JP2005167227A - Gas jet head, its manufacturing method, semiconductor manufacturing device, and corrosion-resistant material - Google Patents

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Yasutaka Ito
康隆 伊藤
Jun Ohashi
純 大橋
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To make particles hard to generate, even if exposed to the atmosphere of plasma or the like for a long period of time. <P>SOLUTION: A gas jet head of this invention is the gas jet head of jetting a reaction gas into a chamber in which an object to be treated such as a wafer or the like are arranged. It is formed of nitride-based ceramic containing an yttrium compound which exists on the surface of the head. Especially, the surface of the head is not smoothed, and the proportion of the yttrium compound occupying the surface of the head is preferably 30% or more at the time when it is calculated on the basis of an SEM image. According to this gas jet head, the generation of particles is suppressed by the action of the yttrium compound existing on the surface of the head, even if it is exposed to the atmosphere of plasma or the like for a long period of time. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、ガス噴出ヘッド、その製法、そのガス噴出ヘッドを備えた半導体製造装置及び耐食性材料に関するものである。   The present invention relates to a gas ejection head, a manufacturing method thereof, a semiconductor manufacturing apparatus including the gas ejection head, and a corrosion-resistant material.

従来、ガス噴出ヘッドとしては、特許文献1に示すように、プラズマCVD装置内に反応性を有するガス(反応ガス又はプロセスガスという)を噴出するものが知られている。このプラズマCVD装置内に噴出された反応ガスは、同装置内に発生させたグロー放電によって分解・励起してプラズマ状態となり、同装置内に設置されたウェハなどの基板上にガス分子として堆積していく。この結果、基板上に薄膜が形成される。また、特許文献1のガス噴出ヘッドは、アルミナ含有率99.0重量%以上のセラミックス多孔質体で形成されている。
特開2002−231638号公報
Conventionally, as a gas ejection head, as shown in Patent Document 1, one that ejects a reactive gas (referred to as a reaction gas or a process gas) into a plasma CVD apparatus is known. The reaction gas ejected into the plasma CVD apparatus is decomposed and excited by glow discharge generated in the apparatus to be in a plasma state, and is deposited as gas molecules on a substrate such as a wafer installed in the apparatus. To go. As a result, a thin film is formed on the substrate. Further, the gas ejection head of Patent Document 1 is formed of a ceramic porous body having an alumina content of 99.0% by weight or more.
JP 2002-231638 A

しかしながら、特許文献1に開示されたガス噴出ヘッドはアルミナで形成されているため、耐食性特に耐プラズマ性が十分とはいえず、長期間使用するとヘッド表面から脱粒してパーティクルが発生するおそれがあった。このようなパーティクルはウェハなどの基板上に付着して純度を低下させる原因となるため好ましくない。   However, since the gas ejection head disclosed in Patent Document 1 is made of alumina, it cannot be said that the corrosion resistance, particularly plasma resistance, is sufficient. It was. Such particles are not preferable because they adhere to a substrate such as a wafer and cause a decrease in purity.

本発明は、このような課題に鑑みなされたものであり、腐食性ガスの雰囲気やプラズマの雰囲気に長期間晒したとしてもパーティクルが発生しにくいガス噴出ヘッドや耐食性材料を提供することを目的の一つとする。また、そのガス噴出ヘッドの製法やそのガス噴出ヘッドを備えた半導体装置を提供することを目的の一つとする。   The present invention has been made in view of such problems, and it is an object of the present invention to provide a gas ejection head and a corrosion-resistant material in which particles are not easily generated even when exposed to a corrosive gas atmosphere or a plasma atmosphere for a long period of time. One. Another object is to provide a manufacturing method of the gas ejection head and a semiconductor device including the gas ejection head.

本発明のガス噴出ヘッドは、上述の目的を達成するために以下の手段を採った。すなわち、本発明のガス噴出ヘッドは、ウェハ等の被処理体が配置されたチャンバ内に反応ガスを噴出するガス噴出ヘッドであって、希土類化合物を含有するセラミックで形成され、ヘッド表面に前記希土類化合物が存在しているものである。このガス噴出ヘッドによれば、ヘッド表面に存在する希土類化合物の作用により、腐食性ガスの雰囲気やプラズマの雰囲気等に長期間晒したとしてもアルミナ製のガス噴出ヘッドに比べてパーティクルの発生が抑制される。   The gas ejection head of the present invention employs the following means in order to achieve the above-described object. That is, the gas ejection head according to the present invention is a gas ejection head for ejecting a reaction gas into a chamber in which an object to be processed such as a wafer is disposed, which is formed of a ceramic containing a rare earth compound, and the rare earth on the head surface. The compound is present. According to this gas ejection head, the generation of particles is suppressed by the action of rare earth compounds present on the head surface even when exposed to corrosive gas atmosphere or plasma atmosphere for a long time compared to alumina gas ejection head. Is done.

ここで、セラミックとしては、特に限定されるものではないが、例えば炭化物系セラミック、酸化物系セラミック、窒化物系セラミックなどが挙げられ、このうち窒化物系セラミックが好ましい。炭化物系セラミックとしては、例えば炭化ケイ素、炭化チタン、炭化ホウ素などが挙げられる。酸化物系セラミックとしては、例えば酸化ケイ素、酸化アルミニウムなどが挙げられる。窒化物系セラミックとしては、例えば窒化珪素、窒化アルミニウム、窒化ホウ素、サイアロンなどが挙げられ、このうち窒化アルミニウムが好ましい。   Here, the ceramic is not particularly limited, and examples thereof include carbide-based ceramics, oxide-based ceramics, and nitride-based ceramics. Among these, nitride-based ceramics are preferable. Examples of the carbide-based ceramic include silicon carbide, titanium carbide, and boron carbide. Examples of the oxide ceramic include silicon oxide and aluminum oxide. Examples of the nitride ceramic include silicon nitride, aluminum nitride, boron nitride, sialon, and the like, among which aluminum nitride is preferable.

また、希土類化合物としては、特に限定されるものではないが、例えばセリウム化合物、スカンジウム化合物、イットリウム化合物などが挙げられ、このうちイットリウム化合物が好ましい。イットリウム化合物としては、特に限定されるものではないが、例えば窒化イットリウム、炭化イットリウムなどのほか、イットリアと窒化物系セラミックとを焼成したときに生成するイットリウム化合物などが挙げられる。   The rare earth compound is not particularly limited, and examples thereof include a cerium compound, a scandium compound, and an yttrium compound, and among these, an yttrium compound is preferable. Although it does not specifically limit as an yttrium compound, For example, the yttrium compound etc. which are produced | generated when a yttria and a nitride-type ceramic are baked other than yttrium nitride, yttrium carbide, etc. are mentioned.

本発明のガス噴出ヘッドにおいて、前記ヘッド表面は平滑化(例えば研削・研磨加工)されておらず、該ヘッド表面に占める前記希土類化合物の割合はSEM画像に基づいて算出したときに30%以上であることが好ましい。こうすれば、希土類化合物を含有するセラミックで形成されているもののヘッド表面を平滑化したガス噴出ヘッドやヘッド表面に占める希土類化合物の割合が30%未満のガス噴出ヘッドに比べて、パーティクルの発生が顕著に抑制される。特に、ヘッド表面に占める希土類化合物の割合が60%以上のときには、パーティクルの発生を抑制する効果がより顕著になるため好ましい。また、この割合が85%を超えると、希土類化合物とセラミックとの熱膨張差による割れなどの影響が大きくなるため、好ましくない。   In the gas ejection head of the present invention, the head surface is not smoothed (for example, grinding / polishing), and the ratio of the rare earth compound in the head surface is 30% or more when calculated based on the SEM image. Preferably there is. In this way, particles are generated compared to a gas ejection head that is formed of a ceramic containing a rare earth compound but has a smoothed head surface and a gas ejection head in which the ratio of the rare earth compound in the head surface is less than 30%. Remarkably suppressed. Particularly, when the ratio of the rare earth compound in the head surface is 60% or more, the effect of suppressing the generation of particles becomes more remarkable, which is preferable. On the other hand, if this ratio exceeds 85%, the effect of cracking due to the difference in thermal expansion between the rare earth compound and the ceramic becomes large, which is not preferable.

本発明のガス噴出ヘッドにおいて、前記ヘッド表面にはセラミックの粒界の少なくとも一部を希土類化合物が覆っていることが好ましい。こうすれば、パーティクルの発生を一層抑制することができる。ところで、パーティクル発生のメカニズムとしては、セラミックの粒界から反応ガス(プラズマCVDではプラズマ化したもの)が浸透して腐食が進み剥がれが生じることによりパーティクルが発生すると考えられるが、ここではセラミックの粒界に高耐食性の希土類化合物が存在しているため、反応ガスの浸透が抑制されひいてはパーティクルの発生が効果的に抑制されると推察される。   In the gas ejection head of the present invention, it is preferable that the head surface covers at least part of the ceramic grain boundary with a rare earth compound. In this way, the generation of particles can be further suppressed. By the way, as a mechanism of particle generation, it is considered that particles are generated by the penetration of the reaction gas (plasma in the plasma CVD) from the ceramic grain boundary and the corrosion progresses and peels off. It is presumed that the presence of a highly corrosion-resistant rare earth compound in the boundary suppresses the permeation of the reaction gas, thereby effectively suppressing the generation of particles.

本発明のガス噴出ヘッドにおいて、前記希土類化合物は前記ヘッド表面に散在していることが好ましい。希土類化合物は熱伝導性が低いが、希土類化合物がヘッド表面に散在していると、ヘッド全体の熱伝導性はヘッド表面より高くなる。また、耐食性も低くならない。   In the gas ejection head of the present invention, it is preferable that the rare earth compound is scattered on the head surface. Although the rare earth compound has low thermal conductivity, if the rare earth compound is scattered on the head surface, the thermal conductivity of the entire head becomes higher than that of the head surface. In addition, the corrosion resistance is not lowered.

本発明のガス噴出ヘッドにおいて、前記ヘッド表面は反応ガスを噴出するガス噴出孔の内壁表面を含むことが好ましい。こうすれば、ガス噴出孔の内壁表面からパーティクルが発生するのを抑制することができる。ここで、ガス噴出孔は、1つの反応ガス入口から分岐することなく1つの反応ガス出口に至るように形成されていてもよいし、1つの反応ガス入口から分岐して複数の反応ガス出口に至るように形成されていてもよい。   In the gas ejection head of the present invention, it is preferable that the head surface includes an inner wall surface of a gas ejection hole for ejecting a reactive gas. By so doing, it is possible to suppress the generation of particles from the inner wall surface of the gas ejection hole. Here, the gas ejection holes may be formed so as to reach one reaction gas outlet without branching from one reaction gas inlet, or branch from one reaction gas inlet to a plurality of reaction gas outlets. It may be formed to reach.

本発明の半導体製造装置は、上述した本発明のガス噴出ヘッドを備えているため、腐食性ガスの雰囲気やプラズマの雰囲気等に長期間晒したとしてもアルミナ製のガス噴出ヘッドに比べてパーティクルの発生を抑制することができる。   Since the semiconductor manufacturing apparatus of the present invention includes the above-described gas ejection head of the present invention, even if it is exposed to a corrosive gas atmosphere or a plasma atmosphere for a long period of time, the particle production of the particles is larger than that of an alumina gas ejection head. Occurrence can be suppressed.

本発明のガス噴出ヘッドの製法としては、セラミック原料に対して希土類酸化物を1〜10重量%混合して所定のヘッド形状に成形したあと1800〜1900℃で2〜10時間焼成することによりガス噴出ヘッドを得る、という手順を採用することができる。こうすれば、焼成時にヘッド表面のセラミックの粒界に希土類化合物が浮き出るようにして入り込むため、希土類化合物を含有するセラミックで形成されヘッド表面に希土類化合物が存在しているガス噴出ヘッドを得ることができる。なお、セラミックや希土類化合物の具体例は前述したとおりである。   As a method for producing the gas ejection head of the present invention, a ceramic raw material is mixed with 1 to 10% by weight of a rare earth oxide and formed into a predetermined head shape, and then fired at 1800 to 1900 ° C. for 2 to 10 hours. A procedure of obtaining an ejection head can be employed. In this way, the rare earth compound enters the ceramic grain boundaries on the head surface during firing so that a gas ejection head formed of a ceramic containing the rare earth compound and having the rare earth compound on the head surface can be obtained. it can. Specific examples of ceramics and rare earth compounds are as described above.

ここで、希土類酸化物が1重量%未満では、得られるガス噴出ヘッドのパーティクル発生抑制効果が十分でないことがあり、10重量%を超えると、得られるガス噴出ヘッドのヘッド表面に占める希土類化合物の割合が多くなり希土類化合物とセラミックとの熱膨張率差による影響が大きくなることがある。また、焼成温度が1800℃未満だと十分な量の希土類化合物が表面に浮き出てこないおそれがあり、1900℃を超えると希土類化合物が表面の大部分を覆ってしまいセラミックとの熱膨張率差による割れなどのおそれが生じる。なお、焼成時間は、セラミック原料の組成や焼成温度に応じて適宜決定すればよいが、例えば1〜15時間である。   Here, if the rare earth oxide is less than 1% by weight, the particle generation suppressing effect of the obtained gas ejection head may not be sufficient. If it exceeds 10% by weight, the rare earth compound occupies the head surface of the obtained gas ejection head. The ratio increases and the influence of the difference in thermal expansion coefficient between the rare earth compound and the ceramic may increase. Further, if the firing temperature is less than 1800 ° C., a sufficient amount of rare earth compound may not float on the surface, and if it exceeds 1900 ° C., the rare earth compound covers most of the surface, resulting in a difference in thermal expansion coefficient from the ceramic. There is a risk of cracking. In addition, what is necessary is just to determine a baking time suitably according to a composition and baking temperature of a ceramic raw material, For example, it is 1 to 15 hours.

また、焼成後に表面を平滑化すると、ヘッド表面に占める前記希土類化合物の割合が30%未満になることが多いため、焼成後には表面を平滑化しないことが好ましい。ただし、焼成後に表面を平滑化したあと再び熱処理(アニール)すれば希土類化合物が表面に浮き出してきてその割合が30%以上になることが多いため、平滑化した場合には熱処理することが好ましい。また、焼成後に化学エッチングを施すと、ヘッド表面に占める希土類化合物の割合が減少するため、焼成後には化学エッチングを施さないことが好ましい。ただし、ヘッド表面に占める希土類化合物の割合が減少する度合いは、平滑化処理に比べると化学エッチングの方が少ない。なお、本発明は、焼成後に平滑化処理や化学エッチングを行うことを排除しているわけではなく、パーティクルの発生を厳しく抑制したい場合には平滑化処理や化学エッチングを行わないことが好ましいが、別の事情により平滑化処理や化学エッチングを行う必要がある場合にはそちらの事情を優先させて平滑化処理や化学エッチングを行ってもよい。   Further, when the surface is smoothed after firing, the ratio of the rare earth compound in the head surface is often less than 30%. Therefore, it is preferable not to smooth the surface after firing. However, if the surface is smoothed after firing and then heat-treated (annealed) again, the rare earth compound will rise to the surface and the ratio will often be 30% or more. Further, when chemical etching is performed after firing, the ratio of the rare earth compound in the head surface is reduced. Therefore, it is preferable not to perform chemical etching after firing. However, the degree of reduction of the ratio of the rare earth compound in the head surface is smaller in the chemical etching than in the smoothing process. The present invention does not exclude performing a smoothing treatment or chemical etching after firing, and preferably does not perform a smoothing treatment or chemical etching when it is desired to strictly suppress the generation of particles. If it is necessary to perform smoothing treatment or chemical etching due to other circumstances, the smoothing treatment or chemical etching may be performed by giving priority to the circumstances.

本発明のガス噴出ヘッドの製法において、セラミック原料に対して希土類酸化物を1〜10重量%混合する際には、必要に応じて添加物を混合してもよい。このような添加物としては、バインダや溶剤、他の焼結助剤などが挙げられる。バインダとしては、特に限定されないが、例えばアクリル系バインダ、エチルセルロース、ブチルセロソルブ、ポリビニルアルコールから選ばれる1種又は2種以上が挙げられる。また、溶媒としては、特に限定されないが、例えばメタノール、エタノール、プロパノール、ブタノール、ペンタノール、ヘキサノールなどの炭素数1〜6のアルコール、α−テルピネオール、グリコールから選ばれる1種又は2種以上が挙げられる。また、焼結助剤としては、特に限定されないが、例えばCaO、Na2O、Li2O、Rb23などが挙げられる。 In the method for producing a gas ejection head of the present invention, when 1 to 10% by weight of the rare earth oxide is mixed with the ceramic raw material, an additive may be mixed as necessary. Examples of such additives include a binder, a solvent, and other sintering aids. Although it does not specifically limit as a binder, For example, 1 type, or 2 or more types chosen from an acrylic type binder, an ethyl cellulose, a butyl cellosolve, and polyvinyl alcohol is mentioned. Moreover, it does not specifically limit as a solvent, For example, 1 type, or 2 or more types chosen from C1-C6 alcohol, such as methanol, ethanol, propanol, butanol, pentanol, hexanol, (alpha) -terpineol, glycol, are mentioned. It is done. As the sintering aid is not particularly limited, for example CaO, Na 2 O, Li 2 O, and the like Rb 2 O 3.

本発明のガス噴出ヘッドのヘッド表面の一例について、図5に基づいて説明する。図5は、ガス噴出ヘッドのヘッド表面を倍率2000倍で撮影したSEM写真である。図5において、淡色部分(白色部分)が希土類化合物(ここではイットリウム化合物)の存在している箇所であり、濃色部分(点々部分)がセラミック(ここでは窒化アルミニウム)である。この写真から、希土類化合物はヘッド表面のセラミックの粒界を覆うように存在していることがわかる。また、希土類化合物がヘッド表面に散在していることもわかる。また、淡色部分につきエネルギー分散型X線分析装置(EDS、ここでは(株)日立製作所の走査型電子顕微鏡S4300にエダックス社の検出器を付けたものを使用した)で定性分析を行ったところ、C,N,O,Al,Yのピークが表れたが、このうちAlは主成分である窒化アルミニウムに起因するものと推定されるため、淡色部分のイットリウム化合物はイットリウムの窒化物、炭化物、酸化物であろうと考えられる。   An example of the head surface of the gas ejection head of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 5 is an SEM photograph obtained by photographing the head surface of the gas ejection head at a magnification of 2000 times. In FIG. 5, the light colored portion (white portion) is a portion where a rare earth compound (here, an yttrium compound) is present, and the dark colored portion (dot portions) is a ceramic (here, aluminum nitride). From this photograph, it can be seen that the rare earth compound exists so as to cover the ceramic grain boundary on the head surface. It can also be seen that rare earth compounds are scattered on the head surface. In addition, a qualitative analysis was performed with an energy dispersive X-ray analyzer (EDS, here using a scanning electron microscope S4300 of Hitachi, Ltd. with a detector of EDAX) for the light-colored part. Although peaks of C, N, O, Al, and Y appeared, Al is presumed to be caused by aluminum nitride, which is the main component, so that the yttrium compound in the light-colored portion is nitride, carbide, or oxide of yttrium. It is thought to be a thing.

本発明では、ヘッド表面に占める希土類化合物の割合をSEM(走査型電子顕微鏡)画像に基づいて算出しているが、具体的な算出方法は次の通りである。一般にSEM写真では、図5に示すように、窒化物系セラミックは濃色、イットリウム化合物は淡色として表れる。そこで、倍率500倍のSEM写真において実寸で300μm×300μmに相当する領域に実寸で1マス5μm×5μmとなるよう縦横に格子状の線を引いたあと、各格子点の濃淡を調べ、全格子点に対する淡色の格子点の割合を求め、これを「ヘッド表面に占める希土類化合物の割合」(以下、Y占有率ともいう)とした。なお、この作業を複数回(例えば10回)繰り返し、求めた割合の平均値を「ヘッド表面に占める希土類化合物の割合」としてもよい。   In the present invention, the ratio of the rare earth compound in the head surface is calculated based on the SEM (scanning electron microscope) image. The specific calculation method is as follows. In general, in the SEM photograph, as shown in FIG. 5, the nitride-based ceramic appears dark and the yttrium compound appears light. Therefore, in a SEM photograph at a magnification of 500 times, after drawing a grid line vertically and horizontally in an area corresponding to the actual size of 300 μm × 300 μm so that the actual size is 5 μm × 5 μm, the density of each lattice point is examined. The ratio of the light-colored lattice points to the points was determined, and this was defined as “the ratio of the rare earth compound occupying the head surface” (hereinafter also referred to as Y occupancy). Note that this operation may be repeated a plurality of times (for example, 10 times), and the average value of the obtained ratios may be set as “the ratio of the rare earth compound in the head surface”.

本発明の耐食性材料は、希土類化合物を含有するセラミックで形成され、表面に前記希土類化合物が存在しているものである。この耐食性材料によれば、表面に存在する希土類化合物の作用により、腐食性ガスの雰囲気やプラズマの雰囲気等に長期間晒したとしてもパーティクルの発生が抑制される。
この耐食性材料は、前記希土類化合物が前記表面に散在していることが好ましい。また、前記表面のセラミックの粒界の少なくとも一部を前記希土類化合物が覆っていることが好ましい。また、前記希土類化合物はスカンジウム化合物、イットリウム化合物及びセリウム化合物からなる群より選ばれた化合物であることが好ましく、前記セラミックは窒化物系セラミックであることが好ましい。
The corrosion-resistant material of the present invention is formed of a ceramic containing a rare earth compound, and the rare earth compound is present on the surface. According to this corrosion resistant material, the generation of particles is suppressed by the action of the rare earth compound present on the surface even when exposed to a corrosive gas atmosphere or a plasma atmosphere for a long period of time.
In the corrosion-resistant material, it is preferable that the rare earth compound is scattered on the surface. Moreover, it is preferable that the rare earth compound covers at least a part of the grain boundary of the ceramic on the surface. The rare earth compound is preferably a compound selected from the group consisting of scandium compounds, yttrium compounds and cerium compounds, and the ceramic is preferably a nitride ceramic.

以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。図1はプラズマCVD装置10の概略説明図である。プラズマCVD装置10は、半導体製造装置の一つであり、図1に示すように、上下面が円形である円筒状の真空チャンバ12の内部に、シリコンウェハなどの被処理体30を載置して内蔵ヒータ14によってその被処理体30を加熱する円板状の基板ホルダ16と、反応性を有するガス(反応ガス)を真空チャンバ12の天井面からチャンバ内へ噴出するシャワー型ガス噴出ヘッド18と、同様の反応ガスを内周面からチャンバ内へ噴出するノズル型ガス噴出ヘッド22とを備えている。ここで、シャワー型ガス噴出ヘッド18は天井面の略中央に取り付けられ、ノズル型ガス噴出ヘッド22は内周面にて円周に沿って多数取り付けられている。また、真空チャンバ12は、チャンバ内を略真空状態にするための真空ポンプ26を備えていると共に、高周波電圧が印加される図示しない一対の電極をチャンバ内に備えている。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic explanatory view of a plasma CVD apparatus 10. A plasma CVD apparatus 10 is one of semiconductor manufacturing apparatuses. As shown in FIG. 1, a processing object 30 such as a silicon wafer is placed inside a cylindrical vacuum chamber 12 whose upper and lower surfaces are circular. A disk-shaped substrate holder 16 that heats the object 30 to be processed by the built-in heater 14, and a shower-type gas ejection head 18 that ejects a reactive gas (reactive gas) from the ceiling surface of the vacuum chamber 12 into the chamber. And a nozzle type gas ejection head 22 for ejecting the same reactive gas from the inner peripheral surface into the chamber. Here, the shower type gas ejection head 18 is attached to the approximate center of the ceiling surface, and a number of nozzle type gas ejection heads 22 are attached along the circumference on the inner peripheral surface. The vacuum chamber 12 is provided with a vacuum pump 26 for making the inside of the chamber substantially vacuum, and a pair of electrodes (not shown) to which a high-frequency voltage is applied is provided in the chamber.

次に、シャワー型ガス噴出ヘッド18について図2に基づいて説明する。図2は、シャワー型ガス噴出ヘッド18の説明図で、(a)は正面図、(b)は縦断面図、(c)は底面図である。このシャワー型ガス噴出ヘッド18は、略円錐台形状に形成され、その上面
の中心に1つの反応ガス入口18aを有し、その下面の中心とその中心から等距離の位置に合計5つの反応ガス出口18bを有している。このシャワー型ガス噴出ヘッド18の内部には、反応ガス入口18aから分岐して複数の反応ガス出口18bに至るガス通路18cが形成されている。また、シャワー型ガス噴出ヘッド18は、窒化アルミニウムを主成分とし希土類化合物としてイットリウム化合物を含有するセラミックで作製され、ヘッド表面にはイットリウム化合物が存在しているものである。このシャワー型ガス噴出ヘッド18は、Y占有率が30〜85%であることが好ましく、60〜85%であることがより好ましい。また、ヘッド表面の窒化アルミニウムの粒界の一部をイットリウム化合物が覆っていることが好ましい。
Next, the shower type gas ejection head 18 will be described with reference to FIG. 2A and 2B are explanatory views of the shower type gas ejection head 18, wherein FIG. 2A is a front view, FIG. 2B is a longitudinal sectional view, and FIG. 2C is a bottom view. This shower type gas ejection head 18 is formed in a substantially truncated cone shape, has one reaction gas inlet 18a at the center of the upper surface thereof, and has a total of five reaction gases at the center of the lower surface and at a position equidistant from the center. It has an outlet 18b. Inside the shower type gas ejection head 18, a gas passage 18c branched from the reaction gas inlet 18a to reach a plurality of reaction gas outlets 18b is formed. The shower type gas ejection head 18 is made of a ceramic containing aluminum nitride as a main component and containing an yttrium compound as a rare earth compound, and the yttrium compound is present on the head surface. The shower type gas ejection head 18 preferably has a Y occupancy of 30 to 85%, more preferably 60 to 85%. Moreover, it is preferable that a part of the grain boundary of aluminum nitride on the head surface is covered with an yttrium compound.

一方、ノズル型ガス噴出ヘッド22について図3に基づいて説明する。図3は、ノズル型ガス噴出ヘッド22の説明図で、(a)は正面図、(b)は縦断面図である。このノズル型ガス噴出ヘッド22は、略円柱状に形成され、その基端面の中心に1つの反応ガス入口22aを有し、その先端面の中心に1つの反応ガス出口22bを有している。このノズル型ガス噴出ヘッド22の内部には、反応ガス入口22aから分岐せずまっすぐに反応ガス出口22bに至るガス通路22cが形成されている。また、ノズル型ガス噴出ヘッド22は、シャワー型ガス噴出ヘッド18と同様、窒化アルミニウムを主成分としイットリウム化合物を含有するセラミックで作製され、ヘッド表面にはイットリウム化合物が存在しているものであるため、詳細な説明は省略する。   On the other hand, the nozzle type gas ejection head 22 will be described with reference to FIG. 3A and 3B are explanatory views of the nozzle-type gas ejection head 22, wherein FIG. 3A is a front view and FIG. 3B is a longitudinal sectional view. The nozzle-type gas ejection head 22 is formed in a substantially cylindrical shape, and has one reactive gas inlet 22a at the center of the base end face and one reactive gas outlet 22b at the center of the distal end face. Inside the nozzle type gas ejection head 22, there is formed a gas passage 22c that does not branch from the reaction gas inlet 22a and extends straight to the reaction gas outlet 22b. In addition, the nozzle type gas ejection head 22 is made of ceramic containing aluminum nitride as a main component and containing an yttrium compound, like the shower type gas ejection head 18, and the yttrium compound is present on the head surface. Detailed description will be omitted.

次に、本実施形態のプラズマCVD装置10の動作、つまりシリコンウェハ等の被処理体30の表面に膜を形成する動作について、簡単に説明する。まず、図示しない搬送機を作動させて、真空チャンバ12の内部に搬入された未処理の被処理体30を基板ホルダ16の上面に載置する。続いて、真空ポンプ26によりチャンバ内が所定の真空度になるように調整し、基板ホルダ16の内蔵ヒータ14に通電して被処理体30を加熱する。続いて、図示しないマスフローコントローラによりシャワー型ガス噴出ヘッド18の反応ガス入口18aと各ノズル型ガス噴出ヘッド22の反応ガス入口22aに所定流量で反応ガスを導入し、図示しない一対の電極間に高周波電圧を印加する。すると、シャワー型ガス噴出ヘッド18の各反応ガス出口18bや各ノズル型ガス噴出ヘッド22の反応ガス出口22bから真空チャンバ12内に噴出された反応ガスは、図示しない一対の電極間に生じるグロー放電によって分解・励起されてプラズマ状態となり、被処理体30の表面にガス分子を堆積させて薄膜を形成する。   Next, the operation of the plasma CVD apparatus 10 of this embodiment, that is, the operation of forming a film on the surface of the object 30 such as a silicon wafer will be briefly described. First, an unillustrated transporter is operated to place an unprocessed object 30 carried into the vacuum chamber 12 on the upper surface of the substrate holder 16. Subsequently, the inside of the chamber is adjusted to a predetermined degree of vacuum by the vacuum pump 26, and the built-in heater 14 of the substrate holder 16 is energized to heat the object 30 to be processed. Subsequently, a reaction gas is introduced at a predetermined flow rate into a reaction gas inlet 18a of the shower type gas ejection head 18 and a reaction gas inlet 22a of each nozzle type gas ejection head 22 by a mass flow controller (not shown), and a high frequency is generated between a pair of electrodes (not shown). Apply voltage. Then, the reaction gas ejected into the vacuum chamber 12 from each reaction gas outlet 18b of the shower type gas ejection head 18 or from the reaction gas outlet 22b of each nozzle type gas ejection head 22 is glow discharge generated between a pair of electrodes (not shown). Is decomposed and excited by the plasma to be in a plasma state, and gas molecules are deposited on the surface of the object 30 to form a thin film.

以上詳述した本実施形態によれば、シャワー型ガス噴出ヘッド18やノズル型ガス噴出ヘッド22のヘッド表面に存在するイットリウム化合物の作用により、プラズマの雰囲気に長期間晒したとしてもアルミナ製のガス噴出ヘッドに比べてパーティクルの発生が抑制される。また、Y占有率が30%以上(特に60%以上)の場合にはパーティクルの発生が顕著に抑制されるし、85%以下の場合にはイットリウム化合物と窒化アルミニウムとの熱膨張差による影響も抑制される。更に、ヘッド表面の窒化アルミニウムの粒界の一部をイットリウム化合物が覆っているため、窒化アルミニウムの粒界への反応ガスの浸透が抑制されひいてはパーティクルの発生が効果的に抑制される。更にまた、各ガス噴出ヘッド18,22は焼成前にガス通路18c,22cに相当する孔を開けていることからガス通路18c,22cの内壁表面にもイットリウム化合物が存在しているため、ガス通路18c,22c内のパーティクルの発生も抑制される。   According to the embodiment described in detail above, even if the plasma is exposed to a plasma atmosphere for a long time due to the action of the yttrium compound present on the head surface of the shower type gas jet head 18 or the nozzle type gas jet head 22, the gas made of alumina. Generation of particles is suppressed compared to the ejection head. In addition, when the Y occupancy is 30% or more (especially 60% or more), the generation of particles is remarkably suppressed. When the Y occupancy is 85% or less, there is an influence due to the difference in thermal expansion between the yttrium compound and aluminum nitride. It is suppressed. Furthermore, since a part of the aluminum nitride grain boundary on the head surface is covered with the yttrium compound, the penetration of the reaction gas into the aluminum nitride grain boundary is suppressed, and the generation of particles is effectively suppressed. Furthermore, since the gas ejection heads 18 and 22 have holes corresponding to the gas passages 18c and 22c before firing, yttrium compounds are also present on the inner wall surfaces of the gas passages 18c and 22c. Generation of particles in 18c and 22c is also suppressed.

以下には、上述した実施形態におけるノズル型ガス噴出ヘッド22の製造例を説明する。   Below, the manufacture example of the nozzle type gas ejection head 22 in embodiment mentioned above is demonstrated.

[実施例1]
まず、窒化アルミニウム粉末(トクヤマ社製、平均粒径1.1μm)98重量部、酸化イットリウム(Y23:イットリア、平均粒径0.4μm)2重量部、アクリル系バインダ4重量部、1−ブタノールとエタノールとからなるアルコール53重量部を混合して顆粒を形成した。次に、形成した顆粒をシップ成形法により略円柱状に成形し、ガス通路22cに相当する孔を開けるなどして製品の形に加工した(生加工)。次に、酸化雰囲気、600℃、5時間の条件で脱脂した後、窒素ガス中、1740℃、6時間の条件で焼成し、研削研磨による平滑化処理や化学エッチングを行うことなくノズル型ガス噴出ヘッド22を得た。得られたノズル型ガス噴出ヘッド22につき、Y占有率を前述した方法により算出した。なお、このY占有率は、10枚のSEM写真についての平均値である。また、1000時間プラズマ耐久試験後に直径300mmのウェハをチャンバ内に配置してプラズマCVDにより成膜したあと、そのウェハ上のパーティクルの量を測定した。なお、反応ガスとしてモノシラン(SiH4)又はテトラエトキシシラン(Si(OEt)4)を用いてシランプラズマを発生させた。その結果を図4の表に示す。
[Example 1]
First, 98 parts by weight of aluminum nitride powder (manufactured by Tokuyama Corporation, average particle size 1.1 μm), 2 parts by weight of yttrium oxide (Y 2 O 3 : yttria, average particle size 0.4 μm), 4 parts by weight of acrylic binder, -Granules were formed by mixing 53 parts by weight of alcohol consisting of butanol and ethanol. Next, the formed granule was formed into a substantially cylindrical shape by a ship forming method, and processed into a product shape by opening a hole corresponding to the gas passage 22c (raw processing). Next, after degreasing in an oxidizing atmosphere at 600 ° C. for 5 hours, firing in nitrogen gas at 1740 ° C. for 6 hours is performed, and nozzle-type gas ejection is performed without performing smoothing treatment or chemical etching by grinding and polishing. A head 22 was obtained. For the obtained nozzle type gas ejection head 22, the Y occupancy was calculated by the method described above. The Y occupancy is an average value for 10 SEM photographs. Further, after a 1000-hour plasma durability test, a wafer having a diameter of 300 mm was placed in the chamber and formed by plasma CVD, and the amount of particles on the wafer was measured. Silane plasma was generated using monosilane (SiH 4 ) or tetraethoxysilane (Si (OEt) 4 ) as a reaction gas. The results are shown in the table of FIG.

[実施例2]
まず、窒化アルミニウム粉末(トクヤマ社製、平均粒径1.1μm)98重量部、酸化イットリウム(Y23:イットリア、平均粒径0.4μm)2重量部、アクリル系バインダ4重量部、1−ブタノールとエタノールとからなるアルコール53重量部を混合して顆粒を形成した。次に、形成した顆粒をシップ成形法により略円柱状に成形し、ガス通路22cに相当する孔を開けるなどして製品の形に加工した(生加工)。次に、酸化雰囲気、600℃、5時間の条件で脱脂した後、窒素ガス中、1860℃、6時間の条件で焼成し、研削研磨による平滑化処理や化学エッチングを行うことなくノズル型ガス噴出ヘッド22を得た。得られたノズル型ガス噴出ヘッド22につき、実施例1と同様にしてY占有率及びパーティクル量を測定した。その結果を図4の表に示す。
[Example 2]
First, 98 parts by weight of aluminum nitride powder (manufactured by Tokuyama Corporation, average particle size 1.1 μm), 2 parts by weight of yttrium oxide (Y 2 O 3 : yttria, average particle size 0.4 μm), 4 parts by weight of acrylic binder, -Granules were formed by mixing 53 parts by weight of alcohol consisting of butanol and ethanol. Next, the formed granule was formed into a substantially cylindrical shape by a ship forming method, and processed into a product shape by opening a hole corresponding to the gas passage 22c (raw processing). Next, after degreasing in an oxidizing atmosphere at 600 ° C. for 5 hours, firing in nitrogen gas at 1860 ° C. for 6 hours, and nozzle-type gas ejection without performing smoothing treatment or chemical etching by grinding and polishing A head 22 was obtained. For the obtained nozzle-type gas ejection head 22, the Y occupancy and the amount of particles were measured in the same manner as in Example 1. The results are shown in the table of FIG.

[実施例3]
まず、窒化アルミニウム粉末(トクヤマ社製、平均粒径1.1μm)95重量部、酸化イットリウム(Y23:イットリア、平均粒径0.4μm)5重量部、アクリル系バインダ4重量部、1−ブタノールとエタノールとからなるアルコール53重量部を混合して顆粒を形成した。次に、形成した顆粒をシップ成形法により略円柱状に成形し、ガス通路22cに相当する孔を開けるなどして製品の形に加工した(生加工)。次に、酸化雰囲気、600℃、5時間の条件で脱脂した後、窒素ガス中、1860℃、6時間の条件で焼成し、研削研磨による平滑化処理や化学エッチングを行うことなくノズル型ガス噴出ヘッド22を得た。得られたノズル型ガス噴出ヘッド22につき、実施例1と同様にしてY占有率及びパーティクル量を測定した。その結果を図4の表に示す。
[Example 3]
First, 95 parts by weight of aluminum nitride powder (manufactured by Tokuyama, average particle size 1.1 μm), 5 parts by weight of yttrium oxide (Y 2 O 3 : yttria, average particle size 0.4 μm), 4 parts by weight of an acrylic binder, -Granules were formed by mixing 53 parts by weight of alcohol consisting of butanol and ethanol. Next, the formed granule was formed into a substantially cylindrical shape by a ship forming method, and processed into a product shape by opening a hole corresponding to the gas passage 22c (raw processing). Next, after degreasing in an oxidizing atmosphere at 600 ° C. for 5 hours, firing in nitrogen gas at 1860 ° C. for 6 hours, and nozzle-type gas ejection without performing smoothing treatment or chemical etching by grinding and polishing A head 22 was obtained. For the obtained nozzle-type gas ejection head 22, the Y occupancy and the amount of particles were measured in the same manner as in Example 1. The results are shown in the table of FIG.

[実施例4]
まず、窒化アルミニウム粉末(トクヤマ社製、平均粒径1.1μm)92重量部、酸化イットリウム(Y23:イットリア、平均粒径0.4μm)8重量部、アクリル系バインダ4重量部、1−ブタノールとエタノールとからなるアルコール53重量部を混合して顆粒を形成した。次に、形成した顆粒をシップ成形法により略円柱状に成形し、ガス通路22cに相当する孔を開けるなどして製品の形に加工した(生加工)。次に、酸化雰囲気、600℃、5時間の条件で脱脂した後、窒素ガス中、1860℃、6時間の条件で焼成し、研削研磨による平滑化処理や化学エッチングを行うことなくノズル型ガス噴出ヘッド22を得た。得られたノズル型ガス噴出ヘッド22につき、実施例1と同様にしてY占有率及びパーティクル量を測定した。その結果を図4の表に示す。
[Example 4]
First, 92 parts by weight of aluminum nitride powder (manufactured by Tokuyama, average particle size 1.1 μm), 8 parts by weight of yttrium oxide (Y 2 O 3 : yttria, average particle size 0.4 μm), 4 parts by weight of an acrylic binder, -Granules were formed by mixing 53 parts by weight of alcohol consisting of butanol and ethanol. Next, the formed granule was formed into a substantially cylindrical shape by a ship forming method, and processed into a product shape by opening a hole corresponding to the gas passage 22c (raw processing). Next, after degreasing in an oxidizing atmosphere at 600 ° C. for 5 hours, firing in nitrogen gas at 1860 ° C. for 6 hours, and nozzle-type gas ejection without performing smoothing treatment or chemical etching by grinding and polishing A head 22 was obtained. For the obtained nozzle-type gas ejection head 22, the Y occupancy and the amount of particles were measured in the same manner as in Example 1. The results are shown in the table of FIG.

[実施例5]
まず、窒化アルミニウム粉末(トクヤマ社製、平均粒径1.1μm)98重量部、酸化イットリウム(Y23:イットリア、平均粒径0.4μm)2重量部、アクリル系バイン
ダ4重量部、1−ブタノールとエタノールとからなるアルコール53重量部を混合して顆粒を形成した。次に、形成した顆粒をシップ成形法により略円柱状に成形し、ガス通路22cに相当する孔を開けるなどして製品の形に加工した(生加工)。次に、酸化雰囲気、600℃、5時間の条件で脱脂した後、窒素ガス中、1740℃、6時間の条件で焼成した。焼成後、焼成品の表面を研削研磨して平滑化し、その後、窒素雰囲気、1500℃、6時間の条件下でアニールを行うことにより、ノズル型ガス噴出ヘッド22を得た。得られたノズル型ガス噴出ヘッド22につき、実施例1と同様にしてY占有率及びパーティクル量を測定した。その結果を図4の表に示す。
[Example 5]
First, 98 parts by weight of aluminum nitride powder (manufactured by Tokuyama Corporation, average particle size 1.1 μm), 2 parts by weight of yttrium oxide (Y 2 O 3 : yttria, average particle size 0.4 μm), 4 parts by weight of acrylic binder, -Granules were formed by mixing 53 parts by weight of alcohol consisting of butanol and ethanol. Next, the formed granule was formed into a substantially cylindrical shape by a ship forming method, and processed into a product shape by opening a hole corresponding to the gas passage 22c (raw processing). Next, after degreasing under conditions of oxidizing atmosphere and 600 ° C. for 5 hours, firing was performed in nitrogen gas at 1740 ° C. for 6 hours. After firing, the surface of the fired product was ground and smoothed, and then annealed under conditions of a nitrogen atmosphere, 1500 ° C., and 6 hours to obtain a nozzle-type gas ejection head 22. For the obtained nozzle-type gas ejection head 22, the Y occupancy and the amount of particles were measured in the same manner as in Example 1. The results are shown in the table of FIG.

[実施例6]
まず、窒化アルミニウム粉末(トクヤマ社製、平均粒径1.1μm)98重量部、酸化イットリウム(Y23:イットリア、平均粒径0.4μm)2重量部、アクリル系バインダ4重量部、1−ブタノールとエタノールとからなるアルコール53重量部を混合して顆粒を形成した。次に、形成した顆粒をシップ成形法により略円柱状に成形し、ガス通路22cに相当する孔を開けるなどして製品の形に加工した(生加工)。次に、酸化雰囲気、600℃、5時間の条件で脱脂した後、窒素ガス中、1860℃、6時間の条件で焼成した。焼成後、焼成品の表面を研削研磨して平滑化し、その後、窒素雰囲気、1860℃、6時間の条件下でアニールを行うことにより、ノズル型ガス噴出ヘッド22を得た。得られたノズル型ガス噴出ヘッド22につき、実施例1と同様にしてY占有率及びパーティクル量を測定した。その結果を図4の表に示す。
[Example 6]
First, 98 parts by weight of aluminum nitride powder (manufactured by Tokuyama Corporation, average particle size 1.1 μm), 2 parts by weight of yttrium oxide (Y 2 O 3 : yttria, average particle size 0.4 μm), 4 parts by weight of acrylic binder, -Granules were formed by mixing 53 parts by weight of alcohol consisting of butanol and ethanol. Next, the formed granule was formed into a substantially cylindrical shape by a ship forming method, and processed into a product shape by opening a hole corresponding to the gas passage 22c (raw processing). Next, after degreasing under conditions of oxidizing atmosphere and 600 ° C. for 5 hours, firing was performed in nitrogen gas under conditions of 1860 ° C. and 6 hours. After firing, the surface of the fired product was ground and smoothed, and then annealed under conditions of a nitrogen atmosphere and 1860 ° C. for 6 hours to obtain a nozzle type gas ejection head 22. For the obtained nozzle-type gas ejection head 22, the Y occupancy and the amount of particles were measured in the same manner as in Example 1. The results are shown in the table of FIG.

[実施例7]
まず、窒化アルミニウム粉末(トクヤマ社製、平均粒径1.1μm)95重量部、酸化イットリウム(Y23:イットリア、平均粒径0.4μm)5重量部、アクリル系バインダ4重量部、1−ブタノールとエタノールとからなるアルコール53重量部を混合して顆粒を形成した。次に、形成した顆粒をシップ成形法により略円柱状に成形し、ガス通路22cに相当する孔を開けるなどして製品の形に加工した(生加工)。次に、酸化雰囲気、600℃、5時間の条件で脱脂した後、窒素ガス中、1860℃、6時間の条件で焼成した。焼成後、焼成品の表面を研削研磨して平滑化し、その後、窒素雰囲気、1860℃、6時間の条件下でアニールを行うことにより、ノズル型ガス噴出ヘッド22を得た。得られたノズル型ガス噴出ヘッド22につき、実施例1と同様にしてY占有率及びパーティクル量を測定した。その結果を図4の表に示す。
[Example 7]
First, 95 parts by weight of aluminum nitride powder (manufactured by Tokuyama, average particle size 1.1 μm), 5 parts by weight of yttrium oxide (Y 2 O 3 : yttria, average particle size 0.4 μm), 4 parts by weight of an acrylic binder, -Granules were formed by mixing 53 parts by weight of alcohol consisting of butanol and ethanol. Next, the formed granule was formed into a substantially cylindrical shape by a ship forming method, and processed into a product shape by opening a hole corresponding to the gas passage 22c (raw processing). Next, after degreasing under conditions of oxidizing atmosphere and 600 ° C. for 5 hours, firing was performed in nitrogen gas under conditions of 1860 ° C. and 6 hours. After firing, the surface of the fired product was ground and smoothed, and then annealed under conditions of a nitrogen atmosphere and 1860 ° C. for 6 hours to obtain a nozzle type gas ejection head 22. For the obtained nozzle-type gas ejection head 22, the Y occupancy and the amount of particles were measured in the same manner as in Example 1. The results are shown in the table of FIG.

[実施例8]
まず、窒化アルミニウム粉末(トクヤマ社製、平均粒径1.1μm)98重量部、酸化イットリウム(Y23:イットリア、平均粒径0.4μm)2重量部、アクリル系バインダ4重量部、1−ブタノールとエタノールとからなるアルコール53重量部を混合して顆粒を形成した。次に、形成した顆粒をシップ成形法により略円柱状に成形し、ガス通路22cに相当する孔を開けるなどして製品の形に加工した(生加工)。次に、酸化雰囲気、600℃、5時間の条件で脱脂した後、窒素ガス中、1860℃、6時間の条件で焼成した。焼成後、焼成品の表面を60℃、10%NaOH溶液に30秒間漬けてエッチング処理を施すことにより、ノズル型ガス噴出ヘッド22を得た。得られたノズル型ガス噴出ヘッド22につき、実施例1と同様にしてY占有率及びパーティクル量を測定した。その結果を図4の表に示す。
[Example 8]
First, 98 parts by weight of aluminum nitride powder (manufactured by Tokuyama Corporation, average particle size 1.1 μm), 2 parts by weight of yttrium oxide (Y 2 O 3 : yttria, average particle size 0.4 μm), 4 parts by weight of acrylic binder, -Granules were formed by mixing 53 parts by weight of alcohol consisting of butanol and ethanol. Next, the formed granule was formed into a substantially cylindrical shape by a ship forming method, and processed into a product shape by opening a hole corresponding to the gas passage 22c (raw processing). Next, after degreasing under conditions of oxidizing atmosphere and 600 ° C. for 5 hours, firing was performed in nitrogen gas under conditions of 1860 ° C. and 6 hours. After firing, the surface of the fired product was immersed in a 10% NaOH solution at 60 ° C. for 30 seconds to perform an etching process, whereby a nozzle type gas ejection head 22 was obtained. For the obtained nozzle-type gas ejection head 22, the Y occupancy and the amount of particles were measured in the same manner as in Example 1. The results are shown in the table of FIG.

[実施例9]
まず、窒化アルミニウム粉末(トクヤマ社製、平均粒径1.1μm)95重量部、酸化イットリウム(Y23:イットリア、平均粒径0.4μm)5重量部、アクリル系バインダ4重量部、1−ブタノールとエタノールとからなるアルコール53重量部を混合して顆粒を形成した。次に、形成した顆粒をシップ成形法により略円柱状に成形し、ガス通路2
2cに相当する孔を開けるなどして製品の形に加工した(生加工)。次に、酸化雰囲気、600℃、5時間の条件で脱脂した後、窒素ガス中、1860℃、6時間の条件で焼成した。焼成後、焼成品の表面を60℃、10%NaOH溶液に30秒間漬けてエッチング処理を施すことにより、ノズル型ガス噴出ヘッド22を得た。得られたノズル型ガス噴出ヘッド22につき、実施例1と同様にしてY占有率及びパーティクル量を測定した。その結果を図4の表に示す。
[Example 9]
First, 95 parts by weight of aluminum nitride powder (manufactured by Tokuyama, average particle size 1.1 μm), 5 parts by weight of yttrium oxide (Y 2 O 3 : yttria, average particle size 0.4 μm), 4 parts by weight of an acrylic binder, -Granules were formed by mixing 53 parts by weight of alcohol consisting of butanol and ethanol. Next, the formed granules are formed into a substantially cylindrical shape by a ship forming method, and the gas passage 2
It was processed into the shape of the product by opening a hole corresponding to 2c (raw processing). Next, after degreasing under conditions of oxidizing atmosphere and 600 ° C. for 5 hours, firing was performed in nitrogen gas under conditions of 1860 ° C. and 6 hours. After firing, the surface of the fired product was immersed in a 10% NaOH solution at 60 ° C. for 30 seconds to perform an etching process, whereby a nozzle type gas ejection head 22 was obtained. For the obtained nozzle-type gas ejection head 22, the Y occupancy and the amount of particles were measured in the same manner as in Example 1. The results are shown in the table of FIG.

[実施例10]
まず、窒化アルミニウム粉末(トクヤマ社製、平均粒径1.1μm)98重量部、酸化イットリウム(Y23:イットリア、平均粒径0.4μm)2重量部、アクリル系バインダ4重量部、1−ブタノールとエタノールとからなるアルコール53重量部を混合して顆粒を形成した。次に、形成した顆粒をシップ成形法により略円柱状に成形し、ガス通路22cに相当する孔を開けるなどして製品の形に加工した(生加工)。次に、酸化雰囲気、600℃、5時間の条件で脱脂した後、窒素ガス中、1740℃、6時間の条件で焼成した。焼成後、焼成品の表面を研削研磨して平滑化することにより、ノズル型ガス噴出ヘッド22を得た。得られたノズル型ガス噴出ヘッド22につき、実施例1と同様にしてY占有率及びパーティクル量を測定した。その結果を図4の表に示す。
[Example 10]
First, 98 parts by weight of aluminum nitride powder (manufactured by Tokuyama Corporation, average particle size 1.1 μm), 2 parts by weight of yttrium oxide (Y 2 O 3 : yttria, average particle size 0.4 μm), 4 parts by weight of acrylic binder, -Granules were formed by mixing 53 parts by weight of alcohol consisting of butanol and ethanol. Next, the formed granule was formed into a substantially cylindrical shape by a ship forming method, and processed into a product shape by opening a hole corresponding to the gas passage 22c (raw processing). Next, after degreasing under conditions of oxidizing atmosphere and 600 ° C. for 5 hours, firing was performed in nitrogen gas at 1740 ° C. for 6 hours. After firing, the surface of the fired product was ground and smoothed to obtain a nozzle type gas ejection head 22. For the obtained nozzle-type gas ejection head 22, the Y occupancy and the amount of particles were measured in the same manner as in Example 1. The results are shown in the table of FIG.

[実施例11]
まず、窒化アルミニウム粉末(トクヤマ社製、平均粒径1.1μm)98重量部、酸化イットリウム(Y23:イットリア、平均粒径0.4μm)2重量部、アクリル系バインダ4重量部、1−ブタノールとエタノールとからなるアルコール53重量部を混合して顆粒を形成した。次に、形成した顆粒をシップ成形法により略円柱状に成形し、ガス通路22cに相当する孔を開けるなどして製品の形に加工した(生加工)。次に、酸化雰囲気、600℃、5時間の条件で脱脂した後、窒素ガス中、1860℃、6時間の条件で焼成した。焼成後、焼成品の表面を研削研磨して平滑化することにより、ノズル型ガス噴出ヘッド22を得た。得られたノズル型ガス噴出ヘッド22につき、実施例1と同様にしてY占有率及びパーティクル量を測定した。その結果を図4の表に示す。
[Example 11]
First, 98 parts by weight of aluminum nitride powder (manufactured by Tokuyama Corporation, average particle size 1.1 μm), 2 parts by weight of yttrium oxide (Y 2 O 3 : yttria, average particle size 0.4 μm), 4 parts by weight of acrylic binder, -Granules were formed by mixing 53 parts by weight of alcohol consisting of butanol and ethanol. Next, the formed granule was formed into a substantially cylindrical shape by a ship forming method, and processed into a product shape by opening a hole corresponding to the gas passage 22c (raw processing). Next, after degreasing under conditions of oxidizing atmosphere and 600 ° C. for 5 hours, firing was performed in nitrogen gas under conditions of 1860 ° C. and 6 hours. After firing, the surface of the fired product was ground and smoothed to obtain a nozzle type gas ejection head 22. For the obtained nozzle-type gas ejection head 22, the Y occupancy and the amount of particles were measured in the same manner as in Example 1. The results are shown in the table of FIG.

[実施例12]
まず、窒化アルミニウム粉末(トクヤマ社製、平均粒径1.1μm)95重量部、酸化イットリウム(Y23:イットリア、平均粒径0.4μm)5重量部、アクリル系バインダ4重量部、1−ブタノールとエタノールとからなるアルコール53重量部を混合して顆粒を形成した。次に、形成した顆粒をシップ成形法により略円柱状に成形し、ガス通路22cに相当する孔を開けるなどして製品の形に加工した(生加工)。次に、酸化雰囲気、600℃、5時間の条件で脱脂した後、窒素ガス中、1860℃、6時間の条件で焼成した。焼成後、焼成品の表面を研削研磨して平滑化することにより、ノズル型ガス噴出ヘッド22を得た。得られたノズル型ガス噴出ヘッド22につき、実施例1と同様にしてY占有率及びパーティクル量を測定した。その結果を図4の表に示す。
[Example 12]
First, 95 parts by weight of aluminum nitride powder (manufactured by Tokuyama, average particle size 1.1 μm), 5 parts by weight of yttrium oxide (Y 2 O 3 : yttria, average particle size 0.4 μm), 4 parts by weight of an acrylic binder, -Granules were formed by mixing 53 parts by weight of alcohol consisting of butanol and ethanol. Next, the formed granule was formed into a substantially cylindrical shape by a ship forming method, and processed into a product shape by opening a hole corresponding to the gas passage 22c (raw processing). Next, after degreasing under conditions of oxidizing atmosphere and 600 ° C. for 5 hours, firing was performed in nitrogen gas under conditions of 1860 ° C. and 6 hours. After firing, the surface of the fired product was ground and smoothed to obtain a nozzle type gas ejection head 22. For the obtained nozzle-type gas ejection head 22, the Y occupancy and the amount of particles were measured in the same manner as in Example 1. The results are shown in the table of FIG.

[実施例13]
まず、窒化アルミニウム粉末(トクヤマ社製、平均粒径1.1μm)95重量部、酸化イットリウム(Y23:イットリア、平均粒径0.4μm)5重量部、アクリル系バインダ4重量部を乾式混合して混合粉末とした。次に、この混合粉末をシップ成形法により略円柱状に成形し、ガス通路22cに相当する孔を開けるなどして製品の形に加工した(生加工)。次に、酸化雰囲気、600℃、5時間の条件で脱脂した後、窒素ガス中、1860℃、6時間の条件で焼成し、研削研磨による平滑化処理や化学エッチングを行うことなくノズル型ガス噴出ヘッド22を得た。得られたノズル型ガス噴出ヘッド22につき、実施例1と同様にしてY占有率及びパーティクル量を測定した。その結果を図4の表に示す。
[Example 13]
First, 95 parts by weight of aluminum nitride powder (manufactured by Tokuyama, average particle size 1.1 μm), 5 parts by weight of yttrium oxide (Y 2 O 3 : yttria, average particle size 0.4 μm), and 4 parts by weight of an acrylic binder are dry-processed. Mixed powder was obtained. Next, this mixed powder was formed into a substantially cylindrical shape by a ship forming method, and processed into a product shape by opening a hole corresponding to the gas passage 22c (raw processing). Next, after degreasing in an oxidizing atmosphere at 600 ° C. for 5 hours, firing in nitrogen gas at 1860 ° C. for 6 hours, and nozzle-type gas ejection without performing smoothing treatment or chemical etching by grinding and polishing A head 22 was obtained. For the obtained nozzle-type gas ejection head 22, the Y occupancy and the amount of particles were measured in the same manner as in Example 1. The results are shown in the table of FIG.

[実施例14]
まず、窒化アルミニウム粉末(トクヤマ社製、平均粒径1.1μm)95重量部、酸化セリウム(CeO2:セリア、平均粒径0.3μm)5重量部、アクリル系バインダ4重量部、1−ブタノールとエタノールとからなるアルコール53重量部を混合して顆粒を形成した。次に、形成した顆粒をシップ成形法により略円柱状に成形し、ガス通路22cに相当する孔を開けるなどして製品の形に加工した(生加工)。次に、酸化雰囲気、600℃、5時間の条件で脱脂した後、窒素ガス中、1860℃、6時間の条件で焼成した。焼成後、焼成品の表面を研削研磨して平滑化することにより、ノズル型ガス噴出ヘッド22を得た。得られたノズル型ガス噴出ヘッド22につき、実施例1と同様にしてY占有率及びパーティクル量を測定した。その結果を図4の表に示す。
[Example 14]
First, 95 parts by weight of aluminum nitride powder (manufactured by Tokuyama Corporation, average particle size 1.1 μm), 5 parts by weight of cerium oxide (CeO 2 : ceria, average particle size 0.3 μm), 4 parts by weight of an acrylic binder, 1-butanol Granules were formed by mixing 53 parts by weight of alcohol consisting of ethanol and ethanol. Next, the formed granule was formed into a substantially cylindrical shape by a ship forming method, and processed into a product shape by opening a hole corresponding to the gas passage 22c (raw processing). Next, after degreasing under conditions of oxidizing atmosphere and 600 ° C. for 5 hours, firing was performed in nitrogen gas under conditions of 1860 ° C. and 6 hours. After firing, the surface of the fired product was ground and smoothed to obtain a nozzle type gas ejection head 22. For the obtained nozzle-type gas ejection head 22, the Y occupancy and the amount of particles were measured in the same manner as in Example 1. The results are shown in the table of FIG.

[実施例15]
まず、窒化アルミニウム粉末(トクヤマ社製、平均粒径1.1μm)95重量部、酸化スカンジウム(Sc23、平均粒径0.4μm)5重量部、アクリル系バインダ4重量部、1−ブタノールとエタノールとからなるアルコール53重量部を混合して顆粒を形成した。次に、形成した顆粒をシップ成形法により略円柱状に成形し、ガス通路22cに相当する孔を開けるなどして製品の形に加工した(生加工)。次に、酸化雰囲気、600℃、5時間の条件で脱脂した後、窒素ガス中、1860℃、6時間の条件で焼成した。焼成後、焼成品の表面を研削研磨して平滑化することにより、ノズル型ガス噴出ヘッド22を得た。得られたノズル型ガス噴出ヘッド22につき、実施例1と同様にしてY占有率及びパーティクル量を測定した。その結果を図4の表に示す。
[Example 15]
First, 95 parts by weight of aluminum nitride powder (manufactured by Tokuyama Corporation, average particle size 1.1 μm), 5 parts by weight of scandium oxide (Sc 2 O 3 , average particle size 0.4 μm), 4 parts by weight of acrylic binder, 1-butanol Granules were formed by mixing 53 parts by weight of alcohol consisting of ethanol and ethanol. Next, the formed granule was formed into a substantially cylindrical shape by a ship forming method, and processed into a product shape by opening a hole corresponding to the gas passage 22c (raw processing). Next, after degreasing under conditions of oxidizing atmosphere and 600 ° C. for 5 hours, firing was performed in nitrogen gas under conditions of 1860 ° C. and 6 hours. After firing, the surface of the fired product was ground and smoothed to obtain a nozzle type gas ejection head 22. For the obtained nozzle-type gas ejection head 22, the Y occupancy and the amount of particles were measured in the same manner as in Example 1. The results are shown in the table of FIG.

[比較例1]
まず、酸化アルミニウム粉末(平均粒径2.3μm)100重量部、アクリル系バインダ4重量部、1−ブタノールとエタノールとからなるアルコール53重量部を混合して顆粒を形成した。次に、形成した顆粒をシップ成形法により略円柱状に成形し、ガス通路22cに相当する孔を開けるなどして製品の形に加工した(生加工)。次に、酸化雰囲気、600℃、5時間の条件で脱脂した後、窒素ガス中、1900℃、8時間の条件で焼成した。焼成後、焼成品の表面を研削研磨して平滑化することにより、ノズル型ガス噴出ヘッド22を得た。得られたノズル型ガス噴出ヘッド22につき、実施例1と同様にしてY占有率及びパーティクル量を測定した。その結果を図4の表に示す。
[Comparative Example 1]
First, 100 parts by weight of aluminum oxide powder (average particle size 2.3 μm), 4 parts by weight of an acrylic binder, and 53 parts by weight of alcohol composed of 1-butanol and ethanol were mixed to form granules. Next, the formed granule was formed into a substantially cylindrical shape by a ship forming method, and processed into a product shape by opening a hole corresponding to the gas passage 22c (raw processing). Next, after degreasing under conditions of oxidizing atmosphere and 600 ° C. for 5 hours, firing was performed in nitrogen gas at 1900 ° C. for 8 hours. After firing, the surface of the fired product was ground and smoothed to obtain a nozzle type gas ejection head 22. For the obtained nozzle-type gas ejection head 22, the Y occupancy and the amount of particles were measured in the same manner as in Example 1. The results are shown in the table of FIG.

[実験結果]
図4から明らかなように、比較例1のアルミナセラミックからなるガス噴出ヘッドに比べて、実施例1〜15の窒化アルミニウムを主成分とし希土類化合物を含有するセラミックからなるガス噴出ヘッドは、いずれも1000時間プラズマ耐久試験後のパーティクル量が抑制された。また、実施例1〜15のガス噴出ヘッドにつき、ヘッド表面のSEM写真を撮影したところ、図5と同様、窒化アルミニウムの粒界の少なくとも一部が希土類化合物により覆われていた。但し、実施例13以外は希土類化合物がヘッド表面に散在していたが(図5参照)、実施例13では希土類化合物がヘッド表面に散在せず塊状になった。また、実施例1〜12のガス噴出ヘッドにつき、パーティクル量が少なかったものから順に並べると、Y占有率が60%以上のもの(実施例3,4,7)、Y占有率が30%以上60%未満のもの(実施例2,6,8,9)、Y占有率が30%未満のもの(実施例1,5,10〜12)という順序になった。また、焼成後平滑化したガス噴出ヘッドは、焼成後平滑化しなかったガス噴出ヘッドに比べてパーティクル量が多かった(実施例2,3と実施例11,12とを対比)。また、焼成後平滑化してからアニール化したガス噴出ヘッドは、焼成後平滑化してからアニール化しなかったガス噴出ヘッドに比べてパーティクル量が少ない傾向が見られた(実施例6,7と実施例11,12とを対比)。また、焼成後化学エッチングを施したガス噴出ヘッドは、焼成後化学エッチングを施さなかったガス噴出ヘッドに比べてY占有率、パーティクル量とも大きく劣化しなかった(実施例2,3と実施例8,9とを対比)。また、1800℃以下で焼成したガス噴出ヘッドは、1800〜1900℃で焼成したガス噴出ヘッドに比べてY占有率、パーティクル量とも劣っていた(実施例1と実施例2とを対比)。また、イットリアの重量%を増やすにつれてY占有率が増加すると共にパーティクル量が減少する傾向が見られた(実施例2〜4)。
[Experimental result]
As is clear from FIG. 4, compared to the gas ejection head made of alumina ceramic of Comparative Example 1, each of the gas ejection heads made of ceramics mainly containing aluminum nitride and containing a rare earth compound in Examples 1 to 15 was used. The amount of particles after the 1000 hour plasma durability test was suppressed. Further, when SEM photographs of the head surfaces of the gas ejection heads of Examples 1 to 15 were taken, at least a part of the grain boundaries of aluminum nitride was covered with a rare earth compound as in FIG. However, although the rare earth compound was scattered on the head surface except for Example 13 (see FIG. 5), in Example 13, the rare earth compound was not scattered on the head surface and became a lump. When the gas ejection heads of Examples 1 to 12 are arranged in order from the smallest particle amount, the Y occupancy is 60% or more (Examples 3, 4, and 7), and the Y occupancy is 30% or more. The order was less than 60% (Examples 2, 6, 8, 9) and Y occupancy was less than 30% (Examples 1, 5, 10-12). Further, the gas ejection head smoothed after firing had a larger amount of particles than the gas ejection head that was not smoothed after firing (compare Examples 2 and 3 with Examples 11 and 12). Further, the gas ejection heads that were smoothed after firing and then annealed tended to have a smaller amount of particles than the gas ejection heads that were smoothed after firing and were not annealed (Examples 6 and 7 and Examples). 11 and 12). In addition, the Y occupancy and the amount of particles in the gas ejection head subjected to the chemical etching after firing were not significantly deteriorated as compared with the gas ejection head not subjected to the chemical etching after firing (Examples 2 and 3 and Example 8). , 9). Further, the gas ejection head fired at 1800 ° C. or lower was inferior in both Y occupancy and particle amount as compared with the gas ejection head fired at 1800-1900 ° C. (Comparing Example 1 and Example 2). Further, as the weight percentage of yttria was increased, the Y occupancy increased and the amount of particles decreased (Examples 2 to 4).

プラズマCVD装置10の概略説明図である。1 is a schematic explanatory diagram of a plasma CVD apparatus 10. シャワー型ガス噴出ヘッド18の説明図である。It is explanatory drawing of the shower type gas ejection head. ノズル型ガス噴出ヘッド22の説明図である。It is explanatory drawing of the nozzle type gas ejection head. 実施例の結果をまとめた表である。It is the table | surface which put together the result of the Example. ヘッド表面のSEM写真である。It is a SEM photograph of the head surface.

符号の説明Explanation of symbols

10 プラズマCVD装置、12 真空チャンバ、14 内蔵ヒータ、16 基板ホルダ、18 シャワー型ガス噴出ヘッド、18a 反応ガス入口、18b 反応ガス出口、18c ガス通路、22 ノズル型ガス噴出ヘッド、22a 反応ガス入口、22b 反応ガス出口、22c ガス通路、26 真空ポンプ、30 被処理体。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Plasma CVD apparatus, 12 Vacuum chamber, 14 Built-in heater, 16 Substrate holder, 18 Shower type gas ejection head, 18a Reaction gas inlet, 18b Reaction gas outlet, 18c Gas passage, 22 Nozzle type gas ejection head, 22a Reaction gas inlet, 22b Reaction gas outlet, 22c Gas passage, 26 Vacuum pump, 30 Object to be processed.

Claims (20)

ウェハ等の被処理体が配置されたチャンバ内に反応ガスを噴出するガス噴出ヘッドであって、
希土類化合物を含有するセラミックで形成され、ヘッド表面に前記希土類化合物が存在している、ガス噴出ヘッド。
A gas ejection head for ejecting a reaction gas into a chamber in which an object to be processed such as a wafer is disposed;
A gas ejection head formed of a ceramic containing a rare earth compound, wherein the rare earth compound is present on the head surface.
前記ヘッド表面は平滑化されておらず、該ヘッド表面に占める前記希土類化合物の割合はSEM画像に基づいて算出したときに30%以上である、請求項1に記載のガス噴出ヘッド。   The gas ejection head according to claim 1, wherein the head surface is not smoothed, and a ratio of the rare earth compound in the head surface is 30% or more when calculated based on an SEM image. 前記ヘッド表面の窒化物系セラミックの粒界の少なくとも一部を前記希土類化合物が覆っている、請求項1又は2に記載のガス噴出ヘッド。   The gas ejection head according to claim 1 or 2, wherein the rare earth compound covers at least a part of a grain boundary of the nitride ceramic on the head surface. 前記希土類化合物は前記ヘッド表面に散在している、請求項1〜3のいずれかに記載のガス噴出ヘッド。   The gas ejection head according to claim 1, wherein the rare earth compound is scattered on the head surface. 前記ヘッド表面に占める前記希土類化合物の割合はSEM画像に基づいて算出したときに60%以上である、請求項1〜4のいずれかに記載のガス噴出ヘッド。   The gas ejection head according to claim 1, wherein a ratio of the rare earth compound in the head surface is 60% or more when calculated based on an SEM image. 前記ヘッド表面に占める前記希土類化合物の割合はSEM画像に基づいて算出したときに85%以下である、請求項1〜5のいずれかに記載のガス噴出ヘッド。   The gas ejection head according to claim 1, wherein a ratio of the rare earth compound in the head surface is 85% or less when calculated based on an SEM image. 前記ヘッド表面は反応ガスを噴出するガス噴出孔の内壁表面を含む、請求項1〜6のいずれかに記載のガス噴出ヘッド。   The gas ejection head according to claim 1, wherein the head surface includes an inner wall surface of a gas ejection hole for ejecting a reactive gas. 前記希土類化合物はスカンジウム化合物、イットリウム化合物及びセリウム化合物からなる群より選ばれた化合物である、請求項1〜7のいずれかに記載のガス噴出ヘッド。   The gas ejection head according to claim 1, wherein the rare earth compound is a compound selected from the group consisting of a scandium compound, an yttrium compound, and a cerium compound. 前記セラミックは窒化物系セラミックである、請求項1〜8のいずれかに記載のガス噴出ヘッド。   The gas ejection head according to claim 1, wherein the ceramic is a nitride-based ceramic. 前記セラミックは窒化アルミニウムである、請求項9に記載のガス噴出ヘッド。   The gas ejection head according to claim 9, wherein the ceramic is aluminum nitride. ウェハ等の被処理体が配置されたチャンバ内に反応ガスを噴出するガス噴出ヘッドの製法であって、
セラミック原料に対して希土類酸化物を1〜10重量%混合して所定のヘッド形状に成形したあと1800〜1900℃で2〜10時間焼成する、ガス噴出ヘッドの製法。
A method for producing a gas ejection head for ejecting a reaction gas into a chamber in which a target object such as a wafer is disposed,
A method for producing a gas jet head, wherein 1 to 10% by weight of a rare earth oxide is mixed with a ceramic raw material and formed into a predetermined head shape, followed by firing at 1800 to 1900 ° C. for 2 to 10 hours.
前記希土類化合物はスカンジウム化合物、イットリウム化合物及びセリウム化合物からなる群より選ばれた化合物である、請求項11に記載のガス噴出ヘッドの製法。   The method for producing a gas ejection head according to claim 11, wherein the rare earth compound is a compound selected from the group consisting of a scandium compound, an yttrium compound, and a cerium compound. 前記セラミック原料は窒化物系セラミック原料である、請求項11又は12に記載のガス噴出ヘッドの製法。   The method for producing a gas ejection head according to claim 11 or 12, wherein the ceramic raw material is a nitride ceramic raw material. 焼成後表面を平滑化することなくガス噴出ヘッドを得る、請求項11〜13のいずれかに記載のガス噴出ヘッドの製法。   The method for producing a gas ejection head according to claim 11, wherein the gas ejection head is obtained without smoothing the surface after firing. 請求項1〜10のいずれかに記載のガス噴出ヘッドを備えた半導体製造装置。   The semiconductor manufacturing apparatus provided with the gas ejection head in any one of Claims 1-10. 希土類化合物を含有するセラミックで形成され、表面に前記希土類化合物が存在している、耐食性材料。   A corrosion-resistant material formed of a ceramic containing a rare earth compound and having the rare earth compound on the surface. 前記希土類化合物が前記表面に散在している、請求項16に記載の耐食性材料。   The corrosion-resistant material according to claim 16, wherein the rare earth compound is scattered on the surface. 前記表面のセラミックの粒界の少なくとも一部を前記希土類化合物が覆っている、請求項16又は17に記載の耐食性材料。   The corrosion-resistant material according to claim 16 or 17, wherein the rare earth compound covers at least a part of the ceramic grain boundary on the surface. 前記希土類化合物はスカンジウム化合物、イットリウム化合物及びセリウム化合物からなる群より選ばれた化合物である、請求項16〜18のいずれかに記載の耐食性材料。   The corrosion-resistant material according to any one of claims 16 to 18, wherein the rare earth compound is a compound selected from the group consisting of a scandium compound, an yttrium compound, and a cerium compound. 前記セラミックは窒化物系セラミックである、請求項16〜19のいずれかに記載の耐食性材料。   The corrosion-resistant material according to any one of claims 16 to 19, wherein the ceramic is a nitride-based ceramic.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008013399A (en) * 2006-07-05 2008-01-24 Kyocera Corp Aluminum nitride based sintered compact and gas nozzle using the same
WO2009031413A1 (en) * 2007-09-06 2009-03-12 Tokyo Electron Limited Top panel and plasma processing apparatus using the same
KR100917118B1 (en) * 2005-10-24 2009-09-11 주식회사 코미코 Gas injector and apparatus of manufacturing a semiconductor device having the same
WO2015037508A1 (en) * 2013-09-11 2015-03-19 東京エレクトロン株式会社 Plasma processing device

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1180925A (en) * 1997-07-15 1999-03-26 Ngk Insulators Ltd Corrosion resistant member, wafer mounting member, and manufacture of corrosion resistant member
JP2001044179A (en) * 1999-07-30 2001-02-16 Kyocera Corp Constituent member of chamber for manufacture of semiconductor
JP2001181042A (en) * 1999-12-27 2001-07-03 Kyocera Corp Corrosion-resistant ceramic member and method for producing the same
JP2001274103A (en) * 2000-01-20 2001-10-05 Sumitomo Electric Ind Ltd Gas shower member for semiconductor manufacturing apparatus
JP2001308011A (en) * 2000-04-18 2001-11-02 Ngk Insulators Ltd Chamber member for semiconductor manufacturing apparatus
WO2002053799A1 (en) * 2000-12-29 2002-07-11 Lam Research Corporation Boron nitride/yttria composite components of semiconductor processing equipment and method of manufacturing thereof
JP2003133237A (en) * 2001-10-26 2003-05-09 Kyocera Corp Shower plate
JP2003168724A (en) * 2001-09-20 2003-06-13 Ibiden Co Ltd Ceramic board used for semiconductor manufacturing/ checking device and its manufacturing method

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1180925A (en) * 1997-07-15 1999-03-26 Ngk Insulators Ltd Corrosion resistant member, wafer mounting member, and manufacture of corrosion resistant member
JP2001044179A (en) * 1999-07-30 2001-02-16 Kyocera Corp Constituent member of chamber for manufacture of semiconductor
JP2001181042A (en) * 1999-12-27 2001-07-03 Kyocera Corp Corrosion-resistant ceramic member and method for producing the same
JP2001274103A (en) * 2000-01-20 2001-10-05 Sumitomo Electric Ind Ltd Gas shower member for semiconductor manufacturing apparatus
JP2001308011A (en) * 2000-04-18 2001-11-02 Ngk Insulators Ltd Chamber member for semiconductor manufacturing apparatus
WO2002053799A1 (en) * 2000-12-29 2002-07-11 Lam Research Corporation Boron nitride/yttria composite components of semiconductor processing equipment and method of manufacturing thereof
JP2003168724A (en) * 2001-09-20 2003-06-13 Ibiden Co Ltd Ceramic board used for semiconductor manufacturing/ checking device and its manufacturing method
JP2003133237A (en) * 2001-10-26 2003-05-09 Kyocera Corp Shower plate

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100917118B1 (en) * 2005-10-24 2009-09-11 주식회사 코미코 Gas injector and apparatus of manufacturing a semiconductor device having the same
JP2008013399A (en) * 2006-07-05 2008-01-24 Kyocera Corp Aluminum nitride based sintered compact and gas nozzle using the same
WO2009031413A1 (en) * 2007-09-06 2009-03-12 Tokyo Electron Limited Top panel and plasma processing apparatus using the same
JP2009064988A (en) * 2007-09-06 2009-03-26 Tokyo Electron Ltd Top panel structure, and plasma processing apparatus using the same
CN101796615B (en) * 2007-09-06 2012-03-21 东京毅力科创株式会社 Top panel and plasma processing apparatus using the same
TWI391998B (en) * 2007-09-06 2013-04-01 Tokyo Electron Ltd Top panel and plasma processing device using the same
WO2015037508A1 (en) * 2013-09-11 2015-03-19 東京エレクトロン株式会社 Plasma processing device
JP2015079735A (en) * 2013-09-11 2015-04-23 東京エレクトロン株式会社 Plasma processing device
CN105531800A (en) * 2013-09-11 2016-04-27 东京毅力科创株式会社 Plasma processing device
TWI643236B (en) * 2013-09-11 2018-12-01 日商東京威力科創股份有限公司 Plasma processing device

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