JP2005209694A - 半導体ウェーハのidマーク認識方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 半導体ウェーハのIDマークの基データをホストコンピュータ2のメモリ9に予め格納し、IDマーク認識装置1により、半導体ウェーハのIDマークを読み取り、読み取ったIDマークを認識できた場合には、IDマークを認識できたことを示す情報をメモリ9内の当該半導体ウェーハの基データに関連付けし、認識できなかった場合には、当該半導体ウェーハのIDマークを、認識エラービットデータとしてIDマーク類推認識部5の認識エラービットデータ格納部6に格納し、比較機能部8で、メモリ9内の前記情報が関連付けられなかった基データと認識エラービットデータとの一致率を計算し、一致率が最大の基データをIDマークと類推した上で、所定の判定基準を満たしたものを当該半導体ウェーハのIDマークと見なす。
【選択図】 図1
Description
2 ホストコンピュータ
3 カメラ
4 エラー訂正機能部
5 IDマーク類推認識部
6 認識エラービットデータ格納部
7 認識エラー基データ格納部
8 比較機能部
9 メモリ
10 抽出部
100 ファインダパターン
200 タイミングパターン
Claims (5)
- 二次元コードで記されたIDマークを有する半導体ウェーハの該IDマークの基データを予めホストコンピュータのメモリに格納しておく工程と、
IDマーク認識装置により前記半導体ウェーハの前記IDマークの読み取りを行い、読み取ったIDマークのデータが、前記IDマーク認識装置のエラー訂正能力の限界を超えない場合には、当該IDマークを認識することができたことを示す情報を前記ホストコンピュータの前記メモリに格納されている当該半導体ウェーハの基データに関連付けし、
前記読み取ったIDマークのデータが、前記IDマーク認識装置のエラー訂正能力の限界を超えた場合には、当該IDマークのデータを、認識エラービットデータとしてIDマーク類推認識部内のメモリに格納する工程と、
前記IDマーク類推認識部の比較機能部で、前記ホストコンピュータのメモリに格納された前記基データのうちの前記情報が関連付けられなかったIDマークの基データと前記IDマーク類推認識部のメモリに格納された前記認識エラービットデータとの一致率を計算し、
前記認識エラービットデータに対して、一致率が最大の前記基データを前記認識エラービットデータの値であると類推した上で、所定の判定基準を満たしたものを前記半導体ウェーハのIDマークと見なす工程と
を有する半導体ウェーハのIDマーク認識方法。 - 前記判定基準は、前記最大の一致率が63%以上であることを特徴とする請求項1記載の半導体ウェーハのIDマーク認識方法。
- 前記判定基準は、前記認識エラービットデータに対して、前記一致率が最大の前記基データと次に大きい前記基データとの一致率の差が、8%以上であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の半導体ウェーハのIDマーク認識方法。
- 前記判定基準は、前記IDマーク認識装置による前記半導体ウェーハのIDマークの認識において、前記IDマーク認識装置のエラー訂正能力の限界を超えた半導体ウェーハの枚数が5枚以下であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の半導体ウェーハのIDマーク認識方法。
- 前記判定基準を満たした前記半導体ウェーハの基データを二次元コードに変換し、前記半導体ウェーハに付す工程をさらに有することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の半導体ウェーハのIDマーク認識方法。
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