JP2004363175A

JP2004363175A - Method of forming thin film pattern, electro-optical device, method of manufacturing the same, and electronic apparatus

Info

Publication number: JP2004363175A
Application number: JP2003156843A
Authority: JP
Inventors: Hiroyuki Saito; 博之齊藤; Katsuhiro Imai; 克浩今井; Satoshi Taguchi; 聡志田口
Original assignee: Seiko Epson Corp
Current assignee: Seiko Epson Corp
Priority date: 2003-06-02
Filing date: 2003-06-02
Publication date: 2004-12-24

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method of forming a thin film pattern which is capable of preventing a thin film that is not an object of etching from being etched even when thin films is subjected to etching under the condition that etching selectivity is set low, and to provide an electro-optical device, its manufacturing method, and an electronic apparatus. <P>SOLUTION: A protective mask 3 is formed over the whole lower thin film pattern 2 on the surface of a board 1, and then the protective mask 3 is subjected to a thermal treatment. Then, an upper aluminum thin film 4 is formed on the protective mask 3, and then a patterning mask 5 is formed on the surface of the upper aluminum thin film 4. Then, the upper thin film 4 appearing out of the patterning mask 5 is patterned by etching into an upper thin film pattern 6, and then the patterning mask 5 and the protective mask 3 appearing from the upper thin film pattern 6 are removed simultaneously. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、下層側薄膜の上層側に形成した上層側薄膜をエッチングして薄膜パターンを形成するための薄膜パターンの形成方法、この方法で薄膜パターンを形成した基板を電気光学物質の保持用に用いた電気光学装置の製造方法、この方法で製造した電気光学装置、および電子機器に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
各種の電気光学装置や半導体装置などを製造する際には、半導体プロセスを利用して複数種類の薄膜パターンを同一基板上に順次形成していく。すなわち、図１５（Ａ）に示すように、基板１の表面に下層側薄膜パターン２（下層側薄膜）を形成した後、図１５（Ｂ）に示すように、基板１の全面に上層側薄膜パターンを形成するための上層側薄膜４（上層側薄膜）を形成する。次に、図１５（Ｃ）に示すように、フォトリソグラフィ技術を用いて、上層側薄膜４の表面に上層側薄膜パターンを形成するためのパターニング用マスク５を形成した後、図１５（Ｄ）に示すように、このパターニング用マスク５から露出している上層側薄膜４をエッチングによりパターニングして上層側薄膜パターン６を形成し、しかる後に、パターニング用マスク５を除去する剥離工程を行う。その結果、図１５（Ｅ）に示すように、同一基板１上に、下層側薄膜パターン２と上層側薄膜パターン６とを形成することができる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、図１５を参照して説明した薄膜パターンの形成方法において、上層側薄膜４から上層側薄膜パターン６をエッチングにより形成するときのエッチング条件が下層側薄膜パターン２と上層側薄膜４とに対するエッチング選択性が低い場合には、下層側薄膜パターン２もエッチングされてしまい、下層側薄膜パターン２を所望の形状、あるいは膜厚さに形成できないという問題点がある。このような問題点は、薄膜が導電膜であるか絶縁膜であるかにかかわらず、また、エッチング方法がウエットエッチングであるかドライエッチングであるかにかからず、発生する問題である。
【０００４】
また、下層側薄膜パターン２および上層側薄膜４の双方が導電膜である場合、基板１を、上層側薄膜４から上層側薄膜パターン６をウエットエッチングにより形成する場合のエッチング液、パターニング用マスク５を形成するときの現像液、洗浄液などの処理液に浸漬されるが、その際、局部電池作用により、電極電位が卑である薄膜が溶解するという問題点もある。すなわち、上層側薄膜４のピンホール、上層側薄膜４の段差切れ、あるいはエッチングの進行などに起因して下層側薄膜パターン２が処理液に接触すると、下層側薄膜パターン２および上層側薄膜４は、一部が接触した状態で双方が処理液に接することになり、下層側薄膜パターン２を構成する導電材料と、第２の薄膜パターン６６を構成する導電材料との間で電極電位の差が大きいと、局部電池の形成によって過度のエッチングが起こり、導電パターンを所望の形状、あるいは膜厚さに形成できないという問題点がある。
【０００５】
以上の問題点に鑑みて、本発明の課題は、同一基板上に形成された２つの薄膜から好適な薄膜パターンを形成可能な薄膜パターンの形成方法、この方法で薄膜パターンを形成した基板を電気光学物質の保持用に用いた電気光学装置の製造方法、この方法で製造した電気光学装置、および電子機器を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため、本発明では、下層側薄膜を形成する下層側薄膜形成工程と、前記下層側薄膜の上層側に上層側薄膜を形成する上層側薄膜形成工程と、フォトリソグラフィ技術により前記上層側薄膜の表面に感光性樹脂からなるパターニング用マスクを形成して当該上層側薄膜にエッチングを行うエッチング工程とを有する薄膜パターンの形成方法において、前記下層側薄膜形成工程の後、フォトリソグラフィ技術により前記下層側薄膜を覆う感光性樹脂からなる保護用マスクを形成した後、当該保護用マスクに熱処理を行う保護用マスク形成工程を行い、しかる後に、前記上層側薄膜形成工程を行うことを特徴とする。
【０００７】
本発明では、上層側薄膜にエッチングを行う際、下層側薄膜を保護用マスクで覆ってあるため、例えば、上層側薄膜に対して、下層側薄膜とのエッチング選択性の低い条件でエッチングを行う場合でも、下層側薄膜がエッチングされてしまうことがない。また、本発明では、保護用マスク形成工程において、保護用マスクを形成した後、熱処理を行う。このため、上層側薄膜を真空雰囲気内で形成する場合でも、保護用マスクから残留溶剤や低分子成分が放出されないので、上層側薄膜の膜質を低下させることがない。また、上層側薄膜を形成する際、保護用マスクに熱が加わった場合でも、保護用マスクにおいて、過度な反応の進行、劣化、体積収縮などに起因する表面の皺などが発生しないので、保護用マスクの表面に上層側薄膜を形成した際、上層側薄膜に浮きや剥がれが発生しない。
【０００８】
本発明は、薄膜が導電膜であるか絶縁膜であるかにかかわらず、また、エッチング方法がウエットエッチングであるかドライエッチングであるかにかからず、適用することができる。また、本発明は、上層側薄膜と下層側薄膜とが異なる材料であるか同一材料であるかにかかわらず、適用することができる。
【０００９】
ここで、上層側薄膜および下層側薄膜が導電膜である場合、本発明では、保護用マスクが形成されているので、局部電池作用に起因する過度の溶解が発生しない。
【００１０】
すなわち、基板は、上層側薄膜から上層側薄膜パターンをウエットエッチングにより形成するときのエッチング液、パターニング用マスクを形成するときの現像液、洗浄液などの処理液に浸漬されるが、上層側薄膜のピンホール、上層側薄膜の段差切れ、あるいはエッチングの進行などに起因して下層側薄膜が処理液に接触すると、下層側薄膜および上層側薄膜は、一部が接触した状態で双方が処理液に接することになり、下層側薄膜を構成する導電材料と、上層側薄膜を構成する導電材料との間で電極電位の差が大きいと、局部電池の形成によって過度のエッチングが起こる。しかるに本発明では、保護用マスクによって、下層側薄膜と上層側薄膜とが接触した状態で下層側薄膜および上層側薄膜の双方が処理液に接する状態を回避できる。従って、下層側薄膜および上層側薄膜に局部電池による過度の溶解が発生しないので、同一基板上に、異なる導電材料からなる導電パターンを所望の形状、あるいは膜厚さに形成することができる。
【００１１】
本発明において、前記上層側薄膜は、例えば、前記エッチング工程により前記下層側薄膜から離間した位置に上層側薄膜パターンを形成するための薄膜である。この場合、前記保護用マスク形成工程では、前記上層側薄膜パターンの表面側全体を覆い、かつ、前記上層側薄膜パターンの形成予定領域を避けた領域に前記保護用マスクを形成することが好ましい。このように構成すると、前記エッチング工程を行った後、前記保護用マスクを除去することができる。
【００１２】
本発明において、前記上層側薄膜は、前記エッチング工程により前記下層側薄膜に一部が重なる上層側薄膜パターンを形成するための薄膜であってもよく、この場合、前記保護用マスク形成工程では、前記下層側薄膜の表面側のうち、前記上層側薄膜パターンの形成予定領域を避けた領域に前記保護用マスクを形成することが好ましい。このように構成すると、前記エッチング工程を行った後、前記保護用マスクを除去することができる。
【００１３】
本発明においては、前記エッチング工程の後、前記パターニング用マスクを除去する剥離工程において、前記保護用マスクを同時に除去することが好ましい。
【００１４】
本発明に係る薄膜パターンの形成方法を用いて薄膜パターンを形成した前記基板については、例えば、電気光学装置の製造方法において、電気光学物質を保持する電気光学装置用基板として用いる。
【００１５】
本発明において、前記電気光学物質は、例えば、前記電気光学装置用基板と、該電気光学装置用基板に対向配置された基板との間に保持された液晶である。
【００１６】
また、本発明は、前記電気光学物質としてのエレクトロルミネッセンス材料が前記電気光学装置用基板上に形成された電気光学装置を製造する際にも適用することができる。
【００１７】
本発明に係る電気光学装置は、携帯電話機、モバイルコンピュータなどの電子機器に搭載される。
【００１８】
【発明の実施の形態】
図面を参照して、本発明の実施の形態を説明する。
【００１９】
［実施の形態１］
図１（Ａ）〜（Ｆ）は、本発明の実施の形態１に係る薄膜パターンの形成方法を示す説明図であり、各図の右側には平面図を示し、左側には断面図を示してある。
【００２０】
本形態では、まず、図１（Ａ）に示すように、成膜工程、フォトリソグラフィ工程、およびエッチング工程によって、基板１の表面に下層側薄膜パターン２（下層側薄膜）を形成する（下層側薄膜形成工程）。
【００２１】
次に、図１（Ｂ）に示すように、フォトリソグラフィ技術を利用して、感光性樹脂により、下層側薄膜パターン２全体を覆う保護用マスク３を形成した後、この保護用マスク３に対して熱処理を行う（保護用マスク形成工程）。
【００２２】
ここで、保護用マスク３は、下層側薄膜パターン２の表面側全体を覆い、かつ、後述する上層側薄膜パターンの形成予定領域を避けた領域に形成する。
【００２３】
次に、図１（Ｃ）に示すように、保護用マスク３の上層側に対して、基板１の表面全体に、上層側薄膜パターンを形成するための上層側薄膜４を形成する（上層側薄膜形成工程）。
【００２４】
次に、図１（Ｄ）に示すように、フォトリソグラフィ技術を利用して、感光性樹脂により、上層側薄膜４の表面に上層側薄膜パターンを形成するためのパターニング用マスク５を形成する（パターニング用マスク形成工程）。
【００２５】
次に、図１（Ｅ）に示すように、パターニング用マスク５から露出している上層側薄膜４をエッチングによりパターニングして上層側薄膜パターン６を形成する（エッチング工程）。
【００２６】
次に、図１（Ｆ）に示すように、有機系の剥離液を用いてパターニング用マスク５を除去する（剥離工程）。その際、保護用マスク３は、下層側薄膜パターン２の表面側全体を覆い、かつ、上層側薄膜パターン６の形成領域を避けた領域に形成してあるので、上層側薄膜パターン６から露出している保護用マスク３を同時に除去することができる。その結果、基板１には、下層側薄膜パターン２と上層側薄膜パターン６とを離間した位置に形成することができる。
【００２７】
このようにして、上層側薄膜４に対するエッチングにより上層側薄膜パターン６を形成する際、そのエッチング条件が上層側薄膜４と下層側薄膜パターン２とに対するエッチング選択性の低い場合でも、本形態では、下層側薄膜パターン２を保護用マスク５で覆っておくため、下層側薄膜パターン２がエッチングされてしまうことを防止できる。従って、下層側薄膜パターン２を所望の形状、あるいは膜厚さに維持することができる。
【００２８】
また、本形態では、保護用マスク形成工程において、保護用マスク３を形成した後、熱処理を行う。このため、上層側薄膜４を真空雰囲気内で形成する場合でも、保護用マスク３から残留溶剤や低分子成分が放出されないので、上層側薄膜４の膜質を低下させることがない。さらに、上層側薄膜４を形成する際、保護用マスク３に熱が加わった場合でも、保護用マスク３において、過度な反応の進行、劣化、体積収縮などに起因する表面の皺などが発生しないので、保護用マスク３の表面に上層側薄膜４を形成した際、上層側薄膜４に浮きや剥がれが発生しない。
【００２９】
また、本形態では、保護用マスク３およびパターニング用マスク５がいずれも、感光性樹脂からなるので、パターニング用マスク５を除去する剥離工程において、上層側薄膜パターン６から露出している保護用マスク３を同時に除去する。従って、２つのマスクを除去するための工程が１回で済むという利点がある。
【００３０】
なお、本形態の薄膜パターンの形成方法は、薄膜（下層側薄膜パターン２および上層側薄膜４）が導電膜であるか絶縁膜であるかにかかわらず、また、エッチング方法がウエットエッチングであるかドライエッチングであるかにかからず、適用することができる。また、本形態の薄膜パターンの形成方法は、２つの薄膜（下層側薄膜パターン２および上層側薄膜４）が異なる材料であるか同一材料であるかにかかわらず、適用することができる。
【００３１】
ここで、下層側薄膜パターン２および上層側薄膜４が導電膜である場合、本形態では、保護用マスク３が形成されているので、局部電池作用に起因する過度の溶解が発生しない。
【００３２】
すなわち、基板１は、上層側薄膜４から上層側薄膜パターン６をウエットエッチングにより形成するときのエッチング液、パターニング用マスク５を形成するときのアルカリ系現像液、洗浄液などの処理液に浸漬されるが、上層側薄膜４のピンホール、上層側薄膜４の段差切れ、あるいはエッチングの進行などに起因して下層側薄膜パターン２が処理液に接触すると、下層側薄膜パターン２および上層側薄膜４は、一部が接触した状態で双方が処理液に接することになり、下層側薄膜パターン２を構成する導電材料と、上層側薄膜４を構成する導電材料との間で電極電位の差が大きいと、局部電池の形成によって過度のエッチングが起こる。しかるに本形態では、下層側薄膜パターン２に対して上層側薄膜４が重なった状態にあるが、下層側薄膜パターン２と上層側薄膜４の層間に保護用マスク３が形成されており、下層側薄膜パターン２と上層側薄膜４とは、直接、接触してはいない。それ故、上層側薄膜４のピンホール、上層側薄膜４の段差切れ、上層側薄膜４に対するエッチングの進行などによって下地が露出した場合でも、下層側薄膜パターン２と上層側薄膜４とが接触した状態で下層側薄膜パターン２および上層側薄膜４の双方が処理液に接する状態を回避できる。従って、下層側薄膜パターン２を構成する導電材料と、上層側薄膜４を構成する導電材料との間で電極電位に大きな差があったとしても、下層側薄膜パターン２と上層側薄膜４との間に局部電池が形成されないので、電極電位的に卑な薄膜が過エッチングされることはない。また、エッチング工程の後、洗浄液に基板１が浸漬されても、下層側薄膜パターン２と上層側薄膜パターン６が離間しているので、局部電池が形成されない。それ故、下層側薄膜パターン２および上層側薄膜パターン６を所望の形状、および厚さに形成することができる。
【００３３】
［実施の形態２］
実施の形態１では、下層側薄膜パターン２と上層側薄膜パターン６とが平面的に離間した位置に形成されていたが、以下に説明するように、下層側薄膜パターン２と上層側薄膜パターン６とが部分的に重なる場合にも本発明を適用することができる。
【００３４】
図２（Ａ）〜（Ｆ）は、本発明の実施の形態２に係る薄膜パターンの形成方法を示す説明図であり、各図の右側には平面図を示し、左側には断面図を示してある。
【００３５】
本形態では、まず、図２（Ａ）に示すように、成膜工程、フォトリソグラフィ工程、およびエッチング工程によって、基板１の表面に下層側薄膜パターン２（下層側薄膜）を形成する（下層側薄膜形成工程）。
【００３６】
次に、図２（Ｂ）に示すように、フォトリソグラフィ技術を利用して、感光性樹脂により、下層側薄膜パターン２を部分的に覆う保護用マスク３を形成した後、保護用マスク３に対して熱処理を行う（保護用マスク形成工程）。
【００３７】
ここで、下層側薄膜パターン２の表面側のうち、後述する上層側薄膜パターンの形成予定領域を避けた領域に保護用マスク３を形成する。
【００３８】
次に、図２（Ｃ）に示すように、保護用マスク３の上層側に対して、基板１の表面全体に、上層側薄膜パターンを形成するための上層側薄膜４を形成する（上層側薄膜形成工程）。
【００３９】
次に、図２（Ｄ）に示すように、フォトリソグラフィ技術を利用して、感光性樹脂により、上層側薄膜４の表面に上層側薄膜パターンを形成するためのパターニング用マスク５を形成する（パターニング用マスク形成工程）。この際、下層側薄膜パターン２の一部と平面的に重なるようにパターニング用マスク５を形成する。
【００４０】
次に、図２（Ｅ）に示すように、パターニング用マスク５から露出している上層側薄膜４をエッチングによりパターニングして上層側薄膜パターン６を形成する（エッチング工程）。
【００４１】
次に、図２（Ｆ）に示すように、パターニング用マスク５を除去する（剥離工程）。その際、保護用マスク３は、下層側薄膜パターン２の表面側のうち、上層側薄膜パターン６の形成予定領域を避けた領域に形成してあるので、上層側薄膜パターン６から露出している保護用マスク３を同時に除去することができる。その結果、基板１には、下層側薄膜パターン２と上層側薄膜パターン６とを一部重ねて形成することができる。
【００４２】
このようにして、上層側薄膜４に対するエッチングにより上層側薄膜パターン６を形成する際、本形態でも、実施の形態１と同様、下層側薄膜パターン２を保護用マスク５で覆っておくため、エッチング条件が上層側薄膜４と下層側薄膜パターン２とに対するエッチング選択性の低い場合でも、下層側薄膜パターン２がエッチングされてしまうことを防止できる。従って、下層側薄膜パターン２を所望の形状、あるいは膜厚さに維持することができる。
【００４３】
また、本形態でも、実施の形態１と同様、保護用マスク形成工程において、保護用マスク３を形成した後、熱処理を行う。このため、上層側薄膜４を真空雰囲気内で形成する場合でも、保護用マスク３から残留溶剤や低分子成分が放出されないので、上層側薄膜４の膜質を低下させることがない。さらに、上層側薄膜４を形成する際、保護用マスク３に熱が加わった場合でも、保護用マスク３において、過度な反応の進行、劣化、体積収縮などに起因する表面の皺などが発生しないので、保護用マスク３の表面に上層側薄膜４を形成した際、上層側薄膜４に浮きや剥がれが発生しない。
【００４４】
また、本形態では、保護用マスク３およびパターニング用マスク５がいずれも、感光性樹脂からなるので、パターニング用マスク５を除去する剥離工程において、上層側薄膜パターン６から露出している保護用マスク３を同時に除去する。従って、２つのマスクを除去するための工程が１回で済むという利点がある。
【００４５】
なお、本形態の薄膜パターンの形成方法も、実施の形態１と同様、薄膜（下層側薄膜パターン２および上層側薄膜４）が導電膜であるか絶縁膜であるかにかかわらず、また、エッチング方法がウエットエッチングであるかドライエッチングであるかにかからず、適用することができる。また、本形態の薄膜パターンの形成方法は、２つの薄膜（下層側薄膜パターン２および上層側薄膜４）が異なる材料であるか同一材料であるかにかかわらず、適用することができる。
【００４６】
ここで、下層側薄膜パターン２および上層側薄膜４が導電膜である場合、本形態では、保護用マスク３が形成されているので、実施の形態１と同様、局部電池作用に起因する過度の溶解が発生しない。
【００４７】
すなわち、基板１は、上層側薄膜４から上層側薄膜パターン６をウエットエッチングにより形成するときのエッチング液、パターニング用マスク５を形成するときのアルカリ系現像液、洗浄液などの処理液に浸漬される。その際、基板１上には、下層側薄膜パターン２に対して上層側薄膜４が重なった状態にあるが、下層側薄膜パターン２と上層側薄膜４の層間に保護用マスク３が形成されており、下層側薄膜パターン２と上層側薄膜４とは、部分的にしか接触してはいない。それ故、上層側薄膜４のピンホール、上層側薄膜４の段差切れ、上層側薄膜４に対するエッチングの進行などによって下地が露出したとしても、この露出部分が保護用マスク３が形成されている領域である限り、下層側薄膜パターン２と上層側薄膜４とが接触した状態で下層側薄膜パターン２および上層川導電膜４の双方が処理液に接する状態を回避できる。従って、下層側薄膜パターン２と上層側薄膜４との間に局部電池が形成されない。従って、局部電池作用によって、電極電位的に卑な薄膜が過エッチングされることはないので、下層側薄膜パターン２および上層側薄膜パターン６を所望の形状、および厚さに形成することができる。
【００４８】
［電気光学装置への適用例］
（全体構成）
図３は、本発明が適用される電気光学装置（液晶装置）の電気的構成を示すブロック図である。図４および図５はそれぞれ、電気光学装置の構成を示す斜視図、および断面図である。図６は、電気光学装置において、ＴＦＤ（ＴｈｉｎＦｉｌｍＤｉｏｄ）素子を含む数画素分のレイアウトを示す平面図であり、図７（Ａ）、（Ｂ）はそれぞれ、そのＡ−Ａ’線に沿って示す断面図、およびＴＦＤ素子の斜視図である。
【００４９】
図３に示すように、本形態の電気光学装置１００では、複数本の走査線５１が行（Ｘ）方向に延在して形成され、また、複数本のデータ線５２が列（Ｙ）方向に延在して形成されるとともに、走査線５１とデータ線５２との各交差において画素５３が形成されている。各画素５３は、液晶表示要素（液晶層）５４と二端子型アクティブ素子たるＴＦＤ素子５６との直列接続からなり、液晶層５４が走査線５１の側に、ＴＦＤ素子５６がデータ線５２の側に、それぞれ接続されている。また、各走査線５１は、走査線駆動回路５７によって駆動される一方、各データ線５２は、データ線駆動回路５８によって駆動される構成となっている。
【００５０】
このような電気光学装置１００は、図４に示すように、一対の透光性基板を有し、そのうちの一方の基板は、アクティブ素子が形成された素子側基板２００であり、他方の基板は、素子側基板２００に対向する対向基板３００である。ここで、電気光学装置１００では、ＣＯＧ（ＣｈｉｐＯｎＧｌａｓｓ）技術により、素子側基板２００の表面に直接、液晶駆動用ＩＣ（ドライバ）２５０が実装されて、液晶駆動用ＩＣ２５０の各出力端子が、データ線５１のそれぞれに接続されている。同様に、対向基板３００の表面にも直接、液晶駆動用ＩＣ３５０が実装されて、液晶駆動用ＩＣ３５０の各出力端子が、走査線５１のそれぞれに接続されている。
【００５１】
なお、ＣＯＧ技術に限られず、それ以外の技術を用いて、ＩＣチップと液晶装置とが接続された構成としても良い。例えば、ＴＡＢ（ＴａｐｅＡｕｔｏｍａｔｅｄＢｏｎｄｉｎｇ）技術を用いて、ＦＰＣ（ＦｌｅｘｉｂｌｅＰｒｉｎｔｅｄＣｉｒｃｕｉｔ）の上にＩＣチップがボンディングされたＴＣＰ（ＴａｐｅＣａｒｒｉｅｒＰａｃｋａｇｅ）を電気光学装置に電気的に接続する構成としても良い。また、ＩＣチップをハード基板にボンディングするＣＯＢ（ＣｈｉｐＯｎＢｏａｒｄ）技術を用いても良い。
【００５２】
素子側基板２００の内側表面には、図５および図６に示されるように、複数本のデータ線５２と、それらのデータ線５２に接続される複数のＴＦＤ素子５６と、ＴＦＤ素子５６と１対１に接続される画素電極６６とが形成されている。ここで、各データ線５２は、図５において紙面に対して垂直方向に延在して形成される一方、ＴＦＤ素子５６および画素電極６６は、ドットマトリクス状に配列している。そして、画素電極６６などの表面には、一軸配向処理、例えばラビング処理が施された配向膜５９が形成されている。
【００５３】
図５に示すように、対向基板３００の内側表面には、カラーフィルタ３０８が形成されて、「Ｒ」、「Ｇ」、「Ｂ」の３色の着色層を構成している。なお、これら３色の着色層の隙間には、ブラックマトリクス３０９が形成されて、着色層の隙間からの入射光を遮蔽する構成となっている。カラーフィルタ３０８およびブラックマトリクス３０９の表面にはオーバーコート層３１０が形成され、さらに、その表面には、走査線５１として機能する対向電極３１２が、データ線２１２と直交する方向に形成されている。さらに、対向電極３１２の表面には、ラビング処理が施された配向膜３１４が形成されている。なお、配向膜５９、３１４は、一般にポリイミド等から形成される。
【００５４】
素子側基板２００と対向基板３００とは、スペーサ（図示省略）を含むシール材１０４によって一定の間隙を保って接合されるとともに、この間隙に、液晶１０５が封入された構成となっている。また、素子側基板２００の外側表面には、配向膜５９へのラビング方向に対応した光軸を有する偏光板３１７が貼着されている。これに対して、対向基板３００の外側表面には、配向膜３１４へのラビング方向に対応した光軸を有する偏光板２１７が貼着されている。
【００５５】
図６および図７において、ＴＦＤ素子５６は、素子基板２００の表面に成膜された下地層６１の上に形成された第１のＴＦＤ素子５６ａ、および第２のＴＦＤ素子５６ｂからなる２つのＴＦＤ素子要素によって、いわゆるＢａｃｋ−ｔｏ−Ｂａｃｋ構造として構成されている。このため、ＴＦＤ素子５６は、電流−電圧の非線形特性が正負双方向にわたって対称化されている。下地層６１は、例えば、厚さが５０〜２００ｎｍ程度の酸化タンタル（Ｔａ_２Ｏ_５）によって構成されている。
【００５６】
第１のＴＦＤ素子５６ａ、および第２のＴＦＤ素子５６ｂは、第１金属層６２と、この第１金属層６２の表面に形成された絶縁膜６３と、絶縁膜６３の表面に互いに離間して形成された第２金属層６４ａ、６４ｂとによって構成されている。第１金属層６２は、例えば、厚さが１００〜５００ｎｍ程度のＴａ単体膜、Ｔａ合金膜等によって形成され、絶縁膜６３は、例えば、陽極酸化法によって第１金属層６２の表面を酸化することによって形成された厚さが１０〜３５ｎｍの酸化タンタル（Ｔａ_２Ｏ_５）である。
【００５７】
第２金属層６４ａ、６４ｂは、例えばクロム（Ｃｒ）等といった金属膜によって５０〜３００ｎｍ程度の厚さに形成されている。第２金属層６４ａは、そのままデータ線５２の第３層５２ｃとなり、他方の第２金属層６４ｂは、ＩＴＯ（ＩｎｄｉｕｍＴｉｎＯｘｉｄｅ）等といった透明導電材からなる画素電極６６に接続されている。
【００５８】
ここで、本形態では、データ線５２の電気的抵抗を下げるために、第３層５２ｃの上層には、さらに第４層５７としてのアルミニウム膜が形成されている。
【００５９】
なお、画素電極６６は、透過型として用いられる場合には、ＩＴＯ（ＩｎｄｉｕｍＴｉｎＯｘｉｄｅ）などの透明性金属膜から形成される一方、反射型として用いられる場合には、銀などの反射率の大きな反射性金属膜から形成される。なお、画素電極６６は、反射型であってもＩＴＯなどの透明性金属から形成される場合もある。この場合には、反射層としての反射性金属が形成された後に直接、あるいはカラーフィルタ層を介して、透明性金属からなる画素電極６６が形成される。一方、半透過・半反射型として用いられる場合には、反射層を極く薄く形成して半透過鏡とするか、あるいは、スリットが設けられる構成となる。
【００６０】
また、素子基板２００自体は、例えば、石英やガラスなどの絶縁性を有するものが用いられる。なお、透過型として用いる場合には、透明であることも素子基板２００の要件となるが、反射型として用いる場合には、透明であることが要件にならない。また、図７において、素子基板２００の表面に下地層６１が設けられる理由は、熱処理により、第１金属膜６２が下地から剥離しないようにするとともに、第１金属膜６２に不純物が拡散しないようにするためである。したがって、これが問題とならない場合には、下地層６１は省略可能である。
【００６１】
なお、ＴＦＤ素子５６は、ダイオード素子としての一例であり、他に、酸化亜鉛（ＺｎＯ）バリスタや、ＭＳＩ（ＭｅｔａｌＳｅｍｉＩｎｓｕｌａｔｏｒ）などを用いた素子や、これらの素子を、単体、または、逆向きに直列接続もしくは並列接続したものなどが適用可能である。
【００６２】
（電気光学装置の製造方法）
図８ないし図１１を参照して、本形態の電気光学装置の製造工程のうち、素子基板２００の製造工程を説明する。
【００６３】
図８、図９、図１０および図１１はそれぞれ、図４および図５に示す素子基板２００の製造方法を示す工程図である。なお、素子基板２００を製造する場合、通常は、各電気光学装置１００のサイズに応じた単品の基板を複数枚、多数取りできる大型の元基板の状態でＴＦＤ素子５６などの各要素の形成を行うが、以下の説明では、単品の基板と元基板とを区別せず、素子基板２００と称する。
【００６４】
まず、図８（Ａ）に示す下地層形成工程において、素子基板２００の表面にＴａ酸化物、例えば、Ｔａ_２Ｏ_５を一様な厚さに成膜して下地層６１を形成する。
【００６５】
次に、図８（Ｂ）に示す第１金属層形成工程において、例えば、下地層６１上にＴａをスパッタリング等によって一様な厚さで成膜し、さらにフォトリソグラフィ技術を用いてデータ線５２の第１層５２ａ、および第１金属層６２などを同時に形成する。このとき、データ線５２の第１層５２ａと第１金属層６２とはブリッジ部６９で繋がっている。
【００６６】
次に、図８（Ｃ）に示す絶縁層形成工程において、データ線５２の第１層５２ａを陽極として陽極酸化処理を行い、そのデータ線５２の第１層５２ａの表面および第１金属層６２の表面に絶縁膜である陽極酸化膜を一様な厚さで形成する。これにより、データ線５２の第２層５２ｂとなる絶縁膜が形成されるとともに、第１のＴＦＤ素子５６ａおよび第２のＴＦＤ素子５６ｂの絶縁膜６３が形成される。
【００６７】
次に、図９（Ａ）に示す第２金属層形成工程において、Ｃｒをスパッタリング等によって一様な厚さで成膜した後、フォトリソグラフィ技術を利用して、データ線５２の第３層５２ｃ、第１のＴＦＤ素子５６ａの第２金属層６４ａ、および第２のＴＦＤ素子５６ｂの第２金属層６４ｂを形成すると共に、ブリッジ部６９（図８を参照）を素子基板２００から除去する。
【００６８】
以上により、能動素子であるＴＦＤ素子５６が形成される。
【００６９】
次に、図９（Ｂ）に示す下地層除去工程において、画素電極６６の形成予定領域の下地層６１を除去した後、図９（Ｃ）に示す電極形成工程において、画素電極６６を形成するためのＩＴＯ膜をスパッタリング等によって一様な厚さで成膜し、さらに、フォトリソグラフィ技術により、１画素分の大きさに相当する所定形状の画素電極６６（下層側薄膜）をその一部が第２金属層６４ｂと重なるように形成する。これらの一連の工程により、図４および図５に示すＴＦＤ素子５６および画素電極６６が形成される。
【００７０】
次に、本形態では、データ線５２の電気的抵抗を下げるために、第３層５２ｃの上層に、前記の実施の形態１と同様な方法により第４層５７としてのアルミニウム膜を形成する（図７を参照）。
【００７１】
それには、まず、図１０（Ａ）に示す保護用マスク形成工程において、フォトリソグラフィ技術を利用して、感光性樹脂により、ＩＴＯ膜からなる画素電極６６（下層側薄膜）の全体を覆う保護用マスク３を形成した後、この保護用マスク３に熱処理を行う（保護用マスク形成工程）。
【００７２】
次に、図１０（Ｂ）に示す導電膜形成工程において、保護用マスク３の上層側に、データ線５２の第４層５７（上層側薄膜パターン）を構成するための上層側薄膜４（アルミニウム膜）を形成する。
【００７３】
次に、図１１（Ａ）に示すパターニング用マスク形成工程において、フォトリソグラフィ技術を利用して、感光性樹脂により、上層側薄膜４の表面に、データ線５２の第４層５７（上層側薄膜パターン）を形成するためのパターニング用マスク５を形成する。
【００７４】
次に、図１１（Ｂ）に示すエッチング工程においてに、パターニング用マスク５から露出している上層側薄膜４をドライエッチングによりパターニングしてデータ線５２の第４層５７（上層側薄膜パターン）を形成する。
【００７５】
しかる後に、剥離工程において、パターニング用マスク５を除去するとともに、データ線５２の第４層５７から露出している保護用マスク３を同時に除去する。
【００７６】
そして、図５に示すように、素子基板２００の表面にポリイミド、ポリビニルアルコール等を一様な厚さに形成することによって配向膜５９を形成した後、配向膜５７に対してラビング処理その他の配向処理を行う。その結果、素子基板２００が完成する。
【００７７】
このようにして素子基板２００を製造する際、上層側薄膜４に対するエッチング条件が、アルミニウムからなる上層側薄膜４と、ＩＴＯ膜からなる画素電極６６（下層側薄膜パターン）とに対するエッチング選択性が低い場合でも、本形態では、画素電極６６を保護用マスク５で覆っておくため、画素電極６がエッチングされてしまうことを防止でき、かつ、アルミニウムからなる上層側薄膜４と、ＩＴＯ膜からなる画素電極６６との間に局部電池が構成されないなど、実施の形態１と同様な効果を奏する。
【００７８】
なお、素子基板２００を製造する際、実施の形態２で説明した方法を採用した場合も、画素電極６を所望の形状、あるいは膜厚さに維持することができる。
【００７９】
また、本発明は、薄膜（下層側薄膜および上層側薄膜）が導電膜であるか絶縁膜であるかにかかわらず、また、エッチング方法がウエットエッチングであるかドライエッチングであるかにかからず、適用することができる。また、本形態の薄膜パターンの形成方法は、２つの薄膜（下層側薄膜および上層側薄膜）が異なる材料であるか同一材料であるかにかかわらず、適用することができる。従って、画素電極６６を形成した後、データ線５２の第４層５７を形成する場合に限らず、その他の薄膜パターンを形成する場合に適用することができる。
【００８０】
［その他の実施の形態］
上記形態では、アクティブ素子としてＴＦＤ素子を用いた電気光学装置１００の素子基板２００に対してデータ線５２の第４層５７を形成するのに本発明を適応したが、図１２および図１３を参照して以下に説明するいずれの電気光学装置においても、同一基板上に多数の薄膜パターンが形成されるので、これらの電気光学装置を製造するのに本発明を適用してもよい。
【００８１】
図１２は、画素スイッチング素子として薄膜トランジスタ（ＴＦＴ／ＴｈｉｎＦｉｌｍＴｒａｎｓｉｓｔｏｒ））を用いたアクティブマトリクス型液晶装置からなる電気光学装置の構成を模式的に示すブロック図である。図１３は、電気光学物質として電荷注入型の有機薄膜を用いたエレクトロルミネセンス素子を備えたアクティブマトリクス型電気光学装置のブロック図である。
【００８２】
図１２に示すように、画素スイッチング素子としてＴＦＴを用いたアクティブマトリクス型液晶装置からなる電気光学装置１ｂでは、マトリクス状に形成された複数の画素の各々に、画素電極９ａを制御するための画素スイッチング用のＴＦＴ３０ｂが形成されており、画素信号を供給するデータ線６ｂが当該ＴＦＴ３０ｂのソースに電気的に接続されている。データ線６ｂに書き込む画素信号は、データ線駆動回路２ｂから供給される。また、ＴＦＴ３０ｂのゲートには走査線３１ｂが電気的に接続されており、所定のタイミングで、走査線３１ｂにパルス的に走査信号が走査線駆動回路３ｂから供給される。画素電極９ａは、ＴＦＴ３０ｂのドレインに電気的に接続されており、スイッチング素子であるＴＦＴ３０ｂを一定期間だけそのオン状態とすることにより、データ線６ｂから供給される画素信号を各画素に所定のタイミングで書き込む。このようにして画素電極９ａを介して液晶に書き込まれた所定レベルの画素信号は、対向基板（図省略）に形成された対向電極との間で一定期間保持される。
【００８３】
ここで、保持された画素信号がリークするのを防ぐことを目的に、画素電極９ａと対向電極との間に形成される液晶容量と並列に蓄積容量７０ｂ（キャパシタ）を付加することがある。この蓄積容量７０ｂによって、画素電極９ａの電圧は、例えば、ソース電圧が印加された時間よりも３桁も長い時間だけ保持される。これにより、電荷の保持特性は改善され、コントラスト比の高い表示を行うことのできる電気光学装置が実現できる。なお、蓄積容量７０ｂを形成する方法としては、容量を形成するための配線である容量線３２ｂとの間に形成する場合、あるいは前段の走査線３１ｂとの間に形成する場合もいずれであってもよい。
【００８４】
図１３に示すように、電荷注入型有機薄膜を用いたエレクトロルミネセンス素子を備えたアクティブマトリクス型電気光学装置は、有機半導体膜に駆動電流が流れることによって発光するＥＬ（エレクトロルミネッセンス）素子、またはＬＥＤ（発光ダイオード）素子などの発光素子をＴＦＴで駆動制御するアクティブマトリクス型の表示装置であり、このタイプの表示装置に用いられる発光素子はいずれも自己発光するため、バックライトを必要とせず、また、視野角依存性が少ないなどの利点がある。
【００８５】
ここに示す電気光学装置１００ｐでは、複数の走査線３ｐと、この走査線３ｐの延設方向に対して交差する方向に延設された複数のデータ線６ｐと、これらのデータ線６ｐに並列する複数の共通給電線２３ｐと、データ線６ｐと走査線３ｐとの交差点に対応する画素１５ｐとが構成されている。データ線６ｐに対しては、シフトレジスタ、レベルシフタ、ビデオライン、アナログスイッチを備えるデータ線駆動回路１０１ｐが構成されている。走査線３ｐに対しては、シフトレジスタおよびレベルシフタを備える走査線駆動回路１０４ｐが構成されている。
【００８６】
また、画素１５ｐの各々には、走査線３ｐを介して走査信号がゲート電極に供給される第１のＴＦＴ３１ｐと、この第１のＴＦＴ３１ｐを介してデータ線６ｐから供給される画像信号を保持する保持容量３３ｐと、この保持容量３３ｐによって保持された画像信号がゲート電極に供給される第２のＴＦＴ３２ｐと、第２のＴＦＴ３２ｐを介して共通給電線２３ｐに電気的に接続したときに共通給電線２３ｐから駆動電流が流れ込む発光素子４０ｐとが構成されている。
【００８７】
ここで、発光素子４０ｐは、画素電極の上層側には、正孔注入層、有機エレクトロルミネッセンス材料層としての有機半導体膜、リチウム含有アルミニウム、カルシウムなどの金属膜からなる対向電極が積層された構成になっており、対向電極２０ｐは、データ線６ｐなどを跨いで複数の画素１５ｐにわたって形成されている。
【００８８】
また、上述した実施形態以外にも、プラズマディスプレイ装置、ＦＥＤ（フィールドエミッションディスプレイ）装置、ＬＥＤ（発光ダイオード）表示装置、電気泳動表示装置、薄型のブラウン管、液晶シャッター等を用いた小型テレビ、デジタルマイクロミラーデバイス（ＤＭＤ）などの電気光学装置にも本発明を適用してもよい。さらに、電気光学装置に限らず、半導体装置の製造に本発明を適用してもよい。
【００８９】
［電子機器への搭載例］
図１４は、本形態の電気光学装置を搭載した電子機器の一例としての携帯電話の構成を示す斜視図である。
【００９０】
図１４において、携帯電話１４００は、複数の操作ボタン１４０２のほか、受話口１４０４、送話口１４０６とともに、電気光学装置１００を備えるものである。この電気光学装置１００にも、必要に応じてその背面にバックライトが設けられる。
【００９１】
なお、本形態の電気光学装置を搭載可能な電子機器としては、携帯電話機の他、モバイルコンピュータ、液晶テレビや、ビューファインダ型、モニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、ＰＯＳ端末、タッチパネルを備えた機器等などが挙げられる。
【図面の簡単な説明】
【図１】（Ａ）〜（Ｆ）は、本発明の実施の形態１に係る薄膜パターンの形成方法を示す説明図である。
【図２】（Ａ）〜（Ｆ）は、本発明の実施の形態２に係る薄膜パターンの形成方法を示す説明図である。
【図３】本発明を適用した電気光学装置（液晶装置）の電気的構成を示すブロック図である。
【図４】図３に示す電気光学装置の構成を示す斜視図である。
【図５】図３に示す電気光学装置の構成を示す断面図である。
【図６】図３に示す電気光学装置において、ＴＦＤ素子を含む数画素分のレイアウトを示す平面図である。
【図７】（Ａ）、（Ｂ）は、図６のＡ−Ａ’線に沿って示す断面図、およびＴＦＤ素子の斜視図である。
【図８】図３に示す電気光学装置に用いた素子基板の製造方法を示す工程図である。
【図９】図３に示す電気光学装置に用いた素子基板の製造方法を示す工程図である。
【図１０】図３に示す電気光学装置に用いた素子基板の製造方法を示す工程図である。
【図１１】図３に示す電気光学装置に用いた素子基板の製造方法を示す工程図である。
【図１２】画素スイッチング素子として薄膜トランジスタを用いたアクティブマトリクス型液晶装置からなる電気光学装置の構成を模式的に示すブロック図である。
【図１３】電気光学物質として電荷注入型の有機薄膜を用いたエレクトロルミネセンス素子を備えたアクティブマトリクス型電気光学装置のブロック図である。
【図１４】本発明に係る電気光学装置を搭載した電子機器の一例たる携帯電話機の説明図である。
【図１５】（Ａ）〜（Ｅ）は、従来の薄膜パターンの形成方法を示す説明図である。
【符号の説明】
１基板、２下層側薄膜パターン（下層側薄膜）、３保護用マスク、４上層側薄膜、５パターニング用マスク、６上層側薄膜パターン[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a method of forming a thin film pattern by etching an upper thin film formed on an upper layer side of a lower thin film to form a thin film pattern, and a method of forming a thin film pattern on a substrate for holding an electro-optical material. The present invention relates to a method for manufacturing an electro-optical device used, an electro-optical device manufactured by this method, and an electronic apparatus.
[0002]
[Prior art]
When manufacturing various electro-optical devices and semiconductor devices, a plurality of types of thin film patterns are sequentially formed on the same substrate using a semiconductor process. That is, after forming a lower layer thin film pattern 2 (lower layer thin film) on the surface of the substrate 1 as shown in FIG. 15A, the upper layer thin film is formed on the entire surface of the substrate 1 as shown in FIG. An upper thin film 4 (upper thin film) for forming a pattern is formed. Next, as shown in FIG. 15C, a patterning mask 5 for forming an upper-layer thin film pattern is formed on the surface of the upper-layer thin film 4 by using a photolithography technique. As shown in FIG. 5, the upper layer-side thin film 4 exposed from the patterning mask 5 is patterned by etching to form an upper layer-side thin film pattern 6, and thereafter, a stripping step of removing the patterning mask 5 is performed. As a result, the lower thin film pattern 2 and the upper thin film pattern 6 can be formed on the same substrate 1 as shown in FIG.
[0003]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the method of forming a thin film pattern described with reference to FIG. 15, when the upper thin film pattern 6 is formed by etching from the upper thin film 4, the etching conditions for the lower thin film pattern 2 and the upper thin film 4 are different. When the selectivity is low, the lower thin film pattern 2 is also etched, and there is a problem that the lower thin film pattern 2 cannot be formed in a desired shape or thickness. Such a problem occurs regardless of whether the thin film is a conductive film or an insulating film and whether the etching method is wet etching or dry etching.
[0004]
When both the lower thin film pattern 2 and the upper thin film 4 are conductive films, an etching solution and a patterning mask 5 for forming the substrate 1 from the upper thin film 4 to the upper thin film pattern 6 by wet etching. Is immersed in a processing solution such as a developing solution or a cleaning solution when forming the film. However, at this time, there is a problem that a thin film having a low electrode potential is dissolved due to a local battery action. That is, when the lower thin film pattern 2 comes into contact with the processing liquid due to a pinhole of the upper thin film 4, a break in the step of the upper thin film 4, or the progress of etching, the lower thin film pattern 2 and the upper thin film 4 are removed. In a state in which both are in contact with each other, both of them come into contact with the processing liquid, and the difference in electrode potential between the conductive material forming the lower layer thin film pattern 2 and the conductive material forming the second thin film pattern 66 is reduced. If it is large, there is a problem that excessive etching occurs due to the formation of the local cell, and the conductive pattern cannot be formed in a desired shape or film thickness.
[0005]
In view of the above problems, an object of the present invention is to provide a thin film pattern forming method capable of forming a suitable thin film pattern from two thin films formed on the same substrate, and a method of forming a thin film pattern on a substrate by using this method. An object of the present invention is to provide a method of manufacturing an electro-optical device used for holding an optical substance, an electro-optical device manufactured by the method, and an electronic apparatus.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above problems, in the present invention, a lower layer thin film forming step of forming a lower layer thin film, an upper layer thin film forming step of forming an upper layer thin film on the upper layer side of the lower layer thin film, An etching step of forming a patterning mask made of a photosensitive resin on the surface of the upper-layer thin film and etching the upper-layer thin film. Forming a protective mask made of a photosensitive resin covering the lower layer thin film by performing a protective mask forming step of performing a heat treatment on the protective mask, and then performing the upper layer thin film forming step. And
[0007]
In the present invention, when etching the upper thin film, since the lower thin film is covered with a protective mask, for example, the etching is performed on the upper thin film under conditions of low etching selectivity with the lower thin film. Even in this case, the lower thin film is not etched. Further, in the present invention, in the protective mask forming step, heat treatment is performed after forming the protective mask. For this reason, even when the upper thin film is formed in a vacuum atmosphere, the residual solvent and low molecular components are not released from the protective mask, so that the film quality of the upper thin film does not deteriorate. In addition, even when heat is applied to the protective mask when forming the upper layer side thin film, the protective mask does not undergo excessive reaction, deterioration, volume shrinkage, etc. When the upper layer-side thin film is formed on the surface of the mask for use, the upper layer-side thin film does not float or peel off.
[0008]
The present invention can be applied regardless of whether the thin film is a conductive film or an insulating film, and regardless of whether the etching method is wet etching or dry etching. Further, the present invention can be applied regardless of whether the upper thin film and the lower thin film are made of different materials or the same material.
[0009]
Here, when the upper thin film and the lower thin film are conductive films, in the present invention, since a protective mask is formed, excessive dissolution due to the local battery action does not occur.
[0010]
That is, the substrate is immersed in a processing solution such as an etching solution for forming an upper layer thin film pattern from an upper layer thin film by wet etching, a developing solution for forming a patterning mask, and a cleaning solution. When the lower thin film comes into contact with the processing liquid due to a pinhole, a step in the upper thin film, or the progress of etching, both the lower thin film and the upper thin film are exposed to the processing liquid in a partially contacted state. If the conductive material forming the lower thin film and the conductive material forming the upper thin film have a large difference in electrode potential, excessive etching occurs due to the formation of a local battery. However, in the present invention, the state in which both the lower-layer thin film and the upper-layer thin film are in contact with the processing liquid while the lower-layer thin film is in contact with the upper-layer thin film can be avoided by the protective mask. Therefore, since excessive dissolution by the local battery does not occur in the lower thin film and the upper thin film, conductive patterns made of different conductive materials can be formed in a desired shape or thickness on the same substrate.
[0011]
In the present invention, the upper thin film is, for example, a thin film for forming an upper thin film pattern at a position separated from the lower thin film by the etching step. In this case, it is preferable that in the protective mask forming step, the protective mask is formed in a region that covers the entire surface side of the upper layer thin film pattern and avoids a region where the upper layer thin film pattern is to be formed. With this configuration, the protective mask can be removed after performing the etching step.
[0012]
In the present invention, the upper thin film may be a thin film for forming an upper thin film pattern that partially overlaps the lower thin film by the etching step. In this case, in the protective mask forming step, It is preferable that the protection mask is formed in a region of the surface of the lower layer-side thin film other than a region where the upper layer-side thin film pattern is to be formed. With this configuration, the protective mask can be removed after performing the etching step.
[0013]
In the present invention, it is preferable that, after the etching step, in the peeling step of removing the patterning mask, the protective mask be removed at the same time.
[0014]
The substrate on which a thin film pattern is formed by using the method for forming a thin film pattern according to the present invention is used, for example, as a substrate for an electro-optical device for holding an electro-optical material in a method for manufacturing an electro-optical device.
[0015]
In the present invention, the electro-optical material is, for example, a liquid crystal held between the electro-optical device substrate and a substrate opposed to the electro-optical device substrate.
[0016]
Further, the present invention can be applied to a case of manufacturing an electro-optical device in which an electroluminescent material as the electro-optical material is formed on the electro-optical device substrate.
[0017]
The electro-optical device according to the present invention is mounted on an electronic device such as a mobile phone and a mobile computer.
[0018]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
[0019]
[Embodiment 1]
1 (A) to 1 (F) are explanatory views showing a method for forming a thin film pattern according to Embodiment 1 of the present invention, wherein a plan view is shown on the right side of each figure and a cross-sectional view is shown on the left side. It is.
[0020]
In this embodiment, first, as shown in FIG. 1A, a lower layer thin film pattern 2 (lower layer thin film) is formed on the surface of a substrate 1 by a film forming step, a photolithography step, and an etching step (lower layer side thin film). Thin film forming step).
[0021]
Next, as shown in FIG. 1B, a protective mask 3 covering the entire lower layer side thin film pattern 2 is formed by a photosensitive resin using a photolithography technique. Heat treatment (protection mask forming step).
[0022]
Here, the protection mask 3 is formed in a region that covers the entire surface side of the lower layer thin film pattern 2 and avoids a region where an upper layer thin film pattern to be described later is to be formed.
[0023]
Next, as shown in FIG. 1C, an upper layer thin film 4 for forming an upper layer thin film pattern is formed on the entire surface of the substrate 1 with respect to the upper layer side of the protective mask 3 (upper layer side). Thin film forming step).
[0024]
Next, as shown in FIG. 1D, a patterning mask 5 for forming an upper-layer thin film pattern on the surface of the upper-layer thin film 4 is formed using a photosensitive resin by using a photolithography technique (FIG. 1D). Patterning mask forming step).
[0025]
Next, as shown in FIG. 1E, the upper layer thin film 4 exposed from the patterning mask 5 is patterned by etching to form an upper layer thin film pattern 6 (etching step).
[0026]
Next, as shown in FIG. 1F, the patterning mask 5 is removed using an organic stripping solution (stripping step). At this time, the protective mask 3 covers the entire surface side of the lower layer thin film pattern 2 and is formed in a region avoiding the region where the upper layer thin film pattern 6 is formed. The protective mask 3 can be removed at the same time. As a result, the lower layer side thin film pattern 2 and the upper layer side thin film pattern 6 can be formed on the substrate 1 at positions separated from each other.
[0027]
In this manner, when the upper layer thin film pattern 6 is formed by etching the upper layer thin film 4, even if the etching conditions are low in the etching selectivity to the upper layer thin film 4 and the lower layer thin film pattern 2, in the present embodiment, Since the lower layer-side thin film pattern 2 is covered with the protective mask 5, it is possible to prevent the lower layer-side thin film pattern 2 from being etched. Therefore, the lower layer-side thin film pattern 2 can be maintained in a desired shape or a desired thickness.
[0028]
In the present embodiment, in the protective mask forming step, heat treatment is performed after the protective mask 3 is formed. Therefore, even when the upper thin film 4 is formed in a vacuum atmosphere, the residual solvent and low molecular components are not released from the protective mask 3, so that the film quality of the upper thin film 4 is not degraded. Furthermore, even when heat is applied to the protective mask 3 when forming the upper layer-side thin film 4, the protective mask 3 does not cause excessive reaction, deterioration, surface shrinkage due to volume shrinkage, and the like. Therefore, when the upper-layer thin film 4 is formed on the surface of the protective mask 3, the upper-layer thin film 4 does not float or peel off.
[0029]
Further, in this embodiment, since both the protection mask 3 and the patterning mask 5 are made of a photosensitive resin, in the peeling step of removing the patterning mask 5, the protection mask exposed from the upper layer-side thin film pattern 6 is provided. 3 is removed at the same time. Therefore, there is an advantage that the process for removing the two masks only needs to be performed once.
[0030]
The method of forming a thin film pattern according to this embodiment is based on whether the thin film (the lower thin film pattern 2 and the upper thin film 4) is a conductive film or an insulating film, and whether the etching method is wet etching. It can be applied regardless of whether it is dry etching. The method of forming a thin film pattern according to the present embodiment can be applied regardless of whether the two thin films (the lower thin film pattern 2 and the upper thin film 4) are made of different materials or the same material.
[0031]
Here, when the lower layer-side thin film pattern 2 and the upper layer-side thin film 4 are conductive films, in this embodiment, since the protective mask 3 is formed, excessive dissolution due to the local battery action does not occur.
[0032]
That is, the substrate 1 is immersed in a processing solution such as an etching solution for forming the upper layer thin film pattern 6 from the upper layer thin film 4 by wet etching, an alkaline developing solution for forming the patterning mask 5, and a cleaning solution. However, when the lower thin film pattern 2 comes into contact with the processing liquid due to a pinhole in the upper thin film 4, a break in the level of the upper thin film 4, or progress of etching, the lower thin film pattern 2 and the upper thin film 4 are removed. When the electrode material has a large difference between the conductive material forming the lower layer thin film pattern 2 and the conductive material forming the upper layer thin film 4, both parts come into contact with the processing liquid in a state where they are in contact with each other. Excessive etching occurs due to local cell formation. However, in the present embodiment, the upper thin film 4 overlaps the lower thin film pattern 2, but the protective mask 3 is formed between the lower thin film pattern 2 and the upper thin film 4, The thin film pattern 2 and the upper thin film 4 are not in direct contact with each other. Therefore, the lower thin film pattern 2 and the upper thin film 4 are in contact with each other even when the base is exposed due to the pinhole of the upper thin film 4, the step break of the upper thin film 4, the progress of the etching of the upper thin film 4, and the like. In this state, it is possible to avoid a state in which both the lower layer side thin film pattern 2 and the upper layer side thin film 4 are in contact with the processing liquid. Therefore, even if there is a large difference in the electrode potential between the conductive material forming the lower thin film pattern 2 and the conductive material forming the upper thin film 4, the difference between the lower thin film pattern 2 and the upper thin film 4 is large. Since no local battery is formed in between, the thin film which is low in electrode potential is not over-etched. Further, even if the substrate 1 is immersed in the cleaning liquid after the etching step, a local battery is not formed because the lower layer thin film pattern 2 and the upper layer thin film pattern 6 are separated from each other. Therefore, the lower layer-side thin film pattern 2 and the upper layer-side thin film pattern 6 can be formed in a desired shape and thickness.
[0033]
[Embodiment 2]
In the first embodiment, the lower thin-film pattern 2 and the upper thin-film pattern 6 are formed at positions separated from each other in a plane. However, as described below, the lower thin-film pattern 2 and the upper thin-film pattern 6 are formed. The present invention can also be applied to a case where and partially overlap.
[0034]
2 (A) to 2 (F) are explanatory views showing a method for forming a thin film pattern according to Embodiment 2 of the present invention, wherein a plan view is shown on the right side of each figure and a cross-sectional view is shown on the left side. It is.
[0035]
In the present embodiment, first, as shown in FIG. 2A, a lower layer thin film pattern 2 (lower layer thin film) is formed on the surface of the substrate 1 by a film forming step, a photolithography step, and an etching step (lower layer side). Thin film forming step).
[0036]
Next, as shown in FIG. 2B, a protective mask 3 that partially covers the lower layer side thin film pattern 2 is formed using a photosensitive resin by using a photolithography technique. Then, heat treatment is performed (protection mask forming step).
[0037]
Here, the protective mask 3 is formed in a region on the surface side of the lower layer-side thin film pattern 2 other than a region where a later-described upper layer-side thin film pattern is to be formed.
[0038]
Next, as shown in FIG. 2C, an upper layer thin film 4 for forming an upper layer thin film pattern is formed on the entire surface of the substrate 1 with respect to the upper layer side of the protective mask 3 (upper layer side). Thin film forming step).
[0039]
Next, as shown in FIG. 2D, a patterning mask 5 for forming an upper-layer thin film pattern on the surface of the upper-layer thin film 4 is formed using a photosensitive resin by using a photolithography technique (FIG. 2D). Patterning mask forming step). At this time, a patterning mask 5 is formed so as to overlap a part of the lower layer side thin film pattern 2 in a plane.
[0040]
Next, as shown in FIG. 2E, the upper thin film 4 exposed from the patterning mask 5 is patterned by etching to form an upper thin film pattern 6 (etching step).
[0041]
Next, as shown in FIG. 2F, the patterning mask 5 is removed (peeling step). At this time, since the protective mask 3 is formed in a region on the surface side of the lower layer thin film pattern 2 which avoids the region where the upper layer thin film pattern 6 is to be formed, it is exposed from the upper layer thin film pattern 6. The protection mask 3 can be removed at the same time. As a result, the lower layer-side thin film pattern 2 and the upper layer-side thin film pattern 6 can be partially formed on the substrate 1.
[0042]
When the upper layer thin film pattern 6 is formed by etching the upper layer thin film 4 in this manner, the lower layer thin film pattern 2 is covered with the protective mask 5 in the same manner as in the first embodiment. Even when the condition is a low etching selectivity with respect to the upper thin film 4 and the lower thin film pattern 2, the lower thin film pattern 2 can be prevented from being etched. Therefore, the lower layer-side thin film pattern 2 can be maintained in a desired shape or a desired thickness.
[0043]
Also in this embodiment, as in the first embodiment, a heat treatment is performed after forming the protection mask 3 in the protection mask formation step. Therefore, even when the upper thin film 4 is formed in a vacuum atmosphere, the residual solvent and low molecular components are not released from the protective mask 3, so that the film quality of the upper thin film 4 is not degraded. Furthermore, even when heat is applied to the protective mask 3 when forming the upper layer-side thin film 4, the protective mask 3 does not cause excessive reaction, deterioration, surface shrinkage due to volume shrinkage, and the like. Therefore, when the upper-layer thin film 4 is formed on the surface of the protective mask 3, the upper-layer thin film 4 does not float or peel off.
[0044]
Further, in this embodiment, since both the protection mask 3 and the patterning mask 5 are made of a photosensitive resin, in the peeling step of removing the patterning mask 5, the protection mask exposed from the upper layer-side thin film pattern 6 is provided. 3 is removed at the same time. Therefore, there is an advantage that the process for removing the two masks only needs to be performed once.
[0045]
Note that, similarly to the first embodiment, the method of forming a thin film pattern according to the present embodiment also includes etching regardless of whether the thin film (the lower thin film pattern 2 and the upper thin film 4) is a conductive film or an insulating film. Regardless of whether the method is wet etching or dry etching, it can be applied. The method of forming a thin film pattern according to the present embodiment can be applied regardless of whether the two thin films (the lower thin film pattern 2 and the upper thin film 4) are made of different materials or the same material.
[0046]
Here, when the lower layer-side thin film pattern 2 and the upper layer-side thin film 4 are conductive films, in this embodiment, since the protection mask 3 is formed, as in the first embodiment, excessive No dissolution occurs.
[0047]
That is, the substrate 1 is immersed in a processing solution such as an etching solution for forming the upper layer thin film pattern 6 from the upper layer thin film 4 by wet etching, an alkaline developing solution for forming the patterning mask 5, and a cleaning solution. . At this time, the upper thin film 4 is superposed on the lower thin film pattern 2 on the substrate 1, but the protective mask 3 is formed between the lower thin film pattern 2 and the upper thin film 4. Thus, the lower layer thin film pattern 2 and the upper layer thin film 4 are only partially in contact with each other. Therefore, even if the underlayer is exposed due to the pinhole of the upper thin film 4, the break of the step of the upper thin film 4, the progress of etching of the upper thin film 4, the exposed portion is the area where the protective mask 3 is formed. As long as the lower layer thin film pattern 2 and the upper layer thin film 4 are in contact with each other, a state in which both the lower layer thin film pattern 2 and the upper layer conductive film 4 are in contact with the processing liquid can be avoided. Therefore, no local battery is formed between the lower thin film pattern 2 and the upper thin film 4. Therefore, the thin film which is low in electrode potential is not over-etched by the local battery action, so that the lower-layer thin film pattern 2 and the upper-layer thin film pattern 6 can be formed in a desired shape and thickness.
[0048]
[Example of application to electro-optical device]
(overall structure)
FIG. 3 is a block diagram showing an electrical configuration of an electro-optical device (liquid crystal device) to which the present invention is applied. 4 and 5 are a perspective view and a sectional view, respectively, showing the configuration of the electro-optical device. FIG. 6 is a plan view showing a layout of several pixels including a TFD (Thin Film Diode) element in the electro-optical device, and FIGS. 7A and 7B are respectively taken along the line AA ′. FIG. 2 is a cross-sectional view shown in FIG.
[0049]
As shown in FIG. 3, in the electro-optical device 100 of this embodiment, a plurality of scanning lines 51 are formed extending in the row (X) direction, and a plurality of data lines 52 are formed in the column (Y) direction. And a pixel 53 is formed at each intersection of the scanning line 51 and the data line 52. Each pixel 53 is composed of a liquid crystal display element (liquid crystal layer) 54 and a TFD element 56 which is a two-terminal active element connected in series. The liquid crystal layer 54 is on the scanning line 51 side and the TFD element 56 is on the data line 52 side. Are connected respectively. Each scanning line 51 is driven by a scanning line driving circuit 57, while each data line 52 is driven by a data line driving circuit 58.
[0050]
As shown in FIG. 4, such an electro-optical device 100 includes a pair of light-transmitting substrates, one of which is an element-side substrate 200 on which an active element is formed, and the other of which is an element-side substrate. , A counter substrate 300 facing the element-side substrate 200. Here, in the electro-optical device 100, a liquid crystal driving IC (driver) 250 is directly mounted on the surface of the element side substrate 200 by COG (Chip On Glass) technology, and each output terminal of the liquid crystal driving IC 250 is Each of the data lines 51 is connected. Similarly, the liquid crystal driving IC 350 is directly mounted on the surface of the counter substrate 300, and each output terminal of the liquid crystal driving IC 350 is connected to each of the scanning lines 51.
[0051]
The configuration is not limited to the COG technology, and the IC chip and the liquid crystal device may be connected by using other technologies. For example, a configuration may be used in which a tape carrier package (TCP) in which an IC chip is bonded on a flexible printed circuit (FPC) is electrically connected to an electro-optical device by using TAB (tape automated bonding) technology. Alternatively, a COB (Chip On Board) technique for bonding an IC chip to a hard substrate may be used.
[0052]
As shown in FIGS. 5 and 6, on the inner surface of the element-side substrate 200, a plurality of data lines 52, a plurality of TFD elements 56 connected to the data lines 52, and the TFD elements 56 and 1 The pixel electrodes 66 connected to each other are formed. Here, each data line 52 is formed to extend in a direction perpendicular to the paper of FIG. 5, while the TFD elements 56 and the pixel electrodes 66 are arranged in a dot matrix. On the surface of the pixel electrode 66 or the like, an alignment film 59 that has been subjected to a uniaxial alignment process, for example, a rubbing process is formed.
[0053]
As shown in FIG. 5, a color filter 308 is formed on the inner surface of the counter substrate 300 to form three color layers of “R”, “G”, and “B”. Note that a black matrix 309 is formed in the gap between the three colored layers to block incident light from the gap between the colored layers. An overcoat layer 310 is formed on the surface of the color filter 308 and the black matrix 309, and a counter electrode 312 functioning as the scanning line 51 is formed on the surface in a direction orthogonal to the data line 212. Further, an alignment film 314 that has been subjected to a rubbing process is formed on the surface of the counter electrode 312. Note that the alignment films 59 and 314 are generally formed from polyimide or the like.
[0054]
The element-side substrate 200 and the opposing substrate 300 are joined with a certain gap kept therebetween by a sealant 104 including a spacer (not shown), and a liquid crystal 105 is sealed in this gap. A polarizing plate 317 having an optical axis corresponding to the rubbing direction on the alignment film 59 is attached to the outer surface of the element-side substrate 200. On the other hand, a polarizing plate 217 having an optical axis corresponding to the rubbing direction to the alignment film 314 is attached to the outer surface of the counter substrate 300.
[0055]
6 and 7, the TFD element 56 is composed of two TFD elements including a first TFD element 56a and a second TFD element 56b formed on a base layer 61 formed on the surface of the element substrate 200. A so-called back-to-back structure is configured by the element elements. Therefore, the TFD element 56 has a symmetrical current-voltage non-linear characteristic in both positive and negative directions. The underlayer 61 is made of, for example, tantalum oxide (Ta ₂ O ₅ ) having a thickness of about 50 to 200 nm.
[0056]
The first TFD element 56a and the second TFD element 56b are separated from each other on the first metal layer 62, the insulating film 63 formed on the surface of the first metal layer 62, and the surface of the insulating film 63. It is composed of the formed second metal layers 64a and 64b. The first metal layer 62 is formed of, for example, a single Ta film or a Ta alloy film having a thickness of about 100 to 500 nm, and the insulating film 63 oxidizes the surface of the first metal layer 62 by, for example, an anodic oxidation method. thickness formed by a tantalum oxide 10~35nm _(Ta 2 _{O 5).}
[0057]
The second metal layers 64a and 64b are formed of a metal film such as chromium (Cr) to a thickness of about 50 to 300 nm. The second metal layer 64a becomes the third layer 52c of the data line 52 as it is, and the other second metal layer 64b is connected to the pixel electrode 66 made of a transparent conductive material such as ITO (Indium Tin Oxide).
[0058]
Here, in the present embodiment, an aluminum film as the fourth layer 57 is further formed on the third layer 52c in order to lower the electric resistance of the data line 52.
[0059]
The pixel electrode 66 is formed of a transparent metal film such as ITO (Indium Tin Oxide) when used as a transmissive type, and has a large reflectance such as silver when used as a reflective type. It is formed from a reflective metal film. Note that the pixel electrode 66 may be formed of a transparent metal such as ITO even if it is of a reflective type. In this case, the pixel electrode 66 made of a transparent metal is formed directly after the reflective metal as a reflective layer is formed or via a color filter layer. On the other hand, when used as a semi-transmissive / semi-reflective type, a reflective layer is formed to be extremely thin to form a semi-transmissive mirror, or a slit is provided.
[0060]
Further, as the element substrate 200 itself, for example, a substrate having an insulating property such as quartz or glass is used. Note that, when used as a transmission type, the element substrate 200 must be transparent, but when used as a reflection type, it is not a requirement. In FIG. 7, the reason why the base layer 61 is provided on the surface of the element substrate 200 is to prevent the first metal film 62 from peeling off from the base and prevent impurities from diffusing into the first metal film 62 by heat treatment. In order to Therefore, if this is not a problem, the underlayer 61 can be omitted.
[0061]
The TFD element 56 is an example of a diode element. In addition, an element using a zinc oxide (ZnO) varistor, an MSI (Metal Semi Insulator), or the like, or a single element or an inverted element is used. A series connection or a parallel connection is applicable.
[0062]
(Method of manufacturing electro-optical device)
With reference to FIG. 8 to FIG. 11, the manufacturing process of the element substrate 200 in the manufacturing process of the electro-optical device of the present embodiment will be described.
[0063]
8, 9, 10, and 11 are process diagrams showing a method for manufacturing the element substrate 200 shown in FIGS. 4 and 5, respectively. In the case of manufacturing the element substrate 200, usually, formation of each element such as the TFD element 56 is performed in a state of a large original substrate which can take a plurality of single substrates corresponding to the size of each electro-optical device 100 and a large number of substrates. However, in the following description, the single substrate and the original substrate will not be distinguished from each other, and will be referred to as an element substrate 200.
[0064]
First, in a base layer forming step shown in FIG. 8A, a base layer 61 is formed by forming a uniform thickness of Ta oxide, for example, Ta ₂ O ₅ on the surface of the element substrate 200.
[0065]
Next, in a first metal layer forming step shown in FIG. 8B, for example, Ta is formed to a uniform thickness on the base layer 61 by sputtering or the like, and the data lines 52 are formed by photolithography. The first layer 52a and the first metal layer 62 are simultaneously formed. At this time, the first layer 52a of the data line 52 and the first metal layer 62 are connected by a bridge 69.
[0066]
Next, in the insulating layer forming step shown in FIG. 8C, anodizing treatment is performed using the first layer 52a of the data line 52 as an anode, and the surface of the first layer 52a of the data line 52 and the first metal layer 62 are formed. An anodic oxide film as an insulating film is formed with a uniform thickness on the surface of the substrate. Thus, an insulating film serving as the second layer 52b of the data line 52 is formed, and an insulating film 63 of the first TFD element 56a and the second TFD element 56b is formed.
[0067]
Next, in the second metal layer forming step shown in FIG. 9A, after forming Cr to a uniform thickness by sputtering or the like, the third layer 52c of the data line 52 is formed using photolithography technology. The second metal layer 64a of the first TFD element 56a and the second metal layer 64b of the second TFD element 56b are formed, and the bridge 69 (see FIG. 8) is removed from the element substrate 200.
[0068]
Thus, the TFD element 56 as an active element is formed.
[0069]
Next, in a base layer removing step shown in FIG. 9B, after removing the base layer 61 in a region where the pixel electrode 66 is to be formed, the pixel electrode 66 is formed in an electrode forming step shown in FIG. 9C. Film is formed to a uniform thickness by sputtering or the like, and a pixel electrode 66 (lower layer thin film) of a predetermined shape corresponding to the size of one pixel is partially formed by photolithography technology. It is formed so as to overlap with the second metal layer 64b. Through a series of these steps, the TFD element 56 and the pixel electrode 66 shown in FIGS. 4 and 5 are formed.
[0070]
Next, in the present embodiment, in order to reduce the electrical resistance of the data line 52, an aluminum film is formed as a fourth layer 57 on the third layer 52c by the same method as in the first embodiment (see FIG. 4). See FIG. 7).
[0071]
First, in a protective mask forming step shown in FIG. 10A, a protective resin for covering the entire pixel electrode 66 (lower side thin film) made of an ITO film with a photosensitive resin by using a photolithography technique. After forming the mask 3, the protection mask 3 is subjected to a heat treatment (protection mask forming step).
[0072]
Next, in a conductive film forming step shown in FIG. 10B, the upper layer thin film 4 (aluminum) for forming the fourth layer 57 (upper layer thin film pattern) of the data line 52 is formed on the upper layer side of the protective mask 3. Film).
[0073]
Next, in the patterning mask forming step shown in FIG. 11A, the fourth layer 57 of the data line 52 (the upper layer thin film) is formed on the surface of the upper layer thin film 4 using a photosensitive resin by using a photolithography technique. A patterning mask 5 for forming a pattern is formed.
[0074]
Next, in the etching step shown in FIG. 11B, the upper layer thin film 4 exposed from the patterning mask 5 is patterned by dry etching to form the fourth layer 57 (upper layer thin film pattern) of the data line 52. Form.
[0075]
Thereafter, in the peeling step, the patterning mask 5 is removed, and the protection mask 3 exposed from the fourth layer 57 of the data line 52 is simultaneously removed.
[0076]
Then, as shown in FIG. 5, after forming an alignment film 59 by forming polyimide, polyvinyl alcohol, or the like to a uniform thickness on the surface of the element substrate 200, a rubbing process or other alignment is performed on the alignment film 57. Perform processing. As a result, the element substrate 200 is completed.
[0077]
When the element substrate 200 is manufactured in this manner, the etching conditions for the upper layer thin film 4 are such that the etching selectivity for the upper layer thin film 4 made of aluminum and the pixel electrode 66 (lower layer thin film pattern) made of an ITO film is low. Even in this case, in this embodiment, since the pixel electrode 66 is covered with the protective mask 5, the pixel electrode 6 can be prevented from being etched, and the upper thin film 4 made of aluminum and the pixel made of the ITO film can be prevented. An effect similar to that of the first embodiment is obtained, for example, such that a local battery is not formed between the electrode 66.
[0078]
When manufacturing the element substrate 200, the pixel electrode 6 can be maintained in a desired shape or a desired thickness even when the method described in the second embodiment is employed.
[0079]
In addition, the present invention is applicable to the thin film (lower layer thin film and upper layer thin film) irrespective of whether the thin film is a conductive film or an insulating film, and whether the etching method is wet etching or dry etching. , Can be applied. Further, the method for forming a thin film pattern according to the present embodiment can be applied regardless of whether the two thin films (lower-layer thin film and upper-layer thin film) are made of different materials or the same material. Therefore, the present invention can be applied not only to the case where the fourth layer 57 of the data line 52 is formed after the pixel electrode 66 is formed, but also to the case where other thin film patterns are formed.
[0080]
[Other embodiments]
In the above embodiment, the present invention is applied to the formation of the fourth layer 57 of the data line 52 on the element substrate 200 of the electro-optical device 100 using the TFD element as the active element. In any of the electro-optical devices described below, since a large number of thin film patterns are formed on the same substrate, the present invention may be applied to manufacture these electro-optical devices.
[0081]
FIG. 12 is a block diagram schematically illustrating a configuration of an electro-optical device including an active matrix type liquid crystal device using a thin film transistor (TFT / Thin Film Transistor) as a pixel switching element. FIG. 13 is a block diagram of an active matrix type electro-optical device provided with an electroluminescence element using a charge injection type organic thin film as an electro-optical material.
[0082]
As shown in FIG. 12, in an electro-optical device 1b composed of an active matrix type liquid crystal device using a TFT as a pixel switching element, each of a plurality of pixels formed in a matrix has a pixel for controlling a pixel electrode 9a. A switching TFT 30b is formed, and a data line 6b for supplying a pixel signal is electrically connected to a source of the TFT 30b. The pixel signal to be written to the data line 6b is supplied from the data line driving circuit 2b. The scanning line 31b is electrically connected to the gate of the TFT 30b, and a scanning signal is supplied to the scanning line 31b in a pulsed manner from the scanning line driving circuit 3b at a predetermined timing. The pixel electrode 9a is electrically connected to the drain of the TFT 30b. By turning on the TFT 30b, which is a switching element, for a predetermined period, a pixel signal supplied from the data line 6b is supplied to each pixel at a predetermined timing. Write with The pixel signal of a predetermined level written in the liquid crystal via the pixel electrode 9a in this manner is held for a certain period between the pixel signal and a counter electrode formed on a counter substrate (not shown).
[0083]
Here, for the purpose of preventing the held pixel signal from leaking, a storage capacitor 70b (capacitor) may be added in parallel with a liquid crystal capacitor formed between the pixel electrode 9a and the counter electrode. The storage capacitor 70b holds the voltage of the pixel electrode 9a for a time that is, for example, three digits longer than the time during which the source voltage is applied. Thereby, the charge retention characteristics are improved, and an electro-optical device capable of performing display with a high contrast ratio can be realized. The method of forming the storage capacitor 70b may be either the case where the storage capacitor 70b is formed between the capacitor line 32b which is a wiring for forming a capacitor or the case where the storage capacitor 70b is formed between the storage line 70b and the preceding scanning line 31b. Is also good.
[0084]
As shown in FIG. 13, an active matrix type electro-optical device including an electroluminescence element using a charge injection type organic thin film is an EL (electroluminescence) element which emits light when a drive current flows through an organic semiconductor film, or This is an active matrix type display device in which a light emitting element such as an LED (light emitting diode) element is driven and controlled by a TFT. Since the light emitting elements used in this type of display device emit light by themselves, they do not require a backlight. In addition, there is an advantage that viewing angle dependency is small.
[0085]
In the electro-optical device 100p shown here, a plurality of scanning lines 3p, a plurality of data lines 6p extending in a direction intersecting with the extending direction of the scanning lines 3p, and the data lines 6p are arranged in parallel. A plurality of common power supply lines 23p and pixels 15p corresponding to intersections of the data lines 6p and the scanning lines 3p are configured. For the data line 6p, a data line driving circuit 101p including a shift register, a level shifter, a video line, and an analog switch is configured. A scanning line driving circuit 104p including a shift register and a level shifter is configured for the scanning line 3p.
[0086]
Each of the pixels 15p holds a first TFT 31p to which a scanning signal is supplied to a gate electrode via a scanning line 3p, and an image signal supplied from a data line 6p via the first TFT 31p. A storage capacitor 33p, a second TFT 32p to which an image signal held by the storage capacitor 33p is supplied to the gate electrode, and a common power supply line when electrically connected to the common power supply line 23p via the second TFT 32p. A light-emitting element 40p into which a drive current flows from 23p.
[0087]
Here, the light emitting element 40p has a configuration in which a hole injection layer, an organic semiconductor film as an organic electroluminescent material layer, and a counter electrode made of a metal film such as lithium-containing aluminum and calcium are stacked on the upper layer side of the pixel electrode. The counter electrode 20p is formed over a plurality of pixels 15p across the data line 6p and the like.
[0088]
In addition to the above-described embodiments, a plasma display device, an FED (field emission display) device, an LED (light emitting diode) display device, an electrophoretic display device, a thin cathode ray tube, a small television using a liquid crystal shutter, a digital microcontroller, and the like. The present invention may be applied to an electro-optical device such as a mirror device (DMD). Further, the present invention is not limited to the electro-optical device, and may be applied to the manufacture of a semiconductor device.
[0089]
[Example of mounting on electronic equipment]
FIG. 14 is a perspective view illustrating a configuration of a mobile phone as an example of an electronic apparatus including the electro-optical device according to the present embodiment.
[0090]
In FIG. 14, a mobile phone 1400 includes the electro-optical device 100 together with a plurality of operation buttons 1402, an earpiece 1404, and a mouthpiece 1406. The electro-optical device 100 is also provided with a backlight on the back as necessary.
[0091]
In addition, as the electronic apparatus on which the electro-optical device of the present embodiment can be mounted, in addition to a mobile phone, a mobile computer, a liquid crystal television, a viewfinder type, a video tape recorder of a monitor direct-view type, a car navigation device, an electronic notebook, a calculator, Examples include a word processor, a workstation, a videophone, a POS terminal, and a device equipped with a touch panel.
[Brief description of the drawings]
FIGS. 1A to 1F are explanatory views showing a method for forming a thin film pattern according to a first embodiment of the present invention.
FIGS. 2A to 2F are explanatory views showing a method for forming a thin film pattern according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a block diagram illustrating an electrical configuration of an electro-optical device (liquid crystal device) to which the present invention is applied.
FIG. 4 is a perspective view showing a configuration of the electro-optical device shown in FIG.
FIG. 5 is a cross-sectional view illustrating a configuration of the electro-optical device illustrated in FIG.
6 is a plan view showing a layout of several pixels including a TFD element in the electro-optical device shown in FIG.
FIGS. 7A and 7B are a cross-sectional view taken along line AA ′ of FIG. 6 and a perspective view of a TFD element.
8 is a process chart showing a method for manufacturing an element substrate used in the electro-optical device shown in FIG.
FIG. 9 is a process chart showing a method of manufacturing an element substrate used in the electro-optical device shown in FIG.
FIG. 10 is a process chart showing a method for manufacturing an element substrate used in the electro-optical device shown in FIG.
FIG. 11 is a process chart showing a method of manufacturing an element substrate used in the electro-optical device shown in FIG.
FIG. 12 is a block diagram schematically illustrating a configuration of an electro-optical device including an active matrix liquid crystal device using a thin film transistor as a pixel switching element.
FIG. 13 is a block diagram of an active matrix type electro-optical device including an electroluminescent element using a charge injection type organic thin film as an electro-optical material.
FIG. 14 is an explanatory diagram of a mobile phone as an example of an electronic apparatus equipped with the electro-optical device according to the invention.
FIGS. 15A to 15E are explanatory views showing a conventional method of forming a thin film pattern.
[Explanation of symbols]
1 Substrate, 2 Lower layer thin film pattern (lower layer thin film), 3 Protection mask, 4 Upper layer thin film, 5 Patterning mask, 6 Upper layer thin film pattern

Claims

A lower layer thin film forming step of forming a lower layer thin film, an upper layer thin film forming step of forming an upper layer thin film on the upper layer side of the lower layer thin film, and a photosensitive resin on the surface of the upper layer thin film by photolithography technology An etching step of forming a patterning mask and etching the upper layer-side thin film,
After the lower layer-side thin film forming step, after forming a protective mask made of a photosensitive resin covering the lower layer-side thin film by photolithography technology, perform a protective mask forming step of performing heat treatment on the protective mask,
Thereafter, the upper layer side thin film forming step is performed.

In claim 1, the upper layer thin film is a thin film for forming an upper layer thin film pattern at a position separated from the lower layer thin film by the etching step,
In the protective mask forming step, the entire upper surface of the upper thin film pattern is covered, and the protective mask is formed in a region avoiding a region where the upper thin film pattern is to be formed,
A method for forming a thin film pattern, comprising removing the protective mask after performing the etching step.

2. The thin film according to claim 1, wherein the upper thin film is a thin film for forming an upper thin film pattern that partially overlaps the lower thin film by the etching step.
In the protective mask forming step, on the surface side of the lower layer thin film, the protective mask is formed in a region avoiding a region where the upper layer thin film pattern is to be formed,
A method for forming a thin film pattern, comprising removing the protective mask after performing the etching step.

4. The method according to claim 2, wherein after the step of etching the upper layer thin film, the step of removing the patterning mask removes the protection mask at the same time.

5. A method for manufacturing an electro-optical device, comprising: using the substrate on which a thin-film pattern is formed by using the method for forming a thin-film pattern defined in claim 1 as a substrate for an electro-optical device for holding an electro-optical material. Method.

An electro-optical device manufactured by the method defined in claim 5.

7. The electro-optical device according to claim 6, wherein the electro-optical material is a liquid crystal held between the electro-optical device substrate and a substrate opposed to the electro-optical device substrate.

7. The electro-optical device according to claim 6, wherein the electro-optical material is an electroluminescent material formed on the electro-optical device substrate.

An electronic apparatus comprising the electro-optical device defined in any one of claims 6 to 8.