JP2004333652A

JP2004333652A - Phase shift mask blank and phase shift photomask

Info

Publication number: JP2004333652A
Application number: JP2003126688A
Authority: JP
Inventors: Tetsushi Tsukamoto; 哲史塚本; Hiroki Yoshikawa; 博樹吉川; Hideo Kaneko; 英雄金子; Sadaomi Inazuki; 判臣稲月; Satoshi Okazaki; 智岡崎
Original assignee: Shin Etsu Chemical Co Ltd
Current assignee: Shin Etsu Chemical Co Ltd
Priority date: 2003-05-01
Filing date: 2003-05-01
Publication date: 2004-11-25

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a phase shift mask blank having at least a phase shift film and a metal-containing film on a substrate and to provide a phase shift mask blank in which the adhesion property between the phase shift film and the metal-containing film is improved. <P>SOLUTION: The phase shift mask blank has, at least on a substrate, one or more layers of a phase shift film essentially comprising a metal silicide compound and one or more layers of a metal-containing film, and further has a buffer layer having a continuously varied composition of the film on the interface between the phase shift film and the metal-containing film. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、位相シフトマスクブランクに関し、特に、位相シフト膜によって露光波長の光の強度を減衰させることができるハーフトーン型位相シフトマスクブランクに関する。さらに、本発明は、このような位相シフトマスクブランクにパターンを形成した位相シフトフォトマスクに関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＬＳＩ、ＶＬＳＩ等の高密度半導体集積回路、ＣＣＤ（電荷結合素子）、ＬＣＤ（液晶表示素子）用のカラーフィルター、磁気ヘッドなどの微細加工には、フォトマスクを使ったフォトリソグラフィー技術が用いられている。このフォトリソグラフィーで使われるフォトマスクは、フォトマスクブランクにパターンを形成することで製造される。
【０００３】
フォトマスクブランクとしては、通常、石英ガラス等の透光性基板上にクロム等からなる遮光膜を設けたものが使用されている。
【０００４】
しかし、近年、フォトリソグラフィー技術において、さらに微細な加工が求められている。さらなる微細化に応える技術として、フォトリソグラフィーで使われるフォトマスクに位相シフトフォトマスクを用いる位相シフトリソグラフィーが注目を集めている。位相シフトリソグラフィーは、フォトリソグラフィー技術において、解像度を上げてさらに微細な加工を可能とする技術のひとつであり、位相シフトマスクを透過する露光光間に位相差を与えることによる透過光相互の干渉を利用して解像度を飛躍的に向上できるようにしたものである。
【０００５】
このような位相シフトフォトマスクには、レベンソン型、補助パターン型、自己整合型などのタイプが知られており、近年開発が活発に行われているが、位相シフトフォトマスクのひとつとして、いわゆるハーフトーン型位相シフトフォトマスクと呼ばれるものがあり、現在最も実用化の可能性が高い位相シフトフォトマスクとなっている。
【０００６】
このハーフトーン型位相シフトフォトマスクは、透明基板上に形成するマスクパターンを、実質的に露光に寄与する強度の光を透過させる光透過部と、実質的に露光に寄与しない強度の光を透過させる光半透過部とで構成されており、この光半透過部は露光光を実質的に遮断する遮光機能と、光の位相を通常１８０度シフトさせる位相シフト機能との二つの機能を併せ持つことを特徴とする。
【０００７】
そして、光透過部と光半透過部との境界付近を透過した光は、光透過部を透過した光と光半透過部を透過した光とで互いに位相が１８０度異なることから打ち消し合うように干渉する。このことで光透過部と光半透過部の境界部の光強度をほぼゼロとし境界部のコントラストすなわち解像度を向上させるのである。
【０００８】
このようなハーフトーン型位相シフトフォトマスクに使用される位相シフトマスクブランクとしては、構造が簡単で製造が容易な単層の位相シフト膜を有するものや、透過率、位相差、反射率、屈折率などの光学特性、薬品耐性などの耐久性等を満足させるための複数層の位相シフト膜を有するものがある。単層の位相シフト膜を有するものとしては、例えば、ＭｏＳｉＯ、ＭｏＳｉＯＮ等のモリブデンシリコン化合物を主成分として含む位相シフト膜を単層で形成したハーフトーン型位相シフトマスクブランクが提案されている（例えば、特許文献１参照。）。
【０００９】
また、位相シフト膜の上に遮光膜を形成することもできる。位相シフト膜上に形成する遮光膜としては、例えばクロム系の遮光膜が挙げられるが、クロム系の遮光膜は光反射率が大きい。そのため、位相シフトリソグラフィーにおいて、被露光物である半導体基板で反射した光が投影レンズを通って位相シフトフォトマスクで反射し、再び半導体基板に戻るという恐れがある。したがって、これを防止するため、遮光膜の表面（位相シフト膜と反対側）又は裏面（位相シフト膜側）のいずれか片面、又は両面に反射防止膜を通常形成している。
例えば、被露光物である半導体基板で反射した光が位相シフトフォトマスクで再度反射されるのを防止するために、遮光膜の表面に反射防止膜を設けているものを２層構造膜と呼び、遮光膜の裏面にも反射防止膜を設けているものを３層構造膜と呼ぶ。
【００１０】
従来、フォトマスクブランクにおいて、遮光膜の裏面の反射防止膜としてクロム炭化物及びクロム窒化物を含有するクロム炭化窒化物膜を、遮光膜としてクロム膜を、遮光膜の表面側の反射防止膜としてクロム酸化物及びクロム窒化物を含有するクロム酸化窒化物膜を順次積層した３層構造膜を有するフォトマスクブランクが提案されている（例えば、特許文献２参照。）。さらに、反射防止膜としてＣｒＯＮを用いたもの（例えば、特許文献３、特許文献４参照。）、ＣｒＮを用いたもの（例えば、特許文献４、特許文献５参照。）等が提案されている。
一方、遮光膜として窒化クロムを用いた単層膜（例えば、特許文献６参照。）等も提案されている。
【００１１】
また、一般的に、位相シフトフォトマスクの製造工程においては、位相シフト膜上に電気伝導性を有する膜を形成し、電子線露光時のチャージアップを防ぐ方法が用いられている。尚、前記遮光膜及び／又は反射防止膜を、電気伝導性を有する材質のものとすることもある。
【００１２】
このように、位相シフトマスクブランク及び位相シフトフォトマスクにおいては、基板上に、通常、位相シフト膜の他、例えば遮光膜、反射防止膜、電気伝導性を有する膜といった１層以上のメタル含有膜を具備している。このような位相シフトマスクブランクの一例を図３に示す。この位相シフトマスクブランク３０は、基板３１の上に、位相シフト膜３２が設けられ、さらに位相シフト膜３２に直接積層されたメタル含有膜３４が設けられている。
しかし、このような従来の位相シフトマスクブランクに微細パターンを形成すると、位相シフト膜とメタル含有膜との界面の密着性が悪いため、位相シフト膜からはがれパーティクルの原因となるという問題が多発していた。
【００１３】
【特許文献１】
特開平７−１４０６３５号公報
【特許文献２】
特公昭６２−３７３８５号公報
【特許文献３】
特公昭６１−４６８２１号公報
【特許文献４】
特公昭６２−２７３８７号公報
【特許文献５】
特公昭６２−２７３８６号公報
【特許文献６】
特公平４−１３３９号公報
【００１４】
【発明が解決しようとする課題】
本発明はこのような問題点に鑑みてなされたもので、基板上に、少なくとも位相シフターとして機能する位相シフト膜と、遮光膜、反射防止膜等として機能するメタル含有膜を有する位相シフトマスクブランクであって、前記位相シフト膜と前記メタル含有膜の密着性を向上した位相シフトマスクブランクを提供することを目的とする。
【００１５】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記課題を解決するためになされたもので、位相シフトマスクブランクであって、少なくとも、基板上に、金属シリサイド化合物を主成分とする１層以上の位相シフト膜と、１層以上のメタル含有膜を具備し、前記位相シフト膜と前記メタル含有膜との界面に、膜の組成が連続的に変化したバッファ層を有するものであることを特徴とする位相シフトマスクブランクを提供する（請求項１）。
【００１６】
このように、位相シフト膜とメタル含有膜との界面に、膜の組成が連続的に変化したバッファ層を有するものであれば、膜同士の密着性が向上し、その界面で位相シフト膜からメタル含有膜が剥離する可能性を減じることができる。したがって、位相シフトマスクブランクにより微細なパターンを形成しても、位相シフト膜からメタル含有膜が剥離する可能性が低く、剥離した場合に生じるパーティクルの発生やピンホール等の欠陥の発生を防ぐことができる。
【００１７】
この場合、前記位相シフト膜が、メタル含有膜中の金属を含むものであり、前記メタル含有膜が、位相シフト膜中の金属シリサイド化合物の金属及び／又はシリコンを含むものであるのが好ましい（請求項２）。
【００１８】
このように、位相シフト膜が、メタル含有膜中の金属を含むものであり、メタル含有膜が、位相シフト膜中の金属シリサイド化合物の金属及び／又はシリコンを含むものであれば、バッファ層の存在によりさらに膜同士の密着性を向上させることができる。
【００１９】
この場合、位相シフト膜中の金属シリサイド化合物の金属が、モリブデン、チタン、タンタル、タングステン、クロム、ジルコニウム、ゲルマニウムから選択される１以上の金属であるものとすることができる（請求項３）。
【００２０】
このように、位相シフト膜中の金属シリサイド化合物の金属が、モリブデン、チタン、タンタル、タングステン、クロム、ジルコニウム、ゲルマニウムから選択される１以上の金属であれば、所望の光学特性及び耐久性を有する位相シフト膜とすることができる。
【００２１】
また、前記メタル含有膜が、クロムシリサイド膜、クロム膜、クロム酸化膜、クロム炭化膜、クロム窒化膜、クロム酸化窒化膜、クロム酸化窒化炭化膜から選択されるいずれか１以上のメタル含有膜であるものとすることができる（請求項４）。
【００２２】
このように、前記メタル含有膜が、クロムシリサイド膜、クロム膜、クロム酸化膜、クロム炭化膜、クロム窒化膜、クロム酸化窒化炭化膜から選択されるいずれか１以上のメタル含有膜であれば、目的に応じて、例えば、遮光膜、反射防止膜、電気伝導性を有する膜といった所望の膜とすることができる。
【００２３】
この場合、前記位相シフト膜は、透過する露光光の位相を１８０±５度変換するもので、かつ３〜４０％の透過率を有するものであるのが好ましい（請求項５）。
【００２４】
このように、位相シフト膜は、透過する露光光の位相を１８０±５度変換するもので、かつ３〜４０％の透過率を有するものであれば、この位相シフトマスクブランクにパターンを形成した位相シフトフォトマスクは、位相シフトリソグラフィーにおいて、特に効果的に、光透過部と光半透過部の境界部のコントラストすなわち解像度を向上させることができるハーフトーン型位相シフトフォトマスクとなる。
【００２５】
さらに、本発明の位相シフトマスクブランクにパターン形成がされたものであることを特徴とする位相シフトフォトマスクが提供される（請求項６）。
【００２６】
本発明の位相シフトマスクブランクにパターンが形成された位相シフトフォトマスクであれば、微細パターンを形成しても位相シフト膜からメタル含有膜が剥離する可能性が低いので、位相シフトリソグラフィーにおいて、微細なパターンを半導体基板に良好に転写することのできる位相シフトフォトマスクとして用いることができる。
【００２７】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。
本発明者らは、鋭意研究及び検討を重ねた結果、位相シフト膜とメタル含有膜を直接密着させるのではなく、位相シフト膜とメタル含有膜の界面に、膜の組成が連続的に変化したバッファ層を設けることにより、膜同士の密着性を向上することができることに想到し、本発明を完成させたものである。
【００２８】
すなわち、本発明の位相シフトマスクブランクは、少なくとも、基板上に、金属シリサイド化合物を主成分とする１層以上の位相シフト膜と、１層以上のメタル含有膜を具備し、前記位相シフト膜と前記メタル含有膜との界面に、膜の組成が連続的に変化したバッファ層を有するものである。
尚、メタル含有膜は、位相シフト膜の上にあっても良いし、基板と位相シフト膜の間にあっても良い。
【００２９】
このような本発明の位相シフトマスクブランクの一例を図１に示す。この位相シフトマスクブランク１０は、基板１１上に、モリブデンシリサイドを主成分とする位相シフト膜１２と、クロムを含有するメタル含有膜１４を具備しており、位相シフト膜１２とメタル含有膜１４との界面にバッファ層１３を有する（図１（ａ））。バッファ層１３は、モリブデンシリサイドとクロムの含有量が連続的に変化したもの、すなわち位相シフト膜１２とメタル含有膜１４の組成が、連続的に変化したものとなっている（図１（ｂ））。
【００３０】
このように、位相シフト膜１２とメタル含有膜１４との界面に、膜の組成が連続的に変化したバッファ層１３を設けることで、膜同士の密着性が向上し、その界面で位相シフト膜からメタル含有膜が剥離する可能性を減じることができる。したがって、位相シフトマスクブランクに、微細なパターンを形成しても、位相シフト膜からメタル含有膜が剥離する可能性が低く、剥離した場合に生じるパーティクルの発生や欠陥の発生を防ぐことができる。
【００３１】
また、前記位相シフト膜が、メタル含有膜中の金属を含むものであり、前記メタル含有膜が、位相シフト膜中の金属シリサイド化合物の金属及び／又はシリコンを含むものであるのが好ましい。例えば、図１に示した位相シフトマスクブランクでは、位相シフト膜１２は、メタル含有膜１４中のクロムを含んでおり、メタル含有膜１４は、位相シフト膜１２中のモリブデンシリサイド化合物のモリブデン及びシリコンを含んでいる。これにより、位相シフト膜とメタル含有膜の密着性をさらに向上することができる。
【００３２】
さらに、本発明の位相シフトマスクブランクにおいて、位相シフト膜は、金属シリサイド化合物を主成分として含むものであるが、該金属シリサイド化合物の金属としては、例えばモリブデン、チタン、タンタル、タングステン、クロム、ジルコニウム、ゲルマニウムなどを挙げることができ、これらが単一又は複数で含まれる。特に、位相シフト膜中の金属シリサイド化合物は、モリブデンシリサイド酸化炭化物（ＭｏＳｉＯＣ）、モリブデンシリサイド酸化窒化炭化物（ＭｏＳｉＯＮＣ）、モリブデンシリサイド酸化窒化物（ＭｏＳｉＯＮ）、モリブデンシリサイド窒化物（ＭｏＳｉＮ）のいずれかであることが好ましい。これらのモリブデンシリサイド化合物を主成分とする位相シフト膜をスパッタ成膜するためのモリブデンシリサイドターゲットは、緻密で高純度のものを得易いので、高品質の位相シフト膜を形成することができるからである。
【００３３】
また、本発明の位相シフトマスクブランクにおいて、メタル含有膜は、例えば、クロムシリサイド膜、クロム膜、クロム酸化膜、クロム炭化膜、クロム窒化膜、クロム酸化窒化膜、クロム酸化窒化炭化膜が挙げられ、これらが単層又は複数層で形成される。これらのメタル含有膜は、例えば遮光膜、反射防止膜、電気伝導性を有する膜などとして、その目的に応じて形成される。
【００３４】
また、位相シフトマスクブランクにおける基板としては、位相シフトリソグラフィーにおいて、露光波長に対して透明な基板であれば特に制限されるものではなく、例えば、石英基板、蛍石、低熱膨張ガラスなどが挙げられる。特に、石英基板又は二酸化珪素を主成分とする基板が好ましく用いられる。
【００３５】
また、位相シフト膜は、透過する露光光の位相を１８０±５度変換するもので、かつ数％〜数十％（好ましくは、３〜４０％）の透過率を有するものであるのが好ましい。このような光学特性を有する位相シフトマスクブランクにパターンを形成した位相シフトフォトマスクは、位相シフトリソグラフィーにおいて、特に効果的に、光透過部と光半透過部の境界部のコントラストすなわち解像度を向上させることができるハーフトーン型位相シフトフォトマスクとなる。
【００３６】
このような本発明の位相シフトマスクブランクにパターンが形成された位相シフトフォトマスクであれば、微細パターンを形成しても位相シフト膜からメタル含有膜が剥離する可能性が低いので、パーティクルや欠陥の発生がなく位相シフトリソグラフィーにおいて、微細なパターンを良好に転写することができる位相シフトフォトマスクとして用いることができる。
【００３７】
以下、本発明の位相シフトマスクブランクを製造する方法について説明する。基板上に位相シフト膜及びメタル含有膜を成膜する方法としては、特に制限されないが、反応性スパッタ法が好ましい。
【００３８】
スパッタリング方法としては、直流（ＤＣ）電源を用いたものでも、高周波（ＲＦ）電源を用いたものでもよく、またマグネトロンスパッタリング方式であっても、コンベンショナル方式、あるいはその他の方式であってもよい。
【００３９】
スパッタ装置は、特に制限されないが、同時に多数のターゲットを放電させることのできる多元カソード式ターゲットを用い、各カソードの投入パワー比を変えることで、成膜される膜の組成を自由に変えることが可能となり、より好ましい。
尚、成膜装置は通過型でも枚葉型でも構わない。
【００４０】
位相シフト膜を成膜する際のスパッタリングターゲットとしては金属とシリコンを主成分とするものを用いる。この場合、ターゲットは、金属シリサイド、金属とシリコンのみからなるもの、あるいはこれらの組み合わせでも良く、膜の組成を面内で一定に保つために、金属に、酸素、窒素、炭素のいずれか、又はこれらを組み合わせて添加したものでも構わない。一方、メタル含有膜を成膜する際のスパッタリングターゲットとしては金属を主成分とするものを用いる。
【００４１】
また、基板上に、位相シフト膜、メタル含有膜を成膜する際のスパッタリングガスは、アルゴン等の不活性ガスに、酸素ガスや窒素ガス、各種酸化窒素ガス、各種酸化炭素ガス等の炭素を含むガスなどを、成膜される位相シフト膜、メタル含有膜が所望の組成を持つように適宜に添加した組成とすることで、所望の位相シフト膜及び所望のメタル含有膜を成膜することができる。この場合、炭素を含むガスとして、メタン等の各種炭化水素ガス、一酸化炭素や二酸化炭素の酸化炭素ガス等が挙げられるが、二酸化炭素を用いると炭素源及び酸素源として使用できると共に、反応性が低く安定なガスであることから特に好ましい。
【００４２】
成膜される位相シフト膜の透過率を上げたい時には、膜中に酸素及び窒素が多く取り込まれるようにスパッタリングガスに添加する酸素や窒素を含むガスの量を増やす方法、スパッタリングターゲットに予め酸素や窒素を多く添加した金属シリサイドを用いる方法、シリコンターゲットの投入パワー比を上げる方法などにより調整することができる。
【００４３】
図１に示される位相シフトマスクブランクを図４に示したような多元カソード式ターゲットのスパッタ装置を用いて製造する方法を例に挙げて説明する。
図４に示すスパッタ装置４０は、直流電源を用いるもので、スパッタリングターゲットとして、モリブデンシリサイドターゲット４１、シリコンターゲット４２、クロムターゲット４３を用いるものである。一般的に、成膜速度はターゲットに印加される電力に比例するので、各ターゲットに印加する放電電力の組み合わせを調整することで所望の膜組成が得られる。また、スパッタ装置４０は、スパッタリングガス導入口４５、ガス排出口４６、基板４４を載せるステージ４７を具備する。
先ず、スパッタリングガス導入口４５から所定のスパッタリングガスを導入しつつ、モリブデンシリサイドターゲット４１、シリコンターゲット４２を、クロムターゲット４３よりも高い投入パワーで同時に放電してスパッタリングを行い、それぞれのターゲットから飛散する膜成分を合成しながら基板４４上に位相シフト膜を所定の厚さまで成膜する。その後、モリブデンシリサイドターゲット４１及びシリコンターゲット４２の投入パワーを徐々に下げ、反対にクロムターゲット４３の投入パワーを徐々に上げてゆくことで、膜の組成が連続的に変化したバッファ層を成膜する。そして最終的に、バッファ層の上にクロム含有膜を所定の厚さまで成膜する。尚、成膜中、それぞれのターゲットからの膜成分を均一に混合させることができるように、ステージ４７を回転自在として、基板４４を回転させておくことが望ましい。
【００４４】
次に、本発明の位相シフトマスクブランクを用いて位相シフトフォトマスクを製造する方法について、図２を参照して説明する。
先ず、図２（ａ）に示す位相シフトマスクブランク２０は、基板２１上に、位相シフト膜２２、メタル含有膜２４を有し、位相シフト膜２２とメタル含有膜２４の界面にはバッファ層２３を有する。そして、メタル含有膜２４の上にレジスト膜２５を形成する。
次に、図２（ｂ）に示したように、レジスト膜２５に光を照射後、現像することでパターンを形成する。
次に、図２（ｃ）に示したように、パターンを形成したレジスト膜２５をマスクとしてメタル含有膜２４、バッファ層２３、位相シフト膜２２をエッチングする。
その後、図２（ｄ）に示したように、レジスト膜２５を除去してパターンを形成した位相シフトフォトマスク２６とする。
尚、この場合、レジスト膜の塗布、パターン形成（露光、現像）、レジスト膜の除去等は、公知の方法によって行うことができる。
【００４５】
【実施例】
以下、実施例および比較例を挙げて本発明をより具体的に説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。
（実施例１）
位相シフト膜及びメタル含有膜の成膜法として、ＤＣマグネトロンスパッタリング法を用いた。スパッタ装置として、多元カソード式ターゲットのスパッタ装置を用いた。スパッタリングターゲットは、位相シフト膜用として、モリブデンシリサイドターゲットとシリコンターゲットを用い、メタル含有膜用として、クロムターゲットを用いた。
【００４６】
図１に示す位相シフトマスクブランクを製造するために、先ず、モリブデンシリサイドターゲットとシリコンターゲットに１０００Ｗの放電電力を印加して、６インチ×６インチ（１５０ｍｍ×１５０ｍｍ）の石英基板上に、ＭｏＳｉＯＮを主成分とする位相シフト膜を約７０ｎｍの厚さまで成膜するとともに、成膜中、クロムターゲットに５０Ｗの放電電力を印加しておいた。この時、スパッタリングガスとしてＡｒを１０ｓｃｃｍ、反応性スパッタリングガスとしてＯ_２を２ｓｃｃｍ、Ｎ_２を１００ｓｃｃｍで流し、かつガス圧を０．１５Ｐａとした。
【００４７】
次に、モリブデンシリサイドターゲットとシリコンターゲットのパワーを１０００Ｗから５０Ｗに徐々に下げると同時に、クロムターゲットのパワーを５０Ｗから１０００Ｗに徐々に上げ、また、ガス流量を、Ａｒ１０ｓｃｃｍ、Ｏ_２２ｓｃｃｍ、Ｎ_２１００ｓｃｃｍから、それぞれＡｒ３０ｓｃｃｍ、Ｏ_２３ｓｃｃｍ、Ｎ_２７ｓｃｃｍへと徐々に変更していくことで、バッファ層を５ｎｍの厚さまで形成し、このバッファ層の上に最終的にＣｒＯＮ膜（メタル含有膜）を形成した。
その後、変更後の条件でＣｒＯＮ膜を約５９ｎｍの厚さまで成膜した。
尚、位相シフト膜の成膜中にクロムターゲットに５０Ｗの放電電力を印加しておいたため、位相シフト膜は、クロムを含む。また、メタル含有膜の成膜中にモリブデンシリサイドターゲットとシリコンターゲットに５０Ｗの放電電力を印加しておいたため、メタル含有膜は、モリブデン及びシリコンを含む。
【００４８】
その後、得られた位相シフトマスクブランクのメタル含有膜に対しスクラブ洗浄を６０分行った。このブランクの欠陥検査を行ったところ、ピンホールは１５個であった。
【００４９】
（比較例１）
実施例１と同様の、成膜法、スパッタ装置、スパッタリングターゲットを用いた。
図３に示す位相シフトマスクブランクを製造するために、先ず、モリブデンシリサイドターゲットとシリコンターゲットに１０００Ｗの放電電力を印加し、６インチ×６インチ（１５０ｍｍ×１５０ｍｍ）の石英基板上に、ＭｏＳｉＯＮを主成分とする位相シフト膜を約７０ｎｍの厚さまで成膜し、モリブデンターゲット及びシリコンターゲットのパワーを０Ｗ／ｃｍ^２とした。成膜中、スパッタリングガスとしてＡｒを１０ｓｃｃｍ、反応性スパッタリングガスとしてＯ_２を２ｓｃｃｍ、Ｎ_２を１００ｓｃｃｍで流し、かつガス圧を０．１５Ｐａとした。
【００５０】
この膜上に、クロムターゲットに１０００Ｗの放電電力を印加し、ＣｒＯＮ膜（メタル含有膜）を約５９ｎｍ成膜した。成膜中、スパッタリングガスとしてＡｒを３０ｓｃｃｍ、反応性スパッタリングガスとしてＯ_２を３ｓｃｃｍ、Ｎ_２を７ｓｃｃｍで流し、かつガス圧を０．３Ｐａとした。
【００５１】
その後、得られた位相シフトマスクブランクのメタル含有膜に対しスクラブ洗浄を６０分行った。このブランクの欠陥検査を行ったところピンホールは４９個であった。
【００５２】
このように、実施例１の位相シフトマスクブランクは、比較例１と比較して、欠陥が非常に少ないものとなっている。したがって、実施例１の位相シフトマスクブランクは、位相シフト膜とメタル含有膜の密着性がかなり高いものであることが判る。
【００５３】
尚、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。上記実施形態は、例示であり、本発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなるものであっても本発明の技術的範囲に包含される。
【００５４】
例えば、上記実施例では、成膜法としてＤＣマグネトロンスパッタリング法を用いたが、その他にＤＣスパッタリング、ＲＦスパッタリング等の方法を用いてもよい。
【００５５】
さらに、実施例では金属としてモリブデンを使用したが、この代わりにチタン、タンタル、タングステン、クロム、ジルコニウム、ゲルマニウム等を用いてもよく、また反応性ガスとして酸素及び窒素を用いたが、この他に酸化窒素、亜酸化窒素、炭酸ガス等を用いてもよい。
【００５６】
また上記では、位相シフト膜およびメタル含有膜がそれぞれ１層有する場合につき例を挙げて説明したが、これらは２層以上形成されても良い。
【００５７】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、位相シフト膜とメタル含有膜の界面に、組成を連続的に変化させたバッファ層を設けることで、位相シフト膜とメタル含有膜の密着性を向上することができる。したがって、この位相シフトマスクブランクに微細なパターンを形成しても、そのパターン形成中又は形成後に、位相シフト膜からのメタル含有膜の剥離の恐れが少ない位相シフトマスクブランクを提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の位相シフトマスクブランクの一例を示す図である。
（ａ）概略断面図、
（ｂ）それぞれの膜でのＭｏＳｉ、Ｃｒの含有率を示すグラフである。
【図２】位相シフトフォトマスクの製造方法の一例を示すフロー図である。
【図３】従来の位相シフトマスクブランクの一例を示す概略断面図である。
【図４】スパッタ装置の一例を示す概略図である。
【符号の説明】
１０、２０、３０…位相シフトマスクブランク、
１１、２１、３１、４４…基板、１２、２２、３２…位相シフト膜、
１３、２３…バッファ層、１４、２４、３４…メタル含有膜、
２５…レジスト膜、２６…位相シフトフォトマスク、
４０…スパッタ装置、４１…モリブデンシリサイドターゲット、
４２…シリコンターゲット、４３…クロムターゲット、
４５…スパッタリングガス導入口、４６…ガス排出口、
４７…ステージ。[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a phase shift mask blank, and more particularly, to a halftone type phase shift mask blank that can attenuate the intensity of light having an exposure wavelength by a phase shift film. Further, the present invention relates to a phase shift photomask in which a pattern is formed on such a phase shift mask blank.
[0002]
[Prior art]
Photolithography technology using a photomask is used for fine processing of high-density semiconductor integrated circuits such as LSIs and VLSIs, color filters for CCDs (charge coupled devices), LCDs (liquid crystal display devices), and magnetic heads. I have. The photomask used in the photolithography is manufactured by forming a pattern on a photomask blank.
[0003]
As the photomask blank, one in which a light-shielding film made of chromium or the like is provided on a light-transmitting substrate such as quartz glass is usually used.
[0004]
However, in recent years, finer processing has been required in photolithography technology. As a technique for responding to further miniaturization, phase shift lithography using a phase shift photomask as a photomask used in photolithography has attracted attention. Phase shift lithography is one of the technologies in photolithography technology that enables finer processing by increasing the resolution, and reduces the interference between transmitted light by giving a phase difference between exposure light transmitted through a phase shift mask. The resolution can be greatly improved by using this.
[0005]
As such a phase shift photomask, types such as a Levenson type, an auxiliary pattern type, and a self-alignment type are known, and are being actively developed in recent years. There is a so-called tone-type phase shift photomask, which is currently the most likely to be put to practical use.
[0006]
This halftone type phase shift photomask allows a mask pattern formed on a transparent substrate to transmit light having an intensity substantially not contributing to exposure and a light transmitting portion for transmitting light having an intensity substantially contributing to exposure. The light semi-transmissive portion has both a light-shielding function of substantially blocking exposure light and a phase shift function of normally shifting the phase of light by 180 degrees. It is characterized by.
[0007]
The light transmitted through the vicinity of the boundary between the light transmitting portion and the light semi-transmitting portion cancels out because the light transmitted through the light transmitting portion and the light transmitted through the light semi-transmitting portion have a phase difference of 180 degrees from each other. have a finger in the pie. As a result, the light intensity at the boundary between the light transmitting part and the light semi-transmitting part is made substantially zero, and the contrast at the boundary, that is, the resolution is improved.
[0008]
Examples of the phase shift mask blank used in such a halftone type phase shift photomask include those having a single-layer phase shift film having a simple structure and easy manufacture, and transmittance, phase difference, reflectance, and refraction. Some have a plurality of layers of phase shift films for satisfying optical characteristics such as ratio and durability such as chemical resistance. As a device having a single-layer phase shift film, for example, a halftone type phase shift mask blank in which a single-layer phase shift film containing a molybdenum silicon compound such as MoSiO or MoSiON as a main component has been proposed (for example, And Patent Document 1.).
[0009]
Further, a light shielding film can be formed on the phase shift film. As the light-shielding film formed on the phase shift film, for example, a chromium-based light-shielding film can be cited, but the chromium-based light-shielding film has a large light reflectance. Therefore, in phase shift lithography, there is a possibility that light reflected on a semiconductor substrate as an object to be exposed passes through a projection lens, is reflected on a phase shift photomask, and returns to the semiconductor substrate again. Therefore, in order to prevent this, an anti-reflection film is usually formed on one or both of the front surface (the side opposite to the phase shift film) and the back surface (the phase shift film side) of the light shielding film.
For example, a film provided with an antireflection film on the surface of a light-shielding film in order to prevent light reflected on a semiconductor substrate as an object to be exposed from being reflected again by a phase shift photomask is called a two-layer structure film. A film in which an antireflection film is also provided on the back surface of the light-shielding film is called a three-layer structure film.
[0010]
Conventionally, in a photomask blank, a chromium carbonitride film containing chromium carbide and chromium nitride is used as an anti-reflection film on the back surface of a light-shielding film, a chromium film is used as a light-shielding film, and a chrome A photomask blank having a three-layer structure film in which a chromium oxynitride film containing an oxide and chromium nitride is sequentially laminated has been proposed (for example, see Patent Document 2). Further, there have been proposed ones using CrON as an antireflection film (for example, see Patent Documents 3 and 4), and those using CrN (for example, see Patent Documents 4 and 5).
On the other hand, a single-layer film using chromium nitride as a light-shielding film (for example, see Patent Document 6) has been proposed.
[0011]
In general, in a manufacturing process of a phase shift photomask, a method of forming a film having electrical conductivity on a phase shift film to prevent charge-up during electron beam exposure is used. The light-shielding film and / or the anti-reflection film may be made of a material having electrical conductivity.
[0012]
As described above, in the phase shift mask blank and the phase shift photomask, one or more metal-containing films such as a light-shielding film, an antireflection film, and a film having electric conductivity are usually formed on the substrate in addition to the phase shift film. Is provided. FIG. 3 shows an example of such a phase shift mask blank. The phase shift mask blank 30 has a phase shift film 32 provided on a substrate 31 and a metal-containing film 34 directly laminated on the phase shift film 32.
However, when a fine pattern is formed on such a conventional phase shift mask blank, there is a problem that the adhesion between the phase shift film and the metal-containing film is poor, which causes particles to come off from the phase shift film. I was
[0013]
[Patent Document 1]
JP-A-7-140635
[Patent Document 2]
JP-B-62-37385
[Patent Document 3]
JP-B-61-46821
[Patent Document 4]
Japanese Patent Publication No. 62-27387
[Patent Document 5]
Japanese Patent Publication No. 62-27386
[Patent Document 6]
Japanese Patent Publication No. 4-1339
[0014]
[Problems to be solved by the invention]
The present invention has been made in view of such problems, and a phase shift mask blank having, on a substrate, at least a phase shift film functioning as a phase shifter and a metal-containing film functioning as a light shielding film, an antireflection film, and the like. It is an object of the present invention to provide a phase shift mask blank having improved adhesion between the phase shift film and the metal-containing film.
[0015]
[Means for Solving the Problems]
The present invention has been made to solve the above problems, and is a phase shift mask blank, in which at least one or more layers of a phase shift film containing a metal silicide compound as a main component and at least one layer are provided on a substrate. A phase-shift mask blank, comprising: a buffer layer having a film composition continuously changed at an interface between the phase-shift film and the metal-containing film. (Claim 1).
[0016]
As described above, if the interface between the phase shift film and the metal-containing film has a buffer layer in which the composition of the film is continuously changed, the adhesion between the films is improved, and the interface between the phase shift film and the metal-containing film is removed from the phase shift film. The possibility that the metal-containing film is peeled off can be reduced. Therefore, even if a fine pattern is formed by the phase shift mask blank, the possibility that the metal-containing film is peeled off from the phase shift film is low, and it is possible to prevent the generation of particles and defects such as pinholes caused when the metal film is peeled off. Can be.
[0017]
In this case, it is preferable that the phase shift film includes a metal in a metal-containing film, and the metal-containing film includes a metal and / or silicon of a metal silicide compound in the phase shift film. 2).
[0018]
Thus, if the phase shift film includes the metal in the metal-containing film and the metal-containing film includes the metal and / or silicon of the metal silicide compound in the phase shift film, The presence can further improve the adhesion between the films.
[0019]
In this case, the metal of the metal silicide compound in the phase shift film can be one or more metals selected from molybdenum, titanium, tantalum, tungsten, chromium, zirconium, and germanium (claim 3).
[0020]
As described above, if the metal of the metal silicide compound in the phase shift film is at least one metal selected from molybdenum, titanium, tantalum, tungsten, chromium, zirconium, and germanium, it has desired optical properties and durability. It can be a phase shift film.
[0021]
Further, the metal-containing film is at least one metal-containing film selected from a chromium silicide film, a chromium film, a chromium oxide film, a chromium carbide film, a chromium nitride film, a chromium oxynitride film, and a chromium oxynitride carbide film. There can be (claim 4).
[0022]
Thus, if the metal-containing film is one or more metal-containing films selected from a chromium silicide film, a chromium film, a chromium oxide film, a chromium carbide film, a chromium nitride film, and a chromium oxynitride carbide film, Depending on the purpose, a desired film such as a light-shielding film, an antireflection film, and a film having electrical conductivity can be used.
[0023]
In this case, it is preferable that the phase shift film converts the phase of the transmitted exposure light by 180 ± 5 degrees and has a transmittance of 3 to 40% (claim 5).
[0024]
As described above, the phase shift film converts the phase of the exposure light to be transmitted by 180 ± 5 degrees and, if it has a transmittance of 3 to 40%, forms a pattern on the phase shift mask blank. The phase shift photomask is a halftone type phase shift photomask that can particularly effectively improve the contrast, that is, the resolution, at the boundary between the light transmitting portion and the light semi-transmitting portion in phase shift lithography.
[0025]
Further, there is provided a phase shift photomask characterized in that a pattern is formed on the phase shift mask blank of the present invention (claim 6).
[0026]
In the case of a phase shift photomask in which a pattern is formed on the phase shift mask blank of the present invention, even if a fine pattern is formed, the possibility that the metal-containing film is separated from the phase shift film is low. It can be used as a phase shift photomask capable of favorably transferring a simple pattern to a semiconductor substrate.
[0027]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described, but the present invention is not limited thereto.
The present inventors have conducted intensive studies and studies, and as a result, instead of directly adhering the phase shift film and the metal-containing film, the composition of the film was continuously changed at the interface between the phase shift film and the metal-containing film. The inventors have conceived that the provision of the buffer layer can improve the adhesion between the films, and have completed the present invention.
[0028]
That is, the phase shift mask blank of the present invention includes at least one or more phase shift films mainly containing a metal silicide compound and one or more metal-containing films on a substrate. At the interface with the metal-containing film, a buffer layer in which the composition of the film continuously changes is provided.
Note that the metal-containing film may be on the phase shift film or between the substrate and the phase shift film.
[0029]
FIG. 1 shows an example of such a phase shift mask blank of the present invention. The phase shift mask blank 10 includes a phase shift film 12 containing molybdenum silicide as a main component and a metal-containing film 14 containing chromium on a substrate 11. Has a buffer layer 13 at the interface (FIG. 1A). In the buffer layer 13, the contents of molybdenum silicide and chromium are continuously changed, that is, the compositions of the phase shift film 12 and the metal-containing film 14 are continuously changed (FIG. 1B). ).
[0030]
Thus, by providing the buffer layer 13 in which the composition of the film is continuously changed at the interface between the phase shift film 12 and the metal-containing film 14, the adhesion between the films is improved, and the phase shift film is formed at the interface. It is possible to reduce the possibility that the metal-containing film is peeled off. Therefore, even if a fine pattern is formed on the phase shift mask blank, the possibility that the metal-containing film is peeled off from the phase shift film is low, and it is possible to prevent the generation of particles and defects that occur when peeled.
[0031]
Preferably, the phase shift film includes a metal in a metal-containing film, and the metal-containing film includes a metal of a metal silicide compound and / or silicon in the phase shift film. For example, in the phase shift mask blank shown in FIG. 1, the phase shift film 12 contains chromium in the metal-containing film 14, and the metal-containing film 14 is made of molybdenum and silicon of a molybdenum silicide compound in the phase shift film 12. Contains. Thereby, the adhesion between the phase shift film and the metal-containing film can be further improved.
[0032]
Further, in the phase shift mask blank of the present invention, the phase shift film contains a metal silicide compound as a main component. Examples of the metal of the metal silicide compound include molybdenum, titanium, tantalum, tungsten, chromium, zirconium, and germanium. And the like, and these are included singly or in plural. In particular, the metal silicide compound in the phase shift film is any of molybdenum silicide oxycarbide (MoSiOC), molybdenum silicide oxynitride carbide (MoSiONC), molybdenum silicide oxynitride (MoSiON), and molybdenum silicide nitride (MoSiN). Is preferred. Since a molybdenum silicide target for forming a phase shift film containing these molybdenum silicide compounds as a main component by sputtering is dense and easy to obtain with high purity, a high quality phase shift film can be formed. is there.
[0033]
In the phase shift mask blank of the present invention, examples of the metal-containing film include a chromium silicide film, a chromium film, a chromium oxide film, a chromium carbide film, a chromium nitride film, a chromium oxynitride film, and a chromium oxynitride carbide film. Are formed as a single layer or a plurality of layers. These metal-containing films are formed according to the purpose as, for example, a light-shielding film, an antireflection film, a film having electrical conductivity, or the like.
[0034]
The substrate in the phase shift mask blank is not particularly limited as long as it is a substrate transparent to the exposure wavelength in phase shift lithography, and examples thereof include a quartz substrate, fluorite, and low thermal expansion glass. . In particular, a quartz substrate or a substrate containing silicon dioxide as a main component is preferably used.
[0035]
Further, the phase shift film converts the phase of the transmitted exposure light by 180 ± 5 degrees and preferably has a transmittance of several% to several tens% (preferably 3 to 40%). . A phase shift photomask in which a pattern is formed on a phase shift mask blank having such optical characteristics particularly effectively improves the contrast, that is, the resolution at the boundary between the light transmitting portion and the light transmissive portion in phase shift lithography. And a halftone type phase shift photomask.
[0036]
In the case of such a phase shift photomask in which a pattern is formed on the phase shift mask blank of the present invention, even if a fine pattern is formed, the possibility that the metal-containing film is separated from the phase shift film is low. Can be used as a phase shift photomask capable of transferring a fine pattern satisfactorily in phase shift lithography without generation of pits.
[0037]
Hereinafter, a method for manufacturing the phase shift mask blank of the present invention will be described. The method for forming the phase shift film and the metal-containing film on the substrate is not particularly limited, but a reactive sputtering method is preferable.
[0038]
The sputtering method may be a method using a direct current (DC) power supply, a method using a high frequency (RF) power supply, a magnetron sputtering method, a conventional method, or another method.
[0039]
Although the sputtering apparatus is not particularly limited, it is possible to freely change the composition of a film to be formed by using a multi-cathode target capable of discharging a large number of targets at the same time and changing the input power ratio of each cathode. It is possible and more preferable.
Note that the film forming apparatus may be a passing type or a single wafer type.
[0040]
As a sputtering target for forming the phase shift film, a sputtering target containing metal and silicon as main components is used. In this case, the target may be a metal silicide, only a metal and silicon, or a combination thereof.In order to keep the composition of the film constant in the plane, the metal may be oxygen, nitrogen, or any of carbon, or What added these in combination may be used. On the other hand, as a sputtering target for forming a metal-containing film, a sputtering target containing a metal as a main component is used.
[0041]
In addition, a sputtering gas for forming a phase shift film or a metal-containing film on a substrate may be an inert gas such as argon, or a gas such as oxygen gas, nitrogen gas, various types of nitrogen oxide gas, or various types of carbon oxide gas. Forming a desired phase shift film and a desired metal-containing film by forming a gas and the like into a composition appropriately added so that the formed phase-shift film and metal-containing film have a desired composition. Can be. In this case, examples of the gas containing carbon include various hydrocarbon gases such as methane, and carbon oxide gas such as carbon monoxide and carbon dioxide. Is particularly preferred because it is a low and stable gas.
[0042]
When it is desired to increase the transmittance of the phase shift film to be formed, a method of increasing the amount of a gas containing oxygen or nitrogen to be added to the sputtering gas so that a large amount of oxygen and nitrogen is taken into the film, a method in which oxygen or nitrogen is previously added to the sputtering target The adjustment can be made by a method using a metal silicide to which a large amount of nitrogen is added, a method of increasing the input power ratio of a silicon target, or the like.
[0043]
A method of manufacturing the phase shift mask blank shown in FIG. 1 using a multi-cathode target sputtering apparatus as shown in FIG. 4 will be described as an example.
The sputtering device 40 shown in FIG. 4 uses a DC power supply, and uses a molybdenum silicide target 41, a silicon target 42, and a chromium target 43 as sputtering targets. In general, the film formation rate is proportional to the power applied to the target, so that a desired film composition can be obtained by adjusting the combination of the discharge power applied to each target. Further, the sputtering apparatus 40 includes a sputtering gas inlet 45, a gas outlet 46, and a stage 47 on which the substrate 44 is placed.
First, the molybdenum silicide target 41 and the silicon target 42 are simultaneously discharged with a higher input power than the chromium target 43 to perform sputtering while introducing a predetermined sputtering gas from the sputtering gas inlet 45, and scatter from each target. While synthesizing the film components, a phase shift film is formed on the substrate 44 to a predetermined thickness. Thereafter, by gradually lowering the input power of the molybdenum silicide target 41 and the silicon target 42 and gradually increasing the input power of the chromium target 43, a buffer layer whose film composition is continuously changed is formed. . Finally, a chromium-containing film is formed on the buffer layer to a predetermined thickness. During the film formation, it is preferable that the stage 47 is rotatable and the substrate 44 is rotated so that the film components from the respective targets can be uniformly mixed.
[0044]
Next, a method of manufacturing a phase shift photomask using the phase shift mask blank of the present invention will be described with reference to FIG.
First, a phase shift mask blank 20 shown in FIG. 2A has a phase shift film 22 and a metal-containing film 24 on a substrate 21, and a buffer layer 23 is provided at an interface between the phase shift film 22 and the metal-containing film 24. Having. Then, a resist film 25 is formed on the metal-containing film 24.
Next, as shown in FIG. 2B, the resist film 25 is irradiated with light and developed to form a pattern.
Next, as shown in FIG. 2C, the metal-containing film 24, the buffer layer 23, and the phase shift film 22 are etched using the patterned resist film 25 as a mask.
Thereafter, as shown in FIG. 2D, the resist film 25 is removed to obtain a phase shift photomask 26 having a pattern formed.
In this case, application of the resist film, pattern formation (exposure, development), removal of the resist film, and the like can be performed by a known method.
[0045]
【Example】
Hereinafter, the present invention will be described more specifically with reference to Examples and Comparative Examples, but the present invention is not limited thereto.
(Example 1)
DC magnetron sputtering was used as a method for forming the phase shift film and the metal-containing film. As a sputtering apparatus, a multi-source cathode type sputtering apparatus was used. As a sputtering target, a molybdenum silicide target and a silicon target were used for a phase shift film, and a chromium target was used for a metal-containing film.
[0046]
In order to manufacture the phase shift mask blank shown in FIG. 1, first, a molybdenum silicide target and a silicon target are applied with a discharge power of 1000 W to form MoSiON on a 6 inch × 6 inch (150 mm × 150 mm) quartz substrate. A phase shift film as a main component was formed to a thickness of about 70 nm, and a discharge power of 50 W was applied to the chromium target during the film formation. At this time, 10 sccm of Ar was used as a sputtering gas, and O was used as a reactive sputtering gas. ₂ Is 2 sccm, N ₂ Was flowed at 100 sccm, and the gas pressure was 0.15 Pa.
[0047]
Next, while gradually lowering the power of the molybdenum silicide target and the silicon target from 1000 W to 50 W, the power of the chromium target was gradually increased from 50 W to 1000 W, and the gas flow rate was changed to Ar 10 sccm, O ₂ 2sccm, N ₂ From 100 sccm, Ar 30 sccm and O ₂ 3 sccm, N ₂ By gradually changing the thickness to 7 sccm, a buffer layer was formed to a thickness of 5 nm, and a CrON film (metal-containing film) was finally formed on this buffer layer.
Thereafter, a CrON film was formed to a thickness of about 59 nm under the changed conditions.
The phase shift film contains chromium because a discharge power of 50 W was applied to the chromium target during the formation of the phase shift film. In addition, since a discharge power of 50 W was applied to the molybdenum silicide target and the silicon target during the formation of the metal-containing film, the metal-containing film contains molybdenum and silicon.
[0048]
Thereafter, scrub cleaning was performed on the metal-containing film of the obtained phase shift mask blank for 60 minutes. When the defect inspection of this blank was performed, 15 pinholes were found.
[0049]
(Comparative Example 1)
The same film forming method, sputtering apparatus, and sputtering target as in Example 1 were used.
In order to manufacture the phase shift mask blank shown in FIG. 3, first, a discharge power of 1000 W is applied to a molybdenum silicide target and a silicon target, and MoSiON is mainly formed on a 6 inch × 6 inch (150 mm × 150 mm) quartz substrate. A phase shift film as a component is formed to a thickness of about 70 nm, and the power of the molybdenum target and the silicon target is set to 0 W / cm. ² And During film formation, 10 sccm of Ar was used as a sputtering gas, and O was used as a reactive sputtering gas. ₂ Is 2 sccm, N ₂ Was flowed at 100 sccm, and the gas pressure was 0.15 Pa.
[0050]
On this film, a discharge power of 1000 W was applied to a chromium target to form a CrON film (metal-containing film) of about 59 nm. During the film formation, 30 sccm of Ar was used as a sputtering gas and O was used as a reactive sputtering gas. ₂ 3 sccm, N ₂ At a flow rate of 7 sccm, and the gas pressure was set to 0.3 Pa.
[0051]
Thereafter, scrub cleaning was performed on the metal-containing film of the obtained phase shift mask blank for 60 minutes. When this blank was inspected for defects, there were 49 pinholes.
[0052]
Thus, the phase shift mask blank of Example 1 has very few defects as compared with Comparative Example 1. Therefore, it can be seen that the phase shift mask blank of Example 1 has considerably high adhesion between the phase shift film and the metal-containing film.
[0053]
Note that the present invention is not limited to the above embodiment. The above-described embodiment is an exemplification, and has substantially the same configuration as the technical idea described in the claims of the present invention, and any device having the same operation and effect can be realized by the present invention. It is included in the technical scope of the invention.
[0054]
For example, in the above embodiment, the DC magnetron sputtering method was used as the film forming method, but other methods such as DC sputtering and RF sputtering may be used.
[0055]
Furthermore, although molybdenum was used as the metal in the examples, titanium, tantalum, tungsten, chromium, zirconium, germanium, etc. may be used instead, and oxygen and nitrogen were used as the reactive gas. Nitrogen oxide, nitrous oxide, carbon dioxide, or the like may be used.
[0056]
Further, in the above, the case where each of the phase shift film and the metal-containing film has one layer has been described by way of example, but two or more layers may be formed.
[0057]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, by providing a buffer layer having a continuously changed composition at the interface between the phase shift film and the metal-containing film, the adhesion between the phase shift film and the metal-containing film is improved. can do. Therefore, even if a fine pattern is formed on the phase shift mask blank, a phase shift mask blank with little risk of peeling of the metal-containing film from the phase shift film during or after the pattern formation can be provided.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram showing an example of a phase shift mask blank of the present invention.
(A) schematic sectional view,
(B) A graph showing the content of MoSi and Cr in each film.
FIG. 2 is a flowchart illustrating an example of a method for manufacturing a phase shift photomask.
FIG. 3 is a schematic sectional view showing an example of a conventional phase shift mask blank.
FIG. 4 is a schematic view showing an example of a sputtering apparatus.
[Explanation of symbols]
10, 20, 30 ... phase shift mask blank,
11, 21, 31, 44 ... substrate, 12, 22, 32 ... phase shift film,
13, 23 ... buffer layer, 14, 24, 34 ... metal-containing film,
25: resist film, 26: phase shift photomask,
40: sputtering apparatus, 41: molybdenum silicide target,
42: silicon target, 43: chromium target,
45: sputtering gas inlet, 46: gas outlet,
47 ... Stage.

Claims

A phase shift mask blank, comprising at least one or more layers of a phase shift film containing a metal silicide compound as a main component and one or more layers of a metal-containing film on a substrate. A phase shift mask blank having a buffer layer in which the composition of a film is continuously changed at an interface with the film.

The method according to claim 1, wherein the phase shift film includes a metal in a metal-containing film, and the metal-containing film includes a metal silicide compound metal and / or silicon in the phase shift film. The described phase shift mask blank.

3. The metal of the metal silicide compound in the phase shift film is one or more metals selected from molybdenum, titanium, tantalum, tungsten, chromium, zirconium, and germanium. Phase shift mask blank.

The metal-containing film is at least one metal-containing film selected from a chromium silicide film, a chromium film, a chromium oxide film, a chromium carbide film, a chromium nitride film, a chromium oxynitride film, and a chromium oxynitride carbide film. The phase shift mask blank according to any one of claims 1 to 3, wherein:

5. The phase shift film according to claim 1, wherein the phase shift film converts the phase of the transmitted exposure light by 180 ± 5 degrees, and has a transmittance of 3 to 40%. Item 2. The phase shift mask blank according to item 1.

A phase shift photomask, wherein a pattern is formed on the phase shift mask blank according to any one of claims 1 to 5.