JP2005010175A - 眼レンズ検査方法 - Google Patents

Abstract

【課題】 高速であり自動化された眼レンズ検査方法を提供する。
【解決手段】 この眼レンズ検査方法では、少なくとも１つの電磁周波数において眼レンズの画像をとらえ、その画像を画素の集まりに分割し、位置の値と輝度の値とを各画素に割り当て、例えばレンズ端部を横切る経路に沿って位置の値および輝度の値を画素間で比較し、眼レンズの特徴に対応する画素のセットを特徴の特性を共有する画素を収集して特定し、その眼レンズが受け入れ可能かどうかを確認するために１セットの画素間の関係を所定の関係と比較する。
【選択図】 図４４

Description

産業上の利用分野

本発明は、眼レンズを検査する装置に関する。特に、眼レンズを検査する為の高速度、自動化装置に関する。

従来の技術

コンタクトレンズは、典型的に、高度の正確さを持って製造される。しかし、希に、特定のレンズは、なんらかの異常を持っていることがある。この為、コンタクトレンズは、消費者に販売する前に、消費者の使用に適することを確かめる為に検査される。

従来技術のレンズ検査装置の１タイプに於いては、照射ビームをレンズを透過させ、スクリーン上に焦点を結ばせて、そのスクリーン上に、レンズの画像を形成させる。操作者が、その画像を見て、そのレンズが、なんらかの異常を持っているかどうかを判断する。もし、なんらかの異常や傷が発見されて、消費者の使用に適さない場合には、そのレンズは、検査装置から取り外されるか、別の方法で、そのレンズは、消費者に販売されないものとして確認される。

この先行技術の検査装置は、非常に効果的であり信頼性がある。しかし、この装置は、比較的低速度で、かつ高価である。これは、主として、人間の操作者が、スクリーンに形成されたレンズ画像に目を集中し、画像全体をチェックして、異常を捜さなければならないからである。従って、先行技術は、改良の余地があると考えられる。特に、これらの検査を行う自動化装置を提供することによって、レンズ検査のコストを下げ、検査のスピードを向上させることが可能であると判断する。

本出願は、各々1992年12月21日同日出願の「自動的に眼レンズを検査する方法およびシステム」と称する特許文献１と、「レンズ検査装置の為の照明および画像サブシステム」と称する特許文献２と、「検査眼レンズを検査する方法」と称する特許文献３と、「眼レンズを搬送する装置」と称する特許文献４とに関係している。

米国特許出願番号９９５２８１号 米国特許出願番号９９４５６５号 米国出願番号９９５６５４号 米国出願番号９９５６２２号

本発明の課題は、眼レンズを検査する為の装置を改良することである。

本発明の別の課題は、眼レンズを検査する為の高速度、自動化装置を提供することである。

本発明の更に別の課題は、よく画定されたレンズ検査位置に自動的に眼レンズを位置づけ、そのレンズに、自動的に光パルスを透過させ、画素アレイすなわち光センサアレイ上にその光パルスの選択された部分の焦点を結ばせ、レンズが、消費者の使用に適当でない異常を保持しているかどうかを判断する為に、その画素アレイからの信号を自動的に処理することである。

これらの課題は、多くの眼レンズを所定の経路に沿って移動させ、それらの眼レンズの各々を、一度に１個づつ、レンズ検査位置に移動させる搬送副装置と、一連の光パルスを生成し、それぞれの光パルスを、レンズ検査位置を通過する眼レンズを透過させる照明副装置とから構成されるレンズ検査装置によって達成される。更に、このレンズ検査装置は、眼レンズを透過させた光パルスの選択された部分を表す信号の１セットを生成する画像副装置と、その画像副装置からの信号を受信して、所定のプログラムに従ってこれらの信号を処理し、少なくとも、そのレンズ各々の１つの状態を確認する為の画像処理副装置とから構成される。

好ましくは、この画像副装置は、眼レンズの各々を透過した光パルスの選択された部分を表す信号の１セットを生成し、画像処理副装置は、レンズが消費者の使用に適しているかどうかを判断する為に、これらの信号のセットの各々を処理する。もし、そのレンズが、消費者の使用に適さないことが発見されたら、この画像処理副装置は、この発見を示す信号を生成する。

好ましくは、レンズ検査装置は、更に、照明画像副装置の動作と搬送副装置の動作を同期させる制御副装置を具備している。特に、制御副装置は、眼レンズの１個が、眼レンズ検査位置を通過する毎に、光パルスの各々を生成する為の照明副装置を稼働させる為に備えられている。

本発明の更なる利益と利点は、本発明の好適な実施例を規定し示している添付した図面を参照することによって行った以下に記述する詳細な説明の考察から明かになる。

以上説明したように、本願発明によれば、眼レンズの異常検査を自動的に行なうことが可能になり、レンズ検査のコストを下げ、検査のスピードを向上させることができる。

図１は、レンズ検査装置１０を示すブロック図である。一般的に、装置１０は、搬送副装置１２と照明装置１４と画像副装置１６と画像処理副装置２０とから構成されている。装置１０の好適な実施例では、搬送副装置１２は、レンズキャリア２２と支持アセンブリ２４（図４に表示）を有している。照明副装置１４は、ハウジング２６と光源３０と鏡３２、３４とを包含している。また、この好適な装置１０では、画像副装置１６は、カメラ３６と障害物４０とレンズアセンブリ４２を有している。

図８を参照して、更に明確に述べると、カメラは、ハウジング４４と光センサアレイとしての画素アレイ４６とシャッタ５０とを有している。レンズアセンブリは、ハウジング５２と一対のレンズ５４、５６と多数のバフル６０とを有している。図１に示す様に、画像処理副装置２０は、前処理装置６２と主処理装置６４と、キーボード６６の様な入力手段とを有している。好ましくは、副装置２０は、更に、記憶装置７０とビデオモニタ７２とキーボード端末７４とプリンタ７６を有している。

一般的に、搬送副装置１２は、多数の眼レンズを所定の経路に沿って移動させ、それらのレンズの各々を、一度に一個ずつレンズ検査位置に移動させる為に設けられていて、図１は、このレンズ検査位置にあるそのようなレンズの一つ８０を示している。

照明副装置１４は、一連の光パルスを生成し、各々一個の光パルスを光経路８２に導き、レンズ検査位置を移動する各々の眼レンズを透過させる為に備えられている。副装置１６は、眼レンズを透過した光パルスの選択された部分を表現する１組の信号を生成し、これらの信号を処理副装置２０に送信する。

画像処理副装置は、副装置１６からこれらの信号を受信して、所定のプログラムに従ってこれらの信号を処理して、検査された各々１個のレンズの少なくとも一つの状態を確認する。以下に詳細に述べる副装置２０の好ましい実施例に於いては、この副装置は、検査されたそれぞれのレンズが、消費者の使用に適合するかどうかを検査する。

装置１０は、非常に多様なタイプとサイズの眼レンズを検査する為に使用することができる。この装置は、特に、コンタクトレンズを検査するのに適しており、図２，図３（ａ）は、例えば、装置１０によって検査されるコンタクトレンズ８４を示している。レンズ８４は、一般的に言って、半球形の形状をしており、前表面８６と後表面９０を備えている。レンズは、中央の光学的領域８４ａと外部領域８４ｂを形成している。しかし、特に、図３（ｂ）に示す様に、レンズの厚みは、レンズの外側端部のすぐ隣の環８４ｃの部分では少しづつ減少している。

図４は、非常に詳細に、搬送副装置１２を図示している。上記の様に、この副装置は、好ましくは、レンズキャリア２２と支持アセンブリ２４を有している。更に、明確に述べれば、この支持アセンブリは、移動テーブル９２と、第１と第２のステップモータ９４、９６を備えていて、移動テーブルは、順番に、基礎部材１００とフレーム１０２、１０４を有している。

一般的に、レンズキャリア２２は、多数の眼レンズを保持する為に設けてあり、図５，６は、レンズキャリアを非常に詳細に図示している。これらの図に示される様に、レンズキャリアは、長方形の基礎部材１０６と、基礎部材に接続されたレンズ検査カップ１１０の配列を有している。好ましくは、円錐台の側壁１１０ａと半円形の底部部分１１０ｂとから成っていて、この底部部分は、カップの側壁と一体結合しており、その側壁から下に向かって延展している。

加えて、それぞれのカップの底部部分は、好ましくは、一定の曲率半径を有しており、その曲率半径は、カップに置かれた眼レンズ８４の曲率半径よりも約１０パーセント程大きい。底部部分１１０ｂの直径は、眼レンズの直径よりも大きい。同様に、それぞれのカップの側壁は、カップの中心軸に対して約２０度の傾斜で延展している。それぞれの側壁の厚みは、好ましくは、約０．０１０インチよりも少ない。

図５，６に図示する特別のレンズキャリア２２に関して、各々のカップ１１０の最上部の直径は、約２２ｍｍである。各々のカップの深さは、好ましくは、検査対象のレンズの直径よりも大きく、それは、例えば、コンタクトレンズの場合では、典型的に、２０ｍｍである。図５，６に示すように、レンズキャリアは、３×４列の検査カップを備えている。当業者には分かる様に、検査カップは、他の形態に配置することができ、例えば、このカップは、３×３の配列、３×８の配列、４×８の配列、３×１０の配列、又は、４×１０の配列に配置することができる。

カップ１１０及び、好ましくは、基礎部材１０６は、塩化ビニルプラスチックの様な、実質的に透明な材料から作られる。更に、好ましくは、カップ１１０と基礎部材１０６は、一体成形され、比較的薄く、製造コストを下げ、この為、実際的な課題として、キャリアは１回の使用で、使い捨てにすることが可能である。１回の使用で、キャリアを処分することによって、レンズ検査カップが再使用された時しばしば発生するカップの中の傷の形成を実質的に減少させるか、無くすことになる。
以下に説明するように、カップの傷はカップの中のレンズの欠陥として解釈されるので、容易に使い捨てにすることができる。レンズキャリアを使用することによってレンズの検査をより正確に行うことができる。

使用に際して、各々のカップ１１０には、例えば、食塩水の様な液状溶液１１２が、部分的に満たされており、それぞれ１個の眼レンズが各々のカップの底に置かれており、その中の溶液に完全に浸されている。レンズがカップの中に置かれた時、カップは、上記の、カップの形状とパラメータの為に、自動的にレンズをカップの底の中央に置く性質になっている。

再び、図４を参照すると、支持アセンブリ２４は、レンズキャリアを支持し、レンズキャリアを移動させ、カップの中のレンズの各々を、１度に１個づつ、レンズ検査位置に入れさせる様に移動させる。好ましくは、支持アセンブリ２４は、レンズキャリア２２を連続的に所定の経路に沿って移動させ、レンズ８４をスムーズに、レンズ検査位置に移動させ、そこを通過させる。

例えば、支持アセンブリは、キャリアのカップ１１０が、レンズ検査位置を、１度に１列のカップが、通り抜ける様に、レンズキャリアを移動させるごとく設計することができる。カップの各列が、レンズ検査位置を通過した後、支持アセエンブリ２４は、カップの別の列がレンズ検査位置に一致する様にキャリア２２を移動する。

図４に図示した好適な支持アセンブリ２４に関しては、移動テーブル９２のフレーム１０２は、基礎部材に支持され、その上を横方向に、図４に示す様に、左右に移動することができる。フレーム１０４は、フレーム１０２によって支持され、図４に示す様に、その上を上下に動くことができる。レンズキャリア２２は、フレーム１０４上に支持され、そのフレームと共に動くことができる。ステップモータ９４は、基礎部材１００上に設置され、フレーム１０２に接続されていて、基礎部材を横切るようにフレーム１０２を移動させる。ステップモータ９６は、フレーム１０２に設置されていて、フレーム１０４に接続されており、このフレーム１０４を移動させる。

どんな形状でも適したものであれば、フレーム１０２、１０４とステップモータ９４、９６は、支持アセンブリ２４で使用できる。更に、当業者には理解される様に、その他の適する様々な支持アセンブリが公知で、レンズキャリア２４を、希望する方法で移動させるのに使用することができる。

再び、図１を参照すると、副装置１４、１６共に、レンズ検査位置を通過する眼レンズを検査の為に、暗視野照明と呼ばれる効果を創り出し利用する。この手順によれば、レンズを透過した光を散乱させ、反射させる眼レンズの特徴によって、画像が、画素アレイ４６上に形成される。暗視野照明は、眼レンズの傷や異常を検査する為に使用でき、この方法は、実に効果的な方法であるが、その理由は、眼レンズのほとんどすべての欠陥は、いくつかの普通の特徴もそうであるが、光を散乱させる。水溜りと呼ばれる様な、非常にわずかの浅い欠陥でも、暗視野照明の手順を使用して容易に検査することができる。

暗視野照明の原理は、図７を参照すると理解されるが、図７は、眼レンズ１１４と、視準した光ビーム１１６と、一対のレンズ１２０、１２２と、不透明な障害物１２４と、光センサアレイとしての画素アレイ１２６とを図示している。光ビーム１１６は、眼レンズ１１４を透過して、画像レンズ１２０に入射する。レンズ１１４に入射した時、もし照明ビーム１１６が完全に平行であれば、そのビームは、レンズ１２０の背後の焦点で収束される。

たとえ、照明ビーム１１６が、眼レンズ１１４によって全く影響を受けない場合には、そのビームは、レンズ１２０に入射した時、完全には平行でなく、ビーム１１６は、大体レンズ１２０の背後の焦点に、最小の混乱の輪と呼ばれる小さな円形を形成する。障害物１２４は、画像レンズ１２０の他方の側で、レンズの背後の焦点に位置している。障害物の大きさは、レンズ１２０の背後の焦点に、照明ビーム１１６によって形成される円形画像よりも少し大きくなるように選択される。

したがって、照明ビーム１１６が、レンズ１１４によって、散乱や屈折が無い場合は、障害物１２４の背後には全く光が投射されないで、画素アレイ１２６は、完全に暗い状態である。しかし、障害物１２４を免れるのに十分に光を屈折させるレンズ１１４の特徴があると、それによって、いくらかの光が画素アレイに入射することになる。眼レンズ１１４は、画素アレイ１２６の位置と光学的に対になった位置に設置される。その為、光が障害物１２４を超えて投射された場合、その光は、画素アレイ上に、光を散乱させた眼レンズ１１４の存在することの画像を形成する。

図８は、装置１０で、この暗視野照明の効果を創り出し、利用する為の好適な装置を図示している。特に、この図は、好適な暗視野照明副装置と画像副装置を詳細に図示している。この図に示す様に、副装置１４は、ハウジングすなわちケース２６と、光源３０と、鏡３２、３４とダイヤフラム１３０と、電源１３２と制御回路１３４と、第１と第２の調整可能支持手段１３６、１４０と出口窓１４２とを有している。同様に、副装置１６は、カメラ３６と、障害物４０と、レンズアセンブリ４２とを有している。更に、具体的に述べれば、カメラ３６は、ハウジング４４と、画素アレイ４６と、シャッター５０とを有している。レンズアセンブリ４２は、ハウジング５２と、レンズ５４、５６と、バッフル６０とを有している。

サブシステム１４のハウジング２６は、この副装置の他の要素を保護する囲いを提供している。光源３０と鏡３２、３４と、ダイヤフラム１３０がすべてのハウジングに取り付けられている。更に、具体的に述べれば、ハウジング２６は、主垂直脚２６ａと上部と底部の水平脚２６ｂ，２６ｃと光源３０は、ハウジングの主脚の内部に位置している。

鏡３２は、脚２６ａと２６ｃの交差する位置に取り付けられており、鏡３４は、脚２６ｃの末端に近い位置に位置している。ダイヤフラム１３０は、鏡３２と３４の間で、脚２６ｃの内部に位置している。ハウジング２６も、鏡３４の直上に開口部２６ｄを形成しており、窓１４２が、その開口部に取り付けられている。使用中は、光源３０は、多くの光フラッシュとパルスを発生し、光経路８２上に一個一個のパルスを発射する。鏡３２は、この経路上に位置していて、光パルスをダイヤフラムを透過する様に発射して、鏡３４に当て、今度は、鏡３４は、光パルスを上向きに発射し、窓１４２を通り、図８で１４４の参照符号を着けたレンズ検査位置を通り、画像副装置１６に向かってそこに入射する。

好ましくは、光源３０は、調整可能な支持手段１３６に設置されていて、光源から発射された光の特定方向が調整される様になっている。鏡３４は、別の調整可能な支持手段１４０に設置されていて、この支持手段１４０によって、鏡で反射された光の特定の方向と特定の位置の両方が調整されるようになっている。更に、具体的に述べれば、図８に図示した副装置１４の好適な実施例に関して、支持手段１３６は、ハウジング２６に取り付けられていて、互いに直交する２つの水平軸に関して回転する傾斜ステージを包含している。

同様に、副装置１４のこの実施例に関して、鏡支持手段１４０は、傾斜ステージ１４０ａと移動ステージ１４０ｂを備えている。鏡３４は、前記のステージに設置されており、前者のステージは、後者のステージに設置されている。ステージ１４０ｂは、図８に図示する様に、横方向に左右に移動可能であり、鏡３４の横方向の位置を調整可能としている。ステージ１４０ａは、互いに直交する水平な２つの軸に関して回転し、鏡３４の特定の角度に調整可能としている。

画像副装置１６は、レンズ検査位置１４４に位置する眼レンズを透過した光パルスを受けて、眼レンズを透過した光の選択された部分を表す一連の信号を発生する。特に、画素アレイ４６は、シャッタ５０のすぐ背後のカメラハウジング４４の中に配置されている。好ましくは、画素アレイは、多くの光センサから構成されていて、光センサの各々は、センサに入射した照度に比例しているか、その照度を表す強度を持つ１個の電流を生成することができる。

図９は、画素アレイ４６の小部分の拡大図であり、特に、多くの画素アレイの個々の光センサを図示している。この図を参照すると、好ましくは、光センサすなわち画素は、所定の数の縦と横の列の規則正しいグリッド構造をしており、例えば、グリッドは、千の縦の列と千の横の列から成る百万個の画素から構成されている。好ましくは、このグリッド中に於て、画素は、多くの規則正しい間隔で配置された横の列と、多くの規則正しい間隔で配置された縦の列を形成している。アレイの端に沿った画素を除いて、各々の画素は、８個の直近の画素を隣に持つ。例えば、画素１４６ａは、直上の画素１４６ｂと、直下の画素１４６ｃと、それぞれ、左右直近の画素１４６ｄ、１４６ｅ、それぞれ、右上方、左上方、右下方、左下方の画素１４６ｆ，１４６ｇ，１４６ｈ，１４６ｉの８個の近隣の画素を持つ。

再び、図８を参照すると、障害物４０と、レンズ５４、５６は、シャッタの前方に位置していて、それぞれが互いに、また画素アレイ４６及びカメラシャッタと同軸上に並んでいる。障害物４０は、レンズ５４とレンズ５６の間に位置していて、大体レンズ５４の背後の焦点面に位置しており、レンズ５６は、画素アレイがレンズ５６の背後の焦点面に位置する様に設置されている。好ましくは、レンズ５４、５６と障害物４０はハウジング５２の内部に設置されていて、ハウジング５２は、カメラ３６の前端に設置されている。加えて、バフル６０は、一連のリング形の部材から構成されていて、好ましくは、ハウジング５２内であって、縦方向に間隔をとって配置されており、ハウジング内を進行する光を平行にする役目をもっている。

レンズ５４、５６と障害物４０の特定の位置に関して、検査中の特定の眼レンズを透過する光ビームの大部分またはすべてがレンズ５４によって障害物４０に焦点を結び、画素アレイ４６には入射しない。しかし、眼レンズの正常な特徴を透過するいくらかの光と共に、眼レンズの異常な特徴を透過する光のある部分は、レンズ５４によって、障害物４０に焦点を結ばないように屈折されるが、その代わりに、障害物の背後に回り込む様に投射されて、画素アレイ４６に入射する。

加えて、レンズ検査位置は、画素アレイ４６の位置と光学的に対をなす位置に位置していて、障害物４０を回り込んだ光は、画素アレイ上に、光を散乱する眼レンズの実体の画像を形成する。

この暗視野照明のテクニックは、眼レンズの異常を照らし出す為の非常に効果的な方法である。図１０は、眼レンズを透過した、特に、図２、３に示すコンタクトレンズ８４を透過した光のビームによって画素アレイ４６に形成された画像を示す。レンズを透過した光の大部分は、障害物４０によって画素アレイに到達しないようにブロックされる。しかし、レンズの環８４ｃの不規則的な厚みによって、レンズのこの部分を透過した光は、障害物４０の背後に屈折されて、画素アレイ４６に入射して、アレイに環の画像を形成する。レンズ８４のその他の異常は、画素アレイ上に照射された領域を生成する。例えば、水溜りのような、わずかの浅い欠陥でも、画素アレイ上に映し出される。特に、水溜りが、レンズの内部に存在する場合には、その水溜りは、暗い視野の明るい輪郭として、画素アレイ上に容易に現れる。もし、水溜りが、レンズの周辺部分に存在する場合には、その水溜りは、明るい視野上の暗い線として、画素アレイ上に容易に現れる。また、コンタクトレンズの周辺領域は、くさび形の断面を持つため、その周辺部分は、障害物の背後に十分な光を屈折させ、全体部分が、画素アレイ４６上に、暗い視野上の明るい白い環１５０として現れるようにする。

当業者なら分かるように、適した物であれば、どんな光源、レンズ及びカメラでも副装置１４、１６で使用可能である。例えば、光源３０は、はままつ（Ｈａｍａｍａｔｓｕ）で製作された短円弧のキセノンフラッシュランプとすることができる。この特別なフラッシュランプ円弧の安定性と寿命が類を抜いてうまく組合わさっていて、このフラッシュランプの出力は、プラスマイナス２％の変動しかなく、１０⁹ 回フラッシュできるだけの寿命を持っている。

実際に実施態様に移されている副装置１６の実施例に関して、第一の画像レンズ５４は、対象物に対してレンズの光軸に対して２．５゜の範囲に回析が制限されていて、１００ｍｍの焦点深度を持つ無色のレンズである。レンズ５４は、黒色に酸化皮膜を施したアルミニュムの管の中に設置されていて、内部にバフル６０を保持しており、管の内部壁からの光の反射によるコントラストの低下を排除している。第二のレンズ５６は、焦点深度５０ｍｍのＦ−１．８のニコン（Ｎｉｋｏｎ）製の標準レンズである。第一のレンズ５４の円筒容器の端は、紫外線曇りフィルタに結合されていて、このフィルタは、５０ｍｍレンズのハウジングにネジで留められている。

不透明な障害物４０は、直径が０．１００インチの小さなプラスチック製の円であり、障害物を所定の場所に保持する為に接着剤の着いた裏張りを具備している。適する障害物は、市販の物で手に入り、プリント基盤の版下作業の時にハンダパッドマスクとして使用される。これらの障害物は、非常に様々なサイズのものが利用できる。障害物４０の好適なサイズは、装置１０のその他のパラメータによって様々である。障害物のサイズは、好ましくは、コントラストと、中心の定め易さと、振動に対する敏感さが最もうまく調和するように選択される。

実際に組み立てられた副装置１６に使用されるカメラは、ビデック（Ｖｉｄｅｋ）製の高解像度カメラであり、このカメラは、標準のニコンのマウントレンズを取り付けることができる。Ｆ−１．８の５０ｍｍニコンレンズ５６は、カメラ３６にまず最初に取り付けられ、レンズ５４のハウジングは、レンズ５６とネジで接合している。このビデックのカメラの有効な視野は、１３．８ × １３．８ｍｍであり、この値は、例えば、最も大きいコンタクトレンズのサイズより約１０−１５％大きい。検査される眼レンズは、検査の正確さを最良にする為にできるだけカメラ３６の視野の多くを占有することが望ましい。従って、検査されるレンズを自動的に中心に位置させることによって、レンズキャリア２２の検査カップ１１０は、カメラで使用できる解像度を最大限に利用する。

副装置１４、１６の好適な形態は、多くの利点を有している。まず、光の経路８２は、折れ曲がっているので、フラッシュランプ３０は、レンズ検査位置１１４にある眼レンズから非常に離れた位置に置くことができる。こうする事によって、眼レンズの位置で高度に平行化された光ビームを作り出す。二番目に、障害物４０上の円弧の画像の大きさは、大体、円弧の物理的な大きさと同じで、（ｉ）ランプ３０からレンズ５４までの距離と（ｉｉ）レンズ５４から障害物４０までの距離の比を掛けたものである。

図８に示す好適な形態は、また円弧の画像サイズを最小にし、より小さな障害物の使用を可能にし、その結果、敏感さを増大している。第三に、ダイヤフラム１３０は、光ビーム８２の断面積を制限しており、その結果、ビームで照らされる面積を制限している。好ましくは、ダイヤフラム１３０は、ビームが、検査中の眼レンズの直径よりわずか１０から１５％大きい円状領域を照らす様に、ビーム８２の断面積とサイズを調節するのに使用される。照明ビーム８２のサイズを制限すると画素アレイに生成される画像と、そのアレイの残りの部分の間のコントラストを改善する。特に、ビーム８２のサイズを制限すると、レンズ検査カップの構造によって散乱する光の量を消滅させるか、実質的に削減する。この散乱光は、画素アレイ４６のバックグランド光として現れ、画素アレイの対象となる画像とアレイのその他の部分のコントラストを低減する。

加えて、副装置１４、１６の好適な形態に関して、装置の倍率要素、つまり、画素アレイ４６上の眼レンズの画像サイズと眼レンズの実際の大きさの比は、第二のレンズ５６の焦点距離と第一のレンズ５４の焦点距離の比に大体等しい。実際の倍率要素は、また、レンズ５４と５６の間の距離と、検査される眼レンズの第一の画像レンズ５４からの距離によって決まる。加えて、傾斜ステージ１４０ａと移動ステージ１４０ｂは、鏡３４で反射される出力ビームの中心を、画像光学副装置１６の中心軸に一致する様に、調節することを可能としている。

上記の様に、画像副装置１６は、２つのレンズ５４と５６を備えていて、この２つのレンズは、大体、第一のレンズ５４の焦点距離の間隔をとっている。２つのレンズを使用することは必要ではないが、２つのレンズを使用すると、副装置１４、１６の様々なパラメータを、より正確にコントロールすることを可能にするので、２個のレンズの使用は好ましい。例えば、背後の焦点面と画像面が離れていることを、副装置の倍率とは別の事としている。

図１１Ａ，１１Ｂ，１１Ｃは、全体的に、それぞれ１５２、１５４、１５６の参照番号を着けた代替の光学装置を図示しており、レンズ検査装置と、その位置に保持した眼レンズを透過させて、障害物４０と画素アレイ４６に、光ビームを投射する為に装置１０で使用可能である。

形態１５２は、障害物４０上に光ビーム８２の画像と、画素アレイ４６上に検査しているレンズの画像を描くただ１つのレンズ１６０を有している。より具体的には、図１１Ａに図示した光学的形態は、鏡１６２と、画像レンズ１６０と、障害物４０を有している。この図は、また、１６４で概略示したレンズホルダと、検査される眼レンズ１６６と、画素アレイ４６を図示している。この形態を用いれば、光源３０からの光ビーム８２、即ちパルスは、鏡１６２に照射され、今度は、光はレンズ１６６を通して、画像レンズ１６０に照射される。レンズ１６０に照射された大部分の光は、そのレンズによって、障害物４０に焦点を結ぶ。しかし、レンズ１６６の、ある特徴は、光を十分に屈折させ、この屈折された光は、障害物４０の背後に投射され、画素アレイ４６上に焦点を結び、画素アレイ上にレンズ１６６の、光を障害物４０の背後に投射させる特徴の画像を結ぶ。図１１Ａの形態は、もし、カメラ３６のＣＣＤスクリーンが上記の高解像度ビデックカメラのＣＣＤスクリーンよりも大きい場合には、好適な形態となり得る。

図１１Ｂの形態１５４を用いれば、光源を障害物４０に画像を結び、検査中の眼レンズの画像を結ぶ機能が分離されている。補足して述べると、この形態は、鏡１７０とレンズ１７２、１７４と障害物４０を有している。図１１Ｂは、又、レンズホルダ１６４と眼レンズ１６６と画素アレイ４６を図示している。この形態では、光源３０から光ビーム８２は、鏡１７０に照射され、この鏡は、光ビームをレンズ１７２に導く。レンズ１７２は、光を眼レンズ１６６を透過する様に導き、レンズ１６６を透過した大部分の光は、障害物４０に焦点を結ぶ。しかし、レンズ１６６のある特徴は、光を障害物４０から屈折させる。この屈折した光は、レンズ１７４に入射し、レンズ１７４を通過した光は画素アレイ４６に焦点を結び、画素アレイ上に、光を障害物４０の背後に屈折させるレンズ１７４の特徴の画像を描く。図１１Ｂのレンズ配置の利点は、２つのレンズ１７２、１７４の作動を完全に独立させたことである。

図１１Ｃに示す光学的形態１５６は、図８に示す光学的形態と非常によく似ている。しかし、形態１５６は、鏡３２またはダイアフラム１３０を有していない。特に、形態１５６は、鏡１７６とレンズ１８０、１８２と障害物４０を有する。図１１Ｃは又、レンズホルダ１６４と眼レンズ１６６と画素アレイ４６を図示している。図１１Ｃの配置に関して、光源３０からの光ビーム８２は、鏡１７６に照射され、鏡１７６は、光をレンズ１６６を透過し、第一のレンズ１８０に投射する。レンズ１８０に投射された大部分の光は、障害物４０に焦点を結ぶ。しかし、レンズ１６６の特徴のあるものは、光を十分に屈折させ、光は障害物４０の背後に回り込み、第２のレンズ１８２に投射される。このレンズ１８２を通過した光は画素アレイ４６上に焦点を結ぶ。この形態では、レンズ１８０は、レンズ１８２とは独立して、障害物上に光源の画像を描く。しかし、レンズ１８０、１８２は、レンズ１６６の欠陥を画素アレイ４６上に画像を描くことに関与している。

前記に加えて、装置１０は、又、好ましくは、照明装置１４と画像副装置１６の動きを、搬送副装置１２の動きと同期させ、特に、レンズがレンズ検査位置１４４にある時、光パルスを生成する為に光源３０を作動させ、カメラシャッタ５０を開く制御副装置１４を有している。好適な制御副装置は、図１２（ａ）に概略的に図示している。この好適な制御副装置に関して、搬送副装置１２は、レンズ検査カップの１つがレンズ検査位置に置かれる毎に、電気信号を生成する。この信号は、例えば、ステップモータ９４か、搬送テーブル９２の別の駆動手段か、または、レンズ検査カップの１つがレンズ検査位置に到達する毎にかみ合うリミットスイッチによって生成される。好ましくは、この信号はカメラシャッタ５０を開くためにカメラシャッタ５０に送信され、また、短い時間、電気信号を遅延させる遅延回路１８４に送信され、カメラシャッタが完全に開くのを可能にする。この短い遅延の後、この電気信号は、ランプドライバ１３４に送信され、ランプドライバ１３４は光源３０を駆動させる。

例えば、構成された装置１０の実施例に関して、図１２（ｂ）を参照すると、眼レンズが、レンズ検査位置にある場合には、搬送副装置は、カメラ３６と遅延回路１８４の両方に２４ボルトのパルスを生成し発信する。カメラシャッタは、このパルスの立ち上がり区間に答えて開き、完全に開くのに９ミリ秒かかる。遅延回路は、ランプドライバ１３４への信号の移動を約１５ミリ秒遅延させ、この遅延の後、このトリガパルスは、ランプドライバに送信される。このトリガパルスの立ち上がりは、ＳＣＲを駆動させ、ＳＣＲはフラッシュランプ３０を発火させる。この発火点で、ランプは、電気的に導通状態になり、以前充電されたコンデンサは、そのランプに対して放電する。コンデンサが価電されるキャパシタンスと電圧は、ランプが放出する全光エネルギと光パルスを決定する。また、インターフェース回路は、約３０ミリ秒の間、カメラシャッタを開いた状態に保持して、その後、シャッタを閉じる。

カメラシャッタを上記のような方法で使用すると、個々のレンズ検査の間で、画素アレイ４６上で周囲の光が集積するのを避け、または実質的に減少させる。また、好ましくは、高電圧電源と、ランプドライバ電子回路と、蓄電コンデンサが、照明光学機器を備えているハウジング構造２６に設置されている。

ランプ３０からの光はそのように短い時間で画素アレイ４６上に画像を捕らえることを可能にするのに十分であるので、検査している眼レンズを止める必要がない。したがって、搬送装置１２は、好ましくは、画像副装置１６の下で眼レンズの列を連続的に移動するように設計してある。眼レンズの列をこのように連続的に、スムースに動かすことは、画像形成プロセスを干渉する可能性のあるカッップ１１０の中の溶液１１２の表面の波立ちやその他の動揺の形成を減少させるか消滅させるので、有効である。

当業者には理解されるように、搬送副装置１２と、照明副装置１４と、画像副装置１６間の好ましい同期調整すなわち調整は他の方法でも達成できる。例えば、レンズ検査位置１４４のレンズの位置に一致するように選択された所定の時間間隔で、光源３０は作動させ、シャッタ５０は開くことができる。

照明、画像及び搬送の副装置は、照明と画像形成のプロセスにある空気中のほこりの影響を最小限にするように、ハウジング（図示せず）に入れてある。ハウジングは、透明な前部ドアまたは透明な窓のついた前部ドアを備えることができ、ハウジングの内部にアクセスし観察することができる。これらの前部ドアの透明な部分は、照明と画像形成プロセスにおける回りの室内光の影響を最小限にするように色が着けられている。

図１３は、画像処理副装置２０を図示するブロック図である。このシステムに於て、画素アレイからの電気信号は、直列と並列のフォーマットの組合せで、前処理装置６２に導かれる。前処理装置６２に送信されるこれらの電気信号は、この信号を生成した特定の画素で、なんらかの適する方法でもって、特定することができる。例えば、カメラ３６の画素からの信号は、所定のタイミングのシーケンスで前処理装置６２に送信することができる。クロック信号も、カメラから前処理装置に送信することができ、そのシーケンスのスタート、または選択されたインターバルを確認することができる。また、前処理装置６２に送信された各々の信号には、その信号を生成した特定の画素を確認するヘッダーまたは別のデータタッグを着けることができる。

装置６２は、各々の電流信号をアレイ４６の画素から各々のデジタルデータ値Ｉ_o に変換し、その電気信号を生成した画素のアドレスに関係したアドレスを持ったメモリ位置に、そのデータ値を記憶する。これらのデータ値は、処理装置６４で利用ができ、バスライン１８６を通して、処理装置６４に送信することができる。好ましくは、以下で詳細に述べるように、データ値Ｉ₁ ．．．Ｉ_n の多くの追加のセットが、アレイ４６の各々の画素に関係したそれぞれのデータ値を持っているデータセットで生成され、前処理装置６２は、多くのメモリセクションつまり基板を有しており、この基板各々は、これらのデータ値の各々のセットを記憶する為に使用される。

処理装置６４は、バスライン１８６を通して前処理装置６２に接続されていて、前処理装置からデータ値を獲得し、データ値を前処理装置に送信する。以下で詳細に説明する様に、処理装置６４は、前処理装置に記憶されたデータ値を処理し分析する為にプログラムされていて、装置１０で検査される各々のレンズの少なくとも１個の状態又はパラメータを確認し、そのレンズが消費者の使用に適するかどうかを表示する。

メモリディスク７０は、処理装置６４に接続されていて、データ値を受信し、永久的に又は半永久的に保持する。例えば、メモリディスク７０は、処理装置６４で使用される様々な探索テーブルを備えていて、メモリディスクは、レンズ検査プロセスに関係するか、そこで得られるデータを記憶する為に使用することができる。例えば、メモリディスク７０は、所定の日又は時間の間に検査されたすべてのレンズを記録し、ある所定のサンプル又はグループで発見された欠陥のトータル、タイプ及びサイズを記録するのに使用することができる。

キーボード６６は、処理装置６４に接続されていて、オペレータは、処理装置６４に入力することが可能であり、キーボード端末７４は、処理装置に入力されたデータ又はメッセージを視覚的に表示するのに使用される。モニタ７２は、前処理装置６２に接続されていて、前処理装置に記憶されたデータ値からビデオ画像を生成する為に設けられている。例えば、Ｉ₀ データ値は、モニタ７２に送信することができ、モニタ上に、画素アレイ４６に生成した実際の画像を画像生成する。データ値Ｉ₁ ．．．Ｉ_n の他のセットは、モニタ７２に送信され、実際の画像の洗練された、処理された画像を生成することができる。プリンタ７６は、直並列変換器１９０を通じて処理装置６４に接続されていて、処理装置６４からプリンタに送信された選択されたデータ値の、視覚的な永久的な記録を提供する。当業者には理解される様に、副装置２０は、その他の追加的な入力と出力装置を備えることができ、オペレータ又は分析者は、処理装置６４と前処理装置６２とメモリ装置７０と対話することができる。

副装置２０の個々の構成要素は従来からあるもので、当業者には公知のものである。好ましくは、処理装置６４は、高速デジタルコンピュータで、モニタ７２は高解像度カラーモニタである。また、例えば、前処理装置６２は、データキューブ（Ｄａｔａｃｕｂｅ）の信号処理ボードの組み合わされたものであり、処理装置６４は、サン（Ｓｕｎ）３／１４０のワークステーションとすることができる。

上記の様に、眼レンズがカメラ３６の真下を通過する毎に、光は眼レンズを透過して、画素アレイ４６上に焦点を結び、アレイ４６の各々の画素は、その画素に入射した光の照度を示す大きさの１個の電気出力電流を生成する。各々の画素のこの出力電流は、デジタルのデータ値に変換され、そのデジタルデータ値はその画素に関係した前処理装置のメモリ中のアドレスに記憶される。Ｉ₀ 値と言及されるこれらのデジタルデータ値は、以下で述べる様に、処理され、カメラ３６の下を通過したレンズが１個以上の特定の特徴群を有しているかどうか判断される。特に、レンズが消費者の使用に適さないとする傷や欠陥と考えられるなんらかの特徴をそのレンズが有しているかどうか判断される。

図１４は、図２及び図３（ａ）に示すレンズ８４のタイプになんらかの欠陥を確認する為の好適な画像処理手順の主要な構成要素を示す。画素アレイにレンズ画像が得られると、その画像は、中心外れと呼ばれる手順で検査され、レンズの環８４ｃの内部と外部の周辺端が正常に、お互いの中心に置かれているかどうかを判断する。この中心外れ試験では、第一と第二の円を、画素アレイ上に生成された環の内部の端部と外部の端部に一致させる手続きが行われる。この後、環の実際の端部が発見され、即ち抽出される。そこで、レンズ検査カップの周辺で屈折された光に関したデータを減少させるか削除する為に、第一のマスキング手順が採られる。端部の欠陥は、ラバーバンドアルゴリスムと呼ばれる手続きによってハイライトされる。次に、欠陥は、更に充填及びクリーンアップと呼ばれる手続きと、環画像の中心に近いある画素に関したデータを削除する手続きある第二のマスク手続きによって強調される。

ある可能性のある欠陥が強調され、つまりハイライトされると、事実、欠陥が存在するのかを判断する為に探査が行われる。特に、アレイ４６の画素が探査され、もっと正確に言えば、これらの画素に関係するデータ値が探査され、欠陥の一部の可能性のある画素のラインセグメントつまりランレングスを確認する。これらのランレングスは、クラスター化され、欠陥の候補を確認する。これらの欠陥の候補のサイズと位置は分析され、それらが、そのレンズが消費者の使用に適さない実際の欠陥であるかを判断する。

上記した様に、中心外れ試験は、カメラの下を通過するレンズの環８４ｃの内部と外部の周辺端が同心円であるか判断する。一般的に、図１５を参照すると、これは、画素アレイ４６上を何度もスキャン２０２することによって行われる。もっと正確に述べれば、アレイ４６上の選択されたラインセグメントの画素のアドレスに対応する前処理装置メモリのアドレスのデータ値を分析することによって、環１５０の外部端１５０ａと内部端１５０ｂが同心円であるかどうかを判断する。

図１６と図１７は中心外れ試験つまりルーチンＲ₁ を図示している。このルーチンの第一のステップ２０４は、スレッショウルドサブルーチンと呼ばれる。このルーチンの目的は、最大または最小の照度値Ｔ_MAX 、Ｔ_MIN のいづれかに等しい新たな強度値Ｉ₁ を、画素の元の照度値Ｉ₀ が、それぞれ、所定のしきい値Ｔ_t よりも大きいかそれ以下かによって、各々の画素と関連づけることである。したがって、例えば、１２７より大きい元の照度値Ｉ₁ を持つ画素は、新しい照度値Ｉ₁ ２５５が与えられ、１２７以下の元の照度値を持つ画素は、新しい照度値Ｉ₁ ゼロが与えられる。

中心外れ試験の次のステップ２０６は、この試験で使用されるスキャン２０２の数量と位置とサイズを設定することである。これは、処理装置６４にスタート画素のアドレスと各々のスキャンの長さと方向を与えることによって行われる。これらのパラメータは、もしレンズが不適切に中心から外れていなければ、多くのスキャンの各々は、環１５０の両方の端部を横切る様に選択される。好ましくは、処理装置６４又はメモリディスク７０は、これらのスタートアドレスと、方向とスキャンの長さの半永久的な記録が与えられる。この記録は、所定の基準タイプ又はサイズのレンズの検査に用いられ、この半永久的な記録は、異なった基準タイプ又はサイズのレンズが検査される時は変更することができる。

次に、ステップ２１０で、選択されたスキャンが画素アレイつまりディスプレイ４６上で行われる。レンズが不適切に中心を外れていない場合は、これらのスキャンの大部分は、そのディスプレイの光で照らされた部分を横切る。スキャンがディスプレイの光で照らされた部分を横切る時、その光で照らされた部分を横切るラインセグメントの最初と最後の画素のアドレスと、ランレングスと呼ばれるラインセグメントの長さがファイルｆ₁ に記録される。これらの画素のアドレスを獲得し、ランレングスの長さを決める為に、１つのランレングス中の最初と最後の画素を探索する為のサブルーチンは、当業者には公知であり、いづれかのそのような適するルーチンが、中心外れ試験で用いられている。

次に、ステップ２１２では、これらのランレングスの各々の長さが、所定の値と比較され、データ、すなわち、その所定の値より短いランレングスに関係した、ランレングスの最初と最後の画素のアドレスとランレングスの長さは、放棄される。この放棄は、画素アレイ４６上のノイズによって引き起こされたデータ、すなわち、画素アレイに入射した好ましくない光を削除するか、その量を減少させる為に行われる。詳細に述べると、バックグランドの光つまりほこりやその他の微粒子によって望ましい光経路から屈折して外れた光によるノイズは画素アレイに光に照らされた領域を発生させる。大部分の場合、これらの光に照らされた領域の各々は、ただ１つか、小さなグループの隣あった画素から構成される。もし、ステップ２１０で行った上記のスキャンがそのような光で照らされた領域を横切る場合には、処理装置は、最初と最後の画素のアドレスとその光に照らされた領域を横切ったランレンスの長さを記録する。しかし、この光で照らされた領域とそれに関係するデータは、環１６２又は環の端部に関係しないので、ステップ２１２は、このデータを削除する為に設けられている。

中心外れ試験における次のステップ２１４は、残りの画素アドレスの各々が環の外部端又は内部端に位置していることを確認することで、なんらかの適するサブルーチンが、この為に使用される。例えば、各々のランレングスの最初と最後の画素のアドレスは、お互いに比較される。画素アレイ４６全体の中心に近い画素は、環１６２の内部端に位置していると考えられる。一方、画素アレイの中心から離れている画素は、環の外部端に位置していると考えられる。また、スキャンは、２つのグループに分けることができ、第一のグループのスキャンでは、もし、光に照らされたランレングスがスキャン中に発見されると、ランレングスの最初と最後の画素は、それぞれ環の外部端と内部端に位置しているおり、第二のグループに於けるスキャンでは、もし、光に照らされたランレングスがスキャン中に発見された場合には、ランレングスの最初と最後の画素は、それぞれ、環の内部端と外部端に位置しているとされる２つのグループに分けられる。

各々の画素が、環１６２の内部端または外部端にあると判断されると、ステップ２１６では、各々の端部に発見される画素の数がカウントされる。これらの数のどちらかが３よりも少ないと、ステップ２２０では、レンズは、そのレンズは不適切に中心を外れているという理由で拒否される。しかし、もし、少なくとも３個の画素が各々の端部で発見されると、ステップ２２２では、まず、サブルーチンが呼び出されて、最初の円を環の外部端に発見される画素に一致させ、次に、第二の円を環の内部端に発見された画素に一致させ、第三に、これらの２つの円の中心と半径を決める。１つの円を３つ以上の点に一致させ、その円の中心と半径を計算する多くのサブルーチンが公知されていて、その様なサブルーチンは、ステップ２２２に於ける中心外れ試験に使用することができる。

これらの２つの設定された円の中心が計算されると、これら２つの中心間の距離ｄがステップ２２４で決められる。この距離は、ステップ２２６で、最初の値ｄ₁ と比較される。もし、距離がｄ₁ よりも大きいと、レンズはステップ２３０で、不適切に中心が外れているとして拒否される。もし、距離がｄ₁ よりも小さいと、ステップ２３２で、その距離は、環１５０の内部端と外部端の中心間の受容可能な最大限の距離であるｄ₂ と比較される。設定した円の中心間の距離がｄ₂ よりも大きいと、そのレンズは、ステップ２３４で、中心が外れているとして拒否される。しかし、距離ｄがｄ₂ と等しいかまたはそれよりも小さいと、レンズはステップ２３６に示す様に、中心外れ試験をパスする。

レンズが中心外れ試験をパスすると、処理装置６４は、端部検査装置と呼ばれるプロセスつまりルーチンＲ₂ を開始して、環１５０の端部の画素を確認する為に使用できる照度値の１セットを生成する。典型的には、これらの端部は完全な円ではなく、従って、中心外れ試験中に発見された設定した円とは異なっている。この新しい照度値のセットは、一連の形態学的操作またはアレイ４６の各々の画素に割り当てられたか関係する元の照度の変化を通して得られる。これらの形態学的変化は、図１８（ａ）〜（ｉ）に図示され、図１９のフローチャートに示す。具体的に説明すると、図１８（ａ）は、画素アレイ上の環１５０の画像を示している。図１８（ｂ）は、その環部分の拡大図であり、環部分と画素アレイの隣接する領域を横切る短いラインセグメントつまりスキャンを示す。図１８（ｃ）はそのスキャン２４０に於ける画素の照度値Ｉ₁ を図示している。この図に示す様に、図１８（ｂ）の暗い領域の画素は、より低いか又はゼロの値Ｉ₁ を持っている。図１８（ｂ）の明るい領域の画素は、Ｔ_max の様なより高い値Ｉ₁ を持っている。

図１９と図１８（ｃ）と図１８（ｄ）を参照すると、端部検査装置プロセスの最初のステップ２４２では、新しい値Ｉ₂ が個々の画素の為に計算される。特に、画素の値Ｉ₂ は、その画素とその画素の直近の８個の画素の値Ｉ₁ の平均と等しく設定される。アレイ４６の画素の値Ｉ₁ とＩ₂ の違いは、後者の値は最も低い値Ｉ₂ を持つ画素（一般的に、画素アレイの暗い領域の画素である）と最も高い値Ｉ₂ を持つ画素（一般的に、アレイ４６の明るい領域の画素である）の間をより段階的に変化するということである。この違いは図１８（ｃ）と図１８（ｄ）とを比較することによって良く理解される。

そこで、ステップ２４４で、画素ごとに更に別の値Ｉ₃ を決める。特に、画素の値Ｉ₃ は、その画素と直近の８個の画素の最小値Ｉ₂ に等しく設定する。図１８（ｄ）と図１８（ｅ）を参照すると、値Ｉ₃ は、値Ｉ₂ が画素スキャン中に変化するのと非常によく似た方法で、スキャン２４０中に変化することができる。画素の値Ｉ₂ とＩ₃ が画素アレイを横切る時、変化する様子の主要な違いは、最も高いＩ₃ の値を持つ画素の帯域が、最も高いＩ₂ の値を持つ画素の帯域よりもわずかに狭いことである。

端部検査装置プロセスの次のステップ２４６は、式Ｉ₄ ＝Ｉ₂ −Ｉ₃ に従って、各々の画素に、更に別の値Ｉ₄ を決めることである。図１８（ｆ）を参照すると、スキャン２４０中の大部分の画素は、ゼロのＩ₄ の値を持つ。しかし、環１６２の２つの端部の上か、半径方向でこれらの端部の内部に位置している画素は、正の値のＩ₄ を持っている。次に、ステップ２５０では、各々の画素に値Ｉ₅ が決められる。更に特に、各々の画素の値Ｉ₅ は、その画素と８個の直近の画素の最大値Ｉ₂ に等しく設定される。画素アレイ４６上の大部分の画素にとって、画素の値Ｉ₅ はその画素の値Ｉ₂ と同じである。しかし、環１５０の端部から所定の距離内の画素に関して、その画素の値Ｉ₅ は、その画素の値Ｉ₂ よりも大きい。最も高い値のＩ₅ を持つ画素の帯域は、最も低い値Ｉ₂ を持つ画素の帯域よりも少し広い。

端部検査装置プロセスの次のステップ２５２は、式Ｉ₆ ＝Ｉ₅ −Ｉ₂ に従って、更に別の値Ｉ₆ を決めることである。図１８（ｈ）を参照すると、画素アレイ上の大部分の画素は値ゼロのＩ₆ を持つことになる。しかし、環１５０の２つの端部の上と半径上に、その端部の外側に位置する画素は、正のＩ₆ の値を持つ。次に、ステップ２５４では、値Ｉ₇ が各々の画素に割り当てられる。特に、各々の画素の値Ｉ₇ が、その画素の値Ｉ₄ とＩ₅ のうち小さい方に等しく設定される。図１８（ｉ）を参照すると、画素アレイ上の大部分の画素は値ゼロのＩ₇ を持っている。しかし、環１５０の２つの端部の直上と直近の画素は、正の値のＩ₇ を持っている。このように、画素の値Ｉ₇ は環の端部上の画素を確認する。

ステップ２５６で、スレショウルドサブルーチンを呼び出すことができ、環１５０の端部の画素とディスプレイ４６のその他の画素の相違を明確にする。特に、各々の画素に、その画素の値Ｉ₇ が、それぞれＴ_t の様な所定のしきい値よりも大きいか小さいかによって、最大の照度値Ｔ_max か最小の照度値Ｔ_min のいずれかに等しい更に別の値Ｉ₈ を割り当てることができる。従って、例えば、３２よりも大きい値Ｉ₇ を持つ各々の画素に、２５５に等しい値Ｉ₈ を与えることができ、３２と３２以下の値Ｉ₇ を持つ各々の画素にゼロの値Ｉ₈ を与えることができる。

図１８（ｊ）は、値Ｉ₈ に等しい照度で照らされたアレイ４６の各々の画素を示す。

Ｉ₁ −Ｉ₈ の値を計算し、処理した後、好ましくは、各々の画素値のセットは、前処理装置６２の各々のメモリレジスタに記憶される。つまり、例えば、値Ｉ₀ は、すべて第一のレジスタに記憶され、値Ｉ₁ は、すべて、第二のレジスタに記憶され、値Ｉ₂ は、すべて第三のレジスタに記憶される。しかし、各々のレンズの全処理期間に於て、値Ｉ₁ −Ｉ₈ のすべてを記憶する必要はない。例えば、それぞれの処理期間中に、値Ｉ₃ は、値Ｉ₄ が計算された後に捨てることができる。値Ｉ₅ は、値Ｉ₆ が決められた後に、捨てることができる。

加えて、アレイ４６のすべての画素について、値Ｉ₂ −Ｉ₈ を計算する必要はない。所定のタイプの眼レンズに関して、レンズの環は、画素アレイ４６の比較的よく規定された領域に現れる。その領域の画素について値Ｉ₂ −Ｉ₈ を決める必要はない。しかし、実際の問題として、関係する所定の領域の画素を確認する為の処理のステップを更に付け加えるよりむしろ、アレイ４６のすべての画素に関する値Ｉ₂ −Ｉ₈ を単に計算することの方がやさしい場合がしばしばある。

端部検査装置ルーチンが終了すると、レンズ検査装置は、レンズを保持する為に使用しているレンズ検査カップの端部によって生じる効果の影響の無い画素の照度のセットを生成するマスキングルーチンを呼び出す。詳しく言うと、眼レンズは、フラッシュランプ３０からのフラッシュライトに照らされるので、光も又、レンズを保持するカップを透過する。カップの端部は、この光の或部分を屈折させ、光を障害物４０の背後に発射し、画素アレイ４６に到達させて、画素アレイ上に、図２０（ａ）で２６０の参照番号で示す様に、カップの端部の画素又は部分的な画像を形成する。この端部の画像は、レンズそれ自体とは関係なく、従って、カップの端部の画像に関係したデータは全く必要なく、レンズ画像自体に関係したデータの処理にとって好ましくない。マスキングのルーチンは、画素アレイ４６からカップの端部の画像を排除する為に呼び出され、正確には、上記のカップ端部の画像２６０に関係した画素データを排除した画素の照度のセットを生成する為に呼び出される。

図２１は、好適なマスキングのルーチンＲ₃ を図解するフローチャートである。このルーチンの最初のステップ２６２は、中心外れ試験のステップ２１６又は２２６に於て、少なくとも３個の画素が環１６２の外側の端部に発見されるか、又は眼レンズが不適切に中心から外れているかどうかを決めることである。もし、中心外れ試験の上述の２つのステップのどちらかにおいて、レンズがひどく中心外れをおこしていることが発見されたならば、マスキングのルーチンＲ₃ はステップ２６２で処理を終了する。

ルーチンＲ₃ がステップ２６２で終らない場合には、ルーチンは、ステップ２６４に進み、このステップでは、中心外れ試験中に、環１５０の外側端部１５０ａに一致している円の中心の座標を得ることである。これらの座標は、中心外れ試験中に決定され、処理装置６４のメモリかメモリディスク７０のいずれかに記憶される。従って、これらの座標は、単にメモリからこれらを検索するだけで得ることができる。一旦、これらの中心座標が得られると、マスクルーチンが、ステップ２６６で呼び出される。今、図２０（ｂ）を参照すると、実際上、画素アレイ４６に、上記の中心座標に中心を置いた円形であって、環１５０の外側端部に一致された円形の直径より少し大きい直径を有した円形のマスク２７０を重ね合わせる。マスキングルーチンは、その画素がこのマスクの内側にあるか、外側にあるかに基づいて、各々の画素に値Ｉ₉ を割り当てる。特に、このマスクの外側の各々の画素に関して、マスキングサブルーチンは、その画素に、ゼロの値Ｉ₉ を割り当てる。マスクの内側の各々の画素に関して、マスキングサブルーチンは、その画素の値Ｉ₈ に等しい値Ｉ₉ を画素に割り当てる。

正確には、ステップ２６６では、上記の中心点の座標（ｘ₀ ，ｙ₀ ）と、環１５０の外側端部に一致させた円形の半径よりも少し大きく選択された半径ｒ₁ は、マスクサブルーチンに送信される。そこで、このサブルーチンは、中心点（ｘ₀ ，ｙ₀ ）からの距離ｒ₁ 内にあるアレイ４６上のすべての画素のアドレスのファイルｆ₂ を形成する。そして、ステップ２７２で、アレイ４６の各々の画素のアドレスは、そのアドレスがそのファイルにあるかどうか判断する為にチェックされる。もし、その画素アドレスがファイル中にある場合には、ステップ２７４で、画素の値Ｉ₉ は、画素の値Ｉ₈ と等しく設定される。しかし、もし、その画素が、そのファイル中にない場合には、ステップ２７６でその画素の値Ｉ₉ はゼロに設定される。

多くの特定のマスクサブルーチンが公知であり、ルーチンＲ₃ のステップ２６６で使用可能である。

図２０（ｃ）は、それぞれの値Ｉ₉ に等しい照度で照らされたアレイ４６の画素を図示している。

図２１に図解したマスキングの手順が終了すると、処理装置６４は、ラバーバンドアルゴリスムと呼ばれる更なる手順を開始する。一般的に言って、このアルゴリスムは、環１５０ａ内とその直近の画素の、又はその画素に関係したデータ値を分析することと処理することを包含する。図２２と図２３は、一般的にラバーバンドアルゴリスムを図解するフローチャートを示している。これらの図を参照すると、このアルゴリスムの最初のステップ２８０は、中心外れ試験でレンズの外側端部１５０ａに一致させた円の中心座標と半径を得ることである。上記した様に、これらの値は、中心外し試験中に決められ、メモリに記憶される。これらの値は、そのメモリから検索することによって得ることができる。

ラバーバンドアルゴリスムの次のステップ２８２は、照射された画素が発見される迄、画素アレイ４６の左側端部から内側に向かってサーチすることによって、環１５０の外側端部１５０ａ上の画素の位置を特定することである。所定のサーチで発見された最初の照射された画素は、レンズの画像の端部にはなく、別の位置にあり、バックグランドノイズで照射されている可能性がある。したがって、好ましくは、ステップ２８２に於て、多くの照射された画素を発見する為に、多くのスキャンとサーチが実行される。これらの画素の位置は、分析され、お互いに比較されて、画素がレンズの画像の端部で発見されたことを確認するのに役立つ。

一旦、最初の画素が、レンズ画像の端部で発見されると、ラバーバンドアルゴリスムは、ステップ２８４に進む。このステップで、このアルゴリスムは、実際上、この最初の画素で開始し、レンズの端部の全周をトレースし、最後に、その最初の画素に戻る。この最初のトレース中に、アルゴリスムは、レンズ画像の外側端部上の大部分又はすべての画素のアドレスをファイルｆ₃ に記録する。アルゴリスムは、レンズ端部の大きなギャップと、そのギャップの長さとレンズ端部の大きな余分な片を確認する。ステップ２８６で、アルゴリスムは、以下で詳述するが、実際上、レンズ端部の大きなギャップを横切って描かれるか、その端部の大きな余分な片を横切るか、又その余分な片の一方の側に描かれた選択された線の最終点である画素のアドレスをファイルｆ₄ に記録する。

この最初のパス又はレンズ画像周囲のトレースが終了すると、ラバーバンドアルゴリスムは、ステップ２９０で、発見されたギャップが、そのレンズが拒絶される程大きいものであるかどうかを判断する。もし、その様なギャップが発見された場合には、レンズは拒絶され、ステップ２９２では、プリンタ７６が、そのレンズが欠陥の端部を持っていることを示すメッセージをプリントアウトする。

もし、レンズがステップ２９０のこのギャップ試験をパスすると、ラバーバンドアルゴリスムは、前に進み、レンズ画像の端部周囲の第２のパスとトレースを実行する。この第２のパスで、図２３に於て参照番号２９４で示される様に、アルゴリスムは、レンズの外側端部に沿って半径方向に内側あるいは外側に延展している小さいギャップや小さい余分な片の様な浅い特徴を確認する。アルゴリスムは、その様な検出された特徴をテストし、それ故に、そのレンズが拒絶されるべきかどうかを決定する。一般的に、レンズの外側端部上の少なくとも選択された画素の各々について、その画素を通る半径ベクトルとエッジベクトルと称される２つのベクトルのドット積を計算することによって行われる。ある画素を通る半径ベクトルは、環１５０の外側端部１５０ａに一致させた円の中心点を通過して延展するベクトルである。ある画素を通るエッジベクトルは、その画素と環１５０の外側端部上で、最初の画素から反時計回りに所定の数離れた第２の画素を通り延展するベクトルである。

ギャップまたは余分な片等のいかなる欠陥も含まないレンズ端部の正規の円形部分上の画素に関して、その画素を通過する半径ベクトルとエッジベクトルは、実質的に垂直であるため、上記の２つのベクトルのドット積は、実質的にゼロである。しかし、レンズ端部のギャップか又は余分な片の端部の大部分又はすべての画素の場合、その画素を通過するエッジベクトルと半径ベクトルのドット積は、これら２つのベクトルが垂直でないので、ゼロにはならない。もし、計算されたドット積が、所定の値よりも大きい場合には、そのレンズは、消費者の使用に適さないと判断され、拒絶することができる。

もし、レンズが、レンズ周囲の第２回目のパス中に行われたテストに合格すると、ラバーバンドアルゴリスムは、図２３で参照番号２９６で示される様に、レンズ画像の端部の回りの第３回目のパスを実行する。この第３回目のパスは、レンズが拒絶されるべきか否かを判断するテストを含まないが、代わりに、次のテストの為のデータの処理と準備を行う。特に、環１５０の外側端部１５０ａ以内のレンズ上の欠陥に関係したデータを含まないデータ値の１セットを生成する為に、この第３のパスが行われる。このデータ値のセットは、続いて、欠陥に関係したデータを含むデータ値セットから引かれ、結果として、これらの傷に関係したデータのみを有するデータ値セットを生成する。

一般的に言って、レンズ端部周囲のこの第３のパスに於て、ラバーバンドアルゴリスムは、環１５０の外側端部１５０ａの半径方向の厚みの平均を判断する。このアルゴリスムは、環の外側端部内のすべての画素の値Ｉ₉ をゼロに設定する。例えば、環の外側端部は、６個の画素の平均の厚みを持っている場合、ラバーバンドアルゴリスムは、環の外側端部から半径方向に内側の７個から２７個の画素のすべての画素の値Ｉ₉ をゼロに設定することができる。

図２４〜３４は、ラバーバンドアルゴリスムを詳細に示している。特に、図２４は、環１５０の外側端部１５０ａ上に、第一の画素、Ｐ（ｘ，ｙ）を位置づける１個の適したサブルーチン５１を図示している。ステップ３００で、（ｘ₀ ，ｙ₀ ）は、中心外れ試験で環の外側端部に一致させた円の中心座標に等しく設定される。ステップ３０２では、ｒ₀ は、その一致させた外側の円の半径に等しく設定される。そこで、ステップ３０４に示される様に、アレイの左側端部の中心又はその中心付近から出発して画素アレイ４６の上を何度も水平方向のスキャンを行う。特に、処理装置６４は、画素アレイ上の選択された水平方向の線部分の画素のアドレスに対応する、前処理装置メモリに於けるアドレスのデータ値Ｉ₉ について検査する。これらの各々のスキャン中に、処理装置６４は、画素の所定の水平方向の列の画素の値Ｉ₉ をチェックし、所定の値以上の値Ｉ₉ を持つ列の最初の画素を確認する。好ましくは、その様な多くのスキャンが行われ、多くの画素が確認される。

典型的には、これらの確認された画素のすべては、環１５０の外側端部１４０ａの上にある。しかし、アレイのどこかにあって、そのアレイの端部の左側に位置する画素は、レンズ検査手続き中のバックグランドノイズやその画素に入射した迷光の為に、高い値Ｉ₉ を持ってしまうことがありうる。その様な画素は、上記のスキャンに於て、照射された画素と認識される。その様な画素が端部画素と認識されないように、サブルーチンＳ₁ は、ステップ３０６で、その様な画素のアドレスを確認して、廃棄する。特に、そのサブルーチンは、最初、スキャンで確認された各々の画素と、中心外れ試験で、レンズ画像の外側端部に一致させた外側の円の中心（ｘ₀ 、ｙ₀ ）との距離を決定して、次に、各々の決定した距離と、その一致させた外側の円の半径と等しく設定させたｒ₀ を比較する。もし、特定の画素と一致させた円の中心間の距離が、所定の距離ｄ₃ 以上にｒ₀ より大きい場合には、その画素は、環１５０の端部又はそれに隣接していないと判断される。スキャン中に発見されたすべての画素のアドレスは、それらの画素がレンズの端部の上にあるか又はその直近にあるかを判断する為に、−−そうでない画素は、廃棄される−−チェックされ、ステップ３１０に示すように、残りの画素アドレスは、画素Ｐ（ｘ，ｙ）として選択され、そして、レンズの端部の周囲の最初のパスが開始される。

図２５は、どのように、この最初のパスが行われるか、詳細に示しており、特に、このパスをする為のルーチンＲ₄ を示している。ステップ３１２に於て、画素Ｐ（ｘ，ｙ）から始まり、アルゴリスムは、ステップ３１４と３２０に示す様に、環１５０の外側端部に沿って、前方又は時計方向にサーチして、その端部の大きなギャップ又はその端部上の大きな余分な片を検査する。適したものであればどんなサブルーチン又は手続きでも、端部に沿ったサーチに使用できる。例えば、画素Ｐ（ｘ，ｙ）から出発して、その端部上の所定の各々の画素から、処理装置は、所定の画素が存在するディスプレイ４６の４分円又は部分によって、所定の画素の上又は下の列又は、所定の画素の右側又は左側の列の３個または５個の最も近い画素をチェックし、レンズ端部の隣の画素を確認する。この次の画素から、処理装置は、レンズ端部の更に隣の画素を確認する為に、同じ手続きを使用する。

また、レンズ端部に発見される各々の画素に関して、処理装置は、その画素とレンズの外側端部に一致させた円の中心点（ｘ₀ 、ｙ₀ ）との距離ｒを決めることができる。処理装置は、レンズ端部上の連続する所定の数の画素の各々に関して、ｒは、所定の量ｄ_g 以上に小さい（つまり、ｒ₀ −ｒ＞ｄ_g ）時に、大きなギャップが発見されたと結論を下すことができる。逆に、処理装置は、レンズ端部上の所定の数の連続した画素に関して、ｒが、所定の量ｄ_ep以上にｒ₀ よりも大きい時に（つまり、ｒ−ｒ₀ ＞ｄ_ep）、大きな余分な片が発見されたと結論を下すことができる。

ギャップ又は余分な片が発見された場合、以下で詳述するサブルーチンＳ₂ 又はＳ₃ は、ステップ３１６と３２２でそれぞれ呼び出される。もし、ギャップ又は余分な片がどちらも発見されない場合には、ルーチンＲ₄ は、ステップ３２４に移行する。

ステップ３２４で、ルーチンＲ₄ は、環１５０の端部の周囲の最初のパスが終了したかどうかを判断する為にテストを行が、適した特定の手続き又はサブルーチンであればどんなものでも、この為に使用することができる。例えば、上記の様に、レンズの画像の周囲をトレースした時、ファイルｆ₃ は、その端部で発見された画素のアドレスに基づいて作られる。ステップ３２４では、検討中のカレントな端部の画素のアドレスがすでに、ファイル上にあるかどうか判断する為に、そのファイルがチェックされる。もし、画素のアドレスが、すでに、ファイル上にある場合には、レンズ端部の画像の周囲の最初のパスは、終了したものと考えられ、一方、もしこのカレントの画素アドレスが、まだファイルｆ₃ に存在しない場合には、終了していないと判断される。最初のパスが終了した場合には、ラバーバンドアルゴリスムは、ルーチンＲ₅ に移行する。しかし、もしレンズの回りの最初のパスが終了しない場合には、アルゴリスムは、ステップ３２６に移行して、検討中のこのカレントの端部の画素のアドレスは、ファイルｆ₃ に加算される。そして、ステップ３３０では、レンズ端部上の次の画素が発見され、Ｐ（ｘ，ｙ）は、この次の画素のアドレスに等しく設定され、ルーチンＲ₄ は、ステップ３１２に戻る。

図２６は、サブルーチンＳ₂ の概略を示すフローチャートであり、サブルーチンＳ₂ は、環１５０の外側端部に、ギャップが発見される度に呼び出される。このサブルーチンの最初のステップ３３２は、このギャップの最初と最後の画素のアドレスと、これら２つの終端の画素の間の距離を確認し、ファイルｆ₄ に記録する。これら２つの画素は、それぞれ図２７（ａ）に、Ｐ₁ とＰ₂ とで示す。一旦、ギャップが発見されると、−−つまり、レンズ端部の所定の数の連続した画素の各々に関して、ｒが、ｄ_g 以上の量で、ｒ₀ よりも小さいと−−その所定の数の連続した画素の前のレンズ端部上の最後の画素は、ギャップの最初の画素と判断される。

一旦、ギャップが発見されると、中心外れ試験に於て、レンズの外側端部に一致させた円上の画素に沿ってギャップを横切ってサーチすること、及び、レンズの端部が発見されるまで、つまり、照射された画素が発見されるまで、あるいはもっと正確に言えば、高い値Ｉ₉ を持つ画素を発見するまで、その一致させた円のその部分から半径方向に、内向きと外向きに、所定の数の画素をサーチすることにより、そのギャップの終端を発見することができる。レンズの端部が発見された後、一旦、一致させた円のある距離内の連続した画素の１列が発見されると、特に、一連の画素の中の個々の画素に関して、ｒ₀ −ｒがｄ_g よりも小さい場合には、そのギャップは、終端に到達したと判断される。その連続した一連の画素の前の、レンズ端部上の最後の画素は、そのギャップの終端の画素と判断される。

サブルーチンＳ₂ のステップ３４０では、画素Ｐ₁ とＰ₂ の間の線分、図２７（ｂ）に於ける線分Ｌ₁ 上の画素の値Ｉ₉ は、最大の照度値に等しく設定され、サブルーチンは、ルーチンＲ₄ に戻る。

図２８は、余分な片３５０が、環１５０の端部に発見された場合にルーチンＲ₄ のステップ３２２で呼び出されたサブルーチンＳ₃ を示すフローチャートである。ルーチンＳ₃ の最初の２、３のステップは、実際、その余分な片に関する様々なブリッジラインを描くことである。特に、ステップ３５２に於て、図２７（ｂ）に示す、環１５０の端部上にあり、余分な片３５０の出発点と終端の画素Ｐ₃ とＰ₄ を確認し、スッテプ３５４では、図２７（ｃ）に示す、画素Ｐ₃ とＰ₄ の間の線分Ｌ₂ 上の各々の画素の値Ｉ₉ は、Ｔ_max と設定される。次に、ステップ３５６に於て、サブルーチンは、環１５０の端部にあって、所定の数の画素だけ後方にある、つまり、その余分な片３５０の出発点から反時計方向にある画素Ｐ₅ のアドレスを確認する。ステップ３６０に於て、画素Ｐ₅ からある距離ｄ₄ だけ離れた余分な片の端部にある画素Ｐ₆ が発見される。次に、ステップ３６２に於て、図２７（ｄ）を参照すると、画素Ｐ₅ とＰ₆ の間の線分Ｌ₃ 上の各々の画素の値Ｉ₉ は、Ｔ_max に設定される。

次に、ステップ３６４では、サブルーチンは、環１５０の端部にあって、所定の画素数だけ前方である別の画素Ｐ₇ つまり余分な片の終端部から時計方向の別の画素Ｐ₇ のアドレスを確認し、次に、ステップ３６６で、サブルーチンは、画素Ｐ₈ からある距離だけ離れている余分な片の端部上の画素Ｐ₈ を確認する。ステップ３７０に於て、図２７（ｅ）で示し、画素Ｐ₇ とＰ₈ の間の線分Ｌ₄ 上の画素の値Ｉ₉ もＴ_max に設定される。適当なブリッジラインが描けると、サブルーチンは、ルーチンＲ₄ に戻る。

レンズの端部の画像の周囲の最初のパスが終了すると、サブルーチンＲ₅ が呼び出される。図２９に図示したこのルーチンは、レンズの端部の画像の周囲の最初のパスの間に発見されるギャップが、レンズが消費者が着用するのに適当でないとするほど広いかどうか判断するのに使用される。ルーチンＲ₅ の最初のステップ３７６は、なんらかのギャップが、第一のパス中に、レンズの端部で発見されたかどうかを判断することである。もし、なんらギャップが発見されないと、ルーチンＲ₅ それ自体は終了し、ラバーバンドアルゴリスムがルーチンＲ₆ に進む。しかし、なんらかのギャップが、第一のパスで、レンズ端部に発見されると、ルーチンＲ₅ は、ステップ３８０に進む。このステップで、各々のギャップの幅が、一度に１つづつ、所定の値ｄ₆ と比較される。そして、レンズは、消費者の使用には不適当であるとしてステップ３８２で拒絶される。しかし、もしギャップ幅のすべてがｄ₅ よりも小さいと、ルーチンＲ₅ は終了して、ラバーバンドアルゴリスムは、ルーチンＲ₆ に進み、このルーチンは、レンズ端部の画像の周囲を第二のパス又はトレースを行う。

ルーチンＲ₆ を図３０に示す。前に述べたように、このルーチンは、主として、レンズ端部周囲の第一のパスであるルーチンＲ₄ でギャップ又は余分な片として確認されなかったレンズ端部の浅いギャップとレンズ端部上の小さな余分な片をサーチする。特に、ステップ３８４では、画素（ｘ，ｙ）のアドレスは、ファイルｆ₃ の第一の画素のアドレスに等しく設定される。次に、ステップ３８６、３９０及び３９２に於て、それぞれエッジベクトルと半径ベクトルと称される２つのベクトルＶ₁ とＶ₂ が確認され、これら２つのベクトルのドット積が計算される。特に、第一のベクトルＶ₁ は、画素Ｐ（ｘ，ｙ）を通り、画素Ｐ（ｘ，ｙ）から所定の画素数だけ後方の、レンズ端部上の第二の画素を通るベクトルであり、二番目のベクトルＶ₂ は、画素Ｐ（ｘ，ｙ）を通って延展する、環１５０の半径ベクトルである。これらの２つのベクトルの傾斜とそれらのドット積は、このベクトルが延展する画素のアドレスから簡単に決定することができる。

図３１を参照すると、もし画素Ｐ（ｘ，ｙ）が、レンズ端部の正規の円部分に沿っている場合には、画素を通るエッジベクトルＶ₁ は、図３１で参照番号３９４で示される様に、レンズ端部に対して実質的に接線をなしている。このベクトルＶ₁ は、その画素を通る半径ベクトルＶ₂ に対して実質的に垂直であり、これらの２つのベクトルＶ₁ とＶ₂ のドット積は、実質的にゼロである。しかし、画素Ｐ（ｘ，ｙ）がレンズ端部の不規則な部分、つまり、図３１で参照番号３９６と４００で示される様に、ギャップの端部都下レンズの余分な片にあった場合、画素Ｐ（ｘ，ｙ）を通るエッジベクトルＶ₁ と半径ベクトルＶ₂ は通常の垂直状態ではなく、これらの２つのベクトルのドット積は、通常、ゼロではない。

これらの２つのベクトルＶ₁ とＶ₂ のドット積が、ステップ４０２で、所定の値ｄ₇ と比較される。もし、そのドット積が、その所定の値と等しいか、それより大きい場合、−−これは、画素Ｐ（ｘ，ｙ）の領域に相当のギャップか余分な片が存在していることを示す−−そのレンズは、消費者の使用に適さないと判断され、ステップ４０４で、拒絶され、ルーチンＲ₆ 全体が終了する。もし、ステップ４０２で、計算されたドット積がｄ₇ より小さいと−−この事は、画素Ｐ（ｘ，ｙ）の領域に於て、完全な円からのレンズ端部の変位が、許容可能な制限値内にあることを示している−−ルーチンＲ₆ は、ステップ４０６に移行する。このステップに於て、このルーチンは、テストを行い、レンズ端部の画像の周囲の第二のパス又はトレースが完全であるかどうかを判断する。特に、これは、テストをして、画素Ｐ（ｘ，ｙ）がファイルｆ₃ 上の最後の画素であるかどうかを判断することによって行われる。もし、そうなら、第二のパスは終了して、ラバーバンドアルゴリスムは、ルーチンＲ₇ に進む。しかし、もし、ステップ４０６で、レンズ端部周辺の第二のパスが終了しないと判断された場合には、ステップ４０８に於て、画素Ｐ（ｘ，ｙ）のアドレスは、ファイルｆ₃ 上の次の画素のアドレスに等しく設定され、ルーチンは、ステップ３８６に戻る。レンズが拒絶されるか、ファイルｆ₃ 上の各々の画素に関して、その画素を通過する２つのベクトルＶ₁ とＶ₂ の関係したドット積が計算され、ｄ₇ よりも小さいと判断されるまで、ステップ３８６と４０８は繰り返され、前者の様にレンズが拒絶されるか、後者の様に判断された時に、ラバーバンドアルゴリスムは、ルーチンＲ₇ に進み、このルーチンは、レンズ端部の周囲の第三のパス又はトレースを実行する。

好ましくは、上記のドット積は、レンズ端部のすべての画素に関して計算されるわけではなく、特に、第一のトレースで、レンズの端部に発見されたギャップ又は余分な片の端部に存在する画素については、そのような積は計算されない。画素はギャップか余分な片に存在することがすでに知られているので、これらのギャップと余分な片に関してこのドット積を計算することは必要なく、それらの画素を通るベクトルＶ₁ とＶ₂ と、それらの２つのベクトルのドット積を判断しないことで、相当の処理時間が節約される。

ルーチンＲ₆ が終了した後、ラバーバンドアルゴリスムは、ルーチンＲ₇ に進み、このルーチンでは、レンズ端部の周囲の第三のパス又はトレースを実行する。前に述べたように、この第三のパスの目的は、実際、レンズの外側端部の内側の、レンズ上の傷に関係したデータを排除した新しいデータ値Ｉ₁₀のセットを生成することである。図３２は、ルーチンＲ₇ を詳細に示す。一般的に言って、このルーチンは、３つの部分から構成される。第一の部分では、各々の画素の値Ｉ₁₀は、その画素の値Ｉ₉ に等しく設定され、第二の部分では、端部の厚みの平均Ｎは、環１６２の外側端部１６４に関して計算される。第三の部分では、その平均の端部の厚みよりも更に内部の所定の領域の画素の値Ｉ₁₀は、ゼロに設定される。

特に、ルーチンＲ₇ のステップ４１０では、各々の画素の値Ｉ₁₀は、その画素に関する値Ｉ₉ に等しく設定される。次に、図３２と３３を参照すると、ステップ４１２に於て、図３３に於て参照番号４１４ａ−ｅで示され、環１５０の最も外側端部１５０ａに存在する所定の数の画素が選択される。次に、ステップ４１６に於て、ルーチンＲ₇ は図３３に於て参照番号４２０ａ−ｅで示され、画素４１４ａ−ｅを通過するレンズ画像の各々の半径上の照射された画素をカウントする。例えば、そのルーチンは、環の最も外側端部の画素を、第一の画素としてカウントし、その画素から半径方向に内側にサーチして、半径上の、各々の照射された画素毎に、１つづカウントを増加することができる。ステップ４２２に於て、半径毎の照射された画素の平均の数が計算される。これは、例えば、カウントされた照射された画素の全数を、実行された半径方向スキャンの数で割ることによって、行うことができる。典型的に、この平均の値は、全数ではなく、従って、好ましくは、その平均の値は、二番目に大きな全数に増加される。

ルーチンＲ₇ のつぎの部分では、第三のパスが、環１５０の外側端部１５０ａの周囲で行われる。このパスをスタートする為に、その端部の画素が、図３２のステップ４２４で示すように、スタート画素Ｐ（ｘ，ｙ）として選択される。次に、ステップ４２６及び４３０に示すように、平均の端部厚みから半径方向に内側に選択された画素の値Ｉ₁₀がゼロに設定される。特に、環１６２の外側端部上の各々の画素に於て、このルーチンは、レンズの半径に沿って、半径方向に内側の画素の数Ｎをカウントする。次に、その半径に沿った半径方向に更に内側の所定の数の画素の各々に関して、その画素の値Ｉ₁₀は、ゼロに設定される。図３４を参照すると、このルーチンのこれらのステップは、実際上、斜線領域４３２の画素の値Ｉ₁₀をゼロに設定する。

ルーチンＲ₇ のステップ４３４に於て、レンズ端部の画像の周囲のこの第三のパスが終了したかどうか判断する為に、チェックが行われ、これを行う為に、適するサブルーチンを呼び出すことができる。例えば、もしこのパスの為にスタート画素として選択した画素が、ファイルｆ₃ の一番上の画素である場合には、そのファイル上の一番下の画素に関してステップ４２６と４３０を実行した後にそのパスは、終了したと判断することができる。その代わりとして、ルーチンＲ₇ のステップ４２６と４３０で使用される画素のアドレスの独立したリストを作ることができる。画素のアドレスがそのリストに加算される毎に、そのリストは、加算される新しいアドレスがすでにリストにあるかどうかを判断する為にチェックされ得る。もし、リストに加算されたアドレス値が、すでにそのリストに存在する場合には、レンズ端部の画像の周囲の第三のパスは、終了したと判断される。

もし、ステップ４３４で、レンズ画像周囲のこの第三のパスが終了しない場合には、ステップ４３６で、画素Ｐ（ｘ，ｙ）のアドレスは、環１５０の外側端部１５０ａに沿って、時計方向に、カレント画素Ｐ（ｘ，ｙ）の隣の画素のアドレスに等しく設定される。例えば、このアドレスは、ファイルｆ₃ から持ち出すことができる。ステップ４３６に於て、画素Ｐ（ｘ，ｙ）のアドレスは、単に、カレント画素アドレスの隣の、ファイル上のアドレスに等しく設定することができる。そこで、ルーチンＲ₇ は、ステップ４２６に戻り、その新たな画素アドレスＰ（ｘ，ｙ）に対してステップ４２６、４３０及び４３４が繰り返される。

レンズ端部の画像の周囲の第三のパスが終了した後、処理装置６４は、ルーチンＲ₇ を脱出して、ラバーバンドアルゴリスムが終了する。

ラバーバンドアルゴリスムが終了した後、更なる多くの操作が実行されるが、この一般的な目的は、判断中又は検査中のレンズの異常を強調し、次に、これらの異常を確認しやすくするためである。

充填手順と呼ばれる、これらの手順の最初は、環１５０の外側端部の上，内部又はそれに隣接する異常である画素を確認する為に使用することのできるアレイ４６の画素の更なるデータ値Ｉ₁₁のセットを確定することである。特に、図３５を参照すると、これらのデータ値は、（ｉ）参照番号４３６で示すようなレンズ端部のギャップ、（ｉｉ）参照番号４４０に示すようなレンズ端部内の異常、（ｉｉｉ）参照番号４４２に示す様なレンズ端部上の余分な片、（ｉｖ）余分な片とサブルーチンＳ₃ のステップ３６２と３７０で形成された隣接する線分Ｌ₃ とＬ₄ の間の画素の中の画素を確認する為に使用される。

この充填手続きは、ＭＡＸ，ＰＭＡＸ，ＭＩＮとＰＭＩＮと呼ばれる多くのより特殊な操作によって構成され、これらは、画素に関係するベースデータ値の１セットの処理を含む。ＭＡＸの操作では、所定の画素の８個の直近の画素の最大のデータ値に等しい値の新しいデータ値がこの所定の画素に対して設定される。ＰＭＡＸの操作では、所定の画素のすぐ左側、右側、上及び下の４個の画素の最大のベースデータ値に等しい値の新しいデータ値がこの所定の画素に対して設定される。ＭＩＮの操作では、所定の画素の８個の隣接する画素の最小のベースデータ値に等しい値の新しいデータ値がこの所定の画素に対して設定される。ＰＭＩＮの操作に於いては、所定の画素の左側、右側、上及び下の４個の画素の最小のベースデータ値に等しい値の新しいデータ値がこの所定の画素に対して設定される。

図３６（ａ）〜３６（ｅ）は、ＭＡＸ，ＰＭＡＸ，ＭＩＮとＰＭＩＮの操作を図示する。特に、図３６（ａ）は、７×７の数の配列を示す。各々の数は、関係する画素のデータ値を示し、この配列に於ける数の位置は、関係する画素のアドレスに対応している。従って、例えば、アドレス（１、１）に於ける画素のデータ値は、７である。アドレス（４、１）に於ける画素のデータ値は、０である。アドレス（４、２）、（４、７）と（５、２）に於ける画素のデータ値は、それぞれ、７、０、０である。

図３６（ｂ）は、図３６（ａ）に示した数の全配列についてＭＡＸの操作を実行した後に生成される値を示している。したがって、例えば、図３６（ｂ）に於いて、アドレス（２、６）のデータ値は、図３６（ａ）に於いてその画素に隣接する８個の画素の１個は、７の値を持っているので、７である。同様に、図３６（ｂ）に於けるアドレス（６、２）の値は、図３６（ａ）のデータセットでは、画素のアドレスに隣接する８個の画素のうちの１つは、７の値を持っているので、７である。図３６（ｃ）は、図３６（ａ）の全データセットのＰＭＡＸの操作の結果、生成される値を示している。例えば、図３ｃに於けるアドレス（６、３）と（６、４）の値は、図３６（ａ）に於いて、これら２個の画素アドレスのうちの各々が、７の値を持っている画素のすぐ右にあるので、７である。

図３６（ｄ）と３６（ｅ）は、それぞれ、ＭＩＮとＰＭＩＮの操作を、図３６（ａ）に示す配列において実行した後に生成された値を示している。例えば、３６（ｄ）に於いて、アドレス（４、３）の値は、図３６（ａ）に於いて、アドレス（４、３）に隣接する８個の画素のうちの１個は、ゼロの値を持っているので、ゼロである。また、図３６（ｅ）に於いて、アドレス（４、２）の値は、図３６（ａ）に於いて、その画素アドレスのすぐ右側の画素は、ゼロの値を持っているので、ゼロである。

図３７は、好ましい充填手続きＲ₈ を示している。この図を参照すると、この手続きは、画素アレイ４６のデータ値に関して実行した１４の独立した操作を含んでいる。これらの操作の各々が、画素アレイの全体に関して、一度に１個づつ実行される。これらの操作は、順番に、ＭＡＸ，ＰＭＡＸ，ＰＭＡＸ，ＭＡＸ，ＭＡＸ，ＰＭＡＸ，ＰＭＡＸ，ＭＩＮ，ＰＭＩＮ，ＰＭＩＮ，ＭＩＮ，ＭＩＮ，ＰＭＩＮ，とＰＭＩＮである。これらの操作は、画素の値Ｉ₉ から始まり、１４のすべての操作が終了した後の結果として出たデータ値は、値Ｉ₁₁と呼ばれる。

これらの操作の結果は、実際上、環１５０の外側端部内、その上、又はそれに隣接するギャップ４３６、余分な片４４２、及び異常４４０を埋めることである。特に、図３５と３８は、環１５０の同じ部分を示しており、前者の図は、値Ｉ₉ で照射された画素を示しており、後者は、値Ｉ₁₁で照射された画素を示している。これら２つの図の相違は、図３７の充填手続きの効果を示している。特に、この相違は、ギャップ４３６、余分な片４４２、異常４４０、及び余分な片と線分Ｌ₃ とＬ₄ の間の領域の画素に関して、これらの画素の値Ｉ₁₁は、Ｔ_max で、これらの画素の値Ｉ₉ は、ゼロである。

当業者には理解される様に、その他の特異な手続きは、公知で、上記の画素の為の望ましい値Ｉ₁₁を生成することができる。

充填操作Ｒ₈ の終了した後、処理装置６４は、中心外れ試験の時に、環１５０の内側端部１５０ｂに一致させた円の中心点の所定の半径内で、画素アレイ４６に入射した光の影響を排除した画素照度値Ｉ₁₂の１セットを生成する為の第二のマスキング手続きＲ₉ を呼び出す。以下で詳細に説明する様に、この画素照度値Ｉ₁₂のセットは、続いて、レンズ内部、つまり、環１５０の内側端部の半径方向に内側の領域の欠陥を確認する為に使われる。

レンズ検査プロセスのこの段階で使用されるマスキング手続きＲ₉ は、図２０（ａ）〜（ｃ）及び図２１で示されるマスキングルーチンＲ₃ と非常によく似ている。これらの２つのマスキング手続きの主な相違点は、手続きＲ₉ で使われるマスクの半径は、環１５０の内側端部に一致させた円の半径よりも少し小さく、手続きＲ₃ で使われるマスクの半径は、環１５０の外側端部に一致させた円の半径よりも少し大きい点である。

図３９は、好適なマスキングルーチンＲ₉ を図示するフローチャートである。このルーチンの第一のステップ４４６は、中心外れ試験のステップ２１６と２２６に於いて、少なくとも、３個の画素が、環１５０の内側端部上に発見されたか、又は、眼レンズが、不適切に中心から外れているかどうかを判断することである。もし、レンズが、中心外れ試験のこれら２つのステップのいずれかに於いて、不適切に中心を外れていると発見された場合には、マスキングルーチンＲ₉ それ自体が、ステップ４５０で終了する。

ルーチンＲ₉ が、ステップ４５０で終了しない場合には、ルーチンはステップ４５２に進み、そのステップで、中心外れ試験中に環１５０の内側端部１５０ｂに一致させた円の中心の座標を得ることである。これらの座標は、中心外れ試験中に決められ、処理装置メモリに記憶されたもので、単に、その処理装置のメモリから検索することで得られる。一旦、これらの中心座標が得られると、ステップ４５４で、マスクサブルーチンが呼び出される。今、図４０（ａ）〜（ｃ）を参照すると、このサブルーチンは、画素アレイ４６上に、上記の中心座標上に中心を定め、環１５０の内側端部１５０ｂに一致させた円の直径より少し小さな直径を有する円形のマスク４５６を重ね合わせる。そして、マスキングサブルーチンは、各々の画素に値Ｉ₁₂を割り当てる。特に、そのマスクの外側の各々の画素の為に、マスキングサブルーチンは、その画素に、その画素の値Ｉ₈ に等しい値Ｉ₁₂を割り当てる。マスクの内側の各々の画素の為に、マスキングサブルーチンは、その画素に、値ゼロのＩ₁₂を割り当てる。

正確に言うと、ステップ４５２では、上記の中心点の座標（ｘ_i ，ｙ_i ）と、環１５０の内側端部に一致させた円の半径よりも少し小さく選択された半径値ｒ₂ は、マスクサブルーチンに送信される。次に、ステップ４５４で、このサブルーチンは、中心点（ｘ_i ，ｙ_i ）からの距離ｒ₂ 内の、アレイ４６上のすべての画素のアドレスで、ファイルｆ₅ を形成する。ステップ４６０で、アレイ４６の各々の画素のアドレスがチェックされ、それが、そのファイルにあるかどうかを判断する。もし、その画素アドレスが、そのファイルにある場合には、ステップ４６２に於いて、画素の値Ｉ₁₂はゼロに設定される。しかし、もし、その画素アドレスが、そのリスト上にない場合には、ステップ４６４で、画素の値Ｉ₁₂は、その画素の値Ｉ₈ に等しく設定される。

数多くの特異なマスクサブルーチンが、上記の目的を達成する為に公知であり、適するものならどんなサブルーチンでも、ルーチンＲ₉ のステップ４５４に使用できる。

図４０（ｃ）は、それぞれの値Ｉ₁₂に等しい照度で照射されたアレイ４６の画素を図示している。

この第二のマスキング手続きが終了した後、一連の操作から構成されている、更なるルーチンＲ₁₀が実行され、検査中のレンズの不規則性や欠陥の中にある画素を明確に確認する画素の照度値の１セットを提供する。特に、これらの更なる操作の目的は、環１５０の正常な端部１５０ａ，１５０ｂによってアレイ４６に引き起こされた影響と共にバックグランドのノイズや光によって引き起こされたアレイ４６上の影響を排除した画素の照度値の１セットを提供することである。これらの更なる操作は、図４１のフローチャートに図示する。

ステップ４６６では、更なる値ＩであるＩ₁₃は、各々の画素の為に得られる。特に、各々の画素の値Ｉ₁₃は、画素の値Ｉ₁₀から画素の値Ｉ₁₂を引くことによって得られる。図４２（ａ）〜（ｃ）は、それぞれＩ₁₀，Ｉ₁₂，Ｉ₁₃に等しい照度で照射された環１６２の部分の画素を示す。見て分かるように、ステップ４６６の実際の効果は、図４２（ａ）の画像から図４２（ｂ）の画像を引き、図４２（ｃ）の画像を生成することである。

次に、ステップ４７０に於いて、クリーンアップ手続きと呼ばれる操作が、偽物の照射された画素を削除するのに役立たせる為に実行される。特に、画素の値Ｉ₁₃から出発して、ＭＡＸ，ＭＩＮ，ＰＭＩＮ及びＰＭＡＸの操作が、この順序で、画素アレイ４６全体に渡って実行され、値Ｉ₁₄と称す画素値の更なる１セットを生成する。図４２（ｄ）は、値Ｉ₁₄に等しい照度で照射された環４６の画素を図示している。図４２（ｃ）と図４２（ｄ）を比較することによって分かるように、クリーンアップ操作の効果は、何等かの理由で、図４２（ｃ）に於いて照射されている様々な単独の画素を、単に削除することである。システム１０が、上記のルーチンＲ₁ 〜Ｒ₁₀に従ってデータの処理をした後、傷や欠陥の分析が行われ、図４３と４４が好適な欠陥検査又は分析ルーチンＲ₁₁を図示するフローチャートを示している。この分析は、図４５を参照してよく理解されるが、この図は、各々の値Ｉ₁₄に等しい照度で照射された、環１５０の部分の画素を示している。

図４３，図４４及び図４５を参照すると、この欠陥分析の第一の部分で、図４３のステップ４７２と４７４に於いて、ランレングスと呼ばれる各々の水平の連続した照射された一連の画素の出発点と終端部の画素のアドレスによってリストが作られる。特に、処理装置６４は、アレイ４６の各々の水平の画素の列をスキャンする。各々のスキャン中、一連の照射された画素に出会う毎に、この一連の画素の最初と最後の画素のアドレスは、ファイルｆ₆ に記録される。ただ１つの単独の照射された画素の場合、つまり、照射された画素の左側と右側の画素が、それ自体は照射されない場合は、この照射された画素のアドレスは、照射された画素によって形成されたランレングスの最初の画素のアドレスと画素のアドレスとして記録される。

特に、処理装置は、事実、画素アレイの画像をスキャンしないで、その代わりに、アレイ４６の画素の処理装置のメモリに記憶させた値Ｉ₁₄をチェックすることによって、上記のアドレスリストをコンパイルする。

ファイルｆ₆ が終了した後、ルーチンＲ₁₁は、ステップ４７５でクラスタ化サブルーチンを呼び出し、隣接した照射された画素の各々の領域やグループ、つまり、正確には、値Ｉ₁₄を持つ隣接した画素の領域やグループの為に、別々のファイルｆ_6a．．．ｆ_6nを生成する。適したものであれば、どんなクラスタ化サブルーチンでも、このクラスタ化を行う為に使用可能である。これらの別々のファイルｆ_6a．．．ｆ_6nを生成した後、ステップ４８０に於いて、図４５に於いて参照番号４８２、４８４で示した様に、お互いに隣接した照射された領域のファイルがマージされる。例えば、これは、１個の照射された領域の画素が、別の照射された画素である、たとえば２、３個の、ある所定の数の画素の中にあるかどうかを判断する為にチェックすることによって行うことができる。これらの隣接した照射された領域は、事実、１つの照射された領域を形成するものとして判断される。

ステップ４８０が終了した後、ステップ４８６で、サブルーチンが呼び出され、その領域と、照射された画素の各々の領域の図心及び区画ボックスが計算される。多くのサブルーチンが、これらの計算を実行する為に公知である。この様な適したサブルーチンであればどんなものでも、ルーチンＲ₁₁で使用可能で、これらのサブルーチンに関して詳述する必要はない。

次に、ルーチンＲ₁₁は、各々の照射された領域の一般的な位置を決定する。特に、ステップ４９０に於いて、環１５０のそれぞれ外側端部と内側端部１５０ａ，１５０ｂに一致させた２つの円の中心のアドレスと半径が得られる。これらのデータは、中心外れ試験中に決定あるいは発見され、その後、処理装置のメモリに記憶される。これらのデータは、単に、その処理装置メモリからデータを検索することによって得ることができる。つぎに、ステップ４９２に於いて、処理装置６４は、照射された画素の各々の領域の図心が、（ｉ）レンズの中心領域（環の内側端部に一致させた円の半径方向の内側の領域）内、又は（ｉｉ）レンズの周辺領域（環の内側端部と外側端部に一致させた２個の円にはさまれたレンズ領域）にあるかどうかを判断する。

領域の図心が、第一の円内にあるか、２つの一般的に同心円である円の間にあるかを判断する為に、多くのサブルーチンが公知であって、このサブルーチンについて詳述する必要はない。

広義に於いて、ステップ４９０と４９２は、装置１０の操作に必要ではない。しかし、好ましくは、これらのステップが実行され、関係するデータが、分析の為、特に、不規則な箇所や欠陥が、レンズ中のどこに発生しているかを確認するのに役立つので収集される。これらのデータは、レンズを製造する為の手順や材料を調整したり改善するのに役立つ。

ステップ４９０と４９２が終了した後、処理装置は、画素の各々の照射された領域のサイズが、レンズが拒絶される傷又は欠陥として認定される程度に大きいかどうかを判断する。特に、ステップ４９４に於いて、照射された画素の各々の領域のサイズは、前もって選択されたサイズと比較される。もし、その照射された領域が前もって選択されたサイズよりも小さいと、その照射された領域は、レンズを拒絶するには十分ではない。しかし、照射された画素の領域が、前もって選択されたサイズよりも大きいと、その照射された領域は、レンズを消費者の使用に適さないとする傷や欠陥として認定される。この前もって選択されたサイズは、例えば、メモリ装置７０に記憶される。

好ましくは、ステップ４９６で、カウントは、各々のレンズで発見された欠陥の数で保持される。このカウントは、レンズを製造するために使用されるプロセスや材料を分析する為に役立つ。

ステップ５００で、表示がモニタ７２に生成されて、照射された画素の領域を示しており、上記のしきい値サイズよりも大きい領域が区画ボックス内に表示される。ステップ５０２で、処理装置６４は、なんらかの欠陥が、レンズ中に発見されたかどうかを判断する為にチェックする。もし、欠陥が発見されると、ステップ５０４に於いて、拒絶レンズ信号が生成され、モニタ７２とプリンタ７６に送信され、レンズは、装置１０から取り除かれる。しかし、もし、レンズに何等の欠陥も発見されなかった時は、ルーチンＲ₁₁が、単に終了する。続いて、装置１０が作動して、別のレンズを、照射された副装置の背後に移動させ、別の光パルスが、その別のレンズを透過する。この投射された光は、画素アレイ４６上に焦点を結び、上記の処理手続きが繰り返され、この別のレンズが、消費者の使用に適しているかどうかを判断する。

ここに開示した発明は、前に述べた目的を満足すべく精密に計算されていることは明かであるが、当業者によって多くの改良並びに実施例の工夫が可能であることが理解され、掲げた請求項は、本発明の精神と範囲に属する改良案と実施例のすべてを網羅する様に意図されている。

次に本発明の実施態様について説明する。
（Ａ） 多くの眼レンズを所定の経路に沿って移動させ、前記眼レンズの各々を、一度に１個づつ、レンズ検査位置に移動させる搬送副装置と、一連の光パルスを生成し、それぞれの光パルスを、レンズ検査位置を通過する眼レンズを透過させる照明副装置と、前記眼レンズを透過させた前記光パルスの選択された部分を表す信号の１セットを生成する画像副装置と、前記画像副装置からの信号を受信して、所定のプログラムに従って前記信号を処理し、少なくとも、前記レンズ各々の１つの状態を確認する画像処理副装置とを具備するレンズ検査装置。
（１）搬送副装置は、多くの眼レンズを保持するレンズキャリアと、前記レンズを支持し、前記レンズキャリアを移動させて、その中のレンズの各々を、１度に１個づつ、レンズ検査位置に移動させる様になっている支持アセンブリを包含する実施態様（Ａ）記載の装置。

（２）支持アセンブリは、ｉ）基礎と、第一の方向に動く為に、基礎によって支持された第一のフレームと、前記第一の方向とは垂直な第二の方向に動く為に、前記第一のフレームによって支持された第二のフレームとを包含した移動テーブルと、ｉｉ）第一のフレームを前記第一の方向に移動させ、第二のフレームを前記第二の方向に移動させる為の手段とを包含しており、かつレンズキャリアは、第二のフレームと一緒に動くために、第二のフレームによって支持されている前記実施態様第１項記載のレンズ検査装置。

（３）照明副装置は、光パルスを生成するフラッシュランプと、フラッシュランプを、選択された時間に稼働させるランプ制御装置と、光パルスをフラッシュランプから、所定の経路に沿って投射し、レンズ検査位置を通過する眼レンズに透過させる為の手段とを包含している実施態様（Ａ）記載のレンズ検査装置。

（４）照明副装置は、更に、光パルスの断面領域のサイズを調節する為に、前記所定の経路に位置する調整可能なダイヤフラムを包含する前記実施態様第３記載のレンズ検査装置。

（５）画像副装置は、前記組の信号を生成する画素アレイと、画素アレイとレンズ検査位置の間に位置する不透明な障害物と、不透明な障害物とレンズ検査位置の間に配置され、レンズ検査位置を透過した光の第一の部分を前記障害物上に焦点を結ばせ、レンズ検査部分を透過した光の第二の部分を画素アレイ上に焦点を結ばせる為の画像レンズとを包含する実施態様（Ａ）記載のレンズ検査装置。

（６）照明副装置は、光パルスをレンズ検査位置を透過させ、所定の軸に沿って画像副装置に投射し、かつ画素アレイと、不透明な障害物と画像レンズは、前記所定の軸上に位置させた前記実施態様第５記載のレンズ検査装置。

（７）眼レンズの１個がレンズ検査位置を通過する毎に、照明副装置を起動させて光パルスのそれぞれ１個を生成する制御副装置を包含する実施態様（Ａ）記載のレンズ検査装置。

（８）搬送副装置は、眼レンズの１個がレンズ検査位置を通過する毎に、トリガ信号を生成する手段を包含しており、かつ、制御副装置は、搬送副装置からのトリガ信号を受信して、前記各々の光パルスを生成する為に、照明副装置にトリガ信号を送信することを特徴とする前記実施態様第７項記載のレンズ検査装置。

（９）搬送副装置は、眼レンズの１個がレンズ検査位置を通過する毎に、トリガ信号を生成する手段を包含しており、照明副装置は、ｉ）光パルスを生成する為のフラッシュランプと、ｉｉ）選択された時間にフラッシュランプを起動させるランプ制御装置とを包含しており、画像副装置は、ｉ）ハウジングと、ｉｉ）前記組の信号を生成する為にハウジング内に配置した画素アレイとを包含しており、そのハウジングは、閉の位置と、画素アレイを眼レンズを透過した光パルスに暴露するための開の位置を持っているシャッタを包含しており、かつ、レンズ検査装置は、更に、搬送副装置からのトリガ信号を受信し、トリガ信号を（ｉ）ランプ制御装置に送信して、フラッシュランプを稼働させ、１個の光パルスを生成し、（ｉｉ）前記シャッタに送信して、シャッタを開の位置に移動させ、画素アレイを前記組の光パルスに暴露させる為の制御副装置を包含していることを特徴とする実施態様（Ａ）記載のレンズ検査装置。

（１０）画像副装置は、眼レンズの各々を透過する光パルスの選択された部分を表す各々の信号の組を生成して、かつ、画像処理副装置は、前記組の信号の各々を処理して、多くの所定の状態のいずれか１つが、眼レンズの各々に存在するかどうかと、前記所定の状態のいずれか１つが眼レンズの１つに発見されるかどうかを判断することと、データ処理副装置は、前記１個の眼レンズに前記所定の状態の前記１つが存在していることを示す信号を生成することを特徴とする実施態様（Ａ）記載のレンズ検査装置。

（Ｂ） 少なくとも１回の電磁周期の間に、レンズの画像を捕らえるステップと、前記画像を画素のグループに分割するステップと、位置と画像の照度値を各々の画素に割り当てるステップと、画素間で、位置の値と画像の照度を比較するステップと、前記レンズの特徴に対応して、画素のセットを確認するステップと、レンズが受け入れ可能かどうかを確認する為に、１セットの画素間の関係を所定の関係とで比較するステップとを具備する眼レンズを検査する方法。
（１１）画素間の前記比較は、レンズ端部を横切る経路に沿って行われる実施態様（Ｂ）記載の方法。

（１２）前記特徴の確認は、特徴を共有する画素を収集して１組を形成する実施態様（Ｂ）記載の方法。

（１３）前記比較は、レンズ端部を構成する１組の画素内部で行われる実施態様（Ｂ）記載の方法。

（１４）前記比較は、レンズ内部の部分を構成する１組の画素内部で行われる実施態様（Ｂ）記載の方法。

（Ｃ） 多くの眼レンズを所定の経路に沿って移動させ、それらのレンズの各々をレンズ検査位置に移動させるステップと、一連の光パルスを生成するステップと、各々の光パルスがレンズ検査位置を通過する眼レンズを透過するように前記光パルスを導くステップと、前記眼レンズを透過した光パルスの選択された部分を表す１セットの信号を生成するステップと、前記レンズの各々の少なくとも１つの状態を確認する為に、所定のプログラムに従って前記信号を処理するステップとを具備する眼レンズを検査する方法。
（１５）処理ステップは、多くの所定の状態のいずれか１個が眼レンズの各々に存在するかどうかを判断する為に前記信号を処理するステップと、もし、前記所定の状態のいずれかが眼レンズの１個に発見される場合には、前記眼レンズに前記状態の前記１個が存在することを示す信号を生成するステップを包含することを特徴とする実施態様（Ｃ）記載の方法。

（１６）移動ステップは、眼レンズがレンズ検査位置に移動する毎に、トリガ信号を生成するステップを包含し、光パルスを生成するステップは、トリガ信号が生成される毎に、光パルスの１個を生成するステップを包含することを特徴とする実施態様（Ｃ）に記載の方法。

自動的に眼レンズを検査する為の装置の略図。 図１の装置で検査することのできる眼レンズの１タイプの平面図。 図２に示すレンズの側面図、およびそのレンズの周辺部分の拡大図。 図１の眼レンズ検査装置に使用される搬送副装置の詳細図。 図１の装置に使用されるレンズキャリアの平面図。 図１に示されるレンズキャリアの側面図。 暗視野照明と呼ばれる照明技術の原理を示す略図。 図１に示すレンズ検査装置の照明と画像副装置の詳細図。 画像副装置の画素アレイの部分を示す図。 図２、３で示されるタイプの眼レンズが、図１のレンズ検査装置で検査されている時に画素アレイに形成される画像を示す図。 照明と画像副装置に使用できる３つの代替の光学的形態を示す図。 （ａ）はレンズ検査装置の制御副装置の動作を示す図。（ｂ）は搬送、照明、画像副装置の作動における様々な一連の事象を示すタイムダイアグラム図。 レンズ検査装置のデータ処理副装置の略図。 レンズ検査装置で援用される好適なデータ処理手順の主要な構成要素を示す概略図。 レンズ検査装置の画素アレイに形成された眼レンズの画像を示す図。 中心外れ試験と呼ばれるレンズ検査手順を図示するフローチャート。 図１６の続きを図示するフローチャート。 （ａ）は画素アレイ上に形成された眼レンズの画像を示す、図１５に類似した図。（ｂ）は（ａ）に示した環の部分の拡大図。（ｃ）は（ｂ）を横切った線分上の画素を照射した時の照度を示すグラフ図。（ｄ）〜（ｉ）は（ａ）に示した環の端部を確認するのに役立つ画素の処理した値を抽出する為にある画素の照度値について行った様々な処理の結果を示すグラフ図。（ｊ）は処理された照度値で照射された画素アレイの画素を示す図。 画素アレイの画素の為に決定した最初の照度値を処理する為の好適な手順を示すフローチャート。 画素アレイの画素の為のデータ値に行ったマスキング手順の効果を示す図。 好適なマスキング手順を示すフローチャート。 ラバーバンドアルゴリスムと呼ばれる更なるデータ処理手順を示す図。 図２２の続きのデータ処理手順を示す図。 線画像の端部上の第一の画素を確認する為に使用されるサブルーチンを示す図。 ラバーバンドアルゴリスムの第一の主要な部分を、詳細に示すフローチャート。 ギャップがレンズ画像の外側端部に発見された場合に呼び出されるサブルーチンを示すフローチャート。 レンズ画像の外側端部の部分を示し、その端部の対象となる様々な画素を確認する為の図。 余分な辺が、レンズ画像の外側端部に発見された時、呼び出されるサブルーチンのフローチャート。 図２３で概略が示される手順が完成した後に呼び出されるルーチンを示す図。 ラバーバンドアルゴリスムの第二の主要な部分を、詳細に示すフローチャート。 レンズ画像の１部分の外側端部と、ラバーバンドアルゴリスムの第二の部分に使用されるいくつかのベクトルを示す図。 ラバーバンドアルゴリスムの第三の主要部分の詳細の概略を示すフローチャート。 図３２に示す手順の２段階の効果を図示する図。 図３２に示す手順の２段階の効果を図示する図。 環の外側端部の部分で、ある線分がその端部に付加されている状態を示す図。 ＭＡＸ，ＰＭＡＸ，ＭＩＮ，ＰＭＩＮと呼ばれる様々な操作の結果を示す図。 レンズ端部のハイライトされた欠陥の可能性のある部分を強調する為に、画素に適用された好適な手順を示す図。 図３７に示す手順の結果を示す図。 画素データの処理に援用された第二のマスキング手順を示すフローチャート。 この第二のマスキング手順とその結果を示す図。 検査しているレンズの更なる欠陥を強調する為に画素データに適用される更なる手順のフローチャート。 図４１に概略を示した手順の操作と結果を示した図。 検査中のレンズの傷や欠陥を確認する為に使用される手順のフローチャート。 検査中のレンズの傷や欠陥を確認する為に使用される手順のフローチャート。 レンズ中の可能性ある欠陥の様々なタイプを示す図。

Claims (5)

1. 眼レンズの検査方法であって、
   少なくとも１つの電磁周波数において眼レンズの画像をとらえるステップと、
   前記画像を画素の集まりに分割するステップと、
   位置の値と輝度の値とを各画素に割り当てるステップと、
   位置の値および輝度の値を画素間で比較するステップと、
   前記眼レンズの特徴に対応する画素のセットを特定するステップと、
   眼レンズが受け入れ可能かどうかを確認するために、１セットの画素間の関係を所定の関係と比較するステップと、
   を具備する、眼レンズ検査方法。
2. 請求項１記載の眼レンズ検査方法であって、
   画素間の前記比較は、眼レンズ端部を横切る経路に沿って行われる、眼レンズ検査方法。
3. 請求項１または２記載の眼レンズ検査方法であって、
   特徴の前記特定は、特徴の特性を共有する画素を収集して１組を形成するステップを含む、眼レンズ検査方法。
4. 請求項１に記載の眼レンズ検査方法であって、
   画素間の前記比較は、眼レンズ端部を構成する１組の画素の間で行われる、眼レンズ検査方法。
5. 請求項１に記載の眼レンズ検査方法であって、
   画素間の前記比較は、眼レンズ内部の部分を構成する１組の画素の間で行われる、眼レンズ検査方法。

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