JP2005195707A - テラヘルツ電磁波発振器 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 テラヘルツ電磁波発生装置に用いる結晶において、結晶内部あるいは結晶表面の一部を加工し、共振器構造を形成することにより、テラヘルツ電磁波取出し方向にフォノンあるいはフォノンポラリトンの定在波を発生させ、高効率テラヘルツ差周波発生を実現し得るテラヘルツ電磁波発生装置を実現する。
【選択図】 図3
Description
さらに、有機結晶であるDAST(4−dimethylamino−N−methyl−4−stilbazolium tosylate :ジメチルアミノスチルバゾリウム トシレイト)結晶を用いた差周波発生では、最近、出力はGaP結晶に及ばないものの2〜20THzの極めて広い周波数範囲でのテラヘルツ電磁波発生が確認されている(例えば、非特許文献2を参照)。
T.Tanabe,K.Suto,J.Nishizawa,T.Kimura,K.saito,Journal of Applied Physics 93,4610(2003)など T.Taniuchi,J.Shikata,and H.Ito,Electron.Lett.36,1414(2000).
2…第2のポンプ光
3…テラヘルツ電磁波
4…ポンプ光が結晶内でなす角度θin
5…テラヘルツ電磁波の結晶内角度θout
6…結晶
7…共振器構造反射面の共振器構造出力面からのずれ角θ
8a,80a…金属あるいは誘電体膜層からなる共振器構造出力面
9a…金属あるいは誘電体膜層からなる共振器構造反射面
8b,80b…拡散あるいは合金層からなる共振器構造出力面
9b…拡散あるいは合金層からなる共振器構造反射面
8c,80c…結晶欠陥層からなる共振器構造出力面
9c…結晶欠陥層からなる共振器構造反射面
10…電極
11…ホーンアンテナあるいはプリズム
12a,b,c…近接場光
13…導波路
14…クラッド層
15…テーパ型導波路
60…GaP基板結晶
61、63…AlGaP成長層
62、66…GaP成長層
64…マスク材
65…エッチング溝
Claims (9)
- 第1のポンプ光および波長可変の第2のポンプ光を用い、前記ポンプ光の2つのビームが互いに微小な角度で入射しフォノンまたはフォノンポラリトンを周波数混合用結晶の中に励起する手段を有し、前記結晶の少なくとも結晶内部の一部、あるいは少なくとも結晶表面の一部を加工し、テラヘルツ電磁波のほぼ取り出し方向に共振器構造を設けたことを特徴とするテラヘルツ電磁波発生装置。
- 前記結晶の共振器構造を形成する結晶表面の一部が、少なくとも金属層、誘電体膜層、拡散層、合金層、あるいは結晶欠陥層で覆われていることを特徴とする請求項1に記載のテラヘルツ電磁波発生装置。
- 前記結晶の共振器構造を形成する結晶内部の一部がヘテロ接合によって形成される導波路構造を有することを特徴とする、請求項1に記載のテラヘルツ電磁波発生装置。
- 前記結晶の共振器構造を形成する結晶表面の少なくとも一部に電極を設け、電源を接続し、電流注入を行うことを特徴とする請求項1に記載のテラヘルツ電磁波発生装置。
- 請求項2の記載において、共振器構造を形成する2平面のうちのテラヘルツ電磁波を出力する側の結晶表面の一部が、少なくともスリット状に加工された金属層、誘電体膜層、拡散層、合金層、あるいは結晶欠陥層で形成されていることを特徴とする請求項1に記載のテラヘルツ電磁波発生装置。
- 前記共振器長が、nを周波数混合用の結晶中でのフォノンまたはフォノンポラリトンに対する屈折率、λを発生するテラヘルツ電磁波の波長とした場合に、λ/2nの整数倍になっていることを特徴とする請求項1から4に記載のテラヘルツ電磁波発生装置。
- 前記結晶が、GaP、LiNbO3、GaAs、CdSe、GaSeおよびDASTのいずれかであることを特徴とする請求項1から6に記載のテラヘルツ電磁波発生装置。
- 請求項3に記載のヘテロ接合がGaPおよびAlGaPによって形成され、GaP層を導波路として、AlGaPをクラッド層として用いることを特徴とする請求項1に記載のテラヘルツ電磁波発生装置。
- 前記第1のポンプ光として波長1.0μmより長波長のレーザ光を用い、波長可変の第2のポンプ光の周波数の差周波数が0.15THzから7THzの範囲にあることを特徴とする請求項1から6に記載のテラヘルツ電磁波発生装置。
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