JP2005122735A - ナチュラルライティング環境における物体のリアルタイムのリライティングに対する堅牢なサンプリングのためのシステムおよび方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 本発明は、表面のメッシュおよびメッシュの再分割した面にわたってPRT信号を計算し、伝達信号の空間的変動が表面上の何処においても十分に処理されるように表面の頂点の数を増やすアルゴリズムを用いる、強化されたPRTシステムを対象にする。このシステムの方法は、全表面にわたって放射輝度伝達シェーディングが十分な精度の色を実現することを保証する。ある実施形態において、伝達は、表面の頂点においてのみ計算される。さらに、この方法は、エイリアシングの最小化中、所望の適切な解像度に対し伝達信号を測定する空間的な、および密度のサンプリング技術を備える。計算されると、信号は、可能な限り簡潔に表現され、ストレージおよびランタイム計算要件を最小限にする。
【選択図】 図1
Description
本発明の多数の実施形態は、コンピュータ上で実行することができる。図1および後述の議論は、本発明が実装される適当なコンピューティング環境の簡潔で一般的な説明を提供することを意図される。必須ではないが、本発明は、クライアントワークステーションまたはサーバなどのコンピュータによって実行されているプログラムモジュールなどのコンピュータ実行可能な命令の一般的状況において説明される。一般に、特定のタスクを実行する、または特定の抽象データ型を実施するプログラムモジュールは、ルーチン、プログラム、オブジェクト、コンポーネント、データ構造などを含む。さらに、当業者は、本発明をハンドヘルド装置、マルチプロセッサシステム、マイクロプロセッサベースのまたはプログラム可能な家電製品、ネットワークPC、ミニコンピュータ、メインフレームコンピュータなどを含む他のコンピュータシステム構成と共に実施することができることを理解されたい。本発明は、タスクが通信ネットワークを介しリンクされるリモート処理装置によって実行される分散型コンピューティング環境においても実施されることができる。分散型コンピューティング環境において、プログラムモジュールは、ローカルおよびリモートメモリ記憶装置の両方に配置されることができる。
図2は、典型的なコンピュータグラフィクスサブシステム200を示したブロック図である。サブシステム200は、次にオンチップL1キャッシュ(図示せず)を有し、さらに直接L2キャッシュ212に接続されたコアプロセッサ214を備えたCPU 21'を備える。CPU 21'のL1キャッシュ(図示せず)は、通常マイクロプロセッサチップ自体に形成される。例えば、Intel MMX(登録商標)マイクロプロセッサは、32KBL1キャッシュを搭載している。一方、L2キャッシュ212は、通常別のチップ(または場合により拡張カード)上にあるが、それでもRAMより素早くアクセスすることが可能であり、通常L1キャッシュよりも大きい。例えば、1メガバイトは、L2キャッシュに対する共通のサイズである。当業者によってよく理解されているように、キャッシュメモリ内のデータおよび命令にアクセスするCPU 21'は、ランダムアクセスメモリ(RAM25、図1参照)におけるデータおよび命令にアクセスするよりもさらにより効率的であり、ひいてはCPUは、キャッシュのないGPUに対し大きな性能向上を達成することが可能である。
システムメモリRAM25'は、オペレーティングシステム35'、ビデオドライバ224、ビデオメモリサーフェース(VMSs)223、およびビデオシャドーメモリ(VSM)222を備えることができる。VSMは、CPU21'が(CPUの方法におけるCIsを含む)グラフィック画像を構成し、および修正し、CPU21'がレンダリングされたグラフィック画像を、AGP230を介してグラフィクスカード240のフレームバッファ246にコピーするRAM25'内の場所である。CPUの方法において、VMSsは、特にGOsを格納し、および/またはPOs(またはこの一部)を格納する/再格納するCPU21'により用いられることができるグラフィクスデータを一時的に格納するCPU21'によって用いられるRAMの追加の領域である。
本発明の様々な実施形態は、PRTシステム、つまり、メッシュの面を分割し、伝達信号の空間的変動が表面のどの場所でも十分に処理されるように表面の頂点の数を増やす、表面メッシュ上のPRT信号を計算するためのアルゴリズムを利用するコンピュータシステムを対象とする。この方法は、輝度伝達シェーディングが全表面にわたって十分に正確な色を実現することを可能にする。ある実施形態において、伝達は、テッセレーションが粗過ぎる領域における表面ライティングの細部の一定量の許容可能なエイリアシングおよびぼかしを生じさせるが、表面の頂点においてのみ計算される。
本明細書において説明される様々なシステム、方法および技術は、ハードウェアまたはソフトウェアを伴い、またはその両方の適切な組み合わせを伴い実施することができる。従って、本発明の方法および装置、またはそれらの特定の態様ならびに一部は、フロッピー(登録商標)ディスク、CD-ROM、ハードドライブ、または任意の他のマシン‐読取り可能な記憶媒体などの有形の媒体において実施されるプログラムコード(例えば、命令)の形を取る。プログラムコードがコンピュータのようなマシンにロードされ、および実行されるとき、マシンは、本発明を実施するための装置になる。プログラム可能なコンピュータ上でのプログラムコードを実行する場合、コンピュータは、一般にプロセッサ、プロセッサによって読取り可能な記憶媒体(揮発性および不揮発性メモリおよび/またはストレージ要素)、少なくとも1つの入力装置、および少なくとも1つの出力装置を含む。1つまたは複数のプログラムは、コンピュータシステムとやりとりする高水準の手続き型プログラミング言語またはオブジェクト指向プログラミング言語において好ましくは実装される。しかし、必要ならば、プログラムを、アッセンブリー言語または機械語において実装することが可能である。いかなる場合においても、言語は、コンパイル済みまたはインタープリタ型言語であってもよく、ハードウェア実装と組み合わされることもできる。
200 コンピュータグラフィクスサブシステム
23' PCIバス
Claims (32)
- トライアングルのテッセレーションを含む計算済み放射輝度伝達(PRT)メッシュを強化するための方法であって、前記トライアングルは、頂点およびエッジを含み、前記方法は、前記メッシュにおいて、すべてのトライアングルではないが、少なくとも1つのトライアングルを、少なくとも2つまたはそれよりも多くのトライアングルにそれぞれ分割するステップを備えたことを特徴とする方法。
- 少なくとも1つのトライアングルの前記分割は、少なくとも1つのエッジを分割するステップと、少なくとも1つの新しい頂点および前記トライアングルに対し、前記頂点から伸びる少なくとも1つの新しいエッジを作成するステップとを含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 各エッジの各頂点および各中点におけるPRTベクトルをサンプリングし、ならびに各前記エッジに対応する各前記中点に対する前記PRTベクトルおよび各頂点に対する前記PRTベクトルに基づき、各エッジの各中点におけるエラーを計算するステップと、
予め定められた許容誤差値よりも大きい中点におけるエラーを有する各エッジ(「印を付けられたエッジ」)に対し、そのエッジに対する前記トライアングルを
前記印を付けられたエッジを、前記エッジに対する中点に新しい頂点を含む2つの新しいエッジ(「分割されたエッジ」)に分割し、および
前記新しい頂点と前記エッジ上にない頂点との間に新しいエッジを作成し、前記エッジが前記2つの新しいトライアングルに共通する(「共通のエッジ」)ようにして、少なくとも2つの新しいトライアングルに分割するステップとをさらに備えることを特徴とする請求項2に記載の方法。 - 分割されたエッジおよび共通のエッジを含む各新しいエッジに対し、このような作成された新しいエッジ(以後、各「エッジ」)ごとに
各エッジの中点ごとにPRTベクトルをサンプリングし、ならびに前記各エッジに対応する各前記中点に対する前記PRTベクトルおよび各頂点に対する前記PRTベクトルに基づいた各エッジの各中点におけるエラーを計算するステップと、
前記予め定められた許容誤差値よりも大きい中点におけるエラーを有する各エッジ(「印を付けられたエッジ」)に対して、そのエッジに対する前記トライアングルを
前記印を付けられたエッジを、前記エッジに対する前記中点における新しい頂点を有する2つの新しいエッジに分割し、および
前記新しい頂点と前記エッジ上にない頂点との間に新しいエッジを作成し、前記エッジが前記2つの新しいトライアングルに共通する(各「共通のエッジ」)ようにして、少なくとも2つの新しいトライアングルに分割するステップとを再帰的に実行するステップをさらに備え、
前記ステップは、(a)再帰的な反復の前に新しいエッジが作成されなくなるか、または(b)予め定められた反復の回数が実行されるまで再帰的に実行されることを特徴とする請求項3に記載の方法。 - 前記予め定められた許容誤差値よりも大きい中点におけるエラーを有する1つのエッジから成るトライアングルは、少なくとも2つの新しいトライアングルに分割されることを特徴とする請求項4に記載の方法。
- 前記予め定められた許容誤差値よりも大きい中点におけるエラーを有する2つのエッジから成るトライアングルは、3つの新しいトライアングルに分割されることを特徴とする請求項4に記載の方法。
- 前記予め定められた許容誤差値よりも大きい中点におけるエラーを有する3つのエッジから成るトライアングルは、4つの新しいトライアングルに分割されることを特徴とする請求項4に記載の方法。
- 各エッジの各頂点および各中点におけるPRTベクトルをサンプリングし、ならびに各前記エッジに対応する各前記中点に対する前記PRTベクトルおよび各頂点に対する前記PRTベクトルに基づく各エッジの各中点におけるエラーを計算するステップと、
予め定められた許容誤差値よりも大きい中点におけるエラーを有する少なくとも1つのエラーを含む各トライアングルに対し、前記トライアングルを、
前記トライアングルの各エッジを前記そのようなエッジに対する前記中点に新しい頂点を有する2つの新しいエッジ(「分割されたエッジ」)に分割し、および
新しい頂点の各対の間に新しいエッジ(各「共通のエッジ」)を作成して4つの新しいトライアングルに分割するステップとをさらに備えることを特徴とする請求項2に記載の方法。 - 分割されたエッジおよび共通のエッジを含む各新しいエッジに対し、このような作成された新しいエッジ(以後、各「エッジ」)ごとに
各エッジにおけるPRTベクトルをサンプリングし、ならびに各前記エッジに対応する各前記中点に対する前記PRTベクトルおよび各頂点に対する前記PRTベクトルに基づく各エッジの各中点におけるエラーを計算するステップと、
予め定められた許容誤差値よりも大きい中点におけるエラーを有する少なくとも1つのエッジを含む各トライアングルに対し、前記トライアングルを
各エッジを前記このようなエッジに対し前記中点における新しい頂点を有する2つの新しいエッジに分割し、および
新しい頂点の各対の間に新しいエッジを作成して、4つの新しいトライアングルに分割するステップとを再帰的に実行するステップとをさらに備え、
前記ステップ群は、(a)再帰的な反復の前に新しいエッジが作成されなくなるか、または(b)予め定められた反復の回数が実行されるまで再帰的に実行されることを特徴とする請求項8に記載の方法。 - トライアングルのテッセレーションを含む計算済み放射輝度伝達(PRT)メッシュを強化するためのシステムであって、前記トライアングルは、頂点およびエッジを含み、前記システムは、前記メッシュにおいて、すべてのトライアングルではないが、少なくとも1つのトライアングルを、少なくとも2つまたはそれよりも多くのトライアングルにそれぞれ分割するためのサブシステムを備えることを特徴とするシステム。
- 前記メッシュにおいて少なくとも1つのトライアングルを分割するための前記サブシステムは、少なくとも1つのエッジを分割し、ならびに少なくとも1つの新しい頂点および前記頂点から伸びる少なくとも1つの新しいエッジを作成するためのサブシステムを含むことを特徴とする請求項10に記載のシステム。
- 各エッジの各頂点および各中点におけるPRTベクトルをサンプリングするためのサブシステムと、
前記各エッジに対応する各前記中点に対する前記PRTベクトルおよび各頂点に対する前記PRTベクトルに基づく各エッジの各中点におけるエラーを計算するためのサブシステムと、
印を付けられたエッジ、すなわち、予め定められた許容誤差値よりも大きい中点におけるエラーを有するエッジを、前記エッジに対する中点における新しい頂点を有する2つの新しいエッジ(各「分割されたエッジ」)に分割するためのサブシステムと、
前記新しい頂点と前記エッジ上にない頂点との間に新しいエッジを作成し、それにより前記エッジが前記2つの新しいトライアングルに共通する(各「共通のエッジ」)ためのサブシステムとをさらに備えたことを特徴とする請求項11に記載のシステム。 - 分割されたエッジおよび共通のエッジを含む各新しいエッジに対し、このような新しいエッジ(以後、各「エッジ」)ごとに
各エッジの中点ごとにPRTベクトルをサンプリングし、ならびに前記各エッジに対応する各前記中点に対する前記PRTベクトルおよび各頂点に対する前記PRTベクトルに基づいた各エッジの各中点におけるエラーを計算するステップと、
前記予め定められた許容誤差値よりも大きい中点におけるエラーを有する各エッジ(「印を付けられたエッジ」)に対して、そのエッジに対する前記トライアングルを
前記印を付けられたエッジを、前記エッジに対する前記中点における新しい頂点を有する2つの新しいエッジ(各「分割されたエッジ」)に分割し、および
前記新しい頂点と前記エッジ上にない頂点との間に新しいエッジを作成し、前記エッジが前記2つの新しいトライアングルに共通する(各「共通のエッジ」)ようにして、少なくとも2つの新しいトライアングルに分割するステップとを再帰的に実行するサブシステムをさらに備え、
前記ステップは、(a)再帰的な反復の前に新しいエッジが作成されなくなるか、または(b)予め定められた反復の回数が実行されるまで再帰的に実行されることを特徴とする請求項12に記載のシステム。 - 前記予め定められた許容誤差値よりも大きい中点におけるエラーを有する1つのエッジから成るトライアングルは、少なくとも2つの新しいトライアングルに分割されることを特徴とする請求項13に記載のシステム。
- 前記予め定められた許容誤差値よりも大きい中点におけるエラーを有する2つのエッジから成るトライアングルは、3つの新しいトライアングルに分割されることを特徴とする請求項13に記載のシステム。
- 前記予め定められた許容誤差値よりも大きい中点におけるエラーを有する3つのエッジから成るトライアングルは、4つの新しいトライアングルに分割されることを特徴とする請求項13に記載のシステム。
- 各エッジの各頂点および各中点におけるPRTベクトルをサンプリングするためのサブシステムと、
前記各エッジに対応する各前記中点に対する前記PRTベクトルおよび各頂点に対する前記PRTベクトルに基づく各エッジの各中点におけるエラーを計算するためのサブシステムと、
予め定められた許容誤差値よりも大きい中点におけるエラーを有する少なくとも1つのエッジを有する各トライアングルを、
各エッジを前記エッジに対する前記中点における新しい頂点を有する2つの新しいエッジ(各「分割されたエッジ」)に分割し、および
新しい頂点の各対の間に新しいエッジ(各「共通のエッジ」)を作成して4つの新しいトライアングルに分割するためのサブシステムとをさらに備えることを特徴とする請求項11に記載のシステム。 - 分割されたエッジおよび共通のエッジを含む各新しいエッジに対し、このような作成された新しいエッジ(以後、各「エッジ」)を、
各エッジにおけるPRTベクトルをサンプリングし、ならびに各前記エッジに対応する各前記中点に対する前記PRTベクトルおよび各頂点に対する前記PRTベクトルに基づく各エッジの各中点におけるエラーを計算するステップと、
予め定められた許容誤差値よりも大きい中点におけるエラーを有する少なくとも1つのエッジを含む各トライアングルに対し、前記トライアングルを
各エッジを前記エッジに対する前記中点における新しい頂点を有する2つの新しいエッジに分割し、および
新しい頂点の各対の間に新しいエッジを作成して4つの新しいトライアングルに分割するステップとを再帰的に実行する新しいサブシステムをさらに備え、
前記ステップは、(a)再帰的な反復の前に新しいエッジが作成されなくなるか、または(b)予め定められた反復の回数が実行されるまで再帰的に実行されることを特徴とする請求項17に記載のシステム。 - トライアングルのテッセレーションを含む計算済み放射輝度伝達(PRT)メッシュを強化するためのコンピュータ読取り可能な命令を有するコンピュータ読取り可能な媒体であって、前記トライアングルは、頂点およびエッジを含み、前記コンピュータ読取り可能な命令は、前記メッシュにおいて、すべてのトライアングルではないが、少なくとも1つのトライアングルを、少なくとも2つまたはそれよりも多くのトライアングルにそれぞれ分割するための命令を含むことを特徴とするシステム。
- メッシュにおいて少なくとも1つのトライアングルを分割するための前記命令は、少なくとも1つのエッジを分割し、少なくとも1つの新しい頂点および前記頂点から伸びる少なくとも1つの新しいエッジを作成するための命令を含むことを特徴とする請求項19に記載のコンピュータ読取り可能な命令。
- 各エッジの各頂点および各中点におけるPRTベクトルをサンプリングし、各前記エッジに対応する各前記中点に対する前記PRTベクトルおよび各頂点に対する前記PRTベクトルに基づく各エッジの各中点におけるエラーを計算するための命令と、
予め定められた許容誤差値よりも大きな中点におけるエラーを有する各エッジ(「印を付けられたエッジ」)に対し、前記トライアングルを
前記印を付けられたエッジを、前記エッジに対する前記中点における新しい頂点を有する2つの新しいエッジ(各「分割されたエッジ」)に分割し、および
前記新しい頂点と前記エッジ上にない頂点との間に新しいエッジを作成し、前記エッジが前記2つの新しいトライアングルに共通する(各「共通のエッジ」)ようにして、少なくとも2つの新しいトライアングルに分割するための命令とをさらに備えたことを特徴とする請求項20に記載のコンピュータ読取り可能な命令。 - 分割されたエッジおよび共通のエッジを含む新しいエッジ(以後、各「エッジ」)ごとに
各エッジの中点ごとにPRTベクトルをサンプリングし、ならびに前記各エッジに対応する各前記中点に対する前記PRTベクトルおよび各頂点に対する前記PRTベクトルに基づいた各エッジの各中点におけるエラーを計算するステップと、
前記予め定められた許容誤差値よりも大きい中点におけるエラーを有する各エッジ(「印を付けられたエッジ」)に対して、そのエッジに対する前記トライアングルを
前記印を付けられたエッジを、前記エッジに対する前記中点における新しい頂点を有する2つの新しいエッジ(各「分割されたエッジ」)に分割し、および
前記新しい頂点と前記エッジ上にない頂点との間に新しいエッジを作成し、前記エッジが前記2つの新しいトライアングルに共通する(各「共通のエッジ」)ように、少なくとも2つの新しいトライアングルに分割するステップとを再帰的に実行するための命令とをさらに備え、
前記ステップは、(a)再帰的な反復の前に新しいエッジが作成されなくなるか、または(b)予め定められた反復の回数が実行されるまで再帰的に実行されることを特徴とする請求項21に記載のコンピュータ読取り可能な命令。 - トライアングルが、予め定められた許容誤差値よりも大きい中点におけるエラーを有する1つのエッジからなるとき、前記トライアングルを少なくとも2つの新しいトライアングルに分割するための命令をさらに備えたことを特徴とする請求項22に記載のコンピュータ読取り可能な命令。
- トライアングルが、予め定められた許容誤差値よりも大きい中点におけるエラーを有する2つのエッジからなるとき、前記トライアングルを3つの新しいトライアングルに分割するための命令をさらに備えたことを特徴とする請求項22に記載のコンピュータ読取り可能な命令。
- トライアングルが、予め定められた許容誤差値よりも大きい中点におけるエラーを有する3つのエッジからなるとき、前記トライアングルを4つの新しいトライアングルに分割するための命令をさらに備えたことを特徴とする請求項22に記載のコンピュータ読取り可能な命令。
- 各エッジの各頂点および各中点におけるPRTベクトルをサンプリングし、ならびに各前記エッジに対応する各前記中点に対する前記PRTベクトルおよび各頂点に対する前記PRTベクトルに基づく各エッジの各中点におけるエラーを計算するための命令と、
予め定められた許容誤差値よりも大きい中点におけるエラーを有する少なくとも1つのエラーを含む各トライアングルに対し、前記トライアングルを、
前記トライアングルの各エッジを前記そのようなエッジに対する前記中点に新しい頂点を有する2つの新しいエッジ(「分割されたエッジ」)に分割し、および
新しい頂点の各対の間に新しいエッジ(各「共通のエッジ」)を作成するように
4つの新しいトライアングルに分割するための命令とをさらに備えることを特徴とする請求項20に記載のコンピュータ読取り可能な命令。 - 分割されたエッジおよび共通のエッジを含む新しいエッジ(以後、各「エッジ」)ごとに
各エッジにおけるPRTベクトルをサンプリングし、ならびに各前記エッジに対応する各前記中点に対する前記PRTベクトルおよび各頂点に対する前記PRTベクトルに基づく各エッジの各中点におけるエラーを計算する命令と、
予め定められた許容誤差値よりも大きい中点におけるエラーを有する少なくとも1つのエッジを含む各トライアングルに対し、前記トライアングルを
各エッジを前記そのようなエッジに対する前記中点における新しい頂点を有する2つの新しいエッジに分割するステップと
新しい頂点の各対の間に新しいエッジを作成するように4つの新しいトライアングルに分割するステップとを再帰的に実行するための命令とをさらに備え、
前記ステップは、(a)再帰的な反復の前に新しいエッジが作成されなくなるか、または(b)予め定められた反復の回数が実行されるまで再帰的に実行されることを特徴とする請求項26に記載のコンピュータ読取り可能な命令。 - トライアングルのテッセレーションを含む計算済み放射輝度伝達(PRT)メッシュを強化するための手段を有するハードウェア制御装置であって、前記トライアングルは、頂点およびエッジを含み、前記ハードウェア制御装置は、前記メッシュにおいて、すべてのトライアングルではないが、少なくとも1つのエッジを分割し、ならびに少なくとも1つの新しい頂点および前記頂点から伸びる少なくとも1つの新しいエッジを作成することにより、少なくとも1つのトライアングルを、少なくとも2つまたはそれよりも多くのトライアングルにそれぞれ分割するための手段を含むことを特徴とするハードウェア制御装置。
- 各エッジの各頂点および各中点におけるPRTベクトルをサンプリングし、ならびに各前記エッジに対応する各前記中点に対する前記PRTベクトルおよび各頂点に対する前記PRTベクトルに基づく各エッジの各中点におけるエラーを計算する手段と、
予め定められた許容誤差値よりも大きい中点におけるエラーを有する各エッジ(「印を付けられたエッジ」)に対し、前記トライアングルを
印を付けられたエッジを前記エッジに対する前記中点における新しい頂点を有する2つの新しいエッジ(各「分割されたエッジ」)に分割し、および
前記新しい頂点と前記エッジ上にない頂点との間に新しいエッジを作成し、前記エッジが前記2つの新しいトライアングル(各「共通のエッジ」)に共通するようにして、少なくとも2つの新しいトライアングルに分割する手段とをさらに備えたことを特徴とする請求項28に記載のハードウェア制御装置。 - 分割されたエッジおよび共通のエッジを含む新しいエッジ(以後、各「エッジ」)ごとに
各エッジの中点ごとにPRTベクトルをサンプリングし、ならびに前記各エッジに対応する各前記中点に対する前記PRTベクトルおよび各頂点に対する前記PRTベクトルに基づいた各エッジの各中点におけるエラーを計算する手段と、
前記予め定められた許容誤差値よりも大きい中点におけるエラーを有する各エッジ(「印を付けられたエッジ」)に対して、そのエッジに対する前記トライアングルを
前記印を付けられたエッジを、前記エッジに対する前記中点における新しい頂点を有する2つの新しいエッジ(各「分割されたエッジ」)に分割するステップと、
前記新しい頂点と前記エッジ上にない頂点との間に新しいエッジを作成し、前記エッジが前記2つの新しいトライアングルに共通する(各「共通のエッジ」)ように、少なくとも2つの新しいトライアングルに分割するステップとを再帰的に実行する手段とをさらに備え、
前記ステップ群は、(a)再帰的な反復の前に新しいエッジが作成されなくなるか、または(b)予め定められた反復の回数が実行されるまで再帰的に実行されることを特徴とする請求項29に記載のハードウェア制御装置。 - 各エッジの各頂点および各中点におけるPRTベクトルをサンプリングし、および各前記エッジに対応する各前記中点に対する前記PRTベクトルおよび各頂点に対する前記PRTベクトルに基づく各エッジの各中点におけるエラーを計算する手段と、
予め定められた許容誤差値より大きい中点におけるエラーを有する少なくとも1つのエッジ(「印を付けられたエッジ」)を含む各トライアングルに対し、前記トライアングルを
前記トライアングルの各エッジを、前記このようなエッジに対する前記中点における新しい頂点を有する2つの新しいエッジ(各「分割されたエッジ」)に分割し、および
新しい頂点の各対の間に新しいエッジを作成して4つの新しいトライアングルに分割する手段とをさらに備えたことを特徴とする請求項28に記載のハードウェア制御装置。 - 分割されたエッジおよび共通のエッジを含む作成された新しいエッジ(以後、各「エッジ」)ごとに、
各エッジにおけるPRTベクトルをサンプリングし、および各前記エッジに対応する各前記中点に対する前記PRTベクトルおよび各頂点に対する前記PRTベクトルに基づく各エッジの各中点におけるエラーを計算する手段と、
予め定められた許容誤差値よりも大きい中点におけるエラーを有する少なくとも1つのエッジを含む各エッジに対し、前記トライアングルを、
各エッジを前記このようなエッジに対する前記中点における新しい頂点を有する2つの新しいエッジに分割し、および
新しい頂点の各対の間に新しいエッジを作成して4つの新しいトライアングルに分割する手段をさらに備え、
前記ステップは、(a)再帰的な反復の前に新しいエッジが作成されなくなるか、または(b)予め定められた反復の回数が実行されるまで再帰的に実行されることを特徴とする請求項31に記載のハードウェア制御装置。
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