JP2005018841A - 光ヘッド装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光ヘッド装置の受光素子3では、第1および第2のサブ受光領域32、33の中心位置間の距離が第1および第2のサブビームスポット52、53の中心位置間の距離よりも長い。このため、対物レンズ45がトラッキング方向に移動すると、サブビームスポット52、53のうち、一方のサブビームスポットはサブ受光領域の中心に近づく一方、他方のサブビームスポットはサブ受光領域の中心から遠ざかり、一部がはみ出る。従って、他方のサブビームスポットに対するサブ受光領域での受光レベルが低下するので、TEオフセットを補償できる。
【選択図】 図2
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、CDやDVDなどの光記録媒体(光記録ディスク)の記録、再生に用いられる光ヘッド装置に関するものである。さらに詳しくは、3ビーム法によりトラッキングエラー検出を行う光ヘッド装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
光ヘッド装置では、レーザ光源からの出射光をCDやDVDなどの光記録ディスクに収束させる対物レンズのトラッキングエラー検出を行うため、出射光を回折格子によりメインビーム、メインビームの両側の第1および第2のサブビームとからなる3ビームに分割し、光記録ディスクで反射した3ビームを受光素子で受光し、受光素子でのサブビームの受光量の差を検出する3ビーム法を採用したものがある(例えば、特許文献1参照)。
【0003】
この3ビーム法を採用した光ヘッド装置において、受光素子では、図4(A)に示すように、メインビームスポット104、第1のサブビームスポット105、および第2のサブビームスポット106の中心位置は、それぞれメイン受光領域101、第1のサブ受光領域102、および第2のサブ受光領域103の中心位置に重なっており、この状態で、第1および第2のサブ受光領域102、103での受光量を比較することによりトラッキングエラー検出が行われる。
【0004】
ここで、対物レンズが光記録ディスクの内周側に移動すると、図4(B)に示すように、メインスポット104、第1のサブビームスポット105、および第2のサブビームスポット106は、メイン受光領域101からみて第2のサブ受光領域103が位置する側に移動する。これに対して、対物レンズが光記録ディスクの外周側に移動すると、図4(C)に示すように、メインスポット104、第1のサブビームスポット105、および第2のサブビームスポット106は、メイン受光領域101からみて第1のサブ受光領域102が位置する側に移動する。このとき、図4(B)、(C)に示すように、サブビームスポット105、106のいずれにおいても、サブ受光領域102、103の中心からのずれ具合は同等である。
【0005】
【特許文献1】
特開平9−147380
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、対物レンズを光記録ディスクの半径方向に移動させたとき、トラッキングエラーが発生していないにもかかわらず、サブ受光領域102、103での検出信号に直流電圧成分が残ってトラッキングエラーオフセット(以下、TEオフセット)が発生することがある。
【0007】
すなわち、トラッキングエラー検出では、サブ受光領域102、103での検出信号に含まれる直流電圧成分をそれぞれE、Fとしたとき、トラッキング信号TEを以下の式
TE=E−F
から求め、(E−F)が0になる方向に対物レンズを駆動する。ここで、トラッキングエラーを検出する位置では、トラッキングエラーが発生していない状態でサブ受光領域102、103での受光量に差がなく、直流電圧成分E、Fの差がない状態、すなわち、トラッキングエラー信号TEが0であることを前提としている。
【0008】
ところが、対物レンズを光記録ディスクの半径方向に移動させたときには、トラッキングエラーが発生していないにもかかわらず、サブ受光領域102、103での受光量に差が発生して、直流電圧成分E、Fの差が0以外の値、すなわち、トラッキングエラー信号TEが0以外の値となることがある。このようなトラッキングエラー信号TEの0からのオフセット量がTEオフセットである。
【0009】
このときのTEオフセット量TEOは、トラッキングエラーが発生していない状態で、以下の式
TEO=E−F
で示され、例えば、図5に示すように、対物レンズを光記録ディスクの内周側に移動させると、E>Fとなって、TEO>0となる一方、対物レンズを光記録媒体の外周側に移動させると、E<Fとなって、TEO<0となる。ここで、トラッキング補正は、(E−F)が0になる方向に対物レンズを駆動するため、TEオフセットが存在すると、オフセット分だけ対物レンズをずれた位置に駆動してしまうという誤動作が発生する。特にTEO<0となるようなTEオフセットが存在すると、光ヘッド装置のサーボシステムに破綻を来たすことがある。
【0010】
このようなTEオフセットは、光ヘッド装置における光学部品の配置状態、装置フレーム等に形成される光路の形成状態等を原因として発生していると考えられているが、明確な原因は未だ把握されていないため、現在のところ、原因を完全に除去できるまでには到っていない。
【0011】
以上の問題点に鑑みて、本発明の課題は、トラッキングエラー信号の検出に3ビーム法を採用した場合に発生するTEオフセットを確実に補償可能な光ヘッド装置を提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】
上記の課題を解決するために、本発明は、光源と、該光源からの出射光をメインビーム、および該メインビームの両側のサブビームからなる3ビームに分割する回折格子と、前記回折格子からの前記3ビームを光記録媒体に収束させる対物レンズと、前記光記録媒体で反射した前記メインビームを受光するメイン受光領域、および該メイン受光領域の両側で前記サブビームの各々を受光するサブ受光領域を備えた受光素子とを有し、前記サブ受光領域での受光量の差に基づいて前記対物レンズのトラッキング補正を行う光ヘッド装置において、前記サブビームが前記サブ受光領域に形成するサブビームスポットの中心位置間の距離と、前記サブ受光領域の中心位置間の距離は、前記対物レンズがトラッキング方向のいずれの位置にあるかによって発生するTEオフセットを補償する方にずれていることを特徴とする。
【0013】
本発明の光ヘッド装置では、サブビームスポットの中心位置間の距離と、サブ受光領域の中心位置間の距離がずれているため、対物レンズが光記録媒体に対して内周側あるいは外周側に移動したとき、一方のサブビームスポットは、サブ受光領域の中心から遠ざかる一方、その結果、他方のサブビームスポットは、サブ受光領域の中心に近づく。従って、他方のサブビームスポットに対するサブ受光領域での受光レベルが低下するので、TEオフセットを補償することができる。
【0014】
本発明においては、例えば、前記対物レンズがトラッキング方向に移動することによって、前記サブビームスポットの一方は、スポットの一部がサブ受光領域から外れることにより、前記トラッキングエラーオフセットが補償される構成を採用することができる。
【0015】
本発明においては、また、前記対物レンズがトラッキング方向のいずれの位置にあっても、前記サブビームスポットの双方がサブ受光領域内に位置する一方、前記対物レンズがトラッキング方向に移動することによって、前記サブビームスポットの一方は、前記サブビームの光強度の低い部分の一部がサブ受光領域から外れることにより、前記トラッキングエラーオフセットが補償される構成を採用してもよい。すなわち、ビームスポットは、通常、受光素子上では回折格子、対物レンズ等を絞り部材として絞られた光の周辺光に相当する領域として規定されており、このように定義されたスポットがサブ受光領域から外れなくても、絞り部材の回折による影響でスポットの周辺に回り込んだ光の一部がサブ受光領域から外れることにより、前記TEオフセットが補償される構成であってもよい。
【0016】
【発明の実施の形態】
以下に、図面を参照して本発明を適用した光ヘッド装置の一例を説明する。
【0017】
(全体構成)
図1は、本発明を適用した光ヘッド装置の光学系を示す概略構成図である。図1に示すように、光ヘッド装置1は、CDやDVDなどの光記録ディスク5(光記録媒体)に対して情報の再生、記録を行うものであり、レーザ光源2と、受光素子3と、レーザ光源2から出射されたレーザ光Lを光記録ディスク5に収束させるとともに、光記録ディスク5で反射した戻り光LRを受光素子3に導く光学系4とを有している。
【0018】
光学系4には、互いに直交する座標軸をX軸、Y軸、Z軸としたときに、レーザ光源2からY軸方向に出射されたレーザ光Lをトラッキング検出用に3ビームに回折する回折格子41と、回折格子41により3ビームに分離したレーザ光LをX軸方向に反射するハーフミラー42と、ハーフミラー42からのレーザ光をZ軸方向に立ち上げる全反射ミラー43と、全反射ミラー43からのレーザ光Lを平行光にするコリメートレンズ44と、平行光を光記録ディスク5の記録面に収束させる対物レンズ45とが含まれている。
【0019】
また、光学系4は、光記録ディスク5の記録面で反射した後、光路を逆に辿って、ハーフミラー42を通過した戻り光LRに非点収差を発生させる非点収差生成レンズ46と、非点収差生成レンズ46を通過した戻り光LRを検出する受光素子3とを有している。非点収差生成レンズ46は、非点収差法により対物レンズ45をZ軸方向にフォーカシング補正を行うため戻り光LRに非点収差を発生させるものである。なお、戻り光LRには、ハーフミラー42を通過することによっても非点収差が発生するので、非点収差生成レンズ46を用いなくても、非点収差法による対物レンズ45のフォーカシング補正は可能である。
【0020】
このように構成された光ヘッド装置1では、レーザ光源2からのレーザ光Lを回折格子41によりメインビームと、メインビームの両側の第1および第2のサブビームとに分割して光記録ディスク5に導き、光記録ディスク5で反射した戻り光LRを受光素子3で受光し、戻り光LRのメインビームにより、光記録ディスク5の情報再生が行われる。
【0021】
また、戻り光LRの第1および第2のサブビームによって対物レンズ45を光記録ディスク5の半径方向に微小移動させる、3ビーム法によるトラッキングエラー補正が行われる。
【0022】
(受光素子に対するビームスポット位置)
図2(A)、(B)、(C)は、図1に示す光ヘッド装置1における受光素子3に形成されるレーザ光のスポットを示す説明図である。
【0023】
図2(A)に示すように、受光素子3は、メインビームによるメインビームスポット51を受光するメイン受光領域31を備えているとともに、メイン受光領域31の両側には、サブビームによるサブビームスポット52、53を受光する第1および第2のサブ受光領域32、33を備えている。
【0024】
本形態では、対物レンズ45が光記録ディスクの半径方向における略中央にある状態では、メイン受光領域31の中心位置に対して、メインビームスポット51の中心位置を一致させてあるが、第1および第2のサブ受光領域32、33の中心位置間の距離と、第1および第2のサブビームスポット52、53の中心位置間の距離を相違させ、TEオフセットを補償している。すなわち、本形態では、第1および第2のサブ受光領域32、33の中心位置間の距離を、第1および第2のサブビームスポット52、53の中心位置間の距離よりも長くしてあるため、対物レンズ45が光記録ディスクの半径方向における略中央にある状態で、第1のサブビームスポット52の中心位置は、第1のサブ受光領域32の中心位置よりもメイン受光領域31の方にずれており、第2のサブビームスポット53の中心位置も、第2のサブ受光領域33の中心位置よりもメイン受光領域31の方にずれている。
【0025】
このため、対物レンズ45を光記録ディスク5の半径方向における内周側に移動させると、図2(B)に示すように、第1のサブビームスポット52の中心位置は、第1のサブ受光領域32の中心位置から遠ざかる一方、第2のサブビームスポット53の中心位置は第2のサブ受光領域33の中心位置に近づく。従って、第1のサブビームスポット52は、一部が第1のサブ受光領域32からずれる分だけ、第1のサブ受光領域32における受光量が低下する。
【0026】
それ故、トラッキングエラーが発生していない状態で、サブ受光領域52、53での検出信号をそれぞれE、Fとしたとき、TEオフセット量TEOは、以下の式
TEO=E−F
で表わされるが、対物レンズ45を光記録ディスク5の半径方向における内周側に移動させるとき、第1のサブ受光領域32での検出信号に含まれる直流電圧成分Eのレベルを低減しておけるので、対物レンズ45を光記録ディスク5の内周側に移動させるときに発生するTEオフセット(図5を参照)を補償することができる。
【0027】
これに対して、対物レンズ45を光記録ディスク5の半径方向における外周側に移動させると、図2(C)に示すように、第2のサブビームスポット53の中心位置は、第2のサブ受光領域33の中心位置から遠ざかる一方、第1のサブビームスポット52の中心位置は第1のサブ受光領域32の中心位置に近づく。従って、第2のサブビームスポット53は、一部が第2のサブ受光領域33からずれる分だけ、第2のサブ受光領域33における受光量が低下する。
【0028】
それ故、対物レンズ45を光記録ディスク5の半径方向における外周側に移動させるとき、第2のサブ受光領域33での検出信号に含まれる直流電圧成分Fのレベルを低減しておけるので、対物レンズ45を光記録ディスク5の外周側に移動させるときに発生するTEオフセット(図5を参照)を補償することができる。
【0029】
このような構成は、回折格子41の仕様によって、第1および第2のサブビームスポット52、53の間隔を調整することにより実現できる。
【0030】
また、光記録ディスク5の記録面上での3ビームの間隔が予め設定されている場合には、受光素子3に形成する第1および第2のサブ受光領域32、33の間隔を調整すればよい。
【0031】
(その他の実施の形態)
上記の実施の形態において、第1および第2のサブビームスポット52、53は、対物レンズ45を移動させると、サブ受光領域32、33から内側に外れるようになっているが、光ヘッド装置1のTEオフセットのパターンによっては、図3(A)、(B)、(C)に示すように、対物レンズ45を光記録ディスク5の半径方向に移動させたときに、サブビームスポット52、53の一部がサブ受光領域32、33の外側に外れるようにしてもよい。
【0032】
また、サブビームスポット52、53は、受光素子3上では回折格子41、対物レンズ45等を絞り部材として絞られた光の周辺光に相当する領域として規定されているが、このようなサブビームスポット52、53の周囲には、光強度の低い部分が存在する。従って、対物レンズ45を移動させると、第1および第2のサブビームスポット52、53の一部がサブ受光領域32、33から外れるような構成に限らず、対物レンズ45を光記録ディスク5の半径方向に移動したとき、第1および第2のサブビームスポット52、53の双方がサブ受光領域32、33内に位置するが、絞り部材の回折による影響でサブビームスポット52、53の周辺に回り込んだ光の一部がサブ受光領域32、33から外れる構成を採用した場合も、TEオフセットを補償することができる。
【0033】
例えば、第1および第2のサブビームスポット52、53の周囲に、回折格子41あるいは対物レンズ45の有効径の外を通る光束部分(フレア)が存在している場合には、サブビームスポット52、53がサブ受光領域32、33から外れなくても、フレアがサブ受光領域32、33から外れるので、TEオフセットを補償することができる。
【0034】
また、戻り光LRには、ハーフミラー42を通過することにより、コマ収差が発生する。コマ収差が発生すると、第1および第2のサブビームスポット52、53は、円形が歪んだスポット形状になり、光量の密度が不均一になる。この光量の密度をハーフミラー42の角度によって調整すると、サブビームスポット52、53がサブ受光領域32、33から外れなくても、光強度の低い部分の一部がサブ受光領域32、33から外れることにより、TEオフセットが補償される構成であってもよい。
【0035】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の光ヘッド装置は、サブビームスポットの中心位置間の距離と、サブ受光領域の中心位置間の距離がずれているため、対物レンズが光記録媒体に対して内周側あるいは外周側に移動したとき、一方のサブビームスポットは、サブ受光領域の中心から遠ざかる一方、その結果、他方のサブビームスポットは、サブ受光領域の中心に近づく。従って、他方のサブビームスポットに対するサブ受光領域での受光レベルが低下するので、TEオフセットを補償することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用した光ヘッド装置の光学系を示す概略構成図である。
【図2】(A)、(B)、(C)は、図1に示す光ヘッド装置における受光素子に形成されるレーザ光のスポットを示す説明図である。
【図3】(A)、(B)、(C)は、図1に示す光ヘッド装置における別の受光素子に形成されるレーザ光のスポットを示す説明図である。
【図4】(A)、(B)、(C)は、従来の光ヘッド装置における受光素子に収束するレーザ光を示す説明図である。
【図5】光ヘッド装置における対物レンズのトラッキング方向の位置とTEオフセットの関係を示すグラフである。
【符号の説明】
1 光ヘッド装置
2 レーザ光源
3 受光素子
4 光学系
31 メイン受光領域
32 第1のサブ受光領域
33 第2のサブ受光領域
41 回折格子
42 ハーフミラー
43 全反射ミラー
44 コリメートレンズ
45 対物レンズ
46 非点収差レンズ
51 メインビームスポット
52 第1のサブビームスポット
53 第2のサブビームスポット
Claims (3)
- 光源と、該光源からの出射光をメインビーム、および該メインビームの両側のサブビームからなる3ビームに分割する回折格子と、前記回折格子からの前記3ビームを光記録媒体に収束させる対物レンズと、前記光記録媒体で反射した前記メインビームを受光するメイン受光領域、および該メイン受光領域の両側で前記サブビームの各々を受光するサブ受光領域を備えた受光素子とを有し、前記サブ受光領域での受光量の差に基づいて前記対物レンズのトラッキング補正を行う光ヘッド装置において、
前記サブビームが前記サブ受光領域に形成するサブビームスポットの中心位置間の距離と、前記サブ受光領域の中心位置間の距離は、前記対物レンズがトラッキング方向のいずれの位置にあるかによって発生するトラッキングエラーオフセットを補償する方にずれていることを特徴とする光ヘッド装置。 - 請求項1において、前記対物レンズがトラッキング方向に移動することによって、前記サブビームスポットの一方は、スポットの一部がサブ受光領域から外れることにより、前記トラッキングエラーオフセットが補償されていることを特徴とする光ヘッド装置。
- 請求項1において、前記対物レンズがトラッキング方向のいずれの位置にあっても、前記サブビームスポットの双方がサブ受光領域内に位置する一方、
前記対物レンズがトラッキング方向に移動することによって、前記サブビームスポットの一方は、前記サブビームの光強度の低い部分の一部がサブ受光領域から外れることにより、前記トラッキングエラーオフセットが補償されていることを特徴とする光ヘッド装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003179196A JP2005018841A (ja) | 2003-06-24 | 2003-06-24 | 光ヘッド装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003179196A JP2005018841A (ja) | 2003-06-24 | 2003-06-24 | 光ヘッド装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005018841A true JP2005018841A (ja) | 2005-01-20 |
Family
ID=34180586
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003179196A Pending JP2005018841A (ja) | 2003-06-24 | 2003-06-24 | 光ヘッド装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2005018841A (ja) |
-
2003
- 2003-06-24 JP JP2003179196A patent/JP2005018841A/ja active Pending
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