JP2005196046A - Generation/verification method and system for electron beam drawing data - Google Patents

Generation/verification method and system for electron beam drawing data Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a generation/verification method and system for electron beam drawing data capable of speeding up drawing data generation/verification processing by concurrently executing drawing data generation and drawing data verification while cooperating both. <P>SOLUTION: The generation/verification method for the electron beam drawing data comprises generating the electron beam drawing data for performing drawing by using an electron beam on an object to be exposed and verifying the generation. After the generation processing of the electron beam drawing data is executed relating to only the portion of layout data and before the generation processing of the electron beam drawing data relating the remaining portion of the layout data, the verification processing of the electron beam drawing data generated relating only to the portion is executed. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、電子線描画データの作成検証方法及び作成検証装置に関し、特に、半導体装置などの製造に用いる描画データを短時間で検証可能とした電子線描画データの作成検証方法及び作成検証装置に関する。   The present invention relates to a creation verification method and a creation verification apparatus for electron beam drawing data, and more particularly, to a creation verification method and a creation verification apparatus for electron beam drawing data capable of verifying drawing data used for manufacturing a semiconductor device or the like in a short time. .

半導体集積回路の性能の向上に伴い、そのパターンの微細化が急速に進められている。電子線(electron beam:EB)を用いた描画方式は、これから必要とされる幅0.25マイクロメータ以下の微細なパターンを形成できるため、実用化が進められている。   With the improvement in performance of semiconductor integrated circuits, the miniaturization of patterns has been rapidly advanced. The drawing method using an electron beam (EB) is being put to practical use because it can form a fine pattern with a width of 0.25 micrometers or less that will be required in the future.

電子線による描画を実行するためには、半導体集積回路のレイアウトデータを電子線描画データ(以下、「描画データ」と略す。)に変換するとともに、作成された描画データを検証する必要がある。   In order to perform drawing with an electron beam, it is necessary to convert the layout data of the semiconductor integrated circuit into electron beam drawing data (hereinafter abbreviated as “drawing data”) and to verify the created drawing data.

図8は、描画データの作成と検証のフローを例示する模式図である。
すなわち、同図は、例えば「マスターレチクル」などの露光マスクを形成する際に実施される描画データの作成処理S1と検証処理S6を表す。
まず、半導体集積回路のレイアウトが設計され、レイアウトデータLDが作成される。レイアウトデータLDは、「CAD(computer aided design)データ」などと呼ばれることもある。
FIG. 8 is a schematic diagram illustrating the flow of creating and verifying drawing data.
That is, the drawing shows drawing data creation processing S1 and verification processing S6 that are performed when an exposure mask such as a “master reticle” is formed.
First, the layout of the semiconductor integrated circuit is designed, and layout data LD is created. The layout data LD is sometimes referred to as “CAD (computer aided design) data”.

このレイアウトデータLDは、作成処理S1を経て描画データDDに変換される。その内容を説明すると、レイアウトデータLDは、まず必要に応じ階層展開(ステップS2)され、次に、各種図形演算処理(ステップS3)が実施される。そして、描画単位領域へのパターン分割(ステップS4)が行われ、描画データフォーマット変換(ステップS5)により、描画データDDが作成される。   The layout data LD is converted into drawing data DD through the creation process S1. The contents will be described. First, the layout data LD is hierarchically expanded as required (step S2), and then various graphic calculation processes (step S3) are performed. Then, pattern division into the drawing unit area (step S4) is performed, and drawing data DD is created by drawing data format conversion (step S5).

このようにして作成された描画データDDは、次に、検証処理S6により検証される(例えば、特許文献1)。すなわち、作成された描画データDDは、ステップS7において、描画データ作成時に行った図形演算とは逆の処理である逆演算処理により、レイアウトデータの図形に逆変換される。このようにして得られたデータと、レイアウトデータLDは、ステップS8においてパターン比較される。一致しないパターンがエラー箇所となる。エラーが検出された場合は、描画データ作成または描画データ検証に不具合や誤りが無いかが適宜分析される。
特開2001−344302号公報
The drawing data DD created in this way is then verified by a verification process S6 (for example, Patent Document 1). In other words, the created drawing data DD is inversely converted into a layout data figure in step S7 by an inverse operation process that is the reverse of the figure operation performed at the time of drawing data creation. The data thus obtained and the layout data LD are subjected to pattern comparison in step S8. The pattern that does not match is the error location. When an error is detected, whether there is any defect or error in drawing data creation or drawing data verification is appropriately analyzed.
JP 2001-344302 A

しかし、上述のような手法によると、描画データの作成処理と検証処理とが直列的に実施されるために処理時間がかかるという問題があった。   However, according to the above-described method, there is a problem that it takes a processing time because the drawing data creation process and the verification process are performed in series.

図9は、描画データ作成処理S1と描画データ検証処理の処理順序を表す模式図である。
また、図10は、描画データ作成処理S1と描画データ検証処理S6にかかる時間をそれぞれ表す模式図である。
FIG. 9 is a schematic diagram showing the processing order of the drawing data creation process S1 and the drawing data verification process.
FIG. 10 is a schematic diagram showing the time required for the drawing data creation process S1 and the drawing data verification process S6.

これらの図に表したように、描画データ検証処理S6は、描画データ作成処理S1の後に実行される。そのため、描画データ作成が完了していても、描画データ作成と同等の処理時間を要する描画データ検証が完了するまで描画を待たなければならなかった。LSI(Large Scale Integrated circuit)の微細化、大規模化に伴い、マスク製造のための電子線描画装置用描画データ作成に要する期間も長くなっている。また、描画データの品質向上のため、作成した描画データに対する検証処理も不可欠となっており、描画データ処理時間の増大に拍車をかけている。   As shown in these drawings, the drawing data verification process S6 is executed after the drawing data creation process S1. For this reason, even if drawing data creation has been completed, drawing has to be waited until drawing data verification that requires processing time equivalent to drawing data creation is completed. As the LSI (Large Scale Integrated circuit) is miniaturized and scaled up, the period required for creating drawing data for an electron beam drawing apparatus for mask manufacturing has also become longer. Further, in order to improve the quality of drawing data, verification processing for the created drawing data is indispensable, which has spurred an increase in drawing data processing time.

本発明は、かかる課題の認識に基づいてなされたものであり、その目的は、描画データ作成と描画データ検証の連携をとりながら、並行して実行させることにより、描画データ作成・検証処理の高速化を図ることができる電子線描画データの作成検証方法及び作成検証装置を提供することにある。   The present invention has been made on the basis of recognition of such a problem. The object of the present invention is to perform drawing data creation / verification processing at high speed by executing them in parallel while coordinating drawing data creation and drawing data verification. An object of the present invention is to provide a creation verification method and creation verification apparatus for electron beam drawing data that can be realized.

本発明の実施の形態においては、LSIのチップ全体を、描画単位領域に対応した小領域に分割し、描画データ作成処理が終了した領域の描画データ検証処理を、別の領域の描画データ作成処理と並行して実行するように制御する。描画データ検証処理の大部分は、描画データ作成処理中に完了するため、描画データ検証時間が短縮されたと同等の効果が得られる。本発明により、描画データ処理の高速化が可能となる。   In the embodiment of the present invention, the entire LSI chip is divided into small areas corresponding to the drawing unit areas, and the drawing data verification process of the area where the drawing data generation process is completed is changed to the drawing data generation process of another area. To be executed in parallel. Since most of the drawing data verification processing is completed during the drawing data creation processing, the same effect as when the drawing data verification time is shortened can be obtained. According to the present invention, it is possible to speed up drawing data processing.

すなわち、本発明によれば、被露光体に対して電子線を用いて描画するための電子線描画データを作成検証する電子線描画データの作成検証方法であって、
レイアウトデータの一部のみについて電子線描画データの作成処理を実行した後、前記レイアウトデータの残りの部分についての電子線描画データの作成処理が終了する前に、前記一部のみについて作成した電子線描画データの検証処理を実行することを特徴とする電子線描画データの作成検証方法が提供される。
That is, according to the present invention, a method for creating and verifying electron beam drawing data for creating and verifying electron beam drawing data for drawing with an electron beam on an object to be exposed,
An electron beam created for only a part of the layout data after the creation process of the electron beam drawing data for only a part of the layout data and before the creation of the electron beam drawing data for the remaining part of the layout data is completed. An electron beam drawing data creation / verification method is provided, which performs a drawing data verification process.

または、被露光体に対して電子線を用いて描画するための電子線描画データを作成検証する電子線描画データの作成検証方法であって、
レイアウトデータのデータ量が所定の値以上である場合には、前記レイアウトデータの一部のみについて電子線描画データの作成処理を実行した後、前記レイアウトデータの残りの部分についての電子線描画データの作成処理が終了する前に、前記一部のみについて作成した電子線描画データの検証処理を実行し、
レイアウトデータのデータ量が所定の値よりも小なる場合には、前記レイアウトデータの全体について電子線描画データの作成処理を実行した後、電子線描画データの検証処理を実行することを特徴とする電子線描画データの作成検証方法が提供される。
Alternatively, an electron beam drawing data creation verification method for creating and verifying electron beam drawing data for drawing with an electron beam on an object to be exposed,
If the data amount of the layout data is equal to or greater than a predetermined value, the generation process of the electron beam drawing data is executed for only a part of the layout data, and then the electron beam drawing data for the remaining part of the layout data is Before the creation process is completed, the verification process of the electron beam drawing data created for only the part is executed,
When the data amount of the layout data is smaller than a predetermined value, the electron beam drawing data verification process is executed after the electron beam drawing data creation process is executed for the entire layout data. A method for creating and verifying electron beam drawing data is provided.

または、被露光体に対して電子線を用いて描画するための電子線描画データを作成検証する電子線描画データの作成検証方法であって、レイアウトデータを複数の処理単位領域に分割する工程と、前記複数の処理単位領域のうちの第1の処理単位領域について電子線描画データの作成処理を実行する工程と、前記複数の処理単位領域のうちの第2の処理単位領域について電子線描画データの作成処理を実行しながら、前記第1の処理単位領域について作成した電子線描画データの検証処理を実行する工程と、を備えたことを特徴とする電子線描画データの作成検証方法が提供される。   Alternatively, a method for creating and verifying electron beam drawing data for creating and verifying electron beam drawing data for drawing on an object to be exposed using an electron beam, the step of dividing layout data into a plurality of processing unit regions; A step of executing creation processing of electron beam drawing data for a first processing unit region of the plurality of processing unit regions, and electron beam drawing data for a second processing unit region of the plurality of processing unit regions A method for verifying the electron beam drawing data created for the first processing unit region while executing the creation process. The

または、被露光体に対して電子線を用いて描画するための電子線描画データを作成検証する電子線描画データの作成検証方法であって、レイアウトデータのデータ量を計算する工程と、前記レイアウトデータのデータ量が所定の値以上である場合に実施する第1の作成検証工程と、前記レイアウトデータのデータ量が所定の値よりも小なる場合に実施する第2の作成検証工程と、を備え、
前記第1の作成検証工程は、レイアウトデータを複数の処理単位領域に分割する工程と、前記複数の処理単位領域のうちの第1の処理単位領域について電子線描画データの作成処理を実行する工程と、前記複数の処理単位領域のうちの第2の処理単位領域について電子線描画データの作成処理を実行しながら、前記第1の処理単位領域について作成した電子線描画データの検証処理を実行する工程と、を含み、
前記第2の作成検証工程は、前記レイアウトデータの全体について電子線描画データの作成処理を実行する工程と、前記レイアウトデータの全体について作成された前記電子線描画データの検証処理を実行する工程と、を含むことを特徴とする電子線描画データの作成検証方法が提供される。
Alternatively, a method of creating and verifying electron beam drawing data for creating and verifying electron beam drawing data for drawing on an object to be exposed using an electron beam, the step of calculating the amount of layout data, and the layout A first creation verification step that is performed when the data amount of the data is equal to or greater than a predetermined value; and a second creation verification step that is performed when the data amount of the layout data is smaller than the predetermined value. Prepared,
The first creation verification step includes a step of dividing layout data into a plurality of processing unit regions, and a step of executing electron beam drawing data creation processing for the first processing unit region of the plurality of processing unit regions. And a verification process of the electron beam drawing data created for the first processing unit area while executing the electron beam drawing data creation process for the second processing unit area of the plurality of processing unit areas. Including a process,
The second creation verification step includes a step of executing generation processing of electron beam drawing data for the entire layout data, and a step of executing verification processing of the electron beam drawing data generated for the entire layout data. , And a method for creating and verifying electron beam drawing data.

ここで、前記複数の処理単位領域に分割する工程において、前記複数の処理単位領域のそれぞれのデータ量が略均一となるように分割するものとすることができる。
また、前記複数の処理単位領域のそれぞれは、ひとつあるいは複数の描画単位領域からなるものとすることができる。
また、前記複数の処理単位領域のいずれかが含む前記描画単位領域の数と、前記複数の処理単位領域の他のいずれかが含む前記描画単位領域の数と、が異なるものとすることができる。
また、前記作成処理と前記検証処理の少なくともいずれかを複数の処理手段により並列処理可能とすることができる。
Here, in the step of dividing into the plurality of processing unit areas, the division may be performed such that the data amounts of the plurality of processing unit areas are substantially uniform.
Each of the plurality of processing unit areas can be composed of one or a plurality of drawing unit areas.
Further, the number of the drawing unit areas included in any one of the plurality of processing unit areas may be different from the number of the drawing unit areas included in any other of the plurality of processing unit areas. .
In addition, at least one of the creation process and the verification process can be performed in parallel by a plurality of processing means.

一方、本発明によれば、被露光体に対して電子線を用いて描画するための電子線描画データを作成検証する電子線描画データの作成検証装置であって、
レイアウトデータの一部のみについて電子線描画データの作成処理を実行した後、前記レイアウトデータの残りの部分についての電子線描画データの作成処理が終了する前に、前記一部のみについて作成した電子線描画データの検証処理を実行するものとして構成されたことを特徴とする電子線描画データの作成検証装置が提供される。
On the other hand, according to the present invention, an electron beam drawing data creation verification apparatus for creating and verifying electron beam drawing data for drawing with an electron beam on an object to be exposed,
An electron beam created for only a part of the layout data after the creation process of the electron beam drawing data for only a part of the layout data and before the creation of the electron beam drawing data for the remaining part of the layout data is completed. An apparatus for verifying the creation of electron beam drawing data, characterized in that it is configured to execute drawing data verification processing, is provided.

または、本発明によれば、被露光体に対して電子線を用いて描画するための電子線描画データを作成検証する電子線描画データの作成検証装置であって、レイアウトデータのデータ量が所定の値以上である場合には、前記レイアウトデータの一部のみについて電子線描画データの作成処理を実行した後、前記レイアウトデータの残りの部分についての電子線描画データの作成処理が終了する前に、前記一部のみについて作成した電子線描画データの検証処理を実行し、レイアウトデータのデータ量が所定の値よりも小なる場合には、前記レイアウトデータの全体について電子線描画データの作成処理を実行した後、電子線描画データの検証処理を実行するものとして構成されたことを特徴とする電子線描画データの作成検証装置が提供される。   Alternatively, according to the present invention, there is provided an electron beam drawing data creation verification apparatus for creating and verifying electron beam drawing data for drawing on an object to be exposed using an electron beam, wherein the amount of layout data is predetermined. If the value is equal to or greater than the value, after executing the electron beam drawing data creation process for only a part of the layout data, before the electron beam drawing data creation process for the remaining part of the layout data is completed. When the verification process of the electron beam drawing data created for only the part is executed and the amount of layout data is smaller than a predetermined value, the electron beam drawing data creation process is performed for the entire layout data. An apparatus for verifying the creation of electron beam drawing data is provided, which is configured to execute verification processing of electron beam drawing data after execution.

または、本発明によれば、被露光体に対して電子線を用いて描画するための電子線描画データを作成検証する電子線描画データの作成検証装置であって、レイアウトデータを複数の処理単位領域に分割し、前記複数の処理単位領域のうちの第1の処理単位領域について電子線描画データの作成処理を実行し、前記複数の処理単位領域のうちの第2の処理単位領域について電子線描画データの作成処理を実行しながら、前記第1の処理単位領域について作成した電子線描画データの検証処理を実行するものとして構成されたことを特徴とする電子線描画データの作成検証装置が提供される。   Alternatively, according to the present invention, there is provided an electron beam drawing data creation verification apparatus for creating and verifying electron beam drawing data for drawing on an object to be exposed using an electron beam. An electron beam drawing data creation process is executed for a first processing unit area of the plurality of processing unit areas, and an electron beam is generated for a second processing unit area of the plurality of processing unit areas. Provided is an electron beam drawing data creation verification device configured to execute verification processing of electron beam drawing data created for the first processing unit area while executing drawing data creation processing. Is done.

または、本発明によれば、被露光体に対して電子線を用いて描画するための電子線描画データを作成検証する電子線描画データの作成検証装置であって、レイアウトデータのデータ量を計算し、前記レイアウトデータのデータ量が所定の値以上である場合には第1の作成検証処理を実施し、前記レイアウトデータのデータ量が所定の値よりも小なる場合には第2の作成検証処理を実施し、前記第1の作成検証処理は、レイアウトデータを複数の処理単位領域に分割する工程と、前記複数の処理単位領域のうちの第1の処理単位領域について電子線描画データの作成処理を実行する工程と、前記複数の処理単位領域のうちの第2の処理単位領域について電子線描画データの作成処理を実行しながら、前記第1の処理単位領域について作成した電子線描画データの検証処理を実行する工程と、を含み、
前記第2の作成検証工程は、前記レイアウトデータの全体について電子線描画データの作成処理を実行する工程と、前記レイアウトデータの全体について作成された前記電子線描画データの検証処理を実行する工程と、を含むものとして構成されたことを特徴とする電子線描画データの作成検証装置が提供される。
Alternatively, according to the present invention, there is provided an electron beam drawing data creation and verification device for creating and verifying electron beam drawing data for drawing on an object to be exposed using an electron beam, and calculating a data amount of layout data When the data amount of the layout data is greater than or equal to a predetermined value, a first creation verification process is performed. When the data amount of the layout data is smaller than the predetermined value, the second creation verification is performed. The first creation verification process includes a step of dividing layout data into a plurality of processing unit areas, and creation of electron beam drawing data for the first processing unit area of the plurality of processing unit areas. A step of executing the process, and an electron beam drawing data creation process for the second process unit area of the plurality of process unit areas, while the electron beam drawing data created for the first process unit area is created. Wherein the step of performing the verification processing of the line drawing data, and
The second creation verification step includes a step of executing generation processing of electron beam drawing data for the entire layout data, and a step of executing verification processing of the electron beam drawing data generated for the entire layout data. , A device for verifying the creation of electron beam drawing data is provided.

ここで、前記複数の処理単位領域に分割する際に、前記複数の処理単位領域のそれぞれのデータ量が略均一となるように分割するものとすることができる。   Here, when dividing into the plurality of processing unit areas, the data amounts of the plurality of processing unit areas may be divided so as to be substantially uniform.

また、前記複数の処理単位領域のそれぞれは、ひとつあるいは複数の描画単位領域からなるものとすることができる。
また、前記複数の処理単位領域のそれぞれが含む前記描画単位領域の数は、同一ではないものとすることができる。
また、複数の処理手段を備え、前記作成処理と前記検証処理の少なくともいずれかを前記複数の処理手段により並列処理可能とすることができる。
Each of the plurality of processing unit areas can be composed of one or a plurality of drawing unit areas.
Further, the number of drawing unit areas included in each of the plurality of processing unit areas may not be the same.
In addition, a plurality of processing means may be provided, and at least one of the creation process and the verification process may be processed in parallel by the plurality of processing means.

本発明によれば、レイアウトデータを複数の処理単位領域に分割し、それぞれの処理単位領域ごとに描画データの作成と検証とを実行可能とすれば、レイアウトデータの全体の描画データを作成する前に、描画データに含まれるエラーを検出することが可能となる。検証処理においてエラーを検出した場合には、描画データの生成を直ちに停止して、描画データの作り直しや修復にとりかかることができるので、無駄な処理をすることが少なくなり、工程時間を大幅に短縮することが可能となる。   According to the present invention, if layout data is divided into a plurality of processing unit areas, and drawing data can be created and verified for each processing unit area, the entire drawing data of the layout data can be created. In addition, an error included in the drawing data can be detected. If an error is detected in the verification process, the drawing data generation can be stopped immediately and the drawing data can be recreated or repaired, reducing unnecessary processing and greatly reducing process time. It becomes possible to do.

またさらに、本発明によれば、描画データの作成処理と検証処理とを並行して実施することが可能となり、合計の処理時間を大幅に短縮することが可能となる。   Furthermore, according to the present invention, the drawing data creation process and the verification process can be performed in parallel, and the total processing time can be greatly reduced.

その結果として、迅速且つ高い歩留まりで超微細加工を確実に実施することができ、産業上のメリットは多大である。   As a result, it is possible to reliably carry out ultra-fine processing with high speed and high yield, and there are great industrial advantages.

以下、図面を参照しつつ本発明の実施の形態について説明する。
図1は、本発明の実施の形態にかかる電子線描画データの作成検証方法のフローを例示する模式図である。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a schematic view illustrating the flow of a method for creating and verifying electron beam drawing data according to an embodiment of the present invention.

本実施形態においては、まず、描画データ作成処理S1において、レイアウトデータLDを入力し、レイアウトデータLDを分割して処理するため、例えば、描画単位領域を基本領域として1回の処理単位領域を設定する処理単位領域設定(ステップS11)を行う。そして、このように分割したそれぞれの処理単位領域ごとに、階層展開(ステップS2)、図形演算(ステップS3)、描画領域分割(ステップS4))、描画データフォーマット変換(ステップS5)を行い、処理単位ごとに分割描画データ12を作成する。全ての処理単位領域について描画データを作成したか否かの判断(ステップS13)をして、未処理の処理単位領域について、階層展開(ステップS2)から描画データフォーマット変換(ステップS5)までの一連の処理を繰り返す。全ての処理単位領域の分割描画データ12が作成できたら、マージ(ステップS14)を行い、描画データDDを作成する。   In the present embodiment, first, in the drawing data creation process S1, layout data LD is input, and the layout data LD is divided and processed. For example, one processing unit area is set with the drawing unit area as a basic area. The processing unit area to be set is set (step S11). Then, for each processing unit area divided in this way, hierarchical expansion (step S2), figure calculation (step S3), drawing area division (step S4)), and drawing data format conversion (step S5) are performed. The divided drawing data 12 is created for each unit. A determination is made as to whether or not drawing data has been created for all processing unit areas (step S13), and a series of processes from hierarchical development (step S2) to drawing data format conversion (step S5) for unprocessed processing unit areas. Repeat the process. When the divided drawing data 12 for all the processing unit areas has been created, merging (step S14) is performed to create the drawing data DD.

一方、描画データ検証処理S6においては、処理単位領域ごとに作成された分割描画データ12を随時入力し、描画データ作成時に行った図形演算の逆演算処理(ステップS7)を行う。また、その分割描画データ12に対応する処理単位領域のデータをレイアウトデータLDから抽出する(ステップS15)。そして、このレイアウトデータLDから抽出したデータと、逆演算処理により得られたデータとのパターン比較(ステップS8)を行う。以上の検証処理を全ての処理単位領域について実行する。   On the other hand, in the drawing data verification process S6, the divided drawing data 12 created for each processing unit area is input as needed, and the inverse operation process (step S7) of the graphic operation performed at the time of drawing data creation is performed. Further, the data of the processing unit area corresponding to the divided drawing data 12 is extracted from the layout data LD (step S15). Then, pattern comparison (step S8) is performed between the data extracted from the layout data LD and the data obtained by the inverse calculation process. The above verification processing is executed for all processing unit areas.

このように、レイアウトデータLDを複数の処理単位領域に分割し、それぞれの処理単位領域ごとに描画データの作成と検証とを実行可能とすれば、レイアウトデータLDの全体の描画データを作成する前に、描画データに含まれるエラーを検出することが可能となる。検証処理においてエラーを検出した場合には、描画データの生成を直ちに停止して、描画データの作り直しや修復にとりかかることができるので、無駄な処理をすることが少なくなり、工程時間を大幅に短縮することが可能となる。   As described above, if the layout data LD is divided into a plurality of processing unit areas and the drawing data can be created and verified for each processing unit area, the entire drawing data of the layout data LD can be created. In addition, an error included in the drawing data can be detected. If an error is detected in the verification process, the drawing data generation can be stopped immediately and the drawing data can be recreated or repaired, reducing unnecessary processing and greatly reducing process time. It becomes possible to do.

またさらに、本実施形態によれば、作成処理S1と検証処理S6とを並行して実施することが可能となり、合計の処理時間を大幅に短縮することが可能となる。   Furthermore, according to the present embodiment, the creation process S1 and the verification process S6 can be performed in parallel, and the total processing time can be greatly reduced.

図2は、本発明の第1の実施例を表す模式図である。
すなわち、同図(a)に表した具体例の場合、レイアウトデータLDを15個の描画単位領域1〜15に分割しておく。そして、最初に1列目の描画単位領域1〜3を1回の処理単位領域と設定して、レイアウトデータを入力し分割描画データを作成する。
FIG. 2 is a schematic diagram showing the first embodiment of the present invention.
That is, in the case of the specific example shown in FIG. 5A, the layout data LD is divided into 15 drawing unit areas 1 to 15. First, the drawing unit areas 1 to 3 in the first column are set as one processing unit area, and layout data is input to create divided drawing data.

ここで、「描画単位領域」は、「フィールド」あるいは「サブフィールド」などとも呼ばれ、描画装置のハードウエアあるいはソフトウエアのスペックにより決定されるサイズ(通常は、一辺が1mm前後の矩形領域)である。具体的には、ハードウエア的な観点からは、描画装置のステージを移動させずに電磁偏向あるいは静電偏向により描画できる範囲とされることがある。また、ソフトウエア的に観点からは、パターンの位置を表すビット数やバッファメモリサイズなどにより決定されることがある。一般に、描画単位領域を小さくするほど描画精度は向上するが、描画時間は増加する。   Here, the “drawing unit area” is also called a “field” or “subfield”, and is a size determined by the hardware or software specifications of the drawing apparatus (usually a rectangular area with a side of about 1 mm). It is. Specifically, from the viewpoint of hardware, there may be a range where drawing can be performed by electromagnetic deflection or electrostatic deflection without moving the stage of the drawing apparatus. From the viewpoint of software, it may be determined by the number of bits representing the position of the pattern, the buffer memory size, or the like. In general, as the drawing unit area is reduced, the drawing accuracy is improved, but the drawing time is increased.

隣接する描画単位領域の間では、必ずパターンを分割する必要があるので、処理単位領域のために新たに分割境界を追加する必要はない。
そしてこの時、描画単位領域1〜3と描画単位領域4〜6の境界でのパターン接続を保証するため、オーバーラップさせた領域のレイアウトデータを入力して処理する。例えば、描画単位領域1〜3の描画データの作成に際しては、隣接する描画単位領域4〜6の一部も含めた領域について描画データの作成を実行するとよい。
Since it is necessary to divide the pattern between adjacent drawing unit areas, it is not necessary to add a new division boundary for the processing unit area.
At this time, in order to guarantee the pattern connection at the boundary between the drawing unit areas 1 to 3 and the drawing unit areas 4 to 6, the layout data of the overlapped area is input and processed. For example, when creating drawing data for the drawing unit areas 1 to 3, drawing data may be created for areas including a part of the adjacent drawing unit areas 4 to 6.

一方、図2(b)に表した具体例の場合、レイアウトデータLDは、横方向に分割されて5個の描画単位領域1〜5が形成されている。この場合には例えば、描画単位領域1〜5のそれぞれを処理単位領域として割り当てることができる。また、この場合も、各描画分割領域の境界においてオーバーラップさせた領域を含めると境界でのパターン接続を保証できる。
本発明は、図2(a)及び(b)のいずれについても適用できるが、以下、図2(a)の如く15個の描画単位領域に分割した具体例を参照しつつ説明する。
On the other hand, in the specific example shown in FIG. 2B, the layout data LD is divided in the horizontal direction to form five drawing unit regions 1 to 5. In this case, for example, each of the drawing unit areas 1 to 5 can be assigned as a processing unit area. Also in this case, the pattern connection at the boundary can be guaranteed by including the overlapped area at the boundary between the drawing divided areas.
The present invention can be applied to both FIG. 2A and FIG. 2B, but will be described below with reference to a specific example divided into 15 drawing unit areas as shown in FIG.

描画単位領域1〜3の分割描画データ作成が完了したら、描画単位領域4〜6の分割描画データ作成にとりかかる。その時点で、描画単位領域1〜3の描画データ検証処理も並行して開始する。最後に描画単位領域13〜15の描画データ検証処理が完了して、すべての描画データ処理が終了となる。   When the divided drawing data creation of the drawing unit areas 1 to 3 is completed, the divided drawing data creation of the drawing unit areas 4 to 6 is started. At that time, the drawing data verification processing of the drawing unit areas 1 to 3 is started in parallel. Finally, the drawing data verification processing for the drawing unit areas 13 to 15 is completed, and all drawing data processing is completed.

図3は、本実施例における処理の流れを時系列に表した模式図である。
本実施例においては、レイアウトデータLDを複数の処理単位領域に分割し、描画データ作成処理S1と描画データ検証処理S6とを並行して進めることにより、描画データ作成・検証処理全体の処理時間は、描画データ作成時間+αにまで短縮することができる。ここで、αは最大処理単位領域の処理時間で律速される。
FIG. 3 is a schematic diagram showing the flow of processing in this embodiment in time series.
In this embodiment, the layout data LD is divided into a plurality of processing unit areas, and the drawing data creation process S1 and the drawing data verification process S6 are performed in parallel, so that the processing time of the entire drawing data creation / verification process is as follows. The drawing data creation time can be shortened to + α. Here, α is limited by the processing time of the maximum processing unit area.

図4は、本発明の第2の実施例を表す模式図である。すなわち、同図は、描画データ作成処理と描画データ検証処理の流れを時系列に表した模式図である。   FIG. 4 is a schematic diagram showing a second embodiment of the present invention. That is, this figure is a schematic diagram showing the flow of drawing data creation processing and drawing data verification processing in time series.

本実施例においても、図2に表したように15個の描画単位領域1〜15に分割されたレイアウトデータLDから描画データを作成する。そしてさらに、本実施例においては、描画データ作成処理S1の先頭で、処理単位領域を設定(図1のステップS11)する際に、各処理単位領域の処理規模が同程度になるように、含まれる描画単位領域の数を調節する。すなわち、それぞれの処理単位領域のデータ量あるいはデータ規模が同程度となるように調節する。   Also in this embodiment, drawing data is created from the layout data LD divided into 15 drawing unit areas 1 to 15 as shown in FIG. Further, in the present embodiment, when the processing unit area is set (step S11 in FIG. 1) at the top of the drawing data creation process S1, the processing scale of each processing unit area is included so as to be approximately the same. Adjust the number of drawing unit areas to be displayed. That is, adjustment is made so that the data amount or the data scale of each processing unit area is approximately the same.

図4に表した具体例においては、最初の処理単位領域の描画単位領域の数を2(描画単位領域1及び2)とし、最後の処理単位領域の描画単位領域数を4(描画単位領域12〜15)とすることにより、均等化を行っている。   In the specific example shown in FIG. 4, the number of drawing unit areas of the first processing unit area is 2 (drawing unit areas 1 and 2), and the number of drawing unit areas of the last processing unit area is 4 (drawing unit area 12). To 15), equalization is performed.

このようにすれば、それぞれの処理単位領域について描画データの作成処理(S1)と検証処理(S6)をほぼ均一にできるので、「待ち時間」を減らして迅速な処理が可能となる。例えば、描画単位領域1及び2について描画データの作成処理(S1)が終了し、これの検証処理(S6)を進める間に、描画単位領域3〜5の描画データの作成処理(S1)を並行させる。そして、描画単位領域1及び2について描画データの検証処理(S6)が終了した時に、ほぼ同時に描画単位領域3〜5の描画データの作成が終了し、これを直ちに検証(S6)することができる。   In this way, the drawing data creation process (S1) and the verification process (S6) can be made substantially uniform for each processing unit area, so that the “waiting time” can be reduced and a rapid process can be performed. For example, the drawing data creation process (S1) for the drawing unit areas 1 and 2 ends, and while the verification process (S6) proceeds, the drawing data creation process (S1) for the drawing unit areas 3 to 5 is performed in parallel. Let Then, when the drawing data verification process (S6) for the drawing unit areas 1 and 2 is completed, the creation of the drawing data of the drawing unit areas 3 to 5 is completed almost simultaneously, and this can be immediately verified (S6). .

図2及び図3に関して前述した第1の実施例の場合、描画データ作成・検証処理全体の処理時間は、描画データ作成時間+αであり、αは最大処理単位領域の処理時間で律速される。これに対して、第2の実施例によれば、処理単位領域のデータ量を均等化することにより、αが小さくなるため、全体の処理時間も短縮される。   In the case of the first embodiment described above with reference to FIGS. 2 and 3, the processing time of the entire drawing data creation / verification process is the drawing data creation time + α, and α is limited by the processing time of the maximum processing unit area. On the other hand, according to the second embodiment, by equalizing the data amount of the processing unit area, α is reduced, so that the entire processing time is also shortened.

図5は、本発明の第3の実施例を表す模式図である。すなわち、同図も、描画データ作成処理と描画データ検証処理の流れを時系列に表した模式図である。   FIG. 5 is a schematic diagram showing a third embodiment of the present invention. That is, this figure is also a schematic diagram showing the flow of drawing data creation processing and drawing data verification processing in time series.

本実施例においても、図2に表したように15個の描画単位領域1〜15に分割されたレイアウトデータLDから描画データを作成する。そしてさらに、本実施例においては、描画データ検証処理(S6)を複数の計算機で並列実行できる環境を用意し、分割描画データができるたびに空いている計算機で検証処理を実行させる。図5に表した具体例の場合、3台の計算機C1〜C3が設けられ、描画データの作成処理(S1)は一台の計算機C1により実行され、描画データ検証処理(S6)は2台の計算機C1、C2により適宜実行される。図5に表した具体例の場合、描画単位領域7〜9、13〜15に対応する描画データは、2台目の計算機C2で並列実行される。   Also in this embodiment, drawing data is created from the layout data LD divided into 15 drawing unit areas 1 to 15 as shown in FIG. Further, in this embodiment, an environment in which the drawing data verification process (S6) can be executed in parallel by a plurality of computers is prepared, and the verification process is executed by an available computer every time divided drawing data is generated. In the case of the specific example shown in FIG. 5, three computers C1 to C3 are provided, the drawing data creation processing (S1) is executed by one computer C1, and the drawing data verification processing (S6) is performed by two computers. This is appropriately executed by the computers C1 and C2. In the specific example shown in FIG. 5, the drawing data corresponding to the drawing unit areas 7 to 9 and 13 to 15 are executed in parallel by the second computer C2.

図2及び図3に関して前述した第1の実施例では、検証処理全体の処理時間は、描画データ作成時間+αで、αは最大処理単位領域の処理時間で律速される。これに対して、第3の実施例によれば、検証処理(S6)を並列実行することにより、αは最後の処理単位領域で決まる。つまり、最後の処理単位領域の規模を小さくすることにより、全体の処理時間も短縮される。   In the first embodiment described above with reference to FIGS. 2 and 3, the processing time of the entire verification process is determined by the drawing data creation time + α, and α is determined by the processing time of the maximum processing unit area. On the other hand, according to the third embodiment, α is determined by the last processing unit area by executing the verification process (S6) in parallel. In other words, the overall processing time is shortened by reducing the scale of the last processing unit area.

その結果として、処理単位領域のデータ量が不均一な場合でも、「待ち時間」を生じさせることなく描画データの検証処理を実行でき、全体の処理時間をさらに短縮できる。   As a result, even when the amount of data in the processing unit area is uneven, the drawing data verification process can be executed without causing a “waiting time”, and the overall processing time can be further reduced.

図6は、本発明の第4の実施例を表す模式図である。すなわち、同図は、描画データ作成処理と描画データ検証処理の流れを時系列に表した模式図である。   FIG. 6 is a schematic diagram showing a fourth embodiment of the present invention. That is, this figure is a schematic diagram showing the flow of drawing data creation processing and drawing data verification processing in time series.

本実施例においても、図2に表したように15個の描画単位領域1〜15に分割されたレイアウトデータLDから描画データを作成する。そしてさらに、本実施例においては、描画データ検証処理(S6)と、描画データ作成処理(S1)のいずれも処理単位領域ごとに並列実行させる。   Also in this embodiment, drawing data is created from the layout data LD divided into 15 drawing unit areas 1 to 15 as shown in FIG. Further, in this embodiment, both the drawing data verification process (S6) and the drawing data creation process (S1) are executed in parallel for each processing unit area.

すなわち、図6に表した具体例の場合、4台の計算機C1〜C4が設けられ、描画データの作成処理(S1)は2台の計算機C1、C2により実行され、描画データ検証処理(S6)も2台の計算機C3、C4により適宜実行される。図6に表した具体例の場合、描画単位領域1〜3、7〜9、13〜15に対応する描画データは1台目の計算機C1で作成され、描画単位領域4〜6、10〜12に対応する描画データは2台目の計算機C2で作成される。そして、描画単位領域1〜3、7〜9、13〜15に対応する描画データは3台目の計算機C3で検証され、描画単位領域4〜6、10〜12に対応する描画データは4台目の計算機C4で検証される。   That is, in the specific example shown in FIG. 6, four computers C1 to C4 are provided, and the drawing data creation process (S1) is executed by the two computers C1 and C2, and the drawing data verification process (S6). Is also appropriately executed by the two computers C3 and C4. In the case of the specific example shown in FIG. 6, the drawing data corresponding to the drawing unit areas 1 to 3, 7 to 9, and 13 to 15 is created by the first computer C1, and the drawing unit areas 4 to 6 and 10 to 12 are generated. The drawing data corresponding to is generated by the second computer C2. The drawing data corresponding to the drawing unit areas 1 to 3, 7 to 9, and 13 to 15 is verified by the third computer C3, and the drawing data corresponding to the drawing unit areas 4 to 6 and 10 to 12 is four. It is verified by the eye computer C4.

図2及び図3に関して前述した第1の実施例では、検証処理全体の処理時間は、描画データ作成時間+αで、αは最大処理単位領域の処理時間で律速される。これに対して、第4の実施例では、αは最後の処理単位領域で決まり、描画データ作成時間も並列実行数に応じて短縮できるため、全体の処理時間も大幅に短縮可能である。   In the first embodiment described above with reference to FIGS. 2 and 3, the processing time of the entire verification process is determined by the drawing data creation time + α, and α is determined by the processing time of the maximum processing unit area. On the other hand, in the fourth embodiment, α is determined by the last processing unit area, and the drawing data creation time can be shortened according to the number of parallel executions. Therefore, the entire processing time can be greatly shortened.

また、本実施例においては、データ作成処理を実行する2台の計算機C1、C2と、データ検証処理を実行する2台の計算機C3、C4と、を対応づける必要はない。すなわち、2台の計算機C1、C2を用いて順次出力される分割描画データは、2台の計算機C3、C4のうちのいずれかに適宜振り分けることができる。典型的には、データ検証を実行する2台の計算機C3、C4のうちで、処理すべきデータを待っている計算機に描画データを入力すればよい。また、2台の計算機C3、C4がいずれもデータ処理中の場合には、先にデータ処理が終了した計算機に描画データを入力すればよい。   Further, in this embodiment, it is not necessary to associate the two computers C1 and C2 that execute the data creation process with the two computers C3 and C4 that execute the data verification process. That is, the divided drawing data sequentially output using the two computers C1 and C2 can be appropriately distributed to one of the two computers C3 and C4. Typically, drawing data may be input to a computer that is waiting for data to be processed among the two computers C3 and C4 that execute data verification. Further, when both the two computers C3 and C4 are processing data, drawing data may be input to the computer that has completed the data processing first.

次に、本発明の第5の実施例として、レイアウトデータのデータ量に応じて検証処理の方法を選択する具体例のついて説明する。
図7は、本実施例における処理のフローを表す模式図である。
すなわちまず、レイアウトデータLDを入力し、全体のデータ量Tを計算する(ステップS20)。データ量Tを表すパラメータとしては、例えば、図形数、辺の数、頂点の数などを挙げることができる。このような各種のパラメータのうちで、描画データ作成プログラムのアルゴリズムを考慮し、処理時間との相関関係が高いパラメータを用いてデータ量Tを評価する。
Next, as a fifth embodiment of the present invention, a specific example in which a verification processing method is selected according to the amount of layout data will be described.
FIG. 7 is a schematic diagram illustrating a processing flow in the present embodiment.
That is, first, layout data LD is input, and the total data amount T is calculated (step S20). Examples of the parameter representing the data amount T include the number of figures, the number of sides, the number of vertices, and the like. Of these various parameters, the data amount T is evaluated using a parameter having a high correlation with the processing time in consideration of the algorithm of the drawing data creation program.

次に、データ量Tと基準データ量Tとを比較する(ステップS22)。ここで、基準データ量Tは、要求される処理時間に応じて設定することができる。データ量Tが基準データ量Tより少ない場合(ステップS22:no)は、レイアウトデータLDの分割は実施せず、図8乃至図10に関して前述したように描画データの作成処理と検証処理とを直列的に実行する(ステップS24)。つまり、描画データの作成処理と検証処理とを直列的に実施しても処理時間が要求される範囲内に収まる場合には、図1乃至図6に関して前述したような並列処理は実施する必要がない。 Then, comparing the amount of data T and the reference data amount T S (step S22). Here, the reference data amount T S can be set according to the required processing time. If the amount of data T is smaller than the reference amount of data T S (step S22: no) is not carried out the division of the layout data LD, the process of creating the drawing data as described above with reference to FIG. 8 through FIG. 10 and the verification process It executes serially (step S24). That is, if the processing time is within the required range even if the drawing data creation process and the verification process are performed in series, the parallel processing described above with reference to FIGS. 1 to 6 needs to be performed. Absent.

一方、データ量Tが基準データ量Tより多い場合(ステップS22:yes) は、描画単位領域毎に含まれるデータ量を計算(ステップS26)し、処理単位領域の面積が均一となるように処理単位領域を設定(ステップS28)する。そして、処理単位領域毎のデータ量を計算し、平均データ量Aと最大データ量Mを求める(ステップS30)。そして、平均データ量Aと最大データ量Mとの差を算出し、バラツキの基準値Tと比較する(ステップS32)。 On the other hand, if the amount of data T is larger than the reference amount of data T S (step S22: yes), the calculation of the amount of data contained in each of the imaging unit area (step S26) and, as the area of a unit region becomes uniform A processing unit area is set (step S28). Then, the data amount for each processing unit area is calculated, and the average data amount A and the maximum data amount M are obtained (step S30). Then, to calculate the difference between the average data amount A and the maximum amount of data M, is compared with the reference value T P of variation (step S32).

MとAとの差がバラツキの基準値T以下の場合(ステップS32:no)は、図3に関して前述した第1実施例の処理を実行する(ステップS34)。すなわち、それぞれの面積が均一になるように処理単位領域に分割して、描画データ作成処理と描画データ検証処理を並列に実行する。 If the difference between M and A is equal to or less than the reference value T P of variation (step S32: no) performs the process of the first embodiment described above with reference to FIG. 3 (step S34). That is, the drawing data creation processing and the drawing data verification processing are executed in parallel by dividing the processing unit region so that the respective areas are uniform.

一方、MとAとの差がバラツキの基準値Tより多い場合(ステップS32:yes)は、図4に関して前述した第2実施例の処理を実行する。すなわち、描画データ作成処理と描画データ検証処理の全体の処理時間を短縮するため、データ量が均一となるように処理単位領域を再設定する(ステップS36)。そして、描画データ作成処理と描画データ検証処理を並列に実行する。
描画データ作成処理と描画データ検証処理を並列に実行する(ステップS38)。
On the other hand, when the difference between M and A is larger than the reference value T P of variation (step S32: yes) executes the processing of the second embodiment described above with respect to FIG. That is, in order to shorten the overall processing time of the drawing data creation process and the drawing data verification process, the processing unit area is reset so that the data amount becomes uniform (step S36). Then, the drawing data creation process and the drawing data verification process are executed in parallel.
The drawing data creation process and the drawing data verification process are executed in parallel (step S38).

バラツキの基準値Tは、データ量の均一化をしたほうが全体の処理時間が短縮されるか否かという観点から適宜決定することができる。すなわち、ステップS36における再設定の処理を実施すると、それだけ処理時間が増加するが、第2実施例に関して前述したように、データ量を均一化することにより、全体の処理時間が短縮されるという効果が得られる。処理単位領域のデータ量のバラツキが少ない場合には、均一化処理(ステップS36)を実行することなく第1実施例の如く処理を実行したほうが処理時間が短くなる。一方、処理単位領域のデータ量のバラツキが大きい場合には、第2実施例の如く、データ量を均一化する再設定(ステップS36)をしたほうが全体の処理時間が短くなる。従って、これらの処理時間の増減の効果を勘案して、バラツキの基準値Tを決定すればよい。 Reference value T P of variation can be appropriately determined from the viewpoint of whether better to the uniform amount of data is shortened overall processing time. That is, if the resetting process in step S36 is performed, the processing time increases accordingly. However, as described above with respect to the second embodiment, the entire processing time is shortened by making the data amount uniform. Is obtained. When the variation in the data amount of the processing unit area is small, the processing time is shorter when the processing is executed as in the first embodiment without executing the equalization processing (step S36). On the other hand, when the variation in the data amount of the processing unit area is large, the entire processing time is shortened by resetting the data amount to be uniform (step S36) as in the second embodiment. Therefore, in consideration of the effect of these processing times increase and decrease, it may be determined reference value T P variations.

以上、具体例を参照しつつ本発明の実施の形態について説明した。しかし、本発明は、これらの具体例に限定されるものではない。   The embodiments of the present invention have been described above with reference to specific examples. However, the present invention is not limited to these specific examples.

例えば、本発明は、マスクの製造のみに限定されるものではなく、半導体集積回路のウェーハ上にレジストを形成した被処理体に電子線描画を行うための電子線描画データの検証にも適用できる。   For example, the present invention is not limited only to the manufacture of a mask, but can also be applied to verification of electron beam drawing data for performing electron beam drawing on a target object in which a resist is formed on a wafer of a semiconductor integrated circuit. .

その他、本発明の要素を具備し、当業者が適宜設計変更しうる全ての電子線描画データの作成検証方法及び作成検証装置は本発明の範囲に包含される。   In addition, all electron beam drawing data creation verification methods and creation verification apparatuses that include elements of the present invention and that can be appropriately modified by those skilled in the art are included in the scope of the present invention.

本発明の実施の形態にかかる電子線描画データの作成検証方法のフローを例示する模式図である。It is a schematic diagram which illustrates the flow of the production verification method of the electron beam drawing data concerning embodiment of this invention. 本発明の第1の実施例を表す模式図である。It is a schematic diagram showing the 1st example of the present invention. 第1の実施例における処理の流れを時系列に表した模式図である。It is the schematic diagram which represented the flow of the process in a 1st Example in time series. 本発明の第2の実施例を表す模式図である。It is a schematic diagram showing the 2nd Example of this invention. 本発明の第3の実施例を表す模式図である。It is a schematic diagram showing the 3rd Example of this invention. 本発明の第4の実施例を表す模式図である。It is a schematic diagram showing the 4th Example of this invention. 本発明の第5の実施例における処理のフローを表す模式図である。It is a schematic diagram showing the flow of the process in the 5th Example of this invention. 描画データの作成と検証のフローを例示する模式図である。It is a schematic diagram which illustrates the flow of creation and verification of drawing data. 描画データ作成処理S1と描画データ検証処理の処理順序を表す模式図である。It is a schematic diagram showing the processing order of drawing data creation processing S1 and drawing data verification processing. 描画データ作成処理S1と描画データ検証処理S6にかかる時間をそれぞれ表す模式図である。It is a schematic diagram showing time concerning drawing data creation processing S1 and drawing data verification processing S6, respectively.

符号の説明Explanation of symbols

1〜15 描画単位領域
C1〜C4 計算機
DD 描画データ
LD レイアウトデータ
S1 描画データ作成処理
S6 描画データ検証処理
1 to 15 Drawing unit areas C1 to C4 Computer DD Drawing data LD Layout data S1 Drawing data creation processing S6 Drawing data verification processing

Claims (12)

被露光体に対して電子線を用いて描画するための電子線描画データを作成検証する電子線描画データの作成検証方法であって、
レイアウトデータの一部のみについて電子線描画データの作成処理を実行した後、前記レイアウトデータの残りの部分についての電子線描画データの作成処理が終了する前に、前記一部のみについて作成した電子線描画データの検証処理を実行することを特徴とする電子線描画データの作成検証方法。
An electron beam drawing data creation verification method for creating and verifying electron beam drawing data for drawing with an electron beam on an object to be exposed,
An electron beam created for only a part of the layout data after the creation process of the electron beam drawing data for only a part of the layout data and before the creation of the electron beam drawing data for the remaining part of the layout data is completed. A method for creating and verifying electron beam drawing data, comprising performing a drawing data verification process.
被露光体に対して電子線を用いて描画するための電子線描画データを作成検証する電子線描画データの作成検証方法であって、
レイアウトデータのデータ量が所定の値以上である場合には、前記レイアウトデータの一部のみについて電子線描画データの作成処理を実行した後、前記レイアウトデータの残りの部分についての電子線描画データの作成処理が終了する前に、前記一部のみについて作成した電子線描画データの検証処理を実行し、
レイアウトデータのデータ量が所定の値よりも小なる場合には、前記レイアウトデータの全体について電子線描画データの作成処理を実行した後、電子線描画データの検証処理を実行することを特徴とする電子線描画データの作成検証方法。
An electron beam drawing data creation verification method for creating and verifying electron beam drawing data for drawing with an electron beam on an object to be exposed,
If the data amount of the layout data is equal to or greater than a predetermined value, the generation process of the electron beam drawing data is executed for only a part of the layout data, and then the electron beam drawing data for the remaining part of the layout data is Before the creation process is completed, the verification process of the electron beam drawing data created for only the part is executed,
When the data amount of the layout data is smaller than a predetermined value, the electron beam drawing data verification process is executed after the electron beam drawing data creation process is executed for the entire layout data. A method for creating and verifying electron beam drawing data.
被露光体に対して電子線を用いて描画するための電子線描画データを作成検証する電子線描画データの作成検証方法であって、
レイアウトデータを複数の処理単位領域に分割する工程と、
前記複数の処理単位領域のうちの第1の処理単位領域について電子線描画データの作成処理を実行する工程と、
前記複数の処理単位領域のうちの第2の処理単位領域について電子線描画データの作成処理を実行しながら、前記第1の処理単位領域について作成した電子線描画データの検証処理を実行する工程と、
を備えたことを特徴とする電子線描画データの作成検証方法。
An electron beam drawing data creation verification method for creating and verifying electron beam drawing data for drawing with an electron beam on an object to be exposed,
Dividing layout data into a plurality of processing unit areas;
Performing a process of creating electron beam drawing data for a first processing unit region of the plurality of processing unit regions;
Executing verification processing of the electron beam drawing data created for the first processing unit region while executing generation processing of the electron beam drawing data for the second processing unit region of the plurality of processing unit regions; ,
A method for creating and verifying electron beam drawing data, comprising:
被露光体に対して電子線を用いて描画するための電子線描画データを作成検証する電子線描画データの作成検証方法であって、
レイアウトデータのデータ量を計算する工程と、
前記レイアウトデータのデータ量が所定の値以上である場合に実施する第1の作成検証工程と、
前記レイアウトデータのデータ量が所定の値よりも小なる場合に実施する第2の作成検証工程と、
を備え、
前記第1の作成検証工程は、
レイアウトデータを複数の処理単位領域に分割する工程と、
前記複数の処理単位領域のうちの第1の処理単位領域について電子線描画データの作成処理を実行する工程と、
前記複数の処理単位領域のうちの第2の処理単位領域について電子線描画データの作成処理を実行しながら、前記第1の処理単位領域について作成した電子線描画データの検証処理を実行する工程と、
を含み、
前記第2の作成検証工程は、
前記レイアウトデータの全体について電子線描画データの作成処理を実行する工程と、
前記レイアウトデータの全体について作成された前記電子線描画データの検証処理を実行する工程と、
を含むことを特徴とする電子線描画データの作成検証方法。
An electron beam drawing data creation verification method for creating and verifying electron beam drawing data for drawing with an electron beam on an object to be exposed,
Calculating the amount of layout data;
A first creation verification step that is performed when the data amount of the layout data is equal to or greater than a predetermined value;
A second creation verification step that is performed when the data amount of the layout data is smaller than a predetermined value;
With
The first creation verification step includes
Dividing layout data into a plurality of processing unit areas;
Performing a process of creating electron beam drawing data for a first processing unit region of the plurality of processing unit regions;
Executing verification processing of the electron beam drawing data created for the first processing unit region while executing generation processing of the electron beam drawing data for the second processing unit region of the plurality of processing unit regions; ,
Including
The second creation verification step includes
A step of executing creation processing of electron beam drawing data for the entire layout data;
Performing verification processing of the electron beam drawing data created for the entire layout data;
A method for creating and verifying electron beam drawing data, comprising:
前記複数の処理単位領域に分割する工程において、前記複数の処理単位領域のそれぞれのデータ量が略均一となるように分割することを特徴とする請求項3または4に記載の電子線描画データの作成検証方法。   5. The electron beam drawing data according to claim 3, wherein, in the step of dividing the plurality of processing unit regions, the division is performed so that the data amount of each of the plurality of processing unit regions is substantially uniform. Creation verification method. 前記複数の処理単位領域のそれぞれは、ひとつあるいは複数の描画単位領域からなることを特徴とする請求項3〜5のいずれか1つに記載の電子線描画データの作成検証方法。   6. The method for verifying the creation and verification of electron beam drawing data according to claim 3, wherein each of the plurality of processing unit areas includes one or a plurality of drawing unit areas. 前記複数の処理単位領域のいずれかが含む前記描画単位領域の数と、前記複数の処理単位領域の他のいずれかが含む前記描画単位領域の数と、が異なることを特徴とする請求項6記載の電子線描画データの作成検証方法。   The number of the drawing unit areas included in any of the plurality of processing unit areas is different from the number of the drawing unit areas included in any of the other processing unit areas. A method of creating and verifying the described electron beam drawing data. 前記作成処理と前記検証処理の少なくともいずれかを複数の処理手段により並列処理可能としたことを特徴とする請求項1〜7のいずれか1つに記載の電子線描画データの作成検証方法。   8. The method of creating and verifying electron beam drawing data according to claim 1, wherein at least one of the creation process and the validation process can be performed in parallel by a plurality of processing means. 被露光体に対して電子線を用いて描画するための電子線描画データを作成検証する電子線描画データの作成検証装置であって、
レイアウトデータの一部のみについて電子線描画データの作成処理を実行した後、前記レイアウトデータの残りの部分についての電子線描画データの作成処理が終了する前に、前記一部のみについて作成した電子線描画データの検証処理を実行するものとして構成されたことを特徴とする電子線描画データの作成検証装置。
An electron beam drawing data creation verification apparatus for creating and verifying electron beam drawing data for drawing with an electron beam on an object to be exposed,
An electron beam created for only a part of the layout data after the creation process of the electron beam drawing data for only a part of the layout data and before the creation of the electron beam drawing data for the remaining part of the layout data is completed. An apparatus for verifying the creation of electron beam drawing data, characterized in that the drawing data verification process is executed.
被露光体に対して電子線を用いて描画するための電子線描画データを作成検証する電子線描画データの作成検証装置であって、
レイアウトデータのデータ量が所定の値以上である場合には、前記レイアウトデータの一部のみについて電子線描画データの作成処理を実行した後、前記レイアウトデータの残りの部分についての電子線描画データの作成処理が終了する前に、前記一部のみについて作成した電子線描画データの検証処理を実行し、
レイアウトデータのデータ量が所定の値よりも小なる場合には、前記レイアウトデータの全体について電子線描画データの作成処理を実行した後、電子線描画データの検証処理を実行するものとして構成されたことを特徴とする電子線描画データの作成検証装置。
An electron beam drawing data creation verification apparatus for creating and verifying electron beam drawing data for drawing with an electron beam on an object to be exposed,
If the data amount of the layout data is equal to or greater than a predetermined value, the generation process of the electron beam drawing data is executed for only a part of the layout data, and then the electron beam drawing data for the remaining part of the layout data is Before the creation process is completed, the verification process of the electron beam drawing data created for only the part is executed,
When the data amount of the layout data is smaller than a predetermined value, the electron beam drawing data creation process is executed for the entire layout data, and then the electron beam drawing data verification process is executed. An apparatus for creating and verifying electron beam drawing data.
被露光体に対して電子線を用いて描画するための電子線描画データを作成検証する電子線描画データの作成検証装置であって、
レイアウトデータを複数の処理単位領域に分割し、
前記複数の処理単位領域のうちの第1の処理単位領域について電子線描画データの作成処理を実行し、
前記複数の処理単位領域のうちの第2の処理単位領域について電子線描画データの作成処理を実行しながら、前記第1の処理単位領域について作成した電子線描画データの検証処理を実行するものとして構成されたことを特徴とする電子線描画データの作成検証装置。
An electron beam drawing data creation verification apparatus for creating and verifying electron beam drawing data for drawing with an electron beam on an object to be exposed,
Divide layout data into multiple processing unit areas,
Executing a process for creating electron beam drawing data for a first processing unit region of the plurality of processing unit regions;
The verification process of the electron beam drawing data created for the first processing unit area is executed while the electron beam drawing data creation process is executed for the second processing unit area of the plurality of processing unit areas. An apparatus for creating and verifying electron beam drawing data, characterized by being configured.
被露光体に対して電子線を用いて描画するための電子線描画データを作成検証する電子線描画データの作成検証装置であって、
レイアウトデータのデータ量を計算し、
前記レイアウトデータのデータ量が所定の値以上である場合には第1の作成検証処理を実施し、
前記レイアウトデータのデータ量が所定の値よりも小なる場合には第2の作成検証処理を実施し、
前記第1の作成検証処理は、
レイアウトデータを複数の処理単位領域に分割する工程と、
前記複数の処理単位領域のうちの第1の処理単位領域について電子線描画データの作成処理を実行する工程と、
前記複数の処理単位領域のうちの第2の処理単位領域について電子線描画データの作成処理を実行しながら、前記第1の処理単位領域について作成した電子線描画データの検証処理を実行する工程と、
を含み、
前記第2の作成検証工程は、
前記レイアウトデータの全体について電子線描画データの作成処理を実行する工程と、
前記レイアウトデータの全体について作成された前記電子線描画データの検証処理を実行する工程と、
を含むものとして構成されたことを特徴とする電子線描画データの作成検証装置。



An electron beam drawing data creation verification apparatus for creating and verifying electron beam drawing data for drawing with an electron beam on an object to be exposed,
Calculate the amount of layout data,
When the data amount of the layout data is greater than or equal to a predetermined value, a first creation verification process is performed,
When the data amount of the layout data is smaller than a predetermined value, a second creation verification process is performed,
The first creation verification process includes:
Dividing layout data into a plurality of processing unit areas;
Performing a process of creating electron beam drawing data for a first processing unit region of the plurality of processing unit regions;
Executing verification processing of the electron beam drawing data created for the first processing unit region while executing generation processing of the electron beam drawing data for the second processing unit region of the plurality of processing unit regions; ,
Including
The second creation verification step includes
A step of executing creation processing of electron beam drawing data for the entire layout data;
Performing verification processing of the electron beam drawing data created for the entire layout data;
An apparatus for verifying the creation of electron beam drawing data, characterized by comprising:



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