JP2004227707A - Error signal generator circuit for optical disk - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスク用エラー信号生成回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
一般に、光ディスクの再生装置(以後、光ディスク装置と記する。)では、光ピックアップからの二つの出力信号を増幅した後、差動オペアンプで双方の信号強度の差を取ることにより、光ディスクのフォーカスエラー信号並びにトラッキングエラー信号が得られる。サーボ制御系は、これらエラー信号に基づく制御を行うことにより、光ディスクのトラックに追従して1スポットの光ビームを正確に照射させることができる。
【0003】
従来、フォーカスエラー信号並びにトラッキングエラー信号を得るためのエラー信号生成回路の構成としては、前段のアナログ処理系を担うICチップ(RF信号処理回路)と、後段のデジタル処理系を担うICチップ(サーボ処理回路)との2チップ構成としていた。すなわち、アナログ処理系ICチップでは、光ピックアップからの二つの出力信号を増幅した後、差動オペアンプで双方の信号強度の差を取り、フォーカスエラー信号並びにトラッキングエラー信号をデジタル処理系ICチップへ出力する。
【0004】
そして、デジタル処理系ICチップでは、得られたフォーカスエラー信号並びにトラッキングエラー信号をデジタル信号にA/D変換器で変換し、デジタル信号処理部で適宜な制御ロジックによりオフセットを調整するための信号を生成する。
【0005】
このオフセット調整信号は、前段のアナログ処理系ICチップにフィードバックされてオフセットがキャンセルされたフォーカスエラー信号並びにトラッキングエラー信号が得られることとなる(例えば、特許文献1参照。)。
【0006】
このアナログ処理系ICチップはバイポーラで構成される一方、デジタル処理系ICチップはCMOSで構成される。つまり、アナログ信号処理については、バイポーラプロセスを使用しているため、CMOSのような邪魔となる管理できないDCオフセット電圧の発生は少量であり、ほとんど問題にならなかった。
【0007】
【特許文献1】
特開平10−105997号公報(図1)
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
このようなエラー信号生成回路は、アナログ処理系ICチップ及びデジタル処理系ICチップの2チップで構成されている。このため、チップコストや実装面積が大きいという問題がある。
そこで、エラー信号生成回路を1チップのCMOSで構成することが考えられる。しかしながら、アナログ処理系をCMOSで構成すると、いわゆるDC(直流)オフセットが問題となる。すなわち、DCオフセットが製造上のバラツキなどで大きく変わってしまい、品質管理が困難となる。その結果、歩留まりが落ちてしまうという問題があった。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る光ディスク用エラー信号生成回路では、光ピックアップの出力信号に基づきアナログのエラー信号を出力するアナログエラー信号生成部と、前記エラー信号が一方の入力端子に入力されるとともに、他方の入力端子に基準電圧が印加されるオフセット除去用差動オペアンプと、前記オフセット除去用差動オペアンプの出力信号をディジタル信号に変換して出力するA/D変換部と、オフセットを除去すべく、前記オペアンプに印加される前記基準電圧を前記ディジタル信号に基づき可変とする基準電圧制御部とを少なくとも有し、1チップのCMOS型集積回路で構成されることとする。
【0010】
本発明では、従来のように、アナログ処理系とデジタル処理系とをそれぞれ別個のチップで構成していた場合に比し、まとめて1チップ構成としたことで、チップ面積の縮小化やコストダウンが図れる。
【0011】
また、A/D変換部が出力するディジタル信号に基づき、オフセット除去用差動オペアンプに入力される基準電圧を制御する。したがって、エラー信号についてCMOSアナログ回路特有のバラツキの大きいDCオフセットを解消できる。よって、いわゆるディジタルDCオフセットが可能となり、1チップのCMOS型集積回路で構成される光ディスク用エラー信号生成回路の歩留まりを向上させることができる。
【0012】
また、前記基準電圧制御部は、前記オフセット除去用差動オペアンプの前記他方の入力端子に接続され、前記基準電圧を可変とする抵抗群と、外部の制御信号に応じ、前記抵抗群に発生する電圧を前記基準電圧として選択するセレクタとを備えることとできる。
【0013】
あるいは、前記基準電圧制御部は、前記A/D変換部が出力する前記ディジタル信号に基づいて前記基準電圧を決定するための基準電圧決定用デジタル信号を出力するオフセットキャンセル回路と、前記基準電圧決定用デジタル信号をアナログ変換して前記基準電圧として出力するD/A変換器とを有することとできる。
【0014】
よって、基準電圧を制御するための制御信号を生成する回路を内部に有し、外部との制御信号の送受を行わずにすむため、基準電圧の制御処理の高速化が図れる。
【0015】
さらにまた、前記基準電圧制御部の前記オフセットキャンセル回路は、
前記A/D変換部の前記ディジタル信号と所定の目標電圧に相当する目標デジタル信号とを比較する比較部と、前記比較部の比較結果に基づき、前記目標デジタル信号と一致させるべく前記デジタル信号の値を加減させる制御命令を送出するシーケンス制御部と、前記制御命令に応じて前記基準電圧決定用デジタル信号を生成して前記D/A変換器へ出力するカウンタとを有してもよい。
【0016】
また、前記基準電圧制御部により前記オペアンプに印加される前記基準電圧が変化した結果、前記エラー信号が所定の目標電圧に達すると、当該エラー信号のオフセットが除去されたとすることとしてもよい。
【0017】
さらに、前記所定の目標電圧は、前記基準電圧制御部によって可変される前の前記基準電圧の初期値であることとしてもよい。
【0018】
さらにまた、前記エラー信号は、フォーカスエラー信号あるいはトラッキングエラー信号であることできる。
【0019】
【発明の実施の形態】
===全体概略===
図1に示すように、光ディスク用エラー信号生成回路100は、光ピックアップ200からの信号群に基づき、DCオフセットを除去すべく調整したフォーカスエラー信号FE’及びトラッキングエラー信号TE’を生成する。この光ディスク用エラー信号生成回路100は、1チップ型の集積回路で構成される光ディスク再生信号処理用LSIの一部として、CMOSプロセスでもって製造される。
【0020】
光ディスク用エラー信号生成回路100は、アナログエラー信号生成部110、トラッキングエラー信号DCオフセット調整部120、フォーカスエラー信号DCオフセット調整部130、及びサーボ処理回路140を備える。
【0021】
アナログエラー信号生成部110が生成するトラッキングエラー信号TEについて、トラッキングエラー信号DCオフセット調整部120は、そのDCオフセットを除去すべく動作する。また、アナログエラー信号生成部110が生成するフォーカスエラー信号FEについて、フォーカスエラー信号DCオフセット調整部130は、そのDCオフセットを除去すべく動作する。
【0022】
DCオフセットが調整されたフォーカスエラー信号FE’及びトラッキングエラー信号TE’は、サーボ処理回路140に供給される。サーボ処理回路140は、フォーカスエラー信号FE’及びトラッキングエラー信号TE’に基づき、必要な処理を実行する。
【0023】
また、DCオフセットが調整されたフォーカスエラー信号FE’及びトラッキングエラー信号TE’は、サーボ処理回路140に供給される。サーボ処理回路140は、フォーカスエラー信号FE’及びトラッキングエラー信号TEに基づき、サーボ信号を生成して光ピックアップ200へ供給する。
【0024】
トラッキングエラー信号TE及びフォーカスエラー信号FEを生成するアナログエラー信号生成部110については、従来同様の周知の回路構成を採用できる。例えば、前述した特開平10−105997号公報に記載(特に、図1及び段落番号
【0028】以降の記載)のRF信号処理回路の回路構成を採用できる。
【0025】
トラッキングエラー信号DCオフセット調整部120、及びフォーカスエラー信号DCオフセット調整部130は、同じ回路構成とできる。したがって、本実施の形態では、説明の便宜上、共通の回路図を用い、エラー信号DCオフセット調整部120,130について、次の第1,2実施例で説明する。
【0026】
===第1実施例===
図2に示すように、トラッキングエラー信号DCオフセット調整部120、及びフォーカスエラー信号DCオフセット調整部130は、オフセット除去用差動オペアンプ10、A/Dコンバータ(A/D変換部)20、エラー信号用レジスタ30、マイコンインタフェース40、セレクタ制御信号用レジスタ50、抵抗群(基準電圧制御部)60、及びセレクタ(基準電圧制御部)70を備える。なお、適宜、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号をまとめてエラー信号と称する。
【0027】
オフセット除去用差動オペアンプ10は、エラー信号TE,FEが抵抗R10を介して反転入力端子に入力されるとともに、非反転入力端子に基準電圧Vrefが印加される。オフセット除去用差動オペアンプ10の出力は、抵抗R11を介して反転入力端子に帰還する。A/Dコンバータ20は、オフセット除去用差動オペアンプ10の出力信号をディジタル信号に変換して出力する。このディジタル信号は、図1のサーボ処理回路140にも出力される。エラー信号用レジスタ30は、A/Dコンバータ20が出力するディジタル信号を保持する。マイコンインタフェース40は、光ディスク再生信号処理用LSIの外部にある制御用マイコンとの通信インタフェースの機能を有する。セレクタ制御信号用レジスタ50は、外部の制御用マイコンからのセレクタ制御信号(セレクタ制御データ)を保持する。抵抗群60及びセレクタ70は、オフセットを除去すべく、オフセット除去用差動オペアンプ10に印加される基準電圧VrefをA/Dコンバータ20のディジタル信号に基づき可変とする。
【0028】
すなわち、抵抗群60は、例えば五つの抵抗R61乃至R65の直列回路で構成される。この直列回路は、電源Vddとグランドとの間に接続されている。この抵抗群60は、オフセット除去用差動オペアンプ10の非反転入力端子に対し、セレクタ70を介して接続され、基準電圧Vrefを適宜変化させて供給する。セレクタ70は、外部のマイコンからのセレクタ制御信号に応じ、抵抗群60に発生する電圧を基準電圧Vrefとして選択する。
【0029】
具体的な動作について説明する。エラー信号TE,FEが抵抗R10を介してオフセット除去用差動オペアンプ10に入力される。オフセット除去用差動オペアンプ10は、(Vref−TE,FE)*R11/R10の演算式で得られたエラー信号TE’,FE’を出力する。このエラー信号TE’,FE’は、A/Dコンバータ20でディジタル信号として出力され、エラー信号用レジスタ30に保持される。この保持されたエラー信号TE’,FE’のデジタルデータは、マイコンインタフェース40を介して、外部の制御用マイコンに読み出される。
【0030】
この外部の制御用マイコンは、DCオフセット除去用制御プログラムが動作している。制御用マイコンは、この制御プログラムの動作により、エラー信号TE’,FE’のデジタルデータについて基準電圧Vrefの初期値(目標電圧)をゼロとして正あるいは負の判断を行い、エラー信号TE,FEが基準電圧Vrefの初期値と等しくなるよう、基準電圧Vrefを可変すべく、セレクタ制御信号を生成する。この制御論理は、例えば予め作成しておいた制御テーブルとして表現しておく。そして、この制御テーブルを制御用マイコンが適宜参照する。また、この初期値は、抵抗群60に印加される動作電源Vddの1/2の値(いわゆるセンター電圧)であり、予め制御用マイコン側で記憶されている。
【0031】
例えば、基準電圧Vrefよりエラー信号TE,FEが大あるいは小と判断した場合、制御用マイコンは、抵抗群60全体の抵抗値を変更させるべくセレクタ制御信号をマイコンインタフェース40に送信する。このセレクタ制御信号は、セレクタ制御信号用レジスタ50に一旦保持され、セレクタ70に読み出される。セレクタ70は、セレクタ制御信号に基づき、抵抗R60乃至R65の接続状態をスイッチして変更し、基準電圧Vrefを変更する。この変更により、エラー信号TE,FEが基準電圧Vrefの初期値に近づくように制御されることとなる。
【0032】
つまり、制御用マイコンは、エラー信号TE,FEの変化を監視し、必要に応じてセレクタ制御信号を出力する。そして、基準電圧Vrefが変化した結果、エラー信号TE,FEが基準電圧Vrefの初期値に達すると、エラー信号TE,FEのオフセットが除去されたとして、制御用マイコンは、DCオフセット調整を終了する。
【0033】
この第1実施例では、オフセットを除去すべく、オペアンプに印加される基準電圧を制御するにあたり、外部の制御信号に応じて抵抗群の接続形態を変更する。つまり、基準電圧を制御するための制御信号を生成する回路を内部に有しなくて済むため、よりチップ面積の縮小化やコストダウンが図れる。
【0034】
===第2実施例===
図3に示すように、トラッキングエラー信号DCオフセット調整部120、及びフォーカスエラー信号DCオフセット調整部130は、オフセット除去用差動オペアンプ10、A/Dコンバータ(A/D変換部)20、自動オフセットキャンセル回路(基準電圧制御部)80、及びD/Aコンバータ(基準電圧制御部)90を備える。なお、適宜、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号をまとめてエラー信号と称する。
【0035】
オフセット除去用差動オペアンプ10は、エラー信号TE,FEが抵抗R10を介して反転入力端子に入力されるとともに、非反転入力端子に基準電圧Vrefが印加される。オフセット除去用差動オペアンプ10の出力は、抵抗R11を介して反転入力端子に帰還する。A/Dコンバータ20は、オフセット除去用差動オペアンプ10の出力信号をディジタル信号に変換して出力する。このディジタル信号は、図1のサーボ処理回路140にも出力される。
【0036】
自動オフセットキャンセル回路80は、A/Dコンバータ20が出力するディジタル信号に基づいて基準電圧Vrefを決定するための基準電圧決定用デジタル信号をD/Aコンバータ90へ出力する。D/Aコンバータ90は、基準電圧決定用デジタル信号をアナログ変換して基準電圧Vrefとして出力する。自動オフセットキャンセル回路80及びD/Aコンバータ90は、オフセットを除去すべく、オフセット除去用差動オペアンプ10に印加される基準電圧VrefをA/Dコンバータ20のディジタル信号に基づき可変とする。
【0037】
図4に示すように、自動オフセットキャンセル回路80は、コンパレータ(比較部)81、シーケンス制御回路(シーケンス制御部)82、レジスタで構成されるカウンタ83を備える。コンパレータ81は、A/Dコンバータ20からのディジタル信号と基準電圧Vrefの初期値(目標電圧)に相当する目標デジタル信号とを比較する。シーケンス制御回路82は、コンパレータ81の比較結果に基づき、A/Dコンバータ20からのデジタル信号の値を目標デジタル信号と一致させるべく、このデジタル信号の値を加減させるための制御命令をカウンタ83へ送出する。カウンタ83は、この制御命令に応じ、基準電圧決定用デジタル信号を加減してD/Aコンバータ90へ出力する。
【0038】
具体的な動作について説明する。図3に示すように、エラー信号TE,FEが抵抗R10を介してオフセット除去用差動オペアンプ10に入力される。オフセット除去用差動オペアンプ10は、(Vref−TE,FE)*R11/R10の演算式で得られたエラー信号TE’,FE’を出力する。このエラー信号TE’,FE’は、A/Dコンバータ20でディジタル信号として、自動オフセットキャンセル回路80に出力される。
【0039】
図4に示すように、光ディスク再生信号処理用LSIの外部のマイコンからシーケンス制御回路82にスタート信号が与えられることにより、DCオフセット調整の制御が開始される。このシーケンス制御回路82は、エラー信号TE’,FE’のデジタルデータについて基準電圧Vrefの初期値をゼロとして正あるいは負の判断を行う。そして、シーケンス制御回路82は、エラー信号TE,FEが基準電圧Vrefの初期値と等しくなるよう、基準電圧Vrefを可変させるべく、制御命令をカウンタ83へ送出する。このカウンタ83は、基準電圧Vrefの初期値(目標電圧)に相当するデジタルデータを保持している。
【0040】
シーケンス制御回路82からの具体的な制御命令の内容は、このデジタルデータの値に対するインクリメントあるいはデクリメントである。すなわち、制御命令がインクリメントであれば、カウンタ83は、デジタルデータの値を大きくし、基準電圧決定用デジタル信号としてD/Aコンバータ90に出力する。一方、制御命令がデクリメントであれば、カウンタ83は、デジタルデータの値を小さくし、基準電圧決定用デジタル信号としてD/Aコンバータ90に出力する。その結果、エラー信号TE,FEが基準電圧Vrefの初期値に近づくように制御されることとなる。
【0041】
つまり、自動オフセットキャンセル回路80は、エラー信号TE,FEの変化を監視し、基準電圧Vrefが変化した結果、エラー信号TE,FEが基準電圧Vrefの初期値に達すると、エラー信号TE,FEのオフセットが除去されたとして、シーケンス制御回路82はDCオフセット調整を終了する。
【0042】
この制御の様子について、基準電圧Vref及びエラー信号TE,FEの変化について、図5のグラフに示す。シーケンス制御回路82にスタート信号が与えられる(図中、T0)と、基準電圧Vref(一点鎖線)よりエラー信号(実線)TE,FEが大であるため、シーケンス制御回路82の制御命令はインクリメントとする。その結果、基準電圧Vrefは、その初期値(いわゆるセンター電圧、動作電源Vddの1/2の値)から上昇していくとともに、エラー信号TE,FEは低下していく。そして、エラー信号TE,FEが基準電圧Vrefの初期値に一致すると(図中、T1)、DCオフセットは除去されたとして、DCオフセット調整が終了する。
【0043】
この第2実施例では、基準電圧を制御するための制御信号を生成する回路を内部に有し、外部との制御信号の送受を行わずにすむため、基準電圧の制御処理の高速化が図れる。
【0044】
以上、本発明の実施の形態について、その実施の形態に基づき具体的に説明したが、これに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能である。
【0045】
本実施の形態では、従来のように、アナログ処理系とデジタル処理系とをそれぞれ別個のチップで構成していた場合に比し、まとめて1チップ構成としたことで、チップ面積の縮小化やコストダウンが図れる。
【0046】
また、A/D変換部が出力するディジタル信号に基づき、オフセット除去用差動オペアンプに入力される基準電圧を制御する。したがって、エラー信号についてCMOSアナログ回路特有のバラツキの大きいDCオフセットを解消できる。よって、いわゆるディジタルDCオフセットが可能となり、1チップのCMOS型集積回路で構成される光ディスク用エラー信号生成回路の歩留まりを向上させることができる。
【0047】
【発明の効果】
チップ面積の縮小化やコストダウンが図れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る光ディスク用エラー信号生成回路を示すブロック図である。
【図2】本発明の第1実施例に係るエラー信号DCオフセット調整部120,130を示すブロック図である。
【図3】本発明の第2実施例に係るエラー信号DCオフセット調整部120,130を示すブロック図である。
【図4】本発明の第2実施例の自動オフセットキャンセル回路80を示す具体的なブロック図である。
【図5】本発明に係る基準電圧Vref及びエラー信号TE,FEの変化を示すグラフである。
【符号の説明】
10 オフセット除去用差動オペアンプ
20 A/Dコンバータ(A/D変換部)
30 エラー信号用レジスタ
40 マイコンインタフェース
50 セレクタ制御信号用レジスタ
60 抵抗群(基準電圧制御部)
70 セレクタ(基準電圧制御部)
80 自動オフセットキャンセル回路(基準電圧制御部)
90 D/Aコンバータ(基準電圧制御部)
100 光ディスク用エラー信号生成回路
110 アナログエラー信号生成部
120 トラッキングエラー信号DCオフセット調整部
130 フォーカスエラー信号DCオフセット調整部
140 サーボ処理回路
150 マイコン
200 光ピックアップ
FE,FE’ フォーカスエラー信号,エラー信号
TE,TE’ トラッキングエラー信号,エラー信号
Vref 基準電圧[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to an error signal generation circuit for an optical disk.
[0002]
[Prior art]
Generally, in an optical disk reproducing apparatus (hereinafter, referred to as an optical disk apparatus), after amplifying two output signals from an optical pickup, the difference between the two signal intensities is obtained by a differential operational amplifier, thereby obtaining a focus error of the optical disk. A signal and a tracking error signal are obtained. By performing control based on these error signals, the servo control system can accurately irradiate one spot of light beam following the track of the optical disk.
[0003]
Conventionally, as a configuration of an error signal generation circuit for obtaining a focus error signal and a tracking error signal, an IC chip (RF signal processing circuit) that performs an analog processing system in a preceding stage and an IC chip (servo system) that performs a digital processing system in a subsequent stage Processing circuit). That is, in the analog processing IC chip, after amplifying the two output signals from the optical pickup, the difference between the two signal strengths is obtained by the differential operational amplifier, and the focus error signal and the tracking error signal are output to the digital processing IC chip. I do.
[0004]
Then, in the digital processing IC chip, the obtained focus error signal and tracking error signal are converted into digital signals by an A / D converter, and a signal for adjusting an offset by an appropriate control logic in a digital signal processing unit is converted. Generate.
[0005]
The offset adjustment signal is fed back to the preceding analog processing IC chip to obtain a focus error signal and a tracking error signal from which the offset has been canceled (for example, see Patent Document 1).
[0006]
The analog processing IC chip is constituted by bipolar, while the digital processing IC chip is constituted by CMOS. That is, in the analog signal processing, since a bipolar process is used, the generation of an unmanageable DC offset voltage which is a hindrance such as that of a CMOS is small and hardly causes any problem.
[0007]
[Patent Document 1]
JP-A-10-105997 (FIG. 1)
[0008]
[Problems to be solved by the invention]
Such an error signal generation circuit is composed of two chips, an analog processing IC chip and a digital processing IC chip. Therefore, there is a problem that the chip cost and the mounting area are large.
Therefore, it is conceivable to configure the error signal generation circuit with one chip of CMOS. However, when the analog processing system is configured by CMOS, a so-called DC (direct current) offset becomes a problem. That is, the DC offset greatly changes due to manufacturing variations and the like, and quality control becomes difficult. As a result, there is a problem that the yield is reduced.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
In the error signal generating circuit for an optical disk according to the present invention, an analog error signal generating unit that outputs an analog error signal based on an output signal of an optical pickup, and the error signal is input to one input terminal and the other input terminal. A differential operational amplifier for offset removal to which a reference voltage is applied to a terminal, an A / D conversion unit for converting an output signal of the differential operational amplifier for offset removal into a digital signal and outputting the digital signal, and an operational amplifier for removing the offset And at least a reference voltage control unit that makes the reference voltage applied to the VCO based on the digital signal, and is configured by a one-chip CMOS integrated circuit.
[0010]
In the present invention, as compared with the conventional case where the analog processing system and the digital processing system are each configured by separate chips, a single chip configuration is adopted, thereby reducing the chip area and cost. Can be achieved.
[0011]
Further, based on the digital signal output from the A / D conversion unit, the reference voltage input to the offset removal differential operational amplifier is controlled. Therefore, it is possible to eliminate a DC offset having a large variation inherent in the CMOS analog circuit with respect to the error signal. Therefore, a so-called digital DC offset becomes possible, and the yield of the optical disk error signal generation circuit composed of a one-chip CMOS integrated circuit can be improved.
[0012]
The reference voltage control unit is connected to the other input terminal of the differential amplifier for offset removal, and generates a resistor group that varies the reference voltage and a resistor group according to an external control signal. A selector for selecting a voltage as the reference voltage.
[0013]
Alternatively, the reference voltage control unit includes: an offset cancel circuit that outputs a reference voltage determination digital signal for determining the reference voltage based on the digital signal output by the A / D conversion unit; And a D / A converter for converting a digital signal for use in analog to output as a reference voltage.
[0014]
Therefore, since a circuit for generating a control signal for controlling the reference voltage is internally provided, and transmission / reception of the control signal to / from the external device is not required, the speed of the reference voltage control process can be increased.
[0015]
Furthermore, the offset cancel circuit of the reference voltage control unit includes:
A comparing unit that compares the digital signal of the A / D conversion unit with a target digital signal corresponding to a predetermined target voltage; and A sequence control unit for transmitting a control command for adding or subtracting a value, and a counter for generating the reference voltage determination digital signal in response to the control command and outputting the digital signal to the D / A converter may be provided.
[0016]
Furthermore, when the reference voltage applied to the operational amplifier by the reference voltage control unit changes and the error signal reaches a predetermined target voltage, the offset of the error signal may be removed.
[0017]
Further, the predetermined target voltage may be an initial value of the reference voltage before being changed by the reference voltage control unit.
[0018]
Furthermore, the error signal can be a focus error signal or a tracking error signal.
[0019]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
=== Overall overview ===
As shown in FIG. 1, the optical disk error
[0020]
The optical disk error
[0021]
For the tracking error signal TE generated by the analog error
[0022]
The focus error signal FE ′ and the tracking error signal TE ′ whose DC offset has been adjusted are supplied to the
[0023]
The focus error signal FE ′ and the tracking error signal TE ′ whose DC offset has been adjusted are supplied to the
[0024]
As for the analog
[0025]
The tracking error signal DC offset
[0026]
=== First Embodiment ===
As shown in FIG. 2, the tracking error signal DC offset
[0027]
In the differential
[0028]
That is, the
[0029]
A specific operation will be described. The error signals TE and FE are input to the offset removing differential
[0030]
In this external control microcomputer, a DC offset removal control program is running. By the operation of this control program, the control microcomputer makes a positive or negative judgment with the initial value (target voltage) of the reference voltage Vref as zero with respect to the digital data of the error signals TE ′ and FE ′. A selector control signal is generated to vary the reference voltage Vref so as to be equal to the initial value of the reference voltage Vref. This control logic is expressed, for example, as a control table created in advance. The control table refers to this control table as appropriate. The initial value is a half value (so-called center voltage) of the operating power supply Vdd applied to the
[0031]
For example, when it is determined that the error signals TE and FE are higher or lower than the reference voltage Vref, the control microcomputer transmits a selector control signal to the
[0032]
That is, the control microcomputer monitors changes in the error signals TE and FE, and outputs a selector control signal as needed. When the error signals TE and FE reach the initial value of the reference voltage Vref as a result of the change of the reference voltage Vref, the control microcomputer ends the DC offset adjustment, assuming that the offset of the error signals TE and FE has been removed. .
[0033]
In the first embodiment, when the reference voltage applied to the operational amplifier is controlled to remove the offset, the connection form of the resistor group is changed in accordance with an external control signal. That is, a circuit for generating a control signal for controlling the reference voltage does not need to be provided inside, so that the chip area and cost can be further reduced.
[0034]
=== Second embodiment ===
As shown in FIG. 3, the tracking error signal DC offset
[0035]
In the differential
[0036]
The automatic offset cancel
[0037]
As shown in FIG. 4, the automatic offset cancel
[0038]
A specific operation will be described. As shown in FIG. 3, error signals TE and FE are input to a differential
[0039]
As shown in FIG. 4, when a start signal is supplied from a microcomputer external to the optical disk reproduction signal processing LSI to the
[0040]
The content of the specific control command from the
[0041]
That is, the automatic offset cancel
[0042]
FIG. 5 is a graph showing changes in the reference voltage Vref and the error signals TE and FE in this control. When a start signal is supplied to the sequence control circuit 82 (T0 in the figure), the error signals (solid lines) TE and FE are larger than the reference voltage Vref (dashed line), so that the control command of the
[0043]
In the second embodiment, a circuit for generating a control signal for controlling the reference voltage is internally provided, and the transmission and reception of the control signal with the outside need not be performed, so that the speed of the reference voltage control process can be increased. .
[0044]
As described above, the embodiment of the present invention has been specifically described based on the embodiment. However, the present invention is not limited to the embodiment, and can be variously modified without departing from the gist of the invention.
[0045]
In the present embodiment, compared to the conventional case where the analog processing system and the digital processing system are each configured by separate chips, the chip area is reduced to a single chip configuration. Cost reduction can be achieved.
[0046]
Further, based on the digital signal output from the A / D conversion unit, the reference voltage input to the offset removal differential operational amplifier is controlled. Therefore, it is possible to eliminate a DC offset having a large variation inherent in the CMOS analog circuit with respect to the error signal. Therefore, a so-called digital DC offset becomes possible, and the yield of the optical disk error signal generation circuit composed of a one-chip CMOS integrated circuit can be improved.
[0047]
【The invention's effect】
The chip area and cost can be reduced.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram showing an optical disk error signal generation circuit according to the present invention.
FIG. 2 is a block diagram illustrating error signal DC offset
FIG. 3 is a block diagram illustrating error signal DC offset
FIG. 4 is a specific block diagram showing an automatic offset cancel
FIG. 5 is a graph showing changes in a reference voltage Vref and error signals TE and FE according to the present invention.
[Explanation of symbols]
10 Offset removal differential operational amplifier 20 A / D converter (A / D converter)
30
70 selector (reference voltage control unit)
80 Automatic offset cancel circuit (reference voltage control unit)
90 D / A converter (reference voltage control unit)
Claims (7)
前記エラー信号が一方の入力端子に入力されるとともに、他方の入力端子に基準電圧が印加されるオフセット除去用差動オペアンプと、
前記オフセット除去用差動オペアンプの出力信号をディジタル信号に変換して出力するA/D変換部と、
オフセットを除去すべく、前記オペアンプに印加される前記基準電圧を前記ディジタル信号に基づき可変とする基準電圧制御部と、
を少なくとも有し、
1チップのCMOS型集積回路で構成されることを特徴とする光ディスク用エラー信号生成回路。An analog error signal generation unit that outputs an analog error signal based on an output signal of the optical pickup;
An offset removal differential operational amplifier in which the error signal is input to one input terminal and a reference voltage is applied to the other input terminal;
An A / D converter for converting an output signal of the offset removing differential operational amplifier into a digital signal and outputting the digital signal;
A reference voltage control unit that varies the reference voltage applied to the operational amplifier based on the digital signal, to remove an offset;
Has at least
An error signal generation circuit for an optical disk, comprising a one-chip CMOS integrated circuit.
前記オフセット除去用差動オペアンプの前記他方の入力端子に接続され、前記基準電圧を可変とする抵抗群と、
外部の制御信号に応じ、前記抵抗群に発生する電圧を前記基準電圧として選択するセレクタと、
を備えることを特徴とする請求項1に記載の光ディスク用エラー信号生成回路。The reference voltage controller,
A resistor group that is connected to the other input terminal of the offset removal differential operational amplifier and that varies the reference voltage;
A selector for selecting a voltage generated in the resistor group as the reference voltage according to an external control signal;
2. The error signal generating circuit for an optical disk according to claim 1, further comprising:
前記A/D変換部が出力する前記ディジタル信号に基づいて前記基準電圧を決定するための基準電圧決定用デジタル信号を出力するオフセットキャンセル回路と、
前記基準電圧決定用デジタル信号をアナログ変換して前記基準電圧として出力するD/A変換器と、
を有することを特徴とする請求項1に記載の光ディスク用エラー信号生成回路。The reference voltage controller,
An offset canceling circuit for outputting a reference voltage determining digital signal for determining the reference voltage based on the digital signal output by the A / D converter;
A D / A converter that converts the reference voltage determining digital signal into an analog signal and outputs the analog signal as the reference voltage;
2. The optical disk error signal generating circuit according to claim 1, comprising:
前記A/D変換部の前記ディジタル信号と所定の目標電圧に相当する目標デジタル信号とを比較する比較部と、
前記比較部の比較結果に基づき、前記目標デジタル信号と一致させるべく前記デジタル信号の値を加減させる制御命令を送出するシーケンス制御部と、
前記制御命令に応じて前記基準電圧決定用デジタル信号を生成して前記D/A変換器へ出力するカウンタと、
を有することを特徴とする請求項3に記載の光ディスク用エラー信号生成回路。The offset cancel circuit of the reference voltage control unit,
A comparator for comparing the digital signal of the A / D converter with a target digital signal corresponding to a predetermined target voltage;
A sequence control unit that sends a control command to increase or decrease the value of the digital signal to match the target digital signal based on a comparison result of the comparison unit;
A counter that generates the reference voltage determination digital signal according to the control command and outputs the digital signal to the D / A converter;
4. The error signal generating circuit for an optical disk according to claim 3, comprising:
Priority Applications (1)
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JP2003016148A JP2004227707A (en) | 2003-01-24 | 2003-01-24 | Error signal generator circuit for optical disk |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007023541A1 (en) * | 2005-08-25 | 2007-03-01 | Renesas Technology Corp. | Optical disk apparatus, signal processing semiconductor integrated circuit constituting the same, and operation method |
-
2003
- 2003-01-24 JP JP2003016148A patent/JP2004227707A/en active Pending
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WO2007023541A1 (en) * | 2005-08-25 | 2007-03-01 | Renesas Technology Corp. | Optical disk apparatus, signal processing semiconductor integrated circuit constituting the same, and operation method |
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