JP2005170785A - カーボン・ナノチューブの安定な合成を促進させる方法および構造 - Google Patents

カーボン・ナノチューブの安定な合成を促進させる方法および構造 Download PDF

Info

Publication number
JP2005170785A
JP2005170785A JP2004353589A JP2004353589A JP2005170785A JP 2005170785 A JP2005170785 A JP 2005170785A JP 2004353589 A JP2004353589 A JP 2004353589A JP 2004353589 A JP2004353589 A JP 2004353589A JP 2005170785 A JP2005170785 A JP 2005170785A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
carbon nanotubes
synthesis
layer
substrate
sites
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2004353589A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4032083B2 (ja
Inventor
Toshiharu Furukawa
トシハル・フルカワ
Mark Charles Hakey
マーク・チャールズ・ヘイキー
Steven J Holmes
スティーブン・ジョン・ホームズ
David Vaclav Horak
デビッド・バクラブ・ホラク
Charles W Koburger Iii
3世 チャールズ・ウイリアム・コバーガー
Peter H Mitchell
ピーター・エイチ・ミッチェル
Larry A Nesbit
ラリー・アラン・ネスビット
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
International Business Machines Corp
Original Assignee
International Business Machines Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by International Business Machines Corp filed Critical International Business Machines Corp
Publication of JP2005170785A publication Critical patent/JP2005170785A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4032083B2 publication Critical patent/JP4032083B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82BNANOSTRUCTURES FORMED BY MANIPULATION OF INDIVIDUAL ATOMS, MOLECULES, OR LIMITED COLLECTIONS OF ATOMS OR MOLECULES AS DISCRETE UNITS; MANUFACTURE OR TREATMENT THEREOF
    • B82B3/00Manufacture or treatment of nanostructures by manipulation of individual atoms or molecules, or limited collections of atoms or molecules as discrete units
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J1/00Details of electrodes, of magnetic control means, of screens, or of the mounting or spacing thereof, common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
    • H01J1/02Main electrodes
    • H01J1/30Cold cathodes, e.g. field-emissive cathode
    • H01J1/304Field-emissive cathodes
    • H01J1/3042Field-emissive cathodes microengineered, e.g. Spindt-type
    • H01J1/3044Point emitters
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y10/00Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y30/00Nanotechnology for materials or surface science, e.g. nanocomposites
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y40/00Manufacture or treatment of nanostructures
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01BNON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
    • C01B32/00Carbon; Compounds thereof
    • C01B32/15Nano-sized carbon materials
    • C01B32/158Carbon nanotubes
    • C01B32/16Preparation
    • C01B32/162Preparation characterised by catalysts
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching, or capacitors or resistors with at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof  ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/02Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/04Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their crystalline structure, e.g. polycrystalline, cubic or particular orientation of crystalline planes
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01BNON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
    • C01B2202/00Structure or properties of carbon nanotubes
    • C01B2202/06Multi-walled nanotubes
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01BNON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
    • C01B2202/00Structure or properties of carbon nanotubes
    • C01B2202/20Nanotubes characterized by their properties
    • C01B2202/22Electronic properties
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01BNON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
    • C01B2202/00Structure or properties of carbon nanotubes
    • C01B2202/20Nanotubes characterized by their properties
    • C01B2202/34Length
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2201/00Electrodes common to discharge tubes
    • H01J2201/30Cold cathodes
    • H01J2201/304Field emission cathodes
    • H01J2201/30446Field emission cathodes characterised by the emitter material
    • H01J2201/30453Carbon types
    • H01J2201/30469Carbon nanotubes (CNTs)
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S977/00Nanotechnology
    • Y10S977/70Nanostructure
    • Y10S977/734Fullerenes, i.e. graphene-based structures, such as nanohorns, nanococoons, nanoscrolls or fullerene-like structures, e.g. WS2 or MoS2 chalcogenide nanotubes, planar C3N4, etc.
    • Y10S977/742Carbon nanotubes, CNTs
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S977/00Nanotechnology
    • Y10S977/84Manufacture, treatment, or detection of nanostructure
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S977/00Nanotechnology
    • Y10S977/84Manufacture, treatment, or detection of nanostructure
    • Y10S977/842Manufacture, treatment, or detection of nanostructure for carbon nanotubes or fullerenes
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S977/00Nanotechnology
    • Y10S977/84Manufacture, treatment, or detection of nanostructure
    • Y10S977/842Manufacture, treatment, or detection of nanostructure for carbon nanotubes or fullerenes
    • Y10S977/843Gas phase catalytic growth, i.e. chemical vapor deposition
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/30Self-sustaining carbon mass or layer with impregnant or other layer

Abstract

【課題】カーボン・ナノチューブの合成方法およびカーボン・ナノチューブで形成された構造を提供すること。
【解決手段】この方法は、第1基板にサポートされた複数の合成サイト上にカーボン・ナノチューブを形成するステップと、ナノチューブ合成を中断するステップと、第2基板に各カーボン・ナノチューブの自由端部を載置するステップと、この第1基板を除去するステップを含む。各カーボン・ナノチューブはこの合成サイトの1つによってキャップされ、そのサイトには成長反応物質が容易にアクセス可能になっている。再開されたナノチューブ合成中は、各カーボン・ナノチューブが伸長する際、この合成サイトへのアクセスは妨げられないままである。
【選択図】図6

Description

本発明は半導体デバイスの製作に関し、より詳細には安定したカーボン・ナノチューブの合成を促進させる方法および構造に関する。
従来の電界効果トランジスタ(FET:field effect transistor)は、集積回路(IC)チップの複雑な回路の基本的な構成単位(buildingblock)として広く取り入れられている従来からよく知られたデバイスである。FET寸法の小型化によって回路性能が向上し、ICチップ上に詰め込まれるFETの機能が増大している。しかし、デバイス寸法を今後も引き続き縮小するには、従来材料に伴う寸法の限界およびリソグラフィ・パターン形成に伴うコストが障害になる可能性がある。
カーボン・ナノチューブは、半導電性(semiconducting)の電子状態または導電性の電子状態のどちらかをとり得るカーボン原子の六角形のリングからなるアスペクト比の高いナノスケールの円筒である。ハイブリッド(混成)FETは、半導電性カーボン・ナノチューブをチャネル領域として用い、基板表面にある金ソース電極と金ドレイン電極の間を延びるこの半導電性カーボン・ナノチューブの両端でコンタクト(contact)を形成することによりうまく製作されている。ゲート電極は、このカーボン・ナノチューブの下にある基板内、一般にソース電極とドレイン電極の間に画定される。基板の酸化表面は、埋め込みゲート電極とカーボン・ナノチューブの間に位置するゲート誘電体を画定する。ナノチューブによるハイブリッドFETの構造は、カーボン・ナノチューブの寸法が小さいため、同等のシリコン系デバイス構造に比べてかなり低い消費電力で確実にスイッチングするはずである。このようなFET構造は、実験室段階では原子間力顕微鏡を使用して単一の半導電性カーボン・ナノチューブを操作して正確に載置することによって、あるいはランダムに分散した半導電性カーボン・ナノチューブの群からソース電極とドレイン電極の間に単一の半導電性カーボン・ナノチューブを同時に載置(coincidentalplacement)することによってうまく形成されている。
カーボン・ナノチューブの供給能力およびその合成コストが、ICチップなどの潜在的に量産可能な様々な最終製品への導入を妨げている主な問題である。従来のカーボン・ナノチューブを合成する方法は、基板上に触媒材料の層を堆積させるものである。この層をパターン形成して、カーボン前駆体(carbonaceous precursor)を使用した化学的気相堆積法(CVD)による成長のためのシード領域として働く小さなドットのアレイ(array)を形成することができる。基板にくっ付いたままのシード領域の触媒材料と各ナノチューブ界面に活性化されたカーボン原子を挿入することによって、このカーボン・ナノチューブを成長させ、伸長させる。カーボン・ナノチューブが伸長するにつれて、CVD反応物質(reactant)のシード領域への流れが、特にシード領域の密集したアレイで制限されてくる。具体的には、反応物質が流れるように開いている、隣り合うカーボン・ナノチューブ同士の間隔が狭くなることがある。反応物質は、カーボン・ナノチューブの自由先端部の近傍からこの開いた空間を通って流れて触媒材料に到達して成長反応に参加しなければならない。この流れの制限によってシード領域のナノチューブ合成が遅くなり停止することさえある。したがって、ナノチューブ長さの増大と共に、成長速度は劇的に遅くなり成長が終わることもある。
したがって、基板に載置された触媒材料のシード・パッドのために触媒材料との合成界面への反応物質の流れ制限によって制限されない、CVDによるカーボン・ナノチューブの合成方法が求められている。
本発明の原理によれば、カーボン・ナノチューブを製造する方法は、基板に載置された複数の合成サイト上でカーボン・ナノチューブを合成するステップを含んでいる。半導電性カーボン・ナノチューブを量産する方法は、第1基板に載置された複数の合成サイト(synthesis site)上で第1の長さまで複数のカーボン・ナノチューブを合成するステップを含んでいる。この複数のカーボン・ナノチューブの合成を中断(interrupt)し、複数のカーボン・ナノチューブそれぞれの自由端部を第2基板でサポートする。この方法は、この複数の合成サイトを第1基板から分離するステップと、この複数のカーボン・ナノチューブの合成をこの複数の合成サイトで再開して、第1の長さより長い第2の長さまでこの複数のカーボン・ナノチューブを伸長させるステップをさらに含む。その結果、各合成サイトと対応するカーボン・ナノチューブとの界面が、カーボン・ナノチューブを最終の長さまで伸長させるために連続的に、妨げられずに(unoccluded)反応物質ガスに自由にアクセスできる。
本発明は、それぞれ第1端部と第2端部の間を延びる複数のカーボン・ナノチューブを備える構造も対象としている。複数のカーボン・ナノチューブの各第1端部は基板にサポートされている。この複数のカーボン・ナノチューブの各第2端部は、複数の合成サイトのうちの1つと結合されて(couple)いる。
本発明の原理による簡単な調製法を用いて、カーボン・ナノチューブを大量に製造し回収することができる。本発明は、その様々な実施形態において、長いカーボン・ナノチューブを速い成長速度で合成する方法の必要性を満たす。本発明の諸方法を使用して、カーボン・ナノチューブをその潜在的および実際の任意の用途に使用するために大量生産することができる。その用途は、半導体デバイス製作用でもよく、他の様々な用途でもよい。反応物質の合成サイトへの流れに関してカーボン・ナノチューブの密集したアレイを問題なく形成することができる。
本明細書の添付図面は、本発明の諸実施形態を示し、上記の概略説明と以下に述べる諸実施形態についての詳細な説明とともに本発明の原理を説明するのに役立つ。
本発明は、その様々な実施形態において、成長促進触媒材料からなるシード・パッド(seedpad)上に化学的気相堆積法によって合成されあるいは成長したカーボン・ナノチューブを安定して合成する方法を提供する。一般的に、この方法は第1基板によってサポート(support:支持)された合成サイトにカーボン・ナノチューブを形成するステップと、ナノチューブ合成を中断するステップと、各カーボン・ナノチューブの自由端部を第2基板に搭載するステップと、第1基板を除去するステップからなる。その結果、各カーボン・ナノチューブは、合成サイトのうちの1つによってキャップ(cap)され、カーボン・ナノチューブの伸長によって合成サイトへの反応物質のアクセスが妨げられない自立(freestanding)構造になる。この妨げられない(non-occluded)構造を形成した後で、合成サイトでナノチューブ合成を再開してカーボン・ナノチューブを伸長させる。
図1を参照すると、基板12上に複数の相隔たる合成サイト10が設けられている。これらの合成サイト10は、たとえば、基板12の表面の周囲に延びる周期的な行(row)と列(column)のアレイ(array)として配列させることができる。それぞれの合成サイト10は、メサ(mesa)またはピラー(pillar)16の上側表面に位置し、カーボン・ナノチューブ合成に適した触媒材料からなるシード・パッド14を備える(図2)。基板12は、それだけには限らないが、シリコン(Si)およびガリウムヒ素(GaAs)、ガラス、炭化シリコン(SiC)、酸化シリコン(SiO)、またはナノチューブ触媒として働かない適切な金属などを含めてカーボン・ナノチューブの成長をサポートしないどんな適切なサポート基板材料から成るものでもよい。ピラー16はシード・パッド14のサポート素子であり、同様にカーボン・ナノチューブの成長をサポートしない任意の適切な材料から形成してもよい。このシード・パッド14の周辺部を取り囲んで、ピラー16の上に、カーボン・ナノチューブの合成または成長をサポートしない材料からなるスペーサ18が存在する。この合成サイト10の下にエッチ・ストップ(etchstop)としても働く剥離層(release layer)20があり、この剥離層20に加えて別個のエッチ・ストップ層(図示せず)を設けることもできる。この剥離層20の水平面に沿って、劈開面(cleavingblane)が画定される。
本発明の一実施形態では、剥離層20は、ウェット・エッチングまたは当業者に知られた他の任意の従来技法によって除去可能な材料である。それだけには限らないが、金属ハライド、金属配化物、金属カルボニルなどの適切な前駆体(precursor)を使用する化学的気相堆積法(CVD)、スパッタリング、および物理的気相堆積法(PVD)を含めて従来の任意の堆積技法によって絶縁層12上に触媒材料のブランケット(blanket)層を堆積させ、次いで標準的なリソグラフィ法およびサブトラクティブ・エッチング法を用いてこのブランケット層をパターン形成することによって、パターン化されたシード・パッド14を形成することができる。標準の堆積法およびエッチング法によってこのシード・パッド14の周囲にスペーサ18を形成することができる。次いで、シード・パッド14およびスペーサ18をマスクとして利用し、基板12の材料をシード・パッド14およびスペーサ18を構成する材料を剥離層20の深さまで選択的にエッチングする自己整合型異方性エッチングを実施することによって、離隔したピラー16を画定する。
触媒パッド10内の触媒材料は、ナノチューブ成長を促進するのに適する化学反応条件下で適切な反応物質にさらしたとき、カーボン・ナノチューブ成長の核生成およびサポートが可能な任意の材料である。適切な触媒材料は、たとえば、それだけには限らないが、鉄、ニッケル、コバルト、これらの各金属の合金、および金属シリサイドや金属酸化物などのこれらの金属の化合物を含む。
本明細書で「垂直」、「水平」などの用語についての言及は、基準(reference)の枠組みを確立するための一例としてなされたものであり、限定するものではない。本明細書で使用する「水平」という用語は、向き(orientation)に関係なく基板12の当初の平面または表面に平行な平面と定義する。「垂直」という用語は、今定義した水平に対して垂直方向を指す。「上の(on)」、「上方の(above)」、「の下の(below)」、「側面の(side)」(たとえば「側壁」などの場合)、「より高く(higher)」、「より低く(lower)」、「の上に(over)」、「の下に(beneath)」、および「下の(under)」などの用語は、この水平面に対して定義する。本発明の精神と範疇から逸脱することなく、様々な他の基準の枠組みを使用できることは理解されよう。
図2を参照すると、カーボン・ナノチューブ22が、任意の適切な成長技法によってシード・パッド14上に成長され、あるいはその他の方法で合成されている。このカーボン・ナノチューブ22の合成を、比較的短い平均長さが得られたとき一時的に停止する。本発明の一実施形態では、カーボン・ナノチューブ22が約100nm〜約200nmの平均長さになったとき合成を中断する。カーボン・ナノチューブ22は半導電性の電子状態か、導電性の電子状態のどちらかを特徴とする。合成を一時的に停止するこの特定の長さは、本明細書で説明するように、ナノチューブ合成を再開した後のナノチューブ22の最終的な長さより短い。スペーサ18は、シード・パッド14の側面から横方向または水平なナノチューブ合成を妨げる。シード・パッド14の表面積を制限し、あるいは各シード・パッド14が単一のカーボン・ナノチューブ22の合成のみをサポートするように合成条件を調整することが好ましいが、本発明はそれだけには限定されない。というのは、1つあるいは複数のシード・パッド14が、垂直に突き出る複数のカーボン・ナノチューブ22を載置することができるからである。
本発明の一実施形態では、シード・パッド14を形成する触媒材料上へのカーボン・ナノチューブの成長を促進させる適切な成長条件のもとで、それだけには限らないが、一酸化炭素(CO)、エチレン(C)、メタン(CH)、アセチレン(C)、アセチレンとアンモニア(NH)の混合物、アセチレンと窒素(N)の混合物、アセチレンと水素(H)の混合物、およびキシレン(C(CH)を含む任意の適切なガス状のまたは気化した炭素質の反応物質を用いた、化学的気相堆積法(CVD)またはプラズマ強化CVDによってカーボン・ナノチューブ22を成長させる。CVD成長を促進または加速させるためあるいはその両方のために適切な温度まで基板12を加熱することもできる。単一壁(単層)のナノチューブ(single-wall nanotube)、および多重壁(多層)のナノチューブ(multi-wall nanotube)の合成を促進させるため、あるいはナノチューブの伸長速度または長さを増大させるために添加剤(additives)を反応物質に混合することもできる。
この反応物質をそれぞれのシード・パッド14に分配または供給し、そこでこの反応物質が触媒材料と化学的に反応して、カーボン・ナノチューブ22を核生成させ、核生成後にそれらが成長するのを持続させる。シード・パッド14の触媒材料は、露出表面で生じている化学反応によってそれ自体変換されあるいは消費されることなく、カーボン・ナノチューブ22を形成する反応の活性化エネルギを低減させることによって、カーボン・ナノチューブ合成に参加している。カーボン・ナノチューブ22は、半導電性の電子状態または導電性の電子状態のどちらもランダムに有する集合体(collection)すなわちポピュレーション(population)として成長する。というのは、成長中に電子状態を選択することはできず、したがって所与のシード・パッド14上の任意の所与のナノチューブ22の電子状態も確実には予測できないからである。カーボン・ナノチューブ22は、結合した炭素原子の正確に配列された六角形リングからなる中空の円筒チューブを構成する。これらのカーボン・ナノチューブ22は同心円筒のような多重壁面ナノチューブのこともあり、あるいは単一壁面のこともある。
これらのカーボン・ナノチューブ22は、平均すると、シード・パッド14の水平表面に直交する、あるいは少なくともほぼ直交する向きでこのシード・パッド14から上にほぼ垂直に延びる。これらのカーボン・ナノチューブ22は、自由端部すなわち先端部(leading tip)24と、対応するシード・パッド14に電気的に結合された基部(base)26との間で個々に測定された高さすなわち長さが統計的な分布を有すると予想される。それぞれのカーボン・ナノチューブ22と対応するシード・パッド14との界面27に炭素原子を加えることによって成長が起きると予想される。本発明では、カーボン・ナノチューブ22の1つあるいはすべてが、本明細書で定義した垂直方向からわずかに傾くことがあり得ること、およびナノチューブの向きが平均としてほぼ垂直な統計的分布を特徴としていることを企図している。
図3を参照すると、カーボン・ナノチューブ22を完全に覆い隣の合成サイト10との間の空間を完全に充填する厚さで、基板12上に層28を共形に(conformally)堆積させる。層28は、たとえば、シリコン前駆体としてテトラエチルオルソシリケート(TEOS)またはシランを使用する化学的気相堆積法(CVD)法によって堆積させた酸化シリコン(SiO)によって構成することができるが、本発明はそれだけには限定されない。
図4を参照すると、化学的機械研磨(CMP)法または任意の他の適切な平坦化技法によってこの層28の露出表面30を平坦に研磨する。一般的に、CMP法では、研磨パッドと層28の間に導入された適切なスラリによって化学的に支援された研磨作用すなわち機械的な摩滅作用を使用する。本発明のいくつかの実施形態では、このCMP法は任意選択であり必要がないこともある。当業者に知られた任意の従来技法によって、ハンドリング・ウェハ32を層28の露出表面30にボンディングする。このハンドリング・ウェハ32は、たとえば、シリコン・ウェハまたは金属ウェハであってもよい。このハンドリング・ウェハ32を、たとえば、高温接着剤の層の使用、あるいは適切な熱処理によって層28にボンディングさせることができる。ボンディングを支援するために、任意選択で、このハンドリング・ウェハ32を酸化膜で被覆することもでき、あるいは他の層で被覆することもできる(図示せず)。次いで、合成サイト10および誘電体層28を後に残すように基板12を剥離層20の巧みに操作して除去し、その結果ハンドリング・ウェハ32が不可欠な機械的なサポートを提供する。たとえば、剥離層20は、ウェット・エッチング法で巧みに操作することができる。一般的には、図4に示すように、本形成プロセスのこの段階で、このハンドリング・ウェハ32を逆さまにするが、本発明はそれだけには限定されない。
図5を参照すると、シード・パッド14および各カーボン・ナノチューブ22と対応するシード・パッド14の1つと間でシード・パッドに対応する界面27を露出させる深さまで、層28を除去する。合成サイト10内の材料および各カーボン・ナノチューブ22に対して選択的に層28を除去する一技法は、層28がSiOで構成されている場合、緩衝(buffered)フッ化水素酸(HF)溶液などの適切なエッチング液による等方性ウェット・エッチングである。このナノチューブ22およびそれに結合した合成サイト10は、ハンドリング・ウェハ32に対して実質的に垂直に延びる構造を形成する。層28が陥凹している(recess:くぼみがつけられている)ので、各カーボン・ナノチューブ22の基部26および各基部26とそれに結合したシード・パッド14との界面27に通じる、塞がれていない、ナノチューブ成長の反応物質用の反応物質(すなわち、ガス)通路が存在する。
図6を参照すると、結合したシード・パッド14との界面27に成長反応物質を供給することによって半導電性のカーボン・ナノチューブ22の成長または合成を再開させる。成長は、元のより短い半導電性のカーボン・ナノチューブ22の形成する際に活性であった界面と同じ、触媒材料との界面27で進行する。カーボン・ナノチューブ22が伸長する際、この界面27の周囲の環境は一定のままである。言い換えれば、カーボン・ナノチューブ22が伸長する際、ナノチューブ22と結合したシード・パッド14との界面に通じる反応物質の通路が、元の密集した、合成サイト10のアレイの場合であっても、成長プロセスによって、塞がれまたは他の方法で一部変更されることがない。その結果、ナノチューブ22の伸長によって妨げられずに成長は進行する。
カーボン・ナノチューブ22を所望の長さまで合成し、次いで、電界効果型表示装置用のエミッタ・アレイなどのマイクロエレクトロニクス・デバイスや他の構造の形成に使用するために、合成サイト10を切り取り、ハンドリング・ウェハ32から剥離する。当業者に明らかな任意の適切な選別法を使用して、半導電性および導電性のカーボン・ナノチューブ22を分離することもできる。あるいは、やはり当業者に明らかなように、カーボン・ナノチューブ22を組み込んだデバイス構造をハンドリング・ウェハ34上に直接形成することもできる。
図7を参照すると、本発明の代替実施形態により、図2に示した処理方法の段階で、CVD法により堆積されたポリシリコンなどの第1材料の層40で基板12を覆う。層40は、共形的にカーボン・ナノチューブ22を被覆し、その結果、露出表面が不規則になる。
図8を参照すると、CMPプロセスを使用して層40の表面42を平坦に研磨する。CMPプロセスは、カーボン・ナノチューブ22の長さを等しくする働きもする。というのは、層40の厚さが減少するにつれて、長いカーボン・ナノチューブ22の先端部24が除去されるからである。CMPプロセス後の、カーボン・ナノチューブ22の均一な長さは、表面42とシード・パッド14に面した表面との間の層40の厚さに等しい。いくつかのカーボン・ナノチューブ22は、CMPプロセス後の、等しくなったすなわち均一な長さより短く、表面42の下の層40内に埋もれたままになることがあることを理解されたい。
図9を参照すると、次いで、カーボン・ナノチューブ22に対して層40を選択的に除去する反応性イオン・エッチング(RIE)プロセスを使用して、層40の露出表面42をカーボン・ナノチューブ22に対してさらに陥凹させる。あるいは、SiO用の緩衝フッ化水素酸(HF)溶液などの適切なエッチング液を使用したウェット・エッチング法を用いることもできる。次いで、第2材料の層44を露出表面42上に堆積させる。カーボン・ナノチューブ22の露出した先端部24を層44内に埋め込む。層44は、層40を形成する材料に対して選択的にエッチングし、カーボン・ナノチューブ合成をサポートしない任意の材料である。層40が、たとえばポリシリコンの場合、層44は、たとえばSiOである。というのは、ポリシリコンは、塩素含有ガス、臭素含有ガス、またはそれらの混合ガスを使用するRIEプロセスによって、SiOに対して選択的にエッチングすることができるからである。
図10を参照すると、当業者に知られた任意の従来技法によって、シリコン・ウェハや金属ウェハなどのハンドリング・ウェハ46を層44にボンディングさせる。このハンドリング・ウェハ46を、たとえば、高温接着剤の層の使用、あるいは適切な熱処理によって層44にボンディングさせることができる。ボンディングを支援するために、任意選択で、このハンドリング・ウェハ46を酸化膜で被覆することもでき、あるいは他の層で被覆することもできる(図示せず)。次いで、合成サイト10および層40および層44を後に残すように剥離層20を巧みに操作して基板12を除去し、その結果ハンドリング・ウェハ46が不可欠な機械的なサポートを提供する。一般的には、図10に示すように、本形成プロセスのこの段階でこのハンドリング・ウェハ46を逆さまにするが、本発明はこれだけには限定されない。
図11を参照すると、エッチング・プロセスに対するエッチ・ストップ層として働く層44を構成する材料に対して選択的なエッチング法によって層40を除去する。このエッチング法ではまた、合成サイト10内の材料およびカーボン・ナノチューブ22に対して層40を選択的に除去する。カーボン・ナノチューブ22および結合した合成サイト10は、ハンドリング・ウェハ46の水平面に対してほぼ垂直に延びる構造を形成する。層40を除去することにより、各カーボン・ナノチューブ22の基部26および各基部26とそれに結合したシード・パッド14との界面27に通じる、塞がれていないナノチューブ成長の反応物質用ガス通路が存在する。
図12を参照すると、各カーボン・ナノチューブ22の基部26にまだ貼り付いている結合したシード・パッド14との界面27に成長反応物質を供給することによって、半導電性のカーボン・ナノチューブ22の合成を再開させる。成長は、より短いカーボン・ナノチューブ22を形成する際に、触媒材料が活性であった界面と同じ、元の界面27で進行する。カーボン・ナノチューブ22が伸長する際、この界面27の周囲の反応物質の流れの環境は一定不変なままである。言い換えれば、カーボン・ナノチューブ22が伸長する際、合成サイト10の密集した元のアレイの場合においても、ナノチューブ22と結合したシード・パッド14との界面27に通じるガス通路が、成長プロセスによって、塞がれたり他の方法で一部変更されたりしない。というのは、シード・パッド14が、伸長するナノチューブ22と共に、ハンドリング・ウェハ46から剥離されるからである。その結果、ナノチューブ22の伸長によって妨げられずに合成は進行する。カーボン・ナノチューブ22を所望の長さにまで合成し、次いで回収するかあるいはデバイス構造内に組み込む。本発明のこの実施形態により、カーボン・ナノチューブ22は、どんな長さで成長を終了させた場合も実質的に均一な長さ分布になる。
本発明を様々な実施形態の説明によって例示し、これらの実施形態をかなり詳細に記述してきたが、特許請求の範囲をこのような詳細に制限したりあるいはいかなる形でも限定することは本出願者らの意図するところではない。追加の利益および修正は当業者には容易に明らかになるであろう。したがって、本発明は、その幅広い態様において、具体的な詳細、説明した装置および方法、ならびに示し記述した例に限定されるものではない。したがって、本出願者らが意図した発明の概念の一般的な精神および範疇から逸脱することなくこのような詳細から逸脱することもできる。
本発明の実施形態による処理方法の一段階における基板の一部分の断面図である。 本発明の実施形態による処理方法の一段階における基板の一部分の断面図である。 本発明の実施形態による処理方法の一段階における基板の一部分の断面図である。 本発明の実施形態による処理方法の一段階における基板の一部分の断面図である。 本発明の実施形態による処理方法の一段階における基板の一部分の断面図である。 本発明の実施形態による処理方法の一段階における基板の一部分の断面図である。 本発明の代替実施形態による処理方法の一段階における基板の一部分の断面図である。 本発明の代替実施形態による処理方法の一段階における基板の一部分の断面図である。 本発明の代替実施形態による処理方法の一段階における基板の一部分の断面図である。 本発明の代替実施形態による処理方法の一段階における基板の一部分の断面図である。 本発明の代替実施形態による処理方法の一段階における基板の一部分の断面図である。 本発明の代替実施形態による処理方法の一段階における基板の一部分の断面図である。
符号の説明
10 合成サイト
12 基板
14 シード・パッド
16 メサまたはピラー
18 スペーサ
20 剥離層
22 (導電性)カーボン・ナノチューブ
24 カーボン・ナノチューブの先端部、自由端部
26 カーボン・ナノチューブの基部
27 基部とシード・パッドの界面
28 誘電体層
30 誘電体層の露出表面
32 ハンドリング・ウェハ
40 第1材料の層
42 層40の表面
44 第2材料の層
46 ハンドリング・ウェハ

Claims (33)

  1. 複数のカーボン・ナノチューブを、第1基板に載置された複数の合成サイト上で第1の長さにまで合成するステップと、
    前記複数のカーボン・ナノチューブの前記合成を中断するステップと、
    前記複数のカーボン・ナノチューブそれぞれの自由端部を第2基板からサポートするステップと、
    前記複数の合成サイトを前記第1基板から分離するステップと、
    前記複数の合成サイトで前記複数のカーボン・ナノチューブの前記合成を再開して、前記複数のカーボン・ナノチューブを前記第1の長さより長い第2の長さにまで伸長させるステップとを含む、カーボン・ナノチューブを量産する方法。
  2. 前記自由端部をサポートするステップが、
    前記複数の合成サイトおよび前記複数のカーボン・ナノチューブを、対向する第1および第2表面を備える層で覆うステップと、
    前記層の前記第1表面を前記第2基板にボンディングするステップと、
    前記層の前記第2表面を、前記複数のカーボン・ナノチューブのそれぞれと前記複数の合成サイトのうちの対応するサイトとの界面が露出するのに充分な深さまで陥凹させるステップとを含む、請求項1に記載の方法。
  3. 前記複数のカーボン・ナノチューブがそれぞれ先端部を備え、前記層を陥凹させるステップが、
    前記複数のカーボン・ナノチューブそれぞれの先端部が前記層内に埋まったままになるように前記層の前記陥凹させるステップを制限するステップを含む、請求項2に記載の方法。
  4. 前記複数の合成サイトがそれぞれ、カーボン・ナノチューブの合成をサポート可能な触媒材料のシード・パッドを備える、請求項2に記載の方法。
  5. 前記複数のカーボン・ナノチューブを合成するステップが、
    前記複数の合成サイトそれぞれの前記シード・パッドと前記複数のカーボン・ナノチューブのうちの対応するカーボン・ナノチューブとの界面に反応物質を供給するステップを含む、請求項4に記載の方法。
  6. 合成を中断するステップが、
    前記界面に反応物質を供給するステップを中止するステップを含む、請求項5に記載の方法。
  7. 前記カーボン・ナノチューブの合成を再開するステップが、
    前記界面に反応物質を供給するステップを含む、請求項5に記載の方法。
  8. 前記複数の合成サイトそれぞれの前記シード・パッドを、前記第1基板を含む平面に実質的に平行なナノチューブの合成を妨げるスペーサで取り囲むステップをさらに含む、請求項3に記載の方法。
  9. 前記複数の合成サイトを前記第1基板から分離するステップが、
    前記第1基板の剥離が促進されるように前記第1基板と前記複数の合成サイトとの間に位置する剥離層を操作するステップを含む、請求項1に記載の方法。
  10. 前記複数のカーボン・ナノチューブそれぞれが第1基板を含む水平面に対して実質的に垂直な向きになるように、前記第1基板を含む前記水平面内で横方向のナノチューブ合成を妨げるステップをさらに含む、請求項1に記載の方法。
  11. 前記横方向のナノチューブ合成を妨げるステップが、
    前記複数の合成サイトのそれぞれを横方向のナノチューブ合成を止めさせるスペーサで取り囲むステップを含む、請求項10に記載の方法。
  12. 単一のカーボン・ナノチューブが、前記複数の合成サイトそれぞれに載置される、請求項1に記載の方法。
  13. 前記第1基板上で前記複数の合成サイトを形成するステップをさらに含む、請求項1に記載の方法。
  14. 前記複数の合成サイトそれぞれを、前記複数のカーボン・ナノチューブのうちの1つの合成をサポートするように寸法設定する、請求項1に記載の方法。
  15. 前記複数のカーボン・ナノチューブを合成するステップが、
    前記複数の合成サイトで化学的気相堆積法を実施するステップを含む、請求項1に記載の方法。
  16. 前記複数の合成サイトそれぞれが、前記複数のカーボン・ナノチューブの合成をサポートすることのできる触媒材料からなるシード・パッドを備える、請求項1に記載の方法。
  17. 前記化学的気相堆積法を実施するステップが、
    前記複数のカーボン・ナノチューブを合成するために前記触媒材料の触媒作用を受ける反応物質を前記シード・パッドに供給するステップを含む、請求項16に記載の方法。
  18. 前記複数のカーボン・ナノチューブの合成を再開するステップが、
    前記複数の合成サイトで化学的気相堆積法を実施するステップを含む、請求項1に記載の方法。
  19. 前記複数の合成サイトそれぞれが、前記複数のカーボン・ナノチューブの合成をサポートすることのできる触媒材料からなるシード・パッドを備える、請求項18に記載の方法。
  20. 化学的気相堆積法を実施するステップが、
    前記複数のカーボン・ナノチューブを合成するために、前記触媒材料の触媒作用を受ける反応物質を前記シード・パッドに供給するステップを含む、請求項19に記載の方法。
  21. 前記複数のカーボン・ナノチューブが多重壁(多層)カーボン・ナノチューブである、請求項1に記載の方法。
  22. 前記複数のカーボン・ナノチューブが実質的に均一な長さである、請求項1に記載の方法。
  23. 前記自由端部をサポートするステップが
    前記複数の合成サイトおよび前記複数のカーボン・ナノチューブを、第1層および第2層で覆うステップと、
    前記第2層を前記第2基板にボンディングするステップと、
    前記第1層を、前記複数の合成サイトが露出するのに充分な深さまで前記第2層に対して選択的に除去するステップとを含む、請求項1に記載の方法。
  24. 前記第1層上に前記第2層を形成する前に、前記複数のカーボン・ナノチューブそれぞれの自由端部が前記第2層内に埋め込まれるように、前記複数のカーボン・ナノチューブそれぞれの前記自由端部が露出するのに充分な深さまで前記第1層を除去するステップをさらに含む、請求項23に記載の方法。
  25. 前記第1層を除去するステップが、前記複数のカーボン・ナノチューブのうちの少なくとも1つの長さを短くする、請求項24に記載の方法。
  26. 基板と、
    前記基板と結合された第1端部と第2端部との間にそれぞれ延びる複数のカーボン・ナノチューブと、
    前記複数のカーボン・ナノチューブのうちの対応するカーボン・ナノチューブの前記第2端部とそれぞれが結合された複数の合成サイトとを備える構造。
  27. 前記複数の合成サイトそれぞれを、単一のカーボン・ナノチューブの合成をサポートするように寸法設定する、請求項26に記載の構造。
  28. 前記複数のカーボン・ナノチューブそれぞれが、前記複数の合成サイトのうちの対応するサイトに載置される、請求項26に記載の構造。
  29. 前記基板が、
    前記複数の合成サイトおよび前記複数のカーボン・ナノチューブを覆い、前記基板にボンディングされた第1表面、および第2表面を有する層をさらに備える、請求項26に記載の構造。
  30. 前記複数のカーボン・ナノチューブの前記第1端部が、前記層内に埋め込まれる、請求項29に記載の構造。
  31. 前記層の前記第2表面を、前記複数の合成サイトが露出するのに充分な深さまで陥凹させる、請求項29に記載の構造。
  32. 前記複数のカーボン・ナノチューブが、多重壁カーボン・ナノチューブである、請求項26に記載の構造。
  33. 前記複数のカーボン・ナノチューブが実質的に均一な長さである、請求項26に記載の構造。
JP2004353589A 2003-12-11 2004-12-07 カーボン・ナノチューブの安定な合成を促進させる方法および構造 Expired - Fee Related JP4032083B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US10/733,974 US7374793B2 (en) 2003-12-11 2003-12-11 Methods and structures for promoting stable synthesis of carbon nanotubes

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005170785A true JP2005170785A (ja) 2005-06-30
JP4032083B2 JP4032083B2 (ja) 2008-01-16

Family

ID=34653267

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004353589A Expired - Fee Related JP4032083B2 (ja) 2003-12-11 2004-12-07 カーボン・ナノチューブの安定な合成を促進させる方法および構造

Country Status (5)

Country Link
US (2) US7374793B2 (ja)
JP (1) JP4032083B2 (ja)
KR (1) KR100645410B1 (ja)
CN (1) CN1280186C (ja)
TW (1) TWI326271B (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008303114A (ja) * 2007-06-08 2008-12-18 Univ Waseda 単層カーボンナノチューブ製造方法、半導体配線構造の製造方法、フィールドエミッションディスプレイ用電子部品の製造方法及び探針製造方法

Families Citing this family (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7038299B2 (en) * 2003-12-11 2006-05-02 International Business Machines Corporation Selective synthesis of semiconducting carbon nanotubes
US20050167655A1 (en) * 2004-01-29 2005-08-04 International Business Machines Corporation Vertical nanotube semiconductor device structures and methods of forming the same
US7211844B2 (en) 2004-01-29 2007-05-01 International Business Machines Corporation Vertical field effect transistors incorporating semiconducting nanotubes grown in a spacer-defined passage
US7829883B2 (en) * 2004-02-12 2010-11-09 International Business Machines Corporation Vertical carbon nanotube field effect transistors and arrays
US7109546B2 (en) 2004-06-29 2006-09-19 International Business Machines Corporation Horizontal memory gain cells
US7233071B2 (en) * 2004-10-04 2007-06-19 International Business Machines Corporation Low-k dielectric layer based upon carbon nanostructures
US20060258054A1 (en) * 2005-05-11 2006-11-16 Molecular Nanosystems, Inc. Method for producing free-standing carbon nanotube thermal pads
KR100645064B1 (ko) * 2005-05-23 2006-11-10 삼성전자주식회사 금속 산화물 저항 기억소자 및 그 제조방법
US7170055B1 (en) * 2005-08-18 2007-01-30 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Nanotube arrangements and methods therefor
KR100682952B1 (ko) * 2005-08-31 2007-02-15 삼성전자주식회사 나노탄성 메모리 소자 및 그 제조 방법
JP5355423B2 (ja) * 2007-02-22 2013-11-27 ダウ コーニング コーポレーション 伝導性フィルムを調製するためのプロセスおよびそのプロセスを用いて調製した物品
JP4224109B2 (ja) * 2007-03-02 2009-02-12 コーア株式会社 積層体およびその製造方法
FR2917893B1 (fr) * 2007-06-22 2009-08-28 Commissariat Energie Atomique Procede de fabrication d'une connexion electrique a base de nanotubes de carbone
US7985394B2 (en) * 2007-09-19 2011-07-26 Gideon Duvall System and method for manufacturing carbon nanotubes
US20100212727A1 (en) * 2009-02-26 2010-08-26 Ji Ung Lee Apparatus and methods for continuously growing carbon nanotubes and graphene sheets
MY160277A (en) 2009-04-17 2017-02-28 Seerstone Llc Method of producing solid carbon by reducing carbon oxides
CN102083075B (zh) * 2009-11-30 2014-02-26 中国移动通信集团江苏有限公司 一种基于邻区优先级的频率规划和扰码规划方法和设备
TW201119935A (en) * 2009-12-04 2011-06-16 Univ Nat Chiao Tung Catalytic seeding control method
US8878157B2 (en) 2011-10-20 2014-11-04 University Of Kansas Semiconductor-graphene hybrids formed using solution growth
JP6379085B2 (ja) 2012-04-16 2018-08-22 シーアストーン リミテッド ライアビリティ カンパニー 炭素酸化物を含有するオフガスを処理するための方法
US9221685B2 (en) 2012-04-16 2015-12-29 Seerstone Llc Methods of capturing and sequestering carbon
NO2749379T3 (ja) 2012-04-16 2018-07-28
MX2014012548A (es) 2012-04-16 2015-04-10 Seerstone Llc Metodos y estructuras para reducir oxidos de carbono con catalizadores no ferrosos.
US9090472B2 (en) 2012-04-16 2015-07-28 Seerstone Llc Methods for producing solid carbon by reducing carbon dioxide
US9896341B2 (en) 2012-04-23 2018-02-20 Seerstone Llc Methods of forming carbon nanotubes having a bimodal size distribution
US10815124B2 (en) 2012-07-12 2020-10-27 Seerstone Llc Solid carbon products comprising carbon nanotubes and methods of forming same
CN107651667A (zh) 2012-07-12 2018-02-02 赛尔斯通股份有限公司 包含碳纳米管的固体碳产物以及其形成方法
CN104619640B (zh) 2012-07-13 2017-05-31 赛尔斯通股份有限公司 用于形成氨和固体碳产物的方法和系统
US9779845B2 (en) 2012-07-18 2017-10-03 Seerstone Llc Primary voltaic sources including nanofiber Schottky barrier arrays and methods of forming same
MX2015006893A (es) 2012-11-29 2016-01-25 Seerstone Llc Reactores y metodos para producir materiales de carbono solido.
EP3129133A4 (en) 2013-03-15 2018-01-10 Seerstone LLC Systems for producing solid carbon by reducing carbon oxides
EP3113880A4 (en) 2013-03-15 2018-05-16 Seerstone LLC Carbon oxide reduction with intermetallic and carbide catalysts
WO2014151119A2 (en) 2013-03-15 2014-09-25 Seerstone Llc Electrodes comprising nanostructured carbon
WO2014150944A1 (en) 2013-03-15 2014-09-25 Seerstone Llc Methods of producing hydrogen and solid carbon
US10086349B2 (en) 2013-03-15 2018-10-02 Seerstone Llc Reactors, systems, and methods for forming solid products
US11752459B2 (en) 2016-07-28 2023-09-12 Seerstone Llc Solid carbon products comprising compressed carbon nanotubes in a container and methods of forming same

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5796573A (en) 1997-05-29 1998-08-18 International Business Machines Corporation Overhanging separator for self-defining stacked capacitor
US6250984B1 (en) 1999-01-25 2001-06-26 Agere Systems Guardian Corp. Article comprising enhanced nanotube emitter structure and process for fabricating article
US6465132B1 (en) * 1999-07-22 2002-10-15 Agere Systems Guardian Corp. Article comprising small diameter nanowires and method for making the same
KR100360476B1 (ko) 2000-06-27 2002-11-08 삼성전자 주식회사 탄소나노튜브를 이용한 나노 크기 수직 트랜지스터 및 그제조방법
GB2364933B (en) * 2000-07-18 2002-12-31 Lg Electronics Inc Method of horizontally growing carbon nanotubes
DE10036897C1 (de) 2000-07-28 2002-01-03 Infineon Technologies Ag Feldeffekttransistor, Schaltungsanordnung und Verfahren zum Herstellen eines Feldeffekttransistors
WO2002037572A1 (fr) 2000-11-01 2002-05-10 Japan Science And Technology Corporation Reseau a pointes, circuit non, et circuit electronique contenant ceux-ci
US6423583B1 (en) 2001-01-03 2002-07-23 International Business Machines Corporation Methodology for electrically induced selective breakdown of nanotubes
WO2002080361A1 (en) * 2001-03-30 2002-10-10 California Institute Of Technology Carbon nanotube array rf filter
US7084507B2 (en) 2001-05-02 2006-08-01 Fujitsu Limited Integrated circuit device and method of producing the same
US7073157B2 (en) 2002-01-18 2006-07-04 California Institute Of Technology Array-based architecture for molecular electronics
JP5165828B2 (ja) 2002-02-09 2013-03-21 三星電子株式会社 炭素ナノチューブを用いるメモリ素子及びその製造方法
US6515325B1 (en) 2002-03-06 2003-02-04 Micron Technology, Inc. Nanotube semiconductor devices and methods for making the same
US6891227B2 (en) 2002-03-20 2005-05-10 International Business Machines Corporation Self-aligned nanotube field effect transistor and method of fabricating same
US20030211724A1 (en) 2002-05-10 2003-11-13 Texas Instruments Incorporated Providing electrical conductivity between an active region and a conductive layer in a semiconductor device using carbon nanotubes
DE10250984A1 (de) 2002-10-29 2004-05-19 Hahn-Meitner-Institut Berlin Gmbh Feldeffekttransistor sowie Verfahren zu seiner Herstellung
DE10250830B4 (de) 2002-10-31 2015-02-26 Qimonda Ag Verfahren zum Herstellung eines Schaltkreis-Arrays
KR100790859B1 (ko) 2002-11-15 2008-01-03 삼성전자주식회사 수직 나노튜브를 이용한 비휘발성 메모리 소자
KR100493166B1 (ko) 2002-12-30 2005-06-02 삼성전자주식회사 수직나노튜브를 이용한 메모리
US6933222B2 (en) 2003-01-02 2005-08-23 Intel Corporation Microcircuit fabrication and interconnection
JP4627188B2 (ja) 2003-05-22 2011-02-09 富士通株式会社 電界効果トランジスタ及びその製造方法
US7038299B2 (en) 2003-12-11 2006-05-02 International Business Machines Corporation Selective synthesis of semiconducting carbon nanotubes
US7211844B2 (en) 2004-01-29 2007-05-01 International Business Machines Corporation Vertical field effect transistors incorporating semiconducting nanotubes grown in a spacer-defined passage
US20050167655A1 (en) 2004-01-29 2005-08-04 International Business Machines Corporation Vertical nanotube semiconductor device structures and methods of forming the same
US7829883B2 (en) 2004-02-12 2010-11-09 International Business Machines Corporation Vertical carbon nanotube field effect transistors and arrays

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008303114A (ja) * 2007-06-08 2008-12-18 Univ Waseda 単層カーボンナノチューブ製造方法、半導体配線構造の製造方法、フィールドエミッションディスプレイ用電子部品の製造方法及び探針製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
US7374793B2 (en) 2008-05-20
US20050129948A1 (en) 2005-06-16
TWI326271B (en) 2010-06-21
KR20050058186A (ko) 2005-06-16
CN1626438A (zh) 2005-06-15
JP4032083B2 (ja) 2008-01-16
CN1280186C (zh) 2006-10-18
KR100645410B1 (ko) 2006-11-15
TW200526803A (en) 2005-08-16
US7851064B2 (en) 2010-12-14
US20080160312A1 (en) 2008-07-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4032083B2 (ja) カーボン・ナノチューブの安定な合成を促進させる方法および構造
US7038299B2 (en) Selective synthesis of semiconducting carbon nanotubes
US7820502B2 (en) Methods of fabricating vertical carbon nanotube field effect transistors for arrangement in arrays and field effect transistors and arrays formed thereby
US7691720B2 (en) Vertical nanotube semiconductor device structures and methods of forming the same
US7329567B2 (en) Vertical field effect transistors incorporating semiconducting nanotubes grown in a spacer-defined passage
US6740910B2 (en) Field-effect transistor, circuit configuration and method of fabricating a field-effect transistor
JP2001156283A (ja) 量子細線の製造方法
MXPA06008502A (en) Vertical field effect transistors incorporating semiconducting nanotubes grown in a spacer-defined passage

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060322

RD12 Notification of acceptance of power of sub attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7432

Effective date: 20060418

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20060418

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060531

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060914

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20061130

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070821

RD14 Notification of resignation of power of sub attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7434

Effective date: 20070821

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101102

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111102

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121102

Year of fee payment: 5

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees