JP2005182923A - Optical axis correction apparatus and optical disk master disk exposure apparatus - Google Patents

Optical axis correction apparatus and optical disk master disk exposure apparatus Download PDF

Info

Publication number
JP2005182923A
JP2005182923A JP2003422854A JP2003422854A JP2005182923A JP 2005182923 A JP2005182923 A JP 2005182923A JP 2003422854 A JP2003422854 A JP 2003422854A JP 2003422854 A JP2003422854 A JP 2003422854A JP 2005182923 A JP2005182923 A JP 2005182923A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical axis
photodetector
beam splitter
laser
movable
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2003422854A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Zen Kon
禅 近
Toshinori Sugiyama
寿紀 杉山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Maxell Ltd
Original Assignee
Hitachi Maxell Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Maxell Ltd filed Critical Hitachi Maxell Ltd
Priority to JP2003422854A priority Critical patent/JP2005182923A/en
Publication of JP2005182923A publication Critical patent/JP2005182923A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
  • Optical Head (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical disk master disk exposure apparatus where the optical image of laser beams condensed on an optical disk master disk is kept to be optimal, and micronized pits or grooves are formed. <P>SOLUTION: In the optical disk master disk exposure apparatus 300 having an optical axis correction apparatus 100 for correcting the deviation of the optical axis of a laser beams emitted from a laser generator 1, the optical axis correction apparatus 100 is provided with a movable mirror 2, a first optical detector 6 (near point sensor) for detecting the deviation of a movable beam splitter 4 and the optical axis, a convex lens 32 arranged between the movable beam splitter 4 and the first optical detector 6, and a second optical detector 9 (far point sensor) for detecting the deviation of the optical axis at downstream side of the movable beam splitter 4. When the intersection of the movable beam splitter 4 and the optical axis of a branched laser beam is set to be an object point to the convex lens 32, the movable mirror 2 and the movable beam splitter 4 are driven by a moving amount and a moving direction by which the positional deviation of the optical axis is eliminated so as to arrange the image point of the convex lens 32 on the first optical detector 6 (near point sensor). Thus, the deviation of the optical axis of the laser beam is corrected. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、光ディスク用原盤露光装置等に関し、より詳しくは、上流の光軸の変動を吸収し下流の光軸を一定に保つ光ディスク用原盤露光装置等に関する。   The present invention relates to an optical disk master exposure apparatus and the like, and more particularly to an optical disk master exposure apparatus that absorbs fluctuations in the upstream optical axis and keeps the downstream optical axis constant.

近年、光ディスクの高密度化に伴い、記録再生用レーザ光の発振波長の更なる短波長化が進められ、現在のDVDに用いられている波長640nm〜680nmの半導体レーザ光に代えて、405nmのレーザ光を用いて記録再生可能な光記録媒体へと開発が進められている。このような光ディスクの高密度化に伴い、光ディスク用原盤を形成するマスタリング工程において、ビーム径が絞られた露光レーザビームを、ガラス原盤上に塗布されたフォトレジストに照射し、ピットやグルーブを微細化する技術が行われている。露光レーザビームのビーム径を絞るには、レーザ光波長(λ)を短波長化し、集光レンズの開口数(NA)を増大させる方法が採用されている。   In recent years, with the increase in the density of optical discs, the oscillation wavelength of recording / reproducing laser light has been further shortened. Instead of the semiconductor laser light having a wavelength of 640 nm to 680 nm used in current DVDs, Development is progressing to an optical recording medium capable of recording / reproducing using laser light. Along with the increase in the density of optical discs, in the mastering process for forming an optical disc master, an exposure laser beam with a reduced beam diameter is irradiated onto the photoresist coated on the glass master to finely form pits and grooves. Technology is being developed. In order to reduce the beam diameter of the exposure laser beam, a method of shortening the laser light wavelength (λ) and increasing the numerical aperture (NA) of the condenser lens is employed.

光ディスク用原盤のマスタリング工程においては、ガラス原盤に塗布されたフォトレジストに照射される露光レーザ光の露光量が厳密に管理されることにより、光ディスク用原盤上に形成されるピットやグルーブの溝幅が制御されている。特に、高密度記録を可能にした光ディスクでは、ピットやグルーブの微細化が進行し、信号のノイズを低減させる目的で溝幅を厳密に制御する必要性が高まっている。さらに、予め記録される情報量が飛躍的に増大されたことにより、露光時間の延長が免れられるものとなり、長時間に亘って、レーザ出力を一定に保つ必要性が増している。このため、レーザ光の光軸のわずかな変動に起因して、集光レンズを通過する光量が変動すると、高密度記録を目的とした光ディスクの製造には大きな障害となる。このようなレーザ光の光軸のずれを補正する方法としては、例えば、光軸上に可動部を有するミラーを設けた原盤露光装置が報告されている(特許文献1及び特許文献2参照)。   In the mastering process of the optical disc master, the exposure laser beam exposure to the photoresist applied to the glass master is strictly controlled, so that the groove width of the pits and grooves formed on the optical disc master Is controlled. In particular, in an optical disc that enables high-density recording, pits and grooves have become finer, and the need to strictly control the groove width is increasing for the purpose of reducing signal noise. Furthermore, since the amount of information recorded in advance is drastically increased, the extension of the exposure time is avoided, and the need to keep the laser output constant for a long time is increasing. For this reason, if the amount of light passing through the condenser lens fluctuates due to slight fluctuations in the optical axis of the laser beam, it becomes a major obstacle to the manufacture of an optical disc for high-density recording. As a method for correcting such a deviation of the optical axis of the laser beam, for example, a master exposure apparatus provided with a mirror having a movable part on the optical axis has been reported (see Patent Document 1 and Patent Document 2).

特開平9−63079号公報(段落0019〜段落0025参照)JP-A-9-63079 (see paragraphs 0019 to 0025) 特開平4−49527号公報(実施例の欄参照)Japanese Patent Laid-Open No. 4-49527 (refer to the column of Examples)

ところで、最近は、露光レーザビームのビーム径を絞る方法において、集光レンズのNA(開口数)が0.9程度に高められ、これ以上の高NA(開口数)化が困難であることから、レーザ光源の短波長化がさらに加速されている。特に、波長が405nmの青色レーザ光を使用する高密度記録を可能にした光ディスクの原盤を作成するには、例えば、アルゴンレーザの発振線の一つである波長514nmのレーザ光を、BBO(BaB)等の非線形光学素子に通して、波長が257nmの第2高調波を発生させ、これを露光レーザビームとして使用する方法が行われている。 Recently, in the method of reducing the beam diameter of the exposure laser beam, the NA (numerical aperture) of the condenser lens is increased to about 0.9, and it is difficult to increase the NA (numerical aperture) beyond this. The shortening of the wavelength of the laser light source is further accelerated. In particular, in order to produce an optical disc master capable of high-density recording using a blue laser beam having a wavelength of 405 nm, for example, a laser beam having a wavelength of 514 nm, which is one of the oscillation lines of an argon laser, is used as BBO (BaB A method of generating a second harmonic having a wavelength of 257 nm through a nonlinear optical element such as 2 O 4 ) and using the second harmonic as an exposure laser beam has been performed.

このような第2高調波の発生を利用する短波長レーザ(SHGレーザ)は、非線形光学結晶が温度変化等の種々の条件により、出射角度や位置が経時的に変化するため、光学系の下流に設けられた光学素子や開口部における透過率を一定に保つことが難しいとされている。例えば、出射角度や位置が変化することにより、下流に設けた露光レンズの透過量は5%〜20%程度低下する。また、非線形光学素子は、他の光学素子と比較して寿命が短い傾向があるため、アルゴンレーザ等の基本波を結像させる表面上のポイントを頻繁に移動する必要がある。その結果、発生する第2高調波の出射角度や位置が変動し、光学系の下流に設けられた光学素子の配置を調整しないと、露光レンズの透過量は20%〜60%程度低下する。   Such a short wavelength laser (SHG laser) using the generation of the second harmonic causes the nonlinear optical crystal to change with time due to various conditions such as temperature change, so that the downstream of the optical system. It is difficult to keep the transmittance at the optical element and the opening provided in the aperture constant. For example, when the emission angle and position change, the transmission amount of the exposure lens provided downstream is reduced by about 5% to 20%. In addition, since nonlinear optical elements tend to have a shorter lifetime than other optical elements, it is necessary to frequently move points on the surface on which a fundamental wave such as an argon laser is imaged. As a result, the emission angle and position of the generated second harmonic change, and unless the arrangement of the optical element provided downstream of the optical system is adjusted, the transmission amount of the exposure lens decreases by about 20% to 60%.

ところが、特許文献1等で報告されているような、光軸上に設けた可動部を有するミラーを備えた原盤露光装置では、レーザ発振器からの出射角度や位置が変動するSHGレーザを使用する場合は、レーザ光の光軸のずれを十分に補正できないことが判明した。
図4は、従来の可動部を有するミラーを備えた原盤露光装置を説明する図である。図4に示した原盤露光装置400は、露光用のレーザ光を射出するレーザ発生装置1と、レーザ光軸上に設けられミラー駆動部3を備えた可動式ミラー2と、ビームスプリッター駆動部5を備えた可動式ビームスプリッター4と、可動式ビームスプリッター4により分岐されたレーザ光の照射位置の変動を検出する第1光検出器6と、ビームスプリッター7により分岐されミラー8を経てレーザ光の照射角度の変動を検出する第2光検出器9と、第1光検出器6及び第2光検出器9の出力信号から所定の演算を実行する演算部10と、レーザ光の光束を2つに分離するビームスプリッター11と、ガラス原盤23への照射タイミングを調整する第1音響光学(AO)変調器13及び第2音響光学(AO)変調器14と、グルーブに所定のウォブル情報を付与する第1音響光学(AO)偏向器17及び第2音響光学(AO)偏向器18と、1/2波長板35と、ビームスプリッター11により2つに分離された光束を1つにまとめる偏光ビームスプリッター20と、ガラス原盤23に照射されるレーザ光を集光する露光レンズ22と、ガラス原盤23を回転するターンテーブル24と、ターンテーブル24の回転機構部25と、を有する。
However, in the master exposure apparatus provided with a mirror having a movable part provided on the optical axis as reported in Patent Document 1 or the like, when an SHG laser whose emission angle and position from the laser oscillator vary is used. It has been found that the deviation of the optical axis of the laser beam cannot be corrected sufficiently.
FIG. 4 is a diagram for explaining a master exposure apparatus provided with a conventional mirror having a movable part. A master exposure apparatus 400 shown in FIG. 4 includes a laser generator 1 that emits a laser beam for exposure, a movable mirror 2 that is provided on the laser optical axis and includes a mirror drive unit 3, and a beam splitter drive unit 5. , A movable beam splitter 4, a first photodetector 6 that detects a change in the irradiation position of the laser beam branched by the movable beam splitter 4, and a beam splitter 7 that is branched by the beam splitter 7 to pass the laser beam. A second light detector 9 that detects a change in the irradiation angle, a calculation unit 10 that executes a predetermined calculation from the output signals of the first light detector 6 and the second light detector 9, and two light beams of laser light. A beam splitter 11 that divides into two, a first acousto-optic (AO) modulator 13 and a second acousto-optic (AO) modulator 14 that adjust the irradiation timing to the glass master 23, and a predetermined wall in the groove. The first acousto-optic (AO) deflector 17 and the second acousto-optic (AO) deflector 18 that give the optical information, the half-wave plate 35, and one beam separated by the beam splitter 11. The polarizing beam splitter 20, the exposure lens 22 that condenses the laser light irradiated on the glass master 23, the turntable 24 that rotates the glass master 23, and the rotation mechanism 25 of the turntable 24.

図4に示すように、レーザ発生装置1から射出されたレーザ光束は、可動式ミラー2及び可動式ビームスプリッター4とビームスプリッター7を経てビームスプリッター11により2つの光束に分けられ、それぞれ第1音響光学(AO)変調器13と第2音響光学(AO)変調器14に入射して、記録すべき信号のタイミングに応じたパルス光に変調される。第1音響光学(AO)変調器13もしくは第2音響光学(AO)変調器14で変調されたパルス光は、それぞれミラー15とミラー16とを経て、第1音響光学(AO)偏向器17と第2音響光学(AO)偏向器18とにそれぞれ入射してグルーブに所定のウォブル情報を付与するように偏向され、続いて、レーザ光は露光レンズ22を経て、回転機構部25により回転されるターンテーブル24に載置されたガラス原盤23の表面の所定位置に集光される。
図5は、従来のレーザ光の位置及び角度の補正方法を説明する図である。図5に示すように、可動式ビームスプリッター4近傍に配置された第1光検出器6(近点センサ)と光軸から離れた位置に配置された第2光検出器9(遠点センサ)とから、それぞれ光軸位置ずれ検出信号が演算部10に供給され、さらに、演算部10から出力される光軸位置ずれ補正信号がミラー駆動部3とビームスプリッター駆動部5とにそれぞれ供給される。そして、レーザ光の最良の光軸位置のときに、第1光検出器6と第2光検出器9の中心位置にモニタ光が照射されるように、光軸上に設けられた可動式ミラー2と可動式ビームスプリッター4とが補正され、レーザ光の位置及び角度の補正が行われる。
As shown in FIG. 4, the laser light beam emitted from the laser generator 1 is divided into two light beams by the beam splitter 11 through the movable mirror 2, the movable beam splitter 4 and the beam splitter 7, and each of the first acoustic waves. The light enters the optical (AO) modulator 13 and the second acousto-optic (AO) modulator 14 and is modulated into pulsed light according to the timing of the signal to be recorded. The pulse light modulated by the first acousto-optic (AO) modulator 13 or the second acousto-optic (AO) modulator 14 passes through the mirror 15 and the mirror 16, respectively, and passes through the first acousto-optic (AO) deflector 17 and the like. The light is incident on the second acousto-optic (AO) deflector 18 and deflected so as to give predetermined wobble information to the groove. Subsequently, the laser light passes through the exposure lens 22 and is rotated by the rotation mechanism unit 25. The light is condensed at a predetermined position on the surface of the glass master 23 placed on the turntable 24.
FIG. 5 is a diagram for explaining a conventional method for correcting the position and angle of laser light. As shown in FIG. 5, the first photodetector 6 (near point sensor) disposed in the vicinity of the movable beam splitter 4 and the second photodetector 9 (far point sensor) disposed at a position away from the optical axis. The optical axis position deviation detection signal is supplied to the calculation unit 10, and the optical axis position deviation correction signal output from the calculation unit 10 is supplied to the mirror driving unit 3 and the beam splitter driving unit 5, respectively. . Then, a movable mirror provided on the optical axis so that the monitor light is irradiated to the center position of the first photodetector 6 and the second photodetector 9 when the laser beam is at the best optical axis position. 2 and the movable beam splitter 4 are corrected, and the position and angle of the laser beam are corrected.

しかし、このように、第1光検出器6の中心位置にモニタ光が常に照射されるようにレーザ光の位置及び角度の補正が行われる従来の方法では、厳密な意味では光軸上の一点に基づく補正が行われているわけではない。即ち、図6に示すように、光軸の補正は、第1光検出器6の中心に対して、可動式ビームスプリッター4の表面上に一定の面積を有する円Sの誤差が生じてしまう。このため、露光レンズ22に集光されるレーザ光の光軸が厳密に再現されず、また、レーザ光の出射位置や角度が変動すると、露光レンズ22を通過するレーザ光の光量が変動し、高密度記録を目的とした光ディスクの製造用のガラス原盤の形成には大きな障害となる。また、下流の光学系に電気光学(EO)変調器、音響光学(AO)変調器、音響光学(AO)偏向器、あるいはピンホールが配置されている場合、レーザ光の出射位置や角度の変動したときの通過するレーザ光の光量の変動はさらに大きくなる。   However, in this manner, in the conventional method in which the position and angle of the laser beam are corrected so that the monitor light is always irradiated to the center position of the first photodetector 6, in the strict sense, one point on the optical axis. The correction based on is not necessarily done. That is, as shown in FIG. 6, the correction of the optical axis causes an error of a circle S having a certain area on the surface of the movable beam splitter 4 with respect to the center of the first photodetector 6. For this reason, the optical axis of the laser beam condensed on the exposure lens 22 is not accurately reproduced, and when the emission position or angle of the laser beam varies, the amount of laser beam passing through the exposure lens 22 varies, This is a major obstacle to the formation of a glass master for producing an optical disk for high-density recording. Further, when an electro-optic (EO) modulator, an acousto-optic (AO) modulator, an acousto-optic (AO) deflector, or a pinhole is arranged in the downstream optical system, the emission position and angle of the laser beam vary. In this case, the variation in the amount of laser light passing therethrough is further increased.

本発明は、かかる技術的課題を解決するためになされたものであって、その目的とするところは、レーザ光源から発せられるレーザ光の光軸の変動を吸収し、下流の光軸が一定に保たれるレーザ光軸修正装置を提供することにある。
また本発明の他の目的は、光ディスク用原盤の製造過程において、光ディスク用原盤上に集光されるレーザ光の光学像が最適に保たれ、微細化されたピットやグルーブが形成される光ディスク用原盤露光装置を提供することにある。
The present invention has been made to solve such a technical problem, and an object of the present invention is to absorb fluctuations in the optical axis of laser light emitted from a laser light source and to make the downstream optical axis constant. An object of the present invention is to provide a laser optical axis correcting device that is maintained.
Another object of the present invention is for an optical disc in which an optical image of a laser beam focused on the optical disc master is optimally maintained in the manufacturing process of the optical disc master and fine pits and grooves are formed. It is to provide a master exposure apparatus.

かかる目的のもと、本発明によれば、光源から出射されたレーザ光が作用点に導かれる第1の光軸上に配置される可動式ミラーと、レーザ光の一部が第2の光軸へと分岐される可動式ビームスプリッターと、第2の光軸のレーザ光の照射位置が測定され、第1の光軸のずれ量が検出される第1の光検出器と、可動式ビームスプリッターと第1の光検出器との間に配置される集光手段と、可動式ビームスプリッターと分岐されたレーザ光の光軸との交点を集光手段に対する物点としたとき、集光手段により形成される像点が第1の光検出器上に配置され、第1の光検出器で検出される光軸のずれ量に基づいて、可動式ミラーの角度が調整される駆動部と、可動式ビームスプリッターより下流において、レーザ光の一部がさらに第3の光軸へと分岐されるビームスプリッターと、第3の光軸のレーザ光の照射位置が測定され、第1の光軸のずれ量が検出される第2の光検出器と、第2の光検出器にて測定される光軸のずれ量に基づいて可動式ビームスプリッターの角度が調整される駆動部と、を備えることを特徴とする光軸修正装置が提供される。
かかる光軸修正装置を備えることにより、可動式ビームスプリッターと第1の光軸とが交差する点が厳密に一点に固定され、さらに第2の光検出器にて測定される光軸のずれ量に基づいて可動式ビームスプリッターの角度を調整することで光源から出射されたレーザ光の光軸の変動を吸収し、可動式ビームスプリッターから作用点へと向かう光軸を一定に保つことが可能となる。
For this purpose, according to the present invention, the movable mirror disposed on the first optical axis where the laser light emitted from the light source is guided to the action point, and a part of the laser light is the second light. A movable beam splitter branched to an axis, a first photodetector for measuring a laser beam irradiation position of the second optical axis, and detecting a shift amount of the first optical axis, and a movable beam When the intersecting point between the condensing means disposed between the splitter and the first photodetector and the movable beam splitter and the optical axis of the branched laser light is an object point with respect to the condensing means, the condensing means A drive unit in which the image point formed by is arranged on the first photodetector and the angle of the movable mirror is adjusted based on the amount of deviation of the optical axis detected by the first photodetector; Downstream of the movable beam splitter, part of the laser light is further split into the third optical axis. Measured by a beam splitter, a second optical detector that measures the irradiation position of the laser beam of the third optical axis, and detects the shift amount of the first optical axis, and the second optical detector. And an optical axis correction device comprising: a drive unit that adjusts the angle of the movable beam splitter based on the amount of optical axis deviation.
By providing such an optical axis correcting device, the point where the movable beam splitter and the first optical axis intersect is fixed exactly at one point, and the optical axis deviation measured by the second photodetector is further fixed. By adjusting the angle of the movable beam splitter based on the above, it is possible to absorb the fluctuation of the optical axis of the laser light emitted from the light source and keep the optical axis from the movable beam splitter to the working point constant. Become.

本発明が適用される光軸修正装置において、可動式ミラー及び可動式ビームスプリッターは、少なくとも2軸方向に独立に駆動可能であることが好ましい。また、集光手段は、焦点距離fを有する凸レンズであり、可動式ビームスプリッターと第1の光検出器との間に、それぞれ焦点距離fの2倍の間隔にて配置されることが好ましい。また、第1の光検出器及び第2の光検出器は、4分割された受光部から構成される4分割光検出器であることが好ましい。また、第2の光検出器は、第1の光軸とビームスプリッターとの交点との光軸上の距離がレーザ光のビーム径の少なくとも100倍である位置に配置されることが好ましく、光軸のずれ量の検出精度が向上する。また、レーザ光は、非線形光学素子を用いて発生される第2高調波であることが好ましい。   In the optical axis correcting apparatus to which the present invention is applied, it is preferable that the movable mirror and the movable beam splitter can be independently driven in at least two axial directions. Further, the condensing means is a convex lens having a focal length f, and is preferably disposed between the movable beam splitter and the first photodetector at intervals of twice the focal length f. Moreover, it is preferable that the first photodetector and the second photodetector are four-divided photodetectors each including a four-divided light receiving unit. The second photodetector is preferably disposed at a position where the distance on the optical axis between the intersection of the first optical axis and the beam splitter is at least 100 times the beam diameter of the laser beam. The accuracy of detecting the amount of axis deviation is improved. The laser beam is preferably a second harmonic generated using a nonlinear optical element.

かかる光軸修正装置を備えることにより、本発明は、レーザ光が出射されるレーザ発生装置と、レーザ発生装置から出射されたレーザ光の光軸のずれが補正される光軸修正装置と、レーザ光が照射されるフォトレジスト層が表面に塗布されたガラス原盤と、フォトレジスト層に照射されるレーザ光を透過させる露光集光手段と、ガラス原盤を回転させる回転機構部と、を有する光ディスク用原盤露光装置において、光軸修正装置は、レーザ光が露光集光手段に導かれる第1の光軸上に配置される可動式ミラーと、レーザ光の一部が第2の光軸へと分岐される可動式ビームスプリッターと、第2の光軸のレーザ光の照射位置が測定され、第1の光軸のずれ量が検出される第1の光検出器と、可動式ビームスプリッターと第1の光検出器との間に配置される集光手段と、可動式ビームスプリッターより下流において、レーザ光の一部がさらに第3の光軸へと分岐されるビームスプリッターと、第3の光軸のレーザ光の照射位置が測定され、第1の光軸のずれ量が検出される第2の光検出器と、光検出器の検出信号に基づいて光軸のずれ量が計算される演算部と、を備え、可動式ビームスプリッターと第1の光軸との交点を集光手段に対する物点としたとき、集光手段により形成される像点が第1の光検出器上に配置され、第1の光検出器で検出される第1の光軸のずれ量に基づいて可動式ミラーの角度が調整され、第2の光検出器で検出される第1の光軸のずれ量に基づいて可動式ビームスプリッターの角度が調整されることを特徴とする光ディスク用原盤露光装置が提供される。
かかる光軸修正装置を備えた光ディスク用原盤露光装置では、可動式ビームスプリッターと第1の光軸とが交差する点が厳密に一点に固定され、さらに第2の光検出器にて測定される光軸のずれ量に基づいて可動式ビームスプリッターの角度を調整することでレーザ発生装置から出射されたレーザ光の光軸の変動を吸収し、可動式ビームスプリッターから露光集光手段へと向かう光軸が一定に保たれ、露光集光手段を透過するレーザ光の光量を一定に保つことが可能となる。
By providing such an optical axis correction device, the present invention provides a laser generator that emits laser light, an optical axis correction device that corrects a deviation of the optical axis of the laser light emitted from the laser generator, and a laser. For an optical disc having a glass master having a photoresist layer irradiated with light applied on its surface, an exposure condensing means for transmitting the laser light irradiated to the photoresist layer, and a rotating mechanism for rotating the glass master In the master exposure apparatus, the optical axis correcting device includes a movable mirror disposed on the first optical axis through which the laser light is guided to the exposure condensing means, and a part of the laser light branches to the second optical axis. A movable beam splitter, a first photodetector for measuring the irradiation position of the laser beam of the second optical axis and detecting a shift amount of the first optical axis, the movable beam splitter, and the first Between the light detector The focusing means to be placed, the beam splitter where a part of the laser beam is further branched to the third optical axis downstream from the movable beam splitter, and the irradiation position of the laser beam on the third optical axis are measured A second optical detector that detects the amount of deviation of the first optical axis, and an arithmetic unit that calculates the amount of deviation of the optical axis based on the detection signal of the photodetector, and includes a movable beam. When the intersection of the splitter and the first optical axis is an object point with respect to the light collecting means, the image point formed by the light collecting means is arranged on the first light detector and detected by the first light detector. The angle of the movable mirror is adjusted based on the amount of deviation of the first optical axis, and the angle of the movable beam splitter is adjusted based on the amount of deviation of the first optical axis detected by the second photodetector. An optical disc master exposure apparatus characterized by being adjusted is provided.
In an optical disc master exposure apparatus provided with such an optical axis correcting device, the point where the movable beam splitter and the first optical axis intersect is fixed exactly at one point, and further measured by the second photodetector. By adjusting the angle of the movable beam splitter based on the deviation amount of the optical axis, the fluctuation of the optical axis of the laser light emitted from the laser generator is absorbed, and the light traveling from the movable beam splitter to the exposure condensing means The axis can be kept constant, and the amount of laser light transmitted through the exposure condensing means can be kept constant.

次に本発明は、光源から出射されたレーザ光が作用点に導かれる第1の光軸上に配置される第1の可動式ミラー及び第2の可動式ミラーと、第2の可動式ミラーより下流において、レーザ光の一部が第2の光軸へと分岐される第1のビームスプリッターと、第2の光軸のレーザ光の照射位置が測定され、第1の光軸のずれ量が検出される第1の光検出器と、第1のビームスプリッターと第1光検出器との間に配置される集光手段と、第2の可動式ミラーと第1の光軸との交点を集光手段に対する物点としたとき、集光手段により形成される像点が第1の光検出器上に配置され、第1の光検出器で検出される第1の光軸のずれ量に基づいて、第1の可動式ミラーの角度が調整される駆動部と、第1のビームスプリッターより下流において、レーザ光の一部がさらに第3の光軸へと分岐される第2のビームスプリッターと、第3の光軸のレーザ光の照射位置が測定され、第1の光軸のずれ量が検出される第2の光検出器と、第2の光検出器にて測定された第1の光軸のずれ量に基づいて第2の可動式ミラーの角度が調整される駆動部と、を備えることを特徴とする光軸修正装置が提供される。
かかる光軸修正装置を備えることにより、第2の可動式ミラーと第1の光軸とが交差する点が厳密に一点に固定され、さらに第2光検出器にて測定される光軸のずれ量に基づいて第2の可動式ミラーの角度を調整することで光源から出射されたレーザ光の光軸の変動を吸収し、第2の可動式ミラーから作用点へと向かう光軸を一定に保つことが可能となる。
Next, the present invention provides a first movable mirror and a second movable mirror disposed on a first optical axis through which laser light emitted from a light source is guided to an action point, and a second movable mirror. Further downstream, the first beam splitter in which a part of the laser light is branched to the second optical axis, and the irradiation position of the laser light on the second optical axis are measured, and the amount of deviation of the first optical axis A first photodetector for detecting the light, a condensing means disposed between the first beam splitter and the first photodetector, an intersection of the second movable mirror and the first optical axis Is an object point with respect to the condensing means, the image point formed by the condensing means is arranged on the first photodetector, and the amount of deviation of the first optical axis detected by the first photodetector And a drive unit for adjusting the angle of the first movable mirror, and a downstream of the first beam splitter. The second beam splitter in which a part of the light is further branched to the third optical axis, and the irradiation position of the laser beam on the third optical axis are measured, and the shift amount of the first optical axis is detected. A second light detector; and a drive unit that adjusts the angle of the second movable mirror based on the shift amount of the first optical axis measured by the second light detector. An optical axis correcting device is provided.
By providing such an optical axis correcting device, the point at which the second movable mirror and the first optical axis intersect is fixed exactly at one point, and the optical axis deviation measured by the second optical detector is further fixed. By adjusting the angle of the second movable mirror based on the amount, the fluctuation of the optical axis of the laser light emitted from the light source is absorbed, and the optical axis from the second movable mirror to the working point is made constant. It becomes possible to keep.

また、本発明が適用される光軸修正装置において、第1及び第2の可動式ミラーは、少なくとも2軸方向に独立に駆動可能であることが好ましい。また、集光手段は、焦点距離fを有する凸レンズであり、第2の可動式ミラーと光検出器との間に、それぞれ焦点距離fの2倍の間隔にて配置されることが好ましい。また、光検出器は、4分割された受光部から構成される4分割光検出器であることが好ましい。また、第2の光検出器は、第1の光軸と第2のビームスプリッターとの交点との光軸上の距離がレーザ光のビーム径の少なくとも100倍である位置に配置されることが好ましく、光軸のずれ量の検出精度が向上する。また、レーザ光は、非線形光学素子を用いて発生される第2高調波であることが好ましい。   In the optical axis correcting apparatus to which the present invention is applied, it is preferable that the first and second movable mirrors can be driven independently in at least two axial directions. The condensing means is a convex lens having a focal length f, and is preferably disposed between the second movable mirror and the photodetector at intervals of twice the focal length f. Moreover, it is preferable that a photodetector is a 4-part dividing photodetector comprised from the light-receiving part divided into four. The second photodetector may be disposed at a position where the distance on the optical axis between the first optical axis and the intersection of the second beam splitter is at least 100 times the beam diameter of the laser light. Preferably, the detection accuracy of the amount of deviation of the optical axis is improved. The laser beam is preferably a second harmonic generated using a nonlinear optical element.

さらに、本発明によれば、レーザ光が出射されるレーザ発生装置と、レーザ発生装置から出射されたレーザ光の光軸のずれが補正される光軸修正装置と、レーザ光が照射されるフォトレジスト層が表面に塗布されたガラス原盤と、フォトレジスト層に照射されるレーザ光を透過させる露光集光手段と、ガラス原盤を回転させる回転機構部と、を有する光ディスク用原盤露光装置において、光軸修正装置は、レーザ光が露光集光手段に導かれる第1の光軸上に配置される第1の可動式ミラー及び第2の可動式ミラーと、可動式ミラーより下流において、レーザ光の一部が第2の光軸へ分岐される第1のビームスプリッターと、第2の光軸のレーザ光の照射位置が測定され、第1の光軸のずれ量が検出される第1の光検出器と、第1のビームスプリッターと第1の光検出器との間に配置される集光手段と、第1のビームスプリッターより下流において、レーザ光の一部がさらに第3の光軸へ分岐される第2のビームスプリッターと、第3の光軸のレーザ光の照射位置が測定され、第1の光軸のずれ量が検出される第2の光検出器と、第1の光検出器及び第2の光検出器の検出信号に基づいて第1の光軸のずれ量が計算される演算部と、を備え、第2の可動式ミラーと第1の光軸との交点を集光手段に対する物点としたとき、集光手段により形成される像点が第1の光検出器上に配置され、第1の光検出器で検出される第1の光軸のずれ量に基づいて第1の可動式ミラーの角度が調整され、第2の光検出器で検出される第1の光軸のずれ量に基づいて第2の可動式ミラーの角度が調整されることを特徴とする光ディスク用原盤露光装置が提供される。
かかる光軸修正装置を備えた光ディスク用原盤露光装置では、第2の可動式ミラーと第1の光軸とが交差する点が厳密に一点に固定され、さらに第2の光検出器にて測定される光軸のずれ量に基づいて第2の可動式ミラーの角度を調整することでレーザ発生装置から出射されたレーザ光の光軸の変動を吸収を吸収し、第2の可動式ミラーから露光集光手段へと向かう光軸が一定に保たれ、露光集光手段を透過するレーザ光の光量を一定に保つことが可能となる。
Furthermore, according to the present invention, a laser generator that emits laser light, an optical axis correction device that corrects a deviation of the optical axis of the laser light emitted from the laser generator, and a photo that is irradiated with laser light. In a master exposure apparatus for optical discs, comprising: a glass master having a resist layer coated on its surface; an exposure condensing means that transmits laser light applied to the photoresist layer; and a rotating mechanism that rotates the glass master. The axis correcting device includes a first movable mirror and a second movable mirror disposed on a first optical axis through which the laser light is guided to the exposure condensing unit, and a laser beam downstream of the movable mirror. A first beam splitter, a part of which is branched to the second optical axis, and a first light in which the irradiation position of the laser light on the second optical axis is measured and the amount of deviation of the first optical axis is detected A detector and a first beam sp And a second beam splitter in which a part of the laser light is further branched to the third optical axis downstream from the first beam splitter. A second optical detector for measuring the irradiation position of the laser beam on the third optical axis and detecting the shift amount of the first optical axis, the first optical detector and the second optical detector And a calculation unit that calculates the amount of deviation of the first optical axis based on the detection signal of the second, when the intersection of the second movable mirror and the first optical axis is an object point with respect to the light condensing means The image point formed by the condensing means is arranged on the first photodetector, and based on the amount of deviation of the first optical axis detected by the first photodetector, the first movable mirror The angle is adjusted, and the angle of the second movable mirror is adjusted based on the shift amount of the first optical axis detected by the second photodetector. Optical disc master exposure apparatus is provided, characterized in that.
In the optical disk master exposure apparatus provided with such an optical axis correcting device, the point where the second movable mirror and the first optical axis intersect is fixed exactly at one point, and further measured by the second photodetector. By adjusting the angle of the second movable mirror based on the amount of deviation of the optical axis, the absorption of the fluctuation of the optical axis of the laser light emitted from the laser generator is absorbed, and the second movable mirror The optical axis toward the exposure condensing means is kept constant, and the amount of laser light transmitted through the exposure condensing means can be kept constant.

さらに本発明が適用される光ディスク用原盤露光装置において、光軸修正装置と露光集光手段との間の光軸上に、レーザ光の波面を整えるピンホールが空けられたビーム整形用空間フィルタをさらに備えることが好ましい。また、光軸修正装置と露光集光手段との間の光軸上に、電気光学(EO)変調器、音響光学(AO)変調器、音響光学(AO)偏向器のいずれかを備えることが好ましい。   Further, in the master exposure apparatus for an optical disk to which the present invention is applied, a beam shaping spatial filter in which a pinhole for adjusting the wavefront of the laser beam is formed on the optical axis between the optical axis correction device and the exposure condensing means. It is preferable to further provide. Further, any one of an electro-optic (EO) modulator, an acousto-optic (AO) modulator, and an acousto-optic (AO) deflector is provided on the optical axis between the optical axis correcting device and the exposure condensing unit. preferable.

本発明によれば、レーザ光源から発せられるレーザ光の光軸の変動を吸収し、下流の光軸が一定に保たれるレーザ光軸修正装置を備えた原盤露光装置が提供される。   According to the present invention, there is provided a master exposure apparatus provided with a laser optical axis correcting device that absorbs fluctuations in the optical axis of laser light emitted from a laser light source and keeps the downstream optical axis constant.

以下、添付図面を参照して、本発明を実施するための最良の形態(以下、実施の形態と記す。)について説明する。
(第1の実施の形態)
図1は、本発明の第1の実施の形態が適用される光軸修正装置を説明する図である。
図1に示された光軸修正装置100は、レーザ光の光軸上に配置されたミラー駆動部3により2軸方向に角度が調整可能な2軸可動式の可動式ミラー2と、可動式ミラー2により全反射されたレーザ光の照射光量の一部を透過し、一部を第2の光軸に分離する2軸可動式の可動式ビームスプリッター4と、可動式ビームスプリッター4により分離された第2の光軸上に配置され、第1光検出器6と、可動式ビームスプリッター4と第1光検出器6との間に配置された凸レンズ32と、可動式ビームスプリッター4を経たレーザ光の照射光量の一部を透過し一部を第3の光軸に分離するビームスプリッター7と、ビームスプリッター7により分離された第3の光軸上に配置され、光軸から離れた位置に配置された第2光検出器9と、第1光検出器6及び第2光検出器9の出力信号から所定の演算を実行する演算部10と、を備えている。
The best mode for carrying out the present invention (hereinafter referred to as an embodiment) will be described below with reference to the accompanying drawings.
(First embodiment)
FIG. 1 is a diagram for explaining an optical axis correcting apparatus to which the first embodiment of the present invention is applied.
An optical axis correcting device 100 shown in FIG. 1 includes a movable movable mirror 2 having a movable axis 2 that can adjust the angle in two axial directions by a mirror driving unit 3 disposed on the optical axis of the laser beam, and a movable type. A two-axis movable movable beam splitter 4 that transmits a part of the irradiation light amount of the laser light totally reflected by the mirror 2 and separates a part of the irradiation light into a second optical axis, and the movable beam splitter 4 separates the two beams. The first optical detector 6, the convex lens 32 arranged between the movable beam splitter 4 and the first optical detector 6, and the laser that has passed through the movable beam splitter 4. A beam splitter 7 that transmits a part of the light irradiation amount and separates a part of the light into a third optical axis, and a third optical axis that is separated by the beam splitter 7, and is located away from the optical axis. Arranged second light detector 9 and first light detection An operation unit 10 for executing a predetermined operation from the 6 and the output signal of the second light detector 9, and a.

本実施の形態においては、凸レンズ32は、ビームスプリッター4と光軸の交点及び第1光検出器6から、それぞれ、凸レンズ32の焦点距離fの2倍の長さ(2f)の間隔を有するように配置されている。即ち、このとき、可動式ビームスプリッター4と光軸の交点を凸レンズ32に対する物点としたとき、第2の光軸上に配置された第1光検出器6が像点になるように配置されている。F1及びF2は凸レンズ32の焦点である。尚、本実施の形態においては、可動式ビームスプリッター4と第1光検出器6の間に凸レンズ32が配置されているが、図2に示すように、レーザ光の光軸と可動式ビームスプリッター4との交点に物点が形成され、且つ、第2の光軸上に配置された第1光検出器6上に像点が配置されるものであれば、集光手段の種類及び個数は限定されない。例えば、凸レンズと凹レンズとの組み合わせ、凹面鏡等が考えられる。   In the present embodiment, the convex lens 32 has a distance (2f) that is twice the focal length f of the convex lens 32 from the intersection of the beam splitter 4 and the optical axis and the first photodetector 6. Is arranged. That is, at this time, when the intersection of the movable beam splitter 4 and the optical axis is an object point with respect to the convex lens 32, the first photodetector 6 disposed on the second optical axis is disposed to be an image point. ing. F 1 and F 2 are the focal points of the convex lens 32. In the present embodiment, the convex lens 32 is disposed between the movable beam splitter 4 and the first photodetector 6. However, as shown in FIG. 2, the optical axis of the laser beam and the movable beam splitter are arranged. If the object point is formed at the intersection with 4 and the image point is arranged on the first photodetector 6 arranged on the second optical axis, the kind and number of the condensing means are It is not limited. For example, a combination of a convex lens and a concave lens, a concave mirror, etc. can be considered.

第1光検出器6及び第2光検出器9には、4分割された受光部からなる4分割光検出器が使用されている。図7は、4分割光検出器を説明する図である。図7に示すように、4分割光検出器は、例えば、4つの受光部でそれぞれ光電変換して得られた電気信号のレベルをA、B、C及びDで示すものとすると、垂直方向は(A+B)−(C+D)、水平方向は(A+C)−(B+D)の電圧変化を電圧信号である光軸位置ずれ検出信号としてモニタする。一方、演算部10は、第1光検出器6の光軸位置ずれによる光量変位を電圧変位に変換した光軸位置ずれ検出信号に基づいて、光軸位置ずれ量と光軸補正量とを計算し、光軸補正量の水平方向分に対応した補正信号と光軸補正量の垂直方向分に対応した補正信号とをそれぞれ生成出力する。ここで、第1光検出器6は、主としてレーザ光の位置を検出し、第2光検出器9は、主としてレーザ光の出射角度を検出する。第2光検出器9の配置される位置は特に限定されないが、通常、可動式ビームスプリッター4と第2光検出器9との間隔が、レーザ光のビーム径(通常、約1mm程度)の少なくとも100倍以上、但し、通常3000倍以下になる位置に配置されている。   For the first photodetector 6 and the second photodetector 9, a four-divided photodetector comprising a light-receiving unit divided into four is used. FIG. 7 is a diagram for explaining the quadrant photodetector. As shown in FIG. 7, when the four-divided photodetector is, for example, indicated by A, B, C, and D as levels of electric signals obtained by photoelectric conversion in four light receiving units, the vertical direction is In the horizontal direction, the voltage change of (A + C)-(B + D) is monitored as an optical axis positional deviation detection signal which is a voltage signal. On the other hand, the calculation unit 10 calculates the optical axis positional deviation amount and the optical axis correction amount based on the optical axis positional deviation detection signal obtained by converting the light amount displacement due to the optical axis positional deviation of the first photodetector 6 into the voltage displacement. Then, a correction signal corresponding to the horizontal direction of the optical axis correction amount and a correction signal corresponding to the vertical direction of the optical axis correction amount are respectively generated and output. Here, the first photodetector 6 mainly detects the position of the laser beam, and the second photodetector 9 mainly detects the emission angle of the laser beam. The position where the second photodetector 9 is arranged is not particularly limited, but usually, the distance between the movable beam splitter 4 and the second photodetector 9 is at least the beam diameter of the laser beam (usually about 1 mm). It is arranged at a position of 100 times or more, but usually 3000 times or less.

次に、光軸修正装置100の作用を説明する。図1に示すように、レーザ発生装置1(図示せず)から発振されたレーザ光の位置及び角度が変動し、レーザ光の光軸がずれた場合は、第1光検出器6と第2光検出器9とから、それぞれ光軸位置ずれ検出信号が演算部10に供給され、さらに、演算部10から出力される光軸位置ずれ補正信号が2軸可動式のミラー駆動部3と2軸可動式のスプリッター駆動部5とにそれぞれ供給される。そして、可動式ミラー2及び可動式ビームスプリッター4が補正信号に対応した角度に駆動され、レーザ光の光軸のずれが補正される。   Next, the operation of the optical axis correcting device 100 will be described. As shown in FIG. 1, when the position and angle of the laser light oscillated from the laser generator 1 (not shown) fluctuates and the optical axis of the laser light shifts, the first photodetector 6 and the second light detector 6 An optical axis position deviation detection signal is supplied from the photodetector 9 to the calculation unit 10, and an optical axis position deviation correction signal output from the calculation unit 10 is a two-axis movable mirror driving unit 3 and two axes. Each is supplied to a movable splitter driving unit 5. Then, the movable mirror 2 and the movable beam splitter 4 are driven at an angle corresponding to the correction signal, and the deviation of the optical axis of the laser light is corrected.

(第2の実施の形態)
図2は、光軸修正装置の第2の実施形態を説明する図である。第1の実施形態の光軸修正装置100(図1)において使用する部品と同じものについては同じ符号を用い、説明は省略する。図2に示された光軸修正装置200は、レーザ光の第1の光軸上に配置された第1の可動式ミラー42及び第2の可動式ミラー44と、第2の可動式ミラー44により全反射されたレーザ光の照射光量の一部が透過し、一部が第2の光軸に分離されるビームスプリッター46と、ビームスプリッター46により分離された第2の光軸上に配置される第1光検出器6と、ビームスプリッター46と第1光検出器6との間に配置される凸レンズ47と、ビームスプリッター46を経たレーザ光の照射光量の一部が透過し、一部が第3の光軸に分離されるビームスプリッター48と、ビームスプリッター48により分離された第3の光軸上に配置され、光軸から離れた位置に配置される第2光検出器9と、第1光検出器6及び第2光検出器9の出力信号から所定の演算が実行される演算部10と、を備えている。
(Second Embodiment)
FIG. 2 is a diagram for explaining a second embodiment of the optical axis correcting device. The same components as those used in the optical axis correcting apparatus 100 (FIG. 1) of the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted. The optical axis correcting device 200 shown in FIG. 2 includes a first movable mirror 42 and a second movable mirror 44 arranged on the first optical axis of the laser beam, and a second movable mirror 44. A part of the irradiation light amount of the laser beam totally reflected by the beam is transmitted, and a part is separated on the second optical axis. The beam splitter 46 is arranged on the second optical axis separated by the beam splitter 46. The first light detector 6, the convex lens 47 disposed between the beam splitter 46 and the first light detector 6, and a part of the irradiation amount of the laser light that has passed through the beam splitter 46 are transmitted, and a part thereof A beam splitter 48 separated into a third optical axis, a second photodetector 9 arranged on the third optical axis separated by the beam splitter 48 and located away from the optical axis, Outputs of the first photodetector 6 and the second photodetector 9 Predetermined operation comprises an operation unit 10 to be executed, from No..

図2において、第2の可動式ミラー44と光軸との交点からビームスプリッター46を経て凸レンズ47に至る長さが凸レンズ47の焦点距離fの2倍の長さ(2f)であり、凸レンズ47と第1光検出器6との間隔が、凸レンズ47の焦点距離fの2倍の長さ(2f)を有するように配置されている。即ち、このとき、第2の可動式ミラー44と光軸との交点を物点としたとき、第2の光軸上に配置された第1光検出器6が像点になるように配置されている。   In FIG. 2, the length from the intersection of the second movable mirror 44 and the optical axis to the convex lens 47 via the beam splitter 46 is twice the focal length f of the convex lens 47 (2f). And the first photodetector 6 are arranged so as to have a length (2f) that is twice the focal length f of the convex lens 47. That is, at this time, when the intersection of the second movable mirror 44 and the optical axis is taken as an object point, the first photodetector 6 arranged on the second optical axis is arranged to be an image point. ing.

次に、光軸修正装置200の作用を説明する。図2に示すように、レーザ発生装置1(図示せず)から発振されたレーザ光の位置及び角度が変動し、レーザ光の光軸がずれた場合は、第1光検出器6と第2光検出器9とから、それぞれ光軸位置ずれ検出信号が演算部10に供給され、さらに、演算部10から出力される光軸位置ずれ補正信号が第1の可動式ミラーのミラー駆動部43と第2の可動式ミラーのミラー駆動部45とにそれぞれ供給される。そして、第1の可動式ミラー42及び第2の可動式ミラー44が補正信号に対応した角度に駆動され、レーザ光の光軸のずれが補正される。   Next, the operation of the optical axis correcting device 200 will be described. As shown in FIG. 2, when the position and angle of the laser beam oscillated from the laser generator 1 (not shown) fluctuates and the optical axis of the laser beam is deviated, the first photodetector 6 and the second detector 6 Each of the optical axis position deviation detection signals is supplied to the calculation unit 10 from the light detector 9, and the optical axis position deviation correction signal output from the calculation unit 10 is further transmitted to the mirror driving unit 43 of the first movable mirror. Supplied to the mirror drive unit 45 of the second movable mirror. Then, the first movable mirror 42 and the second movable mirror 44 are driven at an angle corresponding to the correction signal, and the deviation of the optical axis of the laser light is corrected.

次に、光ディスク用原盤露光装置について説明する。図3は、本発明の実施形態が適用される光ディスク用原盤露光装置を説明する図である。図3に示した光ディスク用原盤露光装置300は、レーザ発生装置1と、レーザ発生装置1から発振されたレーザ光の光軸のずれを修正する装置として、可動式ミラー2と、可動式ビームスプリッター4と、第1光検出器6と、集光手段である凸レンズ32と、ビームスプリッター7と、第2光検出器9と、第1光検出器6及び第2光検出器9の出力信号から所定の演算を実行する演算部10と、から構成される光軸修正装置100を備える。さらに、ビームスプリッター7を経たレーザ光の光束を2つに分離するビームスプリッター11と、ガラス原盤23への照射タイミングを調整する第1ノイズイーター(電気光学(EO)変調器)26及び第1音響光学(AO)変調器13と、第2ノイズイーター(電気光学(EO)変調器)27及び第2音響光学(AO)変調器14と、レーザ光束の波面を整えるピンホールが空けられた第1アパーチャ280と第1アパーチャ280を互いに焦点とする一対の凸レンズ281及び凸レンズ282とから構成されるビーム整形用空間フィルタ28と、同様に、ピンホールが空けられた第2アパーチャ290と一対の凸レンズ291及び凸レンズ292とから構成されるビーム整形用空間フィルタ29と、ガラス原盤23への照射位置を調整する第1音響光学(AO)偏向器17及び第1ビームエクスパンダー30と、第2音響光学(AO)偏向器18及び第2ビームエクスパンダー31と、1/2波長板35と、ビームスプリッター11により2つに分離された光束を1つにまとめる偏光ビームスプリッター20と、ガラス原盤23に照射されるレーザ光を集光する露光レンズ22と、ガラス原盤23を回転するターンテーブル24と、ターンテーブル24の回転機構部25と、を有する。   Next, an optical disk master exposure apparatus will be described. FIG. 3 is a diagram for explaining an optical disc master exposure apparatus to which an embodiment of the present invention is applied. An optical disk master exposure apparatus 300 shown in FIG. 3 includes a laser generator 1, a movable mirror 2, and a movable beam splitter as a device for correcting the deviation of the optical axis of the laser light oscillated from the laser generator 1. 4, the first light detector 6, the convex lens 32 that is a condensing means, the beam splitter 7, the second light detector 9, and the output signals of the first light detector 6 and the second light detector 9. An optical axis correcting device 100 including a calculation unit 10 that executes a predetermined calculation is provided. Furthermore, the beam splitter 11 that separates the light beam of the laser light that has passed through the beam splitter 7, the first noise eater (electro-optic (EO) modulator) 26 that adjusts the irradiation timing to the glass master 23, and the first sound. An optical (AO) modulator 13, a second noise eater (electro-optic (EO) modulator) 27, a second acousto-optic (AO) modulator 14, and a first pinhole for adjusting the wavefront of the laser beam. A beam shaping spatial filter 28 including a pair of convex lenses 281 and convex lenses 282 that focus on the aperture 280 and the first aperture 280, and similarly, a second aperture 290 having a pinhole and a pair of convex lenses 291. And a beam shaping spatial filter 29 composed of a convex lens 292 and an irradiation position on the glass master 23 are adjusted. First acousto-optic (AO) deflector 17 and first beam expander 30, second acousto-optic (AO) deflector 18 and second beam expander 31, half-wave plate 35, and beam splitter 11 A polarizing beam splitter 20 that combines the light beams separated into two by the above, an exposure lens 22 that condenses the laser light irradiated on the glass master 23, a turntable 24 that rotates the glass master 23, and a turntable 24 rotation mechanism sections 25.

レーザ発生装置1は、安定な単一周波数出力を発するレーザ光源を有することが好ましく、レーザ光源としては、アルゴンレーザ等のガスレーザが好適である。また、このレーザ光源から発せられるレーザ光を基本波として非線形光学素子を通して第2高調波(SHG:Second Harmonic Generation)を発生させることが好ましい。非線形光学素子としては、例えば、KDP(KHPO)、LBO(LiB)、BBO(BaB)、YCOB(YCaO(BO)、CLBO(CsLiB10)、SBBO(SrBeBO)、BIBO(BiB)、LNO(LiNbO)等が挙げられる。これらの中でもBBO(BaB)が好ましい。 The laser generator 1 preferably has a laser light source that emits a stable single frequency output, and a gas laser such as an argon laser is suitable as the laser light source. In addition, it is preferable to generate second harmonic generation (SHG) through a nonlinear optical element using the laser light emitted from the laser light source as a fundamental wave. Examples of the nonlinear optical element include KDP (KH 2 PO 4 ), LBO (LiB 3 O 5 ), BBO (BaB 2 O 4 ), YCOB (YCa 4 O (BO 3 ) 3 ), CLBO (CsLiB 6 O 10). ), SBBO (Sr 2 Be 2 BO 7 ), BIBO (BiB 3 O 6 ), LNO (LiNbO 3 ) and the like. Among these, BBO (BaB 2 O 4 ) is preferable.

ビームスプリッター11により2つに分離された光軸上にそれぞれ配置されたノイズイーター(電気光学(EO)変調器)(第1ノイズイーター26及び第2ノイズイーター27)、音響光学(AO)変調器(第1AO変調器13及び第2AO変調器14)及び音響光学(AO)偏向器(第1AO偏向器17及び第2AO偏向器18)は、特に限定されない。電気光学(EO)結晶としては、例えば、KHPO、LiTaOが挙げられる。音響光学結晶としては、例えば、PbMoO、TeO、LiNbO、テルライトガラス、フリントガラス、石英ガラス等が挙げられる。これらの中でも石英ガラスが好ましい。また、第1アパーチャ280と第2アパーチャ290とは、径約100ミクロンのピンホールが空けられた金属製のビーム整形用フィルタであり、それぞれ、第1AO偏向器17と第2AO偏向器18との直前に設けられ、レーザ光の波面を整えている。 Noise eaters (electro-optic (EO) modulators) (first noise eater 26 and second noise eater 27) and acousto-optic (AO) modulators arranged on the optical axis separated into two by the beam splitter 11 The (first AO modulator 13 and second AO modulator 14) and the acousto-optic (AO) deflector (first AO deflector 17 and second AO deflector 18) are not particularly limited. Examples of the electro-optic (EO) crystal include KH 2 PO 4 and LiTaO 3 . Examples of the acoustooptic crystal include PbMoO 4 , TeO 2 , LiNbO 3 , tellurite glass, flint glass, and quartz glass. Among these, quartz glass is preferable. The first aperture 280 and the second aperture 290 are metal beam shaping filters with a pinhole having a diameter of about 100 microns. The first AO deflector 17 and the second AO deflector 18, respectively. It is provided immediately before and the wavefront of the laser beam is adjusted.

次に、光ディスク用原盤露光装置300の作用を説明する。図3に示すように、レーザ発生装置1から射出されたレーザー光束は、可動式ミラー2及び可動式ビームスプリッター4とビームスプリッター7を経てビームスプリッター11により2つの光束に分けられ、それぞれ第1ノイズイーター(電気光学(EO)変調器)26と、ミラー12を経て第1音響光学(AO)変調器13と、第2ノイズイーター(電気光学(EO)変調器)27及び第2音響光学(AO)変調器14とに入射し、記録すべきレーザ光の強度及び信号のタイミングに応じたパルス光に変調される。変調されたパルス光は、それぞれミラー15とミラー16とを経て、第1音響光学(AO)偏向器17と第2音響光学(AO)偏向器18とにそれぞれ入射し、グルーブに所定のウォルブ情報を付与するように偏向され、続いて、第1ビームエクスパンダー30と1/2波長板、また、第2ビームエクスパンダー31とミラー19とをそれぞれ経て、偏光ビームスプリッター20により2つの光束が1つにまとめられ、その後、レーザ光は露光レンズ22に到達して、回転機構部25により回転されるターンテーブル24に載置されたガラス原盤23の表面のフォトレジスト膜に集光される。   Next, the operation of the optical disc master exposure apparatus 300 will be described. As shown in FIG. 3, the laser light beam emitted from the laser generator 1 is divided into two light beams by the beam splitter 11 through the movable mirror 2, the movable beam splitter 4 and the beam splitter 7, and each of the first noises. Eater (electro-optic (EO) modulator) 26, first acousto-optic (AO) modulator 13 via mirror 12, second noise eater (electro-optic (EO) modulator) 27 and second acousto-optic (AO) ) The light enters the modulator 14 and is modulated into pulsed light according to the intensity of the laser light to be recorded and the signal timing. The modulated pulse light passes through the mirror 15 and the mirror 16, respectively, and enters the first acousto-optic (AO) deflector 17 and the second acousto-optic (AO) deflector 18, respectively. Then, the first beam expander 30 and the half-wave plate, and the second beam expander 31 and the mirror 19 are respectively passed through the first beam expander 30 and the half-wave plate. After that, the laser light reaches the exposure lens 22 and is focused on the photoresist film on the surface of the glass master 23 placed on the turntable 24 rotated by the rotation mechanism unit 25.

偏光ビームスプリッター20を透過したレーザビームは、ミラー34、ミラー33及びミラー21により垂直方向に向きが変えられ、露光レンズ22により、図示しない光源よりのフォーカス用レーザビームと共に、ターンテーブル24上に固定されたガラス原盤23の表面の塗布されたフォトレジスト層の表面に集光される。フォトレジスト層の表面で反射されたフォーカス用レーザビームは、図示しないフォーカスサーボアクチュエータにより、常に、ガラス原盤23と露光レンズ22とが等距離に保たれる。ガラス原盤23を固定したターンテーブル24は回転機構部25により回転されており、レーザビームの照射された部分が露光される。このフォトレジスト層が塗布されたガラス原盤23はその後現像等された後、スタンパ盤作成の基となる。   The direction of the laser beam transmitted through the polarization beam splitter 20 is changed in the vertical direction by the mirror 34, the mirror 33, and the mirror 21, and is fixed on the turntable 24 together with the focusing laser beam from a light source (not shown) by the exposure lens 22. The light is condensed on the surface of the applied photoresist layer on the surface of the glass master 23 thus prepared. The focus laser beam reflected by the surface of the photoresist layer is always kept at an equal distance between the glass master 23 and the exposure lens 22 by a focus servo actuator (not shown). The turntable 24 to which the glass master 23 is fixed is rotated by a rotation mechanism unit 25, and the portion irradiated with the laser beam is exposed. The glass master 23 coated with the photoresist layer is developed and then used as a basis for preparing a stamper disk.

本実施の形態が適用される光ディスク用原盤露光装置300が光軸修正装置100を備えることにより、露光レンズ22へ向かうレーザ光の光軸と可動式ビームスプリッター4の交差する点が厳密に一点に固定され、さらに第2光検出器9にて測定される光軸のずれ量に基づいて可動式ビームスプリッター4の角度を調整することでレーザ発生装置1から出射されたレーザ光の光軸の変動を吸収し、可動式ビームスプリッター4から露光レンズ22へと向かう光軸を一定に保つことが可能となる。この結果、出射角度や位置の変動が生じやすい、非線形光学素子を用いて第2高調波(SHG)を発生させるレーザ発生装置1の場合にも、下流に設けられた露光レンズ22を通過する光量の変動を抑制することができる。具体的には、例えば、波長が514nmのアルゴンレーザをBBO等の非線形光学素子に通して、波長が257nmの第2高調波を発生させ、これを露光レーザビームとして6時間の照射を行った場合、露光レンズ22の透過量の変動は1%以内に低減する。また、アルゴンレーザの基本波を結像させるBBOの表面上のポイントを移動させることにより第2高調波の出射角度や位置が大きく変動した場合にも、光学系の下流に設けられた露光レンズの透過量の変動は5%以内に低減する。
このように、本実施の形態が適用される光ディスク用原盤露光装置300では、レーザ発生装置1から出射されたレーザ光の光軸の変動を吸収し、露光レンズ22へと向かう光軸が一定に保たれ、露光レンズ22を通過するのレーザ光の光量を一定に保つことができる。これにより、ガラス原盤23上に塗布されたフォトレジスト層に集光されたレーザビームの強度が一定になり、所望の案内溝やピット形状が安定、かつ、正確に得られる。
Since the optical disk master exposure apparatus 300 to which the present embodiment is applied includes the optical axis correcting apparatus 100, the point where the optical axis of the laser beam toward the exposure lens 22 and the movable beam splitter 4 intersect is exactly one point. The fluctuation of the optical axis of the laser beam emitted from the laser generator 1 is adjusted by adjusting the angle of the movable beam splitter 4 based on the amount of deviation of the optical axis fixed and further measured by the second photodetector 9. The optical axis from the movable beam splitter 4 to the exposure lens 22 can be kept constant. As a result, even in the case of the laser generator 1 that generates the second harmonic (SHG) using a nonlinear optical element, in which the emission angle and the position are likely to vary, the amount of light that passes through the exposure lens 22 provided downstream. Fluctuations can be suppressed. Specifically, for example, when an argon laser having a wavelength of 514 nm is passed through a nonlinear optical element such as BBO, a second harmonic having a wavelength of 257 nm is generated, and this is used as an exposure laser beam for 6 hours of irradiation. The variation in the transmission amount of the exposure lens 22 is reduced to within 1%. In addition, even when the emission angle and position of the second harmonic change greatly by moving the point on the surface of the BBO that forms an image of the fundamental wave of the argon laser, the exposure lens provided downstream of the optical system The variation of the transmission amount is reduced within 5%.
As described above, in the optical disc master exposure apparatus 300 to which the present embodiment is applied, the fluctuation of the optical axis of the laser light emitted from the laser generator 1 is absorbed, and the optical axis toward the exposure lens 22 is constant. Thus, the amount of laser light passing through the exposure lens 22 can be kept constant. As a result, the intensity of the laser beam focused on the photoresist layer coated on the glass master 23 becomes constant, and a desired guide groove and pit shape can be obtained stably and accurately.

光軸修正装置の第1の実施の形態を説明する図である。It is a figure explaining 1st Embodiment of an optical axis correction apparatus. 光軸修正装置の第2の実施の形態を説明する図である。It is a figure explaining 2nd Embodiment of an optical axis correction apparatus. 光ディスク用原盤露光装置を説明する図である。It is a figure explaining the original disc exposure apparatus for optical discs. 従来の可動部を有するミラーを備えた原盤露光装置を説明する図である。It is a figure explaining the master exposure apparatus provided with the mirror which has the conventional movable part. 従来のレーザ光の位置及び角度の補正方法を説明する図である。It is a figure explaining the correction method of the position and angle of the conventional laser beam. 光軸の補正の誤差を説明する図である。It is a figure explaining the error of amendment of an optical axis. 4分割光検出器を説明する図である。It is a figure explaining a 4-part dividing photodetector.

符号の説明Explanation of symbols

1…レーザ発生装置、2,42…可動式ミラー、3,43,45…ミラー駆動部、4…可動式ビームスプリッター、5…ビームスプリッター駆動部、6…第1光検出器、7,11,46,48…ビームスプリッター、8…ミラー、9…第2光検出器、10…演算部、12,15,16,19,21,33,34…ミラー、13…第1AO変調器、14…第2AO変調器、17…第1AO偏向器、18…第2AO偏向器、20…偏光ビームスプリッター、22…露光レンズ、23…ガラス原盤、24…ターンテーブル、25…回転機構部、26…第1ノイズイータ、27…第2ノイズイータ、28,29…ビーム整形用空間フィルタ、30…第1ビームエクスパンダー、31…第2ビームエクスパンダー、32,47,281,282,291,292…凸レンズ、35…1/2波長板、44…第2の可動式ミラー、280…第1アパーチャ、290…第2アパーチャ、100,200…光軸修正装置、300,400…原盤露光装置 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Laser generator, 2, 42 ... Movable mirror, 3, 43, 45 ... Mirror drive part, 4 ... Movable beam splitter, 5 ... Beam splitter drive part, 6 ... 1st photodetector, 7, 11, 46, 48 ... Beam splitter, 8 ... Mirror, 9 ... Second photodetector, 10 ... Operation unit, 12, 15, 16, 19, 21, 33, 34 ... Mirror, 13 ... First AO modulator, 14 ... First 2 ... AA modulator, 17 ... 1st AO deflector, 18 ... 2nd AO deflector, 20 ... polarizing beam splitter, 22 ... exposure lens, 23 ... glass master, 24 ... turntable, 25 ... rotating mechanism, 26 ... first noise eater , 27 ... second noise eater, 28, 29 ... beam shaping spatial filter, 30 ... first beam expander, 31 ... second beam expander, 32, 47, 281, 282, 291 292 ... lens, 35 ... 1/2-wave plate, 44 ... second movable mirror, 280 ... first aperture, 290 ... second aperture, 100, 200 ... optical axis adjustment device 300, 400 ... master exposure apparatus

Claims (16)

光源から出射されたレーザ光が作用点に導かれる第1の光軸上に配置される可動式ミラーと、
前記レーザ光の一部が第2の光軸へと分岐される可動式ビームスプリッターと、
前記第2の光軸のレーザ光の照射位置が測定され、前記第1の光軸のずれ量が検出される第1の光検出器と、
前記可動式ビームスプリッターと前記第1の光検出器との間に配置される集光手段と、
前記可動式ビームスプリッターと前記第1の光軸との交点を前記集光手段に対する物点としたとき、当該集光手段により形成される像点が前記第1の光検出器上に配置され、当該第1の光検出器で検出される光軸のずれ量に基づいて、前記可動式ミラーの角度が調整される駆動部と、
前記可動式ビームスプリッターより下流において、前記レーザ光の一部がさらに第3の光軸へと分岐されるビームスプリッターと、
前記第3の光軸のレーザ光の照射位置が測定され、前記第1の光軸のずれ量が検出される第2の光検出器と、
前記第2の光検出器にて測定される前記光軸のずれ量に基づいて前記可動式ビームスプリッターの角度が調整される駆動部と、
を備えることを特徴とする光軸修正装置。
A movable mirror disposed on a first optical axis to which laser light emitted from a light source is guided to an action point;
A movable beam splitter in which a part of the laser beam is branched to a second optical axis;
A first photodetector for measuring an irradiation position of the laser beam on the second optical axis and detecting a shift amount of the first optical axis;
Condensing means disposed between the movable beam splitter and the first photodetector;
When an intersection point of the movable beam splitter and the first optical axis is an object point with respect to the light condensing means, an image point formed by the light converging means is disposed on the first photodetector, A drive unit that adjusts the angle of the movable mirror based on the amount of deviation of the optical axis detected by the first photodetector;
A beam splitter in which a part of the laser beam is further branched to a third optical axis downstream from the movable beam splitter;
A second photodetector for measuring an irradiation position of the laser beam on the third optical axis and detecting a shift amount of the first optical axis;
A drive unit that adjusts an angle of the movable beam splitter based on an amount of deviation of the optical axis measured by the second photodetector;
An optical axis correcting device comprising:
前記可動式ミラー及び可動式ビームスプリッターは、少なくとも2軸方向に独立に駆動可能であることを特徴とする請求項1記載の光軸修正装置。   2. The optical axis correcting device according to claim 1, wherein the movable mirror and the movable beam splitter can be independently driven in at least two axial directions. 前記集光手段は、焦点距離fを有する凸レンズであり、前記可動式ビームスプリッターと前記第1の光検出器との間に、それぞれ当該焦点距離fの2倍の間隔にて配置されることを特徴とする請求項1記載の光軸修正装置。   The condensing means is a convex lens having a focal length f, and is disposed between the movable beam splitter and the first photodetector at intervals of twice the focal length f. 2. The optical axis correcting device according to claim 1, wherein 前記光検出器は、4分割された受光部から構成される4分割光検出器であることを特徴とする請求項1記載の光軸修正装置。   The optical axis correcting device according to claim 1, wherein the photodetector is a four-divided photodetector composed of a light-receiving unit divided into four. 前記第2の光検出器は、前記第1の光軸とビームスプリッターとの交点との光軸上の距離が前記レーザ光のビーム径の少なくとも100倍である位置に配置されることを特徴とする請求項1記載の光軸修正装置。   The second photodetector is disposed at a position where the distance on the optical axis between the intersection of the first optical axis and a beam splitter is at least 100 times the beam diameter of the laser light. The optical axis correcting device according to claim 1. 前記レーザ光は、非線形光学素子を用いて発生される第2高調波であることを特徴とする請求項1記載の光軸修正装置。   2. The optical axis correcting apparatus according to claim 1, wherein the laser beam is a second harmonic generated using a nonlinear optical element. 光源から出射されたレーザ光が作用点に導かれる第1の光軸上に配置される第1の可動式ミラー及び第2の可動式ミラーと、
前記可動式ミラーより下流において、前記レーザ光の一部が第2の光軸へと分岐される第1のビームスプリッターと、
前記第2の光軸のレーザ光の照射位置が測定され、前記第1の光軸のずれ量が検出される第1の光検出器と、
前記第1のビームスプリッターと前記第1の光検出器との間に配置される集光手段と、
前記第2の可動式ミラーと前記第1の光軸との交点を前記集光手段に対する物点としたとき、当該集光手段により形成される像点が前記第1の光検出器上に配置され、当該第1の光検出器で検出される前記第1の光軸のずれ量に基づいて、前記第1の可動式ミラーの角度が調整される駆動部と、
前記第1のビームスプリッターより下流において、前記レーザ光の一部がさらに第3の光軸へと分岐される第2のビームスプリッターと、
前記第3の光軸のレーザ光の照射位置が測定され、前記第1の光軸のずれ量が検出される第2の光検出器と、
前記第2の光検出器にて測定された前記第1の光軸のずれ量に基づいて前記第2の可動式ミラーの角度が調整される駆動部と、
を備えることを特徴とする光軸修正装置。
A first movable mirror and a second movable mirror disposed on a first optical axis in which laser light emitted from a light source is guided to an action point;
A first beam splitter in which a part of the laser beam is branched to a second optical axis downstream from the movable mirror;
A first photodetector for measuring an irradiation position of the laser beam on the second optical axis and detecting a shift amount of the first optical axis;
Condensing means disposed between the first beam splitter and the first photodetector;
When the intersection of the second movable mirror and the first optical axis is an object point with respect to the light collecting means, the image point formed by the light collecting means is arranged on the first photodetector. A drive unit that adjusts the angle of the first movable mirror based on the amount of deviation of the first optical axis detected by the first photodetector;
A second beam splitter in which a part of the laser beam is further branched to a third optical axis downstream from the first beam splitter;
A second photodetector for measuring an irradiation position of the laser beam on the third optical axis and detecting a shift amount of the first optical axis;
A drive unit that adjusts an angle of the second movable mirror based on a shift amount of the first optical axis measured by the second photodetector;
An optical axis correcting device comprising:
前記可動式ミラーは、少なくとも2軸方向に独立に駆動可能であることを特徴とする請求項7記載の光軸修正装置。   The optical axis correcting device according to claim 7, wherein the movable mirror can be driven independently in at least two axial directions. 前記集光手段は、焦点距離fを有する凸レンズであり、前記第2の可動式ミラーと前記第1の光検出器との間に、それぞれ当該焦点距離fの2倍の間隔にて配置されることを特徴とする請求項7記載の光軸修正装置。   The condensing means is a convex lens having a focal length f, and is disposed between the second movable mirror and the first photodetector at intervals of twice the focal length f. The optical axis correcting device according to claim 7. 前記光検出器は、4分割された受光部から構成される4分割光検出器であることを特徴とする請求項7記載の光軸修正装置。   The optical axis correcting device according to claim 7, wherein the photodetector is a four-divided photodetector including a light receiving unit divided into four. 前記第2の光検出器は、前記第1の光軸と第2のビームスプリッターとの交点との光軸上の距離が前記レーザ光のビーム径の少なくとも100倍である位置に配置されることを特徴とする請求項7記載の光軸修正装置。   The second photodetector is arranged at a position where the distance on the optical axis between the intersection of the first optical axis and the second beam splitter is at least 100 times the beam diameter of the laser light. The optical axis correcting device according to claim 7. 前記レーザ光は、非線形光学素子を用いて発生される第2高調波であることを特徴とする請求項7記載の光軸修正装置。   8. The optical axis correcting device according to claim 7, wherein the laser beam is a second harmonic generated using a nonlinear optical element. レーザ光が出射されるレーザ発生装置と、前記レーザ発生装置から出射された前記レーザ光の光軸のずれが補正される光軸修正装置と、前記レーザ光が照射されるフォトレジスト層が表面に塗布されたガラス原盤と、前記フォトレジスト層に照射される前記レーザ光を透過させる露光集光手段と、前記ガラス原盤を回転させる回転機構部と、を有し、
前記光軸修正装置は、
前記レーザ光が前記露光集光手段に導かれる第1の光軸上に配置される可動式ミラーと、
前記レーザ光の一部が第2の光軸へと分岐される可動式ビームスプリッターと、
前記第2の光軸のレーザ光の照射位置が測定され、前記第1の光軸のずれ量が検出される第1の光検出器と、
前記可動式ビームスプリッターと前記第1の光検出器との間に配置される集光手段と、
前記可動式ビームスプリッターより下流において、前記レーザ光の一部がさらに第3の光軸へと分岐されるビームスプリッターと、
前記第3の光軸のレーザ光の照射位置が測定され、前記第1の光軸のずれ量が検出される第2の光検出器と、
前記光検出器の検出信号に基づいて前記光軸ずれ量が計算される演算部と、
を備え、
前記可動式ビームスプリッターと前記第1の光軸との交点を前記集光手段に対する物点としたとき、当該集光手段により形成される像点が前記第1の光検出器上に配置され、当該第1の光検出器で検出される前記第1の光軸のずれ量に基づいて前記可動式ミラーの角度が調整され、前記第2の光検出器で検出される前記第1の光軸のずれ量に基づいて前記可動式ビームスプリッターの角度が調整されることを特徴とする光ディスク用原盤露光装置。
A laser generator that emits laser light, an optical axis correction device that corrects a deviation of the optical axis of the laser light emitted from the laser generator, and a photoresist layer irradiated with the laser light on the surface A coated glass master, exposure condensing means for transmitting the laser light applied to the photoresist layer, and a rotating mechanism for rotating the glass master,
The optical axis correcting device is
A movable mirror disposed on a first optical axis through which the laser beam is guided to the exposure condensing means;
A movable beam splitter in which a part of the laser beam is branched to a second optical axis;
A first photodetector for measuring an irradiation position of the laser beam on the second optical axis and detecting a shift amount of the first optical axis;
Condensing means disposed between the movable beam splitter and the first photodetector;
A beam splitter in which a part of the laser beam is further branched to a third optical axis downstream from the movable beam splitter;
A second photodetector for measuring an irradiation position of the laser beam on the third optical axis and detecting a shift amount of the first optical axis;
A calculation unit that calculates the amount of optical axis deviation based on a detection signal of the photodetector;
With
When an intersection point of the movable beam splitter and the first optical axis is an object point with respect to the light condensing means, an image point formed by the light converging means is disposed on the first photodetector, The angle of the movable mirror is adjusted based on the shift amount of the first optical axis detected by the first photodetector, and the first optical axis detected by the second photodetector. An optical disk master exposure apparatus, wherein the angle of the movable beam splitter is adjusted based on the amount of deviation.
レーザ光が出射されるレーザ発生装置と、前記レーザ発生装置から出射された前記レーザ光の光軸のずれが補正される光軸修正装置と、前記レーザ光が照射されるフォトレジスト層が表面に塗布されたガラス原盤と、前記フォトレジスト層に照射される前記レーザ光を透過させる露光集光手段と、前記ガラス原盤を回転させる回転機構部と、を有し、
前記光軸修正装置は、
前記レーザ光が前記露光集光手段に導かれる第1の光軸上に配置される第1の可動式ミラー及び第2の可動式ミラーと、
前記可動式ミラーより下流において、前記レーザ光の一部が第2の光軸へ分岐される第1のビームスプリッターと、
前記第2の光軸のレーザ光の照射位置が測定され、前記第1の光軸のずれ量が検出される第1の光検出器と、
前記第1のビームスプリッターと前記第1の光検出器との間に配置される集光手段と、
前記第1のビームスプリッターより下流において、前記レーザ光の一部がさらに第3の光軸へ分岐される第2のスプリッターと、
前記第3の光軸のレーザ光の照射位置が測定され、前記第1の光軸のずれ量が検出される第2の光検出器と、
前記第1の光検出器及び前記第2の光検出器の検出信号に基づいて前記第1の光軸のずれ量が計算される演算部と、を備え、
前記第2の可動式ミラーと前記第1の光軸との交点を前記集光手段に対する物点としたとき、当該集光手段により形成される像点が前記第1の光検出器上に配置され、当該第1の光検出器で検出される前記第1の光軸のずれ量に基づいて前記第1の可動式ミラーの角度が調整され、前記第2の光検出器で検出される前記第1の光軸のずれ量に基づいて前記第2の可動式ミラーの角度が調整されることを特徴とする光ディスク用原盤露光装置。
A laser generator that emits laser light, an optical axis correction device that corrects a deviation of the optical axis of the laser light emitted from the laser generator, and a photoresist layer irradiated with the laser light on the surface A coated glass master, exposure condensing means for transmitting the laser light applied to the photoresist layer, and a rotating mechanism for rotating the glass master,
The optical axis correcting device is
A first movable mirror and a second movable mirror disposed on a first optical axis through which the laser light is guided to the exposure condensing means;
A first beam splitter in which a part of the laser beam is branched to a second optical axis downstream from the movable mirror;
A first photodetector for measuring an irradiation position of the laser beam on the second optical axis and detecting a shift amount of the first optical axis;
Condensing means disposed between the first beam splitter and the first photodetector;
A second splitter in which a part of the laser beam is further branched to a third optical axis downstream from the first beam splitter;
A second photodetector for measuring an irradiation position of the laser beam on the third optical axis and detecting a shift amount of the first optical axis;
An arithmetic unit that calculates a shift amount of the first optical axis based on detection signals of the first photodetector and the second photodetector;
When the intersection of the second movable mirror and the first optical axis is an object point with respect to the light collecting means, the image point formed by the light collecting means is arranged on the first photodetector. The angle of the first movable mirror is adjusted based on the shift amount of the first optical axis detected by the first photodetector, and the angle detected by the second photodetector is detected. An optical disc master exposure apparatus, wherein an angle of the second movable mirror is adjusted based on a shift amount of the first optical axis.
前記光軸修正装置と前記露光集光手段との間の光軸上に、前記レーザ光の波面を整えるピンホールが空けられたビーム整形用空間フィルタをさらに備えることを特徴とする請求項13乃至請求項14いずれか1項記載の光ディスク用原盤露光装置。   14. A beam shaping spatial filter in which a pinhole for adjusting a wavefront of the laser beam is formed on an optical axis between the optical axis correcting device and the exposure condensing unit. The master exposure apparatus for optical discs according to claim 14. 前記光軸修正装置と前記露光集光手段との間の光軸上に、電気光学変調器、音響光学変調器、音響光学偏向器のいずれかを備えることを特徴とする請求項13乃至請求項14いずれか1項記載の光ディスク用原盤露光装置。   14. An electro-optic modulator, an acousto-optic modulator, or an acousto-optic deflector is provided on the optical axis between the optical axis correcting device and the exposure / condensing means. 14. A master exposure apparatus for optical discs according to any one of 14 above.
JP2003422854A 2003-12-19 2003-12-19 Optical axis correction apparatus and optical disk master disk exposure apparatus Pending JP2005182923A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003422854A JP2005182923A (en) 2003-12-19 2003-12-19 Optical axis correction apparatus and optical disk master disk exposure apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003422854A JP2005182923A (en) 2003-12-19 2003-12-19 Optical axis correction apparatus and optical disk master disk exposure apparatus

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005182923A true JP2005182923A (en) 2005-07-07

Family

ID=34783593

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003422854A Pending JP2005182923A (en) 2003-12-19 2003-12-19 Optical axis correction apparatus and optical disk master disk exposure apparatus

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2005182923A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009015932A (en) * 2007-07-03 2009-01-22 Sony Corp Optical axis adjusting device, optical axis adjustment method, and hologram device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009015932A (en) * 2007-07-03 2009-01-22 Sony Corp Optical axis adjusting device, optical axis adjustment method, and hologram device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2725632B2 (en) Optical head device
US7551537B2 (en) Method and apparatus for making master optical disk
EP0135750B1 (en) Optical information recording and reproducing apparatus
KR100377281B1 (en) Optical recording method, optical recording device and optical recording medium
US6829205B2 (en) Optical pickup, tilt detection apparatus, tilt detection method and optical disk apparatus
JP4909373B2 (en) Focus optical system and optical disc master exposure apparatus
JP4196634B2 (en) Optical recording medium master exposure apparatus and optical recording medium master exposure method
JP2005182923A (en) Optical axis correction apparatus and optical disk master disk exposure apparatus
JPH0731819B2 (en) Optical disk device
JPH05242510A (en) Optical pickup device
JP3555153B2 (en) Optical recording device
JP3406338B2 (en) Disk recording medium manufacturing equipment
JP4018481B2 (en) Optical disc master exposure method and master exposure apparatus
JPH0447535A (en) Optical recording method
KR100186292B1 (en) Mastering method and its apparatus for optical disk stamper manufacturing
JP2748900B2 (en) Exposure equipment
JPH0676363A (en) Disk shaped recording medium and its manufacture
JP2000011401A (en) Optical disk device
EP1469464A2 (en) A beam shaping device, an optical head, and a master disk recording apparatus
JP2003059088A (en) Exposure device for master disk of optical disk
JPH08279167A (en) Optical recording/reproducing device and laser beam irradiating device
JPH10143909A (en) Optical pickup device
JP2001236662A (en) Exposure device for optical master plate
JPH04123318A (en) Optical recording and reproducing method
JPH0798891A (en) Optical base disk exposure device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060519

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070618

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070821

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20080325