JP2004518282A - 金属酸化物半導体の回路系を使用して行う低エネルギー帯電粒子の直接検出 - Google Patents
金属酸化物半導体の回路系を使用して行う低エネルギー帯電粒子の直接検出 Download PDFInfo
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Abstract
Description
関連出願の相互参照
本願は、2001年1月16日付けで出願された米国仮特許願第60/262,020号の優先権を主張するものである。
【0002】
背景
焦点面質量分析計(focal plane mass spectrometer)は知られている。例えば、普及している焦点面型質量分析計の一つは、いわゆるマッタウフ−ヘルツォーク型(Mattauch−Herzog geometry)のものである。これらの装置は、異なる質量を有するイオンを、焦点面にそって空間で分離する。この種の分光分析計の作動の利点は、100%のデューティサイクルが可能でありかつイオン検出の感度が高いことである。このシステムは、取り扱いにくいことがありかつ感度が不充分なことがある写真乾板などの従来のシステムに匹敵している。
【0003】
質量分析計の焦点面にそって空間で分離されたイオンを同時に測定する電気光学イオン検出器(EOID)が米国特許第5,801,380号に記載されている。この装置は、イオンを電子に変換し次に光子に変換することによって作動できる。その光子は、イオン誘発信号の画像を形成する。そのイオンは、マイクロチャネル電子増倍アレーに衝突することによって電子を生成する。その電子は加速されて、蛍光体(phosphor)をコートされた光ファイバープレートに向かいそのプレートが光子画像を生成する。これらの画像は光検出アレーを用いて検出される。
【0004】
EOIDは、多くの点で非常に有利であるが、多くの変換が必要なので比較的煩雑である。その上に、蛍光体を使用する必要があるから、蛍光体がこの検出器のダイナミックレンジを限定する点で煩雑になる。マイクロチャネル装置も、高い電圧、例えば1Kvを印加する必要があるので煩雑である。また、この装置は、10−6トルのような減圧環境内に置かれるマイクロチャネル装置のような特定の構造を必要とすることがある。これらの高い操作圧力において、マイクロチャネル装置は、イオンのフィードバック及び放電を経験することができる。フリンジ磁界(fringe magnetic field)は電子の軌道(electron trajectory)に影響することがある。また等方性りん光の発光(isotropic phosphorescence emission)も分解能に影響することがある。したがって、質量分析計の分解能は、上記の作用及びその他の作用によって損われることがある。
【0005】
要約
本願は、例えばGCMSシステムなどの質量分析システムに使用できる電荷検知システムであって、質量分析装置のイオンを、(例えばEOIDのように)測定する前に電子及び光子に変換することなしに直接測定できる改良システムを定義する。一実施態様は電荷結合デバイス「CCD」の技法を利用できる。このCCD技法は金属酸化物半導体を含んでいてもよい。このシステムは、検出器を使用して、帯電粒子を直接検出し収集することができる。その検出された帯電粒子は、CCDの一部と関連するシフトレジスタに直接蓄積する画像電荷の等価物(equivalent)を生成する。この信号電荷は、通常の方式で、CCDを通じて、クロックに同期して単一の出力増幅器に出力させることができる。CCDは、その検出器全体に対して電荷対電圧変換増幅器を一つしか使用しないので、検出器アレー内の個々の要素の信号利得とオフセットバリエーションを最小限にすることができる。このことは、CMOSの技術を超える利点である。
【0006】
詳細な説明
図1は本発明の一実施態様を示す。質量分析システム98(ガスクロマトグラフ−質量分析計の組み合わせ又は質量分析計単独でもよい)は、焦点面99にそってイオンを生成する。質量が異なるイオンが、その焦点面にそって空間で分離される。これらのイオンは、焦点面にそって、個々の検出器によって、高い空間分解能で測定されなければならない。この実施態様によれば、焦点面上でのイオンを測定するのに電子線形アレー検出器を使用できる。
【0007】
CCDシフトレジスタに接続された容量性要素(capacitive element)のアレーが、帯電粒子の検出器を、焦点面にそって形成している。この実施態様において、CCD画素100、105、110、115の線形アレーが焦点面99にそって形成されている。各画素は、通常の3相CCDプロセス法を利用して製造される。各画素は、互いに絶縁された2層の導電性材料で製造された容量性検知要素部分130を備えている。その導電性材料は、例えばアルミニウム又は他の導電性結線材料であればよい。その容量性検知要素は、電荷モード入力構造体135を利用して、CCDシフトレジスタに接続することができる。その電荷モード入力構造体は、典型的に、フィル−アンド−スピル入力構造体(fill−and−spill input structure)として知られている。この要素は、容量性検知要素に集められた電荷を検知してそのキャパシタの電荷に比例する信号電荷のパケットを生成する。フィル−アンド−スピルは当該技術分野でよく知られており、例えば、D.D.Bussら、「Applications to Signal Processing」、Charge Coupled Devices And Systems、1979年に記載されている。フィル−アンド−スピルによって、オフセットレベルが無視できる程度の100dbより大きい直線性(linearity)を生成することができる。また、そのフィル−アンド−スピルの構造体は、電荷ドメインに利得を効果的に提供することができる。例えば、この実施態様の電荷モード増幅器は10の利得を得ることができる。その電荷モード増幅器の出力は、信号収集領域140に送られ、次いでCCDシフトレジスタ145に送られる。この構造体のさらに詳細な内容を本明細書に提示する。
【0008】
図2は、帯電粒子検出器として作動するユニットセルを示す。上記のように、イオンは、イオン捕獲電極200とボトム電極202を含む一対の電極によって捕獲される。入射帯電粒子が上記電極対によって捕獲される。
【0009】
これら電極は各々、それぞれのトランジスタに接続されている。すなわち、電極200はトランジスタ205に接続され、そして電極202はトランジスタ206に接続されている。これらのトランジスタは、電極200、202に対する電位をリセットレベルに定期的にリセットするように駆動される。これら電極の下にゲート210が配置されている。そのゲート210は、フィル−アンド−スピルの入力、レベル制御ゲート及びCCDレジスタパートを備えている。検出器の一部であってもよく又はある種の外部ユニットであってもよい制御器250が、本明細書に記載されている順序で本明細書に記載される信号の生成を制御することができる。
【0010】
図3は、検出キャパシタ199を初期化次いでリセットする、本発明の装置を初期化する手順を示す。本発明の装置の作動の第一部分は、検出キャパシタ199のトップ電極200とボトム電極202を既知の電位にリセットすることを要求する。したがって、それぞれの電界効果トランジスタ205が駆動されて、電極200、202に既知の電位を印加する。DD1に対するバイアスは低くすることができる。又はバイアスは「SIG」ゲートを通じて加えられる。
【0011】
図4は、前記キャパシタをリセットから解放し、次に、その「リザーバ(reservoir)」領域を、リザーバゲート400によって、電荷で、前記フィル−アンド−スピルの一部としてフィルすることを示している。第一に、ダイオード領域DD1に印加されるバイアスはグランドに向かって立ち上げられる。これは、ゲートDCによって形成されたバリアを超えて上記リザーバ領域にスピルする電荷のソースを提供する効果がある。この期間中、ゲートDDGは、オンの状態に保持され、その結果、オーバーフローする電荷を、ドレインダイオードDDOを通って前記構造体から直接、除くことができる。
【0012】
図5では、リセットFET205、206がターンオフされている。また、ダイオードDD1がその初期の正のレベルまで再びバイアスされる。出力ゲートDDG/TGはオフに維持されている。これによって、リザーバ内の信号を平衡させることができる。このように、残留リセット電荷が除去される。
【0013】
上記のフィル−アンド−スピルの操作は、キャパシタプレートに印加された絶対電圧レベルに対する感度を実質的に補償することができる。したがって、固有FETしきい値及び放射線誘発FETしきい値の両者のFETしきい値のいずれの変動も重要性が低くなる。これらの変動は、検出アレーを形成するユニットセル内の信号オフセットを変動させない。また、これは、ダイオード源を通じて電荷でウェルをフィルする結果として別様に存在しうるKTCノイズを除くことができる。
【0014】
図6は、すべての平衡操作が完了したときの結果を示す。次いで、前記構造体が帯電粒子を検出し始める。帯電粒子がキャパシタプレート上に検出されると、これら粒子からの電荷がゲートSIGの電圧レベルを変化させる。この電圧の変化によって、電荷のパケットが、前記リザーバからSIGゲートを横切って、ゲートW−2とW−3によってコレクションウェル(collection well)中に流入する。大きいリザーバとより小さいSIGゲートを使用することによって、増幅を電荷ドメインに起こすことができる。SIGゲート上での小さい変化によって、リザーバからの一層多量の電荷流(charge flow)を生成することができる。上記サイクルの所望の部分が終了すると、DDG/TGゲートは、バイアスされて、それ以上の電荷の移転を防ぐことができる。
【0015】
図7は積分サイクル(integration cycle)の終了を示す。SIGゲートの電位によって定義されるケイ素ウェル内の電位レベルは、積分される信号電荷の量を決定する。電荷の検出と信号の積分は、SIGゲートが生成する電位が、リザーバによって保持されている電荷のレベルより低く低下するまで続けることができる。実際に、積分は、リセットトランジスタ205、206を使用して、いつでも停止することができる。
【0016】
図8と9は、収集された信号電荷が、ゲートW−2、W−3によって、記憶ウェルからCCDシフトレジスタS1、S2へどのようにして転送されるかを示す。図8は、収集領域からCCDシフトレジスタ中への電荷の転送を示す。次に、図9は、CCDシフトレジスタ内の電荷について操作が完了したことを示す。前記転送は、前記制御ゲートに適当なバイアスを加えることによって実施される。次に、電荷は、標準の電荷−電圧変換ステージによって、CCDシフトレジスタの出力において検出される。
【0017】
いくつかの実施態様だけを詳細に開示してきたが、他の変形実施態様も可能である。例えば、先に開示した実施態様は、二つの連続プレートで製造された単一の大きな検出キャパシタを使用すると記載されている。しかし、別のシステムは、第二セットのCCDレジスタによって直列に連結された一連のより小さい検出キャパシタを使用できる。上記第二セットのレジスタは、CCDシフトレジスタに対して直角に接続することができる。これらのレジスタは、小さいキャパシタンスの各々からの電荷パケットを合計することができる。このシステムは、演算を速く行うことができかついくつかの条件内でノイズ性能を改善できる。
【0018】
このような変型はすべて本願の請求項に含まれる。
Claims (33)
- イオンの入口部分及び電子イオン検出要素の線形アレーを備えてなるシステムであって、そのアレーの各要素が、イオン焦点面にそって異なる位置に配置され、かつイオンが生成する電荷を直接検出して、その電荷を示す信号を生成するシステム。
- アレーの前記各要素が、CCDの技法を利用して製造された構造体を備えている請求項1に記載のシステム。
- 電荷を示す前記信号を受信して、その電荷信号を増幅する電荷モード増幅器をさらに備えている請求項1に記載のシステム。
- 前記イオンを前記焦点面にそって生成する質量分析計をさらに備えている請求項1に記載のシステム。
- 前記電子イオン検出要素がイオン検出器を備え、そのイオン検出器が、受け取った電荷の量を示す電荷モード出力を生成する請求項1に記載のシステム。
- 前記イオン検出器が、絶縁体によって隔てられた第一電極と第二電極を備えている請求項5に記載のシステム。
- 前記イオン検出器が各々容量性検知要素を備えている請求項5に記載のシステム。
- 前記イオン検出器が受け取った電荷の量を増幅する電荷モード増幅器をさらに備えている請求項5に記載のシステム。
- 前記電荷モード増幅器から、増幅された電荷を受け取るCCDシフトレジスタをさらに備えている請求項8に記載のシステム。
- 前記イオン検出器が各々、イオンを受け取るように配置構成された第一電極、前記第一電極から間隔を置いて位置している第二電極、及び受け取ったイオンからの電荷を示す出力信号を生成する出力信号捕獲要素を備えている請求項1に記載のシステム。
- 前記第一電極と第二電極の電荷の量をリセットするため、それぞれ接続された第一リセット要素と第二リセット要素をさらに備えている請求項10に記載のシステム。
- 前記電子イオン検出要素のリセット要素をさらに備えている請求項1に記載のシステム。
- 前記電子イオン検出要素から受け取った電荷を蓄積する複数の追加ゲートをさらに備えている請求項11に記載のシステム。
- 前記複数の追加ゲートが、前記イオン検出器によって蓄積される電荷の電荷リザーバを画成している請求項13に記載のシステム。
- 前記ゲートを制御して、前記電荷リザーバの内容物をまずフィルし次いでスピルする制御器をさらに備えている請求項14に記載のシステム。
- 前記制御器が、前記ゲートを制御して、前記フィル−アンド−スピルを行った後、蓄積された電荷を受け取る請求項15に記載のシステム。
- 前記電子イオン検出要素から電荷を受け取るCCDシフトレジスタをさらに備えている請求項1に記載のシステム。
- イオンをそれぞれ受け取る電子装置のアレーを提供し、
前記電子装置をリセットし、次いでその電子装置をフィルし次にスピルし、
分析されている元素を示す、前記電子装置内のイオンを受け取り、次いで
前記イオンによって生成された電荷をCCDシフトレジスタに転送する、ことを含んでなる、分離されたイオンを生成する質量分析器の操作方法。 - 前記アレーを提供することが、前記イオンからの電荷を受け取るキャパシタ検知要素のアレーを含むことを含む請求項18に記載の方法。
- 前記アレーが、異なる線形位置に配置された異なる容量性検知要素を有する線形アレーである請求項19に記載の方法。
- 前記リセッティングが、前記容量性センサの両電極に、既知の電位を加えることを含んでいる請求項20に記載の方法。
- 前記フィル−アンド−スピルが、電荷リザーバを、電荷を含むノードからの電荷でフィルし、前記リザーバを平衡させ、次いで信号電荷を前記リザーバ中に積分することを含む請求項20に記載の方法。
- 質量分析システムからイオンを受け取る位置に配置された焦点面領域と、
前記焦点面領域にそって線形アレー中に配置された複数の電荷検出要素であって、各々が、前記イオンを受け取って前記イオンに基づいて電荷信号を生成する第一電極と第二電極で形成されている電荷検出要素と、
前記複数の電荷検出要素から前記電荷を受け取り、次いでその電荷を処理してその電荷を示す出力信号を生成するCCDベースの処理システムと
を含んでなるシステム。 - CCDベースの処理システムが、信号を示す電荷を獲得する前に、フィル−アンド−スピルの作動を行う請求項23に記載のシステム。
- 前記複数の電荷検出要素が各々、同電荷検出要素を指定レベルにリセットするリセット要素を備えている請求項23に記載のシステム。
- 前記リセット要素が、第一電極に関連する第一リセット要素及び第二電極に関連する第二リセット要素を備えている請求項25に記載のシステム。
- 前記CCDベース処理システムが電荷モード増幅器を備えている請求項23に記載のシステム。
- 前記電荷モード増幅器が作動して、電荷の量を増幅する請求項27に記載のシステム。
- 前記電荷モード増幅器が異なる大きさの第一ゲートと第二ゲートで形成され、そして前記第一ゲートと第二ゲートの大きさの間の比率が、電荷を増大する大きさを設定する請求項28に記載のシステム。
- 分析されている要素を示すエネルギーを有するイオンを生成する質量分析システムと、
前記イオンを受け取ることによって電荷を生成する電子検出器であって、イオン検出要素の線形アレーで形成され、そのイオン検出要素が各々、それに入射するイオンを受け取る電子検出器と、
前記イオンを増幅する作動を行う電荷モード増幅器と
を備えてなるシステム。 - 前記電子検出器が容量性センサを備えている請求項30に記載のシステム。
- 前記容量性センサが第一電極と第二電極を備え、そして第一電極が前記イオンを受け取り、そして第二電極が前記第一電極から隔てられている請求項31に記載のシステム。
- 前記容量性センサを既知レベルにリセットする作動を行うリセット要素をさらに備えている請求項32に記載のシステム。
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