JP2005176918A - Radiographic apparatus - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a radiographic apparatus capable of appropriately executing the image processing. <P>SOLUTION: An auto window control part (AWC) for automatically controlling a window executes the scaling (50 times scaling in this case) for fixing the range of all the remaining pixels from the maximum to the minimum values so that the pixels coincide with the pixels of the maximum value 500. Accordingly, as the scaling is executed with the pixels left as they are even if the pixels of the maximum value are defective pixels, an image with excellent contrast can be obtained. As a result, the appropriate image processing can be executed because of the scaling. Furthermore, as the pixels are left as they are even if the pixels of the maximum value are not defective ones but normal ones, the image processing can be appropriately executed without the pixels being complemented. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

この発明は、医療分野や、非破壊検査,RI(Radio isotope)検査,および光学検査などの工業分野や、原子力分野などに用いられる放射線撮像装置に係り、特に、検出された放射線に基づいて画像処理を行う技術に関する。   The present invention relates to a radiation imaging apparatus used in the medical field, industrial fields such as nondestructive inspection, RI (Radio isotope) inspection, and optical inspection, and in the nuclear power field, and in particular, an image based on detected radiation. The present invention relates to processing technology.

X線を例に採ると、放射線撮像装置において画像処理は、フラットパネル型放射線検出器(FPD)などに代表される放射線検出手段で検出された放射線に基づいて行われる。上述したFPDは、感応膜が基板上に積層されて構成されており、その感応膜に入射した放射線を検出して、検出された放射線を電荷に変換して、2次元アレイ状に配置されたキャパシタに電荷を蓄積する。蓄積された電荷はスイッチング素子をONすることで読み出されて、電気信号として画像処理部に送り込まれて画像処理が行われる。したがって、キャパシタやスイッチング素子を構成する検出素子ごとに蓄積される電荷の量にバラツキがあり、それによって検出素子ごとの電気信号に基づく画素についてもバラツキがある。   Taking X-rays as an example, image processing in a radiation imaging apparatus is performed based on radiation detected by radiation detection means typified by a flat panel radiation detector (FPD). The FPD described above is configured by stacking a sensitive film on a substrate, detecting radiation incident on the sensitive film, converting the detected radiation into electric charges, and arranging the two-dimensional array. Charge is stored in the capacitor. The accumulated charge is read by turning on the switching element and sent to the image processing unit as an electrical signal for image processing. Therefore, there is a variation in the amount of charge accumulated for each detection element constituting the capacitor or the switching element, and accordingly, there is also a variation for pixels based on the electrical signal for each detection element.

特に、検出素子として機能しない場合には、画素の値が極端に大きくなって画像上で白く浮き出る、あるいは画素の値が極端に小さくなって画像上で黒くなる。検出素子の感度が高い場合には、放射線が入射していない状態でも暗電流が発生して画素の値が大きくなる。逆に、検出素子の感度が低い、あるいは検出素子にゴミなどが付着した場合には、画素の値が小さくなる。このような画素は『欠損画素』と呼ばれている。   In particular, when it does not function as a detection element, the pixel value becomes extremely large and appears white on the image, or the pixel value becomes extremely small and becomes black on the image. When the sensitivity of the detection element is high, dark current is generated even when no radiation is incident, and the value of the pixel increases. Conversely, when the sensitivity of the detection element is low, or when dust or the like adheres to the detection element, the value of the pixel decreases. Such a pixel is called a “defective pixel”.

欠損画素を補間する手法として、欠損画素に隣接する複数個の画素から中央値の画素で欠損画素を置換するメディアンフィルタ処理や、隣接する画素に基づいて画素を補間する補間処理などがある。これらの処理では欠損画素に隣接する画素のパターンに関係なく、画素の情報のみに基づいて行われる。例えば、隣接する画素にも欠損画素があるパターンの場合には、その欠損画素の情報に基づいて補間あるいは置換される恐れがある。そこで、画素のパターンを考慮するために、欠損画素のパターンを分類して、その分類結果に応じて欠損画素の補間を行う補間処理の手法がある(例えば、特許文献1参照)。
特開平10−51693号公報(第4−7頁、図2,図4,図6−9)
As a method for interpolating the defective pixel, there are a median filter process for replacing the defective pixel with a median pixel from a plurality of pixels adjacent to the defective pixel, an interpolation process for interpolating a pixel based on the adjacent pixel, and the like. These processes are performed based only on pixel information regardless of the pattern of pixels adjacent to the defective pixel. For example, in the case of a pattern in which adjacent pixels also have a defective pixel, there is a risk of interpolation or replacement based on the information of the defective pixel. Therefore, in order to consider the pixel pattern, there is an interpolation processing method that classifies the defective pixel pattern and interpolates the defective pixel in accordance with the classification result (see, for example, Patent Document 1).
JP-A-10-51693 (page 4-7, FIG. 2, FIG. 4, FIG. 6-9)

しかしながら、上述した特許文献1も含めてこれらの手法の場合には、値が極端に異なる画素を欠損画素としてみなしている。したがって、正常な画素にも関わらず値が極端に異なるだけで欠損画素として補間あるいは置換される恐れがある。その結果、画像処理を適切に行うことができなくなる恐れがある。   However, in the case of these methods including Patent Document 1 described above, pixels having extremely different values are regarded as defective pixels. Therefore, there is a possibility that interpolation or replacement may be performed as a defective pixel if the value is extremely different in spite of normal pixels. As a result, there is a risk that image processing cannot be performed properly.

この発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、画像処理を適切に行うことができる放射線撮像装置を提供することを目的とする。   This invention is made | formed in view of such a situation, Comprising: It aims at providing the radiation imaging device which can perform an image process appropriately.

発明者は、上記の問題を解決するために鋭意研究した結果、次のような知見を得た。
すなわち、欠損画素を補間することで画像処理を適切に行うという発想を変えて、欠損画素をそのまま残す、あるいは必要に応じたときのみ補間して画像処理を行うことに着目してみた。
As a result of intensive studies to solve the above problems, the inventors have obtained the following knowledge.
In other words, the idea of appropriately performing image processing by interpolating the missing pixels was changed, and attention was paid to leaving the missing pixels as they are, or performing image processing by interpolation only when necessary.

ただ、欠損画素あるいは欠損画素の恐れがある画素をそのまま残しても、欠損画素のある画像を得るだけである。そこで、別の手法を組み合わせることで画像処理を適切に行うことに想到した。ところで、テレビジョンやパーソナルコンピュータのモニタなどに代表される映像の分野では、『ウィンドウ・コントロール(Window Control)』という手法が行われている。この手法では、例えば図6(a)に示すように、モニタの一部に値が極端に大きい画素があってコントラストが悪ければ、図6(b)に示すように、値が大きな画素(すなわち最大値の画素)に一致するように、残りの全ての画素について最大値から最小値までの範囲を確定するスケーリングを行うものである。なお、ウィンドウ・コントロールを自動で行うことを、本明細書では『AWC(Auto Window Control)』と定義づける。発明者は、最大値の画素を欠損画素あるいは欠損画素の恐れがある画素に置き換えることを考えた。してみれば、欠損画素をそのまま残しても、スケーリングを行うことでコントラストが良くなるので、画像処理を適切に行うことが可能になる。なお、最小値の画素についても同じことが言えると考えられる。   However, even if a missing pixel or a pixel that may be a missing pixel is left as it is, an image with a missing pixel is only obtained. Therefore, the inventors came up with the idea of appropriately performing image processing by combining different methods. By the way, in the field of video typified by television and personal computer monitors, a method called “Window Control” is used. In this method, for example, as shown in FIG. 6A, if there is a pixel having an extremely large value in a part of the monitor and the contrast is bad, a pixel having a large value (ie, as shown in FIG. 6B) Scaling is performed to determine the range from the maximum value to the minimum value for all the remaining pixels so as to match the pixel of the maximum value. The automatic window control is defined as “AWC (Auto Window Control)” in this specification. The inventor has considered replacing the pixel having the maximum value with a pixel that is a defective pixel or a pixel that may be a defective pixel. In this case, even if the defective pixel is left as it is, since the contrast is improved by performing the scaling, the image processing can be appropriately performed. The same can be said for the minimum value pixel.

このような知見に基づくこの発明は、次のような構成をとる。
請求項1に記載の発明は、被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段を備え、検出された放射線に基づいて画像処理を行うことで、被検体の撮像を行う放射線撮像装置であって、検出された放射線に基づく画素のうち最大値または最小値の画素に一致するように、残りの全ての画素について最大値から最小値までの範囲を確定するスケーリングを行う画素スケーリング手段を備え、画素スケーリング手段のスケーリングにより画像処理を行うことを特徴とするものである。
The present invention based on such knowledge has the following configuration.
The invention according to claim 1 is a radiation imaging apparatus that includes radiation detection means for detecting radiation that has passed through a subject, and that performs image processing based on the detected radiation, thereby imaging the subject. Pixel scaling means for performing scaling to determine the range from the maximum value to the minimum value for all the remaining pixels so as to match the pixels of the maximum value or the minimum value among the pixels based on the detected radiation, Image processing is performed by scaling of the scaling means.

[作用・効果]請求項1に記載の発明によれば、画素スケーリング手段は、最大値または最小値の画素に一致するように、残りの全ての画素について最大値から最小値までの範囲を確定するスケーリングを行う。したがって、最大値または最小値の画素が仮に欠損画素であっても、その画素をそのまま残してスケーリングを行うので、コントラストの良好な画像を得ることができる。その結果、スケーリングを行うことで画像処理を適切に行うことができる。また、最大値または最小値の画素が欠損画素でなく正常な画素であっても、その画素をそのまま残すので、その画素が補間されることなく画像処理を適切に行うことができる。   [Operation / Effect] According to the invention described in claim 1, the pixel scaling means determines the range from the maximum value to the minimum value for all the remaining pixels so as to match the pixel of the maximum value or the minimum value. Perform scaling. Therefore, even if the pixel having the maximum value or the minimum value is a defective pixel, scaling is performed while leaving the pixel as it is, so that an image with good contrast can be obtained. As a result, it is possible to appropriately perform image processing by performing scaling. Even if the pixel having the maximum value or the minimum value is not a defective pixel but a normal pixel, the pixel is left as it is, so that image processing can be appropriately performed without the pixel being interpolated.

最大値または最小値の画素が欠損画素と確定できる場合には、上述した発明において、欠損画素を検出する欠損画素検出手段と、欠損画素検出手段で検出された欠損画素の補間を行う欠損画素補間手段とを備え、画素スケーリング手段のスケーリングおよび欠損画素補間手段の補間により画像処理を行うのが好ましい(請求項2に記載の発明)。この場合には、画素を補間した状態でコントラストの良好な画像を得ることができ、画像処理をより一層適切に行うことができる。   In a case where the pixel having the maximum value or the minimum value can be determined as a defective pixel, in the above-described invention, the defective pixel detection unit that detects the defective pixel and the defective pixel interpolation that performs interpolation of the defective pixel detected by the defective pixel detection unit And image processing is performed by scaling of the pixel scaling means and interpolation of the missing pixel interpolation means (the invention according to claim 2). In this case, an image with good contrast can be obtained with the pixels interpolated, and image processing can be performed more appropriately.

また、上述した請求項2に記載の発明の一例は、上述した欠損画素検出手段は、画素スケーリング手段のスケーリングで用いられる最大値または最小値の画素を欠損画素として検出すること(請求項3に記載の発明)である。スケーリングで用いられる最大値または最小値の画素を欠損画素として検出することで、欠損画素の検出の手間を省くことができる。   According to an example of the invention described in claim 2 described above, the above-described missing pixel detection unit detects a pixel having the maximum value or the minimum value used in the scaling of the pixel scaling unit as a missing pixel. Described invention). By detecting the pixel having the maximum value or the minimum value used for scaling as a defective pixel, it is possible to save the trouble of detecting the defective pixel.

また、上述した請求項2に記載の発明の他の一例は、上述した欠損画素補間手段は、欠損画素の周辺の複数個の画素から中央値の画素を用いて欠損画素を補間すること(請求項4に記載の発明)である。つまり、メディアンフィルタ処理で中央値の画素で欠損画素を置換することで補間を行う。   In another example of the invention described in claim 2, the above-described missing pixel interpolation means interpolates the missing pixel using a median pixel from a plurality of pixels around the missing pixel. Item 4). That is, interpolation is performed by replacing the missing pixel with the median pixel in the median filter processing.

この発明に係る放射線撮像装置によれば、画素スケーリング手段は、最大値または最小値の画素に一致するように、残りの全ての画素について最大値から最小値までの範囲を確定するスケーリングを行うので、最大値または最小値の画素をそのまま残した状態でスケーリングを行って画像処理を適切に行うことができる。   According to the radiation imaging apparatus of the present invention, the pixel scaling means performs scaling for determining the range from the maximum value to the minimum value for all the remaining pixels so as to match the pixel of the maximum value or the minimum value. The image processing can be appropriately performed by performing the scaling while leaving the pixels having the maximum value or the minimum value as they are.

以下、図面を参照してこの発明の実施例を説明する。
図1は、実施例に係るフラットパネル型X線検出器およびX線診断装置のブロック図であり、図2は、X線診断装置に用いられている画像処理部の具体的構成を示したブロック図であり、図3は、側面視したフラットパネル型X線検出器の等価回路であり、図4は、平面視したフラットパネル型X線検出器の等価回路である。本実施例では、放射線検出手段としてフラットパネル型X線検出器(以下、適宜「FPD」という)を例に採るとともに、放射線撮像装置としてX線診断装置を例に採って説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
FIG. 1 is a block diagram of a flat panel X-ray detector and an X-ray diagnostic apparatus according to an embodiment. FIG. 2 is a block diagram showing a specific configuration of an image processing unit used in the X-ray diagnostic apparatus. FIG. 3 is an equivalent circuit of a flat panel X-ray detector viewed from the side, and FIG. 4 is an equivalent circuit of the flat panel X-ray detector viewed from above. In this embodiment, a flat panel X-ray detector (hereinafter referred to as “FPD” as appropriate) is taken as an example of radiation detection means, and an X-ray diagnostic apparatus is taken as an example of a radiation imaging apparatus.

本実施例に係るX線診断装置は、図1に示すように、被検体Mを載置する天板1と、その被検体Mに向けてX線を照射するX線管2と、被検体Mを透過したX線を検出するFPD3とを備えている。FPD3は、放射線検出手段に相当する。   As shown in FIG. 1, the X-ray diagnostic apparatus according to the present embodiment includes a top plate 1 on which a subject M is placed, an X-ray tube 2 that irradiates the subject M with X-rays, and a subject. FPD3 which detects the X-ray which permeate | transmitted M is provided. The FPD 3 corresponds to radiation detection means.

X線診断装置は、他に、天板1の昇降および水平移動を制御する天板制御部4や、FPD3の走査を制御するFPD制御部5や、X線管2の管電圧や管電流を発生させる高電圧発生部6を有するX線管制御部7や、FPD3から電荷信号であるX線検出信号をディジタル化して取り出すA/D変換器8や、A/D変換器8から出力されたX線検出信号に基づいて種々の処理を行う他に後述するスケーリングや補間処理を行う画像処理部9や、これらの各構成部を統括するコントローラ10や、処理された画像などを記憶するメモリ部11や、オペレータが入力設定を行う入力部12や、処理された画像などを表示するモニタ13などを備えている。   In addition, the X-ray diagnostic apparatus further includes the top panel control unit 4 that controls the elevation and horizontal movement of the top panel 1, the FPD control unit 5 that controls the scanning of the FPD 3, and the tube voltage and tube current of the X-ray tube 2. An X-ray tube control unit 7 having a high voltage generation unit 6 to be generated, an A / D converter 8 that digitizes and extracts an X-ray detection signal that is a charge signal from the FPD 3, and an A / D converter 8 In addition to performing various processes based on the X-ray detection signal, an image processing unit 9 that performs scaling and interpolation processing described later, a controller 10 that controls these components, and a memory unit that stores processed images and the like 11, an input unit 12 in which an operator makes input settings, a monitor 13 for displaying processed images, and the like.

天板制御部4は、天板1を水平移動させて被検体Mを撮像位置にまで収容したり、昇降および水平移動させて被検体Mを所望の位置に設定したり、水平移動させながら撮像を行ったり、撮像終了後に水平移動させて撮像位置から退避させる制御などを行う。FPD制御部5は、FPD3を水平移動させたり、被検体Mの体軸の軸心周りに回転移動させることによる走査に関する制御などを行う。高電圧発生部6は、X線を照射させるための管電圧や管電流を発生してX線管2に与え、X線管制御部7は、X線管2を水平移動させたり、被検体Mの体軸の軸心周りに回転移動させるによる走査に関する制御や、X線管3側のコリメータ(図示省略)の照視野の設定の制御などを行う。なお、X線管2やFPD3の走査の際には、X線管2から照射されたX線をFPD3が検出できるようにX線管2およびFPD3が互いに対向しながらそれぞれの移動を行う。   The top board control unit 4 horizontally moves the top board 1 to accommodate the subject M up to the imaging position, moves the top and bottom up and horizontally to set the subject M to a desired position, or performs imaging while horizontally moving the subject M. Or performing horizontal control after the completion of imaging and retreating from the imaging position. The FPD control unit 5 performs control related to scanning by moving the FPD 3 horizontally or rotating around the body axis of the subject M. The high voltage generation unit 6 generates a tube voltage and a tube current for irradiating X-rays and applies them to the X-ray tube 2. The X-ray tube control unit 7 moves the X-ray tube 2 horizontally, Control relating to scanning by rotating around the axis of the body axis of M, control of setting of the irradiation field of a collimator (not shown) on the X-ray tube 3 side, and the like are performed. When scanning the X-ray tube 2 or the FPD 3, the X-ray tube 2 and the FPD 3 move while facing each other so that the FPD 3 can detect the X-rays emitted from the X-ray tube 2.

コントローラ10は、中央演算処理装置(CPU)などで構成されており、メモリ部11は、ROM(Read-only Memory)やRAM(Random-Access Memory)などに代表される記憶媒体などで構成されている。また、入力部12は、マウスやキーボードやジョイスティックやトラックボールやタッチパネルなどに代表されるポインティングデバイスで構成されている。X線診断装置では、被検体Mを透過したX線をFPD3が検出して、検出されたX線に基づいて画像処理部9で画像処理を行うことで被検体Mの撮像を行う。   The controller 10 is configured by a central processing unit (CPU) and the like, and the memory unit 11 is configured by a storage medium represented by ROM (Read-only Memory), RAM (Random-Access Memory), and the like. Yes. The input unit 12 includes a pointing device represented by a mouse, a keyboard, a joystick, a trackball, a touch panel, and the like. In the X-ray diagnostic apparatus, the FPD 3 detects X-rays that have passed through the subject M, and the image processing unit 9 performs image processing based on the detected X-rays, thereby imaging the subject M.

図2に示すように、画像処理部9は、最大値の画素を検出する最大値画素検出部21と、ウィンドウ・コントロール(Window Control)を自動で行うAWC(Auto Window Control)部22と、最大値画素検出部21で検出された最大値の画素が欠損画素であるか否かを判断する欠損画素判断部23と、欠損画素の補間を行う欠損画素補間部24とを備えて構成されている。これらの構成を備えることで画像処理部9は、スケーリングや補間処理を行う。   As shown in FIG. 2, the image processing unit 9 includes a maximum value pixel detection unit 21 that detects a maximum value pixel, an AWC (Auto Window Control) unit 22 that automatically performs window control, and a maximum value pixel detection unit 21. A missing pixel determination unit 23 that determines whether or not a pixel having the maximum value detected by the value pixel detection unit 21 is a defective pixel, and a defective pixel interpolation unit 24 that performs interpolation of the defective pixel are configured. . With these configurations, the image processing unit 9 performs scaling and interpolation processing.

最大値画素検出部21は、分離回路や比較器などで構成されており、分離回路で電荷信号に基づく画素をキャパシタやスイッチング素子32を構成する検出素子ごとに空間的に展開して、展開された画素を比較することで、最大値の画素を検出する。最大値画素検出部21で検出された最大値の画素が欠損画素判断部23で欠損画素として判断された場合には、最大値画素検出部21は、欠損画素を検出する機能を有することになり、この発明における欠損画素検出手段に相当する。なお、最大値画素検出部21は、上述の構成に限定されず、上述した特許文献1のように、ローパスフィルタ(LPF)と減算器とで最大値画素検出部21を構成し、空間的に展開された画素の信号のうち、高周波成分である急峻な画素の信号以外の低周波成分のみをローバスフィルタで通過させ、低周波成分と全体の信号とを減算器で減算して急峻な画素を検出することで、急峻な画素、すなわち最大値の画素を検出してもよい。   The maximum value pixel detection unit 21 includes a separation circuit, a comparator, and the like. The pixel based on the charge signal is spatially expanded for each detection element constituting the capacitor and the switching element 32 in the separation circuit. By comparing the obtained pixels, the pixel having the maximum value is detected. When the pixel with the maximum value detected by the maximum value pixel detection unit 21 is determined as a defective pixel by the defective pixel determination unit 23, the maximum value pixel detection unit 21 has a function of detecting a defective pixel. This corresponds to the missing pixel detection means in this invention. The maximum value pixel detection unit 21 is not limited to the above-described configuration, and the maximum value pixel detection unit 21 is configured by a low-pass filter (LPF) and a subtractor as in Patent Document 1 described above, and spatially. Among the expanded pixel signals, only low-frequency components other than the steep pixel signal that is a high-frequency component are passed through a low-pass filter, and the low-frequency component and the entire signal are subtracted by a subtractor so that the steep pixel By detecting this, a steep pixel, that is, a pixel having the maximum value may be detected.

AWC部22は、乗算器あるいは加算器などで構成されており、乗算器あるいは加算器によって最大値の画素以外の残りの全ての画素についてスケーリングを行う。AWC部22は、この発明における画素スケーリング手段に相当する。   The AWC unit 22 includes a multiplier or an adder, and performs scaling on all remaining pixels other than the maximum value pixel by the multiplier or the adder. The AWC unit 22 corresponds to the pixel scaling means in this invention.

欠損画素判断部23は、RAMなどに代表される記憶媒体や比較器などで構成されており、同じ検出素子において過去に行われた画素をRAMなどの記憶媒体から読み出して比較器で比較することで欠損画素であるか否かを判断する。   The missing pixel determination unit 23 is configured by a storage medium represented by a RAM or the like, a comparator, etc., and reads out the pixels performed in the past in the same detection element from the storage medium such as the RAM and compares them with a comparator. Whether or not the pixel is a defective pixel is determined.

欠損画素補間部24は、メディアンフィルタなどで構成されており、複数個の画素からメディアンフィルタで中央値の画素を検出して、その検出された中央値の画素で欠損画素を置換することで欠損画素を補間する。欠損画素補間部24はこの発明における欠損画素補間手段に相当する。   The missing pixel interpolation unit 24 is composed of a median filter or the like, detects a median pixel from a plurality of pixels by a median filter, and replaces the missing pixel with the detected median pixel. Interpolate pixels. The missing pixel interpolation unit 24 corresponds to the missing pixel interpolation means in this invention.

FPD3は、図3に示すように、ガラス基板31と、ガラス基板31上に形成された薄膜トランジスタTFTとから構成されている。薄膜トランジスタTFTについては、図3、図4に示すように、縦・横式2次元マトリクス状配列でスイッチング素子32が多数個(例えば、1024個×1024個)形成されており、キャリア収集電極33ごとにスイッチング素子32が互いに分離形成されている。すなわち、FPD3は、2次元アレイ放射線検出器でもある。   As shown in FIG. 3, the FPD 3 includes a glass substrate 31 and a thin film transistor TFT formed on the glass substrate 31. As shown in FIGS. 3 and 4, the thin film transistor TFT has a large number of switching elements 32 (for example, 1024 × 1024) formed in a vertical / horizontal two-dimensional matrix arrangement. The switching elements 32 are formed separately from each other. That is, the FPD 3 is also a two-dimensional array radiation detector.

図3に示すようにキャリア収集電極33の上にはX線感応型半導体34が積層形成されており、図3、図4に示すようにキャリア収集電極33は、スイッチング素子32のソースSに接続されている。ゲートドライバ35からは複数本のゲートバスライン36が接続されているとともに、各ゲートバスライン36はスイッチング素子32のゲートGに接続されている。一方、図4に示すように、電荷信号を収集して1つに出力するマルチプレクサ37には増幅器38を介して複数本のデータバスライン39が接続されているとともに、図3、図4に示すように各データバスライン39はスイッチング素子32のドレインDに接続されている。   As shown in FIG. 3, an X-ray sensitive semiconductor 34 is stacked on the carrier collection electrode 33, and the carrier collection electrode 33 is connected to the source S of the switching element 32 as shown in FIGS. 3 and 4. Has been. A plurality of gate bus lines 36 are connected from the gate driver 35, and each gate bus line 36 is connected to the gate G of the switching element 32. On the other hand, as shown in FIG. 4, a multiplexer 37 that collects charge signals and outputs them to one is connected with a plurality of data bus lines 39 via amplifiers 38, and also shown in FIGS. Thus, each data bus line 39 is connected to the drain D of the switching element 32.

図示を省略する共通電極にバイアス電圧を印加した状態で、ゲートバスライン36の電圧を印加(または0Vに)することでスイッチング素子32のゲートがONされて、キャリア収集電極33は、検出面側で入射したX線からX線感応型半導体34を介して変換された電荷信号(キャリア)を、スイッチング素子32のソースSとドレインDとを介してデータバスライン39に読み出す。なお、スイッチング素子がONされるまでは、電荷信号はキャパシタ(図示省略)で暫定的に蓄積されて記憶される。各データバスライン39に読み出された電荷信号を増幅器38で増幅して、マルチプレクサ37で1つの電荷信号にまとめて出力する。出力された電荷信号をA/D変換器8でディジタル化してX線検出信号として出力する。   With the bias voltage applied to the common electrode (not shown), the gate of the switching element 32 is turned on by applying the voltage of the gate bus line 36 (or 0 V), and the carrier collection electrode 33 is on the detection surface side. The charge signal (carrier) converted from the incident X-ray through the X-ray sensitive semiconductor 34 is read out to the data bus line 39 via the source S and drain D of the switching element 32. Until the switching element is turned on, the charge signal is temporarily accumulated and stored in a capacitor (not shown). The charge signals read to the respective data bus lines 39 are amplified by the amplifiers 38 and are collectively output as one charge signal by the multiplexer 37. The output charge signal is digitized by the A / D converter 8 and output as an X-ray detection signal.

次に、本実施例装置における一連の画像処理について、図5のフローチャートおよび図6、図7を参照して説明する。   Next, a series of image processing in the apparatus of the present embodiment will be described with reference to the flowchart of FIG. 5 and FIGS. 6 and 7.

(ステップS1)X線照射
X線管2から被検体MにX線を照射する。被検体Mを透過したX線をFPD3が検出してA/D変換器8でディジタル化した後に、画素として画像処理部9の最大値画素検出部21に送り込む。
(Step S1) X-ray irradiation The subject M is irradiated with X-rays from the X-ray tube 2. X-rays transmitted through the subject M are detected by the FPD 3 and digitized by the A / D converter 8, and then sent to the maximum value pixel detection unit 21 of the image processing unit 9 as pixels.

(ステップS2)最大値画素を検出
最大値画素検出部21は、図6(a)に示すように、画素をキャパシタやスイッチング素子32を構成する検出素子ごとに空間的に展開する。図示の都合上、図6では1次元で表したが、スイッチング素子32の配列に対応させて2次元に展開する。本実施例では、マルチプレクサ37で1つの信号にまとめてから空間的に再度に展開したが、マルチプレクサ37を設けずに空間的に展開した状態で、画像処理部9の最大値画素検出部21に送ってもよい。この場合、同じデータバスライン39で送られるデータは、各スイッチング素子32のON/OFFの切換時間ごとにゲートバスライン36に接続された電荷信号が重畳されるので、切換時間ごとにも各ゲートバスライン36の画素ごとになるように分離回路などで時分割して展開する。
(Step S <b> 2) Maximum Value Pixel Detection The maximum value pixel detection unit 21 spatially expands the pixels for each detection element constituting the capacitor and the switching element 32 as shown in FIG. 6A. For the convenience of illustration, the one-dimensional representation is shown in FIG. 6, but the two-dimensional expansion is performed corresponding to the arrangement of the switching elements 32. In the present embodiment, the signal is combined into one signal by the multiplexer 37 and then spatially expanded again. However, in the state of being spatially expanded without providing the multiplexer 37, the maximum value pixel detection unit 21 of the image processing unit 9 You may send it. In this case, since the data sent on the same data bus line 39 is superimposed on the charge signal connected to the gate bus line 36 at each ON / OFF switching time of each switching element 32, each gate is also switched at each switching time. Development is performed in a time-sharing manner by a separation circuit or the like so as to be every pixel of the bus line 36.

検出素子ごとに各画素を展開したら、各々の画素を比較器で比較して、最大値の画素を検出する。例えば、図7(a)に示すように、最大値の画素が『500』で、残りの画素が『10』前後で分布している場合には、『500』である最大となりうる画素も含めて比較して、最大値の画素の『500』を検出する。そして、ステップS3とS4を並行に行う。   When each pixel is developed for each detection element, each pixel is compared by a comparator to detect the maximum value pixel. For example, as shown in FIG. 7A, when the maximum value pixel is “500” and the remaining pixels are distributed around “10”, the maximum possible pixel value “500” is included. In comparison, the maximum pixel value “500” is detected. Then, steps S3 and S4 are performed in parallel.

(ステップS3)スケーリング
AWC部22は、最大値の画素が『500』に一致するように、残りの全ての画素について最大値から最小値までの範囲を確定するスケーリングを行う。例えば、残りの画素のうち、値が『10』である画素を『500』にする場合には、図7(b)に示すように、500/10の50倍でスケーリングを行う(図6、図7では『×50』で50倍のスケーリングを表す)。残りの画素についても50倍でスケーリングを行う。このスケーリングについては乗算器で行う。スケーリング後の結果は、図6(b)に示すとおりである。
(Step S3) Scaling The AWC unit 22 performs scaling for determining the range from the maximum value to the minimum value for all the remaining pixels so that the maximum value pixel matches “500”. For example, when the pixel having the value “10” among the remaining pixels is set to “500”, as shown in FIG. 7B, scaling is performed at 50 times 500/10 (FIG. 6, In FIG. 7, “× 50” represents 50 times scaling). The remaining pixels are also scaled by 50 times. This scaling is performed by a multiplier. The result after scaling is as shown in FIG.

なお、値が『10』以外の画素(例えば値が『12』の画素)nを『500』にして、500/n倍(値が『12』の画素の場合には500/12倍)でスケーリングを行ってもよい。また、加算器でスケーリングを行ってもよい。その場合には値が『10』である画素を『500』にする際に、500−10=490を残りの画素に加算することでスケーリングを行う。そして、ステップS6に跳ぶ。   It should be noted that a pixel having a value other than “10” (for example, a pixel having a value of “12”) n is set to “500” and is multiplied by 500 / n (500/12 times for a pixel having a value of “12”) Scaling may be performed. Further, scaling may be performed by an adder. In this case, when the pixel having the value “10” is set to “500”, scaling is performed by adding 500−10 = 490 to the remaining pixels. And it jumps to step S6.

(ステップS4)欠損画素か?
欠損画素判断部23は、最大値の画素が欠損画素であるか否かを判断する。欠損画素を判断する手法の一例として、同じ検出素子において過去に行われた画素を欠損画素ごとRAMなどの記憶媒体に予め記憶しておいて、欠損画素のある検出素子と今回で検出された最大値の画素の検出素子とを比較器で比較して両者が一致したら、その最大値の画素は欠損画素として判断する。
(Step S4) Is it a defective pixel?
The missing pixel determination unit 23 determines whether or not the maximum value pixel is a defective pixel. As an example of a technique for determining a defective pixel, previously performed pixels in the same detection element are stored in advance in a storage medium such as a RAM, and a detection element having a defective pixel and the maximum detected this time are detected. When the detection element of the value pixel is compared with the comparator and the two match, the maximum value pixel is determined as a defective pixel.

他の一例として、X線を照射しない非照射で流れる暗電流を欠損画素として記憶媒体に予め記憶しておいて、暗電流が流れた検出素子と今回で検出された最大値の画素の検出素子とを比較器で比較して両者が一致したら、その最大値の画素を欠損画素として判断する。欠損画素判断部23で最大値の画素が欠損画素と判断した場合には、次のステップS5に移行し、最大値の画素が欠損画素でないと判断した場合には、ステップS6に跳ぶ。   As another example, a dark current that flows without irradiation without X-ray irradiation is stored in advance in a storage medium as a defective pixel, and a detection element in which the dark current flows and a detection element of the maximum value pixel detected this time Are compared with each other by a comparator, and the pixel having the maximum value is determined as a defective pixel. When the defective pixel determining unit 23 determines that the maximum value pixel is a defective pixel, the process proceeds to the next step S5, and when it is determined that the maximum value pixel is not a defective pixel, the process jumps to step S6.

(ステップS5)メディアンフィルタ処理
欠損画素補間部24は、複数個の画素からメディアンフィルタで中央値の画素を検出して、その検出された中央値の画素で欠損画素を置換することで欠損画素を補間する。例えば、図7(a)に示すように分布している場合には、図7(c)に示すように最大値の画素を除いて残りの画素から中央値である『11』の値の画素を検出し、図7(d)に示すように、その『11』の画素で、『500』である最大値の画素、すなわち欠損画素を置換する。図7(c),図7(d)では置換の対象となる画素を『○』で囲んで区別している。
(Step S5) Median Filter Processing The missing pixel interpolating unit 24 detects a median pixel from a plurality of pixels by a median filter, and replaces the missing pixel with the detected median pixel. Interpolate. For example, in the case of distribution as shown in FIG. 7A, pixels having a value of “11”, which is the median value, from the remaining pixels are excluded, as shown in FIG. 7C. Then, as shown in FIG. 7D, the pixel having the maximum value of “500”, that is, the defective pixel is replaced with the pixel “11”. In FIG. 7C and FIG. 7D, pixels to be replaced are distinguished by being surrounded by “◯”.

(ステップS6)合成
ステップS3でスケーリングが行われた各画素と、最大値の画素が欠損画素の場合にはステップS5でメディアンフィルタ処理された欠損画素とを合成する。図7に示す場合では、メディアンフィルタ処理された欠損画素は値が『500』から『11』に置換されたので、『11』に置換された画素についても50倍でスケーリングを行って、スケーリングが既に行われた残りの画素と併せると、図7(e)に示すようになる。
(Step S6) Compositing Each pixel scaled in step S3 is combined with the defective pixel subjected to the median filter processing in step S5 when the maximum value pixel is a defective pixel. In the case shown in FIG. 7, the value of the missing pixel subjected to the median filter processing is replaced from “500” to “11”. Therefore, the pixel replaced with “11” is also scaled by 50 times, and the scaling is performed. When combined with the remaining pixels already performed, the result is as shown in FIG.

以上のように構成された本実施例装置によれば、AWC部22は、最大値の画素に一致するように、残りの全ての画素について最大値から最小値までの範囲を確定するスケーリングを行う。したがって、最大値の画素が仮に欠損画素であっても、その画素をそのまま残してスケーリングを行うので、コントラストの良好な画像を得ることができる。その結果、スケーリングを行うことで画像処理を適切に行うことができる。また、最大値の画素が欠損画素でなく正常な画素であっても、その画素をそのまま残すので、その画素が補間されることなく画像処理を適切に行うことができる。   According to the apparatus of the present embodiment configured as described above, the AWC unit 22 performs scaling for determining the range from the maximum value to the minimum value for all the remaining pixels so as to match the maximum value pixel. . Therefore, even if the maximum value pixel is a missing pixel, scaling is performed while leaving the pixel as it is, so that an image with good contrast can be obtained. As a result, it is possible to appropriately perform image processing by performing scaling. Further, even if the maximum value pixel is not a defective pixel but a normal pixel, the pixel is left as it is, so that image processing can be appropriately performed without interpolation of the pixel.

本実施例では、欠損画素を検出する最大値画素検出部21と、最大値画素検出部21で検出された欠損画素の補間を行う欠損画素補間部24とを備え、AWC部22のスケーリングおよび欠損画素補間部24の補間により画像処理を行っている。この場合には、画素を補間した状態でコントラストの良好な画像を得ることができ、画像処理をより一層適切に行うことができる。   In the present embodiment, a maximum value pixel detection unit 21 that detects a defective pixel and a defective pixel interpolation unit 24 that performs interpolation of the defective pixel detected by the maximum value pixel detection unit 21 are provided. Image processing is performed by interpolation of the pixel interpolation unit 24. In this case, an image with good contrast can be obtained with the pixels interpolated, and image processing can be performed more appropriately.

なお、本実施例では、メディアンフィルタ処理のように、欠損画素を置換することで欠損画素の補間を行ったが、隣接する画素に基づいて画素を補間する補間処理などに例示されるように、特に限定されない。また、隣接する画素に基づいて画素を補間する場合には、X線を照射しない非照射で画素を予め測定して、その補正データに基づいて画素の重み付けを行ったりすればよい。   In this embodiment, the defective pixel is interpolated by replacing the defective pixel as in the median filter processing. However, as exemplified by the interpolation processing for interpolating the pixel based on the adjacent pixel, There is no particular limitation. In addition, when interpolating pixels based on adjacent pixels, the pixels may be measured in advance without irradiation with X-rays, and the pixels may be weighted based on the correction data.

本実施例では、欠損画素判断部23で欠損画素と判断した場合には、最大値画素検出部21は、AWC部22のスケーリングで用いられる最大値の画素を欠損画素として検出したが、最大値の画素を欠損画素として検出することで、欠損画素の検出の手間を省くことができる。   In this embodiment, when the defective pixel determination unit 23 determines that the pixel is a defective pixel, the maximum value pixel detection unit 21 detects the maximum value pixel used in the scaling of the AWC unit 22 as the defective pixel. By detecting this pixel as a defective pixel, it is possible to save the trouble of detecting the defective pixel.

この発明は、上記実施形態に限られることはなく、下記のように変形実施することができる。   The present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be modified as follows.

(1)上述した実施例では、図1に示すようなX線診断装置を例に採って説明したが、この発明は、例えばC型アームに配設されたX線診断装置にも適用してもよい。また、この発明は、X線CT装置にも適用してもよい。   (1) In the above-described embodiment, the X-ray diagnostic apparatus as shown in FIG. 1 has been described as an example. However, the present invention is also applied to an X-ray diagnostic apparatus disposed on a C-type arm, for example. Also good. The present invention may also be applied to an X-ray CT apparatus.

(2)上述した実施例では、フラットパネル型X線検出器(FPD)3を例に採って説明したが、画素を区画する2次元マトリクス状で配列された検出素子から構成されるX線検出器であれば、この発明は適用することができる。   (2) In the above-described embodiment, the flat panel X-ray detector (FPD) 3 has been described as an example. However, X-ray detection configured by detection elements arranged in a two-dimensional matrix that partitions pixels. The present invention can be applied to any container.

(3)上述した実施例では、X線を検出するX線検出器を例に採って説明したが、この発明は、ECT(Emission Computed Tomography)装置のように放射性同位元素(RI)を投与された被検体から放射されるγ線を検出するγ線検出器に例示されるように、放射線を検出する放射線検出器であれば特に限定されない。同様に、この発明は、上述したECT装置に例示されるように、放射線を検出して撮像を行う装置であれば特に限定されない。   (3) In the above-described embodiments, the X-ray detector for detecting X-rays has been described as an example. However, in the present invention, a radioisotope (RI) is administered like an ECT (Emission Computed Tomography) apparatus. The radiation detector is not particularly limited as long as it is a radiation detector that detects radiation, as exemplified by a γ-ray detector that detects γ-rays emitted from a subject. Similarly, the present invention is not particularly limited as long as it is an apparatus that performs imaging by detecting radiation, as exemplified by the ECT apparatus described above.

(4)上述した実施例では、FPD3は、放射線(実施例ではX線)感応型の半導体を備え、入射した放射線を放射線感応型の半導体で直接的に電荷信号に変換する直接変換型の検出器であったが、放射線感応型の替わりに光感応型の半導体を備えるとともにシンチレータを備え、入射した放射線をシンチレータで光に変換し、変換された光を光感応型の半導体で電荷信号に変換する間接変換型の検出器であってもよい。   (4) In the above-described embodiment, the FPD 3 includes a radiation (in the embodiment, X-ray) sensitive semiconductor and directly converts the incident radiation into a charge signal by the radiation sensitive semiconductor. However, instead of the radiation-sensitive type, it is equipped with a light-sensitive semiconductor and a scintillator, and the incident radiation is converted into light by the scintillator, and the converted light is converted into a charge signal by the light-sensitive semiconductor. It may be an indirect conversion type detector.

(5)上述した実施例では、最大値の画素に一致するようにスケーリングを行ったが、最大値の画素に限定されず、最小値の画素に一致するように、最大値から最小値までの範囲を確定するスケーリングを行ってもよい。   (5) In the above-described embodiment, the scaling is performed so as to match the pixel of the maximum value. However, the scaling is not limited to the pixel of the maximum value, and from the maximum value to the minimum value so as to match the pixel of the minimum value. Scaling to determine the range may be performed.

(6)上述した実施例では、欠損画素についてメディアンフィルタなどに代表される補間処理を行ったが、欠損画素について補間せずにスケーリングのみ行ってもよい。   (6) In the above-described embodiment, the interpolation process represented by the median filter or the like is performed on the defective pixel. However, only the scaling may be performed without interpolating the defective pixel.

(7)上述した実施例では、最大値画素検出部21は、AWC部22のスケーリングで用いられる最大値の画素を欠損画素として検出したが、スケーリングで用いられる最大値の画素以外にも欠損となりうる画素があれば、その画素を欠損画素として検出してもよい。つまり、最大値画素検出部21のように最大値の画素を検出する手段と欠損画素を検出する手段とを個別に分けてもよい。そして、スケーリングの場合には、最大値の画素を検出する手段で検出された画素に一致するように行い、補間の場合には、欠損画素を検出する手段で検出された画素を対象に行う。かかる変形例は最小値の画素についても適用することができる。   (7) In the above-described embodiment, the maximum value pixel detection unit 21 detects the maximum value pixel used in the scaling of the AWC unit 22 as a defective pixel. However, the maximum value pixel detection unit 21 is defective other than the maximum value pixel used in the scaling. If there is a pixel that can be obtained, the pixel may be detected as a defective pixel. That is, the means for detecting the pixel with the maximum value and the means for detecting the defective pixel as in the maximum value pixel detection unit 21 may be separately provided. In the case of scaling, it is performed so as to coincide with the pixel detected by the means for detecting the maximum value pixel, and in the case of interpolation, the detection is performed on the pixel detected by the means for detecting the defective pixel. Such a modification can also be applied to the minimum value pixel.

実施例に係るフラットパネル型X線検出器およびX線診断装置のブロック図である。1 is a block diagram of a flat panel X-ray detector and an X-ray diagnostic apparatus according to an embodiment. X線診断装置に用いられている画像処理部の具体的構成を示したブロック図である。It is the block diagram which showed the specific structure of the image process part used for the X-ray diagnostic apparatus. X線診断装置に用いられる側面視したフラットパネル型X線検出器の等価回路である。It is the equivalent circuit of the flat panel type X-ray detector used for the X-ray diagnostic apparatus viewed from the side. 平面視したフラットパネル型X線検出器の等価回路である。2 is an equivalent circuit of a flat panel X-ray detector in plan view. 一連の画像処理を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows a series of image processing. 画素を空間的に展開した図であって、(a)はスケーリング前、(b)はスケーリング後の各図である。It is the figure which expanded the pixel spatially, Comprising: (a) is each figure before scaling, (b) is each figure after scaling. (a)〜(e)は、一連の画像処理における各画素の変化を示した図である。(A)-(e) is the figure which showed the change of each pixel in a series of image processing.

符号の説明Explanation of symbols

3 … フラットパネル型X線検出器(FPD)
9 … 画像処理部
21 … 最大値画素検出部
22 … AWC(Auto Window Control)部
24 … 欠損画素補間部
M … 被検体
3 ... Flat panel X-ray detector (FPD)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 9 ... Image processing part 21 ... Maximum value pixel detection part 22 ... AWC (Auto Window Control) part 24 ... Missing pixel interpolation part M ... Subject

Claims (4)

被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段を備え、検出された放射線に基づいて画像処理を行うことで、被検体の撮像を行う放射線撮像装置であって、検出された放射線に基づく画素のうち最大値または最小値の画素に一致するように、残りの全ての画素について最大値から最小値までの範囲を確定するスケーリングを行う画素スケーリング手段を備え、画素スケーリング手段のスケーリングにより画像処理を行うことを特徴とする放射線撮像装置。   A radiation imaging apparatus that includes radiation detection means for detecting radiation that has passed through a subject and that performs image processing based on the detected radiation, and that performs imaging of the subject, and includes a pixel based on the detected radiation. A pixel scaling unit that performs scaling to determine the range from the maximum value to the minimum value for all the remaining pixels so as to match the pixel of the maximum value or the minimum value, and performs image processing by scaling of the pixel scaling unit A radiation imaging apparatus. 請求項1に記載の放射線撮像装置において、欠損画素を検出する欠損画素検出手段と、欠損画素検出手段で検出された欠損画素の補間を行う欠損画素補間手段とを備え、前記画素スケーリング手段のスケーリングおよび欠損画素補間手段の補間により画像処理を行うことを特徴とする放射線撮像装置。   2. The radiation imaging apparatus according to claim 1, comprising: a defective pixel detection unit that detects a defective pixel; and a defective pixel interpolation unit that performs interpolation of the defective pixel detected by the defective pixel detection unit, and the scaling of the pixel scaling unit And a radiation imaging apparatus that performs image processing by interpolation of a defective pixel interpolation unit. 請求項2に記載の放射線撮像装置において、前記欠損画素検出手段は、前記画素スケーリング手段のスケーリングで用いられる最大値または最小値の画素を欠損画素として検出することを特徴とする放射線撮像装置。   3. The radiation imaging apparatus according to claim 2, wherein the missing pixel detection unit detects a pixel having a maximum value or a minimum value used for scaling of the pixel scaling unit as a missing pixel. 請求項2または請求項3に記載の放射線撮像装置において、前記欠損画素補間手段は、欠損画素の周辺の複数個の画素から中央値の画素を用いて欠損画素を補間することを特徴とする放射線撮像装置。
4. The radiation imaging apparatus according to claim 2, wherein the missing pixel interpolation means interpolates the missing pixel using a median pixel from a plurality of pixels around the missing pixel. Imaging device.
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