【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明はプラズマディスプレイの検査方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
プラズマディスプレイにおいては、駆動電圧印加から放電するまでの時間的な遅れによって放電が失敗する（以降、放電遅れと呼ぶ）ことにより発生する表示不良欠陥、または蓄積された電荷が隣接絵素の放電時に消費されることで放電が失敗する（以降、電荷漏れと呼ぶ）ことにより発生する表示不良欠陥を検査することが行われている。なお、絵素とはディスプレイデバイスを構成する１つの点灯素子であり、カラーディスプレイデバイスの場合はＲまたはＧまたはＢなどの１つである。
【０００３】
一般的に、このようなディスプレイデバイスにおける表示状態の評価は、評価員の目視による官能評価が用いられている。
【０００４】
また、プラズマディスプレイの放電遅れを定量評価する方法としては、電極に印加される電圧を測定することで定量的に判断するという方法があった（たとえば特許文献１参照）。
【０００５】
この構成例を図１２に示しており、図１２に示すように、スキャン電極、サスティン電極、データ電極それぞれに駆動波形を印加するためのパルス波形発生装置１１１から１１３を具備し、スキャン電極とサスティン電極間の電位差Ｖｓｃｎ−Ｖｓｕｓを差動アンプＡ１を用いて検出し、サスティン電極と波形発生装置１１１との間に挿入された参照コンデンサＣｓの両端の電位差Ｖｃｓを差動アンプＡ２を用いて検出し、Ｖｓｃｎ−ｓｕｓ、Ｖｃｓおよびデータ電極電圧Ｖｄａｔａをオシロスコープにて計測する構成を有している。この参照コンデンサＣｓの両端に現れる電位差Ｖｃｓの時間的変化に着目することで、このコンデンサＣｓに蓄えられている電荷量の時間的な変化を観測し、さらには放電電流の時間的な変化を観測できることから、この放電遅れ現象を計測することができる。
【０００６】
【特許文献１】
特開２０００−５５９６３号公報
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
この従来の方式では、パネル内の局所的な評価は可能であり、放電現象という観点から特性を解析・評価するには適している。しかしながら、従来の方式で、パネル全面での評価を実施するためには、各電極に印加するためのパルス波形発生装置およびオシロスコープなどの電荷量測定装置を測定点の数だけ必要とし、評価装置としてはかなり大規模かつ高価なものとなる。また、電荷漏れによる表示異常についてはこの方式では測定できない。さらに、判定に時間を要するため、量産工程においてパネルの良否判定に用いるには不適切である。
【０００８】
本発明は上記課題を解決し、プラズマディスプレイにおける放電遅れによる表示異常欠陥および電荷漏れにおける表示異常欠陥を定量化し、短時間かつ小規模な構成で検出可能な検査方法を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために本発明は、検査対象であるプラズマディスプレイに、放電遅れによる表示異常欠陥、電荷漏れによる表示異常欠陥を誘発し、かつ画像処理による判定を容易にするという特徴を持つパターンを表示させ、放電遅れによる表示異常欠陥、電荷漏れによる表示異常欠陥を定量化して検査する方法であり、プラズマディスプレイの表示品質を短時間かつ小規模な構成で定量化して検査することが可能となる。
【００１０】
【発明の実施の形態】
本発明の請求項１に記載の発明は、検査対象であるプラズマディスプレイに、画面全体に点灯絵素を所定のピッチで点在させた検査画面パターンを表示させ、その検査画面パターンを画像処理による定量化を行うことにより、駆動電圧印加から放電するまでの時間的な遅れによって放電が失敗するために発生する表示不良欠陥を検査することを特徴とする。
【００１１】
また、請求項２に記載の発明は、検査対象であるプラズマディスプレイに、特定の点灯絵素を階調の重み付けの大きなサブフィールドのみで放電させ、そのサブフィールドを第ｎサブフィールドとした場合に、その周囲を第ｎ−１サブフィールド以下の重み付けの階調で点灯させる検査画面パターンを表示させ、その検査画面パターンを画像処理による定量化を行うことにより、蓄積された電荷が隣接絵素の放電時に消費されることで放電が失敗するために発生する表示不良欠陥を検査することを特徴とする。
【００１２】
また、請求項３に記載の発明は、第ｎサブフィールドで放電させる点灯絵素及びその点灯絵素に隣接し第ｎ−１サブフィールド、あるいは第ｎ−１サブフィールドより小さいサブフィールドから第ｎ−１サブフィールドまでの重み付けの階調のサブフィールドで連続して放電させるような点灯絵素とからなる点灯絵素群とし、検査対象であるプラズマディスプレイに、前記点灯絵素群を周囲に何も点灯していない状態として所定のピッチで点在させた検査画面パターンを表示させ、その検査画面パターンを画像処理による定量化を行うことにより、駆動電圧印加から放電するまでの時間的な遅れによって放電が失敗するために発生する表示不良欠陥及び蓄積された電荷が隣接絵素の放電時に消費されることで放電が失敗するために発生する表示不良欠陥を検査することを特徴とする。
【００１３】
以下、本発明の一実施の形態によるプラズマディスプレイの検査方法について、図１〜図１１を用いて説明する。
【００１４】
図１は本発明の一実施の形態におけるプラズマディスプレイの検査方法を実施するための検査装置の概略構成図である。図１において、１は検査対象となるプラズマディスプレイ、２はプラズマディスプレイ１を点灯させるための点灯装置であり、プラズマディスプレイ１に点灯装置２を接続しプラズマディスプレイ１を任意の表示パターンで点灯状態にするもので、電源や信号発生器などから構成される。３は点灯状態になったプラズマディスプレイ１を撮像する撮像素子、４はプラズマディスプレイ１と撮像素子３の間に位置するバンドパスフィルタ、５は撮像素子３に取り付けてプラズマディスプレイ１の発光絵素と非発光絵素との境界を明確にするための結合レンズ、６は撮像素子３により得られた画像データを処理する画像処理装置、７〜１１は画像処理装置６内に配置された記憶素子、１２は画像処理装置６により処理された検査結果を表示するための表示装置である。
【００１５】
撮像素子３に２次元センサを用い、かつプラズマディスプレイ１の面積に対し撮像素子３の撮像可能範囲が狭い場合は、プラズマディスプレイ１または撮像素子３を移動させ、複数回に分割して撮像する必要がある。また撮像素子３に１次元センサを用いる場合は、検査対象であるプラズマディスプレイ１または撮像素子３を移動させながら撮像する必要がある。また、バンドパスフィルタ４は撮像素子３がＲ、Ｇ、Ｂに分光できない場合に必要であり、フィルタを交換して複数回撮像する必要がある。ただし、Ｒ、Ｇ、Ｂに分光する必要の無い場合はこの限りではない。
【００１６】
撮像素子３によって得られた画像データは画像処理装置６に転送し、画像処理装置内の記憶素子７〜９にそれぞれＲ、Ｇ、Ｂの光量値をデジタルデータとして記憶させる。このデータを記憶素子１０にあらかじめ記憶されている画像処理プログラムによって処理し、表示絵素異常を検出する。画像処理プログラムについては後述する。
【００１７】
放電遅れによる表示絵素異常を誘発する点灯パターンについて説明する。放電遅れによる表示絵素異常は、放電の失敗による不点灯という現象となる。この現象は周囲が放電（点灯）している場合、その影響を受けて、放電が成功しやすい。逆に放電していない場合は放電が失敗しやすい。つまり、放電遅れによる表示絵素異常を誘発するには、図２、図３に示すように、周囲に何も点灯していない状態で点灯絵素１３として独立させて点灯させればよい。ここで、図２はプラズマディスプレイの画面全体が表示しているパターンを表し、図３は点灯している点灯絵素１３とその近傍を拡大したものであり、放電遅れの検査のために、画面全体に点灯絵素１３を所定のピッチ１４で点在させた検査画面を表示させている。
【００１８】
また、この放電の失敗する確率は点灯させる絵素のピッチ１４により異なり、ピッチ１４が大きければ、より顕著に現れるということになる。ただし、あまりピッチ１４が大きすぎるとパネル前面の評価という目的が達せられないため、現在のプラズマディスプレイのパネルサイズおよび解像度を考慮すると、１０ｍｍから３０ｍｍ程度が適当である。
【００１９】
次に、電荷漏れによる表示絵素異常を誘発する点灯パターンについて説明する。電荷漏れによる表示絵素異常も、放電の失敗による不点灯という現象となる。この現象は周囲の絵素の表示諧調との組み合わせにより発生する。
【００２０】
プラズマディスプレイの表示諧調の制御は、図４に示すような信号の組み合わせにより行われている。１フィールドは維持期間のそれぞれ異なるサブフィールドからなり、この場合１フィールドは８サブフィールドで構成されている。このサブフィールドの組み合わせで表示諧調を制御している。このとき、ある絵素で、たとえば第ｎ（２≦ｎ≦８、ｎは整数）サブフィールドのみで点灯させようとしているときに、その隣接する絵素で第ｎ−１サブフィールドが点灯するようなことがあれば、第ｎサブフィールドで放電すべき電荷が、隣接する絵素の第ｎ−１サブフィールドでの放電時に消費され、第ｎサブフィールドでは電荷が不足して放電に失敗しやすい。さらに顕著に発生させるためにはｎを支障の無い範囲で大きくとり、隣接する絵素を第ｎ−３、ｎ−２、ｎ−１サブフィールドと連続して放電させてやればよい。
【００２１】
つまり、電荷漏れによる表示絵素異常を誘発するには図５、図６に示すように、点灯絵素１５をできるだけ階調の重み付けの大きなサブフィールドのみで放電させ、そのサブフィールドを第ｎサブフィールドとした場合に、その周囲を第ｎ−１サブフィールド、あるいは第ｎ−１サブフィールドより小さいサブフィールドから第ｎ−１サブフィールドまでの重み付けの階調のサブフィールドのデータで連続して放電させればよい。ここで、図５はパネル全体が表示しているパターンを表し、図６は第ｎフィールドの放電のみで点灯している点灯絵素１５とその近傍を拡大したものである。これも上記と同様の理由で、第ｎサブフィールドで点灯させる絵素のピッチ１４は１０ｍｍから３０ｍｍ程度が適当である。
【００２２】
さらに、放電遅れや電荷漏れによる表示絵素異常を同時に誘発するには図７、図８に示すように、第ｎサブフィールドで放電させる点灯絵素１６と、その点灯絵素１６に隣接し第ｎ−１サブフィールド、あるいは第ｎ−１サブフィールドより小さいサブフィールドから第ｎ−１サブフィールドまでの重み付けの階調のサブフィールドで連続して放電させるような点灯絵素１７ａ、１７ｂ、１７ｃ、１７ｄとからなる点灯絵素群１８とし、この点灯絵素群１８を周囲に何も点灯していない状態として所定のピッチ１４で点在させたパターンを表示してやればよい。ここで、図７はパネル全体が表示しているパターンを表し、図８は点灯している点灯絵素１６とその隣接する点灯絵素１７ａ、１７ｂ、１７ｃ、１７ｄ近傍を拡大したものである。これも上記と同様の理由で、第ｎサブフィールドで点灯させる絵素のピッチ１４は１０ｍｍから３０ｍｍ程度が適当である。
【００２３】
さらにこのようなパターンは背景が点灯しておらず、特定の部分のみ点灯しているため、点灯の強度を測定しやすく、画像処理による定量評価に適している。これの代表例として、図７、図８で表される表示パターンを検査対象とした場合を図９を用いて説明する。撮像素子にて得られる明るさに比例するデジタルデータの値が、１フィールドにつき、それぞれ非発光部が０、図７または図８で示すところの隣接する点灯絵素１７ａ、１７ｂ、１７ｃ、１７ｄが１０、図７または図８で示すところの点灯絵素１６が放電に成功した場合２０、失敗した場合が０の値をとるものとし、この場合１０フィールドに相当する露光時間で撮像したものとする。簡易的に、非発光部と発光部の境界部は傾き無限大で変化するものとする。図９では図７に示す直線Ａ上の絵素を撮像した撮像素子の画素の並びを横軸に、各画素のデジタルデータを縦軸に取っている。図２または図３、図５または図６にて表されるパターンも同様である。
【００２４】
２１は１０フィールド全てで放電に成功した注目点灯絵素、２２は５フィールドで放電に成功した注目点灯絵素、２３、２４、２５、２６は隣接する点灯絵素の濃度を示す。２１は１フィールドあたり２０の濃度で、１０フィールド放電しているので２００の値をとる、２２は５フィールドしか放電していないため、１００の値となる。隣接絵素およびその周囲の濃度は差がないため、２１と２２の差は明らかに検出可能である。
【００２５】
次に、画像処理方式の例を図１０に示すフローチャートを用いて説明する。
【００２６】
Ｓ２１は画像撮像・転送工程であり、すでに記載しているように、撮像素子３により検査対象であるプラズマディスプレイの表示画面を撮像し、そのデータを撮像素子の各画素の配列に対応した２次元の配列を持つ、たとえば８ｂｉｔのデジタルデータとして画像処理装置６内の記憶素子７〜９に格納する。このとき、撮像素子の露光時間はプラズマディスプレイの発光の１周期（図４の１フィールドに要する時間）である１／６０秒の倍数にすることが望ましい。こうすることで、正常に点灯している絵素の発光強度がほぼ一定となる。
【００２７】
さらには露光時間は可能な限り長い方が望ましい。こうすることで、各絵素が撮像素子の露光時間内に放電に失敗した回数の偏りが低減される。また、撮像素子３あるいはバンドパスフィルタ４の分光特性により、Ｒ、Ｇ、Ｂの色による強度の差があるため、補正係数を乗じ、正常に点灯している絵素を撮像した際の強度が同等になるようにした方が望ましい。この補正係数は実験的に求めてやる必要がある。この補正をかけたデータを記憶素子１１に格納する。その例を図１１に示す。
【００２８】
Ｓ２２は発光強度検出処理工程であり、注目の点灯絵素１６の発光強度を検出する。具体的にはいくつかの方法が考えられる。例えば図１１に示した２次元の配列のデータを、あらかじめ注目絵素が結像すると予想される撮像素子３上の画素エリア２７、２８内で、例えば左上の点から右側に探索していき、そのデータがしきい値以上の画素を求め、それらの画素の濃度の総和を発光強度とする。図１１の例で言えば、しきい値を１５０に設定したときにエリア２７の場合は、８４５（＝２０８＋２１８＋２０３＋２１６）、エリア２８の場合は１５５となる。注目セル以外の濃度が安定している場合は、エリア２７または２８内の濃度を総和するだけでも良い。Ｓ／Ｎ比を大きく取りたいのであれば、この濃度総和から、実験により算出した定数を減算すればよい。このとき、予想されるエリア内に注目点灯絵素１６が結像するようにするために、プラズマディスプレイ１を精度よく位置決めをする必要がある。その精度としては少なくともピッチ１４の±１／２以下が必要である。
【００２９】
Ｓ２３は比較処理であり、Ｓ２２にて検出された各絵素の発光強度を比較対象と比較し、欠陥の強度を判定する。比較の方法としては除算、あるいは減算などが考えられる。この場合比較対象とは正常な絵素を代表するもので、いくつか考えられる。例えば、正常な絵素の場合であればＳ２２で検出された発光強度がほぼ一定であるときは、実験的に得られた正常な絵素の場合の発光強度を平均して求めればよい。また結合レンズ５の光学特性などにより、撮像素子の部分によって、発光強度が異なる場合は、場所毎に正常な絵素の場合の発光強度の平均値を求めてやるのが望ましい。
【００３０】
Ｓ２４は点滅絵素判定処理であり、Ｓ２３により求められた各注目画素の欠陥強度をしきい値により判定する。しきい値が１つの場合は良品または不良品の２段階となる。さらに細かく分類したい場合はしきい値を２つ以上設定してやればよい。必要に応じて注目絵素の場所とそれぞれの欠陥強度を画像処理装置６内の記憶素子１１に保存し、表示装置１２に表示するために用いる。
【００３１】
Ｓ２５は総合判定処理であり、Ｓ２４によって判定された注目絵素の数や欠陥強度により、検査対象の良否の判定を行う。例えばＳ２４でしきい値を２つ設定し、欠陥の強度を強、中、弱の３段階に分けた場合に、強が１０絵素、中が３０絵素以上の場合に欠陥とする。この結果も必要に応じて表示装置１２に表示する。
【００３２】
以上の処理を行うことにより、プラズマディスプレイデバイスの放電遅れまたは電荷漏れに起因する表示異常欠陥を定量評価することが可能である。
【００３３】
【発明の効果】
以上のように本発明によれば、プラズマディスプレイデバイスの放電遅れまたは電荷漏れに起因する表示異常欠陥を定量評価することが可能となる。また、求められた座標や評価値から検査員による再判定が容易となり、さらに、前工程で発生した不良原因を推定し、生産効率を向上させることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施の形態によるプラズマディスプレイの検査方法を実施する装置の概略構成図
【図２】放電遅れによる表示異常欠陥を誘発する表示パターンを示す説明図
【図３】同じく要部を拡大して示す説明図
【図４】プラズマディスプレイにおける一般的な駆動波形の例を示す波形図
【図５】電荷漏れによる表示異常欠陥を誘発する表示パターンを示す説明図
【図６】同じく要部を拡大して示す説明図
【図７】放電遅れおよび電荷漏れによる表示異常欠陥を誘発する表示パターンを示す説明図
【図８】同じく要部を拡大して示す説明図
【図９】本発明の効果を説明するための説明図
【図１０】画像処理プログラムのフローチャート
【図１１】画像処理による欠陥検出方法の説明図
【図１２】従来の技術における電荷移動量測定装置を示すブロック図
【符号の説明】
１ プラズマディスプレイ
２ 点灯装置
３ 撮像素子
４ バンドパスフィルタ
５ 結合レンズ
６ 画像処理装置
７、８、９、１０、１１ 記憶素子
１２ 表示装置[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a plasma display inspection method.
[0002]
[Prior art]
In a plasma display, a display failure defect caused by a discharge failure due to a time delay from application of a driving voltage to a discharge (hereinafter referred to as a discharge delay), or accumulated charge is generated when an adjacent pixel is discharged. Inspection of a display defect defect caused by a discharge failure due to consumption (hereinafter referred to as charge leakage) is performed. Note that a picture element is one lighting element that constitutes a display device, and in the case of a color display device, it is one such as R, G, or B.
[0003]
Generally, the evaluation of the display state in such a display device uses a sensory evaluation by visual observation of an evaluator.
[0004]
Further, as a method of quantitatively evaluating a discharge delay of a plasma display, there has been a method of quantitatively determining by measuring a voltage applied to an electrode (for example, see Patent Document 1).
[0005]
FIG. 12 shows an example of this configuration. As shown in FIG. 12, pulse waveform generators 111 to 113 for applying a drive waveform to each of the scan electrode, the sustain electrode, and the data electrode are provided. The potential difference Vscn-Vsus between the electrodes is detected using the differential amplifier A1, and the potential difference Vcs across the reference capacitor Cs inserted between the sustain electrode and the waveform generator 111 is detected using the differential amplifier A2. , Vscn-sus, Vcs and the data electrode voltage Vdata are measured by an oscilloscope. By paying attention to the temporal change of the potential difference Vcs appearing at both ends of the reference capacitor Cs, the temporal change of the charge amount stored in the capacitor Cs is observed, and further, the temporal change of the discharge current is observed. Since it is possible, the discharge delay phenomenon can be measured.
[0006]
[Patent Document 1]
JP 2000-55963 A
[Problems to be solved by the invention]
This conventional method enables local evaluation within a panel, and is suitable for analyzing and evaluating characteristics from the viewpoint of a discharge phenomenon. However, in order to evaluate the entire panel with the conventional method, a pulse waveform generator for applying to each electrode and a charge amount measuring device such as an oscilloscope are required as many as the number of measurement points. Can be quite large and expensive. Also, display abnormalities due to charge leakage cannot be measured by this method. Furthermore, since it takes time to make a determination, it is not suitable for use in determining the quality of a panel in a mass production process.
[0008]
An object of the present invention is to solve the above problems and to provide an inspection method capable of quantifying a display abnormal defect due to a discharge delay in a plasma display and a display abnormal defect due to charge leakage and detecting the defect in a short time and with a small configuration. .
[0009]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a plasma display to be inspected, which has a feature of inducing a display abnormal defect due to a discharge delay, a display abnormal defect due to charge leakage, and facilitating determination by image processing. This is a method for quantifying and inspecting display abnormal defects due to discharge delay and display abnormal defects due to charge leakage.It is possible to quantify and inspect the display quality of a plasma display in a short time and with a small configuration. Become.
[0010]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
According to the first aspect of the present invention, an inspection screen pattern in which lighting picture elements are scattered at a predetermined pitch is displayed on the entire screen of a plasma display to be inspected, and the inspection screen pattern is formed by image processing. By performing the quantification, a display defect defect caused by the failure of the discharge due to the time delay from the application of the driving voltage to the discharge is inspected.
[0011]
In addition, the invention according to claim 2 is a method in which a specific lighting picture element is discharged only in a subfield having a large gradation weight in a plasma display to be inspected, and the subfield is set to an nth subfield. In addition, by displaying an inspection screen pattern whose periphery is illuminated with a weighted gradation of n-1 subfields or less and quantifying the inspection screen pattern by image processing, the accumulated electric charge is reduced to the value of the adjacent picture element. It is characterized by inspecting a display defect defect caused by the discharge failure due to consumption during the discharge.
[0012]
Further, the invention according to claim 3 provides a lighting picture element to be discharged in the n-th sub-field and an n-1 th sub-field adjacent to the lighting picture element or a sub-field smaller than the n-1 sub-field. A lighting picture element group consisting of lighting picture elements that are continuously discharged in subfields having a weighted gradation up to -1 subfield, and the lighting picture element group is placed around the plasma display to be inspected. Also, by displaying the inspection screen pattern scattered at a predetermined pitch as a non-lighting state, and quantifying the inspection screen pattern by image processing, a time delay from application of the drive voltage to discharging is caused. Display failure caused by a failed discharge and a table caused by a failed discharge due to the consumption of accumulated charges when discharging adjacent picture elements. Characterized by examining the defect defects.
[0013]
Hereinafter, a method for inspecting a plasma display according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
[0014]
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an inspection apparatus for performing an inspection method of a plasma display according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a plasma display to be inspected, and 2 denotes a lighting device for lighting the plasma display 1. The lighting device 2 is connected to the plasma display 1 so that the plasma display 1 is turned on in an arbitrary display pattern. It is composed of a power supply and a signal generator. Reference numeral 3 denotes an image sensor for imaging the turned on plasma display 1, 4 denotes a band-pass filter located between the plasma display 1 and the image sensor 3, 5 denotes a light emitting picture element of the plasma display 1 attached to the image sensor 3. A coupling lens for clarifying a boundary with a non-luminous picture element, 6 is an image processing device for processing image data obtained by the image sensor 3, 7 to 11 are storage elements arranged in the image processing device 6, Reference numeral 12 denotes a display device for displaying the inspection result processed by the image processing device 6.
[0015]
When a two-dimensional sensor is used for the imaging element 3 and the imaging range of the imaging element 3 is narrow with respect to the area of the plasma display 1, it is necessary to move the plasma display 1 or the imaging element 3 and perform image capturing in a plurality of times. There is. When a one-dimensional sensor is used for the image sensor 3, it is necessary to perform imaging while moving the plasma display 1 or the image sensor 3 to be inspected. The bandpass filter 4 is necessary when the image sensor 3 cannot separate the light into R, G, and B light. However, this does not apply when there is no need to split the light into R, G, and B light.
[0016]
The image data obtained by the image pickup device 3 is transferred to the image processing device 6, and the light intensity values of R, G, and B are stored as digital data in the storage elements 7 to 9 in the image processing device. This data is processed by an image processing program stored in the storage element 10 in advance, and a display picture element abnormality is detected. The image processing program will be described later.
[0017]
A lighting pattern that induces a display pixel abnormality due to a discharge delay will be described. An abnormal display picture element due to a discharge delay is a phenomenon of non-lighting due to a failure in discharge. This phenomenon is influenced by the discharge (lighting) of the surroundings, and the discharge is likely to succeed. Conversely, if no discharge occurs, the discharge tends to fail. In other words, in order to induce a display picture element abnormality due to a discharge delay, as shown in FIGS. Here, FIG. 2 shows a pattern displayed on the entire screen of the plasma display, and FIG. 3 is an enlarged view of the lit picture element 13 and the vicinity thereof. An inspection screen in which lighting picture elements 13 are scattered at a predetermined pitch 14 is displayed on the whole.
[0018]
In addition, the probability of the failure of the discharge varies depending on the pitch 14 of the picture element to be lit, and the larger the pitch 14, the more remarkable the appearance. However, if the pitch 14 is too large, the purpose of evaluating the front surface of the panel cannot be achieved. Therefore, in consideration of the current panel size and resolution of the plasma display, about 10 mm to 30 mm is appropriate.
[0019]
Next, a lighting pattern which induces a display picture element abnormality due to charge leakage will be described. An abnormal display picture element due to charge leakage also results in a phenomenon of non-lighting due to failure of discharge. This phenomenon occurs in combination with the display gradation of the surrounding picture elements.
[0020]
The control of the display gradation of the plasma display is performed by a combination of signals as shown in FIG. One field is composed of subfields having different sustain periods, and in this case, one field is composed of eight subfields. The display gradation is controlled by the combination of the subfields. At this time, for example, when light is to be turned on only in the nth (2 ≦ n ≦ 8, n is an integer) subfield in a certain picture element, the (n−1) th subfield is turned on in the adjacent picture element. If not, the electric charge to be discharged in the n-th subfield is consumed when the adjacent picture element is discharged in the (n-1) -th subfield, and the electric charge is insufficient in the n-th subfield, so that the discharge is likely to fail. . In order to make the occurrence more remarkable, n is set to be large in a range where there is no problem, and adjacent picture elements may be discharged continuously with the n-3, n-2, and n-1 subfields.
[0021]
That is, in order to induce a display picture element abnormality due to electric charge leakage, as shown in FIGS. 5 and 6, the lighting picture element 15 is discharged only in a sub-field having a large gradation weighting as much as possible, and the sub-field is turned into an n-th sub-field. In the case of a field, the surrounding area is continuously discharged with data of the (n-1) th subfield or subfields of a weighted gradation from the subfield smaller than the (n-1) th subfield to the (n-1) th subfield. You can do it. Here, FIG. 5 shows a pattern displayed on the entire panel, and FIG. 6 is an enlarged view of the lit picture element 15 lit by only the discharge in the n-th field and its vicinity. For the same reason as described above, the pitch 14 of the picture elements to be lit in the n-th subfield is suitably about 10 mm to 30 mm.
[0022]
Further, in order to simultaneously induce an abnormal display picture element due to a discharge delay or charge leakage, as shown in FIGS. 7 and 8, a lighting picture element 16 to be discharged in the n-th subfield and a lighting picture element 16 adjacent to the lighting picture element 16 are disposed. Lighting picture elements 17a, 17b, 17c, which are continuously discharged in the n-1 subfield or subfields having a weighted gradation from the subfield smaller than the (n-1) th subfield to the (n-1) th subfield. It is sufficient to display a pattern in which the lighting picture element group 18 composed of 17d and the lighting picture element group 18 are scattered at a predetermined pitch 14 in a state where nothing is lit around the lighting picture element group 18. Here, FIG. 7 shows a pattern displayed on the entire panel, and FIG. 8 is an enlarged view of the lit lighting picture element 16 and the vicinity of the adjacent lighting picture elements 17a, 17b, 17c, 17d. For the same reason as described above, the pitch 14 of the picture elements to be lit in the n-th subfield is suitably about 10 mm to 30 mm.
[0023]
Further, in such a pattern, the background is not lit, and only a specific portion is lit. Therefore, the intensity of lighting can be easily measured, and is suitable for quantitative evaluation by image processing. As a representative example of this, a case where the display patterns shown in FIGS. 7 and 8 are to be inspected will be described with reference to FIG. The value of the digital data proportional to the brightness obtained by the image sensor is 0 for the non-light-emitting portion per field, and the adjacent lighting picture elements 17a, 17b, 17c, and 17d shown in FIG. 7 or FIG. 10, it is assumed that the lighting picture element 16 shown in FIG. 7 or FIG. 8 has a value of 20 when the discharge has succeeded, and has a value of 0 when the discharge has failed, and in this case, it is assumed that an image was taken with an exposure time corresponding to 10 fields. . For simplicity, it is assumed that the boundary between the non-light emitting portion and the light emitting portion changes with an infinite inclination. In FIG. 9, the horizontal axis indicates the arrangement of the pixels of the image sensor that imaged the picture element on the straight line A shown in FIG. 7, and the vertical axis indicates the digital data of each pixel. The same applies to the patterns shown in FIG. 2 or FIG. 3, FIG. 5 or FIG.
[0024]
Reference numeral 21 denotes a target lighting picture element that has been successfully discharged in all 10 fields, reference numeral 22 denotes a target lighting picture element that has succeeded in discharging in 5 fields, and reference numerals 23, 24, 25, and 26 denote the concentrations of adjacent lighting picture elements. 21 has a density of 20 per field and has a value of 200 since 10 fields have been discharged, and 22 has a value of 100 since only 5 fields have been discharged. The difference between 21 and 22 is clearly detectable since there is no difference in the density of the neighboring picture element and its surroundings.
[0025]
Next, an example of the image processing method will be described with reference to a flowchart shown in FIG.
[0026]
S21 is an image capturing / transferring step, as already described, captures an image of the display screen of the plasma display to be inspected by the image sensor 3 and converts the data into a two-dimensional image corresponding to the arrangement of each pixel of the image sensor. Are stored in the storage elements 7 to 9 in the image processing apparatus 6 as digital data of, for example, 8 bits. At this time, it is desirable that the exposure time of the image sensor be a multiple of 1/60 second which is one cycle of light emission of the plasma display (the time required for one field in FIG. 4). In this way, the light emission intensity of the normally lit picture element becomes substantially constant.
[0027]
Further, it is desirable that the exposure time be as long as possible. By doing so, the bias in the number of times each picture element failed to discharge within the exposure time of the image sensor is reduced. Further, since there is a difference in intensity between the R, G, and B colors due to the spectral characteristics of the image sensor 3 or the band-pass filter 4, the intensity when a normally lit picture element is imaged is multiplied by a correction coefficient. It is desirable to make them equal. This correction coefficient needs to be determined experimentally. The data subjected to this correction is stored in the storage element 11. An example is shown in FIG.
[0028]
S22 is a light emission intensity detection processing step, which detects the light emission intensity of the lighted picture element 16 of interest. Specifically, several methods are conceivable. For example, the data of the two-dimensional array shown in FIG. 11 is searched in advance from, for example, the upper left point to the right side in the pixel areas 27 and 28 on the image sensor 3 where the target picture element is expected to form an image. Pixels whose data is equal to or larger than a threshold are obtained, and the sum of the densities of these pixels is defined as the light emission intensity. In the example of FIG. 11, when the threshold value is set to 150, the area becomes 845 (= 208 + 218 + 203 + 216) in the case of the area 27, and becomes 155 in the case of the area 28. If the densities other than the cell of interest are stable, it is only necessary to sum the densities in the area 27 or 28. If it is desired to increase the S / N ratio, a constant calculated by experiment may be subtracted from the total concentration. At this time, it is necessary to accurately position the plasma display 1 so that the focused lighting picture element 16 forms an image in the expected area. The accuracy must be at least ± １ ／ of the pitch 14 or less.
[0029]
S23 is a comparison process, in which the emission intensity of each picture element detected in S22 is compared with a comparison target to determine the intensity of the defect. As a comparison method, division, subtraction, or the like can be considered. In this case, the comparison target represents a normal picture element, and there are several possible comparison targets. For example, in the case of a normal picture element, if the light emission intensity detected in S22 is substantially constant, the light emission intensity of a normal picture element obtained experimentally may be obtained by averaging. Further, when the light emission intensity differs depending on the imaging element due to the optical characteristics of the coupling lens 5, it is desirable to calculate the average value of the light emission intensity in the case of a normal picture element for each location.
[0030]
S24 is a blinking picture element determination process in which the defect intensity of each pixel of interest obtained in S23 is determined based on a threshold value. When the number of thresholds is one, there are two stages of non-defective or defective. If more detailed classification is desired, two or more threshold values may be set. If necessary, the location of the picture element of interest and the respective defect intensities are stored in the storage element 11 in the image processing device 6 and used for display on the display device 12.
[0031]
S25 is a comprehensive judgment process, in which the quality of the inspection object is judged based on the number of picture elements of interest and the defect strength judged in S24. For example, two thresholds are set in S24, and when the intensity of the defect is divided into three levels of strong, medium, and weak, a defect is determined when the intensity is 10 picture elements and when the density is 30 picture elements or more. This result is also displayed on the display device 12 as needed.
[0032]
By performing the above-described processing, it is possible to quantitatively evaluate a display abnormality defect caused by a discharge delay or charge leakage of the plasma display device.
[0033]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, it is possible to quantitatively evaluate a display abnormality defect caused by a discharge delay or charge leakage of a plasma display device. Further, the re-determination by the inspector is facilitated from the obtained coordinates and the evaluation value, and the cause of the defect occurring in the previous process can be estimated, and the production efficiency can be improved.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an apparatus for performing a plasma display inspection method according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is an explanatory diagram showing a display pattern which induces a display abnormal defect due to a discharge delay. FIG. FIG. 4 is an enlarged view showing a portion. FIG. 4 is a waveform diagram showing an example of a general driving waveform in a plasma display. FIG. 5 is an explanatory diagram showing a display pattern which induces a display abnormal defect due to charge leakage. FIG. 7 is an explanatory view showing a main part in an enlarged scale. FIG. 7 is an explanatory view showing a display pattern which induces a display abnormal defect due to discharge delay and charge leakage. FIG. 8 is an explanatory view showing a main part in an enlarged manner. FIG. 10 is a flow chart of an image processing program. FIG. 11 is an explanatory view of a defect detection method by image processing. FIG. 12 is a conventional charge transfer amount measuring device. Block diagram illustrating DESCRIPTION OF SYMBOLS
REFERENCE SIGNS LIST 1 plasma display 2 lighting device 3 imaging device 4 bandpass filter 5 coupling lens 6 image processing device 7, 8, 9, 10, 11 storage device 12 display device
