JP2004281350A - 飛行時間型質量分析計 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】複数の扇形電場によって構成された周回軌道と、周回軌道にイオンを打ち込むための入射手段と、周回軌道からイオンを取り出すための出射手段と、周回軌道から出射手段を介して取り出されたイオンを解離させるための解離手段と、解離手段で解離させたイオンを、質量分析するための質量分析手段とを備えた。
【選択図】 図1
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、複数の扇形電場によって構成された周回軌道を有する飛行時間型質量分析計に関する。
【0002】
【従来の技術】
磁場型質量分析計、あるいは、四重極型質量分析計を用いる質量分析分野では、複数台の質量分析計を、直列に接続し、接続箇所に解離室を設けて、最初の質量分析計で質量分離された特定のイオンを解離室に導き入れ、解離室内で、低圧のガス分子と衝突させたり、光を照射したりして、親イオンを娘イオンに解離させ、娘イオンを、更に後段の質量分析計で質量分析するという、タンデム質量分析法が、広く行なわれている。
【0003】
一方、飛行時間型質量分析計を用いる質量分析分野では、飛行距離を長くして、分解能の向上を目指す、周回型飛行時間型質量分析計が提案されている。
【0004】
【特許文献1】
特開平11−135060号公報
【非特許文献1】
M. Toyoda et al., J. Mass Spectom., vol.35 (2000), pp.163−167.
【非特許文献2】
豊田岐聡ら, J. Mass Spectrom. Soc. Jpn., vol.48 (2000), pp.312−317.
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、磁場型質量分析計や四重極型質量分析計を用いた、従来のタンデム質量分析法では、分析可能な親イオンの質量範囲に上限がある上に、イオン選別の分解能が低いために、精度の高い分析が困難であるという問題があった。
【0006】
また、磁場型質量分析計や四重極型質量分析計を用いた、従来のタンデム質量分析法では、最初の質量分析計で選択された親イオン以外のイオンは、すべて捨てており、微量サンプルでのタンデム質量分析は、感度的に困難であるという問題があった。
【0007】
本発明の目的は、上述した点に鑑み、周回型飛行時間型質量分析計の利点を生かし、親イオンの質量範囲に上限がなく、イオン選別の分解能が高く、しかも、最初に選択された親イオン以外のイオンを捨てることなく、タンデム質量分析を行なうことのできる飛行時間型質量分析計を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】
この目的を達成するため、本発明の飛行時間型質量分析計は、
複数の扇形電場によって構成された周回軌道と、
周回軌道にイオンを打ち込むための入射手段と、
周回軌道からイオンを取り出すための出射手段と、
周回軌道から出射手段を介して取り出されたイオンを解離させるための解離手段と、
解離手段で解離させたイオンを、質量分析するための質量分析手段と
を備えたことを特徴としている。
【0009】
また、前記出射手段は、所定のタイミングで、所定の質量のイオンのみを取り出せることを特徴としている。
【0010】
また、前記質量分析手段は、第2の飛行時間型質量分析計であることを特徴としている。
【0011】
また、前記第2の飛行時間型質量分析計は、
複数の扇形電場によって構成された周回軌道と、
イオンを打ち込むための入射手段と、
イオンを取り出すための出射手段と
を備えていることを特徴としている。
【0012】
また、前記質量分析手段は、最初に質量分析を行なう飛行時間型質量分析計それ自身であることを特徴としている。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。図1は、本発明にかかる飛行時間型質量分析計の一実施例を示したものである。本実施例は、4つの扇形電場1〜4で構成された周回軌道を有する第1の周回型飛行時間型質量分析計と、4つの扇形電場10〜13で構成された周回軌道を有する第2の周回型飛行時間型質量分析計とで構成され、2つの周回型飛行時間型質量分析計の接続部には、イオントラップなどの解離室9が設けられている。
【0014】
図2は、上記実施例を詳細に説明するための図である。第1の質量分析計の閉軌道は、扇形電場1、2、3、及び4で構成されている。
【0015】
イオン源5からパルス的に出射されたイオンは、入射軌道である扇形電場2に入る。このとき、扇形電場2の電極の電位はオフ(ゼロポテンシャル)の状態であり、イオンは、扇形電場2の電極に開けられた入射孔20などの入射路を通って、閉軌道に入射される。この直後、扇形電場2の電極の電位はオンの状態になり、入射されたイオンは、扇形電場1、2、3、及び4で構成された閉軌道を8の字状に周回し始める。上記入射孔20と、扇形電場2をイオン入射時にオフとし入射後にオンとするように制御する制御回路(図示せず)が、イオン入射手段を構成する。
【0016】
閉軌道に導入されたイオンが、必要な回数だけ周回を終え、十分にイオン間の質量分離がなされると、所定のタイミングで、所定の時間幅だけ、扇形電場1の電極の電位が、オフ(ゼロポテンシャル)になり、目的のイオン(親イオン)のみが、扇形電場1に開けられた、出射孔21などの出射路を通って、閉軌道から取り出される。残りのイオンは、すべて、そのままの状態で、閉軌道内を周回し続ける。この出射孔21と、イオン取り出しのタイミングで扇形電場1をオフとするように制御する制御回路(図示せず)が、イオン出射手段を構成する。
【0017】
こうして第1の質量分析計から取り出された親イオンは、イオントラップなどの解離室9に捕獲され、解離室9内で、CID(Collision Induced Dissociation)、ECD(Electron Capture Dissociation)、PID(Photo Induced Dissociation)、IRMPD(Infrared Multi−photon Dissociation)など、既知の方法により、娘イオンに解離される。
【0018】
図3は、上記実施例の続きを説明する図である。解離室9内で生成した娘イオンは、所定のタイミングで、解離室9において所定のエネルギーが与えられ、解離室9からパルス的に取り出される。取り出された娘イオンは、第2の質量分析計の入射軌道である扇形電場11に入る。このとき、扇形電場11の電極の電位はオフ(ゼロポテンシャル)の状態であり、娘イオンは、扇形電場11の電極に開けられた、入射孔22などの入射路を通って、閉軌道に入射される。この直後、扇形電場11の電極の電位はオンの状態になり、入射された娘イオンは、扇形電場10、11、12、及び13で構成された閉軌道を8の字状に周回し始める。
【0019】
閉軌道に導入された娘イオンが、必要な回数だけ周回を終え、十分にイオン間の質量分離がなされると、所定のタイミングで、扇形電場10の電極の電位がオフ(ゼロポテンシャル)になり、扇形電場10に開けられた、出射孔23などの出射路を通って、娘イオンが周回軌道から出射され、イオン検出器14に到達する。これにより、特定の親イオンから生成された娘イオンの質量スペクトルを得ることができる。
【0020】
図4は、本発明にかかる飛行時間型質量分析計の別の実施例を示したものである。本実施例は、4つの扇形電場1〜4で構成された周回軌道を有する1台の周回型飛行時間型質量分析計で構成され、その4つの扇形電場うち、1つの扇形電場1の近傍には、イオントラップなどの解離室9が設けられている。
【0021】
図5は、上記実施例を詳細に説明するための図である。この質量分析計の閉軌道は、扇形電場1、2、3、及び4で構成されている。
【0022】
イオン源5からパルス的に出射されたイオンは、入射軌道である扇形電場2に入る。このとき、扇形電場2の電極の電位はオフ(ゼロポテンシャル)の状態であり、イオンは、扇形電場2の電極に開けられた、入射孔20などの入射路を通って、閉軌道に入射される。この直後、扇形電場2の電極の電位はオンの状態になり、入射されたイオンは、扇形電場1、2、3、及び4で構成された閉軌道を8の字状に周回し始める。
【0023】
閉軌道に導入されたイオンが、必要な回数だけ周回を終え、十分にイオン間の質量分離がなされると、所定のタイミングで、所定の時間幅だけ、扇形電場1の電極の電位がオフ(ゼロポテンシャル)になり、目的のイオン(親イオン)のみが、扇形電場1に開けられた、出射孔21などの出射路を通って、閉軌道から取り出される。残りのイオンは、すべて、そのままの状態で、閉軌道内を周回し続ける。
【0024】
こうして質量分析計から取り出された親イオンは、イオントラップなどの解離室9に捕獲され、解離室9内で、CID(Collision Induced Dissociation)、ECD(Electron Capture Dissociation)、PID(Photo Induced Dissociation)、IRMPD(Infrared Multi−photon Dissociation)など、既知の方法により、娘イオンに解離される。
【0025】
図6は、上記実施例の続きを説明する図である。解離室9内で生成した娘イオンは、所定のタイミングで、解離室9において所定のエネルギーが与えられ、解離室9からパルス的に取り出される。取り出された娘イオンは、もとの質量分析計の出射軌道であった扇形電場1に入る。このとき、扇形電場1の電極の電位はオフ(ゼロポテンシャル)の状態であり、娘イオンは、扇形電場1の電極に開けられた、入射孔21などの入射路を通って、閉軌道に入射される。この直後、扇形電場2の電極の電位はオンの状態になり、入射された娘イオンは、扇形電場10、11、12、及び13で構成された閉軌道を、親イオンとは逆の方向に、8の字状に周回し始める。
【0026】
閉軌道に導入された娘イオンが、必要な回数だけ逆方向の周回を終え、十分に質量分離されると、所定のタイミングで、扇形電場3の電極の電位がオフ(ゼロポテンシャル)になり、扇形電場3に開けられた、出射孔24などの出射路を通って、娘イオンが周回軌道から出射され、イオン検出器15に到達する。これにより、特定の親イオンから生成された娘イオンの質量スペクトルを得ることができる。
【0027】
尚、親イオンと娘イオンの質量分離を、同一の質量分析計を用いて、逆回しで行なう第2の実施例には、変形例が可能である。それは、イオントラップなどの解離室9の代わりに、特殊な素材で作られた壁に親イオンを衝突させ、跳ね返る際に、親イオンを娘イオンに解離させる、SID(Surface Induced Dissociation)という手法を用いて、親イオンを娘イオンに解離させても、同じ効果が得られることである。その場合、解離室9は不要である。
【0028】
また、解離室9から扇形電場1に、娘イオンを戻す際に、扇形電場1から2の方向ではなく、扇形電場1から3の方向に沿って戻せば、入射された娘イオンは、扇形電場1、2、3、及び4で構成された閉軌道を、親イオンと同じ方向に周回させることができる。その場合には、親イオンと同じ方向に周回させた娘イオンを検出することのできるイオン検出器15’を、例えば、図6において破線で示すように設ける必要がある。尚、このイオン検出器15’は、タンデム質量分析法を実施しない場合(解離室9を使用しない場合)、親イオンの検出に使用できることは言うまでもない。
【0029】
【発明の効果】
本発明の結果、複数の扇形電場によって構成された周回軌道を有する飛行時間型質量分析計の利点を生かし、親イオンの質量範囲に上限がなく、イオン選別の分解能が高く、しかも、最初に選択された親イオン以外のイオンを捨てることなく、タンデム質量分析を行なうことのできる飛行時間型質量分析計を提供することが可能になった。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す図である。
【図2】本発明の一実施例を示す図である。
【図3】本発明の一実施例を示す図である。
【図4】本発明の別の実施例を示す図である。
【図5】本発明の別の実施例を示す図である。
【図6】本発明の別の実施例を示す図である。
【符号の説明】
1〜4・・・扇形電場、5・・・イオン源、9・・・解離室、10〜13・・・扇形電場、14・・・イオン検出器、15・・・イオン検出器、15’・・・イオン検出器、20〜24・・・孔。
Claims (5)
- 複数の扇形電場によって構成された周回軌道と、
周回軌道にイオンを打ち込むための入射手段と、
周回軌道からイオンを取り出すための出射手段と、
周回軌道から出射手段を介して取り出されたイオンを解離させるための解離手段と、
解離手段で解離させたイオンを、質量分析するための質量分析手段と
を備えたことを特徴とする飛行時間型質量分析計。 - 前記出射手段は、所定のタイミングで、所定の質量のイオンのみを取り出せることを特徴とする請求項1記載の飛行時間型質量分析計。
- 前記質量分析手段は、第2の飛行時間型質量分析計であることを特徴とする請求項1または2記載の飛行時間型質量分析計。
- 前記第2の飛行時間型質量分析計は、
複数の扇形電場によって構成された周回軌道と、
イオンを打ち込むための入射手段と、
イオンを取り出すための出射手段と
を備えていることを特徴とする請求項3記載の飛行時間型質量分析計。 - 前記質量分析手段は、最初に質量分析を行なう飛行時間型質量分析計それ自身であることを特徴とする請求項1記載の飛行時間型質量分析計。
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