JP2004340847A - 部品の輪郭形状検査方法及びその装置 - Google Patents

部品の輪郭形状検査方法及びその装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2004340847A
JP2004340847A JP2003139937A JP2003139937A JP2004340847A JP 2004340847 A JP2004340847 A JP 2004340847A JP 2003139937 A JP2003139937 A JP 2003139937A JP 2003139937 A JP2003139937 A JP 2003139937A JP 2004340847 A JP2004340847 A JP 2004340847A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
component
contour shape
light
image
test object
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2003139937A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4302431B2 (ja
Inventor
Tomohito Shimizu
智史 清水
Takashi Horiuchi
貴志 堀内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nissin Kogyo Co Ltd
Original Assignee
Nissin Kogyo Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nissin Kogyo Co Ltd filed Critical Nissin Kogyo Co Ltd
Priority to JP2003139937A priority Critical patent/JP4302431B2/ja
Publication of JP2004340847A publication Critical patent/JP2004340847A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4302431B2 publication Critical patent/JP4302431B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

【課題】検査対象部品の近傍位置に別の部品が配置されていても検査対象部品の正確なシルエット画像が得られる部品の輪郭形状検査方法及びその装置を供すること。
【解決手段】紫外線発生源6を適宜位置に配置し、紫外線発生源6から紫外線により可視光を発光する蛍光板7を検査対象部品2Aの背後に配置して検査対象部品2Aを照射する。画像処理装置4はCCDイメージセンサで蛍光板7からの照射により検査対象部品2Aのシルエット画像を取得し、検査対象部品2Aの外径を計測処理する。
【選択図】 図1

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電機・機械部品の輪郭形状を検査する輪郭形状検査方法及びその装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図6は電機・機械部品の輪郭形状を検査する輪郭形状検査装置の概略を示すもので、1は可視光を照射する光源、2は例えば電子銃の電極などの検査対象部品、3は支持板、4はCCD(Charge Coupled Device=電荷結合デバイス)イメージセンサを備えた画像処理装置である。検査対象部品2は支持板3に固定されている。光源1は検査対象部品2の背後に配置され、また、画像処理装置4は検査対象部品2の前方に配置されている。これにより、画像処理装置4のイメージセンサには検査対象部品2のシルエット(影絵)画像が撮像される。
【0003】
画像処理装置4には、イメージセンサに撮像された画像を細分し、細分した領域ごと検査対象部品2の外径を求め、その結果を表示部に出力するなどの画像処理手段を備えている。この結果により例えば検査対象部品2の突起部2aが正常であるか否かを検査することができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、図7に示すように、支持板3に固定した検査対象部品2Aの近傍位置(組み立てられた例えば電子銃などでは2mm以下の間隔)に別の部品2Bが固定されていると、別の部品2Bが邪魔になって検査対象部品2Aの背後に光源1を配置することができず、検査対象部品2Aの正確なシルエット画像が得られないという問題があった。
【0005】
本発明は、このような問題を解消すべくなされたもので、検査対象部品の近傍位置に別の部品が配置されていても検査対象部品の正確なシルエット画像が得られる部品の輪郭形状検査方法及びその装置を供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
請求項1に係る本発明は、検査対象の部品に光を照射する光源と、前記光源により照射された前記部品を撮像するイメージセンサと、前記イメージセンサに撮像された前記部品の画像から前記部品の輪郭形状を検査してなる部品の輪郭形状検査方法において、検査対象の部品の背後から蛍光板で発光する光を照射してなることを特徴とし、請求項2に係る本発明は、請求項1に係る本発明において、紫外光を蛍光板で可視光に変換してなることを特徴とする。
【0007】
請求項3に係る本発明は、検査対象の部品の背後から光を照射する蛍光板と、前記蛍光板により照射された前記部品を撮像するイメージセンサと、前記イメージセンサに撮像された前記部品の画像から前記部品の輪郭形状を検査処理する画像処理手段とを備えてなることを特徴とし、請求項3に係る本発明において、紫外光を発生するエネルギー源を有し、前記エネルギー源から出射した紫外光を蛍光板で可視光に変換してなることを特徴とする。
【0008】
本発明では、任意の位置に例えば紫外線エネルギーを放射するエネルギー源を配置し、このエネルギー源から放射したエネルギーを蛍光板で可視光に変換し、その可視光を検査対象の部品の背後から照射する。蛍光板はその厚みを薄く形成することができるので、検査対象部品の近傍位置に別の部品が配置されていても検査対象部品のみをその背後から照射することができる。
【0009】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について図を参照して説明する。図1は本発明の実施の形態に係る部品の輪郭形状検査装置の概略の構成を示す構成図である。図1において、4は、図6に示す従来の画像処理装置と同様のCCDイメージセンサを備えた画像処理装置である。なお、イメージセンサはMOS型イメージセンサであってもよい。6は、紫外光を発生するエネルギー源(ブラックライト)、7はブラックライト6で出射した紫外光を可視光に変換して出射する蛍光板である。なお、エネルギー源は光、音、電界および熱を発生するものでもよい。
【0010】
蛍光板7は図2に示すように、ガラス製の2枚の基板7b、7cの一方の基板7cの表面に蛍光体7a塗料を塗着し、その上に他方の基板7bを張り合わせて構成されている。なお、一方の基板7cはガラス製に限られるものでなく、セラミックス、金属、プラスチック、紙、木材、皮製などであってもよい。また、図3に示すように他方の基板7bを省略することもできる。さらに、図4に示すようにプラスチックなどの基板に蛍光体7dを充填、含侵、あるいは埋設して形成もよく、図5に示すように蛍光体7a材料単独で基板に形成するようにしてもよい。
【0011】
2Aは検査対象の部品、2Bは検査対象以外の別の部品であり、別の部品2Bは検査対象の部品2Aから2mm程度の間隔を隔てた近傍位置に、検査対象の部品2Aとともに支持板3に固定されている。蛍光板7は検査対象部品2Aと別の部品2Bとの間に挿入して配置され、ブラックライト6は蛍光板7に紫外光が照射できる適宜の位置に配置され、ブラックライト6から放射した紫外光を蛍光板7で可視光に変換し、そのから照射を検査対象の部品2Aの背後から照射する。云わば蛍光板7は検査対象の部品2Aの背景板として機能する。CCDイメージセンサは蛍光板7から照射された可視光により形成された検査対象部品2Aのシルエット画像を撮像することとなる。
【0012】
このように、ブラックライト6から放射した紫外光を厚みを薄く形成した蛍光板7で可視光に変換し、その可視光を検査対象の部品2Aの背後から照射するので、検査対象部品2Aの近傍位置に別の部品2Bが配置されていても検査対象部品のみの正確なシルエット画像を取得することができる。なお、ブラックライト(40W)6の紫外線(波長367nm)照射強度は、ブラックライトからの距離20cmで0.36mW/cm2、距離30cmで0.22mW/cm2とほぼうす曇りの自然界の照射強度0.30mW/cm2と同程度であった。
【0013】
【発明の効果】
以上詳述したように本発明によれば、検査対象部品の近傍位置に非検査対象の部品が配置されていても検査対象部品にのみ可視光を照射することが簡単にできるので、部品の輪郭形状の検査における作業手間が低減され、検査効率を高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態に係る部品の輪郭形状検査装置の概略の構成を示す構成図である。
【図2】図1の輪郭形状検査装置で使用する蛍光板の構成を示す断面図である。
【図3】図1の輪郭形状検査装置で使用する他の蛍光板の構成を示す断面図である。
【図4】図1の輪郭形状検査装置で使用する他の蛍光板の構成を示す断面図である。
【図5】図1の輪郭形状検査装置で使用する他の蛍光板の構成を示す断面図である。
【図6】従来の輪郭形状検査装置の概略の構成を示す構成図である。
【図7】従来の輪郭形状検査装置の概略の構成を示す構成図である。
【符号の説明】
2A 検査対象部品
2B 非検査対象部品
3 支持板
4 イメージセンサを有する画像処理装置
6 紫外線発生源(ブラックライト)
7 蛍光板

Claims (4)

  1. 検査対象の部品に光を照射する光源と、前記光源により照射された前記部品を撮像するイメージセンサと、前記イメージセンサに撮像された前記部品の画像から前記部品の輪郭形状を検査してなる部品の輪郭形状検査方法において、検査対象の部品の背後から蛍光板で発光する光を照射してなることを特徴とする部品の輪郭形状検査方法。
  2. 紫外光を蛍光板で可視光に変換してなることを特徴とする請求項1に記載の部品の輪郭形状検査方法。
  3. 検査対象の部品の背後から光を照射する蛍光板と、前記蛍光板により照射された前記部品を撮像するイメージセンサと、前記イメージセンサに撮像された前記部品の画像から前記部品の輪郭形状を検査処理する画像処理手段とを備えてなることを特徴とする部品の輪郭形状検査装置。
  4. 紫外光を発生するエネルギー源を有し、前記エネルギー源から出射した紫外光を蛍光板で可視光に変換してなることを特徴とする請求項2に記載の部品の輪郭形状検査装置。
JP2003139937A 2003-05-19 2003-05-19 部品の輪郭形状検査方法及びその装置 Expired - Fee Related JP4302431B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003139937A JP4302431B2 (ja) 2003-05-19 2003-05-19 部品の輪郭形状検査方法及びその装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003139937A JP4302431B2 (ja) 2003-05-19 2003-05-19 部品の輪郭形状検査方法及びその装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004340847A true JP2004340847A (ja) 2004-12-02
JP4302431B2 JP4302431B2 (ja) 2009-07-29

Family

ID=33528804

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003139937A Expired - Fee Related JP4302431B2 (ja) 2003-05-19 2003-05-19 部品の輪郭形状検査方法及びその装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4302431B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010041036A1 (en) * 2008-10-10 2010-04-15 Renishaw Plc Backlit vision machine
CN103900492A (zh) * 2014-04-01 2014-07-02 四川大学 一种基于荧光反应的结构光在线热锻件检测原理及装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010041036A1 (en) * 2008-10-10 2010-04-15 Renishaw Plc Backlit vision machine
JP2012505397A (ja) * 2008-10-10 2012-03-01 レニショウ パブリック リミテッド カンパニー バックライトビジョンマシン
US9188431B2 (en) 2008-10-10 2015-11-17 Renishaw Plc Backlit vision machine
CN103900492A (zh) * 2014-04-01 2014-07-02 四川大学 一种基于荧光反应的结构光在线热锻件检测原理及装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP4302431B2 (ja) 2009-07-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2003202217A5 (ja)
EP2522992A3 (en) Testing apparatus using charged particles and device manufacturing method using the testing apparatus
JP2006204431A5 (ja)
SG157313A1 (en) Method of determining defects in a substrate and apparatus for exposing a substrate in a lithographic process
JP2003151483A5 (ja)
JP2007180403A5 (ja)
EP1970934A3 (en) X-ray examination apparatus and X-ray examination method using the same
JP2005164451A5 (ja)
EP2727537A3 (en) Method and apparatus using infrared photothermal radiometry (PTR) and modulated laser luminescence (LUM) for diagnostics of defects in teeth
EP1227316A3 (en) Method and apparatus for localized digital radiographic inspection
TWI247905B (en) Method and apparatus for inspecting semiconductor device
TW200712479A (en) Surface defect inspection apparatus and surface defect inspection method
EP1777493A3 (en) Methods and apparatus for inspecting an object using structured light
JP2009532687A5 (ja)
TW200722120A (en) Apparatus and method for testing a reflector coating
JP2004340847A (ja) 部品の輪郭形状検査方法及びその装置
JP2017207492A5 (ja)
JP4574755B2 (ja) X線発生装置及び検査システム
JP2010157392A (ja) 電子顕微鏡装置
EP2188619A1 (en) A luminescence imaging installation and method field of the disclosure
KR101955187B1 (ko) 살아있는 생체 시료의 분석을 위한 고해상도 대기압 질량분석 이미징 시스템
EP1679733A3 (en) X-ray microscopic inspection apparatus
JP2002168798A (ja) 不良解析装置
JP2006003370A5 (ja)
JP2000338056A (ja) 薄状体非破壊検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060403

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080110

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080122

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080321

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090421

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090422

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120501

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4302431

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120501

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130501

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140501

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees