JP2005230437A - ディジタルx線透視撮影装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】この発明は、2次元X線検出器(例えばイメージインテンシファィアとCCDカメラ。フラットパネルディテクターFPD)での構造ノイズの除去をはかることを目的とする。
【解決手段】この発明は、実際の計測と同様にして、被検体の代わりに、アクリル板2をX線源1と2次元X線検出器との間に挿入して構造ノイズ用データを取得する。この取得は事前に行う。この構造ノイズ用データからカンタムノイズを除去して一次元構造ノイズデータを得、次にこれを二次元構造ノイズデータに展開し、メモリTに格納する。
一方、被検体を挿入して実計測を行い、実画像データを得、メモリTの各画素毎のノイズデータとの差分を画素毎にとる。
【選択図】図1
【解決手段】この発明は、実際の計測と同様にして、被検体の代わりに、アクリル板2をX線源1と2次元X線検出器との間に挿入して構造ノイズ用データを取得する。この取得は事前に行う。この構造ノイズ用データからカンタムノイズを除去して一次元構造ノイズデータを得、次にこれを二次元構造ノイズデータに展開し、メモリTに格納する。
一方、被検体を挿入して実計測を行い、実画像データを得、メモリTの各画素毎のノイズデータとの差分を画素毎にとる。
【選択図】図1
Description
本発明は、ディジタル式X線透視検査装置、特にCCDカメラ等の二次元ディジタル半導体カメラやフラットパネルディテクタ(FPD)を使ったディジタル式X線透視検査装置に関する。
X線透視検査装置は、写真フィルムに代わってイメージセンサ等による電子的な画像データの取得へ変わりつつある。イメージセンサには、構造ノイズと呼ばれるデバイス固有のノイズが存在し、その低減が必要である。
構造ノイズの低減の従来例には、特許文献1がある。特許文献1は、被検体と同等の均一なX線吸収体(ファントム)を複数個(例えば3個)用意しておき、それぞれにX線を照射して画像をイメージセンサ(工業TVカメラ)を通じて取得し、被検体の画像からそれぞれ差し引き、最もよいものを最終画像として得るとしたものである(第1のやり方)。
更に特許文献2は、第1のやり方で採用した均一なX線吸収体の代わりに、被検体を動かしてX線を照射し続け、被検体のぼけた画像を作成し、構造ノイズだけを抽出して差し引くやり方を開示する(第2のやり方)。
特開平6−233193号公報
構造ノイズの低減の従来例には、特許文献1がある。特許文献1は、被検体と同等の均一なX線吸収体(ファントム)を複数個(例えば3個)用意しておき、それぞれにX線を照射して画像をイメージセンサ(工業TVカメラ)を通じて取得し、被検体の画像からそれぞれ差し引き、最もよいものを最終画像として得るとしたものである(第1のやり方)。
更に特許文献2は、第1のやり方で採用した均一なX線吸収体の代わりに、被検体を動かしてX線を照射し続け、被検体のぼけた画像を作成し、構造ノイズだけを抽出して差し引くやり方を開示する(第2のやり方)。
特許文献1の第1のやり方は、被検体と同等の吸収体を用意することが現実的に不可能である点、更にその吸収体を撮影しなければならないとする余分な時間を必要とする点、で問題を持つ。
特許文献1の第2のやり方は、被検体の無効な被曝の増加の点、被検体の拘束時間の増加の点で問題を持つ。
特許文献1の第2のやり方は、被検体の無効な被曝の増加の点、被検体の拘束時間の増加の点で問題を持つ。
本発明の目的は、リアルタイムで且つ構造ノイズの大幅な低減を可能にするディジタル式X線透視検査装置を提供するものである。
本発明は、X線源と2次元X線検出器とより成るX線透視検査装置において、
縦方向又は横方向ノイズ補正用メモリと、減算手段とを有し、この補正用メモリには、X線源と2次元X線検出器との間に均一なファントムを挿入して複数回のX線照射により得た複数個の画像データの平均値から求めた二次元の縦方向又は横方向構造ノイズデータを、格納させておくものとし、被検体をX線源と2次元X線検出器との間に挿入しての実測計測時の実画像データの各画素ノイズデータと、上記補正用メモリの対応する画素ノイズデータとの差分を上記減算手段で得て透視画像データを得るものとしたX線透視検査装置を開示する。
縦方向又は横方向ノイズ補正用メモリと、減算手段とを有し、この補正用メモリには、X線源と2次元X線検出器との間に均一なファントムを挿入して複数回のX線照射により得た複数個の画像データの平均値から求めた二次元の縦方向又は横方向構造ノイズデータを、格納させておくものとし、被検体をX線源と2次元X線検出器との間に挿入しての実測計測時の実画像データの各画素ノイズデータと、上記補正用メモリの対応する画素ノイズデータとの差分を上記減算手段で得て透視画像データを得るものとしたX線透視検査装置を開示する。
更に本発明は、二次元の縦方向又は横方向構造ノイズデータは、複数個のファントム画像データの平均値を縦方向又は横方向にデータ投影して得た一次元ノイズデータを二次元ノイズデータとして展開したものとする。
更に本発明は、補正画像メモリのノイズデータ及び減算対象の実画像データは、対数変換後のデータとし、減算後のデータは対数逆変換するものとする。
本発明のディジタル式X線透視検査装置によれば、イメージセンサとしての2次元X線検出器の構造ノイズをリアルタイムで大幅に低減でき、画質の向上をはかれる。
本発明の基本的な考え方は、事前に構造ノイズをデータとして取得してメモリに格納しておき、実測時に実画像データから差し引くものとした点にある。更に、かかる構造ノイズデータの取得の仕方に工夫をこらしている。
図1は、事前に構造ノイズを得るときの計測例を示す。以下2次元X線検出器としてIIを用いた場合について例を示す。X線管1とII(イメージインテンシファイア)3とは実際のX線透視検査装置固有のものであり、被検体計測に使うものである。
II3は、X線を入射して可視光に変換するものであり、その出力側にTVカメラ4として設置しているものが半導体例えば二次元CCDカメラである。CCDカメラ4は、II4の出力光が低レベルであることからカメラ固有の構造ノイズをその画像出力に含む。
図1は、事前に構造ノイズを得るときの計測例を示す。以下2次元X線検出器としてIIを用いた場合について例を示す。X線管1とII(イメージインテンシファイア)3とは実際のX線透視検査装置固有のものであり、被検体計測に使うものである。
II3は、X線を入射して可視光に変換するものであり、その出力側にTVカメラ4として設置しているものが半導体例えば二次元CCDカメラである。CCDカメラ4は、II4の出力光が低レベルであることからカメラ固有の構造ノイズをその画像出力に含む。
カメラ4の構造ノイズのためのデータを得るために挿入したのが、均等な構造のファントムとしてのアクリル板2である。アクリル板2は、比較的人体に近い吸収係数を持っており、II3のX線全感応領域相当のサイズを充分に含む大きさであり、これによりカメラ4の全感応領域について構造ノイズデータの取得を可能にする。従って、図では矩形としたが、人体に近い円形や楕円形状の例もある。
このように、アクリル板2を被検体の代わりに実測位置に設置しておき、その撮影をn回繰り返す。かくしてn個の画像G1〜Gnを得る。その例を図2に示す。次に、n個の画像GI〜Gnの全画素について、画素毎に総加算して、その総加算値を数値nで除す。これは平均化処理であるが、これによりカンタムノイズと称するノイズ除去をはかる。
このように、アクリル板2を被検体の代わりに実測位置に設置しておき、その撮影をn回繰り返す。かくしてn個の画像G1〜Gnを得る。その例を図2に示す。次に、n個の画像GI〜Gnの全画素について、画素毎に総加算して、その総加算値を数値nで除す。これは平均化処理であるが、これによりカンタムノイズと称するノイズ除去をはかる。
図3は、メモリに格納した上記カンタムノイズ除去後の結果を示す。1画像サイズ(i×j)の画像データRが図2による処理の結果、得られた様子を示す。画像データRは、構造ノイズを含んでおり、例えば縦方向構造ノイズを含む。縦方向構造ノイズを、1行分の大きさのサイズを持つレジスタSにデータ投影する。ここで投影するとは、各列分のデータを総加算することであり、例えばある列(例えば例)のデータP1、P2、…Piに関して、(P1+P2+…Pi)なる加算を行って、レジスタSの6列目にラッチする。これを全列分行う。かくして、レジスタSには、アクリル板2を利用しての縦方向の構造ノイズのプロファイルデータを得る。
図4は、プロファイルデータから、実際の構造ノイズデータを得る処理手順例を示す。(イ)で、レジスタSのプロファイルデータAをスムージングして(ロ)のスムージングデータBを得、(ハ)で(イ)と(ロ)で得たデータAとBとの差分(B−A)をとる。これによって、1次元縦方向構造ノイズNを得る。
図5は、レジスタSに得た1次元縦方向構造ノイズをノイズ用2次元メモリT上に二次元構造ノイズデータとして展開する。展開法は、そのままの二次元に配置するやり方を採用する。即ち、ノイズ用二次元メモリTの第1列分の画素(1、1)、(2、1)、…(i、1)へはS1をそのまま入れ、第5列分の画素(1、5)、(2、5)、…(i、5)へはS5をそのまま入れる。他の列も同様とする。
他の展開例には、レジスタSに得た一次元縦方向構造ノイズを、図2のカンタムノイズ除去データの各画素データの大きさに応じて配分するやり方がある。例えばP1に対しては、S5をP1×S5とするとか、それに更に正規化のための係数kを乗算(P1×S1×k)するとかのやり方をとる。
他の展開例には、レジスタSに得た一次元縦方向構造ノイズを、図2のカンタムノイズ除去データの各画素データの大きさに応じて配分するやり方がある。例えばP1に対しては、S5をP1×S5とするとか、それに更に正規化のための係数kを乗算(P1×S1×k)するとかのやり方をとる。
図5のノイズ用2次元メモリTは、システム構築時に得ておくものとする。そして被検体実測時には、同様のサイズ(i×j)の実測画像データをCCDカメラ4で得て、これに、ノイズ用2次元メモリTの各画素単位に差分をとる。
以上の実施の形態によれば、縦方向構造ノイズの除去をリアルタイムで行える。然も、ノイズ用2次元メモリTに格納したノイズデータは、カンタムノイズ除去と、プロファイルデータからスムージング処理結果を差し引いての正確な構造ノイズ抽出と、を行っていることから、ノイズ除去が正確に行え、画質の向上をはかれた。
図6は、構造ノイズ除去を行う他の処理例を示す。この処理例は、対数変換して吸収係数レベル(又は対数の指数レベル)でノイズ除去をはかった。
図6で、メモリ8が縦方向構造ノイズメモリTに相当し、事前に求めたノイズデータを設定してある。但し、メモリTのデータそのものでなく、対数値に補正した値である。これは指数レベルでノイズ除去をはかるためである。テーブルメモリ6はデータ5に示す如き対数関数に従って得られたテーブル、テーブル10は、データ11に示す対数逆変換の関数に従って得られたテーブルである。かかる関数データ5、11も事前に用意してある。
図6で、メモリ8が縦方向構造ノイズメモリTに相当し、事前に求めたノイズデータを設定してある。但し、メモリTのデータそのものでなく、対数値に補正した値である。これは指数レベルでノイズ除去をはかるためである。テーブルメモリ6はデータ5に示す如き対数関数に従って得られたテーブル、テーブル10は、データ11に示す対数逆変換の関数に従って得られたテーブルである。かかる関数データ5、11も事前に用意してある。
次に動作を説明する。
実際の被検体100を挿入しての実画像がカメラ4に得られる。この実画像は、縦方向構造ノイズを含む。次に、カメラ4の画像データをデータ5に従って画素単位に対数変換する。この変換結果をテーブルメモリ6に格納する。減算器9でメモリ9と8とのデータの画素単位の差分をとり、データ11を利用して逆変換した後でテーブルメモリ10へラッチする。メモリ8のアクセスはアドレスカウンタ7によって画素位置を更新して行う。かくして、メモリ12に示す如き、ノイズ除去後の透視画像データを得る。
本実施例形態では2次元X線検出器にイメージインテンシファィアとCCDカメラで説明したがこれに代えてFPDであってもよい。
実際の被検体100を挿入しての実画像がカメラ4に得られる。この実画像は、縦方向構造ノイズを含む。次に、カメラ4の画像データをデータ5に従って画素単位に対数変換する。この変換結果をテーブルメモリ6に格納する。減算器9でメモリ9と8とのデータの画素単位の差分をとり、データ11を利用して逆変換した後でテーブルメモリ10へラッチする。メモリ8のアクセスはアドレスカウンタ7によって画素位置を更新して行う。かくして、メモリ12に示す如き、ノイズ除去後の透視画像データを得る。
本実施例形態では2次元X線検出器にイメージインテンシファィアとCCDカメラで説明したがこれに代えてFPDであってもよい。
本発明は、X線透視撮影しての検査装置として利用する。
1 X線管
2 アクリル板
3 II
4 カメラ
2 アクリル板
3 II
4 カメラ
Claims (3)
- X線源と2次元X線検出器とより成るX線透視検査装置において、
縦方向又は横方向ノイズ補正用メモリと、減算手段とを有し、この補正用メモリには、X線源と2次元X線検出器との間に均一質のファントムを挿入して複数回のX線照射により得た複数個の画像データの平均値から求めた二次元の縦方向又は横方向構造ノイズデータを、格納させておくものとし、被検体をX線源と2次元X線検出器との間に挿入しての実測計測時の実画像データの各画素ノイズデータと、上記補正用メモリの対応する画素ノイズデータとの差分を上記減算手段で得て透視および又は撮影画像データを得るものとしたX線透視検査装置。 - 上記二次元の縦方向又は横方向構造ノイズデータは、均一質のファントムを撮影して得られた複数個の画像データの平均値を縦方向又は横方向にデータ投影して得た一次元ノイズデータを二次元ノイズデータとして展開したものとする請求項1のX線透視検査装置。
- 上記補正画像メモリのノイズデータ及び減算対象の実画像データは、対数変換後のデータとし、減算後のデータは対数逆変換するものとする請求項1のX線透視検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004046428A JP2005230437A (ja) | 2004-02-23 | 2004-02-23 | ディジタルx線透視撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004046428A JP2005230437A (ja) | 2004-02-23 | 2004-02-23 | ディジタルx線透視撮影装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP2005230437A true JP2005230437A (ja) | 2005-09-02 |
Family
ID=35013972
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2004046428A Pending JP2005230437A (ja) | 2004-02-23 | 2004-02-23 | ディジタルx線透視撮影装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2005230437A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101282984B1 (ko) * | 2011-04-20 | 2013-07-05 | 에스케이이노베이션 주식회사 | X-ray 보정용 기준 시편 및 이를 이용한 해상도 보정 방법 |
JP2017035204A (ja) * | 2015-08-07 | 2017-02-16 | 株式会社島津製作所 | 画像処理方法およびx線透視撮影装置 |
JP2019103564A (ja) * | 2017-12-11 | 2019-06-27 | 株式会社島津製作所 | X線透視撮影装置 |
-
2004
- 2004-02-23 JP JP2004046428A patent/JP2005230437A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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