JP2005116217A - プラズマ制御方法、及びプラズマ制御装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 プラズマジェット発生装置11の発射口前方において、磁場発生手段12を設ける。プラズマジェット発生装置11から発射したプラズマジェットPの物理特性を、測定部13におけるセンサ131でモニタリングするとともに、その状態をCCDカメラ132で撮像し、得られたモニタリング情報及び画像情報をPID制御部14に送る。PID制御部14からは所定の制御信号が磁場発生手段12に送られ、プラズマジェットPに所定の磁場を印加して、プラズマジェットPの特性変動を抑制する。
【選択図】図1
Description
プラズマジェット発生装置の発射口前方において、磁場発生手段を設ける工程と、
前記プラズマジェット発生装置からプラズマジェットを発射させる工程と、
前記プラズマジェットの物理特性をモニタリングし、このモニタリング情報に基づいて前記磁場発生手段を制御し、前記プラズマジェットに所定の磁場を印加することにより、前記プラズマジェットの変動幅を抑制する工程と、
を具えることを特徴とする、プラズマ制御方法に関する。
プラズマジェット発生装置の発射口前方に設けられた磁場発生手段と、
前記プラズマジェット発生装置から発射されたプラズマジェットの物理特性をモニタリングするための測定手段と、
前記物理特性に関するモニタリング情報に基づいて前記磁場発生手段を制御するための制御手段と、
を具えることを特徴とする、プラズマ制御装置に関する。
本発明のその他の特徴及び利点については以下に詳述する。
図1は、本発明のプラズマ制御装置を含むプラズマ生成装置の一例を示す構成図である。図1に示すプラズマ生成装置においては、プラズマジェット発生装置11の前方において磁場発生手段12が設けられている。さらに、プラズマジェット発生装置11から発射されたプラズマジェットPの特性(物理特性及び状態特性)をモニタリングするための測定部13、及びこのモニタリング情報に基づいて磁場発生手段12を制御するためのPID制御部14が設けられている。また、プラズマジェット発生装置11における放電電流及びガス流量を制御するための操作部15及びガス流量変動バルブ16が設けられている。
12 磁場発生手段
13 測定部
14 PID制御部
15 操作部
16 流量変動バルブ
131 センサ
132 CCDカメラ
P プラズマジェット
Claims (16)
- プラズマジェット発生装置の発射口前方において、磁場発生手段を設ける工程と、
前記プラズマジェット発生装置からプラズマジェットを発射させる工程と、
前記プラズマジェットの物理特性をモニタリングし、このモニタリング情報に基づいて前記磁場発生手段を制御し、前記プラズマジェットに所定の磁場を印加することにより、前記プラズマジェットの変動幅を抑制する工程と、
を具えることを特徴とする、プラズマ制御方法。 - 前記物理特性は、前記プラズマジェットの電子温度、電子密度、ガス温度、及び放射光強度から選ばれる少なくとも一種であることを特徴とする、請求項1に記載のプラズマ制御方法。
- 前記プラズマジェット発生装置の発射口側に撮像手段を設け、前記プラズマジェットの状態を画像観察し、この画像情報に基づいて前記磁場発生手段を制御し、前記プラズマジェットに所定の磁場を印加することにより、前記プラズマジェットの変動幅を抑制する工程を具えることを特徴とする、請求項1又は2に記載のプラズマ制御方法。
- 前記画像情報は、前記プラズマジェットの中心軸位置、巾、及び長さの少なくとも一つであることを特徴とする、請求項3に記載のプラズマ制御方法。
- 前記モニタリング情報と前記画像情報とを相関させ、この相関情報に基づいて前記磁場発生手段を制御し、前記プラズマジェットに所定の磁場を印加することにより、前記プラズマジェットの変動幅を抑制することを特徴とする、請求項3又は4に記載のプラズマ制御方法。
- 前記磁場発生手段の制御はPID制御によって行うことを特徴とする、請求項1〜5のいずれか一に記載のプラズマ制御方法。
- プラズマジェット発生装置の発射口前方に磁場発生手段を設ける工程と、
前記プラズマジェット発生装置からプラズマジェットを発射させる工程と、
前記プラズマジェット発生装置の発射口側に撮像手段を設け、前記プラズマジェットの状態を画像観察し、この画像情報に基づいて前記磁場発生手段を制御し、前記プラズマジェットに所定の磁場を印加することにより、前記プラズマジェットの変動幅を抑制する工程と、
を具えることを特徴とする、プラズマ制御方法。 - 前記画像情報は、前記プラズマジェットの中心軸位置、巾、及び長さの少なくとも一つであることを特徴とする、請求項7に記載のプラズマ制御方法。
- プラズマジェット発生装置の発射口前方に設けられた磁場発生手段と、
前記プラズマジェット発生装置から発射されたプラズマジェットの物理特性をモニタリングするための測定手段と、
前記物理特性に関するモニタリング情報に基づいて前記磁場発生手段を制御するための制御手段と、
を具えることを特徴とする、プラズマ制御装置。 - 前記測定手段は、前記プラズマジェットの電子温度、電子密度、ガス温度、及び放射光強度から選ばれる少なくとも一種の物理特性をモニタリングすることを特徴とする、請求項9に記載のプラズマ制御装置。
- 前記プラズマジェット発生装置の発射口側に設けられた撮像手段を具え、前記プラズマジェットの状態を画像観察して、所定の画像情報を得ることを特徴とする、請求項9又は10に記載のプラズマジェット制御装置。
- 前記撮像手段は、前記プラズマジェットの中心軸位置、巾、及び長さの少なくとも一つの画像情報を同定することを特徴とする、請求項11に記載のプラズマ制御装置。
- 前記制御手段は、前記モニタリング情報と前記画像情報とを相関させ、この相関情報に基づいて前記磁場発生手段を制御することを特徴とする、請求項11又は12に記載のプラズマ制御装置。
- 前記制御手段はPID制御手段を含むことを特徴とする、請求項9〜13のいずれか一に記載のプラズマ制御装置。
- プラズマジェット発生装置の外周部に設けられた磁場発生手段と、
前記プラズマジェット発生装置の発射口側に設けられ、前記プラズマジェット発生装置から発射されたプラズマジェットの画像観察を行うための撮像手段と、
前記画像観察に基づく画像情報に基づいて前記磁場発生手段を制御するための制御手段と、
を具えることを特徴とする、プラズマ制御装置。 - 前記撮像手段は、前記プラズマジェットの中心軸位置、巾、及び長さの少なくとも一つの画像情報を同定することを特徴とする、請求項15に記載のプラズマ制御装置。
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