JP2005229548A - 発振回路、発振周波数制御装置、および、pll装置 - Google Patents

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和規 田辺
Katsuhiro Tajiri
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Abstract

【課題】 広帯域に渡って常に安定した発振を行うこと。小型化したPLL周波数シンセサイザを作成すること。
【解決手段】 発振回路100から出力される発振周波数のずれに応じて、第1のスイッチを構成する複数の固定キャパシタ121に入力される制御信号Soと、第2のスイッチを構成する複数の可変キャパシタ131に入力される入力信号Vcpとを制御し、固定キャパシタ121,可変キャパシタ131の容量値を変え、第2のスイッチの可変キャパシタ131の全容量値に対する第1のスイッチの固定キャパシタ121の全容量値の比率を変化させ、第2のスイッチに入力される所定の発振周波数からなる入力信号(Vcp)に対する変化量(Kvco)を一定とした。
【選択図】 図1

Description

本発明は、例えば、通信装置における2つの周波数を合成する周波数合成回路の分野において適用可能な、発振回路、発振周波数制御装置、および、PLL装置に関する。
図6は、従来の通信機器に備えられたPLL周波数シンセサイザ10の構成例を示す(例えば、特許文献1参照)。
PLL周波数シンセサイザ10は、基準周波数発生装置1と、分周器2と、位相検出器(PD)3と、チャージポンプ回路(CP)4と、ループフィルタ(LPF)5と、発振回路(VCO)6と、分周器7とから構成されている。
図7は、ループフィルタ(LPF)5の構成を示す。
ループフィルタ(LPF)5は、抵抗R2,R3と、固定容量のキャパシタC11,C13と、キャパシタC12とから構成されている。この発振回路(VCO)6は、通信機で要求される所定の周波数範囲で発振をする構成となっている。
図8は、従来の発振回路6の構成例を示す。
発振回路6は、差動対のトランジスタ20と、可変キャパシタ30と、固定キャパシタ40とからなる。
差動対のトランジスタ20は、2個のバイポーラ型のトランジスタQ1,Q2と、トランジスタQ1,Q2の一方の出力側のコレクタと他方のベースとの間に接続された固定容量のキャパシタC3,C4とからなる。可変キャパシタ30は、入力信号である可変制御された電圧Vcpにより容量が変化する可変キャパシタC(Vcp)と、固定容量をもつキャパシタC1,C2とからなる。固定キャパシタ40は、インダクタL1,L2と、固定容量をもつキャパシタCchからなる。
特開2000−118462号公報
従来の発振回路6の動作について説明する。
図9は、電圧Vcpに対する可変キャパシタC(Vcp)の容量値の変化を示す特性図を示す。
可変キャパシタC(Vcp)の容量値は、図6に示した入力信号である可変制御された電圧Vcpによって変化する。
発振回路6から出力される出力信号VCOoutの発振周波数fvcoは(1)式のように表される。これにより、電圧Vcpを制御することにより、発振周波数fvcoを制御することができる。
Figure 2005229548
(1)式では、可変キャパシタC(Vcp)をDCカットしているキャパシタC1,C2は、可変キャパシタC(Vcp)に比べて十分大きな値にしているため、無視している。
ここで、広範囲なfvcoを実現する場合、入力信号である可変制御された電圧Vcpに対する共振周波数の変化量を表すKvcoを大きくしていた。
ここで、Kvcoは、(2)式の値となる。
Figure 2005229548
しかし、広範囲なfvcoを実現する場合、Kvcoを大きくする必要があるが、Kvcoは可変キャパシタC(Vcp)の特性に依存するという問題がある。その結果、広帯域に渡って常に安定した発振を行うことができない、という問題がある。
また、図6で示したループフィルタ(LPF)5は、図7のような構成となっており、Kvcoを大きくする場合、発振回路6の位相雑音や比較周波数のスプリアスを抑圧するために、ループフィルタ(LPF)5の容量値が数nFのオーダーとなる。このため、キャパシタC11,C12,C13の容量が大きくなるため、1チップ上にキャパシタC11,C12,C13を一体にして組み込むのには、物理的な設計上での制約がある。
このような設計上の制約により、図6のICチップ化されたPLL構成において、ループフィルタ(LPF)5や発振回路6がチップ内に含まれずに外付けとなり、PLL周波数シンセサイザを構成する回路基板の全体の面積が大きくなるという問題がある。
そこで、本発明の目的は、広帯域に渡って常に安定した発振を行うことが可能な、発振回路、および、発振周波数制御装置を提供することにある。
また、本発明の他の目的は、PLL回路内にループフィルタを内蔵することにより、小型化したPLL周波数シンセサイザを構成することが可能な、PLL装置を提供することにある。
本発明は、タンク回路と、差動対のトランジスタとを有し、該差動対を構成する各トランジスタの出力端子が前記タンク回路の両端の接続端子に接続され、かつ、該差動対の一方のトランジスタの出力端子が他方のトランジスタの制御端子へ、キャパシタを介して若しくは直接接続された発振回路であって、前記タンク回路は、複数の固定キャパシタからなる第1のスイッチと、複数の可変キャパシタからなる第2のスイッチと、インダクタとからなり、前記第1のスイッチを構成する各固定キャパシタは、制御信号が入力されるMOSスイッチと、固定容量のキャパシタとからなり、かつ、該制御信号により該第1のスイッチの接続数を切替えて容量値を変え、前記第2のスイッチを構成する各可変キャパシタは、所定の発振周波数の入力信号により容量が連続的に変化する可変キャパシタと、一定容量の可変キャパシタとが並列接続された回路と、該回路と前記差動対の各トランジスタの出力端子との間に接続された固定容量のキャパシタとからなり、かつ、該入力信号により該第2のスイッチの容量値を変えることによって、発振回路を構成する。
前記差動対は、バイポーラトランジスタ、又は、MOSトランジスタにより構成してもよい。
本発明は、PLL装置を構成する発振回路の発振周波数を切替える発振周波数制御装置であって、前記発振回路が請求項1又は2記載の発振回路により構成された場合において、前記発振回路の前記第2のスイッチに入力される前記所定の発振周波数からなる入力信号(Vcp)に対する変化量(Kvco)が一定となるように、該発振回路内の前記第2のスイッチを構成する複数の可変キャパシタと前記第1のスイッチを構成する前記複数の固定キャパシタとの比率を調節する調整手段を具えることによって、発振周波数制御装置を構成する。
前記調整手段は、前記発振回路が出力する発振周波数を測定する測定手段と、所定の基準周波数に対する前記測定された発振周波数のずれ量を算出する算出手段と、前記ずれ量に応じて、前記発振回路の前記第1のスイッチを構成する前記複数の固定キャパシタに入力される制御信号と、前記第2のスイッチを構成する前記複数の可変キャパシタに入力される入力信号とを制御することにより、前記複数の固定キャパシタおよび前記複数の固定キャパシタの容量値を変える切替え手段とを含み、前記複数の固定キャパシタに入力される制御信号と、前記第2のスイッチを構成する前記複数の可変キャパシタに入力される入力信号との制御により、前記第2のスイッチを構成する前記複数の可変キャパシタの全容量値に対する、前記第1のスイッチを構成する前記複数の固定キャパシタの全容量値の比率を変化させて、前記発振回路の前記第2のスイッチに入力される前記所定の発振周波数からなる入力信号(Vcp)に対する変化量(Kvco)が一定となるようにしてもよい。
本発明は、少なくとも、位相検出器と、ループフィルタと、所定の発振周波数を出力する発振回路とを有するPLL装置であって、上記発振回路と、上記発振周波数制御装置に対して、前記発振回路の入出力端子が接続されるように切替える接続切替手段とを具えることによって、PLL装置を構成する。
前記ループフィルタは、抵抗と、2個の固定容量のキャパシタとからなり、かつ、可変容量のキャパシタを含まない構成としてもよい。
前記ループフィルタは、前記位相検出器および前記発振回路と共に、同一のウェハー面に埋め込んで構成してもよい。
本発明によれば、発振回路から出力される発振周波数のずれ量を算出し、ずれ量に応じて、発振回路の第1のスイッチを構成する複数の固定キャパシタに入力される制御信号と、第2のスイッチを構成する複数の可変キャパシタに入力される入力信号とを制御して、複数の固定キャパシタおよび複数の固定キャパシタの容量値を変え、第2のスイッチを構成する複数の可変キャパシタの全容量値に対する第1のスイッチを構成する複数の固定キャパシタの全容量値の比率を変化させ、発振回路の第2のスイッチに入力される所定の発振周波数からなる入力信号(Vcp)に対する変化量(Kvco)が一定となるようにしたので、広帯域に渡り常に安定した発振を行うことが可能な発振回路を作成することができる。
また、本発明によれば、変化量(Kvco)を小さくすることで、ループフィルタを構成するキャパシタを小さくでき、PLL装置内にループフィルタを内蔵することが可能となり、小型化したPLL周波数シンセサイザを作成することができる。
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態を詳細に説明する。
[第1の例]
本発明の第1の実施の形態を、図1〜図3に基づいて説明する。
(発振回路の構成)
図1は、本発明に係る発振回路100の構成を示す。なお、前述した図8の発振回路6の構成と同一部分については、その説明を省略し、同一符号を付す。
発振回路(VCO:Voltage Controlled Oscillator)100は、差動対のトランジスタ20と、タンク回路110とから構成される。差動対のトランジスタ20は、バイポーラトランジスタとして構成するが、MOSトランジスタを用いて構成してもよい。
タンク回路110は、第1のスイッチ120と、第2のスイッチ130と、インダクタL1,L2とからなる。
第1のスイッチ120は、複数の固定キャパシタ121から構成される。
各固定キャパシタ121は、制御信号Soが入力されるMOSスイッチ122と、固定容量のキャパシタ(Cch)123とからなる。
これら固定キャパシタ121は、制御信号Soに基づいて、固定キャパシタ121の接続数が変えられ、容量値が変えられるように制御される。
第2のスイッチ130は、複数の可変キャパシタ131から構成される。
各可変キャパシタ131は、所定の発振周波数fvcoからなる入力信号としての電圧Vcpにより容量が連続的に変化する可変キャパシタ(C(Vcp))132と、一定電圧Vdの供給により一定容量とされた可変キャパシタ(Cv)133とが並列接続された回路と、該回路と差動対の各トランジスタ20の出力端子21との間に接続された固定容量のキャパシタ(C1,C2)134とからなる。
これら可変キャパシタ(C(Vcp))132は、入力信号Vcpに基づいて、その容量値が変えられるように制御される。
Vddは、定電圧源である。140は、電流源である。141は、抵抗である。
(回路動作)
次に、発振回路100の動作について説明する。なお、本例では、バイポーラトランジスタを用いた回路構成について説明するが、MOSトランジスタを用いて構成してもよい。
タンク回路110の全容量は、第1のスイッチ120を構成する複数の固定キャパシタ121の容量と、第2のスイッチ130を構成する複数の可変キャパシタ131の容量との和で表される。
そこで、タンク回路110の全容量値をCt(Vcp)とすると、以下のように表される。
Figure 2005229548
ここで、(3)式中、可変キャパシタ131の容量のうち、キャパシタ(C1,C2)134の固定容量は、可変キャパシタ(C(Vcp))132の容量および可変キャパシタ(Cv)133の容量よりも十分大きいものとして無視した。
なお、Mは、固定キャパシタ121を構成するキャパシタ(Cch)123の個数である。Aは、電源Vddに固定された可変キャパシタ(Cv)133の個数である。Bは、入力信号である電圧Vcpで制御される可変キャパシタ(C(Vcp))132の個数を表す。
(1)式と(2)式とより、発振回路6の発振周波数fvcoは、(4)式のように表される。
Figure 2005229548
これにより、電圧Vcpに対する発振周波数fvcoの変化率dfvcoは、(5)式のように表される。
Figure 2005229548
例えば、発振周波数が最も低い場合fmax(M=Mmax、Amin=0、B=Bmax)と、最も高い時fmin(M=0)とを考えると、(6)式を満たすように、電圧Vddに固定する可変キャパシタ(Cv)133の数を変えればよい。
Figure 2005229548
fmaxとfminとの間の周波数を設定する場合も同様に考えられる。
すなわち、(M*Cch+A*Cv+B*C(Vcp))/Bが(6)式と同じ値になればよい。
ここで、本例におけるKvcoは、(7)式のように表される。
Figure 2005229548
(特性比較)
ここで、電圧Vcpによる発振周波数fvcoの依存性について説明する。
図2は、電圧Vcpによる発振周波数fvcoの依存性を、従来と比較して示す。
曲線70は、複数の固定キャパシタ121の数を変えることで発振周波数を変えた場合における、入力信号である電圧Vcpによる発振周波数fvcoの依存性を示す。
曲線71は、複数の固定キャパシタ121の数は変えない従来の構成における、電圧Vcpによる発振周波数fvcoの依存性を示す。
従来の構成では、電圧Vcpに対する発振周波数fvcoの変化は、70MHz/Vの傾きをもつ。
これに対して、本例の図2の構成では、電圧Vcpに対する発振周波数fvcoの変化はほとんど無く、ほぼ一定で、Kvcoは、10MHzとなる。
このように、複数の固定キャパシタ121の数を制御することにより、従来は必要であった大きなKvcoの値を小さく、ほぼ一定な値にすることができる。
図3は、複数の固定キャパシタ121のみを制御して発振周波数を設定した場合における、電圧Vcpによる発振周波数fvcoの依存性を示す。
曲線72は、上記曲線71に比べて、発振周波数の上下でKvcoが大きく変化するため、安定した発振を維持することは困難である。
しかし、本発明では、複数の固定キャパシタ121および複数の可変キャパシタC(Vcp)132を変えるようにしたので、広帯域でKvcoを一定に保つことができ、常に安定した発振を維持することができる。
このような安定した発振は、一般に、PLLの位相マージンが十分であることや、帯域も適切な値に調節されて、位相ノイズ特性やスプリアス特性が良いことが条件とされるが、本発明では、電圧VcpによるKvcoの調節を可能としたため、このような条件を全て満たすこととができ、その結果、常に安定した発振を維持することができる。
[第2の例]
次に、本発明の第2の実施の形態を、図4〜図5に基づいて説明する。なお、前述した第1の例と同一部分については、その説明を省略し、同一符号を付す。
(PLL周波数シンセサイザの構成)
図4は、PLL周波数シンセサイザ200の構成を示す。
周波数シンセサイザ200は、基準周波数fの信号11を発生する基準周波数発生装置(TCXO:temperature Compensated Crystal Oscilator)1と、基準周波数fを1/n分周して入力周波数fからなる信号12を出力する分周器2と、分周器7と、入力周波数fと分周器7からの信号13の周波数fとの位相差を測定し、その位相差に対応した電圧信号14を出力する位相検出器(PD)3と、この電圧信号14が入力され、可変制御された電圧Vcpoを発生するチャージポンプ回路(CP)4と、ループフィルタ(LPF)201と、スイッチ(SW1)202と、前述した図1の構成からなる発振回路100と、スイッチ(SW2)203とから構成される。
スイッチ(SW1)202は、切替え用端子a,bをもち、通常動作では端子a側に接続され、発振周波数の調整時には端子b側へ切替えられる。
スイッチ(SW2)203は、切替え用端子c,dをもち、通常動作では端子c側に接続され、発振周波数の調整時には端子d側へ切替えられる。これらスイッチ(SW1)202、スイッチ(SW2)203は、MOSトランジスタから構成される。
そして、位相検出器(PD)3と、分周器7と、チャージポンプ回路(CP)4と、ループフィルタ(LPF)201と、スイッチ202,203と、発振回路100とは、PLL装置150として構成される。このPLL装置150と、分周器2とは、同一のウェハー面に形成され、1チップの素子として作製することができる。
図5は、ループフィルタ(LPF)201の構成を示す。
ループフィルタ(LPF)201は、抵抗R2,R3と、固定容量のキャパシタC11,C13とから構成される。
ただし、前述した図7に示したキャパシタC12は、チップ内に組み込まれない構成とされている。このキャパシタC12は、チップ外部の外付け用素子とされる。
(発振周波数制御装置)
図4において、PLL周波数シンセサイザ200には、発振周波数制御装置300が接続されている。
発振周波数制御装置300は、制御信号S、切替え信号S,Sを発生する制御部301と、発振回路100からスイッチ(SW2)203を介して出力される発振周波数を測定するカウンタ302と、基準信号Vrefを発振回路100の入力側のスイッチ(SW1)202に供給する基準電圧発生回路(Vref)303とから構成される。
この発振周波数制御装置300は、PLL周波数シンセサイザ200内の発信回路100、および、スイッチ(SW1,SW2)202,203に対して電気的に接続される。
すなわち、制御部301は、図1に示した発振回路100内の可変キャパシタ131へ制御信号Sを出力し、スイッチ(SW1)202へ切替え信号Sを出力し、スイッチ(SW2)203へ切替え信号Sを出力する。
カウンタ302は、スイッチ(SW2)203に接続され、切替え操作によって端子dが発振回路100と接続されることにより、発振回路100から出力される発振周波数を測定し、その測定結果を制御部301へ送る。
基準電圧発生回路303は、スイッチ(SW1)202に接続され、切替え操作によって端子bが発振回路100と接続されることにより、基準電圧信号Vrefを発振回路100の可変キャパシタ131を構成する可変キャパシタC(Vcp)132へ、入力信号Vcpとして入力する。基準電圧信号Vrefは、発振周波数の測定結果により可変できるため、入力信号Vcpの値も変えられることになる。
(回路動作)
次に、本装置の動作について説明する。
(全体的な流れ)
まず、PLL周波数シンセサイザ200の全体な動作の流れについて説明する。
図4において、基準周波数発生装置1で発生された基準周波数fの信号11は、分周器2により、1/nに分周され、入力周波数fとして出力される。入力周波数fからなる信号12は、位相検出器(PD)3に入力される。この位相検出器(PD)3では、信号12の入力周波数fと、分周器7からの信号13の周波数fとの位相差が比較測定され、その位相差に対応した電圧を信号14として出力する。この電圧の信号14がチャージポンプ回路(CP)4に入力されることにより、可変制御された電圧VcpOが発生する。この可変制御された電圧VcpOがループフィルタ(LPF)201に入力される。
ループフィルタ(LPF)201では、可変制御された電圧Vcpoの値に応じて可変容量のキャパシタC20の容量値を制御することにより、可変制御された電圧Vcpとして、発振回路(VCO)100に入力される。この発振回路(VCO)100から出力された所定の発振周波数をもつ信号15は、分周器7に戻される。この発振回路(VCO)100は、前述した図1の回路構成となっている。
(発振周波数の調整方法)
次に、発振周波数制御装置300を用いてPLL周波数シンセサイザ200内の発振回路100の発振周波数を調整する方法について説明する。
まず、発振周波数の調整方法の概要について説明する。
その調整前に、スイッチ(SW1)202の接続を端子bへ切替え、スイッチ(SW2)203の接続を端子dへ切替える。
そして、発振回路100が出力する発振周波数をカウンタ302で測定する。制御部301では、所定の基準周波数に対するその測定された発振周波数のずれ量を算出し、ずれ量に応じて図1に示した発振回路100の第1のスイッチ120を構成する複数の固定キャパシタ121に入力される制御信号Sを制御して、固定キャパシタ121のMOSスイッチ122の接続数を切替え、これにより、固定キャパシタ121の全容量値を変える。
また、その調整時において、基準電圧発生回路303から測定結果に応じて設定される基準電圧信号Vrefを発振回路100の可変キャパシタC(Vcp)132へ、入力信号Vcpとして入力することにより、可変キャパシタ131の全容量値が変えられる。
この固定キャパシタ121の接続数の切替えによる容量値の変化と、可変キャパシタC(Vcp)132の容量値の変化とにより、発振回路100内の第2のスイッチ130を構成する複数の可変キャパシタ131と第1のスイッチ120を構成する複数の固定キャパシタ121との比率を調節し、これにより、発振回路100の第2のスイッチ130に入力される所定の発振周波数からなる入力信号である電圧Vcpに対する変化量(Kvco)が一定となるようにする。
この場合、第2のスイッチ130を構成する複数の可変キャパシタ131の全容量値に対する、第1のスイッチ120を構成する複数の固定キャパシタ121の全容量値の比率を変化させて、入力信号である電圧Vcpに対する変化量(Kvco)が一定となるようにする。
以下、発振周波数の調整方法を、具体例を挙げて説明する。
調整の初期状態において、スイッチ202(SW1),203(SW2)の切替え操作により端子b,d側へ切替えられ、カウンタ302および基準電圧発生回路303が発振回路100と接続される。
そして、制御部(レジスタ設定)301から発振回路100へ制御信号Sが送られ、タンク回路110を構成する固定キャパシタ121の接続数が切替え制御が行なわれる。
また、この切替え動作と同時に、発振周波数制御装置300が作動し、基準電圧発生回路303の電圧Vrefが、入力信号である電圧VcpをVdd/2になるようにチャージアップを開始する。
カウンタ302が発振回路100の発振周波数をカウントして、そのカウント値が所定の期待された周波数の±Kvco以内の値であれば、スイッチ202(SW1),203(SW2)の切替え操作により端子a,c側へ切替えられる。これにより、ループフィルタ5、発振回路100、分周器7が接続され、周波数シンセサイザ200が作動する通常のPLLの動作に移行する。
一方、そのカウント値が所定の期待された周波数の±Kvco以外、例えば、実際の発振周波数が期待された周波数よりもKvco以上低ければ、再度、制御部301により発振周波数制御装置300が作動するように切り替えると同時に、その期待された周波数からのずれ分の容量に相当する固定キャパシタ121のMOSスイッチ122をOFFして、固定キャパシタ121の接続数を変える。
また、これと同時に、(6)式の条件を満たすように、可変キャパシタ131に入力される入力信号の電圧Vcpの値を設定する。
ここで、カウンタ302が発振回路100の発振周波数をカウントして、所定の期待された発振周波数の±Kvco以内の値であれば、スイッチ202(SW1),203(SW2)の切替え操作により端子a,c側へ切替えられ、周波数シンセサイザ200が作動する通常のPLLの動作に移行する。
ここで、プロセスばらつきなどにより、固定キャパシタ121による期待された補正分よりも容量値にずれがある場合には、上記の調整用の切替え操作を繰り返すことによって、発振周波数の補正を行う。
例えば、fmax=1370MHz、fmin=1270MHz、Kvco=7MHz/Vを実現する場合、Mmax=70、Bmax=7となり、図7において、C11=100pF、C13=100pF、R2=80kΩ、R3=3kΩ、さらにC12は外付け用として調節可能となる。
以上からわかるように、発振周波数制御装置300を用いて、制御信号Soにより発振回路100内の複数の固定キャパシタ121の接続数を制御すると共に、入力信号である電圧Vcpにより複数の可変キャパシタ131の容量値を変えることにより、図2に示すように従来は必要であった大きなKvcoを小さくし一定な値にできる。
すなわち、Kvcoを小さくすることで図5に示したループフィルタ(LPF)201内のキャパシタを小さくすることができ、これにより、ループフィルタ(LPF)201を1チップ内に内蔵することが可能となり、加えて発振回路100も内蔵することにより、装置の小型化を図ることができる。
例えば、ループフィルタ(LPF)201を構成するC11,C12,C13,R2,R3に相当するICチップの大きさを1mm×0.5mmとして設計すると、ループフィルタ(LPF)201を内蔵することで、1mm×0.5mm×4だけ面積を省略化することができる。
本願発明では、キャパシタC12は、外付けとして容量を調節できる構成としている。これにより、ICチップの部品集積度を高めて、PLL周波数シンセサイザ200の全体構成の小型化を図ることができる。
本発明の第1の実施の形態である、発振回路の構成を示す回路図である。 電圧Vcpによる発振周波数fvcoの依存性を従来と比較して示す特性図である。 複数の固定キャパシタ121のみを制御して発振周波数を設定した場合における電圧Vcpによる発振周波数fvcoの依存性を示す特性図である。 本発明の第2の実施の形態であるPLL周波数シンセサイザの構成を示す回路図である。 ループフィルタの構成を示すブロック図である。 従来のPLL周波数シンセサイザの構成例を示すブロック図である。 従来のループフィルタの構成を示すブロック図である。 従来の発振回路の構成を示す回路図である。 電圧Vcpに対する可変キャパシタC(Vcp)の容量値の変化を示す特性図である。
符号の説明
1 基準周波数発生装置
2 分周器
7 分周器
3 位相検出器(PD)
4 チャージポンプ回路(CP)
6 発振回路
11,12,13,14,15 信号
20 差動対のトランジスタ
100 発振回路
110 タンク回路
120 第1のスイッチ
130 第2のスイッチ
121 複数の固定キャパシタ
122 MOSスイッチ
123 キャパシタ(Cch)
130 第2のスイッチ
131 複数の可変キャパシタ
132 可変キャパシタ(C(Vcp))
133 可変キャパシタ(Cv)
134 キャパシタ(C1,C2)
140 電流源
141 抵抗
150 PLL装置
200 PLL周波数シンセサイザ
201 ループフィルタ(LPF)
202 スイッチ(SW1)
203 スイッチ(SW2)
300 発振周波数制御装置
301 制御部301
302 カウンタ
303 基準電圧発生回路

Claims (7)

  1. タンク回路と、差動対のトランジスタとを有し、
    該差動対を構成する各トランジスタの出力端子が前記タンク回路の両端の接続端子に接続され、かつ、該差動対の一方のトランジスタの出力端子が他方のトランジスタの制御端子へ、キャパシタを介して若しくは直接接続された発振回路であって、
    前記タンク回路は、複数の固定キャパシタからなる第1のスイッチと、複数の可変キャパシタからなる第2のスイッチと、インダクタとからなり、
    前記第1のスイッチを構成する各固定キャパシタは、制御信号が入力されるMOSスイッチと、固定容量のキャパシタとからなり、かつ、該制御信号により該第1のスイッチの接続数を切替えて容量値を変え、
    前記第2のスイッチを構成する各可変キャパシタは、所定の発振周波数の入力信号により容量が連続的に変化する可変キャパシタと、一定容量の可変キャパシタとが並列接続された回路と、該回路と前記差動対の各トランジスタの出力端子との間に接続された固定容量のキャパシタとからなり、かつ、該入力信号により該第2のスイッチの容量値を変えることを特徴とする発振回路。
  2. 前記差動対は、バイポーラトランジスタ、又は、MOSトランジスタからなることを特徴とする請求項1記載の発振回路。
  3. PLL装置を構成する発振回路の発振周波数を切替える発振周波数制御装置であって、
    前記発振回路が請求項1又は2記載の発振回路により構成された場合において、
    前記発振回路の前記第2のスイッチに入力される前記所定の発振周波数からなる入力信号(Vcp)に対する変化量(Kvco)が一定となるように、該発振回路内の前記第2のスイッチを構成する複数の可変キャパシタと前記第1のスイッチを構成する前記複数の固定キャパシタとの比率を調節する調整手段
    を具えたことを特徴とする発振周波数制御装置。
  4. 前記調整手段は、
    前記発振回路が出力する発振周波数を測定する測定手段と、
    所定の基準周波数に対する前記測定された発振周波数のずれ量を算出する算出手段と、
    前記ずれ量に応じて、前記発振回路の前記第1のスイッチを構成する前記複数の固定キャパシタに入力される制御信号と、前記第2のスイッチを構成する前記複数の可変キャパシタに入力される入力信号とを制御することにより、前記複数の固定キャパシタおよび前記複数の固定キャパシタの容量値を変える切替え手段と
    を含み、
    前記複数の固定キャパシタに入力される制御信号と、前記第2のスイッチを構成する前記複数の可変キャパシタに入力される入力信号との制御により、前記第2のスイッチを構成する前記複数の可変キャパシタの全容量値に対する、前記第1のスイッチを構成する前記複数の固定キャパシタの全容量値の比率を変化させて、
    前記発振回路の前記第2のスイッチに入力される前記所定の発振周波数からなる入力信号(Vcp)に対する変化量(Kvco)が一定となるようにしたことを特徴とする請求項3記載の発振周波数制御装置。
  5. 少なくとも、位相検出器と、ループフィルタと、所定の発振周波数を出力する発振回路とを有するPLL装置であって、
    請求項1又は2記載の発振回路と、
    請求項3又は4記載の発振周波数制御装置に対して、前記発振回路の入出力端子が接続されるように切替える接続切替手段と
    を具えたことを特徴とするPLL装置。
  6. 前記ループフィルタは、
    抵抗と、2個の固定容量のキャパシタとからなり、かつ、可変容量のキャパシタを含まない構成としたことを特徴とする請求項5記載のPLL装置。
  7. 前記ループフィルタは、前記位相検出器および前記発振回路と共に、同一のウェハー面に埋め込まれたことを特徴とする請求項5又は6記載のPLL装置。
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KR100836147B1 (ko) 2007-01-19 2008-06-09 레이디오펄스 주식회사 위상 노이즈를 감소시키며, 주변환경에 안정적인전압제어발진기
JP2011182459A (ja) * 2011-05-20 2011-09-15 Mitsumi Electric Co Ltd 電圧制御発振回路及びpll回路
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