JP2005217241A - Exposure system and manufacturing method of multilayer printed wiring board - Google Patents

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JP2005217241A JP2004022834A JP2004022834A JP2005217241A JP 2005217241 A JP2005217241 A JP 2005217241A JP 2004022834 A JP2004022834 A JP 2004022834A JP 2004022834 A JP2004022834 A JP 2004022834A JP 2005217241 A JP2005217241 A JP 2005217241A
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勝史 牧野
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an exposure system used for manufacturing a multilayer printed wiring board capable of reducing the expansion and contraction and deformation of an alignment mark when manufacturing the printed wiring board of a multilayer structure with a build-up method, keeping the boundary part of the alignment mark clear, reducing erroneous recognition of a center position of the alignment mark, and superposing with good accuracy a circuit pattern position on the next layer with respect to a circuit pattern already formed; and to provide a manufacturing method of the multilayer printed wiring board. <P>SOLUTION: In the manufacturing method of a multilayer printed wiring board, a light shielding plate free to open and close is disposed in the vicinity just above or just under a mask mounting in the exposure system serving to form a circuit pattern. Further, the surrounding part of the alignment mark of a mask is shielded from exposure light by automatically closing a light shielding plate after the completion of alignment control upon exposure. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、半導体素子を搭載するビルドアップ法による多層プリント配線板の製造方法に関するものであり、特に、内層回路パターンと外層回路パターンの位置関係を精度よく製造することのできる露光装置及びそれを用いた多層プリント配線板の製造方法に関する。   The present invention relates to a method for manufacturing a multilayer printed wiring board by a build-up method in which a semiconductor element is mounted, and in particular, an exposure apparatus capable of accurately manufacturing the positional relationship between an inner layer circuit pattern and an outer layer circuit pattern and The present invention relates to a method for producing a used multilayer printed wiring board.

多層構造のプリント配線板においては、層間の内層回路パターンの位置合わせがされていなければならない。このため、多層構造のプリント配線板をビルドアップ法で製造する場合には、すでにパターン形成されている内層パターンに合わせて次の層のパターンを加工することになる。すなわち、内層パターンの形成の際に位置寸法の誤差が不可避的に生じるからである。従来では、内層パターン(下層のパターン)を基準にして、外層パターン(次の層のパターン)の位置を合わせを次のような方法で行っていた。   In a printed wiring board having a multilayer structure, the inner layer circuit pattern between the layers must be aligned. For this reason, when a printed wiring board having a multilayer structure is manufactured by the build-up method, the pattern of the next layer is processed in accordance with the already formed inner layer pattern. That is, when the inner layer pattern is formed, a positional dimension error inevitably occurs. Conventionally, with the inner layer pattern (lower layer pattern) as a reference, the position of the outer layer pattern (next layer pattern) is aligned by the following method.

まず、内層パターンの一部に、外層のパターンの位置合わせのため、基準となるアライメントパターンを予め形成しておき、該内層のアライメントパターンを直接もしくはバックライト等で読みとり、そのアライメントパターンの位置を認識する。そして、その認識した位置に基づいて、外層パターンの位置データを調整して加工を行うのである。すなわち、内層のアライメントパターンと、外層パターンの所定の場所、例えばアライメント用パターンを重なるように位置調整を行う方法である(特許文献1、特許文献2参照)。   First, in order to align the pattern of the outer layer on a part of the inner layer pattern, a reference alignment pattern is formed in advance, and the alignment pattern of the inner layer is read directly or with a backlight or the like, and the position of the alignment pattern is determined. recognize. Then, based on the recognized position, the processing is performed by adjusting the position data of the outer layer pattern. That is, this is a method of adjusting the position so that the alignment pattern of the inner layer and a predetermined location of the outer layer pattern, for example, the alignment pattern overlap (see Patent Documents 1 and 2).

以下に公知文献を記す。
特開平10−61218号公報 特開平11−261243号公報
The known literature is described below.
JP-A-10-61218 JP-A-11-261243

しかしながら、従来のやり方では、十分な内外層パターンの位置合わせ精度が得られない場合があった。基材表面の配線層材料が複数の処理工程によりアライメントパターンの境界部がぼやけたり、読みとり時にはすでに表面に粗化が施されている。このため、アライメントパターンの読み取り不能やパターンの中心位置を誤認識する問題があった。また、金型によって形成した1つのアライメントマーク(例えば、貫通孔)を使用して多層プリント配線板を作成する方法もあるが、レジストパターン形成時に銅部分が露出してしまい、エッチング時にアライメントマーク周辺の銅が除去され、ポリイミドが露出したアライメントマークとなり、以降の2層目からは、該アライメントマークを用いてアライメントを行う必要が生じる。しかし、ポリイミドは若干の吸水性をもつため、後のウエット工程を通すことによりポリイミドの伸縮が生じたり、また、アライメントマーク部分がポリイミドであるため種々の工程搬送によるマーク部分の変形を引き起こす。加えて、ポリイミドは光透過性を持つため、アライメントマークを透過光で確認する時、アライメントマークのエッジ検出が困難となる問題が発生する。そのため、アライメントマークの視認性が困難となり、中心位置を誤認識し、露光時のオートスケール量と実際の基板伸縮量とに差異が生じ、内層回路パターンとのズレが生じてしまう問題が発生していた。   However, in the conventional method, sufficient alignment accuracy of the inner and outer layer patterns may not be obtained. In the wiring layer material on the substrate surface, the boundary portion of the alignment pattern is blurred by a plurality of processing steps, or the surface is already roughened at the time of reading. For this reason, there are problems that the alignment pattern cannot be read and the center position of the pattern is erroneously recognized. There is also a method of creating a multilayer printed wiring board using a single alignment mark (for example, a through hole) formed by a mold, but the copper portion is exposed during resist pattern formation, and the periphery of the alignment mark during etching The copper is removed and the polyimide is exposed, and the alignment mark is exposed. From the second layer thereafter, it is necessary to perform alignment using the alignment mark. However, since polyimide has a slight water absorption, the polyimide is expanded and contracted through a subsequent wet process, and the alignment mark portion is polyimide, which causes deformation of the mark portion due to various process conveyances. In addition, since polyimide has light transparency, when the alignment mark is confirmed with transmitted light, there arises a problem that it is difficult to detect the edge of the alignment mark. As a result, the visibility of the alignment mark becomes difficult, the center position is misrecognized, there is a difference between the autoscale amount during exposure and the actual substrate expansion / contraction amount, and a deviation from the inner layer circuit pattern occurs. It was.

本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、多層構造のプリント配線板をビルドアップ法で製造する場合に、アライメントマークの伸縮、変形を減少させ、その境界部を
鮮明に保ち、その中心位置の誤認識を減少させた、すなわち、既に形成された回路パターンに対し、次の層の回路パターン位置を精度よく重ね合わせて形成することのできる多層プリント配線板の製造に用いる露光装置及びそれを用いた多層プリント配線板の製造方法を提供すること。
The present invention has been made in view of the above problems, and when a printed wiring board having a multilayer structure is manufactured by a build-up method, the expansion and contraction and deformation of the alignment mark are reduced, and the boundary portion is kept clear. An exposure apparatus used for manufacturing a multilayer printed wiring board that can reduce the misrecognition of the center position, that is, can accurately form the circuit pattern position of the next layer on the already formed circuit pattern, and To provide a method for producing a multilayer printed wiring board using the same.

本発明の請求項1に係る発明は、回路パターンを形成したコア基板に、絶縁層及び導体層を積層し、回路パターン及びビアホールを形成した多層プリント配線板の製造方法で、回路パターンを形成する露光装置において、アライメントマーク付きワーク基板を載置するワーク台及びワーク基板位置センサーを具備するワークテーブル部と、ワーク台の直上位置に、向き合うように配置された照明光源チャンバー部と、照明光源チャンバー部とワークテーブル部の中間の位置にアライメントマーク付きフォトマスクを載置するマスク台を配置し、ワーク台とマスク台との相互の位置を調整するアライメント制御部を備えたマスク露光装置であって、前記マスク台の直上、又は直下の近傍に開閉可能な遮光板が配置され、露光時、アライメント制御終了後、自動的に遮光板を閉じることにより、マスクのアライメントマーク周辺部を露光光から遮光することを特徴とする露光装置である。   According to the first aspect of the present invention, a circuit pattern is formed by a method of manufacturing a multilayer printed wiring board in which an insulating layer and a conductor layer are laminated on a core substrate on which a circuit pattern is formed, and a circuit pattern and a via hole are formed. In an exposure apparatus, a work table on which a work substrate with an alignment mark is placed, a work table having a work substrate position sensor, an illumination light source chamber disposed so as to face directly above the work table, and an illumination light source chamber A mask exposure apparatus having an alignment control unit for adjusting a mutual position between a work table and a mask table, wherein a mask table for placing a photomask with an alignment mark is disposed at an intermediate position between the workpiece table and the work table unit A light-shielding plate that can be opened and closed is arranged immediately above or near the mask base, and alignment control is performed during exposure. After completion, by automatically closing the light shielding plate, an exposure apparatus characterized by shielding the alignment marks periphery of the mask from the exposure light.

また、本発明の請求項2に係る発明は、回路パターンを形成したコア基板に、絶縁層及び導体層を積層し、回路パターン並びにビアホールを形成し、積層用の絶縁層と回路パターンが交互に積層して設けられた多層プリント配線板の製造方法において、回路パターンを形成する露光時では、予め、ワーク基板の周辺部に形成した金属又は銅の導体層が残存する貫通孔をアライメントマークとして使用して製造することを特徴とする多層プリント配線板の製造方法である。   In the invention according to claim 2 of the present invention, the insulating layer and the conductor layer are laminated on the core substrate on which the circuit pattern is formed, the circuit pattern and the via hole are formed, and the insulating layer and the circuit pattern for lamination are alternately arranged. In the method of manufacturing a multilayer printed wiring board provided in a stacked manner, during exposure for forming a circuit pattern, a through hole in which a metal or copper conductor layer formed in the peripheral part of the work substrate in advance remains as an alignment mark. The method for producing a multilayer printed wiring board is characterized by the following.

また、本発明の請求項3に係る発明は、回路パターンを形成する露光時では、前記露光装置に具備する遮光板が挿入され、ワーク基板のアライメントマーク周辺部のレジストには露光されず、回路パターンの周辺のレジストのみに露光され、回路パターンを形成することを特徴とする請求項2記載の多層プリント配線板の製造方法である。   In the invention according to claim 3 of the present invention, during exposure for forming a circuit pattern, a light shielding plate provided in the exposure apparatus is inserted, and the resist around the alignment mark of the work substrate is not exposed, and the circuit 3. The method for producing a multilayer printed wiring board according to claim 2, wherein only the resist around the pattern is exposed to form a circuit pattern.

また、本発明の請求項4に係る発明は、前記レジストが、ポジ型レジストであることを特徴とする請求項2、又は3記載の多層プリント配線板の製造方法である。   The invention according to claim 4 of the present invention is the method for producing a multilayer printed wiring board according to claim 2 or 3, wherein the resist is a positive resist.

また、本発明の請求項5に係る発明は、前記積層用の絶縁層及び導体層が、コア基板より狭幅であり、積層後もコア基板に予め形成された貫通孔がワーク基板表面より露出していることを特徴とする請求項2乃至4のいずれか1項記載の多層プリント配線板の製造方法である。   Further, in the invention according to claim 5 of the present invention, the insulating layer and the conductor layer for stacking are narrower than the core substrate, and the through holes formed in the core substrate in advance after stacking are exposed from the surface of the work substrate. The method for producing a multilayer printed wiring board according to any one of claims 2 to 4, wherein:

また、本発明の請求項6に係る発明は、前記コア基板と積層用の絶縁層及び導体層がフィルム状である長尺基材により供給されることを特徴とする請求項2乃至5のいずれか1項記載の多層プリント配線板の製造方法である。   The invention according to claim 6 of the present invention is characterized in that the core substrate, the insulating layer for laminating, and the conductor layer are supplied by a long base material in the form of a film. A method for producing a multilayer printed wiring board according to claim 1.

本発明の多層プリント配線板の製造方法では、露光時にアライメントマーク(貫通孔)周辺部に遮光板が投入され、アライメントマーク周辺部が露光されないため、ポジ型レジストではレジストが残り、エッチング時にアライメントマーク周辺部の銅がエッチィングされない。そのため、コア基板の表裏に逐次積み上げて形成される内層回路の導体配線パターンおよび外層と内層を電気的に接続するビア形成において、2層目以降も使用アライメントマーク周辺に銅が残存している状態でアライメントすることが可能となる。したがって、露光時にアライメントマーク周辺部に遮光板を投入せずにパターニングを行う方法と比較して、アライメントマーク視認性不能、及びアライメントマーク周辺のポリイミド
の変形から引き起こされるマーク中心位置の誤認識の問題がなく、微細な配線回路パターンにも対応した多層プリント配線板を作製することが可能となる効果がある。
In the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention, a light shielding plate is placed around the alignment mark (through hole) at the time of exposure and the periphery of the alignment mark is not exposed. Peripheral copper is not etched. Therefore, in the conductor wiring pattern of the inner layer circuit formed by sequentially stacking on the front and back of the core substrate and via forming to electrically connect the outer layer and the inner layer, copper remains in the vicinity of the alignment mark used in the second and subsequent layers. It becomes possible to align with. Therefore, compared to the method of patterning without putting a light shielding plate around the alignment mark at the time of exposure, the alignment mark is not visible and the problem of misrecognition of the mark center position caused by deformation of the polyimide around the alignment mark There is an effect that a multilayer printed wiring board corresponding to a fine wiring circuit pattern can be manufactured.

以下に、本発明による多層プリント配線板の製造方法を、その実施の形態に基づいて説明する。   Below, the manufacturing method of the multilayer printed wiring board by this invention is demonstrated based on the embodiment.

図1は、本発明の露光装置である。図面下側より、まずワークテーブル31が配置されている。ワークテーブル31上には、ワーク台32が配置され、搬送ラインから搬入するワーク基板を載置し、露光処理後、再び搬送ラインへ搬出する動作を繰り返している。また、ワーク基板はフイルム状で連続生産方式、又は枚葉生産方式にも対応できる。ワークテーブル部には、位置センサーが具備され、ワーク基板上の基準点を視認し所定に位置に停止する役割を行う。ワーク台に載置するアライメントマーク付きワーク基板の直上位置に、向き合うように本発明の露光装置が配置されている。図面上側には、照明光源チャンバー部71が配置されている。照明光源チャンバー部は、照明光源のランプが配置され、レンズ等により照射用光線を形成し、ワーク基板の表面方向へ投射する役割を持つ部位である。更に、照射時間を制御するシャッタ部72を具備している。前記シャッタ部の直下にアライメントマーク付きフォトマスクを載置するマスク台41を配置されている。ワーク台とマスク台との相互の位置を調整するアライメント制御部51では、ワーク基板のアライメントマークを基準として、フォトマスクのアライメントマークを重ね合わせる役割を行う。アライメント制御部51には、アライメント用光源及び双方のアライメントマークを視認する画像処理等のシステム備えた部位であり、位置調整のためにマスク台又はワーク台をX軸及びY軸方向に駆動する部位である。本発明の露光装置では、前記マスク台の近傍に遮光板制御部33が配置されている。遮光板制御部33には、遮光板34が具備され、ワーク基板と平行に光軸の方向に水平移動する役割がある。露光時、アライメント制御終了後、自動的に遮光板を光軸の方向に閉じることにより、マスクのアライメントマーク周辺部を露光光から遮光した後、前記シャッタ部72を開放し照射光を照射して露光処理することを特徴とする本発明の露光装置である。なお、露光装置及び搬送ラインの全体の管理は、装置制御部61で行う。   FIG. 1 shows an exposure apparatus of the present invention. A work table 31 is first arranged from the lower side of the drawing. A work table 32 is disposed on the work table 31, and a work substrate to be carried in from the transfer line is placed thereon. After the exposure process, the operation of carrying it out again to the transfer line is repeated. In addition, the work substrate is in the form of a film and can be applied to a continuous production method or a single wafer production method. The work table unit is provided with a position sensor, and plays a role of visually recognizing a reference point on the work substrate and stopping at a predetermined position. The exposure apparatus of the present invention is arranged so as to face each other at a position immediately above a work substrate with alignment marks placed on the work table. An illumination light source chamber 71 is disposed on the upper side of the drawing. The illumination light source chamber part is a part in which a lamp of the illumination light source is arranged, and the irradiation light beam is formed by a lens or the like and projected toward the surface of the work substrate. Furthermore, the shutter part 72 which controls irradiation time is comprised. A mask base 41 for placing a photomask with an alignment mark is disposed immediately below the shutter portion. The alignment control unit 51 that adjusts the mutual position of the work table and the mask table serves to superimpose the alignment marks of the photomask on the basis of the alignment marks of the work substrate. The alignment control unit 51 is a part equipped with a system such as an image processing for visually recognizing the alignment light source and both alignment marks, and a part for driving the mask table or work table in the X-axis and Y-axis directions for position adjustment. It is. In the exposure apparatus of the present invention, a light shielding plate controller 33 is disposed in the vicinity of the mask table. The light shielding plate control unit 33 includes a light shielding plate 34 and has a role of moving horizontally in the direction of the optical axis parallel to the work substrate. At the time of exposure, after the alignment control is completed, the light shielding plate is automatically closed in the direction of the optical axis to shield the peripheral portion of the alignment mark of the mask from the exposure light, and then the shutter portion 72 is opened to irradiate the irradiation light. An exposure apparatus according to the present invention is characterized by performing an exposure process. Note that overall management of the exposure apparatus and the transport line is performed by the apparatus control unit 61.

本発明に関わる多層プリント配線板の製造方法は、まず、1層目回路パターンを形成する絶縁層と導体層からなるコア基板に1組2個以上のアライメントマークを形成する。次に、ポジ型レジストを基板全面に塗布し、1組のアライメントマークを使用して1層目回路パターンを形成する。1回目の回路パターン形成時(1層目の回路パターン形成)に2つのアライメントマーク3を使用しており、縦方向を基板幅方向、横方向を基板長さ方向としている。以降、2回の回路パターン形成時(2層目の回路パターン形成)に2つのアライメントマーク3を使用して順次繰り返して、多層化する。   In the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention, first, a set of two or more alignment marks is formed on a core substrate composed of an insulating layer and a conductor layer forming a first layer circuit pattern. Next, a positive resist is applied to the entire surface of the substrate, and a first layer circuit pattern is formed using a set of alignment marks. Two alignment marks 3 are used during the first circuit pattern formation (first-layer circuit pattern formation), with the vertical direction being the substrate width direction and the horizontal direction being the substrate length direction. Thereafter, when the circuit pattern is formed twice (circuit pattern formation of the second layer), the two alignment marks 3 are used to sequentially repeat the multilayer.

ここで、1回目及び2回目の回路パターン形成に関して、従来の製造方法の図7と本発明の製造方法の図2を比較しながら説明する。図7(a)及び図2(a)での1回目の露光方法は、違いはなく、図7(b)及び図2(b)での2回目の露光方法は、その製造方法に大きな違いがある。まず、図7に示す従来技術のプリント基板の一例を示す1組2個のアライメントマークが形成されたコア基板上方からの図である。図7(a)に示すように、1回目の露光、すなわち1層目の回路パターンの形成時であり、従来技術では1層目回路パターン形成時にはアライメントマーク周辺部に銅が残存しておりアライメントマーク3の形状はほぼ金型による孔空け時に形成された形状を維持している。しかしながら、積層材15が積層された2層目回路パターン形成時には1層目回路パターン形成時にアライメントマーク周辺部が金属層表面よりの乱反射等により露光されレジストが部分的に除去される。そのため、図7(b)に示すように、2回目の露光、すなわち2層目の回路パターンの形成時であり、エッチング時にアライメントマーク周辺部にレジスト層より露出
した銅がエッチングされ、銅の下地のポリイミド16が露出する状態となる。様々な工程を通すことによりアライメントマークの形状が更に変形し、マーク中心位置を誤認識して露光位置精度が低下する問題があった(図7(a)及び(b)参照)。
Here, the first and second circuit pattern formation will be described by comparing FIG. 7 of the conventional manufacturing method and FIG. 2 of the manufacturing method of the present invention. There is no difference in the first exposure method in FIGS. 7A and 2A, and the second exposure method in FIGS. 7B and 2B is greatly different in its manufacturing method. There is. First, FIG. 8 is a view from above the core substrate on which a set of two alignment marks showing an example of the conventional printed circuit board shown in FIG. 7 is formed. As shown in FIG. 7A, it is during the first exposure, that is, when the first layer circuit pattern is formed. In the prior art, copper remains in the periphery of the alignment mark when the first layer circuit pattern is formed. The shape of the mark 3 is almost the same as that formed when the hole is formed by the mold. However, at the time of forming the second layer circuit pattern in which the laminated material 15 is laminated, the periphery of the alignment mark is exposed by irregular reflection from the surface of the metal layer and the resist is partially removed at the time of forming the first layer circuit pattern. Therefore, as shown in FIG. 7B, during the second exposure, that is, during the formation of the second-layer circuit pattern, the copper exposed from the resist layer around the alignment mark during the etching is etched, and the copper base The polyimide 16 is exposed. By passing through various processes, the shape of the alignment mark is further deformed, and there is a problem in that the accuracy of the exposure position is lowered due to erroneous recognition of the mark center position (see FIGS. 7A and 7B).

一方、本発明の露光装置では、このマーク形状の変形を防止するために、露光時にアライメントマーク周辺部への遮光板の挿入する。図2は、本発明のプリント基板の一例を示す1組2個のアライメントマークが形成されたコア基板上方からの平面図である。前記遮光板の挿入機能を備えた本発明の露光装置を用いたことによりアライメントマークの形状が変形する問題は解決されている。図2(a)に示すように、1回目の露光、すなわち、1層目の回路パターンの形成時であり、本発明の方法では1層目回路パターン形成時にはアライメントマーク周辺部に銅が残存しておりアライメントマーク3の形状はほぼ金型による孔空け時に形成された形状を維持している。図2(b)に示すように、2回目の露光、すなわち、2層目の回路パターンの形成時であり、本発明の露光装置では、露光時にアライメントマーク周辺部への遮光板の挿入し、その部分のレジスト層を露光光よいり遮蔽するため、アライメントマーク周辺部のレジスト層は現像されずに、エッチング時でもアライメントマーク周辺部に銅が残存し、アライメントマークの形状が正常に維持され、マーク中心位置を正常に認識して露光位置精度が維持できる。すなわち、1層目及び2層目の回路パターン形成時、共に正常なアライメントマークを基準とすることが出来る(図2(a)及び(b)参照)。   On the other hand, in the exposure apparatus of the present invention, in order to prevent the deformation of the mark shape, a light shielding plate is inserted into the periphery of the alignment mark during exposure. FIG. 2 is a plan view from above of the core substrate on which one set of two alignment marks showing an example of the printed circuit board of the present invention is formed. The problem that the shape of the alignment mark is deformed by using the exposure apparatus of the present invention having the function of inserting the light shielding plate is solved. As shown in FIG. 2A, during the first exposure, that is, when the first layer circuit pattern is formed, in the method of the present invention, copper remains in the periphery of the alignment mark when the first layer circuit pattern is formed. The shape of the alignment mark 3 is substantially the same as that formed when a hole is formed by a mold. As shown in FIG. 2 (b), during the second exposure, that is, during the formation of the circuit pattern of the second layer, the exposure apparatus of the present invention inserts a light shielding plate around the alignment mark at the time of exposure, In order to shield or resist the resist layer of the part, the resist layer around the alignment mark is not developed, copper remains in the periphery of the alignment mark even during etching, and the shape of the alignment mark is maintained normally. The exposure position accuracy can be maintained by normally recognizing the mark center position. That is, the normal alignment mark can be used as a reference when forming the circuit patterns of the first layer and the second layer (see FIGS. 2A and 2B).

次に、図3は、本発明で使用する露光時フォトマスクの状態を説明する一例の平面図である。図3(a)は、フォトマスクを上方から観察した平面図である。フォトマスク7では、下方に位置するワーク基板の貫通孔アライメントマーク3を視認するためマスクアライメントマーク17周辺部には貫通孔アライメントマークの視認光が透過するポリイミドの窓が形成されている。アライメント時にはワークに塗布されているレジストが感光しない波長光によりアライメントを行う。貫通孔アライメントマーク3(図上では破線で表示)とマスクアライメントマーク17を完全に重ね合わせ、位置を固定する。次に、図3(b)に示すように露光時にはアライメントマーク17周辺部への遮光板9の挿入を行う。遮光板9の大きさは、マーク確認光が透過する窓を十分遮光できる大きさとし、挿入位置はマスク回路パターンに届かない位置とする。次に、露光処理を行う。露光処理では、アライメント終了後、露光時に遮光板を挿入することにより2層目回路パターンも銅が残存するアライメントマークを使用することが可能となり、高い露光位置精度を達成することが可能となる。さらに必要に応じて、プリント配線板のビルドアップ工程を同様に繰り返し、多層化を行う。   Next, FIG. 3 is a plan view of an example for explaining the state of the photomask during exposure used in the present invention. FIG. 3A is a plan view of the photomask observed from above. In the photomask 7, in order to visually recognize the through hole alignment mark 3 of the work substrate located below, a polyimide window through which the visible light of the through hole alignment mark is transmitted is formed in the periphery of the mask alignment mark 17. At the time of alignment, alignment is performed with light having a wavelength at which the resist applied to the workpiece is not exposed. The through hole alignment mark 3 (indicated by a broken line in the figure) and the mask alignment mark 17 are completely overlapped to fix the position. Next, as shown in FIG. 3B, the light shielding plate 9 is inserted into the periphery of the alignment mark 17 during exposure. The size of the light shielding plate 9 is set to a size that can sufficiently shield the window through which the mark confirmation light passes, and the insertion position does not reach the mask circuit pattern. Next, an exposure process is performed. In the exposure process, after the alignment is completed, a light shielding plate is inserted at the time of exposure so that the second layer circuit pattern can use an alignment mark in which copper remains, and high exposure position accuracy can be achieved. Further, if necessary, the printed wiring board build-up process is repeated in the same manner to perform multilayering.

遮光板9では、その材質及び厚みは特に限定されるものではなく、材質につては鉄、銅、ステンレス、ニッケル等露光光を完全に遮光する金属が好ましい。遮光板の厚みについても特に限定されない。   The material and thickness of the light shielding plate 9 are not particularly limited, and the material is preferably a metal that completely shields exposure light such as iron, copper, stainless steel, and nickel. The thickness of the light shielding plate is not particularly limited.

導体の配線パターン形成およびビアホール形成加工の位置決めの基準として使用するアライメントマークでは、その形状は特に限定されるものではなく、円形型、ドーナツ型、四角型、井形等の中心部分または特定位置部分が確認できる形状が好ましい。特に円形型、ドーナツ型が好ましい。   The shape of the alignment mark used as a positioning reference for conductor wiring pattern formation and via hole formation processing is not particularly limited, and the center portion or specific position portion of a circular shape, donut shape, square shape, well shape, etc. A shape that can be confirmed is preferred. A circular shape and a donut shape are particularly preferable.

アライメントマークの形成方法では、特に限定されるものでなく、フォトリソ法、穴あけ加工法等が考えられる。   The method for forming the alignment mark is not particularly limited, and a photolithography method, a drilling method, and the like are conceivable.

前記フォトリソ法では、フォトレジストによるアライメントマーク形成や、アディティブ法、セミアディティブ法、又はサブトラクティブ法によるアライメントマーク形成が考えられる。この方式ではアライメントマーク形状を任意に設計することが可能である。ま
た、工程によっては、内層回路配線とアライメントマークを同時に形成することも可能であり、工程数を減らせる利点もある。
In the photolithographic method, alignment mark formation by a photoresist, alignment mark formation by an additive method, a semi-additive method, or a subtractive method can be considered. In this method, it is possible to arbitrarily design the alignment mark shape. Further, depending on the process, the inner layer circuit wiring and the alignment mark can be formed at the same time, and there is an advantage that the number of processes can be reduced.

前記穴あけ加工法では、ドリル加工、レーザ加工または金型による打ち抜き加工などが考えられる。この方式では、加工した穴をアライメントマークとして使用するため、形状はほぼ円形型に限定される。このとき、アライメントマークとして貫通穴を形成した場合、同一のアライメントマークをコア基板の両面から確認可能であるため、両面にビルドアップ多層プリント配線板を形成する場合に、両面の位置合わせが容易になる。特にアライメントマークの形成精度から判断すると、金型による打ち抜き加工が最適である。このとき、1回の露光およびビアホールの位置決めに必要な複数のアライメントマークは、同一の金型を使用した抜き加工で同時に加工することが望ましい。したがって、コア基板に形成された貫通穴が、アライメントマークとして形成される。また、同時加工で形成するアライメントマーク間の形状と位置精度は、あらかじめ金型の精度によって確認する事ができ、高い繰り返し加工精度で形成することが可能である。   As the drilling method, drilling, laser processing, punching with a mold, or the like can be considered. In this method, since the processed hole is used as an alignment mark, the shape is limited to a substantially circular shape. At this time, when a through hole is formed as an alignment mark, the same alignment mark can be confirmed from both sides of the core substrate. Therefore, when a build-up multilayer printed wiring board is formed on both sides, both sides can be easily aligned. Become. Judging from the formation accuracy of the alignment mark in particular, punching with a mold is optimal. At this time, it is desirable that a plurality of alignment marks necessary for one exposure and via hole positioning be simultaneously processed by punching using the same mold. Therefore, the through hole formed in the core substrate is formed as an alignment mark. Further, the shape and positional accuracy between alignment marks formed by simultaneous processing can be confirmed in advance by the accuracy of the mold, and can be formed with high repetitive processing accuracy.

また、積層用フィルムに、予めコア基板のアライメントマークより大きい開口部を設け、その開口部をコア基板のアライメントマークの位置に一致するように積層して、コア基板のアライメントマークを積層したフィルムの開口部内で確認できるようにする方式もある。これは多層化工程を3層以上に繰り返す場合も同様にする。この方式では、ベースフィルムと積層するフィルムの大きさをそろえることが出来るが、フィルム積層時にコア基板のアライメントマークが積層用フィルムの開口部に入るよう、積層時にある程度の位置合わせが必要となる。このとき、アライメントマークの位置は特に限定されるものではないが、コア基板の回路パターン形成面の外側が望ましい。   Further, an opening larger than the alignment mark of the core substrate is provided in the lamination film in advance, and the opening is laminated so as to coincide with the position of the alignment mark of the core substrate, and the alignment mark of the core substrate is laminated. There is also a method that allows confirmation in the opening. The same applies to the case where the multilayering process is repeated for three or more layers. In this method, the size of the film to be laminated with the base film can be made uniform, but some alignment is required at the time of lamination so that the alignment mark of the core substrate enters the opening of the film for lamination at the time of film lamination. At this time, the position of the alignment mark is not particularly limited, but is preferably outside the circuit pattern forming surface of the core substrate.

なお、本発明による多層回路配線板の製造方法は、枚葉基板に限定されるものではなく、テープ状のフレキシブル基板を用いたロール・ツー・ロールの連続生産方法にも適用するものである。   In addition, the manufacturing method of the multilayer circuit wiring board by this invention is not limited to a sheet | seat board | substrate, It is applied also to the roll-to-roll continuous production method using a tape-shaped flexible substrate.

前記連続生産方法であって、積層した上層に回路パターンを形成する製造方法では、コア基板上のそれぞれのアライメントマークを基準に露光、ビアホール加工の位置決めを行う。   In the manufacturing method in which the circuit pattern is formed on the stacked upper layers in the continuous production method, exposure and via hole processing positioning are performed based on the respective alignment marks on the core substrate.

前記アライメントマークは、製作する回路配線板の精度に応じ、その範囲を変えることができ、高精細な回路パターンの場合には、アライメントマークの加工ピッチを狭くすることで対応できる。   The range of the alignment mark can be changed according to the accuracy of the circuit wiring board to be manufactured. In the case of a high-definition circuit pattern, it can be dealt with by narrowing the processing pitch of the alignment mark.

コア基板の表裏に、逐次積み上げて形成される多層プリント配線板の外層回路の導体配線パターンと内層パターンを電気的に接続するビア形成において、アライメントマークは、回路パターン形成時に使用する貫通孔、又は回路形成時に予め形成されるアライメント用銅パターンのどちらでも使用可能である。   In via formation that electrically connects the conductor wiring pattern of the outer layer circuit and the inner layer pattern of the multilayer printed wiring board formed by stacking sequentially on the front and back of the core substrate, the alignment mark is a through-hole used when forming the circuit pattern, or Either of the alignment copper patterns formed in advance at the time of circuit formation can be used.

以下に、本発明に関わる多層プリント基板とこの製造方法の一実施例を添付図面に基づいて説明する。   An embodiment of the multilayer printed board and the manufacturing method according to the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.

図4、図5及び図6は、本発明の多層プリント基板の製造方法の一実施例を説明する基板幅方向の側断面図である。尚、本発明に係る多層回路配線板の製造方法は、以下の実施例に限定されるものではない。   4, 5, and 6 are side cross-sectional views in the substrate width direction for explaining an embodiment of the method for manufacturing a multilayer printed board according to the present invention. In addition, the manufacturing method of the multilayer circuit wiring board based on this invention is not limited to a following example.

まず、図4(a)に示すように、幅105mmのテープ状である両面銅箔付ポリイミド1の基板に、金型を使用した打ち抜き加工にて直径400μmφの貫通穴であるアライメ
ントマーク3を形成する。アライメントマークはテープ状の基板の両端に幅95mmの間隔にて形成された2点を1組とし、テープ基板の長さ方向に90mmピッチにて等間隔に形成する。図では、ポリイミド1の基板の表面に銅箔2、裏面に銅箔2aが形成されている。
First, as shown in FIG. 4A, an alignment mark 3 that is a through hole having a diameter of 400 μmφ is formed on a substrate of polyimide 1 with a double-sided copper foil having a tape shape of 105 mm by punching using a mold. To do. The alignment marks are formed at equal intervals with a pitch of 90 mm in the length direction of the tape substrate, with two points formed at both ends of the tape-shaped substrate at an interval of 95 mm as a set. In the figure, a copper foil 2 is formed on the surface of the polyimide 1 substrate, and a copper foil 2a is formed on the back surface.

次に、図4(b)は、上記両面銅箔付ポリイミド基板に脱脂処理を施した後、基板端部に形成したアライメントマーク3を基準として位置合わせをし、レーザ加工を基板の上面から銅箔層、ポリイミド層を貫通し、ポリイミド層と下面側の銅箔層の境界面まで施し、ビアホール4を形成する。   Next, in FIG. 4B, after degreasing the polyimide substrate with double-sided copper foil, alignment is performed with reference to the alignment mark 3 formed on the edge of the substrate, and laser processing is performed from the upper surface of the substrate. A via hole 4 is formed by penetrating through the foil layer and the polyimide layer up to the boundary surface between the polyimide layer and the copper foil layer on the lower surface side.

次に、図4(c)は、上記両面銅箔付ポリイミド基板に形成したビアホール内部にデスミア処理を施した後、無電解銅めっき及び電解銅めっきを施してめっき層を形成して基板両面の銅箔層を電気接続する導通ビア5を形成した後、硫酸と過酸化水素水の混合液により化学研磨を行い銅箔を約10μm程度にする。   Next, FIG. 4 (c) shows that after the desmear treatment is performed on the inside of the via hole formed in the polyimide substrate with double-sided copper foil, electroless copper plating and electrolytic copper plating are performed to form a plating layer. After forming the conductive via 5 for electrically connecting the copper foil layer, chemical polishing is performed with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide solution to make the copper foil about 10 μm.

次に、図4(d)は、上記両面銅箔付ポリイミド基板の両面にポジ型の感光性樹脂6を塗布し、乾燥した後、アライメントマーク3を基準としてフォトマスクの位置合わせを行う。ただし、アライメントマーク確認光には使用レジスト感光波長範囲外の光により行う。   Next, in FIG. 4D, after the positive photosensitive resin 6 is applied on both sides of the polyimide substrate with double-sided copper foil and dried, the photomask is aligned using the alignment mark 3 as a reference. However, the alignment mark confirmation light is emitted by light outside the used resist photosensitive wavelength range.

次に、図5(a)は、アライメント終了と同時に露光装置に付随している金属製遮光板9がマスク上面に投入され後、基板に露光を行う。   Next, in FIG. 5A, the metal light shielding plate 9 attached to the exposure apparatus is put on the upper surface of the mask simultaneously with the end of alignment, and then the substrate is exposed.

次に、図5(b)は、レジスト専用現像液によりディップにて現像を行い、エッチングレジスト10を形成する。ワーク現像後ではアライメントマーク上にはレジストが残存している。   Next, in FIG. 5B, development is performed by dipping with a resist-dedicated developer, and an etching resist 10 is formed. After the work development, the resist remains on the alignment mark.

次に、図5(c)は、上記両面銅箔付ポリイミド基板の両面の銅箔層にエッチングレジスト10を介してエッチング液をスプレー噴霧してエッチングレジスト開口部分の銅箔をエッチング処理にて除去した後、エッチングレジストを剥離して回路パターン11を形成する。   Next, FIG.5 (c) removes the copper foil of an etching resist opening part by spray-spraying etching liquid through the etching resist 10 on the copper foil layer of both surfaces of the said polyimide substrate with a double-sided copper foil, and etching. After that, the etching resist is removed to form the circuit pattern 11.

次に、図6(a)は、両面に回路パターンを形成した上記両面銅箔付ポリイミド1の基板をコア基板として、その両面にそれぞれテープ状の片面銅箔付ポリイミド基板12、13を銅箔側が外側になるようにして接着剤を介してラミネートする。このとき積層する片面銅箔付ポリイミド基板は幅90mmであり、内装回路配線板の幅方向の中央から±2mmの位置精度で貼り合わせて、コア基板端部に形成したアライメントマーク3を被覆しないようにする。図では、ポリイミド1の表面に回路パターン11と、裏面に回路パターン11aが形成、その両面に銅箔13、13a付きのポリイミド12、12aが形成されている。   Next, FIG. 6 (a) shows the polyimide substrate with double-sided copper foil 1 having a circuit pattern formed on both sides as a core substrate, and the polyimide substrates 12 and 13 with tape-like single-sided copper foil on each side of the copper foil. Laminate through the adhesive with the side facing out. The polyimide substrate with single-sided copper foil to be laminated at this time has a width of 90 mm, and is bonded with a positional accuracy of ± 2 mm from the center in the width direction of the internal circuit wiring board so as not to cover the alignment mark 3 formed at the end of the core substrate. To. In the figure, a circuit pattern 11 is formed on the surface of polyimide 1, a circuit pattern 11a is formed on the back surface, and polyimides 12 and 12a with copper foils 13 and 13a are formed on both surfaces thereof.

次に、図6(b)は、1層目回路配線板形成時と同様に、内層回路配線板の端部に形成したアライメントマークを基準として、両面に積層した片面銅箔付ポリイミド基板にビア形成、回路形成をそれぞれ行い、上下2層プリント配線板を作製することができる。以上図4〜図6の工程により4層構成の多層プリント配線板が完成する。   Next, FIG. 6 (b) shows vias on a single-sided copper foil-coated polyimide substrate laminated on both sides with reference to the alignment mark formed at the end of the inner layer circuit wiring board, as in the formation of the first layer circuit wiring board. The upper and lower two-layer printed wiring boards can be manufactured by performing formation and circuit formation, respectively. As described above, a multilayer printed wiring board having a four-layer structure is completed by the steps shown in FIGS.

本発明は、上述し、かつ図面に示した実施例に限定されるものではなく、その趣旨を逸脱しない範囲内で種種の変形実施が可能である。   The present invention is not limited to the embodiments described above and shown in the drawings, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.

プリント配線板は回路パターンがコア基板の上下2層の場合について説明したが、その
他、回路パターンがコア基板の上下3層、又は4層等のさらに多層のプリント配線板にも広く適用することができる。
The printed wiring board has been described with respect to the case where the circuit pattern is two layers above and below the core substrate. However, the circuit pattern can be widely applied to a multilayer printed wiring board having three or four layers above and below the core substrate. it can.

本発明の露光装置を説明する概念図である。It is a conceptual diagram explaining the exposure apparatus of this invention. 本発明のプリント基板の一例を示す1組2個のアライメントマークが形成されたコア基板上方からの平面図である。It is a top view from the upper part of the core board | substrate with which 1 set of 2 alignment marks which show an example of the printed circuit board of this invention were formed. 本発明で使用する露光時フォトマスクの一例を上方から見た平面図である。It is the top view which looked at an example of the photomask at the time of exposure used by this invention from upper direction. 本発明のプリント基板の製造方法を説明するための断面図である。It is sectional drawing for demonstrating the manufacturing method of the printed circuit board of this invention. 本発明のプリント基板の製造方法を説明するための断面図である。It is sectional drawing for demonstrating the manufacturing method of the printed circuit board of this invention. 本発明のプリント基板の製造方法を説明するための断面図である。It is sectional drawing for demonstrating the manufacturing method of the printed circuit board of this invention. 従来技術のプリント基板の一例を示す1組2個のアライメントマークが形成されたコア基板上方からの平面図である。It is a top view from the upper part of a core board | substrate with which 1 set of 2 alignment marks which show an example of the printed circuit board of a prior art were formed.

符号の説明Explanation of symbols

1…ポリイミド
2…銅箔
3、3a…アライメントマーク(貫通孔)
4…ビアホール
5…導通ビア
6…感光性レジスト
7、40…フォトマスク
8…アライメント確認光
9…遮光板
10…エッチングレジスト
11、11a…1層目回路パターン
12、12a…ポリイミド
13、13a…銅箔
14、14a…2層目回路パターン
15…積層フィルム
16…ポリイミド
17…マスクアライメントマーク
31…ワークテーブル部
32…ワーク台
33…遮光板制御部
34…遮光板
41…マスク台
51…アライメント制御部
61…装置制御部
71…照明チャンバー部
72…シャッター部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Polyimide 2 ... Copper foil 3, 3a ... Alignment mark (through-hole)
4 ... Via hole 5 ... Conductive via 6 ... Photosensitive resist 7, 40 ... Photomask 8 ... Alignment confirmation light 9 ... Shading plate 10 ... Etching resist 11, 11a ... First layer circuit pattern 12, 12a ... Polyimide 13, 13a ... Copper Foil 14, 14a ... second layer circuit pattern 15 ... laminated film 16 ... polyimide 17 ... mask alignment mark 31 ... work table unit 32 ... work table 33 ... light shielding plate control unit 34 ... light shielding plate 41 ... mask table 51 ... alignment control unit 61 ... Device control unit 71 ... Illumination chamber unit 72 ... Shutter unit

Claims (6)

回路パターンを形成したコア基板に、絶縁層及び導体層を積層し、回路パターン及びビアホールを形成した多層プリント配線板の製造方法で、回路パターンを形成する露光装置において、アライメントマーク付きワーク基板を載置するワーク台及びワーク基板位置センサーを具備するワークテーブル部と、ワーク台の直上位置に、向き合うように配置された照明光源チャンバー部と、照明光源チャンバー部とワークテーブル部の中間の位置にアライメントマーク付きフォトマスクを載置するマスク台を配置し、ワーク台とマスク台との相互の位置を調整するアライメント制御部を備えたマスク露光装置であって、前記マスク台の直上、又は直下の近傍に開閉可能な遮光板が配置され、露光時、アライメント制御終了後、自動的に遮光板を閉じることにより、マスクのアライメントマーク周辺部を露光光から遮光することを特徴とする露光装置。   In an exposure apparatus for forming a circuit pattern by a multilayer printed wiring board manufacturing method in which an insulating layer and a conductor layer are laminated on a core substrate on which a circuit pattern is formed, and a circuit pattern and a via hole are formed, a work substrate with an alignment mark is mounted. Aligning the work table with the work table and the work board position sensor to be placed, the illumination light source chamber part arranged to face the work table directly above, and the intermediate position between the illumination light source chamber part and the work table part A mask exposure apparatus having a mask table on which a photomask with a mark is placed and an alignment control unit that adjusts the mutual position of the work table and the mask table, wherein the mask exposure apparatus is directly above or near the mask table. A light-shielding plate that can be opened and closed is arranged at the time of exposure. It allows exposure apparatus characterized by shielding the alignment marks periphery of the mask from the exposure light. 回路パターンを形成したコア基板に、絶縁層及び導体層を積層し、回路パターン並びにビアホールを形成し、積層用の絶縁層と回路パターンが交互に積層して設けられた多層プリント配線板の製造方法において、回路パターンを形成する露光時では、予め、ワーク基板の周辺部に形成した金属又は銅の導体層が残存する貫通孔をアライメントマークとして使用して製造することを特徴とする多層プリント配線板の製造方法。   A method of manufacturing a multilayer printed wiring board in which an insulating layer and a conductor layer are stacked on a core substrate on which a circuit pattern is formed, a circuit pattern and a via hole are formed, and an insulating layer and a circuit pattern for stacking are alternately stacked. In the multilayer printed wiring board, a through hole in which a metal or copper conductor layer formed in advance on the periphery of the work substrate remains as an alignment mark at the time of exposure for forming the circuit pattern. Manufacturing method. 回路パターンを形成する露光時では、前記露光装置に具備する遮光板が所定に位置まで挿入され、ワーク基板のアライメントマーク周辺部のレジストには露光されず、回路パターンの周辺のレジストのみに露光され、回路パターンを形成することを特徴とする請求項2記載の多層プリント配線板の製造方法。   At the time of exposure for forming the circuit pattern, the light shielding plate provided in the exposure apparatus is inserted to a predetermined position, and is not exposed to the resist around the alignment mark of the work substrate, but is exposed only to the resist around the circuit pattern. A method of manufacturing a multilayer printed wiring board according to claim 2, wherein a circuit pattern is formed. 前記レジストが、ポジ型レジストであることを特徴とする請求項2、又は3記載の多層プリント配線板の製造方法。   4. The method for producing a multilayer printed wiring board according to claim 2, wherein the resist is a positive resist. 前記積層用の絶縁層及び導体層が、コア基板より狭幅であり、積層後もコア基板に予め形成された貫通孔がワーク基板表面より露出していることを特徴とする請求項2乃至4のいずれか1項記載の多層プリント配線板の製造方法。   5. The insulating layer and conductor layer for lamination are narrower than the core substrate, and through holes previously formed in the core substrate are exposed from the work substrate surface even after lamination. The manufacturing method of the multilayer printed wiring board of any one of these. 前記コア基板と積層用の絶縁層及び導体層がフィルム状である長尺基材により供給されることを特徴とする請求項2乃至5のいずれか1項記載の多層プリント配線板の製造方法。   The method for producing a multilayer printed wiring board according to any one of claims 2 to 5, wherein the core substrate, the insulating layer for lamination and the conductor layer are supplied by a long base material in the form of a film.
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CN103576468A (en) * 2012-08-10 2014-02-12 北京京东方光电科技有限公司 Exposure equipment and control method of baffle of same

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