JP2004527750A5 - - Google Patents

Claims (17)

1. 空間にわたり配置され付けられたベンチマーク参照点の集合であって、該参照点のうち互いに所定近距離内に位置する３つからなる第１の組により規定される三角形が、該参照点のうち互いに前記所定近距離内に位置する３つからなるいずれの第２の組により規定されるもう１つの三角形とも対称でない、集合。
2. 空間内の所定場所から前記第１の点の組への距離及び方向が、前記場所から前記第２の点の組への距離及び方向と相違し；
   それにより、前記場所の位置座標が、前記点のうち互いに前記所定近距離内に位置するいずれか３つとの関係におけるその距離及び方向から導かれうる請求項１の集合。
3. 行及び列の歪んだグリッドパターンに沿って配置された前記点のアレイを含み；
   前記点が、線形且つ直交的なグリッド線に沿って正確に整列しておらず；
   前記所定近距離が、２×２サブアレイを規定する参照点から構成される請求項１又は２の集合。
4. 行及び列の歪んだグリッドパターンの、直交的に配向した層に沿って配置された、前記点の立方体形のアレイをさらに含み；
   前記所定近距離が、３×３サブアレイを規定する参照点から構成される請求項３の集合。
5. 前記参照点が、支持表面にわたって位置決めされるベンチマークを含む請求項３の集合。
6. 前記支持表面が床を含む請求項５の集合。
7. 請求項５に記載の集合と、
   所定場所に位置決めされる旋回空間座標測定アームであって、所定のリーチを有し、且つプローブチップを含むアームとの組合わせを含む、空間測定システム。
8. 前記ベンチマークが、前記プローブチップを収めるよう形状及び寸法決めされ、前記参照点を規定する軸を有する凸円錐状のくぼみを含む請求項７のシステム。
9. 前記集合が、少なくとも１つの前記サブアレイを前記アームのリーチ内に含み、前記サブアレイ内の参照点のそれぞれが前記くぼみの一つにより規定される請求項８のシステム。
10. 前記プローブチップを連続的に前記くぼみに挿入すると前記サブアレイ中の参照点座標を自動的に計算する手段をさらに含む、請求項９のシステム。
11. 前記３つの参照点座標から、前記場所の座標を導く手段をさらに含む請求項１０のシステム。
12. 固定されたベンチマーク参照点のグローバル座標パターンと関連して移動可能な測定機器を備え、該測定機器を移動する度ごとに、該機器の位置を関連するデータプロセッサに入力する必要があるコンピュータ化された空間測定システムによる空間測定方法であって、歪んだグリッド線に沿って前記参照点を配置し、前記点が、線形且つ直交的なグリッド線に沿って正確に整列しておらず、それにより前記位置が、合わせて三角形を形成しうる３つの前記参照点の位置を測定することにより、前記データプロセッサに自動的に入力される、空間測定方法。
13. 前記配置する工程が、前記点のうち互いに所定近距離内に位置する３つからなる第１の組により規定される三角形が、該参照点のうち互いに前記所定近距離内に位置する３つからなる第２の組により規定されるいずれの他の三角形とも対称でありうる可能性を避けるのに十分な量、前記参照点を線形グリッドパターン位置から空間的にオフセットすることを含む請求項１２の方法。
14. 前記所定近距離が、２×２サブアレイにより規定される参照点から構成される請求項１２記載の方法。
15. 前記所定近距離が、３×３サブアレイにより規定される参照点から構成される請求項１２記載の方法。
16. 前記空間的にオフセットする工程が、２次元の変動範囲内で、前記点の少なくとも一つを移動することを含む請求項１２記載の方法。
17. 前記空間的にオフセットする工程が、３次元の変動範囲内で、前記点の少なくとも１つを移動することを含む請求項１２の方法。