介して通常の半導体メモリの製造ラインで製造されるシリコンゲートのCMOSのSRAMセル60が配置されており、全体はモノリシック(一体型)に構成されている。   As shown in FIG. 6, the DMD 50 is configured such that a micromirror 62 is supported by a support column on an SRAM cell (memory cell) 60, and a large number of (pixels) (pixels) are formed. For example, it is a mirror device configured by arranging micromirrors with a pitch of 13.68 μm, 1024 × 768) in a grid pattern. Each pixel is provided with a micromirror 62 supported by a support column at the top, and a material having a high reflectance such as aluminum is deposited on the surface of the micromirror 62. The reflectance of the micromirror 62 is 90% or more. A silicon gate CMOS SRAM cell 60 manufactured in a normal semiconductor memory manufacturing line is disposed directly below the micromirror 62 via a support including a hinge and a yoke, and is entirely monolithic (integrated type). ).

DMD50のSRAMセル60にデジタル信号が書き込まれると、支柱に支えられたマイクロミラー62が、対角線を中心としてDMD50が配置された基板側に対して±α度(例えば±10度)の範囲で傾けられる。図7(A)は、マイクロミラー62がオン状態である+α度に傾いた状態を示し、図7(B)は、マイクロミラー62がオフ状態である−α度に傾いた状態を示す。従って、画像信号に応じて、DMD50の各ピクセルにおけるマイクロミラー62の傾きを、図6に示すように制御することによって、DMD50に入射された光はそれぞれのマイクロミラー62の傾き方向へ反射される。   When a digital signal is written in the SRAM cell 60 of the DMD 50, the micromirror 62 supported by the support is inclined within a range of ± α degrees (for example, ± 10 degrees) with respect to the substrate side on which the DMD 50 is disposed with the diagonal line as the center. It is done. FIG. 7A shows a state in which the micromirror 62 is tilted to + α degrees in the on state, and FIG. 7B shows a state in which the micromirror 62 is tilted to −α degrees in the off state. Therefore, by controlling the inclination of the micromirror 62 in each pixel of the DMD 50 as shown in FIG. 6 according to the image signal, the light incident on the DMD 50 is reflected in the inclination direction of each micromirror 62. .

なお、図6には、DMD50の一部を拡大し、マイクロミラー62が+α度又は−α度に制御されている状態の一例を示す。それぞれのマイクロミラー62のオンオフ制御は、DMD50に接続された図示しないコントローラによって行われる。オフ状態のマイクロミラー62により光ビームが反射される方向には、光吸収体(図示せず)が配置されている。   FIG. 6 shows an example of a state in which a part of the DMD 50 is enlarged and the micromirror 62 is controlled to + α degrees or −α degrees. On / off control of each micromirror 62 is performed by a controller (not shown) connected to the DMD 50. A light absorber (not shown) is arranged in the direction in which the light beam is reflected by the micromirror 62 in the off state.

図8には、本実施形態の基板吸着機構104を構成するステージ152が示されている。このステージ152は、中空の扁平な箱状に形成されており、その上面が、基板150が載置される載置面152Pとされている。載置面152Pのサイズは、この画像記録装置102での画像記録の対象となる最も大きな基板であっても載置可能なサイズとされている。   FIG. 8 shows a stage 152 constituting the substrate suction mechanism 104 of the present embodiment. The stage 152 is formed in a hollow flat box shape, and its upper surface is a mounting surface 152P on which the substrate 150 is mounted. The size of the mounting surface 152P is set so that even the largest substrate that is the target of image recording in the image recording apparatus 102 can be mounted.

載置面152Pには、複数の吸着孔172が形成されている。ステージ152には、図示しない管路を介して、同じく図示しない吸引装置(たとえば真空ポンプ)が接続されており、ステージ152内を負圧にすると共に、吸着孔172から空気を吸引することができるようになっている。載置面152P上に載置された基板150によって吸着孔172が覆われている場合には、基板150を吸着する。吸着孔172は、最大サイズ基板を確実に吸引することができる程度の広い範囲をカバーし、且つ最小サイズ基板であっても確実に吸引することができる程度の面密度となるよう配置されている。   A plurality of suction holes 172 are formed on the mounting surface 152P. A suction device (for example, a vacuum pump) (not shown) is also connected to the stage 152 via a pipe line (not shown), and the inside of the stage 152 can be set to a negative pressure and air can be sucked from the suction hole 172. It is like that. When the suction hole 172 is covered with the substrate 150 placed on the placement surface 152P, the substrate 150 is sucked. The suction holes 172 are arranged so as to cover a wide range capable of reliably sucking the maximum size substrate and to have a surface density capable of reliably sucking even the smallest size substrate. .

ステージ152の上方には、基板吸着搬送装置106が配置されている。基板吸着搬送装置106は、ステージ152と平行な搬送フレーム108を有しており、基板吸着搬送装置106全体が、図示しない搬送駆動機構により、ステージ152と平行な方向へと搬送されるようになっている。   A substrate suction transfer device 106 is disposed above the stage 152. The substrate suction transfer device 106 has a transfer frame 108 parallel to the stage 152, and the entire substrate suction transfer device 106 is transferred in a direction parallel to the stage 152 by a transfer drive mechanism (not shown). ing.

搬送フレーム108には、摺動支持部材110によって、昇降フレーム112が昇降可能に支持されている。昇降フレーム112は、図示しない昇降駆動部材によって昇降される。昇降フレーム112は、正面から見て四角形の枠上に形成されており、下板112Lの下面に、摺動支持部材114によって、ロッド116が昇降可能に支持されている。ロッド116の上端及び下端にはそれぞれ上フランジ116A及び下フランジ116Bが設けられており、ロッド116の昇降範囲を制限すると共に、下板112Lからの不用意な抜けを防止している。   A lift frame 112 is supported on the transport frame 108 by a sliding support member 110 so as to be movable up and down. The lifting frame 112 is lifted and lowered by a lifting drive member (not shown). The elevating frame 112 is formed on a rectangular frame when viewed from the front, and a rod 116 is supported on the lower surface of the lower plate 112 </ b> L by a sliding support member 114 so as to be elevable. An upper flange 116A and a lower flange 116B are provided at the upper end and the lower end of the rod 116, respectively, to limit the lifting / lowering range of the rod 116 and prevent inadvertent removal from the lower plate 112L.

ロッド116の下部は下板112Lよりも下方に位置しており、その下端に、吸盤118が取り付けられている。吸盤118の吸着部118Bによって、図9(A)に示すように、基板150を吸着することができる。   The lower part of the rod 116 is located below the lower plate 112L, and a suction cup 118 is attached to the lower end thereof. As shown in FIG. 9A, the substrate 150 can be sucked by the suction portion 118B of the suction cup 118.

昇降フレーム112の下板112Lとロッド116の下フランジ116Bの間には、第1コイルバネ120が配置されており、ロッド116及び吸盤118を下方に付勢している。この付勢力は、後述する第2コイルバネ132の付勢力よりも弱くなるように設定されており、基板150の反り(あるいはうねり、以下、これらをまとめて単に「反り」という)に合わせて吸盤118のそれぞれの上下動を許容するようになっている。   A first coil spring 120 is disposed between the lower plate 112L of the elevating frame 112 and the lower flange 116B of the rod 116, and urges the rod 116 and the suction cup 118 downward. This urging force is set to be weaker than the urging force of the second coil spring 132, which will be described later, and the suction cup 118 in accordance with the warp of the substrate 150 (or swell, hereinafter collectively referred to as “warp”). These are allowed to move up and down.

昇降フレーム112の下板112Lの上面には、ロッド116のそれぞれと一対一で対応するブラケット122が取り付けられている。ブラケット122は略逆「U」字状とされており、内部を、ロッド116の上部が上下動する。   A bracket 122 corresponding to each of the rods 116 is attached to the upper surface of the lower plate 112 </ b> L of the elevating frame 112. The bracket 122 has a substantially inverted “U” shape, and the upper part of the rod 116 moves up and down inside.

ブラケット122の上部には、プランジャ124が取り付けられている。プランジャ124は、筒状のシリンダ126と、シリンダ126の下部に、摺動支持部材128によって上下に摺動可能に保持されたピストン130を有している。ピストン130の下方への移動は上フランジ116Aによって所定範囲に制限されており、且つ不用意に抜け落ちないようになっている。   A plunger 124 is attached to the upper part of the bracket 122. The plunger 124 has a cylindrical cylinder 126, and a piston 130 that is slidably held up and down by a sliding support member 128 at a lower portion of the cylinder 126. The downward movement of the piston 130 is limited to a predetermined range by the upper flange 116A, and is prevented from accidentally falling off.

シリンダ126内には、第2コイルバネ132が配置されており、ピストン130を下方へと押圧している。この押圧力は、第1コイルバネ120の付勢力よりも大きくされており、反りのある基板150を載置面152Pに押圧して反りを解消できる程度の押圧力とされている。なお、シリンダ126の上底には調整ネジ134が螺合されており、その下端が第2コイルバネ132に接触している。調整ネジ134によって第2コイルバネ132の長さを変え、その弾性力を調整できるようになっている。   A second coil spring 132 is disposed in the cylinder 126 and presses the piston 130 downward. This pressing force is larger than the urging force of the first coil spring 120, and is a pressing force that can press the warped substrate 150 against the mounting surface 152P to eliminate the warping. An adjustment screw 134 is screwed onto the upper bottom of the cylinder 126, and the lower end thereof is in contact with the second coil spring 132. The length of the second coil spring 132 is changed by the adjusting screw 134 so that the elastic force can be adjusted.

次に、本実施形態の作用について説明する。   Next, the operation of this embodiment will be described.

基板150に画像を記録するには、まず最初に、たとえば図示しない収容部材などに収容された基板150を、基板吸着搬送装置106によって吸着して、ステージ152の載置面152P上に載置する。   In order to record an image on the substrate 150, first, for example, the substrate 150 accommodated in an accommodating member (not shown) is adsorbed by the substrate adsorbing and conveying device 106 and placed on the placement surface 152P of the stage 152. .

このとき、まず、図示しない搬送駆動部材により、搬送フレーム108を移動させ、基板吸着機構104全体を収容部材内の基板上に位置させる。そして、図示しない昇降駆動部材により昇降フレーム112を降下させ、基板150に吸盤118を密着させる。この状態では、プランジャ124のピストン130とロッド116とが離れており、第2コイルバネ132の押圧力は、ロッド116に作用していない。このため、吸盤118のそれぞれは第1コイルバネ120のみによって基板150に向かって付勢されており、基板150の反りに合わせて吸盤118のそれぞれの上下動が許容される。吸盤118のそれぞれの位置が、基板150の形状に容易に倣うため、すべての吸盤118を反った形状の基板150に密着させて、確実に基板150を吸着することができる。(図9(A)参照)。   At this time, first, the transport frame 108 is moved by a transport driving member (not shown), and the entire substrate suction mechanism 104 is positioned on the substrate in the housing member. Then, the lifting frame 112 is lowered by a lifting drive member (not shown), and the suction cup 118 is brought into close contact with the substrate 150. In this state, the piston 130 of the plunger 124 and the rod 116 are separated from each other, and the pressing force of the second coil spring 132 does not act on the rod 116. For this reason, each of the suction cups 118 is biased toward the substrate 150 only by the first coil spring 120, and each vertical movement of the suction cups 118 is allowed in accordance with the warpage of the substrate 150. Since each position of the suction cup 118 easily follows the shape of the substrate 150, all the suction cups 118 can be brought into close contact with the warped substrate 150 and the substrate 150 can be reliably adsorbed. (See FIG. 9A).

基板150を吸着した状態で、図示しない搬送駆動機構により搬送フレーム108を移動させ、ステージ152上に位置させる。そして、図示しない昇降駆動機構により、昇降フレーム112をステージ152に向かって降下させ、基板150の載置面152Pへの押し付けを開始する。基板150の反りによって、基板150の一部分がまず最初に載置面152Pに接触し、他の部分も徐々に載置面152Pに接触していく。これにより、第1コイルバネ120の付勢力が大きく作用するようになるので、剛性の低い基板の場合には、反りが解消されていく。   With the substrate 150 adsorbed, the transport frame 108 is moved by a transport drive mechanism (not shown) and positioned on the stage 152. Then, the elevating frame 112 is lowered toward the stage 152 by an elevating drive mechanism (not shown), and the pressing of the substrate 150 to the mounting surface 152P is started. Due to the warpage of the substrate 150, a part of the substrate 150 first comes into contact with the mounting surface 152P, and the other part gradually contacts the mounting surface 152P. As a result, the biasing force of the first coil spring 120 acts greatly, so that the warpage is eliminated in the case of a substrate with low rigidity.

さらに昇降フレーム112を降下させると、ピストン130がロッド116に接触し、第2コイルバネ132の押圧力が徐々にロッド116に作用して、基板150が載置面152Pに押し付けられていく。図9(B)に示す例では、両側の2本のロッド116にはピストン130が接触しているが、中央のロッド116にはピストン130が接触していない状態となっている。ピストン130が接触したロッド116には、第2コイルバネ132の押圧力が作用するので、剛性の高い基板であっても、その反りが解消されていく。   When the elevating frame 112 is further lowered, the piston 130 comes into contact with the rod 116, and the pressing force of the second coil spring 132 gradually acts on the rod 116, so that the substrate 150 is pressed against the mounting surface 152P. In the example shown in FIG. 9B, the piston 130 is in contact with the two rods 116 on both sides, but the piston 130 is not in contact with the central rod 116. Since the pressing force of the second coil spring 132 acts on the rod 116 with which the piston 130 is in contact, even if the substrate is highly rigid, the warpage is eliminated.

図10には、昇降フレーム112の降下量と、基板150に作用する総押圧力の関係が示されている。ここでいう「総押圧力」とは、第1コイルバネ120からの付勢力と、第2コイルバネ132からの押圧力の合力である。このグラフからわかるように、降下量が一定値に満たない状態では、第1コイルバネ120の付勢力のみが作用しているが、降下量が一定値を超えるとピストン130がロッドに接触するため、第2コイルバネ132の押圧力も作用するようになる。したがって、基板150に作用する総押圧力も大きくなり、剛性の高い基板であっても、その反りを解消するのみ十分な押圧力を作用させることができる。   FIG. 10 shows the relationship between the descending amount of the lifting frame 112 and the total pressing force acting on the substrate 150. Here, the “total pressing force” is a resultant force of the urging force from the first coil spring 120 and the pressing force from the second coil spring 132. As can be seen from this graph, only the urging force of the first coil spring 120 is acting in a state where the amount of descent is less than a constant value, but when the amount of descent exceeds a certain value, the piston 130 contacts the rod. The pressing force of the second coil spring 132 also acts. Therefore, the total pressing force acting on the substrate 150 is also increased, and even a highly rigid substrate can exert a sufficient pressing force only to eliminate the warpage.

図9(C)に示すように、全てのピストン130がロッド116に接触して第2コイルバネ132の押圧力が作用した状態で、基板150の全面を載置面152Pに面接触させて反りを完全に解消し、平坦にできる。   As shown in FIG. 9C, in a state where all the pistons 130 are in contact with the rods 116 and the pressing force of the second coil springs 132 is applied, the entire surface of the substrate 150 is brought into surface contact with the mounting surface 152P to warp. It can be completely eliminated and flattened.

このようにして、基板150の反りが解消された状態で、図示しない吸引装置を駆動して、ステージ152の内部を負圧にし、基板150をステージ152の載置面152P上に吸着保持する。   In this way, in a state where the warpage of the substrate 150 is eliminated, a suction device (not shown) is driven to make the inside of the stage 152 have a negative pressure, and the substrate 150 is sucked and held on the mounting surface 152P of the stage 152.

基板150を載置面152Pに吸着したステージ152は、図示しない駆動装置により、ガイド158に沿ってゲート160の上流側から下流側に一定速度で移動される。   The stage 152 that has attracted the substrate 150 to the placement surface 152P is moved at a constant speed from the upstream side to the downstream side of the gate 160 along the guide 158 by a driving device (not shown).

図示しないコントローラは、アライメントマークが検知センサ164の撮像位置に達すると、ストロボを発光させて検知センサ164によりアライメントマークを含む撮像領域を撮像させる。このとき、検知センサ164により得られた撮像情報は画像処理部へ出力され、画像処理部は、撮像情報をアライメントマークの走査方向及び幅方向に沿った位置に対応する位置情報に変換し、この位置情報をコントローラへ出力する。   When the alignment mark reaches the imaging position of the detection sensor 164, a controller (not shown) causes the strobe to emit light and causes the detection sensor 164 to image an imaging area including the alignment mark. At this time, the imaging information obtained by the detection sensor 164 is output to the image processing unit, and the image processing unit converts the imaging information into position information corresponding to the position along the scanning direction and the width direction of the alignment mark. Outputs position information to the controller.

コントローラは、画像処理部からのアライメントマークの位置情報に基づき、1個の描画領域に対応して設けられた複数個のアライメントマークの位置をそれぞれ判断し、これらのアライメントマークの位置から描画領域の走査方向及び幅方向に沿った位置及び描画領域の走査方向に対する傾き量をそれぞれ判断する。   The controller determines the positions of a plurality of alignment marks provided corresponding to one drawing area based on the position information of the alignment marks from the image processing unit, and determines the drawing area from the positions of these alignment marks. The position along the scanning direction and the width direction and the amount of inclination of the drawing area with respect to the scanning direction are determined.

この後、コントローラは、描画領域の走査方向に沿った位置に基づいて描画領域に対する露光開始のタイミングを算出すると共に、描画領域の幅方向に沿った位置及び走査方向に対する傾き量に基づいて描画パターンに対応する画像情報に対する変換処理を実行し、変換処理した画像情報をフレームメモリ内に格納する。ここで、変換処理の内容としては、座標原点を中心として画像情報を回転させる座標変換処理、幅方向に対応する座標軸に沿って画像情報を平行移動させる座標変換処理が含まれる。更に必要に応じて、コントローラは、描画領域の幅方向及び走査方向に沿った伸長量及び縮長量に対応させて画像情報を伸長又は縮長させる変換処理を実行する。   Thereafter, the controller calculates the exposure start timing for the drawing area based on the position along the scanning direction of the drawing area, and draws the drawing pattern based on the position along the width direction of the drawing area and the amount of inclination with respect to the scanning direction. The image information corresponding to the image information is converted, and the converted image information is stored in the frame memory. Here, the contents of the conversion process include a coordinate conversion process for rotating the image information around the coordinate origin, and a coordinate conversion process for translating the image information along the coordinate axis corresponding to the width direction. Further, as necessary, the controller executes a conversion process for expanding or contracting the image information in accordance with the expansion amount and the reduction amount along the width direction and the scanning direction of the drawing area.

そして、コントローラは、描画領域の先端が露光位置に達するタイミングに同期し、露光開始信号をスキャナ制御部へ出力する。これにより、スキャナ制御部は、フレームメモリに記憶された画像情報を複数ライン分ずつ順次読み出し、データ処理部により読み出した画像情報に基づいて各露光ヘッド166毎に制御信号を生成すると共に、ミラー駆動制御部により生成された制御信号に基づいて各露光ヘッド166毎にDMD50のマイクロミラーの各々がオンオフ制御される。   Then, the controller outputs an exposure start signal to the scanner control unit in synchronization with the timing when the leading end of the drawing area reaches the exposure position. Accordingly, the scanner control unit sequentially reads out the image information stored in the frame memory for each of a plurality of lines, generates a control signal for each exposure head 166 based on the image information read out by the data processing unit, and drives the mirror. Based on the control signal generated by the control unit, each of the micromirrors of the DMD 50 is controlled to be turned on / off for each exposure head 166.

ファイバアレイ光源66からDMD50にレーザー光が照射されると、DMD50のマイクロミラーがオン状態のときに反射されたレーザー光は、レンズ系54、58により基板150の被露光面上に結像される。このようにして、ファイバアレイ光源66から出射されたレーザー光が画素毎にオンオフされて、基板150の描画領域がDMD50の使用画素数と略同数の画素単位で露光される。また、基板150がステージ152と共に一定速度で移動されることにより、基板150がスキャナ162によりステージ移動方向と反対の方向に副走査され、各露光ヘッド166毎に帯状の露光済み領域170(図2及び図3(A)参照)が形成される。   When the DMD 50 is irradiated with laser light from the fiber array light source 66, the laser light reflected when the micro mirror of the DMD 50 is in an on state is imaged on the exposed surface of the substrate 150 by the lens systems 54 and 58. . In this way, the laser light emitted from the fiber array light source 66 is turned on and off for each pixel, and the drawing area of the substrate 150 is exposed in units of pixels that are approximately the same number as the number of used pixels of the DMD 50. Further, when the substrate 150 is moved at a constant speed together with the stage 152, the substrate 150 is sub-scanned in the direction opposite to the stage moving direction by the scanner 162, and a strip-shaped exposed region 170 (see FIG. 2) for each exposure head 166. And FIG. 3A) are formed.

以上の説明からわかるように、本実施形態の基板吸着搬送装置106では、基板150の形状に吸盤118の位置を倣わせるための付勢力を発揮する第1コイルバネ120に加えて、この付勢力よりも強い押圧力を発揮する第2コイルバネ132を備えるようにして、ステージ152上で基板150に押圧力を作用させ、反りを確実に解消するようにしている。これに対し、たとえば第1コイルバネ120のみを有する構成では基板を押圧する力(コイルバネの付勢力)が弱いので、ステージ152上で基板150を強く押圧して反りを確実に解消できないおそれがある。また、第2コイルバネ132のみを有する構成では弾性力が強すぎるために、基板150の形状に吸盤118の位置を倣いにくいので、吸盤118の保持力のみで基板150を真っ直ぐに保持せざるを得ない。したがって、基板150の復元力(再度反ろうとする力)に対し吸着力が不足し、吸盤118がはがれやすくなる。本実施形態では、2つのコイルバネを共に有する構成とすることで、上記した不都合が生じないようにしている。   As can be seen from the above description, in the substrate suction transfer device 106 of this embodiment, in addition to the first coil spring 120 that exerts an urging force for causing the shape of the substrate 150 to follow the position of the suction cup 118, this urging force. The second coil spring 132 that exerts a stronger pressing force is provided so that the pressing force is applied to the substrate 150 on the stage 152 to reliably eliminate the warp. On the other hand, for example, in the configuration having only the first coil spring 120, the force that presses the substrate (coil spring biasing force) is weak, and thus there is a possibility that the substrate 150 is strongly pressed on the stage 152 and the warp cannot be reliably eliminated. In addition, since the elastic force is too strong in the configuration having only the second coil spring 132, it is difficult to follow the position of the suction cup 118 in the shape of the board 150, so that the board 150 must be held straight only by the holding force of the suction cup 118. Absent. Therefore, the suction force is insufficient with respect to the restoring force of the substrate 150 (the force to warp again), and the suction cup 118 is easily peeled off. In this embodiment, it is set as the structure which has two coil springs, The above-mentioned inconvenience does not arise.

しかも、ステージ152内に、吸盤118を昇降させる部材等を設ける必要がなく、簡単な構成で済む。   Moreover, it is not necessary to provide a member for moving the suction cup 118 up and down in the stage 152, and a simple configuration is sufficient.

なお、上記説明では、本発明の押圧部材として、第2コイルバネ132を備えたプランジャ124を例にあげたが、押圧部材はこれに限定されず、要するに、第1コイルバネ120(付勢部材)の付勢力よりも強い押圧力で基板150の反りを確実に解消できるものであればよい。   In the above description, the plunger 124 provided with the second coil spring 132 is taken as an example of the pressing member of the present invention. However, the pressing member is not limited to this, and in short, the first coil spring 120 (biasing member). Any substrate can be used as long as it can reliably eliminate the warp of the substrate 150 with a pressing force stronger than the urging force.

図11には、第1実施形態とは異なる押圧部材を備えた本発明の第2実施形態の基板吸着機構136が示されている。第2実施形態の基板吸着機構136を構成する基板吸着搬送装置138では、押圧部材として、ソレノイド140が使用されている。すなわち、ソレノイド140に通電することで、ピストン142を積極的に降下させてロッド116に接触させ、基板150を押圧することができる。なお、これ以外の構成要素、部材などは第1実施形態と同一とされているので、図面に同一符号を付して、その詳細な説明を省略する。   FIG. 11 shows a substrate suction mechanism 136 according to a second embodiment of the present invention that includes a pressing member different from the first embodiment. In the substrate suction conveyance device 138 constituting the substrate suction mechanism 136 of the second embodiment, a solenoid 140 is used as a pressing member. That is, by energizing the solenoid 140, the piston 142 can be positively lowered and brought into contact with the rod 116 to press the substrate 150. In addition, since the other components, members, and the like are the same as those in the first embodiment, the same reference numerals are given to the drawings, and detailed descriptions thereof are omitted.

第2実施形態の基板吸着搬送装置138によって基板150を吸着搬送して、ステージ152の載置面152Pに載置する工程では、第1実施形態と同様に、図示しない搬送駆動部材により、基板吸着機構104全体を収容部材内の基板上に位置させ、同じく図示しない昇降駆動部材により昇降フレーム112を降下させ、基板150に吸盤118を密着させる。この状態では、ソレノイド140に通電せず、ピストン142とロッド116とが離れており、吸盤118のそれぞれは第1コイルバネ120のみによって基板150に向かって付勢されるので、吸盤118のそれぞれの位置が、基板150の形状に容易に倣うため、すべての吸盤118を反った形状の基板150に密着させて、確実に基板150を吸着することができる。(図11(A)参照)
基板150を吸着した状態で、図示しない搬送駆動機構により搬送フレーム108をステージ152上に位置させ、同じく図示しない昇降駆動機構により、昇降フレーム112をステージ152に向かって降下させ、基板150の載置面152Pへの押し付けを開始する。基板150の反りによって、基板150の一部分がまず最初に載置面152Pに接触し、他の部分も徐々に載置面152Pに接触していく(図11(B)参照)。第1実施形態と同様に、第1コイルバネ120の付勢力が大きく作用するようになるので、剛性の低い基板の場合には、反りが解消されていく。
In the process of sucking and transporting the substrate 150 by the substrate suction transporting device 138 of the second embodiment and placing it on the placement surface 152P of the stage 152, the substrate suction is performed by a transport driving member (not shown) as in the first embodiment. The entire mechanism 104 is positioned on the substrate in the housing member, the lifting frame 112 is lowered by a lifting drive member (not shown), and the suction cup 118 is brought into close contact with the substrate 150. In this state, the solenoid 140 is not energized, the piston 142 and the rod 116 are separated from each other, and each of the suction cups 118 is biased toward the substrate 150 only by the first coil spring 120. However, since it easily follows the shape of the substrate 150, all the suction cups 118 can be brought into close contact with the warped substrate 150, and the substrate 150 can be reliably adsorbed. (See FIG. 11 (A))
With the substrate 150 adsorbed, the transport frame 108 is positioned on the stage 152 by a transport drive mechanism (not shown), and the lift frame 112 is lowered toward the stage 152 by the lift drive mechanism (not shown) to place the substrate 150. The pressing to the surface 152P is started. Due to the warp of the substrate 150, a part of the substrate 150 first comes into contact with the placement surface 152P, and the other part gradually comes into contact with the placement surface 152P (see FIG. 11B). As in the first embodiment, the urging force of the first coil spring 120 acts greatly, so that the warpage is eliminated in the case of a substrate with low rigidity.

ここで、第2実施形態では、ソレノイド140に通電し、ピストン142を積極的に降下させる。ピストン142がロッド116に接触し、押圧力が徐々にロッド116に作用して、基板150が載置面152Pに押し付けられていく。   Here, in the second embodiment, the solenoid 140 is energized and the piston 142 is actively lowered. The piston 142 contacts the rod 116, and the pressing force gradually acts on the rod 116, so that the substrate 150 is pressed against the mounting surface 152P.

図11(C)に示すように、全てのピストン142がロッド116に接触して第2コイルバネ132の押圧力が作用した状態で、基板150の全面を載置面152Pに面接触させて反りを完全に解消し、平坦にできる。   As shown in FIG. 11C, in a state where all the pistons 142 are in contact with the rods 116 and the pressing force of the second coil spring 132 is applied, the entire surface of the substrate 150 is brought into surface contact with the mounting surface 152P to warp. It can be completely eliminated and flattened.

なお、上記では、空間光変調素子としてDMDを備えた露光ヘッドについて説明したがこのような反射型空間光変調素子の他に、透過型空間光変調素子(LCD)を使用することもできる。例えば、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)タイプの空間光変調素子(SLM;Spacial Light Modulator)や、電気光学効果により透過光を変調する光学素子(PLZT素子)や液晶光シャッタ(FLC)等の液晶シャッターアレイなど、MEMSタイプ以外の空間光変調素子を用いることも可能である。なお、MEMSとは、IC製造プロセスを基盤としたマイクロマシニング技術によるマイクロサイズのセンサ、アクチュエータ、そして制御回路を集積化した微細システムの総称であり、MEMSタイプの空間光変調素子とは、静電気力を利用した電気機械動作により駆動される空間光変調素子を意味している。さらに、Grating Light Valve(GLV)を複数ならべて二次元状に構成したものを用いることもできる。これらの反射型空間光変調素子(GLV)や透過型空間光変調素子(LCD)を使用する構成では、上記したレーザの他にランプ等も光源として使用可能である。   In the above description, the exposure head including the DMD as the spatial light modulation element has been described. However, in addition to the reflective spatial light modulation element, a transmissive spatial light modulation element (LCD) can also be used. For example, a liquid crystal shutter such as a MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) type spatial light modulator (SLM), an optical element (PLZT element) that modulates transmitted light by an electro-optic effect, or a liquid crystal light shutter (FLC). It is also possible to use a spatial light modulation element other than the MEMS type, such as an array. Note that MEMS is a general term for a micro system that integrates micro-sized sensors, actuators, and control circuits based on a micro-machining technology based on an IC manufacturing process. A MEMS-type spatial light modulator is an electrostatic force. It means a spatial light modulation element driven by an electromechanical operation using Further, a plurality of Grafting Light Valves (GLVs) arranged in a two-dimensional shape can be used. In the configuration using these reflective spatial light modulator (GLV) and transmissive spatial light modulator (LCD), a lamp or the like can be used as a light source in addition to the laser described above.

また、上記の実施の形態では、合波レーザ光源を複数備えたファイバアレイ光源を用いる例について説明したが、レーザ装置は、合波レーザ光源をアレイ化したファイバアレイ光源には限定されない。例えば、1個の発光点を有する単一の半導体レーザから入射されたレーザ光を出射する1本の光ファイバを備えたファイバ光源をアレイ化したファイバアレイ光源を用いることができる。   In the above embodiment, an example using a fiber array light source including a plurality of combined laser light sources has been described. However, the laser device is not limited to a fiber array light source in which combined laser light sources are arrayed. For example, a fiber array light source obtained by arraying fiber light sources including one optical fiber that emits laser light incident from a single semiconductor laser having one light emitting point can be used.

さらに、複数の発光点が二次元状に配列された光源(たとえば、LDアレイ、有機ELアレイ等)を使用することもできる。これらの光源を使用する構成では、発光点のそれぞれが画素に対応するようにすることで、上記した空間変調措置を省略することも可能となる。   Furthermore, a light source (for example, an LD array, an organic EL array, etc.) in which a plurality of light emitting points are arranged two-dimensionally can also be used. In the configuration using these light sources, the spatial modulation measures described above can be omitted by making each of the light emitting points correspond to a pixel.

上記の実施形態では、図12に示すように、スキャナ162によるX方向への1回の走査で基板150の全面を露光する例について説明したが、図13(A)及び(B)に示すように、スキャナ162により基板150をX方向へ走査した後、スキャナ162をY方向に1ステップ移動し、X方向へ走査を行うというように、走査と移動を繰り返して、複数回の走査で基板150の全面を露光するようにしてもよい。   In the above embodiment, as shown in FIG. 12, the example in which the entire surface of the substrate 150 is exposed by one scan in the X direction by the scanner 162 has been described. However, as shown in FIGS. In addition, after the substrate 162 is scanned in the X direction by the scanner 162, the scanner 162 is moved one step in the Y direction and scanned in the X direction. Alternatively, the entire surface may be exposed.

また、上記の実施形態では、いわゆるフラッドベッドタイプの画像記録装置を例に挙げたが、本発明の画像記録装置としては、感光材料が巻きつけられるドラムを有する、いわゆるアウタードラムタイプの画像記録装置であってもよい。   In the above embodiment, a so-called flood bed type image recording apparatus has been described as an example. However, as the image recording apparatus of the present invention, a so-called outer drum type image recording apparatus having a drum around which a photosensitive material is wound. It may be.

上記の画像記録装置は、例えば、プリント配線基板(PWB;Printed Wiring Board)の製造工程におけるドライ・フィルム・レジスト(DFR;Dry Film Resist)の露光、液晶表示装置(LCD)の製造工程におけるカラーフィルタの形成、TFTの製造工程におけるDFRの露光、プラズマ・ディスプレイ・パネル(PDP)の製造工程におけるDFRの露光等の用途に好適に用いることができる。   The image recording apparatus includes, for example, exposure of a dry film resist (DFR) in a manufacturing process of a printed wiring board (PWB) and a color filter in a manufacturing process of a liquid crystal display (LCD). Can be suitably used for applications such as formation of DFT, exposure of DFR in a TFT manufacturing process, and exposure of DFR in a plasma display panel (PDP) manufacturing process.

また、上記の画像記録装置には、露光により直接情報が記録されるフォトンモード感光材料、露光により発生した熱で情報が記録されるヒートモード感光材料の何れも使用することができる。フォトンモード感光材料を使用する場合、レーザ装置にはGaN系半導体レーザ、波長変換固体レーザ等が使用され、ヒートモード感光材料を使用する場合、レーザ装置にはAlGaAs系半導体レーザ(赤外レーザ)、固体レーザが使用される。   The image recording apparatus can use either a photon mode photosensitive material in which information is directly recorded by exposure or a heat mode photosensitive material in which information is recorded by heat generated by exposure. When using a photon mode photosensitive material, a GaN-based semiconductor laser, a wavelength conversion solid-state laser, or the like is used for the laser device. When using a heat mode photosensitive material, an AlGaAs-based semiconductor laser (infrared laser), A solid state laser is used.

本発明の第1実施形態の画像記録装置の外観を示す斜視図である。1 is a perspective view illustrating an appearance of an image recording apparatus according to a first embodiment of the present invention. 本発明の第1実施形態の画像記録装置のスキャナの構成を示す斜視図である。1 is a perspective view illustrating a configuration of a scanner of an image recording apparatus according to a first embodiment of the present invention. (A)は感光材料に形成される露光済み領域を示す平面図であり、(B)は各露光ヘッドによる露光エリアの配列を示す図である。(A) is a top view which shows the exposed area | region formed in a photosensitive material, (B) is a figure which shows the arrangement | sequence of the exposure area by each exposure head. 本発明の第1実施形態の露光ヘッドの概略構成を示す斜視図である。1 is a perspective view showing a schematic configuration of an exposure head according to a first embodiment of the present invention. (A)は図4に示す露光ヘッドの構成を示す光軸に沿った副走査方向の断面図であり、(B)は(A)の側面図である。(A) is sectional drawing of the subscanning direction along the optical axis which shows the structure of the exposure head shown in FIG. 4, (B) is a side view of (A). 本発明の第1実施形態の露光ヘッドに係るデジタルマイクロミラーデバイス(DMD)の構成を示す部分拡大図である。It is the elements on larger scale showing the composition of the digital micromirror device (DMD) concerning the exposure head of a 1st embodiment of the present invention. (A)及び(B)は本発明の第1実施形態の露光ヘッドに係るDMDの動作を説明するための説明図である。(A) And (B) is explanatory drawing for demonstrating operation | movement of DMD which concerns on the exposure head of 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1実施形態の基板吸着機構を一部破談して示す正面図である。It is a front view which shows a part of the board | substrate adsorption | suction mechanism of 1st Embodiment of this invention, and is shown broken. 本発明の第1実施形態の基板吸着機構の動作を(A)〜(C)へと順に示す説明図である。It is explanatory drawing which shows operation | movement of the board | substrate adsorption | suction mechanism of 1st Embodiment of this invention to (A)-(C) in order. 本発明の第1実施形態の基板吸着機構における昇降フレームの降下量と相応圧力との関係を定性的に示すグラフである。It is a graph which shows qualitatively the relationship between the fall amount of the raising / lowering frame in the board | substrate adsorption | suction mechanism of 1st Embodiment of this invention, and a corresponding pressure. 本発明の第2実施形態の基板吸着機構の動作を(A)〜(C)へと順に示す説明図である。It is explanatory drawing which shows operation | movement of the board | substrate adsorption | suction mechanism of 2nd Embodiment of this invention to (A)-(C) in order. スキャナによる1回の走査で感光材料を露光する露光方式を説明するための平面図である。It is a top view for demonstrating the exposure system which exposes a photosensitive material by one scan by a scanner. (A)及び(B)はスキャナによる複数回の走査で感光材料を露光する露光方式を説明するための平面図である。(A) And (B) is a top view for demonstrating the exposure system which exposes a photosensitive material by the multiple times of scanning by a scanner.

符号の説明Explanation of symbols

LD1〜LD7 GaN系半導体レーザ
102 画像記録装置
104 基板吸着機構(感光性板状部材吸着機構)
106 基板吸着搬送装置
116 ロッド
118 吸盤(吸着パッド)
120 第1コイルバネ(第1弾性部材、付勢部材)
132 第2コイルバネ(第2弾性部材、押圧部材)
140 ソレノイド(押圧部材)
150 基板(感光性板状部材)
152 ステージ
152P 載置面
166 露光ヘッド
172 吸着孔
176 巻き付けロール
178 可撓性フィルム
182 モータ(巻き出し装置)
188 ワイヤ(巻き出し装置)
204 基板吸着機構(感光性板状部材吸着機構)
204 支持部材
206 ヒンジ
LD1 to LD7 GaN-based semiconductor laser 102 Image recording device 104 Substrate adsorption mechanism (photosensitive plate member adsorption mechanism)
106 Substrate suction transfer device 116 Rod 118 Suction cup (Suction pad)
120 1st coil spring (1st elastic member, biasing member)
132 Second coil spring (second elastic member, pressing member)
140 Solenoid (pressing member)
150 substrate (photosensitive plate member)
152 Stage 152P Mounting surface 166 Exposure head 172 Suction hole 176 Winding roll 178 Flexible film 182 Motor (unwinding device)
188 wire (unwinding device)
204 Substrate adsorption mechanism (photosensitive plate member adsorption mechanism)
204 Support member 206 Hinge

Claims (5)

載置面上に感光性板状部材を載置可能なステージと、
載置面に載置された感光性板状部材を挟んで載置面と反対側から進退可能とされ、感光性板状部材を吸着可能な複数の吸着パッドと、
前記吸着パッドのそれぞれを感光性板状部材に向かって付勢する付勢部材と、
前記載置面上の感光性板状部材に対し前記付勢部材の付勢力よりも強い押圧力で吸着パッドを押圧可能な押圧部材と、
を有することを特徴とする感光性板状部材吸着機構。
A stage on which a photosensitive plate-like member can be placed on the placement surface;
A plurality of suction pads capable of advancing and retreating from the opposite side of the placement surface across the photosensitive plate-like member placed on the placement surface, and capable of sucking the photosensitive plate-like member;
A biasing member that biases each of the suction pads toward the photosensitive plate member;
A pressing member capable of pressing the suction pad with a pressing force stronger than the urging force of the urging member against the photosensitive plate-like member on the placement surface;
A photosensitive plate-like member suction mechanism comprising:
前記付勢部材が、前記吸着パッドのそれぞれを弾性的に付勢する第1弾性部材、
を含んで構成されていることを特徴とする請求項1に記載の感光性板状部材吸着機構。
A first elastic member for elastically urging each of the suction pads;
The photosensitive plate member adsorbing mechanism according to claim 1, comprising:
前記押圧部材が、前記吸着パッドをそれぞれ弾性的に押圧する第2弾性部材、
を含んで構成されていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の感光性板状部材吸着機構。
A second elastic member for elastically pressing the suction pads, respectively,
The photosensitive plate-like member suction mechanism according to claim 1, wherein the photosensitive plate-like member suction mechanism is included.
請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載の感光性板状部材吸着機構と、
前記載置面上に載置された感光性板状部材に画像を記録する画像記録手段と、
を有することを特徴とする画像記録装置。
The photosensitive plate-like member adsorption mechanism according to any one of claims 1 to 3,
Image recording means for recording an image on the photosensitive plate-like member placed on the placement surface;
An image recording apparatus comprising:
前記画像記録手段が、レーザー光を感光性板状部材に照射して画像記録を行うレーザー記録手段、
とされていることを特徴とする請求項4に記載の画像記録装置。
Laser recording means for performing image recording by irradiating a photosensitive plate member with the laser beam,
The image recording apparatus according to claim 4, wherein:
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008018347A (en) * 2006-07-13 2008-01-31 Seiko Epson Corp Alignment method, drawing method, alignment mechanism, and drawing device
JP2008083478A (en) * 2006-09-28 2008-04-10 Fujifilm Corp Exposure system and method for conveying work piece
JP2009058630A (en) * 2007-08-30 2009-03-19 Ulvac Japan Ltd Photoirradiation device
JP2012512430A (en) * 2008-12-17 2012-05-31 上海芸影数碼科技有限公司 Apparatus for mounting diffraction gratings and photosensitive materials for stereographic imaging
CN104058278A (en) * 2013-03-22 2014-09-24 大日本网屏制造株式会社 Transmission method of plate-like conveyed object, transmission device, and pattern forming device
US8870051B2 (en) * 2012-05-03 2014-10-28 International Business Machines Corporation Flip chip assembly apparatus employing a warpage-suppressor assembly
CN104749902A (en) * 2013-12-31 2015-07-01 上海微电子装备有限公司 Mask plate face type shaping device

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008018347A (en) * 2006-07-13 2008-01-31 Seiko Epson Corp Alignment method, drawing method, alignment mechanism, and drawing device
JP2008083478A (en) * 2006-09-28 2008-04-10 Fujifilm Corp Exposure system and method for conveying work piece
JP2009058630A (en) * 2007-08-30 2009-03-19 Ulvac Japan Ltd Photoirradiation device
JP2012512430A (en) * 2008-12-17 2012-05-31 上海芸影数碼科技有限公司 Apparatus for mounting diffraction gratings and photosensitive materials for stereographic imaging
US8870051B2 (en) * 2012-05-03 2014-10-28 International Business Machines Corporation Flip chip assembly apparatus employing a warpage-suppressor assembly
US8978960B2 (en) 2012-05-03 2015-03-17 International Business Machines Corporation Flip chip assembly apparatus employing a warpage-suppressor assembly
CN104058278A (en) * 2013-03-22 2014-09-24 大日本网屏制造株式会社 Transmission method of plate-like conveyed object, transmission device, and pattern forming device
CN104058278B (en) * 2013-03-22 2016-09-21 斯克林集团公司 Tabular is by the transfer approach of transport object, transporter and patterning device
CN104749902A (en) * 2013-12-31 2015-07-01 上海微电子装备有限公司 Mask plate face type shaping device

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