JP2004228719A - 多光軸光電センサ - Google Patents
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Abstract
【解決手段】初段増幅回路12は、受光素子つまりフォトダイオード11にコンデンサ20を介して接続されている。初段増幅回路12の出力段はPNPトランジスタ24で構成されており、出力段トランジスタ24の出力は、初段増幅回路12の出力を制御する出力トランジスタ25のベースに入力される。この出力トランジスタ25は光軸選択手段をも兼ねるものであり、この出力トランジスタ25が光軸選択回路17からの選択信号を受けると、初段増幅回路12で増幅した受光信号を信号処理回路(クランプ回路)に出力する。出力段PNPトランジスタ24は、そのコレクタが抵抗26を介してGNDされている。
【選択図】 図5
Description
【発明の属する技術分野】
この発明は多光軸光電センサに関する。
【0002】
【従来の技術】
多光軸光電センサは、複数の投光素子を一列に配列した投光器と、該投光器の各投光素子からの光ビームを受光する複数の受光素子を一列に配列した受光器とを含み、これら投光器と受光器とで、例えば、プレス機の回りにセイフティライトカーテンを作るのに用いられる。
【0003】
【特許文献1】
特開平4−46505号公報
【0004】
この従来公報は受光器の受光回路に関し、この受光回路は、受光器の複数の受光素子つまりフォトダイオードの各々に対応したアナログスイッチを含み、このアナログスイッチを順次オン状態に切り替えることにより受光素子からの出力を検波回路に入力する構成となっている。
【0005】
現在入手可能な多光軸光電センサの受光器には、様々な形式の受光回路が搭載されている。例えば、各光軸の受光素子が受光した直後に増幅して、これを内部配線で集約して、遮光の有無を検出する比較回路つまり検波回路に入力する形式のものであれば、例えば1メートルを超える長さの受光器ではノイズ面で有利である。
【0006】
また、各光軸毎に比較回路を設け、各受光素子の受光の有無を比較回路でデジタル化した後に集約すればノイズに対して有利な面があるものの、光軸数に応じた数多くの比較回路つまり検波回路によってコストアップの要因になる。
【0007】
また、各光軸の受光素子毎に初段増幅回路を設け、この初段増幅回路で受光素子の出力を増幅して、これを内部配線で集約して第2段増幅回路に入力し、この第2段増幅回路で増幅して出力する受光回路も知られている。この2段の増幅の方式によれば、ノイズ面での有利性とコスト面での有利性の両立を図ることができる。
【0008】
図1は、初段増幅回路の代表的な回路構成を示す。図示の初段増幅回路1はOPアンプ2を有し、光をフォトダイオード3で電流に変換した出力信号をコンデンサ4を介してOPアンプ2のマイナス側入力端子に入力し、OPアンプ2の出力信号をOPアンプ2のマイナス側入力端子に抵抗R2を介してフィードバックすることにより、電流を電圧に変換するようになっている。
【0009】
OPアンプ2で増幅した信号は、出力トランジスタ5に例えば光軸選択回路6からの選択信号が入力されると第2段増幅回路に向けて出力される。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
図1に図示のようなOPアンプ2を用いた増幅回路を採用したときに、市販のICを用いてOPアンプを構成するのが一般的であるが、製品毎のバラツキや故障が発生した場合にどのような挙動を起こすか不明であり、多光軸光電センサのように作業の安全性を確保するための機器では、故障や動作不良が発生した場合でもフェイルセーフを確保し且つ保障できることが求められる。
【0011】
OPアンプ2を用いた増幅回路は、図2に示すように、通常の光量がフォトダイオード3に入光している限りOPアンプ2は比較的整った波形で出力するが、フォトダイオード3のカソード電圧が例えば5.0vよりも低下する程に過大な光量が入光するとOPアンプ2の出力が電源電圧になってしまう、いわゆる飽和した状態になってしまう。そして、入光が終わり、フォトダイオード3のカソード電圧が5.0vの一定電圧に戻るときに、みかけ上、OPアンプ2のマイナス側端子にプラス方向の入力が入り、OPアンプ2の出力の極性が反転してマイナス側にオーバーシュートするという現象(大きなアンダーシュート現象)が現れてしまう。
【0012】
受光器は、増幅回路で増幅した受光信号をクランプ回路で予め定められたレベルにクランプした後に、検波回路で受光の有無の検出が行われる。
【0013】
図3を参照して、例えば第1光軸の投光素子からの光ビームが、本来的にこれを受ける第1光軸の受光素子だけでなく、第2光軸の受光素子にも入光したような場合、第2光軸の受光素子の増幅回路が、第1光軸の投光素子からの光によって飽和してしまい、第2光軸の増幅回路の出力波形に大きなアンダーシュートが現れて、このアンダーシュートから戻るときの立ち上がり部分6が何らかの原因でクランプ回路で抽出されてしまったときには、本来検出すべき第2光軸が物体Sで遮光されていたとしても、クランプ回路から入光を示す信号が出力されてしてしまい、この結果、受光器は遮光物体Sによる遮光を検出することができない、という可能性が内在している。
【0014】
増幅回路が飽和してしまう問題は、投光器と受光器との間の設置距離が使用環境によって例えば10cm間隔から10m間隔まで変化することや、近時、光軸間ピッチの間隔が狭くなる傾向にあること、或いは、投光素子から出射する光量を増大させる傾向にあることから、当然に想定しておくべき問題であり、ライトカーテンに物体が侵入したにも関わらず、これを検出することができない可能性は、この可能性が僅かなものであったとしても、フェールセーフの観点から排除することが望まれる。
【0015】
そこで、本発明の目的は、受光器の受光素子に入光した過大な光によって受光器が不安定になるのを防止することできる多光軸光電センサを提供することにある。
【0016】
本発明の目的は、受光器の受光素子に過大な光が入光しても、この過大な光の影響によりライトカーテンに物体が侵入したにも関わらず、これを検出することができない状況の発生を防止することのできる多光軸光電センサを提供することにある。
【0017】
【課題を解決するための手段】
かかる技術的課題は、本発明によれば、
一列に配列した複数の投光素子を備えた投光器と、該投光器の各受光素子からの光を受光する複数の受光素子を備えた受光器とを含み、
前記受光器が、各受光素子毎に設けられた複数の増幅回路と、該増設回路からの受光信号を受け取って、予め定められたレベルにクランプするクランプ回路とを含み、
該クランプ回路で受光信号を処理した後に、各受光素子への入光の有無を検出する多光軸光電センサにおいて、
前記増幅回路の出力段が、入力に対して応答良く動作する能動素子と、入力が終わったときに出力の変化を緩慢にする受動素子とで構成されていることを特徴とする多光軸光電センサを提供することにより達成される。
【0018】
すなわち、本発明によれば、増幅回路の出力段が能動素子と受動素子とで構成され、この受動素子で増幅回路への入力が終わったときの出力の変化を緩慢にすることで出力波形のオーバーシュート又はアンダーシュートの発生を抑えることができ、これにより、受光器の受光素子に入光した過大な光によって受光器が不安定になるのを防止することできる。
【0019】
【実施例】
以下に、図4から図6を参照して本発明の実施例を説明する。図4は、受光器10のブロック図であり、受光器10は、例えば20mmピッチで等間隔に一列に配置されたN個の受光素子11と、各受光素子11に接続されて受光素子11の出力を1次増幅するN個の初段アンプつまり初段増幅回路12と、この初段増幅回路12からの出力信号を信号処理する信号処理回路13と、この信号処理回路13からの出力信号を2次増幅する第2段アンプつまり第2段増幅回路14と、第2段増幅回路14からの信号により遮光の有無を検出する検波回路15と、受光器10の全体制御を行う制御回路16と、初段増幅回路12からの出力を投光器の対応する投光素子の投光に応じたタイミングで実行させる光軸選択回路17と、検波回路15で遮光を検出したときに、プレス機などの動作を停止させるための遮光信号を出力するための出力回路18とを含む。
【0020】
検波回路15、制御回路16、出力回路18は、受光器10に内蔵させる代わりに、別途、制御器(図示せず)を用意し、この制御器に内蔵させるようにしてもよい。
【0021】
初段増幅回路12は、受光素子つまりフォトダイオード11にコンデンサ20を介して接続された増幅回路入力段21を有する。この入力段21は、2個のNPNトランジスタ22、23のエミッタ同士を接続した従来から既知の差動増幅回路で構成され、第2トランジスタ23のコレクタは、増幅回路出力段のPNPトランジスタ24のベースに接続されている。
【0022】
出力段PNPトランジスタ24の出力は、初段増幅回路12の出力を制御する出力トランジスタつまりNPNトランジスタ25のベースに入力される。この出力トランジスタ25は光軸選択手段をも兼ねるものであり、この出力トランジスタ25のコレクタに光軸選択回路17からの選択信号が入力されると、初段増幅回路12で増幅した受光信号を出力する。
【0023】
上記の初段増幅回路12は、先に図1を参照して説明したOPアンプ2と実質的に等価であるが、出力段PNPトランジスタ24のコレクタが抵抗26を介してGNDされている点でOPアンプ2とは異なる。
【0024】
図6に示す差動増幅回路21の出力波形と、先に説明したOPアンプ2の出力波形(図2)とを比較する分かるように、OPアンプ2のときと異なり、差動増幅回路21の出力波形は比較的整った波形であり、下方へのオーバーシュードつまりアンダーシュートが見られない。これは、一義的には出力段PNPトランジスタ24に接続した抵抗26による効果である。すなわち、出力段PNPトランジスタ24は、信号の入力に対して応答良く増幅機能を発揮することから能動素子と呼べるのに対して、GNDに接続された抵抗26は受動素子と呼ぶことができ、この抵抗26により、入力が終わったときの出力段PNPトランジスタ24の出力の変化を緩慢にさせ、これにより大きなアンダーシュートの発生を抑えた出力波形を得るのに成功している。
【0025】
そして、この出力波形の立ち下がりを緩慢にさせる効果は、フォトダイオード11と差動増幅回路21との間にコネクタ20を介装することにより一層確実なものになっている。
【0026】
上述した初段増幅回路12によれば、フォトダイオード11のカソード側電圧が低下するほど過大な光が入光して初段増幅回路12が飽和してしまい、抵抗27によるフィードバックが機能しなくなって、初段増幅回路12の出力がプラス側で張り付くオーバードライブの状態になったとしても、出力波形にアンダーシュートが現れてしまうことが抑えられることから、OPアンプ2の場合のようにアンダーシュートからの戻るときの立ち上がりによる誤動作の可能性(実際は遮光されているにも関わらず入光と検出してしまう可能性)を排除することができる。
【0027】
図7は、受光器10に含まれる信号処理回路13及び第2段増幅回路14の具体的な回路構成を示す。信号処理回路13は、1倍増幅のOPアンプ30とコンデンサ31とからなるバッファ回路と、アナログスイッチ32などからなるクランプ回路とで構成されている。アナログスイッチ32には、投光タイミングに関連した図外の制御器からのタイミング信号により開閉され、これにより、従来と同様に初段増幅回路12からの受光信号が予め設定されたレベルにクランプされる。
【0028】
第2段増幅回路14はOPアンプ33で構成され、OPアンプ33の増幅倍率は、抵抗R1と抵抗R2とによって決定される。第2段増幅回路14の出力は、コネクタ34を介して制御器39(図8)に含まれる検波回路15に供給されて従来と同様に遮光の有無が検出される。
【0029】
受光器10に含まれる信号処理回路13及び第2段増幅回路14の上述の構成には、バッファ回路とOPアンプ33との間と、コネクタ34とを接続する故障診断信号入力ライン35が付加されている。この故障診断信号入力ライン35には、例えば受光器10の1回の遮光検出サイクルが終わる毎に、制御器39(図8)から故障診断テストパルスが供給されて、所定の期間、アナログスイッチ32を含むクランプ回路及び第2段増幅回路14の故障診断を行い、この故障診断が完了すると、次の遮光検出サイクルに戻る。
【0030】
図8及び図10は、例示として故障診断テストパルスによる故障診断を説明するための図である。先ず、図8を参照して、制御器39が検波回路15として2つのコンパレータA、Bを含んでいるとして、図9に示すテストパルスが制御器39から故障診断信号入力ライン35に供給される。テストパルスは、アナログスイッチ32のOFF期間にタイミングを合わせた2つのレベルの異なるテストパルスP1、P2を含み、また、アナログスイッチ32のON期間に立ち上がる追加のテストパルスP3を含む。
【0031】
今、アナログスイッチ32を含むクランプ回路が正常に動作しているとすると、テストパルスP1、P2による第2段増幅回路14の出力の立ち上がりを受けた第1コンパレータA(基準電圧V2)と第2コンパレータB(基準電圧V1)の出力は、図9に示すとおりである。ここに、V1<V2である。
【0032】
クランプ回路に含まれる例えばアナログスイッチ32が何らかの原因でOFFのままであったとすると、図9に示すように、第1コンパレータAから追加のテストパルスP3に対応する出力が出る。
【0033】
制御器39に内蔵された制御回路16は、第1、第2のコンパレータA、Bの出力からアナログスイッチ32の故障を診断するための故障診断回路を含み、この故障診断回路で第1、第2のコンパレータA、Bの出力を監視することにより、アナログスイッチ32を含むクランプ回路の故障を検出することができ、故障を検出したときには、例えば図外の警報手段により作業者に「異常発生」を知らせると共に必要に応じて故障箇所を指摘することができる。
【0034】
図10は、上述したテストパルス(追加のテストパルス無しでもよい)により、第2段増幅回路14の故障を診断できることを説明するための図である。図10の故障1の例では、高レベルのテストパルスP1に対応したパルスが第1、第2コンパレータA、Bから出力されないときには、第2段増幅回路14の故障であることが分かる(図10の故障1)。同様に、低レベルのテストパルスP2に対応したパルスが第2コンパレータBからも出力されるときにも、14の故障であることが分かる(図10の故障2)。
【0035】
上述したクランプ回路故障診断システムによれば、単に、故障診断信号入力ライン35を追加するだけで、受光器10(制御器39)が備えている検波回路15を流用してクランプ回路や第2段増幅回路14の故障診断を行うことができる。
【0036】
以上、本発明の実施例を各受光素子毎に設けた初段増幅回路12と、これを集結して受光信号を増幅する第2段増幅回路14とを備えた受光器を例に説明したが、各受光素子毎に設けた増設回路からの受光信号をクランプ回路でクランプした後に検波(受光の有無を検出)するようにしたものに、本発明を適用することが可能であり、また、上記の実施例で第2段増幅器14の後にクランプ回路で受光信号のクランプを行うようにしたものにも本発明を適用することも可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】OPアンプを用いた従来の初段増幅回路の回路構成図である。
【図2】図1に図示した初段増幅回路の出力波形を示す図である。
【図3】従来の問題点を説明するための図である。
【図4】受光器のブロック図である。
【図5】実施例の初段増幅回路の回路構成図である。
【図6】実施例の初段増幅回路の出力波形を示す図である。
【図7】実施例の受光器に内蔵された信号処理回路及び第2段増幅回路の回路構成図である。
【図8】受光器に内蔵された検波回路を使って、信号処理回路に含まれるクランプ回路及び第2段増幅回路の故障診断システムを構築したシステム図である。
【図9】故障診断の例として、クランプ回路に含まれるアナログスイッチが故障している場合を説明するための図である。
【図10】故障診断の他の例として、第2段増幅回路が故障している場合を説明するための図である。
【符号の説明】
11 受光素子(フォトダイオード)
12 初段増幅回路
14 第2段増幅回路
24 初段増幅回路の出力段を構成するNPNダイオード
Claims (5)
- 一列に配列した複数の投光素子を備えた投光器と、該投光器の各受光素子からの光を受光する複数の受光素子を備えた受光器とを含み、
前記受光器が、各受光素子毎に設けられた複数の増幅回路と、該増設回路からの受光信号を受け取って、予め定められたレベルにクランプするクランプ回路とを含み、
該クランプ回路で受光信号を処理した後に、各受光素子への入光の有無を検出する多光軸光電センサにおいて、
前記増幅回路の出力段が、入力に対して応答良く動作する能動素子と、入力が終わったときに出力の変化を緩慢にする受動素子とで構成されていることを特徴とする多光軸光電センサ。 - 前記能動素子がPNPトランジスタで構成されている、請求項1に記載の多光軸光電センサ。
- 前記受動素子が、GNDに接続された抵抗で構成されている、請求項1又は2に記載の多光軸光電センサ。
- 前記増幅回路が出力トランジスタを有し、該出力トランジスタが、前記出力段からの信号をベースで受けるNPN出力トランジスタからなり、該NPN出力トランジスタのコレクタに光軸選択信号が入力されると、該光軸選択信号の入力により前記NPN出力トランジスタが前記増幅回路で増幅した信号を前記クランプ回路に向けて出力する、請求項1〜3のいずれか一項に記載の多光軸光電センサ。
- 前記クランプ回路の故障を検出する故障検出回路を更に有することを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の多光軸光電センサ。
Priority Applications (1)
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JP2003011718A JP2004228719A (ja) | 2003-01-21 | 2003-01-21 | 多光軸光電センサ |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2003011718A JP2004228719A (ja) | 2003-01-21 | 2003-01-21 | 多光軸光電センサ |
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JP2004228719A true JP2004228719A (ja) | 2004-08-12 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO2022181081A1 (ja) * | 2021-02-25 | 2022-09-01 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 光検出装置および光検出システム |
-
2003
- 2003-01-21 JP JP2003011718A patent/JP2004228719A/ja active Pending
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WO2022181081A1 (ja) * | 2021-02-25 | 2022-09-01 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 光検出装置および光検出システム |
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